能量荧析谱仪

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

产品型号：EDX 4500产品名称：X荧光光谱仪测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：60秒-200秒探测器能量分辨率为：125eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃环境湿度：35%-70%外形尺寸：660mm×510mm×350mm样品腔体积：Φ320mm×100mm重量：65Kg性能特点超薄窗X光管，指标达到国际先进水平数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然标准配置超薄窗X光管FAST-SDD探测器数字多道技术钢铁行业测试专用配件光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回归程序整体钢架结构，力度可靠的保证90mm×70mm的液晶屏真空泵

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF（能量色散 X 射线荧光）系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。 ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；2、元素分析浓度范围从1ppm到100%；3、多元素同时测量时间10-60秒；4、可选多种进样器；5、使用CCD相机进行样品成像；6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；8、多功能XRF应用软件；9、薄膜厚度测量与镀层分析；10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；11、多语言支持；12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；14、设计紧凑，可以轻松移动；15、低噪音、得益于智能温控风扇；16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；17、易于安装，更易于维护。与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X射线管产生的所有杂散干扰。

EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行准确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。性能特点超薄窗X光管数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，准度更高，在合金检测中效果更好FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然技术参数产品型号：EDX 4500H产品名称：X荧光光谱仪测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：30秒-200秒探测器能量分辨率为：145±5eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃环境湿度：35%-70%样品腔体积：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg标准配置超薄窗X光管FAST-SDD探测器数字多道技术光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式可靠的整体钢架结构90mm×70mm的状态显示液晶屏真空泵应用领域合金检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）

美国Sable公司的多通道果蝇能量代谢测量系统用于精确测量果蝇等昆虫乃至其它动物呼出二氧化碳量及耗氧量等，并可计算呼吸商、同步化监测昆虫活动及其与能量代谢的关系，以及与其它行为模块兼容研究分析睡眠代谢等，广泛应用于果蝇及其它小型昆虫等动物能量代谢有关的研究，如遗传学、神经科学、营养学、肿瘤学、生物节律、睡眠代谢、肥胖、二型糖尿病和心血管疾病等生物医学及预防医学研究实验，以及其它昆虫病虫害防治、昆虫生理学、生态学等。系统由二氧化碳分析仪、氧气分析仪、多通道气路转换器、气流控制器、数据采集器及程序软件、气室（呼吸室）等组成。可根据研究内容及经费预算定制8通道（可同时测量7个动物的能量代谢）或更多通道如16通道等观测系统，或选择同时测量CO2、O2、RQ及H2O，亦可根据要求只选择测量CO2或O2的测量系统。 左图为完全模块式果蝇代谢系统示意图（来自美国Scripps研究所），右图为高集成性的MAVEn&trade 果蝇能量代谢系统（来自长春中医药大学） 功能特点：1) 模块式结构，具备强大的系统扩展功能和灵活多样的实验配置，是目前世界上果蝇能量代谢研究应用最广、发表论文最多的仪器系统2) 标准配置为8通道，可扩展为16通道、24通道或更多通道，应用于果蝇等微小昆虫或其它微小生物能量代谢测量3) 高灵敏度、高精确度O2/CO2分析仪，是目前世界上唯一可直接对单个果蝇等微小生物在线实时分析（开放式分析）的仪器系统4) 可通过选配AD-2红外活动监测装置，实时同步化监测果蝇等活动强度（昆虫活动呼吸室置入红外活动监测仪上，昆虫的任何活动都会导致反射红外光强度的细微变化，这种细微的变化经检测器监测到并加以放大，转变成电压信号经由数据采集器采集和分析，最终反映昆虫的活动状况）5) 可选配温度调控系统进行温度控制，以及FLIC果蝇取食行为监测模块监测其饮食行为等。6) 可以设置不同的测量方法，如封闭式、开放式、抽样流动注射等测量技术7) 可选配红外热成像监测模块，同步监测昆虫体温8) 可以其它果蝇行为分析模块兼容，如DAM果蝇行为监测系统，进行睡眠等行为与代谢分析。技术指标：1） 氧气分析测量：氧气测量范围0－100％，分辨率0.0001%，精确度优于0.1％，响应时间小于7秒，24小时漂移低于0.01％，20分钟噪音低于0.002％pk-pk；温度、压力补偿,4通道模拟输出，16bit分辨率；数码过滤（噪音）0-50秒可调，增幅0.2秒，内置A/D转换器分辨率24 bits；可同时测量温度（测量范围0-60℃，分辨率0.001℃）和气压（测量范围30-110kPa，分辨率0.0001kPa）；具两行文字数字LCD显示屏，具背光，可同时显示氧气含量和气压；大小33x25x10cm，重量约4.5kg。另有双通道高精度氧气分析测量仪备选。2） 高精度差分氧气分析仪（备选），适于果蝇等微小昆虫的开放式在线呼吸代谢测量，测量范围0－100%，精度0.1%，分辨率0.0001%3） 二氧化碳分析测量（CA-10）：双波长非色散红外技术，测量范围0－5％或0－10％两级选择（双程），内置数据采集系统，实时测量，响应时间小于1秒，分辨率优于0.0001%或1ppm（可达0.1ppm），精确度1%，建议气流5－2000ml/分钟，噪音小于2ppm，24小时漂移低于0.002%，通过软件温度补偿，采样频率10Hz；具两行文字数字LCD显示屏，具背光，可同时显示CO2含量和气压；4通道模拟输出，16bit分辨率，具数码过滤（噪音）；大小33x25x10cm，重量约4.5kg4） 超高精度二氧化碳分析测量（备选）：差分非色散红外气体分析仪，用于在线测量果蝇等微小生物或蜱螨类微小动物的能量代谢，测量范围0－3000ppm，分辨率达0.01ppm，精确度1%5） RH－300水气测量仪（备选）：测量范围0.2％－100％（相对湿度）、分辨率0.001%（相对湿度），露点温度-40~40℃、分辨率0.002℃（露点温度），水汽密度0-10µ g/ml、分辨率0.0001µ g/ml，水汽压力0-20kPa、分辨率0.01Pa；模拟输出16 bits，建议气流速度5-2000ml/min，具两行文字数字LCD显示屏，具背光，可同时显示水汽含量和温度6） SS4气体二次抽样单元：包括一个泵、针阀（控制进出泵体的气流）和气流计（0－2000ml/m）；隔膜泵，滚轴马达，最大流速2-4L/min；热桥式气流计，分辨率1ml/min，精确度2%；模拟输出12 bits；重量约2kg7） 气路转换器：8通道（包括一个Baseline通道），采样频率10Hz8） UI-3数据采集器，12通道，8个模拟输入，16bit分辨率；4个温度输入，分辨率0.001摄氏度；8个数字输出用于系统控制，1个16bit计数器，2通道电压输出，脉冲宽度调制9） 昆虫玻璃气室：超低二氧化碳和水气吸收或通透性， 直径33mm，标配包括50mm、100mm两种长度（可选配其它长度），气路接口OD3.2mm，特殊设计的双通（两端开通）密封盖和挡板装置，以使气流均匀分布10） 微型呼吸室：呼吸室及密封盖均为硼硅玻璃材质，用于果蝇等微小昆虫及昆虫卵等的呼吸测量，直径9.0mm，体积0.5－1.0ml，气路接口OD1.5mm，硼硅玻璃密封盖11） 红外活动监测（可选配）：红外发射与检测技术，900nm近红外光，不会被昆虫察觉而造成干扰，也不会产生明显的热效应，用于监测0.0005-1g的各种昆虫、蜱螨等无脊椎动物的活动状态，以研究昆虫等动物的生理生态、昆虫活动与温度的关系、昆虫活动与呼吸代谢的关系、昆虫健康状况及生理状态、杀虫剂对昆虫的影响及最小致死量、临界热极值CTmax(critical thermal maximum)、不连续气体交换DGC(discontinuous gas exchange cycle)等。12） Maven高通量昆虫能量代谢测量模块：该模块可同时测量16通道的昆虫呼吸室，高度集成性，涵盖了呼吸室、RM8、Model840、MFC-2及数据采集系统UI-3和ExpeData软件等。 13） 专业技术配置与培训，包括封闭式、开放式、抽气式、推气式、抽样流动注射法等不同技术装配与操作技术培训。应用案例： 2021年底，美国斯克利普斯研究所Tomchik教授团队在《Nature Communications》发表了关于神经纤维瘤蛋白通过神经元机制调控果蝇代谢“Neurofibromin regulates metabolic rate via neuronal mechanisms in Drosophila”的论文。研究采用果蝇睡眠和活动代谢监测系统（SSI果蝇能量代谢系统）监测果蝇的代谢率和活动来研究Nf1突变如何导致果蝇的多动症、神经元回路功能障碍和代谢改变（参见下图）。 原文Fig3. 昼夜光周期中Nf1的损失增加了代谢率。a：果蝇呼吸代谢监测系统示意图；b和c为Nf1P1突变体和wCS10对照组的CO2产量（排放率）；d和e为Nf1P1突变体和wCS10对照组的耗氧率；f为 Nf1P1突变体和wCS10对照组的呼吸商；g和h为Nf1 RNAi与杂合对照品系的CO2产量；I与J为Nf1 RNAi与杂合对照品系的耗氧率；k. Nf1 RNAi与杂合性对品系呼吸商。 为了深入了解代谢表型的昼夜参数和机制基础，通过SSI果蝇能量代谢系统测量氧气消耗（VO2）和二氧化碳产量(VCO2), 24小时光周期Nf1P1突变体的VCO2和VO2均高于对照组（Fig3b,d）, Nf1P1突变体日间和夜间的总代谢率均高于对照组（Fig3c,e）。同样，当使用nSyb-Gal4敲掉Nf1泛神经元时，发现VCO2和VO2均高于对照组（Fig3g-j），而且呼吸商（RQ）均显著下降（Fig3f,k）。RQ降低与内源性脂肪储备利用率增加一致，表明Nf1的丧失可能会增加脂肪利用率。总体而言，这些数据为Nf1在代谢调节中的作用提供了独立的支持，表明它在24小时光周期内是一致的，并表明它可能是由脂肪稳态改变引起的。北京易科泰生态技术有限公司与美国Sable等国际知名能量代谢测量技术公司合作，为国内生物学、生物医学、运动医学、环境医学、临床医学研究提供全面能量代谢研究技术方案和能量代谢实验室方案：SSI大鼠、小鼠等实验动物能量代谢测量技术畜禽能量代谢测量技术斑马鱼能量代谢测量技术人体能量代谢测量技术Foxbox超便携能量代谢测量技术动物活动与生理指标（体温、心率等）监测技术测量参数包括：氧气消耗量（VO2）、二氧化碳产量（VCO2）、呼吸商（RQ）、能耗（EE，包括REE、AEE、TEE等）、热传导速率（Ct）、日代谢率（DEE）、最大代谢率（MRmax）、呼吸水分丧失（EWL）、能耗效率、EWL/RMR(表示肺的氧气摄取能力)、定制行为学模块参数等。 产地：美国 参考文献1.Bethany A Stahl, PhD, Melissa E Slocumb, BS, Hersh Chaitin, MS, Justin R DiAngelo, PhD, Alex C Keene, PhD, Sleep-Dependent Modulation of Metabolic Rate in Drosophila, Sleep, Volume 40, Issue 8, August 2017, zsx084, 2.Botero V, Stanhope BA, Brown EB, Grenci EC, Boto T, Park SJ, King LB, Murphy KR, Colodner KJ, Walker JA, Keene AC, Ja WW, Tomchik SM. Neurofibromin regulates metabolic rate via neuronal mechanisms in Drosophila. Nat Commun. 20213.Elizabeth B.Brown, Jaco Klok, Alex C.Keene. Measuring metabolic rate in single flyies during sleep and waking states via indirect calorimetry. Journal of Neuroscience Methods, 20224.Santoro, C., O’Toole, A., Finsel, P. et al. Reducing ether lipids improves Drosophila overnutrition-associated pathophysiology phenotypes via a switch from lipid storage to beta-oxidation. Sci Rep 12, 13021 (2022).

仪器简介：Hiden EQP是一台结合质量和能量分析的仪器（Mass and Energy Analyser for Plasma Diagnostics），用于分析等离子过程中阴、阳离子、中性粒子以及自由基。技术参数：应用： 蚀刻 / 沉积作用研究 离子植入 / 激光烧蚀 残余气体分析 / 泄漏检测 等离子体电感耦合，即在操作中遵从电极设定条件 通过视口、接地电极和驱动电极进行分析主要特点： 软件控制的离子汲取光学系统，以使等离子体扰动最小 45°静电扇区分析器，扫描能量增量 0.05 eV / 0.25eV FWHM 所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输 带差式泵的三级过滤四极杆，质量数范围至2500amu 高灵敏度 / 稳定的脉冲离子计数检测器，有7个数量级的动态范围 可调谐的离子源，用于电子附着选件的表观电势质谱分析 Penning规和互锁装置可提供过压保护 信号选通分辨率1μs，用于研究脉冲等离子体或能量、质量分布随时间的变化 1000eV 选配, 漂浮电压可选至10keV, Faraday 杯用于高密度等离子体 Mu-Metal, Radio-metal 屏蔽可选,高压操作可选 通过RS232、RS485或Ethernet LAN，控制软件MASsoft

PSM是一台差式泵质谱仪（In-Line Plasma Analysers for Neutrals, Radicals and Ion Analysis），分析等离子过程中的二次离子和中性粒子。 差式泵歧管，通过法兰与过程反应室连接 电子附着选件，具有可调谐的离子源，用于表观电势MS Penning规和互锁装置可提供过压保护 信号选通分辨率1μs，用于研究脉冲等离子体或能量、质量分布VS时间 标准分析中性粒子、自由基，+ve / -ve 离子分析可选 灵敏度高 / 极稳定的3级过滤四极杆 质量数范围： 0 ~ 2500amu 脉冲离子计数检测器，7个数量级的动态范围 能量分析选件，标准 ±100eV（1000eV可选 ） Mu-Metal, Radio-metal屏蔽可选， 高压操作可选 通过RS232、RS485或Ethernet LAN ，软件MASsoft 控制

逆光电子光谱的低能量化实现了高精度 LUMO 水平（电子亲和力）的 测量。[样品损伤的显著减少] 辐照电子的动能应小于 5eV，这是有机分子的损伤阈值。 [高精度 LUMO 水平测量] 可测量与器件相同的薄膜样品。 &bull 将电子放松到与传导相关的水平，并直接测量。 实现与光电光谱 （XPS、UPS） 相同的精度。 能量分辨率 0.5eV 或更少。 可重复性 0.1eV 或更少。 测量的光谱反映了状态密度。 [简单设备操作] ● 超高真空规格（10-8Pa 台），通过简单的触摸屏操作自动进行样品输送、排气、测量的操作。● 通过储存 4 片样品基板 （ 缓冲室 ） ， 可实现高效的测量 。 [简单测量操作] 标准 LEIPS 软件允许通过简单的操作计算自动测量和电子亲和力。 [便利性和可扩展性] ● 与光电光谱 （XPS， UPS） 的对接，以及沉积设备的扩展，可作为标准进行处 理。● 可无大气暴露的样品基板搬运的载体箱标准设备 。 辐照电子的动能约为 5eV 或更少，作为近紫外光检测。 ● 避免 有机样品的损伤 ● 可采用高灵敏度的光电倍增管 。采用 Isochromat 模式，可实现高灵敏度、高能量分辨率的介电多层膜带通 滤波器进行光谱。

　　1.合金分析仪应用领域：　　1.1. ROHS\无卤检测指令　　1.2. 合金分析仪领域 (特别是轻元素)　　锌铝合金成分分析　　铝合金成分分析　　铜合金牌号判定、成分分析　　不锈钢成分分析(抽真空轻元素检测)　　铸铁成份分析 等　　1.3. 镀层成分分析　　镀层厚度分析　　镀层环保检测　　1.4. 仪器规格　　仪器腔尺寸：400mmX340mmX80mm　　仪器外观尺寸：700mmX510mmX336mm　　仪器重量：56kg　　1.5. 工作条件：　　● 工作温度：15-30℃　　● 相对湿度：40%～70%　　● 电 源：AC :220V ±5V、　　1.6. 技术性能及指标:　　1.6.1. 元素分析范围从钠(Na)到铀(U) 　　1.6.2. 元素含量分析范围为1PPm到99.99% 　　1.6.3. 测量时间：100-300秒(可调) 　　1.6.4. RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl)其检测限度达1PPM 　　1.6.7. 能量分辨率为129±5电子伏特 　　1.6.8. 温度适应范围为15℃至30℃ 　　1.6.9. 电源：交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源) 　　1.7.产品特点　　1.7.1 A550，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，对于矿石间各元素进行检测，减少元素间干扰　　1.7.2 整体结构化设计，仪器美观大方。　　1.7.3采用美国最新型的SDD硅飘移探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。　　1.7.4采用自主研发的SES信号处理系统(数字多道)，有效提高峰背比，让测量更精准。　　1.7.5一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。　　1.7.6七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。　　1.7.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品Highest。　　1.7.8优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。　　1.7.9机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。　　1.7.10多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。　　1.7.11专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。　　1.7.12本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。　　1.7.13全自动真空系统,屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。　　1.7.14一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。　　1.7.15抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用 同时开盖即解除真空，安全、简单实用。　　2.仪器硬件部分主要配置　　2.1 SDD电制冷探测器:　　2.1.1. SDD电制冷探测器 分辨率：145±5e电子伏特　　2.1.2. 放大电路模块:对样品特征X射线进行探测 把探测采集的信息,进一步放大。　　2.2 X射线激发装置:　　2.2.1. 灯丝电流输出MAX：1mA 　　2.2.2 .属于半损耗型部件，使用寿命大于5000小时　　2.3 高压发射装置:　　2.3.1. 电压输出MAX： 50KV 　　2.3.2. 电压输出MIN: 5KV，可控调节　　2.3.3. 自带电压过载保护　　2.4　一体化真空系统　　2.4.1　具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统 　　2.4.2　几何抽速：60 L/min(50Hz)　　2.4.3　压力：6.7×10-2 Pa　　2.5 数字多道分析器:　　2.5.1. 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件 　　2.5.2 道数MAX： 4096 　　2.5.3 包含信号增强处理功能 　　2.65光路过滤模块　　2.6.1 降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确 　　2.6.2 将准直器与滤光处整合 　　2.7 准直器自动切换模块　　2.7.1 多达7种选择，口径分别为8-1#, 8-2#, 8-3#, 8-4#，6#, 4#, 2#。　　2.8 滤光片自动切换模块　　2.8.1五种滤光片的自由选择和切换。　　2.9 准直器和滤光片的自由组合模块　　2.9.1 多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。　　2.10 工作曲线自动选择模块　　2.10.1 自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化　　3. 专用软件JPSPEC-FP　　3.1.1软件简介　　专门针对金属材料元素成份检测而开发(含真空控制功能)，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。　　3.1.2功能介绍　　※应对不同矿产材料可调式数据，测量时间为100-300秒(可调)　　※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作　　※可自动选择适合的校准曲线，测量更方便，更准确　　※中英文界面自动切换，并具有第三方语言订制功能　　※自动校准仪器　　※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线　　※多种报告形式打印　　※可同时显示多个光谱图　　※仪器测试参数及真空度实时显示，所有掌控一目了然　　※机芯温度监控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。　　4. 样品配置　　标准样品用于制作工作曲线　　4.1 样品腔　　开放式大样品腔：610mm×320mm×100mm　　半封闭样品腔(抽真空时)：Φ100mm×h75mm　　4.2 标样　　银校正片　　5. 产品保修及售后服务　　5.1 对客户方操作人员免费进行培训。　　5.2 国内客户安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。(国外客户可协商解决)　　5.3正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器主机自验收合格之日起保修壹年。　　5.4产品终身维修(客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等)。　　5.5免费提供软件升级。　　5.6提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，2小时内响应，如有需要，48小时内派人上门维修和排除故障。

仪器简介： 在工业及科研领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析，同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，贵金属检测等。 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度，非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司最新推出的SPECTRO MIDEX　X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求，可最迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求，德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化，使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。 　　SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX　适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX　也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。 　　SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构，海关商检、造币工业等，还可完成其它分析任务如：非破坏性检查，贵金属分选，电子线路及电气元件的分析等。技术参数：&bull 激发 - Mo 靶X光管 最大功率：30W,最大电压：48kV - 测量点尺寸 Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm 样品室 - 可显示样品的摄像系统(可调焦) - 手动调节样品台，样品定位简便 - 马达驱动精确移动的XYZ样品台， 最大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3&rsquo &rsquo (宽x深x高)， 最大样品重量：3kg/6.6 lbs 计算机 - 外置式计算机系统，Windows 操作系统， - 键盘，鼠标，显示器，打印机 - 菜单式软件，光谱仪参数调整和 数据评估及计算，元素成分及分布显示 检测器 - Peltier 冷却的Si 漂移检测器: Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2 - 以Mn K&alpha 线，在测量计数率为 10，000脉冲计数时， 能量分辨率：FWHM 160 eV - 微处理器控制的检测器和读出电路 - 脉冲计数率可达250，000 cps 光谱仪数据 - 电压：95-120V/200-240V,50/60 Hz, - 光谱仪能耗：200W - 仪器尺寸 宽x 深 x 高，单位mm 580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1&rdquo - 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 &rdquo - 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置 分析 - 用于合金元素分析的基本参数程序FP + - 塑料及复合材料的RoHS指令检测 环境条件 - 周围环境温度：5-30° C （41-85° F） 在20-25° C （68-77° F）下，可达到标定仪器性能 - 在 25° C (77° F)下相对湿度: 10-80 %，无冷凝，无蒸气腐蚀，防尘主要特点： SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是最新推出的第三代专利产品，不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定，还可对超大样品的表面（面积可达EC标准线路板规格的2倍， 233x160 mm）进行元素分布分析。 1 超大样品室● 长：520 mm(20.5 '')● 宽：310mm(12'') 2 微聚焦分析，不需要破坏 3 自由样品台. &bull 创新点 &bull 1.附带FP实际金属、贵金属、RoHS分析、无卤化塑胶回归的检测曲线，集多种应用于一身。该曲线采用大量金属及贵金属标准样品绘制，代表性强，实用性强，准确度高。分析数据可同时显示K金值及含量。 2.采用高分辨，高计数率，电制冷的SDD检测器，实际分辨率160eV，计数率高达250,000cps，非常适合高含量样品的分析。该计数器具有先进性及维护简单，无需繁琐而危险的液氮添加过程。 3.激光配合CCD摄像机双定位，样品分析点可视，可调。定位精度高。分析点的照片可截屏，出具报告时可以粘贴在报告中。 4.分析速度快，可在180秒内完成各类样品的分析任务 5.可选配狭缝交换器，测试点的尺寸可调，由0.2毫米至3.3毫米。可同时分析同一样品的各个部分，一般分析点的尺寸为1毫米。 6.可选配XYZ微米级精度全自动样品台，完成点，线，面扫描。一次测量过程可同时分别完成多个样品的分析。 7.超大样品室，可完成超大样品的分析，样品的尺寸可以达到300*200*150mm（长*宽*高）。同时可完成超小样品1mm样品的分析

能量色散X荧光光谱仪-矿石土壤分析仪EDX9000B PLUSSimply the Best 先进制成Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器真空光路配备薄膜滤光片技术，提高轻元素检出限可同时分析40种元素可分析固体，液体，粉末和泥浆原装进口X光管管芯提供可靠卓越样品激发性能无损检测，快速分析（1-2分钟出结果）无需化学试剂，无耗材，更环保，更高效EDX9000B Plus能量色散X荧光光谱仪-矿产/矿石分析专家ESI英飞思EDX9000B plus光谱仪主要应用于采矿作业（勘探、开采、品位控制），工业矿物，生产水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化学学术研究，考古等。EDX9000B plus优异的线性动态范围，可实现在水泥、矿物、采矿、金属、玻璃和陶瓷行业进行超高精度的过程控制和质量控制。具有全新真空光路系统和超高分辨率技术的新一代Fast SDD检测器，对轻、中、重元素和常见氧化物（Na2O、MgO、Al2O₃ 、SiO₂ 、P2O5、SO₃ 、K2O、CaO、TiO₂ 、Cr2O₃ 、MnO、Fe2O₃ 、ZnO和SrO等）都可达到最佳分析效果。EDX9000B plus卓越的分析性能，使其可以轻松完成对以下矿种的测试：铁矿(磁铁矿、赤铁矿、钛铁矿、菱铁矿等)铜矿(黄铜矿、赤铜矿、孔雀石等)铬矿(铬铁尖晶石、铬铁矿、铬铋矿等)钼矿(辉钼矿、铜钼矿、钨钼矿等)钨矿(白钨矿、黑钨矿、锡钨矿等)钽矿(钽铁矿、铌铁矿、烧绿石等)铅锌矿(方铅矿、闪锌矿、白铅矿等)镍矿(红土镍矿、硫化铜镍矿等)铝土矿其它矿类产品特点1.小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高灵敏度、高精度分析2.可同时分析40种元素3.采用多准直器多滤光片和扣背景专利技术4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率5.超高记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统6.标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作7.专利薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限矿产元素检测专家EDX9000B Plus仪器参数仪器外观尺寸: 565mm*385mm*415mm超大样品腔：465mm*330mm*110mm半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm 仪器重量: 48Kg元素分析范围：Na11-U92钠到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 超高分辨率电制冷Fast SDD硅漂移检测器探测器分辨率：122 eV FWHM at 5.9 keV处理器类型：全数字化DP-5分析器谱总通道数：4096道X光管：高功率50瓦光管（原装进口管芯），冷却方式：硅脂冷却光管窗口材料：铍窗准直器：多达8种选择，最小0.2mm滤光片：7种滤光片的自由选择和切换高压发生装置：原装美国高压，电压输出：0-50kV；输出电流：0-1mA高压参数：最小5kv可控调节，自带电压过载保护，输出精度：0.01%样品观察系统：500万像素高清CCD摄像头电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Ag初始化标样磨样机真空泵压片机矿石专用样品杯烘干箱USB数据线ESI-900型XRF专用全自动熔样机电源线电子秤测试薄膜矿石标准物质仪器出厂和标定报告交流净化稳压电源保修卡150目筛子全新设计的XTEST分析软件软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。*光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰总和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量*对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正，即基体效应，增强和吸收的校正。*谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可同时显示多个光谱图*可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。*可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的最小二乘拟合进行定量分析。*基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品*提供多种数据访问接口，可兼容LIMS实验室管理系统铝土矿样品10次连续测试稳定性报告测量次数MgO Al2O3SiO2P2O5K2OCaOTiO2MnOFe2O3Pb铝土矿-10.105475.25539.96330.1890.17090.20833.55350.040110.3110.006铝土矿-20.104975.200110.06060.19270.16620.20353.56570.042110.32590.0058铝土矿-30.103175.212610.03010.1880.16170.20493.5360.040410.2570.0062铝土矿-40.099875.212310.04810.19370.16510.20713.55730.044410.33380.0061铝土矿-50.107575.265710.06290.19490.16540.21933.54810.041510.28850.0062铝土矿-60.105875.165710.06270.19880.17240.22063.55420.040410.3210.0062铝土矿-70.100775.196610.08110.19280.17250.21993.56940.043810.3340.0062铝土矿-80.100875.276910.01040.19470.16630.21853.52890.040610.29420.0059铝土矿-90.105775.252410.09680.19290.1610.2143.54830.041210.33950.006铝土矿-100.104975.234410.08280.19180.16350.22123.56480.042310.34110.0062平均值0.104 75.227 10.050 0.193 0.167 0.214 3.553 0.042 10.315 0.006 标准偏差0.0026 0.0355 0.0397 0.0030 0.0042 0.0071 0.0129 0.0015 0.0272 0.0001 相对标准偏差2.51%0.05%0.39%1.58%2.50%3.31%0.36%3.55%0.26%2.43%

EDX 2800B(型）能量色散X荧光光谱仪(外壳颜色变换中，以发货为准)一、 技术性能及指标:1、元素分析范围从硫(S)到铀(U)；2、元素含量分析范围为1 PPm到99.99%；3、测量时间：100-300秒；4、RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）其检测限度高达1PPM； 5、能量分辨率为149±5电子伏特；6、温度适应范围为15℃至30℃；7、电源：交流220V±5V；（建议配置交流净化稳压电源。） 8、工作温度：15-30℃ 、相对湿度：40%～50%、电 源：AC :220V ±5V。二、产品特点 1、EDX 2800B是专门针对ROHS、EN71等环保指令设计得一款产品。 2、打破传统仪器直线的设计，采用流线体的整体化设计，仪器时尚大方。 3、采用美国新型的Si-pin探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。 4、采用研发的SES信号处理系统，有效提高测量的灵敏度，让测量更精确。 5、一键式自动测试，使用更简单，更方便，更人性化。 6、七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。 7、多重防辐射泄露设计。 8、先进的一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，保证了核心部件的运行安全。 9、机芯温控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。 10、多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。 11、专用测试软件，标准视窗设计，界面友好，操作方便。12、本机采用USB2.0接口，有效地保证了数据准确高速有效的传输。二、仪器硬件部分主要配置 1、Si-pin电制冷半导体探测器:（新型探测器） （1）、 Si-pin电制冷半导体探测器；分辨率：149±5电子伏特 （2）、 放大电路模块:对样品特征X射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大。2、X射线激发装置: （1）、灯丝电流输出：1mA；（2）、属于半损耗型部件，50W，空冷。3、高压发射装置:（1）、电压输出： 50kV；（2）、最小5kv可控调节（3）、自带电压过载保护4、多道分析器: （1）、将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件。（2）、.最大道数： 2048；（3）、包含信号增强处理5、光路过滤模块 （1）、降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确。（2）、 将准直器与滤光处整合；6、准直器自动切换模块（1）、多达8种选择，口径分别为8＃, 6＃, 4＃, 3＃，2＃, 1＃, 0.5＃,0.2＃。7、滤光片自动切换模块 （1）、六种滤光片的自由选择和切换。8、工作曲线自动选择模块 （1）、自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化 演绎得更好一点，使操作更人性，更方便。 三、专用软件XRAYAnalyzer1、软件简介专门针对ROHS检测而开发，对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。2、功能介绍※专门应对欧盟RoHS指令中六种物质涉及的六种元素 Cd, Pb, Hg, Br, Cr，Cl测试，测量时间为100-300秒※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作如下图所示： ※可自动选择适合的校准曲线，测量更方便，更准确。※中英文界面自动切换，并具有第三方语言订制功能※自动校准仪器。※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线※多种报告形式打印。※可同时显示多个光谱图 ※机芯温度监控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。 四、样品配置 标准样品用于制作工作曲线1、 样品腔 开放式大样品腔 2、 标样 欧盟标样EC681K 纯银样品 五、主要应用： 1、RoHS指令，EN71-3玩具指令，94/62/EC包装指令,Cl,Br,无卤测试，镀层厚度检测，金属材料成份分析等检测仪器六、产品保修及售后服务 1、对客户方操作人员免费进行培训。2、安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。3、正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器自验收合格之日起保修一年。4、 产品终身维修。（客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等）5、 免费提供软件升级；6、 提供最有效的技术服务，在接到用户故障信息后，3小时内响应，如有需要，48小时内派人上门维修和排除故障。

产品简介hiXAS提供了完整的基于实验室拓展X射线精细结构吸收谱(EXAFS)和X射线近边结构吸收谱（XANES）的解决方案。在较小的占地面积内，它集成了X射线光管光源、高分辨光谱仪、光子技术像素化X射线探测器，以及用于仪器控制和数据的分析的控制软件。由于hiXAS的光谱质量于同步辐射测量的结果相当，使得冗长的同步辐射测量机时申请和等待变得不再有必要。X射线光管光源和光谱仪可以覆盖的能量范围为5-12KeV，因此包括了3d过度金属的K吸收边。专门优化的HAPG Von Hamos光谱仪结构可以获得极高信噪比的光谱。因此，可分析的样品浓度可以低至数个质量百分比。同时光谱仪在覆盖的吸收边范围内，保持很高效率和恒定的高分辨率（E/ΔE = 4000）。我们还可以根据您的各种应用需要，提供定制化的hiXAS系统。hiXAS可用于EXAFS和XANES测量的元素范围。HiXAS可以在几分钟的时间内测量出分析物浓度仅为几个重量百分比的稀释样品。主要参数核心元件X射线光管光源von Hamos HAPG 光谱仪光子计数，像素化X射线探测器能量范围5-12keV样品浓度低至 数个质量百分比样品安装多样品转轮占地尺寸2.0m x 1.0m软件套件集成系统控制，各种光谱校准和分析功能EXAFS 模式XANES 模式光谱分辨能力1800*4000*（*整个能量范围内不变）能量带宽1000eV300eV采集时间3分**8分钟**（**归一化分析物浓度）主要应用化学形态分析和浓度比复合物研究催化剂分析短程有序和键长确定测量结果Cu箔样品X射线吸收测量，采集时间:3分钟含样品，1.5分钟不含样品C. Schlesiger et al, Recent progress in the performance of HAPG based laboratory EXAFS and XANES spectrometers, J. Anal. At. Spectrom. 35, 2298 (2020)

产品名称：CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪 产品说明、技术参数及配置 CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪，是先达公司2003年推出的达到世界先进水平、国内领先水平的全元素分析仪器，当年被科技部、质监总局、税务总局等五部委联合批准为&ldquo 国家重点新产品&rdquo ，同时被国家列入十五、十一五重点推广的科技项目。该仪器利用低能X光管进行激发，采用了国外最先进的半导体电制冷探测器进行探测，数字化谱分析技术，2048道多道脉冲分析器对射线光谱进行精细分析，一次性可以完成20多种元素的快速、准确分析。 适用范围 钢铁行业：生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石等各种成份分析； 耐火材料：各类样品成份分析； 有色行业：铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析； 质检部门：工业产品、金、银等各种成份分析。 型号：CIT-3000SM 性能特点 采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好； 采用X光管激发样品，一次激发全部待测元素，韧致辐射型，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率； 采用进口的电致冷Si-PIN半导体探测器，分辨率高，无需液氮制冷，使用方便。可以一次性完成对多种元素的探测； 高压电源：电压 0V-50kV连续可调；电流0-lmA连续可调，数码显示，精度高，无故障操作； 样品种类：固体、粉末、液体均可，压片无需添加任何试剂； 腔内环境：空气或真空； 真空环境测量，提高了轻元素的激发效率和测量范围； 2048道多道谱仪实时测量显示，对样品X光谱进行精细分析，系统可自动识别谱线，方便了解样品的组成； 可一次性实现20多种元素的快速、无损、准确分析； 自动稳谱，消除谱峰漂移影响，确保仪器长期稳定； 专业的分析软件，可以实现模式识别，自动分类，开放式软件系统，用户可以根据自身需要建立库文件； 全中文Windows应用软件，操作简单。 技术指标 分析元素：Mg-U，主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、As等 分析范围：1ppm-99.99% 同时分析：20多种元素同时分析 能量范围：1-30keV 测量时间：1-2分钟可以完成全部待测元素的含量分析 探测器的分辨率：150ev 管电压：0-50Kv 管电流： 1～1000 &mu A 仪器的分析精度：标准偏差&le 0.08% 分析误差：优于国家标准要求 辐射剂量：25&mu sv/h. 工作环境：温度10～35 ℃ 湿度30～70%RH 電源：AC 220 V± 10 %、50/60 Hz 仪器配置 仪器主机一台 控制面板 进口电制冷半导体探测器 X光管（1KV-40KV） 高压电源 计算机一台 激光打印机一台 真空泵一台 压片机一台 制样模具一套 稳压电源一台 测试软件一套

X-123——封装于可手持小金属盒内的完整X射线探测系统。RoHS/WEEE标准X射线荧光分析测试中使用的理想系统。无需液氮。图1。图2。图3. 6mm2/500µ m（探测器有效面积/厚度）的探测器得到的55Fe能谱。 包含：1. X射线探头和前置放大器（前放）；2. 数字脉冲处理器和多道分析器；3. 电源和PC接口。产品特性：1. 紧凑的一体化设计；2. 易操作；3. 体积小（2.7 x 3.9 x 1英寸，7 x 10 x 2.5厘米）；4. 低功耗（2.5W）；5. 重量轻（180克，6.3盎司）；6. USB和RS232通讯支持；7. 可封装全系列的AMPTEK探测器。应用范围：1. X射线荧光谱仪；2. 执行RoHS/WEEE标准检测的仪器；3. 流程控制；4. 艺术和考古；5. X-123产品演示。探测器：1. Si-Pin半导体X射线探头；2. 两级热电制冷；3. 面积：6-25mm2；4. 厚度：300-500µ m；5. 多层准直器。典型性能参数：1. 分辨率：在5.9keV能量出的半高全宽为145到230eV；2. 适用能量范围：1-40keV；3. 最大计数率：可达每秒两百万计数。4. 实际的性能参数取决于不同的探测器和配置，可以为不同应用进行优化。 X-123是代表Amptek 公司14年X射线探测器技术发展的集大成产品。我公司一直致力于生产小型、低功率、高性能、易操作的仪器，而X-123是该宗旨的集中体现——X-123包含有 XR100-CR型X 射线探测器及其电荷灵敏前放，带脉冲整形功能的数字脉冲处理器 DP5，多道分析器和数据接口以及PC5供电电源。用户仅需提供+5V直流输入和USB/RS232线缆和您的计算机通讯。X-123产品介绍： Amptek公司专注于生产小型、低功耗、高性能和易操作的X射线光谱仪。X123将Amptek公司的高性能X射线光谱分析元件产品集成在一个独立的盒体内，这些元件包括：XR100CR探测器和前放，DP5数字脉冲处理器和多道分析器以及 PC5电源。这样的一体化系统更适合手持操作。而市场上销售的其它谱仪系统，仅前置放大器就比X123谱仪更大、更重，而且更耗能。而X123额外需要的只有两根线缆连接：电源线（+5V 直流电）和数据线（USB 或 RS232）。任何人都能利用X-123方便快捷地得到高质量的X射线能谱。 该系统的核心部件是一个 Si-PIN光电二极管：X射线与硅作用，在硅中平均每损耗3.62 eV的 X射线能量便产生一个电子/空穴对，即为输入信号。 探测器以及输入场效应管（FET）均安装在一个热电致冷器上，并与一个定制的电荷敏感前放相连。热电致冷技术的应用缓解了探测器和前放上的电子学噪声问题，其工作原理与大家比较熟知的空调制冷比较类似；电荷敏感前放则采用了一种新型的反馈技术，即通过高压连接向探测器输入复位脉冲。 DP5是一个数字脉冲处理器，可代替现今大多数模拟信号系统中采用的成形放大器和多道分析器（MCA）。数字技术的应用改善了诸多关键参数：1. 性能更佳，尤其是在高计数率时有更好的分辨率和性能；2. 有更多的配置方案可选，因此使用范围较广，具有较大的灵活性；3. 用户可利用RS-232 接口和配套软件控制，选择配置方案；4. 稳定性和可重复性更好。 DP5 将前放的输出信号数字化，并对信号进行实时处理，测定峰值（即数字化），然后将这些数值存储于寄存器中，并生成能谱图，最后谱图通过DP5的接口传送到用户的计算机上。Amptek DP5处理器主要有 6个功能模块来实现上述程序：1. 模拟信号预滤波器；2. 模数转换器（ADC）；3. 数字脉冲整形器；4. 脉冲选择逻辑单元；5. 寄存器单元；6. 硬件接口（包括一个微控制器）和配套软件。 系统电源采用的是 Amptek公司的PC5模块（结构简单，单块电路板）。输入为电压约为+5V，电流为200mA的直流电。PC5中利用开关电源为数字处理器和前置放大器提供它们所需的直流低电压，同时它还包含了一个高压倍增器以产生探测器所需要的400V的高偏压，并闭环控制热电制冷器以提供达85℃的温差。另外在出厂前会针脚对配套探测器进行所有电源输出调试。 整个系统被封装在一个7 x 10 x 2.5 cm3的铝盒中，探测器安装于加长管的前端。在标准配置下，仅需两条连接线：电源线（+5V 直流电）和数据线（USB 或 RS232）。当 X123 与其他仪器配合使用时，DP5电路板上还可集成更多的输入/输出：一个 MCA 门，一个缓存选择信号、同步输出和 SCA 输出。详情请联系Amptek公司或查阅DP5说明书。图4. X-123架构和接线图。 X-123参数说明：系统性能能量分辨率在5.9 keV能量处半高全宽为145-230 eV。具体数值因探测器、峰化时间和温度的不同而不同。可探测能谱范围在1.5-25keV能量范围中X射线探测效率25%。超过该能量范围则探测效率会有一定下降。最大计数率受峰化时间影响。开启堆积判弃功能时，50%空载时间下推荐的最大计数率如下表。DP5 峰化时间（µ s）2.46.425.6成形时间（µ s）1.02.911.6推荐的最大计数率1.2x1054.6x1041.2x104 探测器和前放探测器类型Si-PIN，SDD或CdTe。探测器面积6 mm2-25 mm2。探测器厚度300 µ m和500 µ m。铍窗厚度1mil(25µ m)或0.2mil(12.5µ m)。准直器多层。热电致冷两级。前放类型AMPTEK公司为用户定制的可利用高压连接复位的前放。脉冲处理器增益结合使用粗调和微调增益可获得从0.84到127.5连续可调的所有增益。粗调增益通过软件可选从1.12到102的共16个对数档： 1.12，2.49，3.78，5.26，6.56，8.39，10.10，11.31，14.56，17.77，22.42，30.83，38.18，47.47，66.26，102.0。微调增益从0.75到1.25，通过软件可选，10bit精度。最大刻度增益为1时输入脉冲为1000 mV。增益稳定性20 ppm/℃（典型情况）。脉冲形状梯形。峰化时间通过软件可选0.8到102µ s间的24个峰化时间，近似对数间隔，相当于0.4至45 µ s的半高斯成形时间。空载时间总的空载时间为1.05倍的峰化时间，无转换时间。脉冲对分辨时间（快通道）120 ns多通道分析器通道数通过软件可选：8k，4k，2k，1k，0.5k或0.25k道。预设值时间，总计数，感兴趣能区（ROI）计数，单道计数。数据传输USB全速2.0 （12Mbps）串口标准RS232接口（115.2k或57.6 k波特）以太网10BASE-T标准（10Mbps，双绞线）电源标准输入一般情况下输入为+5 V，500mA直流电（2.5W）；而电流和探测器温差ΔT强相关，300-800mA可变；另外配有交流电源适配器。输入电源范围4 V-6 V（300-200 mA，最大500 mA）。高压电源内置倍增器，可达 400 V。制冷器闭环控制器，温差最大为ΔTmax =85℃。常规参数和工作环境工作温度-20℃到+50℃。保修期1年。典型寿命视实际使用情况，一般为5至10年。仓储和物流长期存放：干燥环境下10年以上；一般的仓储和物流：-20℃到+50℃，10%到90%的湿度，无凝结。标准检测符合RoHS标准。TUV认证：认证编号：CU 72101153 01；检测于：UL61010-1:2009 R10.08；CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1。连线USB标准USB Mini接口RS232标准2.5 mm立体声耳机接口尖端发送数据电脑DB9针脚2（DB25针脚3）环接收数据电脑DB9针脚3（DB25针脚2）套管信号地电脑DB9针脚5（DB25针脚7）以太网标准以太网连接器（RJ-45）电源接口Hirose Electric生产的MQ172-3PA(55)，配接插头：MQ172-3SA-CV。其他线缆 16针接口（两排八脚，2 mm间距，Samtec产品编号ASP-135096-01）和如下排线配套使用：Samtec产品编号TCMD-08-S-XX.XX-01；上排为奇数针，下排为偶数针。右上为针1，右下为针2。针号名称针号名称1SCA12SCA23SCA34SCA45SCA56SCA67SCA78SCA89AUX_IN_110AUX_OUT_111AUX_IN_212AUX_OUT_213IO214IO315GND16GND 通讯控制接口软件/固件ADMCAX-123可利用Amptek公司的ADMCA显示和采集软件来控制：能控制和设置X-123的各项参数，同时可以下载和显示数据；支持感兴趣区域（ROI），标定，峰值搜索等；包括一个接口程序，能与XRF-FP定量X射线分析软件包无缝连接。在安装有Windows 98SE或更高版本的PC 兼容机上运行（仅32位），建议在 Windows XP PRO SP2或更高版本下运行。DPP API X-123自带有一个DLL数据库类型的应用程序接口程序，用户可以方便地根据自己的需要采用该数据库编写特定的代码来控制X-123，并集成到上级软件系统中； 另外AMPTEK还提供了VB，VC++上API使用的范例以及一个Pocket PC版的Window CE。VB示例软件 基于VB的示例软件可在个人计算机上运行，而用户通过该软件可设置 X-123的参数，开始和中断数据采集以及保存数据文件。AMPTEK可提供用户源代码以方便修改。该软件仅为在没安装DPP API软件时，通过USB/RS232，使用基本指令控制X-123的范例，特别对于必须自行编写控制软件的非Windows平台系统有参考意义。 可选配件： 1. 可定购其它厚度的铍窗（0.3 mil，即7.5 µ m）；2. 高通量应用中所需的整套准直器；3. 真空配件；4. OEM应用。图5. X-123探测器加长管配置选项 图6. 带有 PA-230前放的X-123和外壳。 该选项可认为是不接探测器/前放的 X-123（仅包含电子学部分），而所需连接通过软排线来完成，这样能够使探测器即使远离X-123也可以正常工作，参见OEM获取更多信息。图7. Si-PIN和SDD探测器的能量分辨率和峰化/成形时间关系曲线。图8. 在不同的峰化时间下，能量分辨率和输入计数率（ICR）的关系曲线。图9. 计数率输出效率，输入计数率（ICR）和输出计数率（OCR）的关系曲线。准直器的使用： 为了提高能谱的质量，Amptek 生产的大部分探测器都带有内部准直器。探测器有效面元(active volume)边缘部分和X射线的相互作用会因不完全电荷收集产生一些小脉冲信号，进而影响测得的能谱数据。而且这些信号可能正处在用户所关心的元素所在的能量范围，降低了信噪比。而内部准直器则可以限制X射线只能打到有效面元内，这就避免了噪声信号的产生。不同类型的探测器中准直器的应用各有优点：1. 提高峰本比（P/B）；2. 消除边界效应；3. 消除假尖峰信号。真空应用： X-123可以在空气或真空度达 10-8托的条件下使用。X-123通过一个标准的O圈刀口密封的接口和真空室连接，还可选用型号为EXV5/EXV9（5/9英寸长）的探测器真空加长管（如图5）。探测效率曲线：图10（线性坐标）. X-123对应的完全能量沉积的内禀探测效率。 该效率对应X射线进入该探测器前端并通过光电效应沉积所有能量到探测器上的概率。 图11（对数坐标）. 考虑各种效应后的收集效率，其中也包含了光电效应的概率影响。 光电效应在低能段主导，而该效应对应了能量的完全沉积，但在超过40keV后，康普顿（Compton）散射效应逐渐显著，不是所有能量均沉积在探测器上。 上面两图同时考虑了铍窗（包括保护层）对X射线透过率的影响以及光子与硅探测器之间的相互作用。曲线的低能部分由铍窗的厚度决定，而高能部分则取决于硅探测器的有效探测厚度。选用特定的铍窗，可使90%的能量为2到3keV的入射光子到达探测器；选用特定的探测器，可接收到90%的9到12keV 的光子。传输效率文件：包含传输效率方面系数和常见问题解答的.zip格式文件，仅提供基本信息，不能作为定量分析依据。X-123的应用，RoHS/WEEE标准测试： 2006年6月，RoHS/WEEE标准（电子电气设备废弃物和有害物质限制规定）规定了电子设备中某些物质（Cr VI，Pb，Cd，Hg，Br PBB/PBDE）的最高含量标准。通过 X射线荧光分析（XRF），X-123可应用于质量控制环节，检测设备是否符合RoHS/WEEE标准。用户可以快速、准确以及无损地检测特定元素的浓度，而公司可以核实供应商的标准并说明自己的标准。借助这个方便、小巧和易用的探测仪器，X-123向原始设备供应商（OEMs）和最终用户提供了一个强大的 X射线探测系统，它可以直接应用并投放市场。由于所有的连接都已在产品内部做好，用户所需只是+5V直流输入和USB/RS232线缆。 X-123并未因小型化而牺牲性能。根据不同探测器类型和峰化时间，Fe的5.9keV能峰处的能量分辨率（半高全宽）可达145 eV至230 eV。X-123是封装好的一整套 X射线谱仪，是产品快速开发的完美选择，且为原始设备供应商（OEMs）提供了最快的投放市场速度。 图12. RoHS/WEEE应用中能谱示例。采用Si-PIN探测器的X-123 的典型测量结果：图13. 109Cd样品的X射线荧光分析谱图（多元素）。 图14. 109Cd样品中铅的X射线荧光分析谱图。 图15. PC机主板的一些位置得到109Cd样品的 X射线荧光分析谱图。 图 16. 109Cd样品中所含若干元素的 X射线荧光分析谱图。机械部分机械尺寸图17. 装配硬件。图18. 包含装配板和角铁的X-123。图19. X-123装配板尺寸图。图20. X-123所用角铁尺寸。 完整的X射线荧光谱仪（XRF）系统：图21. 完整的XRF系统。图22. 已装配在MP1型底板上的X-123和Mini-X射线管。完整的XRF系统包括：1. X-123 X射线能谱计；2. Mini-X型USB控制X射线管；3. XRF-FP定量分析软件；4. MP1型XRF装配底板。

X-123&mdash &mdash 封装于可手持小金属盒内的完整X射线探测系统。RoHS/WEEE标准X射线荧光分析测试中使用的理想系统。无需液氮。图1。图2。图3. 6mm2/500µ m（探测器有效面积/厚度）的探测器得到的55Fe能谱。 包含：1. X射线探头和前置放大器（前放）；2. 数字脉冲处理器和多道分析器；3. 电源和PC接口。产品特性：1. 紧凑的一体化设计；2. 易操作；3. 体积小（2.7 x 3.9 x 1英寸，7 x 10 x 2.5厘米）；4. 低功耗（2.5W）；5. 重量轻（180克，6.3盎司）；6. USB和RS232通讯支持；7. 可封装全系列的AMPTEK探测器。应用范围：1. X射线荧光谱仪；2. 执行RoHS/WEEE标准检测的仪器；3. 流程控制；4. 艺术和考古；5. X-123产品演示。探测器：1. Si-Pin半导体X射线探头；2. 两级热电制冷；3. 面积：6-25mm2；4. 厚度：300-500µ m；5. 多层准直器。典型性能参数：1. 分辨率：在5.9keV能量出的半高全宽为145到230eV；2. 适用能量范围：1-40keV；3. 最大计数率：可达每秒两百万计数。4. 实际的性能参数取决于不同的探测器和配置，可以为不同应用进行优化。 X-123是代表Amptek 公司14年X射线探测器技术发展的集大成产品。我公司一直致力于生产小型、低功率、高性能、易操作的仪器，而X-123是该宗旨的集中体现&mdash &mdash X-123包含有 XR100-CR型X 射线探测器及其电荷灵敏前放，带脉冲整形功能的数字脉冲处理器 DP5，多道分析器和数据接口以及PC5供电电源。用户仅需提供+5V直流输入和USB/RS232线缆和您的计算机通讯。X-123产品介绍： Amptek公司专注于生产小型、低功耗、高性能和易操作的X射线光谱仪。X123将Amptek公司的高性能X射线光谱分析元件产品集成在一个独立的盒体内，这些元件包括：XR100CR探测器和前放，DP5数字脉冲处理器和多道分析器以及 PC5电源。这样的一体化系统更适合手持操作。而市场上销售的其它谱仪系统，仅前置放大器就比X123谱仪更大、更重，而且更耗能。而X123额外需要的只有两根线缆连接：电源线（+5V 直流电）和数据线（USB 或 RS232）。任何人都能利用X-123方便快捷地得到高质量的X射线能谱。 该系统的核心部件是一个 Si-PIN光电二极管：X射线与硅作用，在硅中平均每损耗3.62 eV的 X射线能量便产生一个电子/空穴对，即为输入信号。 探测器以及输入场效应管（FET）均安装在一个热电致冷器上，并与一个定制的电荷敏感前放相连。热电致冷技术的应用缓解了探测器和前放上的电子学噪声问题，其工作原理与大家比较熟知的空调制冷比较类似；电荷敏感前放则采用了一种新型的反馈技术，即通过高压连接向探测器输入复位脉冲。 DP5是一个数字脉冲处理器，可代替现今大多数模拟信号系统中采用的成形放大器和多道分析器（MCA）。数字技术的应用改善了诸多关键参数：1. 性能更佳，尤其是在高计数率时有更好的分辨率和性能；2. 有更多的配置方案可选，因此使用范围较广，具有较大的灵活性；3. 用户可利用RS-232 接口和配套软件控制，选择配置方案；4. 稳定性和可重复性更好。 DP5 将前放的输出信号数字化，并对信号进行实时处理，测定峰值（即数字化），然后将这些数值存储于寄存器中，并生成能谱图，最后谱图通过DP5的接口传送到用户的计算机上。Amptek DP5处理器主要有 6个功能模块来实现上述程序：1. 模拟信号预滤波器；2. 模数转换器（ADC）；3. 数字脉冲整形器；4. 脉冲选择逻辑单元；5. 寄存器单元；6. 硬件接口（包括一个微控制器）和配套软件。 系统电源采用的是 Amptek公司的PC5模块（结构简单，单块电路板）。输入为电压约为+5V，电流为200mA的直流电。PC5中利用开关电源为数字处理器和前置放大器提供它们所需的直流低电压，同时它还包含了一个高压倍增器以产生探测器所需要的400V的高偏压，并闭环控制热电制冷器以提供达85℃的温差。另外在出厂前会针脚对配套探测器进行所有电源输出调试。 整个系统被封装在一个7 x 10 x 2.5 cm3的铝盒中，探测器安装于加长管的前端。在标准配置下，仅需两条连接线：电源线（+5V 直流电）和数据线（USB 或 RS232）。当 X123 与其他仪器配合使用时，DP5电路板上还可集成更多的输入/输出：一个 MCA 门，一个缓存选择信号、同步输出和 SCA 输出。详情请联系Amptek公司或查阅DP5说明书。图4. X-123架构和接线图。 X-123参数说明：系统性能能量分辨率在5.9 keV能量处半高全宽为145-230 eV。具体数值因探测器、峰化时间和温度的不同而不同。可探测能谱范围在1.5-25keV能量范围中X射线探测效率25%。超过该能量范围则探测效率会有一定下降。最大计数率受峰化时间影响。开启堆积判弃功能时，50%空载时间下推荐的最大计数率如下表。DP5 峰化时间（µ s）2.46.425.6成形时间（µ s）1.02.911.6推荐的最大计数率1.2x1054.6x1041.2x104 探测器和前放探测器类型Si-PIN，SDD或CdTe。探测器面积6 mm2-25 mm2。探测器厚度300 µ m和500 µ m，点击此处查看效率曲线。铍窗厚度1mil(25µ m)或0.2mil(12.5µ m)，点击此处查看透射曲线。准直器多层，点击此处查看更多信息。热电致冷两级。前放类型AMPTEK公司为用户定制的可利用高压连接复位的前放。脉冲处理器增益结合使用粗调和微调增益可获得从0.84到127.5连续可调的所有增益。粗调增益通过软件可选从1.12到102的共16个对数档： 1.12，2.49，3.78，5.26，6.56，8.39，10.10，11.31，14.56，17.77，22.42，30.83，38.18，47.47，66.26，102.0。微调增益从0.75到1.25，通过软件可选，10bit精度。最大刻度增益为1时输入脉冲为1000 mV。增益稳定性20 ppm/℃（典型情况）。脉冲形状梯形。峰化时间通过软件可选0.8到102µ s间的24个峰化时间，近似对数间隔，相当于0.4至45 µ s的半高斯成形时间。空载时间总的空载时间为1.05倍的峰化时间，无转换时间。脉冲对分辨时间（快通道）120 ns多通道分析器通道数通过软件可选：8k，4k，2k，1k，0.5k或0.25k道。预设值时间，总计数，感兴趣能区（ROI）计数，单道计数。数据传输USB全速2.0 （12Mbps）串口标准RS232接口（115.2k或57.6 k波特）以太网10BASE-T标准（10Mbps，双绞线）电源标准输入一般情况下输入为+5 V，500mA直流电（2.5W）；而电流和探测器温差&Delta T强相关，300-800mA可变；另外配有交流电源适配器。输入电源范围4 V-6 V（300-200 mA，最大500 mA）。高压电源内置倍增器，可达 400 V。制冷器闭环控制器，温差最大为&Delta Tmax =85℃。常规参数和工作环境工作温度-20℃到+50℃。保修期1年。典型寿命视实际使用情况，一般为5至10年。仓储和物流长期存放：干燥环境下10年以上；一般的仓储和物流：-20℃到+50℃，10%到90%的湿度，无凝结。标准检测符合RoHS标准。TUV认证：认证编号：CU 72101153 01；检测于：UL61010-1:2009 R10.08；CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1。连线USB标准USB Mini接口RS232标准2.5 mm立体声耳机接口尖端发送数据电脑DB9针脚2（DB25针脚3）环接收数据电脑DB9针脚3（DB25针脚2）套管信号地电脑DB9针脚5（DB25针脚7）以太网标准以太网连接器（RJ-45）电源接口Hirose Electric生产的MQ172-3PA(55)，配接插头：MQ172-3SA-CV。其他线缆 16针接口（两排八脚，2 mm间距，Samtec产品编号ASP-135096-01）和如下排线配套使用：Samtec产品编号TCMD-08-S-XX.XX-01；上排为奇数针，下排为偶数针。右上为针1，右下为针2。针号名称针号名称1SCA12SCA23SCA34SCA45SCA56SCA67SCA78SCA89AUX_IN_110AUX_OUT_111AUX_IN_212AUX_OUT_213IO214IO315GND16GND 通讯控制接口软件/固件ADMCAX-123可利用Amptek公司的ADMCA显示和采集软件来控制：能控制和设置X-123的各项参数，同时可以下载和显示数据；支持感兴趣区域（ROI），标定，峰值搜索等；包括一个接口程序，能与XRF-FP定量X射线分析软件包无缝连接。在安装有Windows 98SE或更高版本的PC 兼容机上运行（仅32位），建议在 Windows XP PRO SP2或更高版本下运行。DPP API X-123自带有一个DLL数据库类型的应用程序接口程序，用户可以方便地根据自己的需要采用该数据库编写特定的代码来控制X-123，并集成到上级软件系统中； 另外AMPTEK还提供了VB，VC++上API使用的范例以及一个Pocket PC版的Window CE。VB示例软件 基于VB的示例软件可在个人计算机上运行，而用户通过该软件可设置 X-123的参数，开始和中断数据采集以及保存数据文件。AMPTEK可提供用户源代码以方便修改。该软件仅为在没安装DPP API软件时，通过USB/RS232，使用基本指令控制X-123的范例，特别对于必须自行编写控制软件的非Windows平台系统有参考意义。 可选配件： 1. 可定购其它厚度的铍窗（0.3 mil，即7.5 µ m）；2. 高通量应用中所需的整套准直器；3. 真空配件；4. OEM应用。图5. X-123探测器加长管配置选项 图6. 带有 PA-230前放的X-123和外壳。 该选项可认为是不接探测器/前放的 X-123（仅包含电子学部分），而所需连接通过软排线来完成，这样能够使探测器即使远离X-123也可以正常工作，参见OEM获取更多信息。图7. Si-PIN和SDD探测器的能量分辨率和峰化/成形时间关系曲线。图8. 在不同的峰化时间下，能量分辨率和输入计数率（ICR）的关系曲线。图9. 计数率输出效率，输入计数率（ICR）和输出计数率（OCR）的关系曲线。准直器的使用： 为了提高能谱的质量，Amptek 生产的大部分探测器都带有内部准直器。探测器有效面元(active volume)边缘部分和X射线的相互作用会因不完全电荷收集产生一些小脉冲信号，进而影响测得的能谱数据。而且这些信号可能正处在用户所关心的元素所在的能量范围，降低了信噪比。而内部准直器则可以限制X射线只能打到有效面元内，这就避免了噪声信号的产生。不同类型的探测器中准直器的应用各有优点：1. 提高峰本比（P/B）；2. 消除边界效应；3. 消除假尖峰信号。点击这里获取更多信息。真空应用： X-123可以在空气或真空度达 10-8托的条件下使用。X-123通过一个标准的O圈刀口密封的接口和真空室连接，还可选用型号为EXV5/EXV9（5/9英寸长）的探测器真空加长管（如图5）。点击这里获得更多真空下应用的信息。探测效率曲线：图10（线性坐标）. X-123对应的完全能量沉积的内禀探测效率。 该效率对应X射线进入该探测器前端并通过光电效应沉积所有能量到探测器上的概率。 图11（对数坐标）. 考虑各种效应后的收集效率，其中也包含了光电效应的概率影响。 光电效应在低能段主导，而该效应对应了能量的完全沉积，但在超过40keV后，康普顿（Compton）散射效应逐渐显著，不是所有能量均沉积在探测器上。 上面两图同时考虑了铍窗（包括保护层）对X射线透过率的影响以及光子与硅探测器之间的相互作用。曲线的低能部分由铍窗的厚度决定，而高能部分则取决于硅探测器的有效探测厚度。选用特定的铍窗，可使90%的能量为2到3keV的入射光子到达探测器；选用特定的探测器，可接收到90%的9到12keV 的光子。传输效率文件：包含传输效率方面系数和常见问题解答的.zip格式文件，仅提供基本信息，不能作为定量分析依据。X-123的应用，RoHS/WEEE标准测试： 2006年6月，RoHS/WEEE标准（电子电气设备废弃物和有害物质限制规定）规定了电子设备中某些物质（Cr VI，Pb，Cd，Hg，Br PBB/PBDE）的最高含量标准。通过 X射线荧光分析（XRF），X-123可应用于质量控制环节，检测设备是否符合RoHS/WEEE标准。用户可以快速、准确以及无损地检测特定元素的浓度，而公司可以核实供应商的标准并说明自己的标准。借助这个方便、小巧和易用的探测仪器，X-123向原始设备供应商（OEMs）和最终用户提供了一个强大的 X射线探测系统，它可以直接应用并投放市场。由于所有的连接都已在产品内部做好，用户所需只是+5V直流输入和USB/RS232线缆。 X-123并未因小型化而牺牲性能。根据不同探测器类型和峰化时间，Fe的5.9keV能峰处的能量分辨率（半高全宽）可达145 eV至230 eV。X-123是封装好的一整套 X射线谱仪，是产品快速开发的完美选择，且为原始设备供应商（OEMs）提供了最快的投放市场速度。 图12. RoHS/WEEE应用中能谱示例。采用Si-PIN探测器的X-123 的典型测量结果：图13. 109Cd样品的X射线荧光分析谱图（多元素）。 图14. 109Cd样品中铅的X射线荧光分析谱图。 图15. PC机主板的一些位置得到109Cd样品的 X射线荧光分析谱图。 图 16. 109Cd样品中所含若干元素的 X射线荧光分析谱图。机械部分机械尺寸图17. 装配硬件。图18. 包含装配板和角铁的X-123。图19. X-123装配板尺寸图。图20. X-123所用角铁尺寸。 完整的X射线荧光谱仪（XRF）系统：图21. 完整的XRF系统。图22. 已装配在MP1型底板上的X-123和Mini-X射线管。完整的XRF系统包括：1. X-123 X射线能谱计；2. Mini-X型USB控制X射线管；3. XRF-FP定量分析软件；4. MP1型XRF装配底板。点击这里获取XRF实验室套装的更多信息。 更多信息请关注AMPTEK英文官方网站：。

HREELS我们的精密倒视LEED光学具有所有特高压结构，不使用玻璃纤维或聚合物涂层线束。完整的型号和选项，包括低电流(nA, pA) MCP型号。所有光学采用4网格结构的AES兼容。精密结构与4栅格钨光学微型直径1.59厘米的电子枪103度可用视角0.5%能量分辨率可伸缩光学(标准2英寸和高达4英寸的缩回)安装法兰有完整的视口和电子馈线完全兼容特高压(不使用聚合物涂层或玻璃纤维绝缘电线)低噪音，高性能俄歇电子与集成锁定放大器MCP版本的pA和nA电流水平全范围的选择，包括低轮廓快门，CCD相机和软件，6英寸和8英寸外径法兰模型主要技术指标：能量分辨率0.7meV,角度分辨率0.08度 （当入射电子能量为7.4eV时，对应的动量分辨率约为0.002A-1）主要功能：高分辨电子能量损失谱（HREELS）可以测量电子的带边结构、声子和表面等离激元等准粒子及其各向异性特征，是探索表面低维体系中新原理、新性质的不可替代的重要方法。本实验室研制的HREELS谱仪将半球形电子能量分析器与新型单色电子源相结合，能够高效率的测得动量、能量二维的电子能量损失谱图。而且本仪器具备和角分辨光电子能谱仪的兼容性，可以同时给出电子能带与声子等准粒子分布的本征数据。新型HREELS谱仪是研究材料表面电子与晶格相互作用、低维纳米结构表面等离激元衰减特性等的强大工具。

微谱科技5E-XRF2510高性能能量色散X射线荧光光谱仪5E-XRF2500 X射线荧光光谱仪凭借其紧凑的尺寸，优异的分析性能，超高的测试效率，可以精准测试从F到U的所有元素。广泛应用于水泥、采矿、金属冶炼、玻璃陶瓷、化妆品、催化剂、石化等行业。基本参数：元素范围：F-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：3种可选，空气，真空，氦气触屏大小：10寸产品特点：操作简单在测试过程中，可随时查看仪器运行状态：管压、管流、光管温度、光谱室真空度、各类传感器状态、探测器温度信息，随时全面掌握仪器的工作信息样品旋转通过样品旋转，增加样品测试面积的同时提高代表性，使样品测试结果更加准确高性能能量色散X射线荧光光谱仪，从灵敏度，分辨率和稳定性体现更高的灵敏度微谱科技5E-XRF2500设备采用石墨烯SDD探测器，更加紧凑型的光路，微型测试腔、创新性的解谱算法，计数率高于1000000cps，使得从F到U的所有元素都可获得最佳的灵敏度。例如，通过上述创新性技术，可以使用熔融制样方法对样品中的钠元素进行准确定量分析，以前只有价格昂贵的WDXRF才可以完成的任务，而现在使用微谱科技的EDXRF就可以完成更高的分辨率5E-XRF2500采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法，分辨率可低至123eV@Mn Kα线，因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率，可清晰区分领进谱线，减少谱线重叠现象，从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析，如地质矿物以及金属合金样品的分析。更高的稳定性5E-XRF2500创新性的采用微型测试腔体设计，紧凑型测试光路，高真空度光谱室，样品自旋技术，创新性的稳谱技术。使得微谱科技的EDXRF具有极高性能的长期稳定性。

产品型号：EDX 4500产品名称：X荧光光谱仪测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：60秒-200秒探测器能量分辨率为：125eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC 110V/220V环境温度：15℃-30℃环境湿度：35%-70%外形尺寸：660mm×510mm×350mm样品腔体积：Φ320mm×100mm重量：65Kg性能特点超薄窗X光管，指标达到国际先进水平数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然标准配置超薄窗X光管FAST-SDD探测器数字多道技术钢铁行业测试专用配件光路增强系统高信噪比电子线路单元内置高清晰摄像头自动切换型准直器和滤光片自动稳谱装置三重安全保护模式相互独立的基体效应校正模型多变量非线性回归程序整体钢架结构，力度可靠的保证90mm×70mm的液晶屏真空泵

产品简介红外发射光谱（Infrared Emission Spectroscopy）是一种直接、无损地获取物质材料光谱信息的红外检测手段，是对红外透射、红外反射、衰减全反射(ATR)、漫反射等测量方式的有效补充。由于材料自身就是红外的发射源，因此发射光谱应用领域比较广，如不适合做透射测量的物质表面、强腐蚀性且不透光的样品、发射光源的光谱特征、体积较大的物体、距离较远的目标、超高温样品的光谱特性、等离子体的发射测量等。 红外发射光谱的原理是，根据基尔霍夫定律（Kirchhoff’s Law），任何物质在温度高于绝对零度时，其内部的原子和分子都会受热激发到更高的能级，在返回基态能级时通过发射释放能量；并且在热平衡条件下，物质的发射能量和其吸收率的比值，仅和物质的温度和发射的波长有关，即在热平衡时，物质发射的能量一定等于吸收的能量。黑体是最理想的吸收体，其发射率也是最大的。按照应用领域的不同，黑体可以分为平板式黑体和空腔式黑体。通常情况下，平板式黑体适用的温度范围在200°C以内，空腔式黑体适用的温度更高，有的甚至到达2000°C以上。在计算某些材料的发射率时，往往需要测量相同温度下黑体的发射谱图强度，接着立即测量样品的发射谱图强度，然后将两者相除，即可归一化得到该温度下，该材料不同波长的发射率。下图为三种不同温度下黑体的发射谱图，我们可以从谱图中了解到，随着温度的不断升高，发射的强度是逐渐增大的，这是由普朗克定律（Planck’s Law）所决定的。该定律给出了光谱辐射通量密度和光谱波长及黑体温度之间的定量光系。另外，我们也发现，不同温度下发射谱图的峰位极大值是不断位移的，温度越高，峰位极大值越向高波数位移，也就是移向短波的方向，该现象符合维恩位移定律，nmax=1.93T。 黑体IR-563/301的技术参数n 温度范围：50 – 1050 °Cn 温度调节精度：0.1 °Cn 发射口最大尺寸：1英寸n 发射率：0.99n 发射源类型：空腔黑体n 8个可调光阑 FOLI 10-RE是荧飒光学自主设计的独立式傅里叶变换红外发射光谱仪，该光谱仪集成专门的发射平台，可以安装各种不同的发射附件和参考黑体，满足不同温度下不同材料的表征需求。光谱仪主机配置双检测器位置，方便用户随时进行多个检测器的切换测量。灵活的光路设计，用户可以选择聚焦光路或者平行光路来适合不同的样品。此外，FOLI 10-RE也可以更换内部的光学元器件，使测量谱区扩展到近红外波段，满足近红外光源的发射测量。发射光谱的测量方式及注意事项，视样品形态的不同而有所差别。对于薄膜样品，可以将薄膜担载在金属基底上进行测量，以减少基底的辐射；制备样品的厚度不能太大或者气体浓度不能太高，防止样品自吸收造成的谱图变形；如果背景的辐射较强，在计算样品发射率时，需要考虑将背景的发射强度扣除后，才能得到准确的结果；如果样品在测量过程中释放出气体，用户需要考虑在发射装置上增加吹扫，以减少气体对谱图的影响。 产品应用领域n 研究材料的发射谱图特性n 计算材料的发射率n 艾柱燃烧的发射光谱n 陶瓷片在不同温度下的发射光谱n 医疗器械中各种理疗仪的测试n (近)红外光源的测试n 超高温样品的光谱测试n 等离子体的发射测量n 人体穴位的发射研究n 玻璃及建筑材料的发射测量n 太阳能集热管的发射测量n 各类织物的发射测量 产品特点n 干涉仪：高级迈克尔逊干涉仪，光路永久准直，稳定性极佳，10年质量保证n 固态激光器：性能稳定，使用寿命达10年以上n 发射源：聚焦光路，用户的样品或者热源或者黑体n 分束器：ZnSe材质分束器和ZnSe窗片，防止光学器件潮解（可选KBr、石英分束器）n 检测器：内置双检测器位置，可选择常温检测器或者低温MCT、铟镓砷，可以实现软件自动切换n 光路设计：专用的发射光路设计，简洁紧凑，降低辐射损失，提高辐射通量 n 发射附件：可定制各种附件满足客户的实际测试需求 产品技术参数n 光谱范围：标准范围500～5000 cm-1（可选400-7500cm-1、400-10000cm-1、或扩展到近红外12500 cm-1）n 光谱分辨率：优于2 cm-1，通常使用8 cm-1n 测量方式：将样品放置在聚焦点，可以选择不同的温控仪或者黑体n 工作条件：工作温度：-5～40℃；工作湿度：0～100%R.H. n 电源：100～240VAC，50～60Hz, 20W；n 重量：12kgn 尺寸：44 cm×33 cm×18cm(W×D×H；含发射挡板) 产品配置选型 型号名称说明FOLI 10-RE傅里叶变换红外发射光谱仪单检测器(DLATGS、液氮冷却MCT，电制冷MCT可选) FOLI 10-RE Pro傅里叶变换红外发射光谱仪双检测器，软件自动切换，DLATGS、液氮冷却MCT，电制冷MCT可选FOLI 10-RE NIR傅里叶变换红外发射光谱仪近红外检测系统，软件自动切换（铟镓砷检测器和石英分束器） IR-563/301黑体适合高温发射平板式加热装置适合中低温样品的实验空腔式加热装置 适合高温样品的实验聚焦附件等方便用户聚焦 对于室温下的物质的红外发射测量，荧飒光学提供了另外一种解决方案。通过FOLI系列傅里叶变换红外光谱仪主机和反射附件或者积分球附件，测量得到材料的反射光谱。根据基尔霍夫定律和能量守恒定理，我们可以非常方便地获得室温下不透明材料的发射率。详细解决方案可以咨询荧飒的应用工程师。

Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光谱仪提供出色的痕量分析灵敏度，打破了1纳米的检测限瓶颈。专为满足实验室和制造环境中极具挑战性的分析需求而设计，ARL QUANTX EDXRF 光谱仪的功能和灵活性可zui大程度提高各种元素分析应用的分析量。能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备，实现主量、次量和痕量元素分析，所分析样品范围广泛，可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。ARL Quant’X 荧光能谱仪具有广泛的应用如:ROHS-WEEE电子废弃物中重元素分析,各种合金及贵金属成分分析,环境污染气溶胶的测度, 考古文物保护,刑侦痕量分析,营养品分析,磁性介质和半导体的薄膜渡层厚度分析,各种油品中成分分析,纳米至微米镀层厚度测量,土壤,催化剂,矿石,原材料等.用于材料的无损分析可选择液氮致冷或电致冷Si(Li) 探测器 从氟至铀的多元素分析测定的浓度范围一般可以从ppm级至百分之百技术参数

EDX-8000 XRF Spectrometer能量色散X荧光光谱仪RoHS环保指令检测仪Simply the Best主要应用于RoHS 2.0 / WEEE无卤检测玩具EN71及消费品的有害物质检测（Pb、Cd、Hg、Cr 、Br、Cl、As、Sb、Se、Ba等）94/62/EC包装指令RoHS指令专用检测光谱仪EDX-8000背景有害物质限用指令（英語：RestrictionofHazardousSubstances Directive 2002/95/EC，缩写RoHS），是2006年7月1日施行的关于所有在欧盟市场上出售的电子电气设备必须禁止"铅、汞、镉、六价铬、PBB（多溴联苯）、PBDE（多溴联苯醚）"这6种物质的指令元素RoHS/WEEEConsumer/CPSIACd镉N/ACr6+六价铬N/AHg汞N/APb铅Br溴PBB PBDE N/ACl氯N/AEDX8000是专门针对ROHS/无卤检测、EN71等环保指令设计的一款光谱仪EDX8000是一款快速，准确且经济高效的XRF荧光光谱分析仪，已用于分析各种金属塑料及电子材料中的铅（Pb），镉（Cd），砷（As），汞（Hg），铬（Cr）和其他有毒有害元素。它提供的元素检测下限（通常2ppm）完全满足RoHS法规对于材料中元素限制的含量标准。EDX8000适用范围广泛，可应用于金属/塑料/土壤/玩具/电子电器/汽车等多种行业检测。也可检测粉状、板状、线状等各种规则与不规则样品；可在仓库，装配线，办公室等各种工业生产或商业环境下使用，而且不需要配备专门的实验室；EDX8000适用于企业内部质量控制，质量检测，进出口和海关查验等领域，可以对各类进出口玩具，珠宝，服装，电子产品和其他消费品进行快速，准确，无损的RoHS符合性筛选产品特点无损检测，快速分析，结果可靠操作简单明了。将测试样品直接放在仪器分析测试窗口上，或者将其放置在厂家提供的专用样品杯中（如果很小），通过内置高清摄像头调整样品测量位置后，关闭样品腔上盖。操作员按“开始”，一键测试即可在三分钟内获取测量结果。内置的高清摄像头还可以使样品的图像和测试结果以报告格式直接存储或发送到打印机打印。我们的优势1-一键式自动测试，使用更简单，更方便，即使非技术人员也能快速上手2-采用美国AmpTek最新型Si-pin/SDD探测器，电致冷技术，体积小、数据分析准确且维护成本低。3-采用自主研发的探测器信号增强处理系统，提高信噪比，达到实验室级别最低1ppm检出限。图1-1（图1-1展示了塑料中98ppm和808ppm溴元素Br的光谱对比图。红色为808ppmBr,蓝色为98ppm溴。光谱图是XRF光谱仪可以迅速测试的数据分析基础）4-八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换。最小0.2mm准直器可以用于样品微点测试，检测光斑更小，射线能量更集中。内置高清CCD摄像头，能清晰地显示仪器所检测的样品部位5-采用7位滤光片自动切换系统，不同滤光片可有效提高不同基体中元素的检测下辖6-多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品最高级7-先进的一体化散热设计，使整机散热性能得到极大提高，提高核心部件使用寿命8-独有的机芯温控技术，保证X射线源的安全可靠运行，降低使用成本9-可定制化报告，可以自由设定元素检测限，软件自动标示超标元素（Fail/Pass）10-多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全11-优化了Cl，Cr等元素的检测，大大提高了低含量Cl和Cr元素的测试灵敏度和稳定性，为用户的无卤分析提供了更精准的检测方法12-可拓展应用：镀层厚度分析，八大重金属分析，合金成分分析可定制的测试报告ROHS检测报告 样品名称Sample NameEC681M测量时间Test Time150(s)管压Voltage45/10(KV)操作员Operator厂家模式管流Current400(μA)测量日期Test Date2020/2/3 10:22工作曲线WorkCurve塑料仪器型号ModeEDX8000报告编号ReportNo20210203-0002元素Element限定标准Limits含量(ppm)Content(ppm)误差(ppm)Error(ppm)判定ResultsCl900371.6317.54PassCr100045.10.15PassBr100014603.37FailCd1001471.28FailHg10008.90.37PassPb100069.70.96Pass谱图%Spectrum%%ElemSpec%注： ND代表含量小于等于1ppmEDX8000的PC报告软件可自定义并可立即生成报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像。可追溯的文档使EDX8000成为RoHS符合性测试的理想工具。RoHS 符合性测试专家EDX8000仪器参数仪器外观尺寸: 560mm*380mm*410mm超大样品腔：460mm*310mm*95mm仪器重量: 40Kg元素分析范围：S16-U92硫到铀可分析含量范围：1ppm- 99.99%探测器：AmpTek 高分辨率电制冷Si-pin Detector多道分析器: 4096道DPP analyzerX光管：50W高功率光管高压发生装置：电压最大输出50kV，自带电压过载保护电压：220ACV 50/60HZ环境温度：-10 °C 到35 °C标准配置纯Ag初始化标样测试样品杯USB数据线RoHS CRM标样-EC681M测试薄膜仪器出厂和标定报告保修卡

微谱科技WEPER XRF2601超大腔体/无损能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2601可以精准测试从Mg到U的所有元素。350mm×345mm×85mm大腔体，是无损分析的能手，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。标配样品观察功能，精准定位并记录检测点。可选配12位样品自动进样系统，提高测试效率。基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率50w，最大电压50kV，最大电流1000uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：台式电脑 产品特点：超大腔体350mm×345mm×85mm超大腔体，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。无损检测不需要破坏样品，可直接在样品上执行测量。无人值守WEPER XRF2601可选配12位样品自动进样系统，提高了测试效率先进分析技术微谱科技WEPER XRF2601设备采用石墨烯SDD探测器，计数率高于1000000cps， 分辨率可低至123eV@Mn Kα线超快速度大部分样品的测试时间再60-600s以内

微谱科技WEPER XRF2600大腔体/无损能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2600可以精准测试从Mg到U的所有元素。315mm×225mm×62mm大腔体，是无损分析的能手，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。标配样品观察功能，精准定位并记录检测点。基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率4w，最大电压50kV，最大电流200uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：10寸 产品特点：大腔体315mm×225mm×62mm大腔体，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。无损检测不需要破坏样品，可直接在样品上执行测量。先进分析技术微谱科技WEPER XRF2600设备采用石墨烯SDD探测器，计数率高于1000000cps， 分辨率可低至123eV@Mn Kα线超快速度大部分样品的测试时间再60-600s以内

通用能量谱仪放大器 型号：572A Spectroscopy Amplifier通用能量谱仪放大器单极性输出或双极性输出极零调节基线恢复（自动）内建脉冲堆积拒绝器增益：1-1500连续可调脉冲形状：半高斯形积分非线性：≤±0.05%（2μs成形时间）噪声：5μV(2μs成形时间粗调增益100)增益温度稳定性：≤±0.0075%/℃（0-50℃）DC温度稳定性：≤±50μV/℃（0-50℃）谱展宽：16%FWHM （Co-601.332MeV峰位于多道86%道址处，单极性输出，2μs成形时间）峰位漂移：0.024% （Co-601.332MeV峰位于多道86%道址处，单极性，2μs成形时间）电源需求：+12V/85mA， -12V/30mA，+24V/100mA， -24V/105mA

1.能量色散X荧光光谱仪应用领域： 1.1.ROHS\无卤检测指令 1.2.合金分析领域（特别是轻元素） 锌铝合金成分分析 铝合金成分分析 铜合金牌号判定、成分分析 不锈钢成分分析（抽真空轻元素检测） 铸铁成份分析等 1.3.镀层成分分析 镀层厚度分析 镀层环保检测 1.4.能量色散X荧光光谱仪仪器规格 仪器腔尺寸：400mmX340mmX80mm 仪器外观尺寸：700mmX510mmX336mm 仪器重量：56kg 1.5.工作条件： ●工作温度：15-30℃ ●相对湿度：40%～70% ●电源：AC:220V±5V、 1.6.技术性能及指标: 1.6.1.元素分析范围从钠(Na)到铀(U)； 1.6.2.元素含量分析范围为1PPm到99.99%； 1.6.3.测量时间：100-300秒(可调)； 1.6.4.RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl）其检测限度达1PPM； 1.6.7.能量分辨率为129±5电子伏特； 1.6.8.温度适应范围为15℃至30℃； 1.6.9.电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）； 1.7.产品特点 1.7.1HM-550，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，对于矿石间各元素进行检测，减少元素间干扰 1.7.2整体结构化设计，仪器美观大方。 1.7.3采用美国最新型的SDD硅飘移探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。 1.7.4采用自主研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更精准。 1.7.5一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。 1.7.6七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。 1.7.7多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品Highest。 1.7.8优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。 1.7.9独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。 1.7.10多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控,让仪器工作更稳定、更安全。 1.7.11专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。 1.7.12本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。 1.7.13独有的全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。 1.7.14一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。 1.7.15抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用；同时开盖即解除真空，安全、简单实用。 2.仪器硬件部分主要配置 2.1SDD电制冷探测器: 2.1.1.SDD电制冷探测器；分辨率：145±5e电子伏特 2.1.2.放大电路模块:对样品特征X射线进行探测；把探测采集的信息,进一步放大。 2.2X射线激发装置: 2.2.1.灯丝电流输出MAX：1mA； 2.2.2.属于半损耗型部件，使用寿命大于5000小时 2.3高压发射装置: 2.3.1.电压输出MAX：50KV； 2.3.2.电压输出MIN:5KV，可控调节 2.3.3.自带电压过载保护 2.4一体化真空系统 2.4.1具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统； 2.4.2几何抽速：60L/min（50Hz） 2.4.3压力：6.7×10-2Pa 2.5数字多道分析器: 2.5.1.将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件； 2.5.2道数MAX：4096； 2.5.3包含信号增强处理功能； 2.65光路过滤模块 2.6.1降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确； 2.6.2将准直器与滤光处整合； 2.7准直器自动切换模块 2.7.1多达7种选择，口径分别为8-1＃,8-2＃,8-3＃,8-4＃，6＃,4＃,2＃。 2.8滤光片自动切换模块 2.8.1五种滤光片的自由选择和切换。 2.9准直器和滤光片的自由组合模块 2.9.1多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。 2.10工作曲线自动选择模块 2.10.1自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化 演绎得更完美，使操作更人性，更方便。 3.专用软件JPSPEC-FP 3.1.1软件简介 专门针对金属材料元素成份检测而开发（含真空控制功能），对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。 3.1.2功能介绍 ※应对不同矿产材料可调式数据，测量时间为100-300秒（可调） ※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作

S2 PUMA 仪器为台式能量色散型X 射线荧光(EDXRF) 光谱仪，它采用了激发和检测技术的最新成果。该仪器运行稳定，操作简便，对整个元素周期表中的元素均具备的分析性能。S2 PUMA光谱仪依靠各种软件模块（用于处理先进的无标分析Smart-Quant,地质样品专用软件Geo-Quant，水泥样品专用软件Cement-Quant和符合法规要求）增强其功能，是一款经济实惠、高度灵活的分析工具，适用于各种应用场合。S2 PUMA Series 2 – Single单样品位手动进样的S2 PUMA Series 2与S2 PUMA Series 2 XY Autochanger以及S2 PUMA Series 2 Carousel具有同样的技术优点。在样品量较少时，采用简单的进样方式。通过快速的HighSense&trade 探测器和按照人体工程学设计的TouchControl&trade （触屏控制）分析样品。如果没有配置触摸屏，可通过远程控制，或外部PC上的SPECTRA.ELEMENTS软件分析样品。- 小批量样品，高分析性能&bull 大功率50W X射线光管和10位自动滤光片转换器，优化样品激发&bull HighSense探测器：布鲁克新一代硅漂移探测器（SDD），具有超高计数率和出色的能量分辨率，可明显缩短测量时间&bull 方便且具有失效保护的进样系统- 操作简便，仅需短时间培训&bull 直观明了的TouchControl（触屏控制）软件，简单培训后，任何人员都能掌握操作方法（支持9种语言）&bull 集成式触摸屏，可以戴手套操作，无需外部PC就可进行日常分析测量任何样品仅需几分钟时间：固体、熔片、压片、松散粉末、液体、块状样品 – 使用EasyLoadTM样品托盘装入批量样品，或者将块状样品直接放入样品室。S2 PUMA Series 2为您提供了最大的样品室：450 x 420 x 100 mm。其旋转式样品托盘可混装各种样品，最多装入12个直径为32、40或51.5mm的样品，或最多18个直径为40mm的样品。S2 PUMA Series 2 Carousel是台式EDXRF分析仪中，适用于各种类型、各种尺寸样品的全能仪器。S2 PUMA Series 2 – Carousel- 适用于各种类型的样品&bull 固体、粉末、液体、&bull 块状样品，整体测量或制备后测量- 微区分析&bull 采用准直器面罩可以分析大样品中细小的颗粒&bull 光斑尺寸：1至34mm&bull 高清摄像头：样品定位和确认- SMART.QUANT FP&bull 元素分析的一键式无标样解决方案&bull 算法强大，可快速可靠地获得结果S2 PUMA Series 2 Automation是唯一一款可以专业的方式集成到全自动实验室的台式EDXRF。它可全天候（24/7）为您提供元素分析结果。通过传送带或机械臂连接样品制备模块。进样接口位于仪器的背面，因此您可充分发挥X-Y Autochanger（自动进样器）的功能。除EasyLoadTM XY样品托盘外，仪器内部的缓冲样品位可确保您随时轻松处理在线样品和离线样品。布鲁克是全球X射线荧光光谱分析仪器及软件的主要供应商之一。分析仪器主要应用于科学的研究和发展、工业过程控制以及半导体材料的物性测量领域。可为客户提供量身定制的无损分析解决方案，用以分析表征广泛的产品，例如石化产品、塑料和聚合物、环境、医药、采矿、建筑材料、研究与教育、金属、食品和化妆品等多个行业领域。

（深圳沃客密科技有限公司） UV Power Puck II四通道：美国EIT能量计PUCK四通道PLUSEIT能量计 仪器测试面：（探头位置）美国EIT能量计PUCK四通道PLUSEIT能量计四通道UV测量计容易读取数据显示屏，显示4个波段。四通道UV测量计标准EIT四波段: UVA (320-390nm)，UVB (280-320nm) UVC (250-260nm)，UVV (395-445nm) 标准版本 – 10 Watt UVA, UVB, UVV；1 Watt UVC。低功率版本 –100 mW。探头结构图： 美国EIT能量计PUCK四通道PLUSEIT能量计 设置功能 提供用户可选的仪表模式用于数据分析，比较，筛选和操作设定。 数据参考模式 用于比较读数。在系统安装和检修故障的时候非常有用。用户可以将选定UV读数存储为基准线或是参考读数，然后和另一个读数比较。仪表会显示两个读数，并指示读数之间的变化百分比。数据显示为mJ/cm2 ,mW/cm2, 和百分比。 图形模式： 图形模式显示采集到的每个UV波段的UV照度和能量。图形展示为照度随时间而变化。右边显示的图形表示一个灯或是2个灯的固化系统。 用户可选的抽样率 Smooth On Data：和之前的UV Power Puck 版本兼容。 Smooth Off Data：和之前的UV PowerMap兼容超过2000个样本/秒。 测量的单位 测量的单位是用户可选择的，让操作员容易读取。数据将按您的需要显示。选择的单位可以是：mJ/cm2，mW/cm2，J/cm2，W/cm2，uJ/cm2，uW/cm2。 彩色，容易读取的显示屏 可以选择低，中和高强度用于图形显示。 通讯端口 UV能量计和PC/PDA符合串口通讯协议。下载收集的数据到计算机做统计分析和数据记录，以及过程验证。 EIT 波峰曲线示意图：技术规格表显示容易读取，数字，黑色背景 测量范围标准版本：UVA，UVB，UVV -10mW/cm2 to 10W/ m2；UVC -5mW/cm2 to 1W/cm2 低功率版本：UVA，UVB，UVC，UVV：100microW/cm2 to 100mW/cm2测量精度+/- 10%；+/- 5% 典型光谱范围 (UV Power Puck II)四通道连续检测320-390nm (UVA)、280-320nm (UVB)、 250-260nm (UVC),、395-445nm (UVV)空间响应近似余弦 操作温度0-75°C内部温度。允许较短时间的更高外部温度（当温度超过相应的规格，会有警报声提示）操作温度时间规定2分钟DISPLAY模式 (没有按键动作)。EITIM也可以设置没有时间显示。电池两只可更换AAA碱性电池电池寿命大约20小时显示时间尺寸直径117mm x高度12.7mm重量289 克外壳材料铝和不锈钢手提包材料内部聚亚安酯,软,防划尼龙外壳手提包重量260克手提包尺寸274mm宽×89mm高×197mm深美国EIT能量计PUCK四通道PLUSEIT能量计

先进的技术新一代硅漂移探测器 (SDD)先进的数字脉冲处理 (DPP) 技术高性能、多元素分析选配的 Thermo Scientific&trade UniQuant&trade 软件可提供优秀的无标样分析主要特点卓越的痕量分析灵敏度高测量通量，适合过程控制先进的非典型材料分析算法出色的样品处理灵活性机械简单性和可靠性紧凑、占地面积小，便于运输，适合现场测量快速、简单的安装，全面的现场定制化包含完整的实验室启动包可进行空气、真空和氦气中的样品分析经证实的硬件和一体化的软件现场协作式方法开发全面的技术应用支持数百种应用的专业知识大样品室、摄像机以及各种范围的准直器功能强大、易于使用的 Thermo Scientific&trade WinTrace&trade 软件无标样和半无标样分析。含标准品的基本参数 (FP) 和经验方法多层厚度和成分无限制的元素，无限制的标准品数量简单将结果传输到外部计算机或 LIMS支持九种及以上语言多种激发条件，自动化操作可选 UniQuant 高级无标样分析比任何其他 FP 分析更进一步，可选的 UniQuant 程序收集从氟到铀的所有可能元素发出的所有谱线。这种完整的样品光谱曲线使 UniQuant 能够自动校正所有在能量色散光谱中尤为复杂的可能重叠和背景效应始终可以分析所有元素将每份样品的独有物理特性（即面积、厚度和质量）均纳入计算校正 X 射线管输出的长期变化多种可选报告级别和格式，可以为任何类型的用户清楚地呈现结果UniQuant 在出厂时经过全面预先校准，为即用型

在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF（能量色散 X 射线荧光）系统配备无标样软件和配件，可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。 ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:1、快速分析氟（F）到铀（U）之间的元素；2、元素分析浓度范围从1ppm到100%；3、多元素同时测量时间10-60秒；4、可选多种进样器；5、使用CCD相机进行样品成像；6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm，以便适应不同样品大小；7、高性能电制冷硅漂移探测器（SDD）；8、多功能XRF应用软件；9、薄膜厚度测量与镀层分析；10、UniQuant专利技术，卓越的无标样多元素同时分析技术；11、多语言支持；12、优异的机械耐久性，可保证长时间无故障运行；13、可选TRACEcom，能够轻松与LIMS交互；14、设计紧凑，可以轻松移动；15、低噪音、得益于智能温控风扇；16、全面的自定义和现场应用方法建立功能；17、易于安装，更易于维护。与上一代产品相比，新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构，从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素，除了需要提升灵敏度之外，光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计，可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X射线管产生的所有杂散干扰。