薄膜发射量仪

作为专注于薄膜产品的厂家，我们始终致力于为客户提供薄膜表面测试和解决方案。经过严格筛选和测试，终于联系到了科众精密仪器，对试用了他们的水接触角测量仪超过三个月，以确保能够获得准确、可靠的测试结果。KZS-20测量仪器具有完备的性能和合理的软件技术，旨在满足薄膜产品测试的各项需求。无论是表面润湿性能、涂层质量还是薄膜材料的各项性能测试，水接触角测量仪将成为得力助手。它提供简单易用的操作界面，精准的测量结果以及快速的响应速度，能够高效地进行各项测试工作。

测试材料较为疏水，使用晟鼎的SDC100接触角测量仪能顺利准确测量，晟鼎具备疏水材料测量的专用配件，而且具备微分椭圆法进行疏水材料的接触角分析算法用户使用晟鼎产品解决的问题：测量了太阳能电池薄膜材料的润湿性能，量化判断薄膜材料间的润湿效果。

针对使用水和乙二醇测量薄膜材料的接触角测量仪，可以提供以下解决方案：仪器选择： 选择一台全自动接触角测量仪，确保其具备高精度、稳定性和可靠性。该仪器应具备液滴放置、图像采集和接触角计算等功能，以便进行测量和分析。

科众精密仪器-接触角测量仪，量化电解液到电池薄膜的接触角，解决方案

薄膜厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量

铜铟镓硒薄膜太阳能电池板以其高转换率和低成本备受期待。 由于各层的颗粒尺寸和层结构质量会影响发电表现，因此用SEM观察断面结构非常重要。

在制造薄膜太阳能电池过程中的主要挑战是控制膜层的成分。商品化所需要的膜层结构重复再现性和依靠膜层精确成分的电池的电学性质同样重要。辉光放电发射光谱分析能够适用于确定整个涂层系统的深度剖面元素含量分析。

全固态电致变色器件的实用化研究一直是该领域的研究热点。电致变色器件全固态化的关键是采用合适的快离子导体（有时亦称固体电解质）作为器件的离子传导层。目前，用于电致变色器件的快离子导体仍以固态聚合物电解质为主，然而，聚合物电解质存在易老化、机械强度差、工业化生产难度较大等缺点。无机快离子导体是最有希望用于全固态电致变色器件的离子导体材料。本实验室前期研究结果表明，在合适的工艺参数下制备的 ZrNx薄膜具有高的透过率、良好的热稳定性、耐磨性和化学稳定性，适合于作为电致变色器件的离子导体层。 到目前为止，制备离子导体薄膜最常用的方法有溶胶－凝胶法、真空蒸发法、化学气相沉积法和溅射沉积法等，其中磁控溅射以沉积速率高、基片温升低、膜层均匀性及附着力好、工艺参数易控制等优点而日益成为制备离子导体薄膜的理想工艺方法。 因此本文以纯锆靶及纯铬靶为靶材，采用反应磁控溅射工艺在 WO3/ITO/Glass基片上沉积 ZrNx薄膜和 ZrNx:Cr 薄膜，通过紫外－可见分光光度计、循环伏安法、交流阻抗法、X 射线衍射仪、热场发射扫描电镜以及扫描隧道显微镜等测试分析方法，研究了制备工艺参数以及 Cr 掺杂对 ZrNx薄膜离子导电性能和结构的影响 。研究结果表明：采用射频反应磁控溅射工艺制备的 ZrNx薄膜和 ZrNx:Cr 薄膜均为非晶态结构，溅射功率和氮气分量等工艺参数对薄膜的离子导电性能有较大影响，选择合适的氮分量和溅射功率有助于提高 ZrNx薄膜的离子导电性能，在本实验的条件下，原位沉积 ZrNx薄膜的可见光透过率大于 75％,ZrNx/WO3/ITO/Glass器件的光学调节范围最大可达 57％以上，在离子传导过程中表现出良好的离子导电性能。 掺杂后的 ZrNx:Cr 薄膜，晶态趋势大于未掺杂的 ZrNx薄膜，结构的变化导致ZrNx:Cr 薄 膜 的 离 子 传 导 性 能 有 所 下 降 ， 电 化 学 窗 口 变 小 ， 从 而 使ZrNx/WO3/ITO/Glass 器件的光学调节范围缩小。

我们通过配有自动反射/透射分析仪附件的LAMBDA 950分光光度计评估了3M® 可见镜膜在新型曲面光伏模块领域的潜在应用。在应用过程中，3M® 薄膜必须将可见光反射至模块焦点（在焦点处，可见光将被吸收，如用于驱动加热电机的的热吸收器），并同时将近红外光传送至底层的硅太阳能电池（在硅太阳能电池内，红外光将被直接转化成电能）。通过自动反射/透射分析仪进行的角分辨反射和透射测量显示：当入射角小于等于50° 时，3M® 自支撑薄膜是s-偏振光和p-偏振光的有效光学薄膜。当薄膜与所述模块曲面玻璃胶合时，为了保持薄膜效能，应将薄膜紧密贴合于玻璃之上（不得起皱）。利用带探测器的狭窄光阑自动反射/透射分析仪进行的测量能够表明所评估的胶合程序在多大程度上能产生预期结果。我们目前正在利用自动反射/透射分析仪生产的光谱预估在焦点采用热接收器的曲面模块的发电站的年度发电量，评估过程考虑到了太阳日常运动和年度运动，以及模块上入射角的相关变化。我们也在寻求能够反射可见光和红外线的光学滤光器（同时还可以透射近红外线），并使用积分球和自动反射/透射分析仪研究光学滤光器的性能。

记录接触角的测量结果，并对不同实验条件下的数据进行统计和比较。接触角越大，表明薄膜表面越容易使水珠形成球形，具有良好的疏水性。接触角越小，表明薄膜表面越容易使水珠展开，具有良好的亲水性。接触角越大，表明薄膜表面越不容易使水滴辅展开，此时产品表面疏水性强。

全球首套实验室级实时监测薄膜生长的掠入射小角散射(GISAXS)系统。曝光时间仅为8s，入射角调到与临界角接近，可以达到实时沉积的亚单层灵敏度。

本文研究了在镀Mo膜钠钙玻璃(SLG)上共溅射和共蒸发工艺制备的CuIn1-xGaxSe2 (CIGS)吸收膜中主要和次要化学成分的LIBS光谱的影响。结果表明，共溅射技术制备的CIGS层的单脉冲剥烧蚀率高于共蒸发技术制备的CIGS层，从而导致各组分的LIBS信号强度较高。通过对辐照表面形貌和LIBS信号强度变化的研究，发现共溅射技术制备的CIGS薄膜存在元素分馏现象，而共蒸发技术制备的CIGS薄膜没有元素分馏现象。通过x射线衍射检测，证实了两种不同类型CIGS吸收膜的剥蚀和光谱特性的差异是导致其结晶性能差异的原因。此外，LIBS可以有效地测定从SLG扩散而来的CIGS薄膜中钠浓度的深度剖析。

使用两种测量技术不进行接触角的测量，通常情况下，在水滴转移后（60 正负10）S内进行接触角的测量，若另有规定，则按食品说明中有关水滴角转移和测量的在最大有效时间来进行测量。1 调整量角器指针合其与度样表面的水滴相切，从而直接用量角器测量接触角。2 用接触角测量仪中的微分圆法或者微分椭圆法，通过水滴图像测量接触角。

Hiden的EQP等离子体质量、能量分析仪在薄膜的磁控溅射沉积研究中可以提供残余气体分析、随磁控源开关产生的气体分析、离子能量分布、中性粒子分析等多种分析手段。

氮化硅薄膜窗口广泛应用于同步辐射光源中的扫描透射软X射线显微镜和原位透射电镜，但氮化硅薄膜只有几百纳米的厚度，很容易因真空抽取初期的快速压差变化造成破裂。为此，本文提出了线性缓变压力控制解决方案，即控制安装有氮化硅薄膜窗口的真空腔内的气压，按照固定的速度进行缓慢减压，从而实现氮化硅薄膜窗口的防止。同时本解决方案对以往的高精度控制方案进行了简化，简化为只用一只皮拉尼真空计和只控制电动球阀。

采用配备全能型测量附件包的 Cary 5000 分光光度计测量了两种样品的折射率。其中一个样品为纳米复合涂层：石英基底（可见光范围内透明）上的 Zr-Si-B-(N) 薄膜。第二个样品为单晶硅基底（可见光范围内不透明）上的铌酸锂 LiNbO3 层状结构。计算出了两个样品的折射率，准确度为 ± 0.01。根据所测定的折射率，计算了两个样品的薄膜厚度。

R1 在光辐射调控中的应用。基于柔性量子点薄膜表面的介电微球腔阵列，分别利用介电微球腔的 WGM 效应和定向天线效应，调控了量子点的内量子效率和外量子效率，成功地将定向辐射角度控制在 9° 范围，实现量子点薄膜荧光性能 3 个数量级的提高。这为具有高效、柔性、全色、可穿戴特点的新一代量子点发光及显示器件，奠定了一定的研发基础。

功能性薄膜是一种高分子材料，根据其功能性应用在不同的场景中，其中对于薄膜光学性能的表征，是评估薄膜质量的分析方法之一。最常见的是评估其反射率和透过率。日立紫外可见近红外分光光度计UH4150 优异平行光束，确保透过率和反射率的准确测量。

本文介绍了偏振调制红外反射吸收光谱（PM-IRRAS）的概况、系统以及薄膜测量的样品数据。

根据保护热板法导热系数测试的国标和ISO标准中对热辐射率的规定，本文在保护热板法测量原理的基础上建立了相应的半球向全发射率测试模型，并对半球向全发射率测试模型进行了有限元模拟分析计算，从理论上摸清了测试模型中的温度分布和热流分布情况，证明了保护热板法热导率测试方法应用在试样表面半球向发射率测量存在巨大的原理性误差，但同时揭示了另外一种准确有效的半球向全发射率测试方法，即采用稳态热流计法热导率测量装置来测量试样表面的半球向全发射率。同时，也表明了在采用各种稳态法测量发射率过程中，直接测量热流密度往往会更有效，测量精度会更高。

薄膜穿刺力试验仪主要用于检测薄膜或薄片材料的穿刺强度。通过试验，可以评估材料在受到穿刺时的性能，如抵抗穿刺的能力、穿刺发生时的力和位移等。这对于评估材料的适用性和安全性具有重要意义，例如在医疗、包装、建筑材料等领域中使用的薄膜或薄片材料。薄膜穿刺力试验仪的检测结果可以为材料的设计、生产和应用提供参考，帮助改进材料的性能，提高其安全性和可靠性。同时，通过与其他材料的对比，也可以评估不同材料的优缺点，为材料的选择和替代提供依据。薄膜穿刺力试验仪的检测对于材料性能的评估、质量的控制以及产品的研发和应用都具有重要的意义。

现今，太阳能正作为一种清洁能源和动力被广泛重视和利用。 太阳能热发电技术，也叫聚焦型太阳能热发电（Concentrating Solar Power，简称CSP），是通过大量反射镜以聚焦的方式将太阳能直射光聚集起来，加热工质，产生高温高压的蒸汽，蒸汽驱动汽轮机发电。 因此，太阳能热发电过程中采用的反射镜的反射率对提高太阳能利用就是至关重要的，反射镜的反射率测量的准确性必须受到重视。我司代理的美国SOC公司的410Solar便携式光谱反射计光谱范围覆盖太阳能光谱的范围即330～2500nm，410VIS反射率测量仪光谱范围为400~1100nm，精度达到±3%，其便携性可使得工作人员随时随地对反射镜的反射率进行精准测量。 410Solar 和410VIS便携式光谱反射计在美国被能源部的NREL实验室所采用进行太阳能聚光塔反射镜反射率测量，其可靠性、便携性和准确性得到了NREL的高度评价。 410VIS便携式光谱反射计和ET100便携式红外光谱发射率测量仪在NREL实验室的应用可进行下载和参考。

MSE 试验可以不受基底材料的束缚，对硬质薄膜耐磨性进行单独评估。MSE 试验的高灵敏性也适合评估多层涂层及薄膜和基底间的界面层。同样适合评估其它类型的薄表面层如氧化物，硬漆，耐摩膜等。MSE微粒喷浆冲蚀法（定量测定）是用冲蚀磨损的方法评估涂层冲蚀磨损是指液体或固体以松散的小颗粒按一定的速度或角度对材料表面进行冲击所造成的一种材料损耗现象或过程。它广泛存在于机械、冶金、能源、建材、航空、航天等许多工业部门。MSE微粒喷浆冲蚀法（定量测定）是用冲蚀磨损的方法评估涂层，是世界最新的材料评估方法。MSE微粒喷浆冲蚀法是指恒定的压缩空气与浆料在喷嘴中混合后，最终高速喷射到涂层材料表面，持续对材料表面进行冲蚀，材料磨损量随表面强度而变化。再通过试验机将磨损量的变化转换成磨损率，以此来评估和对比各种材料表面强度。适用于所有涂层、镀层、镀膜，可很好地评估超硬、超软、透明、超薄、复合涂层等。固体微粒1.2μm，可产生10-50mm磨痕，样品尺寸为30mm*30mm*10mm，磨损面积为1mm2，喷射速度（100m/s），喷射角度为90度。

使用薄膜附件，采用掠入射衍射几何，可以得到信噪比更高的衍射谱图，并且可以实现分层分析物相。薄膜太阳能电池的结晶状态和界面状态极大的影响电池的性能。

离子存储层（对电极层）是全固态电致变色器件的关键膜层，其作用是存储和提供电致变色所需的离子，维持电荷平衡，因此要求它具有较大的离子存储能力，较好的离子存储稳定性及循环寿命，并且同电致变色材料同步致色时光学性能变化较小，其性能的好坏直接影响到整个器件的循环耐用性和光学对比度。在以a-WO3薄膜为电致变色层的灵巧窗中，弱阴极致色的V2O5薄膜是最具有实用价值的候选锂离子存储材料之一，它具有半导体特性和层状结构，有利于离子传输，在聚合物电解质中化学性能稳定，具有较大的电荷储存密度，光学性质不明显依赖于注入的离子和电子浓度。但是目前要使其真正进入实际应用还需进一步提高薄膜的离子存储能力，优化制备工艺参数和对薄膜进行合理掺杂是两种有效提高薄膜性能的方法。实验采用射频磁控反应溅射技术在ITO玻璃基片上沉积固态V2O5和V2O5:Ni薄膜，文中介绍了薄膜的离子存储及溅射掺杂机理，并通过X射线衍射、X射线光电子能谱、紫外-可见光分度计和标准三电极法分别研究薄膜的结构、组成、光学及电化学性能，主要讨论氧分量、溅射功率、溅射温度等工艺参数以及Ni掺杂参数对薄膜的结构和性能的影响。研究表明：室温下用射频磁控反应溅射技术制备的V2O5和V2O5:Ni薄膜为非晶态，少量Ni掺杂不会改变薄膜的非晶态结构，在Li离子注入/退出过程中表现出良好的离子存储特性；较低的氧分量和溅射温度有助于提高薄膜的半导体特性及离子存储特性，在一定范围内提高溅射功率，可有效提高薄膜的离子存储能力及伏安循环特性；而V2O5薄膜掺杂Ni之后，非晶态的趋势稍强于纯V2O5薄膜，结构的微弱变化导致了V2O5:Ni薄膜具有更好的离子存储特性；掺杂工艺对薄膜的电化学性能影响较为复杂，主要与相对掺杂量和掺杂方式有关，当相对掺杂量处于有效掺杂范围和最佳值附近时，掺杂越均匀，薄膜的综合性能越好，同时掺杂次数也存在一个最佳值。

目前法庭科学中，对香烟盒外包装薄膜的检验方法主要有红外光谱法、小角X射线散射法、差示扫描量热法、X射线荧光光谱法[4-9]等。拉曼光谱法具有无损、快速、准确、样品不需要前处理等优势，在农业、医药、化学等领域得到了广泛的应用。

薄膜过滤法利用液体的流动能力和微孔滤膜的截留能力，能够在较短时间内快速有效地将微生物富集在滤膜上。迅数科技整合多年研发经验、历经多次试验与技术创新，于2022年推出全新的HD2000型滤膜菌落计数仪，为薄膜过滤法的菌落自动计数问题提供解决方案。

本方案介绍了一种基于广泛使用的激光脉冲法技术开发的块状和薄膜材料热扩散率测量技术，这种技术的核心是测量激光脉冲发出时间与脉冲到达探测器所需时间。同时采用实验室搭建的试验装置和计算模型，模拟了探测器的响应和由于空气对流所带来的热损失。这种方法的优点是可以不需要在真空条件下就可以准确测量热扩散率。在试验中，激光脉冲照射一端固定在热沉上另一端自由悬浮的长试样，通过电阻温度传感器，测量激光热脉冲在已知距离上的传输。对银线进行了测量，测量结果与参考值吻合的很好。作为一个重要的应用，这种方法测量其他方法很难测试的薄膜的试样热扩散率。例如我们测量了附着在陶瓷衬底上的石墨烯薄膜。通过采用计算模型和简单试验过程，可以有效和准确的各种薄膜材料的导热系数。

摘要 目的：建立薄膜—电导率法总有机碳分析仪测量结果不确定度的评定方法。方法：分析了测量过程中不确定度的主要来源，即工作曲线的不确定度、测量仪器读数分辨率导致的不确定度、测量不重复性引起的不确定度、标准溶液引起的不确定度等，分别量化后合成标准不确定度，得到总有机碳测量的扩展不确定度。结果：通过对HTY-2500总有机碳分析仪在2000μg• L-1测量点测量结果不确定度的评定，其扩展不确定度为U95 = 49（μg• L-1）（k=2）。结论：本方法所建立的测量结果不确定度评定方法准确、可靠，可为薄膜-电导率法总有机碳分析仪的测量结果不确定度评定提供较为准确简便的方法。关键词：总有机碳；测量不确定度；薄膜—电导率法中图分类号：R917 文献标识码：A 文章编号：0254-1793（2008）12-0-0Evaluation of Measurement Uncertainty for the Total Organic Carbon Analyzer with Membrane Conductmetric Detection Technology YAN Xiang-qing1，WU Xu-mei2(1.Zhejiang Province Institute of Metrology, Hangzhou, 310013, China 2. Hangzhou Tailin Bioengineering Equipments Co. LTD, Hangzhou, 310052, China)Abstract: Purpose: The article set up an evaluation method of measurement uncertainty for the total organic carbon analyzer with membrane conductmetric detection technology. Method: The article analyzed the main resources of the uncertainty of the measurement, which include uncertainty of the working curve, uncertainty of the resolution ratio of the instrument, uncertainty of measure unrepeatability, uncertainty of standard solution, etc. It quantified these uncertainties respectively and composed them to a standard uncertainty. Finally it got the expanded uncertainty of the total organic carbon measurement. Result: It evaluated the measurement uncertainty of the total organic carbon analyzer at 2000μg• L-1 and got the expanded uncertainty which is U95 = 49（μg• L-1）（k=2）. Conclusion: The evaluation method of measurement uncertainty set up by the article is accurate, reliable, and it can offer comparatively exact and convenient method for measurement uncertainty evaluation of the total organic carbon analyzer with membrane conductmetric detection technology. Key words: total organic carbon uncertainty of a measurement membrane-conductometric detection technology

采用磁控溅射法在氩气氛中制备了Mg-Sn薄膜(21≤ at. % Sn≤ 42.5)。薄膜的结构和形态特征是组成的函数。随着薄膜中Sn含量的增加，Mg2Sn结构由稳定的面心立方结构转变为亚稳定的正交结构。讨论了在较广温度范围内（30-200 C），这种结构改变对温差电性能的影响。测量了薄膜载流子浓度和迁移率，以解释作为薄膜结构修饰函数的电子传输行为。当Sn含量为36at.%时，在200℃品质因数达到最大值ZT≅ 0.26。此时，立方和正交的Mg2Sn结构共存。在真空 （~10-4Pa）下，在不同温度（最高600℃）下进行退火处理，以确定薄膜结构和形态稳定性的极限。