当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

射线二次检测

仪器信息网射线二次检测专题为您提供2024年最新射线二次检测价格报价、厂家品牌的相关信息， 包括射线二次检测参数、型号等，不管是国产，还是进口品牌的射线二次检测您都可以在这里找到。 除此之外，仪器信息网还免费为您整合射线二次检测相关的耗材配件、试剂标物，还有射线二次检测相关的最新资讯、资料，以及射线二次检测相关的解决方案。

射线二次检测相关的论坛

  • 【求助】请教一个关于二次电子和特征X射线的比较弱的问题

    有个概念性的问题，比较弱哈扫描电镜中二次电子主要来自表面原子的价电子而特征X射线是原子的内层电子受到激发后，在能级跃迁过程中直接释放的具有特征能量和特征波长的一种电磁波辐射以前一直以为与x射线相关的这部分被激发出去的电子就是二次电子，现在看来二次电子来自不同的地方，那么这部分内层电子激发以后去了哪里？谢谢啊

  • x射线衍射、x荧光、直读光谱3种仪器检测领域

    一、直读光谱仪采用原子发射光谱学的分析原理,样品经过电弧或火花放电激发成原子蒸汽,蒸汽中原子或离子被激发后产生发射光谱,发射光谱经光导纤维进入光谱仪分光室色散成各光谱波段,根据每个元素发射波长范围,通过光电管测量每个元素的最佳谱线,每种元素发射光谱谱线强度正比于样品中该元素含量,通过内部预制校正曲线可以测定含量,直接以百分比浓度显示.己被广泛使用于几乎所有的光谱测量,分析及研 究工作中,特别适应于对微弱信号,瞬变信号的检测.二、X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成.X射线管产生入射X射线（一次X射线）,激发被测样品.受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性.探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量.然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量.广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域三、X射线衍射仪"可分为"X射线粉末衍射仪"和"X射线单晶衍射仪器".由于物质要形成比较大的单晶颗粒很困难.所以目前X射线粉末衍射技术是主流的X射线衍射分析技术.单晶衍射可以分析出物质分子内部的原子的空间结构.粉末衍射也可以分析出空间结构.但是大分子（比如蛋白质等）等复杂的很难分析.X射线粉末衍射可以1,判断物质是否为晶体.2,判断是何种晶体物质.3,判断物质的晶型.4,计算物质结构的应力.5,定量计算混合物质的比例.6,计算物质晶体结构数据.7,和其他专业相结合会有更广泛的用途.比如可以通过晶体结构来判断物质变形,变性,反应程度等

  • 二次电子检测器

    Leo 1530VP场发射扫描电镜，2001年安装投入使用，现二次电子检测器SE1不能使用了，据说是闪烁体时间长了，现在只能使用In Lens检测器，有时候感觉会不大方便，大家有碰到这种问题吗？能否修复二次电子检测器呀。

  • 原级X射线中是否含有样品元素特征的二次射线？

    原级X射线（一次X射线）为连续谱线（含各个波长的X射线），用它来激发样品中元素的特征谱线：我认为：一次X射线中含有待测元素的特征谱线，它对建立标准曲线和分析样品有啥影响？——相比被激发元素的特征谱线强度，它是否比较小，同时被样品吸收，因而可以忽略其影响呢？

  • 时代的进步。射线检测能有多久？

    随着超生检测又被重视，超声检测渐渐取代射线的主位置，射线检测很快退居二线。请问专家们射线检测能有多久的主作用？以前是100%射线的，因为要节约成本，现在都改为100%手工超声+20%射线。中物检测－专业无损检测系统解决方案服务商

  • 【求助】二次供水 检测

    各位老大: 预对一披二次供水水质进行检测,求教评价依据是哪个?《生活饮用水卫生规范》还是《二次供水设施卫生规范》GB17051-1997；还是这两个都有？？急急急谢谢了

  • 【原创】X射线荧光光谱仪基础知识普及（二）XRF工作原理及结构

    【原创】X射线荧光光谱仪基础知识普及（二）XRF工作原理及结构

    原理(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线 (一次射线)，激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线，并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的 二次射线的能量及数量。然后，仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种元素的种类及含量。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中的每 一种元素。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/04/201104141430_288815_1601823_3.jpg 结构http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/04/201104141432_288817_1601823_3.jpg仪器信息网相关讨论贴链接http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20080114/1136302/

  • 激光粒度分析中的二次衍射

    激光粒度分析中的二次衍射

    激光粒度分析中的二次衍射任中京(山东建材学院，济南，250022) 摘要本文计论了双层颗粒群产生的二次衍射，并给出了二次衍射复场分布的表达式，同时讨论了二次衍射与颗粒浓度之间的关系，找到了抑制二次衍射的最佳浓度。本文结论对于提高激光粒度仪的测量准确度具有重要意义。关键词激光：粒度分析；二次衍射引言各种激光粒度分析仅均是通过检测颗粒群的衍射谱来分析颗粒大小及其分布的。为获得正确的衍射谱。需要颗粒群散布在同一平面上。而事实上，颗粒群在检测区内很难呈二维分布。对于动态颗粒群更是如此。只要颗粒群不满足二维分布的要求，那么经颗粒衍射的光，就有可能再次发生衍射．我们把此种衍射称为二次衍射。在激光粒度分析中，二次衍射是测量误差的主要来源。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441910_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441911_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441912_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441913_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281100_441914_388_3.jpg我们注意到衍射谱归一化总能量恰好等于入射光强度I0，这是物空间与频谱空间能量守恒的结果。 (18)式定量地给出了衍射谱中各种成分之间的比例关系，为我们研究抑制二次衍射的途径提供了依据。3 抑制二次衍射的最佳浓度从(18)式可见，在衍射谱中有三种成分同时共存，它们对粒度分析的作用各不相同：透射项对粒度分析没有贡献，应尽量减少；一次衍射谱是粒度分析的依据，要尽可能增强；二次衍射谱的作为一种宽带噪声叠加在之上，应尽力抑制。此三者在谱面上的分布如图 4所示。为了找到一个抑制二次衍射的最佳比例，我们把各项强度随 K值变化的规律及典型值列于表2，取I0=I，并绘出曲线。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281101_441915_388_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305281101_441916_388_3.jpg4 结论综上所述，二次衍射谱是一次衍射谱的卷积，是叠加在一次衍射谱上的宽带噪声。二次衍射强度正等于颗粒在光轴方向重叠的几率。理论分析表明：当颗粒在分散介质中的体积浓度C0=0.17时，二次衍射可以得到有效地抑。本文讨论仅限于二次衍射，对于三维分布题粒产生的高次衍射，有待进一步研究。参考文献l J.W.顾德门.付立叶光学导论。北京：科学出版社，19792 REN，Z.J.eta1.PARTICUOIAJGY，1988

  • X射线衍射仪与X射线荧光光谱仪有什么不同？

    X射线衍射仪简称XRD（ X-ray diffractometer ），特征X射线及其衍射X射线是一种波长（0.06-20nm）很短的电磁波，能穿透一定厚度的物质，并能使荧光物质发光、照相机乳胶感光、气体电离。用高能电子束轰击金属靶产生X射线，它具有靶中元素相对应的特定波长，称为特征X射线。如铜靶对应的X射线波长为0.154056 nm。X射线荧光光谱仪简称XRF( X Ray Fluorescence )，人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。X射线照在物质上而产生的次级 X射线被称为X射线荧光。利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中铍以后的每一种元素。在实际应用中，有效的元素测量范围为9号元素 （F）到92号元素（U）。

  • 【原创大赛】二次电子与背散射电子成像区别

    【原创大赛】二次电子与背散射电子成像区别

    [align=center][b]二次电子与背散射电子成像区别[/b][/align] 二次电子检测器和背散射电子检测器是扫描电子显微镜常用检测器。二次电子检测器成像速度快，在快速扫描时很容易对焦，图像立体感强，背散射电子检测器在快速扫描时图像有带状条纹，对焦成像条件一般依赖二次电子检测器（即在调整好二次电子像参数后启动背散射电子检测器成像）。 散射电子检测器一般是被嫌弃的，因为它成像分辨率低（图1）。造成分辨率不同的原因是二者检测的信号源不同。二次电子（SE）的能量小于50ev，二次电子信号主要来自试样表层，深度大约5～10 nm，反映试样表面的形貌。背散射电子（BSE）是受到试样原子核的弹性和非弹性散射而被反射回的一部分入射电子，能量大于二次电子(SE)（图2）[sup][/sup]。一般来说，背散射电子的能量大于50ev，背散射电子反映试样表面50～200 nm深度的信息，激发区域大于二次电子。[img=,690,282]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807261522354238_7646_2265735_3.jpg!w690x282.jpg[/img][b]图1 金纳米粒子二次电子图像(A)和背散射电子图像（B）。[/b]背散射电子图像分辨率低于二次电子图像(图中红色箭头指示处)。JEOL-7800F扫描电子显微镜，工作距离10mm。[img=,690,518]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807261523412701_7969_2265735_3.png!w690x518.jpg[/img][b]图2 当加速电子轰击分析物激发的各种信号[sup][/sup][/b]。二次电子（SE）和背散射电子（BSE）是扫描电镜成像的基础信号。 二次电子和背散射电子有一定的方向性，背散射电子更加靠近入射法线。一般二次电子的探测器装在电镜样品仓侧面（在物镜内部，小工作距离的高分辨二次电子探头不在这里讨论）,背散射探头的探测晶体直接安装在物镜下面，中心与物镜光学中心重合。探测器的安装位置和电子不同的反射角度会影响图像的明暗。图3是硅球的扫描电镜图。二次电子图像的有较大阴影，球的中心位置阴影最明显，与之相反背散射电子图像球的中心位置最亮。[img=,690,266]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807261527144207_5694_2265735_3.png!w690x266.jpg[/img][b]图3 硅球的二次电子图像(A)和背散射电子图像（B）[/b]。JEOL-7800F扫描电子显微镜，工作距离10mm。 背散射电子检测器也有自己的独特之处，有的时候可以成功逆袭二次电子探测器。背散射电子图像具有一定的Z轴衬度，与晶体取向有关，电子强度与物质组成有关，可以显示样品内部结构，也就是说背散射电子图像可以用来分析复合材料。在试验条件相同的情况下，背散射电子信号的强度随分析物[b]平均原子序数[/b]增大而增强，在样品表层平均原子序数较大 的区域，产生的背散射信号强度较高[sup][/sup]。目前商品化的背散射电子检测器可以区分元素周期表相邻的两个元素。图4显示在基底上镀镍（28号元素）和铜（29号元素），在二次电子图像上几乎看不出是两个不同的镀层，能谱分析显示两个镀层有明显的界限，背散射电子图像不仅可以完美区分两个镀层，对镀层的缺陷也比背散射电子图像更加明确的呈现出来。[img=,690,349]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/07/201807261530426736_7830_2265735_3.png!w690x349.jpg[/img][b][b]图4 不同镀层的扫描电子显微镜分析[/b]。A，二次电子图像；B，EDS能谱图像；C,背散射电子图像。JEOL-7800F扫描电子显微镜，工作距离10mm。牛津（oxford）能谱仪。[/b] 目前扫描电镜分析已经逐渐脱离单纯的形貌分析，组成和相分析更加有助于我们深刻理解材料的构成和性质。我们在常规扫描电镜实验中，调用一下常常被忽略的背散射电子检测器，在几乎不增加工作量的情况下也许会有意外的收获。[b]参考文献[/b] 1.JEOL指导手册,A Guide to Scanning Microscope Observation 2.Bozzola, J.J., Russell, L.D., 1999.Electron Microscopy: Principles and Techniques for Biologists, 2nd ed. Jonesand Bartlett Publishers, Boston, NY.

  • 【分享】X射线应力检测

    本单位拥有一流的X射线衍射仪和应力测定仪，可以完成多晶体试样的X射线检测工作，欢迎有需要的朋友和我联系。邮箱wyj8485@163.com.联系电话13311320037。

  • 【讨论】低真空二次电子检测原理及探头类型

    现在低真空（包括环境真空）电镜很时髦。本人想了解一下：1、在低真空时，二次电子是如何检测的；2、低真空二次电子探测器由哪些类型及其各自的特点。3、低真空下二次电子像分辨率到底有多高？能和高真空一样吗？我想很多同仁也都会对此感兴趣。望资深大侠不吝传教。

  • 请问上海哪里可以测X射线荧光检测

    请问上海哪里可以测X射线荧光检测，有个客户需要用X射线荧光检测小分子中痕量杂质和金属元素，不知上海哪家单位可检测，需要多少量，费用多少？谢谢大家！

  • XRD衍射仪X光管产生X射线检测样品的深度

    在XRD衍射仪中X光管产生的X射线检测样品的深度一般是多少，与测样光束的宽度有没有直接关系？与待测样品的材质有没有关系？与衍射光路的接收器（探测器）有没有关系？X射线对测样的深度能否根据需求进行调节？待测样品的高度对X射线检测有何影响，待测样品越高检测的2Theta的起始角越大？

  • X-射线检测机

    我们工厂的X-射线检测机检测不出塑料和树脂有那位专家给些建议谢谢！

  • 【资料】细菌总数在二次供水检测中准确度的控制

    细菌总数在二次供水检测中准确度的控制 徐霞君 (深圳市水质检测中心) 摘 要：二次供水水样中细菌总数检测结果的准确度往往受多方面因素的影响，具体表现在取样、培养基的配备、培养条件、无菌室实验操作、计数及后处理等。本文对各影响因素中的各个细节提出规范对策，从而使二次供水细菌总数在检测中的准确度得以控制。 关键词：细菌总数、二次供水、检测、准确度、控制 　 二次供水是生活饮用水二次供水的简称，是指通过二次供水设施间接向用户供给生活饮用水的行为，二次供水设施主要为地下水池与天面水池，按《深圳经济特区生活饮用水二次供水管理》规定，每年至少清洗消毒二次，消毒方式有氯消毒、二氧化氯消毒、臭氧消毒、紫外线消毒等，消毒完成后，由专业清洗机构及时通知市水质检测中心进行取样检测。我水质检测中心在对二次供水8项指标(色度、浑浊度、肉眼可见物、PH、细菌总数、总大肠菌群、余氯)的检测中，在统计其月检不合格率时，其中因细菌总数超标引起二次供水水质不合格的占绝大多数。我们在不排斥原水样的超标外（市政水在经过不合格的二次供水水箱设施时受到一次污染），但也存在二次供水水样的细菌总数在检测中受到二次污染，即在检测中受到各种因素的影响，具体表现在取样、培养基的配备、培养条件、无菌室实验操作、计数及后处理等。因此，要提高二次供水水样细菌总数的准确度，必须对各影响因素进行规范控制。 1 取样中的规范 取样中存在的规范控制主要表现在取样瓶灭菌和水样的采集与保存两方面。 1.1 取样瓶的灭菌 取样瓶必须是清洁无菌的，一般用磨砂口带塞瓶，瓶的颈部和上部必须用锡泊纸覆盖，在160~170℃的烘箱内经干热灭菌2h方能达到灭菌目的。有的技术人员把取样瓶的消毒时间控制为1h，灭菌不彻底。因各种微生物对热的抵抗力不同，芽孢需要160℃、2h才能杀死。 灭菌后的采样瓶，两周内未使用，需重新灭菌。已灭菌和封包好的采样瓶，不论在什么条件下采样时，均要小心开启包装纸和瓶盖，应避免瓶盖和瓶子颈部受杂菌污染。 1.2 水样的采集与保存 采样时,不要用水样冲洗采样瓶，因余氯的存在会影响待测水样在采集时所指示的真正细菌含量，为去除余氯，于灭菌前按500ml采样瓶内加0.3ml10%Na2S2O3溶液，瓶内须留足够空间，一般采样量为瓶容量的80％左右，以便操作时摇匀，以获得具有代表性的样品。

  • X射线衍射物相分析与应力检测设备有和区别？

    用X射线做应力分析与物相分析的原理基本都是一样的，都是利用了X射线的衍射，看有资料介绍说是应力检测时会有一个特殊的附件。请问有没有了解这一块的大神能给详细的说一下。另外想采购X射线应力检测设备，有什么推荐的吗？国外有哪些品牌？国内有哪些品牌？综合权衡一下

  • 【求助】X射线泄漏检测如何进行

    请问关于检测EDXRF的X射线的泄漏情况时：1、应该找哪个机构进行？（例如计量机构，商检局等等）2、请问具体流程是怎样的？（例如需要办什么手续，中途还需要做些什么工作等等）3、请问做一次的费用是多少？4、请问是否只是到现场检测一次就结束了，是否还需要用剂量计来检测？请各位朋友帮忙解答。先谢谢了！也可以把资料发到我的邮箱里：lightning1980@sina.com

  • 【求助】关于射线防护与检测？

    本想在仪器和电脑间做个隔断，可领导觉得贵；想找疾控中心检测吧，手续又挺麻烦...现在我想买个射线检测仪，自己测下，查到一家Inspector多功能射线仪，报价7000，不知道有用过的吗？灵敏吗？可靠吗？多谢帮助，不胜感激！

  • 【分享】GB/T 23901-2009 《无损检测 射线照相底片像质》

    [size=3]GB/T 23901-2009 《无损检测 射线照相底片像质》共分为五部分：GB/T 23901.1-2009 无损检测 射线照相底片像质 第1部分：线型像质计像质指数的测定GB/T 23901.2-2009 无损检测 射线照相底片像质 第2部分：阶梯孔型像质计像质指数的测定GB/T 23901.3-2009 无损检测 射线照相底片像质 第3部分：黑色金属像质分类GB/T 23901.4-2009 无损检测 射线照相底片像质 第4部分：像质指数和像质表的试验评价GB/T 23901.5-2009 无损检测 射线照相底片像质 第5部分：双线型像质计图像不清晰度的测定[/size][b][b][size=3][/size][/b][/b]

  • 求助 GB/T 3323.1-2019 焊缝无损检测 射线检测 第1部分：X和伽玛射线的胶片技术

    [table][tr][td][url=https://std.samr.gov.cn/gb/search/gbDetailed?id=91890A0DA65580C6E05397BE0A0A065D][color=#0a5ca8]GB/T 3323.1-2019[/color] 焊缝无损检测 射线检测 第1部分：X和伽玛射线的胶片技术[/url][/td][/tr][/table]资料中心的GB/ 3323.1实际为.2部分。[table][tr][td][url=https://std.samr.gov.cn/gb/search/gbDetailed?id=91890A0DA65580C6E05397BE0A0A065D][color=#0a5ca8]GB/T 3323.1-2019[/color] 焊缝无损检测 射线检测 第1部分：X和伽玛射线的胶片技术[/url][/td][/tr][/table]

  • 波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的比较

    虽然波长色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（WD-XRF）X射线荧光光谱仪同属X射线荧光分析仪，它们产生信号的方法相同，最后得到的波谱或者能谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，ED-XRF（波谱）与ED-XRF（能谱）在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。　　（一）原理区别　　X-射线荧光光谱法，是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪（WD-XRF）是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同，故仪器结构也不同。　　（二）结构区别　　波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X-射线管的功率要大，一般为２～３千瓦。但X-射线管的效率极低，只有１％的电功率转化为X-射线辐射功率，大部分电能均转化为热能产生高温，所以X-射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室和检测系统等组成，与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它用不分光晶体。由于这一特点，使能量色散型荧光光仪具有如下优点：　　①仪器结构简单，省略了晶体的精密运动装置，也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低，一般在100W以下，不需要昂贵的高压发生器和冷却系统，空气冷却即可，节省电力。　　②能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近，X-射线的利用率很高，不需要光学聚集，在累积整个光谱时，对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感，对样品形状也无特殊要求。　　③在能量色散谱仪中，样品发出的全部特征X-射线光子同时进入检测器，这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱（包括背景）的基础，也能清楚地表明背景和干扰线。因此，半导体检测器X-射线光谱仪能比晶体X-射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。　　④能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度，而不是峰顶强度。因此，减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响，提高净计数的统计精度，可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素，而不是按特定谱线分析特定元素。因此，见笑了偶然错误判断某元素的可能性。（选自网络，侵删）

  • 【求助】做材料中石棉检测,那种X射线衍射仪好?

    想做材料中石棉检测,同时还想做为涂料中重金属检测的筛选? 请问这两种检测可以同时实现吗? 能定量到什么程度?那种X射线衍射仪好? 资料只说是X射线衍射仪,以前没接触过,这个领域什么X射线衍射仪好,那个牌子和型号,价格大约多少, 用起来复杂不? 需要什么专业的人员操作? 了解的指点一下, 谢谢.另外再弱弱问一下,X射线衍射仪和X射线荧光光谱仪 有啥区别,都用在那里?

  • 【资料】JB4730[1].2—2005射线检测

    JB4730[1].2—2005射线检测[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=63533]JB4730(1).2—2005射线检测[/url]

Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ，All Rights Reserved版权所有，未经书面授权，页面内容不得以任何形式进行复制