能量射线射仪

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

JSX-1000S是日本电子在2014年3月在全世界同步推出的最新一款能量色散X射线荧光元素分析仪，软件设计简单，操作极为方便；灵敏度高、效率好；还未不同的应用专门设计的特色软件应对，实现了准确、高效的元素分析，应用范围极为广泛。 JSX-1000S由设计顶级设计团队设计外观，洋溢现代美感，充分体现了该仪器的高端气质。 主要技术指标：探测范围:标准配置Mg～U 选配Na～U X-射线发生装置：5～50　kV , 1mA靶材：Rh过滤器（最大九种）：标准配置OPEN, ND, Cr, Pb, Cd　；选配Cl, Cu, Mo, Sb检测器：硅漂移探头样品室尺寸：300mmφ×80mmH样品室真空：标准配置（大气）；选配真空样品室内观察系统：彩色相机分析软件：定性分析、定量分析、RoHS对应软件（Cd,Pb,Hg,Br,Cr)、简易分析软件、报告书软件、日常检查软件等

追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200 ü无损分析，保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样)新升级———降低分析成本————l阈值算法优化，有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级，降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管，有效提高高湿度地区光管使用寿命

能量色散X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分析方法。不管是块状样品、粉末样品还是液体样品，位于元素周期表上从4号元素铍（Be）到92号元素铀（U）之间的几乎所有元素都可以进行精确的定性、定量和无标样分析。根据不同的应用要求，其分析浓度范围可从0.1ppm到100%，而且即使高至100%的元素浓度也能直接进行测量而无须进行稀释。XRF分析法具有样品制备简单、测定元素范围广、测定精度高、重现性好、测量速度快（30s-900s）、无环境污染、不破坏样品等特点。 XRF法广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域，在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。具体应用见以下说明： ●电子、塑胶、五金材料：各种电子元件、五金件、塑胶原料及制品、线路板等。●纸张及纸原料：纸原料、各种纸张、调色剂、油墨等。●石油、煤炭：石油、润滑油、重油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等。●陶瓷、水泥：陶瓷、耐火材料、岩石、玻璃、水泥、水泥原料和生料、熟料、石灰石、高岭土、粘土等。●农业、食品：土壤、农药残留物、肥料、植物、各种食品等。●有色金属：铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等。●钢铁：生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、高合金钢、特种钢、铁合金、铁矿石、炉渣、电镀液、铸造砂等。●化学工业：无机有机物及制品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂、催化剂、涂料、颜料、药品、化学纤维等。●环境：各种废弃物、工业废物、大气粉尘、工业废水、海水、河水等。●生物科学：有机体、辅助物等。 X射线荧光分析基本原理各种元素的核外电子轨道位能互不相同，因此，受激发后发出的X射线光子能量互不相同，即每种元素发射该元素原子所特有能量的X射线，代表了该元素的特征，因此称作该元素的特征X射线。每种元素的特征X射线具有其特定的能量，检测到此种能量的X射线，即可以确定物质样品中有该元素存在。 能量色散X射线荧光仪器原理X光管加高压产生的原级X射线经过滤光片适当过滤后照射到样品上，激发样品中所含元素的特征X射线(称为X射线荧光)，使用具有高能量分辨率的X射线探测器，得到X射线荧光能谱，不同的元素在谱图上形成不同的谱峰。谱峰的强度与样品中元素的含量成正比关系，通过计算机对探测器检测到的能谱进行解析，以谱峰位置和形状对样品中含有的元素种类进行定性，用谱峰强度对元素成分进行定量分析。 能谱仪简介：能量色散X射线荧光光谱仪是采用能量色散X荧光分析技术，同时测量多种元素的分析仪器，根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。该仪器可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业。是企业质量控制的理想选择。 整机性能：●Si(PIN)或SDD半导体制冷探测器探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一 分 辨 率 145eV (分辨率越低则灵敏度越高)计 数 率 1000/S晶体面积 15平方毫米铍窗厚度 = 0.025mm探测功率 1.2W ●多道脉冲幅度分析器（俗称谱仪能量刻度）通道数：2048道 ●电源控制器系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制 400 VDC ●低功率小型侧窗X射线发生器（俗称X光管）经过内部嵌铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。 罐绝缘油用于高压绝缘和冷却，0.005英寸铍窗标准窗口，额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命15000小时。 ●高压发生器输 入：85～265Vac,47～63Hz,功率因数校正。 1kV～5kV的型号符合UL85～250Vac输入标准电压变动率：无负载到满负载，输出电压的0.01%电流变动率：0～额定电压，输出电流的0.01%纹 波：输出电压的0.25%峰-峰 温度系数：电压或电流调定，0.01%/℃ 稳 定 性：预热半小时后，0.05%/8小时 ●滤光片自动转换系统滤光片自动转换系统：6种滤光片自动选择并自动转换（滤光片作用：改善激发源的谱线能谱成分，在进行多元素分析时，用来抑制高含量组分的强X射线荧光，提高待测元素的测量精度）。 ●安全防辐射系统1、重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理（从源头做起）2、全封闭铅板双层防辐设计（从设计结构做起）3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置4、样品盖意外开启X射线强制中断装置 5、延时测试与X射线警示系统 ●针对ROHS指令限制使用有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限为2ppm ●强大的分析软件工作站1．一键式的操作软件，简单易用，无需专业知识。2．人性化的人机界面3．各种测试参数无需操作人员设定，强大定制报告功能。4．测试数据自动存储，具有历史查询功能。5．最前沿的定性定量分析方法。6．可同时分析几十种元素。7．元素分析快速，分析时间从30秒到900秒可调。8．长时间待机不用，自动降低管压、管流，延长X光管寿命。9．对X射线管进行温度管控，保护X射线管并延长它寿命。10．实时监测仪器运行状态，轻易维护仪器。11.防止在测试样品时打开样品盖的误操作，软件有警示操作提示，同时关闭高压电源。

X射线荧光分析法的原理特点X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子则向外发射原子特有的X射线。这种X射线被称为荧光X射线，各元素具有特定的波长（能量）。因此，通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外，荧光X射线的强度与浓度具有函数关系，检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。图为用波尔模型说明电子轨道和荧光X射线产生的原理满足所有领域不同的应用■ 电子电气 RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测■ 钢铁非金属 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫元素的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析玩具日用品中有害重金属元素测定等

单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪产品介绍： 单色能量色散Ｘ射线荧光元素分析仪能在更短的时间内检测更多的样品，能进行更为che底的分析 ， 提高现场修复土地和土地分级。适用浓度范围宽，从20μg/kg至100％均适用；食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测；可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素。应用方向：可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析，可直接测量＞15种无机污染物， 是食品和农作物快检抽查工作的筛选综合工具；快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素。适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测；技术参数：测试时间（单位：S）：30s-1200s检测元素范围：Al-U之间的40种元素探测器：Fast SDD 探测器应用方向：食品、药品、水质、土壤等电源：110-240 VAC工作温度：-5℃-50℃重量：＜9 kg尺寸：30ｃｍW*23ｃｍL*26ｃｍH

主要特点： . 准确测定黄金、铂金、银饰品中的金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铱等元素含量，根据定义 给出符合国标 GB/T18043 要求的测试结果； . 自动识别样品类型，自动切换不同类型首饰样品的测试模式； . 仪器内置标准样品，具备自动校正功能，开机自动完成能量刻度、标准曲线校正、预热一系 列动作，免除人为操作带来的误差和错误； . 一键式测试操作，开启软件并放入样品后，按下一键即可完成测试获得结果，免除所有繁琐 复杂的手工设置和操作； . 具备高级自定义测试功能，开放各种参数调试调整，可建立自定义标准曲线，可保存或导入 导出自定义的数据库和测试模式。1.XRF6C能量射线荧光分析仪特点 （注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。先进多光束可调系统；高分辨率SDD 硅漂移探测器；快速定性分析；完善的辐射安全防护；RoHS/WEEE 指令元素快速分析； 内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群； 内置各类标准样品曲线数据库。2.XRF6C能量射线荧光分析仪参数元素分析范围：AI-U 含量分析范围：1ppm~99.99%重复性：＜5%测量时间：一般60~300s 测量对象：块状物体、粉末、液体 激发功率：50W探测器分辨率：149gev输入电源：AC110V/220V 高压电源：0~50kv/0~1mAX射线辐射剂量：≤1Sv/h3.XRF6C能量射线荧光分析仪部分元素 在低数值中可检出代表性元素120s可检出限LOD(mg/kg)性能指标塑料基体CrBrCdHgPbLOD82445

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用三重射线防护系统（软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计），彻底杜绝各种工作情况下的辐射泄露。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用独创设计的组合式短光路光路盘，显著提高检测灵敏度，降低检测限。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用大型样品室，无需破坏和前期处理即可测量比较大的样品。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪软件工作站一键式操作，简单易用，使用方便，人机交互友好，无需专业知识。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪从S到U的快速元素分析，测量时间可调。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪多达15组复合滤光片，X射线照射径从1mm到7mm可选。强大的自主定制分析报告格式功能，分析报告可保存为 PDF 和 Excel 两种格式，分析结果自动保存，可方便对历史数据进行查询及统计，只需一次点击即可输出数据。软件可视频观察样品的位置，并且对样品进行拍照，样品图片显示在测试报告中。可进行谱图比对，对不同元素含量的谱图进行比对，进行材料识别。采用经典的定性定量分析方法，全面保证测试数据的准确性。开放式校准曲线平台，可为客户量身定做有害物质检测方案。

能量色散X射线荧光（EDXRF）是一种常规的分析技术，广泛用于各种样品类型中主要元素及微量元素的半定量和精确定量分析。其广泛的实用性源于：快速、准确、无损的多元素分析；元素分析范围涵盖从钠（Na）至铀（U）；含量分析范围从低的PPM级到高的百分含量（wt%）。 日本理学NEX CG功能多样，可以实现各种类型样品的常规分析。从均匀、低粘性的液态样品，到固态、金属、泥浆、粉末和胶状样品。特别适用于对成分完全未知的样品进行半定量分析。NEX CG欠打的分析能力，灵活、方便的使用性，使其在科研、工业及现场检测领域有着广泛的需求。 独立的2次靶光学系统、能为范围广泛的元素提供很好分析。钠 (Na) 、镁(Mg)、氯(Cl)等用EDX分析比较困难的元素也能用NEX CG进行分析。能量色散X射线荧光（EDXRF）分析的特点*检测样品完全无损*元素分析从钠（Na）至铀（U）*适用于固态、液态、粉末及稀薄样品*偏振式激发使检出限（LOD）更低*无需标准样品即可进行半定量分析*使用RPE-SQX软件减少对标样需求*独特的光谱重叠处理方法使误差降低*EZ分析程序用户界面简单

弯晶产品系列1、弯晶概述北京泰坤工业设备有限公司开发各类型X射线衍射弯晶。提供多种材料的弯晶制备， 如石墨、氟化锂晶体系列、锗和硅等；同时致力于开发多种 结构的弯晶构型，包括约翰型、约翰森、对数螺线、椭球和 Von Hamos等。弯晶广泛应用于单色X射线荧光激发、同时多道型波长色 散X射线荧光光谱仪、双弯晶X射线荧光测量、以及弯晶谱 仪和中子衍射等领域。北京泰坤的服务范围涵盖了弯晶的设计、制作和测试， 并提供一站式的弯晶套装解决方案。2、工作原理弯晶的设计原理基于布拉格衍射定律，即当入射X射线与晶体晶格相互作用时，会发生衍射现象。通过合理选择材料和弯晶的形状，能够精确控制X射线的衍射效应，从而实现X射线的单色反射聚焦。由 于X射线对所有物质的折射率接近为1，衍射是极少数能改变X射线传播方向的方案之一，使得弯晶成为 重要的X射线光学器件。双曲结构的弯晶还可以实现单色X射线的点对点聚焦。 3、弯晶材料北京泰坤进行了大量的对比测试，对各种弯晶材料进行了全面的研究，总结出相应的的性能特点，可以为客户提供优化设计的支持。石墨LiF200、LiF220及LiF420Ge(111)Si(111)反射率++++++-稳定性++++++++导热性+++++++4、弯晶构型北京泰坤可以提供多种构型的弯晶，并对各种弯晶构型做了详细测试，综合出各构型差异。还可承接椭球和Von Hamos等构型弯晶的设计、制作与集成业务。5、行业应用1.弯晶是X射线荧光光谱(XRF)分析的重要发展方向。北京泰坤生产的弯晶可用于Cr靶、Rh靶、Ag靶以及Ce靶光管的单色特征X射线点对点聚焦。通过弯晶的应用，XRF能够在激发端有效降低荧光背景，检出限相比传统能谱方案降低一个数量级，如硫的检出限可达到1ppm以下，符合ASTM D7220标准。2.发射端采用弯晶单色聚焦，部分重元素的检出限降低至0.04ppm水平。 3.当激发和发射端同时采用弯晶时，检出限相比传统能谱测量方案可降低1-2个数量级，测硫方案符合ASTM 7039标准；部分元素的检出限可达到ICP-OES检测水准。4.弯晶在同步辐射光源、加速器和重离子检测等领域的X射线精细光谱分析中具有重要应用价值，还可以应用于中子衍射领域。5.北京泰坤提供完整的弯晶套件服务，将设计、制作和调试打包成一体，为客户提供一站式的解决方案。客户只需提供光管和探测器，即可开始工作。我们致力于为客户提供高质量的服务和支持，保证客户能够充分利用弯晶技术的优势。

XRF9能量色散X射线荧光分析仪n XRF9能量色散X射线荧光分析仪器是基于X射线荧光分析法对样品进行定性和定量分析、检测构成元素类别和含量的仪器。n XRF9可以无损分析块状固体、粉末、液体样品，广泛应用于质检、电子、医药、食品、冶金、化工、地矿、考古等领域的研究开发和品质管理。（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。 产品特点n 先进的多光束可调系统n 具有高分辨率的探测器n 采用XYZ三维样品台n 大型样品分析室n CCD摄像及自动定位系统n 自动调节双层六通道滤光系统n 完善的辐射安全防护n 强大功能的软件操作系统n 短时间多元素同时分析n 无损分析和先进的薄样分析技术相组合n 多种定量分析方法n 无需液氮和水循环冷却n 种类齐全的选配标准样品n RoHS/WEEE指令快速分析 仪器配置n 外形尺寸：750（L）×590(W)×715(H)mm3n 样品室尺寸：400（L）×100(W)×100(H)mm3n 主机质量：约45Kgn 工作环境温度：0~40oCn 工作环境相对湿度：≤80%n 元素分析范围：AI-Un 含量分析范围：1ppm~99.99%n 重复性：＜5%n 测量时间：一般60~300sn 测量对象：块状物体、粉末、液体n 激发功率：50Wn 探测器分辨率：149gevn 输入电源：AC110V/220Vn 高压电源：0~50kv/0~1mAn X射线辐射剂量：≤1μSv/h代表性元素120s最低检出限LOD(mg/kg) 性能指标塑料基体CrBrCdHgPb LOD82 4 4 5

产品详情X射线荧光分析法的原理特点 图为用波尔模型说明电子轨道和荧光X射线产生的原理 X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子则向外发射原子的X射线。这种X射线被称为荧光X射线，各元素具有特定的波长（能量）。因此，通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外，荧光X射线的强度与浓度具有函数关系，检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。 满足所有领域不同的应用■ 电子电气 RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测■ 钢铁非金属 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫元素的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析玩具日用品中有害重金属元素测定等有设计感的外观460mm宽的紧凑身材，配备大容量的样品室460mm宽的紧凑身材，与我公司以往机型相比尺寸减少20%。而紧凑的机身，拥有可放置200（W）×275（D）×约100（H）mm样品的大型样品室。 识别度高的LED显示灯产生X射线时，分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯将会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。 “初次见面”也可轻松上手的软件PCEDX Navi 为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室，深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。凭直觉操作的浅显简单画面，使从初学者到专家的每一位用户都可以体验到便捷的操作环境。 简洁的界面 在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。在测定界面上可以直接切换准直器 可以一边观察样品图像，一边切换准直器直径。同时，选定的直径用黄色圆圈表示。自动保存样品图像 测定开始时自动读取样品图像，与数据文件夹关联保存。 测定结束后，与样品画面一起，元素名、浓度、3δ（测定的标准偏差）均会在同一界面清楚显示。轻松点击鼠标，即可看到《分析结果一览》或《报告》。 使用转台时的测定准备画面（样品位置确认时）同样适用于连续分析PCEDX Navi同样可应对使用转台（选购件）的分析。可以轻松切换样品图像确认界面和样品位置确认界面。良好的分析性能采用高性能的SDD检测器，确保硬件良好，具有高灵敏度高速分析和高分辨率。可以检测出6C～的机型正式上线（EDX-8000/8100）。高灵敏度 –提高检测下限1.5～5倍-高性能的SDD检测器与光学系统和一次滤光片的组合，实现高灵敏度。从轻元素到重元素，全范围轻松应对。与采用传统Si（Li）半导体检测器的分析装置相比，灵敏度也更胜一筹。高速 –分析速度可提高10倍-SDD检测器在单位时间内X射线荧光的计数率高，因此能够在更短的检测时间内进行高精度分析。特别是对金属材料的分析，这个特点可以得到较大限度的发挥。测定时间与标准偏差（定量值偏差）的关系实际样品的比较分别用以往型号和EDX-7000/8000/8100对无铅焊锡中所含的铅（Pb）进行分析，比较重现性。 满足分析精度所需的检测时间 X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数从而提高精度（重现性）。搭载高计数率SDD检测器的EDX-7000/8000/8100与以往型号相比，能够在更短的时间内保证分析精度。高分辨率 能量分辨率的比较（样品：PPS树脂） 与配置以往Si（Li）半导体检测器的型号相比，能量分辨率更胜一筹。不同元素峰值重叠的影响减小，提升可靠性。无需液氮SDD检测器为电子制冷方式，无需液氮冷却。不仅可以从繁琐的液氮补充作业中解放出来，更可以降低仪器的维护成本。检测元素范围 用EDX-7000/8100进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元或者氦气置换检测单元（均为选购件）。 用EDX-8000进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元（选购件）。 用EDX-8100检测氟元素的分析结果 EDX-8000/8100进行超轻元素分析EDX-8000/8100搭载的SDD检测器窗口采用薄膜特殊材料，能够检测碳（C）、氧（O）、氟（F）超轻元素。 优良的通用性从微小样品到大型样品，从粉末样品到液体样品，灵活应对各类样品。配备进行轻元素的高灵敏度分析时所需的真空检测单元、氦气置换检测单元，以及可实现自动连续测定的12位样品转台(选购件)。4种准直器以及CCD样品观察装置 选择1mmΦ准直器 1、3、5、10mmΦ的4种准直器自动切换 根据样品尺寸的不同，照射直径可有4种不同的选择。微小异物分析和失效解析时采用1mmΦ，少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ，根据样品的形状可以选择适合的照射直径。 标配CCD样品观察装置 通过样品观察装置可以确认X射线的照射位置。适用于检测微小样品、检测由多个测样点组成的样品、使用微量样品容器检测等情况。 选择5mmΦ准直器时，使用微量样品容器 自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线，从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。EDX-7000/8000/8100搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实现软件操控自动切换。滤光片有效能量(KeV)对应元素示例#1 15～24 Zr, Mo, Ru, Rh, Cd#2 2～5 Cl, Cr#3 5～7 Cr#4 5～13 Hg, Pb, Br#5 21～24（5～13）* Cd (Hg, Pb, Br)*使用滤光片后，（）中能量范围的背景降低。 准直器和一次滤光片自由组合准直器和一次滤光片独立驱动，无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。样品无损且无需前处理，通过X射线荧光，即可简单轻松实现对医药品中杂质的管理 &bull 分析只需4 Step！&bull 遵照制药界的FDA 21CFR Part11标准&bull 以提升效率为目标，使用LabSolutions CS进行数据管理&bull 通过X射线荧光可以实现对杂质的分析 分析只需4 Step！主要特长遵照制药界的FDA 21CFR Part11标准遵照FDA 21CFR Part11具有如下功能。&bull 安全功能&bull 用户管理功能&bull 操作日志，逐位跟踪日志的生成功能&bull PDF生成功能&bull 验证功能安全功能通过ID/密码进行用户认证，对具有权限的用户开放操作履历记录、界面锁定等功能。逐位跟踪日志的生成功能可以生成分析装置设定更改履历和用户的操作履历等跟踪日志。以提升效率为目标，使用LabSolutions CS进行数据管理包括其它分析装置的的全部分析数据都可以通过服务器电脑的数据库进行管理，因此联网后任何电脑都可读取数据。不论何处都可实现数据管理统合化。使用EDX-7000/8000/8100，轻松实现对医药品中的金属进行分析 如图所示，制成添加了Pt的纤维素粉末标准样品，在0～20ppm的范围内形成6点工作曲线。样品量仅为100mg，平均1样品测定20分钟，就可如下表得到良好的标准偏差（RMS）和直线性，从而实现高正确度的分析。元素濃度範囲(ppm)RMS(ppm)相関係数Pt0-200.250.9993 混入Pt和As的纤维素粉末样品的EDX光谱

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm×D320mm×H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用“筛选分析”画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

仪器简介：EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击：http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

双源单波长激发 能量色散X射线荧光光谱仪采用双曲面弯晶技术对双激发源进行单色化，从而大幅降低X射线管出射X射线经样品所产生的散射线背景干扰，提升样品中元素荧光射线强度，降低对多元素的检出限，尤其对重金属元素检出限可降低至0.05mg/kg水平。该仪器可实现对硼元素之后的全元素检测。此外该仪器在定量方面采用快速基本参数法，可实现在无标样或少标样的情况下对未知样品进行定性和定量分析。

原理特点玻尔模型所描述的电子轨道和X射线荧光产生的原理X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子被激 发而产生原子特有的X射线。这种X射线被称为X射线 荧光。不同的元素波长（能量）不同。通过检测X射 线的波长，能够进行定性分析。X射线荧光的强度与 含量呈函数关系，检测元素特有的X射线的量值能够 进行定量分析。满足不同领域的应用■ 电子电气RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等的各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件成分分析及镀层厚度、涂层附着量的检测■ 钢铁有色金属 原材料、合金、锡焊、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、溶入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析 玩具日用品中有害重金属元素测定等追求高速・ 高灵敏度・ 高精度的机型高速 — 计数量高达到30倍 —搭载高速电路，计数量高达以往型号（EDX-720）的30倍。通过改良算法和升级基本性能，缩短了测定时间， 进一步提高了操作便捷性。铜合金中的铅（Pb）的谱图比较铜合金中的铬（Cr）的谱图比较实际样品的比较分别用以往型号（EDX-720）和EDX-7200对无铅锡焊中所含的铅（Pb）进行分析，比较其重现性。测定时间与标准偏差（定量值的偏差）的关系满足目标分析精度所需的测定时间X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数来提高精度（重现性）。 搭载高计数率SDD检测器和高速电路的EDX-7200与以往型号（EDX-720）相比，能够在更短的时间内达到目标分 析精度。高灵敏度 — 检测下限提高6倍 —提高了金属分析中微量元素的检测下限。金属中的铅的检测下限基准（300秒）※ 检测下限值仅为示例，并非保证值。高分辨率能量分辨率的比较（样品：PPS树脂） 与搭载Si(Li)半导体检测器的以往型号（EDX-720）相比， 能量分辨率更胜一筹。不同元素峰值重叠的影响减少，分析结果更加可靠。无需液氮SDD检测器为电子制冷方式，无需液氮冷却。不仅可以免去繁琐的液氮补充作业，还可以降低运行成本。检测元素范围 ・ 用EDX-7200进行12Mg以下的轻元素分析时，推荐使用真空检测单元或者氦气置换检测单元(均为选购件）。・ 检测下限因样品基材和共存元素不同而有差异。・ 使用样品容器分析20Ca以下的轻元素时，由于薄膜吸收的原因，难以达到上述检测下限基准。卓越的通用性从微小样品到大型样品，从粉末样品到液体样品，灵活应对各类样品。可配备进行轻元素高灵敏度分析时所需的真空检测单元、氦气置换检测单元以及可实现自动连续测定的12位样品 转台（选购件）。4种准直器以及样品观察装置ø 1、3、5、10mm 四级自动切换根据样品尺寸的不同，照射直径可进行4级切换。微小异 物分析和不良分析时采用ø 1mm，少量样品时采用ø 3mm和 ø 5mm，可以根据样品的形状选择适合的照射直径。标配样品观察装置通过样品观察装置，可以确认X射线的照射位置。适用于 检测微小样品、检测由多个测样点组成的样品、使用微量 样品容器检测等情况。 自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射 线，从而提升检测灵敏度，尤其于分析微量元素时有效。 EDX-7200搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实 现软件操控自动切换。 准直器和一次滤光片自由组合准直器和一次滤光片独立驱动，可自由组合，共6×4种=24种组合可选。 同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。 真空检测单元（选购件）由于轻元素产生的X射线荧光在大气环境下易被吸收，所以需要在真空环境下提高轻元素的检测灵敏度。真空环境为100时，氦气置换和大气环境下的相对灵敏度真空环境和大气环境的分析结果比较（样品：钠钙玻璃）氦气置换检测单元（选购件）对于无法在真空环境下进行分析的样品（如液体、会产生气体等），可以通过氦气置换实现轻元素分析。升级了岛津特有的氦气置换系统（日本专利：「特许」No.5962855），且配备可实现短时间检测并减少氦气 消耗量的功能。氦气置换和大气环境下的谱图比较（EDX-7200/油中硫） 12位样品转台（选购件）配备样品转台可实现自动连续测定。特别是在真空氦气 环境下可实现高通量，从而显著提高检测效率。丰富的分析功能校准曲线法校准曲线法是指通过对标准样品的测定，依据X射线 荧光强度与标准样品的含量关系制作校准曲线，是对未知样品进行定量的方法。 校准曲线法需要选择与未知样品类型相近的标准样品 且需要制作各元素的校准曲线，从而实现准确度高的分析。可以进行吸收/激发校正、重叠校正等各种共存元素校正。 FP法根据理论计算而得出X射线强度的定量方法。对于难 以找到标准样品对应的未知样品，FP法是有效的定量 分析方法。配置自动设定平衡功能样品主要成分为C,H,O等时，FP法需要进行平衡（残 余成分）设定。如根据特征形状判定需要平衡设定时， 软件将自动进行。 背景FP法背景FP法指在仅计算X射线荧光（净峰）强度的传统FP法基 础上，增加计算散射X射线（背景）强度的方法。（日本 专利：「特许」No.5975181）在提升少量有机物样品的定量准确度、异型镀层样品的膜厚 测定、有机膜的膜厚测定方面效果显著。 薄膜FP法标配薄膜FP法。可检测多层膜的膜厚,同时对膜的组成进行 定量分析。薄膜FP法可对基板等基材、镀层结果、元素信息 进行设定。 匹配功能匹配功能是指将某种样品的分析结果与所保存的谱库 比较，按由高到低的顺序自动排列出接近的物质。谱库分为含量数据和强度数据两类，用户均可登录。 同时，含量数据更可手动直接录入。匹配结果具有设计感的外观460MM宽的紧凑机身，配置大型样品室460mm宽的紧凑机身，与以往型号（EDX-720）相比，宽度减少了20%。虽然机身紧凑，但却拥有可放置300（W）×275（D）×约100（H）mm样品（相当于A4大小）的大型样品室。识别度高的LED显示灯产生X射线时，分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起 蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。“初次见面”也可轻松上手的软件PCEDX Navi为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室，深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。 仅凭直觉即可操作的简洁界面，无论是初学者还是专家，都可以体验到便捷的操作环境。简洁的界面在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。在测定界面上可以直接切换准直器可以一边观察样品图像,一边切换准直器直径。 同时,选定的直径用黄色圆圈表示。自动保存样品图像测定开始时自动读取样品图像，与数据文件夹关联保存。

S2 PUMA 仪器为台式能量色散型X 射线荧光(EDXRF) 光谱仪，它采用了激发和检测技术的最新成果。该仪器运行稳定，操作简便，对整个元素周期表中的元素均具备的分析性能。S2 PUMA光谱仪依靠各种软件模块（用于处理先进的无标分析Smart-Quant,地质样品专用软件Geo-Quant，水泥样品专用软件Cement-Quant和符合法规要求）增强其功能，是一款经济实惠、高度灵活的分析工具，适用于各种应用场合。S2 PUMA Series 2 – Single单样品位手动进样的S2 PUMA Series 2与S2 PUMA Series 2 XY Autochanger以及S2 PUMA Series 2 Carousel具有同样的技术优点。在样品量较少时，采用简单的进样方式。通过快速的HighSense&trade 探测器和按照人体工程学设计的TouchControl&trade （触屏控制）分析样品。如果没有配置触摸屏，可通过远程控制，或外部PC上的SPECTRA.ELEMENTS软件分析样品。- 小批量样品，高分析性能&bull 大功率50W X射线光管和10位自动滤光片转换器，优化样品激发&bull HighSense探测器：布鲁克新一代硅漂移探测器（SDD），具有超高计数率和出色的能量分辨率，可明显缩短测量时间&bull 方便且具有失效保护的进样系统- 操作简便，仅需短时间培训&bull 直观明了的TouchControl（触屏控制）软件，简单培训后，任何人员都能掌握操作方法（支持9种语言）&bull 集成式触摸屏，可以戴手套操作，无需外部PC就可进行日常分析测量任何样品仅需几分钟时间：固体、熔片、压片、松散粉末、液体、块状样品 – 使用EasyLoadTM样品托盘装入批量样品，或者将块状样品直接放入样品室。S2 PUMA Series 2为您提供了最大的样品室：450 x 420 x 100 mm。其旋转式样品托盘可混装各种样品，最多装入12个直径为32、40或51.5mm的样品，或最多18个直径为40mm的样品。S2 PUMA Series 2 Carousel是台式EDXRF分析仪中，适用于各种类型、各种尺寸样品的全能仪器。S2 PUMA Series 2 – Carousel- 适用于各种类型的样品&bull 固体、粉末、液体、&bull 块状样品，整体测量或制备后测量- 微区分析&bull 采用准直器面罩可以分析大样品中细小的颗粒&bull 光斑尺寸：1至34mm&bull 高清摄像头：样品定位和确认- SMART.QUANT FP&bull 元素分析的一键式无标样解决方案&bull 算法强大，可快速可靠地获得结果S2 PUMA Series 2 Automation是唯一一款可以专业的方式集成到全自动实验室的台式EDXRF。它可全天候（24/7）为您提供元素分析结果。通过传送带或机械臂连接样品制备模块。进样接口位于仪器的背面，因此您可充分发挥X-Y Autochanger（自动进样器）的功能。除EasyLoadTM XY样品托盘外，仪器内部的缓冲样品位可确保您随时轻松处理在线样品和离线样品。布鲁克是全球X射线荧光光谱分析仪器及软件的主要供应商之一。分析仪器主要应用于科学的研究和发展、工业过程控制以及半导体材料的物性测量领域。可为客户提供量身定制的无损分析解决方案，用以分析表征广泛的产品，例如石化产品、塑料和聚合物、环境、医药、采矿、建筑材料、研究与教育、金属、食品和化妆品等多个行业领域。

X-Cite台式EDXRF光谱仪多元素分析仪能量色散X射线荧光光谱仪X-Cite 实用型台式X射线荧光光谱仪X-Cite配备独特几何结构的阳极靶及高功率X射线激发源，适用于传统实验室工作台，并集成完整计算机系统、6个自定义滤光片及样品托盘。 Xenemetrix台式X射线荧光光谱仪采用高分辨率探测器及高性能X射线管，同时配备样品相机及样品盘，可容纳多种尺寸类型的样品。 为发挥系统最佳性能，获得精确测量，滤光片可根据系统硬件配置为每次测量要求自适应切换。无损元素分析通过使用标样或无标样方法（基本参数）对Na（11）- U（92）范围元素进行定性及定量分析。X射线源激发性能达40kV，18W，Rh靶材料，分析浓度探测限范围可达ppm至100%，在复杂的应用中表现其卓越的性能。Analytix专用软件Analytix专用软件支持在野外进行操作并快速得到结果。硅漂移探测器（SDD）高计数率及分辨率的SDD探测器，分辨率可达125eV，探测元素范围可达Na（11）- U（92）。滤光片考虑不同的应用要求，6个管式滤光片可针对痕量元素和微量元素自定义快速准确的切换。。自动校准系统可根据周围环境的变化针对材料自动校准。Analytix专用软件 Analytix软件能够提供准确全面，易于理解的分析结果，适用于多种应用，并能够高效的在短时间内执行多种测量。 软件采用高度直观的界面设计，简单易用的GUI，适用于不同层次用户，广泛的应用于各种元素工作任务。 Analytix可提供客户-服务器操作员模式，这种模式支持通过WiFi或GPS进行实时数据传输，并在其它位置远程轻松管理系统。分析过程可在现场完成，分析结果可传输至每个客户端并伴随相关的定位数据及测试识别信息。X-Cite应用领域

NEX QC为小型?轻量型仪器、可以在几十mg/m2 的低附着量下进行硅的分析。将样品 切割成能够放入样品室的大小，只需轻轻一按即可进行测量。即使是对分析不熟悉的人员也可以轻松进行处理。 NEX QC在废弃物的再利用?再生资源化的最前线也很活跃。RPF（废物固化燃料）中氯的等级、现场进行简单筛查。当然也是一键式操作。 基本性能General能量色散X荧光检测元素范围：Na-U分析范围：ppm到百分含量空气或充氦环境检测X射线发生器ExcitationX光管 钯靶或铑靶或银靶或钼靶大于4W 50kV 电压检测器Detection高分辨率SDD检测器Peltier电制冷较大晶体面积检测器参数自动调整优良分析模式样品室 Sample Chamber大于 20cm直径×8cm样品室6位以上自动进样器32mm 可选可调节

Genius IF多元素EDXRF光谱分析仪采用二次靶技术能量色散X射线荧光光谱仪Genius IF Genius IF提供了一种经济高效的元素分析解决方案。该能量色散X射线荧光（EDXRF）光谱仪可以对C（6）- Fm（100）范围内的多种元素进行亚ppm级别无损定性及定量元素分析。 高度集成的光谱仪采用复杂独特的设计结合了自定义滤光片和二次靶技术，可放在传统实验室工作台上，适用于多种高端应用领域。 无损元素分析通过使用标样或无标样方法（基本参数）进行定性及定量分析。硅漂移探测器（SDD）高计数率及分辨率的SDD探测器，分辨率可达125eV，探测范围C（6）- Fm（100）。X射线源激发性能可达50kV，50W，Rh靶材料，分析浓度探测限范围可达亚ppm至100%，其卓越的性能可适用于复杂应用。轻元素探测超薄探窗能够实现对低序元素探测分析的优异性能。二次靶技术及滤光片采用专利几何结构，设计8个二次靶及8个自定义滤光片，可快速准确的测定痕量和微量元素。Analytix专用软件Analytix专用软件优异性能以及易用的GUI能够对项目分析和管理提供最快速直接的反应并得到结果。定量分析算法通过元素间修正进行多元回归分析（6个可用模型）。总计数、净计数拟合及数字滤波强度等工具。 二次靶技术全能型元素分析仪 Genius IF采用专利几何结构，设计8个二次靶并配备直接激发模式下8个自定义滤光片，使得仪器以最优的激发方式检测所有元素。WAG（广角几何）专利技术下的二次靶技术为痕量元素和微量元素的测量提供了最佳的解决方案。 由X射线管激发产生的射线激发二次靶材料（纯金属）的特征K线，进而用于激发待测样品。通过使用二次靶技术，可进一步降低某些元素的检测限。更低的检测限意味着Genius IF能够异于传统EDXRF仪器而适用于更加广泛的用途，成为一款全能型多元素分析仪器。二次靶技术与直接激发模式谱图对比： 图中显示了峰背比提升的效果，其中蓝色轮廓部分代表使用了二次靶技术，而红色区域部分为直接激发模式的图谱。 Genius IF应用领域

Skyscan 1273是Bruker最新的基于微型计算机断层扫描（Micro-CT）技术的台式3D X射线显微成像系统。最大可容纳长度不超过500 mm、直径不超过300 mm、最大重量为20 kg的样品，这是台式显微成像设备进行无损检测（NDT）的新标准。一流的硬件让Skyscan 1273成为强有力的工具。高能量的X射线源和具有最高灵敏度和速度的大幅面平板探测器的结合，在短短几秒钟内就能提供出色的高质量图像。 全面的软件，直接进行数据收集，先进的图像分析，强大的可视化使Skyscan 1273成为一个简单易用的3D X射线显微成像系统。 Skyscan 1273台式3D X射线显微成像系统占地面积小，简单易操作，几乎无需维护。因此，Skyscan 1273运行稳定，性价比极高。 特点 40-130kV低成本免维护X射线源 8位滤光片转换器自动进行能量选择 GPU加速性能可提高3D重构速度 大尺寸图像的自动拼接偏移扫描 利用螺旋扫描和精准重构可获得最佳的平面结构图像质量 借助HART Plus，对大宽高比物体在保持图像质量的情况下，扫描速度可提高4倍参数&bull X射线源：40-130kV，39W，&bull X射线探测器：600万像素平板探测器（3072×1944像素）&bull 标称分辨率（最大放大率下样品的像素）：图像分辨率＜3um；空间分辨率＜5um，&bull 重建容积图（单次扫描）：最高4800×4800像素 &bull 样品尺寸：最大值：直径250mm，长500mm，重量20kg&bull 扫描空间：最大值：直径250mm，长300mm&bull 辐射安全：在仪器表面的任何一点上＜1 uSv/h&bull 外形尺寸：1250（宽）×815（深）×820（高）毫米&bull 重量：400千克，不含包装&bull 电源：100-240V / 50-60Hz / 3A

超高性能X射线荧光光谱仪，无语伦比的通用性——EDX-8100 致元素分析的您 无需液态氮！ 使用电子冷却方式的高性能SDD检测器 高灵敏度！高速！高分辨率！ 大幅提升传统产品的分析性能 软件使用简便！ 同时配备简易型分析软件PCEDX-Navi与专业型软件PCEDX-Pro 彻底追求通用性的硬件！ 检测元素范围C~U、可开展真空分析及氦气置换分析 元素检测范围氦气置换分析优势可测试不适用真空、适用氦气置换分析的样品：液体，潮湿固体和粉末，微细粉末（小于微孔膜孔径），多孔且内含较多气体的固体1、3、5、10mmΦ的4种准直器自动切换根据样品尺寸的不同，照射直径可有4种不同的选择。微小异物分析和失效解析时采用1mmΦ，少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ，根据样品的形状可以选择最适合的照射直径。自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线，从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。EDX－8100搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实现软件操控自动切换准直器和一次滤光片独立驱动，无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。 能量色散型X射线荧光分析装置EDX-8100信息由岛津企业管理（中国）有限公司/岛津（香港）有限公司为您提供，如您想了解更多关于能量色散型X射线荧光分析装置EDX-8100报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

仪器简介： 在工业及科研领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析，同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，贵金属检测等。 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度，非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司最新推出的SPECTRO MIDEX　X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求，可最迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求，德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化，使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。 　　SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX　适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX　也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。 　　SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构，海关商检、造币工业等，还可完成其它分析任务如：非破坏性检查，贵金属分选，电子线路及电气元件的分析等。技术参数：&bull 激发 - Mo 靶X光管 最大功率：30W,最大电压：48kV - 测量点尺寸 Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm 样品室 - 可显示样品的摄像系统(可调焦) - 手动调节样品台，样品定位简便 - 马达驱动精确移动的XYZ样品台， 最大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3&rsquo &rsquo (宽x深x高)， 最大样品重量：3kg/6.6 lbs 计算机 - 外置式计算机系统，Windows 操作系统， - 键盘，鼠标，显示器，打印机 - 菜单式软件，光谱仪参数调整和 数据评估及计算，元素成分及分布显示 检测器 - Peltier 冷却的Si 漂移检测器: Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2 - 以Mn K&alpha 线，在测量计数率为 10，000脉冲计数时， 能量分辨率：FWHM 160 eV - 微处理器控制的检测器和读出电路 - 脉冲计数率可达250，000 cps 光谱仪数据 - 电压：95-120V/200-240V,50/60 Hz, - 光谱仪能耗：200W - 仪器尺寸 宽x 深 x 高，单位mm 580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1&rdquo - 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 &rdquo - 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置 分析 - 用于合金元素分析的基本参数程序FP + - 塑料及复合材料的RoHS指令检测 环境条件 - 周围环境温度：5-30° C （41-85° F） 在20-25° C （68-77° F）下，可达到标定仪器性能 - 在 25° C (77° F)下相对湿度: 10-80 %，无冷凝，无蒸气腐蚀，防尘主要特点： SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是最新推出的第三代专利产品，不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定，还可对超大样品的表面（面积可达EC标准线路板规格的2倍， 233x160 mm）进行元素分布分析。 1 超大样品室● 长：520 mm(20.5 '')● 宽：310mm(12'') 2 微聚焦分析，不需要破坏 3 自由样品台. &bull 创新点 &bull 1.附带FP实际金属、贵金属、RoHS分析、无卤化塑胶回归的检测曲线，集多种应用于一身。该曲线采用大量金属及贵金属标准样品绘制，代表性强，实用性强，准确度高。分析数据可同时显示K金值及含量。 2.采用高分辨，高计数率，电制冷的SDD检测器，实际分辨率160eV，计数率高达250,000cps，非常适合高含量样品的分析。该计数器具有先进性及维护简单，无需繁琐而危险的液氮添加过程。 3.激光配合CCD摄像机双定位，样品分析点可视，可调。定位精度高。分析点的照片可截屏，出具报告时可以粘贴在报告中。 4.分析速度快，可在180秒内完成各类样品的分析任务 5.可选配狭缝交换器，测试点的尺寸可调，由0.2毫米至3.3毫米。可同时分析同一样品的各个部分，一般分析点的尺寸为1毫米。 6.可选配XYZ微米级精度全自动样品台，完成点，线，面扫描。一次测量过程可同时分别完成多个样品的分析。 7.超大样品室，可完成超大样品的分析，样品的尺寸可以达到300*200*150mm（长*宽*高）。同时可完成超小样品1mm样品的分析

主要特点： . 准确测定黄金、铂金、银饰品中的金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铱等元素含量，根据定义 给出符合国标 GB/T18043 要求的测试结果； . 自动识别样品类型，自动切换不同类型首饰样品的测试模式； . 仪器内置标准样品，具备自动校正功能，开机自动完成能量刻度、标准曲线校正、预热一系 列动作，免除人为操作带来的误差和错误； . 一键式测试操作，开启软件并放入样品后，按下一键即可完成测试获得结果，免除所有繁琐 复杂的手工设置和操作； . 具备高级自定义测试功能，开放各种参数调试调整，可建立自定义标准曲线，可保存或导入 导出自定义的数据库和测试模式。1.XRF6C能量射线荧光分析仪特点（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。先进多光束可调系统；高分辨率SDD 硅漂移探测器；快速定性分析；完善的辐射安全防护；RoHS/WEEE 指令元素快速分析； 内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群； 内置各类标准样品曲线数据库。2.XRF6C能量射线荧光分析仪参数元素分析范围：AI-U 含量分析范围：1ppm~99.99%重复性：＜5%测量时间：一般60~300s 测量对象：块状物体、粉末、液体 激发功率：50W探测器分辨率：149gev输入电源：AC110V/220V 高压电源：0~50kv/0~1mAX射线辐射剂量：≤1Sv/h3.XRF6C能量射线荧光分析仪部分元素 在低数值中可检出代表性元素120s可检出限LOD(mg/kg)性能指标 塑料基体CrBrCdHgPbLOD82445

NRD-100型便携式中子剂量仪1、用途:直线加速器,质子重离子, BNCT等放疗场所中子射线辐射剂量巡测。测量范围：0.01uSv/h-1mSv/h；相对误差：≤±10%；能量响应：≤±15%（@Cs-137放射源），提供计量证书原件；2.9内置可充电锂电池；2.10显示单位：μSv/h、mSv/h，mR/h,CPS；2.11可自由设置报警阈值，超阈值报警提示；2、参数：2.1中子探测器：闪烁体中子探测器，非气体探测器；2.2能量范围：0.025ev（热中子）～15Mev；2.3慢化体：高密度聚乙烯；2.4灵敏度：≥1CPS/uSv/h；2.6相对固有误差：≤±30%；2.7抗电磁干扰性能：；2.8主机：探测射线：X，γ射线；中子和伽马射线测量数据同一屏幕显示；探测器：内置SiPM+闪烁体探测器；测量范围：0.01uSv/h-1mSv/h；相对误差：≤±10%；能量响应：≤±15%（@Cs-137放射源），提供计量证书原件；2.9内置锂电池；2.10显示单位：μSv/h、mSv/h，mR/h,CPS；2.11可自由设置报警阈值，超阈值报警提示；2.12主机与探测器采用RS485通讯；

微谱科技WEPER XRF2600大腔体/无损能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2600可以精准测试从Mg到U的所有元素。315mm×225mm×62mm大腔体，是无损分析的能手，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。标配样品观察功能，精准定位并记录检测点。基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率4w，最大电压50kV，最大电流200uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：10寸 产品特点：大腔体315mm×225mm×62mm大腔体，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。无损检测不需要破坏样品，可直接在样品上执行测量。先进分析技术微谱科技WEPER XRF2600设备采用石墨烯SDD探测器，计数率高于1000000cps， 分辨率可低至123eV@Mn Kα线超快速度大部分样品的测试时间再60-600s以内

X射线衍射仪线阵光子计数X射线探测器1、产品特点： MYTHEN系列微带探测器充分利用了混合光子计数（HPC）技术的所有优势：如无噪音、高速采集、耐辐射性能优越等，并以 此带来了最佳的实验室应用体验。MYTHEN2 R系列探测器有两种不同的尺寸：MYTHEN2 R 1K(含1280条微带）和 MYTHEN2 R 1D（含640条微带）。MYTHEN2 R 系列探测器结构紧凑，传感器位置对称， 适用于从便携式仪器到大型系统等各种不同 的衍射仪构造。DCS4探测器控制系统支持多模块系统组合， 能够获取更宽的角 度覆盖范围，最多可支持 4 台探测器同时工作。 MYTHEN2传感器微带宽度为50μm，具有三种可选厚度，分别为 320、450 和 1000 μm。同时微带分为两种长度： 4 mm长微带在低能X射线下有最佳的信噪比及极短的读出时间，因此可用于以钛靶光源进行测试的场合，特别适合原位残余应力分析；标准 8 mm 长微带具有最宽的有效面积和和最佳的分辨率，适用于所有X射线分析场合：与 1000μm 传感器共同使用时，可在实验室进行原本只能用同步辐射光源开展的PDF分析。2、核心优势： - 短微带，适用于钛靶及铬靶高产出测量场合； - 厚传感器，适用于银靶光源进行PDF测量； - 结构紧凑体积小，适用于各种尺寸的衍射仪和不同的预算； - 可实现多模块系统组合，覆盖更广的角度范围； - 无需维护及耗材。 3、应用领域： -X-射线粉末衍射和散射技术； - 残余应力测量； - 薄膜和织构分析； - PDF分析； - SAXS、WAXS、GISAXS； - 色散荧光光谱学 。4、技术参数 ：MYTHEN2 R 1K 1D微带数量1280640传感器厚度 [μm]320,450,1000微带宽度 [μm]50微带长度 [mm]8 and 4 (320 μm only)有效面积（宽*高）[mm2] 64 x 832 x 8 , 32 x 4动态范围 [bit]24能量范围 [KeV]4-40*读出时间 [μs]89帧频 [Hz]25点扩散函数 [strip]1能量分辨率2（r m s）[ev]687+5冷却方式风冷模块尺寸（WHD）[mm3]70 x 62 x 2238 x 62 x 22模块重量[g]180100DCS4尺寸（WHD）[mm3]110 x 30 x 160DCS4重量 [g]400 *低于4KeV的X-ray能量仅适用于320μm x 4mm的传感器。 注：所有规格如有变更，不做另行通知。