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光学晶圆检测

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光学晶圆检测相关的论坛

  • SOPTOP舜宇光学显微镜-助力金相,晶圆检测,偏光显微镜等

    [align=center][font=MicrosoftYaHei][size=12px]舜宇显微镜-国内领先。可多种搭配,本人材料分析从业行业多年为大家排忧解难,VX:xiaojian0425 欢迎添加咨询。[img=,335,405]http://img1.17img.cn/17img/images/201707/uepic/786c066a-715f-45fd-9c05-e0b519db1842.jpg[/img][/size][/font][/align][font=MicrosoftYaHei][size=18px]一、概述[/size][/font][font=微软雅黑][color=#231f20]全新 RX50M 研究级金相显微镜集舜宇多项首创于一身, 从外观到性能都紧跟国际主流设计风向,致力于拓展工 业领域全新格局。RX50M 秉承舜宇不断探索不断超越 的品牌设计理念,为客户提供完善的工业检测解决方案。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#231f20]二、特点及例图[/color][/font][font=微软雅黑][color=#231f20]1、光学性能优越[/color][/font][font=微软雅黑][color=#231f20] 光路采用国际水准的光路设计,大大的降低了图像的色差及色散,提升了光学质量及分辨率。使用户轻松的得到想要的图片。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#231f20][/color][/font][img=,580,435]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/f79ee8cf-8e33-4a2f-aad6-b62d69b2e87e.jpg[/img][img=,576,429]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/79e370b4-7155-4ce5-bb77-73f894612f9d.jpg[/img][img=,574,430]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/c9e1b1f2-bd96-4701-a133-d38c5022960c.jpg[/img]2、丰富的光学配件,满足大部分使用需求 本机器可兼容绝大部分的观察方法如:反射明场、透射明场、反射暗场、透反射偏光以及微分干涉等观察方法,充分涵盖了汽车、钢铁、材料、冶金等各领域需求。明场[img=,619,466]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/bf16f280-a0d9-4760-8c34-23bb439d06f3.jpg[/img]暗场[img=,616,464]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/f003e3fe-aa31-4af7-bccd-1c3fe17a1dd9.jpg[/img]偏光[img=,609,456]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/6617ef65-07ec-4759-9cd9-59a54c62cc61.jpg[/img]微分干涉[img=,606,455]https://img1.17img.cn/17img/images/202004/uepic/081bb724-911d-40be-a5f1-7eadbb377799.jpg[/img]3、专业的硬件配置,保证图像的质量光学镜头均采用新一代镀膜方案,校正了光学镜头的轴向及径向色差,避免了绝大多数的光学问题,同时采用大功率光源,保证照明充足的同时,又使得偏光、微分干涉等弱光环境下的视场得到充足的亮度,保证图像的清晰度。

  • 多源光谱特征组合的COD光学检测方法研究

    【作者】:【题名】:多源光谱特征组合的COD光学检测方法研究【期刊】:【年、卷、期、起止页码】:【全文链接】:https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?filename=GUAN201411045&dbcode=CJFQ&dbname=CJFD2014&v=t4rSBhLh-EjJsJCYC0yhbJ9cJoPGs6jh5kKtp2k6Vj0vhzuLeqNMWh4WvTTAZvDS

  • 国家环境保护环境光学监测技术重点实验室通过验收

    9月22日,环境保护部科技标准司组织专家对国家环境保护环境光学监测技术重点实验室进行验收评审。验收专家组委员会一致认为,该实验室完成了建设计划任务书预期建设目标,达到了环境保护部重点实验室验收条件和要求,同意通过验收。安徽省环境保护厅副厅长殷福才,中科院合肥物质科学研究院院长王英俭,中国科学院安徽光学精密机械研究所所长、重点实验室主任刘文清等出席了验收会。中国工程院院士潘德炉,环境保护部卫星环境应用中心、北京市环境保护监测中心、解放军电子工程学院等相关单位的专家参加了验收会。国家环境保护环境光学监测技术重点实验室是国家环境保护总部与依托合肥研究院联合建立的环境光学监测理论和技术研究的基地。实验室于2007年10月开始筹建,主要承担环境光学应用基础研究,定量监测新方法研究和环境监测高新技术系统集成研究,先进环境监测技术规程和标准的编制任务,并对完善我国环境监测系统以及国家环境管理与决策提供理论与技术支持。以潘德炉院士为主任委员的专家组听取了关于实验室建设情况的总结报告,现场考察了实验室,审阅了有关实验室验收材料,实地考察了该实验室,并与实验室领导和科研骨干进行了座谈。专家组一致认为,实验室完成了组织机构建设,形成了一支专业结构合理的环境光学近侧技术创新团队;实验室基本建设完成,自主研制建立了基于多种光谱学技术的地基、移动、机载和星载环境监测技术的研究平台,具备了环境光学监测技术创新研发的能力;实验室在环境光学应用基础、定量监测新方法、环境监测高新技术系统集成和先进环境监测技术规程和标准等四个研究方向取得了一批有代表性的成果;实验室研发的环境监测技术已推广应用到全国环境监测领域,为环境管理提供了有力的技术支撑。为促进重点实验室更好地建设和发展,验收委员会专家组建议,在现有国家环境保护环境光学监测技术重点实验室的基础上,申请建设国家重点实验室。

  • 大口径光学透镜表面疵病机器视觉检测技术研究

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】:[size=16px][b][b][b]王雪 谢志江[/b][/b][/b][/size][/b][font=&]【题名】:[/font][b][b]大口径光学透镜表面疵病机器视觉检测技术研究[/b][/b][font=&]【期刊】:cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD202101&filename=1021001205.nh&uniplatform=NZKPT&v=xYGHSdLttNdKdrQ4eSEtVhLFx0cYpkq8yjYDo-JSapNdufFHtF5fAnmFys_fHVpk]大口径光学透镜表面疵病机器视觉检测技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

  • 【原创】【第三届原创作品】光学显微镜在环境监测中的应用

    [align=left][size=5][font=宋体][size=3]维权声明:本文为54943110原创作品,本作者与仪器信息网是该作品合法使用者,该作品暂不对外授权转载。其他任何网站、组织、单位或个人等将该作品在本站以外的任何媒体任何形式出现均属侵权违法行为,我们将追究法律责任。[/size][b] 光学显微镜在环境监测中的应用[/b][/font][/size][size=5][font=Arial][/font][/size][/align][align=center][b][font=Arial][size=3][/size][/font][/b][/align][align=center][size=3][b][font=宋体]水源守护者[/font][font=Arial][/font][/b][/size][/align][size=4][font=宋体] 光学显微镜由一个透镜或几个透镜的组合构成,是利用光学原理,把人眼所不能分辨的微小物体放大成像,以供人们提取微细结构信息的光学仪器。在环境监测领域中,其应用可谓非常广泛。很多高环境监测的接触显微镜的做一辈子可能也只是窥见其一角,现将我实践过的或者了解的[/font][/size][size=4][font=宋体]光学显微镜在环境监测中的[/font][/size][size=4][font=宋体]应用情况做一个简单的介绍,让大家对这个应用分支有一个感性的认识。[/font][/size][size=4][/size]

  • 帮忙下载一篇“光学镜片外观瑕疵视觉检测技术研究及实现”文献

    [b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif]【序号】:1[/font]【作者】:[b][b][font=&][size=13px][color=#0066cc][/color][/size][/font][font=&][size=13px][color=#0066cc]朱宇栋[/color][/size][/font][font=&][size=13px][color=#0066cc][/color][/size][/font][/b][/b][/b][font=&]【题名】:[/font][b][b][b][b][b][url=http://www.eope.net/EN/abstract/abstract17664.shtml][b]光学镜片外观瑕疵视觉检测技术研究及实现[/b][/url][/b][/b][/b][/b][/b]【期刊】:[font=Arial][size=12px]CNKI[/size][/font][b]【链接】:[url=https://xueshu.baidu.com/usercenter/paper/show?paperid=1m780cd0ac7h0v30sd5u00n0hx324059&site=xueshu_se][font=&][size=13px][color=#0066cc]朱宇栋[/color][/size][/font]光学镜片外观瑕疵视觉检测技术研究及实现 - 百度学术 (baidu.com)[/url][/b][font=&][size=13px][color=#0066cc]朱宇栋[/color][/size][/font]

  • 大口径光学元件表面划痕缺陷检测技术研究

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】:[size=16px][b][b]黄梦辉[/b][/b][/size][/b]【题名】:[b][b][b][b][b][b]大口径光学元件表面划痕缺陷检测技术研究[/b][/b][/b][/b][/b][/b][font=&]【期刊】:cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD202101&filename=1021001205.nh&uniplatform=NZKPT&v=xYGHSdLttNdKdrQ4eSEtVhLFx0cYpkq8yjYDo-JSapNdufFHtF5fAnmFys_fHVpk]大口径光学元件表面划痕缺陷检测技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

  • 大型铸件和模具质量检测-非接触三维光学测量技术(摄影测量)

    大型铸件和模具质量检测-非接触三维光学测量技术(摄影测量)

    联系人:吕红明联系方式:13812688974qq:9858592441 XTDP三维光学摄影测量系统1.1 系统介绍 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601128_3024107_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601129_3024107_3.png 图:XTDP系统硬件 图:系统软件界面XTDP三维光学摄影测量系统,使用普通单反相机(非量测相机),通过多幅二维照片,基于工业近景摄影测量原理,重建工件表面关键点三维坐标。用于对中型、大型(几米到几十米)物体的关键点进行三维测量。与传统三座标测量仪相比,没有机械行程限制,不受被测物体的大小、体积、外形的限制,能够有效减少累积误差,提高整体三维数据的测量精度。可以代替传统的激光跟踪仪、关节臂、经纬仪等,而且没有繁琐的移站问题,方便大型工件测量。系统主要由高性能单反相机、编码标志点、非编码标志点、标尺、计算机及检测分析软件等组成。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/07/201607191113_601130_3024107_3.png图:摄影测量原理1.2 系统特色l 国内首个自主研发的工业近景摄影测量系统l 高精度的相机标定算法,适用于多种数码相机l 自主知识产权的核心算法,达到国外先进水平l 测量范围大:可测量0.3m~30m范围的物体l 测量精度高:最高精度可达±0.015mm/ml 测量速度快:拍照方便快速,计算速度快,测量结果三维可视化l 具备CAD数模对比模块,可用于质量检测l 具备静态变形测量模块,可测量工件变形数据l 操作方便:设备不需要事先校正,使用方便,对操作人员无特殊要求l 适应性强:不受环境及测量范围限制,可在车间或工业现场测量l 便携式设计:设备轻便,单人可携带外出开展测量工作1.3 系统功能系统采用近景摄影测量技术,在被测物体上放置编码点及非编码点,通过单反相机围绕被测物体拍摄多张被测物图像,快速检测被测物表面关键的三维坐标、三维位移数据,测量结果三维彩色显示。系统功能主要包括基本测量功能、变形测量功能、数模对比功能、分析报告功能等。具体功能如下:(1)基本测量功能:测量幅面:支持几十厘米到几十米的测量幅面测量相机:支持多种单反、工业相机图像计算※相机数目:支持单个相机或多个相机图像同时计算,提高大型工件的测量效率※相机标定:软件具备相机自标定功能,支持多种相机镜头畸变模型计算模式:具备自动计算和自定义计算两种模式,方便用户灵活操作※标志点类型:支持10、12、15位编码点,支持黑底白点、白底黑点,更多类型可定制※变形测量功能:通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标,可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析※数模对比功能:可以对被测工件与CAD数模进行三维几何形状比对测量结果:包含三维坐标、三维位移等数据,测量结果三维显示显示设置:三维显示可灵活设置,包括颜色,尺寸等,可显示相机三维位置※厚度补偿:具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能多工程测量:系统软件支持多工程计算、显示及分析※多核加速:多核CPU并行运算,提高系统解算速度支持系统:同时支持32位、64位系统(2)变形测量功能:参考模式:基准状态可任意设置,可以是首个状态或者中间状态对齐模式:支持ID转换、相对关系转换、手动转换等多种状态对齐模式搜索深度:支持任意指定标志点搜索半径及搜索深度,提高标志点追踪稳定性分析模式:支持多观察域分析,观察域自由选择测量结果:包含X,Y,Z三维位移分量及总位移E结果显示:位移测量结果在三维视图和图像中以射线和色谱形式绘制,真实表达三维点的变形与运动,显示效果可灵活设置(3)数模对比功能:※数模导入:支持stl,iges,step等多种数模文件格式※分析模式:支持多观察域分析,观察域自由选择检测结果:包含X,Y,Z三维偏差分量及总偏差E结果显示:三维彩色矢量箭头直观显示偏差结果,显示效果可灵活设置(4)分析报告功能:坐标转换功能:321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能※元素创建功能:三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥※分析创建功能:点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角屏幕截图功能:具备二维图像及三维图像截图功能,截图自动插入报告数据输出功能:测量结果及分析结果输出成报表,支持TXT,XLS,DOC文件的输出(5)扩展接口※系统扩展:可配合XTOM型三维光学面扫描系统使用,提高大型工件的拼接精度1.4 技术指标 指标名称技术指标1. 核心技术工业近景摄影测量2. ※测量结果三维坐标、三维位移3. 测量幅面支持几十厘米到几十米的测量幅面4. 测量相机支持多种单反、工业相机图像计算5. ※相机数目支持单个相机或多个相机图像同时计算,提高大型工件的测量效率6. 相机标定软件自标定,支持多种相机镜头畸变模型7. 测量精度最高±0.015mm/m8. ※标志点类型支持10、12、15位编码点,支持黑底白点、白底黑点,更多类型可定制9. ※静态变形分析通过多次测量不同变形状态下的观测标志点三维坐标,可以进行关键点三维变形偏差计算和色谱图分析;位移测量结果在三维视图中以射线和色谱形式绘制,真实表达三维点的变形与运动10. ※三维数模对比可以对被测工件与CAD数模进行三维几何形状比对,快速方便地进行大型工件的产品外形质量的检测支持stl,iges,step等多种数模文件格式,对比结果三维彩色显示11. ※厚度补偿功能具备编码点及非编码点厚度自动补偿功能12. ※坐标转换功能321转换、参考点拟合、全局点转换、矩阵转换等多种坐标转换功能13. ※元素创建功能可以创建三维点、线、面、圆、槽孔、矩形孔、球、圆柱、圆锥等多种三维元素14. ※分析创建功能可以创建点点距离、点线距离、点面距离、线线夹角、线面夹角、面面夹角等多种分析15. ※多核加

  • 人们的平常生活其实离无损检测并不遥远

    测量一词,在人们的生活中并不稀有,人们所了解的可能都是身边的测量,小到纸张尺寸的测量,大到航天仪器的检测,都需要涉及到不同的测量方法,但是要达到无损测量的境界并非一般测量方法就能达到的。接下来,就让我们一起来了解一下齿轮测量、光学测量、三坐标测量这三种无损检测方法。 齿轮测量就是中心采用坐标测量原理,实际上是圆柱(极)坐标测量机,通常由主机、CNC数控单元、数据采集单元、机间通讯接口、计算机及外设、测量软件和数据处理软件等部分组成。其工作原理就是计算机根据被测工件的参数控制各坐标轴运动,使测头相对于被测工件产生所要求的测量运动,在测头沿工件表面运动的过程中,计算机不断采集测头的示值及同一时刻各坐标轴的实际位置,这些数据记录了被测型面的实际形状,由计算机完成与理论型面的比较,从而得出测量结果。 而光学测量是对肉眼直接观察获得的简单视觉检测的强化处理,因为通过光学透镜来改进或放大物体的图像,可以对物体的某些特征或属性做出准确的评估。大多数的光学测量都是定性的,也就是说操作者对放大的图像做出主观性的判断。光学测量也可以是定量的,这时图像通过成像仪器生成,所获取的图像数据再用于分析。在这种情况下,光学检测其实是一种无损检测技术,因为它提供了量化的图像测量方式。 三坐标测量机则是测量和获得尺寸数据的最有效的方法之一,因为它可以代替多种表面测量工具及昂贵的组合量规,并把复杂的测量任务所需时间从小时减到分钟。三坐标测量机的功能是快速准确地评价尺寸数据,为操作者提供关于生产过程状况的有用信息,这与所有的手动测量设备有很大的区别。将被测物体置于三坐标测量空间,可获得被测物体上各测点的坐标位置,根据这些点的空间坐标值,经计算求出被测物体的几何尺寸,形状和位置。 工业应用中,还有工业CT这些测量方法也许我们不常遇到,但生活中却有很多常见的东西正是它们的体现,或许只是我们不知道而已。比如简易的放大镜,它就是最基本的光学测量运用,虽然不够精密,但可以提高三到五倍成像质量,满足我们对物体外观的简单检测等。所以,不了解不代表不存在,没想到测量的领域也是如此变化多端的。

  • 【分享】国内首台自动光学检测设备研制成功

    日前,由中国电子科技集团第45所承担的国际科技合作项目“自动光学检测(AOI)设备技术合作”,通过了国家级验收,技术指标达到了国外同类设备水平,标志着自动光学检测(AOI)设备实现了国产化,填补了国内空白。  据了解,当今电子装备在结构上强调实现小型化、微型化、模块化,以满足高性能、高可靠、大容量、小薄轻的要求。线路板上元器件组装密度提高,其线宽、间距、焊盘越来越细小,已到微米级,复合层数越来越多。传统的人工目测(MVI)和针床在线测试(ICT)检测因“接触受限”(电气接触受限和视觉接触受限)所制,已不能完全适应当今制造技术的发展,自动光学检测系统(AOI)已经成为IC制造业的必然需求,正越来越多地用来代替传统MVI和ICT技术,进行检测,用于监视和保证生产过程的品质。目前,我国自动光学检测系统(AOI)设备主要依赖进口,一直被以色列、美国、日本等国家所垄断。中国电子科技集团第45所,与加拿大开展了卓有成效的国际科技合作,共同研发自动光学检测(AOI)设备,通过引进、消化吸收、再创新,终于研制出了具有国际水平的自动光学检测(AOI)设备,打破了国外的垄断与技术封锁,使进口产品降价30%。

  • 【分享】中国首台自动光学检测设备研制成功

    河北省廊坊市科技局26日称,中国电子科技集团第45所(燕郊)与加拿大共同合作的“自动光学检测(AOI)设备技术”研制成功,各项技术指标均达到国外同类设备水平。这标志着我国打破了国外在自动光学检测设备领域的垄断与技术封锁,使自动光学检测设备进口产品降价30%。  据廊坊市科技局工作人员介绍,全球电子装备在结构上强调实现小型化、微型化、模块化,以满足高性能、高可靠、大容量、小薄轻的要求。而我国传统的人工目测(MVI)和针床在线测试(ICT)检测因“接触受限”(电气接触受限和视觉接触受限)所制,已不能完全适应当今制造技术的发展。目前,我国自动光学检测系统(AOI)设备还主要依赖进口,一直被以色列、美国、日本等国家所垄断。因此,自动光学检测系统(AOI)已经成为IC制造业的必然需求。

  • 光学显微镜明细解释——之无限远光学系统

    光学显微镜明细解释——之无限远光学系统

    [color=#666666]在过去的10年里,基本上所有的主要的显微镜制造商迁移到研究级生物医学和工业显微镜无限远校正光学系统的利用率。在这些系统中,图像的距离被设置为无穷大,并策略性地放置在物镜和目镜(目镜),以产生中间图像之间的管体的管(或奥特兰克)透镜。[/color][color=#666666][img=,433,255]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/05/201905300932346812_4874_2206495_3.jpg!w433x255.jpg[/img][/color][color=#666666][color=#666666]无限远光学系统允许引入的辅助成分,如微分干涉相差(DIC)的棱镜,偏振器和落射荧光光源,成平行的焦点和像差校正效果,只需要很少的目标和管透镜之间的光路。较早的有限,或固定管长度,显微镜有一个指定距离鼻甲开幕,客观桶固定,眼座中的目镜管。这个距离被称为机械管长度的显微镜。该设计假定,当样品被放置在焦点,它是在几微米远于目标的前焦面。在19世纪时由皇家显微学会(RMS)有限管长度在160毫米标准化,并享有广泛的接受了100多年。用显微镜具有160毫米的管长度的设计是用于目标题使用该值在枪管上。[/color][color=#666666]添加到一个固定的管长度显微镜的光路中的光学配件增加了有效的管的长度更大的值超过160毫米。出于这个原因,一个垂直的另外的反射光照明器,偏振的中间阶段,或类似的附件可以引入到出一个理想的校正光学系统的球面像差。大多数显微镜管长度固定期内,制造商被迫将这些配件额外的光学元件,重新建立有效的160毫米管长度显微镜系统。这一行动的成本常常是一个增倍镜和光照强度降低由此产生的图像。[/color][color=#666666]一些反射光系统也阻碍了“鬼影”,出现的结果会聚光线通过分光镜。在试图规避所带来的另外的辅助光学组件的构件中,德国显微镜制造商赖克特原来先驱的无限远光学系统的概念。该公司开始无限远校正光学系统试验早在20世纪30年代由莱卡和蔡司紧随其后,但这些光学大多数厂家没有成为标准设备,直到20世纪80年代。[/color][color=#666666]管子的长度在无限远校正的显微镜被称为基准焦距和范围在160至200毫米之间,取决于制造商(见表1)。通过管镜头或目标(次),实现无穷大系统中的光学像差校正。残余的横向色差在无穷大目标可以很容易地补偿小心管镜头设计,但一些制造商,包括尼康,选择正确的球形和色差物镜本身。这可能是由于开发的专有新的玻璃配方,具有极低的分散体。还有一些制造商(尤其是蔡司ICS系统)利用组合更正管镜头和目标。[/color][color=#666666]无限远光学系统参数[/color][/color][table][tr][td]生产厂家[/td][td]管镜头焦距(毫米)[/td][td]齐焦距离(毫米)[/td][td]螺纹类型[/td][/tr][tr][td]徕卡[/td][td]200[/td][td]45[/td][td]M25[/td][/tr][tr][td]尼康[/td][td]200[/td][td]60[/td][td]M25[/td][/tr][tr][td]奥林巴斯[/td][td]180[/td][td]45[/td][td]RMS[/td][/tr][tr][td]蔡司[/td][td]165[/td][td]45[/td][td]RMS[/td][/tr][/table][color=#666666]表1[/color][color=#666666]表1给出的规格,包括管镜头焦段,齐焦距离,和客观螺纹型,各大厂商所提供的无限远校正显微镜。虽然徕卡和尼康都用一根管子长度为200毫米和25毫米螺纹尺寸的客观,客观齐焦距离是与尼康CFI 60系统明显更大。奥林巴斯,蔡司使用更短的管镜头焦距(分别为180和165毫米),但两家公司有标准化的客观螺纹尺寸和坚持的齐焦长45毫米。[/color][color=#666666]固定管长度在有限的光学系统,通过物镜的光通过朝向中间图像平面(位于目镜的前焦面)和在该点的收敛,发生和相消干涉,以产生图像(图图2(a))。这种情况很不同的无限远校正光学系统中产生的磁通的目标成像在无穷远(通常简称为无穷大的空间,如图2(b)),正被聚焦在中间像平面的平行光的波列管镜头。应该指出的是,为无限远校正的显微镜设计的目标通常是不可互换的与用于有限的(160或170毫米)光管长度显微镜,反之亦然。上使用时,由于缺乏管透镜的有限的显微镜系统,无限远透镜遭受增强的球面像差。然而,在某些情况下这是可能的,利用有限的目标在无限远校正的显微镜,但具有一些缺点。的数值孔径的有限目标受到损害,当它们被用来与无穷大系统,从而导致分辨率降低。此外,齐焦之间的有限和无限远的目标,在同一系统中使用时,丢失。有限目标的距离和放大倍率的工作也将下降,当它们被用来用显微镜具有管透镜。[/color][color=#666666]正如上面所提到的,基本是无穷大系统的光学元件的目的,管透镜和目镜。如在图2(b)所示,试样的目标的前焦面,收集从试样的中央部透过或者反射的光,并产生一个平行光束沿着光轴的投影位于向管透镜显微镜。的光的一部分到达目标源于试件的外周,并进入在斜角度,斜地前进的(但仍然在平行束)向管透镜的光学系统。管透镜收集的光,然后集中在中间像平面中,并随后由目镜放大。[/color][color=#666666][color=#666666][img=,349,331]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/05/201905300932406995_913_2206495_3.jpg!w349x331.jpg[/img][/color][/color][color=#666666][color=#666666][color=#666666]物镜与镜筒透镜一起形成的化合物的物镜系统,在一个有限的距离内的显微镜镜筒中生成的中间图像。管透镜的位置相对于目标的首要关心的问题是设计时无限远校正的显微镜。物镜与镜筒透镜(无穷大的空间)之间的区域中提供了一个路径到复杂的光学元件,可放置的引入的物镜焦距的球面像差或修改的情况下,平行光线。实际上,齐焦匹配的集合中的不同的目标之间可以保持与无限远校正的显微镜,即使当被添加到一个或两个辅助元件的光路。另一个主要的好处是配件的设计可以产生精确的倍值,而不改变物镜与镜筒镜头之间的对齐。此功能允许比较样品,使用的组合的几种光学技术,如荧光(单独或同时)相衬或DIC。这是可能的,因为成一组平行的光波下的光学配件的位置(横向或轴向),也没有图像的焦点不会移动。[/color][color=#666666]如果管透镜位于非常接近的目标,可用于辅助光学组件的空间量是有限的。然而,有一个上限,可以位于在现代显微镜设计的约束内管透镜和物镜之间的光学元件的数量。太多的目标配管透镜周收集的光波通过透镜的数量减少,从而导致中变黑或边缘模糊的图像,并减少显微镜的性能。应当强调的是,术语的无限远光学系统是指生产的磁通平行的右射线通过物镜后,没有一个是无限空间内的显微镜。为了最大限度地提高显微镜的配置的灵活性,同时保持高的性能,这是必需的优化的目标和管透镜之间的距离。[/color][color=#666666]放大倍率的计算方法是将基准焦距(管长)由物镜的焦距无限远校正目标。管透镜的焦距增加,到中间像平面的距离也增加,这将导致在一个延长了的管的长度。管长度200毫米和250毫米之间被认为是最优的,因为更长的焦段会产生较小的离轴角对角的光线,降低了系统的文物。管的长度越长,也增加了系统的灵活性方面设计配套部件。[/color][color=#666666]比较具有160毫米和200毫米的管透镜的焦距(图3)的系统时,一个较长的管透镜的焦距的优点变得明显。减少离轴对角线波磁通角接近长焦距光学系统的一个显着比例。减少的倾斜角的光线产生相对较小的附件组件(DIC棱镜,相位环,二向色镜等),从而提高了效率,在显微镜通过在这两个轴上和离轴光线的变化。戏剧性的提升归因于在无限远校正系统观察到与外延荧光照明的对比度水平光管较长的镜头焦段优势。的改善,与无限远光学显微镜观察到的图像的一个例子是在图4中示出了鼠小肠三个荧光染料标记的薄截面。显微照片记录尼康的Eclipse E600利用CFI 60石油20倍油浸物镜数值孔径0.75微分干涉对比和落射荧光模式同时运行。[/color][/color][/color][color=#666666][color=#666666][color=#666666][img=,308,283]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/05/201905300932401782_6880_2206495_3.jpg!w308x283.jpg[/img][/color][/color][/color][color=#666666][color=#666666][color=#666666]与无限远系统的物镜的焦距必须增加,以保持相同的放大倍数时,较旧的固定管长度系统。使用共焦距为45毫米,是多年的显微镜制造商所使用的所有与有限的管长度系统,但高性能无限远校正光学系统,这可能是不够的。例如,可以有计划复消色差的油浸物镜60X(表现最好的有限目标之一)超过10个单独的透镜元素和组,在一个非常紧张的适合目标约束的齐焦距离为45毫米。当管透镜的焦距变得无穷大系统所取代,它被细分成一个单独的目标(与一个更大的一些光学元件)和管透镜,相当于约150毫米。为了满足全光的潜力无穷大系统,客观的齐焦距离必须管镜头焦距相匹配。因此,对于一个200毫米的焦距,最佳的齐焦距离为60毫米,超过旧的标准化了15毫米的长度。[/color][color=#666666]无限远光学系统中使用的焦段更长的客观要求来匹配相应的更大的工作距离。增加物镜齐焦距离是最重要的工作距离实现了显着的增加,特别是对于较低倍物镜。比如,用1X的物镜中,所用的公式来计算倍率为无限远校正系统支配管透镜,物镜焦距应该是相同的。在一个系统中与管200毫米镜头焦距,这将需要一个较长的齐焦距离,才能使用这种低倍率的目标。计算表明,低至0.5倍的倍率,可以得到与200毫米的管透镜的焦距,但较短的焦距限制稍高于1倍的范围内的值的最小的物镜放大倍率。[/color][color=#666666]另一个要考虑的是,这也必须增加,为获得最佳性能,在具有长管透镜的焦距的光学系统的低倍率的目标的客观的瞳孔直径。RMS标准客观螺纹尺寸,20.32毫米,限制了有效的瞳孔直径可达到的最大数值孔径配备目标。为了产生更高的数值孔径长管镜头焦段正在利用时,客观上螺纹尺寸必须增加。要达到所需的数值孔径的实际出射光瞳直径(D)由下式表示:[/color][color=#666666]D = 2NA×F[/color][color=#666666]其中NA是数值孔径和 f 是物镜的焦距。因此,对于具有100毫米(利用一个200毫米焦距管透镜)的数值孔径为0.10的焦距的2倍复消色差物镜,必要的出射光瞳直径(D)为20毫米。显然,一个较小的目标的螺纹大小限制在低于10倍的无限远光学系统设计时的放大倍率物镜的数值孔径。高于200毫米的管长度增加,需要更大的目标,出射光瞳的大小,这样的无限远校正的显微镜的式样的一个限制因素。[/color][color=#666666] [/color][/color][/color]

  • 【求助】我公司欲采购精密光学镜片检测仪器,现寻有实力单位协助,点击查看详情

    我公司全称“武汉高德红外股份有限公司”,位于“武汉• 中国光谷”,为专业从事规模化红外热成像技术及产品研发、生产、销售的高新技术企业。公司产品广泛应用于电力、消防、公安、冶金、化工及军工等领域。产品畅销全国各地,多达一百五十多个代理商的国际营销网络覆盖全球八十多个国家和地区,与众多海外客户建立了广泛合作关系。高德( Guide )已成为世界知名品牌。 我司现欲购一批高精度红外光学检测设备,用于检测红外长波(8~12um)与中波(3~5um)镜片,镜片口径范围≤∅ 200mm,弧高≤30mm。设备主要用于完成镜片曲率、非球面系数、粗糙度、局部光圈、镜片偏心倾斜、透过率的检测及系统装调等。本公司此次采购设备包括但不限于以下设备:球径仪、轮廓仪、干涉仪、中心偏测量仪、红外系统透过率测试仪、红外平行光管、显微镜。要求对镀膜镜片检测时,尽量做到无损检测。 各单位,如能提供以上检测设备(不限于以上仪器),请于2008年12月20日之前将电子文档发至以下邮箱,文档内容请包括:针对哪项检测能提供那款设备,或推荐哪款设备,按仪器类型列出word技术指标文档,请务必详细列出。欢迎各有实力单位大力推荐优秀设备。公司名称:武汉高德红外股份有限公司公司地址:武汉市洪山区书城路26号联系人:陈岩电话:027-87284561邮编:430070邮箱:unfaireal@163.com

  • 基于线光源扫描的光学元件内部疵病检测

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font][font=宋体][color=black]【作者】:[b][b]周滨[/b][/b][/color][/font][/b][font=&]【题名】:[/font][b][font=宋体][b]基于线光源扫描的光学元件内部疵病检测[/b][/font][/b][font='微软雅黑',sans-serif]【期刊】: cnki,浙江大学[/font][font='微软雅黑',sans-serif][/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://x.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CDFD&dbname=CDFD2014&filename=1014036222.nh][b]基于线光源扫描的光学元件内部疵病检测[/b][/url][/color][/b]

  • 中国科学院大连化学物理研究所诚聘高灵敏光学检测器与传感器博士后,坐标大连市,你准备好了吗?

    [b]职位名称:[/b]高灵敏光学检测器与传感器博士后[b]职位描述/要求:[/b]光学博士后岗:1. 研究方向:高灵敏光学检测器与传感器。2. 招聘要求:熟悉光学检测器与传感器,有仪器研究背景;近期即将获得博士学位或已获得博士学位,拥有良好的研究背景和英文写作能力;工作踏实,具有独立工作能力,有责任感,易沟通。3. 福利待遇:工资和福利待遇按照中科院大连化学物理研究所相关规定执行,年薪26~36万元;符合条件者可申请“博新计划”和“大连化物所优秀博士后奖励基金”等基金,平均年薪涨为36万+(50%概率)。[b]公司介绍:[/b] 三十年来,凭借着中科院大连化学物理研究所雄厚的科研力量和坚实的技术积累,一直致力于色谱分析领域的研究和开发的《科分》人不断创新,先后完成了国家九五攻关项目、国家自然科学基金、中科院重点课题等数十项科研项目,并获得中科院的自然科学、科技发明和科技进步奖。在国家科委和中科院的九.五科技攻关课题支持下,科分人研制开发出“微型[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱仪[/url]”并开始商品化,无疑是《科分》人的又一伟大奇迹。   科分目...[url=https://www.instrument.com.cn/job/user/job/position/67207]查看全部[/url]

  • 光学元件亚表面损伤深度的无损荧光检测方法

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    Firefly荧光激发及检测系统每年检测荧光粉可以节省33万元?这个算术题的确相当的有意思了呢,按照国家标准,荧光粉测定一次需要的成本为4.239*20约等于84.8元。而用海洋光学的仪器Firefly每次测定可以节省荧光粉3g,也就是每次测定节省60元左右呢,所以说一年一台Firefly检测荧光粉可以节省330000元???

  • 两项天然气检测国家标准发布,涉及光学法、电化学法

    1月12日,从国家市场监督管理总局和国家标准化管理委员会获悉,西南油气田公司牵头起草的四项天然气国家标准正式发布,其中两项标准涉及[b]微痕量物质检测[/b]。[b]GB/T 43502.1-2023《天然气 颗粒物的测定 第1部分:用光学法测定粒径分布》[/b]提出了采用光学法测定颗粒物粒径的取样流程、仪器操作参数设置、数据重复性和复现性处理等规范性方法,适用于天然气长输管道中颗粒物样品的提取、制样和粒径的测定。促进GB/T 37124-2018《进入天然气长输管道的气体质量要求》在全国范围内的实施,为天然气[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/bp][color=#3333ff]气质[/color][/url]监控和管道流动保障工作提供有力支撑。[b]GB/T 43503-2023《天然气 氧气含量的测定 电化学法》[/b]描述了采用电化学法测定天然气中氧气含量的原理、试剂与材料、仪器、取样、测定步骤、数据处理、精密度及测定报告,适用于天然气中氧气含量的在线和离线测定,将为天然气产品质量的控制、天然气长输管道的安全运行提供有力保障。下一步,西南油气田公司将继续践行集团公司标准化战略,持续推动科技创新与标准深度融合发展,着力提升标准化质量和水平、优化完善天然气技术标准体系,加快推动天然气标准国际化进程,为集团公司建设基业长青世界一流综合性国际能源公司和高质量天然气工业体系建设作出新的更大贡献。[来源:仪器信息网] 未经授权不得转载[align=right][/align]

  • 光学显微镜的边缘效应?

    光学显微镜会有边界效应么?我做的渗碳的样,边缘有一白色的边,不知道是氧化物,还是边缘效应反光的结果,由于试样一面黑一面亮,有时候我做渗氮的样,总怀疑白亮层是否是真的,还是边界效应引起的白边.

  • 基于散射、衍射的光学表面疵病检测的研究

    [sup]?[b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font][font=宋体][color=black]【作者】:[b][b][b]陈涨敏[/b][/b][/b][/color][/font][/b][font=&]【题名】:[/font][b][font=宋体][b]基于散射、衍射的光学表面疵病检测的研究[/b][/font][/b][font='微软雅黑',sans-serif]【期刊】: cnki,浙江大学[/font][font='微软雅黑',sans-serif][/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://x.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CDFD&dbname=CDFD2014&filename=1014036222.nh][b]基于散射、衍射的光学表面疵病检测的研究 - 中国知网 (cnki.net)[/b][/url][/color][/b][/sup]

  • 【转帖】光学显微镜

    光学显微镜是利用光学原理,把人眼所不能分辨的微小物体放大成像,以供人们提取微细结构信息的光学仪器。  早在公元前一世纪,人们就已发现通过球形透明物体去观察微小物体时,可以使其放大成像。后来逐渐对球形玻璃表面能使物体放大成像的规律有了认识。  1590年,荷兰和意大利的眼镜制造者已经造出类似显微镜的放大仪器。1610年前后,意大利的伽利略和德国的开普勒在研究望远镜的同时,改变物镜和目镜之间的距离,得出合理的显微镜光路结构,当时的光学工匠遂纷纷从事显微镜的制造、推广和改进。  17世纪中叶,英国的胡克和荷兰的列文胡克,都对显微镜的发展作出了卓越的贡献。1665年前后,胡克在显微镜中加入粗动和微动调焦机构、照明系统和承载标本片的工作台。这些部 件经过不断改进,成为现代显微镜的基本组成部分。  1673~1677年期间,列文胡克制成单组元放大镜式的高倍显微镜,其中九台保存至今。胡克和列文胡克利用自制的显微镜,在动、植物机体微观结构的研究方面取得了杰出的成就。  19世纪,高质量消色差浸液物镜的出现,使显微镜观察微细结构的能力大为提高。1827年阿米奇第一个采用了浸液物镜。19世纪70年代,德国人阿贝奠定了显微镜成像的古典理论基础。这些都促进了显微镜制造和显微观察技术的迅速发展,并为19世纪后半叶包括科赫、巴斯德等在内的生物学家和医学家发现细菌和微生物提供了有力的工具。  在显微镜本身结构发展的同时,显微观察技术也在不断创新:1850年出现了偏光显微术;1893年出现了干涉显微术;1935年荷兰物理学家泽尔尼克创造了相衬显微术,他为此在1953年获得了诺贝尔物理学奖。  古典的光学显微镜只是光学元件和精密机械元件的组合,它以人眼作为接收器来观察放大的像。后来在显微镜中加入了摄影装置,以感光胶片作为可以记录和存储的接收器。现代又普遍采用光电元件、电视摄象管和电荷耦合器等作为显微镜的接收器,配以微型电子计算机后构成完整的图象信息采集和处理系统。  表面为曲面的玻璃或其他透明材料制成的光学透镜可以使物体放大成像,光学显微镜就是利用这一原理把微小物体放大到人眼足以观察的尺寸。近代的光学显微镜通常采用两级放大,分别由物镜和目镜完成。被观察物体位于物镜的前方,被物镜作第一级放大后成一倒立的实象,然后此实像再被目镜作第二级放大,成一虚象,人眼看到的就是虚像。而显微镜的总放大倍率就是物镜放大倍率和目镜放大倍率的乘积。放大倍率是指直线尺寸的放大比,而不是面积比。  光学显微镜的组成结构  光学显微镜一般由载物台、聚光照明系统、物镜,目镜和调焦机构组成。载物台用于承放被观察的物体。利用调焦旋钮可以驱动调焦机构,使载物台作粗调和微调的升降运动,使被观察物体调焦清晰成象。它的上层可以在水平面内沿作精密移动和转动,一般都把被观察的部位调放到视场中心。  聚光照明系统由灯源和聚光镜构成,聚光镜的功能是使更多的光能集中到被观察的部位。照明灯的光谱特性必须与显微镜的接收器的工作波段相适应。  物镜位于被观察物体附近,是实现第一级放大的镜头。在物镜转换器上同时装着几个不同放大倍率的物镜,转动转换器就可让不同倍率的物镜进入工作光路,物镜的放大倍率通常为5~100倍。  物镜是显微镜中对成象质量优劣起决定性作用的光学元件。常用的有能对两种颜色的光线校正色差的消色差物镜;质量更高的还有能对三种色光校正色差的复消色差物镜;能保证物镜的整个像面为平面,以提高视场边缘成像质量的平像场物镜。高倍物镜中多采用浸液物镜,即在物镜的下表面和标本片的上表面之间填充折射率为1.5左右的液体,它能显著的提高显微观察的分辨率。  目镜是位于人眼附近实现第二级放大的镜头,镜放大倍率通常为5~20倍。按照所能看到的视场大小,目镜可分为视场较小的普通目镜,和视场较大的大视场目镜(或称广角目镜)两类。  载物台和物镜两者必须能沿物镜光轴方向作相对运动以实现调焦,获得清晰的图像。用高倍物镜工作时,容许的调焦范围往往小于微米,所以显微镜必须具备极为精密的微动调焦机构。  显微镜放大倍率的极限即有效放大倍率,显微镜的分辨率是指能被显微镜清晰区分的两个物点的最小间距。分辨率和放大倍率是两个不同的但又互有联系的概念。  当选用的物镜数值孔径不够大,即分辨率不够高时,显微镜不能分清物体的微细结构,此时即使过度地增大放大倍率,得到的也只能是一个轮廓虽大但细节不清的图像,称为无效放大倍率。反之如果分辨率已满足要求而放大倍率不足,则显微镜虽已具备分辨的能力,但因图像太小而仍然不能被人眼清晰视见。所以为了充分发挥显微镜的分辨能力,应使数值孔径与显微镜总放大倍率合理匹配。  聚光照明系统是对显微镜成像性能有较大影响,但又是易于被使用者忽视的环节。它的功能是提供亮度足够且均匀的物面照明。聚光镜发来的光束应能保证充满物镜孔径角,否则就不能充分利用物镜所能达到的最高分辨率。为此目的,在聚光镜中设有类似照相物镜中的,可以调节开孔大小的可变孔径光阑,用来调节照明光束孔径,以与物镜孔径角匹配。  改变照明方式,可以获得亮背景上的暗物点(称亮视场照明)或暗背景上的亮物点(称暗视场照明)等不同的观察方式,以便在不同情况下更好地发现和观察微细结构。  光学显微镜的分类  光学显微镜有多种分类方法:按使用目镜的数目可分为双目和单目显微镜;按图像是否有立体  感可分为立体视觉和非立体视觉显微镜;按观察对像可分为生物和金相显微镜等;按光学原理可分为偏光,相衬和微差干涉对比显微镜等;按光源类型可分为普通光、荧光、红外光和激光显微镜等;按接收器类型可分为目视、摄影和电视显微镜等。常用的显微镜有双目体视显微镜、金相显微镜、偏光显微镜、紫外荧光显微镜等。  双目体视显微镜是利用双通道光路,为左右两眼提供一个具有立体感的图像。它实质上是两个单镜筒显微镜并列放置,两个镜筒的光轴构成相当于人们用双目观察一个物体时所形成的视角,以此形成三维空间的立体视觉图像。双目体视显微镜在生物、医学领域广泛用于切片操作和显微外 科手术;在工业中用于微小零件和集成电路的观测、装配、检查等工作。  金相显微镜是专门用于观察金属和矿物等不透明物体金相组织的显微镜。这些不透明物体无法在普通的透射光显微镜中观察,故金相和普通显微镜的主要差别在于前者以反射光,而后者以透射光照明。在金相显微镜中照明光束从物镜方向射到被观察物体表面,被物面反射后再返回物镜成像。这种反射照明方式也广泛用于集成电路硅片的检测工作。  紫外荧光显微镜是用紫外光激发荧光来进行观察的显微镜。某些标本在可见光中觉察不到结构细节,但经过染色处理,以紫外光照射时可因荧光作用而发射可见光,形成可见的图像。这类显微镜常用于生物学和医学中。  电视显微镜和电荷耦合器显微镜是以电视摄像靶或电荷耦合器作为接收元件的显微镜。在显微镜的实像面处装入电视摄像靶或电荷耦合器取代人眼作为接收器,通过这些光电器件把光学图像转换成电信号的图像,然后对之进行尺寸检测、颗粒计数等工作。这类显微镜的可以与计算机联用,这便于实现检测和信息处理的自动化,多应用于需要进行大量繁琐检测工作的场合。  扫描显微镜是成像光束能相对于物面作扫描运动的显微镜 。在扫描显微镜中依靠缩小视场来保证物镜达到最高的分辨率,同时用光学或机械扫描的方法,使成像光束相对于物面在较大视场范围内进行扫描,并用信息处理技术来获得合成的大面积图像信息。这类显微镜适用于需要高分辨率的大视场图像的观测。

  • 【讨论】替网友发问:选择什么仪器检测光学元件表面金属元素残留

    实验情况简单介绍 实验目标:测量熔石英材料光学元件表面金属元素残留 待检元素:Ce, Fe, Al, Cu 元件规格:直径50mm,熔石英材料镜片。 用氢氟酸和硝酸混合溶液刻蚀,由于期望获得金属元素含量随深度的信息,每刻蚀1um均需测量含量。 材料一面刻蚀1um材料去除质量:4.35mg 金属元素在材料中含量数量级:ug/g(在数值上最大几百,随深度递减) 假设最终溶液定容100mL,我的简单估值: 材料一面刻蚀1um溶液中的金属元素含量数量级范围:1ng/mL~~~0.01ng/mL 我想请教的问题是: 1.我所调研的ICP-MS方法中这几种元素的检出限大致为0.01ng/mL,在我的实验中我认为应该需要提高待测溶液的金属元素含量浓度(浓缩溶液或者增加材料去除质量),实际检测中所需浓度大致是多少?比检出限高一个数量级(也就是0.1ng/mL)是否够用? 2.硝酸氢氟酸溶液中的杂质可能会对结果造成干扰,杂质浓度需要比待测金属元素浓度低几个数量级?是否还有其他降低干扰的办法? 3.检测过程中对实验室环境洁净度有什么要求? 我的问题不太专业,请多多包涵。

  • 散射扫描法光学元件表面疵病检测技术研究

    [b][font=宋体][color=black]【序号】:1[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】:[size=16px][b]张彬[/b][/size][/b][font=&]【题名】:[b][b][b]散射扫描法光学元件表面疵病检测技术研究[/b][/b][/b][/font][font=&]【期刊】:cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD201601&filename=1016025795.nh&uniplatform=NZKPT&v=1F6G829sgZAFA4MYvRETNbgdZd9BzVfLcxERQ6aplrCK1Co8JxayeBFNIXRM1blG]散射扫描法光学元件表面疵病检测技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

  • 【原创】硅片检测显微镜

    光伏产业(太阳能发电产业)在太阳能电池发展了50年后,终于在2004年跨越了历史的分水岭,正式进入了起飞阶段。随着德国政府在2004 年1 月1 日公布再生能源法,将太阳能选为主要的替代能源,以实际措施普及太阳能发电(政府不但补助民间装设太阳能模块,更保证以一定费率购回电力),太阳能电池产业正式进入了需求的迅猛增长期。随着多晶硅,硅片,大阳能电池板工艺的不断发展与提高,光伏产业对硅片质量的检测要求也越来越高。由于国外的光学检测太贵,对非原材料生产厂家是一笔很大的支出,而又需要对进的硅片进行检测,针对这种情况,上海长方光学仪器厂开发了针硅片检测的系统。该系统可以对太阳能电池硅片的”金字塔” 的微观形貌分布情况,及硅片的缺陷分析. (例如:上海长方生产的硅片检测显微镜:CGM-600E) 例如: 硅片检测显微镜可以观察到肉眼难观测的位错、划痕、崩边等 还可以对硅片的杂质、残留物成分分析.杂质包括: 颗粒、有机杂质、无机杂质、金属离子、硅粉粉尘等,造成磨片后的硅片易发生变花、发蓝、发黑等现象,使磨片不合格. 是太阳能电池硅片生产过程中必不可少的检测仪器之一。CGM-600E大平台明暗场硅片检测显微镜是适用于对太阳能电池硅片的显微观察。本仪器配有大移动范围的载物台、落射照明器、长工作距离的平场消色差物镜、大视野目镜,图像清晰、衬度好,同时配有偏光装置,及其高像素的数码摄像头. 本仪器配有暗场物镜,使观察硅片时图像更加清晰,是检测太阳能电池硅片的”金字塔” 的微观形貌分布情况,及硅片的缺陷分析的理想仪器.上海长方光学仪器厂 欢迎致电:021- 68610299

  • 新手上路请多指教,请有关做玻璃光学性能检测的人士多帮助。

    我在一家第三方检测工作,公司为扩展建筑玻璃检测业务已经筹备很长时间了。去年公司购买了一台PE公司的Spectrum Two和一台Lambda 950,用于检测玻璃的光学性能。去年参加过PE公司的红外设备培训,但是涉及到的玻璃方面内容太少,当时对设备不懂也问不出个所以然来,紫外设备还没来得及参加。现在即将引来检测资质评估认可,但是我对设备的具体操作过程还不是很明白,希望各位前辈多多指教。

  • 【求助】选择哪家的光学显微镜?谢谢

    大家好,由于工作需要,要购买一台光学显微镜,用来检测玻璃、晶体、和金属镀膜后的表面情况,向各位熟悉此仪器的同行寻求帮助,推荐一下国外和国内的光学显微镜厂商。在此先谢过了。

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