真圆度测量仪

ZY-1007真圆度测量仪，球类真圆度测量仪，球类真圆度量测机用途：本机适用于测试足球、篮球、排球、手球外缘圆度之精度。原理：使用测量试验机对球进行立体检测,多点采样:8片型球32点,18片型球40点,32片型球30点.采样的数据由PLC进行数据处理,计算出球的平均圆周长和最大半径差,以试样的最大半径差表示圆度.符合标准：GB/T 14625.1控制方式: PLC触摸屏控制探测头重复精度: 0.02mm示值精度: 0.001mm夹球夹持力:5±2N量程: 直径160~260mm体积（约）：460 ′ 420′ 660mm重量: 约30kg电源: 1∮,AC220V, 5A

快速！10倍于传统测量仪器影像测量仪、工具显微镜、投影仪等由于视野很小，在测量时必须一动移动坐标台一边逐个位置进行测量，极为耗时。O型圈尺寸测量仪最大成像范围达?250mm，此范围以内的O型圈可整体成像，按一键即可瞬间一次性完成外径，内径，线径，同心度等所有尺寸的测量。周长换算直径，还原真实尺寸O型圈属柔性物体，极易变形，非真圆。影像测量仪、投影仪等测量直径时，只在圆边上选取若干点，拟合出真圆来侧定直径，必然存在较大误差。O型圈尺寸测量仪即可选择以拟合的方式，又可以测周长的方式换算直径。一次可同时测量多个可以一次性在平台上放置多个O型圈，对放置的位置无任何要求。软件对每个工件的位置进行锁定，一次性同时测量，大大提高测量效率。可以测量各类异形件软件包含了多种测量工具，除了实际存在的点，线，圆等基本图形工具外，还可拟合出各类虚拟的辅助工具，通过这些测量工具，轻松完成各类状形各异的零件的尺寸测量。技术参数：型号SOVG250SOVG220SOVG170SOVG120SOVG100测量范围（mm）Φ250Φ220Φ170Φ120Φ100测量精度（μm） ±15 ±10±10±7±5景深（mm）7070503020图像传感器500万像素软件OVG O型圈专用测量软件工作环境温度5~35℃ 湿度20~80%保质期一年 产品功能：测量功能O型圈直径（拟合圆直径，周长换算直径可选）、线径、圆心距、椭圆度等等 异型件测量可点，线，圆，弧，角度等多种测量工具和要素，对图像上的两点距离，线距，圆直径，角度，弧度，R角，点线距离等几乎所有的二维几何测量。报告导出EXCEL方式报告导出统计分析总数量、OK数、NG数、合格率、最大值、最小值、平均值、6σ 、 4σ 、 3σ 、 CP 、CPK等等公差计算输入标准值和公差，软件自动计算出实际值与标准值之间差值报警功能自动识别合格/不合格（OK/NG），并报警提示

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一晶圆接触角测量仪概述（Summary）接触角（Contact angle）是指在气、液、固三相交点处所作的气-液界面的切线，此切线在液体一方的与固-液交界线之间的夹角θ，接触角测量是现今表面性能检测的主要方法。PZ-200SD研究型接触角测量仪是采用光学成像的原理，设备采用图像轮廓分析方式测量样品表面接触角、润湿性能、表界面张力、前进后退角、表面能等性能，设备采用全自动进液装置，性价比高、拓展性强、功能全面、可满足各种常规测量需求，目前已经广泛使用在众多高校院所及企业。 二晶圆接触角测量仪（Application）接触角测量仪广泛应用于各个行业领域，在手机制造、玻璃制造、表面处理、材料研究、化学化工、半导体制造、涂料油墨、电子电路、纺织纤维、Y疗生物等领域，接触角测量已经成为了一项评估表面性能的重要仪器。（部分测试功能需要选购专门附件完成）1. 液体在固体表面的铺展、渗透、吸收等润湿行为，座滴法测量静态接触角；2. 材料在固体表面的前进角、后退角、接触角滞后、滚动角、动态接触角测量；3. 吸收材料的连续实时研究及过程记录，接触角随时间变化曲线分析；4. 各种特殊材料的接触角测量，如粉末、弯曲曲面、超疏水/超亲水样品；5. 附着滴法测试材料浸没在液体中的接触角测试；6. 悬滴法测量各种液体表界面张力及其极性、色散分量；7. 计算固体表面自由能（Surface free energy），及其极性色散分量分析；8. 分析液体在固体表面的粘附功（Adhersion），评估固体表面均匀性、清洁度等。技术规格（Specifications）（一）晶圆接触角测量仪触角测量仪主机：（1）主机使用高强度航空铝合金结构搭配模块化设计理念，集成芯片电路控制，保证仪器以状态运行； （2）成像部分使用高性能工业机芯及无失真远心镜头确保的成像效果。（3）工业级可调LED单波长冷光源系统，成像更清晰（4）自动位移平台，实现Y、Z自动定位测量，定点地位更准确，测量效率更高技术规格：主机外形尺寸：1200mm（长）*600mm(宽)* 670mm(高) 主机净重：30kg工作台面尺寸：400mm*400m进样器移动：自动上下60mm（自动） 左右30mm工业镜头移动：前后30mm（微调3mm）工业镜头：0.7X *-4.5X高清远心连续变倍变焦显微镜CCD：S高速工业级芯片；镜头角度可调试：仰视、平视、俯视多视角观察光源：LED可调节蓝色基调工业级冷光源；使用寿命达贰万伍仟小时以上电源及功率：220V / 60HZ

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快速！10倍于传统测量仪器影像测量仪、工具显微镜、投影仪等由于视野很小，在测量时必须一动移动坐标台一边逐个位置进行测量，极为耗时。O型圈尺寸测量仪最大成像范围达?250mm，此范围以内的O型圈可整体成像，按一键即可瞬间一次性完成外径，内径，线径，同心度等所有尺寸的测量。周长换算直径，还原真实尺寸O型圈属柔性物体，极易变形，非真圆。影像测量仪、投影仪等测量直径时，只在圆边上选取若干点，拟合出真圆来侧定直径，必然存在较大误差。O型圈尺寸测量仪即可选择以拟合的方式，又可以测周长的方式换算直径。一次可同时测量多个可以一次性在平台上放置多个O型圈，对放置的位置无任何要求。软件对每个工件的位置进行锁定，一次性同时测量，大大提高测量效率。可以测量各类异形件软件包含了多种测量工具，除了实际存在的点，线，圆等基本图形工具外，还可拟合出各类虚拟的辅助工具，通过这些测量工具，轻松完成各类状形各异的零件的尺寸测量。技术参数：型号SOVG250SOVG220SOVG170SOVG120SOVG100测量范围（mm）Φ250Φ220Φ170Φ120Φ100测量精度（μm） ±15 ±10±10±7±5景深（mm）7070503020图像传感器500万像素软件OVG O型圈专用测量软件工作环境温度5~35℃ 湿度20~80%保质期一年 产品功能：测量功能O型圈直径（拟合圆直径，周长换算直径可选）、线径、圆心距、椭圆度等等 异型件测量可点，线，圆，弧，角度等多种测量工具和要素，对图像上的两点距离，线距，圆直径，角度，弧度，R角，点线距离等几乎所有的二维几何测量。报告导出EXCEL方式报告导出统计分析总数量、OK数、NG数、合格率、最大值、最小值、平均值、6σ 、 4σ 、 3σ 、 CP 、CPK等等公差计算输入标准值和公差，软件自动计算出实际值与标准值之间差值报警功能自动识别合格/不合格（OK/NG），并报警提示

一、MC012-DY系列圆柱度测量仪应用范围：主要用于测量各种规则、不规则的环形工件的圆度、圆柱度、直线度、同心度、同轴度、平面度、平行度、垂直度、表面波纹度，间断表面等的测量，并可对工件进行频谱分析、波高分析、偏心、轴弯曲度分析、跳动量分析等。二、MC012-DY系列圆柱度测量仪主要特点：1.高精度的回转测量转台采用空气静压轴承结构，仪器主轴精度高不磨损，使用寿命长；2.数据采集采用德国HEIDENHAIN公司进口精密圆光栅及相关技术，定位精确，稳定性好；3.仪器采用WINDOWS系统操作平台，专业测量软件，测量界面简洁直观，操作便捷；可以实时显示图形数据、存盘留档、随时打印，图形分析报告，直观清晰；4.仪器配置各种规格、长度的红宝石测针，并可根据用户的测量需求，设计专用的测头及工装夹具；5.具有强大的分析功能，如：直线度、圆柱度、平面度、平行度、同轴度、同心度、波纹度分析、波高分析等。可对零件表面状态进行频谱分析，能够给出任一波的幅值；6.测量操作设置鼠标和键盘快捷操作，用户可根据操作习惯自由选择。三、MC012-DY系列圆柱度测量仪主要参数1.测量系统分辨率：0.01μm2.示值误差：±6%3.仪器径向误差：(0.03+0.0004H)μm4.仪器轴向误差：0.06μm5.传感器沿Z轴导轨移动时的直线度：0.30μm/100mm6.基准回转轴线与Z轴导轨平行度：0.45μm/100mm7.R轴导轨移动时直线度：0.5μm/100mm8.测量最大外径：Φ300mm9.测量最小内径：Φ2.5mm （最小可测Φ1.5mm需选配小测针）10.测量最大高度: 500mm11.承载重量：70Kg12.工作台台面直径：300mm13.传感器水平位移量：220mm14.主轴转速：5转/分

手动晶圆厚度测量仪 MX203系列产品简介：MX203系列手动晶圆厚度测量仪，用于测量直径为2寸、3寸、4寸、5寸、6寸、8寸、12寸晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。测量原理：MX203系列采用电容测量原理，晶圆上下各有若干对平行的电容测厚传感器，通过测量电容器电容变化计算晶圆厚度，及晶圆上下表面距离电容器的距离，进而得到晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。主要技术参数1）晶圆直径：50mm, 75mm, 100mm, 150mm, 200mm，300mm, 450mm2）厚度精度：±0.5 µ m3）分辨率：50 nm4）厚度范围：100-1000 µ m5）自动晶圆：手动应用： SIC, Si, GaN, GaAS, InP等半导体晶圆的高分辨率厚度，TTV，弯曲度和翘曲度，平整度，以及应力的测量。

半自动晶圆厚度测量仪 MX204系列产品简介：MX204系列半自动晶圆厚度测量仪，用于测量直径为2寸、3寸、4寸、5寸、6寸、8寸、12寸晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。测量原理：MX204系列采用电容测量原理，晶圆上下各有若干对平行的电容测厚传感器，通过测量电容器电容变化计算晶圆厚度，及晶圆上下表面距离电容器的距离，进而得到晶圆的厚度、平整度TTV、弯曲度Bow、翘曲度Warp、应力等晶圆参数。主要技术参数1）晶圆直径：100mm, 125mm, 150mm, 200mm2）厚度精度：±0.5 µ m ~ ±1 µ m±1 µ m3）分辨率：75 nm ~ 1.0µ m4）厚度范围：100-1000 µ m5）自动晶圆：半自动应用： SIC, Si, GaN, GaAS, InP等半导体晶圆的高分辨率厚度，TTV，弯曲度和翘曲度，平整度，以及应力的测量。

中图仪器WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪采用高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3DMapping图，实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。可兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确，可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。 WD4000晶圆厚度晶圆翘曲度测量仪可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据SEMI/ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm； （2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。部分参数测量速度：最快15s测量范围：100μm~2000μm 测量精度：0.5um 重复性（σ）：0.2um探头分辨率：23nm 扫描方式：Fullmap 面扫、米字、 自由多点测量参数：厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料：砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

NVC系列是我公司推出的一款性价比极高的自动光学影像量测仪，X/Y/Z轴采用CNC闭环控制系统，定位精度高，同时配合自行研发的全自动光学量测软件，通过鼠标或摇杆就可以实现所有量测功能，与手动相比操作更简单，批量检测效率更高。 产品特点1、三轴CNC控制系统(X/Y/Z闭环伺服控制系统)，定位精度高。 2、全鼠标或摇杆操作，简单易用。 3、可程控上下灯满足不同量测需求。 4、功能强大的全自动影像量测软件：编程、宏功能、阵列、导航、平移等。 技术参数具体型号NVC300NVC400(X/Y/Z轴)量测行程(mm)300*200*200400*300*200全机尺寸(mm)1000*600*16501100*720*1650机台底座和立柱材料高精度花岗石CCD700线彩色CCDX,Y轴线性精度（3.0+L/200）μm放大倍率Step Zoom光学放大率：0.7--4.5X，影像放大率：20--200X光学尺解析度1μm操作方式自动(摇杆、鼠标、编程)电源供给110/220V合适温度，湿度温度：18°--23°，湿度：45%--75%保修期1年 标配清单 序号名 称型号数量备注1机身NVC300\400机身1台2机台底座机台底座1台3电脑电脑1套4G内存/2G显存/1280GB固特硬盘 / Windows 操作系统4上下光LED光源1套5CCD彩色CCD1个700线彩色CCD6镜头镜头1组影像放大率：28--200X7软件测量软件1套8校正片校正片1块9黏土黏土1包10防尘罩NVC4001块11UPSD-1000块1、稳电压，提高设备寿命。2停可再待机30分钟。 三、软件功能与应用范围 （一）、影像系统测量功能：A、适用于WIN7 64位系统， 可切换成中文、英文等图形化界面。B、自动寻边功能：可设定感应灵敏度，避免人为视觉误差。C、LED程控可调上下双光源：为测量工件需要提供宽广多变的灯源选择系统。D、坐标系转换：（X，Y）笛卡尔坐标与极坐标（R，θ）系可方便选择。可即时转换量测值之基本单位mm、inch。E、理论几何要素特征值编辑功能。( 如圆，默认情况下有半径、圆心坐标、大半径、小半径、平均半径、面积、周长、同心（轴）度、真圆度输出，根据需要选择输出内容)。F、几何元素测量：点、直线、圆、椭圆、弧、矩形的手动测量； 点、直线、圆、椭圆、弧自动寻边测量，尽可能减小人为误差。G、复合几何元素测量及评定：点（找线中点、线与线交点、线与圆交点、圆与圆交点、点到圆的两个切点及两个非相交圆外切线交点）；距离（点到线距离、线与线距离、线到圆最短距、线到圆心距离、线到圆最长距、非相交圆的两圆心距）；线与线的角度；角平分线（如平行可来求对称线）。H、形状误差评定：直线度、平面度、真圆度。I、位置误差评定：平行度、垂直度、倾斜度、同心度、位置度。J、坐标变换：以测量要素为基准，实现坐标系平移、旋转等变换，建立工件坐标系。并将所有已测量的数据库中的数据自动的变换。工件坐标系统的存储与调用。Ｋ、编程功能：可快速编程，实现工件大批量，快速检测，同时具备SPC数据分析功能。L、对产品可以清晰的拍照并拼出完整图片，可以JPG或BMP的图片格式输出。 M、图形及测量结果可直接输入WORD、EXCEL或CAD，方便打印报表。可对工件进行精确二维抄数，并可将抄数资料输出DXF图档，对其进行比对、设计修改等。 （三）、使用范围：机械、航空、兵工、汽车、电子、电器、模具、光学、五金塑胶、五金、PCB板等行业的中的箱体、机架、齿轮、凸轮、蜗轮、蜗杆、叶片、曲线、曲面等的精密测量行业等。四、环境要求及保养注意事项 （一）环境要求：1、电源 ：220V±10％2、温度：为了使本量测仪在良好状况下可达到测量的精度标准。环境的温度应该保持在20℃±2℃,包括2℃/8hrs的温度梯度。在不良的环境条件下，精度标准可能无法达到。请不要在此外的环境温度下去调整机器精度。否则，无法确保本量测仪在20℃时的精度。3、湿度：湿度对测量精度没有直接不利的影响。然而，高湿度会使重要的机械表面生锈，阻碍平滑的轴向移动。环境湿度应该保持在55%至65%之间。4、振动：如果光学影像测量仪受到额外的周围振动，测量的精度将会变低。当频率小于10Hz，周围振动的振幅不应该超过2μm（峰-峰差值）；当频率在10Hz到50Hz之间，则加速度不应超过0.4Gal。如果振动超过这些限制，应该采用防振措施（例如安装振动阻尼器）。5、灰尘：精密的光学影像测量仪构成组件（例如光学尺），必须保证无灰尘。虽然防尘罩以防护影像测量仪免于灰尘，然而量测仪仍应定期清洁。 （二）保养注意事项：1．请勿将仪器置放于周边灰尘太多，振动太大，温度变化极大等不良之场所。2．投影幕镜面或计算机银幕沾上灰尘或油渍，请用干净棉纸擦拭，请勿用手触摸或以布沾水、油来擦拭。3、机身外壳：机身外壳遭污染时，并不会影响量测精度，但污染可能扩散至线性滑轨或量测平台等对量测精度有影响机身的其它部份，一但机身外壳遭污染时，请以软布擦拭。4、线性滑轨：线性滑轨为各种运动的基准，请定期涂覆黄油(三个月一次)。5、量测平台：在装卸工件时请小心勿伤及玻璃平台，因为它是量测之参考面，有时量测平台会附着水气及油雾层，请利用清洁剂清除污垢。6、光学尺：各轴之光学尺装有防尘盖和装在灰尘不易到达的地方，若计数产生误差请与本公司联络。 五、验收标准及售后服务：（一）验收交接：1、在用户现场调试后影像测量仪的验收方法：接受客户依据《中华人民共和国国家计量技术规范JJF1318-2012影像测量仪校准规范》来进行测量精度验收。2、以出厂检定记录、装箱单和合同为准，双方进行交接、清单验收。3、验收合格，双方代表在验收报告上签字。若有异议，协商解决。遗留问题可签署备忘录，以便服务解决。 （二）售后服务：1、在卖方网站免费提供相关软件的升级。2、卖方在收到买方调试或维修信息后,8小时内回复乙方,48小时内上门调试维修。3、在保质期内, 卖方负责给买方的操作人员进行免费操作使用及日常维护之教育训练,并且免费进行货物的安装调试。4、保质期内, 卖方负责免费维修货物各方面的存在的问题,如果维修未果则包换产生问题的货物零配件或软件,确保买方所购货物能达到条款二的要求。5、以上条款只在正常操作的原则下方为有效,人为不当操作或天然灾害造成之损坏不在保质期保质范围之内.　6、保质期是从验收之日起一年内有效。

NVE系列光学影像测量仪工作台采用大理石桌面，性能更加稳定，调光板程控设计方便操作，并新配有21寸液晶显示器，采用定格卡位镜头，结合软件在固定倍率下无需校正；在软件方面，采用半自动测量软件，功能更加强大，性价比高。 产品特点 1、花岗石工作台和立柱，机构永不变形。 2、镜头：定格卡位镜头，结合软件在固定倍率下无需线性校正。 3、随机附有自行研发的多用途校正片，不但可以进行教学演练还可以进行精度校正。 4、半自动测量软件。 技术参数　 具体型号NVE300(X/Y/Z轴)量测行程(mm)300*200*200全机尺寸(mm)1000*600*1650机身材料高精度花岗石CCD45万像素彩色Z轴线性精度**（3+L/150）μm、（3+L/200）μm（需加装探针模块）X,Y轴线性精度*（3+L/200）μm、（2.5+L/200）μm、（2+L/200）μm光学尺解析度*1 μm 、0.5μm、0.1 μm重复精度≤2μm镜头带卡位可连续变倍镜头放大倍率Step Zoom光学放大率：0.7--4.5X，影像放大率：28--180X光源底光与表面光均为LED冷光源，亮度可以连续可调操作方式手动机台承重30Kg测量输出结果格式WORD、EXCEL、TXT或CAD电源供给AC220V温度湿度要求温度：19°--24°，湿度：45%--75%保修期1年备注：*行首项为标配，后项均为选配；**行均为选配三、软件功能与应用范围 （一）、软件的主要功能：1、适用于WIN7 64位系统。 可切换成中文繁体、简体或英文图形化界面。2、对焦指示器功能：对不同试块的几何尺寸、轮廓及位置误差等的工序和终检检测时由计算机准确计算判定每次的对焦面，以保证变换焦距时测量高度或槽深测量精确度及重复性，提供彩色高画质影像。3、自动寻边功能：可设定感应灵敏度，避免人为视觉误差。4、LED可调可选择上下双光源：为测量工件需要提供宽广多变的灯源选择系统。5、半自动编程功能：作SPC分析功能时，按客户要求设定程序半自动循环测量出产品尺寸。6、坐标系转换：（X，Y）笛卡尔坐标与极坐标（R，θ）系可根据实际需要选择。可即时转换量测值之基本单位mm、inch。7、坐标变换：以测量要素为基准，实现坐标系平移、旋转等变换，建立工件坐标系。并将所有已测量的数据库中的数据自动的变换。工件坐标系统可存储与调用。8、几何元素测量及评定：点、直线、圆、椭圆、弧等基本几何元素的测量及评定。9、点、直线、圆、椭圆、弧的手动测量功能。10、点、直线、圆、椭圆、弧自动寻边功能，尽可能的减小人为误差。11、复合几何元素测量及评定：点（找线中点、线与线交点、线与圆交点、圆与圆交点、点到圆的两个切点及两个非相交圆外切线交点）；距离（点到线距离、线与线距离、线到圆心距离、非相交圆的两圆心距）；角度:(线与线的夹角)；角平分线（如平行可来求对称线）。12、形状误差评定：同心度、直线度、真圆度。13、位置误差评定：平行度、垂直度、倾斜度、位置度。14、测平面图形形心。15、理论几何要素特征值编辑功能。(如圆，默认情况下有半径、圆心坐标、大半径、小半径、平均半径、面积、周长、同心（轴）度、真圆度输出，根据需要选择输出内容)。16、辅助工具功能。框选窗口（局部放大功能）、最适合化窗口、框选删除、显示资料群组编号、显示十字线、切换坐标系等。17、对产品可以清晰的拍照，影像可以JPG或BMP的图片格式输出。18、图形及测量结果可直接输入WORD、EXCEL或CAD，方便打印报表。可对工件进行精确二维抄数，并可将抄数资料输出DXF图档，对其进行比对、设计修改等。 （二）、使用范围：机械、航空、兵工、汽车、电子、电器、模具、光学、五金、塑胶、PCB板等行业的中的箱体、机架、齿轮、凸轮、蜗轮、蜗杆、叶片、曲线、曲面等的精密测量行业等。 四、环境要求及保养注意事项 （一）环境要求： 1、电源 ：220V±10％2、温度：为了使本量测仪在良好状况下可达到测量的精度标准。环境的温度应该保持在20℃±2℃,包括2℃/8hrs的温度梯度。在不良的环境条件下，精度标准可能无法达到。请不要在此外的环境温度下去调整机器精度。否则，无法确保本量测仪在20℃时的精度。3、湿度：湿度对测量精度没有直接不利的影响。然而，高湿度会使重要的机械表面生锈，阻碍平滑的轴向移动。环境湿度应该保持在55%至65%之间。4、振动：如果光学影像测量仪受到额外的周围振动，测量的精度将会变低。当频率小于10Hz，周围振动的振幅不应该超过2μm（峰-峰差值）；当频率在10Hz到50Hz之间，则加速度不应超过0.4Gal。如果振动超过这些限制，应该采用防振措施（例如安装振动阻尼器）。5、灰尘：精密的光学影像测量仪构成组件（例如光学尺），必须保证无灰尘。虽然防尘罩以防护影像测量仪免于灰尘，然而量测仪仍应定期清洁。 （二）保养注意事项： 1、请勿将仪器置放于周边灰尘太多，振动太大，温度变化极大等不良之场所。2、投影幕镜面或计算机银幕沾上灰尘或油渍，请用干净棉纸擦拭，请勿用手触摸或以布沾水、油来擦拭。3、机身外壳：机身外壳遭污染时，并不会影响量测精度，但污染可能扩散至线性滑轨或量测平台等对量测精度有影响机身的其它部份，一但机身外壳遭污染时，请以软布擦拭。4、线性滑轨：线性滑轨为各种运动的基准，请定期涂覆黄油(三个月一次)。5、量测平台：在装卸工件时请小心勿伤及玻璃平台，因为它是量测之参考面，有时量测平台会附着水气及油雾层，请利用清洁剂清除污垢。6、光学尺：各轴之光学尺装有防尘盖和装在灰尘不易到达的地方，若计数产生误差请与本司联络。 五、验收标准及售后服务： （一）验收交接：1、在用户现场调试后的测量机验收方法，依据《中华人民共和国国家计量技术规范JJF1318-2011坐标测量机校准规范》执行。2、以检定纪录、装箱单和合同为准，双方交接、验收。3、验收合格，双方代表在验收报告上签字。若有异议，协商解决。遗留问题可签署备忘录，以便服务解决。 （二）售后服务： 1、在卖方网站免费提供相关软件的升级。2、卖方在收到买方调试或维修信息后,3小时内回复乙方,48小时内上门调试维修。3、在保质期内,卖方负责给买方的操作人员进行免费操作使用及日常维护之教育训练,并且免费进行货物的安装调试。4、保质期内,卖方负责免费维修货物各方面的存在的问题,如果维修未果则包换产生问题的货物零配件或软件,确保买方所购货物能达到条款三的要求。5、以上条款只在正常操作的原则下方为有效,人为不当操作或天然灾害造成之损坏不在保期保质范围之内。6、保质期是从验收合格之日起一年内有效。

圆跳动测量仪_轴偏差测量仪ZPY-A圆跳动测量仪，也叫垂直轴偏差测定仪，适用于安瓿瓶圆跳动数值、西林瓶垂直轴偏差检测.依据标准 YBB00332002-2015《低硼硅玻璃安瓿》等国家药监局标准设计制造。是制药企业、药检机构不可或缺仪器。产品特点◎ 千分显示精度，高于标准要求◎ 测量范围广，适用范围宽◎ 三爪自定心卡盘准确定位，测试更加准确◎ 测试支架灵活，高度可自由调整圆跳动测量仪_轴偏差测量仪测试原理 将瓶底加持固定在水平板的旋转盘上，使瓶口与千分表接触，旋转360°读取Z大值和Z小值，二者之差的1/2即为垂直轴偏差数值。仪器巧妙利用了四爪自定心卡盘同心度高的特点，配合一套可以自由调节高度和方位的高自由度的支架，可以满足各类玻璃瓶检测。 应用领域圆跳动测试：适用于玻璃安瓿瓶圆跳动测试。垂直轴偏差测试：适用于玻璃管制药瓶、玻璃模制药瓶、玻璃管制注射剂瓶、玻璃模制注射剂瓶、口服液体瓶、化妆品用玻璃瓶等垂直轴偏差测试。适用于玻璃输液瓶、啤酒瓶、白酒瓶、红酒瓶等玻璃容器垂直轴偏差测试。适用于矿泉水塑料瓶、碳酸饮料塑料瓶等塑料容器瓶垂直轴偏差测试。技术参数样品直径：5mm -190mm仪器量程：0-12.7mm/0.5″分 度 值：0.001mm/0.00005″可测高度：≤350mm尺 寸：230mmX170mmX400mm（长宽高）重 量：7.5KG 测试标准该仪器符合标准：YBB00332002-2015《低硼硅玻璃安瓿》、YBB00332003-2015 《钠钙玻璃管制注射剂瓶》、YBB00032004-2015 《钠钙玻璃管制口服液体瓶》、GB/T 8452-2008《玻璃瓶罐垂直轴偏差试验方法》 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

小型圆度测量仪，具备出色的性价比，可全面进行圆度评价。●易于操作。控制面板上的按键大且布局直观，便于操作。●人性化操作。配有大型号液晶面板显示器，测量结果与所记录数据图表易于查看。本设备机体小巧，内置热敏打印机，适用于狭小的检测空间。型号RA-10旋转工作台旋辑精度(JISB7451-1997)径向(0.04+6H/10000)umH:为测量高度(mm)轴向（0.04+6X/10000）umX:到旋转工作台轴的距离（mm）最大测量直径0100mm台面最大承重10kg垂直移动垂直移动

影像测量仪是基于光电影像技术不断的技术革新、并经外型重新设计后得到的一款新产品。经过多年的技术革新、不断改进，本款影像仪从外形设计、结构布局、配件选择到制作工艺上都已经十分成熟，其测量精度≤（3.0+L/200）μm，性能非常稳定，故障率极低，通常，只要在使用时稍加注意，仪器不挪动和不被碰撞，基本上不需要维护，只要每年进行一至两次的校准即可，维护成本接近于0。本款影像仪成本控制严谨，性价比极高。影像测量仪所具备的强大功能和良好的稳定性也广受客户青睐。影像测量仪，将是您的选择！一、 基本信息：1．品 名：影像测量仪2．型 号：SMV-30203．尺寸规格：运动行程（XYZ）：300×200×150 mm工作台尺寸：450×350 mm玻璃台尺寸：340×240 mm外观尺寸（L×W×H）：700×600×900 mm工件zui大荷重：30kg仪器净重：220kg4．电 源：AC220V±10% 频率：50Hz5．工作环境：温度20℃±2℃，温度变化﹤2℃/hr，湿度30%～80% 二、 影像系统：1．CCD：SONY芯片，彩色1/3" CCD2．变焦物镜倍率：0.7X～4.5X3．视频总倍率：20X～120X4．光源：上表面光、下轮廓光，均可调节亮度。上光源为3环LED冷光源，轮廓光为LED冷光源5．精度： 分辨率：0.001mm 精 度：≤（3.0+L/200）μm （注：L为被测量长度，单位为mm） 三、 应用范围 影像测量仪广泛应用于各种精密制造业，如手机组件、模具、电子、通信、机械、五金、齿轮、塑料、仪表、钟表、LED、PCB等行业，可测量的材料包括金属、塑料、橡胶、PCB、陶瓷等。在企业、高等院校、研究所、计量检定机构等单位的实验室、计量室和生产车间使用广泛。同时，影像测量仪还可用于逆向工程领域，能够地描绘出产品的轮廓，以便于加工制造。四、 产品特点SMV系列影像测量仪结合光、机、电一体，将工件摄入计算机处理并放大20到120倍(可选更高放大倍数)，显示于屏幕上，可以直接拍照存档或做表面观察、量测、绘图，其测量资料可做SPC统计、成EXCEL报表、制图文件，也可以转成AUTOCAD应用，AUTOCAD图形也可以调入计算机软件中与工件对比，制成数据，可以在计算机上储存、打印，更可通过网络进行传送。主要特点1．仪器依照人机工程学原理经整体设计而成，外形美观大方、结构合理；2．机台底座和立柱采用高密度优质花岗岩精研而成，稳重厚实、不变形，适合于各项高精度工件产品的非接触精密量测；3．光栅尺延用多年，测量准确度始终保持zui前沿、性能十分稳定；4．机台量测台的 X、Y 轴采用超高精度的线轨，可长时间保持机台的高精度且持久耐用。此外本机台同时适用于一般量测环境跟实验室的环境；5．量测台 X 轴与 Y 轴之间的高度为目前市场上各机种中设计zui理想且zui薄的机种；6．采用高精度无牙螺杆传动系统，摩擦系数小，传动更平稳；7．一次性模压成型航空铝工作台，轻量化，更不易变形；8．科技化的 Z 轴拱型支撑设计，可让导轨与光学镜头达到zui理想的近距离设计，完全达到力学上的对称与均衡，减少误差9．光源采用高科技光学用 LEDs彩色冷光，不发热、低用电量且寿命可达 50,000 工作小时以上。量测轮廓用绿色 LEDs 底光的光纤冷光源；量测表面用白色 LEDs 光源，是LED 灯组成的环型光源；10. 高清晰度镜头和高分辨率CCD，产品投影、测量更加准确；11. 软件界面简洁直观，易学、实用，功能强大；12. 强大的自动摆正功能。工件任意放置，设定工件坐标后，工作自动摆正；13. 测量数据可导出成Word、Excel、AutoCAD格式文件，方便存储、分析和传输。QMS3D-M软件是自主开发手动影像加探针测量应用软件，可以对二维测量的坐标进行可视化分析处理和检测，也可以使用探针进行三维几何元素测量。应用于各种精密制造业，如手机组件,模具,电子,通信,机械,五金,塑料,仪表,钟表,PCB,LCD等行业。可测量的材料包括金属,塑料,橡胶,玻璃,PCB,陶瓷等 1:几何元素测量 可以测量十五种几何元素(点,直线,平面,圆,圆弧,椭圆,矩形,键槽,圆环,圆柱,圆锥,球,开曲线,闭曲线和焦面)，并且可以测量高度,也可以预置基本几何元素。 特点:(1):根据实际测量需求可以选择接触式测量---探针测量，也可以选择非接触式测量---影像测量。(2):多种测量方法:智能寻边,整体采点,多段采点,鼠标采点,邻近采点,十字线采点,放大采点，对比采点,探针采点 2:几何元素构造 强大几何元素构造功能,可以构造二维和三维几何元素 特点:(1):可以构造多种元素:例如点,直线,圆,圆弧,椭圆,矩形,距离,角度,圆环,键槽,平面,圆柱,圆锥和球 (2):多种构造方法:提取法,相交法,垂直法,平行法,相切法,对称法，镜像法等 3:坐标系统 能建立机械坐标系和工件坐标系，实现各坐标系的坐标变换，能方便地实现直角坐标系与极坐标系之间的相互转换，能实现各工件坐标系的存储和使用。可以建立二维坐标,也可以建立三维坐标 4:用户程序不受限制的用户程序记录、编辑、保存、呼出功能。QMS3D-M用户程序可以记录、编辑所有的用户动作，实现复制测量，大幅提高测量效率。简易的用户程序教导方式，可复制教导步骤，强大的视觉化编辑功能，方便批量检测。QMS3D-M使用教导程序方式记录用户程序。用户在di一次测量工件时，系统自动记录工件测量的用户程序，记录的用户程序能被保存到电脑以便再次打开重新运行。5: 辅助对焦 通过辅助对焦可以完善手动对焦,使得影像质量更好,为提高测量提供保证.6: 图形功能 有完善的图形处理和显示功能（缩放、平移、视窗显示、局部放大、全屏显示），使测量结果更加形象、直观，便于用户操作。7: 标注功能 能直接在绘图区及影像区的元素图形上标注角度、距离、X方向距离、Y方向距离、圆（弧）半径、圆（弧）直径、弧长，使用户一目了然。8: 误差补偿软件带有系统误差和镜头中心补偿功能。目前可对坐标定位系统误差和垂直度系统误差进行补偿。对坐标定位系统误差的补偿，有“线性补偿”和“区段补偿”两种方法可供选用。镜头中心补偿是在不同倍率下进行进行镜头中心偏移补偿 9: 公差： 完善的尺寸公差计算能力。符合国标的形位公差计算能力，以图表描述直线的直线度，圆、弧的真圆度，平面的平面度。位置公差计算包含位置度、平行度、垂直度、倾斜度、同心度、同轴度以及对称度。10: 报表功能测量数据可以导出到默认Excel、自定义Excel、Word、SPC等。11:探针管理系统 探针管理系统包括标准器创建,探针校正,探针管理操作以及探针系统管理功能 12:传感器同步 传感器同步包括:探针与影像同步以及激光位移器与影像同步 13: 语言转换现已准备好的“中文简体”、“中文繁体”与“英文”三种屏幕对话语言已能满足绝大多数用户的需求。

玻璃瓶轴偏差测量仪 圆跳动测量仪ZPY-G电子轴偏差测试仪适用于安瓿瓶检测，西林瓶等药品，食品，化妆品等行业瓶类容器的垂直轴偏差的测定。依据标准YBB00332002-2015《低硼硅玻璃安瓿》等标准进行创新设计，全自动化测试过程大大提高了测试的精度。是制药企业、药检机构不可或缺仪器。产品特点◎ 7寸触控彩色液晶屏，微电脑控制，自动分组统计Z大值、Z小值、平均值。◎ 支持垂直度轴偏差和圆跳动两种模式切换，一机两用。◎ 360°全角度补偿测量偏差，确保测量数值更准。◎ 系统自带微型打印机，上位机数据无限储存。◎ 专业电脑测控软件，曲线图显示，数据保存，EXCEL统计，打印A4试验报告。◎ 软件用户分级权限管理，数据统计及审计功能满足行业要求。 测试原理将瓶底加持固定在水平板的旋转盘上，使瓶口与千分表接触，旋转360°读取Z大值和Z小值，二者之差的1/2即为垂直轴偏差数值。仪器巧妙利用了四爪自定心卡盘同心度高的特点，配合一套可以自由调节高度和方位的高自由度的支架，可以满足各类玻璃瓶检测。 应用领域适用于安瓿瓶圆跳动、西林瓶垂直轴偏差检测。依据YBB00332002-2015《低硼硅玻璃安瓿》等国家药监 局标准设计。是制药企业、药监机构不可或缺仪器。化妆品瓶：适用于测量化妆品瓶塑料瓶及玻璃瓶的垂直轴偏差，啤酒瓶用电子轴偏差测量仪酒瓶：适用于瓶装酒，用玻璃瓶的垂直度偏差的测定；塑料瓶用电子轴偏差测量仪塑料瓶：适用于各种碳酸饮料瓶、无汽矿泉水瓶、食用油桶等塑料瓶的垂直度轴偏差的测定玻璃瓶轴偏差测量仪 圆跳动测量仪测试标准该仪器符合多项国家和国标标准： YBB00332002 - 2015 、 YBB00332003 - 2015 、YBB00032004-2015、GB/T 84522008、GB-2639、QB 2357、QB/T 1868。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

MX 102-6 102-8 高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪应用：适用于 100-150nm 及150–200mm 硅晶圆的高分辨率厚度和平整度 (TTV) 测量仪系列。适用于不同的厚度范围，几秒内即可完成测量，易于集成到自动机器人分拣系统中。MX102-6/8 非常适合研发、工艺鉴定以及厚度和平整度 (TTV) 的工艺控制，尤其是在磨削和研磨之后。一对电容式传感器对每个晶圆上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，其中包含数百个局部厚度值。如果您的应用需要，也可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖范围。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：100mm, 125mm, 150mm, 200mm测量准确度：±0.1 µ m分辨率：10nm空间分辨率：1mm扫描次数：4次软件：MXNT

MX 1012 高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪应用：适用于 200–300mm 硅晶圆的高分辨率厚度和平整度 (TTV) 测量仪。适用于不同的厚度范围，几秒内即可完成测量，易于集成到自动机器人分拣系统中。MX1012 非常适合研发、工艺鉴定以及厚度和平整度 (TTV) 的工艺控制，尤其是在磨削和研磨之后。一对电容式传感器对每个晶圆上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，其中包含数百个局部厚度值。如果您的应用需要，也可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖范围。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：200mm, 300mm测量准确度：±0.1 µ m分辨率：10nm空间分辨率：1mm扫描次数：最多8次软件：MXNT

MX 1018高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪应用：适用于 300–450mm 硅晶圆的高分辨率厚度和平整度 (TTV) 测量仪。适用于不同的厚度范围，几秒内即可完成测量，易于集成到自动机器人分拣系统中。MX1018非常适合研发、工艺鉴定以及厚度和平整度 (TTV) 的工艺控制，尤其是在磨削和研磨之后。一对电容式传感器对每个晶圆上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，其中包含数百个局部厚度值。如果您的应用需要，也可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖范围。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：200mm, 450mm测量准确度：±0.3 µ m分辨率：10nm空间分辨率：1mm扫描次数：最多8次软件：MXNT

广东正业是生产影像测量仪厂家，所生产的影像测量仪包括：二次元影像测量仪以及三次元影像测量仪。其中二次元影像测量仪产品包括龙门式影像测量仪、全自动影像测量仪、手动影像测量仪等。二次元影像测量仪用于以二维测量为主，包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等，增加探针可实现三维测量，可应用于应用于机械、电子、仪表、塑料、科研、品管等行业，可从视频捕捉卡上捕捉图像，快速测量待测物之尺寸，自动标注尺寸，操作简单方便。我司生产的二次元影像测量仪可根据客户的需要定制仪器制作，下面以二次元影像测量仪中的龙门式影像测量仪为主要介绍龙门式影像测量仪|二次元影像测量仪这款产品的特色所在：1、采用天然花岗石底坐和立柱，稳定性强，硬度高，不易变形；2、X、Y向采用空气轴承，花岗石导向，可长时间工作也保证了机械系统的精确稳定；3、工作台使用无牙光杆和磨擦传动；4、环形LED冷光源，使用寿命长，测量时不会产生热变形；5.光学系统品质优良，影像明亮清晰，图像还原性好；6、三轴采用日本松下伺服电机传动。 龙门式影像测量仪|二次元影像测量仪600*500技术参数测量行程：600× 500× 150 玻璃载物尺寸及承重：650× 550mm；30KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X物镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）龙门式结构，机台底坐和立柱材料：天然花岗石光栅尺分辨率：&le 0.001mm线性精度：3+L/200（L为被测长度）重复测量精度：&le ± 0.003mm整机尺寸（mm）：1300× 1400× 1800龙门式影像测量仪|二次元影像测量仪700*600技术参数测量行程：700× 600× 150玻璃载物尺寸及承重：750× 650 mm；30KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X物镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）龙门式结构，机台底坐和立柱材料：天然花岗石光栅尺分辨率：&le 0.001mm线性精度：3+L/200（L为被测长度）重复测量精度：&le ± 0.003mm整机尺寸（mm）：1400× 1500× 1800龙门式影像测量仪|二次元影像测量仪900*600技术参数测量行程：900× 600× 150玻璃载物尺寸及承重：950× 650mm；30KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X物镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）龙门式结构，机台底坐和立柱材料：天然花岗石光栅尺分辨率：&le 0.001mm线性精度：3+L/200（L为被测长度）重复测量精度：&le ± 0.003mm整机尺寸（mm）：1450× 1700× 1800相关类产品：龙门式影像测量仪、全自动影像测量仪、手动影像测量仪

Hommel霍梅尔 德国业纳 JENOPTIK 圆度测量仪 F355/F455 使用 F435 和 F455 形状测量仪，您可以精确测定工件的圆度、圆柱度和平整度。测量系统会使用 CNC 控制的三个测量轴自动对准部件并检查形状和位置公差。因此，所需的工作量比传统设备少得多。该软件支持直观操作您的测量系统。 探臂是以磁力连接的，因此您可以简单快捷地更换它。此连接还可防止探头和探臂遭到冲击损坏。借助新一代的 FT1.1 探头，您不仅可以测量形状，而且还可以在单个周期中测量 扭纹和粗糙度，从而节省您的时间和资金。 借助可选的电动旋转和倾斜模块 (MDS) 模块，可在不中断 CNC 运行的情况下进入最难接近的探测位置。形状测量仪以紧凑型台式仪器的形式提供，或集成在符合人体工学的测量站中。 优点最少工作量：自动对准和测量工件。灵活：可选的粗糙度、波度和扭纹检查。新式的探头：安全快捷地更换探臂。功能强大的软件：测定所有形状和位置公差。 应用汽车工业：测量工件的形状、粗糙度、扭纹和波度。

广东正业是生产影像测量仪厂家，所生产的影像测量仪包括：二次元影像测量仪以及三次元影像测量仪。其中二次元影像测量仪中的手动影像测量仪于以二维测量为主，包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等。二次元影像测量仪|手动影像测量仪用途 ： 仪器适用于以二维测量为主，包括点、线、圆、矩形等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等，增加探针可实现三维测量。二次元影像测量仪|手动影像测量仪特征 ： 1、采用天然花岗石底坐和立柱，稳定性强，硬度高，不易变形；2、采用高精度滚动导轨，提高机器稳定性，长时间工作也能保持精度；3、工作台使用无牙光杆和磨擦传动；4、环形LED冷光源，使用寿命长，测量时不会产生热变形；5、光学系统品质优良，影像明亮清晰，图像还原性好；6、三轴采用日本松下伺服电机传动。手动影像测量仪|二次元影像测量仪技术参数 ： 手动影像测量仪2010测量行程(X.Y.Z)：200× 100× 150mm玻璃载物台承重：25KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X(手动型2010 3020 4030) 0.7X&mdash 5.0X（手动型5040）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）光栅尺分辨率：0.001mmX、Y线性精度：3+L/200&mu m (L为被测长度)重复测量精度：&le ± 0.003mm应用软件：ASIDA VMM3.0D测量软件（简、繁、英） 手动影像测量仪3020测量行程(X.Y.Z)：300× 200× 150mm玻璃载物台承重：25KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X(手动型2010 3020 4030) 0.7X&mdash 5.0X（手动型5040）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）光栅尺分辨率：0.001mmX、Y线性精度：3+L/200&mu m (L为被测长度)重复测量精度：&le ± 0.003mm应用软件：ASIDA VMM3.0D测量软件（简、繁、英） 手动影像测量仪4030测量行程(X.Y.Z)：400× 300× 200mm玻璃载物台承重：25KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X(手动型2010 3020 4030) 0.7X&mdash 5.0X（手动型5040）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）光栅尺分辨率：0.001mmX、Y线性精度：3+L/200&mu m (L为被测长度)重复测量精度：&le ± 0.003mm应用软件：ASIDA VMM3.0D测量软件（简、繁、英） 手动影像测量仪5040测量行程(X.Y.Z)：500× 400× 200mm玻璃载物台承重：25KG物镜工作距离：90mm物镜放大倍率：0.7X&mdash 4.5X(手动型2010 3020 4030) 0.7X&mdash 5.0X（手动型5040）目镜放大倍率：0.5X（可选配1X,2X）光栅尺分辨率：0.001mmX、Y线性精度：3+L/200&mu m (L为被测长度)重复测量精度：&le ± 0.003mm应用软件：ASIDA VMM3.0D测量软件（简、繁、英）

二次元测量仪、三次元同时作为两项光学测量仪的新型技术产品，按常理来讲，二次元影像测量仪在应用方面确实比三次元要低些。必竟，三次元是在二次元影像测量仪的基础上进行改良的。但是这样是不是意味着，二次元的市场将要被三次元取代呢？下面妙机专业人士给大家解答一下这个问题。有很多的客户在选购时，也经常问到：我们该买哪一款好呢？在这里，我们妙机二次元测量仪生产商可以很负责任的跟您讲，二次元和三次元都有各自的应用领域。并不一定是二次元能用到的地方，三次元测量仪就一定能用上。在这里我们还是再次澄清一下它们两者之间的区别和用途。通常，在测量体积不太，而且只需二维平面测量的，二次元测量仪厂家建议使用二次元影像测量仪。二次元固名思义，它能解决是二维测量问题。对三维的轮廓扫描是没有办法做得到的。因此通过二次元扫描成影的图像也只能生成CAD图纸。另外，二次元还有一显著特点：它是属于非接触型测量。这跟三次元是本质上的区别。所以二次元在测量平面的工件较适合了。例如：PCB板，手机平板，薄膜等。三次元测量仪主要是用在三维测量领域。主要针对的是立体的工件。并且扫描后的数据可以直接生成三维图纸。它可以对立体工件任何角度，任何部位进行测量。从而迷补了二次元的立体测量的空缺。它主要是用在五金模具，机械零件，自由曲面等领域。所以，我们的客户选购时，要根据他们本公司的需要，适当的选择合适他们的仪器。并不是三次元测量仪的功能多就一定要选。综合上影像测量仪厂家小编给大家讲的知识，相信大家对这方面的资讯已经非常了解，如有疑惑可以关注我们妙机科技的咨询了解，我们将竭诚为您服务。妙机科技达到高要求生产和测试标准，生产设备齐全先进，目前在国内外占有一定的市场并享有较高的品牌知名度，未来将持续朝更高速、更高精度测量产品方向发展。

一、仪器名称：晶圆表面颗粒度测量仪二、品牌型号：荷兰Fastmicro公司FM-PS-PRS-V01型三、产品简介荷兰Fastmicro公司的晶圆表面颗粒度测量仪采用专利的米氏散射原理可直接检测晶圆表面的颗粒污染程度，测量速度快，操作简单，可测量大于500nm的颗粒并进行分析统计。主要应用于半导体行业（晶圆裸片颗粒度检测，掩膜版表面颗粒度检测，CMP及清洗后晶圆表面颗粒度检测）与显示行业（玻璃面板）。由于其模块化和可扩展的设计，该测量仪具有无限的扫描区域。该系统可以根据需要测试产品的表面形状和位置进行定制。四、原理简介 采用专利技术米氏散射原理检测表面微观颗粒，光源发出的平行光照射待测表面，遇到表面的突起颗粒发生米氏散射，摄像头传感器以一定角度接收到散射信号，根据散射信号可获取关于待测表面颗粒尺寸信息。五、主要参数测量速度任何尺寸产品表面秒级成像；整个流程1分钟内完成（取样+测试）；数据输出颗粒数量；颗粒位置；颗粒尺寸；带有粒子标记的图像；可导出KLARF和Excel文件；数据通过USB或以太网输出；操作操作简单；可升级全自动设备；测量范围最小可检测0.5μm大小PSL颗粒；可重复性更换采样器后, 90%的颗粒被统计，PSL颗粒大于500nm；尺寸和定位精度PSL颗粒的尺寸精度＜20%；位置精度80μm，位置重复性30μm；无接触、无污染与检测区域不接触；待测产品粗糙度要求粗糙度Ra＜50nm；六、应用案例

二次元影像坐标测量仪也称二次元量测仪爱思达二次元影像测量仪主要有三款型号：ASIDA6050A,ASIDA7060A,ASIDA8070A我司所生产的影像测量仪包括：二次元影像测量仪以及三次元影像测量仪。其中二次元影像测量仪也可称为平面度测量仪，二次元影像测量仪主要适用于以二维测量为主，包括点、线、圆、矩形、等几何元素和零件的长度、角度、轮廓、外形、表面形状等，增加探针可实现三维测量。全自动影像测量仪都具备3D影像测高功能。二次元影像测量仪特征：1、采用天然花岗石底坐和立柱，稳定性强，硬度高，不易变形2、X/Y向采用空气轴承、花岗石导向，可长时间工作也保证了机械系统的精确稳定3、工作台使用无牙光杆和磨擦传动4、环形LED冷光源，使用寿命长，测量时不会产生热变形5、光学系统品质优良，影像明亮清晰，图像还原性好6、三轴采用日本松下伺服电机传动二次元测量仪技数参数项目规格型号ASIDA6050 ASIDA7060A ASIDA8070A测量行程600x500x200700x600x200800x600x200玻璃载物台尺寸650x550mm750x650mm850x750mm玻璃载物台称重30Kg物镜工作距离82mm物镜放大倍率0.75X~5X总放大倍率30X~230X光栅尺分辨率≤0.001mmX/Y线性精度≤3+L/200(L为被测长度)重复测量精度≤±0.003mm整机尺寸1300x1400x18001500x1400x18001550x1650x1800整机重量1800KG 2000KG 2400KG应用软件AISDA MEASURE VMA 3.00.01测量软件（简体、繁体、英文）数据输出格式DXF、EXCEL、WORD系统平台Windows XP Pro,WIN7PC要求CPU:双核处理器，≥2G内存，≥320G硬盘电源要求220伏特/50HZ电源工作环境温度：20+/-2OC；湿度：45%-75%；振动0.002g,15Hz选配件美国NAVITAR测量专用镜头；英国Renishaw触发探头组；日本基恩仕激光位移感应系统。备注可根据客户需求定制行程大小

仪器简介：YL-VMS二次元影像测量仪 产品介绍： 增强型VMS系列光学影像测量仪，是我公司推出的一款增强型2D光学影像测量仪，采用高解析度日本索尼彩色CCD摄像机和美国NAVITAR变焦物镜，采用我公司自主研发的MCINS手动版测量软件，具备基本的点、线、圆、距离、角度等基本测量功能及多坐标功能，能满足基本的二次元测量需求；此外测量数据可输入EXCEL、WORD、TXT中或者将测量图形输出至DXF文档做CAD设计。 性能特点： 1. 花岗石底座，机构永不变形。 2. X、Y、Z轴装有光栅尺，定位精确。 3. 双焦物镜倍率(美国NAVITAR)：0.7~4.5X 4. LED冷光源（表面光和轮廓光）避免工件受热变形。 5. MCINS手动版软件。技术参数：YL-VMS二次元影像测量仪 产品介绍： 增强型VMS系列光学影像测量仪，是我公司推出的一款增强型2D光学影像测量仪，采用高解析度日本索尼彩色CCD摄像机和美国NAVITAR变焦物镜，采用我公司自主研发的MCINS手动版测量软件，具备基本的点、线、圆、距离、角度等基本测量功能及多坐标功能，能满足基本的二次元测量需求；此外测量数据可输入EXCEL、WORD、TXT中或者将测量图形输出至DXF文档做CAD设计。 性能特点： 1. 花岗石底座，机构永不变形。 2. X、Y、Z轴装有光栅尺，定位精确。 3. 双焦物镜倍率(美国NAVITAR)：0.7~4.5X 4. LED冷光源（表面光和轮廓光）避免工件受热变形。 5. MCINS手动版软件。主要特点：YL-VMS二次元影像测量仪 产品介绍： 增强型VMS系列光学影像测量仪，是我公司推出的一款增强型2D光学影像测量仪，采用高解析度日本索尼彩色CCD摄像机和美国NAVITAR变焦物镜，采用我公司自主研发的MCINS手动版测量软件，具备基本的点、线、圆、距离、角度等基本测量功能及多坐标功能，能满足基本的二次元测量需求；此外测量数据可输入EXCEL、WORD、TXT中或者将测量图形输出至DXF文档做CAD设计。 性能特点： 1. 花岗石底座，机构永不变形。 2. X、Y、Z轴装有光栅尺，定位精确。 3. 双焦物镜倍率(美国NAVITAR)：0.7~4.5X 4. LED冷光源（表面光和轮廓光）避免工件受热变形。 5. MCINS手动版软件。

晶圆级磁光克尔测量仪利用极向磁光克尔效应(MOKE)，快速全局检测晶圆膜堆的磁性。非接触式测量，避免了传统磁性表征对晶圆的破坏，可应用于图形化前后的样品检测。晶圆级垂直磁光克尔测量仪样品尺寸:最大支持12 英寸及以下晶圆碎片测试:磁场:最大垂直磁场优于2.5T,磁场分辨率1 μT 磁性检测灵敏度:克尔转角检出度优于0.3mdeg(RMS)，适用多层膜堆的磁性表征 样品重复定位精度:优于1um,静态抖动0.25 um。晶圆级面内磁光克尔测量仪样品尺寸:最大支持12 英寸及以下晶圆碎片测试，磁场:最大面内磁场优于1.4T,磁场分辨率1 μT 磁性检测灵敏度:克尔转角检出度优于0.3mdeg(RMS),适用多层膜堆的磁性表征 样品重复定位精度:优于1 um,静态抖动0.25 um 样品360°任意角度旋转。功能及应用场景垂直/面内MRAM磁性存储器、磁传感器膜堆的磁滞回线测量 自动提取磁滞回线信息,，如自由层和钉扎层Hc、Hex、Ms等 可自动进行连续逐点扫描，生成晶圆磁特性分布图 系统预置多点扫描模式:单点、阵列、径向分布,自定义位置列表 系统提供手动加载或全自动操作方式,满足研发/生产需求。

WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。它采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数；3、基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。WD4000无图晶圆厚度粗糙度微纳三维形貌测量仪器兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。应用领域可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。 （3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

一、接触角测量仪原理介绍： 接触角是指在气、液、固三相交点处所作的气-液界面的切线，此切线在液体一方的与固-液交界线之间的夹角，符号：θ，接触角测量仪是材料表面性能检测接触角度的主要仪器。 接触角测量仪是采用光学成像的原理，设备采用图像视频轮廓分析方式测量样品表面接触角、润湿性能、表界面张力、前进后退角、表面能等性能可满足各种常规测量需求，目前已经广泛使用在众多高校院所及企业。 品牌：科众精密货期：现货供应，全国销售型号：KZS-50晶圆全自动接触角 产地：广东.东莞二、接触角测量仪应用行业介绍：半导体晶圆行业：测量光刻胶与晶圆表面润湿、测量晶圆金手指等表面亲疏水性；玻璃产品：测量玻璃清洗后的亲疏水性，测量镀膜后玻璃表面的疏水疏油性能，测量贴合前的洁净度；油墨、印刷：测量油墨表面张力、界面张力，测量油墨与基材的润湿性；新能源制造：分析电解液与石墨的润湿性，测量铝箔亲水性，测量包装膜表面的亲水性，测量极耳的亲水性；金属产品：测量表面处理后的接触角，测量焊接前的表面能，测量合成金属的表面亲疏水性；材料行业：改变原样品表面围观结构、添加各种形式的表面改性图层或材料，改性后需要用到接触角来测量；粉末材料：测量粉末材料表面亲疏水性能，评估粉体材料润湿性，极耳非极性的分布；石油、化工：分析油水界面张力，油水在岩心表面的亲疏水性；光伏产品：测量光纤、晶体、有机硅材料等润湿性，检测通讯基站部件户外防水性能；生物医疗：测量医疗试管、试纸、器械等的润湿性，测量血清与实验室管的润湿性，测量凝胶与角膜的润湿性。 三、水滴角/接触角测量仪技术参数：技术参数KZS-50图片 硬件外观接触角平台长12寸圆平台（6寸、8寸、12寸（通用）扩展升级整体扩展升级接触角设备尺寸670x690x730mm（长*宽*高）重量35KG样品台样品平台放置方式水平放置 样品平台工作方式三维移动样品平台样品承重0.1-10公斤仪器平台扩展可添加手动，自动倾斜平台，全自动旋转平台，温控平台，旋转平台，真空吸附平台调节范围Y轴手动行程400mm，精度0.1mmX轴手动，360°自动旋转，精度0.1mm测试范围0-180°测量精度高达0.01°测量面水平放置样品平台旋转全自动旋转平台仪器水平控制角位台可调，镜头可调，样品平台可调滴液滴液系统软件控制自动滴液，精度0.1微升，自动接液测试注射器高精密石英注射器，容量500ul针头直径0.51mm，1.6mm表面张力测试滴液移动范围X轴手动调节80mm，精度0.01mmZ轴自动调节100mm，精度0.01mm滴液系统软件控制自动滴液泵滴液模组金属丝杆滑台模组镜头/光源光源系统单波冷光源带聚光环保护罩，寿命60000小时以上光源调节软硬共控镜头可移动范围滑台可调100mm镜头远心变倍变焦定制镜头镜头倾斜度±10°，精度0.5°相机帧率/像素300fps（可选配更高帧率）/300万像索电源电源电压220V，功率60W，频率60HZ漏电装置带漏电装置保护软件部分软件算法分辨率拟合法、弧面法、θ/2、切线法、量角法、宽高法、L-Y法、圆法、椭圆法、斜椭圆法测量方式全自动、半自动、手动拟合方式 分辨率点位拟合，根据实际成像像素点完全贴合图像拍摄支持多种拍摄方式，可单张、可连续拍摄，支持视频拍摄，并一键测量。左右接触角区分支持分析方法座滴法、纤维法、动态润湿法、悬滴法、倒置悬滴法、附着滴法、插针法、3D形貌法、气泡捕获法分析方式 润湿性分析、静态分析、实时动态分析、拍照分析、视频分析、前进后退角分析保存模式Word、EXCEL、谱图、照片、视频总结1、晶圆接触角测量可以订制，适用于各种半导体制造中常用的6英寸、8英寸、12英寸等尺寸的晶圆。2、高精度测量：可以在非常小的范围内准确测量晶圆表面的接触角，具有高度的重复性和准确性。3、多功能性：晶圆接触角测量仪通常具有多种测试模式，可以测量不同类型的表面处理，如刻蚀、沉积、清洗等过程对接触角的影响，可以提供全面的表面质量评估。4、高效性：晶圆接触角测量仪可以在非常短的时间内完成多个晶圆的测量，提高了实验的效率。5、自动化程度高：晶圆接触角测量仪通常具有自动化控制和数据处理系统，可以自动完成晶圆的定位、测量和数据处理，减少了实验人员的工作量和误差。四、接触角测量仪软件介绍: 科众接触角测量仪的软件由本公司研发，包含静态接触角，动态接触角，滚动接触角，表面能，表面张力，粘附功。测量软件具有成像清晰度判别功能，测量接触角时能够自动寻找基线、自动拟合轮廓。对于材料表面特殊形状或结构形成的弯曲基线，可使用手动模式测量通用多功能型视频光学接触角测量仪利用液滴形状分析技术分析上千种材料表面润湿性能的测量仪器。全自动倾斜台和视频系统由软件控制，自动记录倾斜过程中液滴的形状变化，倾斜角度和位置移动，自动测 量滚动角、前进角和后退角等相关参数。 五、接触角测量仪测试方法 准备样品：将需要测试的样品放置于测量平台上，并进行必要的清洗和干燥处理，确保表面干净且无杂质。滴液：手动或自动滴液，使液滴从液滴针尖中滴落到样品表面上，注意滴液的体积应该相同，以确保测试结果的准确性。图像采集：使用高分辨率的相机，拍摄液滴与样品表面相接触的瞬间，保证光学稳定性和图像质量。数据分析：使用测量软件进行数据分析，测量液滴与样品表面接触时的接触角度、水滴半径等参数，并计算出表面自由能、界面张力等相关参数。结果处理：将测试数据进行整理和统计，并生成测试报告，可通过导出功能保存数据和结果。 除了座滴测试方法，还有其他的测试方法，如倾斜滴液法、环形法、动态法等，根据实际需要选择适合的测试方法进行测量。 通过手动或自动滴液的方式，确保每次液滴的体积相同，高分辨率相机保证光学稳定性，由测量软件实时分析测试结果 。座滴测试方法可批处理静态接触角度，创建测试数据报告并导出。

MX 2012 晶圆几何测量仪应用：适用于 300mm 晶圆的高精度几何测量仪。MX2012 作为手动装载的独立站运行，每小时至少可处理 50 片晶圆。共具有 69 个测量点，以高分辨率控制厚度、弓形和翘曲。可选择进行晶圆应力评估。直立位置测量可避免重力引起的下垂。系统可转换为 200mm 晶圆测量。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：300mm测量准确度：±0.5 µ m分辨率：50nm厚度范围：500-1000 µ m自动晶圆测量：自动软件：MXNT测量原理：MX2012系列的晶圆几何台由上下两个探头组成。每个探头都基于一块1英寸厚的扁平铝板，69个电容式距离传感器嵌入其中，且两个传感器板互相垂直相对安装，避免了重力引起的晶圆额外下垂。由压缩空气活塞驱动的偏心系统可以操纵上探头的提升和降低上探头。在升高的位置，测量对象被装载和卸载。在降低的位置，上探头由三个硬金属螺栓承载，球形端安装在下板中。这确保了在0.1 µ m定位后的可重复性。下板由塑料片覆盖，塑料片包含空气通道并提供真空吸盘的吸入口。真空吸盘系统具有三个独立的电路，可以依次启动。塑料片的电介质通常会影响电容测量。然而，它的影响作为系统校准的结果之一可以忽略不计。