昆探针检测仪

导电四探针电阻检测仪HRDZ通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换，在计算机控制下进行两次电测量，能自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响。导电四探针电阻检测仪HRDZ因而每次测量不必知道探针间距、样品尺寸及探针在样品表面上的位置。由于每次测量都是对几何因素的影响进行动态的自动修正，因此显著降低了几何因素影响，从而提高了测量结果的准确度。所有这些，导电四探针电阻检测仪HRDZ用目前大量使用的常规四探针测量方法所生产的仪器是无法实现的。适用于企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用芯片控制，恒流输出，导电四探针电阻检测仪HRDZ选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表技术参数1.方块电阻范围 10^-5～2×10^5Ω/□2.电阻率范围 10^-6～2×10^6Ω-cm测试电流范围 0.1μA ，1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，100mA4.电流精度 ±0.1%5.电阻精度 ≤0.3%6.显示读数 液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率7.测试方式 普通单电测量8.工作电源 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗 lt 30W测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9Ω&bull cm。导电四探针电阻检测仪HRDZ可测方块电阻：0.1～1999Ω/口当被测材料电阻率≥200Ω&bull cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档10mA量程：0.1～1mA 连续可调10mA量程：1mA ～10mA连续可调恒流精度：各档均优于±0.1%适合测量各种厚度的硅片（3） 直流数字电压表测量范围：0～199.9mv灵敏度：100μv准确度：0.2%（±2个字）（4） 供电电源：AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W（5） 使用环境：相对湿度≤80%（6） 重量、体积重量：2.2 公斤体积：宽210×高100×深240（mm）(7)KD探针头压痕直径：30/50μm间距：1.00mm探针合力：8±1N针材：TC

1：四探针测试仪 四探针检测仪 四探针测定仪/四探针电阻率测定仪 型号：HARTS-8HARTS-8型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.M 标准而的，于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。仪器采用了电子行、装配。具有能选择直观、测量取数快、度、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、等院校对半导体材料的电阻性能测试。　术　　标 ： 测量范围 电阻率：10-5～105 &Omega .cm(可扩展)； 方块电阻：10-4～106 &Omega /□(可扩展)； 电导率：10-5～105 s/cm； 电阻：10-5～105 &Omega ； 可测晶片直径 140mmX150mm(配S-2A型测试台)； 200mmX200mm(配S-2B型测试台)； 400mmX500mm(配S-2C型测试台)；恒流源 电流量程分为1&mu A、10&mu A、100&mu A、1mA、10mA、100mA六档，各档电流连续可调数字电压表 量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　 分辨力：10&mu V； 输入阻抗：1000M&Omega ； 度：± 0.1% ； 显示：四位半红色发光管数字显示；性、量程自动显示；四探针探头基本标 间距：1± 0.01mm； 针间缘电阻：&ge 1000M&Omega ； 机械游移率：&le 0.3%； 探针：碳化钨或速钢Ф0.5mm； 探针压力：5～16 牛顿(总力)；四探针探头应用参数 (见探头附带的合格证)模拟电阻测量相对误差( 按JJG508-87行) 0.01&Omega 、0.1&Omega 、1&Omega 、10&Omega 、100&Omega 、1000&Omega 、10000&Omega &le 0.3%± 1字整机测量相对误差(用硅标样片：0.01-180&Omega .cm测试)&le ± 5%整机测量标准不确定度 &le 5%计算机通讯接口 并口，速并行采集数据，连接电脑使用时采集数据到电脑的时间只需要1.5 秒（在 0.1mA、1mA、10mA、100mA量程档时）。连接电脑使用时带自动测量 能，自动选择适合样品测试电流量程；标准使用环境 温度：23± 2℃； 相对湿度：&le 65%； 无频干扰； 无强光直射；配置 四探针测试仪主机、探针台、四探针探头、 2：多种气体采样器/多种气体取样器/多种气体出样器（100ml） 型号：HAD/CZY-100产品介绍：主要用于检查空气中各种气体的含量。配合气体检测管使用。配套使用检测管的方法及优势：1、用砂片稍用力将检测管两端各划圈割印。2、用硅胶管套套住检测管上的箭头所端，沿切割印掰断，用同样方法掰断另端。3、用硅胶管套套住检测管上的箭头所端（防止漏气），插入所要检测标注的气体通道口上（稍用力插紧）。注意方向性，箭头方向代表气体流过方向。4、将所需检测的若干项的检测管，按以上方法均插好之后，接通电源，即可正常使用。5、调节所需检测气体对应的时间控制器，使其符合标（见附表）。6、检测结束，拔出检测管。7、手持检测管箭头朝下，并垂直于地面放在与目光基本不平的位置，观察管上颜色变化所刻度，既为被检测气体的浓度。 （1）双重优点：测量气体的检测管实际是将化学分析方法仪器化，是种定量、定性、定值的检测方式,具有化学分析和仪器分析的双重优点。（2）适应性好：检测管现有Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ三种，从零点到几个PPM（10-6）到百分之几十，适用范围很大，为分析作提供了很大方便。（3）操作简便：为专业检验人员提供了很大的方便，操作人员按照使用说明书操作方法行测试即可。（4）使用安：使用时手动操作，无需要电源、热源，在有易燃易气体存在的场所能安使用。（5）分析速度快：由于操作方便，使得每次分析所需时间大为缩短，般仅需十几分钟即可得知结果，其分析速度是何化学分析和仪器方法不能比拟的。（6）测量度：在检测管含量标度的确定上模拟了现场分析条件，采用不同标准气标定，克服了化学分析中易带入的方法误差。同时减少了人为误差。 温馨提示：以上产品资料与图片顺序相对应。

四探针方阻电阻率检测仪如果采用直接测量电阻(电压一电流比值仪器)。开始在任一极性上(正向)测量模拟电路的正向电阻r.。改变连接极性,测量反向电阻r.。继续改变极性进行测量,记录5次每一极性的正向电阻r和反向电阻r.测量值,然后按6.1.5进行。7.1.4如果不是采用直接测量电阻仪器,则让电流在正向,调节电流大小到近似表2推荐圆片的测量电流值,测量正向电流时标准电阻两端的电势差V,或直接测量流过模拟电路的正向电流1,再测量正向电流时模拟电路的电势差Va。将电流换向,测量反向电流时标准电阻两端的电势差V&bdquo 或模拟电路的反向电流I&bdquo 和反向电流时模拟电路的电势差V&bdquo 。继续改变极性重复进行测量,记录5次每一极性的测量值。7.1.5按8.2计算平均电阻r和标准偏差.7.1.6电学测量装置应满足下述条件:7.1.6.1 r值应在已知r值的0.3%以内。7.1.6.2样品标准偏差口应小于r的0.3%。7.1.6.3设备应能测量出0.05%电阻的变化。7.2确定探针间距与探针尖端状态7.2.1 将四探针以正常压力压在严格固定的抛光硅片表面上,形成一组压痕。提起探针,在垂直于探针尖连线方向上移动硅片表面或探针0.05 mm~0.10 mm,再将探针压到硅片表面上,重复上述步骤，直到获得10组压痕。建议在两组或三组压痕后,将硅片表面或探针移动上述距离的两倍,以帮助操作者识别压痕属于哪一组。7.2.2将硅片表面清洗,用空气干燥。7.2.3将此具有压痕的硅片表面置于工具显微镜的载物台上,使y轴的读数(图6中的yn和ys)相差不大于0.150mm,记录在工具显微镜中的10组压痕A到H的x轴读数,精确到1μm。四探针方阻电阻率检测仪1.电阻率：10-5～2×106Ω-cm2.电 阻：10-5～2×106Ω3.电导率：5×10-6～105ms/cm4.分辨率： 小0.1μΩ测量误差±（0.05%读数±5字）5.测量电压量程： 2mV 20mV 200mV 2V 测量精度±（0.1%读数）6.分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV7.电流输出：直流电流 0～1000mA 连续可调，由交流电源供电。量程：1μA，10μA，100µ A，1mA，10mA，1000mA, 误差：±0.2%读数±2字8.显示方式：液晶显示电阻值、电阻率、电导率值、温度、压强值、单位自动换算四探针方阻电阻率检测仪在放大倍数不小于400倍的显微镜下检查压痕。7.2.5按9.1计算探针间距S,,平均探针间距S,标准偏差a 和探针系数C.7.2.6对于合格的探针,必须满足下述条件。7.2.6.1对于S.来说,3组10次测量值的每一组样品标准偏差σ应小于S，的0.30%。7.2.6.2,和S的差应不大于2%。7.2.6.3每根探针的压痕应只出现一个接触面,最大直径线度小于100μm。如果有的压痕出现不连续的接触面,则更换探针并重新测量。7.2.6.4在放大倍数为400倍的显微镜下检验时,在与硅片表面的接触面上出现明显的横向移动的探针是不合格的。该探针系统必须重新调整,以防止上述移动。7.3测量7.3.1将试样清洗干净,用空气干燥。7.3.2将试样置于样品架/台上。如果是圆片试样,应将试样置于散热器的云母上,用欧姆表测量试样与散热器间电阻,以保证两者是电绝缘的(10’Ω)。7.3.3测量并记录环境温度T,如果是圆片试样应借助置于散热器中的温度计来确定温度。让试样在该温度下保持足够的时间,以便温度平衡,准确到0.1℃注:根据试样的质量决定温度平衡时间。对于小的试样需时30min~60 min,而大的试样则需1d~2d时间。在圆片仲裁测试前,应将散热器放置在室内48h(并且要求室温变化不超过±1℃).7.3.4将探针下降到试样表面的待测位置,每一探针尖离试样边缘的最近距离至少为平均探针间距的4倍。如果为圆片试样,应使探针尖端的阵列中心在试样中心的0.25mm以内。7.3.5让电流在正向,根据试样电阻率大小按表2调节电流大小。要求两内探针之间测得的电势差小于50mV。不同的测量方法要求记录不同的数据,如果用标准电路测量记录V、V1、VsR、VR、T要求至少3一有效数字 用直接测量电路记录I、VI,V,T,要求至少3一有效数字 用直接测量电阻记录四探针方阻电阻率检测仪卜全因斤的试件,如来远用视展电况在数但上等于2,则两内探什之间则得的电势力在数值上等于电阻率值,可免于计算。推荐的圆片测量电流是在试样厚度为0.5mm,两内探针间为10 mV电势差时得到。8测量结果计算8.1 利用7.2测量数据计算探针间距S、平均探针间距S、标准偏差a、探针系数C和探针间距修正因子F&bdquo .8.1.1对十组测量数据中的每一组,用式(2)计算探针间距S, ,S2,,SyS = [(C, + D,)/2]-[(A, +B,)/2]S,=[(E, + Fj)/2]-[(C, +D,)/2].....-(2)S,,=[(G, +H,)/2]-[(E +F )/2]式中:S,~S,,--探针间距,单位为厘米(cm) A~H一一探针压痕的点位,见图6所示,单位为厘米(cm) 脚标j一组数,取1到10。8.1.2用式(2)得到的S,计算每一间距平均值S，如式(3):-(0)s………--………(3)式中:i取 1,2,3.8.1.3将按式(3)计算得到的S,和按式(2)计算得到的S。,利用式(4)分别计算3个间距的试样标准偏差a・ /÷[∑....…...……(4)8.1.4计算平均探针间距S,如式(5):s=/(++)...……………(5)8.1.5计算探针系数C和适用于圆片测量时的探针间距修正因子F&bdquo ,分别如式(6)和式(7):C-2x…………----*(6)京+¯ +s¯ s+S1F,=1+1.082[1-(/).......-.-*****……(7)8.2利用7.1.3~7.1.4测量的数据计算模拟电路测量的平均电阻r和标准偏差o。8.2.1如果采用直接测量电阻,用单个正向和反向电阻(无论是计算结果或是测量结果)均按式(8)计算平均电阻,否则按8.2.2计算模拟电路的正向电阻r,及反向电阻r,:…………---…(8)式中:r-10个模拟电路的正向电阻r,及反向电阻r,中的任意一个值.8.2.2根据测量值计算模拟电路的正向电阻r,及反向电阻r,如式(9):四探针方阻电阻率检测仪r, = V&bdquo R,/V&bdquo 式中:模拟电路的正向电阻,单位为欧姆(Ω) r,一模拟电路的反向电阻,单位为欧姆(Ω) R,一标准电阻值,单位为欧姆(Ω) V。一正向电流下模拟电路两端的电势差,单位为毫伏(mV)1V---反向电流下模拟电路两端的电势差,单位为毫伏(mV) V一正向电流下标准电阻两端的电势差,单位为毫伏(mV) V,一反向电流下标准电阻两端的电势差,单位为毫伏(mV).当直接测量电流时,使用式(10)计算模拟电路的正向电阻r¡ 及反向电阻r,.r1=Va/I.………-----…(10)r,- V&bdquo /I_式中:I。一流过模拟电路的正向电流,单位为毫安(mA) I&bdquo 一流过模拟电路的反向电流,单位为毫安(mA)。8.2.3根据式(11)计算样品标准偏差:-÷∑cr,-F)]t10* ……………(11)8.3计算试样电阻率p。8.3.1计算正向和反向电流的电阻,如式(12)。R¡ - V(R,/Va*….………*…*(12)R, V,R./V&bdquo 式中:R一正向电流时的试样电阻,单位为欧姆(Ω) R,一-反向电流时的试样电阻,单位为欧姆(Ω) V一正向电流时测得的试样电势差,单位为毫伏(mV) V,一反向电流时测得的试样电势差,单位为毫伏(mV) V,一正向电流下标准电阻两端的电势差,单位为毫伏(mV) v,一反向电流下标准电阻两端的电势差,单位为毫伏(mV)。当直接测量电流,采用式(13)计算。如果使用电阻直读仪器,就不需此计算。要求R与R,之差与R:或R,(取两者中较大者)的比值小于10%。R,= V,/I,..……-……(13)R,= V,/I,式中:I一通过试样的正向电流,单位为毫安(mA) I,一通过试样的反向电流,单位为毫安(mA).

四探针电阻率检测仪HRTZ-300C无需人工多次和重复设置。选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成图表和报表。本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示电阻值、电阻率、方阻、电导率值、温度、压强值、单位自动换算，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。GB/T3048电线电缆电性能试验方法第2部分：金属材料电阻率试验 GB 24525-2009 炭素材料电阻率测定方法GB-T 19289-2003 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法JB-T 6773-1993 金属石墨制品 电阻率试验方法1四探针电阻率检测仪HRTZ-300C金属材料电阻率测试仪主要用于测量测量金属线材或其它形状金属导体电阻率的用仪器.四探针电阻率检测仪HRTZ-300C仪器由主机、测试架两大部分组成。主机包括高灵敏的直流数字电压表和高稳定的直流恒流源测量四探针电阻率检测仪HRTZ-300C设置通过触摸屏进行操作和设置，页面布合理，人性化设计，可对测试结果进行打印。仪器具有测量精度高、稳定性好、结构紧凑、使用方便等特点，符合国际和标准的要求。仪器适用于金属线材、金属板材、金属块体等不同形状导体材料进行检测测试设备。按照单晶硅物理测试方法标准,并参考美国 ASTM 标准而设计的，用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的用仪器。适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用AD芯片控制，恒流输出，选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表用于：覆盖膜 导电高分子膜，高、低温电热膜 隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸 金属化标签、合金类箔膜 熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜 电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品四探针电阻率检测仪HRTZ-300C由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。仪器采用了新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。绝缘电阻、体积电阻及表面电阻值，本仪器是台通用试验仪器，只要不超过主机的测试量程，都可以测试，配备不同的电，适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。

ChemInstruments 化仪 探针粘度检测仪 PT-2000 利用探针粘度检测仪，可以方便地测量压敏胶的粘性。平头探头的精确直径为5.0 mm，通过探头接触、翻转粘合剂并从粘合剂中拉出，记录并显示粘合剂的最-大粘性值。 探针粘性试验机符合ASTM D2979规定的标准。机器速度为24 ipm（10 mm/sec），探头直径为5 mm，圆环承受的力为9.79±0.10 kPa。每一个自动检测周期从开始到结束的接触时间为一秒。 仪器特性：l 坚固结构，适用于生产环境中频繁使用l 数控速度和远距离操控l 自动化的检测序列l 检测方法-D2979或自选检测方法l D2979试验方法速度为24 ipm（10 mm/sec），停留时间为1秒l 可选速度范围为6到30 ipm（2-12 mm/sec），最-低值为1 ipm或1 mm/sec。l 可选停留时间为1到30秒（最短时间为1秒）l 机器附带5磅称重传感器（可选2磅和10磅称重传感器）l 压力传感器精确度：±0.1%l 最-大拉力为5磅（2.2千克）l 工作温度范围32°-150°F（0°-70°C）l 可独立操作，集成触摸显示屏l 数据可下载至EZ数据软件进行完整的数据管理l 5.7英寸触摸屏l 通用输入电压85-265伏交流电（50/60赫兹） 数据采集系统 l EZ-Lab编辑软件系统集精确即时及操作简便等功能为一体,既能用于数字及图表显示,又有数据储存之用.l 在2000Hz下采集2个样本，取其平均值作为数据点存储。测试将每隔1毫秒生成一个数据点l 在测试完成时显示所有测量力值的图表l 测试完成后立即显示高和低测力结果l 使用我们的EZ数据软件通过USB连接将数据导出到本地PCl 以克、千克、盎司、磅或牛顿为单位显示测试值 EZ数据 兼容EZ数据与我们的EZ数据管理软件结合使用时，远程设置，操作控制和增强的数据收集都是可能的。此应用程序需要一台外部PC。 PT-2000 探针粘度检测仪 配件EZ实验室数据管理软件提供定制探头（直径和材料）提供定制环形环 可选配件可选称重传感器：2磅和10磅PSTC和TLMI测试手册 规格高: 18" (46 cm)宽: 13" (33 cm) 长: 16" (41 cm) 重量: 25 lbs (12 Kg) 方法此设备适用于通用的检测方法：ASTM:D 2979标准

1:便携式四探针电阻率测试仪 四探针电阻率测试仪 四探针电阻率检测仪 四探针电阻率测定仪 型号：KDK-KDY-1A概述便携式电阻测度仪是用来测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。本仪器按照半导体材料电阻率的际及家标准测试方法有关规定。它主要由电器测量份（主机）及四探头组成，需要时可加配测试架。为减小体积，本仪器用同块数字表测量电流及阻率。样品测试电流由宽的恒流源提供，随时可行校准，以确保电阻率测量的准确度。因此本仪器不仅可以用来分材料也可以用来作产品检测。对1～100&Omega &bull cm标准样片的测量瓿差不过± 3%，在此范围内达到家标准机的水平。测量范围：可测量 电阻率：0.01～199.9&Omega &bull cm。可测方块电阻：0.1～1999&Omega /口当被测材料电阻率&ge 200&Omega &bull cm数字表显示0.00。（2）恒流源：输出电流：DC 0.1mA～10mA分两档10mA量程：0.1～1mA 连续可调10mA量程：1mA ～10mA连续可调恒流度：各档均优于± 0.1%适合测量各种厚度的硅片（3） 直流数字电压表测量范围：0～199.9mv灵敏度：100&mu v准确度：0.2%（± 2个字）（4） 供电电源：AC：220V ± 10% 50/60HZ 率8W（5） 使用环境：相对湿度&le 80%（6） 重量、体积重量：2.2 公斤体积：宽210× 100× 深240（mm）（7）KD探针头压痕直径：30/50&mu m间距：1.00mm探针合力：8± 1N针材：TC2:· 数字式硅晶体少子寿命测试仪 型号：KDK-LT-100C为解决太阳能单晶、多晶少子寿命测量，特按照标GB/T1553及SEMI MF-1535用频光电导法研制出了数字式少子寿命测试仪。 该设备是按照家标准GB/T1553&ldquo 硅单晶少数载流子寿命测定的频光电导衰减法&rdquo 。频光电导衰减法在我半导体集成电路、晶体管、整流器件、核探测器行业已运用了三十多年，积累了丰富的使用经验，经过数次十多个单位巡回测试的考验，证明是种成熟可靠的测试方法，特别适合于硅块、硅棒研磨面的少子体寿命测量；也可对硅片行测量，给出相对寿命值。方法本身对样品表面的要求为研磨面，制样简便。 KDK-LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪有以下特点：1、 可测量太阳能多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管硅单晶的少子寿命。2、 可测量太阳能单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。3、配备软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。4、配置两种波长的红外光源：a、红外光源，光穿透硅晶体深度较深&ge 500&mu m，有利于准确测量晶体少数载流子体寿命。b、短波长红外脉冲激光器，光穿透硅晶体深度较浅&asymp 30&mu m，但光强较强，有利于测量低阻太阳能硅晶体。5、测量范围宽广测试仪可直接测量：a、研磨或切割面：电阻率&ge 0.3&Omega &bull ㎝的单晶硅棒、定向结晶多晶硅块少子体寿命，切割片的少子相对寿命。b、抛光面：电阻率在0.3～0.01&Omega &bull ㎝范围内的硅单晶、锗单晶抛光片。寿命可测范围 0.25&mu S&mdash 10ms 温馨提示：以上产品资料与图片相对应。

1.恒奥德仪器手持式四探针测试仪四探针检测仪 配件型号HAD-3 HAD-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法家标准并参考美 A.S.T.HAD 标准。仪器成套组成：由HAD-3主机、选配的四探针探头等二分组成，也可加配测试台。仪器所有参数设定、能转换采用轻触按键输入；具有零位、满度自校能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。详见《四探针探头特点与选型参考》点击入仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等特点。仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。 三、基本术参数1. 测量范围、分辨率电 阻： 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω电 阻 率： 0.010～ 20.00kΩ-cHAD， 分辨率0.001 ～ 10 Ω-cHAD方块电阻： 0.050～ 100.00kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□ 2. 可测材料尺寸手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：直 径：HADT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130HADHAD。HADT-C方测试台直接测试方式180HADHAD×180HADHAD。长()度：测试台直接测试方式 H≤100HADHAD。.测量方位: 轴向、径向均可. 量程划分及误差等 2.声波泥水界面计污泥水界面计声波泥水界面仪 型号DQF-QFWJ-100 测量原理传感器发出声波遇到泥层会反射，测出发射波和反射波之间的时间，就可以得出传感器到泥层的距离H；传感器到池子底面的距离是用户设置的L；这样就可以得到泥层的厚度D=L-H。参数:测量范围：0.5~10m准确度：±1.0%分辨率：1mm标 定：出厂标定，可现场校验 显 示：液晶显示 模拟输出：4～20mA、大负载750W继电器输出：报警继电器输出 继电器容量：AC230V、5A数字接口：可选RS485供电电源：AC220V±10%材 质：PC防护等：IP65作温度：-20~60℃材 质：316不锈钢、PVC连接方式：G1管螺纹 传感器线缆：10米（其他长度可在订货中说明） 防护等：IP68作温度：0~60℃环境湿度：相对湿度≤90%过程压力：0.6MPa 3.红外辐照计/红外辐照度计 型号:HAD-IR850 标 1、波长选择：本仪器有如下两种波长的红外探测器可供选择： （1）中心波长850nm； （2）中心波长940nm；2、测量范围：1uw/cm2~999.9k uw/cm2；3、测量度：5%；4、显示刷新率：1次／秒；5、供电电源：9V叠层电池；6、耗：＜20mW 7、作环境条件：温度0~40℃、湿度：＜90％；8、仪表尺寸：130mm×65mm×25mm 4.多能土壤腐蚀速度测量仪 型号 HAD-ZKW180 术特点】 采用五个相同材质电环组合联结成组合式电化学探头，有效地降低了测量腐蚀电流密度时土壤介质IR降的影响；其中辅助电（CE ）研究电（WE ）和 参比电（RE）的连接方式以（CE-WE-RE）表示，组合式电化学探头连接方式为（1-5，2-4 ，3 ）。研究电（WE ）和参比电（RE） 的面积为5cm2 ； 运用四电探针，采用相对较低的测量电压，准确测定土壤电阻率，避免压测量带来的读数困难和土壤电解成理化性能破坏； 采用标准铂电、硫酸铜电用于测量土壤氧化还原电位； 在探头聚四氟缘棒上固定度测温元件测量土壤温度； 运用预孔器方法，测量时对土壤原有结构的破坏很小且不用开挖； 前端采用锥形设计以保证探头和土壤间有良好的接触； 探头通过打磨可重复利用。 1 土壤腐蚀性评定 多能土壤腐蚀速度测量仪 应用域 Ø 输油、气埋地管线、城市埋地管线外腐蚀评价 Ø 混凝土腐蚀性评定 Ø 水溶液腐蚀介质腐蚀性评定 Ø 等等 多能土壤腐蚀速度测量仪 术标 Ø 仪器正常使用的环境条件： • 温度：0 ℃至40 ℃. • 相对湿度：≤80%RH Ø 土壤温度测量范围：零下10℃至100℃，误差：2 ℃ Ø 土壤氧化还原电位测量范围：±2000mV，误差：≤1% Ø 土壤电阻率测量范围：0至10KΩm，误差：≤2% 土壤化电阻测量范围：40Ω至300KΩ，误差：≤3% 土壤腐蚀速度测量范围：1 ×10-4至2 mm/a 蓄电池充电时间6小时，充电时可正常作。次充电后可持续作24小时 5.初粘性和持粘性测试仪/斜面滚法、胶粘带瞬间粘合力测试仪/初粘性测试仪 型号:CZYG 适用于压敏胶带等相关产品行初粘性测试试验，具A斜面滚法B斜槽滚法两种试验方法，转换方式简单易行。特点: 采用斜面滚法的测试原理，测试试样的瞬间粘附性能 按照家标准设计的测试钢，确保了测试数据的准性 测试倾斜角度可以按照用户的需求行自由调整 应用: 基础应用 胶粘制品 适用于各种胶粘类制品的初粘性测试，如压敏胶带、用贴剂、不干胶标签、保护膜等 作原理：采用A法斜面滚法和B法斜槽滚法 1. A法通过钢和压敏胶粘带试样粘性面之间以微小压力发生短暂接触时，胶粘带对钢的粘附作用来测试试样初粘性。将钢滚过平放在倾斜板上的胶粘带粘性面，根据规定长度的粘性面能够粘住的钢尺寸，评价其初粘性大小。 2. B法将规定大小的钢滚过倾斜槽，测量其在水平板上的胶粘带粘性面上滚动的距离来评价其初粘性的大小。 术参数:可调倾角： 0-60° 台面宽度： 120mm 试区宽度： 80mm 标准钢： 1/32-1英寸 药典46枚钢 外形尺寸： 14（B）×32（L）×18（H）cm 重 量： 13 kg 配置:主要由倾斜板、放器、支架、可调水平底座及钢盒等分构成 6.单体支柱测压仪 测压仪 型号HAD-40Z HAD-40Z单体支柱测压仪也称为外平衡仪表，用以检测单体液压支柱初撑力（作阻力）的增压式。 HAD-40Z单体支柱测压仪术参数： ⑴ 量程： 0 ～ 40MPa ；⑵ 显示方式：微表式；⑶ 度： 2.5%FS ；⑷ 作介质：含 2% 乳化液或乳化油；⑸ 重量： 1.3 ㎏；⑹ 每桶液体充液次数： 90 ～ 100 7.测力环/ 土用测力环 测力装置 应力环 型号:HAD-100KN 测力环与路面材料强度试验仪主机及相应附件配套使用，可做无侧限抗压强度、承载比、马歇尔稳定度、劈裂试验、回弹簧模量等试验。规格：150KN、100KN、60KN、30KN、7.5KN、2KN能简介：测力环结构合理、操作方便，适用于各种型号路面材料强度试验仪、承载比试验仪、电动应变无侧限压力仪、土基试验仪等公路仪器标准力值的试验。术参数：示值重复性相对误差不大于0.3% 示值回程相对误差不大于1.5% 示值长期稳定度（三个月）不大于0.3% 回零偏差不大于0.2个分度 灵敏度所不大于0.2个分度对应的力值8.智能化γ辐射仪/智能化伽玛辐射仪 型号 HAD-2000 仪器特点 灵敏度、能量响应范围宽、耗低、稳定性好、操作方便，中文显示被测石材的A、B、C类别，亦可显示计数率和吸收剂量率。 术标 1.测量模式 常规测量：每3s测量次，显示每秒的平均值； 定时测量：可自行选择10s、30s、60s、300s、600s中的 档测量，仪器显示每秒钟的平均值 2.测量范围：（0.01～100）μGy/h 3.能量阈：40keV 4.测量线性：放射性强度γ与计数率CPS的相关系数≥0.999 5.长期稳定性：≤6%（连续作8h） 6.准确度：＜20％ 7.灵敏度：1μGy/h（103nGy/h）的计数≥350s-1 8.电源：3节1号电池 9.耗：≤100mW 10.使用环境 温度：（0～40）℃ 湿度：≤90%（40℃） 11.外形尺寸及重量（含包装箱）：（350×200×250）㎜；6㎏ 仪器认证 中计量科学研究院检定并出具检定证书 9.活化仪/吸附管老化仪/老化仪 型号:HAD-TH-10 HAD-TH-10 型活化仪是在热解吸的基础上，为提作效率而研制设计的检 测配套件。其特点是具有立控温系统，不需外接其何控温设备，即可 立成 1 — 10 支吸附管的活化过程，自带流量计，显示直观，操作简单。 术参数： ◆ 电源：220VAC 50Hz ◆ 率：300VA ◆ 控温范围：室温~400℃ ◆ 控温度：±1℃ ◆ 定时范围：1分钟~99小时59分钟 ◆ 流量调节范围：0~1000ml/分钟 ◆ 次多活化数量：10支吸附管 ◆ 吸附管长度：110mm以上（却省） ◆ 外型尺寸：x宽x深 225 x 265 x 345 ◆ 净重：约7.5kg 10凝胶化时间测试仪/凝胶化时间检测仪/酚醛树脂凝胶化 型号：HAD-YGT-A 产品说明： 常温HAD-YGT-A型凝胶化时间测试仪术规范： ►温度：室温—230.0℃ 意调节 ►温度度：±0.5℃，四位LED显示 ►热盘尺寸：￠50×2.5 ｍｍ ►温度控制：欧姆龙固态继电器PID控制 ►时钟：0—999.9秒计时，带“启动/停止”和“归零”开关 ►温度和时间控制与热盘是二个并列的组合体（参考照片） ►外形尺寸（W×D×H）：342×170×190mm ►机体重量（㎏）：约18㎏ ►电 源：220V,50HZ,600W 本公司主营 不锈钢采水器，弯曲测量装置，鼓风干燥箱，色度计，化学试剂沸点测试仪，提取仪，线缆探测仪，溶解氧测定仪，活性炭测定仪，磁导率仪，比浊仪，暗适应仪，旋转仪，酸度计，硅酸根测定仪，过氧化值测定仪，腐蚀率仪，电阻率测定仪，耐压测定仪，污泥比组测试仪，粉体密度测试仪，机械杂质测定仪，运动粘度测试仪，过氧化值酸价测定仪，噪声源，土壤腐蚀率仪，直流电阻测试仪，厌氧消化装置，耐压测试仪，甲醛检测仪，硅酸根测试仪，PH酸度计，测振仪，消解仪，读数仪，空气微生物采样器，，双波长扫描仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，钢化玻璃表面平整度测试仪，腐蚀率仪，凝固点测试仪，水质检测仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，气体采样泵，自动结晶点测试仪，凝固点测试仪，干簧管测试仪，恒温水浴箱，汽油根转，气体采样泵，钢化玻璃测试仪，水质检测仪，PM2.5测试仪，牛奶体细胞检测仪，氦气浓度检测仪，土壤水分电导率测试仪，场强仪，采集箱，透色比测定仪，毛细吸水时间测定仪，氧化还原电位计 测振仪，二氧化碳检测仪，CO2分析仪，示波谱仪，黏泥含量测试仪，汽车启动电源，自动电位滴定仪，，干簧管测试仪，电导率仪，TOC水质分析仪，微电脑可塑性测定仪，风向站，自动点样仪，便携式总磷测试仪，腐蚀率仪，恒温水浴箱，余氯检测仪，自由膨胀率仪，离心杯，混凝土饱和蒸汽压装置，颗粒强度测试仪，斯计，自动涂膜机，，气象站，动觉方位仪，，气味采集器，雨量计，四合气体分析仪，乳化液浓度计，溶解氧仪，温度测量仪，薄层铺板器，温度记录仪，老化仪，噪音检测仪，恒温恒湿箱，分体电阻率测试仪，初粘性和持粘性测试仪，红外二氧化碳分析仪，氢灯，动觉方位仪，冷却风机，油脂酸价检测仪，粘数测定仪，菌落计数器，气象站，雨量计，凯氏定氮仪，荧光增白剂，啤酒泡沫检测仪，发气性测试仪，低频信号发生器，油液质量检测仪，计数器，漏电流测试仪，标准测力仪，毛细吸水时间测定仪，大气采样器，流速仪，继电器保护测试仪，体积电阻率测试仪，侧面光检测仪，照度计，体化蒸馏仪，涂布机，恒温加热器，老化仪，烟气分析仪 本产品价格仅为配件价格，由于检测参数不同对仪器的终要求也不同，所展示的价格并非产品终价格，如给您带来不便请谅解请您在购买前联系我们客服人员，我们会给你确认产品信息，术参数以及报价，我们会以优惠的价格，诚恳的态度为您服务，期待您的来电！ 以上参数资料与图片相对应

仪器简介： CST400C用于油气管道,城市燃气管道等，管道内腐蚀监测，采用高灵敏度电阻探针设计，能适用于气相、液相、以及复杂油、水、气多相体系的腐蚀连续监测的全自动现场腐蚀监测仪器。仪器采用高速低功耗MCU单元和高精度低功耗24bit AD转换器，并利用专利的交流激励源技术和AV电桥原理，实现了较高的微电阻测量分辨率，可达探头设计寿命的1/5000，减薄分辨率可达到0.1mm（相对于0.5mm标称厚度感受元件）。内置温度补偿电路，降低温度变化的影响。本产品符合《GB3836.1-2010 爆炸性气体环境用电气设备第1部分：通用要求》和《GB3836.4-2010爆炸性环境用防爆电气设备_第4部分-本质安全型“i”保护的设备》标准；防爆标志为 Exib Ⅱ BT4，它适用于1区，2区，T1-T4爆炸性气体混合物场所。仪器可采用CST610无线数据收发器，实行远程测控，可直接将腐蚀测量数据传送到远端的监控中心，通过腐蚀数据分析软件，可用于实时在线监测腐蚀状态。仪器内置高精度实时日历时钟，提供数据点的日历标志。低功耗设计可以保证2节大容量锂电池可持续工作400天。技术指标 AD转换器：双通道16bit S-D转换器 微电阻测量分辨率：1mW 腐蚀减薄分辨率：0.05mm 日历时钟误差：1分钟/月(自带电池) 定时测量：测量间隔1～24小时 存储：128Kbyte，可存储8000 组数据电池：14Ah ER34615锂电池 电池寿命：~ 400天（每4小时测一次） 通讯端口：RS485/RS232 波特率：9600bps 机箱尺寸：φ98*130mm，重量：1.5kg使用环境：工作温度 -20°C~60°C，相对湿度≤80%，空气中无强烈腐蚀性气体。电阻探针：不锈钢外壳，耐压≤40MPa，工作温度260°C。软件指标 测量参数：腐蚀速率，腐蚀余量；腐蚀数据库管理，腐蚀趋势预测；腐蚀失重量及腐蚀速率图形显示，报表输出，输出数据兼容Excel格式。应用领域 适用于气相、液相以及油、水、气多相体系中的金属腐蚀总量、腐蚀余量与腐蚀速度监测。仪器配置 ① CST400C测量主机1台 ② CP-41电阻探针1支③ CSkit腐蚀分析软件1套④ *可选CST620手持数据下载器，实现人工下载数据。⑤ *可选CST610无线数据收发器，组成无线数据监测网，实现远程监控。

维护和保养使用者的维护为了防止意外发生，请不要接触机内部件。本机器内部所有的零件，绝对不需使用者的维护。如果机器有异常情况发生，请直接与百川仪器公司厂家联系或其指定的经销商给予维护。使用者的修改使用者不得自行更改机器的线路或零件，如被更改机器后保修则自动失效并且本公司不负任何事故责任。在保修内使用未经我公司认可的零件或附件造成故障也不予保证。如发现送回检修的机器被更改，将机器的电路和零件修复回原来设计的状态，并收取修护费用。测试工作站工作位置工作站的位置选择必须安排在一般人员非必经的处所，使非工作人员选离工作站。如果因为条件限制的安排而无法做到时，必须将工作站与其这它设施隔开并且特别标明“测试工作站”。如果工作站与其它作业站非常接近时，必须特别注意安全的问题。在测试时必须标明“测试执行中，非工作人员请勿靠近” 输入电源输入：220V±10% 使用频率：50Hz工作场所尽可能使用非导电的工作桌工作台。操作人员和待测物之间不得使用任何金属。操作人员的位置不得有跨越待测物去操作或调整测试仪器的现象。测试场所必须随时保持整齐、干净，不得杂乱无章。测试站及其周边之空气中不能含有可燃气体或在易燃物质。人员资格本仪器为精密仪器，必须由训练合格的人员使用和操作。安全守则操作人员必须随时给予教育和训练，使其了解各种操作规则的重要性，并依安全规则操作。衣着规定操作人员不可穿有金属装饰的衣服或戴金属手饰和手表等，这些金属饰物很容易造成意外的感电。医学规定绝对不能让有心脏病或配戴心律调整器的人员操作。测试安全程序规定一定要按照规定程序操作。操作人员必须确定能够完全自主掌控各部位的控制开关和功能。2.3.测试探头和测试平台操作选配测试平台的将被测物放在测试平台上，调节探头探针与样品良好接触，探头有二种，一种是探针是弹簧针型，一种是硬针而探头内腔有弹簧；探头有方型和直线型两种结构；调节测试平台上的水平定位角，保证水平仪水准在中心位置；放置好被测物品，后压下探头至被测物，带数据稳定后读取方阻测试时，在测试时电流的选择也不同根据国标GB/T1552-1995和根据ASTM F374-84标准方法测量方块电阻所需要的电流值

POP系列适用于泡液流与雾状流气液两相流测量用单光学探针同时测量气泡空隙率、速率&尺寸液滴浓度、速率&尺寸运用独家创新科技确保在稠密环境、液体中可无外部光学条件进行精密测量专业配套工具辅助测量工作原理POP 系统的操作依靠测量激光束在探头尖的反射。传感器是利用与周围相的折射率间敏感差异，并且检测在给定的位置的相位变化。速度测量是基于沿传感头的液 - 气界面的传播（上升信号的时间）。POP 的工作原理是通过接触测量，并且不需要在探针外部的任何的光传播，因此能够在非常稠密的环境中工作。技术规格? 浓度范围: 0 ≤ ɑ ≤ 100%（空隙率）? 速度范围: 0.1 ≤ U ≤ 25 m/s (可升级)? 通常待测目标尺寸:? 气泡 500 μm? 液滴 15 μm? 通常精度:? 浓度：± 5?%? 速率、尺寸：± 15?% ? 数据处理:? 泡状流：实时? 喷洒：后处理? 与电脑的连接:? USB, PCIe , ExpressCard颗粒浓度、粒径分补、颗粒速度、气泡特征、电导探针、远心相机、示踪剂停留时间、示踪剂浓度分布、示踪颗粒监测颗粒浓度、粒径分补、颗粒速度、气泡特征、电导探针、远心相机、示踪剂停留时间、示踪剂浓度分布、示踪颗粒监测颗粒浓度、粒径分补、颗粒速度、气泡特征、电导探针、远心相机、示踪剂停留时间、示踪剂浓度分布、示踪颗粒监测

光纤探针是本公司采用有热熔拉伸技术研制的气泡参数测量仪。基于光纤顶端接触的介须不同折射率也不相同的原理进行测量。探针处于气相时，光在探针顶端形成全反射，反射光强度高:探针处于液相时，反射光强度低，基于光强的差异判断探针顶部所处相态。光纤直径65um，探针外包金属毛细管，光纤与毛细管间的缝隙用高强度无机胶密封 毛细管尾部与不锈钢管相连，采用联式加固结构，逐渐增加直径，既可以保证探针的强度，又减少对流场的影响。光纤直径小，联式结构，对流场影响小，数据准确无机胶密封，适用于高温体系毛细管、不锈钢管钎焊连接，适用于高压体系无机胶密封，不溶不挥发，适用有机溶剂体系基于反射光强度的不同进行测量，适用于非导电介质气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针，气泡检测仪，气泡探测仪，掺气率测量仪，含气率测量仪，气泡探针，电导探针，流体探针，光纤探针，气泡大小测量，气泡速度测量，气泡速率测量，气泡粒径测量，液滴检测仪，液滴探测仪，带液率测量仪，气泡测试仪，液滴粒径测量仪，液滴大小测量仪，液滴速度测量仪，液滴速率测量仪，液滴测量仪，蓝宝石探针，双光纤探针

皮罗钉木材检测仪名称：木材检测仪 型号：PILODYN 产地：日本用途：PILODYN皮罗钉木材检测仪是用来测量活树及木质结构，如电线杆、打桩和木梁等的木材强度及腐朽状况的有用工具。 在固定力作用下，将微型探针打入木材内部，根据进针深度的差别判断木材腐朽程度并确定与此相关的强度等级。检测使用无损的方法，影响非常轻微，不会对测量对象造成大的破坏。 检测程序 :检测程序简单，装置装上推弹杆，然后平稳的按到测试表面上。冲击针在按下触发盖后被射入木材内，从安装在检测仪上的标尺立即读取射入深度。 用途： 木质电线杆的强度测试，检测软腐病。在林木疏伐过程中淘汰木材强度欠理想的树木及早检测疾病； 定期进行测量可检测木材不自然的变化； 分地点比较，以确定最适合某些树种生长的地点，基于文化目的，建立相同树种及具有类似环境因素的树木 。 木质分类，进行检测并将砍下的木材归入不同的木材级别。 古建筑构件勘查，掌握构件结构状态，以采取及时、适当的保护和修复措施。 技术规格：推动力6Nm尺寸50×335毫米重量1.3公斤针长60mm/80mm，可更换，标配两种测量范围0-40mm配置皮罗钉检测仪1个；探测针4个（2种）；推针器1个；修理刀1个；螺丝刀2个产地：日本点将科技-心系点滴，致力将来！ ： (上海) (北京) (昆明) (合肥) Email: (上海) (北京) (昆明) (合肥) 扫描点将科技官方微信，获取更多服务：

ARBOTOM树木断层检测仪名称：树木断层检测仪 型号：ARBOTOM 产地：德国用途：ARBOTOM树木断层检测仪用于评估和显示树木或木材内部状况的三维数据和图像（树木直径没有限制）。发现树木的缺陷和完好区域。判断树木茎干的质量，稳定性和可利用性。单人测量一棵树的时间少于10分钟。工作原理：多功能传感器作为发送并接受声学脉冲信号，通过软件及选出测量值并将其转化为彩色图表，受损或者空洞部分在图表中显示为红色，健康部分呈现绿色。特点：对测量树木破坏性小；操作简单、快速；根据木材的类型计算；以图像快速显示评估结果；所有测量值及评估步骤文件化；传感器数量可根据测量树木选择；可进行树木断层2或3维测量。技术规格：传感器探针长度60毫米和80毫米供电12V可充电电池通讯接口USB或蓝牙空间分辨率由于自然环境及测量材料的异质性确定传感器数量2个（1-D版）、8个（基本版）、12个（专业版）、16个（精密版）、24个（3-D版）软件ARBOTOM 1-D软件（1-D版）、ARBOTOM 2-D软件（基本版）、ARBOTOM 2-D软件（专业版）、ARBOTOM 2-D软件（精密版）、ARBOTOM 3-D软件（3-D版）可选ARBORADIX™ 模块带根探测传感器产地：德国点将科技-心系点滴，致力将来！ ： (上海) (北京) (昆明) (合肥) Email: (上海) (北京) (昆明) (合肥) 扫描点将科技官方微信，获取更多服务：

产品介绍：微型探针腔室是一种适用于检测分析材料的电学和光学特性的独特装置. 它的优势是可实现原位测量在各种环境下（如真空，温度，气体导入，湿度，光照射......）的电学和光学性能. 探针腔室操作简单方便.它可与其他检测仪器连用（如，IV测试源表、LCR表、拉曼光谱仪、AFM 、XRD ......）.非常适合高校，研究所，企业研发用.产品应用：- IV测试- 光电流扫描- OPV，钙钛矿光伏电池- OLED，钙钛矿LED- 热电材料的特性- 晶体管，二极管，LED........测试- 薄膜材料的导热系数测量- 相变材料的电学/光学特性（金属氧化物、忆阻器等）- MEMS/NEMS的特性- 与拉曼光谱连用- 霍尔效应测试- 二维材料特性测试- ........主要客户：华中科技大学，武汉大学，西湖大学，陕西师范大学，中国科学技术大学......

水土保持林是为了调节水土流失地区地表径流、预防地表土壤侵蚀、防止河流水库泥沙堆积并能为人们提供林业副产品的人工种植或天然生长林。水土保持林属于防护林中的一种，探针式土壤墒情监测站还可以分为五大类：水源涵养林、沟道防护林、池塘水库防护林、坡面防腐林、梯田地坎造林。一、产品简介TH-TS600探针式土壤墒情监测站是一款高度集成、低功耗、可快速安装、便于野外监测使用的高精度自动气象观测设备。探针式土壤墒情监测站该设备支持有线、GPRS、蓝牙等传输方式，免调试，可快速布置，广泛应用于农业、林业、地质、高校、科研等方面。主要针对土壤水分含量和土壤温度进行监测，通过水分传感器和温度传感器测量土壤的体积含水量（VWC）和温度值。同时，根据用户需求，可以扩展配置土壤电导率、土壤PH、空气温度、空气湿度、太阳辐射、雨量等气象传感器。二、产品特点1、六层土壤温湿度传感器2、太阳能板顶盖镶嵌式设计，提高了光电转化效率，增加了抗风等级3、低温7寸安卓屏，版本：4.4.2、四核Cortex&trade -A7，512M/4G4、充电控制器：MPPT自动功率点跟踪，效率提高20%5、短信报警，超限后向指定的手机上发送短信6、土壤水分温度一体集成，不锈钢制作钢针，可经受长期点解，更耐腐蚀7、ABS材质防护箱，耐腐蚀、抗氧化，防水等级IP66三、技术参数1)土壤水分：测量范围：0-100%，精度：±3%，探针长度：5.5cm，探针直径：3mm，探针材料：不锈钢2)土壤温度：测温范围 －40+125℃，测量精度±0.5℃，分 辨 率：0.1℃3)土壤电导率：测量范围 可选量程：0-5000us/cm，10000us/cm，20000us/cm，测量精度0-10000us/cm范围内为±3% 10000-20000us/cm范围内为±5%，分辨率0-10000us/cm内10us/cm, 100000-20000us/cm内50us/cm（选配）4)土壤PH：测量范围：0-14 分辨率：0.1 测量精度：±0.2%（选配）5)空气温度：测量原理二极管结电压法，-40℃～85℃（±0.3℃）（选配）6)空气湿度：测量原理电容式，0～100%RH（±2%RH）（选配）7)太阳辐射：测量原理光电效应，0-2000W/m2(0.1W/m2)（选配）8)光学雨量：测量原理光电式，0～4mm/min（选配）9)数据存储：不少于50万条；10布设时间：1人，不大于30分钟完成布设；四、上位机软件介绍1、PC单机版数据接收、存储、查看、分析软件2、支持串口数据接收、处理、展示3、支持json字符串、modbus485等通信方式4、可自设置存储时间，modbus485采集模式下可自设置采集时间5、支持自助增加、删除、修改监测参数的协议、名称、图标等6、支持数据后处理功能7、支持外置运行javascript脚本五、安卓APP介绍1、安卓单机版数据接收、存储、查看、分析软件2、支持蓝牙数据接收3、手机休眠后软件后台接收、处理4、json数据自动添加设备，modbus设备支持扫码添加设备5、支持历史数据查看、分析、导出表格，支持曲线展示、单数据点查看。6、支持数据后处理功能7、支持外置运行javascript脚本六、云平台介绍1、CS架构软件平台，支持手机、PC浏览器直接观测、无需额外安装软件。2、支持多帐号、多设备登录3、支持实时数据展示与历史数据展示仪表板4、云服务器、云数据存储，稳定可靠，易于扩展，负载均衡。5、支持短信报警及阈值设置6、支持地图显示、查看设备信息。7、支持数据曲线分析8、支持数据导出表格形式

LH-CRPS-5K 是性价比很高的一款无需消耗制冷剂，依靠制冷机提供冷源的闭循环低温探针台。此款低温探针台设计的初衷就是多功能和卓越的专业测量性能，为制冷剂获得比较困难和 追求操作便利的客户提供了一个完美的解决方案。通过闭循环制冷机降温，降温过程中不需要其 它辅助设备，只需要很少的电能即可，也不需要科研人员值守操作。丰富的选件和配置确保科研人员能够实施严苛的、富有挑战的测试测量。LH-CRPS-5K 是易捷测试探针台家族中，能实现最低温度的探针台，最低温度低于5K。 多个温度传感器分布于探针台各个位置，确保温度监视和测量的准确性和重复性。由于是二级制冷平台制冷机提供冷源，这样能保证样品温度维持在相对较高的温度，同时样品处于真空环境中，减少了凝结的可能性，在一些有机材料的严格测试要求中这一点比较重要。LH-CRPS-5K 最大可安装样品台直径102mm(4in)出厂时标准配置三同轴样品台，直径451mm(2in)

泵吸式TVOC检测仪型号： HC2000-（TVOC 、CH2O）1、总述 该系列产品是一款反应迅速、检测精准的气体检测仪，自带内置采样泵，采样速度快，流量大，独特的设计，外形小巧易携带，外壳采用高强度特殊工程塑料，可以满足于各种环境和场合的作业。致力于为用户提供一个最可靠、最准确、最安全的气体检测方案。2、产品亮点内置泵送系统，可实现多气同测：内置大吸力微型泵，可同时选测1-6种气体功能强大：液晶点阵显示技术，可显示气体种类，气体单位，气体浓度值，测量最大值，当地时间等带自校验功能，零点标定功能，使气体监测，更准确，更可靠一键恢复出厂设置功能，可免去误操作的困扰带温度和压力补偿，可完美实现不同温度和压强环境下对气体浓度的补偿两级声光报警，报警点可自行设置USB接口高速数据传输，可下载打印存储（选配）可内置无线通讯模块，用户可实现在电脑网页客户端和手机小程序上实时查看、监控检测数据，进行安全管控（选配） 操作简单、方便使用：开机即可检测气体浓度支持中英文操作界面，切换简单方便气体浓度单位μmol/mol ,ppm，mg/m3可快速切换显示一键恢复出厂设置功能，可免去误操作的困扰 优质选材，使用可靠：采用进口品牌高精度传感器外壳采用高强度特殊工程塑料，防滑，防水，防尘，防爆高档美观铝合金手提箱，便于存放3、技术参数产品类型 :泵吸式VOC检测仪检测气体: TVOC（挥发性有机物）量程 : 0~10，0~50，0~100，0~500，0~1000，0~5000，0~10000μmol/mol（量程可选）分辨率 : 0.001，0.01，0.1，1μmol/mol（与所选量程相关）精度：≤±3%FS或±10%（视具体传感器而定）响应时间 : ≤30s(T90)检测原理 : PID光离子传感器CH2O（甲醛）量程 : 0～10、20、100、500、1000 μmol/mol（量程可选） 分辨率 : 0.001、0.01、0.1、1 μmol/mol（与所选量程相关）精度：≤±3%FS或±10%（视具体传感器而定）响应时间 : ≤30s(T90)检测原理 : 电化学原理采样方式：泵吸式，流量可达1L/min，泵的吸力大小有十个档位可调 浓度单位：μmol/mol ,ppm，mg/m3 等，可一键切换显示，浓度值由仪器内部系统自动换算。 1μmol/mol=1ppm显示界面：气体分子式，浓度单位，测量值，时间，电池电量，报警状态，数据记录状态等数据记录：USB接口高速数据传输，可下载打印数据(选配)操作语言：支持中英文操作界面，并可一键切换显示报警方式：声、光报警，高低报警值可以任意设置电 池：大容量可充锂电池工作电压：3.7VDC工作时间：100个小时(关泵)工作温度：-20℃-50℃，可选配高温探枪，最高可检测1200℃的浓度工作湿度：0-95%RH(无凝露)(湿度过高需选择过滤干燥装置)防 爆：取得防爆认证外形尺寸：205*75*32mm(长*宽*高)主机重量：300g标配附件：1) 使用说明书2) 合格证/保修卡3) 充电器4) 仪器箱选配附件：1) 高温探枪2) 硅胶软管3) 金属探针4) 存储光盘5) 干燥过滤装置6) 皮套产品包装图

详细说明： PCT虎牌有机气体检测仪，是源自英国的一代PhoCheck，以其的1ppb - 20,000ppm强大检测功能，在2010虎年应运而生，震撼登场！虎头虎脑的外形设计，更受市场欢迎，是气体检测的仪器！ PhoCheck Tiger拥有迷你PID技术，是市场上检测挥发性有机化合物（VOC）进光离子化检测仪（PID） 用户可选择功能***的基础型的仪器，也可选择通过对仪器升级来获取更多的可选功能。特点： * ***格栅电极技术：可快速响应和显示***的读数，同时有效降低湿度和污染的影响。 * 对特定挥发性有机气体的动态检测量程：1ppb~20,000ppm * 容易更换的迷你PID检测器，电极堆和灯：***的6插针迷你PID检测室 * 更易于使用和更直观：即开即用，简单的按键操作，大而清晰的背景光显示 * 无需复杂的安装程序便可与电脑连接 * 电池可在危险区域更换 * 可选的***升级功能：想设置仪器和下载数据的用户，可以通过一个屏幕进行1个或多个功能的设定 * 数据储存功能选择：可储存120000个带日期时间标识的数据,具有单点手动存储和多点自动存储功能 * 电池使用时间可达30小时 * 通过ATEX, IECEx和CUL认证：仪器通过欧洲，加拿大和美国的安全认证，可在易燃易爆区域中使用。 * 坚固的保护设计，可拆除的橡胶外套 * 响亮的95 dBA报警声：仪器内置的2个喇叭，2秒快速响应，低流量感应器 * 明亮的LED闪灯和振动报警：可显示现场气体状况 * 无线功能：通过USB直接与电脑连接 * 维护费用***：***的一次性部件，灯和滤芯。 * 可选的*** NIOSH, OSHA和EH40 * STEL和TWA的报警预设表格技术规格: ***小分辨率:1ppb或0.001mg/m3 量程:20,000ppm或20,000mg/m3 精度:±5%读数或±1数值 线性:±5%到100ppm 电池使用时间:锂电：长达30小时，充电时间6.5小时，碱性电池：3×AA,典型的为15小时 PID灯:10.6eV氪气PID灯（标准型）9.8eV和11.7eV灯可选 数据储存:＞120,000个带日期时间的数据储存（若每秒储存1个数据，可存33小时） 通讯:USB 1.1 校准:通过校准工具套件 报警:LED闪灯和95dBA300mm(12”)扬声器 可选的震动报警:预设TWA和STEL,预设内置450种气体 流量:220ml/min 具有低流量报警 温度:工作温度-20~60℃，-4~140℉（非本质安全） 湿度：0~99% RH (无冷凝) 防护等级:IP65防水设计 重量及体积:仪器不含探针,宽度340×高度90×深度60mm（13.4×3.6×2.4”） 标准箱:420×320×97mm（16.5×12.5×3.8”） 仪器重量：0.72kg（25oz） 包装：5kg（176oz） 其他：配套PCT***工具包、万向弯曲探针、5m延长采样软管【应用举例】 PhoCheckTiger 应用于江苏省昆山协润人造皮有限公司 PhoCheckTiger 在清华大学环境科学与工程系的应用 Check Tige PhoCheckTiger 应用于第26届世界大学生夏季运动会 PhoCheckTiger 在检验检疫方面的应用 吉林省人民防空办公室采购了37套PhoCheck Tiger（虎牌有机气体检测仪） 本公司还提供：英国离子ION锂电基本型VOC检测仪PCT-LB-00英国离子ION锂电健康基本型VOC检测仪PCT-LB-01（带STEL和TWA报警预设表格）英国离子IONPPB级锂电基本型PCT-LB-02英国离子IONPPB级健康安全型VOC检测仪PCT-LB-03（带STEL和TWA报警预设表格）英国离子ION锂电基本数据型PCT-LB-04英国离子ION锂电健康安全数据型PCT-LB-05（带数据存储、带SETL和TWA预设表格）英国离子IONPPB锂电基本数据型PCT-LB-06英国离子IONPPB锂电健康安全数据型PCT-LB-07（带数据存储、带报警预设表格、带***）英国离子ION在线式TVOC探测器（0-10/100/1000ppm）英国离子ION手持式汞检测仪MVI美国ATIPortaSenII便携式有毒有害气体检测仪（C16）

IML-RESI PD500木质针刺检测仪名称：木质针刺检测仪 型号：IML-RESI PD500 产地：德国用途：IML-RESI PD500木质针刺检测仪可以用于任何可靠稳定的木质检测实验中。 通过实时测量探针的钻探阻力，从而检测树木内部腐烂情况、空洞情况和虫蛀情况等。特点： 读取数据简单，显示清晰； 简单，快速的数字数据采集； 采用人体工程学的外型设计防止疲劳； 功耗小，钻孔效能高； 坚固耐用，防溅铝外壳； 同步记录钻孔阻力和进给速度曲线用以提高系统识别前期和阻力点的衰减； 可选不同型号满足200毫米到1000毫米钻孔深度要求； 技术规格：钻孔深度500mm能源可充电锂电池供电数据电子数据储存，可选蓝牙打印机精度0.02mm/300mm步进速度5种步速可调节，从15cm/min-250cm/min转速5种转速，自由调节，每分钟1500rpm-5000rpm最大产地：德国点将科技-心系点滴，致力将来！ ： (上海) (北京) (昆明) (合肥) Email: (上海) (北京) (昆明) (合肥) 扫描点将科技官方微信，获取更多服务：

IML-RESI PD400木质针刺检测仪名称：木质针刺检测仪 型号：IML-RESI PD400 产地：德国用途：IML-RESI PD400木质针刺检测仪可以用于任何可靠稳定的木质检测实验中。 通过实时测量探针的钻探阻力，从而检测树木内部腐烂情况、空洞情况和虫蛀情况等。特点： 读取数据简单，显示清晰； 简单，快速的数字数据采集； 采用人体工程学的外型设计防止疲劳； 功耗小，钻孔效能高； 坚固耐用，防溅铝外壳； 同步记录钻孔阻力和进给速度曲线用以提高系统识别前期和阻力点的衰减； 可选不同型号满足200毫米到1000毫米钻孔深度要求； 技术规格：钻孔深度400mm能源可充电锂电池供电数据电子数据储存，可选蓝牙打印机精度0.02mm/300mm步进速度5种步速可调节，从15cm/min-250cm/min转速5种转速，自由调节，每分钟1500rpm-5000rpm最大 产地：德国点将科技-心系点滴，致力将来！ ： (上海) (北京) (昆明) (合肥) Email: (上海) (北京) (昆明) (合肥) 扫描点将科技官方微信，获取更多服务：

LH-CRPS-EMHF是一款无需消耗制冷剂，依靠制冷机提供冷源的闭循环低温磁场探针台，配1T 水平磁场，实现样品面内增加磁场。此款低温探针台设计的初衷就是多功能和卓越的 专业测量性能，为制冷剂获得比较困难和追求操作便利的客户提供了一个完美的解决方案。通 过闭循环制冷机降温，降温过程中不需要其它辅助设备，只需要很少的电能即可，也不需要科 研人员值守操作。丰富的选件和配置确保科研人员能够实施严苛的、富有挑战的测试测量。LH-CRPS-EMHF可实现最大面内磁场1T 的情况下，实施C-V 、I-V、微波、及磁输运等测量测试。多个温度传感器分布于探针台各个位置，确保温度监视和测量的准确性和重复性。由于是二级制冷平台制冷机提供冷源，这样能保证样品温度维持在相对较高的温度，同时样品处于真空环境中，减少了凝结的可能性，在一些有机材料的严格测试要求中这一点比较重要。LH-CRPS-EMHF 最大可安装样品台直径，25mm(1in), 在最低温度8K 时可实现样品台，360度旋转，可测量磁场相关的各项异性参数。

叉指微电极因其微小的电极间距结构可用于各种小型化传感器。对于传统分析检测，包括色谱法、光谱法、质谱等方法，大多都需要昂贵的仪器和多种操作步骤，使得许多实际问题仍面临困难。开发高灵敏度、低成本，小型化的传感器尤为重要。本文综述了叉指微电极的研究进展，介绍了基于叉指微电极的传感器在各领域的广泛应用。小型真空探针台郑科探 KT-Z4019MRL4T是一款高性价比配置的真空高低温探针台，功能，价格较低等特点。高温400℃ 低-196℃ 测试噪声小于5E-13A 可扩展上下双透视窗口用于光电测试 可扩展凹视镜。公司致力于各类探针台，（包括手动与自动探针台、双面探针台、真空探针台、）、显微镜成像、光电一体化的技术研发，拥有国内专业的技术研发团队，在探针台电学量测方面拥有近十年的经验团队。微电容单通道叉指电极高低温探针台微电容单通道叉指电极高低温探针台KT-Z4019MRL4T真空腔体类型高温型室温到400℃高低温型 室温到400℃ 室温到-196℃腔体材质304不锈钢 6061铝合金 可选腔体内尺寸127mmX57mmX20mm腔体外尺寸150mmX80mmX32mm腔体重量不锈钢材质 约1.5KG 铝合金材质 约0.5KG腔体上视窗尺寸Φ42mm（可选配凹视窗用于减少窗口和样品之间距离）腔体抽气口KF16法兰（其余接口规格可转接）腔体真空测量口KF16法兰（其余接口规格可转接）腔体进气口6mm快拧 或 6mm快插腔体冷却方式腔体水冷+上盖气冷腔体水冷接口腔体正压≤0.05MPa腔体真空度机械泵≤5Pa （5分钟） 分子泵≤5E-3Pa（30分钟）样品台样品台材质不锈钢 银铜合金 纯银块银铜合金 纯银块样品台尺寸26x26mm样品台加热方式电阻加热电阻加热 液氮制冷样品台-视窗 距离11mm（可选配凹视窗用于减少窗口和样品之间距离到6mm）样品台测温传感器PT100型热电阻样品台温度室温到400℃室温到400℃ 室温到-196℃样品台测温误差±0.5℃样品台升温速率高温100℃/min 低温7℃/min温控仪温度显示 7寸人机界面温控类型标准PID温控 +自整定温度分辨率0.1℃温控精度±0.5℃温度信号输入类型PT100 （可选K S B型热电偶）温控输出直流线性电源加热直流线性电源加热+液氮流速控制器辅助功能温度数据采集并导出 实时温度曲线+历史温度曲线 可扩展真空读数接口温控器尺寸32cmX170cmX380cm温控器重量约5.6KG探针电信号接头配线转接 BNC接头 BNC三同轴接头 SMA 接头 香蕉插头 线长1.2米电学性能绝缘电阻 ≥4000MΩ 介质耐压 ≤200V 电流噪声 ≤10pA探针数量4探针（可扩展5探针）探针材质镀金钨针 （其他材质可选）探针尖10μm手动探针移动平台X轴移动行程20mm ±10mm（需手动推动滑台）X轴控制精度≥500μmR轴移动行程120° ±60°（需手动旋转探针杆）R轴控制精度≥500μmZ轴移动行程2mm ±1mmZ轴控制精度≤50μm（需手动螺纹调节探针杆）

概述：采用四端测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，实验室；是检验和分析导体材料和半导体材料质量的工具。可配置不同测量装置测试不同类型材料之电阻率。液晶显示，温度补偿功能，自动量程，自动测量电阻，电阻率，电导率数据。恒流源输出；选配：PC软件过程数据处理和标准电阻校准仪器，薄膜按键操作简单，中文或英文两种语言界面选择，电位差计和电流计或数字电压表，量程为1mV¯ 100mV,分辨率为0.1%，直流输入阻抗不小250μm的半球形或半径为50 μm~125 μm的平的圆截面。探针(带有弹簧及外引线)之间或探针系统其他部分之间的绝缘电照至少为10°Ω.探针排列和间距，四探针应以等距离直线排列，探针阀距及针突状况应符合GB/T 552 中的规定。R=1(R +R, )…………………………(3)R2=与(R +R，)计算试样平均直径D与平均操针间距S之比，由表3中查出修正因子F，也可以见GB/T11073中规定的几何修正因子。 9.4计算几何修正因子F，见式(4)。对于薄层厚度小于3μm的试样，选用针尖半径为100μm250μm的半球形探针或针尖率径为50μm~125 pm平头探针，针尖与试样间压力为0.3 N¯ 0.8Ni对于薄层厚度不小于3μ的试样，选用针尖半径为35μm100 pm 半球形操针，针尖与试样间压力不大于 0.3 N.Rr=V R,/V=V/I,…… … 标准要求：该仪器设计符合单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。

1. 产品概述：探针台是一种精密的电子测试设备，主要用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。它广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量，旨在确保产品质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。探针台通常由载物台（样品台）、光学元件、卡盘、探针卡、探针夹具及电缆组件等部分组成，其核心部件包括x-y工作台，该工作台的结构对探针台的性能和使用体验有重要影响。2.设备用途/原理：晶圆检测：在半导体制造过程中，探针台主要用于晶圆制造环节的晶圆检测，确保晶圆上的晶粒依次与探针接触并逐个测试，实现更加精确的数据测试测量。芯片研发和故障分析：探针台可用于芯片研发过程中的原型验证和性能评估，帮助工程师及时发现和解决潜在问题，优化芯片设计。同时，它也可用于芯片的故障分析，定位问题区域。封装检测：在封装工艺之前，探针台用于对芯片进行CP测试（Chip Probing Test），确保封装前的芯片性能符合标准。其他应用：探针台还广泛应用于光电检测、功率器件测试、MEMS测试、PCB测试、液晶面板测试、测量表面电阻率测试、精密仪器生产检测、航空航天实验等领域。3.设备特点 1 高精度定位：探针台配备高精度的定位系统和微调机构，能够精确地将探针定位到芯片上的指定测试点，并实现稳定的接触，确保测试的准确性和可靠性。 2 多功能性：探针台支持多种测试需求，包括电压、电流、电阻、频率、温度等参数的测量，以及小电流量测、电容量测、高压量测、R/F量测、I/O点量测等。 3 高效测试：探针台支持多点测试，能够同时测试芯片上的多个测试点，提高测试效率。此外，一些先进的探针台还具备自动化功能，能够自动完成测试序列，进一步减少人工干预。4.设备参数可移动压板，高度调节 40 mm，接触/分离行程 200 μm，重复精度± 1 μm具有可调摩擦力和阶段锁定的卡盘阶段，独特的Z轴卡盘调整和90毫米的拉出磁性定位器具有 1 μm 特征分辨率和 3 个带精密滚珠轴承的线性轴包括匹配的电缆和基材射频卡盘 ±3 μm 表面平面度独特的 200 μm 压板接触/分离行程，精度≤± 1 μm，可实现可重复接触

TeraSpike THz近场探针 微区探针(TeraSpike microprobe series)品牌：Protemics型号：TeraSpike TD-800-XTeraSpike是新一代的微探针，用于太赫兹频率范围内电场的光电导检测。基于客户的反馈和不断增长的应用驱动的需求，我们对近场探针进行了彻底的重新设计并且开发成功。新的探针是一款多用途表面近场电场探测器，适用于太赫兹波长范围内，具有前所未有的性能，可靠并且可适应。它可以完美地集成到太赫兹时域系统，在860 nm以下光激发，这是最高性价比的解决方案，将您的系统变成功能强大的高分辨率近场太赫兹系统。 。产品特点：市场上最小的THz探针专利设计空间分辨率可达3um探测频率范围：0-4THz适用于所有基于激光的THz系统安装可兼容标准的光机械组建典型激发光强度1-15mW（1-5uJ/cm2）集成过载保护电路应用：太赫兹研究：超材料，等离子体，石墨烯，波导高分辨率太赫兹近场成像 非接触式薄膜电阻半导体成像MMIC器件特性分析 无损检测芯片时域反射计（TDR）测量脉冲激发的THz超物质表面的近场图像测量激光刻蚀多晶硅晶圆的薄层导电率图像 基于飞秒激光的THz系统 THz探针典型参数TeraSpike TD-800-X-HR HRS Max. spatial resolution3 μm20 μmPC gap size1.5 μm2 μmDark current @ 1 V Bias 0.5 nA 0.5 nAPhotocurrent (*) 1 μA 0.6 μAExcitation wavelength700 .. 860 nmAvg. excitation power0.1 .. 4 mWConnection typeSMP元素路径: body p img当前已输入818个字符, 您还可以输入9182个字符。

PXB-S系列探针台 PXB-S系列探针台主要特点●可选配高温测试环境●可选直筒显微镜和体式显微镜●载物台可Z轴升降●载物台Theta可粗调360°, 微调±7 °●载物台XY移动分辨率为1um。●可选配高压高流测试环境●快速装片并可任意位置锁定功能●显微镜支架万向杆PXB-S系列探针台应用领域●Failure analysis 集成电路失效分析●Wafer level reliability 晶元可靠性认证●Device characterization 元器件特性量测●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) ●IC Process monitoring 制成监控●Package part probing IC封装阶段打线品质测试●ESD&TDR testing ESD和TDR测试 ●Microwave probing 微波量测(高频测试)●Solar太阳能领域检测分析●LED 、OLED 、LCD领域检测分析●PCB领域检测分析●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试PXB-M系列探针台 PXB-M系列探针台主要特点●可选配高温测试环境●可选直筒显微镜， 体式显微镜或金相显微镜●载物台可Z轴升降●载物台Theta可粗调360°, 微调±7 °●载物台XY移动分辨率为1um●可选配高压高流测试环境●快速装片并可任意位置锁定功能●稳定型显微镜桥架， 移动分辨率为2um， 显微镜气动升降PXB-M系列探针台应用领域●Failure analysis 集成电路失效分析●Wafer level reliability 晶元可靠性认证●Device characterization 元器件特性量测●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) ●IC Process monitoring 制成监控●Package part probing IC封装阶段打线品质测试●ESD& TDR testing ESD和TDR测试●Microwave probing 微波量测(高频测试)●Solar太阳能领域检测分析●LED 、OLED 、LCD领域检测分析●PCB领域检测分析●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试PXB-E系列探针台 PXB-E系列探针台主要特点●可选配高温测试环境●可选直筒显微镜， 体式显微镜或金相显微镜●载物台气浮快速移动●可选配高压高流测试环境●快速装片并可任意位置锁定功能●稳定型显微镜桥架， 移动分辨率为2um， 显微镜气动升降●Platen 三阶抬杆， 微调移动行程为40mm，抬杆重复性精度为2umPXB-E系列探针台应用领域●Failure analysis 集成电路失效分析●Wafer level reliability 晶元可靠性认证●Device characterization 元器件特性量测●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) ●IC Process monitoring 制成监控●Package part probing IC封装阶段打线品质测试●ESD&TDR testing ESD和TDR测试●Microwave probing 微波量测(高频测试)●Solar太阳能领域检测分析 ●LED 、OLED 、LCD领域检测分析●PCB领域检测分析●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试PXB-BE系列探针台PXB-BE系列探针台主要特点●可选配高温测试环境●可选直筒显微镜， 体式显微镜或金相显微镜●载物台气浮快速移动， 三档控制，X轴独立控制，Y轴独立控制，XY同步控制，XY同步控制●可选配高压高流测试环境●快速装片并可任意位置锁定功能●稳定型显微镜桥架， 移动分辨率为2um， 显微镜气动升降●Platen 二阶抬杆， 微调移动行程为60mm，抬杆重复性精度为1um●配置独立控制压力阀PXB-BE系列探针台应用领域●Failure analysis 集成电路失效分析●Wafer level reliability 晶元可靠性认证●Device characterization 元器件特性量测●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) ●IC Process monitoring 制成监控●Package part probing IC封装阶段打线品质测试●ESD&TDR testing ESD和TDR测试●Microwave probing 微波量测(高频测试)●Solar太阳能领域检测分析●LED 、OLED 、LCD领域检测分析●PCB领域检测分析●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试PXB-BET系列探针台 PXB-BET系列高低温探针台主要特点●搭配高低温系统， 最大范围-65℃到300℃●可选直筒显微镜， 体式显微镜或金相显微镜●载物台气浮快速移动， 三档控制，X轴独立控制，Y轴独立控制，XY同步控制，XY同步控制●可选配高压高流测试环境●装片拉出装置， 定位锁住●稳定型显微镜桥架， 移动分辨率为2um， 显微镜气动升降●Platen 二阶抬杆， 一次性行程为6mm， 抬杆重复性精度为1um， 四点同步●配置独立控制气流阀PXB-BET系列高低温探针台应用领域●Failure analysis 集成电路失效分析●Wafer level reliability 晶元可靠性认证●Device characterization 元器件特性量测●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) ●IC Process monitoring 制成监控●Package part probing IC封装阶段打线品质测试●ESD&TDR testing ESD和TDR测试●Microwave probing 微波量测(高频测试)●Solar太阳能领域检测分析●LED 、OLED 、LCD领域检测分析●PCB领域检测分析●VESEL DFB,COC,硅光等光电器件测试 PXB-D系列探针台PXB-D系列探针台主要特点●可选配高温测试环境●可选直筒显微镜，体式显微镜 ●载物台气浮快速移动 ●可选配高压高流测试环境●platen上下结构，可正反面同时扎针 ●载物台双面镂空，可替换，一个镂空夹具，一个 载物台（两个吸附孔）●背置式直筒显微镜，zoom为0.58-7.5x ●Platen 微调行程为40mm，移动分辨率为1um， 四点同步PXB-D系列探针台应用领域●Failure analysis 集成电路失效分析●Wafer level reliability 晶元可靠性认证●Device characterization 元器件特性量测●Process modeling 塑性过程测试(材料特性分析) ●IC Process monitoring 制成监控●Package part probing IC封装阶段打线品质测试●ESD&TDR testing ESD和TDR测试●Microwave probing 微波量测(高频测试)●PCB领域检测分析 PXB-W系列探针台PXB-W系列探针台主要特点●可选配110Ghz，220Ghz等测试环境 ●搭配高低温系统，最大范围-65℃到300℃ ●可选直筒显微镜，体式显微镜或金相显微镜 ●载物台气浮快速移动，三档控制，X轴独立控制， Y轴独立控制，XY同步控制，XY同步控制 ●装片拉出装置，定位锁住 ●稳定型显微镜桥架，移动分辨率为2um，显微镜 气动升降 ●Platen 二阶抬杆，一次性行程为6mm，抬杆重复 性精度为1um，四点同步 ●配置独立控制气流阀PXB-W系列探针台应用领域●Microwave probing 微波量测(高频测试)PXB-PL系列探针台 PXB-PL系列探针台(定制型)针对PCB&LCD&OLED&MINI-LED研发的测试探针台主要客户：英业达，沪利，深南电路，美维，奥克斯，大金，龙腾光电，群策等PXB-VL系列探针台 PXB-VL系列探针台产品简介PXB- VL高低温真空探针台是我司自主研发的一款在极端环境下给样品加载电学信号的设备。可以实现器件及材料表征的IV/CV特性测试，射频测试 ，光电测试等。通过液氮或者压缩机制冷 ，可以在防辐射屏内营造一个稳定的测试环境。在特殊材料 ，半导体器件等研究方向具有广泛运用。一般用于相关单位实验室。 PXB-SA系列探针台PXB-SA系列探针台产品简介PXB-SA 系列探针台是一款在非真空条件下实现高低温环境的测试探针台。该产品采用气冷制冷 ，自动控温 ，设备配置非常丰富。自带屏蔽暗室 ，一方面可以屏蔽无线电磁干扰 ，另外一方面也可以保持氮气正压环境下样品在低温时无结霜。该产品多数用于相关单位实验室。PXB-SA系列探针台产品优势可搭配高低温温控系统,温度范围为-60-300℃可实现半自动测试微腔屏蔽

一、仪器介绍MT-PM100电极探针精密抛光仪是一款满足石英及玻璃材质探针以及超微电极抛光需求的精密抛光仪，配备高精密电动直线滑台控制探针（或超微电极）的上下移动，通过可调速微型电机驱动磨盘均匀且稳定地旋转，实现探针（或超微电极）针尖的精密抛光。还配备了电子显微镜和高清显示器，实时监控抛光过程，确保针尖抛光的精确性。另外，配置了高灵敏度阻抗检测单元，可以用来原位监测玻璃封装（尖端绝缘）的金属纳米电极的导电暴漏。二、主要参数抛光范围空心石英管/玻璃管、玻璃封装金属电极、碳纳米电极等磨盘面型λ/4@633 nm磨盘转速0-300 r/min可调 阻抗检测响应时间1 ms制备直径范围实心电极（≥20 nm）；空心管（≥1 um）步进速度0.001~30 um/s可调显微镜HDMI接口，含位置测量软件，可观测10 um的物体三、仪器构成及使用方法电极探针精密抛光仪整体构成如上图所示，主要由以下部分构成：电子显示屏（1）；电源开关（2）；磨盘正反向旋转按钮（3）；磨盘转速显示器（4）；磨盘转速调节器（5）；磨盘停止旋转按钮（6）；触屏显示器（7）；皮带（8）；光源（9）；步进电机（10）；电动直线滑台（11）；探针固定器（12）；抛光磨盘（13）；滤纸（14）；滤纸固定器（15）；电极夹（16）；电子显微镜（17）。电极探针精密抛光仪的触屏显示器页面如上图所示，包括手动模式和阻抗模式两种模式。“手动模式”使用系统配备的测量工具，手动测量探针需抛光的长度，设定步进距离控制探针的抛光，主要用于空心石英管/玻璃管的抛光。“阻抗模式”使用系统检测并响应阻抗的变化以控制超微电极的抛光，主要用于玻璃封装的金属电极、碳纳米电极的抛光。“Z轴回原”使探针/超微电极回到系统设定的初始高度。手动模式的使用方法：打开仪器和灯源开关，通过按钮使磨盘开始正向旋转，将配套的滤纸用去离子水润湿（通过虹吸作用在磨盘上形成一层水膜，并阻拦抛光过程中产生的碎屑），再通过按钮使磨盘停止转动以便于后续观察。将探针尾部插入通有氩气的通气管，固定在探针固定器凹槽内，设置步进距离，通过高精密电动直线滑台控制探针向下移动，直到在显微镜下观察到探针针尖及其在磨盘上的影像。使用显微镜工具页面中的“测量工具”测量并计算步进距离，下移探针至探针尖端与磨盘接触。启动磨盘转动，根据需求调节磨盘转速、探针移动速度以及步进距离，开始抛光。待剩余距离和时间归零，探针停止下移，抛光结束。阻抗模式的使用方法：打开仪器和灯源开关，将待抛光的超微电极和镍丝固定并连接电极夹，设置步进距离，步进电机向下移动，直到在显微镜下可以观察到超微电极尖端及其在磨盘上的影像。当超微电极尖端与其影像的距离接近5 um时，滴加KCl电解质溶液以覆盖超微电极和镍丝尖端。根据需求调节磨盘转速、超微电极移动速度以及步进距离，开始抛光。当仪器检测到超微电极阻抗时，会立即停止抛光并自动回原。

四探针测试仪产品名称：四探针测试仪产品型号：HCTZ-2S品牌：北京华测 一、产品介绍HCTZ-2S四探针测试仪器是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)的专用仪器。仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接显示，亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析，然后以表格，图形方式统计分析显示测试结果。HCTZ-2S双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器利用电流探针、电压探针的变换，采用两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。四探针软件测试系统是一个运行在计算机上拥有友好测试界面的用户程序，通过此测试程序辅助使用户简便地进行各项测试及获得测试数据并对测试数据进行统计分析。测试程序控制四探针测试仪进行测量并采集测试数据，把采集到的数据在计算机中加以分析，然后把测试数据以表格，图形直观地记录、显示出来。用户可对采集到的数据在电脑中保存或者打印以备日后参考和查看，还可以把采集到的数据输出到Excel中，让用户对数据进行各种数据分析。二、四探针测试探头1、使用几何尺寸十分精确的红宝石轴承，量具精度的硬质合金探针，在宝石导孔内运动，持久耐磨，测量精度高、重复性好。A.探头间距1.00㎜B.探针机械游率：±0.3%C.探针直径0.5㎜ D.探针材料：碳化钨，常温不生锈E探针间及探针与其他部分之间的绝缘电阻大于109欧姆。 2、手动测试架手动测试架探头上下由手动操作，可以用作断面单晶棒和硅片测试，探针头可上下移动距离：120mm，测试台面200x200(mm)。 三、产品应用HCTZ-2S四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，配备不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。四、产品特点 1.TVS瞬间抑制防护技术：光耦与隔离无非是提高仪器的采集的抗干扰处理,对于闪络放电过程中的浪涌对控制系统的防护起不到作用。华测的TVS瞬间抑制防护技术，将起到对控制系统的jue对防护。 2.本仪器的特点是主机配置三个数字表，在测量电阻率的同时，一块数字表适时监测全程的电流变化，及时掌控测量电流，一块显示2、3探针间的测量电压，另一块是显示当前1、4探针测量使用的电压，可以适当调整测量电压避免材料耐压不够而电压击穿被测材料。 3.主机还提供精度为0.05%的恒流源，使测量电流高度稳定。本机配有恒流源开关，在测量某些薄层材料时，可免除探针尖与被测材料之间接触火花的发生，更好地保护薄膜。采用低通滤波电流检测技术以保证采集电流的有效值，以及电流抗干扰的屏蔽。 4.探针采用碳化钨硬质合金，硬度高、常温不生锈，探针游移率在0.1～0.2%。保证了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如加配测量软件，测量硅片时可自动进行厚度、直径、探针间距的修正，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的zui大百分变化、平均百分变化、径向电阻率不均匀度，给测量带来很大方便。软件平台5.HCTZ-800系统搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电流。6.仪器通过USB转RS232连接线与电脑连接，软件可对四探针电阻率测量数据进行处理并修正测量数据，特定数据存储格式，显示变化曲线，兼容性：适用于通用电脑7.测试系统的软件平台hcpro，采用labview系统开发，符合导体、半导体材料的各项测试需求，具备强大的稳定性和安全性，并具备断电资料的保存功能，图像资料可保存恢复。兼容XP、win7、win10系统。五、软件功能具有试验电压设置功能；可选择试验标准可选择是否自定义或自动试验截止条件：时间/电压/电流 语音提示:可选择是否语音提示功能。统计报告：可自定报表格式可生出PDF、CSV、XLS文件格式分析功能：可对测试的数据进行统计。zui大/最小值、平均值等。 六、技术参数测量范围电 阻：1×10-4~2×105Ω， 分辨率：1×10-5~1×102Ω电阻率：1×10-4~2×105Ω-cm， 分辨率：1×10-5~2×102Ω-cm方 阻：5×10-4~2×105Ω/□， 分辨率：5×10-5~1×102Ω/□数字电压表量程：20.00mV~2000mV误差：±0.1%读数±2字数控恒流源量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA,1A误差：±0.1%读数±2字四探针探头碳化钨探针：Ф0.5mm，直流探针间距1.0mm，探针压力：0~2kg可调薄膜方阻探针：Ф0.7mm，直流或方形探针间距2.0mm，探针压力：0~0.6kg可调 七、注意事项1、仪器操作前请您仔细阅读使用说明书，规范操作2、轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量3、仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘进入航空插引起短接等现象4、探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针

四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪光伏测试专用美国ResMap四点探针CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67m&Omega -cm及Implant高电阻2K&Omega /□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可以装2~4个量测头,并且可以Recipe设定更换CDE　ResMap&ndash CDE　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的。 主要特点： 测量范围广,精度高,稳定性好,功能齐全强大,软件好用,维修成本低,服务好,配件齐全...美国进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪/太阳能光伏扩散薄层电阻测试仪（Four point probe(4PP)）设备名称: 四点探针电阻仪 (CDE ResMap)主机厂牌、型号与附件: CDE ResMap规格:1. Pin material: Tungsten Carbide.2. Pin compression force Typically 100 gm to 200 gm.3. 样品尺寸: 2吋至6吋晶圆 (表面须为平整的导电薄膜，半导体材料)设备用途: 导电薄膜的电阻值分布测量，半导体，光伏特点：1）针尖压力一致2）适用于各种基底材料3）友好的用户界面4）快速测量5）数据可存储 应用：1）方块电阻2）薄片电阻3）掺杂浓度4）金属层厚度5）P/N类型6）I/V测试

高温四探针测试仪 HGTZ-800型号高温四探针测试仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料在高温、真空及气氛条件下测量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，配备10英寸触摸屏，软件可保存和打印数据，自动生成报表；本仪器可显示电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电 流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导 率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购。双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度,也可应用于产品检测以及新材料电学性能研究等用途。 HGTZ-800型号系列采用电子护系统，设备的安全性；选用热电偶保定温度的采集有效值、采用SPWM 电子升压技术，电压输出稳定性好。配备高精度电压、电流传感器以保证试验数据的有效性。 HGTZ-800型号系統搭配Labview系统开发的hcpro软件，具备弹性的自定义功能，可进行电压、电 流、温度、时间等设置，符合导体、半导体材料与其它新材料测试多样化的需求。高精度的输出与测量规格，保障检测结果的品质，适用于新材料数据的检测。例如：多晶硅材料、石墨烯材料、导电功能薄膜材料、半导体材料，也可做为科研院所新材料的耐电弧性材料的性能测试。针探针测试仪做了多项安全设计，测试过程中有过电压、过电流、超温等异常情况以保证测试过程的安全；资料保存机制：当遇到电脑异常瞬时断电可将资料保存于控制器中，不丢失试验数所新开启动后可恢复原有试验数据。 应用领域： █ 多晶硅材料█ 石墨烯材料 █ 石墨功能材料 █ 半导体材料 █ 导电功能薄膜材料 █ 锗类功能材料 █ 导电玻璃（ito）材料 █ 柔性透明导电薄膜 █ 其它导电材料等 系统功能： █ 电压、电流、温度实时显示 █ 自动升压功能 █ 循环自动测试 █ 升温速度可控 █ 自动试验报表 █ 过压、过流、超温报警 █ 软件自动升级 █ 试验电压、电流可调 █ 电极方便更换 █ 在线设备诊断 系统特点： 多功能真空加热炉，一体炉膛设计、可实现、高温、真空、气氛环境下进行测试 █ 采用铂材料作为导线、以减少信号衰减、提高测试精度， █ 可以测量半导体薄膜材、薄片材料的方块电阻、电阻率； █ 可实现常温、变温、恒温条件的I-V、R-T、R-t等测量功能 █ 温度传感器、PID自动温度控制，使测量温度更准确； █ 仪器可自动计算试样的电阻率pv █ 10寸触摸屏设计，一体化设计机械结构，稳定、可靠； █ 程控电子升压技术，纹波低、TVS防护系统，保证仪器安 █ 99氧化铝陶瓷绝缘、碳化钨探针； █ huace pro 强大的控制分析软件。