半导体测量仪

◆PLMapping测量◆多种激光器可选◆Mapping扫描速度：优于20点/秒◆空间分辨率：10um（物镜），50um（透镜）◆光谱分辨率：0.1nm@1200g/mm◆Mapping结果以3D方式显示◆最大8吋的样品测量◆晶片精确定位◆样品真空吸附◆可做低温测量◆膜厚测量测试原理：PL是一种辐射复合效应。在一定波长光源的激发下，电子吸收激发光子的能量，向高能级跃迁而处于激发态。激发态是不稳定的状态，会以辐射复合的形式发射光子向低能级跃迁，这种被发射的光称为荧光。荧光光谱代表了半导体材料内部，一定的电子能级跃迁的机制，也反映了材料的性能及其缺陷。操作简便、全电脑控制PMEye-3000系列PL Mapping测量仪，是一款适合于半导体晶片和LED外延片科研、生产和质量控制环节的仪器；采用整机设计，用户只需要根据需要放置合适的检测样品，无需进行复杂的光路调整，操作简便；所有控制操作均通过计算机来控制实现。全新的样品台设计，采用真空吸附方式对样品进行固定，防止对样品的损伤；可对常规尺寸的晶圆样品进行精确定位，提高测量重复性。系统采用直流和交流两种测量模式，直流模式用于常规检测，交流模式用于微弱荧光检测。荧光测量一般的PL测量仪只是测量荧光的波长和强度。PMEye-3000系列增加对激光强度的监控，并根据监控结果来对荧光测量进行校正。这样就可以消除激发光源的不稳定带来的测量误差，也使测量结果有可比性。Mapping功能PMEye-3000系列配置200X200mm的X-Y电控位移台，最大可测量8英寸的晶圆样品。用户可以根据不同的样品规格来设置扫描区域及空间分辨率，扫描速度优于每秒20个点，空间分辨率可达10um（物镜），50um（透镜）。扫描结果以3D方式显示，以不同的颜色来表示不同的荧光强度。激光器PMEye-3000系列有多种高稳定性的激光器可选，系统最多可内置2个激光器和一个外接激光器，标配为1个激光器。用户可以根据测量对象来配置不同的激光器，使PL检测更加灵活。PMEye-3000系列可内置的激光器波长有：266nm，405nm，442nm，532nm、785nm等，外置激光器波长有：325nm，632.8nm等。功能强大的软件我们具有多年的测量仪器操作软件的开发经验，熟悉用户的操作习惯，这使我们开发的这套PMEye-3000系列操作软件功能强大且操作简便。PMEye-3000系列操作软件提供单点PL光谱测量及显示，单波长的X-Y Mapping测量及显示，mapping结果以3D方式显示。同时具有多种数据处理方式来对所测量的数据进行处理。低温样品室附件该附件可实现样品在低温状态下的荧光检测。有些样品在不同的温度条件下，将呈现不同的荧光效果，这时就需要对样品进行低温制冷。如图所示，从图中我们可以发现在室温时，GaN薄膜的发光波长几乎含盖整个可见光范围，且强度的最高峰出现在580nm附近，但整体而言其强度并不强；随着温度的降低，发光强度开始慢慢的增加，直到110K时，我们可以发现在350nm附近似乎有一个小峰开始出现，且当温度越降越低，这个小峰强度的增加也越显著，一直到最低温25K时，基本上就只有一个荧光峰。GaN薄膜的禁带宽度在室温时为3.40Ev,换算成波长为365nm，而我们利用PL系统所测的GaN薄膜在25K时在356.6nm附近有一个峰值，因此如果我们将GaN薄膜的禁带宽度随温度变化情况也考虑进去，则可以发现在理论上25K时GaN的禁带宽度为3.48eV，即特征波长为357.1nm，非常靠近实验所得的356.6nm，因此我们可以推断这个发光现象应该就是GaN薄膜的自发辐射。性能及功能扫描模式单波长mapping摄谱模式峰值波长mapping；给定波长范围的积分光源405nm激光（标配）150W溴钨灯（可选，用于膜厚测量）光源调制斩波器光谱仪三光栅DSP扫描光谱仪光谱仪焦距500mm（标配）波长准确度± 0.2nm（1200g/mm，300nm）± 0.6nm（600g/mm，500nm）± 0.8nm（300g/mm，1250nm）探测器Si探测器，波长范围：200～1100nm （标配）数据采集设备带前置放大器的数字采集器DCS300PA锁相放大器SR830二维位移平台行程200*200mm，重复定位精度3&mu m样品台具有真空吸附功能，对主流的3&rsquo &rsquo ,4&rsquo &rsquo ,5&rsquo &rsquo ,6&rsquo &rsquo ，8&rsquo &rsquo 的晶片可进行精确定位Mapping扫描速度优于20点/秒Mapping位移步长最小可到1um空间分辨率10um（物镜方式），50um（透镜方式）重复定位精度3&mu m探测器选择探测器类型光谱响应范围R1527光电倍增管200～680nmCR131光电倍增管200～900nmDSi300硅光电探测器200～1100nmDInGaAs1700常温型铟镓砷探测器800～1700nmDInGaAs1900制冷型铟镓砷探测器800～1900nmDinGaAs2200制冷型铟镓砷探测器800～2200nmDinGaAs2600制冷型铟镓砷探测器800～2600nm

WD4000半导体晶圆表面形貌参数测量仪通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。能实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。WD4000半导体晶圆表面形貌参数测量仪采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数；3、基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000半导体晶圆表面形貌参数测量仪集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量 通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。能便携全自动测量导线、棒材电阻率、电导率等参数。应用电流–电压降四端子测量法、单片机技术及自动检测技术。其性能完全符合GB/T3048.2及GB/T3048.4中的相关技术要求。广泛应用于冶金、电力电工、电线电缆、电机电器、高等院校、科研单位等行业。硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等提供中文或英文两种语言操作界面选择，满足国内及国外客户需求四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C方阻计算和测试原理如下：　　直线四探针测试布局如图8，相邻针距分别为S1、S2、S3,根据物理基础和电学原理：　　当电流通过1、4探针，2、3探针测试电压时计算如下：　　四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C工作原理图　　四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C步骤及流程　　1. 开启电源，预热5分钟.　　2. 装配好探头和测试平台.　　3. 设定所需参数.　　4. 测量样品　　5. 导出数据.　　优点描述：　　1. 自动量程　　2. 准确稳定性.　　3. 双电组合测试方法　　4. 标准电阻校准仪器　　5. PC软件运行　　6. 同时显示电阻、电阻率、电导率数据.　　7. 可显示5位数字.　　8. 中、英文界面四探针半导体电阻率测量仪HRDZ-300C性能特点1. 体积小巧、重量轻。2. 全中文菜单操作，操作简单方便。3. 测量速度快，数据精确稳定。4. 具有自动放电和放电指示功能，减少误操作，保证设备及人员安全。

特点：100 mA至4 A电流输出60 W TEC温度控制低噪声、双量程范围先进的激光器保护措施 6300系列半导体激光器控制器是高精度、低噪声、双量程激光驱动器和强大的60 W 精密温度控制器的完美组合。而且体积小、结构紧凑。卓越的性能，优惠的价格使其成为公司的旗舰产品。使用简便，易于配置 ComboSource控制器的用户界面是非常简单的…易于使用，即刻设置与运行。Arroyo控制器采用高对比度的VFD真空荧光显示屏直接显示易于读取的信息，同时显示电流值、电压值、温度值、光电二极管的电流值等信息…无需切换读数。展示信息您可以自己配置，让控制器按照您预想的方式进行工作。所有的ComboSource控制器都设计有USB 与RS232计算机接口，可以快捷方便地与PC连接，实现远程操作。并且ComboSource尺寸紧凑，易于集成到您现有的测试系统中去。便捷的功能键 控制器的功能键可用于快速选择不同的配置状态，或者执行预先设定的命令。比如在两个不同的实验之间转换或者执行重复操作等。任何您可以手动控制的操作都可以编程到功能键里。高性能温度控制器 60 W的输出功率和可调节PID控制，使其应用更加广泛。它支持所有通用传感器，包括额敏电阻、RTD、LM335和AD590传感器。卓越的半导体激光器保护功能 ComboSource具备您所期望的激光驱动器的所有安全能能：可调节的电流和电压极限值，缓启动、瞬态/峰值监测，所有这些性能都能通过硬件实现。独立且隔离的输出设备 所有的ComboSources的输入与输出接口之间无论在光学上还是电学上都是隔离的，确保设备免受接地循环带来的损坏。MODELCURRENTVOLTAGEACCURACYNOISEBWTEC POWER6301100 mA10 V0.025% + 0.03 mA 1 uA325 kHz60 W6305500 mA10 V0.025% + 0.12 mA 1.5 uA325 kHz60 W63101 A10 V0.025% + 0.3 mA 2.5 uA200 kHz60 W63404 A5 V0.05% + 0.8 mA 40 uA150 kHz60 W6310-QCL1 A18 V0.025% + 0.3 mA 2.5 uA200 kHz60 W6340-QCL4 A15 V0.05% + 0.8 mA 40 uA150 kHz60 W 半导体激光控制器 6301 光学测量仪

半导体激光器温控器 5240光学测量仪特点：0.004 ℃稳定性PID设置完全可控28-960 W温度控制功率支持Thermiste、AD590、LM335和RTD内置风扇控制器便捷的用户界面 TECSource温控器的用户界面是非常简单的…易于使用，即刻设置与运行。很多其他设备厂商采用7位LED显示屏、隐晦难懂的指示灯与按钮的阵列组合来展示实时信息，而Arroyo温控器则采用高对比度的VFD真空荧光显示屏直接显示易于读取的信息，同时显示电流值、电压值、温度值、光电二极管的电流值等信息…无需切换读数。控制器的设置信息与错误信息等采用清楚的英文进行展示，而非循环码与闪烁的状态灯。富裕的功率值 温度控制器具有可选类型：24 W/60 W/120 W/180 W/192 W/ 420 W/840 W/960 W，价格低廉，富裕的功率值使您不需要配置昂贵的升级部件，就能更快的完成实验计划。标准计算机接口 所有的TECSource温控器都设计有USB或者RS232计算机接口，可以快捷方便地与PC连接，实现远程操作。而且，TECSource的命令集兼容其他制造商生产的控制器，实现将您已经开发好的现行软件轻松移植过来。测量多种数据 TECSource温度控制器能够测量电流、电压和温度等数据。很多低成本的温控器都忽略了电压等数据的测量，虽然TECSource是低成本的，但不是低性能的。支持RTD、Lm335和AD590接入 5300系列温度控制器不仅设计了标准的热电阻探头，还设计了RTD、LM335和AD590接口，无外部组件，所有的接口均设计在同一盒子中。RTD可选4线制，基本消除连接器电阻。AutoTune自动PID计算 所有的Arroyo温度控制器都配置有AutoTune功能，用于实现自动PID计算。采用Auto Tune，您无需再纠结如何才能找到适合您应用的PID参数值。连接温控器与您的设备，设定合适的阈值，打开AutoTune，温控器就能自动计算适应于您设备的PID参数了。当然，如果您需要更多的控制，那就切换到PID增益控制界面。TECSource温控器的PID设置是完全可控的，您可以单独设置并调整PID的每个参数，实现闭环精细控制。MODELPOWERCURRENTVOLTAGESTABILITYSENSORS524028 W4 A7 V±0.004°CThermistor530560 W5 A12 V±0.004°CThermistor, RTD, AD590, LM3355310120 W10 A12 V±0.004°CThermistor, RTD, AD590, LM3355300-08-24192 W8 A24 V±0.004°CThermistor, RTD, AD590, LM3355300-10-18180 W10 A18 V±0.004°CThermistor, RTD, AD590, LM335MODELPOWERCURRENTVOLTAGESTABILITYSENSORS5400-15-2842015280.004Thermistor, RTD, AD590, LM3355400-30-2884030280.004Thermistor, RTD, AD590, LM3355400-20-5696020560.004Thermistor, RTD, AD590, LM335

晶圆级磁光克尔测量仪利用极向磁光克尔效应(MOKE)，快速全局检测晶圆膜堆的磁性。非接触式测量，避免了传统磁性表征对晶圆的破坏，可应用于图形化前后的样品检测。晶圆级垂直磁光克尔测量仪样品尺寸:最大支持12 英寸及以下晶圆碎片测试:磁场:最大垂直磁场优于2.5T,磁场分辨率1 μT 磁性检测灵敏度:克尔转角检出度优于0.3mdeg(RMS)，适用多层膜堆的磁性表征 样品重复定位精度:优于1um,静态抖动0.25 um。晶圆级面内磁光克尔测量仪样品尺寸:最大支持12 英寸及以下晶圆碎片测试，磁场:最大面内磁场优于1.4T,磁场分辨率1 μT 磁性检测灵敏度:克尔转角检出度优于0.3mdeg(RMS),适用多层膜堆的磁性表征 样品重复定位精度:优于1 um,静态抖动0.25 um 样品360°任意角度旋转。功能及应用场景垂直/面内MRAM磁性存储器、磁传感器膜堆的磁滞回线测量 自动提取磁滞回线信息,，如自由层和钉扎层Hc、Hex、Ms等 可自动进行连续逐点扫描，生成晶圆磁特性分布图 系统预置多点扫描模式:单点、阵列、径向分布,自定义位置列表 系统提供手动加载或全自动操作方式,满足研发/生产需求。

CA300M设备配置货期：15天 品牌：北斗仪器 名称：大平台自动型接触角测量仪 产地：广东东莞 型号：CA300A自动滴液/M手动滴液-平台大小如5050等 接触角（Contact angle）是指在气、液、固三相交点处c作的气-液界面的切线，此切线在液体一方的与固-液交界线之间的夹角θ，是润湿程度的量度。是现今表面性能检测的主要方法。北斗仪器大平台光学接触角测量仪CA300采用光学成像的原理-图像轮廓分析方式测量样品表面的接触角、润湿性能、表界面张力、前进后退角、表面能等。主要由光源、注射单元、样品台、采集系统、分析软件等组成。北斗仪器大平台光学接触角测量仪CA300采用全自动进液装置，性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求，目前已经广泛使用在众多高校院所及企业。测量方法 固体表面处理评价、等离子清洗效果分析、表面清洁度分析、固液体之间或固体黏驸特性研究、液体配方设计、表面印刷性能的表征、分析表面改性、玻璃（包括塑料或金属等固体）表面润湿性研究等。北斗仪器大平台光学接触角测量仪CA300在手机制造、玻璃制造、表面处理、材料研究、化学化工、半导体制造、涂料油墨、电子电路、纺织纤维、医疗生物等领域，接触角测量已经成为了一项评估表面性能的重要仪器。ASTM D 1173/评价表面活性剂发泡性能的标准测试方法（罗氏泡沫分析法）ASTM 5725 / 用自动接触角测试仪测试片状材料表面润湿性和吸收性的标准方法ASTM 724 / 纸表面润湿性的标准方法（接触角法）ASTM C 813 / 用接触角测量法测试玻璃疏水污物的标准方法ASTM D 971 / 用环法测试油对水的界面张力的标准方法ASTM D 1331 / 表面活性剂溶液表面张力和界面张力的标准测试方法ASTM D 1417 / 测试合成橡胶胶乳的标准方法ASTM D 1590 / 水表面张力的标准测试方法DIN 53914 / 表面活性剂测试 – 测定表面张力DIN 55660 / 色漆和清漆 - 润湿性评价DIN EN 14210 / 表面活性剂 – 用镫法或环法测定表面活性剂溶液的表面张力DIN EN 14370 / 表面活性剂 - 表面张力的测定DIN 14272 / 泡沫化合物德标 - 适用于消防用低膨胀水性成膜泡沫化合物ISO 1409 / 塑料/橡胶-聚合物分散体和橡胶胶乳（天然和合成）-表面张力的环法测定ISO 4311/阴离子和非离子表面活性剂-临界胶束浓度的测定ISO 6295 / 油水界面张力的测定ISO 6889 / 表面活性剂 – 用拉膜法测定界面张力ISO 304 / 表面活性剂 - 用拉膜法测定表面张力Amtsblatt EU L251/37 / 表面张力OECD 115 / 化学品测试准则- 水溶液的表面张力型号CA300大平台光学接触角测量仪 三维平台左右X移动3030：手动：行程300mm,精度0.1mm前后Y移动3030：手动：行程300mm,精度0.1mm上下Z移动3030：手动：行程30mm,精度0.1mm水平调整整机水平调整，摄像头水平调整（配送专业级XY水平仪）样品台尺寸300*300mm（可定制如400*400mm、500*500mm、600*600mm、800*800mm、1000*1000mm）可放置最大样品300（W）*∞(L)*50(H)mm（可定制）样品台材质铝合金进 液系统微量进样器XY移动行程：100mm，精度0.1mm（针头对中及液滴转移）进液控制移动行程：70mm,精度：0.001mm滴液控制模式CA300A自动，精度：0.01ulCA300M手动，精度：0.1ul加液方式自动（配送5ml玻璃烧杯自动一键加液，加满自动停止）手动(手动抽取)微量进样器容量：500ul(实时显示剩余容量)容量：1000ul针头亲水针头0.5mm不锈钢针头（可替换）20个、超疏水针头0.25mm（可替换）20个成像系统镜头Subpixel级别1倍远心轮廓深度定制镜头相机日本SONY原装进口高速工业级芯片(Onsemi行曝光)传感器类型1/1.8 英寸逐行扫描CMOS分辨率1280× 1024镜头控制仰视角度：±10度，精度：1度调焦移动行程：0-10mm，精度1mm。帧率80帧/s（可选配全局曝光高速400帧/s的相机）光源系统组合方式采用石英扩散膜与均光板使得亮度更均匀，液滴轮廓更清晰光源采用进口CCS工业级蓝色冷光源（有效避免因光源散发热量蒸发液滴），使用寿命可达5万小时以上亮度调节PWM数字调节光源波长460-465nm功率10W接 触角测量接触角测量方法悬滴法、座滴法、前进角、后退角、滚动角、薄膜法等测量软件CA V1.2.1静/动态接触角测量软件+表面能测量软件软件操作系统要求windows 10(64位)接触角测量方式自动与手动接触角计算方法（static contact angle） 自动拟合法（ms级别一键全自动拟合，不存在人工误差）、三点拟合、五点拟合、自动测量（包括圆拟合法/斜圆拟合法（Circle method/ Oblique Circle）、椭圆拟合法/斜椭圆拟合法(Ellipse method /Oblique Ellipse)）、凹凸面测量等动态接触角测量（Dynamic contact angle）前进角（Advancing angle），后退角（receding angle），滞后角（hysteresis angle），滚动角（选配）(可批量拟合多张图片或视频连续拟合计算Video analysis)基线拟合自动与手动角度范围0°＜θ＜180°精度0.1°分辨率0.001°表面能表面能测量方法Fowks法，OWRK法，Zisman法，EOS法，Acid-Base Theory法,Wu harmonic mean法,Extended Fowkes法（软件中预装37种液体数据库，可自行建立液体性能参数）数据可直接调入用于表面能估算，液体库数据可自行添加、删除和修改。可分别得到固体表面能、色散力、极性力、氢键力、范德华分量、路易斯酸分量、路易斯碱分量等表面能单位MN/m其他机架型材欧标40*多条输入电源220V 50-60Hz仪器尺寸5050：约1050mm（W）*380mm(L)* 600mm(H)仪器重量约60KG表界面张力测量方法自动拟合+手动拟合精度0.01MN/m测量范围0.1MN/m-2000MN/m润湿性分析粘附功一键自动分析铺展系数一键自动分析粘附张力一键自动分析精度0.001 MN/m单位MN/m配件选配件纸片夹具、温控平台（高温、低温、高低温、湿度）、旋转台（滚动角）、蠕动泵等。设备选配件众所皆知，软件是一台仪器的灵魂所在，组成系统的硬件虽为测量提供了基础，但只有在软件的支持下，才能完美地实现硬件的功能，充分发挥其潜力，使系统的总体功能和性能如虎添翼。本公司研发定制的CA V1.2.1静/动态接触角测量软件+表面能测量软件专用测控软件自2010年开始就面向客户提供使用，经过多年来各行业客户的使用反馈、使用要求、国家标准和国外标准的融合，已经达到一个很成熟稳定的状态。拥有自主知识产权的软件控制系统（行业内极少），在对以后软件升级，新标准更换的时候起到一个很大的优势。本款产品所操控的软件已经获得国家版权局登记证书，仿冒必究。软件主界面图版权声明：广东北斗精密仪器有限公司拥有光学静动态接触角分析测量仪CA V1.2.1软件的所有知识产权，本计算机程序受版本法/著作权法和国际公约保护，未经书面授权擅自传播本程序部分或者全部可能遭受严厉的民事刑事制裁，并将在法律允许的范围内受到最大可能的起诉测试报告1.精细机械：系统的框架选用高质量的进口高强度氧化保护铝型材并烤漆处理，所有的其它主要组件也都是由铝合金，不锈钢和铜合金通过精密制作而成。保证仪器极强的稳定性。2.精密定位：系统所有的线性移动单元，包括三维样品台（xy-轴），(Z-轴)注射器/针头的移动调节，均是由直线铜齿条和精密燕尾槽驱动，确保传动平稳、轻松和精细。3.配置齐全的进样器与针头选择：提供数十种不同规格的进样器供使用者选择，如不同规格（25ul/50ul/100ul/250ul/500ul/1000ul….）,不同材质（气密玻璃进样器/塑料进样器），不同品牌（Hamilton/boli….）以满足不同客户需求。提供各种规格（10-34#）以及不同材质（不锈钢/聚四氟乙烯/pp挠性针头）以及特殊针头（弯曲针头），可用于常规接触角测量，也可用于超疏水、超亲水、高粘度等特殊液体的进样、液滴转移等。4.成像系统：采用了行曝光（Rolling Shutter）高分辨率CMOS图像传感器配合pomeas0.7-4.5远心轮廓镜头。保证最佳的成像效果。同时亮度连续数字可调的高强度背光冷光源为成像提供了均匀的背景照明。优质镜头和高分辨率相机能够以理想的尺寸和亮度在图像中显示出液滴，即使是非常小的液滴。5.领 先 的 软 件 平 台 ：软 件 是 整 个 测 量 系 统 的 灵 魂 和大 脑 。 CA V1.2.1软件 为用户 提 供 了 范 围 广 泛 的功 能 和 特 性 ，而 且 其 中 的 许 多 项目 在 这 一 领 域 均是 出类拔萃 。作 为 一 光 学 方 法 ，测 量 的 精 度 取 决于 成 像 的 质 量 和 后 着 的 处 理 、 分析 和 计 算 方 法 。 其 中 采 用 的 亚 像 素 （ sub-pixel） 液 滴 坐标 检 测 ，自 动 液 /固 /流 -三 相 接 触 线 识 别 ， 液 滴 全 轮 廓 分析 ，和 基 于 连 续 信 息 反 馈 的 液 滴 监 视 功能 等构成了 软 件 的 核 心 组 件 ， 而且 这 一 切 又 都 能 实 时 完成。具备双边接触角自动测量快速拟合功能，分析液体与固体的表面润湿性能、更准确的分析表面的实际润湿情况。6.软件自动生成报告，其中涵盖word、excel、PDF图文、谱图等多种数据报告。7.基线自动倾斜功能，可修正由于样品倾斜或机台倾斜时的差异。8.分级管理系统，权限管理。分实验员与管理员。避免人为数据的改动影响测试结果。9.具备双边接触角测量快速拟合功能，更全面量分析液体与固体的表面润湿性能、更准确的分析表面的实际润湿情况；10.动态拍摄、视频快速测试数据，可以连续性记录测试接触角的变化，再由软件自动批量拟合；11.具备历史数据库功能，记录每一次的测试结果，可追溯历史测试结果。1.usb2.0数字CCD摄像头 1个 2.手动加样系统 1套 3.表界面分析测量系统应用软件 1套4.说明书纸质一份及说明书电子版 1份5.保修卡及合格证1份6.亲水进样针20个 7.500ul进样器1个8.数据线1条9.XY专用水平仪1个 配置清单CA300A设备配置物料名称数量规格描述主机框架1高强度进口欧标航空铝合金结构搭配模块化设计相机1USB2.0接口， SONY 1/1.8" MT9M001 Rolling shutter CMOS，分辨率H1280×V1024，帧率80fps镜头1对焦距离90mm，0.7×时视场13.71～18.28mm，4.5×时视场2.13～2.84mm光源1日本CCS工业级深度定制单波长LED轮廓冷光源，120个密集光源点，配合美国进口柔光板与均光板，亮度连续可调，24V安全电压支撑脚1铝合金+减震胶垫结构，配合减震系统，可调节机台水平与防震效果俯仰调整滑台1螺杆控制，调整范围±1°滴液驱动模块1电机驱动，超细牙丝杆转动，移动行程60mm， 导程0.5mm，重复定位精度±0.1μl滴液升降模块1旋钮驱动，丝杆转动，XY移动行程50mm，重复定位精度±1mm样品台升降滑台1齿轮齿条控制，移动行程40mm，分辨率0.1mm 样品台平移滑台1齿轮齿条控制，移动行程X300×Y300mm，分辨率0.1mm固定件和连接件1AL6061铝合金数控加工而成，表面烤漆处理控制器1微机控制系统，发送指令控制滴液系统电气控制单元1集成了包括电路、电位器、开关、电源等测量软件1包括接触角测量、表面张力测量、表面能估算和润湿性分析微量进样器1500uL，分辨率0.001ul耗材1亲水进样针，疏水进样针,500ul进样器电脑（选配）1如下配置CA300M设备配置物料名称数量规格描述主机框架1 高强度进口欧标航空铝合金结构搭配模块化设计相机1USB2.0接口， SONY 1/1.8" MT9M001 Rolling shutter CMOS，分辨率H1280×V1024，帧率80fps镜头1对焦距离90mm，0.7×时视场13.71～18.28mm，4.5×时视场2.13～2.84mm光源1日本CCS工业级深度定制单波长LED轮廓冷光源，120个密集光源点，配合美国进口柔光板与均光板，亮度连续可调，24V安全电压支撑脚1铝合金+减震胶垫结构，配合减震系统，可调节机台水平与防震效果俯仰调整滑台1微量进样器21000uL耗材1亲水进样针，疏水进样针,1000ul进样器电脑（选配）

1. 样品台专为晶圆设计，可适应6-12寸的晶圆，具备四向对中功能。2. 矩阵型多点测试，测试精准简单方便。自动定位-滴液-接液-自动测量-自动换位。3. 一次测试点位多达50+个,可在原图上直接显示数据并保存。4.测试结果可直接保存在阵列图上。5.批量方案设置功能，可保存多个测量方案，一次保存，终身无需再设定。可随时调取。货期：3天内 品牌：北斗仪器 型号：CA720产地：广东东莞 名称：全自动晶圆专用接触角测量仪接触角（Contact angle）是指在气、液、固三相交点处c作的气-液界面的切线，此切线在液体一方的与固-液交界线之间的夹角θ，是润湿程度的量度。是现今表面性能检测的主要方法。采用光学成像的原理-图像轮廓分析方式测量样品表面的接触角、润湿性能、表界面张力、前进后退角、表面能等。主要由光源、注射单元、样品台、采集系统、分析软件等组成。北斗全自动晶圆接触角测量仪CA720采用全自动进液装置，性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求，目前已经广泛使用在众多高校院所及企业。 专为晶圆深度定制的一台北斗全自动晶圆接触角测量仪CA720，广泛用于晶圆的润湿性能分析与研究，是一台快速测量晶圆多点位润湿性分析测量的设备。符合标准： ASTM 5725 / 用自动接触角测试仪测试片状材料表面润湿性和吸收性的标准方法ASTM C 813 / 用接触角测量法测试玻璃疏水污物的标准方法型号CA720全自动晶圆专用接触角测量仪试验平台尺寸直径320mm前后Y移动 自动：行程160mm,精度0.1mm上下Z移动自动：行程30mm,精度0.1mm水平调整整机水平调整，摄像头水平调整（配送专业级XY水平仪）可放置样品6-12寸样品台材质铝合金带四向对中技术进液系统微量进样器X移动行程：50mm，精度0.1mm（针头对中及液滴转移）进液控制移动行程：60mm,精度：0.001mm滴液控制模式自动，精度：0.01ul加液方式自动（配送5ml玻璃烧杯自动一键加液，加满自动停止）微量进样器容量：500ul(实时显示剩余容量)针头亲水针头0.5mm不锈钢针头（可替换）20个、超疏水针头0.25mm（可替换）20个成像系统镜头Subpixel级别0.7-4.5远心轮廓深度定制镜头相机日本SONY原装进口高速工业级芯片(Onsemi行曝光)传感器类型1/1.8 英寸逐行扫描CMOS分辨率1280× 1024镜头控制仰视角度：±10度，精度：1度调焦移动行程：0-10mm，精度1mm。帧率80帧/s（可选配全局曝光高速400帧/s的相机）光源系统组合方式采用石英扩散膜与均光板使得亮度更均匀，液滴轮廓更清晰光源采用进口CCS工业级蓝色冷光源（有效避免因光源散发热量蒸发液滴），使用寿命可达5万小时以上亮度调节PWM数字调节光源波长460-465nm功率10W接触角测量接触角测量方法悬滴法、座滴法、前进角、后退角、滚动角、薄膜法等测量软件CA V1.2.1静/动态接触角测量软件+表面能测量软件软件操作系统要求windows 10(64位)接触角测量方式自动与手动接触角计算方法（static contact angle）自动拟合法（ms级别一键全自动拟合，不存在人工误差）、三点拟合、五点拟合、自动测量（包括圆拟合法/斜圆拟合法（Circle method/ Oblique Circle）、椭圆拟合法/斜椭圆拟合法(Ellipse method /Oblique Ellipse)）、凹凸面测量等动态接触角测量（Dynamic contact angle）前进角（Advancing angle），后退角（receding angle），滞后角（hysteresis angle），滚动角（选配）(可批量拟合多张图片或视频连续拟合计算Video analysis)基线拟合自动与手动角度范围0°＜θ＜180°精度0.1°分辨率0.001°表面能表面能测量方法Fowks法，OWRK法，Zisman法，EOS法，Acid-Base Theory法,Wu harmonic mean法,Extended Fowkes法（软件中预装37种液体数据库，可自行建立液体性能参数）数据可直接调入用于表面能估算，液体库数据可自行添加、删除和修改。可分别得到固体表面能、色散力、极性力、氢键力、范德华分量、路易斯酸分量、路易斯碱分量等表面能单位mN/m其他机架型材欧标160输入电源220V 50-60Hz仪器尺寸约890mm（W）*400mm(L)* 580mm(H)仪器重量约60KG表界面张力测量方法自动拟合+手动拟合 精度0.01 mN/m测量范围0.1 mN/m -2000 mN/m润湿性分析粘附功一键自动分析铺展系数一键自动分析粘附张力一键自动分析精度0.001 mN/m单位mN/m众所皆知，软件是一台仪器的灵魂所在，组成系统的硬件虽为测量提供了基础，但只有在软件的支持下，才能完美地实现硬件的功能，充分发挥其潜力，使系统的总体功能和性能如虎添翼。本公司研发定制的CA V1.2.1静/动态接触角测量软件+表面能测量软件专用测控软件自2010年开始就面向客户提供使用，经过11年来各行业客户的使用反馈、使用要求、国家标准和国外标准的融合，已经达到一个很成熟稳定的状态。 拥有自主知识产权的软件控制系统（行业内极少），在对以后软件升级，新标准更换的时候起到一个很大的优势。接触角测试记录LAB-TR-020一、测试信息样品名称8寸样品批号8寸样品编号液体编号测试方法LYSD测试介质蒸馏水介质密度1g/cm³ 测试环境温度：23° 湿度：55%测试日期2023-04-16 11:16:43仪器名称接触角测量仪仪器型号CA720平台直径280mm 样品直径200mm间隔尺寸20mm测试个数4旋转度数40°旋转次数9测试员shibc备注 二、测试数据序号时间(H.M.S)左接触角(°)右接触角(°)平均接触角(°)液滴直径(mm)位置判断结果试验方法111:10:4628.16828.21628.1923.9081-1OK自动拟合-椭圆211:10:5627.25127.75327.5023.9581-2OK自动拟合-椭圆311:11:0524.37124.17824.2744.1991-3OK自动拟合-椭圆411:11:14 24.62825.04224.8354.1751-4OK自动拟合-椭圆511:11:2324.67623.98624.3314.2901-5OK自动拟合-椭圆611:11:3224.46124.81324.637 4.1371-6OK自动拟合-椭圆711:11:4123.87824.06623.9724.1671-7OK自动拟合-椭圆811:11:5126.22524.68825.4564.0091-8OK自动拟合-椭圆911:12:0024.08524.41124.2484.1971-9OK自动拟合-椭圆1011:12:0929.65529.67729.6663.8881-10OK自动拟合-椭圆1111:12:19 26.62326.80026.7123.9501-11OK自动拟合-椭圆1211:12:2823.85423.77123.8124.1581-12OK自动拟合-椭圆基准值上限80基准值下限4最小角度23.771最大角度29.666平均角度25.262三、实时曲线四、测试图片 11.晶圆自动旋转系统 1套物料名称

特点TMAH、硫酸、盐酸、NaOH 和过氧化氢浓度计阵容无需试剂即可轻松操作最多 19 个内存功能测量概述红外吸收光度方法使仪器无需复杂的操作（如稀释或试剂）即可轻松测量高浓度化学溶液的浓度。仪器规格产品名称红外吸光度药液浓度计类型表达式硫酸浓度 ：IR-V1-H2SO4用于盐酸浓度 ： IR-V1-HCl氢氧化钠浓度 ： IR-V1-NaOHTMAH 浓度 ： IR-V1-TMAH过氧化氢浓度 ： IR-V1-H2O2测量范围硫酸浓度：0~500g/L盐酸浓度用：0~200g/L氢氧化钠浓度用：0~300g/LTMAH浓度用：0~250g/L过氧化氢浓度用：0~350g/L样品液体温度0．0～35．0℃测量方法吸光光度法（水测量）校准通常仅零校准。 可根据需要进行跨距校准内存功能最多可记录和调用 19 个测量数据电源碱性电池 （LR03×4）自上次操作起 10 分钟内自动关闭电源水测试约 1 mL外形尺寸仪器主体 ： 88×174×65mm重量仪器 ： 约 310g标准配置仪器、电极、电池、使用说明书、保修单IR-V1 目录

申贝科学仪器氡子体测量仪RPM2200产品简介：&bull SARAD RPM2200 氡子体测量仪在收集子体的同时，子体的分离和活性确定也同步进行，可选配多种测试探头。大屏幕触摸屏操作，即时显示测量数值&bull RPM2200氡钍子体测量仪是SARAD*新推出的*高灵敏度大流量氡钍子体测量仪。该款是外置探头，可实现徒手快速更换滤膜&bull 仪器中央处理器监控内置薄膜泵的工作状态，维持吸气流量与预设值恒定通过加固型微孔滤膜。针对滤膜被击穿堵塞等意外情况，仪器利用内置探头感应滤膜上的持续压差，即时自动识别&bull 仪器所配置的探测头，我们使用*面积为400mm2，光屏蔽的半导体Si探头&bull 结合特殊微孔滤膜，提供高精度的能谱分辨率，从而实现了单个子体的辨识&bull 不同于以往，仪器采用连续测量方式，也*是说在收集子体的同时，子体的辨识分离以及其活性的确定也同步进行。从而输出氡/钍子体其各自的等效当量浓度(EEC)以及阿尔法潜能浓度(PAEC)&bull 由于钍子体Po-212其较长的半衰期，所以通过滤膜所收集的活性并不能直接得出钍子体浓度（响应时间为40小时）&bull 为了提供一个有效的时间分辨率，例如：为了表示*的过程，Po-212的活性过程我们采取了对其进行积分的处理&bull 即时的测量值可由大屏幕触摸屏操作显示。所有的测量数据，包括每个测量周期的完整阿尔法能谱，都被存储于1块2GB的存储卡上，可通过USB连线PC进行下载读取&bull 支持连接GSM-GPRS调制解调器或者ZigBee模块进行远程无线的数据传输与仪器控制&bull 用户还可以选择加装外置探测器与RPM2200进行连接，用于确定现场Gamma剂量率。仪器内置更多输入输出端口，用于连接更多用户自定探测器。说明文档内列表部分范例应用&bull 随仪器附带设置软件以及数据处理软件，便携式手提箱可选 技术参数：子体探头固定于RPM2200前面板探头400mm2离子注入式半导体探头Alpha能谱范围V滤膜网状加强型滤膜, d=25,4mm, 1μm孔径滤膜击穿，污染预警徒手更换滤膜，无需工具泵薄膜泵流量*大3l/min,流量可准确设定调控。测量范围0…1 MBq/m3(EEC)灵敏度约1000 cpm/(kBq/m3) (EEC)响应时间120 min测量/分析分别确定氡与钍的EEC与PAEC完全存储每个周期的能谱以及测量值钍的测量值，通过计算Po-212其时间曲线的积分获得，从而在时间分辨率上表现更为优异Gamma-探测器(可选)经由导线连接至RPM2200前面板探头一体化设计探测器，内置光电倍增管与偏压闪烁晶体2“x 2“能量范围10keV–2MeV分辨率9% (Cs-137)测量/分析测量剂量率，2种确定核素的净放射性，完全存储每笔数据的能谱以及时间曲线探测器尺寸直径60mm，长度260mm5米长连线(可选10米)附加探测器内置或者外接于仪器前面板标准配件流量计0…4 l/min,准确度±5%气象学相关(可选)相对湿度0…*,准确度±2%温度-20…40°C,准确度±0.5°C大气压800…1200mbar,准确度0,5% MW气体分析(可选)CO, CO2, CH4,可燃性气体,不同测量范围水质分析(可选)pH值,氧化还原电位,导电性等过程监测(可选)压力，压差，流量，流速等常规测量可同时驱动所有探头，按照各自预设的测量方案进行测量测量时间方案存储16个预设测量时间方案，每个方案*多细分64个步骤(自定义循环次数，或者自动无限循环)单个测量区间可选范围1秒至数周数据存储2 GByte闪存卡控制/显示6 x 9cm触摸屏数据接口:USB, RS232供电部分内置12V充电电池,直流稳压电源可选外接12V汽车电源或者太阳能供电系统尺寸/重量235mm x 140mm x 255mm / kg软件平台dVISION：仪器控制与数据传输,图形化管理，数据整理dCONFIG：对系统进行设置，新建/修改测量程序方案(亦可通过GPRS，GSM，ZigBee-WLAN)扩展功能内置快速接线柱:预留8组模拟量输入，3组计数器输入，2个状态量输入，6组开关量输出，定时器，PID自控单元/模拟量输出

EQF 3200氡及其子体测量仪产品特征:仪器内置的氡测量腔室以及外置的子体测量探测器，均使用***的半导体放射探 头，通过Alpha能谱算法，实现了单一氡子体的辨识分离新款的外置探 头，可实现徒手快速更换滤膜内置高压氡测量腔室，经由特殊设计，实现了小腔室体积与高灵敏度的完 美结合，在钍测量与小采样量时表现更为突出独特腔室对于湿度变化完全不敏 感，无需干燥桶技术参数:测氡模组探 头：4x200mm2半导体离子注入式Si探 头内置腔室大小：整个气体回路空间250ml测量范围：0~10MBq/m3响应时间：快速氡12分钟，慢速氡120分钟重量：6kg

菲希尔膜厚测量仪菲希尔膜厚测量仪X-RAY系列产品主要用于检测各产品部件上的涂层，镀层，膜厚，元素等的测量分析。其在各个环节中的用途如下：菲希尔膜厚测量仪产品用途：由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统，因而应用广泛 在电子和半导体产业里，测量触点上薄金，铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中，精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中，需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中，光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中，则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者，检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》（ROHS指令）也是十分关键的。在玩具工业中，也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用，菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 菲希尔膜厚测量仪产品特点：快速无损的镀层厚度测量（单层或多镀层）分析固态，粉末或液态样品有害特痕量分析高精度和准确度十分广泛的应用准确测量基材是磁性和导电的材料样品制备非常简单测试方法安全，没有使用危害环境的化学制品无耗品，物超所值 菲希尔膜厚测量仪应用领域：钟表，首饰，眼镜 汽车及紧固件 卫浴五金连接器化学药水通信半导体封装测试电子元器件 PCB更多关于菲希尔膜厚测量仪请致电咨询。我司不仅是菲希尔膜厚测量仪代理商，同时也是一家PCB精密检测仪器及材料的生产厂家。

自动检定套装(ACS)软件、ACS基本版、ACS晶圆级可靠性选项自动检定套装(ACS)软件自动在器件级、晶圆级或组件级进行半导体器件检定。与吉时利各种源端测量仪器或S500集成测试系统相结合，基于ACS的解决方案填补了基于实验室的设置与高速生产测试系统之间的空白。 产品特点●ACS是一种灵活的交互软件测试环境，支持许多吉时利仪器和参数测试系统●ModelACS-2600-RTM选项及Series2600B 系统源表仪器提供了晶圆级可靠性解决方案。●ACSBasic是为元器件和离散器件测试优化的。

专为工业客户设计的M^2测量系统 关键词：光束质量分析仪，M^2测量仪，自动M^2测量仪，工业用光束质量分析仪，工业用M^2测量仪,激光M2因子测量仪，光束质量因子测量仪，激光M^2测量仪 Closed CinSquare system是CINOGY公司专门为工业客户设计的，用于测量激光器的M^2以及发散角等。为了能够满足不同工业客户的要求，CINOGY公司还可以根据客户的要求在我们标准的系统上提供定制化服务，这样客户可以不用花很大的成本去得到完全能满足要求的测量设备。该系统可以用于测量高功率的连续以及脉冲激光器，包过半导体/固体激光器以及光纤激光器等。该系统为自动测量系统，并且整个测量过程不超过2分钟，可以大大提高用户的工作效率。在该系统中我们配有高精度高像素的CCD相机，以及高精度的自动导轨，从而确保测量的准确性。 &there4 符合ISO11146-1/2&there4 为工业客户而设计的紧凑且稳健的系统&there4 全自动的M^2测量，整个测量过程不超过2分钟。&there4 基于相机测量的系统（不是狭缝扫描技术）&there4 2维和3维焦散拟合曲线&there4 可兼容测量连续以及脉冲激光器&there4 测量精度高&there4 分析软件RayCi支持已PDF格式输出所有的测量结果

名称：四探针电阻测量仪图片：品牌：KLA 集团旗下品牌 Filmetreics型号：R50用途：金属膜均匀性分布、离子掺杂和注入表征、薄膜厚度和电阻率分布、以及非接触膜厚等量测。优势 :1)接触式四点探针(4PP)和非接触式电涡流(EC)2) 100mm Z行程，高精度控制 3)导体和半导体薄膜电阻，10个数量级范围适用 4)测试点自定义编辑，包括矩形、线性、极坐标 以及自定义配置 5)200mm XY电动平台 6)RSMapper软件灵活易用 7)兼容KLA所有电阻测试探针应用市场：1）半导体 2）化合物半导体 3）先进封装4）平板和VR显示 5）印刷电路 6）穿戴设备 7）导电材料8）太阳能

德国LAUDA Scientific光学接触角测量仪LSA200-T由德国LAUDA Scientific公司研发生产，是新一代基于视频法的光学接触角测量仪，可以测量静态、动态接触角，测量表面、界面张力，测量表面自由能，全自动测量临界胶束浓度（CMC）等，能够满足样品和测量环境的特殊需求。该设备具有顶视法与侧视法同时测量接触角，非接触式液体注射系统，高速高分辨率视频系统，循环液或半导体控温，360度全自动样品倾斜台，可选配全自动样品升降台等优点。功能强大，扩展性强，自动化程度高，应用广泛，是高级科研人员的得力助手。德国LAUDA Scientific光学接触角测量仪LSA200-T的主要测量性能如下：1、测量动、静态接触角2、测量滚动角3、计算固体的表面自由能及其组成4、测量液体的表面/界面张力5、全自动测量临界胶束浓度（CMC）6、测量液体的界面粘弹指数及弛豫分析7、分析液体表面张力及其组成8、记录吸附材料的吸收过程9、计算及分析粘附功德国LAUDA Scientific光学接触角测量仪LSA200-T的主要优点：1、X、Y、Z轴可精确定位样品台2、X、Y、Z轴可精确定位注射平台3、非接触式电动注射单元4、可同时使用三套注射单元5、360度全自动倾斜台6、高速高分辨率视频系统7、全自动临界胶束浓度（CMC）测量附件8、滞留力测量附件9、俯视或双视测量系统10、振荡滴界面扩张流变测量系统德国LAUDA Scientific光学接触角测量仪LSA200-T的主要技术参数：1、接触角测量范围：0～180° 接触角测量精度：±0.1° 接触角测量分辨率：±0.01°2、表面界面张力测量范围：0.01～2000mN/m 表面界面张力测量分辨率±0. 01 mN/m3、视频图像系统：6.5倍变焦镜头，USB3.0高速高分辨率相机，分辨率高达1920×1200pixel，拍照速度高达3300images/s4、样品台尺寸：100×100mm/5、仪器尺寸（L×W×H）：620 mm×200 mm×543mm5、重量：19kg6、电源：50/60Hz；110/240V；90W

电磁辐射测量仪NIM511产品介绍： 电磁辐射测量仪NIM511是专门为使用ISM频率的工厂企业用于电场与磁场的同时测量。 电磁辐射测量仪NIM511校准到ISM-13，56MHz频率，完全覆盖工厂企业的频率范围。 仪表专门用于专业工厂企业的测量，例如在电焊车间、玻璃镀层、半导体生产、高频感应电炉、等离子发生器或者绝缘的加热烘干系统。产品特性：各向同性探头快速测量可靠的测量结果符合标准简单手持操作经济型，轻便耐用技术参数：主机尺寸 38 x 52 x 205mm探头尺寸 410mm线缆长度 1,1m频率范围 300kHz至100MHz

EQF3220 结合态/未结合态/凝聚态氡钍及子体测量仪技术参数:测氡模组探 头：4 x 200mm2半导体离子注入式Si探 头内置腔室大小：整个气体回路空间250ml气溶胶收集探 头：直径44mm，长度100mm气溶胶测量范围：0~1MBq/m3(EEC)数据存储：2 GB SD卡

四甲基氢氧化铵浓度计LQ-5Z-Multi长处用一个单位测量 8 个项目（硫酸、硝酸、盐酸、TMAH、烧碱、碳酸钠、氨水、水温），注意每个项目都是单独测量，被测液体中不能含有多种其他杂质。单组分液体浓度可在 % 和 g/L 单位之间切换耐酸碱的耐化学腐蚀传感器自动温度补偿电极和仪器任意量程校准功能IP66级防水结构仪器规格名字用于单组分测量的多项目化学浓度计型LQ-5Z-多功能测量范围碱性溶液TMAH：0.00~5.00%/0.0~50.0g/L氢氧化钠：0.00~3.00%/0.0~30.0g/L 碳酸钠：0.0~10.0%/0~100g/L氨水：0.00~2.00%/0.0~20.0g/L酸溶液 硫酸：0.00~2.00%/0.0~20.0g/L硝酸：0.00~2.00%/0.0~20.0g/L盐酸：0.00~2.00%/0.0~20.0g/L温度：0.00~40.00°C样品液体温度0.0~40.0°摄氏度测量方法电极法（水样测量）校准零量程校准功能温度补偿自动温度补偿结构IP66防水结构权力具有自动关机功能的碱性电池（LR03×3）测量电极4C 型，1m 电缆标准外形尺寸仪器本体：38（H）×75（W）×180（D）mm 电极：φ17×180（L）mm重量仪器：约300g，电极：约50g标准配置仪器、电极、电池、使用说明书、保修卡

德国TRACERLAB BWLM-PLUS-S氡子体测量仪可同时显示氡浓度，钍子体浓度，放射物的流率以及辐射剂量。德国TRACERLAB BWLM-PLUS-S氡子体测量仪产品简介：BWLM-PLUS-S氡子体测量仪世界范围内10%的肺癌是由于吸入放射性气体Rn-222以及其衰变物质所引起的，危害性很大的核素是Rn-222衰变为Po-218或者Po-214所放出的α粒子，高能的α粒子会严重危害肺部的健康，故检测氡及其衰变物是非常重要的BWLM-PLUS-S氡子体测量仪是由德国TraceLab设计制造的一款氡及氡子体浓度检测仪BWLM-PLUS-S氡/钍子体测量仪通过直径为47mm，滤孔直径为0.8μm的滤纸将氡/钍子体析出。再进行氡/钍子体浓度的测量德国TRACERLAB BWLM-PLUS-S氡子体测量仪产品特点：仪器同时显示氡浓度，钍子体浓度，放射物的流率以及辐射剂量(当累计辐射剂量达到预警值时报警)数据分析：除了常规检测报告之外，配有图表分析，可以对于氡衰变过程中不同核素进行定量分析精度高：0.02cts/(h.kBq/m3)检测范围：1-1000000Bq/m3，可以应用于辐射强的地区，如核电站和矿山(采石场)符合国家室内空气检测新标准《建筑材料放射性核素限量》用户参数设置：可以根据需要设定参数，实现氡及其子体监测的系统监控德国TRACERLAB BWLM-PLUS-S氡子体测量仪产品参数：系统组成：硅面垒型半导体探测器 电流放大器 多通道分析器 流量计 计时器 微控制器 通信接口测量方法：脉冲电离室法，可选择快速测量，慢测量，模拟浓度测量测量范围：0.01-2000000Bq/m3测量方法：快速测量，慢测量，模拟浓度测量测量下限：（1hour）0.01Bq/m3测量周期：1,2,5,10,30分钟或1,2,6,12or24小时电池内置电池可连续运行8小时（泵吸模式），可配置ups电源，可以连续运行8天以上。数据管理系统：可存储，检索，传输，打印，时钟，以及仪器设置参数 数据存储不受时间限制，只要PDA有存储空间即可测量精度：标准误差小于5%主机重量小于4.8KG可与PC连接实时传输数据，提供分析软件。

热变形形貌测量仪 Insidix公司，是法国著名的平整度特性测量,非破坏性测试提供全面解决方案的领导者，为全球微电子工业,半导体行业、及PCB(线路板生产)工业提供先进的基板及封装测量解决方案。现已得到了苹果、三星、中兴、荣耀等电子公司的认可。 热变形试验机形貌测量仪产品特点■无需光栅■非接触式双面加热,上下表面温差小■快速的升温,降温速率■完美的Reflow模拟■可同时测量warpage以及变形值,CTE等■可测量BGA ball以及leader共面性和变形值■可带球测试,可测试有阶梯高度的产品■测量精度高■可同时测量多个样品热变形试验机形貌测量仪规格参数最大样品尺寸：300mm x300mm最小样品尺寸：0.5mm x 0.5m  视场范围: 10mmx10mm --300mmx300mm 视场深度: 40mm 温度范围: -60℃~+300℃升温速率: 最大6度每秒降温速率: 最大3度每秒3Dcamera: 1200万像素 测量精度: +/-1um（取决于镜头）热变形试验机形貌测量仪应用说明

视频光学接触角测量仪，常规用于材料，高校应用研究，测量液体与气体，固体间三相角度。接触角是液体与固体交界处形成的一个夹角，通常是液滴的边界与固体表面的接触线之间形成的角度。这个角度能够提供有关固体表面的亲水性（对液体有吸引力，一般角度在60度以下）或疏水角（对液体有排斥性，一般角度 在60度以上）的信息。来百度APP畅享高清图片接触角测量广泛应用于多个领域，接触角测量仪是测什么的？已知测试方案包括材料科学（LED灯珠，FPC柔性线路板，半导体晶圆材料，玻璃，薄膜材料）、表面润湿性研究、表面涂层技术、生物医学（培养皿）、纳米技术（织物，粉体，纳米，纤维）等。那么，这些材料如何通过接触角测量仪进行测试呢：1、涂层技术： 在涂层工业中，接触角测量可用于评估涂层的性能，例如涂层的附着力、耐腐蚀性以及防污性能。如薄膜材料需要亲水性强，需要用接触角量化材料的疏水角度，从而进行表面改性。2、接触角在生物医学应用： 在医学领域，接触角测量可以用于研究生物液体（如血液、细胞培养液）与生物材料（如假体、医疗设备）之间的相互作用，有助于了解生物界面的性质。如果表面疏水，更有利于液滴能顺利的滑落。3、半导体晶圆的润湿性研究： 接触角测量被用于研究半导体晶圆材料表面的润湿性能，作为下一道工序的应用，即液滴在固体表面上展开或凝聚的能力。这对于理解液体在微纳米尺度上的行为非常重要。4、纳米技术： 在纳米尺度的研究中，表面现象和液体行为变得更加显著，接触角测量可以帮助研究人员了解纳米尺度上的液体-固体相互作用。5、材料表面性质研究： 接触角测量可以用来研究材料的表面性质，比如固体表面的亲水性或疏水性。这些信息对于选择合适的材料、设计涂层以及改进材料性能都非常有价值。总之，接触角测量仪作为材料的实验工具，用于研究液体与固体表面之间的相互作用，为多个领域的研究和应用提供有关表面性质的重要信息。我们以KZS-10手动款接触角测量仪为例子，对多种材料进行测试，测试的结果能量化材料表面的润湿性能。从而获得下一步工序的制备工序。

光反射薄膜测厚仪原产国：美国薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。该产品是一款价格适中、功能强大的膜厚测量仪器，近几年，每年的全球销售量都超过200台。根据型号不同，测量范围可以从10nm到250um，它最高可以同时测量4个膜层中的3个膜层厚度（其中一层为基底材料）。该产品可应用于在线膜厚测量、测氧化物、SiNx、感光保护膜和半导体膜。也可以用来测量镀在钢、铝、铜、陶瓷和塑料等上的粗糙膜层。 应用领域理论上讲，我们的光干涉膜厚仪可以测量所有透光或半透光薄膜的厚度。以下为我们最熟悉的应用领域(半导体薄膜，光学薄膜涂层，在线原位测量，粗糙或弧度表面测量)：□ 晶片或玻璃表面的介电绝缘层(SiO2, Si3N4, Photo-resist, ITO, ...)；□ 晶片或玻璃表面超薄金属层(Ag, Al, Au, Ti, ...)；□ DLC(Diamond Like Carbon)硬涂层；SOI硅片；□ MEMs厚层薄膜(100μm up to 250μm)；□ DVD/CD涂层；□ 光学镜头涂层；□ SOI硅片；□ 金属箔；□ 晶片与Mask间气层；□ 减薄的晶片( 120μm)；□ 瓶子或注射器等带弧度的涂层；□ 薄膜工业的在线过程控制；等等… 软件功能丰富的材料库：操作软件的材料库带有大量材料的n和k数据，基本上的常用材料都包括在这个材料库中。用户也可以在材料库中输入没有的材料。软件操作简单、测速快：膜厚测量仪操作非常简单，测量速度快：100ms-1s。软件针对不同等级用户设有一般用户权限和管理者权限。软件带有构建材料结构的拓展功能，可对单/多层薄膜数据进行拟合分析，可对薄膜材料进行预先模拟设计。软件带有可升级的扫描功能，进行薄膜二维的测试，并将结果以2D或3D的形式显示。软件其他的升级功能还包括在线分析软件、远程控制模块等。

手动晶圆厚度测量仪 MX203系列产品简介：MX203系列手动晶圆厚度测量仪，用于测量直径为2寸、3寸、4寸、5寸、6寸、8寸、12寸晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。测量原理：MX203系列采用电容测量原理，晶圆上下各有若干对平行的电容测厚传感器，通过测量电容器电容变化计算晶圆厚度，及晶圆上下表面距离电容器的距离，进而得到晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。主要技术参数1）晶圆直径：50mm, 75mm, 100mm, 150mm, 200mm，300mm, 450mm2）厚度精度：±0.5 µ m3）分辨率：50 nm4）厚度范围：100-1000 µ m5）自动晶圆：手动应用： SIC, Si, GaN, GaAS, InP等半导体晶圆的高分辨率厚度，TTV，弯曲度和翘曲度，平整度，以及应力的测量。

半自动晶圆厚度测量仪 MX204系列产品简介：MX204系列半自动晶圆厚度测量仪，用于测量直径为2寸、3寸、4寸、5寸、6寸、8寸、12寸晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。测量原理：MX204系列采用电容测量原理，晶圆上下各有若干对平行的电容测厚传感器，通过测量电容器电容变化计算晶圆厚度，及晶圆上下表面距离电容器的距离，进而得到晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。主要技术参数1）晶圆直径：100mm, 125mm, 150mm, 200mm2）厚度精度：±0.5 µ m ~ ±1 µ m±1 µ m3）分辨率：75 nm ~ 1.0µ m4）厚度范围：100-1000 µ m5）自动晶圆：半自动应用： SIC, Si, GaN, GaAS, InP等半导体晶圆的高分辨率厚度，TTV，弯曲度和翘曲度，平整度，以及应力的测量。

固体激光器 半导体激光器 气体激光器 氩离子激光器 光纤激光器 大功率光纤耦合激光器 皮秒激光器 飞秒激光器 调Q脉冲激光器 激光系统控制器 激光功率计 激光护目镜 激光波长测量 激光光束分析仪 多通道激光功率计 大功率激光器 激光光束位置测量仪 激光扩束镜 激光准直器 红外激光显示卡 红外激光观察仪 红外观察仪 激光测距仪 激光器温度控制器 激光光纤耦合器 高稳定性激光器 自相关仪 飞秒激光倍频器 可变光阑 便携式激光器 染料激光器 激光光谱测量 热电制冷片 激光光束定位系统 视频显微镜测量系统 2微米光纤激光器 飞秒光纤激光器 皮秒光纤激光器 脉冲光纤激光器 光纤隔离器 拉曼激光器 光功率计 飞秒激光脉冲自相关仪 激光二极管参数分析仪 激光二极管电流控制器 单模垂直腔面发射激光器 超连续谱激光器 超连续谱激光器附件 窄线宽光纤激光器 高功率激光二极管 激光光斑位置测量仪 激光准直仪 250系列多波长激光防护 中红外激光器 自动点胶机 不同波长YAG系列激光防护镜 白光激光光源 光束整形器 光纤耦合脉冲激光器 超快激光放大器-EDFA 紧凑型氩离子激光器 新型氩离子激光器 微型固体激光器 近红外激光器 红外激光器 光纤耦合激光对准系统 激光二极管 超窄线宽激光器 激光测试测量仪器 波长计 可调谐激光器

ATR1000自动透反射率测量仪支持透过率和反射率测量，可给出光谱曲线，用于实时测试样品的紫外到近红外波段（最宽可达200-2500nm）的透过率和反射率。ATR1000采用一体化设计，采用内置固定光纤，光路稳定，样品仓可以完全封闭，把外界光的影响降到最低。软件操作简单，可通过设置阈值自动判断测试结果是否合格，广泛应用于光学玻璃、半导体等行业，测试毛糙样品时，可按照客户要求配备积分球。产品特点◆能对多点进行全自动定位测量，实时数据采集◆ 可以测量整段光谱，能选取六个光谱的透过率或反射率，设置阈值自动判定检测结果◆ 可根据样品要求配备积分球◆ 灵活搭配的透/反射测量方案◆ 操作简单，容易更换样品◆ 采用内置固定光纤，光路稳定应用领域半导体激光器腔面高反射涂层 太阳能电池 硅片、晶圆光学玻璃、薄膜 屏幕面板 涂料珠宝玉石 纺织品技术参数

泰科纳闪测仪快速批量测量仪器采用直径100mm大视野和双远心镜头，既可实现闪测仪大视野大范围内高速测量，又可以实现影像仪的微米级高精度测量。能够快速对零件的二维几何参数（如：长度、宽度、弧度、直径、半径、角度、孔距、对称度等）进行非接触式微米级测量。同时可以加装电感侧头、光谱共聚焦位移传感器、激光位移传感器等来实现高度、深度、平面度测量。泰科纳闪测仪快速批量测量仪器该平台可以移动，突破了传统一键闪测仪的固定行程控制，可以测量更大的零件。XYZ三轴伺服控制，定位精度高，速度快，运行平稳，可以编程全自动测量，大大提高测效率。测量数据支持读取处理，便于建立测量数据管理系统，对接MES或ERP系统。广泛应用于：航空航天、汽车电子、半导体、钟表、手机零部件等行业中既要高速度又要高精度测量的产品。面对闪测仪与影像仪的抉择，关键在于明确需求。若追求高效、快速的批量测量，闪测仪无疑是理想之选；而若项目对测量精度有高要求，影像仪则能胜任。两者各有优势，如果您还不知道如何抉择，不妨联系泰科纳技术，为您推荐最合适的机型以及样件试测服务，让选择不再迷茫。

1、产品简介：HS01B型环境氡测量仪是采用高分辨率SiAu(金硅面垒型)半导体射线探测器，HS01C测氡仪是采用高分辨率CZT(锑锌镉)半导体射线探测器，HS01P测氡仪是采用高分辨率PIPS(离子注入)半导体射线探测器，以微控制器为核心研制成的新一代以α能谱测量方式进行氡测量的智能辐射防护检测仪表。该仪器可供民用建筑工程室内辐射环境氡水平监测及污染控制，民用建筑工程地点土壤中氡浓度调查与评价。也可用于矿产资源勘查、工程地质勘探、核工业有关部门环境氡浓度监测、地震及地质灾害预报监测、在地质调查中确定地质构造、水质评价等工作中的氡浓度辐射检测等。主要有：◆空气环境氡浓度检测；◆土壤中氡浓度检测；◆水中氡浓度检测；◆土壤表面氡析出率测量、材料表面氡析出率测量；◆气态放射性样品射线能谱分析；2、环境氡测量仪满足标准:➢HJ1212-2021(原GB/T14582)《空气中氡的标准测量方法》，静电收集法；➢GB50325-2020《民用建筑工程室内环境污染控制规范》，泵吸静电收集能谱分析法；➢EJ/T 605-2019《铀矿勘查氡及其子体测量规范》，α能谱测氡法；➢GB/T18883-2022《室内空气质量标准》，静电收集法；3、选择HS01B或HS01C、HS01P测氡仪理由➢性价比高：性能优于同类进口产品，价格更低；➢功能全：能胜任所有测氡领域测氡需求；➢性能好：优于同类产品(请对比同类进口仪器)；➢专业强：源于专业科研团队最新科研成果；➢易操作：触控屏，一键式标准化操作，入门门槛低；➢易管理：内置打印，USB连接电脑，可导出Excel数据管理；➢售后服务：原厂的售后服务，为您可靠使用本设备保驾护航；➢HS01经过4年的市场考验，在HS01基础上进行全新升级，性能稳定。4、采用α能谱测氡原因(与闪烁瓶总量法的对比)α能谱测量通过测量短寿目标核素实现对氡(钍)的测量，具有快速响应快速恢复特色。只测量紫色显示的A区的Po218短寿特征核素(来的快去的快)，而总量方法(闪烁瓶法)，将ABCD全部数据都记录，不利于快速响应快速恢复。α图谱中B绿色D蓝色是Rn220引起的，A紫色C黄色是Rn222(氡)引起的，而C来的慢去的慢；5、主要技术指标➢探测器：HS01B采用φ30mmAuSi(金硅面垒型半导体探测器)；HS01C采用φ30mmCZT(锑锌镉半导体探测器)；HS01P采用φ30mmPIPS(离子注入硅平面探测器)；➢灵敏度：嗅探模式约0.4CPM/1pCi/L；(10%RH湿度下)常规模式约0.8CPM/1pCi/L；➢氡子体静电高压收集腔：1.0L，取样泵流量约3L/min；➢检测对象：氡(Rn222)，氡子体潜能、钍(Rn220)及其子体；➢测量方式：主动泵吸静电吸附，256道α能谱(最佳能谱道数)，Po218能量分辨率3%；➢本底计数：≤0.01cpm➢探测下限：2Bq/m3(60min,2σ)➢其它参数：温度、湿度同步测量，温湿度自动修正；➢干燥器：大、中两种干燥器，也可不用干燥器，湿度自动修正➢测量对象：空气、土壤、水中氡浓度、土壤表面氡析出率、建筑材料表面氡析出率➢测量范围：空气氡：1~1000,000Bq/m3；氡子体潜能：655.35~0.01uJ/m3土壤氡：100~1000,000Bq/m3水中氡：0.01~655.35Bq/L析出率：0.001~65.535Bq/m2• s➢重复性(相对标准差)：≤5%(24小时，每小时一次，1000Bq/m3)；➢相对固有误差(年稳定性)：不超过±10%(K=2，同一检定标准)；➢体积活度响应：不超过±10%(同一检定标准)；➢短期稳定性(24h)：优于±10%；➢测量不确定度：≤20%(K=2)(氡室浓度≥2000Bq/m³)➢操作模式：单点，连续和扫描测量➢LED提示：电池电量、蓝牙连接、USB连接以及启动测量；➢安装方式：干燥剂进气口可安装到标准相机架上，高度45~150cm可调高度符合测量规范，也可以直接放置台面上或者地面上；➢打印存储：自动保存4096次能谱测量数据，可随时复查；随机内嵌热敏打印机，可随时打印测试数据。➢通信接口：USB接口(支持Win7-64系统或者Win10-64系统)，配专用数据读取和谱线显示软件，提供USB接口与仪器通信；➢液晶显屏：480×27265K色触控屏，操控简单直观方便；支持单次数据显示，也支持多次数据列表显示。➢电源：3.7V/50Ah(可充电锂电池)，续航约120小时；➢环境条件：-10℃~50℃，相对湿度≤90%；➢重量：主机约4.7kg；➢主机尺寸：292*232*259mm；

德国Sentech光伏测量仪MDPmap，灵活的自动扫描系统离线工具MDPmap是专为半导体晶片或部分工艺过的晶片的多功能、非接触和少子寿命测量而设计的。MDPmap能够连续地改变激发脉冲宽度，从非常短的脉冲(100ns)到稳态测量(几ms)，研究不同深度的缺陷动力学和少子寿命特性。直观的绘图软件适用于有效的常规测量以及复杂的研发应用。 MDPmap设计用于离线生产控制或研发、测量少子寿命、光电导率、电阻率和缺陷信息等参数的小型台式无触点电特性测量仪器，在稳态或短脉冲激励下(μ-PCD)下工作。自动的样品识别和参数设置允许在从原始生长晶片到高达95%金属化晶片的各种工艺阶段之后，容易地应用于包括外延层的各种不同样品。 MDPmap的主要优点是灵活性高。例如，它允许集成多达四个激光器，用于从超低注入到高注入的与注入水平相关的寿命测量，或者通过使用不同的激光波长提取深度信息。包括偏光设施，以及μ-PCD或稳态注入条件的选择。可以使用不同的测量图形进行客户定义的计算，以及导出用于进一步评估的主要数据。对于标准测量，预定义的标准仅通过按一个按钮即可实现常规测量。 优势。在几乎任何生产阶段，电活性缺陷或材料性能的可视化实现了工艺优化和设备的性能预测。。极其通用的测量方法可实现特殊测量以及国际标准的可追溯性。。小型紧凑的台式工具，具有很高的测量灵敏度，便于快速常规测量。