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介电谱测试仪

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介电谱测试仪相关的仪器

  • 高温介电温谱其它物性测试仪一、概述:高低温介电常数适用于各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质,通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下,测量介质在该环境温度下的介电常数。二、技术指标:1、电极直径:6mm 数量:4个 2、电机屏蔽:内径--304不锈钢 外径--聚四氟3、测试电极:四通道,可以同时测试4路试样4、切换频率:可以自由设定试样切换时间5、试验方式:手动模式 自动模式6、试验数据:可导出测试原始数据,同时可以输出测试曲线及打印试验报告7、测量频率:以实际电桥为准8、温度范围:-180°~500°9、加温速率:0.5℃--2.5℃/min10、数 据 线:铜镀银,低温屏蔽线10、机 箱:Q235钢板表面高温喷塑而成11、仪器供电:AC:220V 50Hz 功率:2KW12、测试电桥:安捷伦429413、试验环境:请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。仪器使用时应远离强电磁场,以免干扰实验结果。三、整机组成:1、加温装置:采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成,有着良好地保温隔热和升温性能2、低温装置:采用液氮低温技术,使实验舱温度降到-190°.3、控制系统:可实现对温控升温、降温控制,同时对4路试样进行切换,实时测控测试数据4、LCR电桥:20HZ-2MHZ
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  • 高温介电频谱其它物性测试仪GCWP-A(一、概述:高低温介电常数适用于各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质,通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下,测量介质在该环境温度下的介电常数。二、技术指标:1、电极直径:6mm 数量:4个 2、电机屏蔽:内径--304不锈钢 外径--聚四氟3、测试电极:四通道,可以同时测试4路试样4、切换频率:可以自由设定试样切换时间5、试验方式:手动模式 自动模式6、试验数据:可导出测试原始数据,同时可以输出测试曲线及打印试验报告7、测量频率:以实际电桥为准8、温度范围:-180°~500°9、加温速率:0.5℃--2.5℃/min10、数 据 线:铜镀银,低温屏蔽线10、机 箱:Q235钢板表面高温喷塑而成11、仪器供电:AC:220V 50Hz 功率:2KW12、测试电桥:安捷伦429413、试验环境:请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。仪器使用时应远离强电磁场,以免干扰实验结果。三、整机组成:1、加温装置:采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成,有着良好地保温隔热和升温性能2、低温装置:采用液氮低温技术,使实验舱温度降到-190°.3、控制系统:可实现对温控升温、降温控制,同时对4路试样进行切换,实时测控测试数据4、LCR电桥:20HZ-2MHZ
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  • 介电测试仪 400-801-8116
    产品介绍:DZ5001介电测试仪是一款专业用于测量介质损耗和介电常数的仪器,广泛应用于板材、陶瓷、瓷器、云母、玻璃和塑料等行业的材料检测。工作原理:DZ5001介电测试仪采用了高频谐振法,在较高的测试频率条件下,能够准确的测量高频电感或谐振回路的Q值、电感器的电感量和分布电容量、电容器的电容量和损耗角正切值等参数,从而确保测量结果的准确性。应用范围:DZ5001介电测试仪适用于多种材料的介电常数测量,包括但不限于金属氧化物、陶瓷、玻璃、塑料等。这些材料在电子、通信、航空航天等领域具有广泛应用。性能优势:1、仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。2、便捷操作。仪器配备了液晶显示器,测量过程中数据直观可见,便于用户进行操控。3、智能功能。仪器能够自动扣除残余电感和测试引线电感,大幅提高测量精度。技术参数:信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样,保证了Q值的稳定性,以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH :1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型,精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF~25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F,L,C,Q,Lt,Ct,Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有
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  • 玻璃介电温谱其它物性测试仪器GCWP-A+一、概述:高低温介电常数适用于各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质,通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究科研机关、高校、工厂等地方。它是在特殊环境下,测量介质在该环境温度下的介电常数。二、技术指标:1、电极直径:6mm 数量:4个 2、电机屏蔽:内径--304不锈钢 外径--聚四氟3、测试电极:四通道,可以同时测试4路试样4、切换频率:可以自由设定试样切换时间5、试验方式:手动模式 自动模式6、试验数据:可导出测试原始数据,同时可以输出测试曲线及打印试验报告7、测量频率:以实际电桥为准8、温度范围:-180°~500°9、加温速率:0.5℃--2.5℃/min10、数 据 线:铜镀银,低温屏蔽线10、机 箱:Q235钢板表面高温喷塑而成11、仪器供电:AC:220V 50Hz 功率:2KW12、测试电桥:安捷伦429413、试验环境:请不要在多尘、多震动、日光直晒、有腐蚀气体下使用。仪器使用时应远离强电磁场,以免干扰实验结果。三、整机组成:1、加温装置:采用陶瓷纤维外旦内部嵌入加热丝组成,有着良好地保温隔热和升温性能2、低温装置:采用液氮低温技术,使实验舱温度降到-190°.3、控制系统:可实现对温控升温、降温控制,同时对4路试样进行切换,实时测控测试数据4、LCR电桥:20HZ-2MHZ
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  • 产品介绍:DZ5001介质损耗测试仪是一款测量介质损耗和介电常数的测量仪器,采用高频谐振法,测量准确度高,大电容显示,具有操作简单,液晶显示,测试精度高等优势。测试范围:DZ5001介质损耗测试仪可以测各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等绝缘材料,同时广泛用于电子、电力、材料科学等行业中,为产品设计和性能优化提供数据支持。性能优势:仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置,直接读值。技术参数:信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字采样精度12BIT 高精度的AD采样,保证了Q值的稳定性,以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围4位有效数,分辨率0.1nH :1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型,精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF~25nF调谐电容误差±1 pF或1%分辨率0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F,L,C,Q,Lt,Ct,Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有
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  • QS-37介电常数介质损耗测试仪保证绝缘油在规定时间内到达所需温度,并能恒定较长时间,以便通过高压电桥对绝缘油进行介质损耗因素(tgδ)、相对介电常数(er)进行精密测量。本产品温度显示采用内外温同时显示,加热控制采用两片单片机分别对内、外加热器进行加热控制。QS-37介电常数介质损耗测试仪高压保护:试品短路、击穿或高压电流波动,能以短路方式高速切断输出。低压保护:误接380V、电源波动或突然断电,启动保护,不会引起过电压。接地保护:仪器接地不良使外壳带危险电压时,启动接地保护。C V T:高压电压和电流、低压电压和电流四个保护限,不会损坏设备;误选菜单不会输出激磁电压。CVT测量时无10kV高压输出。防误操作:两级电源开关;电压、电流实时监示;多次按键确认;接线端子高/低压分明;缓速升压,可迅速降压,声光报警。防“容升”:测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应,仪器能自动跟踪输出电压,保持试验电压恒定。抗震性能:仪器采用独特抗震设计,可耐受强烈长途运输震动、颠簸而不会损坏。高压电缆:为耐高压绝缘导线,可拖地使用。QS-37介电常数介质损耗测试仪介损和电容量测量准确度: Cx:±(读数×1%+1pF) tgδ: ±(读数×1%+0.00040)抗干扰指标:变频抗干扰,在200%干扰下仍能达到上述准确度电容量范围: 内施高压: 3pF~60000pF/10kV 60pF~1μF/0.5kV 外施高压:3pF~1.0μF/10kV 60pF~30μF/0.5kV分辨率:最高0.001pF,4位有效数字tgδ范围: 不限,分辨率0.001%,电容、电感、电阻三种试品自动识别。试验电流范围:10μA~5A内施高压: 设定电压范围:0.5~10kV最大输出电流:200mA升降压方式:连续平滑调节电压精度:±(1.5%×读数+10V)电压分辨率:1V试验频率: 45~65Hz整数频率 49/51Hz、45/55Hz自动双变频频率精度:±0.01Hz外施高压: 正接线时最大试验电流1A / 40~70Hz反接线时最大试验电流10kV / 1A / 40~70HzCVT自激法低压输出:输出电压3~50V,输出电流3~30A测量时间: 约30s,与测量方式有关QS-37介电常数介质损耗测试仪输入电源: 180V~270VAC,50Hz/60Hz±1%,市电或发电机供电计算机接口: 标准RS232接口打印机:自带微型热敏打印机环境温度: -10℃~50℃相对湿度: 90%,不结露QS-37介电常数介质损耗测试仪抗干扰异频介损测试仪,适用于测试各种高压电力设备介损正切值及电容量的高精度测试仪器。一体化结构,内置介损测试电桥,可变频调压电源,升压变压器和SF6高稳定度标准电容器。执行标准:DL/T 962-2005,DL/T 474.3-2018采用了变频技术、消除强电场干扰、保证准确测量仪器能够分别使用内高压、内标准、正接法、反接法、自激法等多种方式测试。操作简单,超大全触摸操作界面,轻轻点击一下就能完成整个过程的测量。
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  • 一、产品概述:GBT1409介电常数测试仪-ASTM D150介电常数测试仪采用数字液晶显示,是通过GB1409中的Q表法测试固体/液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器。它以单片计算机控制仪器,测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术,北京航天纵横检测仪器改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至低值,并保留了原Q表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量时更为精确。可直读介电常数及介质损耗结果,免去人工计算的繁琐。经过新升级可通过上位机软件查看测试曲线,北京航天纵横仪器是代替进口设备的产品。北京航天纵横检测仪器器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。产地北京房山。二、技术特性:序号项目参数1DDS数字合成信号50KHz-160MHz-ZJD-C2信号源频率覆盖比1600:13信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字4Q测量范围/Q分辨率1-1000自动/手动量程;4位有效数,分辨率0.15Q测量工作误差5%6电感测量范围/分辨率1nH-140mH 4位有效数,分辨率0.1nH7电感测量误差5%8调谐电容主电容17-240pF9电容直接测量范围1pF~25nF10调谐电容误差/分辨率±1pF或1% / 0.1pF11谐振点搜索自动扫描12Q合格预置范围5-1000声光提示13Q量程切换自动/手动/北京航天纵横14LCD显示参数F,L,C,Q,Lt,Ct波段等15新增功能自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能16新增功能大电容值直接测量显示功能,测量值可达25nF17消耗功率约25W二、符合标准:GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法;GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法;ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率(介电常数)的标准试验方法;GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法; 三、产品特点:1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2、双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐,数码化电容调谐。4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真,频率的高精确、幅度的高稳定。7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值,彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。8、新增功能:电感测试时,仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值(特别是小电感值)测量时的精度。此技术只有北京航天纵横检测仪器生产的Q表有。9、新增功能:大电容值直接测量显示功能,电容值直接测量值可达25nF(配100uH电感时)。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京航天纵横检测仪器生产的Q表有。四、工作环境:1、环境温度:0℃~+40℃;2、相对湿度:80%;3、电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。五、配置清单:序号配置数量/单位1航天纵横仪器主机一台2电感九只3夹具一套4液体杯一个5电源线一根6数据线一根7说明书一份8合格证一份9保修卡一张六、适用单位:该仪器可以用于科研机关,学校,例如一些科研院所,大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数仪对绝缘材料的介质损耗角正切tanδ及介电常数进行测试;北京航天纵横检测仪器同时也适用于工厂或单位,例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究,另外在电力、电工、化工等领域,如:电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。七、试验步骤:1、按照Q表的操作规程调整仪器,选定测量频率,测定C1和Q1的值。2、将试样放入测试电极中,并调节电容器C,使电路谐振,达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。3、将试样从测试电极中取出,调节C或测试电极的距离,使电路重新谐振,记下C、或测试电极的校正电容值与Q值,北京航天纵横检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。4、其他高频测试仪器按其北京航天纵横检测仪器说明书进行操作,通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。八、试验条件:1、试样表面应清洁、平滑,无裂纹、气泡和杂质等,试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。3、当试样处理有特殊要求时,可按其产品标准规定的进行。九、测试意义:1、介电常数——绝缘材料通常以两种不同方式来使用,即(1)用于固定电学网络部件,同时让其彼此以及与地面绝缘;(2)用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中,通常要求固定的电容尽可能小,同时具有可接受且一致的机械,化学和耐热性能。北京航天纵横检测仪器因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中,要求电容率具有一个高值,以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力,以将交流电晕降至最小。2、交流损耗——对于这两种场合(作为电学绝缘材料和作为电容器电介质),交流损耗通常必须是比较小的,以减小材料的加热,同时将其对网络剩余部分的影响降至最小。在高频率应用场合,特别要求损耗指数具有一个低值,因为对于某一给定的损耗指数,电介质损耗直接随着频率而增大。北京航天纵横检测仪器在某些电介质结构中,例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质,通常电导增加可获得损耗增大,这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时,这可能有助于考虑耗散因子,功率因子,相位角或损耗角。3、相关性——当获得适当的相关性数据时,耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征,例如电介质击穿,湿分含量,固化程度和任何原因导致的破坏。然而,由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子,除非材料随后暴露在湿分中。北京航天纵横检测仪器当耗散因子的初始值非常重要的,耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。十、典型用户及其它产品:沧州大化集团ZJC-50kV电压击穿试验仪中国计量大学ZST-212体积表面电阻率测试仪河南平煤神马聚碳材料有限责任公司ZJD-C介电常数介质损耗测试仪温州市鹿城区科学技术局ZDH-20KV耐电弧试验仪东莞初创应用材料有限公司LDQ-5漏电起痕试验仪北京航空航天大学XRW-300HB热变形维卡温度测定仪中国科学技术大学XNR-400H熔体流动速率测定仪惠州市杜科新材料有限公司JF-6氧指数测定仪宁波东烁新材料科技有限公司CZF-5水平垂直燃烧试验机云南能投硅材科技发展有限公司WDW-50KN材料电子拉力试验机 沧州大化集团中国计量大学河南平煤神马聚碳材料有限责任公司温州市鹿城区科学技术局东莞初创应用材料有限公司北京航空航天大学中国科学技术大学惠州市杜科新材料有限公司宁波东烁新材料科技有限公司云南能投硅材科技发展有限公司天津科技大学十一、相关产品:ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验机介质损耗角正切的测量如前所述,介质损耗角正切tanδ是在交流电压作用下,电介质中电流的有功分量与无功分量的比值,它是一个无量纲的数。在一定的电压和频率下,它反映电介质内单位体积中能量损耗的大小,它与电介质的体积尺寸大小无关。因此,能从测得的tanδ 数值直接了解绝缘情况。介质损耗角正切tanδ的测量是判断绝缘状况的一种比较灵敏和有效的方法,从而在电气设备制造、绝缘材料的鉴定以及电气设备的绝缘试验等方面得到了广泛的应用,特别对受潮、老化等分布性缺陷比较有效,对小体积设备比较灵敏,因而tanδ的测量是绝缘试验中一个较为重要的项目。如果绝缘内的缺陷不是分布性而是集中性的,则用测tanδ值来反映绝缘的状况就不很灵敏,被试绝缘的体积越大,越不灵敏,因为此时测得的tanδ反映的是整体绝缘的损耗情况,而带有集中性缺陷的绝缘是不均匀的,可以看成是由两部分介质并联组成的绝缘,其整体的介质损耗为这两部分损耗之和,即或 得 且 若整体绝缘中体积为V2的一小部分绝缘有缺陷,而大部分良好的绝缘的体积为V1,即V2&nLt V1,则得C2&nLt C1,C≈C1),于是 (3-3)由于式(3-3)中的系数很小,所以当第二部分的绝缘出现缺陷,tanδ增大时,并不能使总的tanδ值明显增大。只有当绝缘有缺陷部分所占的体积较大时,在整体的tanδ中才会有明显的反映。例如在一台110kV大型变压器上测得总的tanδ为0.4%,是合格的,但把变压器套管分开单独测得tanδ达3.4%就不合格。所以当变压器等大设备的绝缘由几部分组成时,最好能分别测量各部分的tanδ,以便于发现绝缘的缺陷。电机、电缆等设备,运行中的故障多为集中性缺陷发展造成的,用测tanδ的方法不易发现绝缘的缺陷,故对运行中的电机、电缆等设备进行预防性试验时,不测tanδ。而对套管绝缘,因其体积小,故tanδ测量是一项必不可少且较为有效的试验。当固体绝缘中含有气隙时,随着电压的升高,气隙中将产生局部放电,使tanδ急剧增大,因此在不同电压下测量tanδ,不仅可判断绝缘内部是否存在气隙,而且还可以测出局部放电的起始电压U0,显然U0的值不应低于电气设备的工作电压。在用tanδ 值判断绝缘状况时,除应与有关标准规定值进行比较外,同样必须与该设备历年的tanδ值相比较以及与处于同样运行条件下的同类型其他设备相比较。即使tanδ值未超过标准,但与过去比较或与同样运行条件下的同类型其他设备比,tanδ值有明显增大时,必须要进行处理,以免在运行中发生事故。一、QS1型电桥原理在绝缘预防性试验中,常用来测量设备绝缘的tanδ值和电容C值和方法是采用QS1电桥(平衡电桥),其原理接线图如图3-4所示。它有四个桥臂组成,臂1为被试品Zx,图中用CX及RX的并联等值电路来表示;臂2为标准无损电容器CN,一般为50pF,它是用空气或其他压缩气体作为介质(常用氮气),其tanδ值很小,可认为零;臂3、4为装在电桥本体内的操作调节部分,包括可调电阻R3、可调电容C4及与其并联的固定电阻R4。外加交流高压电源(电压一般为10kV),接到电桥的对角线CD上,在另一对角线AB上则接上平衡指示仪表G,G一般为振动式检流计。进行测量时,调节R3、C4,使电桥平衡,即使检流计中的电流为零,或UAB为零,这时有 (3-4)将上述阻抗值代入式(3-4),并使等式左右的实数部分和虚数部分分别相等,即可求得 (3-5)因tanδ很小,tan2δ&nLt 1,故得 (3-6)由于我国使用的电源频率为50HZ,故ω=2Πf=100Π,为了便于读数,在电桥制造时常取R4=104/Π=3184Ω,因此 (3-7)这样,当调节电桥平衡时,在分度盘上C4的数值就直接以tanδ(%)来表示,读取数值极为方便。为了避免外界电场与电桥各部分之间产生的杂散电容对电桥产生干扰,电桥本体必须加以屏蔽,如图3-4中的虚线所示。由被试品和标准无损电容器连到电桥本体的引线也要使用屏蔽导线。在没有屏蔽时,出高压引线到A、B两点间的杂散电容分别与CX与CN并联(见图3-4),将会影响电桥平衡。加上屏蔽后,上述杂散电容变为高压对地的电容,与整个电桥并联,就不影响电桥的平衡了。但加上屏蔽后,屏蔽与低压臂3、4间也有杂散电容存在,如果要进一步提高测量的标准度,必须消除它们的影响,但在一般情况下,由于低压臂的阻抗及电压降都很小,这些杂散电容的影响可以忽略不计。二、接线方式用国产QS1型电桥测量tanδ时,常有两种接线方式。1.正接线图3-4所示接线方式中,电桥的C点接到电源的高压端,D点接地,这种接线称为正接线。此种接线由于桥臂1及2的阻抗ZX和ZN的数值比Z3和Z4大得多,外加高电压大部分降落在桥臂1及2上,在调节部分R3及C4上的电压降通常只有几伏,对操作人员没有危险。为了防止被试品或标准电容器一旦发生击穿时在低压臂上出现高电压,在电桥的A、B点上和接地的屏蔽间接有放电管F,以保证人身和设备的安全。正接线测量的准确度较高,试验时较安全,对操作人员无危险,但要求被试品不接地,两端部对地绝缘,故此种接线适用于试验室中,不适用于现场试验。2.反接线现场电气设备的外壳大都是接地的,当测量一极接地的试品的tanδ时,可采用如图3-5所示的反接线方式,即把电桥的D点接到电源的高压端,而将C点接地,在这种接线中,被试品处于接地端,调节元件R3、C4处于高压端,因此电桥本体(图3-4虚线框内)的全部元件对机壳必须具有高绝缘强度,调节手柄的绝缘强度更应能保证人身安全,国产便于携带式QS1型电桥的接线即属这种方式。三、干扰的产生与消除在现场测量tanδ时,特别是在110kV及以上的变电所进行测量时,被试品和桥体往往处在周围带电部分的电场作用范围之内,虽然电桥本体及连接线都采用了前面所述的屏蔽,但对被试品通常无法做到全部屏蔽,如图3-6所示。这时等值干扰电源电压U´ 就会通过与被试品高压电极间的杂散电容C´ 产生干扰电流I´ ,因而影响测量的准确。当电桥平衡时,流过检流计的电流IG=0,此时检流计支路可看作开路,干扰电流I´ 在通过C´ 以后分成两路,一路经CX入地,另一路经R3及试验变压器的漏抗入地,由于前者的阻抗远大于后者,故可以认为I´ 实际上全部流过R3。在没有外电场干扰的情况下,电桥平衡时流过R3的电流即为流过被试品的电流IX,相应的介质损耗角为δX,如图3-7所示。有干扰时,由于干扰电流流过R3,改变了电桥的平衡条件,这时要电桥平衡就必须把R3和C4调整到新的数值。由于C4值的改变,测得的损耗角δ´ X已不同于没有下扰时的实际损耗角δX了,因此对流过R3的电流已变成,即相当于在上叠加一个干扰电流、与的夹角就是。同时R3值的改变也引起了测得的CX值改变。引起tanδ和CX测量值的变化将随的数值和相位而定。在干扰源固定时,的相量端点的轨迹为一圆。在某些情况下,当干扰结果使的相量端点落在图3-7 所示的阴影部分的圆弧上时,tanδ值将变为负值,这时电桥在正常接线下已无法达到平衡,只有把C4从桥臂4换接到桥臂3与R3并联,才能使电桥平衡,并按照新的平衡条件计算出tanδ值。当的相量端点落在图3-7中的A、B点时,即干扰电流与同相或反相时,tanδ值不变,但此时的IX值变大或变小,将引起测得的CX值变大或变小。为了避免干扰,消除或减小由电场干扰所引起的误差,可采用下列措施。1.尽量远离干扰源在无法远离干扰源时,加设屏蔽,用金属屏蔽罩或网将被试品与干扰源隔开,并将屏蔽罩与电桥的屏蔽相连,以消除C´ 的影响,但这往往在实际上不易做到。2.采用移相电源由图3-7可看出,在有干扰的情况下,只要使与同相或反相,测得的tanδ值不变,干扰电流的相位一般是无法改变的,但可以改变电源电压从而改变的相位以达到上述目的。应用移相电源消除干扰时,在试验前先将Z4短接,将R3调到最大值,使干扰电流尽量通过检流计(因其内阻很小),并调节移相电源的相角和电压幅值,使检流计指示达最小,这表明与相位相反,移相任务已经完成,即可退去电源电压,保持移相电源相位,拆除Z4间的短接线,然后正式开始测量。若在电源电压正、反相二种情况下测得的tanδ值相等,说明移相效果良好,此时测得的tanδ为真实值。但正、反相两次所测得的电流分别为和,故,因此,被试品电容的实际值应为正、反相两次测得的平均值。用移相法基本上可以消除同频率的电场干扰所造成的测量误差。3.采用倒相法倒相法是一种比较简便的方法。测量时将电源正接和反接各测一次,得到二组测量结果tanδ1、C1和tanδ2、C2,然后进行计算求得tanδ值和CX值。图3-8表示被试品电流和干扰电流的相量图。在图中,当电源反相时,实际上就相当于把干扰电流反相变成'而其余相量不动,故在图中用反相的代替反相的,这样使分析比较方便,而其结果是一样的。由图3-8中可看出由于,,代入上式可得 (3-8)又因 故得 (3-9)应用式(3-8)和式(3-9)可以正确地计算出tanδ值和CX值。当干扰不大,即tanδ1与tanδ2相差不大、C1与C2相差不大时,式(3-8)可简化为 (3-10)即可取两次测量结果的平均值,作为被试品的介质损耗角正切值。在现场进行测量时,不但受到电场的下扰,还可能受到磁场的干扰。一般情况下,磁场的干扰较小,而且电桥本体都有磁屏蔽,CX及CN的引线虽较长,但其阻抗较大,感应弱时,不能引起大的干扰电流。但当电桥靠近电抗器等漏磁通较大的设备时,磁场的干扰较为显著。通常,这一干扰主要是由于磁场作用下电桥检流计内的电流线圈回路所引起的。可以把检流计的极性转换开关放在断开位置,此时如果光带变宽,即说明有此种干扰。为了消除干扰的影响,可设法将电桥移到磁场干扰范围以外。若不能做到,则可以改变检流计极性开关进行两次测量,用两次测量的平均值作为测量结果,以减小磁场干扰的影响。四、测量 tanδ时的注意事项(1)无论采用何种接线方式,电桥本体必须良好接地。(2)反接线时,三根引线均处于高压,必须悬空,与周围接地体应保持足够的绝缘距离。此时,标准电容器外壳带高电压,也不应有接地的物体与外壳相碰。(3)为防止检流计损坏,应在检流计灵敏度最低时接通或断开电源。(4)在体积较大的设备中存在局部缺陷时,测量总体的tanδ 不易反映;而对体积较小的设备就比较容易发现绝缘缺陷,为此,对能分开测量的试品应尽量分开测量。(5)一般绝缘的tanδ均随温度的上升而增大。各种试品在不同温度下的tanδ值也不可能通过通用的换算式获得准确的换算结果。故应争取在差不多的温度下测量tanδ值,并以此作相互比较。通常都以20℃时的值作为标准(绝缘油例外)。为此,一般要求在10~30℃的范围内进行测量。(6)试验时被试品的表面应当干燥、清洁,以消除表面泄漏电流的影响。(7)在进行变压器、电压互感器等绕组的tanδ值和电容值的测量时,应将被试设备所有绕组的首尾短接起来,否则会产生很大的误差。
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  • ASTMD150介电常数测试仪本标准修改采用IEC 60250: 1969« 测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电 容率和介质损耗因数的推荐方法》(英文版)。本标准根据IEC 60250:1969重新起草。在附录B中列出了本标准章条编号与IEC 60250:1969章 条编号的对照一览表。考虑到我国国情,在采用IEC 60250:1969时,本标准做了一些修改。有关技术性差异已编入正文 中并在它们所涉及的条款的页边空白处用垂直单线标识。为便于使用,本标准做了下列编辑性修改:a) 删除国际标准的目次和前言,b) 用小数点'、代替作为小数点的逗号c) 弓|用的 IEC 60247 , ^Measurement of relative permittivity» dielectric dissipation factor and d. c. resistivity of insulating liquids”即“液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻 率的测量''代替uRecommended Test cells for Measuring the Resistivity of Insulating Liquids and Methods of cleaning the cells”即“测量绝缘液体电阻率的试验池及清洗试验池的推荐 方法七d) 用V代替e) 增加了“术语七f) 增加公式中符号说明;g) 图按 GB/T 1. 1-2000 标注。本标准与GB/T 1409 -1988的相比,主要变化如下:1) 增加“规范性引用文件”(本标准第2章);2) 增加“电介质用途”(本标准41);3) 删去导电橡皮;4) 增加“石墨”(本标准5. 1.3);5) 增加“液体绝缘材料”(本标准5. 2)o本标准代替GB/T 1409-1988((固体绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波长在内)下相对介电常 数和介质损耗因数的试验方法》。本标准的附录A、附录B为资料性附录。本标准由中国电器工业协会提出。本标准由全国绝缘材料标准化技术委员会归口。本标准起草单位:桂林电器科学研究所。本标准主要起草人:王先锋、谷晓丽。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:一-GB/T 1409- 1978;GB/T 1409—1988 o测量电气绝缘材料在工频、音频、咼频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法ASTMD150介电常数测试仪3.12.7 θ(DEG):-179.999º — 179.999º 3.12.8 θ(RAD):-3.14159 — 3.141593.12.9 Δ%:-999.999% — 999.999%3.13 等效电路:串联, 并联3.14 量程方式:自动, 保持3.15 触发方式:内部, 手动, 外部, 总线3.16 平均次数:1-2563.17 校准功能:开路, 短路全频、点频校准, 负载校准3.18 数学运算:直读, ΔABS, Δ%3.19 延时时间设定:0 -- 999, 最小分辨率100us3.20 比较器功能a)10档分选,BIN1~BIN9、NG、AUXb)档计数功能c)PASS、FAIL前面板LED显示3.21 列表扫描a)10点列表扫描b)可对频率、AC电压/电流、内/外DC偏置电压/电流进行扫描测试c)每扫描点可单独分选3.22 内部非易失性存储器:100组LCRZ仪器设定文件,201次测试结果3.23 外部USB存储器a)GIF图像b)LCRZ仪器设定文件c)测试数据USB存储器直接存储3.24 接口3.24.1 I/O接口:HANDLER,从仪器后面板输出3.24.2 串行通讯接口:USB、RS232C3.24.3 并行通讯接口:GPIB接口(选件)3.24.4 网络接口:LAN3.24.5 存储器接口:USB HOST(前面板)3.24.6 偏置电流源控制接口DCIa)使用DCI接口可控制外部直流偏流源,偏置电流最大可达120A。b)选件,DCI与GPIB 只能2者选13.25 通用技术参数3.25.1 工作温度, 湿度:0℃-40℃, ≤ 90%RH3.25.2 电源电压:220V±20%,50Hz±2Hz3.25.3 功耗最大80VA3.25.4 体积(W×H×D): 280 mm × 88 mm × 370 mm(无护套),369 mm × 108 mm × 408 mm(带护套)。3.25.5 重量:约5kg ASTMD150介电常数测试仪本标准适用于测量液体、易熔材料以及固体材料。测试结果与某些物理条件有关,例如频率、温度、 湿度,在特殊情况下也与电场强度有关.有时在超过1 000 V的电压下试验,则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应,对此不予 论述。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款,凡是注日期的引用文件,其随后所有 的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标^准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准,IEC 60247:1978液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量3术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3. 1相对电容率 relative permittivity电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时,其电容Cx与同样电极构形的真空电 容G之比:式中:相对电容率:充有绝缘材料时电容器的电极电容;真空中电容器的电极电容。在标准大气压下,不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率%等于L 000 53o因此,用这种电极构 形在空气中的电容G来代替G测量相对电容率%时,也有足够的精确度。在一个测量系统中,绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率%与真空电气常数気 的乘积。在SI制中,绝对电容率用法/米(F/m)表示°而且.在SI单位中,电气常数s为:= 8.854 X 10 忐 XR) (2)在本标准中,用皮法和厘米来计算电容,真空电气常数为:ASTMD150介电常数测试仪介质损耗因数° dielectric dissipation factortand损耗角8的正切。3.4[介质]损耗指数 [dielectric] loss indexft该材料的损耗因数槌紡与相对电容率的乘积。3.5复相对电容率 complex relative permittivityASTMD150介电常数测试仪在测定电容率需要较高精度时,最大的误差来自试样尺寸的误差,尤其是试样厚度的误差,因此厚 度应足够大,以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。 对1%的精确度来讲,1. 5 mm的厚度就足够了,但是对于更高精确度,最好是采用较厚的试样,例如 6 mm〜 12 mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上,且厚度均匀度在± 1 %内。 如果材料的密度是已知的,则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样 电容。测量10 pF的电容时,使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1 pF,因此 试样应薄些,直径为10 cm或更大些。需要测低损耗因数值时,很重要的一点是导线串联电阻引入的损耗要尽可能地小,即被测电容和该 电阻的乘积要尽可能小。同样,被测电容对总电容的比值要尽可能地大。第一点表示导线电阻要尽可 能低及试样电容要小,第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小,且试样电容要大,因此试样电 容最好取值为20 pF,在测量回路中,与试样并联的电容不应大于约5 pF0电极系统
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  • GB1409介电常数测试仪 400-860-5168转3024
    GB1409介电常数测试仪正常工作条件a. 环境温度:0℃~+40℃;b.相对湿度:80%;c.电源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。d.消耗功率:约25W;e.净重:约7kg;f. 外型尺寸:(l×b×h)mm:380×132×280。特点:1 优化的测试电路设计使残值更小2 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术3 LED 数字读出品质因数,手动/自动量程切换4 自动扫描被测件谐振点,标频单键设置和锁定,大大提高测试速度使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器,为了提高测量精度,除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小,使耦合回路的频响尽可能地好之外,还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1.测试注意事项a.本仪器应水平安放;b.如果你需要较精确地测量,请接通电源后,预热30分钟;c.调节主调电容或主调电容数码开关时,当接近谐振点时请缓调;d.被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短,足够粗,并应接触良好、可靠,以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差;e.被测件不要直接搁在面板顶部,离顶部一公分以上,必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫;f.手不得靠近试件,以免人体感应影响造成测量误差,有屏蔽的试件,屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2.高频线圈的Q值测量(基本测量法)电感:线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值 9 100KHz 98 9.4 25mH 8 400KHz 138 11.4 4.87mH 7 400KHz 202 16 0.99mH 6 1MHz 196 13 252μH 5 2MHz 198 8.7 49.8μH 4 4.5MHz 231 7 10μH 3 12MHz 193 6.9 2.49μH 2 12MHz 229 6.4 0.508μH 1 25MHz,50MHz 233,211 0.9 0.125μH频率覆盖范围AC频率范围10kHz~60MHz0.1~160MHzCH110~99.9999kHz0.1~0.999999MHzCH2100~999.999kHz1~9.99999MHzCH31~9.99999MHz10~99.9999MHzCH410~60MHz100~160MHz频率指示误差3×10-5±1个字高频介电常数测试仪介质损耗:绝缘材料在电场作用下,由于介质电导和介质极化的滞后效应,在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失,简称介损。在交变电场作用下,电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角(功率因数角Φ)的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切,是交流电被转化为热能的介电损耗(耗散的能量)的量度,一般情况下都期望耗损因子低些好A/C高频Q表能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。该仪器广泛地用于科研机关、学校、工厂等单位。 A型高频Q表和C型高频Q表主要区别AC测试频率范围25kHz~60MHz100kHz~160MHz主调电容控制传感器步进马达电容搜索无有
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  • 薄膜GB1409介电常数测试仪HRJD概述:是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷,还有复合材料等的一项重要的物理性质,通过测定介质损耗角正切 tanδ 及介电常数(ε ),可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据;该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。薄膜GB1409介电常数测试仪HRJD测试原理:采用高频谐振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制,测量核心采用了频率数字锁定,标准频率测试点自动设定,谐振点自动搜索,Q 值量程自动转换,数值显示等新技术,改进了调谐回路,使得调谐测试回路的残余电感减至,并保留了原Q 表中自动稳幅等技术,使得新仪器在使用时更为方便,测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下,测量高频电感或谐振回路的Q 值,电感器的电感量和分布电容量,电容器的电容量和损耗角正切值,电工材料的高频介质损耗,高频回路有效并联及串联电阻,传输线的特性阻抗等。本测试装置是由二只测微电容器组成,平板电容器一般用来夹持被测样品,园筒电容器是一只分辨率高达0.0033pF 的线性可变电容器,配用仪器作为指示仪器,绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放进平板电容器和不放进样品的Q 值变化,由园筒电容器的刻度读值变化值而换算得到的。同时,由平板电容器的刻度读值变化而换算得到介电常数薄膜GB1409介电常数测试仪HRJD技术指标:1、Q 值测量范围:2~10232、Q 值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;3、电感测量范围:自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能 4.5nH-100mH 分别有 0.1μ H、0.5μ H、2.5μ H、10μ H、50μ H、100μ H、1mH、5mH、10mH 九个电感组成。4、电容直接测量范围:1~460pF5、主电容调节范围: 30~500pF6、电容准确度 150pF 以下±1.5pF;150pF 以上±1%7、信号源频率覆盖范围 10KHz-70MHz (双频对向搜索 确保频率不被外界干扰)另有 GDAT-C 频率范围 100KHZ-160M8、型号频率指示误差:1*10-6 ±1,Q 值合格指示预置功能范围:5~1000 Q 值自动锁定,无需人工搜索9、Q 表正常工作条件a. 环 境 温 度 :0℃~+40℃ b.相对湿度:80%;薄膜GB1409介电常数测试仪HRJD安全操作规程本仪器必须有专人负责保管,使用,非专职操作者应在使用前了解和熟悉本说明书,以免造成不必要的损失和事故。每次使用前应仔细检查接地线是否完好,确保以后方可通电使用。接通电源前应将灵敏度开关调到Z低位置。测量试品前应先对试品进行高压试验,证明在电桥工作电压下无噪声,电离等现象出现,然后才能进行测试(若试品己做过高压试验,该项可不必每次测量都做)。对试品施加高压时缓慢升高,不可以加突变电压。测试时操作人员必须集中思想,工作前做好一切准备工作,测试地点周围应有明显的标记或金属屏蔽围成高压危险区,以防止非操作人员闯入。在测量过程中,如有放电管发光时,则必须及时切断电源,仔细检查接线及试品都无击穿,待检查排除故障后,再进行高压测量工作。操作方法薄膜GB1409介电常数测试仪HRJD测试前的准备工作连接标准电容Cn(选用外接标准电容时),与被测电容Cx,并且将标准电容与被测电容尽可能远离,以防止互相之间干扰。如选用内部标准电容器,只需连接被测试品即可。检查周围是否有强电磁场干扰,应尽量避免。检查大地线是否牢靠,以保证操作人员的安全,应检查电桥上的(⊥)与大地是否接触良好。表征介质材料的介电性质或极化性质的物理参数。其值等于以欲测材料为介质与以真空为介质制成的同尺寸电容器电容量之比,该值也是材料贮电能力的表征。也称为相对电容率。不同材料不同温度下的相对介电常数不同,利用这一特性可以制成不同性能规格的电容器或有关元件。介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场,原外加电场(真空中)与最终介质中电场比值即为介电常数(permittivity),又称诱电率。如果有高介电常数的材料放在电场中,场的强度会在电介质内有可观的下降。信号源范围DDS数字合成信号:10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比: 7000:1信号源频率精度6位有效数: 3×10-5 ±1个字 采样精度: 12BIT 高精度的AD采样,保证了Q值的稳定性,以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围: 1-1000自动/手动量程Q分辨率: 4位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差: 5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH :1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差 : 3%调谐电容 : 主电容17-240pF (一体镀银成型,精度高)电容自动搜索 :是(带步进马达)电容直接测量范围: 1pF~25nF调谐电容误差: ±1 pF或1%分辨率: 0.1pF谐振点搜索: 自动扫描Q合格预置范围: 5-1000声光提示Q量程切换: 自动/手动LCD显示参数:F,L,C,Q,Lt,Ct,Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感的: 有自动扣除功能大电容值直接测量显示功能: 测量值可达25nF介质损耗系数: 精度 万分之一 / LCD直接显示介电常数: 精度 千分之一 / LCD直接显示材料测试厚度: 0.1mm-10mm技术:仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置,直接读值。当获得适当的相关性数据时,耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征,例如电介质击穿,湿分含量,固化程度和任何原因导致的破坏。然而,由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子,除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的,耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。介电常数测量仪/介电常数检测仪该方法降低了或消除了样本的电极需求。厚度必须进行测定,测量时,在电学测量所用的样本区域上进行系统性地分布测量,厚度测量值均匀性应在±1%的平均厚度之内。如果样本整个区域将被电极覆盖,同时如果已知材料密度,可通过称量法来测定平均厚度。样本直径选择应使得能提供一个具有要求精度的样本电容测量值。采用受到良好保护和遮蔽的装置,将没有困难测量电容为10pF,分辨率为1/1000的样本。相对电容率。不同材料不同温度下的相对介电常数不同,利用这一特性可以制成不同性能规格的电容器或有关元件。绝对介电常数ε0是一个电磁学物理常数。
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  • Huace450P高低温介电温谱仪由华测仪器多位工程师多年开发,其具有不错的测试功能,设备测试频率可达30MHz,采用直接联接阻抗分析仪以减少测试导线的影响,同时电极加热采用直流电极加热方式,减少电网谐波对测量仪表的干扰。同时测试功能上也可扩展击穿测试、TSDC等测量功能。它能够在不同测量条件和测量模式下进行连续和高速的测量!测量功能与技术参数仪器具备的测试功能DHM 动态电滞回线测量CVM CV测量LM 漏电流测量FM 疲劳测试PM 脉冲测量PYM 热释电测量★DTS 介电温谱测量★RT 电阻测量★PZM 压电测量CHM 静态电滞回线测量IM 印迹测量RM 保持力测量BDM 击穿测试★TSDC 热刺激电流测量ECM 电卡测试★POM 油浴极化★ 注 : 标★号为华测生产的铁电分析仪增加的软件测量功能! Huace FE系列铁电测试系统在±500V内置电压下,电滞回线测试频率可高达500KHz;此系统包含HuacePro基本铁电管理测试软件。此外还可外部扩展电压到4kV、10kV、20kV,Huace FE主机在不改变样品连接的情况下可执行电滞回线,脉冲,漏电流,IV、CV、击穿测试,也可加载选件实现压电、热释电、TSDC和电卡、阻抗分析、电阻测量等特性测试功能。内置完整的专用工控计算机主机、测试版路、运算放大器、数据处理单元等,包括专用工控计算机主板、CPU(i5 及以上)、RAM(8G 及以上)、固态硬盘(250G 及以上)、网卡、USB 接口、DVD 光驱、 VGA 接口、预装 Windows 7 操作系统、铁电分析仪测试软件等。每一款仪器都配备精度高的电阻、电容测试模块。可实现仪器的自行校准,让测试数据完善!优点1高频率的测量提升了内置放大器的输出频率、采用FPGA高速采集,实现电滞回线可达500KHz的测试频率。可达40M的高速采集。同时内置的高速信号发生装置,硬件支持脉冲100ns的波形触发,极大提升了脉冲测试速度。优点2多项测量功能比现有的铁电分析仪,增加了TSDC、热释电、电卡、阻抗、电阻、击穿等测量功能。预留4通道高速接口,方便扩展高低温测试环境。优点3质量管控严格做好每一款产品质量把控,从原器件采购、到生产过程的质量控制,到产成品计量检测,严格质量把控,实现生产合格的科研仪器。优点4售后服务体系 整机保修三年,7X24小时在线服务。预装远程服务软件,实现远程升级、维护等。
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  • ASTM D149介电强度/GB/T1408击穿强度测试仪(ZJC-50-150KV)在强电场中工作的绝缘材料,当所承受的电压超越一临界 值V穿时便丧失了绝缘材料性能而被击穿,这种现象称为 电介质的击穿,V穿称为击穿电压。 &bull 采用相应的击穿场强来比较各种材料的耐击穿能力,材料 所能承受的最大电场强度称为材料的抗电强度或介电强度, 其数值等于相应的击穿场强(V/m): E穿 =V穿/d参数介绍:1、输入电压:AC220V 50Hz 2、输出电压:AC:0~150kV; DC:0~150kV3、输出功率:15kVA4、测量范围:AC15~150kV; DC15~150kV5、测量误差: ≤2%6、升压速率: 0.5kV/s~10kV/s7、耐压时间:0~8H8、漏电流: 1~30 mA可由计算机软件自由进行设定9、电源 :交流220V±10%的单相交流电压和50Hz±1%的频率10、试验环境温度:15 ~ 30℃,相对湿度:0~85%能够稳定运行。11、外形尺寸长×宽×高:1980mm×1220 mm×1750mm(参考)12、设备自重:1500Kg(参考)13、接地要求仪器需要单独接地,接地附合国家标准要求,金属棒深埋地下至少要1.5米以下14、型号:ZJC-150kV影响材料击穿电压的因素: &bull 材料本身的性质:固体介质的击穿同时伴随着材 料的破坏,而气体及液体介质被击穿后,随着外 电场的撤销仍然能恢复材料性能。 &bull 外界因素:试样和电极的形状、外界的媒介、温 度、压力等。电介质的击穿形式:介质在电场中击穿现象相当复杂,一 个器件的击穿可能有多种击穿形式,主要有: &bull 电击穿 &bull 热击穿 &bull 化学击穿 对于任意一种材料,这3种形式的击穿都可能发生,主要 取决于试样的缺陷情况及电场的特征(交流和直流,高频 和低频,脉冲电场等)以及器件的工作条件。1、电击穿 在强电场的作用下原来处于热运动状态的少数“自由电子”将沿反电场方向 定向运动。在其运动过程中不断撞击介质内的离子,同时将其部分能量转 给这些离子,当外加电压足够高是,自由电子定向运动的速度超过一定临 界值可使介质内的离子电离出次级电子,这些电子都会从电场中吸取能量 而加速,又撞击出第三级电子,连锁反应将造成大量自由电子形成 “雪 崩”,导致介质的击穿,这个过程大概只需要10-7-10-8s的时间,因此 电击穿往往是瞬息完成的。2、热击穿绝缘材料在电场下工作时由于各种形式的损耗,部分电 能转变成热能,使介质被加热,若器件内部产生的热量 大于器件散发出去的热量,则热量就在器件内部积聚, 使器件温度升高,升温的结果进一步增大损耗,使发热 量进一步增多,这样恶性循环的结果使器件温度不断上 升,当温度超过一定限度时介质会出现烧裂、熔融等现 象而完全丧失绝缘能力,这就是介质的热击穿。3、化学击穿长期运行在高温、潮湿、高电压或腐蚀性气体环境 下的绝缘材料往往会发生化学击穿,化学击穿和材 料内部的电解、腐蚀、氧化、还原、气孔中气体电 离等一系列不可逆变化有很大的关系,而且需要相 当长时间,材料被“老化”,逐渐丧失绝缘性能, 最后导致被击穿而破坏。化学击穿的机理:(1)在直流和低频交变电压下,由于离子式电导引起电解过程,材料中发 生电还原作用,使材料的电导损耗急剧上升,最后由于强烈发热成为热化 学击穿; (2)当材料中存在着封闭气孔时,由于气体的游离放出的热量使器件温度 迅速上升,变价金属氧化物在高温下金属离子加速从高价还原成低价离子, 甚至还原成金属原子,使材料电子式电导大大增加,电导的增加反过来又 使器件强烈发热,导致最终击穿。影响抗电击穿的因素:(1)温度 &bull 温度对电击穿影响不大; &bull 对热击穿影响较大,温度升高使材料的漏导电流增大,损耗增大,发热量增 加,促进了热击穿的产生; &bull 环境的温度升高使器件内部的热量不容易散发,进一步加大了热击穿倾向。 &bull 温度升高使材料的化学反应加速,促使材料老化,加快了化学击穿的进程。 (2)频率 &bull 频率对热击穿有很大的影响,在一般情况下,如果其他条件不变,则E穿与 频率w的平方根成反比,即:抗电强度的测量与应用:在特定的条件下进行,国标GB1408规定 了固体电工材料频击穿电压,击穿场强,耐电压 的实验方法。对试样的尺寸,电极的形状,加压 方式等都做了规定。
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  • 1普瑞巴林缓释片崩解强度测试仪简介上海保圣研发生产的质构仪是一种多功能物性分析仪,通过压缩、穿刺、剪切及拉伸等多种测试模式,这种测试不仅仅是简单的表征测试,更多的是通过软件的控制,进行多方面的参数设置,如压着样品保持探头不动来反映样品的膨胀力的强弱,对样品反复进行多次的下压,以及蠕动测试等十几种功能。保圣质构仪表征硬度、黏附性、弹性、内聚性等多种物性特征参数,结果客观、灵敏、准确,能够为药物制剂基础理论阐释、处方工艺优化、质量控制研究提供理论基础和参考。2普瑞巴林缓释片崩解强度测试仪应用从普瑞巴 林缓释片溶胀的机理来看,利用上海保圣公司的微力质构仪可以通过力学测试方式来非常的检测出普瑞巴 林缓释片溶胀层的微小差异,通过大量的实验,普瑞巴 林缓释片不同的浸泡时间测试样品的曲线变化,从曲线可以看出普瑞巴 林缓释片溶胀的高度随着浸泡时间的增加而增加,同样达到500克力的情况下,普瑞巴 林缓释片对应的位移不同,时间越长位移越大,说明普瑞巴 林缓释片溶胀的高度越大,另外普瑞巴 林缓释片溶胀时间不是很长的情况下,测试曲线出现了驼峰形状,说明普瑞巴 林缓释片在机器的下压过程中产生了崩解,而浸泡时间比较长的普瑞巴 林缓释片没有崩解行为但是依然有硬度增加说明有片芯还在,凝胶普瑞巴 林缓释片从曲线上反映出了普瑞巴 林缓释片溶胀的黏性,粘聚性,缓释片溶胀的崩解强度等等。因此通过质构仪可以.3普瑞巴林缓释片崩解强度测试仪特点上海保圣研发生产的质构仪是一种多功能物性分析仪,通过压缩、穿刺、剪切及拉伸等多种测试模式,这种测试不仅仅是简单的表征测试,更多的是通过软件的控制,进行多方面的参数设置,如压着样品保持探头不动来反映样品的膨胀力的强弱,对样品反复进行多次的下压,以及蠕动测试等十几种功能。保圣质构仪表征硬度、黏附性、弹性、内聚性等多种物性特征参数,结果客观、灵敏、准确,能够为药物制剂基础理论阐释、处方工艺优化、质量控制研究提供理论基础和参考。4普瑞巴林缓释片崩解强度测试仪主要技术生物黏附给药系统通过黏附性的高分子材料延长药物在用药部位的滞留时间来促进药物的吸收,提高药物的生物利用度。由于黏附性能与缓控释效果和药物吸收密切相关,因此评价生物黏附给药系统的黏附性能具有重要意义。近年来用于生物黏附给药系统的生物黏附性能的体外评价方法,包括小剥离力测定法、黏膜组织表面留存量测定法、黏膜组织表面黏附滞留时间测定法、溶胀性能测定法和流体黏度测定法等。
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  • 1普瑞巴林缓释片崩解强度测试仪器简介上海保圣研发生产的质构仪是一种多功能物性分析仪,通过压缩、穿刺、剪切及拉伸等多种测试模式,这种测试不仅仅是简单的表征测试,更多的是通过软件的控制,进行多方面的参数设置,如压着样品保持探头不动来反映样品的膨胀力的强弱,对样品反复进行多次的下压,以及蠕动测试等十几种功能。保圣质构仪表征硬度、黏附性、弹性、内聚性等多种物性特征参数,结果客观、灵敏、准确,能够为药物制剂基础理论阐释、处方工艺优化、质量控制研究提供理论基础和参考。2普瑞巴林缓释片崩解强度测试仪器应用从普瑞巴 林缓释片溶胀的机理来看,利用上海保圣公司的微力质构仪可以通过力学测试方式来非常的检测出普瑞巴 林缓释片溶胀层的微小差异,通过大量的实验,普瑞巴 林缓释片不同的浸泡时间测试样品的曲线变化,从曲线可以看出普瑞巴 林缓释片溶胀的高度随着浸泡时间的增加而增加,同样达到500克力的情况下,普瑞巴 林缓释片对应的位移不同,时间越长位移越大,说明普瑞巴 林缓释片溶胀的高度越大,另外普瑞巴 林缓释片溶胀时间不是很长的情况下,测试曲线出现了驼峰形状,说明普瑞巴 林缓释片在机器的下压过程中产生了崩解,而浸泡时间比较长的普瑞巴 林缓释片没有崩解行为但是依然有硬度增加说明有片芯还在,凝胶普瑞巴 林缓释片从曲线上反映出了普瑞巴 林缓释片溶胀的黏性,粘聚性,缓释片溶胀的崩解强度等等。因此通过质构仪可以.3普瑞巴林缓释片崩解强度测试仪器特点上海保圣研发生产的质构仪是一种多功能物性分析仪,通过压缩、穿刺、剪切及拉伸等多种测试模式,这种测试不仅仅是简单的表征测试,更多的是通过软件的控制,进行多方面的参数设置,如压着样品保持探头不动来反映样品的膨胀力的强弱,对样品反复进行多次的下压,以及蠕动测试等十几种功能。保圣质构仪表征硬度、黏附性、弹性、内聚性等多种物性特征参数,结果客观、灵敏、准确,能够为药物制剂基础理论阐释、处方工艺优化、质量控制研究提供理论基础和参考。4普瑞巴林缓释片崩解强度测试仪器主要技术生物黏附给药系统通过黏附性的高分子材料延长药物在用药部位的滞留时间来促进药物的吸收,提高药物的生物利用度。由于黏附性能与缓控释效果和药物吸收密切相关,因此评价生物黏附给药系统的黏附性能具有重要意义。近年来用于生物黏附给药系统的生物黏附性能的体外评价方法,包括小剥离力测定法、黏膜组织表面留存量测定法、黏膜组织表面黏附滞留时间测定法、溶胀性能测定法和流体黏度测定法等。
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  • 产品简介 ULWJ-802系列微机继电保护测试仪又称三相微机继电保护测试仪及三相微机继电保护校验仪,三相微机继电保护测试仪是继电保护专用电力测试仪。三相微机继电保护测试仪具有4相电压3相电流输出,适用于各种类型继电保护装置试验。三相微机继电保护测试仪每相电压可输出120V,电流三并可输出120A,第4相电压Ux为多功能电压项,可设为4种3U0或检同期电压,或任意某一电压值的情况输出。 ULWJ-802系列微机继电保护测试仪是 在参照电力部颁发的《微机型继电保护试验装置技术条件(讨论稿)》的基础上,广泛听取用户意见,总结目前国内同类产品优缺点,充分使用现代先进的微电子技术和器件实现的一种新型小型化微机继电保护测试仪。该三相微机继电保护测试仪采用高性能工控机作为控制微机,直接运行Windows操作系统,装置面板带有8.4"TFT真彩色LCD显示器、轨迹球和优化键盘,不用外接鼠标或键盘就可直接使用。装置背板设有USB口、10-100M网口、串行通信口等,可方便地进行数据存取、数据通信和进行软件升级等。该三相微机继电保护测试仪在试验的全过程及试验结果均在LCD显示屏上显示,全套汉字化操作界面,清晰亮丽,直观方便。操作控制由轨迹球和面板键盘进行。操作简单方便,只需简单的计算机知识,极易掌握。3相微机继电保护测试仪是继保测试工作者得心应手的好工具。主要特点 1、电压电流输出灵活组合: 三相微机继电保护测试仪具有标准4相电压3相电流输出,可方便地进行各种组合输出进行各种类型保护试验。每相电压可输出120V,电流三并可输出120A,第4相电压Ux为多功能电压项,可设为4种3U0或检同期电压,或任意某一电压值的情况输出。 2、操作方便:该三相微机继电保护测试仪面板设有轨迹球鼠标、优化键盘以及大屏幕TFT液晶显示器,该三相微机继电保护测试仪内置全中文Windows平台操作软件。开机即可使用,操作方便快捷。 3、双操作方式:除了单机操作外,三相微机继电保护测试仪还可以外接笔记本电脑或台式机进行操作,两种方式功能完全一致,真正完整的双操作模式。 4、新型高保真线性功放:输出端一直坚持采用高保真、高可靠性模块式线性功放,而非开关型功放,性能卓越。不会对试验现场产生高、中频干扰,而且保证了从大电流到微小电流全程都波形平滑精度优良。 5、高性能主机:该三相微机继电保护测试仪输出部分采用DSP控制,运算速度快,实时数字信号处理能力强,传输频带宽,控制高分辨率D/A转换。输出波形精度高,失真小线性好。采用了大量先进技术和精密元器件材料,并进行了专业化的结构设计,因而装置体积小、重量轻、功能全、携带方便,开机即可工作,流动试验非常方便。 6、软件功能强大:该三相微机继电保护测试仪可完成各种自动化程度高的大型复杂校验工作,能方便地测试及扫描各种保护定值,进行故障回放,实时存储测试数据,显示矢量图,联机打印报告等。 7、该微机继电保护测试仪具有独立专用直流电源输出:装置设有一路110V及220V专用可调直流电源输出。 8、接口完整:装置面板上有自带键盘和鼠标,能进行单机操作,也可通过键盘和鼠标接口外接键盘和鼠标进行操作;还带有两个USB口和RS232口,可与计算机及其它外部设备通信。 9、保护功能:散热结构设计合理,硬件保护措施可靠完善,该微机继电保护测试仪具有电源软启动功能,软件对故障进行自诊断以及输出闭锁等功能。 10、轻小型高集成单机和一体化结构:三相微机继电保护测试仪采用了大量高科技精心设计的超轻小型结构,使得整机极其小巧轻便。技术参数1.交流电流源单相电流输出(有效值)0 - 40A/相,精度:0.2% ±5mA三相并联输出(有效值)0 - 120A/三相同相位并联输出三相电流长时间允许值10A每相最大输出功率 420VA三相并联电流最大输出功率1000VA三并电流最大输出工作时间 10s频率范围0 - 1000Hz,精度0.01Hz谐波次数2 - 20次相位0 - 360°,精度0.1°2.直流电流源直流电流输出0--±20A/相,精度:0.2% ±5mA3.交流电压源单相电压输出(有效值)0--125V/相,精度:0.2% ±5mV线电压输出(有效值)0--250V相电压/线电压输出功率75VA/100VA频率范围0--1000Hz,精度:0.001Hz谐波次数2--20次相位0--360°,精度:0.1°4.直流电压源单相电压输出幅值0--±150V,精度:0.2% ±5mV线电压输出幅值0--±300V相电压/线电压输出功率90VA/180VA5.开关量端子开关量输入端子8对空接点1--20mA,24V 装置内部有源输出电位翻转无源接点:低阻短接信号有源接点:0-250V DC开关量输出端子4对,空接点,遮断容量:110V/2A,220V/1A6.其他时间范围1ms--9999s,测量精度:1ms体积重量体积 460 (mm)×250 (mm)×580 (mm),约27Kg电源AC220V±10%,50Hz,10A型号对比802系列三相继电保护测试仪型号对比 型号 ULWJ-802ULWJ-802AULWJ-802Bb国产工控机台湾产工控机研华PC104工业级工控机显示屏台湾友达TFT显示屏日本夏普显示屏日本夏普显示屏功放模块国产功放模块国产插件日产功率模块全进口功放模块,稳定性极高 精度电压电流0.5级±5mA电压电流0.2级±5mA电压电流0.1级±5mA 交流电流输出(有效值)AC:3x40A,420W/相AC:3x40A,420W/相AC:3x40A,420W/相 交流电压输出(有效值)AC:4x125V,75W/相AC:4x125V,75W/相AC:4x125V,75W/相直流电流输出DC:3x20A,200W/相DC:3x20A,200W/相DC:3x20A,200W/相直流电压输出DC:4x150V,90W/相DC:4x150V,90W/相DC:4x150V,90W/相交流电流并联AC:120A,最大800WAC:120A,最大800WAC:120A,最大800W直流线电压DC:300V,最大180WDC:300V,最大180WDC:300V,最大180W交流线电压AC:250V,最大100WAC:250V,最大100WAC:250V,最大100W频率范围0--1000Hz,精度:0.001Hz0--1000Hz,精度:0.001Hz0--1000Hz,精度:0.001Hz谐波次数2--20次2--20次2--20次相位0--360°,精度:0.1°0--360°,精度:0.1°0--360°,精度:0.1°开关量输入8对8对8对点位翻转低阻信号或有源节点低阻信号或有源节点低阻信号或有源节点开关量输出4对,遮断容量:220V/1A4对,遮断容量:220V/1A4对,遮断容量:220V/1A时间范围1ms--9999s,精度:1ms1ms--9999s,精度:1ms1ms--9999s,精度:1ms主机尺寸410 x 190 x 420 mm410 x 190 x 420 mm410 x 190 x 420 mm单机重量20.5kg20.5kg20.5kg外机箱尺寸470 x 250 x 560 mm470 x 250 x 560 mm470 x 250 x 560 mm包装箱尺寸540 x 320 x 650 mm540 x 320 x 650 mm540 x 320 x 650 mm包装后重量38kg(采用标准进出口木箱)38kg(采用标准进出口木箱)38kg(采用标准进出口木箱)
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  • 高温介电测试系统 400-860-5168转1431
    高温介电测试系统整合了LCR测试仪、温度控制、软件控制和自动多样品测试夹具等。可在高达800℃的条件下测量各种介电、铁电和压电材料的电容、介电常数、介电损耗等,以及这些参数与温度和频率的相关性。测试系统功能及配置: -温度范围:RT~800摄氏度[up to 1000C possible] -测量电容、介电常数和损耗因子 -介电材料阻抗与温度和频率的相关性 -低阻抗屏蔽测试夹具支持多大5个样品 -系统包括高温炉、夹具、Agilent LCR meter 4284A, or E4980AL LCR Meter (or others)、笔记本带测试软件、连接电缆所有高温相关连接带陶瓷绝热 -频率范围:20 Hz to 1 MHz (4TP shielded connections),with Agilent 4284 LCR meter. Also work with other meters (Keysight E4980AL, 4294A etc.) -灵敏度:介电损耗因子tand 0.1% -多样品测试:一次温控过程中,可自动切换测试多达4个样品 -高温铂片接地电极 -弹性铂探针,压力可调(以保护软polymer样品) -DC电压: up to 4000V(based on request)
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  • 产品简介ULWJ-1200系列六相继电保护测试仪 又称微机继电保护测试仪、六相继电保护测试仪、六相继保仪、六相微机继保仪、六相继保测试仪及工控机六相微机继电保护测试仪,六相微机继电保护测试仪是继电保护装置专用电力测试仪。六相微机继电保护测试仪是 参照《微机型继电保护试验装置技术条件》依据继电保护测试标准GB7261-2008而研发的一种新型工控微机继电保护测试仪。ULWJ-1200系列六相继电保护测试仪 装置有8路开入和4路开出,六相微机继电保护测试仪开关量输入电路可兼容空接点和0~250V电位接点,电位方式时,0~6V为合,11~250V为分,微机继电保护测试仪开关量可以方便地对各相开关触头的动作时间和动作时间差进行测量,UAWJ-1200A六相微机继电保护测试仪采用高速数字控制处理器作为输出核心,六相微机继电保护测试仪软件上应用32位双精度算法产生各相任意的高精度波形由于采用内部源独立处理结构,结构紧凑,修正了笔记本电脑直接控制式测控仪中因数据通信线路长、频带窄导致的输出波形点数少的问题,六相微机继电保护测试仪是继保工作者得心应手的好工具。主要特点 1、满足现场所有试验要求。本仪器具有标准的六相电压,六相电流输出,电压125V/相,电流30A/相。六相并联可达180A。既可对传统的各种继电器及保护装置进行试验,也可对现代各种微机保护进行各种试验,特别是对变压器差功保护和备自投装置,试验更加方便和完美。 2、各种技术指标完全达到电力部颁发的DL/T624-1997《继电保护微机型试验装置技术条件》的标准。 3、经典的Windows XP操作界面,人机界面友好,操作简便快捷;高性能的嵌入式工业控制计算机和8.4寸分辨率为800×600的TFT真彩显示屏,可以提供丰富直观的信息,包括设备当前的工作状态及各种帮助信息等。 4、本机Windows XP系统自带恢复功能,避免因非法关机或误操作等引起的系统崩溃。 5、配备有超薄型工业键盘和光电鼠标,可以象操作普通PC机一样通过键盘或鼠标完成各种操作。 6、主控板采用DSP+FPGA结构,16位DAC输出,对基波可产生每周2000点的高密度正弦波,大大改善了波形的质量,提高了测试仪的精度。 7、功放采用高保真线性功放,既保证了小电流的精度,又保证了大电流的稳定。 8、采用USB接口直接和PC机通讯,无须任何转接线,方便使用。 9、可连接笔记本电脑(选配)运行。笔记本电脑与工控机使用同一套软件,无须重新学习操作方法。 10、具备GPS同步试验功能。装置可内置GPS同步卡(选配)通过RS232口与PC机相连,实现两台测试仪异地进行同步对调试验。 11、配有独立专用直流辅助电压源输出,输出电压分别为110V(1A),220V(0.6A)。以提供给需要直流工作电源的继电器或保护装置使用。 12、具有软件自较准功能,避免了要打开机箱通过调整电位器来校准精度,从而大大提高了精度的稳定性。技术参数产品型号ULWJ-12001.交流电流源单相电流输出(有效值)0 - 30A/相,精度:0.2% ±5mA六相并联输出(有效值)0 - 180A/六相,同相位并联输出相电流长时间允许工作值(有效值)10A每相最大输出功率 320VA六相并联电流最大输出功率1000VA六并电流最大输出允许工作时间 10s频率范围0 - 1000Hz,精度0.01Hz谐波次数2 - 20次相位0 - 360°,精度0.1°2.直流电流源直流电流输出0--±20A/相,精度:0.2% ±5mA2.交流电流源相电压输出(有效值)0--125V/相,精度:0.2% ±5mV线电压输出(有效值)0--250V相电压/线电压输出功率75VA/100VA频率范围0--1000Hz,精度:0.001Hz谐波次数2--20次相位0--360°,精度:0.1°4.直流电压源相电压输出幅值0--±150V,精度:0.2% ±5mV线电压输出幅值0--±300V相电压/线电压输出功率90VA/180VA5.开关量端子开关量输入端子8对空接点1--20mA,24V 装置内部有源输出电位翻转无源接点:低阻短接信号有源接点:0-250V DC开关量输出端子4对,空接点,遮断容量:110V/2A,220V/1A6.其他时间范围1ms--9999s,测量精度:1ms体积重量体积 570 (mm)×250 (mm)×580 (mm),约32Kg电源AC220V±10%,50Hz,10A
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  • FWJD-600型粉末高温介电温谱仪关键词:介电常数,粉末,液体,块体三个支持:货到验收后付款,支持免费上门培训,支持来样测试随着固体粉末在化工、航天、医药、食品、塑料制品等行业越来越广泛的应用,必然需要更多、更精确的以工艺过程控制、产品混合均匀度测试、物料含量检测等为目的的仪器,以期优化产品的过程控制、提高产品质量,FWJD-600型粉末高温介电温谱仪是一款新型的高温介电温谱测试系统,应用于粉末,薄膜,块体和液体的高温介电常数测试,是研究不同材料在高温环境下随温度(T)、频率(f)、电平(V)、偏压(Vi)的变化规律:电容(C)、电感(L)、电阻(R)、电抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø )、电导(B)、导纳(Y)、损耗(D)、品质因数(Q)等参数,同时计算获得反应材料介电性能的复介电常数和损耗参数。是科研机关﹑学校、工厂等单位对无机非金属新材料应用研究的重要设备。设计标准:ASTM D150和D2149-97国际标准GB/T1409-2006国家标准一、主要特点:1、可以兼容粉末,陶瓷,液体等多种不同物理性质的样品测试2、变频抗干扰介质损耗测试仪采用复数电流法,测量电容、介质损耗及其它参数。测试结果精度高,便于实现自动化测量。3、仪器采用了变频技术来消除现场50Hz工频干扰,即使在强电磁干扰的环境下也能测得可靠的数据。4、仪器操作简便,测量过程由微处理器控制,只要选择好合适的测量方式,数据的测量就可在微处理器控制下自动完成。5、反接线测试采用ivddv技术,消除了以往反接线数据不稳定的现象6、具有反接线低压屏蔽功能,在220kVCVT母线接地情况下,对c11可进行不拆线10kV反接线介损测量二、主要技术参数:1、温度范围:室温-600℃,800℃,1000℃(可以定制)2、控温精度:全温区范围内≤±0.3℃3、测温精度:0.1℃4、频率:10HZ-120MHZ5、电极结构:全新三电极创新设计6、控温模式:常温,恒温,高温,多种组合7、校准方式:自带设备校准功能,确保精度8、测试电极:铂依金电极+转换电极9、屏蔽:同轴线缆屏蔽,消除电磁干扰对测试影响10、介电夹具:专用粉末夹具,薄膜夹具,陶瓷三件套11、软件功能:频率、电压、偏压、温度、时间多维变化曲线,数据导入,曲线成图自动生产12、数据传输方式:高速USB13、设备尺寸:550MM*560MM*750MM 应用于测试的各种特种陶瓷粉末等兼容国内外各种仪表
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  • ASTM D149介电强度试验机/GB/T1695耐电压击穿测试仪主要参数:型 号:ZJC-20kV输入电压:AC 220 V输出电压:AC 0-20 kV DC 0-20 kV电器容量:2 KVA高压分级:0-5kV; 0-10kV;0-20kV;击穿电压:0-20kV击穿电压升压速率无极可调(以下为常用速率):A、0.1 kV/sB、0.2 kV/sC、0.3 kV/sD、0.5 kV/skV、1.0 kV/sF、2.0 kV/sG、3.0 kV/s升压方式:1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验 过电流保护装置:试样击穿时在0.1S内切断电源.漏电电流选择:1—30 mA.耐压时间:0-6H1.实验目的1.了解测定高分子材料介电强度和耐电压值的基本原理2.掌握高分子材料材料介电强度和耐电压值的测定方法2.实验原理本方法是用连续均匀升压或者逐级升压的方法,对试样施加交流电压,直至击穿,测出击穿电压值,自动计算试样的介电强度,用迅速升压的方法,将电压升到规定值,保持一定的时间试样不击穿,记录电压值和时间,即为此试样的耐电压值,以千伏和分表示。本方法适用于固体电工绝缘材料如绝缘漆、树脂和胶、浸渍纤维制品、层压制品、云母及其制品、塑料、薄膜复合制品、陶瓷和玻璃等在工频电压下击穿电压,介电强度和耐电压值的测试。对有些绝缘材料如橡胶以及橡胶制品,薄膜等的上述性能实验,可按照有关标准或者参考本标准进行。3.实验试样本次实验采用多型腔圆片模具注塑成型的高密度聚乙烯圆片试样,试样尺寸直径为120mm,试样外观:表面要平整、均匀、没有裂纹、气泡和机械等缺陷试样数量:不得少于3个4.实验设备电压击穿试验仪ZJC-20kV 1台(北京中航时代仪器设备有限公司)等直径电极 1套游标卡尺 1条台式计算机及控制软件 1台5.实验操作①按连续均匀开压法,先安装好式样,即将HDPE圆片放在2电极中间夹住;②通过计算机控制连续升压,直到听到击穿的声响,软件显示最大值即为击穿电压。6.实验结果序号厚度第一次(mm)厚度第二次(mm)厚度第三次(mm)平均厚度 (mm)电压 (千伏)介电强度 KV/ mm13.163.203.223.19257.8423.223.243.243.23257.7433.223.203.183.20268.1343.163.163.183.17278.5253.223.243.243.23309.047.思考讨论1.用不同的试样制备方法所得试样测试结果有何不同?为什么?答:用不同的试样制备方法制得的试样,其均匀性密度及杂质含量会有所不同,而这些都会使击穿电压发生变化。2试样中的含水量对测定结果有何影响?答:由于水未及性分子在交变电场作用下十分活跃,会加速试样的击穿,也就是说降低试样的介电强度。含水率越大,水份越多,能明显增加高聚物导电的极性杂质。3.实验条件对实验有何影响?如何影响?答:在较低温度段下的升高,一方面使聚合物的粒度降低,极性链的活动增强,导电能力增加,击穿强度降低;另一方面,在较高的温度段下,分子热运动加剧,对偶极转动干扰增加,使极化减弱,导电能力下降,击穿强度增大。环境温度下升高,使得空气中的分子增多,由于湿空气中的水分子被吸附于电介质的表面,形成一层很薄的膜,同时水又是半导体,所以击穿强度增大。
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  • 四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪光伏测试专用美国ResMap四点探针CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67m&Omega -cm及Implant高电阻2K&Omega /□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可以装2~4个量测头,并且可以Recipe设定更换CDE ResMap&ndash CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的。 主要特点: 测量范围广,精度高,稳定性好,功能齐全强大,软件好用,维修成本低,服务好,配件齐全...美国进口四探针电阻率测试仪(4PP)/方块电阻测试仪/太阳能光伏扩散薄层电阻测试仪(Four point probe(4PP))设备名称: 四点探针电阻仪 (CDE ResMap)主机厂牌、型号与附件: CDE ResMap规格:1. Pin material: Tungsten Carbide.2. Pin compression force Typically 100 gm to 200 gm.3. 样品尺寸: 2吋至6吋晶圆 (表面须为平整的导电薄膜,半导体材料)设备用途: 导电薄膜的电阻值分布测量,半导体,光伏特点:1)针尖压力一致2)适用于各种基底材料3)友好的用户界面4)快速测量5)数据可存储 应用:1)方块电阻2)薄片电阻3)掺杂浓度4)金属层厚度5)P/N类型6)I/V测试
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  • 凝点倾点测定仪,全自动凝点倾点测试仪铁路凝点倾点测定仪,地铁全自动凝点倾点测试仪,机车专用凝点倾点测定仪华宝电气与华豪电力研制生产的凝点倾点测定仪测试仪采用微机控制、高性能制冷器,具有故障自我诊断功能,分析试样速度快,重复性好,准确,大屏LCD显示器 中文显示,向导式操作是电力石化试验人员的得力助手。HB-ND+, QQ11231349681、适用标准:GB/T510、GB3535,能测凝点倾点2、微机控制 中文液晶显示,向导式操作,测定过程全部自动化(自动制冷控温,自动检测),实现对试样的自动化分析3、采用高性能制冷器 具有故障自我诊断功能4、分析试样速度快,结果准确、重复性好、稳定可靠、操作简便5、重复性:凝点 2℃,倾点 3℃,制冷极限:温差>70℃6、温度检测:铂电阻(Pt100Ω) 信息储存:100个数据7、适用于炼油厂、电力、铁路、航运、石油公司及油料商业部门对轻质油的凝点倾点的测定关键词:凝点倾点测定仪,自动凝点倾点测试仪,凝点测定仪,全自动倾点测试仪铁路凝点倾点测定仪,地铁全自动凝点倾点测试仪,机车专用凝点倾点测定仪主要产品:微机继电保护测试仪、瓦斯继电器校验台、气体继电器校验仪、大电流发生器、热继电器校验仪、检漏继电器校验仪、电缆芯线对号器、直流高压发生器、高压数字兆欧表、变压器油耐压测试仪、直流电阻测试仪、回路电阻测试仪、电缆故障测试仪、多功能电力参数测试仪、模拟断路器(开关)、试验变压器、交直流耐压装置、伏安特性综合测试仪、智能钳型相位伏安表、核相器、开关动特性测试仪、变压器变比组别测试仪、变压器容量损耗测试仪、单/双钳式接地电阻测试仪、有载分接开关测试仪、液体介损电阻率测试仪、绝缘油含气量测试仪、气体密度继电器校验仪详情请登录:或或查询。HB是华宝电气的简称,购买时请认准青岛华宝电气以防假冒
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  • 介损测试仪 400-801-8116
    产品介绍:DZ5001是一款测量介质损耗和介电常数的测量仪器,采用高频谐振法,测量准确度高,大电容显示,具有操作简单,液晶显示,测试精度高等优势。测试范围:DZ5001是用于测量介质损耗和介电常数是各种金属氧化物、板材,瓷器(陶器)、云母、玻璃、塑料等物质的一项重要的物理性质的仪器。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。应用范围:DZ5001介质损耗测试仪主要应用在电力行业、材料科学、医疗设备、环境监测和汽车制造等行业。性能优势:1、仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。2、大电容值直接测量显示。3、数显微测量装置,直接读值。技术参数:信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样,保证了Q值的稳定性,以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数,分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH :1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型,精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF~25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F,L,C,Q,Lt,Ct,Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有
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  • 微机继电保护测试仪,微机继保仪,继电保护测试仪铁路专用微机继保仪,机车微机继电保护测试仪,地铁专用继电保护测试仪华宝牌微机继电保护测试仪,微机继保仪是华宝电气生产供应的,青岛市平度华宝电气有限公司研制生产的微机继电保护测试仪,微机继保仪功率大、质量好、功能全、保护完善是电力部门推荐产品HB-K20086,1、嵌入式真彩工控机也可外接笔记本电脑2、Windows XP操作系统自带恢复系统,上位机USB连接,具备GPS同步试验功能3、主控板采用DSP+FPGA结构,功放采用高效耐用高保真线性功放4、自动手动测试各种继电器、及整组试验,具有精度软件自较准功能5、输出6路电压6路电流轻松实现差动试验6、ACA6×40A或1×90A,DCA3×20A,ACV 6×120V,DCV0~250V,3U00~120V, 频率0~1000Hz,相位0~360度,时间 0~999。999S,输出功率1000VA7、外形440×180×320mm,重16Kg8、保护完善,升级简单、掌握迅速关键词:微机继电保护测试仪,智能型微机继保仪,微机继保仪,继电保护测试仪铁路专用微机继保仪,机车微机继电保护测试仪,地铁专用继电保护测试仪 。 HB是华宝电气的简称,购买时请认准青岛华宝电气以防假冒
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  • 低压漏电起痕测试仪 产品介绍 HCDH-300低压漏电起痕测试仪是在固体绝缘材料表面上,在规定尺寸(2mm×5mm)的铂电极之间,施加某一电压并定时(30S)定高度(35mm)滴下规定液滴体积的污染液体(0.1%NH4CL),用以评价固体绝缘材料表面在电场和污染介质联合作用下的耐受能力,测定其相比电痕化指数(CT1)和耐电痕化指数(PT1)。 HCDH-300 低压漏电起痕测试仪适用于照明设备、低压电器、家用电器、机床电器、电机、电动工具、电子仪器、电工仪表、信息技术设备的研究、生产和质检部门,也适用于绝缘材料、工程塑料、电气连接件、辅件行业也适用于电气能力验证计划与技术研讨会中的有关CHEARI-PTO03耐电痕化指数测试。 设备参数控制系统:西门子PLC+触摸屏控制系统。具有精度高,反应快等优点;电极材料:铂金,电极接杆-紫铜或黄铜或纯金,电极接杆-白银;电极尺寸:(2mm±0.1mm)×(5mm±0.1mm)×(40mm±5mm);电极距离:4.0mm±0.01mm,夹角60°;电极压力:1.00N±0.001N;试液电阻:A液0.1%23℃,3.95±0.05Ωm,B液1.98±0.05Qm;液滴体积:20滴0.380g~0.480g,50滴0.997g~1.147g(可微调节);液滴高度:35mm±5mm(可调节);液滴时间:30s±0.1s(可预置调节),50滴时间24.5mint2min;液滴滴数:1~9999(可预置);试验风速:0.2m/s;试验电压:100V~600V(25V分度,可调节);电源压降:1.0A±0.1A时8%;起痕判断:0.50A±10%,2.00s±10%;外形尺寸:宽1120mm×深520mm×高1350mm,排气孔径100mm;测量范围:100-700V50-60Hz;电压:220V50-60Hz;
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  • 防静电电阻测试仪 400-860-5168转3024
    防静电电阻测试仪符合标准:GB/T 1410-2006《 固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法》GB/T 10581-2006 《绝缘材料在高温下电阻和电阻率的试验方法》GB/T 1692-2008 《硫化橡胶 绝缘电阻率的测定》GB/T 2439-2001《硫化橡胶或热塑性橡胶 导电性能和耗散性能电阻率的测定》GB/T 12703.4-2010 《纺织品 静电性能的评定 第4部分:电阻率》GB/T 10064-2006《测定固体绝缘材料绝缘电阻的试验方法》ASTM D257-99《绝缘材料的直流电阻或电导试验方法》静电电阻符合性检测(ESD TR53 规范手册)防静电工作台面检测(ESD S4.1 标准)防静电地板检测(ANSI/ESD S7.1 标准)防静电鞋具检测(ESD S9.2 标准)防静电工作服检测(ESD STM 2.1 标准)防静电工作椅检测(ESD STM 12.1 标准)防静电鞋+防静电地板+人体系统电阻检测(ESD STM 97.1 标准)技术指标 1、电阻测量范围:1 ×104Ω ~1×1018Ω。2、电流测量范围:2×10-4A~1×10-16A。3、显 示 方 式: 32位LED液晶屏显示(直接显示电阻值和电流)。4、内置测试电压: 10V 、50V、100V、250、500、1000V。5、基本准确度:1% 。6、使用环境、温度:0℃~40℃,相对湿度80%。7、机内测试电压: 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切换。8、供电形式: AC 220V,50HZ,功耗约5W。9、仪器尺寸: 285mm× 245mm× 120 mm。10、质 量:约2.5KG。11、电 极:粉体电极、液电极、固体电极(标配)、点对点电极。操作方式:1、电流先手动调零。2、调整测试电压。3、旋转电阻波荡观察数值。4、读取电阻值。5、根据电阻值按以下公式求出体积电阻率和表面电阻率。1)体积电阻率 式中:PV——体积电阻率,单位为欧姆厘米(Ω.cm);RX——按测得的体积电阻,单位为欧姆(Ω);A——是被保护电极的有效面积,单位为平方米(m2)或(平方厘米(cm2))h——试样的平均厚度,单位为米(m)或厘米(cm) (2)表面电阻率计算:表面电阻率计算公式如下:式中:Ps——体积电阻率,单位为欧姆米(Ω.cm);RX——按测得的表电阻,单位为欧姆(Ω);P——是被保护电极的有效周长,单位为米(m)或(厘米(cm))g——两电极之间的距离,单位为米(m)或厘米(cm)备注:P=15.708(cm) g=0.2(cm)配套的电极尺寸:圆柱: 直径50 mm圆环: 外径 75 mm ,内径 55± 0.2 mm 厚度10 高度30 圆盘: 直径100mm屏蔽箱尺寸:20cm*20cm*9 cm 内部高度50mm固体式样尺寸要求测体积电阻率直径大于55mm(大于电极内径) 测表面积电阻直接大于100mm, 低于此直径大小需改电极基本注意事项确保被测材料本身不带电重锤电极放置点距离材料边缘 2 英寸以上重锤电极放置点距离材料上的接地端子 3 英寸以上测试台面点到点电阻时,2 个重锤电极相距 10 英寸以上(可采用配套的 10 英寸距离标线)测试地面点到点电阻时,2 个重锤电极相距 36 英寸以上(可采用配套的 36 英寸距离标线)重锤电极的放置点通常取以下位置可以更好地评估材料是否合格 n 最常用位置 n 磨损严重的位置 n 中心位置 n 距离接地点较远的位置如果被测材料是有接缝的,例如块状地板,衣服等,2 个重锤应分别放置在不同的拼接区块在实验室测试材料时,可以预清洁处理。对于现场铺设完毕并投入运行的材料,测试前不要清洁,只 有测试不合格时,才清洁后再次测试。测试表面点到点电阻测试台面或小面积材料:连接测试仪和 2 个 50003 重锤电极把重锤电极放置在合适的位置,相距 10 英寸左右按仪器中间的红色键测试如果测试不合格,清洁表面后再测试可把测试结果写在配套的标签纸上,并 贴 在相应地点10 英寸标线36 英寸标线测试地面或大面积材料:连接测试仪和 2 个 50003 重锤电极把重锤电极放置在合适的位置,相距 36 英寸左右按仪器中间的红色键测试如果测试不合格,清洁表面后再测试可把测试结果写在配套的标签纸上,并 贴 在相应地点测试接地电阻材料合格性/符合性测试 对新购入或新安装的材料进行合格性测试,并保存每个测试数据(仪器可保存 100 组数据), 把 每 个 测试数 据的记录编号写在标签纸上,然后贴到合适位置。以后定期对这些材料进行符合性检测,可和最初保存在 仪器内的合格性测试的数据对比,以了解材料的耗损及性能衰减状况。 维护及校准一旦电池符号显示空,及时更换电池。长期不使用仪器,取出电池存放油污或湿气可能会导致仪器顶侧插孔短路,定期用异丙醇清洁定期用异丙醇清洁重锤电极,测量前确保电极的橡胶垫已经晾干仪器保修期 1 年,不包括连接线、重锤电极和其他配件不得拆开仪器外壳,一旦拆开外壳,失去保修权力妥善保护仪器上的产品序列号标签,遗失标签或序列号磨损不清,失去保修权力人为或错误操作所造成的损坏不在保修范围仪器校准校准环境要求:温度 23.9+/-1.7℃,相对湿度 40%~60%仪器需要裸露在校准环境 1 小时以上确保仪器电池有充足的电量用异丙醇清洁仪器连接线插孔,清洁后手指不要触碰插孔把原配的连接线插入仪器连接线另一端连接单个标准电阻或电阻盒用于校准的标准电阻在 1010欧姆及以内精度达到+/-2%,1010欧姆以上精度达到+/-5%仪器读数在标准电阻的+/-10%范围内合格。
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  • 智能型露点测试仪,智能型微水测试仪,智能型露点仪,sf6微水测试仪华宝电气生产的华宝牌智能型露点仪sf6微水测试仪采用进口测试探头自动加热、自动校准抗结露,抗冷凝、抗灰尘、自动校准,参数可同屏显示,测试数据可打印,配有USB接口或232接口便于管理数据,是电力部门推荐产品。 HB-CMS2000, QQ 1、抗冷凝、抗灰尘、自动校准功能2、进口聚凝薄膜式探头精度高3、探头自动加热、自动校准抗结露4、自动校准自动修正定期恢复5、抗油污、防污染、防水防尘6、可准确测量气体的压力及流量7、参数可同屏汉显可打印8、配有USB接口或232接口便于管理数据关键词:智能型露点仪,sf6微水测试仪,智能型微水测试仪主要产品:绝缘手套(鞋)耐压试验装置、蓄电池容量放电测试仪、蓄电池智能测试仪、二次压降测试仪、矿用杂散电流测定仪、发电机转子交流阻抗测试仪、电力专用气相色谱仪、变压器绕组变形测试仪、多功能现场校验仪、三表校验仪、绝缘子盐密测试仪、真空滤油机、高精度定量气体检漏仪、全自动凝点仪、闭口闪点仪、微水测定仪、石油及合成液抗乳化测定仪、变压器油酸值测定仪、激光粒度分析仪、锈蚀测定仪、石油产品运动粘度测定仪、自动界面张力仪、多功能振荡仪等系列产品。详情请登录:或或查询。
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  • 电痕化指数测试仪 400-860-5168转2839
    KS-59D 电痕化指数测试仪是GB 4706.1-2008 GB 4207-2012 GB/T6553-2003 IEC60112 -2009 《固体绝缘材料耐电痕化指数和相比电痕化指数的测定方法》, UL 746A 、 ASTM D 3638-92 、 DIN 53480 等标准规定的仿真试验项目。 KS-59D 电痕化指数测试仪是在固体绝缘材料表面上,在规定尺寸 ( 2mm × 5mm ) 的铂电极之间,施加某一电压并定时 (30s) 定高度 ( 35mm ) 滴下规定液滴体积的污染液体 (0.1%NH 4 CL) ,用以评价固体绝缘材料表面在电场和污染介质联合作用下的耐受能力,测定其相比电痕化指数 (CT1) 和耐电痕化指数 (PT1) 。 KS-59D 电痕化指数测试仪适用于照明设备、低压电器、家用电器、机床电器、电机、电动工具、电子仪器、电工仪表、信息技术设备的研究、生产和质检部门,也适用于绝缘材料、工程塑料、电气连接件、辅件行业,也适用于电气能力验证计划与技术研讨会中的有关CHEARI-PT003耐电痕化指数测试。性能参数:电极材料试验电极 - 铂金,电极接杆 &ndash 紫铜或黄铜电极尺寸(2mm ± 0.1mm)× (5mm ± 0.1mm)× (40mm ± 5mm ),铂电极 5mm或12mm可选,30° ± 2° 斜面;电极距离4.0mm ± 0.01mm ,夹角 60° ± 5° ;电极压力1.00N± 0.001N;试液电阻A 液 0.1%NH4Cl,3.95± 0.05&Omega m, B 液 1.98± 0.05&Omega m;液滴体积20 滴 0.380g ~ 0.480g , 50 滴 0.997g ~ 1.147g ( 可微调节 );液滴高度35mm ± 5mm ( 可调节 );液滴时间30s± 0.1s( 优于标准 )( 数显,可预置调节 ) , 50 滴时间 24.5min± 2min;液滴滴数1 ~ 9999( 数显,可预置 );试验风速0.2m /s( 新标准 );试验电压100V ~ 600V(25V 分度,可调节 );电源压降1.0A ± 0.1A 时 8%;起痕判断0.50A ± 10% , 2.00s± 10% ;外形尺寸宽 1120mm × 深 520mm × 高 1350mm ,排气孔径&Phi 100mm;试验电源220V 0.6kVA 50-60Hz 。
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  • 全自动异频介损测试仪检定电桥时,应满足表1规定的参考条件。检定前,被检电桥与检定装置在满足表1规定的环境条件下存放时间应超过24h。表1检定参考条件被检电桥介质提耗环境简度相对湿度电源频率电源电压波形畸变因数准确度级别/(%)H系数/{%)0.5.120年535-6550±0.2≤12.5,10:20±1030~7550±0.55.1.2检定用设备5.1.2.1高压电容电桥的电容比率基本误差使用电容量具(或交流电阻量具)整体检定。高压电容电桥的介质损耗因数基本误差使用工频损耗因数量具整体检定。电容量具提供的电容比率不确定度(p=95%)和工频损耗因数量具提供的损耗因数不确定度(p=95%)不得大于被检电桥允许误差的1/3。5.1.2.2绝缘电阻表的测量误差应不大于10%,输出电压为1000V或1500V。5.1.2.3工频耐压试验装置的高压输出容量应不小于500VA,波形失真不大于5%。试验电压的测量误差不大于3%。全自动异频介损测试仪使用中检验外观及标志检查工频耐压试验绝缘电阻试验检流计美敏度及屏蔽支路调节器细度试验(西林型和电流比较仪型电粉)基本误差试验稳定性试验注:“+”表示品检项目。“-”表示可不检项目。5.3检定方法5.3.1外观及标志检查外观及标志的检查,应符合本规程第4.2条要求。西林型和电流比较仪型电桥全部转换开关应做不少于10次的全行程切换。桥体外壳上标明的接地端子,应单独可靠接地。如发现电桥有严重影响计量性能的缺陷,应修复后再检定。5.3.2绝缘试验高压电容电桥工频耐压试验应在仪器的电源开关接通状态下进行。试验时应逐渐地升高电压至规定值,偏差不大于3%,并在此电压下保持1min。试验中应避免试验电源突然接通和分断。测量试验电压时,推荐采用在试验变压器的高压输出端直接测量的方法。试验过程中应无击穿或闪络等破坏性放电现象产生。绝缘电阻试验应在仪器的电源开关接通状态下进行,试验结果应符合4.3条规定。5.3.3检流计灵敏度及屏蔽支路调节器细度试验检流计灵敏度及屏蔽支路调节器细度用两台电容试品在电桥正常测量状态下试验,并在正常参考电流和最大允许参考电流下各进行一次。在调整到电桥规定的平衡状态时,偏调电桥测量臂使测量值偏离该点允许测量误差的1/10,引起检流计的偏转应不小于1mm。在调整到电桥规定的平衡状态时,偏调电桥屏蔽支路一个最小分度,检流计的偏转应不大于1mm。有源电流比较仪电桥的屏蔽支路调节器为反馈式电子放大器,不进行调节细度试验,只在电桥正常参考电流和最大允许参考电流下各进行一次检流计灵敏度试验。全自动异频介损测试仪基本误差试验电桥的电容比率基本误差选用能满足5.1.2.1条要求的电容量具(或交流电阻量JJG 563--2004具),使用图1的电容比较线路或附录AI图的等功率电桥线路整体检定。电桥的损耗因数基本误差选用能满足5.1.2.1条要求的工频损耗因数量具,使用图2的电容比较线路或附录BI图的低压导纳线路整体检定。检定时的参考电流应不小于电桥规定的最小工作电流。检定时读取有效数字的舍入误差应为允许误差的1/10~1/100。TDCrc-g图1用电容比较线路检定电容比率图中:TD一调压器 T-试验变压器 C,、c,一标准空气电容器:-g一被检电桥TDC-Eg8图2用电容比较线路检定损耗因数图中:TD一调压器:T-试验变压器 C,、C,一标准空气电容器:R-交流电阻:C-g8-被检电桥5.3.4.1电容比率基本误差检定1)检定高压电容电桥电容比率测量准确度时,介质损耗因数盘的置数D应满足D’,其中,A为该量程的电容比率测量准确度等级指数。2)西林型电桥的基本量程应逐盘逐点检定。检定选点推荐按表3系列进行,检定盘位一般是x10000,x1000和x100。检定电流比较仪型电桥的基本量程时,检定选点参照表4系列进行。可以只对第一盘逐点检定。全自动异频介损测试仪是新一代的绝缘油测量电极的专用控温智能化装置,可与国际通用的圆柱型绝缘油电极配套使用。保证绝缘油在规定时间内到达所需温度,并能恒定较长时间,以便通过高压电桥对绝缘油进行介质损耗因素(tgδ)、相对介电常数(εr)进行精密测量,也可与高阻计配套测试体积电阻率ρ(即直流电阻率)本产品温度显示采用内外温同时显示,加热采用智能数字温度仪控制。控制过程采用PID模糊逻辑控制,能彻底消除电网电压、环境温度变化等的影响,具有控温超调量小、控温速度快的优点。温度设置采用数字键盘输入方式,使设定误差真正达到零。符合GB5654-2007.全自动异频介损测试仪*1Range20Hz-99.9Hz100Hz-1kHz1.001kHz-10kHz10.01kHz-100kHz100.1kHz-1MHz1.001MHz-5MHz 6month1MΩA=0.8 B=0.4A=0.4 B=0.2A=0.4 B=0.2A=1 B=0.5A=1 B=0.2A=0.25 B=0.1A=0.25 B=0.1A=1 B=0.5100kΩA=0.4 B=0.05A=0.15 B=0.05A=0.15 B=0.05A=0.3 B=0.08A=3 B=1A=0.3 B=0.1A=0.15 B=0.02A=0.15 B=0.02A=0.3 B=0.08A=3 B=0.510kΩA=0.35 B=0.01A=0.08 B=0.01A=0.15 B=0.01A=0.25 B=0.04A=0.4 B=0.3A=2 B=0.5A=0.25 B=0.01A=0.05 B=0.01A=0.08 B=0.01A=0.15 B=0.02A=0.3 B=0.3A=2 B=0.33kΩA=0.35 B=0.01A=0.08 B=0.01A=0.15 B=0.01A=0.25 B=0.04A=0.4 B=0.3A=2 B=0.5A=0.25 B=0.01A=0.05 B=0.01A=0.08 B=0.01A=0.15 B=0.02A=0.3 B=0.3A=2 B=0.31kΩA=0.35 B=0.01A=0.08 B=0.01A=0.08 B=0.01A=0.2 B=0.02A=0.3 B=0.03A=1.5 B=0.2A=0.25 B=0.005A=0.05 B=0.005A=0.05 B=0.005A=0.08 B=0.02A=0.15 B=0.02A=1 B=0.2300ΩA=0.35 B=0.01A=0.08 B=0.01A=0.08 B=0.01A=0.2 B=0.02A=0.3 B=0.03A=1.5 B=0.2
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  • TH-100光电雾度透光率测试仪的测试原理是透过试样而偏离入射光方向的散射光通量与透射光通量之比,用百分数表示。通常仅将偏离入射光方向2.5度以上的散射光通量用于计算雾度。适用于塑料、薄膜、玻璃、手机盖膜、钢化膜、LCD面板、触摸屏等透明半透明材料的雾度、透过率一站式测量解决方案。TH-100光电雾度透光率测试仪介绍:1、符合以下测试标准:GB/T 2410标准、ASTM D 1003标准、ISO 13468标准、ISO 14782标准2、满足CIE-A、CIE-C、CIE-D65三种标准照明光源下的雾度与全透过率测量3、满足补偿法测试,可提供更准确的测试结果。4、拥有开放式的测量区域,可以满足任意大小的样品测量。5、采用5.0寸TFT显示屏,拥有良好的人机交互界面。6、拥有竖放和横放两种放置状态,方便样品放置7、采用LED光源,寿命长,十年无需更换8、无需预热,开机校准后即可测试,测试用时时间短,3秒即可9、体积小,重量轻,方便携带。TH-100光电雾度透光率测试仪技术参数:光源CIE-A、CIE-C、CIE-D65三种光源遵循标准ASTM D1003/D1044,ISO 13468/ISO 14782,JIS K 7105,JIS K 7361,JIS K 7136,BG/T 2410-08测量参数雾度(HAZE),透过率(T)光谱响应CIE光谱函数Y/V光路结构0/d测量口径照明/样品孔径16.5mm/21mm量程0-100雾度分辨率0.01单位雾度分辨率0.01单位雾度重复性≤0.1单位样品大小厚度≤150mm显示5英寸TFT液晶屏存储数据20000个数值接口USB接口电源DC 24V工作温度10-40摄氏度储藏温度0-50摄氏度尺寸310*215*540mm
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  • 介电击穿强度测试仪-ZJC-50kV主要技术要求:1、设备输入电压: 220V (普通试验室电源均可兼容);2、试验电压方式: 交流 0--50 KV;直流 0--50 KV;3、电器容量:5KVA;4、试验方法:0-50KV全量程可调(采用高精度电压采样器)5、击穿及耐压试验升压速率:0.1 KV/S 0.2 KV/S0.5 KV/S1.5 KV/S2 KV/S2.5 KV/S3.0 KV/S(此项满足0新标准里面极快速升压试验要求);6、试验方式:直流试验:1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验交流试验:1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验注:根据不同行业的标准,我们可以根据用户的要求,依据贵行业标准,为您定制行业标准所需的特殊测试功能。7、过电流保护装置应有足够灵敏度以保证试样击穿时在0.1S内切断电源。8、本仪器采用无触点原件匀速调压方式09、支持短时间内短路试验要求。10、电压测量误差: 1%。11、试验电压连续可调:0-50 KV12、耐压时间设定:0-6小时(可通过软件连续设定)。13、主机尺寸:约800mm*700mm*1300mm(长宽高)。14、主机重量:约100KG。15、九级安全防护措施: (1) 超压保护(2)试验过流保护 (3)试验短路保护(4)安全门开启保护(5)软件误操作保护(6)零电压复位保护(7)试验结束放电保护(8)独立保护接地(9)试验完成后电磁放电深入了解介电击穿强度测试仪-ZJC-50kV1、概述:?特点:所有的绝缘材料都只能在一定的电场强度下保持其绝缘特性,当电场强度超过一定限度时,绝缘材料便会瞬时失去绝缘特性,使整个设备破坏。?特征:介电强度是最基本的绝缘特性参数。?应用:不管是在电气产品的生产中,还是在使用中,都要经常做介电强度的试验。 1.1定义;1.1.1电气击穿;绝缘材料或结构,在电场作用下瞬间失去绝缘特性,造成电极间短路,称为电气击穿。1.1.2击穿电压、击穿场强;在试验或使用中,绝缘材料或结构发生击穿时所施加的电压,称为击穿电压;击穿点的场强称为击穿场强。 1.1.3介电强度;绝缘材料的介电强度是指材料能承受而不致遭到破坏的最高电场场强,对于平板试样1.1.4闪络、闪络电压;在气体或液体中,电极之间发生放电,当放电至少有一部分是沿着固体材料表面时,称为闪络。通常试样表面闪络后,还可以恢复绝缘特性。闪络时试样上施加的电压称为闪络电压。1.1.5击穿或闪络的判别:?试样上电压突然降落;?通过试样上的电流突然增大;?有时会发出光或声;?试样上有贯穿的小孔、裂纹以及碳化的痕迹; 1.2介电强度试验分类;1.2.1击穿试验: 在一定试验条件下,升高电压直到试样发生击穿为止,测得击穿场强或击穿电压,测量试样的介电强度,用来测量绝缘材料的介电强度。不能作为选定应用于工作场强的依据,而只能作为选用材料的参考。1.2.2耐电压试验: 在一定试验条件下,对试样施加一定电压,经历一定时间,若在此时间内试样不发生击穿,即认为试样是合格的。只能说明试样的介电强度不低于该试验电压的水平,但不能说明究竟有多高。对于电气设备使用,施加电压略高于工作电压,经历时间1min、5min或更长 1.3影响介电强度的因素;1.3.1电压波形:?直流、工频正弦以及冲击电压下击穿机理不同,击穿场强也不同?工频交流电压下的击穿场强低的多?根据使用条件及试验目的,选择电压或叠加电压1.3.2电压作用时间?电击穿所需时间短,小于微秒级?热击穿需要较长时间的热的积累,在直流或工频电压下,随着施加电压的时间增长,击穿电压明显下降。?施加电压时间很长时,由于试样内存在局部放电或其他原因,试样老化,降低击穿电压?有机材料,一般在小于几微秒和大于几秒时,击穿电压随时间增长而明显下降,在几微秒至几秒范围内,击穿电压变化不大 1.3.3电场的均匀性及电压的极性?材料的本征击穿场强是在均匀电场下测得的。但不均匀电场中,如电极边缘电场强度比较高,会首先出现局部放电,扩展到试样击穿,测得的击穿电压偏低?在不均匀电场下,直流和冲击电压的极性对击穿电压有明显的影响。由于空间电荷的效应改变了电极间介质的电场分布,从而影响了击穿电压。1.3.4试样的厚度与不均匀性?试样厚度增加,电极边缘电场就更不均匀,试样内部的热量更不容易散发,试样内部含有缺陷的几率增大,使得击穿场强下降?薄膜试样,厚度减小,电子碰撞电离的几率减小,也会使击穿场强提高?工业上绝缘材料含有杂质和缺陷,使得试样击穿场强降低?材料中残留的机械应力,使得击穿场强降低 1.3.5环境条件?温度升高,会使击穿场强下降。在材料的玻化温度范围,击穿场强下降明显,对于某些材料,在低温区可能出现相反的温度效应。?湿度增大,会使击穿场强下降。材料吸湿后会增大电导和介质损耗,会改变电场分布,从而影响击穿场强。?气压对击穿场强的影响,主要是对气体而言。气压高,电子在碰撞过程的自由行程就短,击穿场强会升高。但在接近真空时,由于碰撞的几率减少,也会使击穿场强升高,可用巴申曲线阐明 二、试样与电极:2.1均匀电场下击穿试验用的试样与电极?材料的本征介电强度,是以均匀电场下的击穿场强来表征的?为了能使试样的击穿发生在均匀的电场中,必须把试样做成各种型材。 2.1.1例行试验中用的试样与电极例行试验,不能要求试样击穿都发生在均匀电场中,试样的形状决定与材料原有的形状,试样的厚度,一般也决定于试样本身;?试样太厚,击穿电压超过试验变压器的额定电压,或表面闪络无法解决,可将试样削薄,并保持试样表面光洁;?试样太薄,如纸或薄膜材料,可多层叠加在一起,施加一定压力压紧;2.1.2试样厚度测量?均匀的厚度,沿通过击穿点的直径上测三点取平均值。?如果厚度不均匀,以击穿点的厚度计算击穿场强。2.1.3试样的面积试样的面积要比电极面积大,使之在击穿前不会发生闪络;?为节省材料,电极面积不能太大;?为暴露材料中存在的缺点,电极不能太小;?一般直径取25mm或50mm; 2.2试样要求:2.2.1试样的个数?击穿场强分散性较大,要多用一些试样;?工程材料的击穿场强很大程度上决定于存在的弱点;?击穿场强受很多因素的影响;2.2.2一般最少取5个?取平均值作为实验结果;?若有一个数值偏离平均值15%以上,必须再取5个试样; 2.3电极要求: 试样的正常化处理电极的要求?良好的导电、导热性能,由铜或不锈钢制成;?表面要平整光滑,使之与试样表面接触良好;?对称电极:电极边缘电场较均匀,但上下电极必须对准中心线; 2.4电极效应:电极边缘效应?空气a击穿场强比固体材料x低,场强 ?总是在电极边缘的空气中先出现局部放电,这种放电会腐蚀试样,会使试样的温度升高,最终导致试样在较低的电压下发生击穿电极效应消除措施消除办法:?电极的边缘要做成圆角;?将试样和电极浸入相对介电常数大、击穿场强比较高的液体媒质中,如变压器油,硅油;?采用的媒质若具有很高的相对介电常数或电导,必须注意由此而引起的测试回路电流增大、试验变压器过载、保护电阻上电压降增大以及媒质本身严重发热等问题。液体材料用的电极结构:?直径25mm、间距2.5mm、边缘曲率半径2mm;?电极表面应光滑,液面离电极的最高点距离不少于22mm,电极距容器的内壁最近处不少于13mm,两个电极的轴心要对准并保持在同一水平线上,两个电极的表面要保持平行;?容器与液体材料不会相互破坏,容器可使用电瓷或玻璃,电极用铜或不锈钢; 使用:?清洗、烘干,再用被测液体洗涤两次;?注入被测液体,不要混入杂质与水分;?注入被测液体后静止片刻,避免电极间有气泡; 三、工频电压下的介电强度试验?工频电源应用最广,且材料的工频击穿场强比直流和冲击电压下的都低,对于绝缘材料,通常都是做工频下的击穿试验。?绝缘材料的介电强度,一般都是指在工频下的介电强度。?电工设备的例行试验中,一般也是做工频耐压试验。 3.1工频耐压试验: 3.2升压方式定义: ?电压从零按照一定方式和速度上升到规定的试验电压或击穿电压;升压方式 ?快速升压、20s逐渐升压、 慢速升压、60s逐级升压、极慢速升压;快速升压?电压从零上升到击穿电压所经历的时间约为10~20s,常用500V/s;20s逐渐升压?电压逐级升高,每级停留20s;?第一级电压约为快速升压击穿值的40%的电压,在此电压下,经受20s,若试样不击穿,再加高一级,直至试样击穿为止;?升压过程要尽量快,升压的时间计算在下一级的20s之内;?击穿应发生在第级或更高的电压等级上,否则应降低第一级电压重新进行试验;?逐级加压比快速加压作用的时间长,测得的击穿电压比较低;慢速升压?从快速升压的击穿电压的20%开始,以较慢的速度升压,使击穿发生在120~240s内;60s逐级升压?与20s逐级升压类似,只是每级停留的时间为60s;极慢速升压?从快速升压击穿电压的40%开始,以极慢速的速度升压,使击穿发生在300~600s内。?升压速度慢,电压作用时间更长,测得的击穿电压更低,试验结果比较可靠。 3.3试验设备与装置试验系统:包括高压试验变压器、调压器,以及控制和保 护装置等。高压试验变压器?工频高电压一般都通过试验变压器升压获得。试验变压器要求;?具有足够的额定电压和容量;?输出的电压波形没有畸变;试验变压器的电压电压等级,根据试样的试验电压等级来选定:?绝缘材料50~100kV?绝缘结构1000kV试验变压器单台容量:?国内:750kV?国外:1000kV超过单台变压器额定电压,采用多台变压器串接以获得更高的试验电压。 高压试验变压器 调压器 测控卡3.3.1试验变压器的串接?串接的级数增加,输出的电压增高,但设备的利用率降低,而且内阻抗增大,因此也不宜采用过多的级数,目前最多的是采用三级串接。?对于电容较大的试样,可以通过串联谐振回路获得比试验变压器更高的电压。 3.3.2串联谐振?谐振回路中,电抗器上的电压与试样上的电压大小相等,相位相反;?当试验电压很高时,要制作单台高压调谐电抗器是不经济的,可将调谐电感接在调谐变压器的低压侧,组成一台高压调谐电抗器,并可将多台这样的电抗器串接起来,使之能够承受超高压试验电压;?串联谐振回路,不但能提高试验电压,而且电压波形好,又比较安全。 3.3.3变压器的容量试样都是容性阻抗。试验变压器的容量,可以根据试样在试验电压下通过的容性电流来计算 ?一般试样电容为几十到几百pF,击穿电压不超过100kV,选择容量为10kVA;?电工设备耐压试验变压器容量一般要大一些,高压侧电流为1A或更大;?对于电容量特别大的试样,必须采用电抗器与试样并联,补偿容性电流,以减小变压器的容量;?采用超低频正弦电压对大容量试样做耐压试验,可以大大降低变压器的容量。3.3.4电压波形工频电压的波形应为正弦波,正弦波的峰值与有效值之比称为波形因数。要求波形因数不超过 波形畸变会影响介电强度的试验结果?高次谐波会降低击穿场强;?试样的击穿是决定于电压的峰值,而一般测量电压的仪表都是测量有效值;?波形畸变,同一峰值的电压测得有效值不同;产生波形畸变的原因?电源本身有3次或5次高次谐波;?变压器的非线性激磁电流:激磁电流决定于磁化曲线(非线性); 改善电压波形?在调压器和试验变压器之间接入滤波器,电感与电容根据滤波频率选择电容不宜太小,以免调压器过载。?电网中常为3次谐波,线电压不含3次谐波,调压器一次侧接线电压。 3.3.5调压器自耦调压器结构?铁心上只绕一个线圈?线圈的两端为一次侧,接电源?一次侧与二次侧有一个公共连接端头,必须接中线或接地?二次侧另一头为滑动触点,触点与公共端距离增大时,电压升高优缺点?结构简单、体积小、漏抗小、价格便宜?输出电流较大时,触点在移动过程中会因接触不好而出现火花。适用?容量为几千伏安以下,油浸式的容量可达几十千伏安。3.3.6移圈调压器(容量大的调压器均采用)结构?由三个线圈套在一个铁心上组成?I和II匝数相等,绕向相反,串接?III为短路线圈,紧套在I、II外边原理?靠移动短路线圈改变其他两个线圈的漏磁通?改变I、II上的电压分配实现调节输出电压?III从低位置向高位置移动,输出电压逐步升高特点?靠电磁耦合而不用机械触点,因此调压过程?不会出现火花,容量可以做的很大?漏抗比较大,使用中应注意畸变 3.3.7控制线路应满足要求?只有在实验人员撤离高压试验区,并关好安全门(S1限位开关),才能加上电压进行试验?升压必须从零开始(S2零限位),以一定方式和速度上升?在试样发生击穿时,能自动切断电源(KA1过载释放器)。在自动控制线路中,能自动使电压下降到0。 3.3.8保护球隙 4.1保护和接地?在控制回路中采用过载释放器、安全门开关、调压器限位开关?低压部分可能出现高电压的各点,都要接上放电间隙?高压测试回路中接保护电阻,限制试样击穿或闪络时流过变压器的电流并使变压器高压端点位变化缓慢,以改善由此产生的脉冲在高压绕组间的分布和消除可能出现的振荡,并保护测量铜球和电极在击穿时不会烧坏。?试样击穿或间隙放电,将有很大的电流流过接地线。接地电阻过大会显著升高接地线的电位。各接地点与接地体的连接线应采用尽量短的多股线,以减小电阻和电感。?高压试验区应装有保护围栏,围栏的入口处应装有联锁开关和信号灯,并备有接地棒。4.1.2工频高电压的测量测量方法直接测量试样两端的电压;?静电电压表、球隙放电测量法等;把高电压变换为低电压进行测量;?分压器、电压互感器等;通过测量变压器低压绕组或特别绕制的测量绕组的电压换算高压端的电压;要求?测量误差不超过3%;?测量用仪表一般要求为0.5级;4.1.3静电电压表?由两个极板组成,一个极板固定,一个由弹簧连接,可以移动;?通过极板间受力的大小,可以测定极板间的电压,但分度是非线性的; ?内阻很大,决定于电极间的绝缘电阻;?电容很小,约5~50pF;?交流电压下测得的是有效值;?目前最高电压等级为500kV;?依靠电场力工作,因此空间电场、电荷对它的影响很明显,在使用中应予以注意; 4.1.4球隙测量法◆在确定条件下,球隙间空气的放电电压与球隙的距离有一定的关系,◆利用球隙放电时的距离来测量电压需满足条件?保证球隙间电场均匀?球隙中的空气要符合规定的标准状态◆测量时,先让球隙放电几次,当放电比较稳定后重复测3次,每次间隔不少于1min,取3次试验平均值◆GB311-64规定:在工频下测得的是电压峰值◆测量结果可靠,但装置占地面积较大,测量比较麻烦,一般只用于校准其他测试仪器。4.1.5互感器测量法◆电压互感器是变比和角差都很精确的降压变压器,它将高电压变换为低电压进行测量。◆电压互感器的电压比k为已知,则在二次侧测得的电压乘以k就得到一次侧的高电压值◆测量方法非常方便、可靠,在电网上普遍应用,但造价比较高电压互感器 4.1.6分压器法◆分压器由一个高阻抗与低阻抗串接而成。◆被测的高电压绝大部分降落在高阻抗上,可以从低阻抗两端测得低电压,通过分压比换算得到被测的高电压◆对于工频交流电压?电压较低时,用电阻分压器?电压很高时,电阻分压器功率损耗大,发热严重,同时体积大、分布电容的影响严重,采用电容分压器更合适。分压器测量原理图 4.1.7测量绕组法◆试验变压器本身带有测量绕组?测量绕组与高压绕组匝数比为k1,则高压端电压U2=此绕组电压U1*k1◆试验变压器的低压绕组?低压侧电压*高低压绕组匝数比?高低压侧电压不完全决定于匝数比,准确度比测量绕组的低测量线路图 测量误差◆绕组法测得高压端开路电压◆试验回路接试样,试样两端电压由试样电容,保护电阻及变压器内阻抗决定。?UL较大,Ur较小时,可能使测量值小于实际试样上承受电压值?UL很小,Ur较大时,可能出现测量值偏大?测量误差随着试样电容量的改变而变化
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