能量射线谱仪

能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面，元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD） 6、采用先进的探测器技术，能量分辨率140eV（MnKα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于运输，避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有先进的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料.

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200 ü无损分析，保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样)新升级———降低分析成本————l阈值算法优化，有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级，降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管，有效提高高湿度地区光管使用寿命

JSX-1000S是日本电子在2014年3月在全世界同步推出的最新一款能量色散X射线荧光元素分析仪，软件设计简单，操作极为方便；灵敏度高、效率好；还未不同的应用专门设计的特色软件应对，实现了准确、高效的元素分析，应用范围极为广泛。 JSX-1000S由设计顶级设计团队设计外观，洋溢现代美感，充分体现了该仪器的高端气质。 主要技术指标：探测范围:标准配置Mg～U 选配Na～U X-射线发生装置：5～50　kV , 1mA靶材：Rh过滤器（最大九种）：标准配置OPEN, ND, Cr, Pb, Cd　；选配Cl, Cu, Mo, Sb检测器：硅漂移探头样品室尺寸：300mmφ×80mmH样品室真空：标准配置（大气）；选配真空样品室内观察系统：彩色相机分析软件：定性分析、定量分析、RoHS对应软件（Cd,Pb,Hg,Br,Cr)、简易分析软件、报告书软件、日常检查软件等

Octane SDD系列探测器能够以前所未有的速度采集高质量EDS数据。以前，由于高计数率会带来数据质量的损失，SDD技术的速度优势一直没有得到充分实现。现在，由于Octane系列的面世，用户可以高速采集高质量数据，最大限度地发挥他们的材料分析能力。????Octane SDD探测器型号Octane系列包括四个型号以满足显微分析的不同应用需求。Octane Pro — 最适合氧化物、半导体和B-N-C的分析，这些材料需要优秀的分辨率来定量分析轻元素和识别低能X-射线谱线。Octane Plus — 为广泛的应用提供卓越的性能和价值，包括材料科学、金属、聚合物，EDS-EBSD同步分析和3-D EDS。Octane Super — 最适合对空间分辨率具有超高要求的纳米分析和X-射线产生有限的生物材料和其它材料。Octane Ultra — 用于4-D分析，例如原位检测和反应特性，此类应用需要最大化X射线的收集。特点和好处先进的内置FET谱仪设计Mn能量分辨率可达121 eV高速采集时仍能保持优秀的能量分辨率所有计数率下保证数据质量在面分布图速度高达200,000 cps时仍能进行高分辨率的定量分析最先进的脉冲处理器最高的输入计数到存储数据转换效率。以极短时间采集面分布图，提高用户工作效率。TEAM™ 智能软件最优化用户分析时间，获得最佳的样品数据 智能诊断和智能采集最优化采集和分析条件。智能脉冲堆积校正最大限度地减少了高计数率采集的影响，使SDD技术得到最大限度的应用。??结论Octane系列充分实现了SDD技术的承诺 — 高计数率下的高质量EDS分析。它具有业界最稳定的分辨率，针对不同的应用进行设计，使用户可以有更多的时间探索材料，更好地认知材料????

能量色散X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分析方法。不管是块状样品、粉末样品还是液体样品，位于元素周期表上从4号元素铍（Be）到92号元素铀（U）之间的几乎所有元素都可以进行精确的定性、定量和无标样分析。根据不同的应用要求，其分析浓度范围可从0.1ppm到100%，而且即使高至100%的元素浓度也能直接进行测量而无须进行稀释。XRF分析法具有样品制备简单、测定元素范围广、测定精度高、重现性好、测量速度快（30s-900s）、无环境污染、不破坏样品等特点。 XRF法广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域，在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。具体应用见以下说明： ●电子、塑胶、五金材料：各种电子元件、五金件、塑胶原料及制品、线路板等。●纸张及纸原料：纸原料、各种纸张、调色剂、油墨等。●石油、煤炭：石油、润滑油、重油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等。●陶瓷、水泥：陶瓷、耐火材料、岩石、玻璃、水泥、水泥原料和生料、熟料、石灰石、高岭土、粘土等。●农业、食品：土壤、农药残留物、肥料、植物、各种食品等。●有色金属：铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等。●钢铁：生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、高合金钢、特种钢、铁合金、铁矿石、炉渣、电镀液、铸造砂等。●化学工业：无机有机物及制品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂、催化剂、涂料、颜料、药品、化学纤维等。●环境：各种废弃物、工业废物、大气粉尘、工业废水、海水、河水等。●生物科学：有机体、辅助物等。 X射线荧光分析基本原理各种元素的核外电子轨道位能互不相同，因此，受激发后发出的X射线光子能量互不相同，即每种元素发射该元素原子所特有能量的X射线，代表了该元素的特征，因此称作该元素的特征X射线。每种元素的特征X射线具有其特定的能量，检测到此种能量的X射线，即可以确定物质样品中有该元素存在。 能量色散X射线荧光仪器原理X光管加高压产生的原级X射线经过滤光片适当过滤后照射到样品上，激发样品中所含元素的特征X射线(称为X射线荧光)，使用具有高能量分辨率的X射线探测器，得到X射线荧光能谱，不同的元素在谱图上形成不同的谱峰。谱峰的强度与样品中元素的含量成正比关系，通过计算机对探测器检测到的能谱进行解析，以谱峰位置和形状对样品中含有的元素种类进行定性，用谱峰强度对元素成分进行定量分析。 能谱仪简介：能量色散X射线荧光光谱仪是采用能量色散X荧光分析技术，同时测量多种元素的分析仪器，根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。该仪器可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业。是企业质量控制的理想选择。 整机性能：●Si(PIN)或SDD半导体制冷探测器探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一 分 辨 率 145eV (分辨率越低则灵敏度越高)计 数 率 1000/S晶体面积 15平方毫米铍窗厚度 = 0.025mm探测功率 1.2W ●多道脉冲幅度分析器（俗称谱仪能量刻度）通道数：2048道 ●电源控制器系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制 400 VDC ●低功率小型侧窗X射线发生器（俗称X光管）经过内部嵌铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。 罐绝缘油用于高压绝缘和冷却，0.005英寸铍窗标准窗口，额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命15000小时。 ●高压发生器输 入：85～265Vac,47～63Hz,功率因数校正。 1kV～5kV的型号符合UL85～250Vac输入标准电压变动率：无负载到满负载，输出电压的0.01%电流变动率：0～额定电压，输出电流的0.01%纹 波：输出电压的0.25%峰-峰 温度系数：电压或电流调定，0.01%/℃ 稳 定 性：预热半小时后，0.05%/8小时 ●滤光片自动转换系统滤光片自动转换系统：6种滤光片自动选择并自动转换（滤光片作用：改善激发源的谱线能谱成分，在进行多元素分析时，用来抑制高含量组分的强X射线荧光，提高待测元素的测量精度）。 ●安全防辐射系统1、重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理（从源头做起）2、全封闭铅板双层防辐设计（从设计结构做起）3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置4、样品盖意外开启X射线强制中断装置 5、延时测试与X射线警示系统 ●针对ROHS指令限制使用有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限为2ppm ●强大的分析软件工作站1．一键式的操作软件，简单易用，无需专业知识。2．人性化的人机界面3．各种测试参数无需操作人员设定，强大定制报告功能。4．测试数据自动存储，具有历史查询功能。5．最前沿的定性定量分析方法。6．可同时分析几十种元素。7．元素分析快速，分析时间从30秒到900秒可调。8．长时间待机不用，自动降低管压、管流，延长X光管寿命。9．对X射线管进行温度管控，保护X射线管并延长它寿命。10．实时监测仪器运行状态，轻易维护仪器。11.防止在测试样品时打开样品盖的误操作，软件有警示操作提示，同时关闭高压电源。

XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用三重射线防护系统（软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计），彻底杜绝各种工作情况下的辐射泄露。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用独创设计的组合式短光路光路盘，显著提高检测灵敏度，降低检测限。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用大型样品室，无需破坏和前期处理即可测量比较大的样品。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪软件工作站一键式操作，简单易用，使用方便，人机交互友好，无需专业知识。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪从S到U的快速元素分析，测量时间可调。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪多达15组复合滤光片，X射线照射径从1mm到7mm可选。强大的自主定制分析报告格式功能，分析报告可保存为 PDF 和 Excel 两种格式，分析结果自动保存，可方便对历史数据进行查询及统计，只需一次点击即可输出数据。软件可视频观察样品的位置，并且对样品进行拍照，样品图片显示在测试报告中。可进行谱图比对，对不同元素含量的谱图进行比对，进行材料识别。采用经典的定性定量分析方法，全面保证测试数据的准确性。开放式校准曲线平台，可为客户量身定做有害物质检测方案。

??EDAX, X射线能谱仪,能量仪, EDS,扫描电镜,扫描电子显微镜,SEM,透射电镜, 透射电子显微镜, TEM, TEAM, SDD, 硅漂移探测器,Octane SDD, Octane Pro, Octane Plus,Octane Super, Octane Ultra, Apollo XLT SDDDAX是创新材料表征系统的领先供应商，提供能量仪（EDS），电子背散射衍射仪（EBSD），波谱仪（WDS），集成系统（EDS-EBSD，EDS-WDS，和EDS-EBSD-WDS），和微束X射线荧光能谱仪（Micro-XRF）。X射线能谱仪(EDS)——扫描电镜(SEM)用Octane SDD系列探测器能够以前所未有的速度采集高质量EDS(X射线能谱仪)数据。以前，由于高计数率会带来数据质量的损失，SDD(硅漂移探测器, Silicon Drift Detector)技术的速度优势一直没有得到充分实现。现在，由于Octane系列的面世，用户可以高速采集高质量数据，最大限度地发挥他们的材料分析能力。Octane SDD探测器型号Octane系列包括四个型号以满足显微分析的不同应用需求。 Octane Pro: 最适合氧化物、半导体和B-N-C的分析，这些材料需要优秀的分辨率来定量分析轻元素和识别低能X-射线谱线。 Octane Plus: 为广泛的应用提供卓越的性能和价值，包括材料科学、金属、聚合物，EDS-EBSD同步分析和3-D EDS。 Octane Super: 最适合对空间分辨率具有超高要求的纳米分析和X-射线产生有限的生物材料和其它材料。 Octane Ultra: 用于4-D分析，例如原位检测和反应特性，此类应用需要最大化X射线的收集。特点和好处先进的内置FET谱仪设计 Mn能量分辨率可达121 eV高速采集时仍能保持优秀的能量分辨率 所有计数率下保证数据质量 在面分布图速度高达200,000 cps时仍能进行高分辨率的定量分析最先进的脉冲处理器 最高的输入计数到存储数据转换效率。 以极短时间采集面分布图，提高用户工作效率。 TEAM™ 智能软件最优化用户分析时间，获得最佳的样品数据 智能诊断和智能采集最优化采集和分析条件。 智能脉冲堆积校正最大限度地减少了高计数率采集的影响，使SDD技术得到最大限度的应用。结论Octane系列充分实现了SDD技术的承诺 — 高计数率下的高质量EDS分析。它具有业界最稳定的分辨率，针对不同的应用进行设计，使用户可以有更多的时间探索材料，更好地认知材料。 X射线能谱仪(EDS)——透射电镜(TEM)用TEAM™ 透射电镜能谱仪配备了Apollo XLT SDD系列探测器，为透射电镜(TEM)提供终极的分析方案。Apollo XLT SDD系列探测器包括超薄窗口（SUTW）和无窗口（XLTW）两种型号。由于可以完整地传输低能X射线，Apollo XLTW可以为用户提供最佳的轻元素性能。与SUTW探头相比，其轻元素的测量灵敏度提高了500%，重元素的计数率增加了30%，从而大大提高了元素面分布的采集速度，增强了低含量轻元素的检测。特点和好处 所有电子部件均集成在探测器内，方便安装、服务、校准和远程访问 自动校准程序实现快速、可重复、准确设置，校准数据驻留于探测器上，远程访问时无需重新校准 紧凑型的探测器提供了安装的灵活性，适合于各种TEM(透射电镜) 30 mm2 SDD芯片技术，优化了立体角 超薄窗口型和无窗口型探测器均有优秀的轻元素测试性能，C分辨率均优于59 eV Mn的分辨率优于129 eV 直到100 kcps，分辨率稳定性都小于1 eV 峰位偏移直至250 kcps都小于1 eV 放大器时间常数从120 ns到7.65 s可选，便于获得最佳采集效果 高速以太网通信 当背散射电子过量时由马达控制自动缩回 针对TEM薄样品的定量算法Apollo XLT SDD系列探头将数据采集、电子信号处理集成在探头内，取消了单独的数据采集机箱，简化了设备安装。集成的探测器有简洁的外观设计，提高了性能，方便了远程访问，用户可以通过以太网线接入，消除了由传统电缆长度所导致的信号失真和损失。计算机可设置于探测器之外远达100米之处而不影响仪器的性能。智能化是TEAM™ TEM能谱仪的核心。智能化已经植入探测器，为探测器提供最好的保护，防止探测器在有害的条件下工作。当发现高能电子时，探头能够自动缩回至一个安全的位置，而无需用户人工干预，从而确保了探测器的安全运行。当需要进行维护的时候，通过远程登录的能力可实现优越的远程支持。记录在探测器中的工作历史记录也可以远程访问，以便进行快速、准确的评估。TEAM™ 能谱仪具有许多智能功能和现代化的用户界面，可自动简化分析并快速获得结果。不管操作者的技能如何，每次测试均可高效获得一致且准确的测量结果。TEAM™ 能谱仪也可以自动确定样品所含的元素，监视计数率、放大倍率、采集时间以及许多其它用于优化系统性能的工作参数。而交互式审查允许用户在完成分析之前以独特的方式预览结果。结论Apollo XLT SDD系列探测器完全集成了数据采集和电子信号处理设备，采用了TEAM™ 智能软件，是TEM上最直观、最易用的分析工具。该系列的无窗口型产品，进一步提升了采集效率和轻元素分析性能。TEAM™ 智能软件自动化的工作流程，革命性地改变了能谱仪的分析方式。无论使用者的技能水平如何，TEAM™ 每次都能提供卓越的测试结果。Apollo XLT SDD系列探测器结合TEAM™ 智能软件，为用户提供了最先进的TEM能谱仪系统。

真空X射线荧光光谱仪A-550能够分析的元素范围从Na到U之间。通过配置了真空测试系统，增加了元素测试范围。同时配备了SDD探测器，对于各元素进行检测，减少元素间干扰。XRF光谱仪在对应不同的领域，又被称为：合金分析仪，矿石分析仪，水泥分析仪，土壤分析仪，贵金属分析仪，镀层分析仪，rohs分析仪等名字。应用领域：1.ROHS\无卤检测指令2.合金分析领域 （特别是轻元素） 锌铝合金成分分析、铝合金成分分析、铜合金牌号判定、成分分析、不锈钢成分分析。3 .镀层成分分析4.包装指令检测标准（94/62/EC) CD+PB+Hg+ Cr6 ＜1005.玩具指令检测标准6.矿石元素含量分析7.土壤及固废元素分析8.煤灰、石灰石、水泥、有色金属分析工作条件：● 工作温度：15-30℃ ● 相对湿度：40%～70% ● 电 源：AC :220V ±5V、技术性能及指标:1. 元素分析范围从钠(Na)到铀(U)；2. 元素含量分析范围为1PPm到99.99%；3. 测量时间：100-300秒(可调)；4. RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl）其检测限度达1PPM； 5. 能量分辨率为129±5电子伏特；6. 温度适应范围为15℃至30℃；7.电源：交流220V±5V（建议配置交流净化稳压电源）；产品特点1.A-550，配置了真空测试系统，增加了元素测试范围，探测器配备SDD的测试系统，对于矿石间各元素进行检测，减少元素间干扰2.整体结构化设计，仪器美观大方。3.采用美国最新型的SDD硅飘移探测器，电致冷而非液氮制冷，体积小、数据分析准确且维护成本低。4.采用自主研发的SES信号处理系统（数字多道），有效提高峰背比，让测量更精准。5.一键式自动测试，使用更简单，更方便，界面更人性化。6.七种光路校正准直系统，根据不同样品自动切换。7.多重防辐射泄露设计，辐射防护级别属于同类产品Highest。8.优化一体化散热设计，使整机散热性能得到更大提高，确保X射线源的运行安全。9.独有的机芯温度监控技术，确保射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。10.多重仪器配件保护系统，并可通过软件进行全程监控, 让仪器工作更稳定、更安全。11.专用真空测试软件，是否抽真空可自由选择，真空度实时显示，标准视窗设计，界面友好，操作简便，所有控制均在轻点鼠标之间。12.本机采用USB2.0接口，有效保证数据准确高速有效的传输。13.独有的全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限，同时也扩大了检测范围。14.一体化真空腔体设计，有效地保证了符合测试要求的真空度，同时提高了设备的可维性。15.抽真空测试和不抽真空测试转换简单，方便客户使用；同时开盖即解除真空，安全、简单实用。 仪器硬件部分主要配置SDD电制冷探测器分辨率：145±5e电子伏特放大电路模块:对样品特征X射线进行探测，把探测采集的信息,进一步放大X射线激发装置: 灯丝电流输出MAX：1mA；属于半损耗型部件，使用寿命大于5000小时高压发射装置:电压输出MAX： 50KV；电压输出MIN: 5KV，可控调节自带电压过载保护一体化真空系统：具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统；几何抽速：60 L/min（50Hz）压力：6.7×10-2 Pa数字多道分析器: 将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件；道数MAX： 4096；包含信号增强处理功能；光路过滤模块降低X射线光路发送过程中的干扰，保证探测器接收信号准确；将准直器与滤光处整合；准直器自动切换模块多达7种选择，口径分别为8-1＃, 8-2＃, 8-3＃, 8-4＃，6＃, 4＃, 2＃。滤光片自动切换模块五种滤光片的自由选择和切换。准直器和滤光片的自由组合模块多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。工作曲线自动选择模块自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化。演绎得更完美，使操作更人性，更方便。 专用软件针对金属材料元素成份检测而开发（含真空控制功能），对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。功能介绍※应对不同矿产材料可调式数据，测量时间为100-300秒（可调）※操作界面简洁直观，使用方便，无需专业人士操作软件界面如下图所示：※可自动选择适合的校准曲线，测量更方便，更准确※中英文界面自动切换，并具有第三方语言订制功能※自动校准仪器※自带样品材质定性分析，防止手动用户选择错误曲线※多种报告形式打印※可同时显示多个光谱图※仪器测试参数及真空度实时显示，所有掌控一目了然※独有的机芯温度监控技术，保证X射线源的安全可靠运行，有效延长其使用寿命，降低使用成本。 样品配置 标准样品用于制作工作曲线样品腔 开放式大样品腔：610mm×320mm×100×半封闭样品腔（抽真空时）：Φ100mm×h75mm 产品保修及售后服务 1 对客户方操作人员免费进行培训。2 国内客户安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费在用户方现场对操作人员进行培训。（国外客户可协商解决）3正常使用，经本公司售后服务部技术人员确认属工艺或材质缺陷引起的故障，且未经拆修，仪器主机自验收合格之日起保修壹年。4产品终身维修（客户必须有填写详细、真实的有效购买凭证和保修卡等）。5免费提供软件升级。6提供有效的技术服务，在接到用户故障信息后，2小时内响应，如有需要，48小时内派人上门维修和排除故障。

S2 PUMA 仪器为台式能量色散型X 射线荧光(EDXRF) 光谱仪，它采用了激发和检测技术的最新成果。该仪器运行稳定，操作简便，对整个元素周期表中的元素均具备的分析性能。S2 PUMA光谱仪依靠各种软件模块（用于处理先进的无标分析Smart-Quant,地质样品专用软件Geo-Quant，水泥样品专用软件Cement-Quant和符合法规要求）增强其功能，是一款经济实惠、高度灵活的分析工具，适用于各种应用场合。S2 PUMA Series 2 – Single单样品位手动进样的S2 PUMA Series 2与S2 PUMA Series 2 XY Autochanger以及S2 PUMA Series 2 Carousel具有同样的技术优点。在样品量较少时，采用简单的进样方式。通过快速的HighSense&trade 探测器和按照人体工程学设计的TouchControl&trade （触屏控制）分析样品。如果没有配置触摸屏，可通过远程控制，或外部PC上的SPECTRA.ELEMENTS软件分析样品。- 小批量样品，高分析性能&bull 大功率50W X射线光管和10位自动滤光片转换器，优化样品激发&bull HighSense探测器：布鲁克新一代硅漂移探测器（SDD），具有超高计数率和出色的能量分辨率，可明显缩短测量时间&bull 方便且具有失效保护的进样系统- 操作简便，仅需短时间培训&bull 直观明了的TouchControl（触屏控制）软件，简单培训后，任何人员都能掌握操作方法（支持9种语言）&bull 集成式触摸屏，可以戴手套操作，无需外部PC就可进行日常分析测量任何样品仅需几分钟时间：固体、熔片、压片、松散粉末、液体、块状样品 – 使用EasyLoadTM样品托盘装入批量样品，或者将块状样品直接放入样品室。S2 PUMA Series 2为您提供了最大的样品室：450 x 420 x 100 mm。其旋转式样品托盘可混装各种样品，最多装入12个直径为32、40或51.5mm的样品，或最多18个直径为40mm的样品。S2 PUMA Series 2 Carousel是台式EDXRF分析仪中，适用于各种类型、各种尺寸样品的全能仪器。S2 PUMA Series 2 – Carousel- 适用于各种类型的样品&bull 固体、粉末、液体、&bull 块状样品，整体测量或制备后测量- 微区分析&bull 采用准直器面罩可以分析大样品中细小的颗粒&bull 光斑尺寸：1至34mm&bull 高清摄像头：样品定位和确认- SMART.QUANT FP&bull 元素分析的一键式无标样解决方案&bull 算法强大，可快速可靠地获得结果S2 PUMA Series 2 Automation是唯一一款可以专业的方式集成到全自动实验室的台式EDXRF。它可全天候（24/7）为您提供元素分析结果。通过传送带或机械臂连接样品制备模块。进样接口位于仪器的背面，因此您可充分发挥X-Y Autochanger（自动进样器）的功能。除EasyLoadTM XY样品托盘外，仪器内部的缓冲样品位可确保您随时轻松处理在线样品和离线样品。布鲁克是全球X射线荧光光谱分析仪器及软件的主要供应商之一。分析仪器主要应用于科学的研究和发展、工业过程控制以及半导体材料的物性测量领域。可为客户提供量身定制的无损分析解决方案，用以分析表征广泛的产品，例如石化产品、塑料和聚合物、环境、医药、采矿、建筑材料、研究与教育、金属、食品和化妆品等多个行业领域。

微谱科技WEPER XRF2600大腔体/无损能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2600可以精准测试从Mg到U的所有元素。315mm×225mm×62mm大腔体，是无损分析的能手，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。标配样品观察功能，精准定位并记录检测点。基本参数：元素范围：Mg-U，视含量而定含量范围：ppm-99.99%光管：最大功率4w，最大电压50kV，最大电流200uA探测器：超薄石墨烯窗SDD探测器，计数率优于1000000cps，分辨率≥123eV气氛模式：空气触屏大小：10寸 产品特点：大腔体315mm×225mm×62mm大腔体，适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。无损检测不需要破坏样品，可直接在样品上执行测量。先进分析技术微谱科技WEPER XRF2600设备采用石墨烯SDD探测器，计数率高于1000000cps， 分辨率可低至123eV@Mn Kα线超快速度大部分样品的测试时间再60-600s以内

双源单波长激发 能量色散X射线荧光光谱仪采用双曲面弯晶技术对双激发源进行单色化，从而大幅降低X射线管出射X射线经样品所产生的散射线背景干扰，提升样品中元素荧光射线强度，降低对多元素的检出限，尤其对重金属元素检出限可降低至0.05mg/kg水平。该仪器可实现对硼元素之后的全元素检测。此外该仪器在定量方面采用快速基本参数法，可实现在无标样或少标样的情况下对未知样品进行定性和定量分析。

仪器简介：EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（SDD检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数：1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点：●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面，操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率，高精度?高速分析●拥有大容量样品室，可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器，将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能，限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能，能够根据管理方法轻松自定义

原理特点玻尔模型所描述的电子轨道和X射线荧光产生的原理X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子被激 发而产生原子特有的X射线。这种X射线被称为X射线 荧光。不同的元素波长（能量）不同。通过检测X射 线的波长，能够进行定性分析。X射线荧光的强度与 含量呈函数关系，检测元素特有的X射线的量值能够 进行定量分析。满足不同领域的应用■ 电子电气RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等的各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件成分分析及镀层厚度、涂层附着量的检测■ 钢铁有色金属 原材料、合金、锡焊、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、溶入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析 玩具日用品中有害重金属元素测定等追求高速・ 高灵敏度・ 高精度的机型高速 — 计数量高达到30倍 —搭载高速电路，计数量高达以往型号（EDX-720）的30倍。通过改良算法和升级基本性能，缩短了测定时间， 进一步提高了操作便捷性。铜合金中的铅（Pb）的谱图比较铜合金中的铬（Cr）的谱图比较实际样品的比较分别用以往型号（EDX-720）和EDX-7200对无铅锡焊中所含的铅（Pb）进行分析，比较其重现性。测定时间与标准偏差（定量值的偏差）的关系满足目标分析精度所需的测定时间X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数来提高精度（重现性）。 搭载高计数率SDD检测器和高速电路的EDX-7200与以往型号（EDX-720）相比，能够在更短的时间内达到目标分 析精度。高灵敏度 — 检测下限提高6倍 —提高了金属分析中微量元素的检测下限。金属中的铅的检测下限基准（300秒）※ 检测下限值仅为示例，并非保证值。高分辨率能量分辨率的比较（样品：PPS树脂） 与搭载Si(Li)半导体检测器的以往型号（EDX-720）相比， 能量分辨率更胜一筹。不同元素峰值重叠的影响减少，分析结果更加可靠。无需液氮SDD检测器为电子制冷方式，无需液氮冷却。不仅可以免去繁琐的液氮补充作业，还可以降低运行成本。检测元素范围 ・ 用EDX-7200进行12Mg以下的轻元素分析时，推荐使用真空检测单元或者氦气置换检测单元(均为选购件）。・ 检测下限因样品基材和共存元素不同而有差异。・ 使用样品容器分析20Ca以下的轻元素时，由于薄膜吸收的原因，难以达到上述检测下限基准。卓越的通用性从微小样品到大型样品，从粉末样品到液体样品，灵活应对各类样品。可配备进行轻元素高灵敏度分析时所需的真空检测单元、氦气置换检测单元以及可实现自动连续测定的12位样品 转台（选购件）。4种准直器以及样品观察装置ø 1、3、5、10mm 四级自动切换根据样品尺寸的不同，照射直径可进行4级切换。微小异 物分析和不良分析时采用ø 1mm，少量样品时采用ø 3mm和 ø 5mm，可以根据样品的形状选择适合的照射直径。标配样品观察装置通过样品观察装置，可以确认X射线的照射位置。适用于 检测微小样品、检测由多个测样点组成的样品、使用微量 样品容器检测等情况。 自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射 线，从而提升检测灵敏度，尤其于分析微量元素时有效。 EDX-7200搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实 现软件操控自动切换。 准直器和一次滤光片自由组合准直器和一次滤光片独立驱动，可自由组合，共6×4种=24种组合可选。 同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。 真空检测单元（选购件）由于轻元素产生的X射线荧光在大气环境下易被吸收，所以需要在真空环境下提高轻元素的检测灵敏度。真空环境为100时，氦气置换和大气环境下的相对灵敏度真空环境和大气环境的分析结果比较（样品：钠钙玻璃）氦气置换检测单元（选购件）对于无法在真空环境下进行分析的样品（如液体、会产生气体等），可以通过氦气置换实现轻元素分析。升级了岛津特有的氦气置换系统（日本专利：「特许」No.5962855），且配备可实现短时间检测并减少氦气 消耗量的功能。氦气置换和大气环境下的谱图比较（EDX-7200/油中硫） 12位样品转台（选购件）配备样品转台可实现自动连续测定。特别是在真空氦气 环境下可实现高通量，从而显著提高检测效率。丰富的分析功能校准曲线法校准曲线法是指通过对标准样品的测定，依据X射线 荧光强度与标准样品的含量关系制作校准曲线，是对未知样品进行定量的方法。 校准曲线法需要选择与未知样品类型相近的标准样品 且需要制作各元素的校准曲线，从而实现准确度高的分析。可以进行吸收/激发校正、重叠校正等各种共存元素校正。 FP法根据理论计算而得出X射线强度的定量方法。对于难 以找到标准样品对应的未知样品，FP法是有效的定量 分析方法。配置自动设定平衡功能样品主要成分为C,H,O等时，FP法需要进行平衡（残 余成分）设定。如根据特征形状判定需要平衡设定时， 软件将自动进行。 背景FP法背景FP法指在仅计算X射线荧光（净峰）强度的传统FP法基 础上，增加计算散射X射线（背景）强度的方法。（日本 专利：「特许」No.5975181）在提升少量有机物样品的定量准确度、异型镀层样品的膜厚 测定、有机膜的膜厚测定方面效果显著。 薄膜FP法标配薄膜FP法。可检测多层膜的膜厚,同时对膜的组成进行 定量分析。薄膜FP法可对基板等基材、镀层结果、元素信息 进行设定。 匹配功能匹配功能是指将某种样品的分析结果与所保存的谱库 比较，按由高到低的顺序自动排列出接近的物质。谱库分为含量数据和强度数据两类，用户均可登录。 同时，含量数据更可手动直接录入。匹配结果具有设计感的外观460MM宽的紧凑机身，配置大型样品室460mm宽的紧凑机身，与以往型号（EDX-720）相比，宽度减少了20%。虽然机身紧凑，但却拥有可放置300（W）×275（D）×约100（H）mm样品（相当于A4大小）的大型样品室。识别度高的LED显示灯产生X射线时，分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起 蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。“初次见面”也可轻松上手的软件PCEDX Navi为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室，深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。 仅凭直觉即可操作的简洁界面，无论是初学者还是专家，都可以体验到便捷的操作环境。简洁的界面在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。在测定界面上可以直接切换准直器可以一边观察样品图像,一边切换准直器直径。 同时,选定的直径用黄色圆圈表示。自动保存样品图像测定开始时自动读取样品图像，与数据文件夹关联保存。

Genius IF多元素EDXRF光谱分析仪采用二次靶技术能量色散X射线荧光光谱仪Genius IF Genius IF提供了一种经济高效的元素分析解决方案。该能量色散X射线荧光（EDXRF）光谱仪可以对C（6）- Fm（100）范围内的多种元素进行亚ppm级别无损定性及定量元素分析。 高度集成的光谱仪采用复杂独特的设计结合了自定义滤光片和二次靶技术，可放在传统实验室工作台上，适用于多种高端应用领域。 无损元素分析通过使用标样或无标样方法（基本参数）进行定性及定量分析。硅漂移探测器（SDD）高计数率及分辨率的SDD探测器，分辨率可达125eV，探测范围C（6）- Fm（100）。X射线源激发性能可达50kV，50W，Rh靶材料，分析浓度探测限范围可达亚ppm至100%，其卓越的性能可适用于复杂应用。轻元素探测超薄探窗能够实现对低序元素探测分析的优异性能。二次靶技术及滤光片采用专利几何结构，设计8个二次靶及8个自定义滤光片，可快速准确的测定痕量和微量元素。Analytix专用软件Analytix专用软件优异性能以及易用的GUI能够对项目分析和管理提供最快速直接的反应并得到结果。定量分析算法通过元素间修正进行多元回归分析（6个可用模型）。总计数、净计数拟合及数字滤波强度等工具。 二次靶技术全能型元素分析仪 Genius IF采用专利几何结构，设计8个二次靶并配备直接激发模式下8个自定义滤光片，使得仪器以最优的激发方式检测所有元素。WAG（广角几何）专利技术下的二次靶技术为痕量元素和微量元素的测量提供了最佳的解决方案。 由X射线管激发产生的射线激发二次靶材料（纯金属）的特征K线，进而用于激发待测样品。通过使用二次靶技术，可进一步降低某些元素的检测限。更低的检测限意味着Genius IF能够异于传统EDXRF仪器而适用于更加广泛的用途，成为一款全能型多元素分析仪器。二次靶技术与直接激发模式谱图对比： 图中显示了峰背比提升的效果，其中蓝色轮廓部分代表使用了二次靶技术，而红色区域部分为直接激发模式的图谱。 Genius IF应用领域

PI 的 X 射线相机使用科学级，二维CCD探测阵列。每一个产品都融入了超低噪声电子电路，多读出口，多增益等非常优秀的工艺。高速读出的速度可以方便准直，聚焦，高速采集等操作；低速读出有利于低噪声精准的数据采集。 多增益可以在低噪声的同时提升图像的信噪比。我们的 X 射线相机具备16位的数模转换电路，工业标准的接口，方便搭建实践平台和OEM扩展。 PIXIS-XB 直接探测型X射线相机低通量的直接探测型X射线相机PIXIS-XB是一款热点制冷，直接探测型X摄像相机。非常适用于~30 eV and ~20 KeV 能量范围的X射线成像成谱。 这系列的相机采用的深耗尽背照式CCD，有1340x400 和 1024x1024格式。 同时也可选前照式，后照式的1340x1300分辨率。一块很薄的铍窗在CCD前保护被密封起来，工作时深度制冷的CCD，同时减少背景中的低能量X射线。 直接探测型X射线相机" height="225" src="https://img1.17img.cn/17img/images/202407/uepic/6a60556b-9a3f-4c18-a602-d9a709ba9417.jpg" width="202" style="border:0px vertical-align:middle max-width:100% height:auto !important " PIXIS-XB相机提供以下优势: &bull 可探测范围：~3 keV to ~20 keV&bull 铍窗设计的真空窗口&bull 灵活的双读出放大器&bull 高速USB2.0接口&bull LightField可实现全面的控制 产品综述低通量X射线的高性能相机 全球重要的X射线实验室在他们的实验中都会使用普林斯顿仪器的产品。这款产品适用：低通量X射线成像成谱， X射线光子计数， X射线衍射， X射线谱仪， X射线波动谱仪（XIFS）， X射线光子相干谱仪（XPCS）， X射线刻蚀技术。High resolution 3D image of GaN particle created using coherent x-ray diffraction imaging. Image courtesy of Dr. Kianwei Mia, University of California, Los Angeles. 产品特点可探测范围：~3 keV to ~20 keV: 适合各类应用 真空铍窗设计:灵活应用于各类实验环境无需维护 灵活的双读出放大器:灵活设置，优化实验最低的读出噪声最高的动态范围最好的线性度 高速USB2.0数据接口:任何电脑课直接连接，无需额外硬件即插即用真正的16位数据传输能力，最高可达2MHz读出速度LightField的64-位操作平台:直观易上手的用户界面设计自动背景扣除，平场纠正和误差检测PICAM（64）位通用程序语言，方便的程序修改与编译与LabVIEW，MATLAB，EPICS等第三方软件无缝对接 型号规格PIXIS-XB Direct Detection X-Ray相机型号比较和数据表 型号像素像素尺寸成像面积 (mm)能级范围吸收峰值最低 CCD 温度400BR 1340 x 40020 x 20 μm26.8 x 8.0~3 keV-20keV75%-90° C1024BR 1024 x 102413 x 13 μm13.31 x 13.31~3 keV-20keV75%-90° C1300R/BR 1340 x 130020 x 20 μm26.8 x 26.0~3 keV-20keV75%-70° C 产品应用相干 X 射线衍射：X 射线衍射是一种研究物质（如大分子、晶体、粉末、聚合物和纤维）特性的技术。

X-Cite台式EDXRF光谱仪多元素分析仪能量色散X射线荧光光谱仪X-Cite 实用型台式X射线荧光光谱仪X-Cite配备独特几何结构的阳极靶及高功率X射线激发源，适用于传统实验室工作台，并集成完整计算机系统、6个自定义滤光片及样品托盘。 Xenemetrix台式X射线荧光光谱仪采用高分辨率探测器及高性能X射线管，同时配备样品相机及样品盘，可容纳多种尺寸类型的样品。 为发挥系统最佳性能，获得精确测量，滤光片可根据系统硬件配置为每次测量要求自适应切换。无损元素分析通过使用标样或无标样方法（基本参数）对Na（11）- U（92）范围元素进行定性及定量分析。X射线源激发性能达40kV，18W，Rh靶材料，分析浓度探测限范围可达ppm至100%，在复杂的应用中表现其卓越的性能。Analytix专用软件Analytix专用软件支持在野外进行操作并快速得到结果。硅漂移探测器（SDD）高计数率及分辨率的SDD探测器，分辨率可达125eV，探测元素范围可达Na（11）- U（92）。滤光片考虑不同的应用要求，6个管式滤光片可针对痕量元素和微量元素自定义快速准确的切换。。自动校准系统可根据周围环境的变化针对材料自动校准。Analytix专用软件 Analytix软件能够提供准确全面，易于理解的分析结果，适用于多种应用，并能够高效的在短时间内执行多种测量。 软件采用高度直观的界面设计，简单易用的GUI，适用于不同层次用户，广泛的应用于各种元素工作任务。 Analytix可提供客户-服务器操作员模式，这种模式支持通过WiFi或GPS进行实时数据传输，并在其它位置远程轻松管理系统。分析过程可在现场完成，分析结果可传输至每个客户端并伴随相关的定位数据及测试识别信息。X-Cite应用领域

仪器简介： 在工业及科研领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析，同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，贵金属检测等。 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高精度，非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司最新推出的SPECTRO MIDEX　X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求，可最迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求，德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化，使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。 　　SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX　适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可精确地确定测量位置。仪器配有计算机和专业化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量精度为0.15%。SPECTRO MIDEX　也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。 　　SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构，海关商检、造币工业等，还可完成其它分析任务如：非破坏性检查，贵金属分选，电子线路及电气元件的分析等。技术参数：&bull 激发 - Mo 靶X光管 最大功率：30W,最大电压：48kV - 测量点尺寸 Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm 样品室 - 可显示样品的摄像系统(可调焦) - 手动调节样品台，样品定位简便 - 马达驱动精确移动的XYZ样品台， 最大行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3&rsquo &rsquo (宽x深x高)， 最大样品重量：3kg/6.6 lbs 计算机 - 外置式计算机系统，Windows 操作系统， - 键盘，鼠标，显示器，打印机 - 菜单式软件，光谱仪参数调整和 数据评估及计算，元素成分及分布显示 检测器 - Peltier 冷却的Si 漂移检测器: Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2 - 以Mn K&alpha 线，在测量计数率为 10，000脉冲计数时， 能量分辨率：FWHM 160 eV - 微处理器控制的检测器和读出电路 - 脉冲计数率可达250，000 cps 光谱仪数据 - 电压：95-120V/200-240V,50/60 Hz, - 光谱仪能耗：200W - 仪器尺寸 宽x 深 x 高，单位mm 580x670x740 mm/22.8x26.4x29.1&rdquo - 底座尺寸宽x 深:500x550 mm/19.7x21.6 &rdquo - 重量55-70kg/121.3-154.3 lbs,根据不同配置 分析 - 用于合金元素分析的基本参数程序FP + - 塑料及复合材料的RoHS指令检测 环境条件 - 周围环境温度：5-30° C （41-85° F） 在20-25° C （68-77° F）下，可达到标定仪器性能 - 在 25° C (77° F)下相对湿度: 10-80 %，无冷凝，无蒸气腐蚀，防尘主要特点： SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是最新推出的第三代专利产品，不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定，还可对超大样品的表面（面积可达EC标准线路板规格的2倍， 233x160 mm）进行元素分布分析。 1 超大样品室● 长：520 mm(20.5 '')● 宽：310mm(12'') 2 微聚焦分析，不需要破坏 3 自由样品台. &bull 创新点 &bull 1.附带FP实际金属、贵金属、RoHS分析、无卤化塑胶回归的检测曲线，集多种应用于一身。该曲线采用大量金属及贵金属标准样品绘制，代表性强，实用性强，准确度高。分析数据可同时显示K金值及含量。 2.采用高分辨，高计数率，电制冷的SDD检测器，实际分辨率160eV，计数率高达250,000cps，非常适合高含量样品的分析。该计数器具有先进性及维护简单，无需繁琐而危险的液氮添加过程。 3.激光配合CCD摄像机双定位，样品分析点可视，可调。定位精度高。分析点的照片可截屏，出具报告时可以粘贴在报告中。 4.分析速度快，可在180秒内完成各类样品的分析任务 5.可选配狭缝交换器，测试点的尺寸可调，由0.2毫米至3.3毫米。可同时分析同一样品的各个部分，一般分析点的尺寸为1毫米。 6.可选配XYZ微米级精度全自动样品台，完成点，线，面扫描。一次测量过程可同时分别完成多个样品的分析。 7.超大样品室，可完成超大样品的分析，样品的尺寸可以达到300*200*150mm（长*宽*高）。同时可完成超小样品1mm样品的分析

产品详情X射线荧光分析法的原理特点 图为用波尔模型说明电子轨道和荧光X射线产生的原理 X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子则向外发射原子的X射线。这种X射线被称为荧光X射线，各元素具有特定的波长（能量）。因此，通过检测X射线的波长就能够进行定性分析。另外，荧光X射线的强度与浓度具有函数关系，检测每个元素X射线特征波长的X射线量就能进行定量分析。 满足所有领域不同的应用■ 电子电气 RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件结构分析及镀层厚度、化学合成外膜附着量的检测■ 钢铁非金属 原材料、合金、焊锡、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫元素的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、混入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析玩具日用品中有害重金属元素测定等有设计感的外观460mm宽的紧凑身材，配备大容量的样品室460mm宽的紧凑身材，与我公司以往机型相比尺寸减少20%。而紧凑的机身，拥有可放置200（W）×275（D）×约100（H）mm样品的大型样品室。 识别度高的LED显示灯产生X射线时，分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯将会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。 “初次见面”也可轻松上手的软件PCEDX Navi 为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室，深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。凭直觉操作的浅显简单画面，使从初学者到专家的每一位用户都可以体验到便捷的操作环境。 简洁的界面 在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。在测定界面上可以直接切换准直器 可以一边观察样品图像，一边切换准直器直径。同时，选定的直径用黄色圆圈表示。自动保存样品图像 测定开始时自动读取样品图像，与数据文件夹关联保存。 测定结束后，与样品画面一起，元素名、浓度、3δ（测定的标准偏差）均会在同一界面清楚显示。轻松点击鼠标，即可看到《分析结果一览》或《报告》。 使用转台时的测定准备画面（样品位置确认时）同样适用于连续分析PCEDX Navi同样可应对使用转台（选购件）的分析。可以轻松切换样品图像确认界面和样品位置确认界面。良好的分析性能采用高性能的SDD检测器，确保硬件良好，具有高灵敏度高速分析和高分辨率。可以检测出6C～的机型正式上线（EDX-8000/8100）。高灵敏度 –提高检测下限1.5～5倍-高性能的SDD检测器与光学系统和一次滤光片的组合，实现高灵敏度。从轻元素到重元素，全范围轻松应对。与采用传统Si（Li）半导体检测器的分析装置相比，灵敏度也更胜一筹。高速 –分析速度可提高10倍-SDD检测器在单位时间内X射线荧光的计数率高，因此能够在更短的检测时间内进行高精度分析。特别是对金属材料的分析，这个特点可以得到较大限度的发挥。测定时间与标准偏差（定量值偏差）的关系实际样品的比较分别用以往型号和EDX-7000/8000/8100对无铅焊锡中所含的铅（Pb）进行分析，比较重现性。 满足分析精度所需的检测时间 X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数从而提高精度（重现性）。搭载高计数率SDD检测器的EDX-7000/8000/8100与以往型号相比，能够在更短的时间内保证分析精度。高分辨率 能量分辨率的比较（样品：PPS树脂） 与配置以往Si（Li）半导体检测器的型号相比，能量分辨率更胜一筹。不同元素峰值重叠的影响减小，提升可靠性。无需液氮SDD检测器为电子制冷方式，无需液氮冷却。不仅可以从繁琐的液氮补充作业中解放出来，更可以降低仪器的维护成本。检测元素范围 用EDX-7000/8100进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元或者氦气置换检测单元（均为选购件）。 用EDX-8000进行15P以下的轻元素分析时，需要真空检测单元（选购件）。 用EDX-8100检测氟元素的分析结果 EDX-8000/8100进行超轻元素分析EDX-8000/8100搭载的SDD检测器窗口采用薄膜特殊材料，能够检测碳（C）、氧（O）、氟（F）超轻元素。 优良的通用性从微小样品到大型样品，从粉末样品到液体样品，灵活应对各类样品。配备进行轻元素的高灵敏度分析时所需的真空检测单元、氦气置换检测单元，以及可实现自动连续测定的12位样品转台(选购件)。4种准直器以及CCD样品观察装置 选择1mmΦ准直器 1、3、5、10mmΦ的4种准直器自动切换 根据样品尺寸的不同，照射直径可有4种不同的选择。微小异物分析和失效解析时采用1mmΦ，少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ，根据样品的形状可以选择适合的照射直径。 标配CCD样品观察装置 通过样品观察装置可以确认X射线的照射位置。适用于检测微小样品、检测由多个测样点组成的样品、使用微量样品容器检测等情况。 选择5mmΦ准直器时，使用微量样品容器 自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线，从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。EDX-7000/8000/8100搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实现软件操控自动切换。滤光片有效能量(KeV)对应元素示例#1 15～24 Zr, Mo, Ru, Rh, Cd#2 2～5 Cl, Cr#3 5～7 Cr#4 5～13 Hg, Pb, Br#5 21～24（5～13）* Cd (Hg, Pb, Br)*使用滤光片后，（）中能量范围的背景降低。 准直器和一次滤光片自由组合准直器和一次滤光片独立驱动，无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。样品无损且无需前处理，通过X射线荧光，即可简单轻松实现对医药品中杂质的管理 &bull 分析只需4 Step！&bull 遵照制药界的FDA 21CFR Part11标准&bull 以提升效率为目标，使用LabSolutions CS进行数据管理&bull 通过X射线荧光可以实现对杂质的分析 分析只需4 Step！主要特长遵照制药界的FDA 21CFR Part11标准遵照FDA 21CFR Part11具有如下功能。&bull 安全功能&bull 用户管理功能&bull 操作日志，逐位跟踪日志的生成功能&bull PDF生成功能&bull 验证功能安全功能通过ID/密码进行用户认证，对具有权限的用户开放操作履历记录、界面锁定等功能。逐位跟踪日志的生成功能可以生成分析装置设定更改履历和用户的操作履历等跟踪日志。以提升效率为目标，使用LabSolutions CS进行数据管理包括其它分析装置的的全部分析数据都可以通过服务器电脑的数据库进行管理，因此联网后任何电脑都可读取数据。不论何处都可实现数据管理统合化。使用EDX-7000/8000/8100，轻松实现对医药品中的金属进行分析 如图所示，制成添加了Pt的纤维素粉末标准样品，在0～20ppm的范围内形成6点工作曲线。样品量仅为100mg，平均1样品测定20分钟，就可如下表得到良好的标准偏差（RMS）和直线性，从而实现高正确度的分析。元素濃度範囲(ppm)RMS(ppm)相関係数Pt0-200.250.9993 混入Pt和As的纤维素粉末样品的EDX光谱

ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪，针对一些珍贵的材质，可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图，实现测量点的准确定位，拥有直观的硬件和分析软件，加快了XRF分析仪器的现代化进程。在微区-XRF中设置标准方便快捷的非接触式检测1、ELIO设计简单精美，具有1毫米的激光定位分析点，内置相机和新型电子元件2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上，完成元素分布图的采集3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点和难以到达的紧角完成检测4、ELIO基于激发强度大，样品台可以快速移动的设计，从而检测速度fei常快，此外，控制软件还可进一步优化采集时间5、采用CUBE技术的大面积硅漂移探测器（SDD）6、采用的探测器技术，能量分辨率140eV（Mn Kα），并具有高输出计数率（OCR），可实现快速分析，同时保持高能量分辨率7、高电压50 kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构，可在数秒内实现非接触式检测8、灵活更换X射线管阳，滤波片和准直器，为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 携带便携1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上，使ELIO fei常适合移动使用2、测量头的总重量为2.1千克3、样本大小如何，三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测4、多种三脚架可供选择，满足不同的用户要求5、可选的电动XY平台，完成现场便携式的元素分布绘图6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究，艺术鉴定和保护的物体进行原位扫描，使用户免于必运输，避免样品收到损害。一、地质科学分析大型钻芯部分或其他矿物样品，拥有的元素分布图和光谱解析功能，可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。二、材料科学针对一些材料，可以通过移动扫描获得元素分布，从而扩展了这些材料的应用，从空间科学走向消费产品。三、食品科学植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置，直观地展示加工食品中强化剂的分布。四、科学教育和研究可作为教学和研究工具来分析田野，教室或实验室中的物体和材料。

地质/环保伽马射线分析仪简介：RT-40代表了便携式伽玛射线谱仪的重大进步，为地球物理和环境应用提供了许多新特性。紧凑的，单手持拿与集成的GPS给用户非常愉快的现场操作体验。高灵敏度探测器与复杂的数学方法相结合，实时提供准确可靠的结果。GT-40和GT-40-S除了探测器的类型外，其他都是相同的。GT-40具有3 × 3”的NaI(Tl)探测器，灵敏度高，分辨率好，可在大多数现场应用中使用。GT-40-S具有2x2“带铅屏蔽的BGO探测器，应用于聚焦测量岩心或地层测量。GT-40可通过内部标定常数计算出K（%）、U（ppm）和Th（ppm）的浓度。测量结束后立即显示结果。它们可以存储在仪器中或通过蓝牙或Wi-Fi发送到外部设备。高灵敏度的集成GPS接收器，可以自动记录位置并存储在每一次测量的数据中。测量也可以通过语音标签记录。存储的语音信息可以通过内置扬声器重复。GT-40由内置充电器的高能可充电锂电池组供电。这允许实际的测量时间高达15小时多功能GeoView软件包提供所有必要的数据下载到电脑里，基于日历的测试结果，频谱视图，数据显示和将测量结果导出到地图软件上（例如谷歌地图）。特点：● 高灵敏度 使用 3”x 3” NaI(Tl)或 2”x 2” 屏蔽的BGO 探测器● 先进的数字信号处理器光谱仪● 自然本底下自动稳定● 大尺寸可读彩色显示器● 直观的用户导航操纵杆● 通过Wi- Fi或蓝牙进行无线通信● 集成GPS和语音记录的实时结果● 坚固的手持式设计应用：● 探测矿物● 油气探测● 地质探测● 地理测绘● K , U, Th 和 Cs--‐137 分析● 探测铀矿● 岩心录井● 环境监测方便携带：技术参数：探测器：GT-40：NaI(Tl), 体积345 cm3, 直径76 x 76 mm (3” x 3”), 双碱 PMTGT-40-S：BGO, 体积104 cm3, 直径51 x 51 mm (2” x 2”), 双碱 PMT，25 mm 厚度的铅屏蔽光谱仪：1024道, 40 MHz DSP，线性能量校正堆积排除器, 200 ns 分辨率显示器：彩色，穿透式, 360 x 240 dots, 72 x 54 mm (3.5”), 太阳下可读控制器：5点式带照明的导航杆声音部件：内置36 mm麦克风数据存储：最少2000个带全光谱，数据位置和语音信息的样本GPS：导航到 –162 dBm and –148 dBm 冷启动通信：数据传输、遥控装置通过： USB 2.0，1.2Class2 ，Wi-Fi 802.11n电源：7.2V/6600 mAh可充电锂电池(松下 CGR18650CG/2S3P) 最少可以操作20小时。外部交流适配器(12V/1A)充电。尺寸：直径120 mm x 420 mm重量：GT-40: 4 kg (8.8 lb)，GT-40-S:9 kg (19.8 lb)标准配置：GT-40 (GT-40-S) 谱 用户手册 交流电源适配器 1.5 米 USB 线 Geoview软件包 (CD) 坚固的Pelican牌储存和运输箱环境：操作温度范围 -10oC to +50oC ，IP-65 级防水防尘 RFI/EMF屏蔽符合FCC(47 CFR part 15)的A级CE认证

当前价格是定金，准确货期&实际价格请与客服咨询为准！谢谢 追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200ü无损分析，保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量 更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低 更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例 新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样) 新升级———降低分析成本————l阈值算法优化，有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级，降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管，有效提高高湿度地区光管使用寿命

追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200 ü无损分析，保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样)新升级———降低分析成本————l阈值算法优化，有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级，降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管，有效提高高湿度地区光管使用寿命

产 品 说 明Epsilon3 是一个台式能量色散X射线荧光光谱仪（EDXRF）Epsilon3 可以处理:固体、压制和松散粉末、液体和滤膜样品。Epsilon3 从钠到铀元素的非破坏定量分析。

NEX QC为小型?轻量型仪器、可以在几十mg/m2 的低附着量下进行硅的分析。将样品 切割成能够放入样品室的大小，只需轻轻一按即可进行测量。即使是对分析不熟悉的人员也可以轻松进行处理。 NEX QC在废弃物的再利用?再生资源化的最前线也很活跃。RPF（废物固化燃料）中氯的等级、现场进行简单筛查。当然也是一键式操作。 基本性能General能量色散X荧光检测元素范围：Na-U分析范围：ppm到百分含量空气或充氦环境检测X射线发生器ExcitationX光管 钯靶或铑靶或银靶或钼靶大于4W 50kV 电压检测器Detection高分辨率SDD检测器Peltier电制冷较大晶体面积检测器参数自动调整优良分析模式样品室 Sample Chamber大于 20cm直径×8cm样品室6位以上自动进样器32mm 可选可调节

仪器简介：全新偏振型能量色散X射线荧光光谱仪 — 开创XRF分析新纪元SPECTRO- XEPOS 偏振能量色散XRF的分析性能在能量色散 X 射线荧光技术（ED-XRF）领域独树一帜。 具备多元素和多浓度（主量、微量和痕量）的突破性分析能力。信号和光谱处理的新技术的运用显著提高了结果的精确性和准确度。1. 采用世界上最新的、最先进的偏振X射线荧光激发技术，区别于其他X射线荧光仪， 仪器的背景最低，信噪比最佳， 检出限最低。 2. 采用Pd/Co双靶材技术搭配不同的激发光路，在更宽的元素范围内改善了灵敏度和检测限。相当于一台仪器上配备了两种X光射线管，激发方式得到优化，以达到理想的分析效果。3. 优异的精度/极快的数据读取具有业界最高的灵敏度。高精度地同时分析主，次量元素，卓越的检出下限使仪器对那些难以分析的痕量元素也可以轻松应对。 对需要快速分析的样品，在稍稍牺牲精度的条件下，可大大缩短分析时间。4. XEPOS型仪器配有无需液氮冷却的SDD检测器， 计数率高达1,000,000pcs。 可有效防止计数溢出。 不会产生Si(Li)计数器所发生的在无需液氮冷却的情况下， 所产生的分辨率降低，背景升高，信噪比变差的情况。5. 涂镀层分析能力，具备了涂镀层的厚度（低至1纳米）及 成分分析功能，包括贵金属镀层分析，最 多8层55元素。6. 仪器可选择配置 TURBOQUANT快速定性, 半定量(定量)程序。可对任何完全未知的样品进行‘解刨’分析。与其他X荧光仪器相比，TURBOQUANT 更为接近(符合)实际，在此程序中采用了数十种国际标准样品，实测结果并予以固化。 7. 仪器在Windows操作系统上建立斯派克的分析软件，操作极为方便。采用人机功效学原理，谱图汇编，自动识别。定性、定量功能强大。仪器采用分级密码，重要的数据得到保护。8. 仪器具有多达十几种校正模式(数学模型)(方法)，在定量分析中可充分应用，已取得最佳的分析结果。方法包括: 基本参数法、康普顿散射内标法、卢卡斯法、α经验系数法、质量吸收系数法、平均原子量法等等。SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理，包括地质和采矿、环境和危废检测以及科研和高校。

能量色散X射线荧光（EDXRF）是一种常规的分析技术，广泛用于各种样品类型中主要元素及微量元素的半定量和精确定量分析。其广泛的实用性源于：快速、准确、无损的多元素分析；元素分析范围涵盖从钠（Na）至铀（U）；含量分析范围从低的PPM级到高的百分含量（wt%）。 日本理学NEX CG功能多样，可以实现各种类型样品的常规分析。从均匀、低粘性的液态样品，到固态、金属、泥浆、粉末和胶状样品。特别适用于对成分完全未知的样品进行半定量分析。NEX CG欠打的分析能力，灵活、方便的使用性，使其在科研、工业及现场检测领域有着广泛的需求。 独立的2次靶光学系统、能为范围广泛的元素提供很好分析。钠 (Na) 、镁(Mg)、氯(Cl)等用EDX分析比较困难的元素也能用NEX CG进行分析。能量色散X射线荧光（EDXRF）分析的特点*检测样品完全无损*元素分析从钠（Na）至铀（U）*适用于固态、液态、粉末及稀薄样品*偏振式激发使检出限（LOD）更低*无需标准样品即可进行半定量分析*使用RPE-SQX软件减少对标样需求*独特的光谱重叠处理方法使误差降低*EZ分析程序用户界面简单

X-Calibur台式EDXRF光谱仪多元素分析仪能量色散X射线荧光光谱仪X-Calibur 实用型台式X射线荧光光谱仪X-Calibur配备独特几何结构的阳极靶及高功率X射线激发源，适用于传统实验室工作台，并集成完整计算机系统、6个自定义滤光片，样品盘及样品相机。 Xenemetrix台式X射线荧光光谱仪采用高分辨率探测器及高性能X射线管，能够测量多种尺寸和类型的样品。X-Calibur可选超薄探窗，其卓越的性能可适用于低序元素（轻元素）的探测分析。无损元素分析通过使用标样或无标样方法（基本参数）对Na（11）- U（92）范围元素进行定性及定量分析。X射线源激发性能达50kV，50W，Rh靶材料，分析浓度探测限范围可达ppm至100%，在复杂的应用中表现其卓越的性能。Analytix专用软件Analytix专用软件支持在野外进行操作并快速得到结果。硅漂移探测器（SDD）高计数率及分辨率的SDD探测器，分辨率可达125eV。SDD LE探测器超薄探窗能够提供对低序元素探测分析的优异性能。滤光片根据应用要求，6个管式滤光片可针对痕量元素和微量元素自定义快速准确的切换。。自动校准系统可根据材料为当前周围环境条件自动校准。Analytix专用软件 Analytix软件能够提供准确全面，易于理解的分析结果，适用于多种应用，并能够高效的在短时间内执行多种测量。 软件采用高度直观的界面设计，简单易用的GUI，适用于不同层次用户，广泛的应用于各种元素工作任务。 Analytix可提供客户-服务器操作员模式，这种模式支持通过WiFi或GPS进行实时数据传输，并在其它位置远程轻松管理系统。分析过程可在现场完成，分析结果可传输至每个客户端并伴随相关的GPS定位数据及测试识别信息。 X-Calibur应用领域

杰出的灵敏度带来高达3倍的精度改进——这是分析维量到主量元素含量时高准确性的基础 可以检测到极低的痕量元素：自适应激发、前沿的X光管设计和高计数率的检测系统显著降低了多种元素（通常为1/3）的检测极限 掌握未知：Turboquant II软件工具提供一种前所未有的能力——分析未知样本，不管是液体、固体还是粉末状，无论是树叶、塑料、油品、石墨… … 新型SPECTRO XEPOS光谱仪代表了能量色散X射线荧光技术上的巨大突破。它带来主量、微量和痕量元素含量水平多元素分析方面的突破性进展。激发和检测方面的新发展实现了杰出的灵敏度和检测极限——大幅提高精确性和准确度。SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在从快速筛查分析到精确产品质量控制等关键任务中表现十分出色。将它用于各行各业的临线处理，包括地质和采矿、环境和废物检测以及科研和高校。不同版本最大化特定基体中所含特定元素组的性能。创新的X射线管和独特的新型自适应性激发技术造就最高灵敏度，全面优化所选的目标元素。重复性： 0.1%分析含量范围： 亚ppm-100%价格区间： 50万-100万能量分辨率： 130eV元素分析范围： Na-U仪器种类： 台式/落地式能量色散型X荧光光谱、XRF

JSX-1000S是日本电子在2014年3月在全世界同步推出的最新一款能量色散X射线荧光元素分析仪，软件设计简单，操作极为方便；灵敏度高、效率好；还未不同的应用专门设计的特色软件应对，实现了准确、高效的元素分析，应用范围极为广泛。 JSX-1000S由设计顶级设计团队设计外观，洋溢现代美感，充分体现了该仪器的高端气质。 主要技术指标：探测范围:标准配置Mg～U 选配Na～U X-射线发生装置：5～50　kV , 1mA靶材：Rh过滤器（最大九种）：标准配置OPEN, ND, Cr, Pb, Cd　；选配Cl, Cu, Mo, Sb检测器：硅漂移探头样品室尺寸：300mmφ×80mmH样品室真空：标准配置（大气）；选配真空样品室内观察系统：彩色相机分析软件：定性分析、定量分析、RoHS对应软件（Cd,Pb,Hg,Br,Cr)、简易分析软件、报告书软件、日常检查软件等