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测试级反光仪

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测试级反光仪相关的论坛

  • 解决显微镜被观测物体反光的办法

    被观测物体反光通常会出现在工业显微镜的使用上,一般来说,金属工件都会出现反光的问题。比较常见的是金属表面,焊点,显微镜观察的时候没有光,看不清楚,有光线,反光的现象马上就出现,这个问题很头疼,其实像这样的问题可以很好的解决,那就是运用显微镜上的偏振片,推荐的产品是单筒显微镜+CCD+环型光源+偏振片,通过减弱光线的锐度减少反光,同样也可以调整光照的角度和亮度来调整反光的角度。不同产品的反光解决方法是不一样的,比如金属表面,我们可以使用偏振片,焊点我们可以使用不同的光源也就是更换光照角度,还有就是使用同轴光,等等的方法。

  • 【求助】反光显微镜是什么?

    第一次听说~谁知道是什么……或者谁有关于这个反光显微镜的书……恩有《无机材料显微结构分析》这本书的电子版也可以。急ing~~

  • 光室反光镜脏

    我们的仪器用了两年 光室的反光镜不知道怎么回事都被熏得很脏 大家遇到过吗请问是什么原因造成的

  • GO-CS中心旋转反光镜分布光度计

    产品型号: GO-CS1600(标准型) GO-CS2000(特大型) GO-CS800(灵巧型) GO-CS传统反光镜式分布光度计。系统可保持光源或灯具的自然燃点姿态,但被测光源或灯具需要在一个相当大的空间范围内作准圆周运动,由于运动带来的问题将影响被测光源的发光稳定性。配不同软件,可实现CIE推荐的 B-β、C-γ、A-α测量方案。中心转动反射镜式分布光度计虽已应用40年左右,但一直存在不可克服的原理性问题。由于被测光源要在相当大的空间范围内作准圆周运动,下列因素影响被测光源的发光稳定性:由暗室上下温差带来的环境温度交变;运动中的振动、冲击和向心力;气体放电灯的放电电弧在运动中切割地球磁力线影响灯内的电弧分布;运动产生的气流导致被测光源表面温度发生变化。上述不利因素的影响因被测光源不同而不同,多数气体放电灯,极易产生5%左右或以上的测量误差,严重可达10%以上。而且系统无法进入快速测量状态,否则上述不利因素会进一步加剧。支承灯具的辅助轴必须要与主轴反向同步,分布光度计总体角度精度较难做到较高水平。本系统中为了要实现被测光源的朝上和朝下点燃,需要更高的暗室高度。

  • 关于激光脉冲法测试热扩散的几点疑问

    关于激光脉冲法测试热扩散的几点疑问

    众所周知,激光脉冲法测试原理是试样在绝热条件下前表面受瞬时脉冲热流加热根据试样背表面温度随时间的变化情况,确定试样的热扩散率。问题: 1 每种材料吸收激光的速度对测试结果有影响吗? 2 材料有没有反光的问题,如果是镜面,存在部分反光,那吸收的激光能量就没有那么多了,这样对最终测试结果有没有影响? 3 再添加一问题,采用激光脉冲法测试透明半透明材料时,在脉冲照射后样品起始升温的区域存在基线的“跃迁”,这个“跃迁”是什么导致的?耐驰说明书上写这种情况需要选择辐射模型+脉冲修正,难道说这个跃迁是材料本身辐射导致的?怎么产生辐射的?http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/03/201303272042_432667_1698940_3.jpg

  • 请问高手,我用研磨膏擦了反光镜后表面那层掉了

    每天早上起来开始上班就为分光光度计犯愁,因为每次开机然后关机再重开 ,反复好几次才能正常测样,,就拆开了,,后面我发现反光镜有点东西,就用研磨膏一擦,这一擦谁知道表面那层银都掉了,,不知道怎么处理了。。我赔不起啊。。

  • 真空室某元素元素反光镜掉落

    更换ARL真空室密封圈时,不小心碰到掉了一个元素的反光镜,再重新装上后成分成数量级偏差,是不是应该有什么校准的方式或正确的安装方式?

  • 请教阳极氧化镜面铝板 反光度(98%)检测问题

    公司使用进口阳极氧化镜面铝生产产品,说是98%反光度,但是工厂使用常规的60度光泽度检测仪无法检测,显示1,不知道这个应该用什么类型的仪器来检测,对应的检测方法标准是GB/T 20503,请教 各位

  • 沃特世M1反光镜腐蚀

    请问M1反光镜腐蚀是什么原因造成的?除换新,还有其他方法么?这个会使新灯检测不到能量么?谢谢。

  • 紫外可见分光光度计 测试样品类型问题

    感谢这个交流平台,让我找到了一些了解设备的资料,谢谢!组里有一台TU-1901双光束紫外可见反光光度计设备,本想测量一个固体样品的反射率,不知用这台设备能不能测量?我在其他论坛上看到可以用分光光度计测试样品的反射率,只是最近刚刚接触这台设备,原理和操作不是很清楚,希望能够得到帮助,谢谢!

  • 反光偏光显微镜的应用及原理

    反光偏光显微镜的应用及原理反光偏光显微镜也叫矿相显微镜。在一般大型显微镜光路中,只要加入两偏振片即可,即在入射光路中加入一个起偏振片,在观察镜中加入一个检偏振片,就可以实   现偏振光照明。除了起[url=http://www.gengxu.cn]偏振镜[/url]和检偏振镜外,有时还加入一个灵敏色片,用来检验椭圆偏振光,并获得色偏振 一、 起偏振镜位置的调整  起偏镜一般安装在可以转动的圆框内,借助手柄转动调节,调节的目的是为了使起偏振镜出来的偏振光动面水平,以保证垂直照明器平面玻璃反射进入物镜的偏振光强度最大,且仍为直线偏振光。  调整方法,是将经过抛光而未经腐蚀的不锈钢试样(光性均质体)放在载物台上,除去检偏振镜,只装起偏振镜,从目镜内观察聚焦后试样磨面上反射光的强度,转动起偏振镜,反射光强度发生明暗变化,当反射光最强时,就是起偏振镜振动轴的正确位置。  二、检偏振镜位置的调整  起偏振镜位置调整好后,装入检偏振镜,调节检偏振镜的位置,当在目镜中观察到最暗的消光现象时,就是检偏振镜与偏振镜正交的位置。在实际观察中,常将检偏振镜作一个小角度的偏转,以增加显微组织的衬度。其偏转的角度由刻度盘上的刻度指示出来。若将检偏振镜在正交位置转动90°,则两偏振镜振动轴平行,这时和一般光线下照明的效果相同。  许多金相显微镜在出厂时已经把起偏振镜或偏振镜的振动轴的方向固定好,只要调节另一个偏振镜的位置就可以了。  三、 物台中心位置的调整  利用偏振光鉴别物相时,经常需要将载物台作360°旋转,为使观察目标在载物台旋围时不离开视域,在使用前必须调节载物台的机械中心与显微镜的光学系统主轴重合。一般是通过载物台上的对中螺钉进行调整。  四、 偏振光照明下的色彩(色偏振)  以上都是讨论在单色偏振光照明下的情况,如果考虑到偏振光波长的影响,即用白色偏振光照明,会产生色彩。  在金相显微镜中进行正交偏振光的观察时,在光程中插入灵敏色片(目前多用λ=5760nm的全波片)后,各向异性的金属不同晶粒会出现不同的颜色。观察各向同性金属时,不加入灵敏色片,也会有不同颜色,但色彩不丰富。加入全波片后,色彩变得鲜艳。  转动载物台或灵敏色片,晶粒的颜色随之变化,这主要是由于偏振光干涉的结果。  偏光显微镜也和一般显微镜照明一样,分为明场照明和暗场照明两种照明方式。  4 应用举例  一、材料显微组织的显示  1.各向异性材料组织的显示  根据偏振光的反射原理,在各向异性的金属内部由于各晶粒的位向不同,干涉后的偏振光的振动方向的偏转角度不同,在正交的偏振光下则可以显示出不同的亮度。具有同样亮度的晶粒光轴一席话同接近,所以根据晶粒的明暗程度还可以判断晶粒的位向。对各向异性的金属磨面经抛光后不腐蚀就可以看到明暗不同的晶粒,这一点对难腐蚀出清晰组织的材料来说,是十分有利的分析途径。  例如,球墨铸铁的组织中的石墨属于六方点阵,是各向异性的物质,在同一石墨球中具有许多不同位向的石墨晶粒,这些石墨晶粒在偏振光下可显示不同的亮度,从而分辨出石墨晶粒的方位、球状和大小。如图7(a)所示。在一般光照射下只能看到黑暗的石墨球,不能分辨石墨的晶粒。

  • xrf测试cl出现的怪异峰。

    xrf测试cl出现的怪异峰。

    http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/08/201208061210_381808_2444378_3.jpg此图样品无cl,出现的怪异峰,样品为光滑明亮反光材料。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/08/201208061211_381809_2444378_3.jpg此图样品无cl,出现的怪异峰,样品为光滑明亮反光材料。测试时样品与测试平面成15度夹角。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2012/08/201208061212_381811_2444378_3.jpg此图为正常含cl样品。1-2图是传说中的回折峰。。。。光滑明亮的反光材料,就会出现这种峰。

  • 【金秋计划】PCII余氯测试分析仪使用感受

    [font='微软雅黑',sans-serif][color=black][back=white]【金秋计划】[/back][/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][back=white]PCII[/back][/font][font='微软雅黑',sans-serif][back=white]余氯测试分析仪使用感受[/back][/font] [font='微软雅黑',sans-serif][back=white]PCII[/back][/font][font='微软雅黑',sans-serif][back=white]余氯测试分析仪作为便携式单参数仪器,对于现场水样可快速测量。携带方便,操作简单,操作人性化设计,[/back][/font][font='微软雅黑',sans-serif]如屏幕反光看不清楚,可以长按背景光键,背景灯亮起。仪器若长时间不使用,只需把电池取出,防止电池老化漏液腐蚀仪器内部造成不可修复的局面。仪器使用过程中只需定期用标准物质核查。[img=,355,243]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/09/202409061252465527_1709_2256877_3.png!w355x243.jpg[/img][/font]

  • 【求助】请问检测离心机转速的仪器

    各位量友: 你们检测过医院使用的离心机转速吗?我们现在是用手持式红外数字转速表,该表测时要打开离心机盖,去采取贴在离心机上反光纸的反光,既不方便,特别是不安全!而且不少离心机都有联锁装置,只有盖上离心机盖才能运转,更使我们的检测困难重重。不知量友们都用的什么仪器进行检测,如何解决上述问题?恳请推荐介绍!

  • 探测设备通过关键测试:将监测接近地球天体

    2013年04月20日 09:06 新浪科技 http://i0.sinaimg.cn/IT/2013/0420/U7917P2DT20130420090459.jpgNEOCam探测器是美国宇航局一项旨在监测近地小天体的空间望远镜项目的核心技术设备  新浪科技讯 北京时间4月20日消息,据美国宇航局网站报道,一项可以帮助美国宇航局提升其未来针对小行星和彗星侦测追踪能力的红外探测器近期通过了关键的设计阶段测试。  这一探测器名为“近地天体相机”(NEOCam),近期在模拟深空环境温度和压力条件下的测试中达到了设计指标。“近地天体相机”是未来即将计划实施的一项空间小行星探测望远镜项目的核心设备。在近期出版的《光学工程杂志》上将会公布这一探测器的设计和指标细节。  这一探测器将会被作为美国宇航局近期公布的一项新计划的组成部分,这一大胆计划将首次着眼于识别并捕获近地小行星并将其拖拽至地球附近空间供宇航员就地开展研究工作。  美国宇航局近地天体项目办公室执行主管林迪·约翰逊(Lindley Johnson)表示:“这一探测器项目的实施标志着美国宇航局‘发现项目’及其‘天体物理学研究与分析项目’对于创新技术的投入,这将改善我们未来保护地球,应对外来天体撞击风险的能力。”  所谓近地天体,一般是指距离地球轨道在2800万英里(约合4500万公里)范围内的小行星或彗星体。小行星并不会自己发光,它们只能反射太阳光。取决于一颗小天体对阳光的反照率有多高,一颗小型但具有高反光表面的小天体看上去可以和一颗较大型但是具有低反光表面的小行星显示相似的光学观测特性。因此,在光学波段进行的此类观测有时会有明显的误差。  即将发表的这篇论文的合著者,美国宇航局喷气推进实验室的NEOWISE项目首席科学家艾米·门泽(Amy Mainzer)表示:“红外探测器是一个强大的工具,可以用于小行星的分析和确认。当你使用红外探测器观察小行星,此时你所观测的是其发出的红外热辐射,这将让科学家们更精确的限定其大小,甚至还可以告诉你一些有关其组成成分的信息。”  NEOCam探测器的主要突破在于提升其性能的稳定可靠性,并显著降低其质量,以便可以被搭载在卫星上发射升空。一旦被发射,这台空间望远镜将会被定位于4倍于地月距离的位置上,在这里这台设备将不分昼夜地监视接近地球附近空间的小天体,而不会受到云层或任何其它因素的干扰。  这一设备的开发成功是10年以来美国宇航局喷气推进实验室与它的科学伙伴罗彻斯特大学(负责进行设备测试工作)以及特雷迪成像技术公司(设备的开发)之间紧密合作的成果。  罗彻斯特大学的克莱格·麦克默提(Craig McMurtry)表示:“我们很高兴的看到新一代的探测器在灵敏度方面远远超过了上一代的同类设备。”  美国宇航局的NEOWISE项目是先前WISE,即“广域红外巡天探测器”的延长任务,该探测器于2009年12月发射升空,在红外波段对整个天空扫描两次。在此期间它共拍摄了270万个天体目标的图像,从遥远的星系到地球附近的小行星和彗星。NEOWISE则完成了对太阳系内部小天体,小行星和彗星的巡天探测。该任务执行期间所取得的新发现包括21颗彗星,超过3.4万颗小行星以及134颗近地小天体。(晨风)

  • 【原创大赛】普析通用1901双光束紫外可见分光度计维修

    【原创大赛】普析通用1901双光束紫外可见分光度计维修

    普析1901分光光度计更换反光镜 仪器购于2005年,主要用于抗生素原料药的透光率及吸收度检测。仪器型号:普析通用1901 仪器故障现象:自检过程中提示波长检测失败,灯能量低。 仪器故障分析:灯能量低可能是灯老化或光路污染的问题,先考虑更换新灯进行测试。更换新灯后用镜头纸擦拭透镜部分,开机自检,故障依旧。检查反光镜上有一层雾状薄膜,判断为反光镜腐蚀,只能进行更换。 仪器故障处理:下图是灯室全景http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311221503_478847_1620415_3.jpg http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311221503_478848_1620415_3.jpg 关机,松开反光镜底座上的两个固定螺丝,向上提起取下底座。见下图http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311221504_478851_1620415_3.jpg取下固定反光镜的两个螺丝,反光镜是用AB胶粘到底座上的,可以加热使AB胶熔化,取下反光镜,清除底座上的残余AB胶。见下图.http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311221504_478849_1620415_3.jpg将新反光镜安装到底座上,用弹簧片和螺丝固定好,见下图http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/11/201311221504_478852_1620415_3.jpg在粘贴孔处涂上AB胶,将位置调节到正中,用手按压约5分钟,待胶固化即可。将反光镜安装到底座上,固定好位置。开机自检,如提示灯能量或波长检查失败,可用一白纸档在光通道处,松开底座固定螺丝,在自检过程中手动转动反光镜底座,分别在氘灯能量检查和钨灯能量检查时使紫外光和白光聚焦到光路中央,配合反光镜俯仰角两个螺丝的调节,使透过光路的光线强度达到最大值,固定好四个固定螺丝。开机自检通过后,用仪器自带的黑挡块进行暗电流校正,保存校正数据,完成反光镜更换。总结:反光镜在长期使用过程中在高温和化验室有机气体的作用下会发生腐蚀,表面形成一层氧化膜,造成杂散光增加,光能量变低,因而出现上述故障。反光镜不建议进行擦洗,擦过后会在表面留上划痕,这样分造成杂散光增加,影响仪器稳定性和精度。更换反光镜过程中也不要用手接触镜面,否则会在镜面上留下手印。粘贴前先将反光镜用固定螺丝固定的底座上,再将AB胶调匀从粘贴孔加入,防止镜片粘贴过程中掉落或粘上胶水。

  • 【原创】分光光度计检定(测试)的主要项目对分析结果的影响

    一、 分光光度计检定(测试)的主要项目对分析结果的影响 1)波长准确度 分光光度法原理要求照射在样品池上的单色光必须对应于样品吸收光谱中的某一个吸收峰的波长。由于仪器的制造和调整误差,单色光的实际波长与仪器的波长读数值间都存在一定的误差。样品中绝大部分的主要吸收峰都有一定的宽度,对波长准确度要求允许宽些。但是,当吸收峰宽度较小,而且吸收峰两侧边缘比较陡直,此时波长准确度的影响就必须引起注意。 2)透射比(吸光度)准确度 很显然,透射比或吸光度的误差越大,测试结果的可信性越差,从而影响到测试数据的准确性. 3)杂散光 杂散光是由于光学元件制造误差以及光学和机械零件表面的漫反射形成的。杂散光是分析样品的非吸收光,随着样品浓度的增加,杂散光的影响也随之增大,将给分析结果带来一定的误差。在紫外的短波区域光源强度和检测器的灵敏度均明显减弱,杂散光的影响更不能忽视。因此,杂散光的大小也是仪器性能的一项重要指标。 二、与分光光度计正确使用和维护有关的几个注意事项 (在使用仪器前,必须仔细阅读其使用说明书) 1)若大幅度改变测试波长,需稍等片刻,等灯热平衡后,重新校正“0”和“100%”点。然后再测量。 2)指针式仪器在未接通电源时,电表的指针必须位于零刻度上。若不是这种情况,需进行机械调零。 3)比色皿使用完毕后,请立即用蒸馏水冲洗干净,并用干净柔软的纱布将水迹擦去,以防止表面光洁度被破坏,影响比色皿的透光率。 4)操作人员不应轻易动灯泡及反光镜灯,以免影响光效率。 5)WFZ800-DA、756型等分光光度计,由于其光电接收装置为光电倍增管,它本身的特点是放大倍数大,因而可以用于检测微弱光电信号,而不能用来检测强光。否则容易产生信号漂移,灵敏度下降。针对其上述特点,在维修、使用此类仪器时应注意不让光电倍增管长时间暴露于光下,因此在预热时,应打开比色皿盖或使用挡光杆,避免长时间照射使其性能漂移而导致工作不稳。 6)放大器灵敏度换挡后,必须重新调零。 7)比色杯的配套性问题。比色杯必须配套使用,否则将使测试结果失去意义。在进行每次测试前均应进行比较。具体方法如下;分别向被测的两只杯子里注入同样的溶液,把仪器置于某一波长处,石英比色杯;220nm、700nm装蒸馏水,玻璃比色杯:700nm处装蒸馏水,将某一个池的透射比值调至100%,测量其他各池的透射比值,记录其示值之差及通光方向,如透射比之差在±0.5%的范围内则可以配套使用,若超出此范围应考虑其对测试结果的影响。 三、分光光度计操作中容易出现的几个典型故障及其排除方法 1)仪器不能调零。可能原因: a)光门不能完全关闭。解决方法:修复光门部件,使其完全关闭。 b)透过率“100%”旋到底了。解决方法:重新调整“100%”旋钮。 c)仪器严重受潮。解决方法:可打开光电管暗盒,用电吹风吹上一会儿使其干燥,并更换干燥剂。d)电路故障。解决方法:送修理部门,检修电路。 2)仪器不能调“100%”。可能原因: a)光能量不够。解决方法:增加灵敏度倍率档位,或更换光源灯(尽管灯还亮)。 b)比色皿架未落位。解决方法:调整比色皿架使其落位。 c)光电转换部分老化。解决方法:更换部件。 d)电路故障。解决方法:调修电路。 3)测量过程中,“100%”点经常变动。可能原因: a)比色皿在比色皿架中放置的位置不一致,或其表面有液滴。解决方法:用擦镜纸擦干净比色皿表面,然后将其安放在比色槽的左边,上面用定位夹定位。 b)电路故障(电压、光电接收、放大电路)。解决方法:送修。 4)数显不稳。可能原因: a)预热时间不够。解决方法:延长预热时间至30分钟左右(部分仪器由于老化等原因,长时间处于工作状态时,也会工作不稳)。 b)光电管内的干燥剂失效,使微电流放大器受潮。解决方法:烘烤电路,并更换或烘烤干燥剂。 c)环境振动过大、光源附近空气流速大、外界强光照射等。解决方法:改善工作环境。 d)光电管、电路等其它原因。解决方法:送修。 四、提高分光光度计透射比检定及使用精度的几种方法 在分光光度计的使用或检定中,透射比(吸光度)的准确度是衡量仪器工作性能的一项重要指标,它的准确程度直接关系到所测数据的可信性及科学性。所以提高此项指标的使用及检定准确度显得尤为重要。下面结合近年来对分光光度计的检定或修理实践,把如何提高透射比的测试及使用精度的几点方法列表叙述如下: 五、小结 综上所述,以下几个问题应引起仪器操作人员注意:1)比色皿架及比色皿在使用中的正确到位问题。有些使用者对这个问题不够重视,因操作不当造成偶然误差,严重影响分析结果。首先,应保证比色皿不倾斜放置。稍许倾斜,就会使参比样品与待测样品的吸收光径长度不一致,还可能使入射光不能全部通过样品池,导致测试比准确度不符合要求。其次,应保证每次测试时,比色皿架推拉到位。若不到位,将影响到测试值的重复性或准确度。最后,还应保证比色皿的清洁度,延长其使用寿命.2)干燥剂的使用问题。干燥剂失效将导致a)数显不稳、无法调“0”点或“100%”点(电路或光电管受潮)。b)反射镜发霉或沾污,影响光效率、杂散光增加。鉴于上述原因,分光光度计的放置地点应远离水池等湿度大的地方、干燥剂应定期更换或烘烤。3)仪器的工作环境。应避免阳光直射、避免强电场、避免与较大功率的电器设备共电、避开腐蚀性气体等。

  • 全积分球的特点和应用

    全积分球的特点和应用

    全积分球的特点和应用 众所周知,紫外分光光度计不仅仅局限于检测液体样品的透过率和吸收率,而对于固体样品的测试也必不可少。通过对固体样品进行透过率及反射率的测试可以表征出其光学性能,但是由于固体样品的大小和形状大小不一,光束通过固体样品例如透镜、棱镜等样品所产生的光斑大小会发生变化甚至有可能产生平移以及散射;这种分散的光强如果直接进入检测器,极其容易打到检测器的不同位置,由于检测器上不同位置对于光强的灵敏度差别很大,为了保证检测器在测试固体样品时的高精度和低噪声,我们则需要另外一种检测系统,这就是积分球检测系统。积分球的作用主要是将散射光进行均一化,保证每次检测器的光电面接受的光束形状和位置几乎一致,从而提高测试精度。积分球是一个内部涂有漫反射材料的空心球体,外面一般是金属外壳结构,在外壳中央水平线上开有若干个测试孔。积分球的内径有大小规格不等,大积分球一般为四口,小积分球有四口和两口这两种设计,四口积分球是我们比较常见的,既可以用来测透射又可用来测反射,四口积分球是两组窗口,每组两个光口,一个入光口,一个反光口。两组窗口可以互为垂直,也可以互为平行;一组窗口作为样品光束,另一组为参比光束。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191700_667481_2990708_3.png评价积分球好坏主要靠涂料、挡板、开口、球体完美度等。其中关于涂料,积分球涂层需要满足的条件:1、根据CIE 标准要求,漫反射率至少大于80%; 2、漫反射率随波长的变化小,即呈光谱中性特性。3、化学稳定性好。积分球的涂料很多,不同的涂料适用于不同的波长范围。积分球涂料对积分球至关重要,厂家一般采用硫酸钡、聚四氟乙烯(PTFE)等作为积分球涂料。这两种涂料各有特点,我们需要根据特定的情况选择合适的积分球涂料。关于开口率,内径相同的积分球开口率越小越好,因为开口面积越小,积分球内能有效反射的光线就越多。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602161438_584460_2990708_3.png另外一种两口积分球可能大家不太常见,也被称为全积分球,全积分球的参比侧和样品侧没有反光口,积分球内全部覆盖硫酸钡材料。全积分球内没有反光口,所以可以用来测试透射率但不能测试反射率。如图3所示: http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602161440_584461_2990708_3.png如图4为全积分球内部的遮光筒的结构,遮光筒作用是为了防止直射光直接照射检测器,提高积分球的效率,遮光筒实际上就是积分球入口周围的突起部分,光从积分球入口进入后射入光电倍增管,积分球入口周围突起,在使用积分球进行反射测量特别是漫反射测量时,可以阻止来自样品的直反射进入,只是将漫反射收集到检测器上。所以无论是全积分球还是普通积分球都应有这样的设计,目前我了解到只有日立的积分球才有这一构造。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602161441_584462_2990708_3.png全积分球虽然不能用来测试反射率,但是它有自己的优点,主要体现在透镜、镜头等样品透射测量上。因为四口积分球可以用于常规样品的透过率测定,而全积分球专门针对于像透镜、镜头类样品,因为透过透镜的光束在积分球会发生强烈变化 (扩散)。如图5所示: http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602161442_584463_2990708_3.png 透镜这类样品如果使用四口积分球检测,使积分球入射后的光束会溢出到被设置在积分球反光口的副白板(直径;18mm)上,入射光被副白板和积分球内部这两者共同反射着。像这样的情况时,由于副白板(氧化铝)和积分球内部硫酸钡的反射率是不一样的,在作基线校正时,入射光只是被副白板反射着,所以在做基线校正时和样品测试时光学系统是不在同一条件下进行的,也就不可能取得正确的测光值。如图6所示: http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602161443_584464_2990708_3.png 然而全积分球就能解决透镜、镜头测试不准确的问题,因为全积分球没有反光口,积分球内部全是相同的反射材料,所以不存在在做基线校正和样品测试时光学系统不在同一条件下。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602161444_584465_2990708_3.png图7全积分球透镜样品的透过率光路如图8、9是分别采用日立UH4150的四口积分球和全积分球来检测凸透镜在300nm-1200nm透过率的具体实例。由图8可知,在用四口积分球检测凸透镜透过率时,在470nm到710nm波段内出现了一种不正常的现象,透过率超100%。出现这一现象的原因就是如上解释的原因,样品测试时入射光被副白板和积分球内部这两部分共同反射着,然而副白板(氧化铝)和积分球内部硫酸钡的反射率是不一样的,但是在作基线校正时入射光只是被副白板(氧化铝)反射着,所以在做基线校正时和样品测试时的光学系统是不在同一条件下进行的。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602161444_584466_2990708_3.png另一方面,如图9所示,在使用全积分球对凸透镜进行测试时,这种透过率超100%的现象就不再发生,此外在710nm处的透过率值准确的反映出透镜做了无反射处理。因整个全积分球内部全部被硫酸钡材料覆盖,所以透过凸透镜的光束的准确测量就有了保证。 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/02/201602161445_584467_2990708_3.png总而言之,如果在测试透镜、镜头等使光路改变、光路扩散比较大的样品时选择全积分球,可以得到高精度的测量结果。

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