光分布测试仪

光谱角分布测量系统■ 全波段光谱透过率测量，反射角分布测量■ 全波段光谱反射率测量，反射角分布测量■ 波长范围:200nm-IR■ 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构■ 双层平台独立旋转，重复定位精度0.005度，分辨率0.00125度；■ 样品置于上层旋台，探测器置于下层旋台，样品和探测器可以任意角度工作；■ 台面上放置一个五维调整镜座，可将样品调整到旋台的旋转中心并且垂直于台面■ 功能扩展：测量光栅衍射效率

单颗LED光强分布测试仪 Labsphere LSA 3000是一种自动的分布式光度计计，主要与Labsphere软件和LED测试及测量产品一起配合使用。用户可通过软件对LSA 3000待测装置(DUT)的旋转进程和空间辐射测量程序进行全面控制。LSA 3000能够完成从窄角到宽角的准确测量。该软件还允许用户根据所选角度来测量相对强度。通过与Labsphere光谱仪、光测量软件和I 1000或I 2000相配合，LSA 3000还可以用来将LED旋转到任意期望的极坐标上，并测量其光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性。同时，它也能测量光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性的远场半球空间分布。 特点准确并可重复的测量 光谱强度、光谱通量、空间分布和色彩的完整解决方案 便于测量各种不同类型的LED 两维扫描，覆盖整个发光区间 用户可选择角度步进间隔 测量过程符合国际认可标准 测量参数 LED光强空间分布 光谱特性空间分布 色度空间分布 应用领域LED远场空间特性描述 (标准，高亮度)

皮肤水分分布测试仪 MoistureMap MM200 MM200能够测试电磁场在皮肤表面的穿透深度，导电材料将使测试结果部位的点阵信号变暗，而非导电材料将使测试结果部位的点阵信号变亮。湿度增加导电性，就意味着点阵更暗，干燥皮肤意味着较亮的图像。与皮肤水分含量绝对值测试不同，MoistureMap MM200可以测试出给定的皮肤表面的水分分布图，应用于化妆品、药品、表面活性剂的功效评价，也可用于皮肤光老化、皮损和疤痕的研究。欢迎致电：010-62186640

全自动电化学CV分布仪 CVP21 光伏太阳能领域的首选! 众多科研和半导体领域用户的的首选!上海瞬渺光电官方中国最佳全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点&bull 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．&bull 精确的测量电路模块&bull 强力的控制软件，系统操作，使用简便&bull 完善的售后服务体系特别推荐晶硅太阳能电池研究单位使用知名用户:(Shin-Etsu SEH or ISFH)In the field of solar cell research, the CVP21 system is currently being used at many research centres. It was first used in 1999 by the Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems (ISE) in Freiburg, Germany, and since then it has been installed at the Institute for Molecules and Materials (IMM) in Nijmegen, The Netherlands, the RWE Space Solar Power GmbH in Heilbronn, Germany, the Hahn-Meitner-Institute (HMI) in Berlin, Germany, and the Institute for Solar Energy Research (ISFH) in Hamelin/Emmerthal, Germany.在德国和日本都有很多太阳能电池用户使用,鉴于商业保密需要不能公开。产品完美结合我们在电化学方分布测试方面超过３０年的经验和世界上最先进的电路系统。　全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:&bull 外延材料&bull 扩散&bull 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等&hellip III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等&hellip 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等&hellip 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等&hellip 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等&hellip II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等&hellip 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:&bull 最大 1021/cm³ &bull 最小 1011/cm³ 深度解析度:&bull 最大无上限&bull 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:&bull 拓扑型结构&bull 实时监控腐蚀过程&bull 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:&bull 精密的电路，电子系统&bull 强力的软件 金牌优质服务 提供免费样品测试并提供测试报告。 对用户承诺终身免费样品测试每月1次。 保修期：2年，终身维修。 电化学CV分布仪（CV测试仪）产品经理：Mike Zhai联系电话：手 机：邮 箱：

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A应该功能： 用于测量LED小型灯具（卤素灯、杯灯、射灯、球泡灯等）及单颗大功率LED的配光曲线、照度、光强数据、光束角、光通量等参数。仪器设计了光学暗箱及光栏，无需暗室。测试过程由计算机控制完成，操作简单、使用方便、性价比高。根据被测灯的类型，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。 测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式(*.ies)、CIE文件格式(*.cie)、欧洲Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式，符合国际标准要求，可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。 B主要参数标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008整体式LED路灯的测量方法 GB/T 24824-2009普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters； CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries； CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates； C性能参数：● 光照度测量范围：0.1lx～99999lx ● 光照度测量精度：一级；● 灯具工作转台可绕水平轴（垂直转动）和垂直轴（水平转动）转动；● 转动范围：-180°~+180° ● 间隔角度： ≥0.5°；●角度测量精度：+0.1°； ● 光电探测器V（λ）修正水平高，达到国家一级照度计要求；●可测试灯具外型尺寸：150（长）×150（宽）×110mm（厚度） ●仪器型号尺寸：145×75×85（mm）●IESNA文件格式输出，可由其它照明和灯具设计软件直接导出图相似

一、功能说明1 分布电压测量HB-VD30绝缘子分布电压测试仪采用抗干扰技术实现了对运行中绝缘子分布电压的测量，且仪器本身具高电压耐受能力。仪器检测发射机通过通用角度可调卡扣接头与绝缘操作杆连接，适用耐张、悬垂等不同角度的测量需求。2 远距离传输功能本检测仪由检测发射机和手持接收机两部分组成，测量时由手持发射机采集绝缘子两端分布电压信号，经模数转换变为数字信号经处理之后通过以无线方式传输给手持接收机，手持接收机接收到数字信号经计算处理最终得到测量结果并在屏幕显示。无线传输方式使得检测过程更加方便快捷。3 测试结果存储功能本仪器可将测试结果存入U盘，方便以后查询。进行测试时按照仪器提示依次输入杆塔号、回路号、相别、和串号。输入完毕开始进行测试，仪器自动根据测量结果统计每串片数。并按照绝缘子片号存储每片测量结果。4 历史数据查看及分析功能本仪器可在数据接收机端查看存入U盘的历史数据，并列出绝缘子串电压分布曲线。二、仪器结构该仪器由检测发射机、手持接收机和绝缘操作杆三部分组成（如上图）。使用时检测发射机与绝缘操作杆连接，手持操作杆尾端接触被测绝缘子，通过手持接收机控制进行测量。测量结果通过射频传输至接收机，接收机接收测量结果进行显示存储等操作。厂家直销固话：QQ:三、HB-VD30绝缘子分布电压测试仪的技术参数产品名称绝缘子分布电压检测测仪型 号HB-VD30适用范围35-1000kv高压输电线路盘型悬式绝缘子带电检测测量范围1-40KV测量误差±1%显示方式3.5寸触摸屏分析功能手持机具有浏览历史数据、曲线分析功能软件功能检测结果可上传专用云平台，云平台可对数据进行分类存储管理并以杆塔为单位生成测试报告电 源3.7V可充锂电池连续使用时间不小于8小时待机时间20小时使用工作条件环境温度：-25℃~+80℃相对湿度：≤75%大气压力：86KPa~106 KPa贮存条件环境温度：-40℃~+120℃相对湿度：≤90%大气压力：86KPa~106 KPa整机重量260克外形尺寸发射机：400×170×33mm接收机：215×101×71mm 执行标准Q/HDSLE001—2003绝缘杆标配6米（可根据需要配置）厂家直销：固话：QQ：

医用超声雾化器雾粒直径分布测试仪 仪器介绍采用7寸威纶通液晶触控显示屏，中文菜单显示。公称规格、设定载荷、打印设定、测试、上行、下行、时间、标定。由键盘与触摸控制液晶显示屏上的菜单，机载打印测试结果。 执行标准： 满足YY0109-2013标准中相关条款设备制造。 设备参数测量方法:国产激光散射法0.3UM-25UM 通道：8个通道；流量：28.3L/min 百级室或者等效工作台（超净工作台）；操作界面：彩色触摸屏7寸，中英文切换控制系统：PLC；接头：15mm和22mm内置嵌入式打印机电源：220V 50HZ 配置：主机1台，扳手一把，电源线一根，说明书/合格证/保修卡/铭牌一套。

本系统采用固定探测器、旋转被测灯具的方法，来测量被测光源或灯具空间各个方向上的光强分布。主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线。根据测量灯具的要求，该系统可以配置为双立柱B-β测试方案或单立柱C-γ测试方案。 用于LED灯具（半导体照明） 、道路灯具、投光灯具、室内灯具、户外灯具等各种和LED、节能灯、荧光灯、白炽灯、HID灯等各种光源的空间光度分布（即配光曲线）的高精度测试；测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式(*.ies)、CIE文件格式(*.cie)、欧洲Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式，符合国际标准要求，可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。主要参考标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008 灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008 整体式LED 路灯的测量方法 GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters；CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries；CIE 84 Measurement of luminous flux； IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates；技术支持特性：主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线；采用知名品牌的高转速、高转矩、低噪音、低振动的三相混合式步进电机；具有激光瞄准器，使被测灯具中心与旋转台旋转中心重合；垂直轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；水平轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；角度精度：0.1度，分辨率：0.01度； 灯具尺寸：1.2×0.6米；灯具重量：30kg(含夹具) ；灯具供电测量采用4线制：2路10A导电滑环用于供电，2路2A用于测量电压；转台控制线和灯具供电线长度：6米，特殊要求可加长；光度参数：1、高精度恒温探头（恒温点35±1度，恒温精度±0.1度）；2、V(λ)修正精度：CIE标准级（f1’ 0.03） 3、照度测量范围：0.001 lx至200 klx , 5档自动量程 4、测试距离：2米到30米；5、高稳定带遮光光栅的探头支架，高底可调，上下和左右倾角可调；6、光度探头连接线长度：20米（特殊要求可加长）；暗房示意图： 丰富的软件功能： 1、控制旋转台旋转，采集灯具的光强分布数据，计算灯具的光度数据及坐标系的转换；2、包括空间光强分布、任意截面上的光强分布曲线（可分别用直角坐标系或极坐标系显示）、空间等光强曲线、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、环带光通量、眩光等级、灯具效率、有效发光角、上射光通比、下射光通比、灯具总光通量、有效光通量、利用系数。3、 导出符合国际标准的灯具文件，可直接的导入照明设计软件，格式说明如下：*.HPG 虹谱光色HPG系列分布光度计测试数据文件格式；*.IES IESNA北美标准格式,包括95版和2002版 *.LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；*.LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；4、根据被测灯的类型，如路灯及室外灯、室内灯或投光灯等，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。 HPG1800软件介绍及实景照：图相似

德国WEP公司的ECV（型号为CVP21）在太阳能光伏行业的应用非常普及，市场占有率甚至达95%以上，是光伏行业电池技术研究和发展的必要工具之一，知名的光伏企业都有使用。 WEP公司的ECV设备：CVP21（见图）1. ECV又名扩散浓度测试仪，结深测试仪等，即电化学CV法测扩散后的载流子浓度分布（见图）；2. 相比其他方法如SRP，SIMS等，ECV具有测量使用方便，价格低的优点；WEP公司的ECV具有独特技术可应用于测试电池片的绒面样片，这也是其被广泛使用的原因之一；4. CVP21所能测量的深度范围是nm---10um 5. 测量的载流子浓度范围在10e12cm-3 N 10e21cm-3之内都无需校准；6. 测量扩散样片时，样片是保持“Dry in”和“Dry out”，并无需做特别处理；7. 其所用到的化学试剂本地就能买到，价格低且用量很少买一次可以用好几年；8. 从CVP21所测得的数据能带给研发或工艺人员三方面的信息：一是表面浓度，二是浓度变化曲线，三是结深（见图）；9. 表面浓度对于选择和使用适合的浆料很有帮助，如粘合性，接触电阻等的匹配问题；10. 浓度分布曲线对掌握和改进扩散工艺提供依据；11. 结深的信息对电池工艺的总体把握来说是必须的，也是扩散工艺时常需要抽测的项目之一；12. 参考：测试出的几种扩散浓度分布曲线（见图）；13. 广泛的客户群：Q-CELL, NREL, ISFH, SHELL,ECN,RWE,HMI,SISE尚德，天合，晶澳，英利，交大泰阳，BYD，海润，晶科，吉阳，南玻，格林保尔… 仪器简介：电化学ECV,掺杂浓度检测（C-V Profiling）PN结深测试 电化学ECV可以用于太阳能电池、LED等产业，是化合物半导体材料研究或开发的主要工具之一。电化学ECV主要用于半导体材料的研究及开发，其原理是使用电化学电容-电压法来测量半导体材料的掺杂浓度分布。电化学ECV(CV-Profiler, C-V Profiler)也是分析或发展半导体光-电化学湿法蚀刻(PEC Etching)很好的选择。 本设备适用于在半导体生产中的外延过程的性能评估和过程控制，可以测试多种不同的材料，例如：硅, 锗, III-V 族和 III-N族材料等。CVP 21的模块化系统结构让测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布变得高效、准确。选用合适的电解液与材料接触、腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制 。CVP21的系统特点： *坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立． *精确的测量电路模块 *强力的控制软件，系统操作，使用简便 *完善的售后服务体系 提供免费样品测试并提供测试报告。 保修期：2年，终身维修。 对用户承诺终身免费样品测试每月1次。技术参数： 我们在电化学方分布测试产品方面有超过３０年的经验和世界上较为先进的电路系统。全自动，特别适用于新材料，如氮化镓，碳化硅材料等。　 有效检测: 外延材料、扩散 、离子注入 适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。 IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等 III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等 II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。 　 载流子浓度测量范围: *最大 1021/cm3； 最小 1011/cm3 深度解析度: 最大无上限；最小可至1 nm （或更低） 模块化系统结构: 拓扑型结构，实时监控腐蚀过程，适于微小样品及大尺寸的晶圆，全自动化系统。主要特点：CVP21电化学ECV是半导体载流子浓度分布完美的解决方案： 1， CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。 * IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等 * III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等 * 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等 * 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等 * 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等 * II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等 * 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。 2， CVP21可用于不同形态的样品：多层结构的薄膜材料、基底没有限制(基底导电或绝缘均可)、标准样品尺寸从4*2mm ~ 8英寸晶圆(更小尺寸样品请预先咨询我们)。 3， CVP21拥有很好的分辨率范围。 * 载流子浓度分辨率范围从 1012 cm-3 ~ 1021 cm-3 * 深度分辨率范围从1nm ~ 100um (依样品类型、样品质量决定) 4， CVP21是一套完整的电化学ECV测量系统。 * 系统可靠性高(仪器的电子、机械、光学、液体传动几个主要部分均经特殊设计) * 免校准的系统(完全自校准的电子系统，电缆电容均无须用户再次校准) * 易于使用(全用户管理软件优化，在实验室环境或生产环境均易于使用) * 照相机镜头控制(过程在线由彩色照相机镜头控制；每次测量后，镜头数据均可取出。) * 实验菜单(测量菜单预定义，优先权用户可以很容易修改或改进测量菜单) * Dry-In/Dry-Out: Auto-Load/Unload/Reload (电化学样品池自动装载/卸载/再装载，优先权用户易于修改，进行样品dry-in/dry-out处理。) 全自动电化学CV分布仪 CVP21光伏太阳能领域的优质选择! 众多科研和半导体领域用户的的心仪之选!赛伦科技（Saratoga Technology International） 为中国全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域知名代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点- 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．- 精确的测量电路模块- 强力的控制软件，系统操作，使用简便- 完善的售后服务体系 全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:- 外延材料- 扩散- 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等… III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等… 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等… 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等… 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等… II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等… 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:- 最大 1021/cm3?最小 1011/cm3深度解析度:- 最大无上限- 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:- 拓扑型结构- 实时监控腐蚀过程- 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:- 精密的电路，电子系统- 强力的软件

显微光分布测试系统 随着半导体照明的进一步快速和深入发展，LED在道路照明、室内照明、汽车灯、手提灯具等多个领域等到了越来越广泛的应用，同时，业界对LED灯具的二次光学设计以及利用LED灯具的空间光度数据进行照明设计的要求也越来越高。作为LED产品的心脏，LED光源的光品质就显得尤为重要！LED光源的主要功能是把电能转化成光能，而当前，芯片厂和灯珠厂在LED光源设计过程中，仅仅是针对光源进行相对简单的测量，获得整体的亮度、波长和电压等参数。而实际上，由于电极设计、芯片结构、封装方式等方面的影响，光源表面的亮度和颜色并不是均匀分布的，传统的光源测量方式并不能精确地描述光源表面这种空间光分布的特点，这样容易导致光源出现色度和亮度不均匀、光源整体效率低等问题，甚至导致光源失效。因此很有必要利用显微光分布测试系统对光源进行发光均匀度测试来优化光源设计，同时也为LED光源的二次光学设计提供更为准确、详尽的数据。针对以上情况，金鉴实验室联合英国GMATG公司联合推出显微光分布测试系统，主要用于测试光源的发光均匀性，帮助提高光品质。现已演化到第五代，而且价格从150万降到几十万！金鉴显微光分布测试系统针对LED及其他光电器件产业打造，可用于观察微米级发光器件的光分布，测试波长范围190nm ～1100nm，包含了紫外和红外不可见光的测试，可用于测量光源的光强分布、直径、发散角等参数。通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数，测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。适合光电器件及照明相关领域的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，以达到企业节省研发和品质支出的目的。金鉴实验室自主研发的主要设备有显微红外热分布测试系统、显微红外热点定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉。性能卓著，值得信赖。应用领域：适用于LED芯片、LED灯珠灯具、面板灯、汽车照明灯、LCD显示屏、激光器及其他光电器件的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，助力LED芯片设计优化、光源的光线追迹及发光均匀性测量。与近场光学测试设备相比，金鉴显微光分布测试系统优点显著： 近场光学设备与金鉴显微光分布探头对光敏感度差异对比：金鉴显微光分布探头对光敏感度较高，能分辨细小的光强差异，因此成像也更细腻。金鉴显微光分布与传统设备大PK：金鉴显微光分布测试系统可模拟工作温度进行测试，分辨率可达1微米，其具有3D功能，可观测芯片出光效果。金鉴显微光分布测试系统特点：1. 探测器感应波长为190nm-1100nm，覆盖深紫外到近红外光。不同波长光源的光分布图 2. 与光学显微镜搭配，可观察微米级发光器件，图像具备2D和3D显示功能，表现效果更加强烈金鉴显微光分布测试系统的分辨率取决于与之搭配的光学显微镜的分辨率，即如果显微镜能1000倍放大，金鉴显微光分布测试系统也可以观测到1000倍率下的光分布细节。与可见光类似，像素越高画面越清晰越细腻像素越多同时获取的温度数据越多。金鉴GMATG 传感器像素640×595。 3. 独特的遮光设计，杜绝背景光影响，测量更加精准光分布探头接收的是视野内所有的光信号，包括被测样品发射的光以及环境反射光。光分布软件虽然具有背景光扣除功能，但是在测试过程中，环境的变化会导致环境反射光强度的变化，造成测试不准确。金鉴显微光分布测试系统，具备独特的遮光罩设计，隔绝了环境光的影响，大大增加了测试的准确性。如下图所示，在不使用遮光罩的情况下，受环境光变化的影响，芯片光分布图部分区域异常偏暗；在使用遮光罩后，彻底屏蔽了环境光的影响，光分布图异常偏暗区域消失。 4. 高精度控温系统，可实现光源在不同温度下光分布的测试光电器件性能受温度的影响较大，脱离实际环境所测试的结果准确性较差，甚至毫无意义。金鉴自主研发的显微光分布测试系统配备高低温数显精密控温平台，控温范围：室温~200℃，能有效稳定环境温度，实现光源在不同温度下光分布的测试，对定位光源最适宜的工作温度可提供最直观有效的数据。配备的水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题。 如下图所示不同工作温度下的LED芯片发光均匀度对比，同一芯片，工作状态温度越高，亮度越低！温度越高，光衰趋势越大。支架引脚温度由80℃升高到120℃，LED芯片发光强度衰减30.6%。 LED芯片发光强度随温度上升而下降5. 定制化的光分析软件金鉴定制分析软件GM LED NF Analyzer，具有自动影像采集控制、实时影像、对位过程屏上显示、设置多重帧自动采集、灰阶与色彩数值显示、记录环境影像提供校正等多重功能，方便做各个维度的光强分布数据分析和图像效果处理，为科研及分析提供更专业的数据支持。（1）提供2D、3D光束分布显示和轮廓分析。 （2）通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数。测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。 （3）OSI彩虹及不同灰阶调色板，满足客户个性化的显示需求。 （4）扣除背景光干扰，增加测试精准度。 （5）可导出光分布图全部像素点的光强数据值，为专业仿真软件分析提供原始建模数据。 （6）自定义报告模式，测试报告一键展现；测试结果即时分享，高效协同。 测试案例:案例一：芯片电极设计对光分布的影响对某LED芯片电极图案进行评估，如下图所示，芯片的发光不均匀，区域1的亮度明显过高；相反地，区域2的LED量子阱却未被充分激活，降低了芯片的发光效率。对此，金鉴建议，可以适当增加区域1及其对称位置的电极间距离或减小电极厚度来降低区域1亮度，也可以减少区域2金手指间距离或增加正中间正极金手指的厚度来增加区域2亮度，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。 LED芯片发光效果图案例二：芯片金道设计对光分布的影响下图中芯片左边为两个负电极，右边为两个正电极，其中，区域1、2亮度较低，电流扩展性不够，需提高其电流密度，建议延长最近的正电极金手指以提升发光均匀度。区域3金手指位置的亮度稍微超出平均亮度，可减少金手指厚度来改善电流密度，或者改善金手指的MESA边缘聚积现象，另外，也可以增加区域3外的金手指厚度，使区域3外金手指附近的电流密度增加，提升区域3外各金手指的电流密度，以上建议可作为发光均匀度方面的改善，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。在达到或超过了芯片整体发光均匀度要求的前提下，可考虑减小金手指厚度来减少非金属电极的遮光面积，以提升亮度。甚至，可以为了更高的光效牺牲一定的金手指长度和宽度。 LED芯片发光效果图 案例三：光分布3D模块测试评估芯片光提取效率金鉴显微光分布3D测试模块可以观察芯片各区域的出光强度，填补芯片的光提取效率测试空白。下图垂直结构芯片采用了多刀隐切工艺，芯片侧面非常粗糙，粗糙界面可以反射芯片侧面出射的光，提高芯片的光提取效率。从该芯片的3D光分布图中可以直观的看到，该芯片边缘出光较多，说明多刀隐切工艺对芯片出光效率的提升显著。案例四：显微光分布测试帮助定位最高效率的电流电压金鉴显微光热分布系统，可帮助客户避免过度超电流，准确定位最高效率下的电流电压！如下案例中，芯片额定电流为60mA，超额定电流90mA下点亮时，芯片温度大大提高，亮度反而出现衰减。过度的超电流，LED芯片产热严重，光产出并不会增加，甚至出现光衰。 案例五：显微光分布测试系统应用于LED芯片失效分析失效的LED芯片必然在光热分布上漏出蛛丝马迹！某灯珠厂家把芯片封装成灯珠后，老化出现电压升高的现象。金鉴通过显微光分布测试系统发现芯片主要在正极附近区域发光。因此，定位芯片正极做氩离子截面抛光，发现正极底部SiO2层边缘倾角过大，ITO层在台阶位置出现断裂、虚接现象，ITO层电阻过大，电流扩散受阻，出现电压升高异常现象。案例六：倒装芯片光热分布分析 失效分析案例中，CSP灯珠出现胶裂异常，使用热分布测试系统对芯片进行测试，由于红外测温是通过物体表面的红外热辐射测量温度，对于倒装芯片表面的蓝宝石也不能穿透，故无法对芯片内部电极等结构进行进一步的分析。此时，使用金鉴显微光分布测试系统可以清晰地观察到芯片电极图案，从光分布图可以看出，芯片负电极位置发光较强，因此推断负电极位置电流密度较大，导致此处发热量也较大，从而局部热膨胀差异过大引起芯片上方封装胶开裂异常。 案例七：多芯片封装的光分布监测金鉴显微光分布系统，能高效精准分析灯珠内各芯片电流密度，是品质把控的好帮手！例如某灯珠采用两颗芯片并联的方式封装，该灯珠点亮时，金鉴显微光分布测试系统测得B芯片发光强度较A芯片的大，显微热分布测试系统测得B芯片表面温度高于A芯片。分析其原因，LED芯片较小的电压波动都会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片亮度不一的现象，影响灯珠性能。 光学图 光分布图 热分布图 案例八：COB光源发光均匀度测试对于LED光源，特别是白光光源，由于电极设计、芯片结构以及荧光粉涂敷方式等影响，其表面的亮度和颜色并不是均匀分布的。如图所示，COB右半边灯珠亮度明显比左半边低，由标尺计算出，右半边亮度为左半边的三分之二，导致这一失效原因也许是COB的PCB板材左右边铜箔电阻不一致，导致灯珠左右两边的芯片所加载的电压不一致，造成两边芯片的发光强度出现差异。案例九：OLED光分布测试有机发光二极管(OLED)作为一种电流型发光器件，因其所具有的自发光、快速响应、宽视角和可制作在柔性衬底上等特点而越来越多地被应用于高性能显示领域当中。使用金鉴显微红外热分布测试系统对OLED显示屏进行测试，可以直观的了解显示屏各区域光强分布情况，对于缺陷点也能及时发现，有助于检测和改善OLED发光品质。如下案例中，OLED电流输入端亮度较大，远离输入端亮度逐渐减小，在此情况下，损失的亮度转换为热能，因此温度的分布会变得不均匀，进而导致OLED显示面板中各处的薄膜晶体管(TFT)的阈值电压和迁移率的变化也分布不均，进一步导致整个显示面板的发光亮度不均匀。 案例十：激光器光束形貌及热场分布金鉴显微光热分布测试系统，配备专用光衰片及水冷散热系统，可测试大功率超亮激光灯的光热分布！

A、系统功能用于LED灯具（半导体照明） 、道路灯具、投光灯具、室内灯具、户外灯具等各种和LED、节能灯、荧光灯、白炽灯、HID灯等各种光源的空间光度分布（即配光曲线）的高精度测试；测量参数包括：空间光强分布、空间等光强曲线、任意截面积上的光强分布曲线（可分别用直角坐标或极坐标系显示）、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、灯具效率、眩光等级、上射光通比、下射光通比、灯具的总光通量、有效光通量、利用系数，以及电参数（功率、功率因数、电压、电流）等。 测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式CIE文件格式Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式，符合国际标准要求，可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。B、主要参考标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008整体式LED路灯的测量方法 GB/T 24824-2009普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters； CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries；CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates；C、主要技术指标l 转台参数：1、 主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线； 2、 采用知名品牌的高转速、高转矩、低噪音、低振动的三相混合式步进电机；3、 垂直轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；4、 水平轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；5、 角度精度：0.1度，分辨率：0.01度；6、 特殊的激光瞄准装置，方便、准确地安装测试灯具的位置，完全使被测灯具中心与旋转台旋转中心重合；7、 灯具*尺寸：1.3米；（可根据实际情况定制）8、 灯具*重量：50kg(含夹具)；9、 灯具供电测量采用4线制：2路10A导电滑环用于供电，2路2A用于测量电压；10、转台控制线和灯具供电线长度：6米，特殊要求可加长；l 光度参数： 1、光度探头精度：一级2、照度测量范围：0.001Lx至1×105 Lx3、角度精度：0.1度4、灯具可绕垂直轴-180°～180°或0°～360°旋转5、灯具可绕水平轴-180°～180°或0°～360°旋转6、灯具的电参数测量精度：0.5级l 丰富的软件功能1、控制旋转台旋转，采集灯具的光强分布数据，计算灯具的光度数据及坐标系的转换；2、包括空间光强分布、任意截面上的光强分布曲线（可分别用直角坐标系或极坐标系显示）、空间等光强曲线、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、环带光通量、眩光等级、灯具效率、有效发光角、上射光通比、下射光通比、灯具总光通量、有效光通量、利用系数。3、导出符合国际标准的灯具文件，可直接的导入照明设计软件，格式说明如下：*GN虹谱光色GN系列分布光度计测试数据文件格式； *IES IESNA北美标准格式,包括95版和2002版 *LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；*CIE CIE国际照明委员会标准格式；4、根据被测灯的类型，如路灯及室外灯、室内灯或投光灯等，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。D、测量原理采用固定探测器、旋转灯具法测量原理。测量灯具安装在两维旋转工作台上，通过激光瞄准器，使灯具的发光中心与旋转工作台的旋转中心重合。当灯具绕垂直轴转动时，与旋转工作台中心处于同一水平高度的探测器测量该水平面上各方向的光强值。当灯具绕水平轴转动时，则探测器测量垂直面上各方向的光强值。垂直轴和水平轴均可在±180°或0°～360°范围内连续旋转。根据测量灯具的要求，该系统可以在C-γ等平面坐标系中测量。当测量得到灯具在各方向上的光强分布数据后，计算机即可计算出其它光度参数。该系统采用以下结构形式应用：1、单立柱结构（C-γ平面坐标系和圆锥面坐标系） 主要用于测量路灯、投光灯、面板灯筒灯、工矿灯室内灯具、室外灯具等灯具。安装灯具时，使灯具的发光中心与旋转工作台旋转中心一致。灯具的光轴与旋转工作台的水平轴重合。F、实验室要求1、暗室尺寸：*小要求3米（宽）×2.5米（高）×6-30米（长）2、灯具旋转台和光度探头之间应放置多个光栏隔板，用于阻挡杂散光（根据暗室的尺寸可提供暗室及隔板示意图）；3、整个暗室的墙壁、天花板和地板、中间的光栏隔板都喷涂亚光漆，反射率越低越好；4、计算机系统：电脑1台，打印机 1台机配置要求：Window及WIN7操作系统,留有两个RS232串行口。图相似

全自动电化学CV分布仪 CVP21 光伏太阳能领域的首选! 众多科研和半导体领域用户的的首选!上海瞬渺光电官方中国最佳全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点&bull 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．&bull 精确的测量电路模块&bull 强力的控制软件，系统操作，使用简便&bull 完善的售后服务体系特别推荐晶硅太阳能电池研究单位使用知名用户:(Shin-Etsu SEH or ISFH)In the field of solar cell research, the CVP21 system is currently being used at many research centres. It was first used in 1999 by the Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems (ISE) in Freiburg, Germany, and since then it has been installed at the Institute for Molecules and Materials (IMM) in Nijmegen, The Netherlands, the RWE Space Solar Power GmbH in Heilbronn, Germany, the Hahn-Meitner-Institute (HMI) in Berlin, Germany, and the Institute for Solar Energy Research (ISFH) in Hamelin/Emmerthal, Germany.在德国和日本都有很多太阳能电池用户使用,鉴于商业保密需要不能公开。产品完美结合我们在电化学方分布测试方面超过３０年的经验和世界上最先进的电路系统。　全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:&bull 外延材料&bull 扩散&bull 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等…III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等…三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等…四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等…氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等…II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等…其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:&bull 最大 1021/cm³ &bull 最小 1011/cm³ 深度解析度:&bull 最大无上限&bull 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:&bull 拓扑型结构&bull 实时监控腐蚀过程&bull 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:&bull 精密的电路，电子系统&bull 强力的软件

产品简介有机发光二极管或其他光源的发射随视场角变化很大。为了对这些样品进行正确的表征，需要测量不同探测角下的亮度、色度和发射光谱。滨松量子效率测试光分布测量系统 C9920-11配光曲线测量通过采用旋转台样品架和高灵敏度探测器满足了这些需要。该装置安装在旋转台上，放置在黑暗的样品室内，受到恒定电流或电压的激励。电致发光由聚光透镜收集到光导中，并连接至能瞬间测量整个发射光谱的高灵敏度CCD光谱仪。 软件测量了每个角度的发射光谱，并显示各光谱亮度、角度依赖性，I-V-L特性和色度。 此外，朗伯假设下的外部量子效率被计算，但它可以使用发射角分布特性进行修正。产品参数型号C9920-11旋转台Minimum angle setting 1°角度设定范围0 ° to +80 °, -80 ° to +80 °最小步距设置1 °分辨率0.1 ° or less探测器BT (back thinned) cooled CCD制冷温度（CCD）-15 ℃光敏器件通道数1024 ch波长测量范围380 nm to 780 nm (detector: 200 nm to 950 nm)光纤探头1.5 m测量光斑尺寸200 μm亮度测量范围10 cd/m2 to 10 000 cd/m2

分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL描述：分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL50-1800是新型A类测角光度计，专为R＆D实验室和产品符合性测试中心实验室而设计，可调节远场光度和色度测量系统，在H，V轴坐标中对汽车LED和其他类型灯具的发光强度分布进行光度测试，分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL适用于汽车，铁路和其他车辆前照灯的快速准确测量，还可用于交通信号灯和机场照明系统的光度表征。可以测量的技术参数包括：发光强度分布，极坐标图，圆锥图，光通量，中心光束强度，相关色温，显色指数，麦克亚当椭圆，角度颜色均匀性，还可选测发光效率，功率因数和温度。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL工作原理：测角仪是一种带有旋转轴的仪器，用于测量光通量和照明设备或光源的发光强度分布。发光强度可通过在固定距离处以不同方向旋转的照明设备进行照度（远场）或照度（近场）测量获得。利用足够的角度步长和范围，可以通过汇总每个测量方向上的所有发光强度来计算照明设备的光通量。根据发光强度分布，可以推断出照明应用的属性，例如横向/纵向等照度曲线或圆锥图。测角仪的类型基本上可以分为1组，2组和3组，也称为A类，B类和C类，它们的区别在于在测量过程中照明设备的旋转方式以及在这种测量过程中获得的光度数据系统。 A类测角仪具有固定的水平轴和垂直于第一轴的移动轴。通过围绕水平轴旋转光源，同时将另一个轴保持在固定位置（旋转vs高度）来进行测量。A类测角仪是表征光束相对有限的汽车照明的理想选择。 B类测角仪具有固定的垂直轴和移动的水平轴。通过围绕垂直轴旋转光源，同时将另一个轴保持在固定位置（高度vs旋转）来进行测量。B类适用于显示器和泛光灯。 C类测角仪是高度专业化的类型，具有固定的垂直轴和移动的水平轴。在C平面或圆锥面上进行测量。C类测角仪与B类相同，只是光源旋转了90°。 国际标准建议将这种类型用于一般照明系统。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL产品亮点： l A类测角仪，配备3个机械化H，V和Z轴以及DUT移动x,y机械安装台l 激光对准系统带有反射镜和系统控制选件，有助于校准系统垂直和水平对准 l 软件界面友好，操作简单l 机电一体化组件，自动化程度高l 可控制和可编程功能，坚固耐用 l 符合相关标准，测量准确可靠 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL应用范围： l 大型LED模块和大型照明设备。 l 符合标准: CIE 121-1996, IESNA LM-75-01 升级选项：l 可选用于测试汽车前照灯的外围设备。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL技术参数：CIE 测角仪类型:远场Type A 包含H,V轴和X,Y,Z方向运动DUT移动x,y机械台5轴伺服电机与绝对位置编码器H轴运动：角度范围± 100°,额定转矩555 Nm,速度高达10 °/sH轴分辨率：0.002° H轴再现性：0.05° * (*额定负载时) V轴运动：角度范围± 180°,额定转矩98 Nm,速度高达50°/sV轴分辨率：0.002° V轴再现性：0.05° * (*额定负载时)Z轴运动：线性范围0-800 mm,起重力高达1500NZ轴再现性：70 μmX,Y轴运动：线性范围± 150 mm,速度高达40 mm/sX,Y再现性：70 μmDUT安装板：方形400x400 mm,多个 M6 安装孔最大DUT尺寸：≤ 1800 mm(对称定位)产品尺寸(W x H x D)：810 x 2020 x 1990 mm光轴高度：1350 mm最小房间高度：2600 mm最小房间宽度：4000 mm最大负载：50 kg产品重量：450 kg电源：AC 110-230V, 3000 W控制器：用于所有电机的内部控制器 通过局域网连接PC 制造商远程支持功能 机身设有7英寸液晶触摸显示屏 DUT固定期间可操作所有轴的手动控制器安全性：设备两侧设有紧急停止按钮，可选安全设备包含激光扫描仪或光栏传感器选项：GL Photometer 3.0 LS + Flicker GL Spectis 1.0 LS GL Spectis 4.0

HP860LED光强分布测试系统 A、应用功能：专用于测量LED的配光曲线（LED光强分布）、光束角、法向光强、正向电压、反向电流、反向击穿电压等光电参数，符合CIE pub.No.127条件A或B。本系统实现了LED的光、电性能的高精度测试，为LED生产厂商提供充分的LED光、电参数，使LED的研制和生产更加有效、可靠。B、性能参数：●光强测量范围:0mcd~300，000mcd；　●光强测量精度:一级；●峰值光强：1max ●角度测量范围:-90°~ +90°；　　●角度调节范围:0.2° ●间隔角度：1° ●等效光通量测量范围：1lm～200lm ●自动绘制光强曲线（极坐标或直角坐标）和自动测定光束角；●正向电流(IF)：0.1mA～800.0mA ●正向电压(VF)：0.01V～20.00V ●反向电流(IR)：0.1μA~200.0μA●反向电压(VR)：0.01～20.00V●配合积分球可以测试各种光源的光通量。图相似

功能：可按照CIE127 A/B条件，IEC 61341标准相关要求测量LED器件、模块等的发光强度、空间光强分布曲线、中心光强、光束角、部分光通量等光度参数。性能指标：◆ 测试距离：316mm,100mm, 1000mm自由调整◆ 测试方式：Type C◆ 角度精度：0.05度◆ 严格Ｖ（λ）匹配的高性能Si探测器◆ 测量数据可以IES等国际标准文件格式导出，可应用于二次光学设计◆ RS-232C标准接口

激光粒度分布仪产品说明：测试国际标准样品的准确性：测试亚微米和微米的国际标准样品，结果与标称值高度一致。国际标准样(Duke) 标称值BT-9300SE实测值NanosphereTM Size Standards 400nm398nmDuke Standards TM 15μm14.97μm应用领域： 药品、锂电池正负极材料、石墨、重钙、滑石粉、高岭土、氧化铝、涂料等 其余非金属矿粉：如轻钙、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土、二 氧化硅、石榴石、硅酸锆、氧化锆、氧化镁、氧化锌等 其余各种金属粉 ：如锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等 其它粉体：如催化剂、荧光粉、水泥、磨料、食品、染料、河流泥沙、陶瓷原料、化工材料、 纳米材料、造纸填料涂料、各种乳液等产品参数：项目性能指标项目性能指标测量范围0.1-1000μm分辨率A 级(JJF 1211-2008)重复性误差≤ 1%(国标样 D50 偏差)自动测试自动对中、自动测试、自动清洗准确性误差≤ 1%(国标样 D50 偏差)循环系统水：600ml，流量 3000-8000ml/min；溶剂：80 或 200ml，流量 1500-4000ml/min激光器进口半导体激光器，寿命 25000 小时超声波分散器防干烧型，50W探测器数量前向、侧向，共 80 个报告格式PDF、BMP、Word、Excel、JPG订购信息： TR 1860--激光粒度分布仪

为了预测纤维增强产品的特性和力学性能，测定纤维的长度和分布是必要的。将纤维从混合材料中没有任何损坏的分离出来是首先最关键的步骤。FASEP方法已开发用于灰化材料，并且不损坏玻璃纤维。用水完全稀释纤维并倒入培养皿中。然后，使用完整培养皿采集图像的新方法。暗视场和透射光组合扫描解析一个大的图像，每个图像多达10000纤维。最终，得到理想的源图像用于数字图像分析。该方式使用全新、唯一的FASEP集群分离处理，确认纤维簇，并从中提取出单纤维，最终测量每一个分离纤维的长度。精巧的系统可测量所有长度的纤维（20-20000&mu m）在增强热塑性塑料中的FASEP纤维长度分布。

HPG2000是C型分布光度计，国际照明委员会CIE70文件推荐的运动反光镜分布光度计。围绕测试灯具中心作圆周运动的反光镜,将灯具测量方向的光束反射到光度探测器上，实现不同平面上的光强分布曲线的测量。本系统符合美国能源之星IES LM79标准、欧洲标准EN13032、GB/T9468灯具分布光度测试的一要求等国际、国内相关标准要求。可测量灯具的空间光强分布曲线、空间颜色分布、光强数据、灯具总光通量、有效光通量、区域光通量、灯具效率、亮度限制曲线、眩光等级、概算曲线、允许距高比、有效发光角、上射光通量、下射光通量、等照度曲线、等光强曲线等光度参数。可以导出IES文件、CIE文件、LTD文件等多种格式的灯具文件。主要参考标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008 整体式LED路灯的测量方法 GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters；CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries；CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates；主要技术特性：1、被测灯具测量位置与实际使用状态一致，灯具工作状态不变；2、反射镜可绕被测灯具360度转动，被测灯具自身可旋转360度；3、采用贵金属光纤点刷技术，实现不间断连续测量，不会绕线，转动平稳；4、激光十字线瞄准装置、方便，准确地安装测试灯具的位置；5、角度精度：0.1度，角度分辨率：0.01度；6、设备尺寸：长宽高2400×3200×3300mm ，中心高度1600mm；7、暗房最小尺寸：长宽高12.0×3.5×3.5米；8、灯具尺寸：出光口尺寸1.2米，方形灯:800mm×800mm，长条灯:1200mm 9、配备多种测试夹具：路灯夹具、面板灯夹具、长条型日光灯夹具、E40/E27灯头夹具；光度参数：1、高精度恒温探头（恒温点35±1度，恒温精度±0.1度）；2、V(λ)修正精度：CIE标准级（f1’ 0.03） 3、照度测量范围：0.001 lx至200 klx , 5档自动量程 4、高稳定带遮光光栅的探头支架，高底可调，上下和左右倾角可调；5、光度探头连接线长度：20米（特殊要求可加长）；暗房示意图：丰富的软件功能：1、控制旋转台旋转，采集灯具的光强分布数据，计算灯具的光度数据及坐标系的转换；2、包括空间光强分布、空间颜色分布、任意截面上的光强分布曲线（可分别用直角坐标系或极坐标系显示）、空间等光强曲线、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、环带光通量、眩光等级、灯具效率、有效发光角、上射光通比、下射光通比、灯具总光通量、有效光通量、相关色温、色坐标x,y、色差duv。导出符合国际标准的灯具文件，可直接的导入照明设计软件，格式说明如下：*.HPG 虹谱光色HPG系列分布光度计测试数据文件格式；*.IES IESNA北美标准格式,包括95版和2002版 *.LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；*.CIE CIE国际照明委员会标准格式；4、根据被测灯的类型，如路灯及室外灯、室内灯或投光灯等，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。 HPG2000软件介绍及实景照：图相似

随着国家政策的不断加持，越来越多的企业进行了新能源领域的探索，分布式光伏气象站的不断建设就是对如何合理利用太阳能资源做好气象监测工作。一、方案适用范围分布式光伏发电是指在用户所在场地或附近建设运行，以用户侧自发自用为主、多余电量上网且在配电网系统平衡调节为特征的光伏发电设施。为了保证光伏电站的正常运行以及数据分析，通常需要配备分布式光伏发电环境监测系统来监控太阳总辐射、周边环境温度、风速风向、光伏组件温度等指标。分布式光伏气象站可以连接到监控系统上，由监控系统对环境监测系统的数据进行显示、记录及分析，也可以连接到逆变器控制系统、由控制系统对传感器数据进行分析，保证光伏电站的有效运行。二、产品描述分布式光伏气象站该型号满足国家标准要求符合光伏电站最新上报省调各项数据要求及逻辑对应关系，并支持后续新参数的二次升级。采用了高稳定性的太阳总辐射传感器，具有完美的余弦特性、快速响应、零偏移和宽温度响应的性能，确保辐射数据准确稳定。我公司有多年来服务国内外光伏电站用户的丰富经验，传感器库存充足，完整的生产流水线，成熟的仪器设备调试技术能力，全方位的售后跟踪服务，快捷的物流运输体系。三、典型应用1、太阳能光伏发电、太阳能资源评估2、太阳能系统监控、大气能量平衡研究3、卫星反演得到的太阳辐射数据校准和验证4、热应力研究、热交换研究、气候变化研究5、电站初期光资源预估处理，营收评估四、产品实施规范分布式光伏发电环境监测系统的选址需要考虑很多因素，站点应该建立在全年从日出到日落都不受遮蔽的地方。我公司依据国际观测方法、国家观测规范、电力行业标准及多年丰富的现场选址、环境监测系统安装调试经验，给光伏电站相关人员提供详细专业的规范指导文件。五、产品技术参数型号:TH-FGF9供电:DC12V输出:RS485 MODBUS RTU协议供电方式:太阳能供电/DC12V/AC220V/UPS波特率:4800—115200默认波特率：9600工作温度：-30°C〜 +70°C存储温度：-40°C~+80°C工作湿度：0~100%RH防护等级：IP65通讯模式：Wifi/GPRS/RS485/无线点对点输出航插：IP68 SP13-6数据接收模式：无线数据云平台APP/PC/网页有线单机软件二次开发通讯接口承载形式：固定支架1.5m/2.2m/3m六、检测数据参数传感器名称测量范围准确度分辨率环境温度- 40—123. 8°C±0. rco. rc环境湿度 0—100%RH±2%RH0. 1%RH最高温度 -40 〜 123.8C+o. rco. rc最低温度-40 〜 123.8C+o. rco. rc露点温度- 40—123. 8°C+o. rco. rc风速0〜 60m/s 土 2% (W20m/s ), ± 2%+0. 03V m/s (20 m/s )0. Im/s2分钟风速 0〜 60m/s ± 2% (W20m/s), +2%+0. 03V m/s ( 20 m/s )0. Im/s10分钟风速0〜 60m/s ± 2% (W20m/s), +2%+0. 03V m/s ( 20 m/s )0. Im/s风向0 〜 359°±2。r气压300—UOOhPa±0. 12hPa0. IhPa组件温度-40〜 100C±0. rco. rc水平总辐射0~2000w/m2W5%lw/m2水平总辐射日累计0—999. 9MJ/m2W5%0. IMJ/ni2水平总辐射月累计0—9999MJ/m2W5%lMJ/m2水平总辐射年累计 0—9999MJ/m2W5%lMJ/m2设计实施标准《气象仪器及观测方法指南》世界气象组织（WMO）仪器和观测方法委员会（CIMO）及IEC（国际电工技术委员会）国家电网公司企标Q/GDW 617-2011《光伏电站接入电网技术规定》国家电网公司企标Q/GDW 618-2011《光伏电站接入电网测试规程》《并网光伏发电系统工程验收技术规范》《QX/T61-2007地面气象观测规范》《QX/T-2000II自动气象站行业标准》《QX/T74-2007风电场气象观测及资料审核、订正技术规范》

【肉眼无法识别的磁气可视化的测定器】 用高精度磁气传感器正确测定磁石表面的磁束密度分布。 应对从圆柱型到瓦状型各式各样的磁石的计测。 MTX 主要通过一个磁头搭载三轴磁力传感器对磁体表面及临界空间的磁场进行高精度的三维测定，并可以通过测得的数据进行三维磁场矢量合成的3D矢量磁性分析仪。测量数据经过电脑的收录、计算、通过2D图表、3D图表和矢量图等多种表示功能，使原来看不见的磁场可视化。此外，增添了在原来的磁性分析仪中积累的技术经验，标准配备了充磁解析、马达解析、品质管理等必要的多种多样的波形解析功能。收录的数据全部采用CSV形式保存，可以容易的向市场上销售的图表计算软件和磁场模拟软件进行数据输出。 用磁力的本质------三维矢量磁场来捕捉磁场，并能收录、表示、解析和输出的MTX是对磁场应用产品的研究和技术开发起重大作用的指南针。

Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪 单颗粒气溶胶粒径分布光谱仪Fidas 200是专门为管制空气污染而开发的气溶胶光谱仪。它可以连续分析环境空气中存在的细粉尘颗粒，测量尺寸范围为180 nm–18 μm，并计算排放值PM10和PM2.5，支持法定单位进行监控。同时，仪器计算并记录PM1，PM4，PMtot，颗粒数浓度Cn和粒径分布。因此，仅通过Fidas 200计数和单颗粒测量原理，即可提供有关细尘颗粒的全面信息。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪可用于安装在空调监控站（温度范围5 – 40°C）。Fidas 200、Fidas 200E和Fidas 200S是目前少有的光学单颗粒测量设备，测量设备已获得型式认可，可根据VDI 4202-1、VDI标准、4203-3，EN 12341，EN 14907，EN 16450和欧盟等效性指南GDE同时监控PM10和PM2.5，并通过EN 15267-1和-2标准认证。此外，细粉尘测量设备Fidas 200以及Fidas 200 E和Fidas 200 S也在英国获得型式认可认证和Defra认证，符合“ MCERTS CAMS性能标准”和“ MCERTS（英国颗粒物）。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪利用公认的单颗粒光散射尺寸分析原理，并配备高强度（dp，min = 180 nm），高度稳定的光输出和长寿命的LED光源。可以使用单分散测试气溶胶验证仪器的校准，并在必要时随时方便、快捷地进行调整，即使在现场安装时也是如此。 Fidas 200的采样系统以大约0.3 m3 / h的体积流量运行。它配备符合VDI 2119-4标准的Sigma-2采样头，即使在强风条件下也可以进行代表性采样；还设有一条干燥线，可以防止凝结引起测量误差。干燥线（智能气溶胶干燥系统– IADS）是根据环境空气温度、压力和相对湿度来控制的。这些数据由气象站提供；可选地，还可以提供风速、风向和降水量数据。采样系统中集成用于圆形平面过滤器（直径47毫米）的过滤器支架，从而可以（举例来说）随后对气溶胶成分进行化学分析。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪提供多种通讯选项，允许对系统进行全面的远程控制和维护，并且进行在线数据访问。与系统一起提供的软件可提供用于评估（例如，全面的统计和平均值计算）和测量数据输出的通用选项。 气溶胶传感器是一种光学气溶胶光谱仪，使用Lorenz-Mie单个粒子散射光分析来确定粒径。粒子分别穿过光学限制的测量空间，该测量空间被多色光均匀照射。每个粒子都会产生以85°和95°之间角度检测到的散射光脉冲。基于散射光脉冲的数量确定粒子数量。粒径是从散射光脉冲的水平得出的。精密的光学器件、使用的多色LED的高光输出以及使用对数A / D转换的强大信号处理电子设备，可检测直径低至180 nm的颗粒。举例来说，在道路附近，检测高浓度小颗粒是尤其重要的。 Fidas 200传感器的测量体积使用T孔技术，在光学上进行准确定界，该技术可确定颗粒尺寸而不会出现边界带错误，从而有助于提高尺寸确定精度。强大的数字信号处理功能可以识别并补偿一致的读数（由多个粒子的同时存在引起）。优点： • 根据新的EN要求（EN 15267）进行型式认可和认证 • 连续和同时实时测量多个PM值 • 提供关于颗粒数浓度和粒度分布的其他信息 • 可调时间分辨率从 1 s到24 h • 光源：高稳定性，长寿命的LED • 长使用寿命 • 低维护 • 可以在现场进行外部校验 • 直观且易于操作 • 功能可靠，数据可用性极高（ 99％） • 2台泵并联运行，冗余配置可提高运行安全性 • 连续监视状态，以及在线监视校准 • 轻松进行远程监控、维护和控制 • 通过Palas服务器云端进行全球数据检索 • 无放射性物质 • 没有消耗品 • 低能耗 • 减少您的运营费用应用领域 • 利用监控网络进行污染控管 • 环境空气监测运动 • 长期研究 • 排放源追溯 • 排放物扩散研究（例如大火，火山）

多路无线分布式照度计 光度计光通量照度仪均匀性测试仪 LX-P16定制 优睐一、简介实时测量、动态记录光照平面的照度值随时间的动态分布曲线、数据表、照度均匀性。用于学校、医院、办公室、体育场馆等公共建筑的自然采光及照明水平的动态测量，为建筑照明验收及建筑节能评估提供可靠的数据。亦可用于灯具平面照度的数据测量，并通过仪表进行数据处理。二、特点测试速率：16通道光度计同时全部采集数据完成的时间不大于0.5s测试范围：0.1lx-200000lx无线范围：200m采集精度：国家一级标准光度探头显示模式：计算机软件界面显示，全部显示时间≤5s测试通道：16路测试方式：16台照度计独立测试，也可以同时测试传输方式：无线RS-232传输显示方式：计算机软件显示内容：16通道的光照度值，均匀性、时间-照度变化曲线及数据表输出方式：Excel文件格式供电方式：12V充电电池、12V电源适配器

一、产品简介：SCI-2000LD干湿二用型激光粒度分布仪是一种智能化的干湿法两用激光粒度仪，干法分散系统采用文丘里分散效应，通过剪切、惯性、碰撞等方法保证粉体在通过测量窗口时处于充分分散状态。该仪器具有准确可靠、重复性好、操作简便、测试速度快，测量范围宽等突出特点，是一种集双镜头技术、智能测试技术于一体的新一代粒度测试仪器，特别适合大企业、高校、研究院所、重点实验室选用。二、主要技术指标与性能：序号项目性能指标序号项目性能指标1测量范围0.02-2000μm(L) 0.1-2000μm(D)8循环泵及流量离心泵，3000-8000ml/分2重复性误差≤0.5%(L)（国标样D50偏差） ≤1%(D)（国标样D50偏差）9超声波分散器防干烧型，50W，38KHz3准确性误差≤1 %（标样D50值）10光源进口光纤半导体激光器4分辨率单峰、双峰和多峰11探测器及数量前向及后向，90个5对焦方式自动对中12空气过滤器有，3um、1um、0.01um6进料方式(干法)自动电磁振动13压力0.1-0.8Mpa7进料方式(湿法)自动吸水14气体流量400-6000 L/min三、主要应用领域：（所有样品）1. 各种非金属粉：如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸锆、氧化锆、氧化镁、氧化锌等。2. 各种金属粉：如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。3. 其它粉体：如锂电池材料、催化剂、荧光粉、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、河流泥沙、陶瓷原料、化工材料、纳米材料、造纸填料涂料、各种乳浊液等。四、良好的重复性：重复性好的原因：① 稳定有效的分散系统。② 激光器、探测器、信号传输系统稳定可靠。③ 自动对中系统使仪器始终保持在最佳状态。④ 采样速度达3500次/秒，大量数据有效减少少数异常数据对重复性的影响。⑤ 镜头采用从日本进口的高精度透镜组，成像清晰，畸变很小，保证了微弱的、各种角度的散射光信号无一漏网。五、良好的准确性：准确性好的原因：① 采用百特发明的双镜头光学系统，采用日本进口组合透镜大大提升了测量精度。② 加上高性能的软件，无论样品是单峰、双峰还是多峰都能准确自动测试。③ 完善的样品制备系统，包括循环、超声波分散、搅拌、自动进水、自动排水和自动清洗。④ 通过标准样品验证，结果与标称值一致。 Bettersize2000LD与国外先进激光粒度仪测试结果对比：一致性好。碳酸钙 D10 D50 D90 二氧化硅 D10 D50 D90 国外著名品牌 0.981 5.144 19.122 国外著名品牌38.89 60.499 91.083 Bettersize2000LD 0.943 4.936 19.22 Bettersize2000LD37.08 60.64 93.83

产品介绍 JL-1198型纳米激光粒度分布仪，参照GB/T29022-2012、ISO13321等标准，采用动态光散射、光子相关光谱法原理。利用颗粒尺寸大小不同，在液体中的布朗运动的速度不同，颗粒对激光的散射涨落起伏产生脉动的散射光信号，这些光信号与颗粒的粒径有关，通过光电倍增管将这些脉动的散射光信号接收并转换成电信号，再通过自相关器运算处理，专用分析软件计算出颗粒的粒度分布和平均粒径。 全密封的金属外壳，具有良好的电磁屏蔽抗干扰性能，将光电子、样品池、循环系统等设置于仪器内部，自动选择适合的通道数和延时时间等参数，达到特定的测试精度和重复性。每测一个样品只需2～5分钟，在电脑控制下全自动连续测试。并具有动态光浓度测试功能和静态光分子量检测功能，可以快速定性测试溶液的浓度。应用领域 科研院校、陶瓷、硅溶胶、水油乳液、油漆、涂料、颜料 、油墨、电子、核材料、化妆品以及其它所有纳米材料研究、制备与应用等领域。参数指标项目指标项目指标测量范围1nm～10000nm(与样品有关)测量原理动态光子相关光谱法原理测量时间2-5分钟通道数4000重复性误差≤1％（国家标准物质D50偏差）延迟时间50ns-100ms准确性误差≤1％（国家标准物质D50偏差）测试介质纯净水、蒸馏水或乙醇等进样方式1.循环进样，测试样品量多。2.静态进样， 测试贵重样品或量少。样品池500mL标准样品池，循环测试2.5 mL固定样品池，静态测试激光源30mw,405nm固体激光器各1只检测器高增益低噪声光电倍增管(PMT)光 路透射模式：90度角反射模式：160度角温度检测范围实时检测：0.5℃～99.5℃。分辨率0.002℃，无温度梯度。浓度测试快速测试样品的质量浓度和相对浓度在线测试可选配在线样品输送系统测试方法全自动测试，自动确定通道数和最延迟时间等参数。测试浓度范围透射测试ppm~1%，反射测试40%~体积浓度。10档增益可选择。测试模式有单分散和多分散两套模式分散方式60w超声波发生器仪器体积740*360*530mm 仪器重量约：60kg工作电源AC220V ±22V　50Hz ±0.5Hz；环境要求温度：5℃～35℃；湿度：85%；仪器优点1.能直接快速测试纳米样品的质量浓度和相对浓度，直接对样品温度实时测试。2.在测试时自动确定通道数和延迟时间等参数，自动选择适合的增益（10档浓度自动可选），信噪比高，适合测试浓度范围宽。快速分析出多分散和单分散颗粒的粒度分布和平均粒径等数据。3.静态进样方式：采用独特的2.5 mL薄缝样品池，非常适合检测贵重样品。因光源和信号在溶液中的途经距离短，测试精度和重复性更高。动态进样方式：容积500mL的分散循环进样池。加入样品后自动分散循环，自动测试、自动清洗，操作简单方便，特别适合于生产现场大量样品测试使用。4.具有透射和反射两套互相独立的光路，可以根据样品浓度任意选择。透射适合于较低和极低（几个PPM度）浓度。反射方式适合于高中浓度（可达40%体积浓度），透射和反射两种测试方式只需一健转换，操作方便，达到特定的灵敏度和分辨率。5.有单分散和多分散两种测试模式，可任意选择。6.测试一次的时间2～5分钟，可单次、多次连续测试。7.分析软件兼容WindowsXP/Win7/Win10系统，软件有中、英文版本供选择使用。8.108级粒级的表格和曲线图，体积分布、数量分布两种模式。提供累积分布、频度分布、累积10%、50%、90%、97%、平均粒径和比表面积等数据，全面表征样品的粒度特征。9.软件操作界面可根据需要选择中文或者英文，输出结果可以直接打印，或转换为PDF和文本文件等格式保存。

HORIBA LA-300 激光粒度分布仪 LA-300型激光散射粒度分布分析仪是一种基于米氏散射理论的激光粒度分布仪，米氏散射理论是严格按照麦克斯韦电磁场理论的数学解得到的经典理论，是目前激光粒度仪所采用的计算方法中最严谨的一种。因此采用这种计算方法为仪器给出可靠的数据结果作了原理上的保证。同时，堀场制作所以其卓越的技术和多年开发激光粒度分布仪的经验保证了LA-300型激光粒度分布仪的高精度，高分辨率，低维护性，易操作性及其他一系列优异的性能。 体积轻巧方便 Horiba 公司在保证高质量的前提下，成功地将仪器的体积缩小了30%，使得LA-300体积轻巧，仅有25公斤，真正满足实验室空间日益紧张这种现状，同时也更适用于各种复杂实验室的繁重工作。 测量快速准确 LA-300 在保证能够检测不同类型物质的同时，还采用了特殊检测手段，极大地缩短了检测时间，从测量开始仅仅需要20秒的时间就可得出精确的结果。此外，仪器还设置了安全操作模式，保证在检测时使用的方法正确。内置自动准直功能使LA-300具有无可比拟的高重复性，这一性能保证了系统操作条件的恒定与一致。 使用节省人工 LA-300 的精确高效并非意味着操作的复杂，相反在设计上力求操作维护简单易行。首先在软件设计上提供简便操作和维护的界面，设置了一系列能最大限度节省人功的设计。尤其是图表用户界面能够给您提供清晰准确的对话框，用户只按您所需的指令键和一系列快捷键完成常用操作。 自动测量功能 LA-300的操作控制全部通过计算机来进行，而且还具有独特的学习功能。利用这一功能，用户可将日常例行检测的条件和操作程序以简单的语言编成程序储存，检测时用户只需简单地按一个键，仪器就可按照事先编好的程序自动进行检测。这一功能对于选用自动取样器进行连续检测的用户更有效，其内置自动排序软件，保证仪器的高重复性 。此外仪器还带自动的校正按键，采用多维自动搜寻定位系统以决定光电二极管、光路系统是否重新定位并自动完成校正。 操作安全保密 LA-300 的操作还具有保密性，其软件能够帮助项目监管系统按照用户确定的路径进行仪器的操作。项目监管系统可以识别用户所属范围和常用用户的个人身份，用户登陆使用户姓名及密码，实现了操作的保密性。 样品分散均匀 LA-300样品分散系统除机械搅拌外还采用15W, 28KHz超声波装置，确保了样品能够均匀分散。 大流量离心循环泵（5.5L/min）除保证高速稳定循环及样品悬浮的均匀外，同时由于流速高，减少了粉尘堆积，因而免去了泵的频繁更换。LA-300的分散池（包括机械搅拌装置）和超声波分散头及循环管路全部采用内置方式，这使操作的简便性和稳定性大大提高，也使维护量大大降低。另外，仪器所有与液体接触的部分均使用耐化学腐蚀和耐锈蚀的材料制造，确保低维护。 软件功能强大 仪器软件采用windows98/95界面，数据处理可以和word, excel等应用软件互通。并且可以根据用户的需求，打印不同形式的报告格式。仪器的强大计算功能是LA-300 最为卓越的品质之一， LA-300除了给出样品的粒度分布的数据和曲线，积分曲线，MEDIAN值及MEAN值外，还能给出用户感兴趣的10个粒径的积累分布和10个感兴趣的积累分布所对应的粒径值，10个感兴趣的粒径和10个感兴趣的积累分布只需用户在显示条件中输入即可。一次检测结束后用户可根据需要得到基于粒子体积，面积，粒径和数量四种不同的分布结果，而这四种分布结果的取得也只需在显示条件中做4种简单的选择即可，并不需要做4次检测。另外一个特殊的功能是用户可将几次测试的分布图同时调入一个画面并以不同的颜色显示，这样用户可以对几次测试的结果作对比分析。 除以上功能外，LA-300还具有其它丰富的软件功能。实时显示功能使用户能够在检测的同时即能看到分布曲线随检测的进行而变化的过程，从而判断检测条件是否合适和其它影响因素的作用；打印格式预设功能可以使用户根据自己的喜好改变数据和图形的显示及打印格式；保密功能便于用户的内部管理；多达300个检测结果的三维显示使图形的显示更直观，而且还包括等高线显示功能。测量范围广 LA-300采用独特的长寿命半导体激光光源和大直径透镜系统，配合堀场专有的高性能检测器，使得仪器的测量粒径达到0.1-600um大范围的颗粒分布而无须任何光学调整。如此大的测量范围使用户可以进行更深层次的基础研究、产品质量控制等。 高性能检测器 测量部分Horiba公司率先使用了特殊的650nm 的激光器，6个宽角度的侧方和后方检测器和一个36通道的环状硅光矩阵光电二极管检测靶，可同时处理42个数据信号。通过计算散射光的密度转换成的电讯号，来确定粒子的分布，因此这种基于米氏理论的测量方式可以保证所得到的数据的准确性。

品牌：久滨型号：JB-B名称：床垫压力分布测试系统一、产品概述：　　坐卧是人类zuì基本的活运之一。人生三分之一的时间是在床上度过的，其余时间有一大部分处于坐姿。坐卧时，人体局部长期受压过大会引起褥疮、坐疮等疾病。对于半身不遂、卧床不起的人来说，如果不采用取有效减压措施，这种疾病将是致命的。因此，检测人体坐卧时的受力状态是非常有必要的。体压分布测量系统也称压力映射系统，正是这种测量的技术手段和设备。它的研制不仅在临床医疗、康复等方面给病人以福音，更对这些领域的研究具有重要的科学意义；另外在许多新产品开发、产品改良、产品测试等方面也有重要的应用价值，如床垫、轮椅、驾驶椅、运动器材等。　　人体压分布测量系统是测试病人坐卧时，人体与接触面之间压力的可视化工具。主要用途是设计于量测人体作用在座位、床垫、座垫和背垫上的压力分布情形。这套系统包括了USB数据撷取器、操作软件和薄膜压力感测片(感测垫)。适用于床垫、座椅、坐垫、自行车、机车、汽车业，以及大学研究机构等行业，还有更多…　　本系统采用*的薄膜传感器进行测量，通过智能软件系统分析，能直观的通过软件生成压力分布图，详尽地以立体人形图像及不同颜色显示身体各部分压力情况，即时对所测资料进行数据分析，方便找到床垫对人体舒适性的*状态。二、床垫的主观评价指标分为：　　稳定性、柔软性、弹性、下陷感、压迫感、局部和总体舒适感，主要考察肩部、背部、腰部、臀部等身体部位的舒适感。三、压力床传感器规格书：1、传感器尺寸：460 mm *620 mm2、感应区尺寸：400 mm *400 mm3、感应区点数：2288个4、厚度：0.2 mm5、压力量程：100KG6、测量精度：校正前±10% FS，校正后±5% FS7、工作环境：温度-9℃～60℃8、数据采集器采用USB接口和数据处理器（电脑）连接9、数据采集器通过电脑USB接口供电10、采样频率0～100Hz

适用测量有机半导体器件的电子迁移率和空穴迁移率分布式系统：测试箱主尺寸2400mm*800mm*1600mm，重量＜200KG，系统配置包括：示波器、电压源、信号触发单元、测试暗箱，样品仓，部件置于机柜内，固定样品台。主要参数：1．电压源电压范围：1-200V；2．电压分辨率：0.1V；3．激光器：纳秒Nd YAG激光器2个；4．激光束尺寸：＜2mm*2mm；5．测量时间范围：4 ns-10 s；6．最大输出电流：5mA 7．测试功能：载流子渡越时间、迁移率、载流子寿命；8．迁移率测量范围：＞10^-6cm^2/(V.s)@1um样品厚度。

品牌：久滨型号：JB-N9名称：纳米粒度仪 一、产品概述：　　JB-N9是我公司推出的基于动态光散射原理的纳米粒度仪。它采用高速数字相关器和专业的高性能光电倍增管作为核心器件，具有快速、高分辨率、重复及准确等特点，是纳米颗粒粒度测定的产品。控制系统原理图如下：光子相关纳米粒度仪基本原理图二、原理： 本仪器采用动态光散射原理和光子相关光谱技术，根据颗粒在液体中的布朗运动的速度测定颗粒大小。小颗粒布朗运动速度快，大颗粒布朗运动速度慢，激光照射这些颗粒，不同大小的颗粒将使散射光发生快慢不同的涨落起伏。光子相关光谱法就根据特定方向的光子涨落起伏分析其颗粒大小。因此本仪器具有原理先进、精度极高的特点，从而保证了测试结果的真实性和有效性；是纳米激颗粒粒度测定仪器。　　此款纳米粒度仪已经达到国外纳米粒度仪的测试水平！三、主要技术参数：规格型号JB-N9执行标准GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008测试范围1-10000nm(与样品有关)浓度范围0.1mg/L-100mg/L准确度误差1%（国家标准样品平均粒径）重复性误差1%（国家标准样品平均粒径）激光λ=532nm，LD泵浦激光器（独有带温控保护）探测器HAMAMATSU光电倍增管（PMT），使用单模保偏光纤散射角90°数字相关器ASIC研制的高速光子相关器样品池10mm*10mm , 4ml（带温控保护）数据处理拟合累积分析法和改进正规化算法，可给出平均粒径及粒度分布曲线软件功能一键式测量，自动优化测量参数，轻松生成测试报表输出项目平均粒径、多分散系数、粒度分布曲线、粒度分布表等温度范围8-45℃（温度精确到0.1℃）测试速度1Min/次（不含样品分散时间）仪器体积390mm×255mm×240mm电源AC100～260V, 50/60Hz, *大功率80W使用环境温度：15～40℃，湿度20～70%。无冷凝