变角度光谱仪

系统主要功能指标：宽光谱测量范围：UV-VIS-NIR, 200-900nm 高系统时间分辨率： =5ps寿命衰减测量时间范围：=50ps—100us 高系统光谱分辨率： 0.1nm宽单次成谱范围： =200nm静态（稳态）光谱采集，瞬态时间分辨光谱图像及荧光寿命曲线系统集成整体控制及数据处理软件超快时间分辨光谱系统 是由光谱仪、超快探测器、耦合光路、系统控制及数据处理软件组成。光谱仪对入射光信号进行分光，分光光谱耦合到超快探测器,入射光由透镜聚焦在阴极上，激发出的光电子通过阳极加速，入射到偏转场中的电极间，此时电压加在偏转电极上，光电子被电场偏转，激射荧光屏，以光信号的形式成像在荧光屏上。转换后的光信号还可以再通过图像增强器进行能量放大，并在图像增强器的荧光屏上成像。最后通过制冷相机采集荧光屏上信号。因为电子的偏转与其承受的偏转电场成正比，因此，通过电极的时间差就可以作为荧光屏上条纹成像的位置差被记录下来，也就是将入射光的时间轴转换成了荧光屏空间轴。系统控制软件用于整个系统的参数设置、功能切换、数据采集等，图像工作站用于采集数据处理分析主要应用方向超快化学发光超快物理发光超快放电过程超快闪烁体发光时间分辨荧光光谱，荧光寿命，半导体材料时间分辨PL谱钙钛矿材料时间分辨PL谱瞬态吸收谱，时间分辨拉曼光谱测量光通讯，量子器件的响应测量自由电子激光，超短激光技术各种等离子体发光 汤姆逊散射，激光雷达。。。。。。 光谱仪建议选型参数列表光谱仪型号Omni-λ2002iOmni-λ3004iOmni-λ5004iOmni-λ7504i光谱仪焦距200mm320mm500mm750mm相对孔径F/3.5F/4.2F/6.5F/9.7光谱分辨率（1200l/mm）0.3nm0.1nm0.08nm0.05nm波长准确度+/-0.2nm+/-0.2nm+/-0.15nm+/-0.1nm倒线色散(1200l/mm)3.6nm/mm2.3nm/mm1.7nm/mm1.1nm/mm光栅尺寸50*50mm68*68mm68*68mm68*68mm光栅台双光栅三光栅三光栅三光栅与探测器耦合中继光路1:1耦合，配合二维焦面精密调节一体化底板系统光谱分辨率(1200l/mm)=0.3nm=0.2nm=0.1nm0.08nm一次摄谱范围(150 l/mm)230nm150nm90nm60nm光谱仪入口选项光纤及光纤接口，标准荧光样品室，镜头收集耦合，共聚焦显微收集耦合等多系统灵活组合超快时间分辨光谱测试系统既可以与飞秒超快光源配合完成独立的光谱测试，也可以与卓立汉光的其他系统比如 TCSPC, RTS&FLIM显微荧光寿命成像系统,TAM900宽场瞬态吸收成像系统，以及低温制冷室，飞秒&皮秒激光器等配合完成更为复杂全面的超快测试。Zolix其他可配合超快测量系统lRTS2& FLIM 显微荧光寿命成像系统光谱扫描范围：200-900nm(可拓展)最小时间分辨率：16ps荧光寿命测量范围：500ps-1μs@ 皮秒脉冲激光器激发源： 375nm- 670nm 皮秒脉冲激光器可选，或使用飞秒光源科研级正置显微镜及电动位移台空间分辨率：≤1μm@100X 物镜@405nm 皮秒脉冲激光器OmniFluo-FM 荧光寿命成像专用软件Omni-TAM900 宽场飞秒瞬态吸收成像系统测量模式：1：点泵浦-宽场探测：测量载流子迁移和热导率等；2：宽场泵浦-宽场探测：测量载流子分布和物理态的空间异质性等。探测器：sCMOS相机成像空间分辨率：优于500nm载流子迁移定位精度 优于30nm时间延时范围：0-4ns或0-8ns可选搭配倒置显微镜，可兼容低温，探针台，电学调控等模块20ps 的钙钛矿薄膜ASE 发光寿命曲线

ES01是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的高精度全自动光谱椭偏仪，系列仪器的波长范围覆盖紫外、可见到红外。ES01系列光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数（如，厚度）和物理参数（如，折射率n、消光系数k），也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。ES01系列光谱椭偏仪适合于对样品进行实时和非实时检测。特点：原子层量级的检测灵敏度 国际先进的采样方法、高稳定的核心器件、高质量的设计和制造工艺实现并保证了能够测量原子层量级的纳米薄膜，膜厚精度达到0.05nm。秒级的快速测量 快速椭偏采样方法、高信噪比的信号探测、自动化的测量软件，在保证高精度和准确度的同时，10秒内快速完成一次全光谱椭偏测量。一键式仪器操作 对于常规操作，只需鼠标点击一个按钮即可完成复杂的测量、建模、拟合和分析过程，丰富的模型库和材料库也同时方便了用户的高级操作需求。应用：ES01系列尤其适合于科研和工业产品环境中的新品研发。ES01系列多种光谱范围可满足不同应用场合。比如：ES01V适合于测量电介质材料、无定形半导体、聚合物等的实时和非实时检测。ES01U适合于很大范围的材料种类，包括对介质材料、聚合物、半导体、金属等的实时和非实时检测，光谱范围覆盖半导体的临界点，这对于测量和控制合成的半导体合金成分非常有用。并且适合于较大的膜厚范围（从次纳米量级到10微米左右）。 ES01系列可用于测量光面基底上的单层和多层纳米薄膜的厚度、折射率n及消光系数k。应用领域包括：微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、化学、电化学、磁介质存储、平板显示、聚合物及金属表面处理等。典型应用如：半导体：如：介电薄膜、金属薄膜、高分子、光刻胶、硅、PZT膜，激光二极管GaN和AlGaN、透明的电子器件等）；平板显示：TFT、OLED、等离子显示板、柔性显示板等；功能性涂料：增透型、自清洁型、电致变色型、镜面性光学涂层，以及高分子、油类、Al2O3表面镀层和处理等；生物和化学工程：有机薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子层、薄膜吸附、表面改性处理、液体等。ES01系列也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。应用领域包括：固体（金属、半导体、介质等），或液体（纯净物或混合物）。典型应用包括：玻璃新品研发和质量控制等。技术指标：项目技术指标光谱范围ES01V：370-1000nmES01U：245-1000nm光谱分辨率1.5nm单次测量时间典型10s,取决于测量模式准确度&delta (Psi): 0.02 ° ,&delta (Delta): 0.04° （透射模式测空气时）膜厚测量重复性（1）0.05nm (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)折射率精度（1）1x10-3 (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)入射角度40° -90° 自动调节，重复性0.02° 光学结构PSCA（&Delta 在0° 或180° 附近时也具有极高的准确度）样品台尺寸可放置样品尺寸：直径170 mm样品方位调整高度调节范围：0-10mm二维俯仰调节：± 4° 样品对准光学自准直显微和望远对准系统软件&bull 多语言界面切换&bull 预设项目供快捷操作使用&bull 安全的权限管理模式（管理员、操作员）&bull 方便的材料数据库以及多种色散模型库&bull 丰富的模型数据库选配件自动扫描样品台聚焦透镜注：(1)测量重复性：是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量30次所计算的标准差。可选配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅纳米薄膜标片 NFS-Si3N4/Si氮化硅纳米薄膜标片 VP01真空吸附泵 VP02真空吸附泵 样品池

ESS01是针对科研和工业环境中薄膜测量推出的波长扫描式、高精度自动变入射角度光谱椭偏仪，此系列仪器波长范围覆盖紫外、可见、近红外到远红外。ESS01采用宽光谱光源结合单色仪的方式实现高光谱分辨的椭偏测量。ESS01系列光谱椭偏仪用于测量单层和多层纳米薄膜的层构参数（如，厚层厚度、表面为粗糙度等）和光学参数（如，折射率n、消光系数k、复介电常数&epsilon 等），也可用于测量块状材料的光学参数。ESS01适合多入射角光谱椭偏仪尤其适合科研中的新品研发。技术特点：极宽的光谱范围 采用宽光谱光源、宽光谱扫描的系统光学设计，保证了仪器在极宽的光谱范围下都具有高准确度，非常适合于对光谱范围要求极其严格的场合。灵活的测量设置仪器的多个关键参数可根据要求而设定（包括：波长范围、扫描步距、入射角度等），极大地提高了测量的灵活性，可以胜任要求苛刻的样品。原子层量级的检测灵敏度国际先进的采样方法、高稳定的核心器件、高质量的设计和制造工艺实现并保证了能够测量原子层量级地纳米薄膜，膜厚精度达到0.05nm。非常经济的技术方案 采用较经济的宽光谱光源结合扫描单色仪的方式实现高光谱分辨的椭偏测量，仪器整体成本得到有效降低。 应用领域：ESS01系列多入射角光谱椭偏仪尤其适合科研中的新品研发。ESS01适合很大范围的材料种类，包括对介质材料、聚合物、半导体、金属等的实时和非实时检测，光谱范围覆盖半导体地临界点，这对于测量和控制合成的半导体合金成分非常有用。并且适合于较大的膜厚范围（从次纳米量级到10微米左右）。ESS01可用于测量光面基底上的单层和多层纳米薄膜的厚度、折射率n及消光系数k。应用领域包括：微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、化学、电化学、磁介质存储、平板显示、聚合物及金属表面处理等。薄膜相关应用涉及物理、化学、信息、环保等，典型应用包括：半导体：如：介电薄膜、金属薄膜、高分子、光刻胶、硅、PZT膜，激光二极管GaN和AlGaN、透明的电子器件等）；平板显示：TFT、OLED、等离子显示板、柔性显示板等；功能性涂料：增透型、自清洁型、电致变色型、镜面性光学涂层，以及高分子、油类、Al2O3表面镀层和处理等；生物和化学工程：有机薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子层、薄膜吸附、表面改性处理、液体等。节能环保领域：LOW-E玻璃等。ESS01系列也可用于测量块状材料的折射率n和消光系数k。应用领域包括：固体（金属、半导体、介质等），或液体（纯净物或混合物）。典型应用包括：玻璃新品研发和质量控制等。技术指标：项目技术指标光谱范围ESS01VI：370-1700nmESS01UI：245-1700nm光谱分辨率（nm）可设置入射角度40° -90° 自动调节准确度&delta (Psi): 0.02 ° ,&delta (Delta): 0.04° （透射模式测空气时）膜厚测量重复性（1）0.05nm (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)折射率n测量重复性（1）0.001(对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)单次测量时间典型0.6s / Wavelength / Point（取决于测量模式）光学结构PSCA（&Delta 在0° 或180° 附近时也具有极高的准确度）可测量样品最大尺寸直径&Phi 200 mm样品方位调整高度调节范围：10mm二维俯仰调节：± 4° 样品对准光学自准直显微和望远对准系统软件&bull 多语言界面切换&bull 预设项目供快捷操作使用&bull 安全的权限管理模式（管理员、操作员）&bull 方便的材料数据库以及多种色散模型库&bull 丰富的模型数据库选配件自动扫描样品台聚焦透镜 注：(1)测量重复性：是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量30次所计算的标准差。

ES01-PV是针对光伏太阳能电池研发和质量控制领域推出的高性能光谱椭偏仪。ES01-PV用于测量和分析光伏领域中多层纳米薄膜的层构参数（如，厚度）和物理参数（如，折射率n、消光系数k），典型样品包括：绒面单晶和多晶太阳电池上的单层减反膜（如SiNx，SiO2，TiO2，Al2O3等）和多层减反膜（如，SiNx/SiO2, SiNx2/SiNx1, SiNx &thinsp /Al2O3&thinsp 等），以及薄膜太阳电池中的多层纳米薄膜。 特点：粗糙绒面纳米薄膜的高灵敏测量先进的光能量增强技术、高信噪比的探测技术以及高信噪比的微弱信号处理方法，实现了对粗糙表面散射为主和极低反射率为特征的绒面太阳电池表面镀层的高灵敏检测。晶体硅多层减反膜检测 专门针对多层薄膜检测而设计，可满足晶体硅太阳能电池领域中的双层膜，如（SiNx/SiO2, SiNx2/SiNx1, SiNx &thinsp /Al2O3等）的检测。秒级的快速测量国际先进的快速椭偏采样方法、一流的关键部件、自动化的测量软件，在保证高精度和准确度的同时，可在10秒内快速完成一次测量。一键式仪器操作对于常规操作，只需鼠标点击一个按钮即可完成复杂的测量、建模、拟合和分析过程，丰富的模型库和材料库也同时方便了用户的高级操作需求。应用：ES01-PV可用于测量绒面单晶或多晶硅太阳电池表面上纳米薄膜的厚度、折射率n和消光系数k，包括：单层减反膜（如， SiNx， TiO2，SiO2，A12O3等）、双层纳米薄膜（如，SiNx/SiO2, SiNx2/SiNx1, SiNx &thinsp /Al2O3等），以及多层纳米薄膜。 ES01-PV的应用也覆盖了传统光谱椭偏仪所测量的光面基底上的单层和多层纳米薄膜，典型应用包括：半导体（如：介电薄膜、金属薄膜、高分子、光刻胶、硅、PZT膜，激光二极管GaN和AlGaN、透明的电子器件等）、平板显示（TFT、OLED、等离子显示板、柔性显示板等）、功能性涂料：（增透型、自清洁型、电致变色型、镜面性光学涂层，以及高分子、油类、Al2O3表面镀层和处理等)、生物和化学工程（有机薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子层、薄膜吸附、表面改性处理、液体等）等。技术指标: 项目技术指标光谱范围240nm-930nm（绒面测量时为350-850nm）单次测量时间10s,取决于测量模式膜厚测量重复性（1）0.05nm (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)折射率精度（1）1x10-3 (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层)入射角度40° -90° 自动调节光学结构PSCA（&Delta 在0° 或180° 附近时也具有极高的准确度）样品台尺寸一体化样品台轻松变换可测量单晶或多晶样品兼容125*125mm和156*156mm的太阳能电池样品样品方位调整Z轴高度调节：± 6.5mm二维俯仰调节：± 4° 样品对准：光学自准直显微和望远对准系统软件&bull 多语言界面切换&bull 太阳能电池样品预设项目供快捷操作使用&bull 安全的权限管理模式（管理员、操作员）&bull 方便的材料数据库以及多种色散模型库&bull 丰富的模型数据库注：(1)测量重复性：是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量30次所计算的标准差。

一个能“变角度”的光谱系统0~360° 变角度 / 200~2500nm 宽光谱 /绝对反射率 R1 角分辨光谱仪 融合了复享首创的角分辨光谱技术与超精密的光学系统，专为多角度光谱探测需求而设计。通过最新升级的高精度旋转支架，R1 能够精确操控光路 360° 空间旋转，搭配高信噪比的光谱仪，支持绝对光谱效率检测。此外，颠覆性的反射式光学系统，有效消除了 200~2500nm 宽波段色差。旨在为用户提供更多维度、更宽波段的高精度光谱分析体验，以满足微纳光学、发光材料等各领域的应用需求。 典型应用领域： 结构色 在不同角度下呈现多彩的外观是结构色的基本属性，因此需要系统具备多角度光谱检测能力。 光子晶体 光子晶体以其可调的能带结构实现光束偏振、方向、频率等特性的精确调控，因此需要系统具有准确表征能带结构的能力以指导优化制备工艺。 光学薄膜 光学薄膜在不同角度具有反射率差异，因此需要系统能够准确测量薄膜在不同角度下的反射率数据，以进行全面的性能评估和优化。 发光材料 空间光强分布是发光材料至关重要的指标。因此需要系统具有全方位接收发光信息的能力R1 角分辨光谱仪 在以上领域的应用得益于如下几个特点： 1 0~360° 完整角度范围 R1 角分辨光谱仪 采用两颗精密的 Suruga 滑台，实现完整的 0~360° 光谱测试；匹配智能算法，快速实现包括 透射 / 反射 / 散射 / 辐射 在内的 7 种光谱测量模式； 2 最宽 250~2500nm 谱段 R1 角分辨光谱仪 内置 氘气 / 卤素 光源，结合 Polka 分束镜，并选取消除色差的 Fluorite 萤石晶体透镜，提供 250~2500nm 超宽波段光谱测量； 3 精细的 5 维调节 为适应 样品的多样性，R1 角分辨光谱仪采用了 x+y / α+β+θ 的 5 维调节台，精细地对样品进行方向调整； 4 外接 Laser 光源 由于新增的外部激光接口，R1 角分辨光谱仪 可拓展应用于 角分辨荧光光谱 测试领域，充分发挥实验室中更为强大的光源的优势。 注：以上参数如有差异，以官网为准。

显微角分辨光谱仪最小 0.1° 角分辨 / 400~1700nm 超宽谱段 / 微米级样品 ARMS 显微角分辨光谱仪 支持微米级样品全自动角分辨多模式光谱测量。得益于优秀的色差、像差控制及分波段的光路设计，ARMS 可在显微尺度、400~1700nm 和 0.1° 角分辨率的能力下，同时获得角度 (k) 、频率 (ω)、光谱 (λ) 完整信息，为您在光子晶体、拓扑光子学、超构材料和光-物质强耦合等研究领域提供卓越的解决方案。ARMS 显微角分辨光谱仪 典型应用领域： Nano Photonics 随着以光子晶体、SPP 材料、超材料为代表的微纳光子材料的开发和应用，单纯光谱分析技术已无法满足完备表征该类光子材料光学性质的需求，更精细化的角分辨光谱技术应运而生。 微腔光子器件 微腔光子器件受构型影响，光学性质具有角分布特征，需在不同角度下实现光谱探测。 超表面透镜 利用超表面技术（meta-surface）设计的超表面透镜具有强大的光场调控能力，能够实现亚波长的汇聚和微米级的聚焦，需要一种新型的基于显微平台的角分辨光谱探测手段。 ARMS 显微角分辨光谱系统 在以上领域的应用得益于如下几个特点： 1 超过 60° 的角度 ARMS 优选 Olympus 大 N.A. 平场复消色差物镜，收集超过 60° 的角向辐射光谱；匹配智能算法，快速实现包括 透射 / 反射 / 辐射 (荧光) 等 9 种光谱测量模式； 2 达 5 个维度的空间选择 ARMS 内置一个可调 Aperture，可以实现 X / Y 方向开口距离调节，XY 两维平面位置平移，及平面内 θ 方向旋转，准确抓取 复杂形貌 的微区样品； 3 最小 0.5° 角分辨率 ARMS 采用特殊优化的消色差、消相差光路，能够将角度分辨率提升至 0.5°，显著提升光谱分析能力； 4 1.65 μm 近红外拓展 NEW ARMS 重新对角分辨光路系统进行构型， 在近红外波段 900~1650 nm 实现角分辨光谱测量，对推动光通讯、超表面、激光雷达等领域研究具有重要价值； 5 低温 + 磁场拓展 新一代 ARMS 也拓展了对低温和磁场环境的支持，可适配最低 2.7K 低温恒温器 和最高 5T 磁场强度 超导磁体； 6 除此之外，ARMS 还可与外部光源及 Princeton Instruments 光谱仪衔接，实现包括时间分辨、空间相干性、瞬态光谱采集等功能。 技术起源：角分辨光谱技术（Angle-resolved Spectroscopy, ARS），诞生于复旦大学，是一种 精细化 的光谱技术。基于该技术而生的角分辨光谱仪具有在 不同角度下 探测材料光谱性质的能力，突破传统光谱技术不能分辨角度的局限，是获取光子材料色散关系，实现光学性质“全面表征”的重要手段，在 微纳光子学、低维材料、发光材料 等领域具有重要应用价值。注：以上参数如有差异，以官网为准

面向有机发光材料的角分辨光谱仪0~360° 变角度 / 最宽 220~2500nm / PL & EL 角分辨光谱 / 分子取向 R1-OLED 有机发光材料角分辨光谱仪 支持 0~360° 全角度测量，波段最宽可扩展至 220~2500nm。可应用于 TADF 材料、磷光材料、荧光上转换材料光致/电致荧光光谱各向异性研究，为 OLED 器件、OPV 器件和相关超构材料提供表面光场调控表征。搭配专用软件，模拟出射光谱变角度强度分布，获取分子取向因子，为有机发光材料检测提供全新体验。典型应用领域： 角分辨 PL&EL 测量 有机发光材料具有辐射空间分布，需要系统具有角分辨光谱采集能力。 微结构光场调控 钙钛矿超构材料对不同角度入射光具有光场调控效应，需要系统具有角度分辨能力。 偶极分子取向 有机发光材料分子取向影响外量子效率 (External Quantum Efficiency, EQE)，需要系统具有检测分子取向的能力。 R1-OLED 有机发光材料角分辨光谱仪 在以上领域的应用得益于如下几个特点： 1 0~360° 完整角度探测 R1-OLED 有机发光材料角分辨光谱仪采用两个高精度定位旋转电机，实现完整的 0~360° 变角度 光谱探测。 2 宽谱段 PL&EL 测量 R1-OLED 有机发光材料角分辨光谱仪采用面阵背照式光谱仪进行光谱采集，搭配激发光源及源表，最宽可实现 220~2500nm 波段 PL&EL 光谱探测。 3 光学仿真拟合 搭配配套软件，R1-OLED 有机发光材料角分辨光谱仪可根据发光材料结构参数，模拟出射光谱变角度强度分布，获取 分子取向因子。 4 可扩展性 R1-OLED 有机发光材料角分辨光谱仪可兼容氘灯、激光器等外接光源，满足多种实验对不同光源的需求。同时样品台采用模块化设计，支持 定制化改造，适配不同尺寸样品。 测试案例：

XST-SpectralNet多角度全自动高光谱仪产品概述：光谱数据是遥感信息反演的基础数据源。XST-SpectralNet多角度全自动高光谱仪为实现全天候高光谱数据的自动测量提供了低成本、高效率的测量方式，可以应用于长时间序列光谱数据获取与生态环境变量监测。 特点：1. 长期自动监测地物光谱反射率：高精度，低功耗，内置自动温度控制模块，适应野外环境。2. 光谱测量与地表参数计算一体化：内置植被参数计算模型，自动完成关键生态参数实时输出。3. 基于云平台的数据可视化：实时测量参数与同步计算参数直观展示。4. 多目标探测功能：内置自动光路切换模块，实现一机多目标、多角度探测。5. 基于浏览器的操作界面：随时查看、修改参数，手动测量模式切换、查看及下载数据。6. 野外调试及维护简单：软件配置、调试可实现远程网络化操作。7. 内置多种数据校正模块：辐射校正、光谱校正和暗流校正。8. 通过国家科研单位检测中心检测，国家重点实验室定期数据标定基准机。应用领域：&bull 植物生理领域：提高陆面植被光合作用过程模型中重要参数的长期连续监测能力，提高光合作用描述的准确度，支撑发展陆面冠层辐射机理参数化方案。&bull 植物生态领域：提供精细化的实时光合作用能量分配参数，为评估生态环境效应、开展逐日和区域尺度的碳预测提供时序站点数据，助力双碳目标。&bull 陆地遥感领域：具有支撑开展陆面植被生长过程与遥感观测实时数据同化能力，为区域联网观测提供网络节点，支撑包括中国碳卫星等遥感观测数据地面验证工作。技术参数：直接测量参数高光谱原始数据、光谱反射率数据、归一化植被指数（NDVI）、红边指数（REI）、叶片光化学指数（PRI）、光合有效辐射（PAR）等模拟计算参数叶绿素/类胡萝卜素指数（CCI）、土壤水分（依使用场景）支持定制用户可提供参数、多种计算模型，星视图实现模块嵌入自动计算有效光谱范围350nm-1020nm（可定制350nm-2500nm）光谱分辨率1nm（可定制）信噪比600:1光谱采样间隔0.3nm动态范围5000制冷与温控光谱仪独立恒温仓，双降温模式，采用TEC半导与风控降温波长标定采用Hg灯，利用9点定标，最大程度保证波长的准确性杂散光范围0.06%@710nm；0.3%@435nm余弦接收器采用Spectralon材料，抗紫外线，进行自动校准积分时间自动优化积分时间，可自定义积分时间，理论范围0.2ms-65s输入通道个数标配2路光纤（1入射和1反射），最多支持8路光纤（1入射和7反射）光纤视场角入射180°，反射25°系统控制可基于浏览器，电脑、手机查看修改设备参数（如测量时间与频率）波谱测量可基于浏览器，电脑、手机中断自动测量，进入手动测量模式波谱数据可视化可基于浏览器，测量结果电脑、手机实时显示，可选择数据下载数据管理软件原始数据与模型计算结果本机保存并同时发送到云端（连接路由）光合有效辐射内置光合有效辐射（PAR）计算模块，实时输出PAR计算值遥感模型软件内置PROSAIL模型，可实时反演冠层、叶片各种参数数据传输支持网口连接路由器无线传输；支持通过RS485串口方式本地输出运行功耗常规状态18W，峰值功耗22W（350-2500nm款为27W）断电重启功能支持强制断电，上电重启，避免意外断电导致设备无法启动运行模式全自动全天候观测，数据自动远程回传

仪器介绍显微角分辨光谱技术是一种直接观测微纳米材料中电磁模式色散关系的方法，是现在实验手段中为数不多的能直接定量测量材料的电磁模式色散关系的工具。贝拓显微角分辨光谱仪MARS1000利用显微角分辨光谱技术对光子与微纳米材料相互作用机制的深入研究，对于了解凝聚态物质基本性质、掌握微纳结构中的特殊的电磁模式的色散关系，并应用于微型化光电器件的开发，都具有重要的理论和实际意义。工作原理显微角分辨技术利用共轭面成像，包括物镜后焦平面、全内反射平面、和角分辨平面，可用细光纤作为光源在全内反射平面形成方向一致的平行光，在角分辨平面上汇聚入光纤，实现显微级别角分辨光谱分析。显微角分辨光谱仪通过在全内反射平面和角分辨平面上对光纤端面的位置进行实空间扫描，即可以实现特定角度的入射和出射，从而实现角分辨的光谱测量。应用领域● 在超透镜研究中，利用显微角分辨光谱仪的角分辨特性，控制入射光的角度，表征透镜聚焦能力● 在光子晶体相干荧光辐射中，利用微区角分辨光谱技术，研究了其中荧光的定向辐射现象● 在先进的显示材料表征中，利用显微角分辨光谱仪，在微纳尺度下，能对超表面样品进行角分辨光谱测量，验证理论计算结果● 在纳米器件的制造与结构研究中，利用显微角分辨光谱仪，在角度光谱及偏振光谱测试方向提供一种标准化、稳定、高效的测试平台仪器特点● 结合了显微镜和光谱仪的功能，可以同时进行样品的微观结构观察和光谱特性分析● 提供高分辨率的显微观察和光谱分析，可以捕捉到微小尺寸的细节，并以更高的精度解析光谱信号● 可以提供样品的光谱特性信息，包括吸收、发射、散射等光学性质● 可收集从不同角度样品的光谱数据，提高数据的可靠性和全面性技术参数

杭州专谱光电技术有限公司在光谱仪器、激光器系统及配件，生物光学和量子光学等领域和应用有非常多的经验和解决方案，同时也组建了一支专业的销售和服务团队。目前公司在光谱仪器和激光检测系统方面有自己的研发能力，开发出了便携式土壤重金属分析仪（LIBS）、便携式红宝石标压系统、显微拉曼测量系统等。同时公司时刻关注全球 前沿的技术和产品，目前代理包括微型光纤光谱仪、红外光谱仪，飞秒激光器，纳秒激光器，可调谐激光器，窄线宽激光器，He-Ne激光器等各种激光器和配件。同时代理各类光电检测设备，包括功率计、能量计、光束质量分析系统、脉宽测量探测器和自相关仪、偏振态测量系统。还有代理各类光学配件，包括光学元器件，位移系统，滤波片。 材料中的很多成份，以不同角度入射，得到的透射率和反射率会发生变化。通过测量不同角度入射，研究材料的较敏感角度，为进一步研究或设计测量仪器提供依据。ProSp-RTM-UV/VIS 全角度光谱测量系统，搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪，通过对入射和接收两臂的角度控制，实现材料任意角度的光谱测量。它可以在很多领域发挥作用，如微纳结构材料和器件、薄膜材料、滤光片、表面等离子体耦合共振器件、发光材料和器件、指纹按键器件等。ProSp-RTM-UV/VIS 测量方式有：反射光谱测量（上反射和下反射）、透射光谱测量、辐射光谱测量和散射/荧光光谱测量。每种测量方式都由系统自动完成，我们仅需要选择测量方式、设置测量参数，调整样品位置即可。系统也支持手动测量方式， 即我们可以把入射臂和接收臂，运行到任意的角度位置进行光谱测量。功能描述全角度测量：接收端 0-360°，发射端 0-270°；高角度分辨率：分辨率达 0.01°；全光谱测量：光谱范围 250-2500nm，搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪；不同测量模式：可以实现上反射、下反射、透射、散射、辐射等多种模式；自动测量模式：通过软件设置（测量模式、接收角范围、入射角范围、角度分辨率、循 环次数、积分时间等），实现不同模式的自动测量，中间不需人为干预；手动测量模式：可以任意控制样品台的入射角、接收角进行光谱测量；灵活的光源选择：自带钨灯光源和外接光源；可扩展：可以在光路中增加滤波片、偏振片、波片等不改变光路的光学器件； 应用领域微纳光学材料学生物技术 矿物分析纸币防伪LED 光源液晶显示材料镀膜不同角度的反射率谱线选配产品光谱角度测量模式可定制显微光谱角分辨系统

AngleMeter激光角度仪新势力光电供应AngleMeter激光角度仪，用于测量激光光束的角度偏差和功率波动，光谱范围350-1100nm、角偏差精度0.5%、功率精度±5%。该系列激光角度仪应用广泛，包括：激光光束准直、移动光学设备监控、光学扫描仪角度测量、旋转物摆动测量、光学反射镜远程监控、光机械及光学平台准直。 ModelDescriptionsCMOS USB2-LensA P&P camera with USB2.0 interfacePSD4 USB-LensA sensor head based on a 4mm×4mm PSDPSD4 USB-HR-LensA sensor head based on a 4mm×4mm PSD and preset central work are of 1mm×1mmPSD9 USB-LensA sensor head based on a 9mm×9mm PSDPSD4 Analog-LensA sensor head based on a 4mm×4mm PSDPSD4 Analog-HR-LensA sensor head based on a 4mm×4mm PSD and preset central work are of 1mm×1mmPSD9 Analog-LensA sensor head based on a 9mm×9mm PSDLens list50mm f#1.885mm f#1.8100mm f#4200mm f#5.6相关商品 AlignMeter激光准直仪 电子自准直仪 SpotOn位敏探测系统 BeamOn光束质量分析仪

ARS宏观角分辨光谱系统 ARS宏观角分辨光谱系统产品概述角分辨光谱仪 具有在 不同角度下 探测材料光谱性质的能力，突破传统光谱技术不能分辨角度的局限，是获取光子材料色散 关系，实现光学性质“全面表征”的重要手段，在 微纳光子学、低维材料、发光材料 等领域具有重要应用价值。ARS宏观角分辨光谱系统采用智能化的自动旋转设计，分别调节入射和出射方向，能够在实空间和频率空间等对微纳光子结构多维度观测，非常适用于具有微结构表面，具有光谱角度依赖的样品。ARS宏观角分辨光谱系统产品特点&bull ARS的采样机械臂采用精密的滑台，可以实现0-360°光谱检测&bull 支持7种检测状态和7种测量模式&bull 可扩展190nm-2500nm的光谱范围，可以扩展多台光谱仪同时检测&bull 内置氘灯、卤钨灯，提供250-2500nm的光谱照明范围，支持外接其他激光器等光源&bull 样品台实现五个维度的调整，可以对样品进行精细的各向调整ARS宏观角分辨光谱系统应用方向主要针对需要自动变角度的对宏观样品进行光谱测量的领域，主要包括材料、物理、化学、 生物、微电子等领域，比如光子晶体材料、超材料、光栅 尺样品、光学薄膜等样品，此类样 品具有能带结构，呈现光谱的各向异性； 另外可还用于 SPP、SPR 方向，用来测量表面等离子体激元的角度依赖光谱，并可获得耦合 角度信息。 主要客户群为高校、科研院所和工业实验室。ARS宏观角分辨光谱系统基本参数角度参数加光阑入射光半角： ∠0.5° /1° / 1.5° ，三种光阑选择默认入射光半角：∠ 2°加光阑出射光锥半角：∠0.5° /1° / 1.5° ，三种光阑选择默认出射光半角：∠ 2°电器参数电源接口：220V控制接口：USB接口结构与耗材扩展光源接口：SMA905或FC/PC光纤 接口光源输出接口：SMA905接口S1标准参比：标准白板、标准铝镜标准紫外光源：氘灯190-450nm，卤灯360-2500nm光学参数适应光谱波段：190nm-1100nm内置光源：250-2500nm的滨松氘灯-卤钨灯采样光斑：φ0.8mm小区域的精细采集测量模式原始、扣背景、反射、透射、吸收、吸光度、辐射模式检测状态上/下反射、透射、散射、辐射、自由、编程7种模式偏振支架：选配偏振支架，偏振方向可调偏振片 :S1.PMF.P-VIS,S1.PMF-NIR滤光片 支架：选配，适配多种型号滤光片 滤光片：多种型号可选ARS宏观角分辨光谱系统可选配置&bull 氘灯&bull 外置激光器光源&bull 滤光片&bull 光阑&bull 多波段光谱仪&bull 偏振支架&bull 外置光纤&bull 定制化样品台ARS宏观角分辨光谱系统采谱状态ARS宏观角分辨光谱系统典型应用典型应用一、一种光子晶体样品的宏观角分辨反射光谱数据l 样品名称：带有微结构的反射材料贴纸l 测试条件：积分时间：10ms；l 测量角度：0°~ 70°；l 白板做参比l 样品相对于标准白板在 0°~ 70°的反射率如下图，其中，单一曲线代表了某一接收角度下，不同波长的反射率典型应用二、一种特殊设计的光栅 样品具有一个正常色散能带和一个反常色散能带测量中使用了漫反射白板作为标准样品进行参比， 图中Y轴的百分比为光栅样品的衍射光谱与白板散射光谱的比值关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学 、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

postnova分析仪器公司在新开发的新型四毛细管粘度检测器及三/四检测器软件基础上，推出了新型的多检测器GPC：SC2000型，全套仪器设备，从在线脱气机、泵、半导体制冷的柱温箱，到21角度激光散射检测器和粘度检测器、示差检测器、自动进样器、馏分收集器等，都是postnova自己生产的，都在一个软件界面控制下运行，即：NovaSEC 软件。带半导体制冷和程序升温功能的柱温箱，对于挥发性有机物流动相，如：氯仿、甲苯等，具有很好的浓度准确性（根据激光散射检测器的瑞利散射原理，浓度数据要参与到绝对分子量的计算当中！）；此外，对于蛋白质等具有生物活性的样品，在低于室温下的分离效果也远远好于高于室温下的分离，浓度检测器信号明显增大。自动进样器也具有升级到半导体制冷与加热的功能，从而保证了氯仿、甲苯等挥发性较强的流动相在低于室温下保存，降低了挥发量，保证样品溶液浓度的准确性。为解决难溶样品的溶解，postnova公司生产的自动进样器还可选装样品瓶架的摇床附件。四毛细管粘度检测器，是一款带温控的模块化检测器，可应用于GPC或场流分离仪，并为其专门配有“并联组件”。当同时使用激光散射检测器、粘度检测器和浓度型检测器时，由于示差折光检测器通常都无法承受反压，因此需将激光散射检测器MALS和粘度检测器IV，单独组成一路，并与示差折光检测器RI并联，以减少样品池死体积增大对分子量分布数据的不利影响。有些厂家在三/四检测器GPC上既没有采用可承受反压的RI，又没有采用并联技术，技术不正确的了：激光散射MALS和粘度IV，由于原理所限，样品池死体积都很大，与RI串联使用时，必须在RI的前面，从而造成了已经在GPC柱子上或者场流分离通道盒上进行分离了的样品，在较大死体积的样品池中重新混合，从而造成了保留时间的延迟，进一步地，就造成了样品色谱峰变宽了，分子量分布数据不真实了。SC2000型GPC最具优势的硬件单元，就是PN3621型21个角度静态激光散射检测器了。该检测器是目前市场唯一的具有7度、12度小角的多角外推法激光散射检测器！熟悉静态光散射的朋友都知道，10度附近的小角度，、特别是7度小角，对超高分子量样品组分具有极高的灵敏度。postnova公司借鉴其他厂家的技术，结合自身技术优势，开发出了这款先进激光散射检测器。特别是光电二极管与小芯片直接连接的技术，目前在激光散射检测器领域独一无二的。这一技术，使得在完成光电转换之后以几乎“0”距离就实现了模-数转换，从而既保证了高灵敏度，又保证了高稳定性——数字式信号在传输过程中几乎不衰减。这样，色谱图上，光散射的基线非常平稳、水平，同时灵敏度也非常高，极低浓度组分峰也可以很容易地检测到。作为postnova的总代理商，上海积利科学仪器有限公司拥用全国最优秀的、最强的多检测器GPC/FFF售后服务能力——没有“之一”，呵呵，技术服务团队核心人员已经拥有整整20年（1996~2016）的多检测器GPC技术服务经验了，不论是方法开发，还是软硬件故障排除，都能得心应手。德国厂商的售后服务支持力度也很大，响应及时、零备件供应充足快速。德国postnova分析仪器公司是一家正在快速成长的科技型企业，秉承德国制造的优良传统，其产品工艺精湛、制造精良、大量采用当代最先进技术，同时又保证了成熟性、可靠性。在国内销售的场流分离仪和激光散射检测器等产品，没有一台出现较大故障、事故，也没有一台出现使不起来的情况（除非客户自己不使用）。

可变角度光散射仪（广角动/静态光散射仪）用于颗粒表征。LS Spectrometer是一种可变多角度光散射仪器（V-MALS）。在LS Spectrometer中，检测器安装在可移动的臂上，可以对几乎任何角度进行精确调整，从而提高测量灵敏度。LS Spectrometer结合专利的调制三维技术（Modulated 3D）（无稀释测量）和CORENN（改进的聚集检测），实现了市场上全面的纳米颗粒表征。- 它能测量什么？&bull 颗粒大小&bull 多分散性&bull 颗粒形状&bull 粘度&bull 分子量&bull 样品结构- 可变多角度光散射（V-MALS）与带有固定角度传感器的多角度光散射（MALS）仪器不同，LS Spectrometer的检测器安装在样品池周围的旋转臂上，因此可以精确可变地调整到10°至150°之间的任何选定散射角。这有助于显著提高颗粒大小、聚集检测、第二维里系数、颗粒形状或分子量等参数测量的灵敏度。 - 无稀释样品测量-调制三维技术（Modulated 3D）DLS和SLS技术都是基于仅检测到单次散射光的假设。然而，随着颗粒浓度的增加，多重散射增加并逐渐主导信号。这在DLS和SLS中都引入了无法检测的系统误差。无论重复测量多长时间或多少次，都无法消除或检测到此错误。为了克服这个问题，LS Instruments开发了可选的调制三维技术，可以有效抑制多重散射。调制三维互相关技术使用两个激光束同时进行两个散射实验，虽然单次散射的贡献是相同的，但在两个实验中多重散射的贡献不同。通过对信号进行互相关，从而抑制了多重散射。三维 LS Spectrometer是一款同时为DLS和SLS提供该技术的仪器。- 算法用于改进复杂样品中的聚集和颗粒检测CORENN算法是一种新的机器学习算法，用于从DLS测量中提取粒度分布（PSD）。CORENN是一种利用先进的信号近似技术和对信号噪声的独特理论估计的DLS反演算法，可以得到极其可靠的结果。这种稳健的方法使最终用户能够从真实的DLS实验中获得真实的粒度分布（PSD）。下图显示了4nm和45nm的颗粒混合物的DLS测量结果，只有CORENN算法能够准确得到这两个分布。- 用去偏振动态光散射（Depolarized DLS）表征各向异性粒子这是一种可以轻松地表征各向异性粒子的技术，并越来越受到科学家的关注：一组两个偏振器可以通过简单的DLS测量来表征样品的旋转动力学和各向异性粒子的纵横比。- 温度控制我们强大的温度循环器使您能够精确控制样品中的温度。与其他循环器相比，它显著减少了加热和冷却时间。它可以通过LsLab软件进行预编程，以实现不同温度下的一系列测量。- 样品转角仪许多适用于光散射的凝胶状样品显示出非遍历（non-ergodic）行为，从而导致测量误差。LS Instruments公司开发了一种样品转角仪，可以用适当的速度旋转非遍历样品，以获得正确的结果。此外，样品转角仪也可用于使样品偏离旋转中心，从而能够使用方形样品池，样品中散射光的光程可以减少到小于200微米，这显著减少了多重散射。

1 产品简介ARS2000角分辨光谱仪是一款可变角度透反射便携式现场测量光纤光谱仪，主要满足客户通过对光子晶体、超导材料等纳米光学材料的反射率、透射率、吸收实现晶体的能带、缺陷等特性的研究。此外也有很多薄膜材料、玻璃、光学元器件客户采用ARS实现光学元器件特定角度下透过率、反射率的过程控制测量。配套的手动式透反射测量支架实现入射角度为0°~120°，接收角度为8°~180°的350nm~1050nm透射、反射以及辐射光谱测量。内部集成的ARM嵌入式系统以及Uspectral Plus软件，实现客户在线测量。同时该系统配置Windows软件，满足客户光谱分析的需求。 2 规格参数产品型号ARS2000主机尺寸230×200×110 mm支架尺寸300×200×230 mm整机重量3.2kg光谱波段350nm～1050nm光纤配置600μm UV-VIS嵌入式主板Linux系统QT界面显示屏幕7寸显示屏钨灯光源5W光纤输出接口SMA905积分时间8ms-5s入射角度0-120°接收角度8-180°角度分辨率0.1°载物台高度0-5cm光斑直径0.56cm控制软件嵌入式供电接口AC 220V#光谱范围可根据用户需求进行定制3 产品特点? 专 业： 满足辐射、透射、反射、散射等精检测需求 ? 方 便： 易维护，体积小巧、性能稳定，存放方便，易于使用 ? 强 大： 配套功能强大的专业软件包? 存 储： 可通过USB接口实现数据及时存储4 产品应用? 光源测试? 镀膜材料? 光子晶体? 液晶显示? 传感器器件制备? 角度材料相关分析? 纳米光学材料5 操作软件

HORIBA Scientific从事光学研发200年，其中拉曼光谱仪的研发与制造长达60多年，凭借法国长期以来的光学设计人才优势与全心全意为客户服务的企业理念，HORIBA Scientific不断地拉曼光谱技术的发展，2019年LabRAM Odyssey高速高分辨显微共焦拉曼光谱仪应运而生。LabRAM Odyssey同时适用于光谱和成像，具有800mm焦长的高光谱分辨率低杂散光光谱仪保证光谱数据的准确性和重复性，一系列针对拉曼光谱成像的新技术引入，大地提升了LabRAM Odyssey的拉曼光谱成像的质量和速度，新型成像算法可以在纷繁复杂的大数据中提炼出有用的光谱信息。独特的高效率反射式共焦光路，配合连续可调共焦针孔，满足全光谱范围200-2200nm抑制杂散光，三维空间滤波，无需任何人工调节工作，全自动化共焦设计保证客户快速准确地获得高信噪比光谱和成像。LabRAM Odyssey继承了LabRAM HR Evolution的全部优点，扩展性强使得每一台LabRAM Odyssey都是一台定制化的显微拉曼光谱系统，尤其满足分析测试平台样品种类多，测试条件变化多，测试速度要求快速准确等需求。LabRAM Odyssey创新性地引入全反射概念，从物镜，耦合光路，光谱仪均采用反射镜组成，从仪器基础设计出发实现真正意义上的消色差，提出紫外灵敏度测试指标，满足全光谱范围内的高灵敏度测试要求。LabRAM Odyssey具有多种特色全新技术，等待您的发掘！1多激发波长 支持深紫外到近红外全波段 自由光路耦合或光纤耦合 支持多达4路全自动切换激发波长2双共焦耦合系统 全反射式共焦光路 消色差，全光谱覆盖 三维空间滤波 全自动切换双共焦光路 内置真实存在的机械共焦针孔，非狭缝虚拟3800mm焦长光谱仪 低杂散光适合弱信号长时间曝光 消色差像散，采用超环面镜，平场校正 全光谱覆盖，光谱仪内无透镜 超高光谱分辨率，低至0.35cm-14高灵敏探测器提供多达4个探测器的耦合接口，满足稳态和瞬态光谱的测试要求超快速共焦成像&bull DuoScanTM成像技术：基于kHz振镜扫描技术，实现物镜+样品双重固定，激光光斑扫描样品表面，具有宽光谱、超快速、高稳定、时间分辨等特点。&bull SWIFTTM模块：是将LabRAM Odyssey的高光通量及优化的检测器-平台同步相结合，以实现超快速共焦拉曼成像。即使采集一个宏观尺度的高分辨成像也可在几秒内完成。&bull Repetitive SWIFTTM信噪比增强快速成像技术：实现持续改进成像信噪比，无需多次重复寻找实验条件。&bull SWIFTTM XR多窗口扩展快速成像技术：同时实现高光谱分辨率和宽光谱范围成像，采用HORIBA独有的多窗口拼接技术，自动拼接多次快速成像，实现高分辨光谱和宽光谱范围的完美统一。高空间分辨率真正针孔共焦技术，区别于简单的狭缝共焦，实现三维空间滤波，高杂散光抑制率，空间分辨率可达250nm独特的全反射式共焦技术，全光谱消色差，支持200-2100nm光谱测量高光谱分辨率800mm焦长的单级光谱仪，使得 LabRAM Odyssey成为市场上光谱分辨率较高的单级拉曼光谱仪。800mm的焦长使得精细样品信息，如：结晶度、多晶型、应力、氢键和其它谱带形状的特征分析变得简单化。高光谱分辨率+高重复性，使得苛刻的实验成为了可能，保证拉曼峰位频移的数据可靠性，和低的系统误差引入。从紫外到近红外全光谱检测LabRAM Odyssey是一款深紫外到近红外全光谱覆盖的消色差高分辨光谱仪，使用多激光及多探测器，检测范围可达200nm~2100nm。实现近红外区域的光致发光测试，包括带隙检测、重组机理监测和材料质量控制。不受样品和分析环境的限制HORIBA Scientific可为您提供拉曼优化研究级光学显微镜。开放式显微镜在物镜下方提供自由空间，适合放置各种大附件，如液氦冷台、催化样品池及自设计特殊样品池等。透射拉曼附件可提供样品整体分析，适合不透明/浑浊的材料，如药片含量的一致性或多晶型。SuperHead光纤探头可实现远程测量，进行原位反应监测或在线分析。超低波数模块HORIBA Scientific 的 LabRAM Odyssey 可使低波数检测低至 3.5 cm-1*。新一代的体布拉格光栅具有非常窄的谱带宽度，以确保单级拉曼光谱仪中超低波数的简单方便、快速高灵敏度检测前沿应用生命科学LabRAM Odyssey为生命科学提供了新的表征方法。如：疾病诊断、皮肤分析、细胞筛选、化妆品、微生物、蛋白质研究、药物交互作用及其它。药物拉曼光谱的高信息含量可以帮助研究人员和质控人员更深入地了解原材料及产品的性能及质量。如：活性药物成分（API）和赋形剂成像和表征、晶型鉴定、相态检测、药物逆向工程、药物一致性评价等。二维材料LabRAM Odyssey提供全部的二维材料光谱表征技术，包括拉曼光谱及成像，光致发光光谱及成像，反射光谱及成像，光电流成像，二次或多次谐波及成像，低温、高压、强磁场等端条件下二维材料的光谱及成像。半导体半导体材料的拉曼和光致发光（PL）研究可为专家提供成分组成及各成分属性的重要信息。如：压力/张力检测、合金成分、超薄覆盖层表征、刻蚀芯片结构成像、带隙分析等。技术指标光谱仪光谱仪焦长800mm光谱分辨率0.35cm-1 - 0.65cm-1重复性±0.02cm-1光谱仪设计方式非对称反射式，全光谱范围消色差校像散光谱采集模式包括单窗口信号采集（同时谱），多窗口连续信号采集（宽光谱快速无缝接谱），多窗口断续信号采集（高低阈值一次采集）和连续扫描信号采集（大范围平滑光谱）共焦共焦方式机械针孔共焦（三维空间滤波） 激光光路：固定尺寸针孔 拉曼光路：10-1000μm连续可调针孔共焦光路内置2个共焦光路，自动切换 独立优化可见光路400-700nm和消色差反射光路：200-2100nm激光光路激光光路独立优化，多支持6路自动切换滤光片切换支持4路自动切换滤光片角度调节软件控制自动低波数50cm-1（可见）；150cm-1（紫外）；10cm-1（可选）成像XYZ自动平台步进10nm（开环），步进50nm（闭环）闭环反馈精度50nm振镜扫描50nm步进，kHz扫描频率实时聚焦支持三种反馈模式：激光，白光和拉曼信号强度反馈表面粗糙样品成像EasyNav表面形貌ViewSharpTM自动化激发波长支持4路激发波长全自动切换，含紫外光路准直内置红光光源光路准直器自动校准软件控制自动校准其他远程自动优化，自动批处理，自动曝光，自动荧光校正等

仪器简介： 3角度激光光散射仪作为凝胶渗透色谱仪的光散射强度检测器，与浓度检测器联用，可测定大分子的绝对分子量，分子量分布以及粒径信息。与紫外检测器，以及示差检测器联用，可以表征蛋白复合物的绝对分子量，同时得到蛋白以及修饰物各自的分子量信息。与粘度检测器联通用，可以得到Mark-Houwink中的k值,a值，判断样品的构象。 独特的3角度设计，配置低角度、90° 角以及高角度，使其摩尔质量检测上限高达数百万道尔顿；其检测下限根据试验条件不同可低至数百道尔顿。同时配置2个参比角度，实时监测仪器工作状态。既可以独立使用测定摩尔质量，分子尺寸，第二维利系数；也可以全面兼容其它HPLC系统，实现联机测定摩尔质量及其分布；分子尺寸及其分布；分子溶液构象分析等。技术参数： （1）角度范围：3个； （2）分子量范围103 - 106道尔顿； （3）分子尺寸测量范围：10 - 50nm （4）光源：60mW GaAs linearly polarized laser，658nm ；（5）以太网数据传递 ；（6）全彩色液晶显示器（LCD），瞬间显示数据。主要特点：（1）光电二极管探测头； （2）高性价比； （3）同时测定Mw（绝对）、Rg和A2 ； （4）通过实时监测，进行质控及动力学、机械性能研究； （5）与GPC/SEC联用，研究复杂体系的支化度和分散度；

高速多角度3D光片荧光显微镜-QLS-scope 西班牙Planelight公司新推出的QLS-scope是一款全新的高速光片成像平台，这种新一代光片显微镜除了可以胜任传统光片显微镜的工作外，还扩大了支持样品的尺寸（25 × 25 × 25 mm），大幅提高了光片扫描样品的速度，是大尺寸、高质量、高速光片。作为新一代的光片系统，QLS-scope支持自动更换物镜、自动对焦、快速换样、可根据样本尺寸灵活切换观察室，做到节约昂贵的成像液的同时适应各种不同尺寸的样品。在采集模式上QLS-scope提供多种解决方案，支持单角度、双角度、四角度、SPOT、Z-Motor五种模式，为您提供全面的大样品组织成像方案。产品特点：◎ 支持单角度、双角度、四角度、SPOT、Z-Motor五种成像模式；◎ 可支持25 × 25 × 25 mm的大样品；◎ 自带焦面校正，采集过程中不会失焦；◎ 高速采集，单次1 cm样品的信息采集仅需3 min；◎ 采集过程中样品无振动问题，对较软的样品友好；◎ 均匀无可调宽度光片，光片厚度仅为1μm；◎ 物镜可自动切换；◎ 支持有机和无机的成像液；◎ 样品装载简单，更换速度快。基本参数：◎ 光片厚度：1 μm◎ 采集模式：单侧、双侧、四角度、SPOT、Z-Motor五种模式采集；◎ 采集速度：7-10 ms◎ FOV：0.2 - 8 mm◎ 样品要求：大型透明样品、斑马鱼、胚胎发育等；可兼容透明度不佳的样品◎ 样品尺寸：25 × 25 × 25 mm◎ 支持成像液类型：有机、水◎ 物镜支持范围：1X，2X，7.5X，10X，20X（水），40X（水），可变物镜◎ 镜头更换：全自动◎ 环境支持：CO2培养箱◎ 成像液需求：20 mLQscan速扫描技术： QLS-scope具备高速扫描技术，是可调宽度光片系统。能够提供一个覆盖全视野的均匀光片，具有更加均匀的照明效果并且不会产生多光片系统中容易出现的多角度阴影。正是由于QLS-scope具备如此均匀明亮的光片，使得QLS-scope的成像速度非常快，在数分钟内就完成单角度光片采集。◎ 单次采集可缩短至3分钟◎ 均匀可变光片，提供更为均匀的照明光◎ 光片厚度仅为1μm仅需三分钟即可完成样品的采集SPOT无暗角高分辨技术：对于大样品样本来说，透明化效率始终是困扰成像质量的一个重大障碍。QLS-scope配备有特SPOT技术，通过将单次旋转0.72°拍摄，累积采500个角度的图像进行处理。能够很大程度上降低由于制样过程的瑕疵所带来的成像质量下降的影响，并且为您呈现更为均匀，细节更佳突出的光片图像。◎ 500个角度采集，较大程度上消除阴影；◎ 提供光照更为均匀，细节更高的图像；◎ 对透明化不佳的样品也有不错的成像质量；OPT模式可以提供比多角度光片更好的细节测试数据大鼠脑血管大鼠神经细胞小鼠状腺大鼠肾小球 & 小鼠肾脏切片应用案例■ QLS-Scope多角度光片成像在小鼠心脏成像中的应用QLS-Scope显微镜具备SPIM-OPT成像模式，通过逐渐旋转样品并在每个层面进行快速SPIM扫描来收集360度光学数据。软件将不同的角度视图重建成一个单一的数据集。这一特性对于从数据中获得具有代表性的3D重建图像非常重要。如图所示，比较了Single-SPIM、Multiple-SPIM和SPIM-OPT三种方式的成像效果。行显示基于Single-SPIM、Multiple-SPIM和SPIM-OPT三者获得的数据的表面渲染图的背侧面。Single-SPIM成像方式的图例可见，由于缺少来自底层区域的成像信息，终得到渲染不完整图像。Multiple-SPIM成像方式，从另外一个角度集成光学数据在一定程度上可提高图像质量。需要特别注意的是SPIM-OPT成像结果中颜色深度的增加范围大，这样就意味着可以得到更高分辨率的重构图像。SPIM-OPT渲染无空白、无死角，从所有角度成像都可以提取光学数据，即使是透明化程度不是优的样本也能得到较好的图像效果。二行显示从相同数据集计算的正交视图。再次证明了，从多个角度进行组合和重建可以显著提高Z分辨率和质量。QLS-Scope显微镜软件操作的简单性和高扫描速度有助于为每个样本选择和应用合适的成像模式，当您的样本透明化较好时候，可以节约时间的Single-SPIM、Multiple-SPIM等扫描模式；另外，您也可以选择SPIM-OPT模式，以获得更加高Z轴分辨率的高质量的样本图片结果。图1 Single-SPIM、Multiple-SPIM和SPIM-OPT三种方式的成像效果图（分别为左列、中列、右列）。行显示三种方式成像后表面渲染图的背侧面。二行显示三种不同模式的样本的正交视图。结果显示，随着软件将重建的附加角度增加，模型的分辨率和清晰度显著的提高了（Scale bars 1 mm）。■ QLS-Scope三维成像在拟南芥根系基因表达分析中的应用光片显微镜的使用可以在不干扰根系生长、破坏无菌或中断实验的情况下实时观察根系。QLS-Scope三维成像具有高分辨率、优化的光学特性。QLS-Scope的高速和简单性来沿着其3D路径跟踪根系生长。下图显示了在生长和沿着中柱表达atHB8驱动的GFP的根。这些测量是在一个体积为2.2*3.1*0.6毫米（4.1毫米3）的单SPIM中进行的，只需45秒即可完成，从而缩短了设备分析和潜在实验改变的时间。此外，在生长培养基中添加稀释的染色剂不会导致背景增加或明显的生长变化。国内用户新发表文章[1] Junyu Chen, et al. "Decreased blood vessel density and endothelial cell subset dynamics during ageing of the endocrine system." The EMBO Journal (2020) e105242

PG4000 高分辨光谱仪200~1100nm 全波谱 / 高达 0.04nm 波长分辨率 / LIBS 光谱测量 PG4000 高分辨光谱仪 采用高分辨光学平台，适用于要求精细光谱分辨的场合，为激光表征、气体吸收测量和等离子分析等应用提供高品质的光谱测量。 高分辨光学平台 可提供高达 0.1nm 的光学分辨率，100nm 的焦距和 0.11 的数值孔径组合可以使光谱仪在不增大自身体积的情况下达到分辨率与灵敏度的平衡； EX 双闪耀光栅 双闪耀光栅在宽谱段范围内拥有更加均匀的响应，解决了宽谱段效率均衡和高阶干扰的问题，最宽谱段覆盖范围达 200~1100nm； 高速控制技术 能在 1ms 内设定新的积分时间，节省用于光谱仪控制的时间； PG4000 高分辨光谱仪 可以配备经特殊紫外敏化处理的深紫外 CCD，能够将光谱探测范围拓展至深紫外波段；同时 PG4000 高分辨光谱仪 具有标志位和底层调用技术，在保证高速测量的情况下，进一步提升测量精度；赋予产品更强的议价能力；搭配提供低成本光纤，搭建个性化的光谱测量设备。 注：以上参数如有差异，以官网为准。

18角度激光光散射凝胶色谱仪（SEC-MALS） 18角度激光光散射仪作为凝胶渗透色谱仪的光散射强度检测器，与浓度检测器联用，可测定大分子的绝对分子量，分子量分布以及粒径信息。与紫外检测器，以及示差检测器联用，可以表征蛋白复合物的绝对分子量，同时得到蛋白以及修饰物各自的分子量信息。与粘度检测器联通用，可以得到Mark-Houwink中的k值,a值，判断样品的构象。 1.分子量测定范围：200-10e+9 Dalton2.均方根半径测定范围：10-500nm3.检测角度个数：18个4.激光波长：658nm5.光源：100mW Ga-As线性偏振激光6. 以太网数据传输7.全彩色液晶显示器，瞬间显示数据 主要特点：直接测定绝对分子量和分子尺寸无需色谱柱校正可与任何HPLC（液相色谱）系统兼容可实现离线/在线两种测量模式同时测定大分子的动静态散射参数，第二维利系数设计坚固耐用、数据可重复性好，使用简便

HP860LED光强分布测试系统 A、应用功能：专用于测量LED的配光曲线（LED光强分布）、光束角、法向光强、正向电压、反向电流、反向击穿电压等光电参数，符合CIE pub.No.127条件A或B。本系统实现了LED的光、电性能的高精度测试，为LED生产厂商提供充分的LED光、电参数，使LED的研制和生产更加有效、可靠。B、性能参数：●光强测量范围:0mcd~300，000mcd；　●光强测量精度:一级；●峰值光强：1max ●角度测量范围:-90°~ +90°；　　●角度调节范围:0.2° ●间隔角度：1° ●等效光通量测量范围：1lm～200lm ●自动绘制光强曲线（极坐标或直角坐标）和自动测定光束角；●正向电流(IF)：0.1mA～800.0mA ●正向电压(VF)：0.01V～20.00V ●反向电流(IR)：0.1μA~200.0μA●反向电压(VR)：0.01～20.00V●配合积分球可以测试各种光源的光通量。图相似

&bull 分辨率最高可达0.01nm；&bull 四款不同焦长可选：210，350，510 和 810mm&bull 最大光谱范围：150nm-25 μm（与光栅选择密切相关按需求定制）&bull 塔式转动光栅，内置2-4片光栅，多种光栅可选，90、 150、300、400、500、600、900、1200、1800、24003600线；&bull ADC位深：18位（输出16bit）；&bull 多种光输入接口：SM905光纤接口或自由空间输入，电动可编程入射狭缝可选；&bull 双出口可同时配置两个探测器，多种类型的探测器供选择&bull 采用C-T结构设计，采用超环面慧差校准设计；&bull 仪器的控制（如光栅转换、波长扫描等）全部由计算机控制&bull 多种附件可选；&bull 拉曼光谱&bull 荧光光谱&bull 光致发光光谱&bull 吸收、反射、透射光谱&bull 其他各种光谱应用ATP7330是奥谱天成集20年光谱仪研制经验，经过5年的研发，推出的超高分辨率光谱仪，ATP7330都采用了反射型光栅，方便快速更换，光栅塔轮通过软件控制，可精准定位光栅与测试波长。ATP7330系统利用了仿真优化的光学系统来保高分辨率，该设计同时通过纠正像差来提供多光纤同时成像的可能。ATP7330系列有多种输入、输出的选择，为科研者提供了无尽的可能性，扩展性与多样性。既可以使用单点探测器，也可以采用各类阵列相机。ATP7330有四款不同焦长的型号：210，350，510 和 810mm。与棱镜型光谱或者透射型光栅不同的是，每一个ATP7330都可以覆盖从紫外到近红外、短波红外波段的应用，只需选择合适的光栅，就能拥有在波长与分辨率的选择上拥有更多自由度。ATP7330可接收SMA905光纤输入光或者自由空间光，并且可配置可调宽度狭缝，通过USB2.0或者UART端口，输出测量所得的光谱数据。ATP7330只需要一个+12V直流电源供电，非常便于使用。所有的控制，均可以通过软件进行电动控制。2. 选型表型号/PN焦长/Focal Length内置光栅数量▲数值孔径Aperture RatioPMT 分辨率*PMT ResolutionCCD 分辨率**CCD Resolution线色散率*Linear DispersionATP7330-FL210210mm2F/3.50.4 nm0.4 nm4.17 nm/mmATP7330-FL350350mm3F/4.20.1 nm0.14 nm2.38 nm/mmATP7330-FL510510mm3F/6.50.070.091.65nm/mmATP7330-FL810810mm3F/9.70.040.051.03nm/mmNotes：1) ▲：表格内指的是标准数量，需要内置更多的光栅，可以定制；2) *：with 1200 g/mm grating @ 435.8 nm and 10μm slit width and 4 mm slit height3) **： with 1200g/mm grating @ 435.8nm 14μm pixel, 20μm slit width4) 表格内所有的参数，均指标准产品参数，其他参数均可定制。图 1 不同线数的光栅及其适应的波长范围3. 性能参数表传感器类型制冷型 CCD、制冷型 InGaAs CCD，制冷温度最低可达-40º C探测光谱范围180-2500 nm有效像素CCD： 2048, 短波红外 InGaAs CCD：512光学参数最大波长范围150 nm ~ 25 μm，不同范围可定制光学分辨率10 pm ~ 5 nm （不同焦长、狭缝、光谱范围，相差很大）最大动态范围SCMOS & CCD： 1400；短波红外 InGaAs：10000光路参数光学设计非对称 C-T 光路焦距210，350，510 和 810mm光栅塔式转动光栅，内置3片光栅，多种光栅可选，150、300、400、500、600、900、1200、1800、2400、3600线；光栅转动方式电控光栅转动角度0.36 μrad入射狭缝宽度&bull 5、10、25、50、100、150、200 μm、可调宽度等可选，其他尺寸可定制&bull 手动可调狭缝可选；&bull 电动可调狭缝可选；入射光接口支持双入口：SMA905 光纤接口、自由空间出射光接口支持双出口电气参数积分时间10μs - 1.3hours数据输出接口USB 2.0ADC 位深18bit（输出 16bit）供电电源12V DC±5%工作电流4A操作温度-20°C ~ +45°C存储温度-30°C ~ +70°C最大工作湿度 90%RH（不结露）物理参数尺寸和重量ATP7330-FL210：25Kg ATP7330-FL350：33Kg ATP7330-FL510：45Kg ATP7330-FL810：65Kg4. 可拆换的三级光栅塔轮&bull 每个塔轮可以安装三个光栅，订购时，可自由选配&bull 塔轮有光学安装接口，安装后进行自动校准&bull 可以根据需求优化波长覆盖范围，光通量以及分辨率5. 众多的探测器可选波段范围编号形状探测器材料响应波段范围像素值制冷温度紫外可见近红外 180~1100nmATD2100-UV20紫外增强面阵背照式CCDSi180~1100nm2048X64-30℃ATD2100-NR20近红外增强面阵背照式 CCD2048X64-30℃ATD2100-LT20-1科研级面阵背照式 CCD2048X128-30℃ATD2100-LT20-3科研级面阵背照式 CCD2048X256-30℃ATD2100-LT20-6科研级面阵背照式 CCD2048X512-30℃ATD2100-LT10-1科研级面阵背照式 CCD1024X64-30℃ATD2100-LT10-3科研级面阵背照式 CCD1024X128-30℃ATD2100-DC20科研级面阵背照式 CCD2048X264-70℃短波红外 900~2500nmATD7100-IGA15-5制冷型线阵 InGaAs CCDInGaAs900~1500nm512X1-30℃ATD7100-IGA17-5制冷型线阵 InGaAs CCD900~1700nm512X1-30℃ATD7100-IGA17-10制冷型线阵 InGaAs CCD900~1700nm1024X1-30℃ATD7100-IGA22-5制冷型线阵 InGaAs CCD900~2200nm512X1-30℃ATD7100-IGA22-5制冷型线阵 InGaAs CCD900~2500nm512X1-30℃注：表内仅列出常用探测器，还有其他探测器可提供。6. 多种附件可选&bull 各种光纤束；&bull 滤波转轮；&bull 光源；&bull 17 种光栅可选；&bull 波长校准和强度校准系统；

DUMA公司的AngleMeter 激光角度仪-激光光束角漂移和功率进行实时测量-优越的软件特性满足不同的顾客-适用于连续或脉冲光束-USB可控多台仪器-TCP/IP通信协议和远程控制-ActiveX软件集成在客户的应用程序中性能参数：PSD4 USBPSD4 USB HRPSD9 USBPSD4AnalogPSD4 AnalogHRPSD9 Analog光聚焦透镜50mm f1.850mm f1.850mm f1.850mm f1.850mm f1.850mm f1.8探测面积（mm）4x4 PSD4x4(响应面积1x1)9x9 PSD4x4 PSD4x4(响应面积1x1)9x9 PSD观测区域80x80 mRad20x20 mRad180x180 mRad80x80 mRad20x20 mRad50ｕm-Φ5mm角分辨率15μRad3μRad30μRad5μRad1μRad10μRad角精确度0.5%0.5%0.5%0.5%0.5%0.5%功率精确度±5%±5%±5%±5%±5%±5%接口Analog&USBAnalog&USBAnalog&USBAnalog0-10VAnalog0-10VAnalog0-10V响应时间20μs20μs60μs20μs20μs60μs多束测量YesYesYesNoNoNo多束测量YesYesYesNoNoNo

PG2000 高速光谱仪1ms 高速光谱传输 / 最高 0.08nm 光学分辨率 / 消除高阶衍射 CCD PG2000 高速光谱仪 是一款既具有高速技术又具有精细光谱分辨能力的光谱仪，采用了高分辨光学平台、标志位技术和高速控制技术，适用于既要求高速传输又要求精细光谱分辨的场合。 高分辨光学平台 可提供最高 0.13nm 的光学分辨率，光学性能稳定，保证高速测量的情况下，进一步提升测量精度； 全谱段技术 使用线性渐变消高阶滤光片和可变闪耀光栅，解决了宽谱段效率均衡和高阶干扰的问题，最宽谱段覆盖范围达 200~1100nm； 高速控制技术 能在 1ms 内设定新的积分时间，节省用于光谱仪控制的时间； PG2000 高速高分辨光谱仪同时支持标志位技术和底层调用技术，支持系统集成开发，方便用户更快速地开发光谱仪应用程序，可搭建个性化的光谱测量设备.

TZY陶瓷砖平整度、直角度、边直度综合测试仪 TZY型陶瓷砖综合测定仪是用于测定各种墙面砖、地面砖尺寸及形状特性之仪器，其所测参数包括面砖的边直度、直角度、平整度等几项指标。测定时，只需一次放置被测试件，便能迅速、准确地测出以上几项指标数据。本产品符合：GB/T3810.2-2016， ISO 10545-2-1995《陶瓷砖－尺寸和表面质量的检验》的要求。它是陶瓷砖生产厂家和质量检测部门理想的检测仪器。主要技术参数：1.测量精度：±0.1（mm）2.测量范围：60×60～600×600（mm），～800×800（mm），～1000×1000（mm）供客户选择注明：以上仪器要配套下面标准板才能使用，标准板尺寸与样品尺寸一对一，标准板价格另算陶瓷砖检测用标准板（铝合金材质）1000×1000、800×800、600×600、500×500、400×400、300×300、200×200、300×200、300×152、250×250、152×152、240×60（mm）可按客户要求订制各种规格。上述标准板精度优于0.1mm，有计量检测部门检定证书。主要特点：可选用数显表或连接计算机。

结合创新型的光学器件设计，SR-750配合Andor公司的各型高性能光谱专用CCD/ICCD，可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。SR-750可以配用多种附件，拓展应用领域，在透射/反射/吸收光谱、Raman光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中，提供最佳的系统解决方案。主要特点：l 分辨率最高可达0.02nml 多路光谱优化光路，低串扰，高密度多路光谱探测l 针对每台谱仪记录三光栅塔轮信息，便于以后光栅升级l 双探测器出口选项，可安装不同类型探测器满足不同实验需求l 多样化的附件选择l 支持单点探测器，波长最大可达12um l 光学元件镀银选项，保证红外探测器更好的性能超高分辨率光谱仪技术参数指标：型号SR750焦距长度500mm通光孔径（F/#）F/9.7焦平面尺寸28mm×14mm波长精度0.03nm光谱分辨率0.02nm@2400l/mm, 300nm 0.04nm@1200l/mm,500nm 波长重复精度10pm杂光抑制比2.6×10-5光栅尺寸68mm×68mm超高分辨率光谱仪配置选项：SR-750-A1个狭缝输入口，1个CCD输出口SR-750-A-SIL1个狭缝输入口，1个CCD输出口，镀银选项SR-750-B1 1个狭缝输入口，1个狭缝输出口，1个CCD输出口SR-750-B1-SIL1个狭缝输入口，1个狭缝输出口，1个CCD输出口，镀银选项SR-750-B2 1个狭缝输入口，2个CCD输出口SR-750-B2-SIL1个狭缝输入口，2个CCD输出口，镀银选项SR-750-C2个狭缝输入口，1个CCD输出口SR-750-C-SIL2个狭缝输入口，1个CCD输出口，镀银选项SR-750-D12个狭缝输入口，1个狭缝输出口，1个CCD输出口SR-750-D1-SIL2个狭缝输入口，1个狭缝输出口，1个CCD输出口，镀银选项SR-750-D22个狭缝输入口，2个CCD输出口SR-5750-D2-SIL2个狭缝输入口，2个CCD输出口，镀银选项

产品简介：五角度动态测量，适用于汽车金属闪光漆及珠光涂料 ；五角度色彩测量 45° 照明，15° 、25° 、45° 、75° 、110° 测量，角度精度± 0.15° ，光纤信号传输，能完整并精确检定金属、珠光和特别效果涂料于不同角度的色彩变化； 测量数据 Lab，△L△a△b，Flop Index(动态指数)，Lch，△L△c△h，△Flop Index，△Elab，△ECMC ；动态式旋动测量 爱色丽动态式旋动测量技术采用更精确耐用的光学系统，能同时测量所有角度并增强光谱分辨效能。耐用高精度，稳定好并具独特功能； 可配合爱色丽专业品管软件使用 绘制L*，a*,b*,C*或h*数值于不同角度下的变化图，快速确定产生偏离容差的色度数值。 仪器台间差 0.18&Delta E以内，测量BCRA系列板平均值； 0.35&Delta E*最大，测量任何色板；0.15&Delta E*最大，测量灰色色板 已被上海通用、大众、一汽大众、本田、金杯、重庆五十铃、株州亚马哈、关西涂料、大桥化工等采用

HORIBA Scientific从事光学研发200年，其中拉曼光谱仪的研发与制造长达60多年，凭借法国长期以来的光学设计人才优势与全心全意为客户服务的企业理念，HORIBA Scientific不断地拉曼光谱技术的发展，2019年LabRAM Odyssey高速高分辨显微共焦拉曼光谱仪应运而生。LabRAM Odyssey同时适用于光谱和成像，具有800mm焦长的高光谱分辨率低杂散光光谱仪保证光谱数据的准确性和重复性，一系列针对拉曼光谱成像的新技术引入，大地提升了LabRAM Odyssey的拉曼光谱成像的质量和速度，新型成像算法可以在纷繁复杂的大数据中提炼出有用的光谱信息。独特的高效率反射式共焦光路，配合连续可调共焦针孔，满足全光谱范围200-2200nm抑制杂散光，三维空间滤波，无需任何人工调节工作，全自动化共焦设计保证客户快速准确地获得高信噪比光谱和成像。LabRAM Odyssey继承了LabRAM HR Evolution的全部优点，扩展性强使得每一台LabRAM Odyssey都是一台定制化的显微拉曼光谱系统，尤其满足分析测试平台样品种类多，测试条件变化多，测试速度要求快速准确等需求。LabRAM Odyssey创新性地引入全反射概念，从物镜，耦合光路，光谱仪均采用反射镜组成，从仪器基础设计出发实现真正意义上的消色差，提出紫外灵敏度测试指标，满足全光谱范围内的高灵敏度测试要求。LabRAM Odyssey具有多种特色全新技术，等待您的发掘！1多激发波长 支持深紫外到近红外全波段 自由光路耦合或光纤耦合 支持多达4路全自动切换激发波长2双共焦耦合系统 全反射式共焦光路 消色差，全光谱覆盖 三维空间滤波 全自动切换双共焦光路 内置真实存在的机械共焦针孔，非狭缝虚拟3800mm焦长光谱仪 低杂散光适合弱信号长时间曝光 消色差像散，采用超环面镜，平场校正 全光谱覆盖，光谱仪内无透镜 超高光谱分辨率，低至0.35cm-14高灵敏探测器提供多达4个探测器的耦合接口，满足稳态和瞬态光谱的测试要求超快速共焦成像&bull DuoScanTM成像技术：基于kHz振镜扫描技术，实现物镜+样品双重固定，激光光斑扫描样品表面，具有宽光谱、超快速、高稳定、时间分辨等特点。&bull SWIFTTM模块：是将LabRAM Odyssey的高光通量及优化的检测器-平台同步相结合，以实现超快速共焦拉曼成像。即使采集一个宏观尺度的高分辨成像也可在几秒内完成。&bull Repetitive SWIFTTM信噪比增强快速成像技术：实现持续改进成像信噪比，无需多次重复寻找实验条件。&bull SWIFTTM XR多窗口扩展快速成像技术：同时实现高光谱分辨率和宽光谱范围成像，采用HORIBA独有的多窗口拼接技术，自动拼接多次快速成像，实现高分辨光谱和宽光谱范围的完美统一。高空间分辨率真正针孔共焦技术，区别于简单的狭缝共焦，实现三维空间滤波，高杂散光抑制率，空间分辨率可达250nm独特的全反射式共焦技术，全光谱消色差，支持200-2100nm光谱测量高光谱分辨率800mm焦长的单级光谱仪，使得 LabRAM Odyssey成为市场上光谱分辨率较高的单级拉曼光谱仪。800mm的焦长使得精细样品信息，如：结晶度、多晶型、应力、氢键和其它谱带形状的特征分析变得简单化。高光谱分辨率+高重复性，使得苛刻的实验成为了可能，保证拉曼峰位频移的数据可靠性，和低的系统误差引入。从紫外到近红外全光谱检测LabRAM Odyssey是一款深紫外到近红外全光谱覆盖的消色差高分辨光谱仪，使用多激光及多探测器，检测范围可达200nm~2100nm。实现近红外区域的光致发光测试，包括带隙检测、重组机理监测和材料质量控制。不受样品和分析环境的限制HORIBA Scientific可为您提供拉曼优化研究级光学显微镜。开放式显微镜在物镜下方提供自由空间，适合放置各种大附件，如液氦冷台、催化样品池及自设计特殊样品池等。透射拉曼附件可提供样品整体分析，适合不透明/浑浊的材料，如药片含量的一致性或多晶型。SuperHead光纤探头可实现远程测量，进行原位反应监测或在线分析。超低波数模块HORIBA Scientific 的 LabRAM Odyssey 可使低波数检测低至 3.5 cm-1*。新一代的体布拉格光栅具有非常窄的谱带宽度，以确保单级拉曼光谱仪中超低波数的简单方便、快速高灵敏度检测前沿应用生命科学LabRAM Odyssey为生命科学提供了新的表征方法。如：疾病诊断、皮肤分析、细胞筛选、化妆品、微生物、蛋白质研究、药物交互作用及其它。药物拉曼光谱的高信息含量可以帮助研究人员和质控人员更深入地了解原材料及产品的性能及质量。如：活性药物成分（API）和赋形剂成像和表征、晶型鉴定、相态检测、药物逆向工程、药物一致性评价等。二维材料LabRAM Odyssey提供全部的二维材料光谱表征技术，包括拉曼光谱及成像，光致发光光谱及成像，反射光谱及成像，光电流成像，二次或多次谐波及成像，低温、高压、强磁场等端条件下二维材料的光谱及成像。半导体半导体材料的拉曼和光致发光（PL）研究可为专家提供成分组成及各成分属性的重要信息。如：压力/张力检测、合金成分、超薄覆盖层表征、刻蚀芯片结构成像、带隙分析等。技术指标光谱仪光谱仪焦长800mm光谱分辨率0.35cm-1 - 0.65cm-1重复性±0.02cm-1光谱仪设计方式非对称反射式，全光谱范围消色差校像散光谱采集模式包括单窗口信号采集（同时谱），多窗口连续信号采集（宽光谱快速无缝接谱），多窗口断续信号采集（高低阈值一次采集）和连续扫描信号采集（大范围平滑光谱）共焦共焦方式机械针孔共焦（三维空间滤波） 激光光路：固定尺寸针孔 拉曼光路：10-1000μm连续可调针孔共焦光路内置2个共焦光路，自动切换 独立优化可见光路400-700nm和消色差反射光路：200-2100nm激光光路激光光路独立优化，多支持6路自动切换滤光片切换支持4路自动切换滤光片角度调节软件控制自动低波数50cm-1（可见）；150cm-1（紫外）；10cm-1（可选）成像XYZ自动平台步进10nm（开环），步进50nm（闭环）闭环反馈精度50nm振镜扫描50nm步进，kHz扫描频率实时聚焦支持三种反馈模式：激光，白光和拉曼信号强度反馈表面粗糙样品成像EasyNav表面形貌ViewSharpTM自动化激发波长支持4路激发波长全自动切换，含紫外光路准直内置红光光源光路准直器自动校准软件控制自动校准其他远程自动优化，自动批处理，自动曝光，自动荧光校正等

面向表面等离子体共振传感器的角分辨光谱仪最宽 220~2500nm / 0~360° 变角度 / 共振波长 R1-SPR 生物分子互作光谱仪 支持 0 ~ 360° 全角度及 220~2500nm 波段范围内共振波长/共振角测量。可应用于多种 SPR 新机制的表征，为棱镜耦合型 SPR、光栅耦合型 SPR 以及金属纳米结构构成的 LSPR 提供多角度入射下的质量评估。结合生物样品，观察生物分子相互作用过程，多维度呈现 SPR 传感效应。典型应用领域： SPR 新机制表征 结合多种耦合方式的 SPR 传感器件在不同入射角度上具有不同机制的响应，需要系统支持多角度探测及接收的能力。 SPR 传感芯片质量评估 棱镜耦合型 SPR、光栅耦合型 SPR 以及金属纳米结构组成的 LSPR 的灵敏度对入射角度存在一定依赖性，需要系统具有角度分辨能力来实现更全面的质量评估。 生物分子互作分析 在生物分子互作分析中，基于棱镜耦合的 SPR 是最为常见的形式，而分析能力与入射角息息相关，需要系统具有多角度光谱检测的能力。 R1-SPR 生物分子互作光谱仪 在以上领域的应用得益于如下几个特点： 1 0~360° 完整角度探测 R1-SPR 生物分子互作光谱仪采用两个高精度定位旋转电机，实现完整的 0~360° 变角度高分辨光谱探测。 2 宽谱段 P 偏振光谱 测量 R1-SPR 生物分子互作光谱仪采用面阵背照式光谱仪进行光谱采集，搭配卤素光源，最宽可实现 220~2500nm 波段 P 偏振光谱探测。 3 可扩展性 R1-SPR 生物分子互作光谱仪可兼容流体控制系统，根据共振波长漂移进行生物分子互作分析。同时可外接激光器 /LED，支持波长调制及角度调制双模式测量。

特点：可达0.1nm(FWHM)光学分辨率 即插即用，操作方便 用户可订制多种波长范围及分辨率 支持多种应用 支持Spectral Analysis 5.0软件下载 ※新：可定制波长1177nm！应用：　激光光谱检测 荧光光谱检测 薄膜厚度测量 化学研究 透射率/反射率测试 生物细胞分析 发光二极管（LED）分拣 气体吸光度测试■ 系列型号系列型号型号波长范围Aurora4000普通系列GE 350-1100nmGE 200-1100nmGE RamanAurora4000外触发系列TG 350-1100nmTG 200-1100nm 典型光谱仪：　 可订制波长光谱仪：型号狭缝（μm）波长范围光学分辨率Aurora4000系列10200-347 nm0.14 226-369 nm0.18 310-404 nm0.16 319-455 nm0.13 400-480 nm0.08 423-547 nm0.12 480-568 nm0.12 546-653 nm0.12 568-634 nm0.09 654-754 nm0.10 748-837 nm0.23 794-876 nm0.24 876-940nm0.20 940-1100nm0.20■ 技术参数探测器名称东芝TCD1304DG线阵CCD阵列探测范围200-1100nm动态像素3648 pixels象元尺寸8um*200um灵敏度130光子/count@400nm60光子/count@600nm光谱仪尺寸(mm)149*105*46重量(g)840光学分辨率0.75nm FWHM（取决于光栅刻线密度和狭缝大小可提供多种选择）信噪比300:1全光谱暗噪声12RMS计数值动态范围2*109(系统)积分时间4ms-10s杂散光0.05%@600nm 0.10%@435nm校准后线性度99.8%光学平台设计f/4,对称交叉Czerny-Turner光路焦距101.6mm输入和输出入射孔径(um)5,10,25,50,100或200光栅选择多种不同光栅，紫外到红外光纤连接器SMA905，0.22数值孔径单纤芯电学参数功耗450mA@5VDC触发模式4种数据传输速度每4ms通过USB2.0全扫描内存；每18ms通过USB1.1全扫描内存输入/输出5个输入端口和5个输出端口模拟通道一个12位模拟输入和一个12位模拟输出接口类型30pin