光学元件检测

[b][font=宋体][color=black]【序号】：１[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font][font=宋体][color=black]【作者】：[b][b]周滨[/b][/b][/color][/font][/b][font=&]【题名】：[/font][b][font=宋体][b]基于线光源扫描的光学元件内部疵病检测[/b][/font][/b][font='微软雅黑',sans-serif]【期刊】: cnki，浙江大学[/font][font='微软雅黑',sans-serif][/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://x.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CDFD&dbname=CDFD2014&filename=1014036222.nh][b]基于线光源扫描的光学元件内部疵病检测[/b][/url][/color][/b]

[b][font=宋体][color=black]【序号】：１[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】：[size=16px][b]张彬[/b][/size][/b][font=&]【题名】：[b][b][b]散射扫描法光学元件表面疵病检测技术研究[/b][/b][/b][/font][font=&]【期刊】：cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD201601&filename=1016025795.nh&uniplatform=NZKPT&v=1F6G829sgZAFA4MYvRETNbgdZd9BzVfLcxERQ6aplrCK1Co8JxayeBFNIXRM1blG]散射扫描法光学元件表面疵病检测技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

[b][font=宋体][color=black]【序号】：１[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】：[size=16px][b]王悦[/b][/size][/b][font=&]【题名】：[b][b][b]光学元件亚表面缺陷检测自动调平与对焦研究[/b][/b][/b][/font][font=&]【期刊】：cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD202101&filename=1021001205.nh&uniplatform=NZKPT&v=xYGHSdLttNdKdrQ4eSEtVhLFx0cYpkq8yjYDo-JSapNdufFHtF5fAnmFys_fHVpk]光学元件亚表面缺陷检测自动调平与对焦研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

[b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif]【序号】：１[/font]【作者】：[font=sans-serif][/font][font=Arial][font=Archivo, &][size=16px][b]侯晶1,2王洪祥1王储1王景贺1朱本温1[/b][/size][/font][/font][font=sans-serif][/font][/b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif][b][b][/b][/b][/font][font=&]【题名】：[b][b][b][font=&][size=30px][b][b]光学元件亚表面损伤深度的无损荧光检测方法[/b][/b][/size][/font][/b][/b][/b][/font][font=&]【期刊】：[/font][font=Arial][size=12px]CNKI[/size][/font][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif][color=#545454][b]【链接】：[url=https://kns-cnki-net-443.webvpn.xnai.edu.cn/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CJFD&dbname=CJFDLAST2018&filename=HEBX201807004&uniplatform=NZKPT&v=Ea5aJALKB3g_fiNv2APpnkEseIaTI7Z48qNsA5LkYAhwQ1rbRTyJg9Yc4DQ2Eht2]光学元件亚表面损伤深度的无损荧光检测方法 - 中国知网 (xnai.edu.cn)[/url][/b][/color][/font]

[b][font=宋体][color=black]【序号】：１[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】：[size=16px][b][b]黄梦辉[/b][/b][/size][/b]【题名】：[b][b][b][b][b][b]大口径光学元件表面划痕缺陷检测技术研究[/b][/b][/b][/b][/b][/b][font=&]【期刊】：cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CMFD&dbname=CMFD202101&filename=1021001205.nh&uniplatform=NZKPT&v=xYGHSdLttNdKdrQ4eSEtVhLFx0cYpkq8yjYDo-JSapNdufFHtF5fAnmFys_fHVpk]大口径光学元件表面划痕缺陷检测技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

实验情况简单介绍 实验目标：测量熔石英材料光学元件表面金属元素残留 待检元素：Ce, Fe, Al, Cu 元件规格：直径50mm，熔石英材料镜片。 用氢氟酸和硝酸混合溶液刻蚀，由于期望获得金属元素含量随深度的信息，每刻蚀1um均需测量含量。 材料一面刻蚀1um材料去除质量：4.35mg 金属元素在材料中含量数量级：ug/g(在数值上最大几百，随深度递减) 假设最终溶液定容100mL，我的简单估值： 材料一面刻蚀1um溶液中的金属元素含量数量级范围：1ng/mL~~~0.01ng/mL 我想请教的问题是： 1.我所调研的ICP-MS方法中这几种元素的检出限大致为0.01ng/mL，在我的实验中我认为应该需要提高待测溶液的金属元素含量浓度（浓缩溶液或者增加材料去除质量），实际检测中所需浓度大致是多少？比检出限高一个数量级(也就是0.1ng/mL)是否够用？ 2.硝酸氢氟酸溶液中的杂质可能会对结果造成干扰，杂质浓度需要比待测金属元素浓度低几个数量级？是否还有其他降低干扰的办法？ 3.检测过程中对实验室环境洁净度有什么要求？ 我的问题不太专业，请多多包涵。

各光学相关企事业单位: 根据光学元件与仪器分会第五届理事会第三次会议安排，将于2012年北京中国国际光电周期间举办“全国光学元件及光学仪器产业发展论坛”，本次产业发展论坛拟邀请行业内著名专家、学者、从业者就光学行业技术和最新产业发展作报告，组织特邀报告、大会交流报告和产品、样品宣展等活动。热忱欢迎广大光学行业的科研人员、工程技术人员和市场营销、企业管理人员以及大专院校相关教授专家积极撰写论文，到会交流，展示最新产品以及研究成果和在光学元器件应用、开发及生产实践中所取得的宝贵经验和成绩。 本次论坛将出版论坛文集，由协会负责将投稿文章编辑并出版（版面及印刷等相关费用由协会承担）。论坛文集将从中外光学技术最新动向、产业及市场状况等方面反映近年光学产业的发展情况。现将会议征文的有关事项通知如下：1、征文范围：(1)光学晶体、光学材料的制备和加工技术、工艺；(2)平面镜、棱镜、球面镜等光学零件的加工工艺、技术；(3)非球面加工技术及工艺；(4)光学加工、光学检测仪器设备等的制造、使用、技术、工艺；(5)光学镀膜工艺及技术；(6)望远镜、显微镜、投影机等光学下游产品制造技术及产业现状；(7)目前光学行业存在问题及对政策的建议；(8)光学各行业上中下游的发展动态、预测及展望。2、征文要求：要求使用WORD格式，标明题目和作者，不能带有广告倾向。论文内容力求反映光学行业的最新技术、企业生产经营管理、产业、市场发展等新动态。3、截稿日期：2012年9月20日4、征文范围：1）全国范围内从事光学相关业务及研发的企事业单位、研究院所、外企机构等均可投稿。2）※要求光学元件与光学仪器分会现任理事单位每家至少提交一篇论文。5、论坛文集编辑出版日期：2012年10月10日(论坛开幕前)。6、论文邮寄方式：用电子邮件邮寄到以下邮箱地址：coema@coema.org.cn.请在论文后面提供详细通信地址及联系电话、电子邮件以便联络。7、协会为每位论文作者免费寄送论坛文集一本。8、将从投稿论文中精选十篇左右反映光学元件、光学仪器以及光学上游等产业发展情况的综述性论文在2012年全国光学元件及光学仪器产业发展论坛上做报告交流。论坛活动的相关安排如下：时 间：2012年10月16日 上午10:00~下午16:30地 点：北京 中国国际展览中心(三元桥)主办单位：中国光学光电子行业协会光学元件与光学仪器分会协办单位：拟设协办单位若干，欢迎理事单位、会员单位参与协办支持单位：拟设支持单位若干，欢迎理事单位、会员单位支持本次论坛听众免费。论坛设立多种赞助方式，赞助标准见附件一。附件一：2012年全国光学元件及光学仪器产业发展论坛赞助方式一、协办单位 赞助费用：四万元人民币－提供2012年全国光学元件及光学仪器产业发展论坛上30分钟的演讲时段；－提供产业发展论坛文集内彩色内页广告一页；－论坛宣传册、论坛背板、论坛文集等资料上列出协办单位名称；－论坛会场摆放企业宣传册及产品样品;协会网站放置企业广告图片。二、支持单位赞助费用：三万元人民币－论坛宣传册、论坛背板、论坛文集等资料上列出支持单位名称；－提供产业发展论坛文集内彩色内页广告一页；－论坛会场可发放企业宣传册。三、企业新技术、新产品推广发布：一万元人民币(提供15分钟ppt报告时间)四、论坛文集广告：(最大尺寸：210×285mm)封底： 6000元人民币封二、封三：4000元人民币彩色内页： 3000元人民币五、论坛会场摆放公司宣传册以及易拉宝等宣传资料：5000元人民币有关事宜可与中国光协光学元件与仪器分会秘书处联系。联系人：程先生 电 话：010-84321499 E-mail：coema@coema.org.cn 网 址：www.coema.org.cn中国光学光电子行业协会光学元件与仪器分会二○一二年七月

报名地址： http://webinar.ofweek.com/activityDetail.action?activity.id=4555301&user.id=2在线研讨会介绍研讨会主题：光学元件透过率、反射率光谱分析解决方案举行公司：海洋光学亚洲分公司研讨会简介： Planum-3000和Sphere3000是广州标旗电子科技有限公司（以海洋光学的光谱仪为核心部件）开发的两套光学元件透/反射光谱分析解决方案，波长范围从360-1100nm，主要用于平面光学元件多角度相对/绝对反射率/透过率测量和球面/非球面光学元件的零度角相对/绝对反射率快速检测， 检测速度达毫秒级，强大的软件功能可实现全光谱上下限及平均值判断，特别适用于光学镀膜片、棱镜、太阳镜、光学透镜、节能玻璃等生产商。主讲人介绍http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/27zhujiang.png演讲专家： 宋金达专家职务： 资深应用工程师专家简介： 深圳光学学会常务理事，广州标旗电子科技有限公司总经理，资深应用工程师。华南理工大学系统工程硕士毕业，从事光谱仪器应用开发与销售多年，组织并培养了一支专业的光谱仪应用开发技术团队，使广州标旗成为海洋光学在国内重要的代理商，在微型光纤光谱仪应用于光学元件检测、颜色测量、珠宝检测、LED检测、拉曼检测、物质浓度在线检测等方面有非常丰富的经验。答疑人介绍http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/27_answer.png演讲专家： 吴剑锋专家职务： 软件工程师专家简介： 毕业于华南理工大学系统工程专业，2007年以来一直致力于光谱应用软件开发及技术支持，已成功开发光学元件光谱分析软件、拉曼光谱分析、珠宝检测、LED分光系统等多套应用软件，熟悉微型光纤光谱仪在光学元件检测、颜色测量、珠宝检测、LED检测、拉曼检测等方面的应用。奖品介绍http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/j1.jpghttp://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/j2.jpghttp://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/j3.jpg参加预先提问活动人员里面抽5个幸运奖（限量纪念版4G U盘，价值100元）参加现场提问活动人员里面抽5个幸运奖（限量纪念版4G U盘，价值100元）研讨会结束后 再抽3个大奖（精美真皮钱包，价值500元）公司介绍 美国海洋光学作为微型光纤光谱仪的发明者，一直致力于光纤光谱仪，化学传感器的研究，是全球领先的光传感解决方案提供商，自1989年来在全球共售出近200，000套光谱仪，为OEM客户提供灵活多样的产品选择，为工业科研用户提供性能优越的系统解决方案，涉及领域涵盖生物，环保，医药，光电，化工，教育等。 海洋光学是英国豪迈(Halma)集团的分公司，豪迈集团主要经营用于探测潜伏危险和保护人们生命安全的产品，是专业性电子、安全和环境技术领域的领军企业。

请问多晶X射线衍射仪中X射线管都用到那些光学元件，具体的工作原理和用途是怎样的？如果想得到准单色X光荧光应如何让对光学元件进行改进？谢谢高手指导。

在网上看到一个图这个图是出现在一个讲光谱仪器概念的文章里，整段话如下LuminosityLuminosity is a measure of the 'light-collecting power' of a spectrometer. In an ideal instrument, it depends on the product of the area of the entrance slit and the solid angle subtended by the dispersing element (e.g. by the diffraction grating). It is assumed that all other elements in the spectrometer, e.g. lenses and detectors, are made large enough so as not to reduce the luminosity.In real spectrometers, the number and quality of optical components can have a dramatic effect on luminosity. The table below compares the effect on luminosity of the optical components in an Echelle grating spectrometer and a Czerny Turner monochromator in both the Visible (VIS) and ultraviolet (UV):[center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902262130_135664_1786353_3.gif[/img][/center]里面的数字代表此种光学元件的数量注：这个表是基于中阶梯光栅光谱仪，光路是C-T型的，如下图[center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902262142_135666_1786353_3.gif[/img][/center]其中：Echelle 表示中阶梯光栅Czerny Turner 表示光路类型是C-T型Grating：光栅Cross Dispers，不知道是什么Mirror，反射镜Prism：棱镜，有些仪器采用双单色器，棱镜预分光Lens：透镜Filter：滤光片Energy Through put (%) ：假设入射光束能量100%,这里的值就是最后出单色器的光能量。Light Loss % Factors，给出了每个光学元件对光能量的衰减

报名网址 http://webinar.ofweek.com/activityDetail.action?activity.id=4555301&user.id=2研讨会主题：光学元件透过率、反射率光谱分析解决方案举行公司：海洋光学亚洲分公司研讨会简介： Planum-3000和Sphere3000是广州标旗电子科技有限公司（以海洋光学的光谱仪为核心部件）开发的两套光学元件透/反射光谱分析解决方案，波长范围从360-1100nm，主要用于平面光学元件多角度相对/绝对反射率/透过率测量和球面/非球面光学元件的零度角相对/绝对反射率快速检测， 检测速度达毫秒级，强大的软件功能可实现全光谱上下限及平均值判断，特别适用于光学镀膜片、棱镜、太阳镜、光学透镜、节能玻璃等生产商。主讲人介绍http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/27zhujiang.png演讲专家： 宋金达专家职务： 资深应用工程师专家简介： 深圳光学学会常务理事，广州标旗电子科技有限公司总经理，资深应用工程师。华南理工大学系统工程硕士毕业，从事光谱仪器应用开发与销售多年，组织并培养了一支专业的光谱仪应用开发技术团队，使广州标旗成为海洋光学在国内重要的代理商，在微型光纤光谱仪应用于光学元件检测、颜色测量、珠宝检测、LED检测、拉曼检测、物质浓度在线检测等方面有非常丰富的经验。 答疑人介绍http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/27_answer.png演讲专家： 吴剑锋专家职务： 软件工程师专家简介： 毕业于华南理工大学系统工程专业，2007年以来一直致力于光谱应用软件开发及技术支持，已成功开发光学元件光谱分析软件、拉曼光谱分析、珠宝检测、LED分光系统等多套应用软件，熟悉微型光纤光谱仪在光学元件检测、颜色测量、珠宝检测、LED检测、拉曼检测等方面的应用。奖品介绍http://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/j1.jpghttp://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/j2.jpghttp://webinar.ofweek.com/upload/users/ofweek/image/j3.jpg参加预先提问活动人员里面抽5个幸运奖（限量纪念版4G U盘，价值100元）参加现场提问活动人员里面抽5个幸运奖（限量纪念版4G U盘，价值100元）研讨会结束后 再抽3个大奖（精美真皮钱包，价值500元）公司介绍 美国海洋光学作为微型光纤光谱仪的发明者，一直致力于光纤光谱仪，化学传感器的研究，是全球领先的光传感解决方案提供商，自1989年来在全球共售出近200，000套光谱仪，为OEM客户提供灵活多样的产品选择，为工业科研用户提供性能优越的系统解决方案，涉及领域涵盖生物，环保，医药，光电，化工，教育等。 海洋光学是英国豪迈(Halma)集团的分公司，豪迈集团主要经营用于探测潜伏危险和保护人们生命安全的产品，是专业性电子、安全和环境技术领域的领军企业。

我们的红外光谱仪检定到期了，检定人员到现场进行检定，说红外的光学元件很贵，而且只要进入灰尘或者水汽就很容易坏。而我们的仪器直接暴露在空气中，对光学元件损害比较严重，建议采取防护措施。请问，这个防护措施怎么做啊？需要用个罩子罩起来吗？我看好多红外设备都没有罩起来啊！[em09512]

[b][font='Microsoft YaHei', 宋体, sans-serif]【序号】：１[/font]【作者】：[/b][font=&][size=15px][font=&][/font][b]刘红婕蒋晓东黄进孙来喜王凤蕊叶鑫郑万国[/b][font=&][/font][size=12px][/size][/size][/font][b][/b][font=&]【题名】】：[b][b][b]熔石英光学元件亚表面缺陷的探测与表征技术研究[/b][/b][/b][/font][font=&]【出版社】：CNKI[/font][font=&][color=#333333][b][/b][/color][/font][font=Arial][size=12px][/size][/font][b]【链接】:[url=https://ieeexplore.ieee.org/document/9075661]熔石英光学元件亚表面缺陷的探测与表征技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/b]

请教各位专家一个普通的问题，光学仪器的光学元件有有机污染（如胶水），如何清除？谢谢！

以前在网上看到的。在各个电磁波段，光学元件使用的材料。[B]反射镜[/B]波段 材料X-raysUltraviolet 铝Visible 铝Near infrared 金infrared 金，铜[B]透镜[/B]波段 材料X-rays Ultraviolet 熔融石英（人造水晶）Visible 玻璃Near infrared 玻璃infrared ZnSe[B]窗口（windows)[/B]波段 材料X-rays berylliumUltraviolet 熔融石英（人造水晶）Visible 玻璃Near infrared 玻璃infrared ZnSe, NaCl, BaF2注：x-rays的反射镜和透镜的材料没贴出来，我不知道是没有还是漏了。

想用两片滤光片获得汞灯光谱中的254nm、546nm的光，但不知选啥样的滤光片？ 此外，254nm、546nm两束光的光强又该用啥元件检测呢（请具体点说）？有没有一种价钱较低廉的器件能把254nm的光转换为546nm的光呢？

[b]‘有奖问答’判断题：分光光度计灵敏度低的原因可能是光学元件受污染。( )[/b]

日前，由中国电子科技集团第45所承担的国际科技合作项目“自动光学检测(AOI)设备技术合作”，通过了国家级验收，技术指标达到了国外同类设备水平，标志着自动光学检测(AOI)设备实现了国产化，填补了国内空白。　　据了解，当今电子装备在结构上强调实现小型化、微型化、模块化，以满足高性能、高可靠、大容量、小薄轻的要求。线路板上元器件组装密度提高，其线宽、间距、焊盘越来越细小，已到微米级，复合层数越来越多。传统的人工目测(MVI)和针床在线测试(ICT)检测因“接触受限”(电气接触受限和视觉接触受限)所制,已不能完全适应当今制造技术的发展，自动光学检测系统(AOI)已经成为IC制造业的必然需求，正越来越多地用来代替传统MVI和ICT技术，进行检测，用于监视和保证生产过程的品质。目前，我国自动光学检测系统(AOI)设备主要依赖进口，一直被以色列、美国、日本等国家所垄断。中国电子科技集团第45所，与加拿大开展了卓有成效的国际科技合作，共同研发自动光学检测(AOI)设备，通过引进、消化吸收、再创新，终于研制出了具有国际水平的自动光学检测(AOI)设备，打破了国外的垄断与技术封锁，使进口产品降价30%。

河北省廊坊市科技局26日称，中国电子科技集团第45所(燕郊)与加拿大共同合作的“自动光学检测(AOI)设备技术”研制成功，各项技术指标均达到国外同类设备水平。这标志着我国打破了国外在自动光学检测设备领域的垄断与技术封锁，使自动光学检测设备进口产品降价30%。 　据廊坊市科技局工作人员介绍，全球电子装备在结构上强调实现小型化、微型化、模块化，以满足高性能、高可靠、大容量、小薄轻的要求。而我国传统的人工目测(MVI)和针床在线测试(ICT)检测因“接触受限”(电气接触受限和视觉接触受限)所制，已不能完全适应当今制造技术的发展。目前，我国自动光学检测系统(AOI)设备还主要依赖进口，一直被以色列、美国、日本等国家所垄断。因此，自动光学检测系统(AOI)已经成为IC制造业的必然需求。

在电子产品制造业中，因为新材料和新技术的应用，工艺流程在广度和复杂度上都在不断提升。在单芯片电路和多芯片模块的制造过程中，不同范围的界面将被生产出来。这些流程包括了在PCB板或其他基板上装配电子元件或装配圆顶封装体时各自不同的步骤。各个不同组分之间的润湿和粘附行为在其中发挥了重要的作用。为了描述固体表面液体的润湿和防润湿能力，接触角是一个非常容易获得并且能直接观察的数值。除了液体的表面张力外，影响接触角的还有固体表面的表面自由能和两个不同相之间的界面张力。本文提供了一套详细的步骤，用以检测在基板上两种不同电子元件包括极性力和色散力部分在内的表面自由能。这些数值能对包封胶的润湿和粘附行为做一个评估。

http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/06/201506221344_550978_2524385_3.gif如题，光学装置是这样的话如何进行双波长检测，难道是光栅在两个波长来回转、

代光学检测技术和仪器的集成化、自动化、智能化为目标的光机电算一体化的现代光学仪器[url=http://www.gxoptics.com/]滤光片[/url]技术。主要研究内容有：以光学MEMS技术为基础的微光学、微机构以及二元光学技术的研究；混合光学系统的设计与制备技术的研究；围绕关键光纤传感元件技术，开展光机电算集成系统技术的研究，开拓现代光学仪器系统的信号获取、传感、检测与处理的集成化、自动化的新途径；开展光机电集成成像工程技术以及以微纳米技术为基础的纳米测试计量技术、纳米操作技术的研究；探索纳米尺寸光电精密检测与计量的新方法。还有要补充的吗？http://www.gxoptics.com/2384.html

GJB 360.36-1987 电子及电气元件试验方法 触点抖动监测

9月22日，环境保护部科技标准司组织专家对国家环境保护环境光学监测技术重点实验室进行验收评审。验收专家组委员会一致认为，该实验室完成了建设计划任务书预期建设目标，达到了环境保护部重点实验室验收条件和要求，同意通过验收。安徽省环境保护厅副厅长殷福才，中科院合肥物质科学研究院院长王英俭，中国科学院安徽光学精密机械研究所所长、重点实验室主任刘文清等出席了验收会。中国工程院院士潘德炉，环境保护部卫星环境应用中心、北京市环境保护监测中心、解放军电子工程学院等相关单位的专家参加了验收会。国家环境保护环境光学监测技术重点实验室是国家环境保护总部与依托合肥研究院联合建立的环境光学监测理论和技术研究的基地。实验室于2007年10月开始筹建，主要承担环境光学应用基础研究，定量监测新方法研究和环境监测高新技术系统集成研究，先进环境监测技术规程和标准的编制任务，并对完善我国环境监测系统以及国家环境管理与决策提供理论与技术支持。以潘德炉院士为主任委员的专家组听取了关于实验室建设情况的总结报告，现场考察了实验室，审阅了有关实验室验收材料，实地考察了该实验室，并与实验室领导和科研骨干进行了座谈。专家组一致认为，实验室完成了组织机构建设，形成了一支专业结构合理的环境光学近侧技术创新团队;实验室基本建设完成，自主研制建立了基于多种光谱学技术的地基、移动、机载和星载环境监测技术的研究平台，具备了环境光学监测技术创新研发的能力;实验室在环境光学应用基础、定量监测新方法、环境监测高新技术系统集成和先进环境监测技术规程和标准等四个研究方向取得了一批有代表性的成果;实验室研发的环境监测技术已推广应用到全国环境监测领域，为环境管理提供了有力的技术支撑。为促进重点实验室更好地建设和发展，验收委员会专家组建议，在现有国家环境保护环境光学监测技术重点实验室的基础上，申请建设国家重点实验室。

[b][font=宋体][color=black]【序号】：１[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font]【作者】：[b][b][b][font=&][size=24px][color=#333333]陈镇龙[/color][/size][/font][/b][/b][/b][/b][font=&]【题名】：[b]基于线阵扫描的自动光学检测系统关键技术研究[/b][/font][font=&]【期刊】：cnki[/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CDFD&dbname=CDFDLAST2016&filename=1015712320.nh&uniplatform=NZKPT&v=g8fPyqfSNBIZFLi6JV5IjwK9gKCSBCEvUuN3dTxvKpYlXKEQlXfSHL3OoehSZY07]基于线阵扫描的自动光学检测系统关键技术研究 - 中国知网 (cnki.net)[/url][/color][/b]

光室恒温是为了保证光学元件受环境影响最小，防止谱线的漂移检测器致冷主要就降低暗电流的干扰。光室恒温和检测器降温，其最终目的是一致的，瓦里安的光室有35度，检测器有-30度左右，据说也有-7度，不同厂家有区别吗？，技术上有创新吗？是否越低越好（基于检测器降温），而光室恒温是否保持一个最佳范围，如果基于非洲或者北欧等，如何考虑？

[sup]?[b][font=宋体][color=black]【序号】：１[/color][/font][font='微软雅黑',sans-serif][color=black][/color][/font][font=宋体][color=black]【作者】：[b][b][b]陈涨敏[/b][/b][/b][/color][/font][/b][font=&]【题名】：[/font][b][font=宋体][b]基于散射、衍射的光学表面疵病检测的研究[/b][/font][/b][font='微软雅黑',sans-serif]【期刊】: cnki，浙江大学[/font][font='微软雅黑',sans-serif][/font][b][color=#545454]【链接]: [url=https://x.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?dbcode=CDFD&dbname=CDFD2014&filename=1014036222.nh][b]基于散射、衍射的光学表面疵病检测的研究 - 中国知网 (cnki.net)[/b][/url][/color][/b][/sup]

【作者】：【题名】：多源光谱特征组合的COD光学检测方法研究【期刊】：【年、卷、期、起止页码】：【全文链接】：https://kns.cnki.net/kcms/detail/detail.aspx?filename=GUAN201411045&dbcode=CJFQ&dbname=CJFD2014&v=t4rSBhLh-EjJsJCYC0yhbJ9cJoPGs6jh5kKtp2k6Vj0vhzuLeqNMWh4WvTTAZvDS

新年开工，如何确认ICPOES性能?从检测器校正，波长校正，光学性能测试上面讨论讨论?