绝缘聚合定仪

开创聚合物分离的新纪元以更高分离度的体积排阻分离进行聚合物色谱表征通过实现快速的日常校准提升数据一致性和数据质量利用系统先进的技术实现自动化的方法开发以更快的速度获取目标聚合物的更多信息增强对聚合物化学结构的了解，加速创新如今，聚合物科学家所处的市场环境日趋活跃，对高性能材料、生物材料创新的需求不断增长，愈发激烈的竞争导致产生了更强的紧迫感。有了ACQUITY APC系统，聚合物色谱表征脱去极长运行时间的标签。得益于超高效聚合物色谱的优势，分析人员能以快于传统GPC/SEC技术5-20倍的速度,获取准确且可重现的聚合物分子量信息，从而加快创新速度，同时改善实验室运营环境。缩短聚合物样品实验室检测周期：更快地为研发实验室、生产运营团队以及您的客户提供可供决策的结果。推动创新：更快获取结果并掌握更多信息，帮助整个环节更快速地做出响应，从而缩短开发周期并加快上市步伐。简化工艺监测并灵活实现批次一致性控制，可对工艺和合成优化做出灵活的“动态”决策。显著降低每个样品的分析成本：减少溶剂消耗和废液处理量。通过快速溶剂切换和强溶剂兼容性优化方法开发配备聚合物四元溶剂管理器(p-QSM)的APC系统赋予了化学家和聚合物科学家出众的灵活性，让他们能够在同一套系统上使用标准聚合物色谱、梯度聚合物洗脱色谱(GPEC)和反相LC分析非常复杂的共聚混合物和聚合物添加剂。附加的系统功能支持自动化选择多达六种不同的溶剂。自动化色谱柱切换功能结合ACQUITY APC色谱柱的刚性和可灵活溶剂切换的颗粒配合使用，为体积排阻色谱法分离聚合物的方法开发，率先提供了全世界真正意义上的自动化解决方案。这套解决方案支持在数小时内完成聚合物的方法开发到检测，而无需数天时间。全方位多维色谱细节决定一切 — 更优的细节是我们不懈努力的目标当与PSS Polymer Standards Service GmbH的WinGPC UniChrom&trade 软件结合使用时，沃特世APC系统有助于研究人员使用多维分离方法深入了解复杂的聚合物材料，从而增加单次色谱分析的峰容量。应用多维色谱方法能够通过两种不同的连续保留机制分离分析物。该方法可以使分析物与单维色谱分离中通常发生共洗脱的其它化合物实现分离。这有助于大幅提升多维分离度，并提供有关复杂聚合物样品化学结构和组成的详细信息。始终能满足您研究需求的色谱柱技术BEH色谱柱技术采用亚乙基桥杂化(BEH)技术的颗粒可确保色谱柱在恶劣的运行条件下仍具有高柱效和长使用寿命。先进的反相和HILIC HPLC色谱柱BEH色谱柱适用于常见的反相色谱分析，此外，这款色谱柱在极端pH条件下可保持稳定，并且广泛适用于多种化合物，因此也是方法开发的理想选择。使用先进的检测解决方案获取有关聚合物样品的更多信息ACQUITY APC系统配备先进的检测器，可通过单次分析为聚合物研究人员提供有价值的决策支持信息。将沃特世APC系统与先进的检测解决方案相结合，可通过引入示差折光(RI)检测器、紫外(UV) PDA、光散射(LS)和粘度检测器(IV)显著提升SEC分析的信息获取能力。借助第三方先进检测功能集成，科学家还能对样品进行更全面的表征，从而更好地掌握新型复杂聚合物的结构-性能关系。利用业内率先推出专用校准套件提升数据质量和一致性由于运行时间小于10 min，使用ACQUITY APC校准标准品在30 min内即可校准一套串联ACQUITY APC色谱柱。这些标准品套件与ACQUITY APC色谱柱的分子量范围相匹配，可通过简单的稀释后进样为任何串联色谱柱生成10点校准图。这是一款有助于为特定应用选择理想色谱柱和校准标准品的便捷工具。得益于可对串联色谱柱进行日常校准的优势，数据一致性得到了极大改善，提供批次间测量结果始终如一的可靠性。功能和优势加速创新：亚3 μm刚性大孔径ACQUITY APC色谱柱与ACQUITY APC系统的超低系统扩散优势相结合，实现高分离度的聚合物分离。优化方法开发：快速溶剂切换和强溶剂兼容性，有助于应对聚合物分析中的严苛分离条件。提高分析范围和实验室效率：一套系统支持多种应用，包括基础LC、梯度、等度、反相和GPC分析。更深入地了解您的聚合物样品：可兼容多种检测器技术包括第三方先进的检测器，例如示差折光、紫外/可见光、光电二极管阵列或蒸发光散射检测器，还可兼容多角度光散射和粘度检测器等。缩短聚合物样品实验室检测周期：以快于传统SEC/GPC技术5-20倍的速度为您的研发实验室、生产运营团队和客户提供可供决策的结果。简化并优化串联色谱柱的校准：提供与串联色谱柱分子量范围匹配的标准品。多样化的色谱柱管理功能：可自动从多达两套串联ACQUITY APC色谱柱和多达两套串联传统GPC色谱柱中进行选择 - 所有色谱柱都安装在稳定的恒温环境中。溶剂管理器提供的精确流量：可确保分子量数据的准确性始终如一。

聚合物绝缘材料的漏电起痕试验仪主要技术参数:　　1.电极材料试验电极——铂金，电极接杆——银；　　2.电极尺寸：(2mm±0.1mm)×(5mm±0.1mm)×(40mm±5mm) ，铂电极12mm，30°±2°斜面；　　3.电极距离：4.0mm±0.01mm，夹角60°±5°；　　4.电极压力：1.00N±0.001N；　　5.试液电阻：　　A液 0.1%NH 4 Cl ，3.95±0.05Ωm，B 液 1.98±0.05Ωm；　　6.液滴体积：　　20滴 0.380g ～ 0.480g ，50 滴 0.997g ～ 1.147g( 可微调节 ) ；　　7.液滴高度：35mm±5mm(可调节)；　　8.液滴时间：30s±0.1s( 优于标准 )( 数显，可预置调节 ) ，50 滴时间 24.5min±2min；　　9.液滴滴数：1～9999(数显，可预置) ；　　10.试验电压：100V ～ 600V(25V分度，可调节) ；　　11.电源压降：1.0A±0.1A 时 8% ；　　12.起痕判断：0.50A±10%，2.00s±10% ；　　13.试验区容积：0.5m 3 背景黑色箱体为不锈钢材料；　　14.试验电源：220V 0.6kVA 50-60Hz 。聚合物绝缘材料的漏电起痕试验仪相比漏电起痕指数(CTI)：五个测试样品能经受50滴的试验过程而不产生漏电起痕失效及持续火焰的zui高电压值。它还包括对材料在进行100滴测试时所显现的特性的有关说明。　　耐漏电起痕指数(PTI)：　　五个测试样品能经受50滴的试验过程而不产生漏电起痕失效及持续火焰的测试电压值。　　通俗地讲，CTI是材料能经受50滴试验过程而不产生漏电起痕失效的zui高电压；PTI是指定一个测试电压，然后通过试验来检验材料能否在此电压下经受50滴的试验过程。　　耐漏电起痕指数用作接受准则，也可用于材料和部件的质量控制的手段。相比漏电起痕指数主要用于表示材料的基本特性和特性的比较。　　在很多标准中都有引用CTI、PTI，angel所说的中文名词是对的，CTI指固体绝缘材料表面经受住50滴电解液而没有形成漏电痕迹的zui高电压值，PTI是固体绝缘材料表面经受住50滴电解液而没有形成漏电痕迹的电压值。这些有专门的标准GB4207和IEC60112。应指出的是，在IEC标准的体系下，在整机中对材料要用到这个指标时，是先确定污染等级（在其他标准中阐述），每一等级是对应相应的CTI或PTI值（这要看整机标准的引用情况，可能会有细微差别）聚合物绝缘材料的漏电起痕试验仪EC60695 ：2003 《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》，标准规定的仿真试验项目；同时满足GB 4943.1-2011，IEC60950-1：2005Clause 2.10.4.2条款、IEC60112-2009 、GB4207、GB4706.1试验要求。聚合物绝缘材料的漏电起痕试验仪相比电痕化指数comparativetrackingindex CTI五个试样经受50滴液滴期间未电痕化失效和不发生持续燃烧时的最大电压值(以V表示)，还包括100滴液滴试验时关于材料性能叙述。注1:在任何较低的试验电压条件下，不发生电痕化失效和持续燃烧。注2:CTI判断标准可要求关于蚀损程度的描述。注3:在试验时，允许材料非持续燃烧不导致失效，但是除非考虑其他因素更为重要，否则材料发光不燃烧是首选因素，参见附录A。注4:某些材料可以承受较高的试验电压，但在较低的试验电压下反而会发生失效持续燃烧 persistant flame超过2s的燃烧。耐电痕化指数prooftrackingindex PTI五个试样经受50滴液滴期间未电痕化失效和不发生持续火焰所对应的耐电压数值，以V表示。注:在试验时，允许材料发生非持续火焰不导致失效，但是除非考虑其他因素更为重要，否则材料发光不燃烧是首选因素，参见附录A。去离子水de-ionizedwater符合ISO 3696中的3级标准或同等品质分析性的实验室用水。聚合物绝缘材料的漏电起痕试验仪可使用表面非常平坦的试样，其面积足够大，确保试验期间液体不会从测试电极之间流走。注1:尽管可采用更小的尺寸，但推荐平面尺寸应不小于20mmX20mm，以减少电解液流出试样边缘损失，只要电解液不损失，也可采用尺寸为15mmx15mm的试样，例如ISO3167中规定的多用途试样。注2:通常情况下，每次试验采用独立的试样。如果要在同一试样上进行多次测试，测试点之间的距离宜足够远，避免测试点产生的闪光或烟雾及腐蚀后的产物不会污染或影响其他待测区域。试样的厚度应不小于3mm，可多个试样叠加以获得至少3mm的厚度。注3:小于3mm厚的试样与较厚试样上得到CTI值不具可比性，因为大量热量通过薄试样散发到玻璃支撑件上，因此，可叠加试样获得满足试验的试样厚度。除非产品标准中另有规定，否则试样表面应均匀光滑并且无缺陷，如无擦伤、瑕疵、杂质等。如无法保证上述要求，则应将试样表面情况说明与试验结果一起报告。因为试样表面某种特性可能增加试验结果的分散性。对于在产品部件上的试验，在无法从部件上切割出合适的试样情况下，可在相同绝缘材料模压成型的试样上截取合适的试样用于试验。在此情况下，应确保部件和截取的试样均通过相同的制造工艺生产，并在尽可能使其具有相同的表面特征。如最终制造工艺的细节未知，则可参考ISO 293、ISO 294-1、ISO294-3以及ISO 295中规定的制备方法。注4:在测定PTI和CTI的试验中，使用不同制造条件/工艺制备的试样，可能会导致表现出不同的性能水平。注5:在测定PTI和CTI的试验中，使用不同流向模压成型的试样，也可能导致表现出不同的性能水平。在特殊情况下，为使试样表面平滑，可对试样进行打磨。若打磨试样，则表面纹理应符合ISO 4278的规定(例如Rz的值)并且应记录在试验报告中(见10.2和11.5)。注6:任何打磨会损坏试样，在此情况下，通过打磨制成的材料表面与试样原本的表面所测得的耐电痕化值可能更高或更低。电极的方向与材料的特性有关，测量应沿着和正交特性方向进行。除非另有规定，应报告测得CTI较低的那个方向。注7:当材料具有疏水性表面时，通常使用具有腐蚀性的电解液，例如溶液C。7.1 电极应使用纯度至少为99%的金属铂作为电极(参见附录C),两个电极应有(5.0士0.1)mmx(2.0±0.1)mm的矩形横截面，其一端部有(30±2)°角的斜面，如图1所示，斜面的刃近似为平面，约0.01mm~0.10mm宽。注1:经验表明，用带有目镜校准的显微镜，适用于检验刃的表面尺寸。注2:通常在每次试验后使用机械方法再次打磨电极的刃，以确保电极保持所要求的公差，特别是斜面和角。在试验开始前，电极应对称的安放在试样表面上，并垂直于试样表面，电极之间成(60±5)°角，电极间距为(4.0±0.1)mm，电极安放于试样上的示意图如图2所示。应使用矩形薄金属滑规检查电极间距，电极应能自由移动，并且在试验时，电极在试样表面上施加的应力应为(1.00±0.05)N，在试验过程中应力应尽可能保持不变。图3为一种典型的施加于试样的电机结构，应通过间距调节压力。对于一些材料，电极陷入材料表面的深度较小，需要通过弹簧产生压力。对于一般材料，通过重量产生压力即可。注3:对于大多数但并非全部的装置设计，如果电极在试验过程中因试样软化或腐蚀而发生移动，则其端部会产生电弧，且电极间隙也会改变。间距改变程度和方向取决于电极中心和与试样接触点的相对位置的变化。这些变化主要取决于材料本身，但不是决定性的。设计上的差异可能会导致试验结果的差异。

技术特点：- 可见光/近红外光谱范围：350-2500nm；- 便携式仪器及探头均适用于现场测试；- 仪器主机与探头采用光纤通讯：- 内置积分球；- 漫反射检测；- 透射光谱；- 检测速度快：1s； 应用领域：- 变压器/电抗器/套管固体绝缘材料聚合度及老 化程度检测；- 纤维素类电工绝缘纸/绝缘纸板聚合度测试；- 绝缘纸制造过程质量控制；绝缘成型件及其部件聚合