速投影测量仪

影像测量仪也叫二次元，适用于以二坐标测量为目的的一切领域。以二维平面测量为主，也能作简单三维辅助测量，升级产业为2.5次元。影像测量仪利用光学非接触式测量是小、薄、软、零部件的Z好的测量解决方案，是计量检测不可缺少的精密型实验设备之一。那么轮廓投影仪和影像测量仪的主要区别在于哪些地方？接下来妙机小编和大家简单讲解一下：　　1、工作原理不同　　影像测量仪是通过CCD获取数位图像，利用计算机软件运算，以满足复杂测量需要的精密仪器。　　投影仪是利用光学投影的原理，将被测工作的轮廓或表面投影到观察幕(投影屏)上，作测量的一种测量仪器。　　2、机台结构不同　　影像测量仪：花岗岩石（硬度高，稳定性强，保证精度）　　轮廓投影仪：钣金（受环境影响较大，易生锈等，影响精度）　　3、镜头　　影像测量仪：镜头，连续变倍镜头（20X-120X）　　投影仪：标配单一变倍物镜（固定倍率）　　4、光源　　影像测量仪：LED（冷光源）　　轮廓投影仪：卤素光（热光源，热澎胀原理对机台精度产生影响　　5、显示　　影像测量仪：工件的彩色影像　　轮廓投影仪：工件的单色轮廓　　6、测量　　影像测量仪：十字线产生器，自动寻边　　轮廓投影仪：十字线肉眼观察取点　　以上就是我们影像测量仪厂家的内容介绍了，相信大家对此会有更深入的了解了，如有朋友需要购买的或者想了解更多关于这方面的知识，可以随时联系妙机科技咨询或者关注妙机科技了解更多。广东妙机精密科技股份有限公司（以下简称妙机科技）致力于为高科技领域提供完整的微米、奈米测量解决方案。妙机科技拥有完全自主品牌体系，从研发、生产、销售等关键环节，提供上、中、下游完整的产品供应及售后服务。

快速！10倍于传统测量仪器影像测量仪、工具显微镜、投影仪等由于视野很小，在测量时必须一动移动坐标台一边逐个位置进行测量，极为耗时。O型圈尺寸测量仪最大成像范围达?250mm，此范围以内的O型圈可整体成像，按一键即可瞬间一次性完成外径，内径，线径，同心度等所有尺寸的测量。周长换算直径，还原真实尺寸O型圈属柔性物体，极易变形，非真圆。影像测量仪、投影仪等测量直径时，只在圆边上选取若干点，拟合出真圆来侧定直径，必然存在较大误差。O型圈尺寸测量仪即可选择以拟合的方式，又可以测周长的方式换算直径。一次可同时测量多个可以一次性在平台上放置多个O型圈，对放置的位置无任何要求。软件对每个工件的位置进行锁定，一次性同时测量，大大提高测量效率。可以测量各类异形件软件包含了多种测量工具，除了实际存在的点，线，圆等基本图形工具外，还可拟合出各类虚拟的辅助工具，通过这些测量工具，轻松完成各类状形各异的零件的尺寸测量。技术参数：型号SOVG250SOVG220SOVG170SOVG120SOVG100测量范围（mm）Φ250Φ220Φ170Φ120Φ100测量精度（μm） ±15 ±10±10±7±5景深（mm）7070503020图像传感器500万像素软件OVG O型圈专用测量软件工作环境温度5~35℃ 湿度20~80%保质期一年 产品功能：测量功能O型圈直径（拟合圆直径，周长换算直径可选）、线径、圆心距、椭圆度等等 异型件测量可点，线，圆，弧，角度等多种测量工具和要素，对图像上的两点距离，线距，圆直径，角度，弧度，R角，点线距离等几乎所有的二维几何测量。报告导出EXCEL方式报告导出统计分析总数量、OK数、NG数、合格率、最大值、最小值、平均值、6σ 、 4σ 、 3σ 、 CP 、CPK等等公差计算输入标准值和公差，软件自动计算出实际值与标准值之间差值报警功能自动识别合格/不合格（OK/NG），并报警提示

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快速成像测量仪一、产品简介快速成像测量仪采用双远心高分辨率光学镜头，结合高精度图像分析算法，并融入一键闪测原理。仪器可根据工件的形状自动定位测量对象、匹配模板、测量评价、报表生成，真正实现一键式快速精细测量。二、产品优势传统测量仪器如投影仪、影像测量仪、工具显微镜、轮廓仪、游标卡尺、千分尺等，在测量时面临诸多问题，如：测量对象的定位、原点定位费时，批量测量操作时间长，不同测量人员导致测量结果不同，数据统计管理繁杂等。快速成像尺寸测量仪将扫清传统测量仪器在检测方面的难题，其优势为:● 自动匹配同一品类产品一次编程， 长久保存， 测量时自动匹配● 自动测量可与机械手臂进行配合， 实现全自动测量；● 校准简单一个功能校准键， 多角度、全视野校准， 保证测量精度；● 使用简单人性化、智能化的软件设计， 无需用户过多的操作， 易学、易用、易上手；● 测量功能点、线、圆、圆弧、角度、点线距离、线线距离、圆圆距离等二维尺寸测量；● 数据自动保存测量的结果自动保存到电脑， 包括测量日期， 产品的批号等信息；● 轮廓扫描快速扫描轮廓，并导出DXF文件。三、测量软件测量模式分为单工件测量、多工件测量，可实现一键自动搜索已设定测量模板，快速精确地进行批量测量。四、数据导出软件支持EXCEL，BMP，DXF，文档导出，点击导出EXCEL按钮时会自动启动相应程序。导出DXF格式文档需要用AutoCAD等图形软件打开。EXCEL导出设置由于EXCEL表格需求的多样化，软件支持对EXCEL文档的导出设置五、应用领域快速成像尺寸测量仪可用于PCB、SMT、芯片、玻璃、模具、注塑、五金、磁性材料、精密冲压、家电、医疗器械等领域。

SITA SurfaSpector表面接触角测量仪是一款新型手持式接触角测量仪,可测试金属、玻璃和塑料经过处理或清洗后的表面润湿性。该仪器结合了客观测量和简单处理模式，实现快速测量评估表面性能。测量原理　　SITA SurfaSpector 表面接触角测量仪通过自动注液装置将水滴精确滴在待测表面上，并且从侧面照亮该水滴，水滴的阴影会被投射到倾斜的测量表面上。然后内置的高分辨率摄像机从上方记录下投影，并对图像进行透视校正，从而确定液滴形状，最后计算接触角。可知，接触角越低，润湿性越高。表面接触角测量仪应用领域　　工件清洗后的品质检验　　润湿性检验　　表面活化测试，例如等离子处理后的表面活化测试及有关表面分析的更多应用产品特点 　　自动测量程序，包括水滴定位位置，检测水滴和直接计算接触角；　　手持式传感器探头，灵活测量各种形状样品的接触角；　　使用触摸屏，操作简单；　　表面接触角测量仪可直接移动使用，在工厂现场使用不需要连接电脑；　　在不同应用中极设置极限值监测；　　可选的电脑软件SITA-SurfaceLog，实现高级可视化和导出测量数据功能。产品参数 接触角测量范围5°~175°精度0.1°测量方法座滴接触角的光学测定法1 μl样品最小尺寸5 x 5 mm电源及接口电池容量至少可工作六小时USB 接口用于数据传输，充电操作显示屏5" TFT显示触摸屏分辨率800 x 480 像素试验液超纯水, 内置5 ml 贮水箱(足可测量5000次, 可重复灌装)

德国SITA SurfaSpector便携式接触角测量仪是一款新型手持式接触角测量仪,可测试金属、玻璃和塑料等材料表面经过处理或清洗后的表面润湿性。该仪器结合了客观测量和简单处理模式，实现快速测量评估表面性能。便携式接触角测量仪通过自动注液装置将水滴精确滴在待测表面上，并且从侧面照亮该水滴，水滴的阴影会被投射到倾斜的测量表面上。然后内置的高分辨率摄像机从上方记录下投影，并对图像进行透视校正，从而确定液滴形状，最后计算接触角。可知，接触角越低，润湿性越高。设备特点：● 自动测量程序，包括水滴定位位置，检测水滴和直接计算接触角● 手持式传感器探头，灵活测量各种形状样品的接触角● 使用触摸屏，一键式测量● 可直接移动使用，在工厂现场使用不需要连接电脑● 在不同应用中极设置极限值监测● 可选的电脑软件SITA-SurfaceLog，实现高级可视化和导出测量数据功能 应用领域：● 工件清洗后的品质检验● 润湿性检验● 表面活化测试，例如等离子处理后 SITA SurfaSpector 便携式接触角测量仪的技术参数：接触角测量范围5°~175°精度0.1°测量方法座滴接触角的光学测定法1 µl样品最小尺寸5 x 5 mm电源及接口电池容量至少可工作六小时USB 接口用于数据传输，充电操作显示屏5" TFT显示触摸屏分辨率800 x 480 像素试验液超纯水, 内置5 ml 贮水箱(足可测量5000次, 可重复灌装)

快速！10倍于传统测量仪器影像测量仪、工具显微镜、投影仪等由于视野很小，在测量时必须一动移动坐标台一边逐个位置进行测量，极为耗时。O型圈尺寸测量仪最大成像范围达?250mm，此范围以内的O型圈可整体成像，按一键即可瞬间一次性完成外径，内径，线径，同心度等所有尺寸的测量。周长换算直径，还原真实尺寸O型圈属柔性物体，极易变形，非真圆。影像测量仪、投影仪等测量直径时，只在圆边上选取若干点，拟合出真圆来侧定直径，必然存在较大误差。O型圈尺寸测量仪即可选择以拟合的方式，又可以测周长的方式换算直径。一次可同时测量多个可以一次性在平台上放置多个O型圈，对放置的位置无任何要求。软件对每个工件的位置进行锁定，一次性同时测量，大大提高测量效率。可以测量各类异形件软件包含了多种测量工具，除了实际存在的点，线，圆等基本图形工具外，还可拟合出各类虚拟的辅助工具，通过这些测量工具，轻松完成各类状形各异的零件的尺寸测量。技术参数：型号SOVG250SOVG220SOVG170SOVG120SOVG100测量范围（mm）Φ250Φ220Φ170Φ120Φ100测量精度（μm） ±15 ±10±10±7±5景深（mm）7070503020图像传感器500万像素软件OVG O型圈专用测量软件工作环境温度5~35℃ 湿度20~80%保质期一年 产品功能：测量功能O型圈直径（拟合圆直径，周长换算直径可选）、线径、圆心距、椭圆度等等 异型件测量可点，线，圆，弧，角度等多种测量工具和要素，对图像上的两点距离，线距，圆直径，角度，弧度，R角，点线距离等几乎所有的二维几何测量。报告导出EXCEL方式报告导出统计分析总数量、OK数、NG数、合格率、最大值、最小值、平均值、6σ 、 4σ 、 3σ 、 CP 、CPK等等公差计算输入标准值和公差，软件自动计算出实际值与标准值之间差值报警功能自动识别合格/不合格（OK/NG），并报警提示

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一、年轮分析系统 树木年轮分析测量仪产品简介：年轮图像分析系统是一款多平台图象分析系统，与扫描仪匹配，专门对盘状的木材截面或柱状的生长锥样本进行树木年轮的测量。大型木材样本可在不同部位多次分别成像；特殊的树芯定位器用以放置柱状样本；两种自动测定年轮的方法分别适用于不同的树木类型；人工辅助的图像识别校正和遗漏像素添加功能；此外，可自动设置裂缝与年轮角度的切线，以保证测量的精准性；另外，附加功能可进行植物的标准生长分析，如茎干平均半径、直径以及总体截面积；树木高度、体积、树龄等。对于所分析的年轮图像可同时显示如下参数：年轮宽度、早材/夏材宽度、年轮最大/最小密度/平均密度、早材/夏材等。二、年轮分析系统 树木年轮分析测量仪应用领域广泛应用于植物学、植物生理学、林学、树木学、森林生态学等领域。三、年轮分析系统 树木年轮分析测量仪技术参数：1、水平或垂直方向测量年轮、沿直线方向测量年轮（单节）、年轮宽度测量、自动年轮监测方式（强度不同）、忽略缺口部分、边材宽度测量、估算丢失的年轮、以各种方向测量年轮、测量复杂形状的样品年轮（多节）、添加相关年轮、早材晚材宽度测量、每环的反射光测量（最大值、最小值、平均值、方向）、存储最后部分年轮、可自定义一些参数（例如：名字、类型等）、图像编辑、批量分析。2、植物年轮测量分析：（1）可自动判读年轮数、各年轮平均宽度、早材及晚材宽度、各年轮切向角度和面积、可自动划分出年轮边界、早材边界、晚材边界，以及识别出很窄的树轮。可交互删除伪年轮、插入断年轮，亦可分析树木圆盘面积，周长，平均直径，形状因子，孔隙面积，年轮技术等。（2）可自动生成国际上通行的分析年表。分析获得的测量数据具备进一步做交叉定年、数据分析处理能力。（3）具有年轮图线数据暂存、加载特性，以便日后不断地分析比对。（4）年轮分析系统 树木年轮分析测量仪具有精细分析的“软件体视镜”特性。有路径端点吸附定位特性，对不满意的分析路径还可断开、删除、增加与编辑，以及可将分析结果图线保存。（5）图线上调整角度具有跟随特性，画路径的时候可取消或删除。可直接分析达到1GB超高精度扫描的年轮图像。具有对年轮宽度0.2mm的极精细年轮的自动分析能力。（6）可计算树盘总面积。可保存或读取TIFF、BMP、PNG、JPEG标准格式的图像。3、系统自带标定功能、XY向可分别标定修正。具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量。图像可放大缩小和局部观察，可实现鼠标区域选择统计。分析图像、分布图、结果数据可保存，分析结果输出至Excel表，可输出分析标记图。四、年轮分析系统 树木年轮分析测量仪系统由以下两部分组成：图像扑捉系统：标准年轮样本扫描设备，生长锥定位器等。A4幅面：扫描面积22×30cm，投影面积20×25cm，分辨率4800DPI，可分辨最小粒子0.005mmA3幅面：超大扫描面积31×44cm，投影面积31×42cm，分辨率2400DPI，可分辨最小粒子0.011mm年轮分析软件：标准版分析软件。

二维多点尺寸测量仪 一、测量原理将绿色LED 光转化为均一的平行光进行照射。检测出二维CMOS 上受光的明暗投影，然后测量其尺寸和角度等。二、二维多点尺寸测量仪特点1、实现由“点”到“面”，全范围测量传统的激光扫描方式：激光扫描方式只能测量光点照射的 1 个位置。无法实现多点同时测量或调整倾斜的测量。 二维多点尺寸测量仪通过二维测量，可一次捕获目标物的全部信息。只有在二维条件下才能进行的任意多点测量或边调整倾斜边进行测量。2、相机方式光轴无波动，可测量指定点的尺寸传统的激光扫描方式多面镜的镜面精度不同，每个取样点的激光扫描轨迹也会不同。在激光扫描方式中，马达匀速旋转的性能同马达的使用时间有关，随着使用时间变长，马达匀速旋转的性能将变差。传统产品使用时间越长，激光扫描轨迹的偏差就会越大。二维多点尺寸测量仪采用相机方式，闪动一次快门即可测量整个范围。 产品无驱动器，因此可测量指定点的尺寸。3、高耐久性传统的激光扫描方式因为有驱动器，所以产品的耐久性较差，需要对产品进行维护。此外，传统产品的光源存在被瞬间高电压损坏的隐患。二维多点尺寸测量仪[ 无驱动器 ] 因产品无任何驱动器，可实现高耐久性。这种设计克服了传统激光扫描方式的弱点－马达耐久性的问题。 三、应用范围技术解决方案：产品用途：

随着科技发展，二次元测量仪对各种工件和零件的测量精度越来越高，对测量仪器的要求也是越来越苛刻，二次元影像测量仪是对传统的测量技术的飞跃性发展，是将传统的光学投影和计算机完美结合的产物。接下来和妙机专业人士一起探讨二次元测量仪的技术奥秘。　　二次元影像测量仪是当今工业检测与计量技术领域中的一个新名词，它代表的是数字化科技溶入工业检测与计量，进行空间几何运算的先进测量技术。　　二次元影像测量仪能快速读取光学尺的位移数值，通过建立在空间几何基础上的软件模块运算，瞬间得出所要的结果；并在屏幕上产生图形，供操作员进行图影对照，从而能够直观地分辨测量结果可能存在的偏差。这一切，在今天强大的计算机运算能力面前都是实时完成的，操作者本人无法察觉。妙机二次元测量仪生产商认为这种能够利用CCD数位图像，通过电脑软件运算，满足复杂测量需要的精密仪器才是真正意义上的二次元影像测量仪。　　希望影像测量仪厂家小编说的能够帮得上广大朋友们，有需要购买的可以随时联系妙机科技客服人员，我们妙机精密科技有限公司提供定制化服务，我们的自动化测量仪器能大大提高工作效率，节省人力成本，保质期长达18个月，远超同行的12个月。

测量器具（也称计量器具）是测量仪器和测量工具的总称。通常把没有传动放大系统的测量工具成为量具，如游标卡尺、直角尺和量规等；把具有传动放大系统的测量器具成为量仪，如机械式比较仪、测量仪、投影仪和影像测量仪。接下来妙机小编就和大家浅谈一下量具、量仪和三次元测量仪的相关知识。　　按照结构和工作原理划分，计量器具又分为机械式、光学式、气动式、电动式、光电式计量器具。　　光电式计量器具是利用光学方法放大或瞄准，通过光电元件再转换为电量急性检测，以实现几何量测量的计量器具，如光电显微镜、光电测长仪等，三次元测量仪器也是属于这一类。　　三次元测量仪是现代光电技术发展的结晶，在量具量仪等诸多计量器具的种类之中，三次元测量仪因为自动化的坐标测量方式使得综合测量在精益制造领域得以施展。配合ＯＧＰ的SmartPorfile综合测量评价软件,更可以跨越不同量仪的测量方式的限制而达到产品尺寸的全方位评价。　　综合上三次元测量仪厂家小编给大家讲的知识，相信大家对这方面的资讯已经非常了解，如有疑惑可以关注我们妙机科技的咨询了解，我们将竭诚为您服务。妙机科技采用创新性的SIC（SysteminCase）设计理念，将全自动测量仪常用的各种电路模块整合在一个盒子里，解决了过去板卡组件的系统繁杂，接线复杂，性能低下，故障率高的问题，使得全自动测量仪功能强大，结构简洁，高效可靠，易于接线和维护，从而率先推出龙门式全自动影像测量仪、一体式影像测量仪等高端重磅级测量设备，在全国乃至全球处于领先水平。

基于光学成像的尺寸测量仪器在制造领域应用广泛，传统的光学尺寸测量仪器包括工具显微镜、投影仪、影像测量仪（二次元）等，都存在检测效率低、人为操作误差、人员技能要求高、数据难以信息化等各种问题。本产品为新一代影像尺寸测量系统，通过远心光学系统、高速信号采集处理、高精度图像处理算法、智能化UI软件设计等技术，实现了对物体二维尺寸的快速成像测量，有效地解决了一次成像范围与测量精度的矛盾，大幅度提高了检测效率和测量精度，消除了人为误差，人员操作简便，实现了精密测量的自动化和智能化。 一、技术参数：类别：单视野成像型号：EG-50测量范围(mm)：50×40调焦行程（mm）：20测量精度（μm）：±3重复精度（μm）：±0.5景深（mm）：20光学系统：500万像素CCD；双远心工业镜头； 远心平行背光源、LED环形正面光源软件：精密SPT测量软件接口：GigE ×1（双视野型号×2），RS 232 ×1，及其他可扩展接口电源：AC 220V，50Hz工作环境：温度15-25℃；湿度30%-80%；振动0.002g, 15Hz 二、产品主要特性精准稳定：双远心光路结合图像畸变校正、亚像素数值处理算法，实现高精度、高稳定性尺寸测量；精密电动平台配合可快速更换及实时调节的正面照明系统，满足用户对复杂表面尺寸的准确测量。 柔性智能：点、线、圆等测量元素的智能组合，可灵活调用修改，减少规划工作量；测量数据可实时SPC统计分析，并以Excel、PDF 、Word、图片等格式保存；可智能识别被测产品并自动调用检测档案，无需人工搜索选择，快速切换产品；特定要素测量工具可定制，CAD交互、轮廓比对等功能可定制。适用性广：固定视野型具有立式、卧式两大系列，适用平面及回转体工件，产品量程覆盖20-200mm，满足不同规格类型产品测量；同时具备运动平台式型号，结合光栅示数的运动平台进一步扩充测量范围；软硬件接口丰富，可集成各类测量传感器、自动化机构及数字化管理软件，组成自动化智能化系统。自主产权：本产品具自主知识产权，成像组件均采用高性能进口产品，图像处理算法技术完全自主开发，为用户提供更好的性价比选择、更快速及时的技术服务，且避免了盗版等法律风险。 简便高效：大视野高景深成像，无需定位工件及夹具，单次测量周期为1-2s，效率是传统设备的数十倍；只需设置匹配特征、规划测量项目两个准备步骤，即可实现多产品、多尺寸批量测量；避免了传统影像测量仪繁杂的操作流程，生手经短时间培训即可熟练操作。

TTE-W系列卧式影像测量仪 广泛应用于CNC铣刀，丝锥，钻头、砂轮等，方便测量刀具的前角、后角、R角、牙型角等专用刀具角度。W系列卧式影像测量仪的优势：可取代卧式投影仪，解决标准立式影像仪无法测量的产品测量。无软件后续成本，软件提供终升免费升级全国均有购买实绩，主要测量如砂轮、钻头类型产品的角度。轮廓光与表面光同步运动，具有成像清楚、测量精准等优势。 型号TTE-W200TTE-W300测量行程（mm）200*100*200300*200*200外型尺寸（mm）697*787*1660 794*963*1660机台重量（mm）160230XY轴精度（μm）3.0+L/200重复精度（μm）≦3

HTMJ-S 叶面积分析测量仪（普通） 1.1 用途： 用于植物叶面积分析等。 1.2 主要技术指标 1 、配 Windows 系统平板电脑(≥11.6”/4G 内存/64G 固态硬盘/500 万 像素拍照/支持 WIFI 无线网络）、10000mAH 的 12V 移动电源辅助背光 源板，可野外背光照明 3 小时。最大测量面积为 A4 幅面， 自动标定 和自动图像校正。2 、拍照与分析一键化操作，大批量全自动分析多片叶的叶片面积、 周长，最大叶长、最大叶宽，矩形度，凹凸比，球状性，形状系数， 虫洞数量，虫洞面积、叶柄长宽等参数，并标记叶片边缘以便核对正 确性。3 、可分析小至 1mm ^2 的叶片，分析误差＜0.5% 、测量中的分析时 间＜2 秒，自动独立标记各叶片并可保存图，分析结果可输出至 Excel 表。4 、可自动测定非相碰的稻谷、小麦、瓜子等普通种子的各粒粒长、 粒宽、投影粒面积。1.3 标准配置 1 、叶面积分析仪系统软件 U 盘及软件锁 1 套2 、辅助背光源板 1 套3 、平板电脑一台

机器整体介绍：基于光学成像的尺寸测量仪器在制造领域应用广泛，传统的光学尺寸测量仪器包括工具显微镜、投影仪、影像测量仪（二次元）等，都存在检测效率低、人为操作误差、人员技能要求高、数据难以信息化等各种问题。一键式图像尺寸测量仪产品为新一代影像尺寸测量系统，通过远心光学系统、高速信号采集处理、高精度图像处理算法、机器学习智能算法、UI 软件设计等技术，实现了对物体二维尺寸的快速成像测量，有效地解决了一次成像范围与测量精度的矛盾，大幅度提高了检测效率和测量精度，消除了人为误差，实现了精密测量的自动化和智能化。下表为本产品与传统量具（数显卡尺、千分尺等）、投影仪、工具显微镜、CNC 影像测量仪等仪器设备在测量效率、人为误差、操作便捷性、数据信息化等各方面的区别。

自动冲击试样缺口测量仪全自动冲击缺口测量仪，是根据广大用户的实际需求，根据GB/T229-2007《金属材料 夏比摆锤冲击试验方法》、ISO 148-1 2009《金属材料夏比摆锤冲击试验机 第1部分：试验方法》、ASTM E23，新研发的专用V2型U2型缺口加工检验的设备“自动冲击缺口测量仪”。利用特有光学图像技术将被测冲击试样缺口V2型U2型缺口图像采集，通过专用测量软件SMTMeasSystem_IG自动捕捉、自动判定，精确测量摆锤冲击V2、2U型缺口尺寸。设备特点1、 快速测量：一键测量，准确测量缺口角度、缺口深度、缺口底部半径、缺口底部高度、缺口对称面-试样纵轴夹角角度、冲击试样韧带宽度、试样宽度测量、试样长度测量、试样缺口对称面-端部测量、试样缺口对称面-试样纵轴测量、膨胀量测量、布氏压痕测量等；每分钟可测量80-180根试样；2、 采集光学系统：专用的光学采集系统，高精度识别能力；3、 自动判定自动捕捉边缘，自动测量，自动进行判定，显示误差值，判定依据可以根据GB、ISO、ASTM、企业标准或自动判断条件来对测量结果自动判定4、 报告格式可导入图片进行二次测量，用于仲裁或具有纷争的结果查询、二次测量；

枪炮弹速测量仪WKCS【简介】： 枪炮弹速测量仪WKCS的测量原理是在弹丸飞行路径的不同位置上安装激光束，当弹丸飞过时将依次遮断激光束，读出弹丸遮断激光束的时间，弹丸尾部脱离激光束时示波器也会给出相应的信号，可以得到弹丸尾部脱离激光束的时间差，再利用激光束之间的距离就可得到弹丸的平均速度。也可以利用电磁线圈实现，枪炮弹速测量仪WKCS主要有激光式和电磁线圈式两种。枪炮弹速测量仪WKCS【原理图】：枪炮弹速测量仪WKCS【技术指标】：序号名称参数1测速范围1 m/s～5000 m/s2相对测量误差≤1％3被测弹丸直径可根据用户实际情况确定（不能小于6mm）4被测弹丸弹头形状平顶、尖顶、圆顶5测试截面直径可根据用户实际情况确定6光网/光幕类型光网/光幕类型根据实际使用情况定枪炮弹速测量仪WKCS【应用领域】： 枪炮弹速测量仪WKCS 主要用于冲击波物理实验、弹道研究、武器装备的研制生产中。

PhenoGA植物表型分析测量仪系统Instrument for Measuring plant phenotype — Model PhenoGA一、用途基因型、表型和环境是遗传学研究的铁三角。表型（性状）是基因型和环境共同作用结果，而基因型与表型之间有着多重关系。研究者用测序和基因组重测序来评估等位基因差异定位数量性状等已变得很普遍，但其需大量性状数据来佐证。然而这类分析测量的结果受人员、工具和环境等的干扰很大，还会损伤到植物。高效、准确的万深PhenoGA植物表型分析测量仪实现了可视化的精确数据分析和表型测试，如测试对压力和环境因素的表型反应、生态毒理学测试或萌发测定、遗传育种研究、突变株筛选、植物形态建模、生长研究等。二、主要性能指标1、成像（1）双彩色相机：由顶视和侧视的超大变焦镜头自动对焦2400万像素以上的佳能EOS单反相机直连电脑获取植物顶视和侧视的RGB彩色图。（2）红外光双目3D相机：由顶部的主动红外光的双目3D相机（点云密度1024*1024像素）来获取植物冠层的3D景深伪彩色图和可转换视角的3D重建伪彩色图。（3）拍摄箱：外尺寸200cm高*120cm长*120cm宽，可成像分析植株高可达150cm、可测最大叶冠幅115cm*115cm。2、分析软件（1）常规分析：投影叶面积及其动态变化，外周长，外接圆直径及面积，拟合椭圆主副轴及偏角，凸包内径、面积及周长，植株高、宽，最小外接矩形长、宽，植株紧实度。（2）颜色分析：RGB、LAB颜色值，具有叶片颜色自动矫正特性，可按英国皇家园林协会RHS比色卡2015版来自动比色。可按指定颜色数进行聚类分割，并统计颜色分布及面积占比。（3）骨架分析：骨架长度，端点数（叶片数），分叉数（分枝数、分节数），茎叶夹角等。（4）玉米株形分析：叶片数，叶片长、宽，叶片弯曲度，叶片投影面积，茎秆分节数，分节长、粗，叶片颜色等，并可编辑。（5）生长分析：植株绝对生长、相对生长曲线，相对生长趋势。（6）根系分析：根长，根粗，根尖数等（要求根粗1mm）。（7）考种分析：种粒数，种粒面积，种粒长、宽（种粒直径2mm，不粘连），分析种子形态、果实外观品质、花形和花色。（8）其它：不同生长时期自动批量化处理分析，多植株网格分析，直线、角度等几何测量，各测量结果可编辑修正。3、数据报表（1）可接入条码枪来自动刷入样品编号，具有按条码标识跟踪分析的特性。（2）各项分析数据和标记图片可导出。三、标准配置1、万深PhenoGA植物表型分析测量仪软件U盘及软件锁1套2、超大变焦镜头自动对焦2400万像素以上的佳能EOS单反相机2套3、主动红外光的双目3D相机（深度相机+RGB相机）及适配器1套4、单反相机拍摄支架1套5、含光源的拍摄箱（200cm高*120cm长*120cm宽）1套6、叶色色彩矫正板+尺寸自动标定板及其座板 1套7、可承重25kg盆栽植株的升降台1付8、可承重25kg电动转台1套9、手持式条形码阅读器1付10、超薄背光灯板1付11、掌式便携小背光板1付12、品牌电脑（13代酷睿i5 CPU / 16G内存/ 512G硬盘以上 / 23”彩显/无线网卡，2个USB3.0和3个USB2.0口，运行环境Windows 10或11完整专业版）1台四、可选配硬件1、LA-S手机版叶面积分析软件，可用于野外的方便成像与分析叶面积。2、RootGA根系动态生长监测分析仪，以分析植株根系的胁迫响应等。

一．叶绿素测量仪用途植物养分测定仪可以即时无损测量植物的叶绿素相对含量（单位 SPAD）或绿色程度、氮含量、叶面湿度、叶面温度，从而了解植物真实的硝基需求量并且了解土壤硝基的缺乏程度或是否过多地施加了氮肥。可以通过此款仪器来增加氮肥的利用率，并可保护环境。可广泛应用于农林相关科研单位和高校对植物生理指标的研究和农业生产的指导。二．叶绿素测量仪技术指标1．检测项目：叶绿素含量、氮含量、叶面温度、叶面湿度2.测量范围 叶绿素：0.0-99.99SPAD 氮含量：0.0-99.99mg/g叶面湿度：0.0-99.9RH% 叶面温度：-10-99.9℃3．测量面积：2mm*3mm4．测量精度 叶绿素：±1.0 SPAD单位以内 (室温下，SPAD值介于0-50) 氮含量： ±5% 叶面湿度：±5% 叶面温度：±0.5℃5．重复性 叶绿素：±0.3 SPAD单位以内 (SPAD值介于0-50) 氮含量：±0.5mg/g 叶面湿度：±0.5RH% 叶面温度：±0.2℃6．叶绿素测量仪测量时间间隔：小于0.8秒7．数据存储：16GB 可根据用户需求进行分组存储8．电源：4.2V可充电锂电池9．电池容量：3000mah10．重量：230g11．工作及存储环境：-10℃~50℃ ≤85%相对湿度三．叶绿素测量仪功能特点1.快速无损植物活体检测，测量时只需将叶片插入即可，不需要采摘叶片，不影响作物正常生长，可以在作物生长过程中全程对叶片进行监测，从而得到更科学的分析结果2.测量精度高(精度：± 1.0 SPAD，重复性：±0.3 SPAD) ，，内置防强光干扰系统3.一次操作可同时测定所有参数，叶绿素、氮含量、叶面温度、叶面湿度四种参数同一屏幕同时显示，且可同时储存4.16GB大存储空间，数据可进行分组存储、查看、导出5.多功能USB接口，可实现数据导出与充电功能，可将仪器与电脑直接联机，数据导出无需上位机软件，还可选择使用内存卡直接导出数据，操作简单方便6.数据浏览：可在仪器上浏览、转存、清空历史数据7.GPS定位功能：可以实时显示卫星定位经纬度，明确当前检测位置。8.叶绿素测量仪器内置4G无线传输模块，支持野外环境实时上传数据，检测结果可直接传至专属云农业数据中心，分配企业专属云农业数据中心账户，该账户中心可查看不同检测人员的上传数据。9.云农业数据中心可按照任意时间段检索历史数据，可查看测量时间、叶绿素含量、氮含量、叶面温度、叶面湿度、GPS定位信息等数据，显示每种参数过程曲线趋势，最大值、最小值查看，放大、缩小功能，支持在线下载、EXCEL导出、分析、打印10.高对比度LCD显示屏，强光下也可清晰显示数据11.低功耗模式设计，内置大容量锂离子充电电池，具有防过充功能，节能环保并方便进行户外操作12.内置中英文双语显示，一键切换，无缝对接13.叶绿素测量仪标准配置： 主机、充电器、USB数据线、内存卡、读卡器、便携铝箱，合格证、说明书等叶绿素是植物进行光合作用的一种重要催化剂，它对植物吸收太阳能的过程中有着很重要的意义，叶绿素的含量不仅可以反映植物的生长发育状况、生理代谢水平及营养条件，还可作为环境生理研究的重要参考指标，然后我们就可以根据这些指标判断植物是否缺少营养，从而进行调整。因此，对其含量进行测定与分析一直是植物生理学研究的重点内容。叶绿素测量仪是一种用于测量植物或其他生物样品中叶绿素含量的仪器，该仪器具有高精度的测量能力，能够准确地测定样品中的叶绿素含量，误差通常小于2%。而且仪器本身体积小巧，操作简单，不需要特殊的培训和技能，适合广大用户使用，此外叶绿素测定仪还有以下特点：1、非破坏性测量：叶绿素测定仪使用非破坏性的光学方法进行测量，不需要直接接触或破坏样品，因此可以对样品进行多次测量或后续分析。2、高灵敏度：叶绿素测定仪能够以极高的灵敏度检测样品中的叶绿素含量。通过测量样品吸光度或荧光发射能量，可以准确地测量样品中叶绿素的浓度。3、快速测量：叶绿素测定仪具有快速测量的特点，可以在短时间内完成样品的测量。这使得它在实验室和野外研究中都非常实用，可以快速获取叶绿素含量的数据。4、多功能性：叶绿素测定仪通常具有多种测量模式和功能，可以测量不同类型的叶绿素（如叶绿素a、叶绿素b等），还可以进行其他相关参数的测量，如叶片光合速率、光合活性等。5、灵活性：叶绿素测定仪的设计通常具有较小的体积和重量，易于携带和操作。同时，它们通常具有用户友好的界面和数据处理软件，方便使用者进行数据管理和分析。叶绿素测量仪具有非破坏性、高灵敏度、快速测量、多功能性和灵活性等特点，该仪器的应用大大缩短了叶绿素含量测定的用时，提升了工作效率，而且避免了叶片采摘后叶绿素遇光、氧等因素降解的问题，测定结果更为准确，这些优点使其成为研究叶绿素含量和光合作用的重要工具。

中图仪器VX8000一键图像尺寸测量仪能一键测量二维平面尺寸测量，或是搭载光学非接触式测头实现高度尺寸、平面度等参数的精密快速测量。可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、钟表、刀具等领域。VX8000一键图像尺寸测量仪采用双远心高分辨率光学镜头，结合高精度图像分析算法，并融入一键闪测原理。CNC模式下，只需按下启动键，仪器即可根据工件的形状自动定位测量对象、匹配模板、测量评价、报表生成，真正实现一键式快速精准测量。产品优势传统测量仪器如投影仪、影像测量仪、工具显微镜、轮廓仪、游标卡尺、千分尺等，在测量时面临诸多问题，如：测量对象的定位、原点定位费时，批量测量操作时间长，不同测量人员导致测量结果不同，数据统计管理繁杂等。VX8000系列闪测仪将扫清传统测量仪器在检测方面的难题，其优势为：一键闪测，批量更快1.任意摆放产品，无需夹具定位，仪器自动识别，自动匹配模板，一键测量。2.最多可同时测量1024个部位。3.支持CAD图纸导入，一键自动匹配测量。4、CNC模式下，可快速精确地进行批量测量。 计算精准，稳定可靠1.高分辨率镜头和2000万高像素工业相机，1%亚像素图像处理，高精度算法分析。2.自动对焦，排除人为测量操作干扰，且重复聚焦一致性高。3.自动识别测量部位，每次都能获得统一稳定的测量结果。操作简单，轻松无忧1.任何人都能很快上手，无需复杂培训。2.简洁的操作界面，任何人都能轻松设定和测量。3.测量现场立即评价测量尺寸偏差，一键生成统计分析、检测结果报告等。功能丰富，自动报表1.提供多达80种提取分析工具和多种专用测量工具。2.自动输出SPC分析报告。3.具有强大的远程数据输出功能。软件测量功能1.量测工具：扫描提取边缘点、多段提取边缘点、圆形提取边缘点、椭圆提取、框选提取轮廓线、聚焦点、最近点等。2.可测几何量： 点、线、圆（圆心坐标、半径、直径）、圆弧、中心、角度、距、线宽、孔位、孔径、孔数、孔到孔的距离、孔到边的距离、弧线中心到孔的距离、弧线中心到边的距离、弧线高点到弧线高点的距离、交叉点到交叉点的距离等。3.构建特征：交点、中心点、极值点、端点、两点连线、平行线、垂线、切线、平分线、中心线、线段融合、半径画圆、三线内切圆、两线半径内切圆等。4.形位公差：直线度、圆度、轮廓度、位置度、平面度、对称度、垂直度、同心度、平行度等形位公差评定。5.坐标系：仪器坐标系、点线、两点 X、两线等工件坐标系；图像配准坐标系；可平移、旋转、手工调整坐标系。6.快速工具：R角、水平节距、圆周节距、筛网、槽孔、轮廓比对、弹簧、O型圈等特殊工具快速测量。7.支持公差批量设置、比例等级划分、颜色自定义管理。应用领域VX8000一键图像尺寸测量仪可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具等领域。部分技术规格型号VX8300图像传感器2000万像素CMOS受光镜头高分辨率双远心镜头测量视野广视野(mm)300×200（4角R50）高精度(mm)230×130高度测量 （选配）可测量范围（XY）120mm×110mm孔深比（h/φ）1.5测头光点直径Φ38μm卧式转台规格（选配）测量直径Φ60mmXY电动载物台X轴移动范围210mmY轴移动范围110mmZ轴移动范围75mm外形尺寸(L×W×H) mm531*503*731如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

万深PhenoGA-F田间作物表型分析测量仪Instrument for Measuring plant phenotype — Model PhenoGA-F一、用途基因型、表型和环境是遗传学研究的铁三角。表型（性状）是基因型和环境共同作用结果，而基因型与表型之间有着多重关系。研究者用测序和基因组重测序来评估等位基因差异定位数量性状等已变得很普遍，但其需大量性状数据来佐证。然而这类分析测量的结果受人员、工具和环境等的干扰很大，还会损伤到植物。高效、准确的万深PhenoGA植物表型分析测量仪实现了可视化的精确数据分析和表型测试，如测试对压力和环境因素的表型反应、生态毒理学测试或萌发测定、遗传育种研究、突变株筛选、植物形态建模、生长研究等。二、主要性能指标1、成像1、在明亮的田间环境下，由顶视的超大变焦镜头自动对焦2400万像素以上的佳能EOS单反相机直联电脑获取植物顶视的RGB彩色图。 2、拍摄分析范围120cm*80cm，可变焦调小视野至30cm*20cm，适合对各类作物在60cm高度内时的表型分析。2、分析软件（1）常规分析：分析投影外接圆直径及面积，外周长，拟合椭圆主副轴及偏角，凸包内径、面积及周长，植株宽，最小外接矩形长、宽，植株紧实度、茎叶夹角或分枝角，以及植株高（需另配测高仪）。（2）顶视的表型分析：叶冠直径、叶冠层面积、叶冠层占空比、叶片分布紧密度等，叶片数、叶片投影面积及其动态变化、投影叶片长，果实外观品质、花形和花色等。（3）颜色分析：RGB、LAB颜色值，具有叶片颜色自动矫正特性，可按英国皇家园林协会RHS比色卡2015版来自动比色。可按指定颜色数进行聚类分割，并统计颜色分布及面积占比。（4）生长分析：作物叶冠绝对生长、相对生长曲线，相对生长趋势。（5）其它：不同生长时期自动批量化处理分析，多植株网格分析，直线、角度等几何测量，各测量结果可编辑修正。3、数据报表（1）可接入条码枪来自动刷入样品编号，具有按条码标识跟踪分析的特性。 （2）各项分析数据和标记图片可导出。三、标准配置1、万深PhenoGA-F田间作物表型分析测量仪软件U盘及软件锁1套2、自动对焦2400万像素以上的佳能EOS单反相机1套3、折叠式田间表型拍摄架（重8kg以内）1套4、笔记本电脑放置桌1套5、叶色色彩矫正板1块6、尺寸自动标定板1块7、标定板升降支撑架1付8、手持式条形码阅读器1付9、掌式便携背光板1付10、测高仪（含激光测距仪、测距仪夹、手机固定夹、2米伸缩杆、横向标示杆及螺钉、反射垫、内六角扳手、便携黑筒、卷尺）1套12、强光遮挡用塑料布1张13、品牌笔记本电脑（12代以上酷睿i5 CPU / 16G内存/ 256G硬盘 / 14”彩显/无线网卡，Windows 10或11完整专业版）1台四、可选配硬件1、测高仪（含激光测距仪、测距仪夹、手机固定夹、2米伸缩杆、横向标示杆及螺钉、反射垫、内六角扳手、便携黑筒、卷尺）。2、红外热成像相机（分辨率 384*288像素，测温范围-20-150℃，测温精度为最大测温范围绝对值的±2%），以测定叶温和叶温分布。3、真正3D成像的手持式扫描仪，以获得植物真3D模型用于全方位视角存档观察。

1HTMJ-S1叶面积分析测量仪（高级）1.1用途：用于植物叶面积分析等。1.2HTMJ-S1叶面积分析测量仪主要技术指标1、配大景深的1200万像素拍摄仪、10000mAH的5V移动电源辅助背光源板，可野外背光照明3小时。标配的最大测量面积380*265mm，自动标定和自动图像校正。2、可拍照与分析一键化操作，同时分析多片叶的叶面积、周长，最大叶长、最大叶宽，矩形度，凹凸比，球状性，形状系数，虫洞数量，虫损和虫洞叶面积，以及单叶的叶孔洞、形状系数、锯齿数、叶柄长宽等参数，并标记叶片边缘以便核对正确性。3、可分析小至1mm ^2的叶片，分析误差＜0.5%、测量中的分析时间＜2秒，自动独立标记各叶片并可保存图，分析结果可输出至Excel表。4、可自动测定非相碰的稻谷、小麦、瓜子等普通种子的各粒粒长、粒宽、投影粒面积。 1.3标准配置1、叶面积分析仪系统软件U盘及软件锁1套2、1200万像素拍摄仪1台3、超薄背光灯板1套

精确实验室测量，直接显示色坐标Instrument Systems Optronik 系列的 CM 10 是用于测量各种光源的精确三刺激色度测量仪。它具有令人难忘的高信号动态范围，以及高达 600 klx 的宽测量范围。CM 10 的色度测量仪头包含四个硅光电二极管，这些二极管具有对 Xred、Xblue、Y 和 Z 三刺激函数的全玻璃滤光功能。因此校正十分精确。按一下按钮，读数就会通过不同的 CIE 坐标系显示出来。对于白光分析，用 K 计算修正色温。在其 Y 通道中，该仪器也以 lux 为单位显示读数。由于 Y 通道出色的 V-lambda 校正，它符合遵循 DIN 5032-7 (2017) 标准的 L 级光度计要求。CM 10 – 产品特长：测定 X-Y-Z (CIE-LAB)、x-y-Y (CIE-LAB)、u-v-Y (CIE-UCS 1960)、u’-v’-Y (CIE-UCS 1976) 坐标系中的色度值和关联色温 (K)六十多年来的宽测量范围；最大显示值 600 klx；最灵敏测量范围中的显示屏分辨率 0.1 mlx（适用于 Y 通道）通过 14 mm 光进入区的高空间分辨率（有利于角度测量）Y 通道中 V (λ) 对准 ≤ 1.5%；4 个带精密光电流放大器的硅光电二极管；恒温器稳定到 35°C非常适合高空间分辨率测量CM 10 可灵活用于各种应用（如独立测量站），并可与测角光度器或积分球配合使用，同时测定光通量和色坐标。此外，还可与标准光源 A 投影仪单元一起使用，用于根据 ECE R3 或 R 27 测定回复反射颜色。与其他三刺激色度测量仪相比，该探测器的光进入区仅为 14mm，因此特别适合重点测量高空间分辨率的应用，例如在分析沿车辆前灯明暗截止线的色差时。技术数据仪器参数 CM 10测量范围0.1 mlx (最敏感范围内的分辨率) – 600 klx光电二极管数量4, 校正到 X1, X2 (红), Y (绿) 和 Z (蓝)测量区域6测量范围选择自动V (λ) 校正f1‘ ≤ 1.5% (Y 通道内)准确性≤ 0.005（依据 GTB 光测准则）显示模式X-Y-Z (CIE-LAB), x-y-Y (CIE-LAB 1931), u-v-Y (CIE-UCS 1960), u‘-v‘-Y (CIE UCS 1976) 以及相关色温 K光入射区域Ø 14 mm详细测量条件请参看数据表及产品手册，或联系 Instrument Systems。 更多参数请参见数据表和产品手册。

NVC系列是我公司推出的一款性价比极高的自动光学影像量测仪，X/Y/Z轴采用CNC闭环控制系统，定位精度高，同时配合自行研发的全自动光学量测软件，通过鼠标或摇杆就可以实现所有量测功能，与手动相比操作更简单，批量检测效率更高。 产品特点1、三轴CNC控制系统(X/Y/Z闭环伺服控制系统)，定位精度高。 2、全鼠标或摇杆操作，简单易用。 3、可程控上下灯满足不同量测需求。 4、功能强大的全自动影像量测软件：编程、宏功能、阵列、导航、平移等。 技术参数具体型号NVC300NVC400(X/Y/Z轴)量测行程(mm)300*200*200400*300*200全机尺寸(mm)1000*600*16501100*720*1650机台底座和立柱材料高精度花岗石CCD700线彩色CCDX,Y轴线性精度（3.0+L/200）μm放大倍率Step Zoom光学放大率：0.7--4.5X，影像放大率：20--200X光学尺解析度1μm操作方式自动(摇杆、鼠标、编程)电源供给110/220V合适温度，湿度温度：18°--23°，湿度：45%--75%保修期1年 标配清单 序号名 称型号数量备注1机身NVC300\400机身1台2机台底座机台底座1台3电脑电脑1套4G内存/2G显存/1280GB固特硬盘 / Windows 操作系统4上下光LED光源1套5CCD彩色CCD1个700线彩色CCD6镜头镜头1组影像放大率：28--200X7软件测量软件1套8校正片校正片1块9黏土黏土1包10防尘罩NVC4001块11UPSD-1000块1、稳电压，提高设备寿命。2停可再待机30分钟。 三、软件功能与应用范围 （一）、影像系统测量功能：A、适用于WIN7 64位系统， 可切换成中文、英文等图形化界面。B、自动寻边功能：可设定感应灵敏度，避免人为视觉误差。C、LED程控可调上下双光源：为测量工件需要提供宽广多变的灯源选择系统。D、坐标系转换：（X，Y）笛卡尔坐标与极坐标（R，θ）系可方便选择。可即时转换量测值之基本单位mm、inch。E、理论几何要素特征值编辑功能。( 如圆，默认情况下有半径、圆心坐标、大半径、小半径、平均半径、面积、周长、同心（轴）度、真圆度输出，根据需要选择输出内容)。F、几何元素测量：点、直线、圆、椭圆、弧、矩形的手动测量； 点、直线、圆、椭圆、弧自动寻边测量，尽可能减小人为误差。G、复合几何元素测量及评定：点（找线中点、线与线交点、线与圆交点、圆与圆交点、点到圆的两个切点及两个非相交圆外切线交点）；距离（点到线距离、线与线距离、线到圆最短距、线到圆心距离、线到圆最长距、非相交圆的两圆心距）；线与线的角度；角平分线（如平行可来求对称线）。H、形状误差评定：直线度、平面度、真圆度。I、位置误差评定：平行度、垂直度、倾斜度、同心度、位置度。J、坐标变换：以测量要素为基准，实现坐标系平移、旋转等变换，建立工件坐标系。并将所有已测量的数据库中的数据自动的变换。工件坐标系统的存储与调用。Ｋ、编程功能：可快速编程，实现工件大批量，快速检测，同时具备SPC数据分析功能。L、对产品可以清晰的拍照并拼出完整图片，可以JPG或BMP的图片格式输出。 M、图形及测量结果可直接输入WORD、EXCEL或CAD，方便打印报表。可对工件进行精确二维抄数，并可将抄数资料输出DXF图档，对其进行比对、设计修改等。 （三）、使用范围：机械、航空、兵工、汽车、电子、电器、模具、光学、五金塑胶、五金、PCB板等行业的中的箱体、机架、齿轮、凸轮、蜗轮、蜗杆、叶片、曲线、曲面等的精密测量行业等。四、环境要求及保养注意事项 （一）环境要求：1、电源 ：220V±10％2、温度：为了使本量测仪在良好状况下可达到测量的精度标准。环境的温度应该保持在20℃±2℃,包括2℃/8hrs的温度梯度。在不良的环境条件下，精度标准可能无法达到。请不要在此外的环境温度下去调整机器精度。否则，无法确保本量测仪在20℃时的精度。3、湿度：湿度对测量精度没有直接不利的影响。然而，高湿度会使重要的机械表面生锈，阻碍平滑的轴向移动。环境湿度应该保持在55%至65%之间。4、振动：如果光学影像测量仪受到额外的周围振动，测量的精度将会变低。当频率小于10Hz，周围振动的振幅不应该超过2μm（峰-峰差值）；当频率在10Hz到50Hz之间，则加速度不应超过0.4Gal。如果振动超过这些限制，应该采用防振措施（例如安装振动阻尼器）。5、灰尘：精密的光学影像测量仪构成组件（例如光学尺），必须保证无灰尘。虽然防尘罩以防护影像测量仪免于灰尘，然而量测仪仍应定期清洁。 （二）保养注意事项：1．请勿将仪器置放于周边灰尘太多，振动太大，温度变化极大等不良之场所。2．投影幕镜面或计算机银幕沾上灰尘或油渍，请用干净棉纸擦拭，请勿用手触摸或以布沾水、油来擦拭。3、机身外壳：机身外壳遭污染时，并不会影响量测精度，但污染可能扩散至线性滑轨或量测平台等对量测精度有影响机身的其它部份，一但机身外壳遭污染时，请以软布擦拭。4、线性滑轨：线性滑轨为各种运动的基准，请定期涂覆黄油(三个月一次)。5、量测平台：在装卸工件时请小心勿伤及玻璃平台，因为它是量测之参考面，有时量测平台会附着水气及油雾层，请利用清洁剂清除污垢。6、光学尺：各轴之光学尺装有防尘盖和装在灰尘不易到达的地方，若计数产生误差请与本公司联络。 五、验收标准及售后服务：（一）验收交接：1、在用户现场调试后影像测量仪的验收方法：接受客户依据《中华人民共和国国家计量技术规范JJF1318-2012影像测量仪校准规范》来进行测量精度验收。2、以出厂检定记录、装箱单和合同为准，双方进行交接、清单验收。3、验收合格，双方代表在验收报告上签字。若有异议，协商解决。遗留问题可签署备忘录，以便服务解决。 （二）售后服务：1、在卖方网站免费提供相关软件的升级。2、卖方在收到买方调试或维修信息后,8小时内回复乙方,48小时内上门调试维修。3、在保质期内, 卖方负责给买方的操作人员进行免费操作使用及日常维护之教育训练,并且免费进行货物的安装调试。4、保质期内, 卖方负责免费维修货物各方面的存在的问题,如果维修未果则包换产生问题的货物零配件或软件,确保买方所购货物能达到条款二的要求。5、以上条款只在正常操作的原则下方为有效,人为不当操作或天然灾害造成之损坏不在保质期保质范围之内.　6、保质期是从验收之日起一年内有效。

精确、快速、便携应用领域：金属，复合材料，织物等材质表面的划痕，裂纹，磨损，刮擦、凹坑、凿击、腐蚀等表面缺陷的现场检测和分析；铆接，焊接，接缝等阶差和凹凸量的三维检测；三维面粗糙度测量分析；划窝孔，槽深，圆弧，倒角等几何尺寸测量； 测量原理：德国GFM公司基于激光条纹相位投影技术和DSP高速图像处理芯片研制的便携式三维光学表面划痕测量仪，用于现场表面质量特性的检测，具有测量速度快，测量准确，便携性等优点。 仪器特点：便携式现场检测大型零件表面划痕缺陷,阶差等表面几何特性参数；三维测量表面划痕缺陷，通过拓扑色差图直观检测出划痕缺陷最深的部位；专业的划痕测量分析软件，多种滤波方式：包含了多项式滤波，高斯滤波，均值滤波等，有效消除曲面轮廓，倾斜，噪音信号，毛刺，灰尘等因素对测量结果的影响；大倾角光路设计，以及蓝光LED光源，测量不受高反光曲面的影响；SDK软件包，开放仪器接口，可二次开发；仪器附件 测量范围X/Y/Z：13X8X5 mm测量示值误差： (2+L/1000)μm L单位μm深度方向分辨力：1um聚焦距离： 107mm测量扫描时间: 3秒；扫描点云：36万点/幅使用环境温度：5-40°C符合国标校准规范的计量校准溯源

NVE系列光学影像测量仪工作台采用大理石桌面，性能更加稳定，调光板程控设计方便操作，并新配有21寸液晶显示器，采用定格卡位镜头，结合软件在固定倍率下无需校正；在软件方面，采用半自动测量软件，功能更加强大，性价比高。 产品特点 1、花岗石工作台和立柱，机构永不变形。 2、镜头：定格卡位镜头，结合软件在固定倍率下无需线性校正。 3、随机附有自行研发的多用途校正片，不但可以进行教学演练还可以进行精度校正。 4、半自动测量软件。 技术参数　 具体型号NVE300(X/Y/Z轴)量测行程(mm)300*200*200全机尺寸(mm)1000*600*1650机身材料高精度花岗石CCD45万像素彩色Z轴线性精度**（3+L/150）μm、（3+L/200）μm（需加装探针模块）X,Y轴线性精度*（3+L/200）μm、（2.5+L/200）μm、（2+L/200）μm光学尺解析度*1 μm 、0.5μm、0.1 μm重复精度≤2μm镜头带卡位可连续变倍镜头放大倍率Step Zoom光学放大率：0.7--4.5X，影像放大率：28--180X光源底光与表面光均为LED冷光源，亮度可以连续可调操作方式手动机台承重30Kg测量输出结果格式WORD、EXCEL、TXT或CAD电源供给AC220V温度湿度要求温度：19°--24°，湿度：45%--75%保修期1年备注：*行首项为标配，后项均为选配；**行均为选配三、软件功能与应用范围 （一）、软件的主要功能：1、适用于WIN7 64位系统。 可切换成中文繁体、简体或英文图形化界面。2、对焦指示器功能：对不同试块的几何尺寸、轮廓及位置误差等的工序和终检检测时由计算机准确计算判定每次的对焦面，以保证变换焦距时测量高度或槽深测量精确度及重复性，提供彩色高画质影像。3、自动寻边功能：可设定感应灵敏度，避免人为视觉误差。4、LED可调可选择上下双光源：为测量工件需要提供宽广多变的灯源选择系统。5、半自动编程功能：作SPC分析功能时，按客户要求设定程序半自动循环测量出产品尺寸。6、坐标系转换：（X，Y）笛卡尔坐标与极坐标（R，θ）系可根据实际需要选择。可即时转换量测值之基本单位mm、inch。7、坐标变换：以测量要素为基准，实现坐标系平移、旋转等变换，建立工件坐标系。并将所有已测量的数据库中的数据自动的变换。工件坐标系统可存储与调用。8、几何元素测量及评定：点、直线、圆、椭圆、弧等基本几何元素的测量及评定。9、点、直线、圆、椭圆、弧的手动测量功能。10、点、直线、圆、椭圆、弧自动寻边功能，尽可能的减小人为误差。11、复合几何元素测量及评定：点（找线中点、线与线交点、线与圆交点、圆与圆交点、点到圆的两个切点及两个非相交圆外切线交点）；距离（点到线距离、线与线距离、线到圆心距离、非相交圆的两圆心距）；角度:(线与线的夹角)；角平分线（如平行可来求对称线）。12、形状误差评定：同心度、直线度、真圆度。13、位置误差评定：平行度、垂直度、倾斜度、位置度。14、测平面图形形心。15、理论几何要素特征值编辑功能。(如圆，默认情况下有半径、圆心坐标、大半径、小半径、平均半径、面积、周长、同心（轴）度、真圆度输出，根据需要选择输出内容)。16、辅助工具功能。框选窗口（局部放大功能）、最适合化窗口、框选删除、显示资料群组编号、显示十字线、切换坐标系等。17、对产品可以清晰的拍照，影像可以JPG或BMP的图片格式输出。18、图形及测量结果可直接输入WORD、EXCEL或CAD，方便打印报表。可对工件进行精确二维抄数，并可将抄数资料输出DXF图档，对其进行比对、设计修改等。 （二）、使用范围：机械、航空、兵工、汽车、电子、电器、模具、光学、五金、塑胶、PCB板等行业的中的箱体、机架、齿轮、凸轮、蜗轮、蜗杆、叶片、曲线、曲面等的精密测量行业等。 四、环境要求及保养注意事项 （一）环境要求： 1、电源 ：220V±10％2、温度：为了使本量测仪在良好状况下可达到测量的精度标准。环境的温度应该保持在20℃±2℃,包括2℃/8hrs的温度梯度。在不良的环境条件下，精度标准可能无法达到。请不要在此外的环境温度下去调整机器精度。否则，无法确保本量测仪在20℃时的精度。3、湿度：湿度对测量精度没有直接不利的影响。然而，高湿度会使重要的机械表面生锈，阻碍平滑的轴向移动。环境湿度应该保持在55%至65%之间。4、振动：如果光学影像测量仪受到额外的周围振动，测量的精度将会变低。当频率小于10Hz，周围振动的振幅不应该超过2μm（峰-峰差值）；当频率在10Hz到50Hz之间，则加速度不应超过0.4Gal。如果振动超过这些限制，应该采用防振措施（例如安装振动阻尼器）。5、灰尘：精密的光学影像测量仪构成组件（例如光学尺），必须保证无灰尘。虽然防尘罩以防护影像测量仪免于灰尘，然而量测仪仍应定期清洁。 （二）保养注意事项： 1、请勿将仪器置放于周边灰尘太多，振动太大，温度变化极大等不良之场所。2、投影幕镜面或计算机银幕沾上灰尘或油渍，请用干净棉纸擦拭，请勿用手触摸或以布沾水、油来擦拭。3、机身外壳：机身外壳遭污染时，并不会影响量测精度，但污染可能扩散至线性滑轨或量测平台等对量测精度有影响机身的其它部份，一但机身外壳遭污染时，请以软布擦拭。4、线性滑轨：线性滑轨为各种运动的基准，请定期涂覆黄油(三个月一次)。5、量测平台：在装卸工件时请小心勿伤及玻璃平台，因为它是量测之参考面，有时量测平台会附着水气及油雾层，请利用清洁剂清除污垢。6、光学尺：各轴之光学尺装有防尘盖和装在灰尘不易到达的地方，若计数产生误差请与本司联络。 五、验收标准及售后服务： （一）验收交接：1、在用户现场调试后的测量机验收方法，依据《中华人民共和国国家计量技术规范JJF1318-2011坐标测量机校准规范》执行。2、以检定纪录、装箱单和合同为准，双方交接、验收。3、验收合格，双方代表在验收报告上签字。若有异议，协商解决。遗留问题可签署备忘录，以便服务解决。 （二）售后服务： 1、在卖方网站免费提供相关软件的升级。2、卖方在收到买方调试或维修信息后,3小时内回复乙方,48小时内上门调试维修。3、在保质期内,卖方负责给买方的操作人员进行免费操作使用及日常维护之教育训练,并且免费进行货物的安装调试。4、保质期内,卖方负责免费维修货物各方面的存在的问题,如果维修未果则包换产生问题的货物零配件或软件,确保买方所购货物能达到条款三的要求。5、以上条款只在正常操作的原则下方为有效,人为不当操作或天然灾害造成之损坏不在保期保质范围之内。6、保质期是从验收合格之日起一年内有效。

CM1000叶绿素测量仪、叶绿素仪产地：美国CM1000叶绿素测量仪、叶绿素仪用途：测量植物体内的相对叶绿素含量，从而可以判断被测植物的生长状况以及健康状况。 CM1000叶绿素测量仪、叶绿素仪特点：体积小，携带方便实时液晶显示 操作简单易懂，反应时间短内置数据采集器（配合电脑使用）GPS/DGPS有GPS/DGPS时存储1350个数据；没有GPS/DGPS时可存储3250个数据 CM1000叶绿素测量仪、叶绿素仪功能：测量植物体内叶绿素的相对含量 CM1000叶绿素测量仪、叶绿素仪基本技术指标测量使用范围：植物叶片、草坪测量系统：反射700nm和840nm的光测量面积：圆锥形观察范围28.4-4575px最小距离：762.5px感应器件：4个光电二极管测量单位：相对叶绿素含量0-999测量间隔：2秒重 量：0.7 kg温度范围：0°-40°C精 度：±5%电 源：2节AAA电池可测3000个数据左右

塑料薄膜厚度测量仪随着塑料薄膜、拉伸缠绕膜、尼龙膜等包装材料的应用，食品保鲜膜等包装品也得到了大量应用。为了确保这些包装材料的厚度和品质，需要使用厚度测量仪器进行检测。本文将介绍一种厚度测量仪器的检测原理，该仪器采用机械接触式进行测量，能够准确地测量各种材料的厚度。 该厚度测量仪器由机械框架、测量头、驱动器、传感器和测量软件等组成。在测量过程中，测量头与被测材料接触，传感器会感知测量头与被测材料之间的距离，并将距离信号传输到测量软件中进行处理和计算。 该厚度测量仪器采用机械接触式进行测量，其检测原理是利用测量头与被测材料接触时，测量头受到被测材料的顶出力，该力会使测量头的位移发生变化。测量头位移的变化量与被测材料的厚度之间存在一定的关系，通过测量位移变化量就可以计算出被测材料的厚度。 具体来说，该厚度测量仪器在测量过程中，将测量头放置在被测材料的表面，并施加一定的压力，使测量头与被测材料紧密接触。当测量头向上移动时，由于被测材料顶出力的作用，测量头的位移将发生变化。该位移变化量通过传感器传输到测量软件中，测量软件根据位移变化量和机械框架的结构参数，计算出被测材料的厚度。 该厚度测量仪器能够准确地测量各种材料的厚度，如塑料薄膜、拉伸缠绕膜、尼龙膜等。同时，该仪器还可以用于食品保鲜膜等包装材料的厚度检测。由于该仪器采用机械接触式进行测量，其具有以下优点： 1、测量精度高：由于测量头与被测材料直接接触，能够更准确地感知被测材料的厚度变化。2、稳定性好：由于机械结构比较稳定可靠，因此测量的重复性和准确性都比较高。3、适用范围广：可以用于不同材料的厚度检测，如塑料薄膜、拉伸缠绕膜、尼龙膜等包装材料以及食品保鲜膜等。 技术参数 测量范围 0-2mm （其他量程可定制） 分辨率 0.1um 测量速度 10次/min（可调） 测量压力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张） 接触面积 50mm² （薄膜），200mm² （纸张） 注：薄膜、纸张任选一种 进样步矩 0 ～ 1300 mm(可调) 进样速度 0 ～ 120 mm/s(可调) 机器尺寸 450mm×340mm×390mm (长宽高) 重 量 23Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 80%,无凝露 试验环境 无震动，无电磁干扰 工作电源 220V 50Hz 塑料薄膜厚度测量仪 此为广告

光学三丰全自动影像测量仪QV302QUICK VISION图像测量系统的特点 Quick Vision系列产品可成为您测量系统的理想选择.它用途广乏,不仅能够实现完美的视像测量,还能够进行特定激光高度和形状测量以及接触式触发测头立体工件测量. l快速！清晰！简捷！ 快速聚焦，快速成像取得了快速测量的效果。简单的鼠标器操作，快速图像测量机可以精确地测量您的各种物体而无需接触。 l无接触测量的成像操作 清楚的成像阅读是通向精确测量的必由之路。QUICK VISION运用了拥有380,000个绘画素的高分辨力的CCD黑白摄像机。这样不仅增强了图像阅读的精确性，而且还可以对非常不鲜明的或非常小而且复杂的物体如IC前端构造那样的无法由常规的接触式的测量仪器进行测量的部件进行无接触式的图像测量。 l高精度和高速度测量 X/Y测量范围:400*400mm Z测量范围: 200mm 测量精度: (Apex) E1xy=(3.0+3L/1000)um E2xy=(4+4L/1000)um l 高精度，高分辨率光栅尺 三丰QUICK VISION图像测量系统采用高分辨率，高精度，低膨胀玻璃光栅尺作为各轴的基准，由三丰的Kiyohara ManufacturingDepartment地下实验室制造。 l多点自动聚焦功能 QUICK VISION系列采用多点聚焦系统，可自动根据测量点选择焦点。 此系列产品采用了3种类型的具有高重复精度和快速处理激光聚焦功能(选购件)的视像聚焦系统，实现了高精度非接触高度测量。 1．表面聚焦 视像聚焦系统可用于测量各种区域尺寸的高度，其优点在于，在塑料模具表面或加工表面上聚焦时不受表面粗糙度影响。 2．边缘聚焦 视像(边缘聚焦)系统确保能够在边缘位置聚焦。 3．式样聚焦 进行式样投影的式样聚焦系统即使在对比度很低的透明物体或镜面上也能实现清晰聚焦，可有效测量印刷电路板防护层或聚酰亚胺表面的厚度。3．激光自动聚焦（选购件）聚焦速度可达20mm/秒，最适于进行快速厚度测量。此系统可通过连接端口高度 等多点测量有效提高测量效率。 l要素间演算 2点间距离，2圆间距离，点一线距离，圆一点距离，2线的交点，圆一圆交点，圆一线交点，2线的交角，面一线交角，面一面交角，中点，中线演算等。 l座标系设定 原点，轴补正，轴交换，面补正，座标系设定等。 l几何偏差计算 真元度，真直度，平面度，平行度，直角度，倾斜度 l设计值照合机能 公差照合，位置度公差，实体公差，最小实体公差等。 l单击式工具排列 单击鼠标可自动设置工具的尺寸、方向和阈值。 l清除异常点 清除灰尘、毛刺、裂纹等异常点。可任意设置清除标准。 l将图像保存在文件 可将视像保存为TIFF格式文件。 并且能够调出和重新测量所保存的图像。