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硅铁损测试仪

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硅铁损测试仪相关的仪器

  • 仪器简介:铁素体测试仪FERITSCOPE MP30E-S微处理器控制的手提式铁素体含量测试仪,根据磁感应的方法(DIN EN ISO 2178)测量奥氏体钢和双联钢中的铁含量。电源供电通过电池,可充式电池或交流稳压器插拔式探头连接器。 用于测量数据和文字显示的大液晶显示器,有两条双行16个字母显示,分别显示测 量参数和操作指导等。 能记忆100个应用程式和在最大1,000个数据块中的最多10,000个测量数据。动态的存储器管理。 * 测量数据块的储存带日期及时间特征。 * 储存的测量数据可以进行选择和纠正。 * 自动探头识别功能。 * 双向的RS232口用于PC或打印机连接。 * 带听觉信号的规格限制。 * 统计评估功能。适宜探头型号:EGAB1.3-Fe, EGABW1.3-Fe和EGABI1.3-Fe。该价格中包括:保护罩,手提箱,电池和操作手册,但不包括测量探头,标准块%Fe-WRC和交流稳压器技术参数:主机尺寸:160×80×30 mm主机重量:230 g(不含电池)电源:1节9V电池或稳压电源大容量:100个应用程式,1000个数据组,10000个测量数据测量范围:0.1-80%或0.1-110 FN测量原理:磁感应测量探头:3种:同轴探头EGAB1.3-Fe,测孔内壁及凹处EGABI1.3-Fe,90°弯头EGABW1.3-Fe标准片:4套:0.3/10,1.5/30,10/80%Fe三种校准标准片套装和0.3/80%Fe主校准片套装。所有的标准片均出具fischer证书,并可追溯至国际公认的IIW二级调校标准片,结果可靠,完全满足ANSI/AWS A4.2-91和DIN 32514 及“Basler”标准的要求。软件功能:统计评估;上下限设置;连续测量;外部触发;自动关机;公/英制转换;密码保护;按键锁定;5种语言;自动手动分组外围设备:通过RS232接口可与计算机或打印机连接主要特点:微处理器控制的手提式铁素体含量测试仪,根据磁感应的方法(DIN EN ISO 2178)测量奥氏体钢和双联钢中的铁含量。
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  • 高精度可控硅测试仪 ST-DC2000(250A)可测试 19大类27分类 大中小功率的 分立器件及模块的 静态直流参数(测试范围包括 Si/SiC/GaN 材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件)主极输出 2000V / 50~1250A,分辨率*高至1mV / 10pA支持曲线扫描图示功能 ? 产品应用应用领域高精度可控硅测试仪适用于军工院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……主要用途? 测试分析(功率器件研发设计阶段的初始测试)? 失效分析(对失效器件进行测试,查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 )? 选型配对(在器件焊接至电路板之前进行全部测试,将测试数据比较一致的器件进行分类配对)? 来料检验(研究所及电子厂的质量部(IQC)对入厂器件进行抽检/全检,把控器件的良品率)? 产线自动化测试(可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备,实现规模化、自动化测试) ? 产品简述 高精度可控硅测试仪产品的扩展性强,通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座,自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降,保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键,系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。 曲线追踪仪(晶体管图示仪)功能则是利用高速ATE测试步骤逐点生成曲线,可快速而准确地生成精确的数据点。数据增量是可编程的线性或对数,典型的每步测试时间为6到20ms。一个两百条数据点曲线通常只需几秒钟就能完成。使用该系列跟踪仪更容易获取诸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFETRDSvs. VGS 等曲线数据。此外, 针对多条曲线,设备可以根据每条曲线的数据运行并将所获数据自动发送到一个单独的 Excel 工作表。系统能够更快,更简洁的创建曲线(单击,双击,选择输入菜单,单击)。就是这么简单。 设备支持在单个 DUT 上运行高达 10 条不同曲线的能力,在运行过程中,每个图表都是可视的,每个数据集都被加载到一个被命名的 Excel 工作表中。系统运行速度快,可进行数据记录,提供更高级的数据工具箱,能够运行多条曲线并自动排序,自动将数据存入 Excel 表格,具有缩放功能,光标重新运行功能以及其他许多优点。 系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口,可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。? 产品特点?高精度可控硅测试仪的测试范围广(19大类,27分类)?升级扩展性强,通过选件可提高电压电流,和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A?采用脉冲测试法,脉冲宽度为美军标规定的300us?被测器件引腿接触自动判断功能,遇到器件接触不良时系统自动停止测试, 保证被测器件不受损坏?真正的动态跨导测试。(主流的直流方法测动态跨导 ,其结果与器件实际值偏差很大)?系统故障在线判断修复能力,便于应急处理排障?二极管极性自动判别功能,无需人工操作?IV 曲线显示 / 局部放大?程序保护*大电流/电压,以防损坏 ?品种繁多的曲线?可编程的数据点对应 ? 增加线性或对数?可编程延迟时间可减少器件发热 ?保存和重新导入入口程序?保存和导入之前捕获图象 ?曲线数据直接导入到 EXCEL?曲线程序和数据自动存入 EXCEL ? 测试能力序号测试器件测试参数01IGBTICES;IGESF;IGESR;BVCES;VGETH;VCESAT;ICON;VGEON;VF;GFS02MOSFET / MOS场效应管 IDSS;IDSV;IGSSF; IGSSR;VGSF;VGSR;BVDSS;VGSTH;VDSON、VF(VSD) IDON;VGSON;RDSON;GFS03J-FET / J型场效应管IGSS;IDOFF;IDGO;BVDGO;BVGSS;VDSON,VGSON;IDSS;GFS;VGSOFF04晶体管(NPN/PNP)ICBO;ICEO;ICER; ICES; ICEV;IEBO;BVCEO ;BVCBO;BVEBO;HFE;VCESAT;VBESAT;VBE(VBEON);RE;VF05DIODE / 二极管IR;BVR ;VF06ZENER / 稳压、齐纳二极管IR;BVZ;VF;ZZ07DIAC / 双向触发二极管VF+,VF-,VBO+,VBO-,IBO+,IBO-,IR+,IR-,08OPTO-COUPLER / 光电耦合ICOFF、ICBO;IR;BVCEO;BVECO;BVCBO;BVEBO;CTR;HFE;VCESAT; VSAT;VF(Opto-Diode)09RELAY / 继电器RCOIL;VOPER;VREL;RCONT;OPTIME; RELTIME10TRIAC / 双向可控硅VD+;VD-;VT+ ; VT-;IGT;VGT ;IL+;IL-;IH+;IH-11SCR / 可控硅IDRM;IRRM;IGKO;VDRM;VRRM;BVGKO;VTM;IGT;VGT;IL;IH12STS / 硅触发可控硅IH+; IH-;VSW+ ; VSW-;VPK+ ;VPK-;VGSW+;VGSW-13DARLINTON / 达林顿阵列ICBO;ICEO;ICER;ICES;ICEX;IEBO;BVCEO;BVCER;BVCEE;BVCES;BVCBO;BVEBO;hFE;VCESAT;VBESAT;VBEON14REGULATOR / 三端稳压器Vout;Iin;15OPTO-SWITCH / 光电开关ICOFF;VD;IGT;VON;ION ;IOFF16OPTO-LOGIC / 光电逻辑IR;VF;VOH;VOL;IFON; IFOFF17MOV / 金属氧化物压变电阻ID+ ID-;VN+; VN-;VC+ ;VCLMP-;VVLMP+ ;18SSOVP / 固态过压保护器ID+ ID-;VCLAMP+, VCLAMP-;VT+、VT-;IH+、IH-;;IBO+ IBO-;VBO+ VBO-;VZ+ VZ- 19VARISTOR / 压变电阻ID+; ID-;VC+ ;VC-
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  • 贴骨袋折断测试仪 400-860-5168转3947
    贴骨袋折断测试仪贴骨袋是医疗行业中常用的包装材料之一,主要用于存储和保护手术刀片、缝合针和线等医疗器械。贴骨袋的热合强度和折断性能是评估其质量的重要指标。本文将介绍使用拉力试验机检测贴骨袋热合强度和折断、手术刀片锋利度和切割力、缝合针和线连接强度、组合盖拉环开启力的方法。 贴骨袋热合强度和折断在袋子受到拉伸的过程中,拉力试验机会记录力和位移数据,并计算出袋子的热合强度。在完成热合强度测试后,继续拉伸样品至袋子折断,记录折断时的力和位移数据。。手术刀片锋利度和切割力选取一定数量的手术刀片样品,确保刀片无锈蚀、无弯曲且无明显磨损。记录切割时的力和位移数据。分析数据,评估刀片的锋利度和切割力性能。缝合针和线连接强度在针和线受到拉伸的过程中,拉力试验机会记录力和位移数据,并计算出针和线的连接强度。组合盖拉环开启力在拉环受到拉伸的过程中,拉力试验机会记录力和位移数据,并计算出组合盖拉环的开启力。评估组合盖拉环的开启力性能。 通过以上方法使用拉力机进行检测贴骨袋热合强度和折断、手术刀片锋利度和切割力、缝合针和线连接强度、组合盖拉环开启力等指标可以评估医疗包装材料的质量和使用安全性。这些数据可以作为生产厂家和使用者的重要参考依据,帮助改进产品设计和提高使用安全性。同时,定期进行这些测试也是保证产品质量的重要手段之一。 技术参数 测量范围: 20N、50N、300N、500N、1000N、1500N(可选其一或多个)测量精度: ±0.5%误差测量速度: 1-500mm/min(无极变速)速度精度: ±2%误差机器尺寸: 570mm×430mm×1170mm(长宽高)重 量: 78Kg环境温度: 15℃-50℃相对湿度: 80%,无凝露工作电源: 220V 50Hz贴骨袋折断测试仪此为广告
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  • 高温铁电测试仪一、高温铁电测试仪简介:铁电材料参数测试仪主要是由正弦波、三角波、间歇三角波、梯形波发生器及正、负矩形脉冲和双极性双脉冲发生器外加铁电材料电滞回线、I-V特性及开关特性测量电路构成。适用于铁电薄膜、铁电体材料的电性能测量,可测量铁电薄膜电滞回线、I-V特性及开关特性,可准确地测出具有非对称电滞回线铁电薄膜的Pr值。可测铁电体材料的电滞回线及IV特性。同时也可作为一台通用信号发生器、高压信号发生器使用。二、系统:本测试系统采用虚地模式测量电路,与传统的Sawyer-Tower模式相比,此电路取消了外接电容,可减小寄生元件的影响。此电路的测试精度仅取决于积分器积分电容的精度,减少了对测试的影响环节,比较容易定标和校准,并且能实现较高的测量准确度,它不仅能画出铁电薄膜的电滞回线,还可以定量得到铁电薄膜材料的饱和极化ps、剩余极化Pr、矫顽场Ec、漏电流Ik等参数,以及对铁电薄膜材料铁电疲劳性能、铁电保持性能的测试。能够较全面准确地测量铁电薄膜的铁电性能。仪器采用一体化设计,实现测试结果全数字化,操作简单方便。三、技术参数:电压范围:±30V(可扩展至±4KV)输出电流峰值:±1Azui大负荷电容:1μF动态电滞回线测试频率:0.001Hx~100kHz铁电材料漏电流的测试:10pA~100mAzui小脉冲宽度:25ns上升时间:7ns极化测试精准到:10fC块体材料样品盒可进行室温~1200℃电滞回线测定
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  • 一、产品概述:介电常数测试仪采用数字液晶显示,是通过GB1409中的Q表法测试固体/液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器。它以单片计算机控制仪器,测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低值,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量时更为精确。可直读介电常数及介质损耗结果,免去人工计算的繁琐。经过新升级可通过上位机软件查看测试曲线,北京航天纵横检测仪器是代替进口设备的北京航天纵横仪器产品。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。产地北京房山。二、技术特性:DDS数字合成信号:50KHz-160MHz;信号源频率覆盖比:1600:1;信号源频率精度:6位有效数3×10-5 ±1个字;Q测量范围/Q分辨率:1-1000自动/手动量程;4位有效数,分辨率0.1;Q测量工作误差:5%;电感测量范围/分辨率:1nH-140mH 4位有效数,分辨率0.1nH;电感测量误差:5%;调谐电容:主电容17-240pF;电容直接测量范围:1pF~25nF;调谐电容误差/分辨率:±1pF或1% / 0.1pF;谐振点搜索:自动扫描;Q合格预置范围:5-1000声光提示;Q量程切换:自动/手动;LCD显示参数:F,L,C,Q,Lt,Ct波段等;新增功能:自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能;新增功能:大电容值直接测量显示功能,测量值可达25nF;消耗功率:约25W;净重:约7kg;外型尺寸:(宽×高×深)mm:380×132×280。二、符合标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法;GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法;ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率(介电常数)的标准试验方法;GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法; 三、产品特点:1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2、双测试要素输入 - 北京航天纵横检测仪器测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。8、新增功能:电感测试时,仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值(特别是小电感值)测量时的精度。此技术只有北京航天纵横仪器生产的Q表有。9、新增功能:大电容值直接测量显示功能,电容值直接测量值可达25nF(配100uH电感时)。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京航天纵横检测仪器生产的Q表有。四、工作环境:1、环境温度:0℃~+40℃;2、相对湿度:80%;3、电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。五、配置清单:主机一台电感九只夹具一套液体杯一个电源线一根数据线一根说明书一份合格证一份保修卡一张六、适用单位:可以用于科研机关,学校,例如一些科研院所,大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数仪对绝缘材料的介质损耗角正切tanδ及介电常数进行测试;北京航天纵横检测仪器同时也适用于工厂或单位,例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究,另外在电力、电工、化工等领域,如:电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。七、试验步骤:1、按照Q表的操作规程调整仪器,选定测量频率,测定C1和Q1的值。2、将试样放入测试电极中,并调节电容器C,使电路谐振,达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。3、将试样从测试电极中取出,调节C或测试电极的距离,使电路重新谐振,记下C、或测试电极的校正电容值与Q值,北京航天纵横检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。4、其他高频测试仪器按其说明书进行操作,北京航天纵横检测仪器通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。八、试验条件:1、试样表面应清洁、平滑,无裂纹、气泡和杂质等,试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。3、当试样处理有特殊要求时,可按其产品标准规定的进行。九、测试意义:1、介电常数——北京航天纵横检测仪器绝缘材料通常以两种不同方式来使用,即(1)用于固定电学网络部件,同时让其彼此以及与地面绝缘;(2)用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中,通常要求固定的电容尽可能小,同时具有可接受且一致的机械,化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中,要求电容率具有一个高值,以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力,以将交流电晕降至最小。2、交流损耗——对于这两种场合(作为电学绝缘材料和作为电容器电介质),交流损耗通常必须是比较小的,以减小材料的加热,同时将其对网络剩余部分的影响降至最小。在高频率应用场合,特别要求损耗指数具有一个低值,因为对于某一给定的损耗指数,电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中,例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质,通常电导增加可获得损耗增大,这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时,这可能有助于考虑耗散因子,功率因子,相位角或损耗角。3、相关性——北京航天纵横检测仪器当获得适当的相关性数据时,耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征,例如电介质击穿,湿分含量,固化程度和任何原因导致的破坏。然而,由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子,除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的,耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。十、典型用户:沧州大化集团中国计量大学河南平煤神马聚碳材料有限责任公司温州市鹿城区科学技术局东莞初创应用材料有限公司北京航空航天大学中国科学技术大学惠州市杜科新材料有限公司宁波东烁新材料科技有限公司云南能投硅材科技发展有限公司天津科技大学十一、相关产品:ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验机一、介质损耗的基本概念1.介质损耗电介质在电场作用下(加电压后),要发生极化过程和电导过程。有损极化过程有能量损耗;电导过程中,电学性泄漏电流流过绝缘电阻当然也有能量损耗。损耗程度一般用单位时间内损耗的能量,即损耗功率表示。这种电介质出现功率损耗的过程称为介质损耗。显然,介质损耗过程随极化过程和电导过程同时进行。介质损耗掉的能量(电能)变成了热能,使电介质温度升高。若介质损耗过大,则电介质温度将升得过高,这将加速电介质的热分解与老化,最终可能导致绝缘性能的完全失去,所以研究介质损耗有十分重要的意义。2.介质损耗的基本形式(1)电导损耗。电导损耗为电场作用下由泄漏电流引起的那部分损耗。泄漏电流与电场频率无关,故这部分损耗在直流交流下都存在。气体电介质以及绝缘良好的液、固体电介质,电导损耗都不大。液、固体电介质的电导损耗随温度升高而按指数规律增大。(2)极化损耗。极化损耗为偶极子与空间电荷极化引起的损耗。在直流电压作用下,由于极化过程仅在电压施加后很短时间内存在,与电导损耗相比可忽路。而在交流电压作用下,由于电介质随交流电压极性的周期性改变而作周期性的正向极化和反向极化,极化始终存在于整个加压过程之中。极化损耗在频率不太高时随频率升高而增大。但频率过高时,极化过程反而减弱,损耗减小。极化损耗与温度也有关,在某一温度下极化损耗达最大。(3)游离损耗,游离损耗主要是指气体间隙的电晕放电以及液、固体介质内部气泡中局部放电所造成的损耗。这是因为放电时,产生带电粒子需要游离能,放电时出现光、声、热、化学效应也要消耗能量。游离能随电场强度的增大而增大。二、介质损失角正切tanδ由上可见,在直流电压作用下,介质损耗主要为电导损耗,因此,电导率γ或电阻率ρ既表示介质电导的特性,同时也表征了介质损耗的特性。但在交流电压作用下,三种形式的损耗都存在,为此需引入一个新的物理量来表征介质损耗的特性,这个物理量就是tanδ。1.并联等值电路及损耗功率的计算公式电介质两端施加一交流电压时,就有电流流过介质。有三个电流分量组成式中 ——电导过程的电流,为阻性电流,与同相位;——无损极化和有损极化时的电流。对应的等值电路如图2-9(a)所示,此等值电路可进一步简化成如图2-9(b)所示的由R和Cp相并联的等值电路。此并联等值电路的相量图如图2-9(c)所示。我们定义功率因数角θ的余角为δ角。由相量图可见,介质损耗功率越大,IR越大,δ角也越大,因此δ角称为介质损失角。对此并联等值电路,可写出介质损耗功率P的计算公式当然,图2-9(b)的电路也可以简化成由r和Cs相串联的等值电路,可以证明当tanδ 很小时, Cs≈C对于串联等值电路,同样可以推出损耗功率的计算公式2.tanδ值的意义从介质损耗功率P的计算公式看,我们若用P来表征介质损耗的程度是不方便的,因为P值与试验电压U的高低、试验电压的角频率ω(ω=2Πf)、电介质等值电容量Cp (或Cs)以及tanδ值有关。而若在试验电压、频率、电介质尺寸一定的情况下,那么介质损耗功率仅取决于 tanδ,换句话说,也就是tanδ是与电压、频率、绝缘尺寸无关的量,它仪取决于电介质的损耗特性。所以 tanδ是表征介质损耗程度的物理量,与εr、γ相当。这样,我们可以通过试验测量电介质的tanδ值,并以此来判断介质损耗的程度。各种结构固体电介质的tanδ如表2-2所示。表2-2 各种结构固体电介质的tanδ值(1MHz,20℃时)电介质结构名称tanδ分子结构非极性分子石 蜡 聚苯乙烯 聚四氟乙烯小于0.0002极性分子纤维素 有机玻璃0.01~0.015离子结构晶格结构紧密岩 盐 刚 玉小于0.0002 小于0.0002晶格结构不紧密多铝红柱石0.015晶格畸变的晶体锆英石0.02无定形结构硅酸铅玻璃 硅碱玻璃0.001 0.01不均匀结构 绝缘子瓷 浸渍纸绝缘0.01 0.01三、影响 tanδ 的因素影响tanδ 值的因素主要有温度、频率和电压。1.温度对tanδ值的影响随电介质分子结构的不同有显著的差异中性或弱极性介质的损耗主要由电导引起,故温度对tanδ的影响与温度对电导的影响相似,即tanδ随温度的升高而按指数规律增大,且tanδ较小。极性介质中,极化损耗不能忽略,tanδ值与温度的关系如图2-10所示。当温度在t1时,由于温度较低,电导损耗与极化损耗都小,电导损耗随温度升高而略有增大,而极化损耗随温度升高也增大(黏滞性减小,偶极子转向容易),所以tanδ随温度升高而增大。当温度在t1<t<t2时,温度已不太低,此时分子的热运动反而妨碍偶极子沿电场方向作有规则的排列,极化损耗随温度升高而降低,而且降低的程度又要超过电导损耗随温度升高的程度,因此tanδ随温度升高而减小。当温度在t>t2时,温度已很高,电导损耗已占主导地位,tanδ又随温度升高而增大。2.频率对tanδ的影响主要体现于频率对极化损耗的影响tanδ与频率的关系如图2-11所示。在频率不太高的一定范围内,随频率的升高,偶极子往复转向频率加快,极化程度加强,介质损耗增大,tanδ值增大。当频率超过某一数值后,由于偶极子质量的惯性及相互间的摩擦作用,来不及随电压极性的改变而转向,极化作用减弱,极化损耗下降,tanδ值降低。3.电压对tanδ的影响主要表现为电场强度对tanδ值的影响在电场强度不很高的一定范围内,电场强度增大(由于电压升高),介质损耗功率变大,但tanδ几乎不变。当电场强度达到某一较高数值时,随着介质内部不可避免存在的弱点或气泡发生局部放电,tanδ随电场强度升高而迅速增大。因此,在较高电压下测tanδ值,可以检查出介质中夹杂的气隙、分层、龟裂等缺陷来。此外,湿度对暴露于空气中电介质的tanδ影响也很大。介质受潮后,电导损耗增大,tanδ也增大,例如绝缘纸中水分含量从4%增加到10%,tanδ值可增大100倍。然而,假如tanδ值的测试是在温度低于0~5℃时进行,含水量增加tanδ反而不会增大,这是因为此时介质中的水分已凝结成冰,导电性又变差,电导损耗变小的缘故。为此,在进行绝缘试验时规定被试品温度不低于+5℃,这对tanδ的测试尤为重要,在工程实际中,通过tanδ以及tanδ=f(u)曲线的测量及判断,对监督绝缘的工作状况以及老化的进程有非常重要的意义。
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  • 微针贴片基底测试仪 400-860-5168转3662
    微针贴片基底测试仪仪器介绍微针(Micro needles)MN是指包含多个微型针头的阵列,针的长度一般为几十微米至几毫米,而其直径为几十微米以下。微针是一种高效、安全、新型的经皮给药技术,拥有其他传统经皮给药技术无法达到的优势。一,微针打破了经皮给药中的重大屏障———角质层对药物的阻滞,不仅使药物的递送效率大大提升,还使得大分子药物和亲水性药物的经皮递送成为可能。 由于微针使用过程对穿刺的影响、皮肤与不锈钢板等平面存在较大差异等原因,微针实际的刺入效果是无法通过断裂力或压变性能准确预测的。因此,多数研究采用生物组织( 通常是离体人皮肤或动物皮肤) 来考察微针真实的穿刺性能。 微针贴片基底测试仪TA.XTC-20特别适用于高精度材料物性品质研究,反应灵敏,根据样品形态可智能调节追踪速率,对于微针、微球、微胶囊等精细样品力学性能准确测定。可以准确测定微针(MN)应力-应变曲线,获取微针的屈服力,微针屈服强度MNs yielding force;微针破裂强度测定MN breaking force,可应用猪皮穿透测试insertion into pig skin,评估微针(MN)透皮性能,从而对微针机械强度进行分析。 仪器应用于介孔微针强度 mesoporous microneedles (MMN) 应力-应变 stress– strain分析,可对实心微针、空微针、棱形硅 微针silicon microneedle、金涂层固体硅微针脆性测试 ,金属微针硬度测定,聚合物微针强度测定、陶瓷纳米微针、水凝胶微针应力测定、玻尿酸微针弹性模量测定,微针(MN)透皮性能测定。 医疗卫生领域耗材正在精细化发展,如微针、微球、微胶囊、水凝胶微粒等,这种微小耗材在应用过程中,力学性能是影响其使用效果的关键性因素。因此在前期精细耗材研发过程中,需采用高精度力学分析仪器对样品在使用过程中的力学性能进行分析。TA.XTC-20采用高精度电机,具有高频率信号采集能力,同时仪器自带方法库,根据标准要求不断内置应用方案,是一款在微力领域的仪器。 基本参数:Ø 高精度:0.0001gØ 位移精度:0.001mmØ 测试臂移动距离:0-400mmØ 检测速度:0.01~50mm/sØ 数据采集率:不低于2000组/秒,每组4个通道同时读取Ø 力量感应元:100g、500g、1kg、5kg、10kg、20kg、30kg、50kg、100Kg可选,可根据用户需求提供升级产品配置。
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  • 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪:GDAT-A 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 二、介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪的技术指标 1.Q值测量 a.Q值测量范围:2~1023。 b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c.标称误差项 目 GDAT-A频率范围20kHz~10MHz;固有误差≤5%±满度值的2%;工作误差≤7%±满度值的2%;频率范围10MHz~60MHz;固有误差≤6%±满度值的2%;工作误差≤8%±满度值的2%。电感测量范围介电常数介质损耗试验仪电容测量14.5nH~8.14H1~ 460 项 目GDAT-A直接测量范围1~460pF主电容调节范围30~500pF,精准度150pF以上±1% 150pF以下±1.5pF; 注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4.介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪信号源频率覆盖范围项 目 GDAT-A: 频率范围10kHz~50MHz频率分段(虚拟)10~99.9999kHz100~999.999kHz1~9.99999MHz10~60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字Q合格指示预置功能预置范围:5~1000。Q表正常工作条件环境温度:0℃~+40℃; 相对湿度80%电源220V±22V,50Hz±2.5Hz。消耗功率约25W;净重约7kg外型尺寸(l×b×h)mm:380×132×280 8.产品配置:a. 测试主机一台;b. 电感9只;c. 夹具一套 电感:线圈号 Q 值 测试频率 分布电容p 电感值 9100KHz 98 9.4 25mH8400KHz 13811.4 4.87mH7 400KHz 20216 0.99mH61MHz 196 13252μH52MHz 198 8.749.8μH4 4.5MHz 231 7 10μH 312MHz 1936.9 2.49μH2 12MHz 229 6.4 0.508μH1 25MHz,50MHz233,2110.9 0.125μH 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪的详细资料: 一、 介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪概述介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;仪器的基本原理是采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至最低,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。介电常数介质损耗试验仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪/介质损耗测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有专业的工程师为您解决您的疑问!! 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪 BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪 BDJC系列电压介电强度试验仪器 BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪 BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪 EST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪 BDH 耐漏电起痕试验仪 BDH-B耐电弧试验仪 中国检测行业与验证服务的尖端者和智领者,帮助众多检测质检单位和学校教研单位提供一站式的全面质量解决方案。 注重每一个细节是北广公司对于每个客户的承诺 , 也是北广公司一直追求的宗旨。北京北广精仪仪器设备有限公司
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  • 电感测试仪 MADMIX是一种独特的专利测量技术,用于在真实环境下测量SMPS电感。所有的关键电感参数都可以测量,包括交流损耗,而不需要额外的绕组。 MADMIX电感测试仪测试功能:1、 平均电感2、 核心损耗3、 绕组损耗4、 总交流损耗5、 BH-loop6、 饱和电流7、 电感饱和前后 MADMIX电感测试仪特点:1、 测试电感在实际工作条件:硬开关、大电流和电压。2、 可以应用和实际应用相同的波形 3、 可以测试铁芯和绕组损耗,并确定自热。4、 可以解决客户在应用中使用哪个感应器的困惑。5、 在电感器上施加方形电压,产生三角电流。6、 将大信号三角电流(0.1-120Aptp)与直流偏置电流(0-48A)相结合7、 我们可以测量不同频率(10kHz-10MHz)和脉宽(5-95%) MADMIX应用领域:1、 电感厂2、 铁氧体制造商 3、 SMPS设计4、 科研单位。 三角磁通激发相对于传统的小信号正弦波励磁,大信号三角磁通励磁揭示了被测电感器的真实性能。 不再使用假设来推断,但真正的激发使性能达到极限。 为未来做好准备大程度的自动化和灵活性由内部开发的软件。强大的DSP计算确保稳定和准确测量。我们不断的创新是由先进的技术推动的在电力电子领域 模块化硬件构建针对电子行业的未来发展。 硬开关原理开关电源采用硬开关,使高效化。功率感应器可以“看到”一个矩形的电压产生三角形电流的波形。这种特定的电流波形与频率和占空比将导致特定的交叉在感应器里。 这些损失可能会很严重与正弦激励相比具有差异 哪些参数可以被调优MADMIX软件可以选择和自动化扫描:开关频率占空比输入电压直流偏电流温度 技术规格及选配主要参数 输入电压: 0.2V to 70V 频率: 10kHz to 10MHz 频宽比: 10% to 90% 交流电流: 0.1Aptp to 60Aptp 直流偏置: 0A to 24A 铁芯绕组分离一个真正的10位示波器功率损失在兆瓦范围内测量并改进高频率(MHz范围) 低频率下的精度电感部件(100nH以下)将交流损耗分为:铁芯损耗和绕组损耗或无附加绕组 同时启用BH回路的生成。 耦合电感器耦合功率电感器的测量, 变压器,无线供电线圈....这个测量同时返回损耗和k系数。 知名用户:Vishay、NXP、TDK、Sumida、Würth Elektronik、MURATA、Cochlear… …
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  • 电感测试仪 MADMIX是一种独特的专利测量技术,用于在真实环境下测量SMPS电感。所有的关键电感参数都可以测量,包括交流损耗,而不需要额外的绕组。 MADMIX电感测试仪测试功能:1、 平均电感2、 核心损耗3、 绕组损耗4、 总交流损耗5、 BH-loop6、 饱和电流7、 电感饱和前后 MADMIX电感测试仪特点:1、 测试电感在实际工作条件:硬开关、大电流和电压。2、 可以应用和实际应用相同的波形 3、 可以测试铁芯和绕组损耗,并确定自热。4、 可以解决客户在应用中使用哪个感应器的困惑。5、 在电感器上施加方形电压,产生三角电流。6、 将大信号三角电流(0.1-120Aptp)与直流偏置电流(0-48A)相结合7、 我们可以测量不同频率(10kHz-10MHz)和脉宽(5-95%) MADMIX应用领域:1、 电感厂2、 铁氧体制造商 3、 SMPS设计4、 科研单位。 三角磁通激发相对于传统的小信号正弦波励磁,大信号三角磁通励磁揭示了被测电感器的真实性能。 不再使用假设来推断,但真正的激发使性能达到极限。 为未来做好准备大程度的自动化和灵活性由内部开发的软件。强大的DSP计算确保稳定和准确测量。我们不断的创新是由先进的技术推动的在电力电子领域 模块化硬件构建针对电子行业的未来发展。 硬开关原理开关电源采用硬开关,使高效化。功率感应器可以“看到”一个矩形的电压产生三角形电流的波形。这种特定的电流波形与频率和占空比将导致特定的交叉在感应器里。 这些损失可能会很严重与正弦激励相比具有差异 哪些参数可以被调优MADMIX软件可以选择和自动化扫描:开关频率占空比输入电压直流偏电流温度 技术规格及选配主要参数 输入电压: 0.2V to 70V 频率: 10kHz to 10MHz 频宽比: 10% to 90% 交流电流: 0.1Aptp to 60Aptp 直流偏置: 0A to 24A 铁芯绕组分离一个真正的10位示波器功率损失在兆瓦范围内测量并改进高频率(MHz范围) 低频率下的精度电感部件(100nH以下)将交流损耗分为:铁芯损耗和绕组损耗或无附加绕组 同时启用BH回路的生成。 耦合电感器耦合功率电感器的测量, 变压器,无线供电线圈....这个测量同时返回损耗和k系数。 知名用户:Vishay、NXP、TDK、Sumida、Würth Elektronik、MURATA、Cochlear… …
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  • 介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法 介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。 主要技术特性 :Q 值测量范围 2 ~ 1023 量程分档 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档固有误差≤ 5 % ± 满度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz )≤6% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)工作误差≤7% ± 满度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz )≤8% ± 满度值的2%(10MHz~160MHz)电感测量范围 4.5nH ~ 140mH 电容直接测量范围1 ~ 200pF 主电容调节范围18 ~ 220pF 主电容调节准确度 100pF 以下 ± 1pF 100pF 以上 ± 1 % 信号源频率覆盖范围 100kHz ~ 160MHz 频率分段 ( 虚拟 )100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz, 10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz频率指示误差3 × 10 -5 ± 1 个字 搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用 概述BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套,可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数(损耗角正切值)。BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品,它采用了数显微测量装置,因而读数方便,数据精确。测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品,微测量装置则显示被测材料样品的厚度。BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器,通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化,测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。 BD916介质损耗测试装置技术特性 :平板电容器极片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可选 极片间距可调范围≥15mm 夹具插头间距25mm±0.01mm 夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz) 测微杆分辨率0.001mm 电感:线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9100KHz 98 9.4 25mH8 400KHz138 11.4 4.87mH7400KHz 202 16 0.99mH6 1MHz 196 13 252μH5 2MHz198 8.7 49.8μH4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 1936.9 2.49μH212MHz2296.40.508μH 125MHz,50MHz233,211 0.9 0.125μH 介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪作为最新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内最高的160MHz。GDAT高频 Q 表采用了多项技术:A.双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 B.双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 C.双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。 D.自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 E.全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 F.DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。 计算机自动修正技术和测试回路最优化 —使测试回路 残余电感减至最低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。 感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介质损耗测试仪/介电常数介质损耗测试仪/介电常数测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有专业的工程师为您解决您的疑问! 北广公司其它绝缘材料检测仪器: BDJC-0-100KV 介电击穿试验仪BDJC系列绝缘材料工频率介电击穿试验仪BDJC系列电压介电强度试验仪器BDJC系列 电压击穿试验仪 BDJC系列绝缘漆漆膜击穿强度试验仪BDJC电容器纸工频电压击穿试验仪BEST-121 体积表面电阻率测定仪 GDAT-A介质损耗测试仪/介电常数测试仪 GDAT-C新型介电常数介质损耗测试仪BDH 耐漏电起痕试验仪BDH-B耐电弧试验仪
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  • GBT3960摩擦磨损测试仪 400-860-5168转5976
    GBT3960摩擦磨损测试仪物料的内摩擦角,(°) 另物料的自然堆积角,(°)。JBT 9014.8-1999h)毛刷、钢直尺。4.3试验步骤4.3.1试验准备)试体制备按JB/T9014.2-1999中表2要求备好试样。按表3规定选取对开膜(或承膜筒)及橡皮膜:表3mm物科轮度对开膜(或承膜简)尺寸橡皮膜民寸39.1(≠42)39.1≠61.8466)61.810101( 104)101将橡皮膜一端固定在压力室的底座中心,套上对开膜,用螺钉压紧。将橡皮膜另一端翻转套在对开膜上口上,膜壁不得扭约。吸出模壁与橡皮膜间空气,使之相互贴紧。用料铲将试样装人对开模内,装满、刮平,加上压帽。将橡皮膜上端再翻转固定压帽上。将试体内部抽成部分真空,拆除对开模。当使用承膜筒制备试体时,先将橡皮膜放在筒内,两端翻转套在简外。吸出橡皮膜与筒壁间空气,使之相互贴紧。将承膜筒与橡皮膜一起装在压力室底座上,固紧,加料,刮平,加压帽。将橡皮膜翻转固定在压帽和底座上。将试体内部拍成部分真空,拆下承膜筒。b)试验仪器安装调整按要求安装好试验装置。开启空压机,全部系统内充水排气。调整、检查测试系统,调整升降机构,使活塞杆,压帽、测力环、百分表等加压系统处于正常状态。c)调整电接点压力表到所需要的下限压力。4.3.2测试过程a)按试验要求对试体加以50-600Pa范围内的某一稳定围压力(即试体周围的压力)。b使压力机活塞以小于0.20mm/min 的速度上升,缓慢地对试体施加轴向压力。通过测力钢环和应变百分表读出试验过程中试体的轴向压力和高度应变的变化值,直至试体发生剪切破坏为止,并记录。c)通过测定记录的一系列的轴向压力p,及高度变化值△h,,确定出试体发生剪切破坏时的轴向压应力p和试体高度变化值△h。d)重新安装试体,重复上述试验过程,测定各种不同围压力条件下物料试体发生剪切破坏时的轴向压应力p和试体高度变化值Ah。4.4结果计算活塞杆作用于试体的轴向压应力按式(3)计算:..(3)式中:p一-升降活塞作用于物料试体的轴向压应力,MPa 3.5结果评定在每种正压力条件下重复试验三次,取其中抗剪强度较小值为报告值。3.6试验报告按JB/T 9014.2-1999中3.6的要求提出试验报告。4三轴切应力试验4.1方法要点将散粒物料制成圆柱试体,对试体施以三向应力,使其在三向应力作用下发生剪切破坏,依次测定各向应力,用试体发生剪切破坏时的不同大小的应力作出一系列的摩尔圆,求取各摩尔圆的破坏包络线,从而得到物料的内摩擦角φ。和初抗剪强度r。.4.2仪器和工具a)三轴切应力仪(图3) b)空压机:工作压力1MPa c)侧压力稳压装置板(图4) 重复上述过程,依次在料盖上加砝码2.3.4.5kg。分别测定牵引下集料框开始滑动瞬时的量杯及水的合重P、P。、P,、P。,以及上集料框内物料及上盖板的合重G,、G。、G,、G。,并记录。(分套上集料柜上周板紧定销下料智机星加载量杯加载托涅图13.4结果计算不同正压力条件下物料的抗剪强度按式(1)计算(准确至小数点后两位数字):,P-n.......………*…(1)式中:,,一不同正压力条件下物料的抗剪强度,MPa P 一-第1次试验时加载量杯和水的合重,N1P--空载(未加物料)时加载量杯和水的合重,N F一集料框的内框截面积(即物料层截面积)。mm’。每次测定时物料剪切层的正应力按式(2)计算(准确至小数点后两位数字):式中:一第1次试验时物料剪切层所受的正应力,MPa G,一-第1次试验时上集料框内物料与料盖的合重,NGBT3960摩擦磨损测试仪技术参数:1、速度精度:1%2、负荷精度:0.5%3、摩擦力矩精度:1%4、具有试验人员分级管理功能。5、实时显示摩擦系数-时间,扭矩-时间曲线。6、试验报告可打印试验参数,试验数据,曲线,备注等信息,简单,方便,可编辑。7、试样尺寸: 30mm×7mm×6mm8、转动速度: 0-500转/分 (可调)9、负 荷: 196N ± 0.1%(可增至392N)10、摩擦环尺寸:¢40×10mm ,倒角0.5×45°,外圆表面与内圆同心度偏差小于0.01 11、摩擦环材质:45号钢,淬火,热处理HRC40-45,外圆表面光洁度▼812、摩擦力矩: 0--4Nm 13、砝码重量:4KG砝码一件,1KG砝码4件,可实现重量叠加功能。14、计数器精度:1S15、传感器测量精度:1% FS16、系统运行稳定,可靠性高。17、结构紧凑,使用方便,简单。18、采用高精度电机、驱动机、传感器,精度高。GBT3960摩擦磨损测试仪符合标准:GB/T 3960-1983 塑料滑动摩擦磨损试验方法 GB/T 9141.8-1999 柔性石墨板材滑动摩擦系数测试方法另外本厂生产的计算机控制塑料滑动摩擦试验机是在现有电子塑料滑动摩擦试验机的基础上又增加了很多试验功能,可以同时显示扭矩-时间曲线,随意设定试验次数,显示当前试验次数,设定时间及当前试验时间等多种功能,本机还配有彩色打印机,可以打印出带有曲线,表格数据,试验单位名头的精美的试验报告单。GBT3960摩擦磨损测试仪适用于塑料制品、橡胶制品、石墨板材或其他复合材料的滑动摩擦,磨损性能测试,也可对试验中试样的磨擦力、磨擦系数和磨损量进行测定。也可对试验中试样的磨擦力、磨擦系数和磨损量进行测定。本机采用高精度扭矩传感器,16 位单片机电子处理系统,使得本仪器各项测试指标精度非常高。由于集成程度很高,所以设备本身的稳定性极好,本机具有一次设置,全自动运行,实验结束后自动停机GBT3960摩擦磨损测试仪并检测磨损程度,同时通过打印机打印试验数据等功能。是各个科研单位,大学,企业实验室的必备检测设备。本仪器融合了当前新的智能电路系统进行控制,并结合老式M-200摩擦磨损试验机的功能进行升级改造而成,本仪器具有测控精度高,操作便捷等优势,是科研院所、质检机构、实验室研究首选的试验设备。
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  • 片型材料介电常数介质损耗测量仪(自动介损测试仪)-ZJD-C一、产品概述:片型材料介电常数介质损耗测量仪(自动介损测试仪)-ZJD-C采用数字液晶显示,是通过GB1409中的Q表法测试固体/液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器。它以单片计算机控制仪器,测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低值,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量时更为精确。可直读介电常数及介质损耗结果,免去人工计算的繁琐。片型材料介电常数介质损耗测量仪(自动介损测试仪)-ZJD-C经过新升级可通过上位机软件查看测试曲线,北京中航时代检测仪器是代替进口设备的北京中航时代仪器产品。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。产地北京房山。二、技术特性:DDS数字合成信号:50KHz-160MHz;信号源频率覆盖比:1600:1;信号源频率精度:6位有效数3×10-5 ±1个字;Q测量范围/Q分辨率:1-1000自动/手动量程;4位有效数,分辨率0.1;Q测量工作误差:5%;电感测量范围/分辨率:1nH-140mH 4位有效数,分辨率0.1nH;电感测量误差:5%;调谐电容:主电容17-240pF;电容直接测量范围:1pF~25nF;调谐电容误差/分辨率:±1pF或1% / 0.1pF;谐振点搜索:自动扫描;Q合格预置范围:5-1000声光提示;Q量程切换:自动/手动;LCD显示参数:F,L,C,Q,Lt,Ct波段等;新增功能:自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能;新增功能:大电容值直接测量显示功能,测量值可达25nF;消耗功率:约25W;净重:约7kg;外型尺寸:(宽×高×深)mm:380×132×280。二、符合标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法;GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法;ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率(介电常数)的标准试验方法;GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法; 三、产品特点:1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2、双测试要素输入 - 北京中航时代检测仪器测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。8、新增功能:电感测试时,仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值(特别是小电感值)测量时的精度。此技术只有北京中航时代仪器生产的Q表有。9、新增功能:大电容值直接测量显示功能,电容值直接测量值可达25nF(配100uH电感时)。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京中航时代检测仪器生产的Q表有。四、工作环境:1、环境温度:0℃~+40℃;2、相对湿度:80%;3、电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。五、配置清单:主机一台电感九只夹具一套液体杯一个电源线一根数据线一根说明书一份合格证一份保修卡一张六、适用单位:可以用于科研机关,学校,例如一些科研院所,大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数仪对绝缘材料的介质损耗角正切tanδ及介电常数进行测试;北京中航时代检测仪器同时也适用于工厂或单位,例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究,另外在电力、电工、化工等领域,如:电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。七、试验步骤:1、按照Q表的操作规程调整仪器,选定测量频率,测定C1和Q1的值。2、将试样放入测试电极中,并调节电容器C,使电路谐振,达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。3、将试样从测试电极中取出,调节C或测试电极的距离,使电路重新谐振,记下C、或测试电极的校正电容值与Q值,北京中航时代检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。4、其他高频测试仪器按其说明书进行操作,北京中航时代检测仪器通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。八、试验条件:1、试样表面应清洁、平滑,无裂纹、气泡和杂质等,试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。3、当试样处理有特殊要求时,可按其产品标准规定的进行。九、测试意义:1、介电常数——北京中航时代检测仪器绝缘材料通常以两种不同方式来使用,即(1)用于固定电学网络部件,同时让其彼此以及与地面绝缘;(2)用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中,通常要求固定的电容尽可能小,同时具有可接受且一致的机械,化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中,要求电容率具有一个高值,以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力,以将交流电晕降至最小。2、交流损耗——对于这两种场合(作为电学绝缘材料和作为电容器电介质),交流损耗通常必须是比较小的,以减小材料的加热,同时将其对网络剩余部分的影响降至最小。在高频率应用场合,特别要求损耗指数具有一个低值,因为对于某一给定的损耗指数,电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中,例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质,通常电导增加可获得损耗增大,这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时,这可能有助于考虑耗散因子,功率因子,相位角或损耗角。3、相关性——北京中航时代检测仪器当获得适当的相关性数据时,耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征,例如电介质击穿,湿分含量,固化程度和任何原因导致的破坏。然而,由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子,除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的,耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。十、典型用户:沧州大化集团中国计量大学河南平煤神马聚碳材料有限责任公司温州市鹿城区科学技术局东莞初创应用材料有限公司北京航空航天大学中国科学技术大学惠州市杜科新材料有限公司宁波东烁新材料科技有限公司云南能投硅材科技发展有限公司天津科技大学十一、相关产品:ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验机
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  • 有机硅凝胶耐电压击穿测试仪HRJC-50KVIEC 60243标准设计实验平台,交流电压源输出电压 0~100kV,电压畸变率小于 1%,升压速率 2kV/s,升压曲线如。被测试品的模具容积为 200mL,电极为铜制球球电极,电极直径 13mm,电极间距 1mm。基于实验室内制备的有机硅凝胶样品,测试了不同温度下有机硅凝胶的工频耐电特性。有机硅凝胶耐电压击穿测试仪HRJC-50KV安全保护功能:1、试验在试验箱中进行,试验箱门打开时电源加不到高压变压器输入端,即高压侧无电压。100KV测试设备高压电极距离试验箱壁的zui近距离大于270mm,50KV测试设备高压电极距离试验箱壁的zui近距离大于250mm,试验时即使人接触箱壁也不会有危险。2、设备要安装单独的保护地线。接保护地线,主要是减少试样击穿时对周围产生的较强的电磁干扰。也可避免控制计算机失控。3、该试验设备的电路设有多项保护措施,主要有:过流保护、过压保护、漏电保护、短路保护、直流试验放电报警,电磁放电等。4、直流试验放电报警功能:在设备做完直流试验时,当开启试验门时设备会自动报警,直至使用设备上的放电装置放电后报警会自动取消.(注:因为直流试验后不放电会危险到人安全,不能直接拿取电极,起到提醒使用人员放电以免造成伤害)。5、试验放电装置,电磁铁自动放电放置。有机硅凝胶耐电压击穿测试仪HRJC-50KV试验软件:1、在试验过程中可对升压击穿过程绘制实时曲线,每次试验的升压曲线都由不同颜色构成,试验结束后可叠加对比材料的试验数据重复性。2、可以随时调取当前及历史试验数据进行查看,编辑及修改参数。3、试验过程中可以随时修改试验条件及存储路径及自动存储试验结果。4、试验过程中,可随时通过软件决定本次试验是否有效,方便筛选试验结果。5、可设置操作口令,做到专机专人操作,避免无关人员误操作。有机硅凝胶耐电压击穿测试仪HRJC-50KV九级安全防护措施: (1) 超压保护(2)试验过流保护 (3)试验短路保护(4)安全门开启保护(5)软件误操作保护(6)零电压复位保护(7)试验结束放电保护(8)独立保护接地(9)试验完成后电磁放电有机硅凝胶耐电压击穿测试仪HRJC-50KV绝缘材料的击穿起始于材料内部绝缘弱点,而聚合物中的缺陷是随机分布的,因此聚合物的击穿事件符合一定的统计规律,一般采用多个样本,可通过概率分布统计法评估聚合物的击穿电压温度对有机硅凝胶的绝缘性能有重要影响,随着温度升高,23~80℃之间,有机硅凝胶的击穿场强有所降低,但降低程度较小;当温度达到120℃左右时,有机硅凝胶的击穿场强明显下降;当温度达到 200℃时,有机硅凝胶的击穿场强只有约常温下的一半。
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  • 硅电池QE/IPCE 测试仪 400-860-5168转2776
    产品介绍:此款仪器是针对硅电池的专业一体式测试仪器,是在多功能测试仪器的基础上,结合硅电池的特性研发而成。同点同时进行内、外量子效率测试,真正实现了一键式全自动的测量过程,避免了测试源的不一致性造成测试结果的偏差,使得测试精度大大提升。 测试对象: 单晶硅、多晶硅太阳电池 测量项目:绝对光谱响应,外量子效率,内量子效率、短路电流密度,光谱反射率,表面均匀度等 技术指标:光谱范围:360-1100nm(200-1200nm可选)扫描间隔:&ge 1nm整数(可调)扫描方式:全自动短路电流密度重复性:1%测量模式:一键式全自动测量样品尺寸:&le 156mmx156mm
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  • 一般造.口袋的标准是GB/T 20407. 2一2006/ISO 8670.2: 1996,造.口袋GB/T 20407. 2一2006/ISO 8670.2: 1996要求检测造.口袋的渗漏测试和耐压(静压)测试、造.口袋贴在人皮肤上的黏贴性测试、造.口袋的持久粘贴性测试。造口袋黏贴性测试仪由上海保圣生产的TAXTC-20进行检测造.口袋黏性和持久粘贴性,造口袋黏贴性测试仪TAXTC-20也可以在恒定温度下,也就是人体的温度条件下进行测试。造.口袋的持黏性测试主要用来检测造.口袋在皮肤上的保持力,恒温持黏性测试仪,TAXTC-20型号的机器具有非常高的精度,TAXTC-20型号粘性测试仪可以对初粘性测试仪:适用于各类贴膏剂、贴剂、的初黏性测试,参考标准药典2015年版 黏附力测定法、GB/T 4851、ASTM D3654、JISZ0237、GB/T23260。TAXTC-20型号粘性测试仪可以对贴膏剂黏着力测试仪适用于贴膏剂、贴剂、橡胶膏剂、凝胶剂等黏着力测定,药典2015年版 黏附力测定法。TAXTC-20型号粘性测试仪可以对环形初粘性测试仪适用于各种胶带、粘合剂类等各种不同产品的初始黏着力。产品满足FINAT( FINAT Test Method No. 9:measurement) ,ASTM等国际标准,适合研究机构、胶粘剂进出口企业 、检验检疫机构等。参考标准FINAT Test Method No. 9:measurement、GB/T31125-2014 。 TAXTC-20型号粘性测试仪还可以进行剥离强度试验机适用于胶粘剂、胶粘带、不干胶、、保护膜、离型纸、复合膜、薄膜、纸张等相关产品的剥离、拉断等性能测试。
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  • 一般造.口袋的标准是GB/T 20407. 2一2006/ISO 8670.2: 1996,造.口袋GB/T 20407. 2一2006/ISO 8670.2: 1996要求检测造.口袋的渗漏测试和耐压(静压)测试、造.口袋贴在人皮肤上的黏贴性测试、造.口袋的持久粘贴性测试。造口袋持久粘贴性测试仪由上海保圣生产的TAXTC-20进行检测造.口袋黏性和持久粘贴性,造口袋持久粘贴性测试仪TAXTC-20也可以在恒定温度下,也就是人体的温度条件下进行测试。造.口袋的持黏性测试主要用来检测造.口袋在皮肤上的保持力,恒温持黏性测试仪,TAXTC-20型号的机器具有非常高的精度,TAXTC-20型号粘性测试仪可以对初粘性测试仪:适用于各类贴膏剂、贴剂、的初黏性测试,参考标准药典2015年版 黏附力测定法、GB/T 4851、ASTM D3654、JISZ0237、GB/T23260。TAXTC-20型号粘性测试仪可以对贴膏剂黏着力测试仪适用于贴膏剂、贴剂、橡胶膏剂、凝胶剂等黏着力测定,药典2015年版 黏附力测定法。TAXTC-20型号粘性测试仪可以对环形初粘性测试仪适用于各种胶带、粘合剂类等各种不同产品的初始黏着力。产品满足FINAT( FINAT Test Method No. 9:measurement) ,ASTM等国际标准,适合研究机构、胶粘剂进出口企业 、检验检疫机构等。参考标准FINAT Test Method No. 9:measurement、GB/T31125-2014 。 TAXTC-20型号粘性测试仪还可以进行剥离强度试验机适用于胶粘剂、胶粘带、不干胶、、保护膜、离型纸、复合膜、薄膜、纸张等相关产品的剥离、拉断等性能测试。
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  • 介质损耗因数正切值测试仪/介电常数测试仪满足标准:GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法介质损耗因数正切值测试仪/介电常数测试仪主要技术特性 Q 值测量范围 2 ~ 1023 , 量程分档: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自动换档或手动换档 固有误差 5 %工作误差 2% 电感测量范围 4.5nH ~ 140mH 电容直接测量范围 1 ~ 200pF 主电容调节范围 18 ~ 220pF 主电容调节准确度 1pF 信号源频率覆盖范围 100kHz ~ 160MHz 频率分段 ( 虚拟 ) 100 kHz ~ 160MHz 频率指示误差 1 个字 介质损耗因数正切值测试仪/介电常数测试仪电感: 线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252&mu H 5 2MHz 198 8.7 49.8&mu H 4 4.5MHz 231 7 10&mu H 3 12MHz 193 6.9 2.49&mu H 2 12MHz 229 6.4 0.508&mu H 1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125&mu H 介电常数介质损耗测试仪技术特性 平板电容器: 极片尺寸: 50mm/ 38mm 可选       极片间距可调范围: 15mm 2. 夹具插头间距:25mm 0.01mm 3. 夹具损耗正切值 10-4 (1MHz) 4.测微杆分辨率:0.001mm 搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用介电常数介质损耗测试仪售后服务承诺: 售后服务及保修承诺:多年来,我公司一直生产研究电气试验设备,经研究、摸索、总结出一套完整的产品服务保障体系,向用户提供优质及时的售前、售中、售后服务为创造名牌,提高企业知名度,树立企业形象,我们本着“一切追求高质量,用户满意为宗旨”的精神,以“ 优惠的价格、 周到的服务、 可靠的产品质量”的原则向您郑重承诺: 一、产品质量承诺:1、我公司保证向需方提供的设备是原厂生产的,并且出厂资料配件齐全。为保持合同设备的正常运行和维护,我公司保证提供的技术资料和图纸是完整、清楚和正确的。2、产品的制造和检测均有质量记录和检测资料。3、对产品性能的检测,我们诚请用户亲临对产品进行全过程、全性能检查,待产品被确认合格后再装箱发货。 二、产品价格承诺:1、为了保证产品的高可靠性,系统的选材均选用国内或国际优质名牌产品。2、在同等竞争条件下,我公司在不以降低产品技术性能、更改产品部件为代价的基础上,真诚以 优惠的价格提供给贵方。三:安装调试及验收承诺:1、协助设备的安装,负责设备的运输、调试。2、设备按订货技术附件进行验收。终验收在买方进行,对用户提供的试样进行试验,并提供测试报告。3、安装调试同时,在仪器操作现场一次性免费培训操作人员2-3名,该操作人员应是由需方选派的长期稳定的员工,培训后能够对设备基本原理、软件使用、操作、维护事项理解和应用,使人员能够独立操作设备对样品进行检测、分析,同时能进行基本的维护。四、保修承诺:1、设备保修二年,终身服务,二年内非人为损坏的零部件免费更换,保修期内接到用户邀请后, 迟响应时间为2小时内,在与用户确认故障后,我公司会在48小时内派工程师到达现场进行 免费服务,尽快查清故障所在位置和故障原因,并向用户及时报告故障的原因和排除办法 。2、保修期内人为损坏的零部件按采购(加工)价格收费更换。3、保修期外继续为用户提供优质技术服务,在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。 4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。 五、保修: 1、设备保修两年,终身售后服务,一年内非人为损坏的零部件免费更换,保修期内接到用户邀请后, 迟响应时间为2小时内,在与用户确认故障后,我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务,尽快查清故障所在位置和故障原因,并向用户及时报告故障的原因和排除办法。 2、保修期内人为损坏的零部件按采购(加工)价格收费更换。 3、保修期外继续为用户提供优质技术服务,在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。  4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。 六、售后管理: 我公司实现计算机化管理,实行客户定期电话回访制度,定期复查设备的工作情况,定期电话指导用户对设备进行保养和检测,以便设备正常运转,跟踪客户的设备使用情况,以便及时对设备进行维护感谢您耐心阅读我们的信息如果您对我们的介电常数介质损耗测试仪感兴趣或者有什么疑问欢迎您来电咨询 我们会有的工程师为您解决您的疑问!! 标签:百度 介电常数测试仪 介电常数介质损耗测试仪 介质损耗因数测试仪
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  • 一、概述: ZJD-C型介电常数测试仪/GB/T1409-2006介电常数介质损耗测试仪/相对介电常数测试仪/介质损耗测试仪/介质损耗因数测试仪/介质损耗角正切值测试仪/GB/T1693-2007硫化橡胶高频介电常数测试仪/工频介电常数测试仪/固体介电常数介质损耗测试仪/液体介电常数介质损耗测试仪/材料介质损耗和电容率测试仪/阻抗分析仪/GBT5594.4-2015陶瓷件介电常数测试仪/ASTM D150-11交流损耗特性和电容率测试仪/介电常数及介损测试仪作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器,测试频率上限达到目前国内高的160MHz.ZJD-C介电常数测试仪采用了多项领先技术。双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至最低,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。二、主要技术特性:*1.信号源: DDS数字合成信号 100KHZ-160MHZ*2.信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数3.Q值测量范围:1~10234.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;*5.电感测量范围:1nH~140mH 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能*6.电容直接测量范围:1pF~25nF 7.主电容调节范围: 17~240pF 8.准确度 150pF以下±1pF;150pF以上±1% 9.信号源频率覆盖范围100kHz~160MHz10.合格指示预置功能范围:5~100011.环境温度:0℃~+40℃;12.消耗功率:约25W;电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。13. S916(数显)介电常数εr和介质损耗因数tanδ测试装置:数显式微杆,平板电容器:极片尺寸: 38mm极片间距可调范围:≥15mm夹具插头间距:25mm±0.01mm夹具损耗正切值≤4×10-4 (1MHz)测微杆分辨率:0.001mm测试极片:材料测量直径Φ38mm厚度可调 ≥ 15mm *液体杯:测量极片直径 Φ38mm; 液体杯内径Φ48mm 、深7mm14. 介电常数测试仪/GB/T1409-2006介电常数介质损耗测试仪/相对介电常数测试仪/介质损耗测试仪/介质损耗因数测试仪/介质损耗角正切值测试仪/GB/T1693-2007硫化橡胶高频介电常数测试仪/工频介电常数测试仪/固体介电常数介质损耗测试仪/液体介电常数介质损耗测试仪/材料介质损耗和电容率测试仪/阻抗分析仪/GBT5594.4-2015陶瓷件介电常数测试仪/ASTM D150-11交流损耗特性和电容率测试仪/介电常数及介损测试仪电感组LKI-1:分别有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。三、配置:主机 一台电感 九支夹具 一套液体杯 一套随机文件一套
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  • GDAT-C介电常数测试仪A/C高频Q表能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。A/C高频Q表是北广精仪仪器设备有限公司最新研制的产品,它以DDS数字直接合成方式产生信号源,频率达60MHz /160MHz,信号源具有信号失真小、频率精确、信号幅度稳定的优点,更保证了测量精度的精确性。A主电容调节用传感器感应,电容读数精确,且频率值可设置。C主电容调节用步进马达控制,电容读数更加精确,频率值和电容值均可设置。A/C电容、电感、Q值、频率、量程都用数字显示,在某一频率下,只要能找到谐振点,都能直接读出电感、电容值,大大扩展了电感的测量范围,而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。A/C特有的谐振点频率自动搜索或电容自动搜索功能,能帮助你在使用时快速地找到被测量器件的谐振点,自动读出Q值和其它参数。Q值量程可手动或自动转换。介电常数c类数显Q表工作频率范围是10kHz~60MHz,是一种多功能、多用途、多量程数字化阻抗测试仪器。它是根据串联谐振原理,以电压比值刻度Q值的。它能测量高频电感器的Q值,电感量和分布电容量;电容器的电容量和损耗角。配以专用夹具BH916介质损耗装置还能对固态绝缘材料的高频介质损耗(tan&delta )和介电常数(&epsilon ),高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等进行测试。本Q表依照国家计量检定规程:&ldquo JJF1073-2000高频Q表校准规范&rdquo 执行。 1 特点:◎ 创新的自动Q值读取技术,使测Q分辨率至0.1Q。◎ DPLL合成发生1kHz~70MHz,测试信号。◎ 低至20nH残余电感,保证高频时直读Q值的误差较小。◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数:Q值,测试频率,调谐状态等。◎ Q值量程自动/手动量程控制。◎ 数字化Q值预置,能提高批量测试的可靠性和速度。 2 主要技术指标:2.1 测试信号频率范围:1kHz~70MHz,数字合成,可数字设置或连续调节,五位有效数显。2.2 Q值测量范围:1~1000四位数显,分辨率0.1Q。分100、316、999三档,量程可自动切换。2.3 Q值固有误差:± 5%± 3% 满刻度值。2.4 有效电感测量范围:0.1µ H~1000mH。2.5 电感测量误差:&le 5%± 0.02µ H2.6 调谐电容特性:2.6.1可调电容范围:40pF~500 pF。2.6.2 精确度:± 1% 或0.5pF。2.6.3微调电容器:-3pF~0~+3pF,分辨率:0.2pF2.6.4残余电感值:约30nH。2.7 Q预置功能:Q预置范围:1~1000均可。被测件达到预置值后有&ldquo GO&rdquo 显示和蜂鸣声提示。不合格件则显示&ldquo NO GO&rdquo 。2.8 外形尺寸及重量:415× 180× 170(mm),6.5kg。BH916 介质损耗测试装置(数显) BH916D介质损耗测试装置与C类Q表及电感器配用,能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值(tan&delta )和介电常数(&epsilon )的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。 本测试装置是由测微平板电容器组成,平板电容器一般用来夹被测样品,配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q值变化和厚度的刻度读数变化通过公式计算得到。同样,由平板电容器的刻度读数变化,通过公式计算得到介电常数。1工作特性1.1 平板电容器:1.1.1 极片尺寸: c类-38:&Phi 38mm. c类-50:&Phi 50mm. 1.1.2 极片间距可调范围和分辨率: &ge 8mm, ± 0.002mm1.2 夹具插头间距: 25mm± 1mm1.3夹具损耗角正切值 &le 2.5× 10-4附表二,LKI-1电感组典型测试数据线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252&mu H 5 2MHz 198 8.7 49.8&mu H 4 4.5MHz 231 7 10&mu H 3 12MHz 193 6.9 2.49&mu H 2 12MHz 229 6.4 0.508&mu H 1 25MHz 50MHz 233211 0.9 0.125&mu H北广部分产品一览表 产品名称产品型号备注电压击穿试验仪BDJC-10-100KV计算机控制/自动体积表面电阻率测试仪BEST-121液晶显示滑动摩擦磨损试验机M-200橡胶塑料,复合材料万能拉力试验机WDW金属,非金属材料介电常数介质损耗测试仪GDAT-A固体液体材料热变形维卡温度仪BWK-300计算机/液晶塑料球压痕硬度计BQY-96液晶熔体流动速率测定仪BRT-400A计算机海绵泡沫压陷硬度测定仪HMYX-2000计算机/液晶海绵泡沫落球回弹仪HMLQ-500液晶海绵泡沫疲劳冲击测定仪HMPL-2000液晶海绵拉伸强度试验机HMLS-1000液晶海绵压缩永久变形试验机HMYS-200自动海绵泡沫切割机HMQG-100自动水平垂直燃烧试验仪BRS-A自动耐电弧试验仪BDH-20KV计算机漏电起痕试验仪BLD-A高压,低压灼热丝试验仪BZR-A自动橡胶塑料低温脆性冲击试验机BCX-A 单式样,多试样万能制样机BWN-A橡胶塑料缺口制样机BQK-A机械哑铃制样机BYL-A自动氧指数仪BYZ-3自动导热系数仪BJB计算机 北广电性能及橡胶塑料常用仪器 万能材料试验机(电子万能,金属材料,非金属材料,管材,高低温,液压伺服万能试验机)电压击穿试验仪(介电击穿强度,固体绝缘材料电气介电强度试验机)体积表面电阻率测定仪(可测试固体液体膏体粉末材料) 碳素材料电阻率测试仪 电线电缆导体半导体材料电阻率测试仪 橡胶塑料滑动摩擦试验机(国标,非国标,可定制) 介电常数介质损耗测试仪(可测试固体液体) 学校专用介电常数介质损耗测试仪 高频介电常数介质损耗测试仪 工频介电常数介质损耗测试仪 绝缘材料耐电弧性能试验仪 液显热变形维卡软化点温度测定仪 计算机控制热变形维卡温度试验机 塑料球压痕硬度计 熔体流动速率测定仪/熔融指数仪 计算机控制马丁耐热试验仪 海绵泡沫检测仪器 海绵泡沫压陷硬度测定仪 海绵泡沫落球回弹仪 海绵泡沫疲劳冲击测定仪 海绵拉伸强度试验机 海绵压缩永久变形试验机 海绵泡沫切割机 海绵密度测定仪 氧指数测定仪 海绵泡沫阻燃性能试验箱 产品保修承诺: 1、设备保修两年,终身服务,两年内非人为损坏的零部件免费更换,保修期内接到用户邀请后, 最迟响应时间为2小时内,在与用户确认故障后,我公司会在48小时内派工程师到达现场进行免费服务,尽快查清故障所在位置和故障原因,并向用户及时报告故障的原因和排除办法 。 2、保修期内人为损坏的零部件按采购(加工)价格收费更换。 3、保修期外继续为用户提供优质技术服务,在接到用户维修邀请后3天内派工程师到达用户现场进行维修。并享有优惠购买零配件的待遇。  4、传感器过载及整机电路超压损坏不在保修范围内。
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  • 贴膏剂持粘性测试仪 400-860-5168转3947
    贴膏剂持粘性测试仪贴膏剂持粘性测试仪是一款专门用于评估胶带、双面胶和贴膏剂等粘性材料性能的仪器。本产品实用性强,可对各类粘性材料的持久性、粘性和保持能力进行全面、准确的检测。贴膏剂持粘性测试仪主要采用物理力学原理,通过特制夹具将试样固定在仪器上,然后对试样施加一定拉力,模拟实际使用过程中可能出现的弯曲、拉伸等情况。经过特定时间后,观察试样是否发生脱落、位移等现象,从而评估其持粘性能。本仪器适用于各类胶带、双面胶和贴膏剂生产和使用单位的质量控制。它可以快速准确地检测各类粘性材料的持粘性能,确保产品质量和安全性。同时,该仪器还可以帮助科研机构和高校开展相关研究,推动粘性材料的技术创新和发展。总之,三泉中石的贴膏剂持粘性测试仪是一款专门针对胶带、双面胶和贴膏剂等粘性材料的性能检测仪器。通过使用该仪器,企业和科研机构可以全面评估各类粘性材料的性能,确保产品质量和安全性。 技术参数 标准压辊 2000g±50 g 砝  码 1000g(200g、500g可选) 试 验 板 125(L)mmx50(B)mmx2(D)mm (200(L)mmx50(B)mmx2(D)mm 125(L)mmx125(B)mmx2(D)mm可选) 计时范围 0~200小时 温控范围 0--100℃ 控温精度 ±1 ℃ 工 位 数 6工位 外形尺寸 900mm×550mm×750mm (长宽高) 重 量 40Kg 工作温度 15℃-50℃ 相对湿度 高80%,无凝露 工作电源 220V 50Hz 参照标准YY/T0148、中华人民共和国药典2015年版 黏附力测定法、GB 4851 产品配置 主机、标准压辊、实验板、砝码、微型打印机、触摸显示屏贴膏剂持粘性测试仪此为广告
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  • 介质损耗缘油电阻率测试仪本怀推等同采用IEC 602T:2004(搜体范像材料相对电容车,介质担托四数和直德电阻率的侧量》(英文版)。为便于使用,本标准做了下列编辑性修改。a)用小数点符号*.”代替小数点符号*”b)“本国际标准”一词改为“本标准” 本标准代替GB/T5654-19854液体绝缘材料工照相对介电常数.介质损耗因数和体积电阻率的测量)本标准与GB/T5654-1985相比主要变化如下。a)本标准增加了“引言"及"规范性引用文件"章节 b)在直流电阻车测量中,将“试验电压使液体承受200V~300 V/mm……”改为"试验电压应使液体承受 250V/mm……” 将电化时间“60s”改为“60 s±2 s” 将“注试样 15min后开始测量"齿为"不超过10min开始测量",c)本标准增加了图2.图3.图4.图 5。本部准的附录∧.附录B.附录C为资料性附录。本标准由中国电器工业协会提出。本标准由全国绝缘材料标准化技术委员会(SAC/TC 51)归D,木标准起草单位,桂林电器科学研究所。本标准主要起草人:王先锋。本标准历次版本发布情况为:-GB/T5654-1985。介质损耗缘油电阻率测试仪液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量1范围本标准规定了在试验温度下液体绝缘材料的介质损耗因数,相对电容率和直流电阻率的测量方法。本标准主要是对未使用过的液体做参考性试验,但也适用于在运行中的变压器、电缆和其他电工设备中的液体。然而,本标准只适用于单相液体,当做例行测量时可以采用简化方法和附录C所述的方法。对于非碳氢化合物绝缘液体,则要求采用其他请洗方法。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用面成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本,凡是不挂日期的引用文件,其最新版木适用于本标准,GB/T 1409-2006固体绝缘材料在工频,音频,高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方集(U 60B50 1969,MUD)GB/T 1410-2006固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法(IEC 60093,1980,IDT)GB/T 21216-2007绝缘液体测量电导和电容确定介质损耗因数的试验方法(IEC61620,1998。IDT)IEC60475液体电介质取样方法3术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3.1(相对)电容率permittivity(relative)绝缘材料的相对电容率是一电容器的两电极周围和两电极之间均充满该绝缘材料时所具有的电容量C.与同样电极结构在真空中的电容量C.之比。用该电极在空气中的电容量C.代替C,对于测量相对电容率具有足够的精确度。3.2介质损耗因数(tan8)dielectric disipation facter (tanh)绝缘材料的介质损耗因数(tan2)是损耗角的正切。当电容器的介质仅由一种绝缘材料组成时,损耗角是指外施电压与由此引起的电流之间的相位差偏离π/2的弧度。注:实际应用中,tan8测得值低于0.005时,uJ和功率因数(PF)基本上相同。可用一个简单的换算公式将两者进料稳靠。功率因数是图耗鱼的正载,动率因救和合感相鲜因着之加的委系可害选为下式。PF--tanl√1+(ta) --------.---------------(1)介质损耗缘油电阻率测试仪GB/T5654-2007/IEC 60247:2004式中:PF-一功率因数:tan 介质损耗四数。3.3直流电阻率(体积)dc. resistivity (rolome)绝缘材料的体积电阻率是在材料内的直流电场强度与稳态电流密度的比值。排,由阻率的单位是欧的米(Ω*m).4概述电容率、tan8和电阻率,无论是单一还是全部,都是绝缘液体的固有质量和污染程度的重要指标。这些参数都可用于解释所要求的介电特性发生偏离的原因,也可解释其对于使用该液体的设备所产生的潜在影响。4.1电容率和介质损耗周数(tan)电气吧缘液体的电容率和分质报秏因数(tan8)在相当大程度上取决于试验条件,特别是温度和施加电压的频率,电容率和介质损耗因数都是介质根化和材料电导的度量。在工频和足够高的温度下,与本方法中推荐的一样,损耗可仅归因于液体的电导,即归因于液体中自由载流子的存在。因此,测量高纯净绝缘液体的介电特性,对判别电离杂质的存在很有价值。介质损耗与测量频率成反比,且随介质粘度的变化而变化。试验电压值对测量担耗因数影响不大,它道常只是受电桥的灵敏度所限制。但是,应考虑到高的电场强度会引起电极的二次效应,介质发热。放电等影响。较大的杂质所引起的电容率的变化相对较小,而其介质损耗则强烈地受极小量的可电离溶解杂质或胶体微粒的影响。某些液体有控大的极性,所以对未质的敏感性较之猫氢化音物液体要漏得多。极性还导致它有较高的溶解和电离的能力,因此在操作时要比对碳氢化合物液体更应小心。通常认为初始值能较好地代表液体的实际状态,所以更希望能在一达到温度平衡时就测量介质损耗因数.介质洪耗国数对温度的变化很敏感,通常晶随温度的增加成指数式的增大.因此需要在足够精确的温度条件下进行测量。下面所述的方法使试样温度在很短的时间内达到与试验池平衡。4.2电阻率用本标准的方法测得的电阻率通常并不是真正的电阻率。当施加直流电压后,由于电荷迁移,将使液体的起始特性发生随时间面变化。真正的电阻率只有在低电压下且在刚施加电压后才可得到。本标准使用比较高的电压且经校长时间,因此,其结果通常是与CB/T 21216--2007所得到的不同。本标准中液体的电阻率测量结果与试验条件有关,主要有。a)温度电阻率对温度的变化特别敏感,是按1/K指数变化。因此需要在足够精确的温度条件下进行测量。D)电场强度的值给定试样的电阻率可受施加电场强度的影响。为了获得可比的结果,应在近似相等的电压梯度下进行测量,并应在相同极性下进行,此时应注明其梯度值和极性。e)电化时间当施加直流电压时,由于电荷向两电板迁移,流经试样的电流将逐渐减少到一极限值。一般规定电化时间为1min,不同的电化时间可导欧试验坫果明显不同[某些高精度的液体可能需要相当长的电化时间(见 14.2)]。4.3测量次序将直流电压施加在试样上,合改变其随后到量的工频tun子的结果。介质损耗缘油电阻率测试仪GB/T5054--2007/TEC 60247:2004当在同一试样上相继测量电容率、提耗四数和电阻率时,上频下圆量应在对试样跑加直流电压以前进行,工频试验后,应将两电极短路1min后再开始测量电阻率,4.4导致错误结果的因素虽然只有严重污染才会影响电容丰。但俄量的行染却胞很烈地膨响umð 和电阻率。不可靠的结果通常是由于不适当的取样或处理试样所造成的污染,由未洗净试验池或吸收了水份,特别是存在不溶解的水份所引起。在贮藏期间长久暴露在强光线下会导致电介质劣化,采用所推荐液体样品贮存和运输以及试验池的结构和净化的标准化程序,可使由污染引起的误差减至最小。5 仪器5.1试验池同一试验池可用来测量电容率、介质损耗因数和直流电阻率。适合于这些用途的试验池应符合如下要求。5.1.1试验池应设计成能容易拆洗所有的部件,并易于重新装配而不致明显地改变空池的电容量。同时试验施还应能在所要求的恒定程度下使用,并提供以厨圃档确皮米测量和控制被体温度的力法。外加热的炉(或浴)或内部电加热的试验池都可以使用。5.1.2用来制造试验池的材料应是无气孔的,并能经受所要求的温度,电极的中心对推应不受温度变化的影响。5.1.3与被试液体接触的电极表面应抛光如镜而,以便清洗容易。液体和电极之同应没有相互的化学作用,它们也不应受清洗材料的影响。用不锈钢制造的试验池(电极)对试验所有类型的绝缘液体都是适用的,不应使用倡和铝合全做电极,因为它们合被碱性的洗净剂腐蚀。注:通常在表面上电镀不如一种金属制成的电极好。但表面镀金,镰或铑,只要值得好并保持完好无损也可满意地使用。股钢镀储电极较妤且具有较低热膨胀的优点,也可采用在黄钢上镀俊或金和在不锈钢上镀镍的电极。5.1.4用来支撑电极的固体绝缘材料应具有较低的介质损耗因数和较高的电阻率,这些固体绝缘材料不应吸收参照液体,被试液体以及清洗材料,也不应受它们的影响,拉:透常认为熔融石类是用份试渲感合适的范缘材料,自于普递金属和石美的线膨恭系数不同,它们挂合国之间俑要具有充分的经向间除,但应注意到这间胞会减小电极闰距的精度。5.1.5保护电极和测量电极之间横跨液面及固体绝缘材料的距离应足够大,以便能承受施加的试验电压,5.1.6符合5.1.1到5.1.5要求的任何试验池均可使用,用于低黏度液体和施加电压不超过2000V的试验池见图1~图5。三端试验池提供了足以屏蔽测量电极的有效保护电极系统。当进行极精密的电容率测量时应选择三端试验池,在这种测量中,如有必要,还要求加上一个可拆卸的特殊屏蔽环,并与连接测量电极和电桥的网轴电缆的外层导体(屏蔽)相逢接(见图 2)。在用两端试验池时,引线屏蔽层通常是接到保护电极的。为了防止屏蔽层同任何其他表而接触,应将它牢牢地夹在电缆的绝缘层上。当用这样的试验池测量电阻率时,空池的绝缘撑环的电阻至少是被测液体电阻的100倍。同样,在文流下测量介质损耗因数也应有相应的比值。对于较好的绝缘液体,可能由于绝缘撑环附加的投耗而改变测量值。为此,建议使用在两电极间无任何固体绝缘材料支撑的试验池,这样的空试验池的报耗因数在50Hz时应低于10°。为了使与液休接触表面的污热影响减到最小,建议采用具有电极表面面积与液休林积之比小的试验池,例如小于5/cm。介质损耗缘油电阻率测试仪GB/T5654--2097/1EC 60247:200412.2测量试验池非自动加热,当其温度达到所要求试验温度的±1℃时,应于10min内开始测量提耗因数.在测量时施加电压,完成初次测量后(如果需要,也包括测量电容率和电阻率时),倒出试验液体,再用第二份试样充满试验池,操作程序和第一次相同,但省去涮洗。重复测呈,两次测得的an值之差应不大于0.0001加两个值中较大的25%。注 只有鉴定und值较小的产品时才需要重复测量,例行试验不需要重复测量。如果不满足上述要求,剧继缝充埴试样测量,直到相邻两次tan8别量值之差不超过0.0001加两个值中较大的25%为止,此时认为测量是有效的。12.3推告报告两次有效测量值的平均值作为试样的损耗因数(tand)。报告应包括:)电场强度b)施加电压的频率 e)试验掘度。13相对电容率的测量13.1测量首先测量以干燥空气为介质的干净试验池的电容量,然后测量装有已知相对电容率为e的液体的电容量。按下式计算电极常数C和修止电容Cc,5-C.-.--- --- -=s =.=--- --- --- --- ---(3)C,-C-C.**.* ..*..* .** ..* .…* ..*…** **=( 4)式中C一电极常数:C一一充有已知相对电容率为。的校准溶液的试验池的电容量:C.一一以空气作为介质的试验池的电容量:C.一一修正电容,测量装有被试液体的试验池的电容量C,并按下式计算相对电容率e------------------(5)式中,。一被试液体的相对电容率 C.一一被试液体的电容量:C.一--以空气作为介质的试验池的电容量,C,一修正电容。重复试验,直至相邻两次测试值的差不大于较大值的5%,则认为测量是有效的。注1:如果在测定C.值时已知C、C.和c。值,则可获得最高的精度。注2,当用设计很好并预先校正过的三端试验池时或当精度要求较低时,可以忽略G项,而相对电容率可按简化公建计算CB/T5654-2007/UEC 60247.2004当需要预热试样时,在倒出足够的样品用作其他试验时,应尽可能将杀下的样品在原米的样品容器里预热,此时,应考虑液体的热膨胀而留有足够的空间,以避免容器破裂,当试样必须移到其他容器内时,这些容器应是带盖烧杯或带塞子的锥形玻璃烧瓶,并按第7章要求进行请洗。如果必须在室温下进行试验,则应将原来样品容器放在将要进行试验的室内,直至样品达到室温当需在高温下进行试验而试样又不能在试验池内加热时,试样容卷或辅助的容器委用基子基住,并保证在此容器内有合造的体积足以满足液体的热膨胀,在烘箱里把它加热到高于要求的试验温度5℃~10℃,由丁液体易氧化,因此加热时间应不超过1h。若必须在一个单独的烘箱内加热液体,为防止污染影响,最好保证一个烘箱只用于一种类型的液体。为了取到有代表性的试样,在取样之前.应将容器倾斜并缓慢地旋转液体几次,以使试样均匀,用干净的无绒布擦洗容器口,并倒出一部分液体样品擦洗容器的外表面。10条件处理及试验池充填试样10.1试验池的条件处理在选净并干燥完电极后,注意不要用裸手接触它们的表面,也应注意放置试验池部件的表面要很请洁,试验池上面不要有水蒸汽或灰尘。为了使试验池的清洗程序对随后试验的影响减到最小,很重要的一点是要对于燥清洁的试验池进行预处理,即用下次的被试渣体充瞒试验池两次。对于高粘度液体,可能需要更长时间的预处理。10.2试验池充填试样用一部分掖体试样剧冼试验池三次,然后倒出并倒掉液体。在刷洗试验池时,若需要取出内电板,应注意防止在任何表面剩留液体,并防止尘粒聚集在试验池的浸液表面。重新充满试样,注意防止夹带气泡。将装有试样的试验池加热到所需试验温度,每个试验温度所需的时间取决于加热方法,通常可能在10 min~60 min范围。在达到所需试验温度的±1℃时,10min内必须开始测试。应特别注意防止液体成试验他的各那件与任何污染煞相搂触。在一种液体内不呈活性的杂质可能在另一种液体内会因杂质的迁移面呈现活性,因此最好限制一试验池只用于一种类型的液体。应尽可能地保证周围大气中不存在影响液体质量的水蒸汽或气体。11试验温度这些试验方法适合于在一个很宽的温度范雨内试验绝缘液体,除非在特定液体的规范中另有规宗,一般试验应在90℃下进行。测量温度的分辨率应在U.25℃以内。12介质模耗固数(tau8)的测量
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  • 产品介绍:DZ5001介质损耗测试仪采用高频谐振法,提供了通用、多用途、多量程的阻抗测量。测试范围:介质损耗和介电常数是各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。应用范围:DZ5001介质损耗测试仪该用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。性能特点:大电容值直接测量显示功能:测量值可达25nF介质损耗系数:精度万分之一/LCD直接显示介电常数:精度千分之一/LCD直接显示材料测试厚度:0.1mm-10mm具备的技术:仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置,直接读值。参照国标:GB/T 1693-2007技术参数:信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样,保证了Q值的稳定性,以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH :1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型,精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF~25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F,L,C,Q,Lt,Ct,Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有产品展示:
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  • 介电常数介质损耗测试仪LJD-BLJD-B介电常数测试仪是我公司新一代通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器。介电常数测试仪以单片计算机作为仪器的控制、测量核心,真正实现了介质损耗及介电常数测试仪的数字化,电容、电感、Q值、信号源频率都在一个液晶屏上展示出来。在你操作时,再也不用去注意量程和换算单位。在任何频率下,只要能找到谐振点,都能直接读出电感、电容值,大大扩展了电感的测量范围,而不再是固定的几个频率下才能测出电感值的大小。介电常数测试仪采用DDS数字直接合成方式的内部信号源,具有信号失真小,频率精确、信号幅度稳定的优点,更保证了测量精度的精确性。介电常数测试仪还采用了标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q值量程手动或自动转换,自动稳幅等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至最di,使得新表在使用时更为方便,测量值更为精确。 介电常数测试仪能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。 二、工作特性1.Q值测量a.Q值测量范围:2~1023。b.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c.标称误差频率范围20kHz~10MHz;固有误差≤5%±满度值的2%;工作误差≤7%±满度值的2%;频率范围10MHz~60MHz; 固有误差≤6%±满度值的2%;工作误差≤8%±满度值的2%。2.电感测量范围:14.5nH~8.14H3.电容测量: 1~ 460直接测量范围 1~460pF主电容调节范围 准确度 30~500pF 150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1%注:大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4.信号源频率覆盖范围频率范围10kHz~50MHz频率分段(虚拟)10~99.9999kHz 100~999.999kHz 1~9.99999MHz 10~60MHz 频率指示误差3×10-5±1个字5.Q合格指示预置功能预置范围:5~1000。 6.介质损耗及介电常数测试仪正常工作条件a. 环境温度: 0℃~+40℃;b.相对湿度: 80%;c.电源: 220V±22V,50Hz±2.5Hz。7.其他a.消耗功率: 约25W;b.净重: 约7kg;c. 外型尺寸: (l×b×h)mm:380×132×280。
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  • 介损测试仪 400-801-8116
    产品介绍:DZ5001是一款测量介质损耗和介电常数的测量仪器,采用高频谐振法,测量准确度高,大电容显示,具有操作简单,液晶显示,测试精度高等优势。测试范围:DZ5001是用于测量介质损耗和介电常数是各种金属氧化物、板材,瓷器(陶器)、云母、玻璃、塑料等物质的一项重要的物理性质的仪器。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。应用范围:DZ5001介质损耗测试仪主要应用在电力行业、材料科学、医疗设备、环境监测和汽车制造等行业。性能优势:1、仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。2、大电容值直接测量显示。3、数显微测量装置,直接读值。技术参数:信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样,保证了Q值的稳定性,以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH :1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型,精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF~25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F,L,C,Q,Lt,Ct,Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有
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  • 创可贴阻水性测试仪 400-860-5168转3947
    创可贴阻水性测试仪阻水性能测试仪是一款用于测试绷带、创可贴、医用材料等防水性能的专业检测仪器。它采用先进的压力传感器技术和计算机控制系统,能够准确地测试其防水性能,为医疗、运动等领域使用的绷带产品提供可靠的检测保障。阻水性能测试仪主要由试样夹持装置、压力传感器、数据采集系统、计算机控制系统和测试软件等组成。在测试过程中,试样被固定在试样夹持装置中,然后施加一定的压力,通过压力传感器测量绷带阻水的静水压,从而评估绷带的防水性能。该仪器具有高精度、高稳定性和可靠性等特点,可以准确地测量绷带的防水性能。同时,该仪器还具有简单易用的特点,只需要将试样放置在试样夹持装置中,启动仪器即可自动完成测试。测试结果可以通过计算机屏幕显示或输出到外部打印机上,方便用户随时查看和记录。阻水性能测试仪广泛应用于医疗、运动、消防等领域,用于测试各种绷带、医用材料等产品的防水性能。通过使用该仪器,企业和研究人员可以更好地了解绷带产品的性能和特性,保证产品的质量和安全性。此外,该仪器还可以用于科研机构中材料科学和医疗器械方面的研究和实验。 技术参数静 水 压 500mm开关控制 电磁阀耐压时间 0~99.99min外观尺寸 500×200×750mm(长宽高)重量 5Kg工作温度 15℃-50℃相对湿度 ≤80%,无凝露电源 220V 50Hz阻水性测试仪遵循标准YY 0471.3《接触性创面辅料试验方法第三部分:阻水性》创可贴阻水性测试仪此为广告
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  • 医用贴剂初粘性测试仪 CNY-1适用于不干胶、标签、压敏胶带、保护膜、贴膏剂、巴布膏等各类粘性制品的初粘力测试。采用三工位滚球法设计,大大提高测试效率,试验角度0-60°可调,可满足不同产品对仪器的测试要求,初粘性测试仪 CNY-1广泛应用于制药企业、不干胶生产企业、质检中心、药检中心等单位。 测试原理采用斜面滚球法,通过钢球和测试试样粘性面之间以微小压力发生短暂接触时,产品对钢球的附着力作用来测试试样初粘性,用钢球型号来表示材料初粘力。 应用范围保护膜用于保护膜等胶粘类初始粘着力值测试。不干胶不同于钢球式测试初粘方法,环形初粘测试仪可测量不干胶标签、压敏胶带等的粘性产品的初始粘度力值大小。 医用贴剂用于药典规定的创可贴、贴膏剂、膏药、巴布膏、凝胶膏剂等产品的环形持黏力性能测试。 技术特征★彩色大液晶显示测试结果,及每次测量值、统计值★触摸屏控制,实时显示测试过程,操作方便★系统程序具备ISP在线升级功能,可提供个性化服务★采用高速处理芯片,运行速度大大提高 ★配备专用测试软件,可实现无限存储、打印★仪器配备R232串口,支持数据局域网传输,并具备ISP在线升级功能,满足客户个性化要求★测试结果非主观性判断,无需人工参与,保证数据准确性与客观性 技术参数测量范围 20N,300N(可选其一)测量误差 1级测量速度 300mm/min(试验速度 1-500mm/min 范围可调) 速度误差 小于±2%误差试样尺寸 180mm(L)×25mm(B)试验板尺寸 25mm×72mm×3mm(LWH))外形尺寸 310mm×400mm×560mm (LWH)重量 26Kg环境要求环境温度 23±2℃相对湿度 不超过80%,无凝露电源 220V,50Hz 标 准FINAT Tet Method No. 9:measurement、GB/T31125-2014 配 置 标准配置:主机、微型打印机、夹具、试验板医用贴剂初粘性测试仪此为广告
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  • 万能磨损性能测试仪 400-860-5168转6216
    美国Sincerity橡皮膜 万能磨耗机专用橡皮膜加工定制: 是 品牌: 美国Sincerity型号: HS-001 产品规格: 外径约Φ106.5mm,内径约Φ95mm,有效厚度1mm产品用途: 测试用品美国Sincerity橡皮膜为美国原装进口, 万能磨耗试验机橡皮膜,专用耗材.规格:外径约Φ106.5mm,内径约Φ95mm,有效厚度1mm简介:美国Sincerity耐磨试验机用标准橡皮膜符合标准:ASTM D3886,ADIDAS....STOLL橡皮膜尺寸:外径约Φ106.5mm,内径约Φ95mm,有效厚度1mm包装文字:美国Sincerity5.5-6.5PSILESS THAN 15MMASTM D388620110520相关仪器:通用磨损磨耗试验机万能磨耗试验机 通用磨损测试仪本试验机为多功能、精密性之磨耗试验机,可测试材料表面之耐磨耗性、弯曲及边緣之磨损。 适用于织物、皮革、橡胶、塑胶、紙......等等,亦可用于材料经溶剂处理后之试验。试料磨破时,测试自动停止。【符合标准】:AATCC-119&120 ASTM-D3886 ASTM-D3514 ASTM-D3885 DRAFT 20-0-70 【技术参数】:1、拉紧砝码:2~1/2 lb, 2~1 lb,1~2 lb2、平衡砝码: 2~1/2 lb, 2~1 lb3、压力范围: 1~9 psi4、行程:大约approx.1″5、计数器:0~99,9996、计时器:30分钟7、体积:31×65×57 cm8、重量:70kg9、电源:1∮﹐AC220V﹐6A万能磨耗试验机橡皮膜符合标准:ASTMD3886,ADIDAS.... Stoll产品介绍:橡皮膜为美国原装进口,万能磨耗试验机橡皮膜,专用耗材. 规 格:外径约Φ106.5mm,内径约Φ95mm,有效厚度1mm
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  • CZY-6S持粘性测试仪按照2014年GB/T4851标准设计制造,适用于防水卷材、压敏胶粘带等产品进行持粘性测试试验。产品特点◎ 严格按照2014年GB/T 4851标准设计的试验板和测试砝码,确保了检测数据的准确性。◎ 系统由微电脑控制,搭配PVC操作面板,六工位可同时进行多组测试。◎ LCD液晶显示屏,红色警示灯,方便用户快速地进行试验操作和数据查看。◎ 自动计时、锁定等功能进一步确保试验结果的高准性。◎ 试验结束后每个工位自动打印试验结果。 测试原理把贴有试样的试验板垂直吊挂在试验架上,下端悬挂规定重量的砝码,用一定时间后试样粘脱的位移量或试样完全脱离的时间来测试胶粘带抵抗拉脱的能力。 基础应用:适用于各种胶粘类制品的持粘性测试,如压敏胶带、医用贴剂、不干胶标签、保护膜等售后服务承诺三月内只换不修,一年质保,终身提供。快速处理,1小时内响应问题,1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001:2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心,两条独立生产线,一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今,全球用户累计成交产品破万台,完善四大产品体系,50多种产品。 CZY-6S持粘性测试仪适用用于中国药典规定的贴膏剂、膏药、巴布膏、凝胶膏剂等药物制品的持粘力的测定,应用比较有专业性,已经和许多药物制品生产商达成合作,有关粘性测试仪相关问题,请咨询赛成仪器!
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  • 真空衰减法无损密封仪_无损式包装完整性测试仪Labthink真空衰减法无损密封仪专业适用于食品、制药、医疗器械、日化、汽车、电子元器件、文具等行业的包装袋、瓶、管、罐、盒等的密封试验。亦可进行经跌落、耐压试验后的试样的密封性能测试。同样适用于泡罩包装、半硬或硬包装如玻璃药瓶的最小泄漏点和针孔的检测。技术特征:高灵敏度、高重复性、高稳定性:| 采用真空与压差双传感器法原理,进行无损检测,使其可重复并在测试结束后自动生成档案文件| 精密的压力测试系统,测试精度大幅提升| 采用世界知名国家进口的气动元件,进口压力传感器,性能稳定可靠| 提供KPa、psi、mbar、mmHg等多种试验单位| 仪器具有体积小,噪音低,无污染等独有特点| 采用内置高精度流量计,方便验证仪器线性,且无需拆机就可以进行计量与验证全新触控操作系统:| 一键式操作,直观的操作界面,可远程升级与维护| 真空、测试和渗入时间可调,存储于数据库中,保证测试条件的一致性| 试验曲线实时显示,数据智能统计,方便快速查看检测结果| 具有数据自动存储、掉电自动记忆功能| 历史数据可进行快速查看、打印| 打印机和USB通用数据接口,方便数据输出和传递(可选)| 多级用户权限管理,密码登录| 专业软件符合GMP药品生产质量管理规范测试原理:通过对测量室抽真空至目标压强,从而在包装件与测量室之间的营造压差环境。在此环境中,气体透过包装上的微小漏孔散逸并充盈在测量室中,导致测量室内压强上升,利用已知压差、时间间隔、压强的上升量可计算出漏率。测试下限:低于直径1微米的漏孔,行业内最低测试下限,可来电咨询。测试应用:适用于西林瓶、安瓿瓶、输液瓶、卡氏瓶、预充针、输液袋等合规性:符合ASTM、中国GMP、美国药典、FDA等试验流程:1、将试样放入测试腔体,根据设定的真空度对测试腔进行抽真空。在抽真空阶段,如果在指定的抽真空时间内,实际真空度无法达到参考真空度,那么包装有大漏。2、在保压阶段,如果在指定的保压时间内,实际真空度无法达到参考真空度,那么包装有中漏。3、在测试阶段,如果实际真空衰減率值大于参考真空衰減率值,那么包装有微漏。
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