光强度探测器

仪器简介：DSR100系列探测器光谱响应度测量系统，是适应不断增长的材料科学对检测设备的需求而诞生的。它结合了北京卓立汉光仪器有限公司给多家科研单位定制的探测器光谱响应测量系统的特点和经验，采用国家标准计量方法进行测试，是光电探测器、器件、光电转换材料科研和检验的必备工具。技术参数：型号 DSR100UV-A DSR100UV-B DSR100IR-A DSR100IR-B波长范围 200~2500nm 1~14&mu m测试光斑\光斑模式 均匀平行光斑 汇聚光斑 均匀平行光斑 汇聚光斑尺寸 Ф2~20mm Ф0.3~3mm Ф2~20mm Ф0.3~3mm 光源 光源 氘灯/溴钨灯复合光源 溴钨灯/碳化硅复合光源光强稳定性 &le 0.8% &le 2%光源切换方式 软件自动切换 软件自动切换三光栅单色仪 光 谱分辨率 ＜0.1nm（435.8nm@1200g/mm光栅） ＜2.5nm (2615nm@75g/mm光栅)扫描间隔 最小可至0.005nm输出波长带宽 ＜5nm ＜10nm多级光谱滤除装置 根据波长自动选择滤光片，消除多级光谱杂散光 　光调制频率 4~400Hz数据采集装置灵敏度 锁相放大器 2nV；直流数据采集可选标准探测器 标准硅探测器 （标定200~1100nm） 标准热释电探测器（标定1~14mm）光谱响应度测量重复性* &le ± 1.5% &le ± 5%光路中心高 305mm仪器尺寸 1500mm× 1200mm× 560mm控制机柜 标准4U控制柜，含计算机主要特点：◆ 宽光谱范围（200~2500nm或1~14&mu m可选），适用面广宽光谱范围意味着适用于各种不同样品，如响应在日盲区的深紫外探测器、响应在可见光的太阳能电池、响应在近红外的光纤传感器、响应在中远红外的红外光电传感器，都可以在DSR100上测量光谱响应度。◆ 开机即用的Turnkey系统设计，维护简单系统采用替代法的测量原理，设计成开机即用的turnkey模式，用户不需要在实验前对系统进行复杂的调试，日常维护也十分简单。◆ 调制法测量技术，提升测量结果信噪比DSR100系统采用调制法测量技术。调制法是目前国家计量单位采用的标准方法，通过选频放大的技术，可以大幅度抑制杂散光或环境噪声对测量精度带来的负面影响。DSR100系统针对弱信号采集专门设计了独特的前置放大电路，同时采用高性能的锁相放大器进行调制法测量。锁相放大器测量灵敏度达到2nV，动态范围达到100dB。通过提高测量灵敏度并且抑制噪声，DSR100系统可以从背景噪声中提取非常微弱的光电探测器响应信号。◆ 全反射光路设计，优化光斑质量由于各种光电探测器的光谱响应范围不同，因此好的探测器光谱响应度测量系统应该是宽光谱范围的，这样才能具备较强的通用性。在宽光谱范围的光学设计中，采用反射式的光路设计要比透射式得到更高品质的光束质量和均匀光斑。在透射式的光学系统中，影响光束质量和光斑品质的重要因素是色差，色差源自于不同波长的单色光在光学材料中的折射率不同，波长范围越宽，色差越明显。而在反射式的光学系统中，由于根本不涉及折射，所以不存在色差的问题。因此采用反射式光路，成像质量大大优于透射式光路，从而可以得到更高均匀度的平行光斑，或者更小尺寸的汇聚光斑。◆ 高稳定性光源，降低背景噪声影响尽管采用调制法可以降低系统杂散光和背景噪声对测量的影响，但光源本身的波动依然无法消除。因此，在采用调制法的系统中，光源稳定性反而成为系统噪声的主要来源。DSR100采用高稳定性的光源来保证系统的高重复性。右图是典型的光源相对强度的稳定度测量数据。◆ 全自动测量流程1)自动化测量流程得到高重复性样品的重复定位精度很大程度上决定了测量重复性，电动平移台重复定位精度10um，远远高于手动样品定位2)自动化测量流程降低了操作人员的要求按软件文字提示即可正确操作系统进行测量，不需要对操作人员进行复杂的培训，特别适合工业客户做检测用3)自动化测量流程提高时间利用率系统在预设方案后即自动运行测量流程，可提高操作人员时间利用率◆ 大空间样品仓，四壁可拆卸，方便系统调试特别设计的四壁方便拆卸的样品仓，给实验人员足够大的空间进行样品安装和调试。同时，也能容纳一些特殊体积的探测器，比如液氮制冷的探测器、条纹变相管等。实验人员的可操作性大大增强。◆ 激光监视光路选项，CCD图像监控，可对极小面积的光电探测器进行精确定位◆ 标准测量软件，数据导出格式支持第三方软件DSR100系统的软件保存所有测试第一手原始数据，可供实验人员导出成txt、xls等常见格式的文档，以便后期分析处理。

仪器简介：人眼的光谱响应随着光强的变化而改变。人眼有两种特殊的光谱响应，根据进入人眼的光亮度对其进行定义。第一种光谱响应发生在通常白天照明环境下（photopic），即光强高于0.1Lux。第二种光谱响应发生在低光条件下(scotopic)，即光强介于0.0001-0.001 Lux之间。光强小于0.0001 Lux 的光强很难被人眼发觉。人眼从明视响应到暗视响应的偏移叫做Purkinje Shift。对用于固化工业的闪光灯而言，该探测器是理想的测试工具。闪光灯的峰值强度远高于连续光源。PMA2135探测器捕获峰值强度并每五秒钟在PMA2100上显示。除了峰值强度，PMA2135积分并保存一个单脉冲剂量。辐射峰值强度以mW/cm2 或 W/cm2显示。全刻度由客户在订货时指定。剂量全刻度为mJ/cm2 或 J/cm2。光电探测器有0.474平方英寸的有效面积。聚四氟乙烯半球明视探测器具有极好的余弦响应，这就可以实现对点或长光源的精确测量。技术参数：光谱响应 遵循CIE 明视光谱发光效率曲线(400-700nm) Figure 1 （适光效率和探测器响应）角响应 5% for angles 范围 由用户指定 - W/cm2 or mW/cm2 J/cm2 or mJ/cm2显示分辨率 Range/104 mW/cm2 or W/cm2 Range/104 mJ/cm2 or J/cm2 操作环境 15 to 140 °F (-10 to +60 °C) no precipitation 电缆 3ft. 直径 1.6" (40.6 mm) 高度 1.8" (45.8 mm) 重量 10 oz. (284 grams)主要特点：捕获峰值辐照度以及有效能量 辐射单位显示卓越的长期稳定性 余弦修正 NIST 可溯源校准

PMA 2131暗视觉照度探测器PMA2131是一款具备CIE暗视光谱响应的，便携式的照度探测器（Lux探测器）。该探测器设计具备人类眼睛在暗适应区域的光谱响应。 特点 l 高灵敏性l 宽动态范围l 卓越的长期稳定性l 余弦校正l NIST 可溯源校准l 可选单位显示应用l 弱光测试l 夜视技术l 显示和照明设备测试l 冷光和荧光l 摄影和电影制作l 临床研究人眼的光谱灵敏度随着光强度变化而变化。人眼具备两种截然不同的光谱灵敏度，他们根据进入人眼的光亮度定义。第一种人眼光谱灵敏度发生在典型的日光照明条件，定义为光强高于0.1Lux。 第二种光谱灵敏度定义为在弱光条件下及光强在0.0001-0.01Lux之间。人眼感知不到低于0.0001Lux的光强。人眼对于从明视响应到暗视响应的改变称为Purkinje shift。暗视光谱发光效率曲线峰值在507nm，并在该波长规定为1。 对于光的亮度感知能力描述为lumen[lm]，类似于功率单位。有效Watts和暗视lumen 之间的关系假定为 1754 lm/W。 例如, 507-nm 单色辐射通量0.0001W 相当于暗视流明通量0.1754 lm。请注意， 明视光谱流明有效性即Watts和明视流明转换因数，不同于暗视光谱。 技术参数l 光谱响应 符合CIE 暗视光谱发光效率曲线 (400-600nm) Figure 1 l 角响应 5% for angles 60° l 范围 200,000 scotopic mLux, 20,000 mft-cd, 120,000 μW/m2 l 显示分辨率 1 mLux， 0.1 mft-cd ，1 μW/m2 l 操作环境 32 to 120 °F (0 to +50 °C) no precipitation l 数据线 1ft, retractable to 5ft (0.3m/1.5m) l 直径 1.6" (40.6 mm) l 高度 1.8" (45.8 mm) l 重量 7.1 oz. (200 grams)

单光子计数模块|硅APD探测模块SPDSi|Si-APD单光子探测器 单光子计数模块SPDSi是基于Si-APD的超灵敏光电探测器。探测波段覆盖200 -1060 nm，可工作在线性模式和盖革模式。盖革模式下增益超过60 dB。SPDSi特有的高性能主动抑制电路，可以实现连续的单光子探测，并且可加载任意宽度和周期的探测门。该电路实现了大于20 dB的雪崩抑制，从而将Si APD的性能发挥到最佳状态。在700 nm波段的探测效率超过60%，暗计数200-2000 cps，死时间小于50 ns。SPDSi标准型号的有效光敏探测面积最高可达500 um，单光子计数信号在模块内部转化为数字TTL信号，并通过SMA接口送出。高度集成的模块化设计便于OEM应用和工业集成。APD通过模块内部制冷工作在-20 ℃的低温环境下，以获得最佳的信噪比。制冷模块由高效的TEC控制。控制精度可达±0.2 ℃。技术特点： 高探测效率：65%@700 nm500 um光敏面积TTL数字信号输出低暗计数低后脉冲低时间抖动 应用领域： 荧光测量 激光测距量子通信 光谱测量光子关联 自适应光学 Fig1. 量子效率 Fig2. Si单光子探测器 Fig3. Si单光子探测器结构图 产品参数：参数规格 参数值单位供电电压*122 -28V供电电流0.5A光谱响应范围200 ----1060nm探测效率@200 nm@700 nm@850 nm@1060 nm 265453%暗计数200 -2000cps死时间50ns后脉冲3 - 8%时间抖动300 - 500ps饱和计数率*210Mcps光敏面积500umAPD制冷温度-20℃工作温度-15 - +50℃输出信号电平LVTTL 输出信号脉宽530ns门脉冲输入电平Disable=LVTTL lowEnable=LVTTL high 0-0.42 -3.3V产品说明：1.不正确的电压可能损坏模块，应保证接入电源不高于28V，并可提供足够电流。2.APD属于高灵敏光电探测器件，在雪崩状态下应控制输入光信号强度，过高的光强可能损坏APD，这种损害可能降低APD的探测灵敏度，严重时甚至会造成二极管击穿。3.在特殊的应用场景下，应保证模块的工作温度不超过50 ℃，过高的温度可能导致APD工作温度上升，从而引起暗计数水平升高。4.SPDSi的默认死时间为50ns。死时间设定会影响模块的最大计数率，当死时间设定在50ns时，最大计数率为10Mcps，如您的应用对死时间设定有特别要求，请在订购时与我们联系。5.同样，输出信号的脉宽也会影响最大计数率，典型脉宽为30 ns，如您的应用对输出信号有特别要求，请在订购时与我们联系。6.SPDSi支持空间和光纤接口接入。单光子探测器选型：

仪器简介：PMA2133是一款符合CIE适光光谱响应的便携式亮度探测器。该探测器的光谱响应类似于人眼对适光区域的视觉响应。适光光谱发光效率曲线峰值在555nm，并在该波长规格化为1。亮度就是在一个特定照射方向每单位面积的发光强度。亮度的标准单位为cd/m2(烛光每平方米)，另外一个通常用到的亮度单位是fL(英尺-朗伯)，1 fL = 3.426 cd/m2。技术参数：光谱响应 遵循CIE 明视光谱照明效率曲线(400-700nm) Figure 1 视场角 8° 范围 0 - 6,800 cd/m2 0 - 2,000 fL 显示分辨率 0.01 cd/m2 or 0.01 fL 操作环境 32 to 120 °F (0 to +50 °C) 电缆 5'.(1.5 m) 直径 1.6" (40.6 mm) 高度 3.2" (81.3 mm) 重量 3.9 oz. (110 grams) 主要特点：PMA2133依据适光光效率曲线来对亮度进行测量。特点高灵敏度 宽动态范围 卓越的长期稳定性 余弦修正 NIST 可溯源校准 应用CRTs质量控制 显示器检测

PMA 2130明视照度探测器PMA2130是一款具备CIE明视光谱响应的，便携式的照度探测器（Lux探测器）。该探测器设计具备人类眼睛在明视区域的光谱响应。 特点 l 高灵敏性l 宽动态范围l 卓越的长期稳定性l 余弦校正l NIST 可溯源校准l 可选单位显示应用l 环境监测l 工业及实验室安全l 工业及住宅照明l 艺术品及博物馆维护l 摄影和电影制作l 临床研究人眼的光谱灵敏度随着光强度变化而变化。人眼具备两种截然不同的光谱灵敏度，他们根据进入人眼的光亮度定义。第一种人眼光谱灵敏度发生在典型的日光照明条件，定义为光强高于0.1Lux。 第二种光谱灵敏度定义为在弱光条件下及光强在0.0001-0.01Lux之间。人眼感知不到低于0.0001Lux的光强。人眼对于从明视响应到暗视响应的改变称为Purkinje shift。明视光谱发光效率曲线峰值在555nm，并在该波长规定为1。对于光的亮度感知能力描述为lumen[lm]，类似于功率单位。有效Watts和lumen 之间的关系在20世纪变化了多次，现在假定为 683 lm/W。 例如, 555-nm 单色辐射通量1W 相当于暗视流明通量1 lm。请注意， 明视光谱流明有效性即Watts和明视流明转换因数，不同于暗视光谱。 照度是受光照射得表面上任意一点单位面积上的通光量，通常用以下单位表示:1 lumen/cm2 = 1 phot (ph)1 lumen/ft2 = 1 foot-candle (ft-cd)1 lumen/m2 = 1 lux (lx)with ft-cd and lux dominating in the field. PMA2130 探测器光谱响应技术规格:光谱响应: Follows CIE photopic spectral luminous efficiency curve (400-700nm) Figure 1 角响应: 5% for angles 60° 范围: PMA2130 - 150,000 Lux, 220 W/m2, 14,000 ft-cd PMA2130L - 1,500 Lux, 2.2 W/m2, 140 ft-cd PMA2130H - 1,500,000 Lux, 2200 W/m2, 140,000 ft-cd PMA2130D – 200ft-cd显示分辨率: PMA2130 - 1 Lux, 0.001 W/m2, 0.1 ft-cd PMA2130L - 0.01 Lux, 0.00001 W/m2, 0.001ft-cd PMA2130H - 10 Lux, 0.01 W/m2, 1 ft-cd PMA2130D - 0.001 ft-cd操作环境: 32 to 120 °F (0 to +50 °C) no precipitation 数据线: 1ft, retractable to 5ft (0.3m/1.5m) 直径: 1.6" (40.6 mm) 高度: 1.8" (45.8 mm) 重量: 7.1 oz. (200 grams)

PMA2133亮度探测器PMA2133依据适光发光效率曲线来对亮度进行测量。特点高灵敏度宽动态范围卓越的长期稳定性余弦修正NIST 可溯源校准应用CRT质量控制显示器检测 PMA2133是一款符合CIE视觉响应光谱的便携式亮度探测器。该探测器的光谱响应类似于人眼对可视区域的视觉响应。视觉光谱发光效率曲线峰值在555nm，并在该波长规格化为1。亮度就是在一个特定照射方向每单位面积的发光强度。亮度的标准单位为cd/m2(烛光每平方米)，另外一个通常用到的亮度单位是fL(英尺-朗伯)，1 fL = 3.426 cd/m2。技术规范:光谱响应 遵循CIE 明视光谱照明效率曲线(400-700nm) Figure 1 视场角 8° 范围 0 - 6,800 cd/m2 0 - 2,000 fL 显示分辨率 0.01 cd/m2 or 0.01 fL 操作环境 32 to 120 °F (0 to +50 °C) 电缆 5' .(1.5 m) 直径 1.6" (40.6 mm) 高度 3.2" (81.3 mm) 重量 3.9 oz. (110 grams)

探测器Thorlabs提供一系列光学探测器产品，能够探测整个紫外、可见、近红外、红外以及太赫兹光谱区域内的光源。根据所选择的传感器可以测量不同参数，如强度、功率、强度分布、波前形状、能量和波长。未安装的光电二极管 校准过的光电二极管 已安装的无偏压的光电二极管 带尾纤的光电二极管 偏压探测器 放大探测器 位置传感探测器 积分球 平衡放大探测器 单光子计数器 光电倍增管模块 多通道光电倍增管模块 雪崩探测器 光纤耦合PMT模块 太赫兹 CCD / CMOS Cameras 光电二极管放大器 激光观察卡 光电二极管 Related Products 概述 Thorlabs提供一系列分立光电二极管和经过校准的光电二极管。其中包括铟镓砷（InGaAs）光电二极管，磷化镓 （GaP）光电二极管，硅（Si）光电二极管， 和锗（Ge）光电二极管。我们也提供一些专用的光电二极管。例如DSD2双波段光电二极管，它在一个包装内同时提供硅光电二极管和铟砷化镓光电二极管，两者结合起来可以达到400到1700纳米的波长范围。FGA20是一个具有高响应率的铟镓砷光电二极管，波长范围从1200到2600纳米，能够探测到的波长范围比典型的铟镓砷光电二极管的1800纳米要高。我们也提供FGAP71，它是一种磷化镓（GaP）光电二极管，它的波长范围是我们所提供的光电二极管中最短的，从150纳米到550纳米。已校准的光电二极管 Related Products 概述 Thorlabs公司提供5种NIST可追溯校准的光电二极管，有库存随时发货，包括一种铟镓砷（InGaAs）、两种硅（Si）和两种锗（Ge）光电二极管。校准特性：在光电二极管的整个光谱范围内，每隔10纳米测量响应度测量不确定度± 5%NIST可追溯每个光电二极管都附带响应度与波长的关系的数据表和图。不同批次的光电二极管之间的响应度不一样。因此，您收到的光电二极管的响应也许与下面描述的会有轻微的差异，但是仍将附带有校准数据。右图显示了不同FDS1010光电二极管之间的响应特性有多显著。这些数据是从104个光电二极管中采集的。在每个数据点都计算了最小、平均和最大响应度，并给出了曲线。 点击放大已封装的光电二极管 Related Products 概述 SM05PD和SM1PD系列光电二极管包含安装在方便的SM05（Ø 0.535英寸-40）和SM1（Ø 1.035英寸-40）外螺纹套管的铟镓砷、锗、硅或磷化镓光电二极管。光电二极管的电信号输出是通过一个能快速连接到测量电路上的标准SMA接头（SM05PD系列）或BNC接头（SM1PD系列）提供的。该光电二极管可分为A型（阴极接地）或B型（阳极接地）布置。所有的型号都是测量脉冲和CW光源的理想选择。主体上的绝缘外螺纹能使这些光电二极管与Thorlabs公司的所有SM05和SM1安装适配器兼容。 带尾纤光电二极管 Related Products 概述 特性适用于610-770纳米和780-970纳米的单模型号多模型号高速宽带特性低偏置电压增强型光纤典型应用光通信高速光度测定监测Thorlabs 的FDSP系列带尾纤光电二极管是高速带尾纤硅PIN光电二极管，设计用于可见到近红外范围的光探测。这些光电二极管具有在低偏置电压下的宽带特性，是光通信、高速光度测定和监测等应用的理想选择。FDSP系列的外壳为不锈钢套管，用来实现光纤到光电二极管的主动耦合。光纤用一个900微米的松套管外保护和橡胶护套进行强化，以便于减少光纤的弯曲应力。 提供两种型号的单模光纤和一种型号的多模光纤：FDSP780 Nufern的780-HP单模光纤，780-970纳米，芯径5微米，数值孔径0.13FDSP660 Nufern的630-HP，单模光纤，610-770纳米，芯径4微米，数值孔径0.13FDSP625 梯度折射率多模光纤，320-1000纳米，芯径62.5微米，数值孔径0.27单模光纤的型号设计用于低背反射，同时单模光纤也能抑制模式干扰（也称为MPI－多路径干扰），是基于光纤的干涉仪的信号探测中的基本组件。根据需要，可提供带工业标准光纤接头的连接。偏压探测器该页面是我们的各种偏压探测器。我们提供自由空间型和光纤耦合型两种类型。可通过转接件将光纤和自由空间探测器耦合起来。偏压探测器 光纤耦合探测器 放大探测器Thorlabs提供一系列自由空间型和光纤耦合型放大探测器。此外，光纤转接件可用于本公司的自由空间探测器，以获得更多的功能和灵活性。放大探测器 飞瓦光电探测器 TEC HgCdTe 探测器 光纤耦合探测器 Menlo Systems快速PIN光电探测器 雪崩探测器 位置传感器 Related Products 横向效应位置传感器概述 特性2D横向效应位置传感探测器对光斑形状和功率密度不敏感SM05镜筒兼容结构紧凑Item #PDP90AWavelength Range320 to 1100 nmResolution, @ 635 nm0.68 µ m @ 100 µ W,6.8 µ m @ 10 µ WNoise2.25 µ mpp, 340 nmrmsRecommended Spot SizeØ 0.2 &ndash 7 mm PDP90A位置传感器利用针垫横向传感器来精确测量入射光与校准中心之间的位移。这些器件适用于测量光线的移动，传播的距离或者作为对准系统的反馈。 大的探测表面允许光束直径9毫米，然而，我们推荐光束直径范围在0.2到7 毫米。与象限传感器需要所有象限均有覆盖不同，横向传感器可以提供在探测区域内任何点的位置信息，与光斑形状，尺寸和能量分布无关。PDP90A的噪声很小2毫伏峰峰值（300微伏有效电压），对应的探测误差为0.675微伏有效电压。分辨率与输入光功率直接相关，表示为以下方程，这里，&Delta R是分辨率，Lx是探测器长度，9毫米，en是输出噪声电压，300微伏有效电压，Vo是总输出电压水平，4伏特最大值因此，对于最高功率水平，分辨率将达到0.675微米。更多详细技术信息参见技术信息标签。每个PDP90A象限探测器与一个8-32到M4适配器一同包装，提供与英制或者公制安装接杆的兼容性。 下表中阴影区域显示最小和最大输入光强水平与波长的关系。确保输入光功率与最大水平接近来获得最佳的分辨率和噪声系数。超过最大水平传感器将饱和，结果将会有误差。 积分球Thorlabs提供已定标的（NIST标定）和未标定的积分球。已定标的积分球有一个接口，能连接自由空间光源或光纤光源。它能与本公司的所有C系列接头的功率计兼容。未定标的积分球有三到四个接口，这些接口可以连接多种探测器和输入转接件。多端口积分球 校准的积分球功率传感器 平衡探测器这里介绍了Thorlabs的平衡探测器。根据这个模型，硅或者InGaAs探测器可以用于320-1000纳米、800-1700纳米或者1270-1350纳米范围内。偏振非敏感平衡探测器 偏振相关平衡探测器 带高速输出监测的平衡放大光电探测器 平衡放大探测器 单光子计数器 Related Products 概述 Item #SPCM20ASPCM20A/MSPCM50ASPCM50A/MDetector TypeSi Avalanche PhotodetectorWavelength Range350 - 900 nmActive Detector Diameter20 µ m50 µ mTypical Max Responsivity35% @ 500 nmDark Count Rate Typical60 Hz Max (25 Hz Typical)200 Hz Max(150 Hz Typical)Max Count Rate *28 MHz22 MHz* 对于脉冲光特点低暗计数 SPCM20A(/M): 25赫兹 (常规值)SPCM50A(/M): 150赫兹(常规值l)两种探头面积 SPCM20A(/M): Ø 20微米 有效面积SPCM50A(/M): Ø 50微米 有效面积有源抑制温度稳定USB接口脉冲输出TTL 开启/触发 输入体积小: 68毫米x 85毫米x 25毫米应用单分子的光谱学研究光谱-光度计测量流式细胞计光子相关谱法激光雷达图 1: 光子探测几率作为其波长的函数如图显示。SPCM仅在白框区域内对光子有感应。Thorlabs的光子计数器模块使用雪崩硅光电二极管探测单光子。SPCM计数器对发出的光子在350至900纳米范围内敏感，最高灵敏度在500纳米（见图1）。其工作原理是用光电探头将接收的光子转换成一个TTL脉冲，然后由内部的31位计数器计数。另有一个额外的USB接头可直接输出脉冲信号，可以输出到示波器查看或连接到外部计数器模块。这个光子计数器的功能的详细信息，请参阅&ldquo 教程&rdquo 选项。用一个集成的Peltier元件来稳定二极管的温度，使之降低到环境温度以下，那么低暗计数率也就降低了。有两种型号供选择，SPCM20A 和 SPCM50A，其典型的低暗计数率分别为25赫兹和150赫兹，能够探测到的功率低至0.4飞瓦。SPCM中的二极管集成了有源抑制电路，从而能获得高计数率。它的高速性能让用户每35-45 ns计数一个光子，取决于不同的型号。 SPCM20A提供的有效探测面积为Ø 20微米，而SPCM50A为Ø 50微米。软件SPCM包括一个GUI 软件包来进行暗箱操作。以下操作模式可以通过软件设置：手动模式 用于手动操作自由运行时间计数器用于计数一定&ldquo 时间块长度&rdquo 内的入射光子数量外部触发时间计数器用于触发时间器开始计算一定周期内的入射光子数量外部触发计数器通过一个外部触发来开启或关闭计数器外部启动 用于外部激活计数器和 雪崩光电二极管如需获得更多关于软件和它的操作方法的信息，请见&ldquo 软件 &rdquo 选项光电倍增管模块 Related Products 概述 特性提供两种光谱范围：280&ndash 630纳米，或280&ndash 850纳米端窗型光电倍增管结构静电和磁屏蔽转换增益：阳极电流1伏/微安圆形打拿极链配置外壳有SM1螺纹外壳有4个螺纹孔，用于ER系列笼式支杆可以三种不同方式接杆安装附带120和230伏插接适配器的电源SMA输出无需高压电源需要可变（0-1.8伏直流）电源（不包括）Thorlabs提供两种光电倍增管模块，结合了一个端窗型光电倍增管（PMT），外壳，以及高增益、直流耦合的跨阻抗放大器：PMM01用于280 &ndash 630纳米光谱范围，PMM02用于280 &ndash 850纳米光谱范围。PMM01具有一个半透明的双碱光电阴极，与PMM02（点击规格标签了解详细信息）相比，它具有更高的增益，&lambda 500纳米时更高的量子效率，和更低的暗电流，但是它适用的光谱范围较窄。由于灵敏度与最常用的闪烁体材料非常匹配，双碱光电阴极在闪烁光探测方面具有广泛应用。相比之下，PMM02具有半透明的多碱（S20型）光电阴极，具有&lambda 500纳米时更高的量子效率，和更宽的光谱范围。多碱光电阴极常用于宽带分光光度计和光子计数应用。Thorlabs的PMT模块具有内置高压电路，消除了PMT运行时通常对外部高压电源的需要。通过将高压电路加入PMT模块，Thorlabs的PMT降低了成本和设备的大小，以及触电的风险。此外，该PMT模块由± 12伏直流电源（包括120伏和230伏插接适配器）和0&ndash 1.8伏的可变直流电源（不包括在内）供电。两种模块都配备有3个8-32螺纹，可在不同方向接杆安装。附带1个公制兼容的AS4M8E（8-32至M4）适配器。此外，在该模块的正面有4个4-40螺纹孔，使其与我们的30毫米笼式共轴系统 （点击笼式兼容性标签了解更多信息）兼容。这些部件与PMT孔径上的保护盖一起发货。一旦去除保护盖，该模块带有的SM1兼容内孔，可与我们一系列的SM1透镜套管兼容。因此，成像光学元件和滤光片可便捷地安装并位于PMT光电阴极的中心。此外，使用透镜管可阻止杂散光和散射光到达探测器，这对探测弱光或噪声信号非常有利。光电倍增管模块 Related Products 概述 特性极其适合用于激光扫描显微应用兼容Thorlabs公司的激光扫描必备套件光电倍增管模块可以扩展到最多8个通道附带双通道模块 两个多碱光电倍增管可替换荧光滤光片立方SM1螺纹光电倍增管安装座用于安装滤光片模块我们还提供单体多碱光电倍增管宽带光谱响应：185 - 900纳米 点击了解详情 Thorlabs公司的光电倍增管（PMT）模块设计使成像系统，如我们的激光扫描必备套件，更容易集成PMT探测功能。PMTSS2双通道PMT模块包含两个多碱标准灵敏度的PMT、一个DFMT1滤光片立方插件、和一个底座。该模块中的两个多碱PMT能够进行高效探测，并具有185 -900纳米的宽带光谱响应范围。模块的底座装备有一个MDFB滤光片立方和一些插槽，这些插槽可以用来安装英制或公制光学平台、面包板的配件。其滤光片模块的输入端口带有SM1（1.035英寸-40）螺纹，可以直接兼容Thorlabs公司的各种SM1透镜套筒和光纤准直适配器。PMT已经经过准直，可以和附带的滤光片立方插件配合使用，该滤光片立方插件可以轻松替换进行分色镜/发射滤光套件。通过购买额外的单通道附加模块（PMTSS2-SCM），该双通道PMT模块可以最多被扩展为8个探测通道。这些PMT模块在我们的C共聚焦激光扫描显微系统中有专题介绍。对于只需要购买PMT的用户，我们提供不带滤光片模块和底座的PMTSS系列的多碱PMT探测器。该探测器带有C安装座内螺纹，可以直接兼容常用显微镜相机接口。这些PMT探测器附带一根电源线，用于连接用户自备的± 15伏电压和0.25 - 1伏的增益控制。探测器数据输出则由BNC接头输出。将一个PMTSS2双通道模块与额外的PMTSS2-SCM单通道模块相结合可以实现三通道探测。附带的滤光片模块可以实现荧光滤光片套件的简易插入和替换。雪崩探测器Thorlabs提供两种雪崩探测器。第一种是由Thorlabs的合作公司Menlo系统设计和制造的，该探测器能探测最高1GHz频率的信号。第二种是由本公司自己设计和制造的。两种探测器的探测波长范围从400纳米到1700纳米可选。Menlo Systems雪崩探测器 雪崩探测器 用于共聚焦荧光成像的光电倍增管 Related Products 概述 特性设计用于VCM-F共聚焦基础系统有单PMT和双PMT单元可供选择低噪声高灵敏度的镓砷磷PMT或标准灵敏度的多碱PMT选项光谱响应 300-720纳米，高灵敏度型号185-900纳米，标准灵敏度型号软件控制在附带的三种发射滤光片之间选择 带通：440 ± 40纳米带通：525 ± 50纳米长通：600纳米 Thorlabs提供两种不同的光电倍增管（PMT）单元，用于VCM-F共聚焦基础系统。PCU2A包含两个宽带，标准灵敏度的PMT模块。 PCUxB系列包含一个（PCU1B）或者两个（PCU2B）高灵敏度低噪声PMT模块（详细信息请看表格）。双PMT单元（PCU2A或者PCU2B）是使用基于VCM-F共聚焦基础系统进行多通道荧光成像的理想选择，因为它们可用ThorVCM软件完全控制。每个双PMT单元标配三种发射滤光片，能通过软件控制进行选择。用户可以在440/40带通滤光片和525/50带通滤光片之间，或者525/50带通滤光片和600纳米长通滤光片之间切换。需要其他发射滤光片，请联系我们的技术支持询问具体信息和价格。太赫兹该指南介绍了Thorlabs的太赫兹系列产品。我们目前提供的产品有THz天线/接收器安装座、THz天线和THz套件。太赫兹套装 太赫兹天线 太赫兹接收器安装座 CCD/CMOS相机Thorlabs提供一系列结构紧凑的CCD和CMOS面阵列相机，以及CCD线阵列相机。我们的CCD面阵列相机属于高端设备，提供外部触发输入。而对于不需要外部触发的应用，我们的CMOS相机是高性价比的替代方案。CCD和CMOS面阵列相机都有黑白或者彩色版本。这些相机与Thorlabs的MVL系列C接口相机镜头兼容。CCD线阵列相机提供外部触发输入，可用于自制光谱仪等应用中。CMOS相机，C形安装 CCD相机，C形安装 线性CCD相机 C形安装相机镜头 台式光电二极管放大器 Related Products 概述 特性阻抗光电流放大器整个动态范围内噪声极低分辨率高达10皮安的5位数字显示支持单点功率校准支持两种光电二极管极性（CG和AG）偏压可调输入放大器及光电二极管暗电流偏移补偿符合RoHS标准PDA200C型光电二极管放大器适用于很小光电二极管电流的超低噪声放大。可以提供从100纳安到10毫安满量程的六种电流范围，以及最10pA大的显示分辨率。该设备同时支持阴极接地（CG）以及阳极接地（AG）光电二极管。这种放大器可以在光伏或光导模式下工作。可调节的偏压提供更好的响应线性度和增强的频率响应。利用升级的PDA200C系列，我们的光电流放大器符合RoHS标准，此外，还改变了电流测量范围。其余的特性与以前的PDA200系列几乎相同。

尖端光传感器的尖端工具 量子效率与参数分析先进光电探测器APD-QE随着 5G 与移动装置的兴起与普及，越来越多新型光传感器被应用于我们的日常生活中，为了能更好的应用在行动装置上，这些先进光传感器的组件感光面积越做越小。但这些应用却对先进光传感器的光感测性能要求却越来越高，在感光面积微缩的过程中，也带来量子效率精准测量的挑战；例如，传统聚光型小光斑在不同波长下，色散差造成焦点位移可到 mm 等级。难以将所有的光子都聚焦到微米等级的感光面积中。因此，难以准确测得全光谱量子效率曲线。 APD-QE 采用独家光束空间均匀化技术，利用 ASTM 标准的 ”Irradiance Mode” 测试方式，与各种先进探针台形成完整的微米级光传感器全光谱量子效率测试解决方案。APD-QE 已被应用于多种先进光传感器的测试中，例如在 iPhone 光达与其多种光传感器、Apple Watch 血氧光传感器、TFT 影像传感器、有源主动像素传感器(APS)、高灵敏度间接转换 X 射线传感器等。客制化光斑尺寸与光强度光焱科技 APD-QE 光传感器量子效率测试系统在光斑直径 25mm、工作距离 200mm 条件下量测，可以达到光强度与光均匀度如下。在波长 530nm 时，光强度可以达到 82.97uW/(cm2)。在光斑直径25mm、工作距离200mm条件下，APD-QE光传感器量子效率测试系统测得的光强度。WL (nm)半宽高 (nm)光均 U%=(M-m)/(M+m)5mm×5mm3mm×3mm47017.651.6%1.0%53020.131.6%1.2%63019.851.6%0.9%100038.891.2%0.5%140046.051.0%0.5%160037.401.4%0.7%在光斑直径25mm、工作距离200mm条件下，APD-QE光传感器量子效率测试系统测得的光均匀度。光焱科技具备自主光学设计能力。光斑大小与光强度在一定范围内，可以接受客制化，如有需要请与我们联系。Contact Us定光子数控制功能APD-QE光传感器量子效率测试系统具有 “定光子数” 功能 (选配)，使用者可以透过控制各个单色光的光子数，让各波长的光子数都一样，并进行测试。这也是光焱科技APD-QE光传感器量子效率测试系统的独家技术，其他厂家都做不到。客户在不同的constant photon flux条件下，进行的光谱测试结果。使用定光子数控制模式 (CP 控制模式)，光子数变异可以 1%以上图为例，灰色的Normal 线是氙灯光源在各波长下的光强度分布，呈现氙灯的光谱曲线特征。如采用CP控制模式，可控制不同光子数在不同波长下，保持一致的输出特性。以橘色线CP=15000为例，在不同波长下输出的光子数都是15,000 photons/s/um2。样品测试分析范例a-Si photo-FET 样品不同光强条件下，测试出来的不同光谱响应确实会不一样，可参考下面的测试结果。OPV或是钙钛矿PV样品对于OPV或是钙钛矿PV样品，一般模式或是CP控制模式的测试结果没有差异，可参考下面的测试结果。系统架构系统规格主要系统：● 量子效率测试系统– 300nm ~ 1100nm – 可扩展到 2500nm● 测量软件– PDSW 软件– 可选配 FETOS 软件（ 3T 或 4T 组件）● （选配）探针台系统– 4” 标准探针台 (MPS-4-S)● 可客制化探针台系统整合与屏蔽暗箱均光系统与探针台整合高均匀度光斑　　采用独家专利傅立叶光学组件均光系统，可将单色光光强度空间分布均匀化。在 10mm x 10mm 面积以 5 x 5 测量光强度分布，不均匀度在 470nm、530nm、630nm、850nm 均可小于 1%。而在 20mm x 20mm 面积以 10 x 10 矩阵测量光强度分布，不均匀度可以小于 4%。PDSW 软件　　PDSW 软件采用全新 SW-XQE 软件平台，可进行多种自动化测量，包含 EQE、SR、I-V、NEP、D*、频率噪声电流图（A/Hz1/2）、噪声分析等。▌EQE 测试　　EQE 测试功能，可以进行不同单色光波长测试，并且可自动测试全光谱 EQE。▌I-V 测试　　软件可支持多种 SMU 控制，自动进行照光 I-V 测试以及暗态 I-V 测试，并支持多图显示。▌D* 与 NEP　　相较于其它 QE 系统，APD-QE 可以直接测量并得到 D* 与 NEP。▌频率-噪声电流曲线▌可升级软件　　升级 FETOS 软件操作画面（选配），可测试 3 端与 4 端的 Photo-FET 组件。内部整合探针台　　APD-QE 系统由于其出色的光学系统设计，可以组合多种探针台。全波长光谱仪的所有光学组件都集成在精巧的系统中。单色光从光谱仪引导到探针台屏蔽盒。图片显示了 MPS-4-S 基本探针台组件，带有 4 英寸真空吸盘和 4 个带有低噪声三轴电缆的探针微定位器。　　集成探针台显微镜，手动滑块切换到被测设备的位置。使用滑动条后，单色光均质器被 “固定” 在设计位置。 显微图像可以显示在屏幕上，方便用户进行良好的接触。可客制化整合多种探针台与屏蔽暗箱A. 客制化隔离屏蔽箱。B. 因为先进的 PD 讲究响应速度快，所以有效面积就要小（降低电容效应），因此，多会有需要整合探针台的需求。C. 可整合不同的半导体分析仪如 4200 或 E1500。应用范围LiDAR 中的光传感器– InGaAs 光电二极管 / SPAD苹果手表的光传感器用于高增益传感和成像的光电二极管门控晶体管高光电导增益和填充因子光传感器高灵敏度间接转换 X 射线探测器表征硅光子学– InGaAs APD应用 1：iPhone 12 的 LiDAR 和其他传感器中光电二极管的外部量子效率应用 2 : APPLE Watch 6 血氧传感器中光电二极管的外量子效率　　全新 Apple Watch Series 6 配备血氧传感器和配套应用程序，为您提供更多监测心脏和呼吸系统健康的方式，内置于 Apple Watch 的背面。 它使用四组红、绿、红外 LED 灯和四个光电二极管，这些器件可以将光转换为电流。 光照射到手腕上的血管，光电二极管测量反射回来的光量。 基本上，含氧和脱氧的血液以不同的方式吸收红光和红外光，因此 Apple Watch 可以通过反射光来确定血液的颜色。 　　采用 APD-QE 系统对血氧传感器中的光电二极管进行研究和分析，包括可见光和红外波长范围。　　APD-QE 可以提供这些光电二极管的信息:外部量子效率 EQE（300nm～1700nm）光谱响应 SR (A/W)NEP 和 D*频率-噪声曲线（A/Hz1/2）噪音类型　　如果您想了解更多关于移动设备中血氧传感器的光学传感器/光电二极管测试的详细信息，请立即联系 Enlitech。应用 3: 用于高增益传感和成像的光电二极管门控晶体管　　在光学传感和成像应用中，为了提高灵敏度和 SNR，APS (active pixel sensor) 包括一个光电探测器或一个光电二极管和几个晶体管，形成一个多组件电路。其中一个重要的单元：像素内放大器，也称为源追随者是必须使用。 APS 自诞生之日起，就从三管电路演变为五管电路，以解决晕染、复位噪声等问题。除了 APS，雪崩光电二极管 （ APD ）及其相关产品：硅光电倍增器（SiPM）也可以获得高灵敏度。然而，由于必须采用高电场来启动光电倍增和碰撞电离，因此在这些设备中高场引起的散粒噪声很严重。 　 最近，提出了亚阈值操作光电二极管（PD）门控晶体管的器件概念。它无需高场或多晶体管电路即可实现高增益。增益源自光诱导的栅极调制效应，为了实现这一点，必须进行亚阈值操作。它还以紧凑的单晶体管（ 1-T ） APS 格式将 PD 与晶体管垂直集成，从而实现高空间分辨率。这种器件概念已在各种材料系统中实施，使其成为高增益光学传感器的可行替代技术。　　APD-QE 系统致力于研究和分析光电二极管门控非晶硅薄膜晶体管：不同光强下的光转移曲线特性。光强度函数的阈值电压变化（ΔVth）。有/无曝光的晶体管输出特性。量子效率与光敏增益光谱。(a) a-Si:H 光电二极管门控 LTPS TFT 结构示意图；(b) 等效电路图，显示具有高 SNR 的 APS(a) 像素的显微照片； (b) 部分阵列的显微照片； (c) 图像传感器芯片的照片如果您想测试 TFT 型图像传感器或了解更多测试细节，请立即联系 Enlitech。Contact Us3-D 双栅光敏 a-Si:H TFT 的光传输特性在各种光子通量下，作为波长函数的光敏 TFT 增益。曝光和没有曝光的 TFT 输出特性。推荐的系统组合APD-QE 系统QE波长范围 300nm ~ 1100nm恒光子 / 恒能光控模块高度均匀的光束均化器Keysight B2912 半导体分析仪 x 2探针台: MPS-4-S 探针台系统与暗屏蔽盒软件升级: FETOS-SW应用 4: 高光电导增益和填充因子光学有源像素传感器　　可应用于”间接转换 X 射线成像”、 “光学指纹成像”和”生物医学荧光成像”的光学有源像素传感器。应用 5: 高灵敏度间接转换 X 射线探测器表征高灵敏度间接转换 X 射线探测器。高分辨率背照式 (BSI) 型 X 射线探测器面板。　　高灵敏度大面积 X 射线探测器是低剂量医学诊断 X 射线成像的关键，例如数字射线照相、透视和乳房 X 线照相术。 X射线的探测方式一般有直接转换和间接转换两种。在直接转换模式中，光电导体（例如，非晶硒）用于将 X 射线光子直接转换为电荷。在间接转换模式中，这些电荷由非晶硅薄膜晶体管 (TFT) 进一步读出。X 射线光子首先通过闪烁体如碘化铯 (CsI:Tl)、锗酸铋晶体 (Bi4Ge3O12) 或 Gd2O2S:Tb 荧光粉，然后，通常由非晶硅光电二极管和开关 TFT 形成的光学成像传感器检测。在任一模式下，为了实现高灵敏度，必须从材料 / 设备级别或像素电路级别进行信号放大。例如，最近研究了高度敏感的直接 X 射线光电导体，例如钙钛矿，因为与市售的直接转换 a-Se 光电导体相比，它利用光子的效率高，从而导致高量子产率。然而，钙钛矿具有高漏电流并且也遇到稳定性 / 可靠性问题。在 X 射线成像应用中，可靠性和稳定性至关重要，因为每年必须进行数千次扫描。在高灵敏度的间接转换 X 射线探测器的情况下，由于许多闪烁体的量子产率已达到其极限，然而，由于 TFT 电路和光电二极管之间的占用面积竞争，空间分辨率和填充因子通常会受到影响，因此其灵敏度和高空间分辨率需要权衡。因此，拥有同时获得高灵敏度和高空间分辨率的检测器或像素架构是具有挑战性的。 APD-QE 系统用于高灵敏间接侦测型的X射线探测器的开发：不同光强下的光转移曲线特性。有/无曝光的晶体管输出特性。量子效率与光敏增益光谱。不同 VTG（-12 V、-18 V、-24 V）阈值电压变化的光强依赖性。橙色线是实测的 CsI:Tl 的 X 射线激发光致发光发射光谱，蓝色线是光敏双栅 TFT 的光增益 (Gph)，紫色线是经典pin光电二极管的外部量子效率 (EQE) 曲线 。推荐的系统组合APD-QE 系统QE波长范围 300nm ~ 1100nm恒光子 / 恒能光控模块高度均匀的光束均化器Keysight B2912 半导体分析仪 x 2探针台: MPS-4-S 探针台系统与暗屏蔽盒软件升级: FETOS-SW如果您想测试间接转换 X 射线探测器或了解有关测试的更多详细信息，请立即联系 Enlitech。Contact Us应用 6: 高光电导增益和填充因子有源像素传感器（APS）有源像素传感器（APS）　　垂直堆栈了一个 a-Si:H p-i-n 光电二极管和一个低温多晶硅（LTPS）读出 TFT 通过使用 p-i-n 光电二极管门控 TFT 架构并在亚阈值范围内操作 TFT，所提出的 APS 器件提供高填充因子和高内部光电导增益。垂直积分导致像素中的高填充因子（ 70% ）和扩大的感光区域。 在传感器的光电二极管门控 TFT 结构中，通过在亚阈值状态下操作 TFT 来放大输出电流。 在可见光波长处获得了弱波长相关的光导增益 10，从而实现大面积低强度光检测。 　　大面积光学成像和传感设备可以在间接转换 X 射线成像 光学指纹成像和生物医学荧光成像的许多应用中找到。而高增益与高填充因子的 APS 深具商业应用的潜力。APD-QE 系统有源像素传感器（ APS ）：不同光强下的光转移曲线特性。有/无曝光的晶体管输出特性。量子效率与光敏增益光谱。(a) SNR = AS/(N+n) 的混合有源像素传感器和 (b) SNR = S/(N + n) 的传统无源像素传感器的等效像素电路； A是放大系数，N是像素噪声，n是数据线噪声。高光电导增益和填充因子光学传感器混合传感器的光子传输特性。在 VBG = &minus 6.3V 下测得的光电导增益和外部量子效率作为各种光子通量的波长函数。采用 APD-QE 系统测量有源像素传感器的外量子效率。推荐的系统组合APD-QE 系统QE波长范围 300nm ~ 1100nm恒光子 / 恒能光控模块高度均匀的光束均化器Keysight B2912 半导体分析仪 x 2探针台: MPS-4-S 探针台系统与暗屏蔽盒软件升级: FETOS-SW

PMA 2112 紫外固化高强度 UVA探测器可承受高达400摄氏度高温及高辐射强度。PMA2112 探测器可对320-390nm UVA光响应并在365nm左右汞灯射线达到峰值灵敏度。通过探针末端的窗口对光进行探测，是紫外固化应用方面的理想工具。 特点:高灵敏度高动态范围高温操作经久耐用卓越的长期稳定性余弦校正NIST可溯源校准与表头电隔绝安装简便辐射单位0.375"(9.5mm)探针直径应用:UV固化, 印刷以及影印平版印刷UV光源稳定性以及寿命监测在危险环境中的测量安装在18"长探针底部的散射体可以捕获辐射线并通过包裹在金属外壳内的石英光导材料传输到传感器上。这种结构使UV传感器远离了测量点,从而使探针适用于高温应用，高达4000C。辐照度(紫外辐射强度)显示为kW/m2 , W/cm2 或 mW/cm2, 用户可选. 转换因数为:1 W/m2 = 0.1 mW/cm2 探测器的高动态范围可使测量信号强度最弱为0.1mW/cm2，最强为20W/cm2。PMA2100内置自动跟踪最小，最大以及平均值功能使用户有机会监测由于紫外光源的线性电压变化，仪器设置改变或者内在不稳定性引起的短期波动。要充分利用紫外光源就必须了解其精确的寿命信息。可以通过频繁抽查灯泡的输出或者通过设置PMA2100为自动记录模式（设置间隔为1小时）。存储缓冲器可以存储1024个数据点，相当于42天的每天24小时操作。入射辐射剂量可由PMA2100自动测量获得。 按下START/STOP键，开始积分获取信号。总计量以及综合的周期会在LCD显示屏下方显示。一个小时钟图标显示了正在进行的积分。再次按动START/STOP键可以停止积分，剂量以及时间仍就会和停止的时钟图标显示在LCD上，再次按下START/STOP键会清楚剂量积分信息并且可以重复该循环。PMA2112 UVA 探测器光谱响应图技术参数: 光谱范围 320-390nm 角响应 余弦修正 范围 20 [W/cm2] = 200 [kW/m2]显示分辨率 0.1 [mW/cm2]操作温度 0 to 400°C (tip of the probe) 0 to +50 °C (UV sensor)温度系数 0.05%/°C直径 1.6” (40.6 mm)长度 20” (50 cm)重量 15oz 数据线 1ft, retractable to 5ft (0.3m/1.5m)

PhaseTech 中红外探测器 2DMCTPhaseTech 中红外探测器 2DMCT是用于中红外的下一代碲化汞镉（MCT）探测器。具有128×128像素、高灵敏度和极低噪声的电子器件。PhaseTech 中红外探测器 2DMCT功能和特点：&bull 16384个高品质MCT像素&bull 非常低的暗噪声&bull 杜瓦温度读数&bull QuickShape快速扫描电子设备&bull 控制软件和LabVIEWTM驱动程序PhaseTech 中红外探测器 2DMCT主要应用：&bull 瞬态红外光谱&bull 二维红外光谱&bull 中红外成像&bull 二维红外成像PhaseTech 中红外探测器 2DMCT主要参数：像素128×128或64×64光谱范围2-12.3µ m像素尺寸40 x 40µ m最大全帧速率1.5 kHz最大窗口帧速率4 kHz（请联系PhaseTech了解更高的帧速率）比检测率（D*）4 x 1011 cm Hz1/2 W-1垂直分辨率14位动态范围~1300:1典型的暗噪声（1σ）*10次计数，超过1000次近似尺寸8.5 x 4 x 10.2英寸（21.6 x 10.2 x 25.9厘米） 低噪声中红外探测器 2DMCT是一种非常低噪声的探测器更好的激光器意味着探测器的噪声很重要典型的暗噪声小于10个计数（1000次拍摄时为1σ）垂直装仓进一步降低噪音 漂亮的测试数据高分辨率、高质量的光谱与传统探测器相比，信噪比相似或更好 覆盖面广2至12.3微米的良好灵敏度 尺寸小采集电子设备的尺寸只有几英寸，直接连接到探测器上直接连接意味着更少的电子噪音 特殊优势可编程偏移使其易于根据不同的信号强度进行调整内置杜瓦瓶温度读数消除了对液氮水平的担忧 软件友好用于设置、控制和采集的用户友好型软件包括偏移、设置感兴趣的区域、显示各种切片LabViewTM驱动程序，可轻松整合到现有代码中 PT_2DMCT_Datasheet.pdf

EIGER2 R CdTe混合像素光子计数X射线探测器 1、产品特点： EIGER2 R CdTe 1M X 射线探测器将混合像素光子计数探测器的最新发展和碲化镉感光像素的高量子效率集合在一起。对于使用高能量 X 射线源或需要双阈值设置时， EIGER2 R CdTe 1M 是最优的选择。 DECTRIS 公司的专利即时触发技术使他们具有前所未有的高计数率能力，可以更精确地测量实验室X射线源 所能达到的最高强度。DECTRIS 公司的即时触发专利技术使 EIGER2 R CdTe 1M 探测器具有前所未有的高计 数率能力，可以更精确地测量实验室 X 射线光源所能达到的最高强度。EIGER2 R CdTe 1M 探测器具有两个能 量阈值，所以与上一代探测器相比，它在环境背景下拥有更低的暗电流和背景噪音。这大大提高了弱信号和长 时间曝光的信噪比，使得它在更短的测量时间下就能获得更好的数据质量。单光子计数与计数器连续读/写技术 相结合，克服了传统积分探测器容易饱和以及动态范围有限的问题。此外，感光像素直接将X射线转化为电信号 配合小到 75μm 的像素尺寸使得探测器具有更高的空间和角度分辨率。2、核心优势： – 最高的量子效率、更短的测试时间和更高质量的数据 – 即时触发技术使得计数率大幅度提高 – 双能阈值，可用于低背景和高背景的抑制 – 无读出噪音和暗电流，确保了最佳的信噪比 – 计数器具有同时读/写功能，确保了高动态范围和无饱和的图像3、应用领域： - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - μCT； - 其它； 4、技术参数：EIGER2 R CdTe500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.1 x 38.477.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2能量范围[KeV]8-24.2阈值范围[KeV]4-30最大计数率（cps/mm2）9.8×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 水冷尺寸（WHD）[mm3]114 x 92 x 242114 x 133 x 242235 x 237 x 372重量 [kg]3.73.915

Incoatec 微型X射线探测器标定源 iXminiIncoatec推出了可用于探测器标定的便携式微型X射线源，iXmini，射线管阳极靶材为Fe或Cu。iXmini是探测器平场校准可信赖的光源，可完全替代实验室金属箔荧光和放射性同位素校准物。有了iXmini，即使没有其它可用x射线源时，如同步加速器停机期间，也可可随时校准探测器。iXmini是一种简单和易于使用的X射线源，也可用于辐射探测器系统定期检查。特点和功能l 非放射性校准物l 无放射源需要的特殊储存或处置许可l 操作简单和安全l 可用于低真空环境（低至10-2 – 10-3 mbar）l 占用空间小：103×120×89.5mm3l 集成高压发生器和安全联锁装置l 2组独立的安全线联锁系统l 最大功率100mW （4-10 kV，2-10 μA）l 4种可选预定义功率设置，控制旋钮选择iXmini阳极靶材为Fe（Kα= 6.4keV）或Cu（Kα= 8.04 keV），主要用于探测器刻度，无需放射性校准物或荧光金属箔。iXmini规格参数尺寸103×120×89.5mm3重量~ 1500g供电电压DC 24.0 ± 1 VX-射线管金属陶瓷，透射阳极靶材Fe或Cu（150nm铍窗）典型工作电压4.0 – 10 kV最大功率100 mW系统集成当2个安全联锁装置关闭时，只要接通24V电压，iXmini就放出X-射线。需求24V DC 1A外接电源，无需制冷功率设置iXmini有四种预定义功率设置，提供不同的X射线光强。从顶部旋钮选择。快门iXmini快门是手动的。在上电和关闭安全锁前手动打开，在关闭电源后手动关闭。指示灯iXmini有两个状态指示灯，X-RAY ON和BEAM ON。在X射线管功率上升期间，这两个指示灯会闪烁，达到设定功率后常亮。iXmini用于CMOS探测器平场刻度用于校正的图像：Cu靶，10kV 10μA，曝光1000s两幅1000s图像对比，和相应的强度分布，有平场校正（上）和无平场校正（下）。从分布图可以看出，应用平场校正可显著改善强度分布。此外，获取了一组曝光时间不同的图像，以确定要得到好的校正结果所需的最短曝光时间。结果表明，600s曝光就可以得到相当不错的校正结果。强度均匀性与所用平场校正图像的曝光时间之间的相关性。600s曝光时间足以得到很好的校正结果

仪器介绍 Symphony系列CCD探测器是世界上光学光谱研究领先者HORIBA Jobin Yvon公司的一类阵列探测器。Symphony CCD探测器集高灵敏度、高速率、低噪音、坚固耐用，紧凑及高性价比于一体，该探测器是光谱探测方面一项巨大的变革，在各类光谱应用中也表现出卓越的性能。 HORIBA Jobin Yvon 提供一系列性能优越的应用在科研和光谱研究领域的Symphony CCD探测器。这个系列中的所有探测器都采用由大芯片厂商生产的高品质、全幅、科研级CCD传感器。HORIBA Jobin Yvon与这些芯片制造商强强联合，共同为科学研究和光谱应用量身设计制造理想的芯片。 如何选择适合的CCD探测系统取决于特殊应用需求。一般而言，CCD探测器的优选择遵循以下原则:· 所研究的波长范围。· 预计的信号或者光强水平。· 需要的光谱范围和分辨率。 这些参量反过来决定芯片的类型(佳量子效率，QE)、探测器的制冷方式、感光区域和单个像素点大小。除这些工作参数外， 其它重要的实验因素包括测量需要的动态范围和希望的数据采集速度。主要特点： Symphony CCD 探测器都可由Symphony控制器系列控制。该控制器主要特点包括：读取速率20KHz到1MHz的16位模数转换器(包括ADC升级能力)， 板载数据储存体和软件可选增益。快速的以太网接口提供100% 数据完整性，并保证无传输错误。 基于这些CCD系统包，HORIBA Jobin Yvon为积分时间从几毫秒到几小时的光谱测量提供好的探测器。 1、大量科研等级的CCD芯片供选择 2、高灵敏度 3、液氮制冷、低的噪声 4、高速率 5、简单的触发操作 6、兼容大多数光谱仪 7、专门为光谱研究而优化 8、SynerJY 软件实现全自动 9、LabVIEW VI 软件可用规格芯片规格类型液氮制冷1024x256OE正照射开放电是1024x256FIVS正照射可见增强是1024x256FIUV正照射紫外增强是1024x256BIVS背照射可见增强是1024x256BIUV背照射紫外增强是1024x256BIDD背照射深耗尽是2048x512FIVS正照射可见增强是2048x512FIUV正照射紫外增强是2048x512BIVS背照射可见增强是2048x512BIUV背照射紫气增强是

SIT型VIS-SWIR成像探测器测试系统是测试VIS-SWIR光谱波段敏感的成像探测器（或相机机芯）而开发的测试系统，能够测量光谱范围从400nm到2200nm的VIS-SWIR成像探测器（硅、黑硅、InGaAs）的辐射参数和光谱参数。可以测量以下参数：相对光谱灵敏度、响应度、噪声等效照度、D*（比探测率）和空间噪声。SIT测试系统是两个主要模块的总和：波长和光强连续可调的校准光源SITO和IPS图像处理系统（PC、图像采集卡、软件）。被测探测器位于SITO光源的输出端，传感器受到所需波长和辐照度的光的均匀照射，被测探测器生产标准格式的图像，通过IPS系统采集并分析图像，确定VIS-SWIR成像探测器的重要参数。 产品参数一般参数工作温度范围+5oC到+35oC储存温度范围-5oC 到+55oC湿度范围高90**（无冷凝）重量58kg尺寸173 x 43 x 28 cm

SOL型VIS-SWIR 成像探测器测试系统是一个用于测试在VIS-SWIR光谱波段敏感的成像探测器（硅/黑硅/InGaAs）的测试系统。从设计的角度看，SOL测试系统是一种能够进行光谱带宽阶跃调节、光强连续调节的标定光源，对被测成像探测器和图像处理系统进行照射，进而分析被测成像探测器（摄像机芯）产生的图像。阶跃光谱滤波是用一组窄带滤波片来实现的。光源可在VIS-SWIR范围内（400-2500nm或更窄的波段）产生16个不同光谱波段的光。SOL可以测量一系列辐射、光度和光谱参数。辐射参数有：噪声等效照度、响应函数（响应度、线性度、动态范围）、D*（比探测率）、量子效率、空间噪声。光度参数有：噪声等效照度、响应函数。SOL光源提供的任何窄带都可以测量辐射参数。这样也可以测量被测成像探测器的相对光谱灵敏度。 产品参数一般参数温度范围（工作/储存）+5oC到+35oC / -5oC到+55oC尺寸119x40x24cm重量29.2kg

总览原理简介简洁型激光稳定系统可用于抵消或纠正由振动、冲击震动、热量漂移，或其他对激光方位有不良影响的因素引起的变化。该系统可应用于所有激光设备和激光系统中。如果激光系统中有您不期望的波动或移位，而您的激光应用需要有很高的精确性和稳定性，那么激光稳定系统可帮助您来达到这一目的。 激光方位是由探测器来确定的。探测器可以是一个四象限光电二极管（4- QD） 或 一个PSD。该稳定系统只需利用用户设备中已有的高反光镜后的一小部分微弱的透射光就足以来稳固激光。 图 1 激光稳定原理 系统中的一个闭循环控制器不断探测激光光线的实际方位与应有方位的偏差，同时借助于一个快速传动装置使一个转向镜把激光光线稳定在所需位置上。 两个不同型号的系统可提供用户使用。“双轴控制系统”包括一个探测器和一个转向镜，其中转向镜可 在两个不同方向轴上转动。这样，激光的位置就可通过转向镜的转动被确定在由探测器设定的位置上。但这种情况下，激光的方向还会有偏移的可能。因为即使激光最后射到探测器上的位置虽然一致，但 该光线射到转向镜上的点位还是可以不同，所以这个系统只能定位但不能定向。相比之下“四轴控制 系统”包含两个探测器和两个转向镜。此系统中两个探测器把激光固定在两个不同的预先确定的位置 上。由此激光的位置和方向都被稳固住了我们提供用于实时稳定、对准、定位和调整激光束的系统。我们的系统极其精确、快速且非常稳定。不需要用户交互。它们配备有用的操作和安全功能，可快速集成到不同的激光器设置中。使用我们的光束稳定系统，激光始终稳定在所需的目标位置和光束方向。请不要犹豫与我们联系。我们期待在选择、规划和整合方面为您提供帮助。简洁型激光稳定系统 (转向镜,探测器,电子控制系统组成) ,简洁型激光稳定系统 (转向镜,探测器,电子控制系统组成)通用参数典型应用非常精确、快速和可靠的光束对准主动光束位置和光束方向控制激光束指向补偿精确的运动和振动控制自动调整激光束将激光束快速传送到不断变化的应用OEM 解决方案：例如激光材料加工中的在线精度控制特征有源闭环控制模拟系统内核以最低的相移实现最高的控制性能无需数字化步骤的最高分辨率无需用户交互，无需计算机提供 USB 接口（以太网、RS-232）和软件连续和脉冲激光器的精确定位也适用于超短脉冲激光器（ps、fs）提供 OEM 版本优异的性价比通信和可视化软件紧凑型激光束稳定系统可以选择配备串行接口。它允许设置参数和读取值。通信通过 USB 运行。作为替代方案，也可以使用以太网或 RS-232。相关软件利用该接口并与稳定系统通信。它提供位置、强度和压电电压的实时显示，并包括一些控制稳定系统的功能。电子控制系统 （包括控制器，放大器，电源）完quan被集 中到一个简洁紧凑的外壳中。它可由一个普通标准的 12V 电源驱动。 安装和调试操作简介想了解系统操作原理最迅速明了的方法是参看图 5-图 7。图 5 中显示了电子控制系统顶部的面板按键和位置信号的输出口。 这个型号用于有两个探测器和两个转向器的系统，此型号包括调控段1（Stage 1）和调控段 2（Stage 2）。两个调控段可以分别用开关键独立地开起或关闭（Start/Stop）。若您按开关键（Start/Stop），那么这个调控段便处于开起状态，此键的右上角上的小LED 会发亮。但这还不表示调控段在调控工作中。只有当激光射到探测器上的光强足够高时，调控段才会处于调控状态， “Active“ LED 会亮起来。范围显示屏 （Range）显示出转动镜是否处于正常工作范围内。顶部面板的位置输出口（Position）是用来帮您观察监视激光束是否射到探测器上的预定位置的（x 和y）。光学组件安装光学部件（转向镜和探测器）可以根据不同的应用需求按照不同的方法组装起来。探测器可直接放设在高反射镜的后面。该探测器非常敏感，所以高反射镜后微弱的透射光就足以用来固定激光。这个特性的优点是，用户不需在现有的光路设施中附加其它部件。除此之外如有需求，也可使用一个分光片或玻璃片把一部分光转射到探测器上。这一配置适用于光束直径较大的激光系统， 因为光束直径太大会导致转向器限制激光的传输。无论在什么情况下，四象限光电二极管的中心位置应该是所需固定的激光位置。第一转向器应该放置在激光源的附近或最后一个干扰源的附近。最后一个探测器应放在激光的应用附近。注意：整个装置应该安装在一个平稳区域。理想情况下，所有的组件都应被固定在光学平台上。其他附加的定位辅助步骤（如高度调节）等都不应采用。如果激光设备中有振荡元件，而且其共振频率在调控频率带宽之内，那么，在调控过程中这个元件可能会引起此系统在它的公振频率上开始振荡。下面的图 8a-e 中显示了一组可选择的结构设置。这几个示例显示了如何利用四象限光电二极管（4QDs）来达到四轴控制的设置。若用户只需双轴调控系统，调控结构设置同上，只要省略第二个转向器和第二个 4-QD 即可。图 8a 中显示了典型的四轴调控系统的结构设置，其中要调节的激光首先射到一个转向镜上，然后经过一个由转向镜和探测器共同组成的组合设置，激光被射到一个放在光镜后面的第二探测器上。 图 8b 显示了类似的结构，其中探测器前多加了一个透镜，同时还多加一个分光片。这种结构适用于光束直径较大的激光。在图 8c 中，为提高角度分辨率，在探测器 2 的前端多加了一个透镜 。在这种情况下，透镜离探测器的距离最hao是透镜的焦距。焦距选择的原则应该是；该焦点的直径（也就是激光光线射到探测器上的直径）不应太小。激光束达到探测器上时的直径应50 微米，以便保证它能射到四象限光电二极管的每个象限。 （象限之间的间距是 30 微米）。图 8d 显示了 8c 的一个变形例，其特征在于，两个探测器共同放在一个光路反射镜的后面。在这里一个探测器前放置了一个透镜，由此光束位置和光束方向都被稳固住了。最后图 8e 所示，是另一种结构。前面介绍的四轴系统被转换成两个二轴系统。即两个调控段用于稳定两个独立的激光束。安装顺序简介在您第一次安装起动激光稳定系统时，以下步骤将协助您顺利完成安装。 更加全面细致的说明和解释，请参阅用户手册。 1) 稳固的组件安装(转向镜和探测器)：首先应该把激光射线的位置调到探测器的中心点上。探测器可以直接安置在光镜后面。或者，激光射线的一微小部分可以通过分光片转射到探测器上。2) 电线连接：第一转向镜的电线应与第一传动器输出口 1 （Actuator 1）连接，第二转向镜的电线应与第二传动器输出口 2（Actuator 2）连接。第一探测器与第一四象限光电二极管输入口 1（4QD1） 连接，第二探测器与第二四象限光电二极管输入口 2（4QD2）连接。3)电源开关 (在外壳左侧)：接通电源电线（12V，2A）。启动系统后控制器正面的四个绿色范围LEDs（Range）会亮起来。4) 调试探测器上的信号敏感性：最佳状态下，设在探测器反面的光强显示排上的 9 个LEDs 应该亮起。（为达到这一状态，可以通过调试转动探测器中内装的电位计来达到。如有需要，请使用不同的滤光片）。 5)首启调试：（先不启动调控段 （Stage1，Stage2）） ：把激光射线调试到探测器的中心点上。 在此情况下，位置显示屏（LED-十字屏）不该有红色的 LEDs 发亮。6)方向编码：打开起动调控段 1（按 Start/Stop-键），之后如果范围 LEDs 中（Range）有红色 LEDs 亮起来，则应调整改变控制器外壳右侧上相应的 x 和y 的方向滑动开关的位置。最理想状态下，范围LED（Rang）中只有中间的绿色 LED 灯亮起。7) 与以上第 6 步的操作相同，可调试调控段 2 的方向编码。 8) 微调调控段 1：微调时两个调控段都应处关闭状态，（再次按 Start/Stop 键，使 Active 的 LEDs 不再发亮）。然后电线插入控制器正面的方位插座（Position）并与一示波器相连，借助于示波器的图， 调试转向镜，把 x 和y 的值调到接近 0V。9) 微调调控段 2：调控段 1 处于正常开动状态（按 Start/Stop 键, 使调控段 1 的Active LED 发亮），调控段 2 仍然关闭着。然后按照第 8 步骤的部分的描述，继续调试。 10) 两个调控段都被开起，四轴稳定控制系统就可以开始正常工作运行了。操作性能和安全性能光强和其位置的显示稳定系统中每个四象限光电二极管 （4-QD）的光强, （其光强是所有 4 个象限光强的总和）， 是通过一排 LEDs（10 个绿色 LED 显示灯）标示出来，这排 LED 安装在与此四象限光电二极管相连接的探测器的背面。同时，激光光束位置是通过一个 LED 十字显示屏标示出来的。当激光击中 4-QD 的中心，那么只有位于中央的绿色 LED 发亮。在其它情况下，其它的 LED 也会发亮，请参看类似于图 9 中的例子。图 9：几个不同例子来说明激光（橙色斑点）击到 4-QD 上时，位置显示屏（LED 十字显示屏）上所显示的图象的意义。左边的图像是您从后面通过探测器背面能“看见“的激光束图象。如果只有绿色和黄色 LED 指示灯发亮，这时传感电子件处于线性性能区域，在此情况下测试信号与激光位置之间有一个线性的直接关系。如果还有一个或多个红色 LED 发亮，那么以上所说的线性关系就不存在了。因为 4-QD 的物理结构在此条件下无法保证这一相关性。 可无级调控的信号放大性能为方便调试探测器上的光强度信号，每个探测器的侧面都配置了一个无级调控电位计，用于调控信号强度的增减。由此，即使激光强度有所变化，用户无需改换任何光学滤波片。请注意，在此信号放大的最高值是最低值的 10 倍。 激光信号减弱时的零位如果击到 4-QD 上的激光强度只有饱和状态的 10%或以下，（LED 显示屏上只有一个 LED 亮着）， 稳定系统会自动把转向镜移回到零位。这样就确保了，在激光被关闭时或被中断时，转动镜会回到起初的零点位置，那么当激光从新运行时，转动镜可从零点位置从新起动。 调控延迟系统中特设一个调控延迟性能。无论激光被关闭或中断或减弱时，此调节性能先让转向镜回退到零位， 激光系统恢复正常稍后，此性能才启动激光稳固调控工作。您可以看见： 在以上情况下，Active-LED 在这延迟过程结束之后才会再亮起。 调控状态（连锁性能）在系统处于完quan关闭状态（断电）下，系统中的压电传动器，由其本身的特性，总会让转向镜转到一个极端位置上。这一位置与转动镜零点位置相差约 0.5 毫弧度（PKS 型号）或 1.0 毫弧度（PSH 型号）。这个极端位置可能会导致激光的错误定位而使整个系统出现故障或带来损坏。所以为避免以上情况出现，激光稳定系统具有一个 TTL（晶体管逻辑电路）输出口 （Status，设在外壳左侧），它可以用来关闭激光或利用一关闭快门来中断激光。如果 TTL 的输出状态为高时（HIGH），表明调控系统处于工作状态，转动镜处在正确的位置或在零点位置。如果 TTL 的输出状态为低时（LOW），表明调控系统处于工作状态，但转动镜的位置不正确。（如果调控系统处于非工作状态下，TTL 的输出状态一直是处于 HIGH）。 带宽转换整个系统的调控带宽可直接影响调控结果的质量。该系统可以在两个不同带宽阶段进行调控操作。若无其他要求，基本设点是高带宽段。如果干扰因素来自不稳定的机械结构，特别是当元件的自身共振频率相互干扰时，则应选择低带宽段。带宽转换按钮设在系统外壳上（Bandwidth =带宽 ，参见图7，H =高，L =低）。用户可根据需要对每个控制段分别选择合适的带宽段。注释：该系统主要调节激光的光质点。随着光质点的移动稳定系统的调节重心也会移动。这里光质点是由激光横断面光强分布情况来确定的。但整个调控过程不改变激光的光强的分布。用于“紧凑型”系统的探测器组件我们所有的探测器都是为了与“紧凑型”系统完quan结合而开发的。我们可以为每种应用和激光器提供理想的探测器。我们最常见的型号如下所示。组件:光电探测器标准四象限光电探测器图 13a 显示的是探测器的正面，这也是四象限光电二极管的检测感应区。 图 13b 显示的是探测器的背面，这里有由 LED 灯组成的 “十”字显示灯（激光方位显示灯）；右边的“1“字显示灯（激光光强显示灯）；及其几个插头（X－， Y－ 方位插头，光强插头，电源插头）。关于探测器的其他信息，请参照 4.1.-4.2.性能数据标准四象限光电探测器 4QD光长320 - 1,100 nm感应区面积10 x 10 mm2 高光强探测器 - 四象限光电二极管可探测光强变化范围巨大的激光许多激光系统中的激光光强不是固定的，而且它的变化范围时常非常大，或者激光光强变化需要有一定模式， 而这个模式变化范围非常大。新制的高光强探测器有完quan不受光强变化的性能，它的信号感应敏感度完quan能自动调节来配合光强的变化。激光系统的光强变化范围可以 1000 倍，我们的探测设备不会受其影响，也不需添加任何光学滤波片。信噪比（S/N）在整个光强变化范围内根本无明显变化。这个型号的探测器使我们的稳定系统的功能达到其最大的准确性，确保客户的激光系统的运行达到最佳状态。优点：&bull 激光可变化范围 / 光强范围 103&bull 信号噪比使用标准四象限光电探测器低 红外线-紫外线探测器对于光长在红外或紫外的激光系统，我们可提供以下特制四象限光电二极管来满足不同光线范围和不同探测感应区面积的需求。性能表如下： 性能数据紫外线 UV 4-QD 3x3红外线 IR 4-QD 铟镓 InGaAs红外线 IR 4-QD 锗Germanium热释电 4-QD Pyroelectric 4-QD光长190 - 1,000 nm900 - 1,700 nm800 - 2,000 nm0.1 -3,000 µ m感应区面积3 x 3 mm2Ø = 3 mmØ = 5 mm9 x 9 mm2PSD 探测器作为标准四象限探测器的另一选择,我们可提供 PSD 探测器。PSD（方位感应器）适合用于以下光长范围： 性能数据PSD光长320 - 1,100 nm感应区面积9 x 9 mm2 PSD 探测器 和标准四象限探测器的区别在于，在 PSD 的整个感应区范围内，每个点都可被利用为激光稳定点的位置。因为在这个感应区范围内，电压和方位成线性比例。也就是说方位的变化也直接是电压的变化。利用这一特性，PSD 探测器相比于标准四象限探测器具有一个很大的优点。四象限探测器的激光稳定点一般必须选择在探测器的中心点，而使用 PSD 时，你可定义 PSD 感应范围内的任何一点作为激光 稳定点。从而简化了手动调试工作。因为你只需要添加一个简单的外加电源，输出一个电压信号，你可以通过对这个外加电压高低的调节，轻松地调节或改变方位的位置。由此轻松调节或改变激光稳定点的位置。光学组件 转动镜 PKS 型号相比之下，转动镜 PKS 的倾斜角度比 PSH 型号小。它的倾斜角度是 ±0.5 毫弧度。它可使大直径的激光通过。在粗调转动镜的零点位置时，也可由手动调节。 在图 10 中，显示了一个 PKS 型号。转向镜 PKS 型号，配置 1''光镜。蓝箭头指示 x-和 y-记号。 性能数据PKS倾斜角度1 毫弧度 (± 0.5 毫弧度) 光镜倾斜度, 2 毫弧度 光线倾斜度粗略调节精确度 (手动调节)± 2°压电叠层含 2 个压电叠层共振频率~ 700 赫兹 (1'' 光镜) 1.1. 转动镜 PSH 型号 性能数据PSH倾斜角度2 毫弧度 (± 1 毫弧度) 光镜倾斜度, 4 毫弧度 光线倾斜度粗略调节精确度 (手动调节)± 5°压电叠层含 2 个压电叠层共振频率~ 840 赫兹 (1'' 光镜)1.1. 转动镜 PSH 型号转动镜 PSH 有比较大的倾斜角度。它的倾斜角度是±1 毫弧度。它也可由手动调节。为达到高谐振频率，这个型号配备了一个强弹簧并附加平衡体来优化效果。标准转动镜选用 1''光镜，但它也可在利用适配器的情况下配备其他较大的光镜。 转光镜 PSH 型号，配置 1''光镜:转光镜 PSH 型号， 配置 适配器和 1.5'' 光镜注释:&bull 压电传动器的移动顶板对机械干扰力非常敏感。所以请避免强烈的力或力矩对这个板块的影响。该压电叠堆组件紧靠在顶板的后面。&bull 如果您有必要删除 1.5’’-适配器，需特别小心。我们可以提供详细说明和特制工具来帮您正确操作。转动镜 P4S30 型号转动镜 P4S30 适合用于更大的光镜系统( 光镜 1'')和更大的倾斜角度。相对于含 2 个压电叠层的 PKS 和PSH 来说，P4S30 含有 4 个压电叠层 ,由此整个装置更加稳固。也因此拥有更高的共振频率。 因为这个特性,P4S30 能用在带宽很大的系统当中，另外 P4S30 的倾斜角度更加宽大,它的光镜倾斜角可达到 ± 2 毫弧度, 也就是说它的光线倾斜度可达 ± 4 毫弧度. 性能数据P4S30倾斜角度4 毫弧度 (± 2 毫弧度) 光镜倾斜度, 8 毫弧度 光线倾斜度粗略调节精确度 (手动调节)± 4.5°压电叠层含 4 个压电叠层可达到的共振频率 1,200 赫兹 (1'' 光镜)~ 300 赫兹 ( 2'' 光镜)可达到的稳定带宽范围 400 赫兹 ( 1'' 光镜) 100 赫兹 ( 2'' 光镜)更多激光组件激光快门激光快门系统“Beamblock”专为与光束稳定系统组合而设计，但也可以单独使用。它由一个激光快门和一个可启用不同操作模式（外部、确认、手动）的快门控制单元组成。除了标准的激光快门，我们还可以提供定制产品。例如，下图显示了一个微型快门。如果只有有限的可用空间，则可以使用它实时位置检测器“XY4QD”和“XYPSD”这些具有集成信号处理功能的探测器以最高的空间和时间分辨率确定激光波动。测量原理允许检查单个激光脉冲。因此，位置检测器可实现激光器的表征和质量保证。探测器配备 LED 显示器，用于显示功率水平和 x 和 y 位置。

俄罗斯Tydex公司由俄罗斯科学院约费物理技术研究所的前科学家组建。Tydex公司专业订制生产的THz探测器和光学元件. Golay Cell是最有效的探测器之一。该产品在室温下具有优异的灵敏度，并具有宽波长范围内的平坦光学响应。GC系列探测器是在室内制造并且独立校准。该产品包括一个探头和一个电源。滤波器支架可选。型号GC-1PGC-1TGC-1D入口窗片材料高密度聚乙烯HDPE(TPX) 聚4-甲基戊烯金刚石最佳工作波长范围15～8000&mu m0.3～6.5 &mu m & 13～8000 &mu m0.4～8000 &mu m入射锥直径11.0 mm入射窗直径6.0 mm额定探测功率10uW，更大功率需要使用衰减器(ATS-5-25.4, ATS-5-50.8)最佳调制频率15 ± 5Hz应用中红外和THz紫外~近红外和THz可见光到THz 仪器简介：1. 特征基于半导体的太赫兹发射源和探测器光谱范围0.1-3 THz亚皮秒的时间分辨率用电脑控制并完成数据分析2. 应用THz时域光谱分析THz 成像光泵浦THz探针3. 介绍太赫兹和亚太赫兹的频段（100GHz-10THz）正好填补现有物理学电磁波谱中毫米波和红外线波段之间的这一段空白。被科学界戏称为太赫兹&ldquo 空隙&rdquo 的这段光谱是非常有吸引力的，因为已经发现许多潜在的应用，除了我们下面将提到的三大主流研究方向外，在特殊物体成像、生物检测以及先进通信系统等方面同样具有十分广阔的应用前景。4. 太赫兹时域光谱分析（THz&mdash TDS）典型的THz时域光谱学系统如图1。用亚皮秒的太赫兹脉冲透过样品，再经一段对称的自由空间后由探测器接收，测量由此产生的电磁场强度随时间的变化（利用傅立叶变换获得频域上幅度和相位的变化量），进而得到样品的信息。这样的测量方法已经成功地用于气体和有机材料的测量。5. 太赫兹成像（THz Imaging）太赫兹射线能够深入到许多有机材料内部而不伤害材料，这个类似于X射线的特长使太赫兹成像非常适合用来测量生物样品。通过聚焦后的太赫兹光束来对样品进行光栅扫描，这套工具包就能轻易的实现太赫兹成像。6. 太赫兹泵浦探针试验(Pump-Probe THz Experiments)而飞秒激光器的引入为研究超快过程的非平衡动态力学提供了手段。在采用光泵浦探针技术的试验中，样品一面被超短的强激光脉冲照射，激发出自由电信号，同时一束相对较弱的泵浦信号光从另一面射入，这束THz波改变了样品的光学性质。与纯粹的光学探针技术恰恰相反&mdash &mdash 研究发现THz泵浦脉冲在半导体的级带上是非共振的，这就避免了自由电子动力学领域试验中许多人工的假象干扰，可以放心地直接作为探针应用于光泵浦-光学探针系统。7. THz光谱应用组件标准的成套工具包由：含光电导天线的THz发射和接收器、引导泵浦光路的光学组件、电机延迟线、给THz光路定向的光学镜片、样品台、带控制器的斩波器和锁相放大器多部分组成。配置简单灵活可应需更改，比如，把样品台安装在X-Y电动调整架上即转换成成像实验用的装置了。瞬渺科技(香港)有限公司Rayscience Optoelectronic Innovation Co., Ltd 地址：上海市申南路59号泰弘研发园1号楼306室电话： ，传真：E-mail: Web:

位敏探测器(PSD) 新势力光电供应位敏探测器(PSD)，是根据横向光电效应(电压和电流信号随着光斑位置变化而变换的现象)的半导体敏感元件，将照射在光敏面上的光斑强度和位移量转换为电信号，以实现位置探测。Position sensitive diodes (up to 20mm measuring range in two directions)Type No.Active areaRise time DimensionsChipPackageSizeArea865nm 10V 50&Omega mmmm2nsOD3.5-6SO83.5× 13.5200singleOD3.5-6SMD3.5× 13.5200singleOD6-6SO166× 16200singleOD6-6SMD6× 16200singleDL16-7CERpin4× 416500dual a× isDL16-7CERsmd4× 416500dual a× isDL16-7LCC10G4× 416500dual a× isDL100-7CERpin10× 101004000dual a× isDL100-7CERsmd10× 101004000dual a× isDL100-7LCC10G10× 101004000dual a× isDL400-7CERpin20× 204004000dual a× isDL400-7CERsmd20× 204004000dual a× is相关商品雪崩二极管(APD) 光电二极管(PIN) 四象限探测器(QP) 光电二极管模块

TRAL红外探测器通用测试系统用于测量在700nm到16000nm宽光谱范围内敏感的离散（或小型线性阵列）红外探测器（NIR/SWIR/MWIR/LWIR探测器或宽带探测器）的参数。可测试的红外探测器包括：光子探测器：光伏/光电导、冷却/非制冷、热辐射探测器、热电探测器等。在辐射配置中，TRAL系统使用调制光束照射被测红外探测器。探测器产生与入射红外辐射功率成正比的输出电信号。通过分析被测探测器的输出电信号和辐射功率，得到所需参数。 在光谱配置中，TRAL系统使用可变波长、可变强度辐照被测探测器。过对被测探测器输出电信号的分析，可以确定其相对光谱灵敏度。测试功能：1.辐射参数：黑体响应度，响应度，黑体探测率，归一化探测率，NEP，暗电流，量子效率。2.光谱参数：相对光谱响应3.空间参数：调制传递函数MTF和非均匀性。

高速自由空间光电探测器11HSP-FSx是高速光信号探测器系列，适用于测量脉宽在几个纳秒或更长光脉冲或脉冲形状监控。11HSP-FS1也可以用在CW激光器10Hz-300MHz之间的强度噪声测量，11HSP-FS2有更大的灵敏区域。光电探测器可以集成到系统中产生触发脉冲。建议外部偏置电压30-50V。典型应用：●脉冲形状测量●脉宽测量●精密同步●模式拍频监测●外差测量型号11HSP-FS111HSP-FS2波长范围，nm400-1100400-1100上升时间110光谱灵敏度（@850nm）0.62 A/W0.62 A/W脉宽FWHM，ns110NEP，（W/√Hz）2.9 10-144 10-14电容VR=5OV，pF2.220材质SiSi暗电流，nA110灵敏区域，mm217.5

仪器简介：S1024DW大阱深探测器光谱仪采用1024像元光电二极管阵列探测器，用于需要高信噪比的测量。通过S1024DW可以观察到小于0.00001个吸光度单位的变化，适合高亮度的应用。技术参数：S1024DW系列探测器选项 特性 S1024DW S1024DWX 探测器：Hamamatsu S3903 线阵二极管 Hamamatsu S3904线阵二极管 像元： 1024像元 1024像元 像元尺寸：25 µ m x 500 µ m 25 µ m x 2500 µ m 阱深： 31,000,000 electrons 156,000,000 electrons 信噪比（全扫描） 2500：1 8000：1 A/D精度: 12 bit 16 bit 暗噪声： 2 RMS 2 RMS 校正后线性度： 99% 99% S1024DW系列探测器附件 型号描述 L2探测器聚光镜:附着在探测器上的圆柱状透镜，用于增加光的采集效率。 OFLV-DW:可变长通滤光片，在200-850 nm系统中消除高阶效应。 OFLV-350-DW:可变长通滤光片，在350-1000 nm系统中消除高阶效应。 规格 尺寸：153.4 mm x 105.2 mm x 65.6 mm （采用 ADC1000-USB A/D转换器） 消除高次衍射滤光片： 带通和长通滤光片 焦距：42 mm （入射） 68 mm （出射） 功耗：180 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX主通道） 140 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX辅助通道） 光学分辨率: ~0.3-10.0 nm FWHM （取决于光栅和入射狭缝） 探测器：线性二极管阵列 杂散光: 600 nm时 0.05%； 435 nm时 0.10% 探测器范围：200-1100 nm 相对灵敏度：和USB4000的CCD探测器相比，S1024DW 在紫外段约为1/30，可见段约为1/80 光栅：14种光栅 UV到NIR 入射孔径：5, 10, 25, 50, 100 or 200 µ m宽狭缝或光纤（无狭缝） 光纤连接：SMA905连接到0.22孔径单芯光纤 积分时间：31ms到65s o-element-wrap: around mso-element-anchor-vertical: paragraph mso-element-anchor-horizontal: margin mso-element-top: 2.85pt mso-height-rule: exactly" 焦距：42 mm （入射） 68 mm （出射） 功耗：180 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX主通道） 140 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX辅助通道） 光学分辨率：~0.3-10.0 nm FWHM （取决于光栅和入射狭缝） 探测器：线性二极管阵列 杂散光: 600 nm时 0.05%； 435 nm时 0.10% 探测器范围：200-1100 nm 相对灵敏度：和USB4000的CCD探测器相比，S1024DW 在紫外段约为1/30，可见段约为1/80 光栅： 14种光栅 UV到NIR 入射孔径：5, 10, 25, 50, 100 or 200 µ m宽狭缝或光纤（无狭缝） 光纤连接：SMA905连接到0.22孔径单芯光纤 积分时间：31ms到65s o-element-wrap: around mso-element-anchor-vertical: paragraph mso-element-anchor-horizontal: margin mso-element-top: 2.85pt mso-height-rule: exactly" 焦距：42 mm （入射） 68 mm （出射） 功耗：180 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX主通道） 140 mA @ 5 VDC （S1024DW & DWX辅助通道） 光学分辨率：~0.3-10.0 nm FWHM （取决于光栅和入射狭缝） 探测器：线性二极管阵列 杂散光：600 nm时 0.05%； 435 nm时 0.10% 探测器范围：200-1100 nm 相对灵敏度：和USB4000的CCD探测器相比，S1024DW 在紫外段约为1/30，可见段约为1/80 光栅： 14种光栅 UV到NIR 入射孔径：5, 10, 25, 50, 100 or 200 µ m宽狭缝或光纤（无狭缝） 光纤连接：SMA905连接到0.22孔径单芯光纤 积分时间：31ms到65s主要特点：灵敏度高达0.00001个吸光度单位 S1024DW大阱深探测器光谱仪采用1024像元光电二极管阵列探测器，用于需要高信噪比的测量。通过S1024DW可以观察到小于0.00001个吸光度单位的变化，适合高亮度的应用。 &ldquo X"选项：超大阱深探测器 S1024DW是标准阱深光谱仪，其二极管阵列探测器的信噪比为2500：1。S1024DWX具有更大的阱深，信噪比为8000：1。 理想的高光强应用光学平台 S1024DW应用&ldquo USB"（也称作&ldquo S"）系列光谱平台，可以根据具体不同的应用来配置光学平台。具体选项有入射孔径、探测器附件、滤光片及光栅等等。S1024DW光学平台的操作和USB4000光学平台很相似。S1024DW光学平台通过光纤采集光信号并色散到1024个高灵敏度光电二极管组成的阵列上，而在USB4000中采用的是3648像元的CCD阵列。 可集成的系统，适合多点采样 在S1024DW光谱仪的主通道上可以附加多至7个辅助通道用以多点采样，可以用来扩展探测的波长范围或监视参考光谱。所有通道都通过一个ADC1000-USB A/D转换器进行数据采集，每个通道轮流工作，总共8个光谱仪通道的数据同时采集。ADC1000-USB转换器通过USB接口连接S1024DW到PC。可以分开购买S1024DW和ADC1000-USB，或同时作为一个整体（S1024DW-USB）购买。

采用DECTRIS混合像素技术的ELA® 探测器为电子能量损失谱（EELS）提供了前所未有的速度，灵敏度和动态范围，是用于EELS的理想电子计数探测器。它可以处理远远超过100pA的探针电流，同时记录高强度的零损峰和高损峰，并在全能量谱范围内进行单电子计数。其高帧频速率允许一次性快速获取元素面分布结果，特别适合电子束敏感材料的分析。得益于其无死区读出能力，您不仅不会在两帧图像之间丢失电子，确保能够收集样品所能提供的所有信息。与高分辨率光谱仪相结合，DECTRIS ELA 探测器将显著改进 EELS和4D-STEM 等应用发展，使您的实验在几分钟内完成，同时提高仪器的利用率，并大大减少操作时间。技术规格帧速率2,250 Hz at 16 bits4,500 Hz at 8 bits18,000 Hz with ROI mode计数能力 1 pA/pixel像素数1,024 x 512传感材料硅(Si)图像深度32 bits能量范围30-200 keV点扩散函数 1.3 pixel at 200 keV产品应用STO/BTO/LMSO多层膜的快速元素映射图像，采用零损失峰（ZLP），获取为32张单独的128 像素× 128像素图像，每张采集时间为8秒，对齐和求和(共4.3分钟)。从左到右:分为别Ti L2,3 edge，Ba M4,5 edge和La M4,5 edge的ZLP强度图像，类似于明场像，最后获得复合图像。(图片来源:NION Ltd.)六方氮化硼的EELS电子能量损失谱, E0 = 60 keV，电子束电流为105 pA，曝光时间100 s，能量色散设置为0.5 eV/channel，使用Nion UltraSTEM 200MC单球差扫描透射电子显微镜的Nion Iris EELS探测器获得。(图片来源:NION Ltd.)

硅/硅微条探测器常用于带电粒子测量，当探测器在加有一定反向偏压并正常工作时，如果具有一定能量的带电粒子注入硅探测器，由于粒子对半导体材料的电离作用，会产生大量的电子空穴对。由于每产生一对电子空穴对需要的电离能是一定的（约为3 eV），因此产生的总的电子空穴对数目与粒子在探测器中损失的能量成正比。硅探测器对电离产生的电子空穴对进行收集，得到的电信号幅度就正比于粒子在探测器中的能量损失，可以准确的测量带电粒子能谱。同时，由于硅探测器对信号的时间响应较快，还可用于带电粒子的定时测量。硅微条探测器是在硅片表面通过蚀刻工艺，将硅片分割成多个独立的有效探测区域，通过不同的信号来源判断粒子位置和方向。硅/硅微条探测器广泛接受用户定制，根据用户需要提供合适的探测器。

双红外加紫外火焰探测器 MIC-200-UVIR2MIC-200-UVIR2火焰探测器结合了紫外和双红外探测技术，能提供快速、准确和可靠的火灾探测，且提高了对错误光源的抗干扰能力，能更远距离的有效探测火焰。MIC-200-UVIR2探测器依配备2个红外传感器和1个紫外传感器，具有反应速度快，灵敏度高优点。根据用户对灵敏度和延迟时间的设定，MIC-200-UVIR2探测器能有效地排除误报，且能适应在高危工业环境的应用。除一般应用外，特别适用于铁路机车灭火、军用装甲车辆及舰船的爆炸压制、氢气燃烧火焰。MIC-200-UVIR2探测器的防爆壳在户内和户外都能牢固而准确的安装，高亮LED可显示探测器的状态，其自动测试功能可保证探测器在任何时候都能充分发挥其功能。双红外加紫外火焰探测器特点：1、 紫外及红外探测原理组合，误报率低 2、 高速响应火焰 3、 内置高性能微处理器 4、 优异的抗射频和电磁干扰性能 5、 可靠的系统故障自诊断功能 6、 4-20mA、RS485、继电器三种输出方式可选 7、 专利信号处理算法，消除误报的可能性 8、 多级灵敏度设置，满足更多场合的不同需求9、 安装方便，探测角度可360°调节 10、 ExdⅡ CT6防爆等级，适用于1区和2区危险场所。双红外加紫外火焰探测器参数：

1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915

1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R500K1M4M探测器模块数量11 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]77.2 x 38.677.2 x 79.9155.2 X 162.5像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）4-113.5-30 3.5-30最大计数率（cps/mm2）3.6×108计数器深度（bit/threshold）2×16采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.83.915

全景无线长形平板探测器 长形探测器,长度107X430mm 探测器类别 非晶硅 闪烁体 GOS图像尺寸 107×43 cm像素矩阵 7680×3072像素间距 描述 A/D 转换 16 bit最小探测剂量 20nGy最大线性剂量(RQA5).150uGy调制传递函数 @ 1.0 LP/mm0.51/0.56/-调制传递函数 @ 2.0 LP/mm0.22/0.24/-调制传递函数 @ 3.0 LP/mm0.09/0.11/-量子探测效率 @ 0.0 LP/mm(2.5uGy)0.36/0.38/-量子探测效率 @ 1.0 LP/mm(2.5uGy)0.30/0.32/-量子探测效率@ 2.0 LP/mm(2.5uGy)0.16/0.18/-量子探测效率 @ 3.0 LP/mm(2.5uGy)0.07/0.08/-残影 (%, 300uGy, 60s)0.5空间分辨率 3.6 LP/mm图像采集时间 (有线)3S图像采集时间 (无线)-/5/7S无线电池待机时间 10HX-射线工作范围 40-150 KV数据接口 GigE, Wifi功率 20 W适配器输入电压 AC 100-240V,50-60Hz适配器输出电压 DC 24V,60W探测器尺寸 111.5x 47.1 x 1.5cm探测器重量(无线含电池/有 线)10kg/9.6kg探测器外壳材料 Carbon, Al Alloy防水等级 IPX3工作环境 5-35º C,10-75% RH

一、产品描述 TP-WPD-1是专为高校光电类专业设计的实验仪器，用于测量光电探测器的特性。它采用便捷的测量方法和直观的操作面板，提供全面、准确的光电探测器特性测量方案。该仪器分为基础特性实验和应用实验两部分。基础实验涵盖6种常用光电探测器,包括光敏电阻光电二极管、光电三极管、硅光电池、雪崩光电二极管和色敏二极管。设计了多个基础特性测量实验，如亮暗电流特性、伏安特性、光谱特性、时间响应特性等，帮助学生理解探测器原理。应用实验则让学生了解探测器的具体应用领域，为日后实践中的选型提供实验基础。二、产品特点1.外观方面:仪器采用平面箱式结构，面板分区直观，操作简便。相比同类产品，操作台更轻巧便于携带和使用。2.光源选择:仪器配备LED冷光源，包括白光及六种单色光，可通过旋钮切换。省去更换滤光片步骤，简化操作，加快实验结果获取速度。3.光路设计:采用T型遮光筒，将光源分为两路，分别用于检测光强和探测器接收。避免交替更换照度计和探测器，提高测量效率。

PhaseTech JackHammer 中频红外探测器PhaseTech JackHammer 中频红外探测器是一种用于高重复率中红外激光系统的强大检测系统，能够以非常低的噪声在高达100kHz的频率下进行炮对炮采集。PhaseTech JackHammer 中频红外探测器非常适合中红外瞬态吸收、泵浦探针和二维红外实验中的高信噪比数据收集。PhaseTech JackHammer 中频红外探测器主要参数：波长范围~3-10μm（1000-3333 1/cm）源激光重复率≤100 kHz像素数32-128外部通道每32个像素1个数字分辨率16位（65536计数）有效动态范围典型值。10000比1暗噪声（标准偏差）。6个计数PhaseTech JackHammer 中频红外探测器功能和特点：&bull shot to shot采集模式&bull 平均片上采集模式&bull LabViewTM控制和采集VI&bull 噪音极低&bull 外部通道采集&bull USB连接PhaseTech JackHammer 中频红外探测器主要应用：&bull 时间分辨红外光谱&bull 2D红外光谱&bull 2D电子红外光谱 超低噪音暗噪声比激光噪声低一个数量级。典型的暗噪声约为6次计数（标准偏差超过500次） 可与现有MCT探测器一起使用JackHammer 可与旧的MCT阵列配合使用-升级您的旧探测器，使其与新的100kHz激光器配合使用。 专为超快而设计JackHammer的电路设计由苏黎世大学的Peter Hamm教授博士开发。哈姆教授拥有数十年设计超快实验采集系统的经验。PT_JackHammer_100kHz_Datasheet.pdf