薄膜折射量仪

KAMAKIRI-WM Photonic Lattice online双折射测量仪产品简介： Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域 Photonic Lattice online双折射测量仪主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量。 LIVE实时输出双折射的信息。 OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报。 操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 Photonic Lattice online双折射测量仪应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃 Photonic Lattice online双折射测量仪技术参数：项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm/0-260nm(选配)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量宽度尺寸 350mm7宽度方向测量点2560

主要简介： Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量LIVE实时输出双折射的信息OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃 技术参数: 项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm/0-260nm(选配)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量宽度尺寸350mm7宽度方向测量点2560

本系统根据最小保护角度法(散荷法)，在采用棱镜形状的样本中使用任波长为(1~14微米)的中色光，通过测量透过入射光的角度来测量样品的透射率的的装置。能够测定在以往的测定法的折射率精度为0.0001。用于红外窗口及红外镜头的Ge, Si, ZnSe, KRS-5。最适合评估玻璃和红外光学薄膜。特点：可以在波长范围1~14um中测量折射率，可以达到(0.0001)的高精度；配备温度调控功能，可以测量不同温度下的折射率的差异。

本系统根据最小保护角度法(散荷法)，在采用棱镜形状的样本中使用任波长为(1~14微米)的中色光，通过测量透过入射光的角度来测量样品的透射率的的装置。能够测定在以往的测定法的折射率精度为0.0001。用于红外窗口及红外镜头的Ge, Si, ZnSe, KRS-5。最适合评估玻璃和红外光学薄膜。特点：可以在波长范围1~14um中测量折射率，可以达到(0.0001)的高精度；配备温度调控功能，可以测量不同温度下的折射率的差异。

在PA系类设备的基础上，加装晶圆专用的装置，可以高效精确的测量SIC和蓝宝石这类光学性能特殊的产品的双折射和残余应力的信息。 应力双折射测量仪主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应力双折射测量仪应用领域: SIC 蓝宝石应力双折射测量仪技术参数： 项次 项目 具体参数1 输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野不适用8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制

PHL双折射测量仪PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪概述： 日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术，并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分：n 光子晶体光学元件；双折射和相位差评价系统；膜厚测试仪；偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点：操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数，在蓝宝石，SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷，会直接影响到其产品性能，故缺陷的检出和管理，是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止，产线上的缺陷管理，多是使用偏关片，以目视方式进行缺陷检查。但是，这样的检查方式，因无法将缺陷定量化，当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时，就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T，将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来，φ8inch晶圆仅需5分钟，即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估，提高生产品质的稳定性。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点： 使用PA-110-Rasterscan软体，操作简单，可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据，以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测，因不受视觉影像，连书面周边区域都可高精度测量。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理： l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时，光的偏光状态会产生变化（光弹性效果）。换句话说，比较光穿透物体前之后的偏光状态，即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器，使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成，能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件，能将双折射分布数据定量化，变成可以分析的资料。 PHL PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标： 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。 更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数：项次项目 具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

总部位于德国柏林科技园区的SENTECH仪器公司，已成为光伏生产设备世界市场之 一.我们是一家快速发展的中型公司，拥有60多名员工，他们是我们有价值的资产我们団 队的每个成员都为公司的成功做出贡献，我们总是在寻找与我们志同道合的新工作伙伴，我 们诚挚期待您的加入。薄膜测量仪器反射膜厚仪RM 1000和RM 2000扩展折射率指数测量极限我们的反射仪的特点是通过样品的高度和倾斜调整进行精确的单光束反射率测量，光学布局的高光导允许对n和kffl 行重复测量，对粗糙表面进行测量以及对非常薄的薄膜进行厚度测量. 紫外-近红外光谱葩围 RM 1000 430 nm-930 nm RM 2000 200 nm - 930 nm 高分辨率自动扫描 反射仪RM 1000和RM 2000可以选配x-y自动扫描台和自动扫描软件、用于小光斑尺寸的物镜和摄像机。综合薄膜测量软件FTPadv Expert宽光谱范围和高光谱精度 SENresearch4.0光谱椭偏仪覆盖宽的光谱范围，从190 nm（深紫外）到3500 nm（近红外）。 傅立叶红外光谱仪FTIR提供了高光谱分辨率用以分析厚度高达200|jm的厚膜。 没有光学器件运动（步进扫描分析器原理） 为了获得测量结果,在数据采集过程中没有光学器件运动。步进扫描分析器（SSA）原理是SENrsearch4.0光谱椭偏仪的一个独特特性。 双补偿器2C全穆勒矩阵测量 通过创新的双补偿器2C设计扩展了步进扫描分析器SSAJ京理，允许测量全穆勒矩阵。该设计是可现场升 级和实 现成本效益的附件。 SpectraRay/4综合椭偏仪软件 SpectraRay/4是用于先进材料分析的全功能软件包,SpectraRay/4包括用于与引导图形用户界面进 行研究的交互 模式和用于常规应用的配方模式.激光椭偏仪SE400adv亚埃精度稳定的氣氤激光器保证了 0.1埃精度的超薄单层薄膜厚度测量。 扩展激光欄偏仪的极限 性能优异的多角度手动角度计和角度精度优越的激光椭偏仪允许测量单层薄膜和层叠膜的折 射率、消光系数和膜厚. 高速测量 我们的激光椭偏仪SE 400adv的高速测量速度使得用户可以监控单层薄膜的生长和终点检 测，或者做样品均匀性的自动扫描。综合薄膜测量软件FTPadvExp测量n, k,和膜厚 该软件包是为R（入）和T（入）测量的高级分析而设计的。 查层膜分析 可以测量单个薄膜和层畳膜的每一层的薄膜厚度和折射率. 大量色散模型 集成的色散模型用于描述所有常用材料的光学特性。利用快速拟合算法，通过改变模型参数 将计算得到的光谱调整到实测光谱。

主要简介：Photron集团公司是日本大型相机，视频，软件控制供应商，其旗下的高速/超高速摄像机业务应用非常广泛，欧屹科技代理的是其旗下KAMAKIRI品牌的双折射/残余应力测量设备，其高速相机CCD芯片与Photonic Lattice公司的偏光阵列片完美结合，研制在线双折射/残余应力测量仪，世界上仅有KAMAKIRI可以提供，广泛应用于光学薄膜，PVA,PC,COP和TAC等领域。 主要特点：可用来评估高相位差产品，PET薄膜和树脂成品三波长测定双折射范围可达3000nm可选配高相位差配件，满足10000nm的超过相位差测定需求应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃主要参数：项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长523nm、543nm、575nm3双折射测量范围0-3000nm4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm6测量尺寸97×77mm ～ 2900×2310mm7定制选项光学配件，可测量超过10000nm的高相位差

ATAGO(爱拓)多波长阿贝折射仪DR-M4(1550)是测量液晶材料双折射样品最适宜的折射仪，广泛的应用于液晶材料的检测中，可提供波长范围450nm至1550nm，折射率1.4260至1.9220范围内的检测。ATAGO（爱拓）多波长阿贝折射仪 DR-M2/M4（最大1,550nm），可在波长450至1,550nm范围内，使用不同的波长测量折射率（nD）和阿贝数值。测量结果通过调整分界线至十字交叉点确定，测量结果在LCD显示屏以数字形式显示，与传统型阿贝折射仪相比，读数更快速更清晰。尤其适合高精度测量眼镜片等聚酯材质的折射率。【产品参数】产品型号DR-M2（1,550）DR-M4（1,550）产品货号14121415测量范围折射率（nD )折射率（nD )1.3278～1.7379（450nm）1.5219～1.9155（450nm）1.3000～1.7100（589nm）1.4700～1.8700（589nm）1.2912～1.7011（680nm）1.4561～1.8544（680nm）1.2743～1.6840（1,100nm）1.4310～1.8259（1,100nm）1.2662～1.6759（1,550nm）1.4215～1.8136（1,550nm）分辨率折射率（nD )： 0.0001，阿贝数值：0.1测量精度折射率（nD )：±0.0002（采用589nm测试片）波长范围450至1,550nm（配干涉滤光片） 测量温度5～50℃输出打印机光源单色光源尺寸、重量：22×30×20至30cm，5.2kg，电源：AC200～240V,50/60Hz电源AC100～240V，50/60Hz尺寸与重量13×29×31cm，6.0kg（仅主机）15×33×11cm，3.2kg（电源）选配件循环恒温水浴 60-C5【货号：1923】数字打印机 DP-63（B）【货号：3135】【ATAGO（爱拓）阿贝折射仪系列（数显型）】ATAGO（爱拓）阿贝折射仪（数显型） DR-A1-Plus ATAGO（爱拓）阿贝折射仪（多波长） DR-M2/M4（最高1,100nm）ATAGO（爱拓）阿贝折射仪（多波长） DR-M2/M4（最高1,550nm）

完美融和创新设计及先进技术，Prism Pro - IR是艺术级红外折射率测量仪，用于测量中波红外成像组件/系统及光材料均匀性的理想仪器。规格参数*精确度 (已校准)+- 0.00005*重复性+- 0.00002波长范围350nm- 14um温度范围（可选）77-373K波长精度+- 0.05%波长分辨率1nm仪器测试孔径25 mm 直径旋转平台分辨率.008 角秒双RTD(电阻热装置)+-0.3 摄氏度探测器MCTDSP锁相放大器SRS 830源类型：150 W石英卤素灯(0.25 - 3.5 um)、陶瓷发光体 (2.0 - 30 um)单色仪：自动三光栅塔轮、自动11位二级截止滤光片转轮、变速光学斩波器 (10 – 350Hz)、(6) 套用户可切换狭缝尺寸： 6ft x 4ft x 3ft重量： 1100lbs (包括桌子)分析软件/ M3自动化、折射率索引包&bull 准确性和重复性通过60度CaF2棱镜@3.39um验证&bull dn/dT：折射率系数随温度变化&bull 色散：折射率系数随波长变化色散方程拟合: Sellmeier、Cauchy等样品制备色散曲线dn/dT曲线

双折射应力测量仪PA-110-T大面积应力双折射应力测量仪概述：日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。 主要产品分四部分：n 光子晶体光学元件；双折射和相位差评价系统；膜厚测试仪；偏振成像相机。『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的相位差、双折射和内部应力应变分布PA/WPA系统特点：操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。 偏光图像传感器的结构和测试原理 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器PA-110-T可以对8英寸以上的样品测量双折射参数，在蓝宝石，SiC晶片等晶体缺陷方面具有广泛应用。蓝宝石或SIC等透明晶圆的结晶缺陷，会直接影响到其产品性能，故缺陷的检出和管理，是制程中不可欠缺的重要环节。 到目前为止，产线上的缺陷管理，多是使用偏关片，以目视方式进行缺陷检查。但是，这样的检查方式，因无法将缺陷定量化，当各批量间产生变动或缺点密度缓慢增加时，就无法以目视检查的方式正确找出缺陷。 PA-110-T，将特殊的高速偏光感应器与XY Stage组合起来，φ8inch晶圆仅需5分钟，即可取得整面的双折射分布资料。 藉由定量化的结晶缺陷评估，提高生产品质的稳定性。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器特点： 使用PA-110-Rasterscan软体，操作简单，可进行精细的拼贴测量。 l XY自动Stage&拼贴功能针对大尺寸的Wafer数据，以拼贴方式自动合成。 l 使用大口径远心境头以垂直光线进行量测，因不受视觉影像，连书面周边区域都可高精度测量。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器原理： l 当光穿透具有双折射特性的透明物质时，光的偏光状态会产生变化（光弹性效果）。换句话说，比较光穿透物体前之后的偏光状态，即可评估物质的双折射。 l 该设备装配的偏光感应器，使用了敝公司特有的Photonic结晶组装而成，能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件，能将双折射分布数据定量化，变成可以分析的资料。 PA-110-T大面积应力双折射测量仪器技术指标： 型号PA-110-T测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸650x700x683mm观测到的最大面积8英寸自身重量70kg数据接口千兆以太网（摄像机信号），RS-232C电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View

主要简介： PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。 应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板碳化硅，蓝宝石等 技术参数： 项次项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm 3双折射测量范围0-130nm4 测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度 1nm（西格玛）6视野尺寸27x36mm到99x132mm（标准） 7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8 选配功能实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

PHL应力双折射仪器PHL PA-micro显微型应力双折射仪PHL应力双折射仪器简介：应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。 PHL应力双折射仪在显微镜下快速测量PA-Micro：型号PA-Micro测量范围0-130nm重复性1.0nm像素数1120x868测量波长520nm尺寸250x487x690mm观测到的最大面积5倍物镜：1.1x0.8mm 10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um 50倍物镜：110x80um 100倍物镜：55x40um.自身重量11kg数据接口千兆以太网（摄像机信号）电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件PA-View（for Micro）

主要简介： 汽车车窗玻璃幅面很大，一般桌面式测量双折射/残余应力测量仪无法测量，扫描测量由非常慢，无法满足实际使用，因此Photonic Lattece研制出超大幅面的WPA双折射测量仪，会根据客户样品定制大型圆偏振光光源系统，实现大幅面样品的高速测量。设备在日本的汽车厂商得到广泛应用。主要特点： 解决汽车车窗玻璃等大幅面产品的双折射/残余应力测量。测量速度快，可满足玻璃工厂研发或质量控制测量。采用523nm,543nm,575nm三种波长，相位差测量范围高达3000nm。采用广角偏振面阵传感器，一次得到测量结果。专用操作软件，功能强大，操作简单，便于做分析比较和品质判断。 主要参数：测量案例：

主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现各个环节的双折射测量LIVE实时输出双折射的信息OK/NG可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。应用领域：相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃技术参数: 项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm/0-260nm(选配)4主轴方位范围0-180°5测量重复精度1nm（西格玛）6测量宽度尺寸350mm7宽度方向测量点2560

PHL应力仪PHL应力双折射仪PHL WPA-100应力双折射测试仪器PHL应力双折射测试仪简介：PHL应力双折射仪，能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice 公司成立于1996 年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术领先世界，并由此开发出的测量仪器。Photonic Lattice主要产品分四部分：Photonic Lattice光子晶体光学元件；Photonic Lattice双折射和相位差评价系统；Photonic Lattice膜厚测试仪；Photonic Lattice偏振成像相机。Photonic Lattice双折射测量系统 WPA-100，WPA-100-LPhotonic Lattice WPA-100 系列产品可以测量的相位差达几千纳米的样品。Photonic Lattice WPA-100-L 可观察更大视野范围PHL WPA-100应力双折射测试仪主要参数表：型号 WPA-100 WPA-100-L测量范围 0-4000nm重复性 1.0nm像素数 384x288测量波长 523nm,543nm,575nm产品尺寸 310x466x605.5mm 450x593x915.5mm观测到的最大区域 100x136mm 250x340mm重量 20kg 26kg数据接口 GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）电压电流 AC100-240V（50/60Hz）软件 WPA-View适合树脂成型镜片检测系统WPA-100-S专为小镜头（10mm）双折射测量而设计配备自动选择圆形区域，相位差值传递失败判断功能，特别适合树脂镜片成型的质量控制。主要参数表型号 WPA-100-S测量范围 0-4000nm重复性 1.0nm像素数 384x288测量波长 523nm,543nm,575nm产品尺寸 200x275x309.5mm观测到的最大面积 11.6x15.8mm自身重量和电源重量 4kg 和9kg电压电流 AC100-240V（50/60Hz）软件 WPA-View

PA-300-L主要简介 PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪，PA系列测量双折射测量范围达0-130nm，可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片，独有的双折射算法设计制造，得到每片样品仅需几秒钟的测量能力，使其成为业内，特别是工业界双折射测量/应力测量的选择。 主要特点：操作简单，测量速度可以快到3秒。视野范围内可一次测量，测量范围广。更直观的全面读取数据，无遗漏数据点。具有多种分析功能和测量结果的比较。维护简单，不含旋转光学滤片的机构。高达2056x2464像素的偏振相机。应用领域：光学镜片智能手机玻璃基板A4纸尺寸的样品技术参数： 项次 项目 具体参数1输出项目 相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】2测量波长520nm3双折射测量范围0-130nm4测量最小分辨率0.001nm5测量重复精度1nm（西格玛）6视野尺寸40x48mm到240x320mm（标准）7选配镜头视野低至7x8.4（扩束镜头）8选配功能 实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制 测量案例：

F60 薄膜厚度测量仪生产环境的自动测绘Filmetrics F60-t 系列就像我们的 F50产品一样测绘薄膜厚度和折射率，但它增加了许多用于生产环境的功能。 这些功能包括凹槽自动检测、自动基准确定、全封闭测量平台、预装软件的工业计算机，以及升级到全自動化晶圆传输的机型。不同的 F60-t 仪器根据波长范围加以区分。 较短的波长 (例如， F60-t-UV) 一般用于测量较薄的薄膜，而较长的波长则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。 选择Filmetrics的优势 桌面式薄膜厚度测量专家 24小时电话，E-mail和在线支持 所有系统皆使用直观的标准分析软件 附加特性 嵌入式在线诊断方式 免费离线分析软件 精细的历史数据功能，帮助用户有效存储，重现与绘制测试结果

应力双折射仪WPA-100-MICRO显微大相位差应力双折射仪应力双折射仪器简介：应力双折射仪，能够快速测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术世界，并由此开发出的测量仪器。PHL显微镜下的双折射测量 WPA-100-MICRO匹配显微镜测量双折射测量光学薄膜、钢化玻璃、有机晶体薄膜、金属晶体、不透明基板等材料在显微镜视场下评估和管理双折射分布PHL应力双折射仪器参数：型号WPA-Micro测量范围0-4000nm重复性1.0nm像素数384x288测量波长523nm,543nm,575nm尺寸250x487x690.0mm观测到的面积5倍物镜：1.1x0.8mm 10倍物镜：0.5x0.4mm；20倍物镜：270x200um 50倍物镜：110x80um 100倍物镜：55x40um.自身重量11kg数据接口GigE（摄像机信号） RS232C（电机控制）电压电流AC100-240V（50/60Hz）软件WPA-View（for Micro）

岱美有限公司与Filmetrics从03年开始的合作关系，单是国内16年间已卖出超过600台不同型号仪器，在国内有多个服务处均有工程师，保证能为客户提供及时的服务。 经济实惠的薄膜厚度测量系统的全球销售领头者，让复杂测量变得简单产品简介：美国 Filmetrics 公司生产的薄膜厚度测量仪利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上极具性价比的薄膜厚度测量设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。其可测量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之间，测量精度高达1 埃，测量稳定性高达 0.7 埃，测量时间只需一到二秒, 并有手动及自动机型可选。可应用领域包括：生物医学（Biomedical）, 液晶显示(Displays), 硬涂层(Hard coats), 金属膜(Metal), 眼镜涂层(Ophthalmic) , 聚对二甲笨(Parylene), 电路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半导体材料(Semiconductors) , 太阳光伏(Solar photovoltaics), 真空镀层(Vacuum Coatings), 圈筒检查(Web inspection applications)等。应用：通过Filmetrics膜厚测量仪新反射式光谱测量技术,多达3-4层透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在数秒钟测得。其应用广泛，例如：半导体制造液晶显示器生物医疗元件微机电系统光学镀膜Photoresist光刻胶Oxides氧化物Nitrides氮化物SOI绝缘体上硅Cell Gaps液晶间隙Polyimide聚酰亚胺保护膜ITO纳米铟锡金属氧化物Polymer/Parylene Layers 聚合物/聚对二甲苯涂层Membrane/Balloon Wall Thickness生物膜/气泡球厚度Drug-Coated Stent药物涂层支架Silicon Membranes硅膜AlN/ZnO Thin Film Filters氮化铝/氧化锌薄膜滤镜Hardness Coatings硬镀膜Anti-reflection Coatings增透镀膜Filters滤光膜层实例：几乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能测。包括：SiO2（二氧化硅） SiNx（氮化硅） DLC（类金刚石碳）Photoresist（光刻胶） Polyer Layers（高分子聚合物层） Polymide（聚酰亚胺）Polysilicon（多晶硅） Amorphous Silicon（非晶硅） 基底实例：对于厚度测量，大多数情况下所要求的只是一块光滑、反射的基底。对于光学常数测量，需要一块平整的镜面反射基底；如果基底是透明的，基底背面需要进行处理使之不能反射。包括：Silicon（硅） Glass（玻璃） Aluminum（铝）Gas（砷化镓） Steel（钢） Polycarbonate（聚碳酸脂）Polymer Films（高分子聚合物膜）产品应用，在可测样品基底上有了极大的飞跃：●几乎所有材料表面上的镀膜都可以测量，即使是药片，木材或纸张等粗糙的非透明基底。●玻璃或塑料的板材、管道和容器。●光学镜头和眼科镜片。服务：免费样机演示及测量轻轻一按即可实现测量！请联系我们，专业的应用工程师将为你演示它是如此的方便！优势：* 提供在线诊断* 配送独立的软件包* 精通的历史功能即程序数据可存储、复制及策划结果* 免费软件升级 极易操作、快速、准确、机身轻巧及价格便宜为其主要优点，Filmetrics提供以下型号以供选择:一、单点测量系统（从 1nm 到 13mm 单层及多层厚度测量） F20全世界销量好的薄膜测量系统，有各种不同附件和波长(由220nm紫外线区 至1700nm近红外线区)覆盖范围，为任意携带型，可以实现反射率、膜厚、n、k值测量。F3-sX能测量半导体与介电层薄膜厚度到3毫米, 例如硅片F10-ARc可测量镜片和其他曲面的反射率，用于涂层厚度测量F10-HC测量硬涂层和防雾层厚度和折射率，聚碳酸酯硬涂层在汽车等行业应用普通F3-CS提供微小视野及微小样品测量，USB连接电脑即可使用，携带方便F10-AR测量眼科镜头和其他弯曲表面的反射率。还可以提供测量硬涂层厚度和透射率的可选件F10-RT可同时测量反射率和透射率，也可选配测量膜层厚度和折射率。普遍应用于真空涂层领域在F20实现反射率跟穿透率的同时测量，特殊光源设计特别适用于透明基底样品的测量。 二、F40 系列- 基于微米(显微)级别光斑尺寸厚度测量F40可以固定到您的显微镜上来测量小至 1um 光斑点的厚度和折射率这型号安裝在任何显微镜外，可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。三、F50/F60系列- 表面的自动测绘F50为我们的F20系列产品增添自动测绘能力，以每秒钟 2 个点的快速测绘厚度和折射率这型号配备全自动XY工作台，由8"x8"到18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通过快速扫瞄功能，可取得整片样品厚度分布情况(mapping)。F54能以每秒测量两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，样品直径可达450毫米F60-t满足生产环境的台式测绘系统，包括自动基准确定、凹槽定位、全封闭测量平台以及其它装置四、F30 系列- 在线厚度监控仪器 F30检测金属有机化学气相沉积(MOCVD)、阴极溅镀和其他沉积工艺中监控反射率、厚度和沉积率这型号可安装在任何真空镀膜机腔体外的窗口。可实时监控长晶速度、实时提供膜厚、n、k值。并可切定某一波长或固定测量时间间距。更可加装至三个探头，同时测量三个样品，具紫外线区或标准波长可供选择。F32实时监控薄膜顶部和底部的反射率和沉积速率公司网站：岱美中国：；岱美总部：上海分公司地址: 上海市浦东金高路 2216 弄 35 号6 幢 306-308 室电话: ，卜先生: 东莞分公司地址: 东莞市南城街道宏六路一号国金大厦401室电话: ，唐女士：北京分公司地址: 北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆东路1号院诺德中心二期号楼1102室电话: ，贾先生: 岱美有限公司成立于1989年，是数据存储，半导体，光学，光伏和航空航天行业领头制造商和创新研发机构的先进设备分销商。在21世纪初期，Dymek已从我们在香港的总部扩展到亚洲，以满足客户的多样化需求。在当今全球化的市场中，我们的客户有连接东南亚各国的综合供应链已经成为基本。我们我们的专业人员随时准备与他们会面。我们总部设在香港，在中国（北京和上海，以及广东东莞）拥有强大的业务。我们还在马来西亚，新加坡，台湾，菲律宾和泰国的东南亚设有分支机构。我们所有的分支机构都已建立数十年，我们的许多客户对我们与他们建立的长达数十年的合作关系感到满意。我们的目标是建立持久的关系，满足东南亚快速增长企业的需求。对于我们的客户，我们不仅提供设备，还提供建议和技术指导，以及时了解我们不断发展的行业的新发展。对于我们的供应商，我们提供了深入的销售网络和数十年的东南亚复杂商业环境导航经验。我们将本地客户与来自欧洲，美国，日本和韩国的先进设备连接起来。可以立即联系我们，了解我们如何与您合作，实现您组织的长期财务目标。

产品详细说明 PR-32&alpha PALETTE系列数显折射计新型 Palette&alpha (alpha) 系列实现精度改良为 Brix ± 0.1%! Palette&alpha (alpha) 系列既可测量果汁&bull 食品&bull 饮料等Brix，又可测量化工液体浓度如切削油&bull 清洗液&bull 不冻液等。Palette&alpha (alpha) 系列可设置客户专用刻度，客户自己预设系数 [浓度=Brix x 系数 ]就可直读此样品的浓度。另外，Palette&alpha (alpha) 系列采用新功能 "External-Light-Interference" (ELI) *，可防止强烈外光下的误测量，可在外边· 窗边时的测量也得到稳定测量结果。 型号PR-32&alpha 货号3405测量范围糖度(Brix) 0.0 至 32.0%最小显示单位糖度(Brix) 0.1%测量准确度糖度(Brix) ± 0.1%测量温度5 至 40° C(自动温度补偿)环境温度5 至 40° C电源006P 蓄电池 ( 9V )国际保护等级IP64 无尘且对泼溅的水具防护作用尺寸重量17× 9× 4公分, 300公克(不含零件的重量)选件&bull EXTRACTOR : RE-29401&bull 10% 蔗糖溶液 (± 0.03%) : RE-110010&bull 20% 蔗糖溶液 (± 0.03%) : RE-110020&bull 30% 蔗糖溶液 (± 0.03%) : RE-110030ATAGO爱拓 中文官网：ATAGO 日本总部官网： 关于爱拓(日本ATAGO)成立于1940年的日本ATAGO（爱拓），半个多世纪以来不断地致力于研究和开发多样化的，应用广泛的光电测试仪器，其主要产品为折射仪，旋光仪及基于折射仪测定各种物质浓度的衍生产品浓度计。ATAGO（爱拓）产品的应用涵盖食品饮料，果蔬加工，糖业，日用化工，生物制药，临床检验，石油化学到金属制造等许多领域，在世界处于领先地位并占据最大市场份额，ATAGO（爱拓）产品的设计与制造过程遵循ISO9000质量体系认证，所有ATAGO（爱拓）产品在离开厂房时均经过严格彻底的检验，产品品质卓越，耐用性超群，长久以来，凭借优秀的品牌知名度，ATAGO（爱拓）产品不断获得来自全世界一百多个国家客户的完全信赖.关于爱拓中国(ATAGO CHINA Ltd.)2011年ATAGO（爱拓）中国分公司的成立和正式运行（全称广州市爱宕科学仪器有限公司），将使广大国内用户能够快速地购买产品，获得使用指导和维修服务。 #ATAGO （爱拓）在线折光仪# ----PRM-100a"荣获&ldquo 2012年度食品工业技术创新奖仪器厂商&rdquo 称号。采用超高精度可同时显示Brix值及折射率（nD),420mA信号输出及RS-232C接口可方便的进行自动化控制，多规格安装接口能匹配各种安装管道，实时监控当前产品品质,确保工业产品品质安全、降低风险和质量控制成本

光反射薄膜测厚仪原产国：美国薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。该产品是一款价格适中、功能强大的膜厚测量仪器，近几年，每年的全球销售量都超过200台。根据型号不同，测量范围可以从10nm到250um，它最高可以同时测量4个膜层中的3个膜层厚度（其中一层为基底材料）。该产品可应用于在线膜厚测量、测氧化物、SiNx、感光保护膜和半导体膜。也可以用来测量镀在钢、铝、铜、陶瓷和塑料等上的粗糙膜层。 应用领域理论上讲，我们的光干涉膜厚仪可以测量所有透光或半透光薄膜的厚度。以下为我们最熟悉的应用领域(半导体薄膜，光学薄膜涂层，在线原位测量，粗糙或弧度表面测量)：□ 晶片或玻璃表面的介电绝缘层(SiO2, Si3N4, Photo-resist, ITO, ...)；□ 晶片或玻璃表面超薄金属层(Ag, Al, Au, Ti, ...)；□ DLC(Diamond Like Carbon)硬涂层；SOI硅片；□ MEMs厚层薄膜(100μm up to 250μm)；□ DVD/CD涂层；□ 光学镜头涂层；□ SOI硅片；□ 金属箔；□ 晶片与Mask间气层；□ 减薄的晶片( 120μm)；□ 瓶子或注射器等带弧度的涂层；□ 薄膜工业的在线过程控制；等等… 软件功能丰富的材料库：操作软件的材料库带有大量材料的n和k数据，基本上的常用材料都包括在这个材料库中。用户也可以在材料库中输入没有的材料。软件操作简单、测速快：膜厚测量仪操作非常简单，测量速度快：100ms-1s。软件针对不同等级用户设有一般用户权限和管理者权限。软件带有构建材料结构的拓展功能，可对单/多层薄膜数据进行拟合分析，可对薄膜材料进行预先模拟设计。软件带有可升级的扫描功能，进行薄膜二维的测试，并将结果以2D或3D的形式显示。软件其他的升级功能还包括在线分析软件、远程控制模块等。

ATAGO（爱拓）阿贝折射仪用于测量透明、半透明液体或固体的折射率(nD)和平均色散的仪器（其中以测透明液体为主），折射率（nD)和平均色散是物质的重要光学常数之一，能借以了解物质的光学性能、纯度、及色散大小等。ATAGO（爱拓）阿贝折射仪系列作为ATAGO（爱拓）产品的经典产品，广泛应用于石油工业、油脂工业、制药工业、制漆工业、日用化学工业、制糖工业和地质勘察等部门的检测与分析，更是科研教学、高等院校常用教学设备之一。ATAGO（爱拓）阿贝折射仪 NAR-1T LO（低折射率） 可测量各类液体和透明固体样品的折射率(nD)，尤其适合低折射率样品（折射率(nD)：1.1500～1.4800），常用于测量多种液体以及部分薄膜、玻璃、塑料、胶片、树酯、聚合物等样品，操作简易，读数快速，专业稳定。【产品参数】产品型号 NAR-1T LO（固液两用 低折射率）产品货号1217测量范围 折射率（nD ) 1.1500～1.4800分辨率 折射率（nD )： 0.001测量精度 折射率（nD )： ±0.0002温度范围 5～50℃光源LED （近似D线）电源AC 100～240V，50/60Hz功率5VA尺寸与重量13×18×23cm，1.8kg（仅主机）10×11×7cm，0.5kg（温度显示器）

ATAGO（爱拓）高折射率阿贝折光仪NAR-4T新材质在现代科技的研发一直被各个工业领域所积极运用。许多新材质（特别是聚合物胶卷和相关材质）具有相当高的折射指数，-通常太高以致于现行的阿贝折射仪无法测量，ATAGO（爱拓）高折射率阿贝折光仪NAR-4T，测量范围在nD1.4700 至1.8700的4T，可轻松应对高折射率样品的测量，测量精度达到±0.0002 型号NAR-4T货号1240测量范围折射指数(nD) 1.4700 至 1.8700分辨率折射指数(nD) 0.001测量准确度折射指数(nD) ±0.0002数字式温度计显示范围 0.0 至 50.0℃( 精度±0.2℃ 分辨率：0.1℃ )测量温度范围5 至 50℃光源8V, 0.15A 钨丝灯泡电源AC 100 至 240V 50/60Hz功率5VA尺寸重量13*18*23cm, 1.8kg(仅限主机） 10*11*7cm, 0.5kg (温度显示器)【关于 ATAGO】ATAGO（爱拓）专注折光仪超80年，每年超过20000台折光仪服务于中国客户。主要产品有：折光仪、旋光仪、糖度计、盐度计、粘度计、浓度计、pH计等等。ATAGO（爱拓）产品应用行业覆盖：食品饮料、果蔬种植、制糖行业、日用化工、生物医药、石油化工、液晶薄膜、新材料、半导体、光伏光电、汽车制造、金属机械加工、质检机构、高校科研等多种领域。更多产品咨询，敬请致电：400-860-5586，谢谢！

红外折射率测量仪 完美融和创新设计及尖端技术，Prism Pro - IR是艺术级红外折射率测量仪，用于测量中波红外成像组件/系统及光材料均匀性的理想仪器。规格参数*精确度 (已校准)*重复性波长范围温度范围（可选）波长精度波长分辨率仪器测试孔径 旋转平台分辨率 双RTD(电阻热装置) 探测器DSP锁相放大器 +- 0.00005 +- 0.00002350nm- 14um77-373K+- 0.05%1nm25 mm 直径.008 角秒+-0.3 摄氏度MCT SRS 830 源类型：150 W石英卤素灯(0.25 - 3.5 um)、陶瓷发光体 (2.0 - 30 um) 单色仪：自动三光栅塔轮、自动11位二级截止滤光片转轮、变速光学斩波器 (10 – 350Hz)、(6) 套用户可切换狭缝 尺寸： 6ft x 4ft x 3ft重量： 1100lbs (包括桌子)分析软件/ M3自动化、折射率索引包准确性和重复性通过60度CaF2棱镜@3.39um验证dn/dT：折射率系数随温度变化色散：折射率系数随波长变化色散方程拟合: Sellmeier、Herzberger、Cauchy等 色散曲线 dndT温度变化曲线

主要特点：适用于薄膜等生产线上，实现全长全款的双折射测量。 LIVE实时输出双折射的信息。 OK/NG 可以在执行Live监测的同时对异常点发出警报。 操作简单，可以调整色彩显示更直观的了解双折射分布。 实时记录双折射的数值数据，以进行进一步详细分析。 可以通过在系统中增加偏光感应器来扩展测量的宽度。 应用领域： 相位差薄膜（TAC/PC/PMMA/COC）保护薄膜（PET/PEN/PS/PI）树脂成型玻璃技术参数： 项次项目具体参数1输出项目相位差【nm】，轴方向【°】2测量波长 543nm（支持客制化）3双折射测量范围0-260nm4对应传送速度约30m/min(支持客制化)5测量重复精度1nm6视野尺寸全宽全长7选配镜头视野可扩展8选配功能可定制膜宽超过5m的系统

综合概述 SM200是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研 制而成的自动薄膜厚度测绘仪。它利用波长范围最宽 为200-1700nm的光垂直入射到薄膜表面，只要薄膜有 一定程度的透射，SM200就能根据反射回来的干涉光 谱拟合计算出薄膜的厚度，以及其他光学常数如反射 率、折射率和消光系数等，其厚度最大测绘范围可以 达到1nm~250um。SM200自动光学薄膜厚度测绘仪由测绘主机、测 绘平台、Y型光纤及上位机软件搭建而成，核心器件 采用高分辨率、高灵敏度光谱仪结合奥谱天成独有的 算法技术，为用户提供的全新一代领先的自动光学薄 膜厚度测量仪。产品特征  非接触式、非破坏性的测试系统； 超长寿命光源，更高的发光效率；  高分辨率、高灵敏度光谱仪，测量结果更准确可靠； 软件界面直观，操作方便省时；  历史数据存储，帮助用户更好掌握结果；  桌面式分布设计，适用场景丰富；  维护成本低，保养方便；应用领域 基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测绘，这几乎包含了所有的电介质和半导体材料，包括： 氧化硅、氮化层、类钻薄膜、多晶硅、光刻胶、高分子、聚亚酰胺、非晶硅等。  半导体镀膜：光刻胶、氧化物、淡化层、绝缘体上硅、晶片背面研磨  液晶显示：间隙厚度、聚酰亚胺、ITO 透明导电膜  光学镀膜：硬涂层、抗反射层；  微电子系统：光刻胶、硅系膜状物、印刷电路板；  生物医学：医疗设备、Parylene产品外观

多波长阿贝折射仪 DR-M2/1550(A)折射指数或阿贝数( vd 或 ve )可依据 450 至 1,550nm 范围内的不同波长来衡量。本折射仪能在液晶屏幕上数字显示折射指数与阿贝数。藉由边界线与相交线交叉点的比对进行测量。本折射仪能与数字打印机 DP-22(B)做连结(选购)。ModelDR-M2/1550(A)型号1412测量范围折射指数 1.3278 至 1.7379 ( 450nm )折射指数 1.3000 至 1.7100 ( 589nm )折射指数 1.2912 至 1.7011 ( 680nm )折射指数 1.2743 至 1.6840 ( 1,100nm )折射指数 1.2662 至 1.6759 ( 1,550nm )最小显示单位折射指数 : 0.0001阿贝数 : 0.1测量准确度折射指数 : ± 0.0002( 附有测试片589nm )波长范围从450 至 1550nm* 附滤波干扰器温度测量范围5 至 50° C主要组件折射仪, 电力供应组件, 单色光源装置, 近红外线观察器,滤波干扰器 ( 589nm )输出终端机数字打印机 DP-22(B)(选件)光源单色光源装置尺寸重量 ：23× 35× 21～31公分, 5.9千克电源AC100 至 240V 50/60Hz单色光源装置 AC200 至 240V 50/60Hz　电力损耗100VA (折射仪,电力供应组件)尺寸重量13× 29× 31公分, 6.0千克 (折射仪)15× 33× 11公分, 3.0千克 (电力供应组件)选件&bull 胶卷测量用采光玻璃片 (DR-M2用) : RE-6191&bull 数字打印机 DP-22(B) : 型号 3125&bull 干涉滤光589(D) nm : RE-16501486(F) nm : RE-16502656(C) nm : RE-16503546(e) nm : RE-16504480(F' ) nm : RE-16505644(C' ) nm : RE-16506(选择波长) : RE-16507450 至 539nm540 至 680nm681 至 799nm800 至 1550nm&bull DR-M2/1550, DR-M4/1550(A) 干涉滤光片589nm : RE-16511486nm : RE-16512656nm : RE-16513546nm : RE-16514480nm : RE-16515644nm : RE-16516任意波长用 :RE-16517&bull 近红外线透镜 : RE-9119&bull 带偏光板接眼镜 : RE-1146消耗品/零件&bull 刻度校正用 A : RE-1195&bull DR-M2/1550(A)用主副菱镜 : RE-16500&bull 干燥剂 : RE-1592 双氧水（过氧化氢，化学式H2O2），是一种重要的无机化工产品，也是工业领域重要的氧化剂、漂白剂、消毒剂和脱氯剂。在纺织、造纸、化工、轻工、医药、电子、食品、环保等领域应用广泛。目前我国双氧水产品分工业级、试剂级、医药级和电子级，浓度有27.5%, 35%,50%.70%等多种规格。1 双氧水主要应用领域 纺织工业纺织工业中双氧水主要用于织物漂白，还原染料染色时显色，织物脱浆，如高档纯棉织物、无麻织物、针织品及毛巾、床单、皮毛及工艺品的 漂白。1· 2 造纸工业双氧水用于造纸行业可分为纸浆漂白和废纸脱墨处理。用于纸浆漂白时，主要用于机械浆 (磨木浆)的漂白 用于处理废纸时，能使油墨颗粒与纸张纤维分离，并最终使回收纸浆获得满意的白度，这是今后双氧水花造纸工业中最有前途 的应用领域。1· 3 化学工业在化学工业方面，双氧水广泛用于制取环氧化合物，有机过氧化物和无机过氧酸及其盐，氧化有机含氮，有机和无机含硫化合物，还用于催化聚合反应等等。1· 4 环境治理双氧水不仅在使用时不产生污染物，而且可以直接用来有效地处理工业三废，特别是废水处理，几乎可处理各种有毒废水(包括除毒、去味、脱色)，不产生二次污染。双氧水可以用来脱除废气中的NO，三氧化硫、硫醇、醛类等，也可用来处理含硫或硫化物，含酚、含氰废水，双氧水还可用来消除地下水及土壤被有机物污染。1· 5 电子工业电子工业中，可用双氧水与其他化学品配制成腐蚀液和作清洗剂，另外，不少仪器仪表、机电、日行车零件等行业的电镀加工要用双氧水处 理电镀液。1· 6 食品工业一般采用食品级双氧水，母液浓度大多数为30%到50%左右，使用时按需要稀释至适当的比例。食品级双氧水可广泛用于乳品、饮料、纯净水、矿泉水、水产品、瓜果、蔬菜、禽及肉制品、腌制品、啤酒等食品的生产过程之中，作为生产加工助剂，用于消毒、杀菌、漂白等。乳品无菌包装的消毒杀菌乳品用食品级双氧水灭菌系统主要有两种：一种是将食品级双氧水加热到一定温度，然后对包装盒或包装材料进行灭菌。这种灭菌一般在双氧水水槽内进行。另一种是将食品级双氧水均匀地涂布或喷洒于包装材料表面，然后通过电加热或辐射或热空气加热蒸发双氧水，从而完成灭菌过程。生产设备和管道的消毒：将食品级双氧水用水稀释30-50倍，并以稀释液对设备冲洗、对管道浸泡20-30分钟，或对容器加压冲洗10-30秒，将消毒液放出即可，无需用水冲洗。包装容器的消毒：用稀释了35-100倍的食品级双氧水溶液，对容器进行浸泡20-30分钟，或对容器加压冲洗10-30秒，将消毒液放出即可，无需用水冲洗。生产空间的消毒：将食品级双氧水与水按1:100的比例稀释后，用喷雾器将消毒溶液喷洒在空气中，即可起到对生产空间消毒的效果，有利于食品企业按GMP和HACCP标准进行生产和管理。双氧水的快速检测方法ATAGO（爱拓）全新的PAL-39S双氧水浓度快速测定仪双氧水折光仪使用折光原理快速方便的检测双氧水浓度，只需要0.5ml左右的样品，滴加之后3秒钟显示测量结果，手持便携，易于操作。PR- 50HO双氧水浓度测定仪双氧水折射计具有更高的精度和使用寿命，可快速方便的检测双氧水浓度，只需要0.5ml左右的样品，滴加之后3秒钟显示测量结果，通过电池设计，手持便携，易于操作，测量精准。更多使用与应用信息请联系日本ATAGO（爱拓）

1. 产品概述FTPadv Expert薄膜测量软件具有FTPadv标准软件中包含的用户友好和以配方为导向的操作概念。突出显示拟合参数、测量和计算的反射光谱以及主要结果的光学模型同时显示在操作屏幕上。2. 主要功能与优势n、k 和厚度的测量该软件包设计用于 R（λ） 和 T（λ） 测量的高分析。多层分析可以测量单层薄膜和层叠的每一层的薄膜厚度和折射率。大量的色散模型集成色散模型用于描述所有常见材料的光学特性。通过使用快速拟合算法改变模型参数，将计算出的光谱调整为测量的光谱。3. 灵活性和模块化 SENTECH FTPadv Expert 软件包用于光谱数据的高分析，根据反射和透射测量结果确定薄膜厚度、折射率和消光系数。它扩展了SENTECH FTPadv薄膜厚度探头的标准软件包，适用于更复杂的应用，包括光学特性未知或不稳定的材料。可以在光滑或粗糙、透明或吸收性基材上测量单个透明或半透明薄膜的薄膜厚度、折射率和消光系数。该软件允许分析复杂的层堆栈，并且可以确定堆栈的每一层的参数。我们的FTPadv Expert薄膜测量软件具有FTPadv标准软件中包含的用户友好和以配方为导向的操作概念。突出显示拟合参数、测量和计算的反射光谱以及主要结果的光学模型同时显示在操作屏幕上。该软件包包括一个大型且可扩展的材料库，该库基于表格材料文件以及参数化色散模型。FTPadv Expert 软件可选用于膜厚探头 FTPadv，以及反射仪 RM 1000 和 RM 2000 软件包的一部分。