射线能量分析

XRF-7型便携能量X射线荧光分析仪是专业的RoHS/WEEE指令筛选仪器。该仪器提供一种快速、可靠、无损样品的筛检手段，对于塑料外壳、印刷电路板（PCB）、电缆、含镀层的紧固件等都 可以用这一件轻便 设备进行多元素无损检测。轻扣扳机，对样品中的镉、铅、汞、铬总量 、溴总量 及其它构成元素进行 定量 分析，快速判定检测结果。使您在更 短的时间内处理 更多的样品，避免因繁琐的常规分析而费时费力。XRF7开拓了新的RoHS指令QA/QC分析程序，是您最理想的筛选工具。 XRF-7 同时也遵循WEEE 指令，适用于制造业、废料 回收等筛检工作。 XRF-7型便携能量X射线荧光分析仪的主要特点为：  RoHS/WEEE指令快速筛选；  无需样品前处理、进行非破坏性分析；  短时间快速分析；  现场直接分析测定；  多种定量分析方法；  创新的薄样技术与厚样技术相结合，在样品进行前处理后，RoHS典型元素检出限可达mg/kg级；  完善的保护功能：安全锁、感应光闸辐射防护设计，安全可靠；  种类齐全的标准样品相配套（PP、ABS、PE、铝合金等）；  彩色触摸屏菜单操作；  无限量数据存储。 仪器的创新点为： 薄样技术与厚样技术两种X荧光能谱应用技术的结合，使得该仪器既能对大量样品作快速的初步筛检试验，也可以对经过前处理后的样品作较慢的实验室级别细致检测。相当于同时拥有了便携和中档台式两台X荧光能谱分析仪。 应用：  电子元器件、连接件、线路板  各种焊锡材料中的Pb、Cd、Ag等  金属部件、合金框架等  聚合物中Br、Pb、Hg、Cd等

手持式能量色散X射线荧光光谱仪及其应用研究(李福生，电子科技大学教授、博士生导师）摘要光谱分析及信息科学被广泛应用于工业检测、污染防治等领域。X射线荧光光谱（X-Ray Fluorescence spectrometry, XRF）由于具有快速、无损、精确等优点，在环境污染监测、中草药鉴别、金属回收等方面具有十足的研究潜力和广阔的应用前景。人工智能及高端装备研究团队立足于自主研发的手持式X射线荧光光谱元素分析仪（TS-XH4000），利用X射线荧光光谱分析技术结合先进的人工智能算法开展土壤污染监测、土壤质量综合评价、铁粉元素测量等研究工作。团队研发的新一代手持式X射线荧光光谱仪采用具有可实现盲测，检出限低，可测微量元素等优势。1.引言能量色散X射线荧光光谱分析技术由于其快速、无损和精确的检测优点，目前已经被广泛应用于煤质分析、安检过程、资源勘采、货物通关、环境检测和中草药检测等领域[1][2][3]。能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪[4]。目前国内外同类手持式X射线荧光光谱分析仪主要包括美国品牌Niton生产的分析仪[5]，日本生产的Olymbus光谱仪[6]和日立光谱仪[7]等。这些光谱仪普遍存在精准度一般、采购成本较高、难以单独定制等问题。而本团队设计的X射线荧光光谱仪历经几代研发，采用智能AI算法，可实现盲测，检出限低，可测微量元素；采用全球首创9mm*5mm腰形窗口，保护探头、便于测细小物品及不规则物品；安全性高，所有仪器均配有已申请专利的探头保护盖，自检安全保护；且工作状态有灯带提示，配有物料感应功能，利于物体识别，很好保护操作者的安全。本团队光谱仪的所有核心技术都归自己所有，不受国外任何技术限制。本团队所设计和研发的型号为TS-XH4000-SOIL的手持式能量色散XRF光谱仪（基于 AMPTEK INC.的 SDD 探测器）利用智能能量色散荧光分析法可以同时得到检测样品的X荧光光谱图及样品中所含元素种类和含量，测量元素范围为Na(11)-U(92)。此外，团队结合新型人工智能算法，例如BP神经网络[8]、支持向量回归[9]、贝叶斯优化算法等[10]，设计了计算机校正软件，实现了基于X射线荧光光谱的中草药真伪鉴别，基于X射线荧光光谱的土壤重金属元素含量和铁粉含量的精确定量分析。2. 仪器组成本团队自主研发的手持式X射线荧光光谱仪集成先进智能算法、人体学设计外观结构、各型接口等，可在合金回收、土壤污染检测、中草药鉴别等众多领域应用。该光谱仪主要由激发源（X射线光管）、探测器、滤光片、多道脉冲幅度分析器等部分组成，结构示意图如图1所示。X射线管配有电源（最大电压50kV，最大电流200mA）。在仪器测量之前，需要先根据死时间、光谱信号噪声、光谱分辨率等指标将仪器的相关参数调整至最佳，然后通过检测纯元素的X射线光谱，完成能量刻度的定标，实现从通道数到能量刻度数的转换。接着，将定量模型算法需要的变量、算法参数、补偿系数、预处理流程等设定到主控内存中，完成采集完信号后并解析信号，最终反演物质的元素含量等信息，并通过WIFI或蓝牙将仪器所测量的精度显示到PC端。图1 手持式X射线荧光光谱仪的结构示意图本团队还设计了谱图预处理及模拟谱图生成的软件，其软件界面如图2所示。其主要功能包括：能量刻度转换、初级光源预处理、初级光源生成、Sigma计算、 XRF光谱模拟等功能。该程序可以生成多元素样本的 XRF光谱图及光谱大数据，为人工智能对样品的定性和定量分析提供数据支持，旨在实现元素的无标样的定性定量分析。图2 X射线荧光光谱分析仪控制程序主界面3. 土壤元素实验分析土壤质量综合评价与土壤中各种元素的含量有着密切的联系。因此本实验研究了XRF技术结合SVR算法定量分析土壤中铜（Cu）元素含量的可行性。如图3所示，本实验使用的设备是由课题组研究生产制造的手持式ED-XRF光谱仪，型号为TS-XH4000-SOIL，该设备的X射线管在45KV和25uA下正常工作。实验中采用了55个国标样品作为土壤标准样品，样本中每个待测元素都具有足够宽的含量范围和适当的含量梯度。图3 土壤样本与XRF光谱仪在验证中，将实验样品分为训练集和测试集两个集合，分别用于外部验证和内部验证。然后，基于灵敏度分析得出Cu元素主要受到Fe、Co、Ni、Cu等组分信息的影响，选择最优输入特征为该4种元素。使用最优输入特征和全部特征作为输入，基于贝叶斯优化算法找到最优模型参数，分别建立了预测土壤样品Cu元素含量的SVR定量预测模型。同时以全部特征作为输入建立了单参数PLS模型，通过5倍交叉验证(CV)选择单参数PLS模型的最优主成分个数为9。基于校准集数据分别建立了三种模型，利用这些模型对13个测试集和42个训练集数据中的Cu元素含量进行预测，结果如图4所示。图4 Cu元素的预测结果 (a):经过特征降维的SVR模型 (b):全部特征作为输入的SVR模型 (c):PLS模型可以看到，对训练集数据进行直接预测时，采用全部特征作为输入的SVR模型取得了最好的效果，其预测结果和原数据几乎一致(R2C= 0.9988, RMSEC = 6.9356)，然而，对于测试集数据采用全部特征作为输入的SVR模型获得了非常差的结果(R2P= 0.9146, RMSEP = 73.8296)。基于4个高灵敏度特征的SVR在预测测试集时获得了非常好的效果(R2P= 0.9918, RMSEP = 22.8803)，预测数据的一致性较好。在XRF技术结合SVR定量分析中，变量选择对于测试集的预测精度有关键作用。4. 中草药元素实验分析本实验采用30份金银花样品主要选择产地为山西、河南、湖南与广西省，其中每个产地各选择5份，共20份，并将样本命名为JYH-01~JYH-30。7份外观相似的山银花样品，产地为湖南省，样本命名为SYH01~SYH-07。3份粉末相似的商陆、多穗金粟兰、宽叶金粟兰样本，命名为DB-01~DB-03。三类真伪中药材的XRF数据集各有其特有的性质，本文使用t-SNE算法可以提取出三组XRF数据集的前350 维特征，将这些特征降维映射至二维图片中进行可视化分析，如图5所示。可以明显的看出这三组真伪中药材的 XRF数据集在图片二维空间中位于三簇不同的位置。从而三组样本在含有以上5种元素重要相关信息的350维数据在映射至二维中有了明显的区分，比原始XRF光谱图更容易理解与分析。图5 基于金银花、外观相似伪样本、粉末相似伪样本三组XRF样本集的t-SNE特征降维可视化图为更直观地了解这土壤和中草药XRF数据集的固有特性，利用t-SNE算法将350维的XRF特征映射到二维空间并在同一幅图中进行可视化分析。如图6所示，两个数据集在二维空间聚集成了两个分布位置不同的簇。首先，两组样本在含有重要相关信息的350维数据在二维图中有了明显的区分，比原始XRF反射光谱图更易于分辨。图6 两组XRF样本集的t-SNE特征降维可视化图5. 铁粉元素测量及实验分析针对手持式X射线荧光分析技术在铁粉行业的应用，本团队开展X射线荧光背景散射内标法用于铁粉元素测量的应用研究。首先，通过低电压高电流、高电压低电流、不同采集板的增益，选择合适的设备参数获取较优的特征X射线信号。接着，分别采用SiPIN、SDD类型探测器的手持式X射线荧光分析仪建模，Si-Kα峰、Fe-Kβ峰加背景散射线内标对铁粉中的元素含量进行建模。最后，根据含量已知的铁粉样品对所建立模型的确定度系数R2和均方根误差RMSE进行评估，选出不同场景情况下合适的应用模型。表1 SiPIN探测器时铁粉中Fe元素预测结果表2 SiPIN探测器时铁粉中Si元素预测结果表3 SDD探测器时Fe元素预测结果表4 SDD探测器时Si元素预测结果如表1和表2所示，为采用SiPIN探测器的建模结果。Si-Kα峰加背景散射线内标的结果，R2为0.9070， RMSE为0.0007； Fe-Kβ峰加背景散射线内标法的结果，R2为0.88，RMSE为0.0037。如表3和表4所示，为采用SDD探测器的建模结果。Si-Kα峰加背景散射线内标的结果，R2为0.9869，RMSE为0.0002； Fe-Kβ峰加背景散射线内标的结果，SDD探测器Fe建模结果，R2为0.9099，RMSE为0.0033。采用SDD探测器定量结果验证结果更好，这与SDD探测器性能良好有关。6. 总结本团队基于自主设计和研发的手持式ED-XRF光谱仪，结合人工智能算法对土壤重金属元素含量、中草药成分和铁粉元素含量进行准确定性、定量分析。所设计的TS-XH4000-SOIL光谱仪具有高精度和高可靠性，提出的先进人工智能算法框架可以有效校正土壤和铁粉XRF光谱和待测元素含量的复杂映射关系。因此，本团队研发的光谱仪和相应的人工智能算法软件在环境监测和保护、冶金行业及其他分析化学领域都有着广泛重要的应用。参考文献[1] 甘婷婷, 赵南京, 殷高方, et al. 水体中铬,镉和铅的X射线荧光光谱同时快速分析方法研究简[J]. 光谱学与光谱分析, 2017, 37(6):7.[2] 王袆亚, 詹秀春, 袁继海,等. 偏振能量色散X射线荧光光谱测定地质样品中铷锶钇锆元素不确定度的评估[C]// 第八届全国X射线荧光光谱学术报告会.0.[3] 张辉, 刘召贵, 殷月霞,等. 能量色散X射线荧光光谱法测定中草药中的Cd元素[J]. 分析测试技术与仪器, 2019, 25(3):5.[4] 张颖, 汪虹敏, 张辉,等. 小型台式EDXRF现场快速测定深海沉积物中稀土元素[J]. 海洋科学进展, 2019, 37(1):11.[5] Ene A, Bosneaga A, Georgescu L. Determination of heavy metals in soils using XRF technique[J]. Rom. Journ. Phys, 2010, 55(7-8): 815-820.[6] Adame A. Development of an automatic system for in situ analysis of soil using a handheld Energy Dispersive X-Ray Fluorescence (EDXRF)[J]. 2020.[7] Antunes V, Candeias A, Carvalho M L, et al. GREGÓRIO LOPES painting workshop: characterization by X-ray based techniques. Analysis by EDXRF, μ-XRD and SEM-EDS[J]. Journal of Instrumentation, 2014, 9(05): C05006.[8] Li F, Yang W, Ma Q, et al. X-ray fluorescence spectroscopic analysis of trace elements in soil with an Adaboost back propagation neural network and multivariate-partial least squares regression[J]. Measurement Science and Technology, 2021, 32(10): 105501.[9] Yang W, Li F, Zhao Y, et al. Quantitative analysis of heavy metals in soil by X-ray fluorescence with PCA–ANOVA and support vector regression[J]. Analytical Methods, 2022, 14(40): 3944-3952.[10] Lu X, Li F, Yang W, et al. Quantitative analysis of heavy metals in soil by X-ray fluorescence with improved variable selection strategy and bayesian optimized support vector regression[J]. Chemometrics and Intelligent Laboratory Systems, 2023, 238: 104842.作者简介李福生，电子科技大学教授，博士生导师。在核粒子能谱分析、蒙特卡洛模拟、人工智能与云计算技术、模式识别及智能系统、控制科学及多智能体、智能制造及智慧工厂等方面的研究与应用成果斐然，具有丰富的理论研究基础和工程应用经验。曾就职于美国GE-贝克休斯公司、荷兰皇家壳牌集团等国际 500强企业的科研院，并兼任美国北卡罗莱纳州立大学客座教授。近年来在国际权威杂志发表高水平论文30多篇，拥有2项国际发明专利和50多个国内专利，出版学术专著1册，参与多个国际重大研发项目。在仪器研制方面，成功研发了多代高精度手持式X射线光谱成分分析仪，且已经过上海市计量测算技术研究中心的专业鉴定，具有高灵敏度、高准确度、快速无损等特性，可广泛应用于石油、天然气煤层气勘探与开采，铀矿探测以及金属、食物、植物、土壤的检测等，对实现我国在地质考古、公共安全、环境保护、食品安全等领域的探测设备核心部件的升级及市场国产化产生了重大影响。e-mail：lifusheng@uestc.edu.cn

为了保证产晶质量，使用安全优质的原材料是必要条件，原材料的重要性不言而喻。但对利润最大化的追求使得原料供应商往往按照性能要求下限来提供原材料，更有甚者在未告知的情况下替换材料，导致生产过程中出现各种品质问题。因此，对来料的性能监控十分关键。本文结合红外光谱仪（FTIR）和能量色散型X射线荧光分析仪（EDX)对树脂成份进行了全面分析，通过有机和无机结合的方式达到了对来料进行成分鉴定的目的。 了解详情，敬请点击《使用岛津红外光谱仪（FTIR）和能量色散型X射线荧光分析仪（EDX）分析树脂原材料》 关于岛津 岛津企业管理（中国）有限公司是（株）岛津制作所于1999年100%出资，在中国设立的现地法人公司，在中国全境拥有13个分公司，事业规模不断扩大。其下设有北京、上海、广州、沈阳、成都分析中心，并拥有覆盖全国30个省的销售代理商网络以及60多个技术服务站，已构筑起为广大用户提供良好服务的完整体系。本公司以“为了人类和地球的健康”为经营理念，始终致力于为用户提供更加先进的产品和更加满意的服务，为中国社会的进步贡献力量。

仪器信息网讯 第62届X射线分析应用技术大会将于2013年8月5日-9日，在美国科罗拉多州威斯敏斯特市，威斯汀威斯敏斯特酒店举行。会议由国际衍射数据中心(ICDD)赞助。会议由主题研讨会、大会报告、墙报展、X射线仪器展等部分组成。本次会议共安排了12场主题研讨会，具体安排如下： 　　2013年8月5日 9:00-12：00&mdash XRD 　　主题：新型GSAS-II晶体学分析系统介绍(全天) 　　地点：Standley Ballroom II 　　主办单位和主讲人：美国阿贡国家实验室B. Toby, R. Von Dreele，brian.toby@anl.gov, vondreele@anl.gov 　　该研讨会将向与会者介绍新型GSAS-II软件包的在X射线和晶体学数据处理当中的应用。研讨会将重点讨论粉末衍射数据处理。所有需要安装运行的软件均是免费的，与会者可以自己带电脑来下载安装软件。本次研讨会主要针对拥有Rietveld分析经验以及丰富的单晶衍射晶体学知识的研究人员。涉及的领域包括使用GSAS-II进行面探测器数据集成、数据Rietveld精修等。 　　主题：中间物XRD分析基础 　　地点：Meadowbrook 　　主办单位和主讲人： 　　国际衍射数据中心，Thomas N. Blanton，tblanton@icdd.com 　　阿尔弗雷德大学纽约州立陶瓷学院，Scott T. Misture, misture@alfred.edu 　　美国橡树岭国家实验室，Thomas R. Watkins 　　桑迪亚国家实验室，Mark A. Rodriguez 　　该研讨会将讨论XRD的定性及非Rietveld方法定量分析，以及XRD在物相分析的应用，包括样品制备、常见的X射线衍射几何讨论。另外，研讨会还将讨论轮廓拟合和晶格参数细化用于通过Vegard定律进行固溶体组成的测定。最后，研讨会将介绍参考强度比法在采用内标法进行半定量分析和定量分析中的应用。 　　主题：XRF基础 　　地点：Standley Ballroom I 　　主办单位和主讲人： 　　华盛顿大学，W.T. Elam，wtelam@apl.washington.edu 　　美国洛斯阿拉莫斯国家实验室，G.J. Havrilla 　　福特汽车公司，A.R. Drews 　　本次研讨会将对XRF的基本原理进行介绍，并专门针对XRF新的应用领域。研讨会首先将从XRF技术进行概述，然后再对基本原理进行更具体的介绍。重点将在使与会者了解如何使用XRF，以及它的功能。研讨会的下半段，将会介绍几个特别挑选的应用实例，这一部分的重点是使与会者了解仪器的基本原理如何影响实际应用。 　　主题：痕量分析 　　地点：Cotton Creek 　　主办单位&主讲人 　　维也纳技术大学，C. Streli，streli@ati.ac.at 　　维也纳技术大学，P. Wobrauschek，wobi@ati.ac.at 　　日本大阪市立大学，K.Tsuji 　　赛默飞世尔科技A. Martin 　　无论是初学者还是富有经验的X射线物理学家，都会在这个研讨会上获取有用的信息。用WDXRF、EDXRS进行痕量分析的多种现代分析技术和仪器将在研讨会上进行介绍。利用物理方法降低背景来降低XRF的检出限的方法将会被讨论，以同步辐射光源作为激发源的例子，以及标准化的WDXRF实验室仪器。对全反射XRF(TXRF)技术及仪器的介绍，将展示TXRF的低检出限、高灵敏度，可测元素范围可以到轻元素(如碳)。共聚焦&mu -XRF将成为二维和三维空间元素成像的有效方法。将展示XRF光谱技术在一些有趣的科学领域的成功应用及其重要性，如在环境、微电子、法医、和生命科学等领域的应用。 　　2013年8月5日 13:30-16:30 　　主题：X射线光学 　　地点： Cotton Creek 　　主办单位&主讲人： 　　德国汉堡大学，U. Fittschen，ursula.fittschen@chemie.uni-hamburg.de 　　美国洛斯阿拉莫斯国家实验室，G.J. Havrilla，havrilla@lanl.gov 　　德国汉堡DESY国家同步辐射实验室，G. Wellenreuther 　　AXO 德累斯顿有限公司，M. Kraemer 　　本研讨会将聚焦于不同类型的最先进的X射线光学技术，如毛细管光学、DCC-光学、菲涅尔区板、KB-镜和复合折射透镜等。这些技术的性能和作用将通过最新的实验室研究成果为例进行说明。该研讨会适合初学者和有一定基础的研究人员更好的了解折射、衍射和全反射等基本物理原理。 　　主题：新型GSAS-II晶体学分析系统介绍(全天) 　　主题：TOTAL PATTERN ANALYSIS 　　地点：Meadowbrook 　　主办单位&主讲人： 　　国际衍射数据中心，T. Fawcett，fawcett@icdd.com 　　美国多晶体公司，J.A. Kaduk，kaduk@polycrystallography.com 　　主题：能量色散XRF 　　地点：Standley Ballroom I 　　主办单位&主讲人： 　　赛默飞，R. Phillipsrich.phillips@thermofisher.com 　　赛默飞，P. Lemberge 　　美国北卡罗来纳州三角研究园，A. McWilliams 　　本次研讨会旨在通过对EDXRF所有的X射线荧光光谱学者提供有关EDXRF基本理论和实际应用的讨论。涉及的主题包括仪器、部件、XRF的适用性 易用性 快速定性分析和物料筛分 进行定量分析的校准技术 无标样分析，各种不同基质中各种元素XRF分析的灵敏度 样品制备。将介绍多种EDXRF在日常生活中的应用实例，体现EDXRF在解决复杂分析问题方面的能力。研讨会的重点是介绍EDXRF的适用性，说明它是获得可靠的实验结果的最佳方案。 　　2013年8月6日 9:00&mdash 12:00 　　主题：数字信号处理和X射线探测器基础 　　地点：Standley Ballroom I 　　主办单位&主讲人: 　　日本广岛大学，S. Hayakawa,hayakawa@hiroshima-u.ac.jp 　　日本东京大学，J. Kawai, K. Ohira 　　日本东京X-Bridge Technologies，S. Terada 　　本次研讨会将介绍各种X射线探测器(硅，锗，CdTe，SSD，SDD，Si-PIN，正比计数器)，并解释了X射线光谱仪中数字信号处理过程。研讨会涉及的内容包括：(1)数字信号处理器(DSP)和数字示波器基础 (2)死时间校正 (3)峰的稳定性和校准 (4)线性和非线性响应 (5)低能量拖尾 (6 )能量分辨率，分析速度和有效峰面积之间的平衡 (7)逃逸峰，总峰，堆信号 (8)Fano因子 (9)如何确定最佳的参数设置 (10)近室温条件下进行操作。 　　主题：体验RIETVELD分析方法 　　地点：Cotton Creek 　　主办单位&主讲人: 　　美国橡树岭国家实验室，E.A. Payzant，payzanta@ornl.gov 　　美国马里兰大学，P. Zavalij 　　与会者将有机会对X射线或中子数据集进行精修。主讲人将会介绍一系列的样例来表明Rietveld精修的重要性。研讨会的主题将涉及：精细化方法介绍 　　结构模型和仪器参数 如何细化：晶格参数、热物性参数、择优取向 如何适当考虑仪器参数 准确度和精确度 细化指标和它们的含义 如何使用程序来模拟一个假设的模式 定量分析 对不完整的结构模型应该怎样做等。 　　与会者可以带笔记本来安装Rietveld软件，会议将会提供数据文件，研讨会中将会用GSAS+ EXPGUI软件对这些数据文件进行精修。其他比较流行的软件(FullProf, Topas, Jade, High-Score, MAUD, Rietan等)将在研讨会期间进行讨论。 　　GSAS+ EXPGUI软件：https://subversion.xor.aps.anl.gov/trac/EXPGUI。 　　主题：小角散射的建模与分析(全天) 　　地点：Meadowbrook 　　主办单位&主讲人: 　　陶氏化学公司,B.Landes,bglandes@dow.com 　　美国阿贡国家实验室，J. Ilavsky, ilavsky@aps.anl.gov 　　成功的SAXS或SANS实验，需要合适的数据分析软件。多年来，研发人员开发了多种软件，如ATSAS，主要适用于生物样品。针对材料科学、物理、化学等领域的复杂问题，开发了Irena软件。它被广泛用于为支持以美国阿贡国家实验室的先进光子源APS为光束的SAXS和USAXS分析，也可用于世界各地的一些其他设施。 　　研讨会上，软件的开发人，APS成员Jan Ilavsky将介绍软件的使用。将带领用户针对不同的分析方法进行数据输入，软件操纵，绘制图形，以及输出结果。软件的原理及对于多种问题的适用性将会被讨论。 　　参会人员可以带着自己的电脑(Windows or Mac OS)，会场将会提供演示版的Igor 6软件，以及最新的SAXS软件版本的CD，和其他资料。另外，欢迎与会人员带自己的SAXS实验结果来进行讨论。 　　Irena是一个用于小角散射(SAXS, SANS, USAXS, USANS)数据分析的工具包。有关该软件的更多细节，请访问：http://usaxs.xray.aps.anl.gov/staff/ilavsky/irena.html。 　　主题：XRF定量分析(全天) 　　地点：Standley Ballroom II 　　主办单位&主讲人: 　　日本理学，M. Mantler, michael.mantler@rigaku.com 　　华盛顿大学，W.T. Elam 　　帕纳科，B. Vrebos 　　上午：传统方法和资源 　　1、传统的基本参数和数学模型。 　　2、经验和理论影响系数。 　　3、基本参数收集：来源，可用性和可靠性。 　　4、免费的Excel工具用于基本参数数据和简单计算的对照。 　　下午：先进的方法 　　1、补偿方法(标准此外，内部标准，重吸收剂，康普顿散射)。 　　2、层状材料，不均匀的样品，和表面粗糙的样品。 　　3、轻元素、在轻质基体中的重元素分析、痕量元素分析。使用L和M线进行分析。 　　4、光谱解析 文物。 　　2013年8月6日 13:30-16:30 　　主题：INTRODUCTIONTO VOLUME H 　　地点：Cotton Creek 　　主办单位&主讲人: 　　美国伊利诺理工大学，J.A. Kaduk，jkaduk@iit.edu 　　主题：小角散射的建模与分析(全天) 　　地点：Meadowbrook 　　主办单位&主讲人: 　　陶氏化学公司,B.Landes,bglandes@dow.com 　　美国阿贡国家实验室，J. Ilavsky, ilavsky@aps.anl.gov 　　主题：XRF分析样品制备 　　地点：Standley Ballroom I 　　主办单位&主讲人: 　　美国Anzelmo & Associates公司J.A. Anzelmo,jaanzelmo@aol.com 　　加拿大Corporation Scientifique，Claisse M. Bouchard 　　美国Wyoming Analytical，C. Wilson 　　本次研讨会将讨论粉饼、熔融物，采用XRF分析的基本物理原理和实验室操作，将会专门讨论铁矿石，精矿，球团矿，煤炭和粉煤灰检测的样品制备问题。 　　主题：XRF定量分析(全天) 　　地点：Standley Ballroom II 　　主办单位&主讲人: 　　日本理学，M. Mantler, michael.mantler@rigaku.com 　　华盛顿大学，W.T. Elam 　　帕纳科，B. Vrebos 　　相关新闻：62届X射线分析应用大会国产厂商集体缺席 编译：秦丽娟

近日，中科院高能所自主研制的球面弯曲分析晶体取得突破性进展，助力高能同步辐射光源（HEPS）高能量分辨谱学线站建设。针对国内高压科学、能源材料等多学科的学科优势，为满足广大用户需求，HEPS高能量分辨谱学线站正在设计建造一台具有先进国际水平的X射线拉曼散射（XRS）谱仪—“乾坤”。其中，球面压弯分析晶体基于罗兰圆几何条件，将特定能量的X射线聚焦至探测器上，是XRS谱仪的核心光学部件。聚焦面形精度和高能量分辨是球面弯曲分析晶体的两项极为关键，又互相影响的技术指标，因而极具挑战性。“乾坤”谱仪采用6组模组化分析晶体阵列，由90余块半径1m的分析晶体构成，其晶体能量分辨的设计指标与电子-空穴态寿命展宽数量级相当，达到ΔE/E~10-5，球面弯曲面形精度满足1:1聚焦需求。在HEPS工程指挥部的部署下，HEPS高能量分辨谱学线站团队与光学设计、光学机械、光束线控制系统相关人员，联合多学科中心晶体实验室积极攻关。线站核心成员郭志英、多学科中心晶体实验室刁千顺，经过多年技术攻关和反复尝试，不断改进优化分析晶体制备工艺，最终探索出兼顾能量分辨与聚焦特性于一体的球面弯曲分析晶体制备方法。今年10月2日-5日，项目团队在北京同步辐射装置（BSRF）1W2B线站上，采用Si(111)双晶单色器Si(220)切槽单色器两次单色化、毛细管微聚焦的光学配置，利用自研三元谱仪样机，对谱仪单模组内15块分析晶体（图1），采用EPICS-Bluesky控制系统实现单色器联动扫描，开展了批量、高精度指标测试（装置见图2）。优化后入射能量带宽实现高分辨，达到半高全宽0.8eV@9.7keV，分析晶体自身能量分辨（图3）达到半高全宽~1eV@9.7keV，与理论预测值相当，聚焦特性得到充分验证(图3、图4)，各项指标全部满足工程设计需求。HEPS高能量分辨谱学线站是我国首条专注于硬X射线非弹性散射谱学实验的线站，聚焦核能级超精细结构、声子态密度、芯能级电子跃迁和价电子激发的探测，主要提供核共振散射（NRS）、XRS、共振非弹性散射（RIXS）等谱学方法，服务于量子科学、能源科学、材料科学、凝聚态物理、化学、生物化学、地学、高压科学、环境科学等多学科前沿研究。其中，XRS是一种基于X射线非弹性散射原理的先进谱学实验技术，欧洲ESRF （72块分析晶体）、美国APS（19块分析晶体）、日本SPring-8（12块分析晶体）、法国SOLEIL（40块分析晶体）、英国Diamond光源等光源已建成或规划建设XRS旗舰线站。由于非弹性散射截面极小，比X射线吸收截面小4~5个量级，XRS实验技术需要高亮度光源以增加入射光子通量，同时也需要大立体角谱仪提高探测效率，而大立体角探测需要多块发现晶体实现。首批分析晶体的指标通过在线测试，将满足大批量分析晶体加工的工程需求，对HEPS“乾坤”谱仪、高能量分辨谱学线站的实施都具有里程碑意义。值得一提的是，该类型分析晶体的工艺也已经用于多种类型谱仪分析晶体的研制。接下来，该团队将高质量完成其余模组分析晶体的批量加工，同时，将致力攻关无应力高能量分辨分析晶体的研制。晶体研发工作还获得先进光源技术研发与测试平台PAPS的支持，BSRF-1W2B、3W1、4W1A、4W1B线站提供机时。图1. HEPS自研分析晶体图2. 分析晶体测试装置，其中，左图给出了散射光和分析晶体分析光路示意图图3 分析晶体测试结果，左上为4#晶体能量分辨率实验结果和拟合曲线，左下为三块晶体在探测器上的聚焦光斑，右侧为分析晶体能量分辨率批量测试结果图4 扫描单色器能量时探测器上的光斑变化情况图5 测试人员合影

X 光成像是一种非常常见的医学诊断和医学成像技术。例如，传统 DR (Digital Radiography) 技术的基本几何示意图如下，X 射线光管发出光子束穿过患者，在平板探测器上产生二维图像。但是由于软组织和硬组织对 X 射线的质量衰减系数差异很大，导致 X 射线在组织识别上的能力受限。例如，为了评估肺部结构而拍摄胸片，在获得的图像中不可避免地被肋骨阻塞。在这种情况下，肋骨是结构噪声的主要来源，因为它们不是我们感兴趣的结构，如下图。成像的组织模糊不清，通常会增大病灶误判的概率。早在 1976 年科学家就提出了利用双能量 X 射线成像技术来降低结构噪声。先分别用低能光子和高能光子拍摄两幅图片，然后根据低能光子和高能光子在不同组织中的质量衰减系数，通过巧妙的扣减算法将患者的投影分解为仅包含软组织和硬组织的图像，如下图。双能量成像最大的挑战在于获得两幅独立的低能(LE)和高能(HE)图像。为了实现这一点，探测器吸收的 X 射线光谱应该对 LE 图像中的低能量光子和 HE 图像中的高能量光子进行重加权。获得这种分离的光谱可以通过两种不同的方式来完成：双发成像 (Double-shot Imaging)和单发成像 (Sing-shot Imaging)。双发成像是最直接的方法，通过改变 X 射线光管的加速电压来拍摄两幅不同能量段的图像，可以在两幅图像之间实现出色的光谱分离，并最大限度地减少图像光谱之间的重叠。但这种方法固有的时间分离会导致运动伪影出现在最后的图像中。例如在改变加速电压的过程中患者发生的心脏跳动、呼吸和肌肉运动等等，都会产生运动伪影。虽然可以使用双光源系统来解决运动伪影的问题，但也意味着更高的成本。此外，双发成像不可避免的增大了辐照剂量，两次曝光将使剂量至少增大 15%。而单发成像则采用双层平板探测器的手段，探测器主要由上下两个探测模块构成，上层探测模块测低能光子，下层探测模块探测高能光子，中间的金属滤片则用于光谱分离，如下图所示。在正常的剂量下，探测器可获得两幅光谱分离的图片，且没有运动伪影。但金属滤片的光谱分离能力有限，而且它会吸收部分光子，从而使得 HE 图像的信噪比较差。近年来，加拿大滑铁卢大学的研究人员开发的一款新兴探测器 Reveal&trade 35C 已经克服了双能量 X 射线成像的局限性。Reveal&trade 35C 具有独特的三层堆叠设计，便于集成， 量子效率高。与其他双能解决方案不同，Reveal&trade 35C只需要一次 X 射线曝光，即使用与常规胸部 X 光相同的辐射剂量，就能消除运动伪影，实现骨和组织的区分，首次实现横向双能图像。Reveal&trade 35C已经获得美国FDA 510(k) 认证和加拿大卫生部许可。在双层平板探测器的基础上将中间的金属滤片更换为一层探测模块，在不损失X射线剂量的情况下，优化了每层闪烁体的厚度以获得最佳的光谱分离，如左下图。在单次曝光下，可以同时获得三幅无运动伪影的图片，即双能图像（扣减算法处理layer 1和layer 3后）、高剂量效率图像（三层图像相加）。此外，多个感光层的高 DQE 使得即使在减少 30% 剂量的情况下，仍能获得高信噪比的图像，如右下图。在临床试验中，利用 Reveal&trade 35C 对两位患者进行成像，如下图。在检查第一位患者的软组织和硬组织图像后，放射科医生确认左下叶有肿块，右下叶有钙化肉芽肿，可能有新的右下叶肿块；第二位患者的骨折则在硬组织图像中清晰可见，这些病灶都是传统 DR 技术所不能发现的。主要参数参考文献：1. Siewerdsen J H, Shkumat N A, Dhanantwari A C, et al. High-performance dual-energy imaging with a flat-panel detector: imaging physics from blackboard to benchtop to bedside. Medical Imaging 2006: Physics of Medical Imaging. SPIE, 2006, 6142: 489-498.2. Shkumat N A. High-performance Dual-energy Imaging with a Flat-panel Detector. Toronto: University of Toronto, 2008.3. Maurino S L, Badano A, Cunningham I A, et al. Theoretical and Monte Carlo optimization of a stacked three-layer flat-panel x-ray imager for applications in multi-spectral diagnostic medical imaging. Medical Imaging 2016: Physics of Medical Imaging. SPIE, 2016, 9783: 1061-1074.

2008年3月28日在德国慕尼黑，服务科学，世界领先的赛默飞世尔科技发布最新消息，高性能EDXRF系统—Thermo Scientific推出的ARL QUANT，X采用了Thermo Scientific的UniQuant® XRF分析软件包。以高性能的光谱仪、无标样软件及其附件为主要特征的完全半敞开EDXRF（能量色散X射线荧光）系统，不仅满足中心实验室和分包实验室的分析需要，而且适用于环境监测、化工、采矿、鉴定、食品、电子、水泥和冶金行业。此外，仪器还配置了照相系统，用于样品成像，这种独特解决方案的仪器将于4月1日至4日在德国慕尼黑举办的2008仪器分析展示会B1大厅的Thermo Scientific展台105/204上与观众见面。 这项集成技术的设计理念是便于任何尺寸、形状和状态样品的快速定性、定量及非破坏性的元素分析。快速、准确地测量各种材料包括固体、粉状、液体和层状结构样品中主量、微量和痕量元素。 为了适用于ARL QUANT，X，经改进理论模型的赛默飞世尔UniQuant软件包使分析准确度得到大大地提高，UniQuant使用八个滤波器收集发射谱线，仪器激发每个样品从钠到铀的所有元素，以获得真实单值的结果。软件能够获取完整的光谱轮廓，校正所有可能的重叠和背景影响。此前，由于多重X射线激发条件和检测器的分辨率等因素的困扰，是难以实现的。 软件还能帮助分析人员确定样品的性质，例如，区域、高度或质量，这些特性往往会使分析结果产生奇特的效果，尤其是在样品中包含氢、碳、氮、氧等EDXRF不能分析的轻质元素团块的时候，各种可选报告级别和格式可为不同的用户提供清晰的结果。配备UniQuant的QUANT，X还具有预校准的功能，只需稍加培训操作者便可操作，不需昂贵的校准软件包。 QUANT，X还配有集成的实时样品监视摄像头，以便在分析前或分析中识别、隔离和对准非常小的特征和区域，因此可改善无标样分析的准确性。此外，抽真空、吹氦和惰性气体选项可在相当程度上改善固体、粉末和液体样品中轻元素的分析灵敏度。 用金属锌铸成的全真空室安装在经过表面处理的钢架上，该设计保证了仪器在整个服役期内的机械稳定性，而且非常便于搬运。这种交钥匙系统安装起来也十分容易，30分钟内即可使用。完全个性化并可在现场升级的仪器分析一个元素仅仅只需10-20秒，最大限度地节省了分析时间。 screen.width-300)this.width=screen.width-300" 欲进一步了解装有UniQuant的赛默飞世尔ARL QUANT，X解决方案，请参观2008年分析展示会B1厅赛默科技展台105/204、或打电话+49-6103-408-0，或给sales.china@thermofisher.com发邮件，或访问我们的网站：www.thermo.com/xray。 关于赛默飞世尔科技公司(Thermo Fisher Scientific，原“热电”公司) Thermo Fisher Scientific（赛默飞世尔科技）（纽约证交所代码：TMO）是全球科学服务领域的领导者，致力于帮助客户使世界更健康、更清洁、更安全。公司年销售额超过100亿美元，拥有员工约33000人，在全球范围内服务超过350000家客户。主要客户类型包括：医药和生物公司，医院和临床诊断实验室，大学、科研院所和政府机构，以及环境与工业过程控制装备制造商等。公司借助于Thermo Scientific和Fisher Scientific这两个主要的品牌，帮助客户解决在分析化学领域从常规的测试到复杂的研发项目中所遇到的各种挑战。Thermo Scientific能够为客户提供一整套包括高端分析仪器、实验室装备、软件、服务、耗材和试剂在内的实验室综合解决方案。Fisher Scientific为卫生保健，科学研究，以及安全和教育领域的客户提供一系列的实验室装备、化学药品以及其他用品和服务。赛默飞世尔科技将努力为客户提供最为便捷的采购方案，为科研的飞速发展不断地改进工艺技术，提升客户价值，帮助股东提高收益，为员工创造良好的发展空间。欲了解更多信息，请登陆：http://www.thermofisher.com/ .

日本电子株式会社（JEOL)近期发布了扫描电镜和电子探针用软X射线分析谱仪（SXES ：Soft X-Ray Emission Spectrometer），将扫描电镜和电子探针对材料分析水平、能力和精度大大扩宽。 电子光学仪器上发射的电子束与样品发生复杂的交互作用，产生各种信号，收集不同信号进行分析，可以获得样品的各种不同信息。软X射线分析谱仪就是通过采集样品上被激发出来的软X信号进行分析的仪器。它的能量分辨率为0.3eV，远高于能谱仪（EDS)和波谱仪（WDS）的分辨率；对轻元素的定量分析非常准确，比如B元素的检出极限可达20ppm；还可以进行元素价态分析。将扫描电镜从以侧重图像为主的仪器变身为图像、成分、价态均可清晰表达的超级分析仪器。也将电子探针的分析能力大幅度提升。 详情请咨询日本电子株式会社在中国的全资子公司捷欧路（北京）科贸有限公司及其各分支机构。上图：EDS-WDS-SXES谱峰分辨率比较上图：各种氮化物的谱图检测分析上图：各种碳化物的谱图分析上图：锂电池充电过程观察

一、概念1. X光电子能谱法(XPS)是一种表面分析方法，提供的是样品表面的元素含量与形态，而不是样品整体的成分。其信息深度约为3-5nm。如果利用离子作为剥离手段，利用XPS作为分析方法，则可以实现对样品的深度分析。固体样品中除氢、氦之外的所有元素都可以进行XPS分析。2. 俄歇电子能谱法(AES)作为一种最广泛使用的分析方法而显露头角。这种方法的优点是：在靠近表面5-20埃范围内化学分析的灵敏度高；数据分析速度快；能探测周期表上He以后的所有元素。虽然最初俄歇电子能谱单纯作为一种研究手段，但现在它已成为常规分析手段了。它可以用于许多领域，如半导体技术、冶金、催化、矿物加工和晶体生长等方面。俄歇效应虽然是在1925年时发现的，但真正使俄歇能谱仪获得应用却是在1968年以后。二、相似与区别：1.相同之处：它们都是得到元素的价电子和内层电子的信息，从而对原子化器表面的元素进行定性或定量分析，也可以通过氦离子对表面的刻蚀来分析原子化器近表面的元素，得到原子化器材料和分析物渗透方面的信息。2.相比之下，XPS通过元素的结合能位移能更方便地对元素的价态进行分析，定量能力也更好，使用更为广泛。但由于其不易聚焦，照射面积大，得到的是毫米级直径范围内的平均值，其检测极限一般只有0.1%，因此要求原子化器表面的被测物比实际分析的量要大几个数量级。AES有很高的微区分析能力和较强的深度剖面分析能力。现在最小入射电子束径可达30nm。但是文献还没有报道原子化器表面的俄歇电子象。另外，对于同时出现两个以上价态的元素，或同时处于不同的化学环境中时，用电子能谱法进行价态分析是比较复杂的。一、特点：X射线光电子能谱法的特点：① 是一种无损分析方法(样品不被X射线分解)；② 是一种超微量分析技术(分析时所需样品量少)；③ 是一种痕量分析方法(绝对灵敏度高)。但X射线光电子能谱分析相对灵敏度不高，只能检测出样品中含量在0.1%以上的组分。俄歇电子的特点是：① 俄歇电子的能量是靶物质所特有的，与入射电子束的能量无关。大多数元素和一些化合物的俄歇电子能量可以从手册中查到。② 俄歇电子只能从20埃以内的表层深度中逃逸出来，因而带有表层物质的信息，即对表面成份非常敏感。正因如此，俄歇电子特别适用于作表面化学成份分析。局限性：① 不能分析氢和氦元素；② 定量分析的准确度不高；③ 对多数元素的探测灵敏度为原子摩尔分数0.1%~1.0%；④ 电子束轰击损伤和电荷积累问题限制其在有机材料、生物样品和某些陶瓷材料中的应用；⑤ 对样品要求高，表面必须清洁(最好光滑)等。三、两者的应用X射线光电子能谱分析与应用1.元素(及其化学状态)定性分析方法：以实测光电子谱图与标准谱图相对照，根据元素特征峰位置(及其化学位移)确定样品(固态样品表面)中存在哪些元素(及这些元素存在于何种化合物中)。定性分析原则上可以鉴定除氢、氦以外的所有元素。分析时首先通过对样品(在整个光电子能量范围)进行全扫描，以确定样品中存在的元素；然后再对所选择的峰峰进行窄扫，以确定化学状态。2.在固体研究方面的应用对于固体样品，X射线光电子平均自由程只有0.5~2.5nm(对于金属及其氧化物)或4~10nm(对于有机物和 聚合材料)，因而X射线光电子能谱法是一种表面分析方法。以表面元素定性分析、定量分析、表面化学结构分析等基本应用为基础，可以广泛应用于表面科学与工程领域的分析、研究工作，如表面氧化(硅片氧化层厚度的测定等)、表面涂层、表面催化机理等的研究，表面能带结构分析(半导体能带结构测定等)以及高聚物的摩擦带电现象分析等。Cr、Fe合金表面涂层——碳氟材料X射线光电子谱图X射线光电子能谱分析表明，该涂层是碳氟材料。俄歇能谱应用通过正确测定和解释AES的特征能量、强度、峰位移、谱线形状和宽度等信息，能直接或间接地获得固体表面的组成、浓度、化学状态等多种情报。1. 定性分析定性分析主要是利用俄歇电子的特征能量值来确定固体表面的元素组成。能量的确定在积分谱中是指扣除背底后谱峰的最大值，在微分谱中通常规定负峰对应的能量值。习惯上用微分谱进行定性分析。因此由测得的俄歇谱来鉴定探测体积内的元素组成是比较方便的。在与标准谱进行对照时，除重叠现象外还需注意如下情况：①由于化学效应或物理因素引起峰位移或谱线形状变化引起的差异；②由于与大气接触或在测量过程中试样表面被沾污而引起的沾污元素的峰。2. 状态分析对元素的结合状态的分析称为状态分析。AES的状态分析是利用俄歇峰的化学位移，谱线变化(包括峰的出现或消失)，谱线宽度和特征强度变化等信息。根据这些变化可以推知被测原子的化学结合状态。3. 深度剖面分析利用AES可以得到元素在原子尺度上的深度方向的分布。为此通常采用惰性气体离子溅射的深度剖面法。由于溅射速率取决于被分析的元素，离子束的种类、入射角、能量和束流密度等多种因素，溅射速率数值很难确定，一般经常用溅射时间表示深度变化。4. 界面分析用 AES研究元素的界面偏聚时，首先必须暴露界面(如晶界面，相界面，颗粒和基体界面等等。一般是利用样品冲断装置，在超高真空中使试样沿界面断裂，得到新鲜的清洁断口，然后以尽量短的时间间隔，对该断口进行俄歇分析。 对于在室温不易沿界面断裂的试样，可以采用充氢、或液氮冷却等措施。如果还不行，则只能采取金相法切取横截面，磨平，抛光或适当腐蚀显示组织特征，然后再进行俄歇图像分析。5. 定量分析AES定量分析的依据是俄歇谱线强度。表示强度的方法有：在微分谱中一般指正、负两峰间距离，称峰到峰高度，也有人主张用负峰尖和背底间距离表示强度。6. 俄歇电子能谱在材料科学研究中的应用① 材料表面偏析、表面杂质分布、晶界元素分析；② 金属、半导体、复合材料等界面研究；③ 薄膜、多层膜生长机理的研究；④ 表面的力学性质(如摩擦、磨损、粘着、断裂等)研究；⑤ 表面化学过程(如腐蚀、钝化、催化、晶间腐蚀、氢脆、氧化等)研究；⑥ 集成电路掺杂的三维微区分析；⑦ 固体表面吸附、清洁度、沾染物鉴定等。

北极星成像（NSI）美国西海岸设备及检测服务中心正式搬迁至加州亚里索维耶荷市（Aliso Viejo）以满足日益增长的全球高能X射线工业CT检测服务美国北极星成像（North Star Imaging）荣幸地宣布将其位于美国西海岸的X射线设备和检测服务中心搬迁至位于加利福尼亚州亚里索维耶荷市（Aliso Viejo）拥有更大区域的检测服务地址。该新办公地点和实验室将为NSI的北美X射线业务提供更大的扩展空间，同时顺应更多的客户要求，其更大的仓储区域可放置更多的X射线扫描部件。相信随着X射线检测服务业务的持续增长，更多的创新科技将会在这广阔的区域开发和引入。“我们知道，由于新冠疫情（COVID-19），今年对于每个人来说都是非常艰难的一年。NSI美国检测服务业务经理David Nokk表示： “作为一家企业，我们对这一举动非常兴奋，这意味着NSI的母公司ITW（伊利诺伊工具制品公司）对我们在西海岸的业务增长充满信心。”NSI西海岸办公室位于加州亚里索维耶荷市（Aliso Viejo），现拥有X3000™ ，X5000™ 和一台450kV的X5000型X射线检测系统。这意味着NSI美国西海岸实验室已具有扫描从小到几微米到大到50加仑水桶般物品的检测能力，且可以最快的速度进行单次或多次的批量扫描。NSI美国西海岸业务发展经理Kevin Bresnahan说： “现在我们的团队可以进行2D，3D和4D扫描。很快，我们还将拥有一台高能X射线系统，这将成为北美航空航天和国防企业的重要资产投入。我们将在今年推出此新系统，我非常高兴NSI美国西海岸的客户将率先体验它的强大功能与能力。”“我们非常高兴高能量X射线系统正式加入NSI产品系列中，以更好地为我们的客户提供服务，进一步增强提供安全，可靠产品的行业能力。是我们的客户不断推动着NSI的进步，我们的目标是为需要对关键项目进行最具挑战性检测的世界一流企业提供优质的服务。感谢NSI的所有客户和朋友使之成为可能。” 北极星成像总经理Seth Taylor说道。北极星成像美国西海岸办公室。地址：25 Journey Street, Aliso Viejo, California. USA.关于美国北极星成像公司（North Star Imaging）美国北极星成像公司（NSI）是全球知名的工业2D数字成像（DR）和3D计算机断层扫描（CT）X射线设备的制造商。工业X射线扫描通常用于研发，失效分析，质量控制，内部尺寸测量和高速3D扫描等。X射线扫描使用户可以更清楚地查看和检测零件的内外部结构而不破坏它。 NSI的efX® CT集成了全球最强大的CT重建和可视化软件，包括用于校准，测量，实时密度切片和表面提取的模块。NSI在其位于美国明尼苏达州，加利福尼亚州，马萨诸塞州和法国，英国，中国的6个全球公司提供X射线检测服务，24/7技术支持和NDT无损检测基础和高级培训课程。 NSI已通过ISO 9001：2015认证。如欲了解更多请关注NSI官方微信：NSIChina

听用户真实评价，晓新品技术进展！【评新而论】第3期，主角是安科慧生的双源单波长激发能量色散X射线荧光光谱仪（MEGREZ-A），曾荣获“3i奖-2022年度科学仪器行业优秀新品”。本次分享清华大学、万华集团以及南京土壤所共计3家知名单位的用户评价。 仪器新品区 点击询价双源单波长激发能量色散X射线荧光光谱仪是一款新型的能量色散X射线荧光光谱仪，与传统能量色散XRF和波长色散XRF相比，是在光路上的一次全新创新，核心在于采用双曲面弯晶的单色化入射，消除X射线管出射谱中韧致辐射入射样品所产生的连续散射线背景干扰，由于聚焦激发，提升了硅漂移探测器（SDD）元素荧光接受立体角与强度，大幅提升XRF元素检测灵敏度。同时采用双光源激发能够实现从碳到铀的全元素检测，且各元素的检出限均可满足不同行业对主量元素及微量杂质元素的检测要求。具有样品处理简单、分析速度快、精度高、维护及运行成本低等特点，且性能优于同类产品，同时配备自动进样装置实现测试自动化，节省劳动力。一、创新点：1.1双源单色化聚焦激发技术双源单波长激发能量色散X射线荧光光谱仪首先采用全聚焦型双曲面弯晶单色化技术，将X射线光管出射谱中靶材特征射线单色化衍射并聚焦到样品一点，大幅降低X射线管出射谱中连续散射线背景对样品元素谱的干扰，提升元素检测信噪比，弥补了传统能量色散X射线荧光光谱仪对待测元素灵敏度不足。其次，由于不同元素的激发能量（吸收限）不同，为达到最佳的荧光产额，采用双光源进行单色化照射待测样品，激发待测元素，从而进行全元素的定性和定量分析。1.2定量方法—基本参数法基本参数法(FP)是XRF定量分析的一项前沿技术，其通过对X射线荧光物理学明确的物理现象建立基本参数库和系列数学模型，经过大量计算直接得到样品中各元素的含量，解决了XRF基体效应、元素间吸收增强效应、谱线重叠干扰、探测器各种效应等对定量分析的复杂性和不确定性，实现欠缺标准样品情况下的样品元素定量分析。这弥补了经验系数法需要大量标准样品校正的缺陷。北京安科慧生研发的快速基本参数法（Fast FP2.0）不仅采用基本参数库，同时建立系列的数学模型，从而使得基本参数法提升到定量分析水平，在样品适应性、定量精度、扩展性等方面处于国际领先水平。二、功能介绍：2.1元素范围从碳到铀元素，且检出限低，灵敏度高。采用双源单色激发能量色散X射线荧光光谱仪元素检测范围扩展到C、N、O、F，检测精度优于大型的波长色散X射线荧光光谱仪。采用双光源单色化激发，降低背景连续谱干扰，降低元素检出限，比如超轻元素氧的检出限可达到0.2%，氟元素检出限低至0.05%；重金属镉、砷、铅等低至0.1mg/kg以下。谱图如下：图：双源单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪超轻元素谱图表1部分重金属检出限重金属元素铅镉汞砷铬镍锡铊检出限(mg/kg)0.070.030.10.060.20.10.10.08注：检测时间为300s2.2可实现在少标样甚至无标样的情况下进行定量分析。X射线荧光光谱仪因其样品无需消解等前处理，因此样品基体较为复杂，元素之间、基体与元素间、探测器效应等均对定量有影响。快速基本参数法采用基本参数库与数学模型结合来消除各种X射线荧光光谱法中的各种效应，从而对未知样品进行定量分析，如表所示。表1 标准值与FP计算值准确性对比样品名称Cr(mg/kg)Ni(mg/kg)Cu(mg/kg)标准值FP值相对误差标准值FP值相对误差标准值FP值相对误差GSD-2729.8±2.631.425%15.2±0.917.3114%916±699908%GSD-3270±6.776.59%28.1±1.728.672%25.7±1.330.0417%GSS-6048±354.6414%23±224.798%21±121.42%GSS-2462±263.432%24±125.56%28±130.389%ESS-157.261.958%29.630.94%20.924.7118%ESS-470.484.0619%32.837.0213%26.329.4912%续表1 标准值与FP计算值准确性对比样品名称As(mg/kg)Pb(mg/kg)Cd(mg/kg)标准值FP值相对误差标准值FP值相对误差标准值FP值相对误差GSD-2711±0.612.3913%22±0.623.015%0.36±0.030.32-11%GSD-3233.9±1.133.890%35.7±1.339.5611%0.38±0.040.347-9%GSS-6014.3±0.315.529%18.7±0.618.881%0.113±0.0050.098-13%GSS-2415.8±0.916.826%40±241.784%0.106±0.0070.092-13%ESS-110.712.8920%23.624.423%0.0830.06-28%ESS-411.413.8421%22.624.659%0.0830.07-16%2.3样品采用下照式，避免粉末样品污染X射线出射及入射窗口。2.4仪器结构紧凑，无需较大激发电压，光管功率最大仅为50W，运行及维护成本较低。相较于波长色散型X射线荧光光谱仪，光路紧凑，无需较大激发光源，因此运行维护成本较低。因为功率较小因此对样品的烧灼破坏较小，尤其针对空气滤膜等样品来说，样品损失较小，重复利用率较高。对于某些受热易挥发元素如硫、氯等元素，也是降低其损失性。2.5样品处理简单、检测速度快。检测元素样品一般仅需要15分钟左右。 评"新"而论区 用户单位1：清华大学应用领域：综合科研评论：由于学生研发项目较多，合成及研制的样品类型各种各样，样品基体组分复杂多样，没有任何相关标准物质，同时要求全元素的同时测定。双源单波长激发能量色散X射线荧光光谱仪可快速定性出样品中的全部元素，同时在无标准物质标准曲线的情况下，达到准确定量效果，非常适合未知样品的准确定性和定量，对于科研人员非常友好。用户单位2：万华集团应用领域：锂电池评论：当前锂电池材料尤其是硅氧碳富集材料的准确定量分析非常复杂，且数据稳定性较差，采用双源单波长激发能量色散X射线荧光光谱仪可以有效激发C、O、Si等超轻元素的特征X射线荧光峰，采用不同比例混合的硅氧富集材料进行无标定量，无标定量结果与理论值线性良好，测试实际样品测定值也与理论值相符合，为今后行业元素测定提供了新的思路和方法。用户单位3：南京土壤所应用领域：土壤检测评价：土壤中的全总量元素，尤其是Si、S等元素的测定，方法繁杂，要求技术人员操作技术非常高，且经验丰富，此外，测试周期较长，日常样品通量少，面对一百以上甚至上千的样品来说，检测任务非常繁重，而采用双源单波长激发能量色散X射线荧光光谱仪可同时对全总量元素及痕量重金属快速准确定量，同时仅需5~7个标准样品进行校正，可适应各类不同土壤类型，同时配备了自动进样系统，完全可胜任大批量工作。用户可从繁重的检测任务中解脱出来，投身更多的科研项目。“3i奖-2023年度科学仪器行业优秀新品”评选火热进行中！获奖结果将于ACCSI2024中国科学仪器发展年会现场揭晓并颁发证书。时间：4月17-19日地点：苏州狮山国际会议中心详情点击：https://www.instrument.com.cn/accsi/2024/index日常新品申报入口↓↓↓https://www.instrument.com.cn/Members/NewProduct/NewProduct关于：“3i奖—科学仪器行业优秀新品”仪器及检测3i奖，又名3i奖（创新innovative、互动interactive、整合integrative），是由信立方旗下网站：仪器信息网和我要测网联合举办的科学仪器及检验检测行业类奖项，是随着行业的发展需求，应运而生。从旗下第一个奖项优秀新品奖于2006年创办，3i奖为记录行业发展路上的熠熠星光，截至目前，已设置有12个常设奖项。“科学仪器行业优秀新品”作为3i奖中非常重要的一项，旨在将在中国仪器市场上推出的、创新性比较突出的国内外仪器产品全面、公正、客观地展现给广大的国内用户，同时，鼓励各仪器厂商积极创新、推出满足中国用户需求的仪器新品。“科学仪器行业优秀新品”评选活动已经成功举办了十七届。评选出的年度优秀新品受到越来越多仪器用户、国内外仪器厂商以及相关媒体的关注和重视。经过10余年的打造，该奖项已经成为国内外科学仪器行业最权威的奖项之一，获奖名单被多个政府部门采信，仪器信息网新品首发栏目也成为了国内外科学仪器厂商发布新品的首选平台 往期回顾 vol.01评"新"而论|达普Cytospark CSP高通量细胞筛选系统vol.02评"新"而论|Akoya PhenoCycler-Fusion单细胞原位空间组学分析平台

近年来，限制使用环境有害物质已变得普遍，且成为保护环境工作的一部分。随着RoHS/ELV指令等法规的出台，包括制造商在内的很多公司都被要求控制其产品中包含的限制物质数量。新型EA1280具有中国国家标准（GB标准）建议要求的检测器分辨率，相比于Si - PIN二极管等其他半导体检测器，其工作效率和分析准确度更高。尤其与其他分析方法相比，X射线荧光分析可提供快速、无损、简单的元素分析，因此其持续多次用于RoHS合规性筛查中。EA1280具有的特性1. 使用新型高性能半导体检测器（硅漂移检测器（SDD）），便于提高测试工作效率和获得更可靠结果。2. 采用同轴光学器件进行样品观察和辐照X射线，便于分析各种样品。3. 配备易用软件，便于操作员仅需接受简单的质量控制和过程控制培训即可使用分析仪。EA1280 技术规格型号EA1280测量元素范围13Al～ 92U准直器（分析光斑尺寸）5 mmΦ（1、3 mmΦ：可选）初级滤波器（用于优化性能）5种模式（4台滤波器+关闭）自动切换样品舱环境大气检测器高性能SDD分析仪尺寸520（宽）×600（深）×445（高）mm重量约69 kg样品舱尺寸304（宽）×304（深）×110（高）mmEA1280是加入日立 EA1000系列分析仪的最新型号，具备强大的分析能力，能满足广泛的测试要求。如需了解日立用于RoHS合规筛选的XRF分析仪系列，请点击进入日立展位了解

p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" text-indent: 2em " 能量色散X-射线荧光光谱仪（ED-XRF）以其快速、对试样无损、多种元素同时分析、分析成本低等优点，在许多领域中发挥着巨大的作用 /span br/ /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 为了更系统地了解近年来我国ED-XRF的技术与应用进展、未来发展趋势及市场情况等， strong 仪器信息网特组织了“能量色散X-射线荧光光谱仪（ED-XRF）”市场调研。 /strong 通过对业内专家、ED-XRF相关主流厂商技术负责人当面或电话咨询，对广大ED-XRF用户进行线上问卷调研、线下咨询交流，对政府采购网ED-XRF的中标信息、ED-XRF相关标准及仪器信息网相关专场信息进行统计分析等多种形式展开调研，并对相应信息进行统计分析。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 基于上述的调研结果， strong 仪器信息网撰写完成了《中国能量色散X-射线荧光光谱仪（ED-XRF）市场调研报告（2019）》。报告介绍了ED-XRF技术的基本情况、主流产品、近两年发布的新产品等，同时详细分析了我国ED-XRF用户的地区分布、专业类别、单位性质等信息，另外还对2018年我国ED-XRF市场的总体情况及热点应用进行了分析，报告还分析了国产和进口ED-XRF用户对产品的满意度、售后的评价，以及用户购买购买ED-XRF的途径等信息。 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 本次调研活动得到了广大用户、企业以及业内专家的大力支持，共有两百余位ED-XRF的专家和用户参与了此次调研。在此，谨对他们表示最衷心的感谢。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/survey/Report_Census.aspx?id=192" target=" _blank" span style=" color: rgb(84, 141, 212) " strong 报告链接：https://www.instrument.com.cn/survey/Report_Census.aspx?id=192 /strong /span /a /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 如对本报告感兴趣，也可通过邮箱（wuyou@instrument.com.cn）联系我司相关人员，咨询报告相关细节。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " strong 中国能量色散X-射线荧光光谱仪（ED-XRF）市场调研报告 （2019） /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 报告目录 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 第一章 ED-XRF技术概述 1 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1.1& nbsp ED-XRF技术简介 1 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1.2& nbsp ED-XRF技术发展趋势 1 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1.2.1& nbsp 仪器小型化、专用化 2 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1.2.2多功能化、智能化 2 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1.2.3& nbsp 一机多用 2 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1.3& nbsp ED-XRF近年受关注技术 2 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1.3.1& nbsp 全反射X-射线荧光光谱（TXRF） 2 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 1.3.2& nbsp 微束X-射线荧光光谱（μ-XRF） 3 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 第二章 ED-XRF产品概况 4 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.1& nbsp ED-XRF主流产品概况 4 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.2& nbsp 2018-2019年ED-XRF新产品概况 5 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.2.1& nbsp HORIBA& nbsp XGT-9000& nbsp X射线显微分析仪 5 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.2.2& nbsp 四川新先达& nbsp CIT-3000SY& nbsp X-荧光元素录井仪 6 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.2.3& nbsp SciAps& nbsp X-50土壤分析仪 7 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.2.4& nbsp 赛默飞（尼通）Niton& nbsp XL5手持式矿石分析仪 8 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.2.5& nbsp 朗铎科技FAS& nbsp 2100手持式X射线荧光光谱仪 9 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 2.2.6& nbsp 奥林巴斯Vanta& nbsp Element手持式X射线荧光光谱仪 10 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 第三章 ED-XRF用户调研分析 11 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 3.1& nbsp ED-XRF用户单位性质分布 11 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 3.2& nbsp ED-XRF用户地域分布 11 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 3.3& nbsp ED-XRF类型分析 12 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 3.4& nbsp 用户拥有ED-XRF数量分析 13 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 3.5& nbsp ED-XRF主要用途分析 14 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 3.6& nbsp ED-XRF使用频率分析 14 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 第四章 ED-XRF市场概况分析 16 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 4.1& nbsp 2018年中国ED-XRF市场情况分析 16 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 4.2& nbsp ED-XRF热点应用或市场需求分析 18 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 第五章 ED-XRF政府采购招中标分析 19 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 5.1& nbsp 2018年ED-XRF政府采购招中标情况分析 19 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 5.1.1采购单位性质分布 19 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 5.1.2& nbsp ED-XRF中标类型分布 20 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 5.1.3& nbsp ED-XRF中标品牌分布 20 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 5.1.4& nbsp ED-XRF中标价格区间分布 21 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 5.2& nbsp 各类单位采购ED-XRF品牌及品类交叉分析 21 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 5.2.1& nbsp 各单位采购ED-XRF品类分析 21 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 5.2.2& nbsp 各类型ED-XRF不同品牌出货量分析 22 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 第六章 用户对ED-XRF评价分析 24 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 6.1& nbsp 用户采购ED-XRF的关注因素分析 24 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 6.2& nbsp 国产与进口ED-XRF故障率对比分析 24 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 6.3& nbsp 国产与进口ED-XRF用户满意度对比分析 26 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 6.3.1& nbsp 售前服务满意度 26 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 6.3.2& nbsp 产品性能满意度 27 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 6.3.3产品价格满意度 28 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 6.3.4售后技术支持满意度 30 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 6.3.5售后维修满意度 31 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 6.4& nbsp ED-XRF售后服务问题分析 32 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 6.5& nbsp 用户获取ED-XRF信息及采购渠道方式分析 34 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 结论 35 /strong /p

9月17-19日，《能量色散X射线荧光光谱仪》系列行业标准起草工作会议在昆山嘉乐国际酒店召开。天瑞仪器作为标准起草单位组织了本次会议。 根据工信厅科[2010]74号文下达的2010年第一批行业标准制修订项目计划，其中项目代号2010-1130T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 第1部分：通用技术》、2010-1131T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 第2部分：元素分析仪》和2010-1132T-JB的《能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪》等三项为行业标准制定项目。该三项标准由天瑞仪器股份有限公司负责起草，并于2011年8月成立起草工作组。 本次会议，EDX行业标准专家组就起草的标准提出了修改意见，对标准做了进一步完善。会上，中国仪器仪表行业协会秘书长马雅娟给天瑞仪器研发部副部长周晓辉颁发了&ldquo 全国专业标准化技术委员会委员证书&rdquo 。同期，工作组专家参观了天瑞仪器。 本次会议的出席单位有： 中国仪器仪表行业协会 中国科学院上海硅酸盐研究所 北京分析仪器研究所 昆山市产品质量监督检验所 岛津企业管理（中国）有限公司 牛津仪器（上海）有限公司 聚光科技（杭州）股份有限公司 北京普析通用仪器有限责任公司 上海思百吉仪器系统有限公司北京分公司 秘书长马雅娟为天瑞仪器颁发证书 行业标准专家组参观天瑞公司 天瑞仪器 江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业。旗下拥有北京邦鑫伟业公司和深圳天瑞仪器公司两家全资子公司。总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司专业从事光谱、色谱、质谱、医疗仪器等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。 了解天瑞仪器：www.skyray-instrument.com

X 射线分析仪器技术是近年来迅速发展的一门分析技术，它可在材料研究、分析以及各种工业过程和质量控制中测定从金属、矿物、油和其他液体一直到塑料、药物、陶瓷材料、纳米材料及半导体等各种材料的化学成分和晶体结构。为了与X 射线分析仪器界的同仁共同携手促进X 射线分析仪器的发展和广泛交流最新的研究进展，陕西省分析测试协会和荷兰帕纳科公司（PANalytical B.V.）将于2016年5 月26 日（周四）在古城西安举办“帕纳科最新X 射线分析技术研讨会”，届时将向您介绍X 射线荧光光谱分析的最新进展！ 与此同时，帕纳科还将现场展示最新推出EDXRF 能谱仪台式一体机—Epsilon1，您将看到其为不同行业量身定做的多种解决方案！特此邀请您光临出席此次研讨会，共同探讨X 射线分析仪器技术的发展！ 会议信息2016 年5 月26 日 中国 ? 西安主办单位：陕西省分析测试协会 荷兰帕纳科公司时间：08:30-17:00地点：西安富凯禧玥酒店会议地址：西安市南新街27 号（新城广场东南角）TimeProgress08:30-09:00报到登记09:00-09:15致欢迎辞陕西省分析测试协会领导致辞09:20-10:30帕纳科X 射线衍射系统（XRD）的多领域应用10:30-10:45茶歇10:45-12:00X 射线荧光光谱技术最新发展12:00-14:00午餐14:00-15:00帕纳科XRF 在地质行业及环保领域的优势与应用15:00-16:30??帕纳科小型台式能量色散X 射线荧光光谱仪——Epsilon1 现场演示如果您对我们的会议感兴趣，请联系：大昌华嘉商业（中国）有限公司联系人：金小姐联系方式：029-88337412邮箱地址：ins.cn@dksh.com大昌华嘉网站：www.dksh-instrument.cn扫描关注“大昌华嘉科学仪器部”公众号

项目编号：FJXCZB2022ZC046项目名称：清源创新实验室能量色散型X射线荧光光谱仪、全二维气相色谱质谱联用仪、液相色谱仪、总有机碳分析仪货物类采购项目预算金额：243.0000000 万元（人民币）最高限价（如有）：243.0000000 万元（人民币）采购需求：合同包品目号采购标的是否允许进口产品数量合同包预算（最高限价）投标保证金11-1能量色散型X射线荧光光谱仪是1（台）680000.00022-1全二维气相色谱质谱联用仪是1（台）1100000.00033-1液相色谱仪是1（台）390000.00044-1总有机碳分析仪是1（台）260000.000 合同履行期限：合同签订后180日内完成全部货物供货【如遇特殊情况需延长交货的，中标人须在交货期满前7日前提出延长交货时间的书面申请，经采购人同意后方可延长，否则按照逾期计算】并于接到采购人安装通知后7日内安装调试完毕并交付使用。本项目( 不接受 )联合体投标。

摘要：针对一起110kV隔离开关触头的腐蚀故障，采用手持式X射线荧光光谱仪分析故障隔离开关触头镀层的化学成分，发现厂家使用银氧化锡(Ag-SnO2)镀层代替镀银层。分析认为在工业含硫大气环境中，Ag-SnO2镀层中的银被SO2、H2S等硫化物腐蚀，铜基体在潮湿环境下腐蚀生成Cu2(OH)2CO3，从而导致隔离开关触头导电回路的接触电阻升高，引发过热故障。针对此次故障，提出了解决措施和建议。关键词：手持式X射线荧光光谱仪；隔离开关触头；电刷镀银；银氧化锡；腐蚀中图分类号：TQ153.16 文献标志码：A 文章编号：1004 – 227X (2019)23 – 1 – 04高压隔离开关是电力系统中使用最多、应用最广的一次设备。由于高压隔离开关多在户外运行，长期受风吹、雨淋、雷电、潮气、盐雾、凝露、冰雪、沙尘、污秽，以及SO2、H2S、NO2、氯化物等大气污染物的影响，因此各部件会发生不同程度的腐蚀[1-2]。高压隔离开关触头是关键部件，承担着转接、隔离、接通、分断等任务，其工作状态的好坏直接影响整个电力系统的运行[3]。高压隔离开关触头的基体为纯铜，但纯铜易被腐蚀，会造成表面接触电阻升高，引发过热故障，影响开关设备和电网的安全稳定运行[4-6]。为了减小接触电阻，DL/T 486–2010《高压交流隔离开关和接地开关》、DL/T 1424–2015《电网金属技术监督规程》和《国家电网有限公司十八项电网重大反事故措施(2018年修订版)及编制说明》[7]中明确规定：隔离开关触头表面必须镀银，且镀银层厚度不小于20 μm，以获得较低的接触电阻，从而保证良好的导电性。然而，在实际运行中，很多厂家生产的高压隔离开关产品会出现触头腐蚀、变色发黑、发热等故障，一般是由触头镀锡代替银或镀银层厚度不足造成，这些缺陷都可以通过国家电网公司开展的金属专项技术监督检测隔离开关触头镀银层厚度而发现[8]。近期，四川电网在金属技术监督中发现一起高压隔离开关触头腐蚀案例，镀银层厚度检测结果合格，但在采用手持式X射线荧光光谱仪分析镀层化学成分时发现，厂家竟然使用银氧化锡(Ag-SnO2)镀层代替镀银层，该造假手段通过颜色判断和镀层测厚无法发现，非常隐蔽，很容易因未进行镀层成分分析而误判合格，严重威胁电网的安全运行，希望引起各运维单位注意。 1 高压隔离开关触头的腐蚀故障某110 kV变电站于1991年投运，当地大气污秽等级为E级，大气类型为工业污染。周边潮湿多雨，化工、煤炭、玻璃等重工业污染企业密集，空气中SO2、H2S等硫化物浓度较高，大气的腐蚀性较强。2013年更换隔离开关触头，防腐措施为铜镀银。2017年站内巡检发现某110 kV隔离开关触头腐蚀严重，动、静触头接触面大部分呈绿色，少部分呈黑色(见图1)。红外测温发现该隔离开关触头存在过热故障，若继续运行，可能会造成隔离开关烧毁，甚至大面积停电等恶性事故，运维单位国网泸州供电公司紧急安排停运该隔离开关，并与国网四川电科院联合开展故障分析。图1 某110 kV隔离开关触头的腐蚀情况2 手持式X射线荧光光谱仪的检测原理X射线荧光光谱分析是用于高压隔离开关触头表面金属成分检测的一种非常有效的分析方法，具有快速、分析元素多、分析浓度范围宽、精度高、可同时进行多元素分析、无损检测等优点，被广泛应用于元素分析和化学分析领域[9]。其原理[9-12]为：由激发源产生高能量X射线照射被测样品，样品表面元素内层电子被击出后，轨道形成空穴，外层高能电子自发向内层空穴跃迁，同时辐射出特征二次X射线。每种元素都有各自固定的能量或波长特征谱线，具体与元素的原子序数有关。检测器测量这些二次X射线的能量及数量或波长，仪器软件将收集到的信号转换成样品中各种元素的种类和含量。X射线荧光光谱仪通常可分为波长色散型和能量色散型两大类，各自原理如图2 [11]所示。波长色散型光谱仪一般采用X射线管作为激发源，由检测器转动的2θ角可以求出X射线的波长λ，从而确定元素成分，属于台式仪器。能量色散型光谱仪是利用荧光X射线具有不同能量的特点，将其分开并进行检测，从而确定元素成分和含量，可以同时测定样品中几乎所有的元素，激发源使用的X射线管功率较低，且使用半导体探测器，避开了复杂的分光晶体结构，因此仪器工作稳定，体积小，便携性高，价格也较低，能够在数秒内准确、无损地获得检测结果，被广泛应用于金属材料中元素的精确定量分析[12-13]。 图2 波长色散型(a)和能量色散型(b)X射线荧光光谱仪的检测原理目前市售手持式X射线荧光光谱分析仪基本都是能量色散型X射线光谱仪。图3是目前四川电网基层供电公司使用的美国Thermo Fisher Scientific Niton XL2 800手持式X射线荧光光谱仪，它不受分析样品的大小、形状、位置限制，无需拆卸隔离开关，可以携带至变电站现场，能够分析Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Zr, Nb,Mo, Pd, Ag, Cd, Sn, Sb, Hf, Ta, W, Re, Au, Pb, Bi等25种元素。图3 手持式X射线荧光光谱仪3 现场检测结果3. 1 镀层化学成分分析表1 110 kV隔离开关触头镀层上不同颜色区域及铜基体的元素成分分析结果[4] 梁方建, 张道乾. GW5-110型隔离开关触头发热缺陷分析及检修处理[J]. 高压电器, 2008, 44 (1): 88-90.

X-射线衍射（XRD）分析技术作为材料结构表征的重要手段，业已成为探索物质微观结构的必不可少的方法之一。随着其用途范围的日益拓展，X射线衍射技术在材料、化学、生物医药、环境、物理等学科及地质矿产、钢铁冶金、冶金建材、石油化工、能源环保、电子信息、新药研发、航空航天等产业部门及司法、考古、商品鉴定等领域都得到广泛的应用。近年来随着新技术的大量出现和引入，XRD软、硬件技术和应用功能不断推陈出新，并迅猛发展。X射线衍射技术的理论教学也受到理工农医在校学生和社会科研院所科技工作者的普遍欢迎，为适应广大分析技术工作者的需求，进一步提高XRD用户的应用和研究水平，推动XRD分析应用的进一步发展，上海交通大学分析测试中心特举办“X-射线衍射分析技术”培训班，全国分析检测人员能力培训委员会（NTC）授权单位培训机构上海交通大学分析测试中心承办并负责相关会务工作。现将有关事项通知如下：1、 培训目标：了解X-射线衍射的原理与衍射仪的基本结构（涵盖粉末和单晶衍射）；了解X-射线衍射检测/校准项目及相关要求；掌握国家标准中X-射线衍射的检测方法；上机实践训练。（一）掌握XRD的测试技术，了解仪器维护方法，确保机器运转最佳状态。（二）面对数据分析中的常见问题，学员可理论联系实际，找到问题原因所在，掌握X-射线衍射分析技术的一般方法及技巧。2、 时间地点： 培训时间：2023年10月16日-10月18日 上海（时间安排：授课2天，考核1天）3、 课程大纲：课程内容10月16日上午X-射线衍射技术基本原理（晶体结构、倒易空间、布拉格衍射方程等）10月16日下午X-射线衍射测试原理及技术要点（各种衍射几何、多物相定性定量分析、测量的误差产生的根源及改进的方法）10月17日上午XRD谱图分析方法10月17日下午XRD仪器结构、功能和主要性能指标（包括零维、一维、二维衍射模式）10月18日上午X-射线衍射仪基本操作（调试操作与维护，仪器类型：Aeris 600、Mini Flex 600及Bruker D8系列）。10月18日下午考核4、 主讲专家：主讲专家来自上海交通大学分析测试中心，熟悉ATP 005 X-射线衍射分析技术大纲要求，具有NTC教师资格，长期从事X-射线衍射技术研究的专家。5、 授课方式：（1） 讲座课程；（2） 仪器操作6、 培训费用：（一）培训费及考核费：每人3000元（含报名费、培训费、资料费、考试认证费），食宿可统一安排费，用自理。（二）本校费用：每人1500 元（含报名费、培训费、资料费、考试认证费；必须携带学生证）。7、 颁发证书：本证书由国家科技部、国家认监委共同推动成立的全国分析检测人员能力培训委员会经过严格考核后统一发放，证书有以下作用：具备承担相关分析检测岗位工作的能力证明；各类认证认可活动中人员的技术能力证明、该能力证书可作为实验室资质认定、国际实验室认可的技术能力证明；大型仪器共用共享中人员的技术能力证明。 考核合格者将由发放相应技术或标准的《分析检测人员技术能力证书》。考核成绩可在全国分析检测人员能力培 训委员会(NTC)网站上查询（https://www.cstmedu.com/）。 8、 报名方式：（一）请详细填写报名回执表（附件1）和全国分析检测人员能力培训委员会分析检测人员考核申请表（附件2），邮件反馈。 （二） 注：请学员带一寸彩照2张（背面注明姓名）、身份证复印件一张，有学生证的学员携带学生证复印件。 （三） 报名截止时间是10月10日16:00前。 （四） 如报名人数不足5人取消本次培训。9、 联系方式联系人：吴霞（报名相关事宜）、饶群力（技术咨询）电话： 021-34208499-6102（吴霞）、021-34208499-6212（饶群力）E-mail：iac_office@sjtu.edu.cn官方网址：iac.sjtu.edu.cn

2016年10月，工业和信息化部发布了三项机械行业标准，分别为JB/T 12962.1-2016《能量色散X射线荧光光谱仪 第1部分：通用技术》、JB/T 12962.2-2016《能量色散X射线荧光光谱仪 第2部分：元素分析仪》和JB/T 12962.3-2016《能量色散X射线荧光光谱仪 第3部分：镀层厚度分析仪》（以下简称“三项标准”）。三项标准将于2017年4月1日正式实施。这三项行业标准均由天瑞仪器起草撰写。天瑞仪器作为在国内最大的X荧光光谱仪生产厂商，X荧光光谱仪产品齐全、种类繁多，包括能量色散X射线荧光光谱仪、波长色散X射线荧光光谱仪等，基本覆盖了X荧光光谱仪的所有产品。其在业内的知名度获得了国家标准化管理委员会的认可。2010年，全国工业过程测量和控制标准化技术委员会分析仪器分技术委员会任命天瑞仪器为三项标准的主编单位。 天瑞仪器手持式合金分析仪 EXPLORER5000本次起草编撰历时4年。经过多次的验证、讨论及意见征求， 2014年1月，天瑞仪器依据参编单位意见对标准工作组讨论稿再次进行修改并形成了标准送审稿。2016年10月，工业和信息化部批准发布了该标准，并定于2017年4月1日实施。二十世纪七十年代末，我国引进能量色散X射线荧光光谱仪投入使用，到90年代我国已具备自主生产能量色散X射线荧光光谱仪的能力。经历了近30年的发展，到二十一世纪初我国能量色散X射线荧光光谱仪生产技术已日臻成熟。目前，我国已有多家研制、生产、组装能量色散X射线荧光光谱仪的厂商，其产品主要性能指标基本接近国际先进水平。但是如何对能量色散X射线荧光光谱仪进行有效的质量评定，确保能量色散X射线荧光光谱仪的品质，目前国内还没有统一的行业标准，相关企业基本按照自定的标准生产，难免造成仪器性能不稳定、产品质量参差不齐、使用者对仪器性能不了解、仪器购销贸易纠纷不断等问题，严重影响了行业的健康发展。三项标准的实施将打破能量色散X射线荧光光谱仪行业的乱象，将规范本行业对于产品的技术要求及其测试方法，促进产业的进步和发展 将为产品的合同订立和产品交易提供技术支持，确保供货方和使用方的权利和利益 将使相关学术交流中，实验数据和测量结果的表述更加准确、可靠，更具参考性 将为仪器的生产及制造过程中提供可做为验收依据的参考数据。 天瑞仪器食品重金属快速检测仪EDX 3200S PLUS X近几年，天瑞仪器在X射线荧光光谱仪行业屡创辉煌，譬如，自主研发生产的食品重金属快速检测仪EDX 3200S PLUS X，采用了能量色散X射线荧光光谱技术实现食品中微量重金属有害元素的快速检测，操作简单，自动化程度高，可同时检测24个样本；在多年同时式波长色散X射线荧光光谱仪的研发和产品化基础上，在国家重大科学仪器设备开发专项资金支持下，融合独有的科技创新和发明，推出了国内第一台商业化顺序式波长色散X射线荧光光谱仪——WDX 4000，为土壤重金属检测提供新支持；成功研发EXPLORER手持式能量色散X射线荧光光谱仪，促进了仪器的小型化与便携化等。 天瑞仪器顺序式波长色散X射线荧光光谱仪 WDX 4000今后，天瑞仪器将继续以“行业领导者”为目标，不断提升技术水平，使国产仪器媲美国外，走向国际。同时，天瑞仪器着眼于日益严峻的环保形势，积极调整产品结构，致力于环保解决方案的提供，守护碧水蓝天。与时俱进开拓创新，用科学技术服务于国家，服务于人民，是每一个天瑞人的追求。

为确保电池容量、防止发热起火、成品率改善等作贡献 精工电子纳米科技有限公司（简称：SIINT，社长：川崎贤司，总公司：千叶县千叶市）是精工电子有限公司（简称：SII，社长：新保雅文，总公司：千叶县千叶市）的全资子公司，其主要业务是测量分析仪器的生产与销售。新产品「SEA-Hybrid」可快速检测出锂离子可充电电池和燃料电池的电极中可能掺杂的20&mu m大小的微小金属异物并进行元素分析。 X射线异物分析仪　「SEA-Hybrid」 　构成锂离子电池和燃料电池的电极材料和隔膜中如果掺有金属异物的话，不仅会降低电池容量及缩短使用寿命，还会导致发热起火。SIINT致力于电池中的金属异物检测仪的开发，在今年9月份日本的分析展上展出了样机，现已经投产并开始销售。 　「SEA-Hybrid」把电极板和隔膜以及装在容器里的活性物质放到仪器中，选择检查程序后，只需点击开始测量，从X射线透视图像的拍摄到金属异物的检测及其元素分析都可自动运行。并且，分析结果中包括样品中的金属异物个数和各个异物的组成及其尺寸、显微镜的观察图像都可输出，由此可简单地知道金属异物的掺入途径。因为无需前处理且完全自动，所以可以方便地进行抽样检查和故障分析。SIINT将销售此仪器到电池厂家、原材料厂家等，为电池的品质提高作贡献。 【SEA-Hybrid的主要特征】 1.　 可在几分钟内对250× 200mm大小的样品检测出20&mu m大小的金属异物 例如要检测250× 200mm（约B5尺寸）大小的电池电极板中20&mu m大小的金属异物，以往的X射线透视检查仪需要十小时左右的摄像时间。SIINT通过新型X射线透视方法的开发，成功缩短了时间。检测速度成功达到了以往的100倍以上，可在3～10分钟内完成。 2.电极板的微小金属异物也可进行元素分析 对样品中检测出的金属异物可自动使用X射线荧光法进行元素分析。以往，对于电极板中可能存在的20&mu m左右的微小金属异物，只能分析存在于样品表面的异物。这是由于存在于内部时，异物产生的X射线荧光被基材所吸收，信号强度非常微弱。「SEA-Hybrid」采用独自研发的高能量X射线光学系统，可对电极・ 有机薄膜内部所含的20&mu m大小的微小金属异物进行元素分析。 3. 一体化的操作，提高作业效率 与以往的技术相比，金属异物的检测速度、元素分析速度大幅提高，并且把显微镜等都组合在一台仪器内，各个系统联动可全自动输出测量结果。因此，操作人员只需放置好样品，即可获得测量结果，大大提升了作业效率。 【SEA-Hybrid的主要规格】 被测样品尺寸 宽250× 深200mm 异物检测时间 3～10分钟左右（250× 200mm全面摄像、20&mu m大小异物的检测时间） 异物元素分析时间 1～4分钟左右　每检测出1个（根据异物尺寸及元素的不同，有时会发生变化） 装置 X射线发生系统冷却用水 仪器自身尺寸 1340（宽）× 1000（深）× 1550（高）mm 【价格】　5,800万日元～（不含税） 【销售目标台数】 20台（2012年度） 以上 本产品的咨询方式 中国： 精工盈司电子科技(上海)有限公司 TEL：021-50273533 FAX：021-50273733 MAIL：sales@siint.com.cn 日本： 【媒体宣传】 精工电子有限公司 综合企划本部 秘书广告部 井尾、森 TEL：043-211-1185 【客户】 精工电子纳米科技有限公司 分析营业部 营业二科 浅井、村松 TEL: 03-6280-0077 http://www.siint.com/

由荷兰帕纳科公司、北京市理化分析测试中心和北京理化分析测试技术学会联合主的“帕纳科科技日2016”，又称“X射线荧光光谱（XRF）分析技术发展研讨会”于4月12日在北京成功举办。来自矿产、地质、水泥、环境等各领域的专家、用户共100余人齐聚一堂，共同分享最新XRF分析应用技术。会议现场 会议开始前，北京理化分析测试技术学会秘书长桂三刚、北京光谱学会理事余兴和帕纳科亚太区市场经理Melissa Ho分别致欢迎辞，对与会的专家、用户表示感谢并预祝本次活动圆满成功。北京理化分析测试技术学会秘书长 桂三刚北京光谱学会理事 余兴帕纳科亚太区市场经理 Melissa Ho 在会上，帕纳科XRF产品经理Christos Tsouris对帕纳科最新产品Zetium光谱仪采用的核心技术——SumXcore多核X射线分析技术的实验与应用进行了具体的介绍。通过SumXcore多核X射线分析技术将波谱核和能谱核组合在同一平台上并行运行，这种独特的组合使Zeitum光谱仪在分析能力、速度和任务灵活性等方面脱颖而出。另外，帕纳科亚太实验室经理薛石雷也在会上对台式能量色散XRF技术发展及分析应用情况做了详细介绍，并分别以其在食品、水泥、石油、汽车工业检验等领域的应用为例，展现了帕纳科台式能量色散XRF卓越的分析性能和简单快速的分析操作。帕纳科XRF产品经理 Christos Tsouris帕纳科亚太实验室经理 薛石雷 在北京理化分析测试中心实验室进行的现场应用演示，为现场参与的用户提供了与帕纳科新推出的XRF分析技术革命性产品Zetium光谱仪以及帕纳科Epsilon 3x、Epsilon 3XLE台式能量色散型XRF零距离的接触机会。通过对硬币、不规则玻璃等样品的现场测试和Virtual Analyst”分析精灵”等软件的现场演示充分展示了帕纳科Zetium光谱仪和台式能量色散型XRF在材料领域的优异表现。Zetium光谱仪演示现场Epsilon 3x、Epsilon 3XLE台式能量色散型XRF演示现场 现场部分客户对这几台仪器表现出了高度的兴趣并就自身在测试工作中遇到的问题展开提问，帕纳科应用专家为其一一解答，现场交流的气氛十分热烈。为期一天的帕纳科科技日就此落下帷幕，自2005年以来，定期举办的“帕纳科科技日”日活动，是帕纳科旨在分享最先进的X射线分析应用技术，专为国内分析仪器技术人士提供的一个X射线分析仪器技术发展交流的平台。

Skyscan 1273是Bruker最新的基于微型计算机断层扫描（Micro-CT）技术的台式3D X射线显微成像系统。最大可容纳长度不超过500 mm、直径不超过300 mm、最大重量为20 kg的样品，这是台式显微成像设备进行无损检测（NDT）的新标准。一流的硬件让Skyscan 1273成为强有力的工具。高能量的X射线源和具有最高灵敏度和速度的大幅面平板探测器的结合，在短短几秒钟内就能提供出色的高质量图像。 全面的软件，直接进行数据收集，先进的图像分析，强大的可视化使Skyscan 1273成为一个简单易用的3D X射线显微成像系统。 Skyscan 1273台式3D X射线显微成像系统占地面积小，简单易操作，几乎无需维护。因此，Skyscan 1273运行稳定，性价比极高。 特点 40-130kV低成本免维护X射线源 8位滤光片转换器自动进行能量选择 GPU加速性能可提高3D重构速度 大尺寸图像的自动拼接偏移扫描 利用螺旋扫描和精准重构可获得最佳的平面结构图像质量 借助HART Plus，对大宽高比物体在保持图像质量的情况下，扫描速度可提高4倍参数• X射线源：40-130kV，39W，• X射线探测器：600万像素平板探测器（3072×1944像素）• 标称分辨率（最大放大率下样品的像素）：图像分辨率＜3um；空间分辨率＜5um，• 重建容积图（单次扫描）：最高4800×4800像素 • 样品尺寸：最大值：直径250mm，长500mm，重量20kg• 扫描空间：最大值：直径250mm，长300mm• 辐射安全：在仪器表面的任何一点上＜1 uSv/h• 外形尺寸：1250（宽）×815（深）×820（高）毫米• 重量：400千克，不含包装• 电源：100-240V / 50-60Hz / 3A创新点：Skyscan 1273是Bruker最新的基于微型计算机断层扫描（Micro-CT）技术的台式3D X射线显微成像系统。最大可容纳长度不超过500 mm、直径不超过300 mm、最大重量为20 kg的样品，这是台式显微成像设备进行无损检测（NDT）的新标准。一流的硬件让Skyscan 1273成为强有力的工具。高能量的X射线源和具有最高灵敏度和速度的大幅面平板探测器的结合，在短短几秒钟内就能提供出色的高质量图像。 全面的软件，直接进行数据收集，先进的图像分析，强大的可视化使Skyscan 1273成为一个简单易用的3D X射线显微成像系统。 Skyscan 1273台式3D X射线显微成像系统占地面积小，简单易操作，几乎无需维护。因此，Skyscan 1273运行稳定，性价比极高。 Bruker 高通/能量三维X射线显微成像系统（Micro-CT）

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精工电子纳米科技有限公司开发生产可在短时间内对微小区域中微量有害金属进行高灵敏度测量的能量色散型X射线荧光分析仪[SEA6000VX]于近期全新上市。 能量色散型X射线荧光分析仪 SEA6000VX 　　X射线荧光分析仪，因其便捷的操作性和分析的快速性，在对应RoHS指令等环境管制中被大量导入到零件及产品的入库出货检查中。除了RoHS指令以外，随着ELV指令、玩具规范以及RPF*1等等的无铅化、无卤化标准的建立，可以预见对于测量环境管制物质的需求将会日益增加。但是，为了进一步提高测量的效率，并对应复杂的测量需求，现有机型已经很难对应线路板等复合部件中无法拆解的特定微小区域的测量，以及线路板整体有害物质的管理等的需求，因此开发了这款能够满足这些需要的最新机型。 　　[SEA6000VX]大幅提升了灵敏度，实现了对微小区域的高速测量。由于配备了本公司自行研发设计的无需液氮高计数率检测器Vortex及全新设计的X射线源，更是得到了比以往机型高出10倍以上的灵敏度。对于原先在5mm～10mm左右比较大的分析范围内进行的微量有害物质测量，现在即使在0.5mm～1.2mm左右的微小区域内也能以相同或者更短的时间进行测量。 　　通过提高测量微小区域的灵敏度以及搭载高速电动平台，实现高速二维扫描。例如，对100mm x 100mm的实装线路板的高速扫描中，仅需2分钟左右就能检测出其中亚毫米大小的共晶焊锡。如果增加扫描的次数，大约花30分钟左右的时间就可以检测出RoHS指令中的规定值为1,000ppm级的铅含量，从而可以判断整个实装线路板中是否符合无铅制程的规范。 　　此外，[SEA6000VX]还配备了决定测量位置观测的高清晰度宽视野光学系统，以及高精度的X-Y平台，进一步提高了操作的便利性及测量的稳定性。 　　精工电子纳米科技有限公司针对有害物质测量所开发生产的X射线荧光分析仪中，既有的下方照射方式的SEA1000A、SEA1200VX等，加上此次全新上市的上方照射型「SEA6000VX」，可广泛对应不同的测量对象。 　　【SEA6000VX的主要特点】 　　1. 高速扫描测量 　　通过结合了大幅提高的微小区域X射线荧光分析灵敏度和高速电动平台，能够快速获得二维扫描图像。特别是强化了对线路板中铅的扫描，配备了铅扫描专用滤波器。让1,000ppm以下无铅焊锡中的铅扫描变成简单可行。 　　2. 宽视野高清晰度光学系统 　　可获得250mm x 200mm的20μm以下高清晰度的光学影像。从该光学影像可以直接精确指定测量位置，让操作性得到飞跃般的改善。此外，该光学影像可以和通过高速扫描获得的扫描图像进行重叠，可在大范围内进行高精度分析。 　　3. 微小区域中微量金属的高速测量 　　实现了高密度微小X射线束以及配备的高计数率检测器，加上充分考虑到X射线荧光检测效率的设计，实现了高灵敏度化。微小区域中微量金属或薄膜都可在短时间内测量。即使是1mm x 1mm左右的微小区域也可以以100秒左右的速度测量其中的有害物质。 　　4. 无需液氮的高计数率检测器 　　作为标准配置本公司独有的无需液氮的高计数率检测器，省去了繁琐的液氮补给程序。仅需数分钟的开机时间，同时电子冷却的规格具备了优异的可信性。运用的技术可以减少在液氮制造、搬运时产生的二氧化碳，以及提高测量速度后节省下的电力等，是一款考虑到环保问题的先进仪器。 　　5. 微小区域的镀层厚度测量 　　可在十秒左右的时间完成对0.2mm x 0.2mm面积中Au/Ni/Cu(金/镍/铜)等薄膜多镀层的镀层厚度测量。此外，也可对无铅焊锡镀层或化学镍镀层中含有的微量铅进行分析。 　　【上市日期】 　　2008年6月17日 　　【后注】 　　*1 RPF 　　Refuse Paper & Plastic Fuel的简称。以难以再次回收利用的旧纸、废弃塑料等作为主要原料的固体燃料。

10.11直播！X射线荧光分析技术与应用新进展，大咖分享，不容错过！X射线荧光光谱仪已成为大多数实验室及工业部门不可或缺的分析仪器设备，其作为一项可用于确定各类材料成分构成的分析技术，已经成熟运用多年。一般可用于分析固体、液体和粉状物，其可识别浓度范围较宽，最低可至百万分级，既可以提供被测样品的定性信息，也可以进行定量测量。具有分析速度快，可测量多种类型的元素及其在不同类型材料中的含量浓度，技术成本较低等优势。为积极推动X射线荧光光谱的快速发展，展示X射线荧光光谱最新技术及应用，仪器信息网将于10月11日举办"X射线荧光分析技术与应用新进展”网络研讨会。此次网络会议为参会者提供一个在线交流、学习平台，让大家足不出户便能聆听到精彩报告。会议日程会议时间报告题目报告人14:00-14:30X射线荧光光谱无标样定量分析方法及其应用卓尚军中国科学院上海硅酸盐研究所 研究员14:30-15:00材料分析利器：赛默飞EDXRF产品+UniQuant无标分析软件居威材赛默飞世尔科技（中国）有限公司 XRF及XRD应用专家15:00-15:30X射线荧光光谱仪在地质野外现场中的应用樊兴涛国家地质实验测试中心 副研究员15:30-16:00EDXRF的多样化应用及新品介绍方瑛岛津 产品专家16:00-16:30X射线荧光准确快速分析及其在水泥生产质量控制中的最新应用刘玉兵中国国检测试控股集团股份有限公司中央研究院 总工/教授级高工16:30-17:00X射线荧光在钢铁（不锈钢）成分测定的应用及研究王化明酒钢集团不锈钢分公司 主任工程师/高级工程师演讲嘉宾（排名不分先后）会议报名点击下方链接或扫描二维码报名链接：https://insevent.instrument.com.cn/t/g5a 扫码报名赞助参会请联系扫码联系

会议简介 第12届上海市X射线衍射分析学术交流会拟定于2023 年7月8日在上海市嘉定区召开。会议将就X射线衍射分析领域的研究与应用前沿和关键技术问题，邀请知名专家学者作专题报告。热忱欢迎来自上海地区高校、科研院所及企事业单位的专家、学者及工程技术人员参加本次学术交流会。本次学术交流范围包括但不限于：①X射线物相定性与定量分析，②Rietveld 法结构精修与应用，③单晶结构解析，④薄膜与界面分析，⑤织构与各向异性分析，⑥宏观应力与微观应力分析，⑦小角散射分析，⑧X射线成像技术，⑨X射线衍射在工业中的应用，⑩同步辐射装置衍射散射及应用等。 时间地点 会议日期：2023年7月8日 9:00-17:00会议地点：中国科学院上海硅酸盐研究所嘉定园区其它说明：免会议费、免资料费，提供午餐 组织单位 会议学术委员会主任：姜传海副主任：文闻 程国峰 吴建国秘书长：程国峰（兼）副秘书长：吴雪艳委员： 陈波、黄金萍、李东栋、李晓龙、骆军、裴燕、师育新、武立宏、杨昕昕、杨征、詹科、赵秀阁、赵远涛、周丽绘、郑琦、周莹 （按拼音排序）资深委员：马礼敦、魏光普、杨传铮、黄月鸿主办：上海市物理学会X射线衍射与同步辐射专业委员会承办：中国科学院上海硅酸盐研究所 联系方式 X射线结构表征组无机材料分析测试中心中国科学院上海硅酸盐研究所 阮老师、刘老师: ysun@mail.sic.ac.cn，ryj@mail.sic.ac.cn021-69163600/69163558, 13761228831, 13816381456

人工晶状体植入术是目前矫正无晶状体眼屈光的最有效的方法，它在解剖上和光学上取代了眼睛原来的晶状体，构成了一个近似正常的系统，尤其是固定在正常晶状体生理位置上的后房型人工晶状体。其术后可迅速恢复视力，易建立双眼单视和立体视觉。在上海某专科医院，一名患者在眼部植入人工晶体五年后， 手术效果出现非正常下降。为了排查原因，将人工晶体取出进行剖析，发现晶体一侧表面已非本来的光滑状态， 出现了混浊。该表面的混浊是植入效果变差的原因，但晶体表面变浑的原因不明。研究其混浊部分的来源，对延长人工晶体植入术的疗效有积极意义。该人工晶体材质为聚甲基丙烯酸甲醋，简称PMMA。植入人体后， 表面沉积的物质可能为有机质，也可能为无机的生物钙化物质。为了更全面的剖析其成分，我们结合岛津EDX和FTIR对其表面混浊部位进行了分析。检出的元素与文献报道中的磷酸钙沉积一致。在生物领域无机元素的定性剖析中， EDX可发挥其无破坏性、定性方便快速，并可实现半定量和薄膜分析的效果，具有很好的应用前景。 了解详情，敬请点击《岛津能量色散X射线荧光和红外光谱仪测试人工晶体上的异物》关于岛津 岛津企业管理（中国）有限公司是（株）岛津制作所于1999年100%出资，在中国设立的现地法人公司，在中国全境拥有13个分公司，事业规模不断扩大。其下设有北京、上海、广州、沈阳、成都分析中心，并拥有覆盖全国30个省的销售代理商网络以及60多个技术服务站，已构筑起为广大用户提供良好服务的完整体系。本公司以“为了人类和地球的健康”为经营理念，始终致力于为用户提供更加先进的产品和更加满意的服务，为中国社会的进步贡献力量。

2017年9月，目前业界分辨率最好、灵敏度最高、功能最齐全的新一代能量色散X射线荧光光谱仪-EDX-8100正式在中国市场上市。该仪器不但传承了前几代EDX系列的优点，搭配高性能SDD检测器、最优化的滤光片组合及准直器系统，更可选择配备真空或氦气置换装置，完成对固体、粉末、液体样品无差别的全元素快速检测，真正实现样品不需要前处理。 EDX-8100配备的简易型分析软件PCEDX-Navi和专业型软件PCEDX-Pro，人性化的设计极大的方便各层次分析的需要。EDX-8100检测元素的范围从6C到92U，能够满足绝大部分化学成份分析的需求。除了未知样品的定性分析这一独特的性能外，还可以进行镀层、膜厚测定，配以岛津专利的BG-FP法，可以完美的应对少量样品及异物的检测。在油品等液态样品的分析上，EDX-8100表现出了极强的分析检测能力。1.测定油品中S，氦气置换的强度比在大气条件中的强度增加了约5倍，如左图所示。2.液体样品中的氟在大气条件下基本无法检测，采用氦气置换则能够对应，如左图所示。 关于岛津 岛津企业管理（中国）有限公司是（株）岛津制作所于1999年100%出资，在中国设立的现地法人公司，在中国全境拥有13个分公司，事业规模不断扩大。其下设有北京、上海、广州、沈阳、成都分析中心，并拥有覆盖全国30个省的销售代理商网络以及60多个技术服务站，已构筑起为广大用户提供良好服务的完整体系。本公司以“为了人类和地球的健康”为经营理念，始终致力于为用户提供更加先进的产品和更加满意的服务，为中国社会的进步贡献力量。

近日，浙大城市学院预算150万元申请采购一台进口X射线衍射仪，用于先进材料增材制造创新研究中心材料表征的科研活动。该设备的采购已由5名校外专家（含1名法律专家）进行了论证，并予以公示。详情如下：一、 采购人名称：浙大城市学院二、 进口产品公示编号：importedProduct2022061998776336三、 采购项目名称：浙大城市学院X射线衍射仪设备四、 申请理由：在听取了采购单位的设备调研论证报告后，技术评审专家一致认为进口设备在X射线强度（进口设备：光管焦斑为0.4×12mm，1000万cps vs 国产设备：光管焦斑为1×10mm，70万cps）、探测器类型（进口设备：采用二维能量色散阵列探测器 vs 国产设备：采用闪烁晶体计数探测器）、分析软件功能性（进口设备：具备标样定量分析以及结构精修功能 vs 国产设备：无标样定量分析以及结构精修功能，需要大量的人工计算分析）等方面涉及多项技术专利，具有国产设备不可替代性。如采用国产设备，无法满足先进材料增材制造创新研究中心对于材料表征的科研需求，实验结果产出慢，严重限制了科研论文的发表速度。法律评审专家认为该设备的采购符合《政府采购进口产品管理办法》（财库[2007] 119号）第三条以及《关于政府采购进口产品管理有关问题的通知》（财办库[2008] 248号）二、三的认定情形，且该设备未列入商务部《限制进口机电产品目录》和《中国禁止进口限制进口技术目录》。因此该设备的采购符合国家相关进口产品的法律规定。五、 论证专业人员信息及意见：姓名职称工作单位刘彬教授中南大学刘金龙研究员浙江大学唐谊平教授浙江工业大学刘世锋教授西安建筑科技大学吴启才法学副教授浙江泰杭律师事务所刘彬：浙江大学城市学院拟采购的X射线衍射仪主要用于测定金属及非金属材料的晶体结构，织构及应力，是材料分析必备检测设备。目前国际市场上，X射线衍射仪占有率较大的品牌有德国布鲁克、日本理学，国产设备主要有北京普析、丹东通达。国产X射线衍射仪在X射线强度、灵敏度及分析软件等方面较进口设备存在较大差距，具体体现在：1. 进口设备的X射线光管焦斑为0.4×12mm，而国产设备只能做到1×10mm的X射线光管焦斑，精细焦斑的X射线光斑可以获得更高的X射线强度。2. 进口设备采用二维能量色散阵列探测器，而国产设备采用闪烁晶体计数探测器.阵列探测器是现在衍射仪的核心，使用该探测器可以导致衍射强度提高100以上，灵敏度提高10倍以上，是科研工作必不可少的。3. 进口设备的软件具备标样定量分析以及结构精修功能，是XRD数据分析不可或缺的工具。国产设备的软件无标样定量分析以及结构精修功能，需要大量的人工计算分析，实验结果产出慢，且容易出现错误，限制了科研论文的发表速度。综上，进口设备更能满足采购单位对于材料分析的检测要求，因此建议采购进口设备。刘金龙：浙大城市学院申请购买的X射线衍射仪，主要服务于先进材料增材制造创新研究中心的建设，用于材料成型及机械制造类的科研工作。设备应具备分析材料的物相、结构、残余应力等信息的功能。采购单位在日常科研工作中的一部分样品无法研磨成粉末，因此需要用到微区分析的方法，而微区分析要求设备需配备点光源、XYZ样品台以及定位装置。目前只有进口设备同时具备以上装置，并能够实现自动进样。配备大面积二维探测器的衍射仪能够通过延长曝光时间来累计衍射信号强度，从而得到可以用于分析的数据结果。目前也只有进口衍射仪才配有二维的阵列探测器，能够将衍射强度以及灵敏度分别提高100倍和10倍以上。此外，进口XRD设备测试数据的角度精度能够达到0.0001°，而国产设备目前能够实现的最小步进精度只有0.001°，精度相差一个数量级。显然，国产仪器部分性能指标达不到要求，不满足采购单位需要，建议该项目采购进口设备。唐谊平：浙大城市学院申请购买的X射线衍射仪，主要服务于先进材料增材制造创新研究中心的科研工作，此设备应具备材料结构及成分分析的功能，具有精细焦斑的X射线光斑有助于获得更高的X射线强度（进口设备焦斑尺寸0.4×12mm，国产设备焦斑尺寸1×10mm）；探测器是X射线衍射仪的核心部件，进口设备探测器为二维能量色散阵列探测器，而国产设备采用闪烁晶体计数探测器，二者相比计数强度相差甚远（进口设备1000万cps，国产设备70万cps）；进口设备的最小步长及角度重现性均优于国产的（进口0.0001度，国产0.001度）。因此，进口品牌在X射线光管焦斑尺寸、计数强度及精度等方面较国产设备存在巨大优势，国产设备计数强度低，不能进行微量成分信息的获取及精细结构的分析，建议采购进口设备。刘世锋：X射线衍射仪（XRD）是用于测定金属及非金属材料的晶体结构、织构及应力的重要设备，是增材制造中心用于金属3D打印材料物相鉴别、内应力检测的必需设备。目前，国产设备的X射线光管焦斑只能做到1×10mm，焦斑强度很低，并采用闪烁晶体计数探测器；相比之下，进口设备的焦斑可达0.4×12mm，并采用二维能量色散阵列探测器，衍射强度是国产设备的100倍，灵敏度是国产设备的10倍。此外，进口设备的软件具备标样定量分析以及结构精修软件，可以提高识别的精度，是研究痕量组分的必备手段，而目前国产设备不具备此功能。因此，建议采购进口设备。吴启才：（一）浙大城市学院拟采购的进口产品符合《政府采购进口产品管理办法》（财库[2007] 119号）第三条以及《关于政府采购进口产品管理有关问题的通知》（财办库[2008] 248号）二、三的认定情形；（二） 该商品未列入商务部《限制进口机电产品目录》和《中国禁止进口限制进口技术目录》；（三） 通过市场调查，国产设备目前在X射线衍射强度、灵敏度以及分析软件性能指标达不到要求，不满足采购单位需要。该设备属于国家非限制进口仪器设备，符合国家相关进口产品的法律规定，建议该项目采购进口设备。【相关会议推荐】为促进相关人员深入了解X射线衍射技术发展现状，掌握相关应用知识，仪器信息网将于2022年7月15日组织召开“X射线衍射技术及应用进展”网络会议，邀请业内资深技术专家聚焦X射线衍射前沿技术理论、分析方法，以及材料科学、药物研发等热点应用领域分享报告。参会方式（手机电脑均可听会）：1、官网免费报名（报名链接）；2、通过审核后您将收到短信通知；3、会议当天点击短信链接，输入报名手机号，即可听会。

近日，中国科学院深圳先进技术研究院材料所光子信息与能源材料研究中心杨春雷研究员团队以“A novel energy-resolved radiation detector based on the optimized CIGS photoelectric absorption layer”为题，在Journal of Power Sources（影响因子：9.127）上发表了基于铜铟镓硒（CIGS）薄膜光电器件与GOS闪烁体相结合的间接型X射线探测器研究进展，该探测器具有高灵敏度和能量分辨能力，该器件中使用的CIGS薄膜光电材料具有低成本、高效率及可大面积制作等优势。瞄准如何提高辐射探测器的探测率以及如何获得能量分辨这两个核心难题，本研究工作从材料和器件结构两个方面进行了创新设计。降低CIGS光电器件的暗电流从而提高信噪比，是CIGS应用于探测器领域的核心挑战，本文系统研究了Ga含量对CIGS薄膜探测器的暗电流调控并获得了最优的组分设计，进一步结合表面态硫化处理和引入超薄Al2O3层作为pn结界面电荷阻挡层，成功将器件的探测率从6×1013 Jones升高至2.3×1014 Jones，这是目前CIGS光电器件的最好水平。基于优化的CIGS光电功能层与GOS闪烁体层制备的X射线探测器，探测灵敏度达到8 μCGyair-1cm-2，响应时间为0.23-0.28 ms。为了获得对于X射线的能量分辨能力，本研究中提出了新的3D结构X射线探测器的几何构型，该新结构一方面可以利用X射线在穿透深度上的空间分辨获得能量分布信息，另一方面可以使闪烁体的可见光荧光信号传播方向与X射线传播方向垂直，成功解决了间接型X射线探测器在高灵敏度和高空间分辨率不可兼得的难题。论文第一作者为博士后宁德博士，研究生胡明珠和马明副研究员为共同作者，通讯作者为李伟民副研究员、陈明副研究员和杨春雷研究员。该工作得到了国家重点研发计划、国家自然科学基金、深圳市和广东省等科技项目资助。论文链接：https://doi.org/10.1016/j.jpowsour.2022.231520 图1：a)3D结构间接型X射线探测器的示意图 b) CIGS光电功能层的器件结构；c) 光电器件的照片。图2：a) 本研究中使用的CIGS薄膜的Ga/(Ga+In)元素比；b) Ga含量0.33的样品中各元素的空间分布；c) CIGS吸收层的截面电子显微镜照片；d) CIGS的晶体结构示意图；e) CIGS薄膜的晶体X射线衍射图谱；f) CIGS薄膜的拉曼光谱；g) CIGS光电器件的暗电流与Ga组分关系；h) 表面钝化处理后的CIGS器件的电流电压曲线。图3：在不同深度上的X射线探测器像素对X射线能量的敏感度对比测量，像素的标号越大，其深度越深。