射线吸收谱仪

透射、反射/吸收光谱测量系统介绍 透射、反射/吸收率是光学元件（如光学材料、滤光片、镀膜等）与多种生活材料（玻璃、布料、汽车贴膜等）的重要光学特性指标，我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需求，而设计的高集成度，自动化的测量系统，它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反射率的光谱测试。系统组成：光源系统+分光系统＋样品检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统■ ZLX-AS系列吸收、透射/反射光谱测量系统

S1TITAN手持式X荧光光谱仪重量轻（1.23kg，测量范围Mg-U）、是基于X射线管技术的手持式XRF分析仪。快速的分析速度和准确性是S1TITAN 的两大特性。其他功能包括集成的彩色触摸屏、50kVX射线管、SMARTGrade 计时、SharpBeam优化X射线几何形状、硅漂移探测器，以及坚固的外壳，该外壳经过密封，可以防潮防尘。 S1TITAN系列都采用了布鲁克公司的SharpBeam技术，并配置了布鲁克技术X-FlashSDD探测器，向您提供快速分析时间。S1TITAN可以配备各种校准装置，这些装置经过优化，适用于各种样品材料—包括各种合金、不同的采矿与环境样品，以及受限制材料。 SharpBeam技术对探测器和放射管几何图形进行了优化。经优化的几何体具有许多理想的效果，包括：1、降低功率要求 2、减轻重量 3、提高测量度 4、提高探测限制 5、延长电池寿命手持式荧光光谱仪应用领域 QA/QC分析，材质识别(PMI) 1、工厂/精炼厂PMI检测；2、废金属回收 3、航空航天用合金；4、金及贵金属检测 5、矿山；6、矿石品位控制 7、岩芯分析；8、探矿；9、地质图 10、土壤分析；11、金属回收；12、玩具中的铅 13、ASTM-F963；14、RoHS 15、包装中的有害元素分析 16、儿童服装中的铅筛查

X射线吸收精细结构谱仪（XAFS）X射线衍射仪行业领军品牌仪器功能：X射线吸收精细结构谱仪 (X-ray absorption fine structure，XAFS)，是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。核心优势：最高光通量产品：光子通量高于1000000光子/秒/ev，采谱效率数倍于其他产品，获得和同步辐射一样的数据质量；优异的稳定性：光源单色光强度稳定性优于0.1%，重复采集能量漂移50meV 1%探测极限： 高光通量、优异的光路优化和极好的光源稳定性确保所测元素含量1%时依旧获得高质量EXAFS数据产品应用：新能源：燃料电池研究、 储氢材料研究、锂离子电池、碳中和研究。通过XAFS/XES可获得中心原子在电催、光催和热催化学反应过程中的价态、配位环境及其动态变化。催化： 纳米颗粒催化、单原子催化。通过XAFS/XES获得催化剂在载体上存在的形态，与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等， 以及含量极低的元素的近邻结构。材料科学：用于各种材料表征，复杂体系和无序结构材料的研究， 放射性核素研究，表面、界面材料的相关性质研究，材料的动态变化过程研究。生物大分子：用于研究含金属的生物大分子中的金属及其近邻结构，如对在物质的生命过程中起着重要的作用的金属蛋白研究等。环境科学：广泛用于玻璃，土壤，塑料，煤，铬鞣革和超镁铁矿岩石中的元素的价态和含量的分析；动植物组织等样品分析；重金属污染检测等。

产品简介hiXAS提供了完整的基于实验室拓展X射线精细结构吸收谱(EXAFS)和X射线近边结构吸收谱（XANES）的解决方案。在较小的占地面积内，它集成了X射线光管光源、高分辨光谱仪、光子技术像素化X射线探测器，以及用于仪器控制和数据的分析的控制软件。由于hiXAS的光谱质量于同步辐射测量的结果相当，使得冗长的同步辐射测量机时申请和等待变得不再有必要。X射线光管光源和光谱仪可以覆盖的能量范围为5-12KeV，因此包括了3d过度金属的K吸收边。专门优化的HAPG Von Hamos光谱仪结构可以获得极高信噪比的光谱。因此，可分析的样品浓度可以低至数个质量百分比。同时光谱仪在覆盖的吸收边范围内，保持很高效率和恒定的高分辨率（E/ΔE = 4000）。我们还可以根据您的各种应用需要，提供定制化的hiXAS系统。hiXAS可用于EXAFS和XANES测量的元素范围。HiXAS可以在几分钟的时间内测量出分析物浓度仅为几个重量百分比的稀释样品。主要参数核心元件X射线光管光源von Hamos HAPG 光谱仪光子计数，像素化X射线探测器能量范围5-12keV样品浓度低至 数个质量百分比样品安装多样品转轮占地尺寸2.0m x 1.0m软件套件集成系统控制，各种光谱校准和分析功能EXAFS 模式XANES 模式光谱分辨能力1800*4000*（*整个能量范围内不变）能量带宽1000eV300eV采集时间3分**8分钟**（**归一化分析物浓度）主要应用化学形态分析和浓度比复合物研究催化剂分析短程有序和键长确定测量结果Cu箔样品X射线吸收测量，采集时间:3分钟含样品，1.5分钟不含样品C. Schlesiger et al, Recent progress in the performance of HAPG based laboratory EXAFS and XANES spectrometers, J. Anal. At. Spectrom. 35, 2298 (2020)

XAFS,XAS,台式X射线吸收精细结构谱仪RapidXAFS 2M产品原理RapidXAFS 谱仪是采用罗兰圆结构和高指数面晶体进行单色分光，实现X-射线吸收/发射谱谱测量，是研究材料局域原子或电子结构的一种有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。性能特点：Ø 不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究； Ø 不受其它元素干扰，可对同一材料中不同元素分别研究；Ø 不受样品状态影响，可测量固体（晶体、粉末），液体（溶液、熔融态）和气体等； Ø 对样品无破坏，可进行原位测试； Ø 能获得高精度的配位原子种类、配位数及原子间距等结构参数，一般认为原子间距精确度可达0.01&angst XAFS谱主要包括两部分: X射线吸收近边结构 (XANES) 和扩展X射线吸收精细结构(EXAFS) 。EXAFS的能量范围大概在吸收边后50 eV到1000 eV， 来源于X 射线激发出来的内层光电子在周围原子与吸收原子之间的单电子单次散射效应的结果。XANES包含了吸收边前约10 eV 至吸收边后约50 eV的范围，其主要来源于X 射线激发出的内壳层光电子在周围原子与吸收原子之间的单电子多重散射效应。产品优势多功能：提供科研级高质量XAFS/XES图谱高性能：1小时内完成1%含量样品测试（CN载体）高光通量：＞2000,000 photons/sec@8Kev配置灵活：可根据客户要求定制样品池，实现高温高压，低温低压，各种气氛条件下对反应过程原位观察简单易用：只需半天培训即可上机操作自主可控：90%部件自主可控，无政策风险低维护成本：无需专人维护、操作、管理等 XAFS/XES数据已成为了顶级期刊的“标配”，致使越来越多课题组需要XAFS测试。秉持着让XAFS/XES走进每个实验室的理念，推出全新的X射线吸/发射收谱仪平台（RapidXAFS 1M）。RapidXAFS 2M 具有如下特点：1.无需同步辐射光源即可提供XAFS测试； 2.台式体积，可放置于实验室内随时使用，极大节省了科研等待时间； 3.实现对催化剂的局域结构、价态分析； 4.实现原位测量（高温高压，低温低压，各种气氛条件下）条件下对反应过程原位观察，堪比高性能版本的静常压光电子能谱；应用领域- 新能源：燃料电池研究、 储氢材料研究、锂离子电池、碳中和研究。通过XAFS/XES可获得中心原子在电催、光催和热催化学反应过程中的价态、配位环境及其动态变化。- 催化：纳米颗粒催化、单原子催化。通过XAFS/XES获得催化剂在载体上存在的形态，与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等， 以及含量极低的元素的近邻结构。- 材料科学：用于各种材料表征，复杂体系和无序结构材料的研究， 放射性核素研究，表面、界面材料的相关性质研究，材料的动态变化过程研究。- 生物大分子：用于研究含金属的生物大分子中的金属及其近邻结构，如对在物质的生命过程中起着重要的作用的金属蛋白研究等。- 环境科学：广泛用于玻璃，土壤，塑料，煤，铬鞣革和超镁铁矿岩石中的元素的价态和含量的分析；动植物组织等样品分析；重金属污染检测等。 扫描关注公众号

实验内容 1．了解X射线与物质的相互作用，及其在物质中的吸收规律； 2．测量不同能量的X射线在金属铝中的吸收系数； 3．了解元素的特征X射线能量与原子序数的关系。仪器组成 模拟探测器箱、模拟放射源、模拟金属靶、模拟吸收片、多功能数字多道 用户自备电脑一台(Win7以上 64位系统)

TableXAFS-500谱仪是由安徽创谱仪器科技有限公司研发设计的X射线吸收精细结构谱仪。系统采用罗兰圆结构和大尺寸弯晶元件，利用常规X光源实现X射线吸收结构光谱测量。可以用于催化、能源电池和材料等研究领域，实现对元素的价态、配位和结构的分析。 TableXAFS-500 在实验室实现线站功能，免去机时申请与等候的烦恼，助您实现“想测就测、随时可测”的XAFS自由。 产品特点：小型化桌面式设计，维护成本低采用大口径晶体，具有更高收光效率和信噪比高精度、高稳定性扫描机构，提高分辨率及数据准确度安全防护联锁，有效避免辐射伤害具有7位样品架，可自动换样，提高测量效率 一键快速测量，单次仅需30min，高效便捷远程数据传输，实时查看实验进程和结果高能谱分辨，获得与同步辐射接近的吸收谱数据数据分析及解读，出具专业的分析报告可增配XAFS荧光测量模式及XES测量模式支持原位测试等扩展功能主要参数能量范围：4.5~ 20 keV（单次扫描范围600eV @ 7~9keV)能量分辨率：0.5 ~ 1.5eV （7~9keV，近边）X射线光源：1.2 kW X射线光管，靶材可订制光通量：500,000~1,000,000 photons/sec @ 9keV单色器晶体：口径100mm，半径500mm球面Si或Ge弯晶探测器：SDD探测器 样品轮：7~16位自动样品轮主要应用领域：新能源：锂电池及其他二次电池材料研究、燃料电池研究、储氢材料研究、光合作用与碳捕获。通过XAFS可获得核心原子在充放电循环及电化学反应过程中的浓度、价态、配位环境及其动态变化。催化：纳米颗粒催化、单原子催化。通过XAFS获得催化剂在载体上存在的形态，与载体的相互作用形式及在催化过程中的变化等，以及含量极低的金属离子的近邻结构。材料科学：用于各种材料表征，复杂体系和无序结构材料的研究，放射性核素研究，表面、界面材料的相关性质研究，材料的动态变化过程研究。生物大分子：用于研究含金属的生物大分子中的金属及其近邻结构，如对在物质的生命过程中起着重要的作用的金属蛋白研究等。环境科学：广泛用于玻璃、土壤、塑料、煤、铬鞣革和超镁铁矿岩石中的元素的价态和含量的分析，动植物组织等样品分析，重金属污染检测等。应用案例：

实验内容 1.了解β射线在物质中的吸收规律； 2.利用吸收系数法和最大射程法，确定β射线的最大能量，并鉴别放射性核素。仪器组成 模拟探测器支架、模拟探测器、模拟放射源、模拟吸收片、多功能数字多道 用户自备电脑一台(Win7以上 64位系统)

实验内容 1.放射性探测的统计规律实验，验证原子核衰变及放射性计数的统计规律，了解统计误差的意义，掌握计算统计误差的方法，掌握对测量精度的要求，合理选择测量时间的方法。 2.闪烁体探测器与γ射线吸收实验，学习对γ谱仪的刻度，测定γ谱仪的能量分辨律以及能量线性；验证γ射线通过物质时强度减弱遵循指数规律，测量γ射线在不同物质中的吸收系数。仪器组成 模拟探测器支架、模拟探测器、模拟放射源、模拟吸收片、多功能数字多道 用户自备电脑一台(Win7以上 64位系统)

XAFS2300型X射线吸收精细结构谱仪 X射线吸收精细结构谱仪是同步辐射试验的补充和延伸，是不依赖于同步辐射实验室级别XAFS与XES测量装置。浩元公司推出实验室用XAFS2300型X射线吸收精细结构谱仪， 集成高通量连续谱X射线源、 高反射效率弯晶单色器、高分辨率SDD探测器三大核心组件，以及高分辨罗兰圆转角控制技术，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构精确测量(XAFS)，完成对元素的配位数、键长、化学价态和配位构型等分析。此外，该设备还能够进行X射线发射谱测试(XES)，其本质上是超高能量分辨率的X射线荧光光谱，实现元素自旋态与类似中子临近配位元素物种精确测定。 XAFS模式与同步辐射的数据质量对比 Cu foil晶体结构 性能、技术参数： X射线功率达到3KW,光通量大于2×106 photons/sec. (7-20keV), 具备透射模式与荧光模式X射线吸收精细结构谱（XAFS）及X射线发射谱(XES)测量功能。 能量范围：4.5-25keV，能量分辨率0.5-3eV；重复性： 50meV 能量尺度漂移，单色仪无需重复校准；采用高分辨罗兰环结构与球形弯曲X射线单色器；高分辨率SDD检测器。能够完成1%含量实际样品测量。 XAFS荧光模式实现1%低含量单原子催化剂体系测试 1% Cu CuN4-C单原子催化剂 XAFS在碳中和高效CO2转化能源催化材料结构精准物质结构分析应用 电解水制氢OER 氢燃料电池ORR电催化原位结构与价态动态演变探测 具有Fe-S Fe-O混合配位FeN2S2@介孔C及其反应中间态精准结构探测解析可视化与不同配位层路径贡献 1% Fe FeN4-C单原子催化剂一整套包括 E R空间解析 R k空间拟合以及相应三维小波变换 3D WT-XAFS (d-g) Fe K edge wavelet transform of Fe foil,Fe2O3, Fe Pc, and Fe SAC (FeN4) COF前驱体策略构筑同核双单原子Fe2N6合成过程加热原位结构演变精准探测解析与可视化 COF前驱体策略构筑同核双单原子Fe2N6合成过程加热原位价态与结构演变精准探测解析与可视化 COF前驱体策略构筑同核双单原子Fe2N6合成过程加热原位价态与结构演变精准探测解析与可视化 完整一整套同核双单原子Fe2N6结构解析与拟合 高分辨XANES对特定混合配位构型确定 应用领域： 在材料科学和工程领域 XAFS方法已成为研究材料的局域原子和电子结构的一种重要表征手段。广泛应用于纳米材料、半导体材料、化学催化材料、生物材料、矿种分析、军工材料等研究，是凝聚态物理等的前沿尖端研究领域未来都是必不可少。 催化：多相催化、单原子催化等：催化剂原子和载体的关系；能源：电池材料、燃料电池催化剂、光合作用、碳捕获、制氢； 材料：掺杂、离子迁移、价态、结构晶型； 环境：有毒元素价态及其在自然界的循环；放射性核素的化学态； 生物：金属蛋白、金属元素的植物吸收/循环。

台式X射线吸收精细结构谱仪-XAFS/XES美国easyXAFS公司新推出台式X射线吸收精细结构谱仪，采用有的X射线单色器设计，无需同步辐射光源，在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量和分析，以高的灵敏度和光源质量，实现对元素的测定、价态和配位结构分析等。此外，该设备还能够进行X射线发射谱测试(XES)，该表征本质上是超高能量分辨率的X射线荧光光谱(high-resolution XRF)。XAFS和XES可以对样品的局部电子结构实现信息互补。广泛应用于电池、催化剂、环境、放射性化学、地质、陶瓷等研究领域。XAFS/XES 设备特点 - 无需同步辐射光源- 科研别谱图效果- 台式设计，实验室内使用- 可外接仪器设备，控制样品条件- 可实现多个样品或多种条件测试- 操作便捷、维护成本低XAFS/XES 设备参数 X射线源： XAFS: 1.2 kW XRD(Mo/Ag) XES: 100W XRF 空冷管(Pd/W)能量范围：4.9-20.5keV分辨率：0.5-1.5eV样品塔：8位自动样品轮布拉格角：55-85 deg 设备型号XAFS300高功率版，固定光源模式，采用1200W 功率X射线管作为X射线光源，与光学模块和探测器组装。台式X射线吸收精细结构(XAFS)谱仪提供了透射模式测量，适用于储能或催化等领域的研究和开发。可升为XAFS300+型号。XAFS300+高功率版，兼容XAFS和XES功能，固定光源模式。该型号使用与XAFS300相同的高功率1200W射线管作为光源，用于X射线吸收谱功能XAFS；同时配备低功率100W 的X射线管和电源，用于X射线发射谱测试(XES)。XES150低功率版，采用固定光源模式，采用100W 功率X射线管作为X射线光源，具备与同步辐射装置相媲美的硬X射线发射光谱(XES)功能，和透射X射线吸收谱(XAFS)功能。光学系统模块化，能量范围功率可调。应用案例催化剂研究：实验室X射线吸收谱（XAFS）助力解析缺陷位点在OER反应中的作用机制表面缺陷调控工程被认为是提高催化剂催化活性的一种高效方法。因为表面缺陷工程可以有效调控活性位点的配位环境，从而优化催化剂的电子结构，实现电子转移和中间产物（*OH、*O和*OOH）吸附自由能的优化，大大提升催化反应效率。层状双金属氢氧化物（LDH）因其在水氧化（OER）反应中的优异性能而被广泛研究。而表面缺陷的引入将进一步提升其在OER中的催化效率。近期，郑州大学马炜/周震教授及其他合作者成功揭示了NiFe双金属氢氧化物纳米片中表面缺陷对于OER反应的巨大提升作用，同时通过结合X射线吸收谱（台式easyXAFS300+，美国easyXAFS公司），成功揭示了氧化前后催化剂的精细结构变化，为表面缺陷在催化反应中的作用机制提供数据支撑，相关研究成果发表于Journal of Materials Chemistry A, 2021, 9(25): 14432-14443. 图1. (a) Ni1/2Fe1/2(OH)2/CNT-24及其他样品的XAFS图，Ni k edge（b）径向距离χ(R)空间谱，（c）χ(R)空间拟合曲线图，（d）k2χ(k)空间谱拟合曲线电池材料：实验室台式XAFS在高性能水系锌离子电池研究中的应用美国华盛顿大学曹国忠教授等人合作在Nano Energy上发表了题为“Fast and reversible zinc ion intercalation in Al-ion modified hydrated vanadate”的水系锌离子电池相关研究成果。该研究通过水热合成法引入Al3+，有效的改善了纯水合氧化钒 (VOH) 正材料用于水系锌电池中的缺点：包括提升其离子迁移率和循环稳定性等[1]。Al3+的成功掺入，在改变V原子局部原子环境的同时，增加了材料中V4+的含量，使得合成的 Al-VOH 材料具有更大的晶格间距和更高的电导率，实现了Zn2+的快速迁移和电子转移。该正材料在50 mAg-1下的初始容量达到380 mAhg-1，且具有较好的长期循环稳定性（容量保持超过 3000 次循环）。值得一提的是，该团队通过利用台式X射线吸收精细结构谱仪（easyXAFS300+）获得了V k边的边前及近边结构谱图，并对Al3+掺杂的VOH 正材料进行了深入的研究，从而揭示了引入Al3+后，VOH的结构变化及充放电过程中的有利作用等。参考文献：[1] Zheng J, Liu C, Tian M, et al. Fast and reversible zinc ion intercalation in Al-ion modified hydrated vanadate[J]. Nano Energy, 2020, 70: 104519.环境修复：台式XAFS/XES谱仪分析检测Cr元素的应用美国华盛顿大学Gerald Seidler教授通过实验室XAFS/XES谱仪完成了环境和工业制成品中Cr元素的价态和含量的分析。 图1显示了XAFS光谱Cr近边区结果（XANES）。研究人员利用台式XAFS技术轻松对铬元素进行分析检测，不仅完成了标准品化合物K2CrO4的测试及拟合分析，同时也实现了对实际生产样品的表征。图1. XAFS近边区光谱（a）六价参考化合物，铬酸钾；（b）CRM 8113a是基于RoHS描述的用于重金属分析的认证参考材料 台式XAFS谱仪也同时配置了XES模组，通过激发特定元素内层电子后使外层电子产生弛豫并发射X射线荧光，对其能量和强度进行分析可以的给出目标元素的氧化态、自旋态、共价、质子化状态、配体环境等信息。由于不依赖于同步辐射，且得益于特有的单色器设计，可以在实验室内实现高分辨宽角高通量的XES元素分析（包括P, S, V，Zn, Cr, Ni, As, U, etc.）。在图2中，在未知Cr含量的塑料样品中，当拟合Cr元素XES Kα光谱时，可以充分观察到Cr的各种氧化态之间的精细光谱变化，且测试结果与同步辐射XAFS一致。对比Cr(VI)和Cr（III），可以在高于20 meV的能量分辨率下轻松辨别光谱特征的差异。Cr（III）在价态上具有更高电子密度，其光谱将会向更高的能量方向移动，且相对于Cr(VI)峰变宽，可以明显区分出Cr(VI)和Cr（III）。图2. 背景扣除和积分归一化后的Cr(VI)和Cr（III）铬化合物的Cr Kα XES 光谱 此外，从标准塑料样品中收集的XES光谱（图3），利用线性superposition analysis技术，经拟合与参考化合物光谱的线性叠加，推断出的Cr(III)/Cr(VI)比例再结合传统的XRF技术，就可以实现Cr(VI) ppm别的定量分析。图3. 不同样品中Cr Kα XES光谱的垂直偏移（所有光谱均经过背景校正和归一化）XAFS/XES技术不仅可以应用于多种聚合物样品中Cr元素的测定，同时也可应用于P、S、V、Zn、Cr、Fe、Co、Ni、Au、As、U等元素分析。此方法是无损测试，只需少量的样品，就可由实验室测试仪easyXAFS完成。基于实验室XAFS/XES的Cr测量可能成为未来环境领域及工业届的标准测试方法。储能材料：台式XAFS谱仪在能源存储材料研究中的应用因具有优异的初始可逆性和较为容易的 Li+嵌入和脱出结构，DRS是一种很有潜力的高比能正材料。特别是Mn基无序岩材料，因其具有无毒、低价格等特性，得到广泛的关注和研究。然而，目前该类材料都存在循环寿命短和严重的容量衰减等问题。德国卡尔斯鲁厄理工大学的Maximilian Fichtner教授及其他合作者结合了利用高价Ti4+离子及部分F-离子取代O等策略，使得该材料展现了长循环条件下更加优异的电化学性能和库伦效率。值得注意的是，该团队利用了台式X射线吸收精细结构谱仪（台式easyXAFS300+），成功的揭示了不同含量Ti4+替代对材料中Ti元素和Mn元素的价态影响，进一步验证了高价Ti离子替代策略背后的作用机理及对电化学性能的影响。图1. (a) 不同Ti含量样品的Ti k edge XANES对比谱图（b）XANES放大图谱（c）不同Ti含量样品的Mn k edge XANES对比谱图（d）XANES放大图谱测试数据1、XAFS300/XAFS300+(a, b)金属Ni箔的EXAFS(扩展边X射线吸收精细结构谱) 图及相应的R空间傅里叶转换以及与同步辐射光源数据比较；(c, d) 不同Ce和U元素的化合物的L3的XANES（近边X射线吸收结构谱图）及其与同步辐射光源数据比较2、XES150■ XES Mode ■ XAFS Mode XAFS for 3d-transition metalseasyXAFS硬x射线能谱仪具有宽的能量范围，可以测量从Ti到Zn的所有三维过渡金属的高质量XANES和EXAFS。这些元素在从电池到催化、环境修复等现代研究的关键领域至关重要。Fe\Mn\Ni\Co\Cu XANES & XES Kβ data用easyXAFS300+测量了Fe\Mn\Ni\Co\Cu XANES 谱图及 Fe XES Kβ数据，分别提供元素价态及自旋态的数据支撑。Adv. Func. Mater. 2022, 2202372。Cu EXAFSeasyXAFS光谱仪探测了Cu K-edge X射线近边吸收谱（XANES）。实现材料元素价态及配位结构的解析对MOFs材料的性能及机理研究尤为重要。Ni EXAFSeasyXAFS硬x射线光谱仪拥有与同步加速器匹配的高能量分辨率。实现对Ni近边区XANES和扩展边区EXAFS的高质量数据采集。J. Mater. Chem. A, 2021, 9, 14432–14443Fe EXAFS高性能Fe K-edge 扩展边到k = 14 ?，样品为Fe金属箔。EXAFS提供了对局部结构和配位环境的数据测量。NMC Ni K-edge高性能NMC 442和NMC 811电池电的Ni K-edge XANES谱图。Ni K-edge位置的变化反映了不同NMC组成导致Ni氧化态的变化。J. Electrochem. Soc., 2021, 168, 050532Co K-edge Rapid XANESeasyXAFS硬x射线光谱仪能够与同步加速器匹配的能量分辨率高质量的数据收集。优异的性能可以在几分钟内实现。这使得在短时间内收集大数据集以及实时跟踪反应过程成为可能。Pr L3-edge XANESPr2O3和Pr6O11的L3边XANES数据表明对Pr氧化状态变化的敏感性。用easyXAFS300光谱仪测量。V XANES利用台式X射线吸收精细结构谱仪获得了V k边的边前及近边结构谱图，揭示了引入Al3+后，VOH的结构变化及充放电过程中的有利作用。Nano Energy, 2020, 70, 104519Cr Kα XES用easyXAFS光谱仪测量了不同氧化态的Cr Kα X射线，兼具高能量分辨率及X射线荧光的高灵敏度。Anal. Chem. 2018, 90, 11, 6587–6593V EXAFSV K-edge EXAFS显示了easyXAFS谱仪与同步辐射光源相匹配的高k值下的优异表现。Fe Oxide XANES data用easyx150光谱仪测量Fe和Fe(III) [Fe2O3]的Fe K-edge，利用XANES对氧化态差异进行表征。Ti\Mn XANES dataeasyXAFS谱仪获取Ti元素和Mn元素的价态变化，进一步验证了高价Ti离子和部分F离子替代后策略背后的作用机理。Chem. Mater. 2021, 33, 21, 8235–824Mn&Fe EXAFSeasyXAFS谱仪获取Ti元素和Mn元素的XANES和EXAFS谱图，解析化学价态及局部配位结构。Adv. Func. Mater. 2022, 2202372Fe oxide XES(low weight %)Fe Kβ 光谱测量浓度低至0.25 wt. %，测量时间仅为4分钟。X射线发射谱XES非常适合于低元素浓度。XES-Se VTC 在easyXES150光谱仪上对金属Se和Na2SeO4的价带→核心的XES测量。12639 eV处出现的附加峰反映了Na2SeO4中硒价电子的价电子结构的变化，这可能是由于与氧的轨道混合所致。XES- Ni VTC用easyXAFS光谱仪测量了不同化合物的Ni Kβ XES，在高能量分辨率下，显示了对X射线荧光的灵敏度。Adv. Mater. 2021, 2101259发表文章超过50+SCI论文通过使用台式XAFS/XES发表

双能X射线吸收测量法是WHO认定的骨质疏松检测金标准。KDX8000型双能X射线骨密度仪是南京科进推出的一款用于通过 X 射线来测量人体前臂的骨密度检测设备，对人体辐射量小，符合放射防护要求。其操作简单，测量速度快，检测结果准确度高，重复性好，自动分析检测结果。可用于检查骨质疏松，评估骨折风险及中长期骨质监测。　　双能X射线骨密度仪KDX8000型适用科室：　　内分泌科、体检科、骨科、康复科、放射科、老年病科　　双能X射线骨密度仪KDX8000型功能特点：　　采用中国人数据库　　高频小焦点光源技术　　内置数字高清摄像头　　高灵敏度数字探测器　　自研算法，准确度高　　前臂定位，人工/自动勾边　　双能X射线骨密度仪KDX8000型产品优势：　　1、整机一体化设计，方便移动，符合人体工学，摆位方便 　　2、数字化图像采集，采用图像增强算法，减少图像清晰度损耗带来的误差 　　3、锥形束扫描，面成像技术，成像速度快，图像灰度值均匀度好 　　4、自动/手动识别感兴趣区，辅助准确定位 　　5、含专利定位装置(专利号：ZL 2020 2 0588523.3)，增加对手臂固定的稳定性，提高检测值稳定性 　　6、全封闭式铅防护，达到国家职业卫生标准要求，不需要专业屏蔽室　　医疗器械名称：双能X射线骨密度仪　　医疗器械生产企业名称：南京科进实业有限公司　　医疗器械注册证号/产品技术要求编号：苏械注准20232060638　　医疗器械广告批准文号：苏械广审(文)第251221-11436号　　忠告语：请仔细阅读产品说明书或者在医务人员的指导下购买和使用，禁忌内容或者注意事项详见说明书本文转自双能X射线骨密度仪http://www.sngmd.cn

产品简介首台一体化桌面NEXAFS系统不在需要申请和等待同步辐射机时用于地质、生物、材料研究的化学态分析同步辐射级的光谱质量proXAS是一台实验室级别NEXAFS测量的系统。 现在可以在科研人员自己的实验室进行获得快速，准确的元素指纹分析。 它结合了高度可靠的激光驱动等离子体XUV光源和定制的具有1900极高分辨能力的光谱仪。200-1200eV的能量范围允许分析C，N，O，Ca，Ti等元素边。主要参数光源无碎片的激光驱动 XUV 光源能量范围200-1200eV / 1-6nm重复频率25Hz光源功率稳定性±1.5%光谱仪像差校正平场光谱仪分辨率1500样品安装多样品转轮占地面积1.5m x 1.0m软件套件集成系统控制，各种光谱校准和分析功能主要应用l 表面科学l 地球化学中的化学状态分析l 电子结构与氧化态分析测量结果左图是用桌面系统测试200nm聚酰亚胺薄膜的碳K边NEXAFS光谱（60发脉冲平均值）。右图为桌面系统测试结果与同步辐射测试结果的对比。(data courtesy of Dr. K. Mann, IFNANO)

产品简介单次测量能谱可覆盖2到4kev用于在线光束表征的背散射模式研究材料样品的X射线发射谱能量分辨率为0.3eV设备结构紧凑且可移动TXS光谱仪可对HHG光束线，X射线自由电子激光和台式X射线激光进行准确的光诊断。单次测量能谱可覆盖2到4kev。在具有高效率背向散射的von Hamos光路几何中，对于光束的在线表征，可实现对X射线光谱的指纹识别。 透射光束保持 90％的透射率，可使进一步的实验不受透射光强的影响。通过简单地将背散射探针与材料样品交换，hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱（XES）。 中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 TXS光谱仪的定制设计需求是可讨论的。硫的K边X射线吸收谱 (XAS)中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 hardLIGHT: 通过高透射率散射探针和发射光谱进行无干扰在线光束诊断规格参数Topology/类型von Hamos能量范围2-4keV光源距离可根据用户实际光路灵活调整探测器类型CCD/MCP/CMOS/或根据需要混搭 真空兼容度10-6mbar (UHV version available)晶体定位闭环电控台滤光片插入单元可选数据接口USB 或 Ethernet软件Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK定制能力可根据需求定制应用 高次谐波光源的光子诊断，x射线自由电子激光，桌面x射线激光原位X射线发射谱测量

二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720基本介绍岛津EDX-720Ｘ射线荧光分析装置是使用Ｘ射线照射样品，对产生的荧光Ｘ射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。特别是最近，以欧盟的报废电子电气设备指令（WEEE）、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令（RoHS）、报废汽车指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法规为代表的绿色采购及环境分析之中，要求更为微量、更为迅速的分析。为满足这种需求，畅销全球的EDX-720系列达到了更高的灵敏度与精度。二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720基本参数1.分析元素：11Na-92U（EDX-720），可以准确检测ROHS指令以外其它元素。2.样品型状：最大 300mmФ×150mmH ,可以满足样品的不规则性。3. X射线滤镜：5种自动交换，可以消除背景元素干扰，使仪器分析精度高于其它仪器。4.能量分辨率：Si/Li检测器，145eV.5.检测下限：Cd:1.7ppm Pb:2ppm Cr:2ppm Br:2ppm Hg:2ppm.满足ROHS 指令和索尼STM-0083标准。6.软件： 定性分析-测定/解析软件。 定量分析-工作曲线法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法固体、粉末、液体样品都不需要前处理的非破坏性的简便分析。适用快速评价RoHS、 ELV法规限制的有害元素的新装置！灵敏度比以往机型提高2倍，使用更方便，提高了筛选分析的效率！ EDX-720二手岛津X射线荧光光谱仪EDX-720主要特点：1、配置新型滤光片，提高Pb、Cd等的灵敏度提高2倍。2、配置高计数率电路，增加检测器的计数量。3、增加时间缩短功能，由荧光X射线强度算出测定精度，自动判断所需最少测定时间。4、增加自动工作曲线选择功能，依据识别样品种类的不同而选择最适宜的工作曲线。

XAFS/XES应用核心优势l最高光通量产品 光子通量高于1000000光子/秒/ev，采谱效率数倍于其他产品；获得和同步辐射一样的数据质量l优异的稳定性 光源单色光强度稳定性优于0.1%，重复采集能量漂移50meVl1%探测极限高光通量、优异的光路优化和极好的光源稳定性确保所测元素含量1%时依旧获得高质量EXAFS数据测试数据Co Foil K-edge EXAFS数据，数据质量与同步辐射光源一致Fe样品Kβ发射谱数据：core to core XES 和 valence to core XES l低浓度实际样品数据lFoil EXAFS数据 l可测元素：绿色部分可测K边，黄色部分可测L边 扫描关注公众号

布鲁克S8 XRFX射线荧光光谱仪的详细资料 自上世纪60年代德国西门子推出全封闭型的X射线荧光光谱仪（XRF）以来，已经有50多年的商业化进程。布鲁克AXS公司（前身是德国西门子公司的X射线分析仪器部）一直坚持专业化的道路，领导着X射线分析技术发展的潮流。根据新的技术和对用户需求的深入了解，围绕分析测试任务的核心整体设计仪器和功能。2008年布鲁克成功推出S8 TIGER，在灵敏度、准确度、精密度、安全性、可靠性、操作简便性、分析速度、功能完备的分析软件等方面，把XRF分析技术又一次推向了全新的历史阶段。 2017年，第二代S8 TIGER成功推出，采用HighSenseTM技术，保证从铍（4Be）到镅（95Am）的所有元素提供高灵敏度。HighSense技术包括紧凑的HighSense光路、HighSense X射线发生器、HighSense X射线管、HighSense XS系列分光晶体、HighSense计数电子元件。凭借HighSense技术、高分辨率WDXRF技术以及对轻、中、重元素的检测，第二代S8 TIGER的XRF2 微区分析系统可提供高灵敏度、300μm的小光斑尺寸以及高的空间分辨率。 一、高灵敏度、高准确度及高精密度紧凑的HighSense光路HighSense光路，阳极—样品—探测器之间距离短，信号损失少，保证了高灵敏度HighSense高稳定性固态发生器采用新技术模块化设计的固态发生器，稳定性优于±0.00005%，可靠性好。S8 TIGER 1kW，激发电流50mA，激发电压50kV，同级别中强度高。配有内部水冷机，不需要外部水冷机，插上电源就可以使用。S8 TIGER 3kW，激发电流150mA，激发电压60kV，强度上堪比传统的4kW荧光仪。S8 TIGER 4kW，激发电流170mA，激发电压60kV，市场上好的荧光仪。HighSense低温X射线光管HighSense超尖锐端窗陶瓷光管，设计功率4200W，设计电压75kV，设计电流200mA。独特的双路水冷系统，除阳极冷却外，光管头部增加特殊冷却回路，避免光管头部热量对样品的影响，提高易挥发元素及低熔点样品测量的稳定性。提高了分析液体样品、低熔点样品的安全性。此外在阴极与铍窗之间增加隔板，避免蒸镀现象，光管强度不衰减。标配75 μm铍窗，HighSense光管50μm铍窗，强度提高15%，HighSense光管28μm铍窗，超轻元素强度提高50%。HighSense光管铍窗上有保护性涂层，耐腐蚀。高灵敏度、高稳定性的分光晶体HighSense系列人工合成晶体，大大提高了轻元素的检测能力，其中：XS-B晶体提高B元素分析灵敏度百分之百；XS-N晶体提高N元素分析灵敏度百分之百；XS-C显著地降低了背景，提高信噪比30%；XS-55晶体对O、F、Na、Mg元素的灵敏度也比常规的晶体提高了10%以上；XS-400晶体与LiF200晶体覆盖的元素完全相同，但是灵敏度提高了35%；XS-CEM人工多层膜晶体，测量Al—S间元素具有无以匹敌的长期稳定性，没有PET晶体的潮解现象，没有PET晶体随着时间的推移强度降低的现象，没有其它天然晶体的温度效应。是水泥、玻璃、矿物、采矿、地质、铝业等领域测量主含量Al、Si的晶体；XS-Ge-C锗弯晶提高P灵敏度40%，提高S灵敏度20%以上；XS-PET-C弯晶提高Al的灵敏度20%。HighSenseTM探测器技术及动态匹配TM功能 HighSenseTM流气正比计数器和闪烁计数器，极快的死时间校正，即刻显示PHA扫描图，数字信号传输，线性范围高达4Mcps（线性偏差≤1%）。动态匹配TM功能，软件自动降低电流，使高含量元素的计数不超过探测器的物理限制，测量更准确，低含量元素自动在满功率条件下测量，使痕量元素也能准确地测量。采用动态匹配功能探测器的高计数率可以达到13Mcps。动态匹配功能可以采用相同的谱线分析样品中从ppm到百分之百含量范围的成份。 HighSense高效的微区分析系统XRF2 借助HighSenseTM技术，第二代S8 TIGER能针对小到0.3mm并可选1.25mm的微小区域开展高灵敏度的元素定性、定量、无标样定量及元素分布分析，步长0.1mm。轻元素采用正比探测器，重元素采用闪烁探测器，灵敏度提高10倍，实现了同级别仪器里真正的微区分析。此外，高清摄像头能够对感兴趣区域拍摄图片，保证微区分析的针对性和重现性。 高透光性的真空封挡在测量液体和松散粉末样品时，程序控制的真空封档将样品室和光谱室分开，允许在固体和液体样品的分析之间快速地切换。由于只有很小的样品室充氦气（氮气），真空封挡显著地降低气体消耗量，同时探测器的稳定性更高，结果的精密度更好。在测量过程中，独特的真空封挡也可以在液体样品泄漏或有粉尘样品时保护光谱室，防止被污染。真空封挡是S8 TIGER的样品保护TM包的一部分。高精度光学定位测角仪采用高精度光学定位测角仪，定位精度高，测角仪直接到达预设角度，快速连续前进，无需反复调整，长期运行没有磨损。角度准确度优于±0.001°，角度重现性优于±0.0001°,扫描速度1200°/分钟，转角速度4800°/分钟。变动理论α系数法采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数，从而进行全面的集成的基体效应校正，这就是变动理论α系数法。其显著的优点是：需要的标样量少、校正系数更可靠、校准曲线可以适当延伸、操作方便、不需要很多的经验来选择影响元素、对于大的材料范围和很宽的浓度范围都可以得到可靠的结果。同时兼容固定理论α系数法、经验α系数法基体效应校正，三种校正模式也可以混合使用。对于固定理论α系数法、变动理论α系数法、经验系数法及混合校正方法只需一个用户界面解决所有问题，非常易于使用。未知烧失量校正对于烧失量或烧增量很大的样品，通常的做法是将样品预先灼烧，然后根据烧失量进行反算或将烧失量输入到基体校正公式进行校正，分析全铁的时候还有用钴做内标的。布鲁克未知烧失量校正功能不用测量烧失量，软件会根据其它分析成分估算一个LOI，然后经过多次迭代和拟合，无需知道烧失量也可以进行准确的烧失量校正，大大地提高了分析速度也节约了分析成本。角度偏移校正校正价态、矿源差异等引起的峰位位移，测量结果更准确。独有技术几何校正通过直径–厚度–密度、直径–厚度–质量或直径–质量–密度三种样品制备选项对未达到X射线穿透饱和深度的样品进行几何校正，从而得到更准确的测量结果。独有技术制样校正软件对用熔融制样或粉末样需加粘合剂的制样方法，采用任意配比、随意称量、准确输入的方法，称样误差小，称样速度快，不同的制样方法可以共用同一工作曲线。独有技术P10气体密度稳定器在P10气体钢瓶与流气正比计数器之间安装有气体密度稳定器，使探测器里的气体密度始终保持恒定，保证测量结果精密度更高。流气计数器采用数字式压力控制，控制更精密。高稳定性的光谱室光谱室温度稳定性优于±0.05℃，避免了温度变化引起分光晶体的面间距变化，从而引起被测量元素光子衍射角度的变化。采用真空度控制测量对于固体样品，采用真空度控制测量，只有达到预设的真空度才开始测量，避免了吸潮样品在测试阶段真空度的不一致引起强度计数的差异。 二、高安全性、高可靠性 样品保护™ 功能，四重保护，保证仪器长期可靠运行在样品进入和退出样品室时采取独特的保护，使仪器的故障率低，维护成本少两个污染防护屏，分别保护光管和光谱室粉尘接收盘，收集掉落下来的样品颗粒 测量过程中的独特保护 光管保护屏DuraBeryllium™ 高强度铍窗，保护光管窗口 独特的高透光性真空封挡保护光谱室原位进样系统S8 TIGER采用了直接进样技术，即样品直接装入到仪器的测量位，保证样品到光管的距离不会变化。采用这种直接进样方法的样品室可以设计得很紧凑，又保证了抽真空和充氦气的快速可靠。传统的光谱仪使用样品转台系统来进样，转台上的2个位置经常会出现位置不准的问题，光管到样品的距离的细微变化都会降低分析精度，这时就需要维修，或放弃样品转台的第二个位置。同时这种设计不可避免地扩大了样品室的 体积，增加了进样机械装置的复杂性和保养维护难度。直接进样系统在进样和出样过程中，光管的高压关闭，是完全没有X射线的。在执行这些操作时，光管的灯丝加热电流一直是通的，维持光管的稳定性。1.直接进样代替分步进样，机械结构简单，零故障。2.避免样品在仪器内部过多的运动，避免粉尘积聚、 液体侧翻的风险。3.清洗样品室简单，不需要打开仪器，易于维护。 4.进样速度快。 等级密码保护功能对不同的人给予不同的用户许可权，对曲线参数、数据库、谱线库、仪器参数等加以保护。??双计算机控制系统。日常的分析采用触摸屏控制，保证操作简单而无失误，即使在恶劣的环境中仪器也能正常工作。对于应用开发、校正曲线回归、扩展评估等，通过另外一台计算机完成。两台计算机都可以完成日常分析控制，即使一台出现问题，也不影响测量工作全新设计的安全回路电路板全新设计的探测器、多道分析器、安全回路电路板、马达驱动板、4轴板等，仪器的运行更可靠。防尘设计防尘设计机柜，仪器整体密封，箱体内采用循环水冷却，避免了风冷容易在电路板上带来粉尘的缺点，仪器内部恒久保持洁净，可以在任何恶劣的环境下长期正常工作。产品认证经过德国第三方检测机构对技术指标、辐射保护、电器安全的严格测试，符合德国DIN54113射线防护和CE电器安全等“产品认证”，是德国政府核准的定型仪器。 三、操作简单 触屏控制™ 1. 直观的触摸屏，操作简单，无需 培训，仅需三步就可以得到准确的结果.2.实时显示及查找以前测试结果3.S8 TIGER实时状态显示4.在线帮助功能5.中文操作软件，在线的多语言界面自由切换快速的符合人体工程学的样品装载1.75位带有托盘的自动进样器，可识别样品类型2.60位大样品杯进样器，适合各种类型及形状样品3.108位不用样品杯进样器，机械手直接吸取样品 四、非常快的分析速度非常快的分析速度基于：高强度的X射线光管、快速运行的电子电路板、快速的内部通讯在保证分析精度的前提下，根据元素的含量不同，每个元素的测量时间在2-10秒钟。例如水泥样品中10个元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、MnO2、Fe2O3)，从放入样品到显示结果不超过2分钟，分析速度完全可以和多通道荧光仪相媲美，而分析的灵活性和高准确度是多通道荧光仪所不具备的。 五、功能完备的分析软件SPECTRAplus V4定性、定量分析软件 SPECTRAplus V4是专为第二代S8 TIGER研发的功能强大的现代分析软件。SPECTRAplus V4包括了定性、定量分析的所有功能，运行在Windows 10环境。SPECTRAplus V4为简单、快速的操作而特别开发的，支持第二代S8 TIGER的独特的TouchControlTM触屏控制的全部功能。 SPECTRAplus V4支持网络功能，用网络中的任何计算机都可以实现全部的分析功能，如分析曲线开发、无标样评估、数据报表。网络计算机的数量没有限制。 SPECTRAplus V4定性分析软件具有交互及自动寻峰以及元素识别功能、自动背景扣除与平滑、高分辨显示样品谱图、坐标轴变换、自动提醒干扰谱线等功能。 SPECTRAplus V4定量分析软件具有集成的智能专家系统，确保用户充分利用S8 TIGER的分析性能创建用户自己特殊应用。分析曲线的自动导航功能从材料的定义到结果的输出，引导用户一步步完成，从开始就可以完成高质量的分析。可以灵活的输入制样参数及任何可用的化学信息。采用基本参数法进行完全一体化的基体校正（变动“理论α系数法”，计算每一个样品的校正系数），也可以采用理论系数法与经验系数法相结合的固定α系数法进行强度及强度/浓度混合模式的基体校正。用图形显示测量强度、校正强度及背景强度。用户可以指定结果输出格式，非常容易地编辑成报告格式。分析结果超出警戒线会自动显示与报警。全局或指定漂移校正功能。“Daily-Check-Routine”程序定期检查仪器，满足GLP要求。在线统计分析。 SPECTRAplus V4完全汉化，所有程序全部有中文界面、中文提示。并且版本可以保持与英文版同时升级，可以随时切换成中文、英文、法文等界面。 QUANT EXPRESSTM无标样软件包 QUANT EXPRESSTM允许在没有标准曲线的情况下对完全未知的样品进行自动分析。 QUANT EXPRESSTM提供了无以匹敌的分析灵活性。可以在2分钟之内采用扫描模式进行无标样分析，也可以对痕量级的元素进行准确测定。根据用户的需求，QUANT EXPRESSTM可以提供用于交互评估的扫描测量模式，也可以提供峰/背比测量模式。 QUANT EXPRESSTM是一体化分析智能的一部分。可以执行自动寻峰、元素与谱峰的识别、微区定性的元素分布及每一个单点的元素浓度显示、经背景与谱线重叠校正之后净强度的测定等。SPECTRAplus V4软件中独有的强大的变动α系数法基体校正功能，自动执行基体校正及不同类型样品（薄膜、无限厚或非无限厚样品）的校正。用户输入的样品的特性、已知元素的浓度和基体成分都可以集成到一起，进一步提高分析结果的准确度。 QUANT EXPRESSTM可以完全用于用户特定的标准曲线中，采用变动α系数法测定没有标样的元素。它是SPECTRAplus V4集成部分，作为专家系统提供任何应用的谱线设置。S8 TOOLS诊断、维护和服务软件独特的诊断、维护和服务软件包，允许直接控制和检查S8 TIGER的所有部件，确保仪器的控制和分析非常容易。操作过程中的故障很容易识别和消除，确保操作简单、维护方便及长时间正常运行。运行在Windows界面下的自诊断软件，非常直观，可以全面监测系统的几百种状态，您可以将整个状态存盘，发送给维修人员，从而可有效降低维修费用，缩短维修时间。 WebeX远程服务-维护-支持软件允许Bruker AXS专家通过网络进行远程支持，使第二代S8 TIGER达到好的可用性。专业解决方案软件包◆ML PLUS多层膜分析软件：采用先进的完全基本参数法，具有吸收法和发射法两种分析模式；薄层分析采用发射法，厚层分析采用吸收法（准确度更高）。可分析多达15层（每层16个元素）的镀膜样品，测定每层膜的厚度和元素含量。◆PETRO-QUANT软件，可以对油品、塑料、橡胶、聚合物等样品中的30个元素进行优化的无标样定量分析，以及预定义的EN、ISO、ASTM、DIN分析油品的方法和预校准分析曲线。为用户提供交钥匙方案，仪器安装后可以按照国际标准方法立刻进行常规分析。◆GEO-QUANT ADVANCED氧化物分析软件，是地质、矿物、采矿、耐火材料、玻璃与陶瓷业的解决方案，采用熔片法制样，可以分析氧化物中21个主、次元素。◆GEO-QUANT T软件，基于数百个国际参考样品建立的校准曲线，测量地质样品中微量、痕量元素，是地质方面的研究、监测、环保等全面解决方案。◆CEMENT-QUANT软件，采用国际标样建立的水泥工业完整的解决方案，可用于生料、水泥、熟料及采石厂来料中14个元素快速、简单、精密的定量分析。◆METAL-QUANT软件，金属材料的解决方案，可以分析铁基、钴基、镍基、铜基、铅基、锡基中23个主、次及痕量元素。◆POLMER-QUANT软件，用于分析聚合物中的微量和痕量成分。◆GEO-QUANT Iron Ore软件，可以分析铁矿石、铁精矿、球团矿、烧结矿等含铁矿物中20个主、次及痕量元素。

硬X射线发射谱（X-ray Emission Spectroscopy, XES）是一种重要的分析技术，主要用于研究材料的电子结构和化学性质。硬X射线具有较高的能量，能够深入样品内部，使XES成为探测材料深层信息的强有力工具。XES的主要应用领域包括： 化学状态分析：XES能够提供关于样品中元素化学状态的直接信息，如氧化态和配位环境，这对于理解材料的化学性质和反应机制至关重要。材料科学：在新材料的开发和研究中，XES被用来分析材料的电子结构、能带结构和价带信息，这些信息对于优化材料的电学和光学性能非常重要。催化剂研究：XES技术能够在原子级别上探测催化剂的活性位点及其电子环境，为设计更高效的催化剂提供了可能。环境科学：通过分析环境样品（如土壤、水体和大气颗粒）中污染物的化学状态，XES有助于理解污染物的来源、迁移和转化过程。能源材料研究：在研究电池、燃料电池和太阳能材料的电子结构和工作机制时，XES提供了关键的电子层面信息，对优化这些能源转换和存储设备的性能具有重要意义。生物医学领域：XES用于研究生物分子（如蛋白质和酶）中金属离子的配位环境，这对于理解生物分子的功能和设计药物具有重要作用。地球科学：在地球和行星科学研究中，XES可以分析矿物和岩石样本，揭示其成分和形成过程中的环境条件。 硬X射线发射谱(XES)技术因其提供的独特的元素和化学状态信息，在科学研究和工业应用中发挥着越来越重要的作用，特别是在无法直接使用其他技术探测样品深层或微量元素的情况下。随着测量技术的进步，XES预计将在未来在更多领域中找到应用。仪器原理仪器参数探测能量范围：5～15 keV可测3d元素K边、5d过渡金属L边、以及锕系元素L边荧光峰；电子空穴效率：≥1×1011；能量分辨率：≤1.5 eV@Cu Ka；检测限：≤0.1%wt；重复性：重复扫描能量偏移50meV；氦气腔体，减少X射线空气吸收；高纯度Si或者Ge晶体单色器，保证全能区能量分辨率；配置原位池系统，可以设计各种模块化的原位测试系统，高温低温、多相催化、电催化等各种原位测试系统集成，可实现模块化切换；包含数据处理系统，采集过程中发射谱数据自动输出，无需额外切换。参考数据

PI的X射线相机使用科学级，二维CCD探测阵列。每一个产品都融入了超低噪声电子电路，多读出口，多增益等非常优秀的工艺。高速读出的速度可以方便准直，聚焦，高速采集等操作；低速读出有利于低噪声精准的数据采集。 多增益可以在低噪声的同时提升图像的信噪比。我们的X射线相机具备16位的数模转换电路，工业标准的接口，方便搭建实践平台和OEM扩展。 PIXIS-XO 软X射线相机适用于紫外，深紫外的X射线相机高敏感度，热电制冷的PIXIS-XO相机有多款不同的深耗尽式和背照式CCD芯片，用于直接探测 ~30 eV and ~20 KeV 能量范围的X射线。 可旋转型的ConFlat 法兰的高真空设计，可软件选择的增益和读出速度，使得这款相机非常适合各种高真空的应用。 软X射线相机" height="210" src="https://img1.17img.cn/17img/images/202407/uepic/3d35cd72-7b7e-4506-a694-e298fa19232e.jpg" width="188" style="border:0px vertical-align:middle max-width:100% height:auto !important " PIXIS-XO具有以下优点:&bull 多样的芯片选择（1340 x 100 to 2048 x 2048 pixel arrays 13 x 13 µ m to 20 x 20 µ m pixel sizes）&bull 可探测范围：30 eV to ~20 keV&bull 可旋转的CF法兰接口&bull 灵活的双读出放大器&bull 高速USB2.0接口&bull LightField可实现全面的控制 产品综述探测到更多的X射线光子! PIXIS-XO相机致力于提供非常高的直接探测性能，广泛用于X射线谱仪，X射线成像，X射线显微镜，X射线等离子诊断，深紫外刻蚀技术。 伴随着众多可选的CCD格式，100%覆盖率，低噪声电子电路，-70℃ 到 -90℃的热电制冷等，PIXIS-XO为用户提供了方便快捷的实验操作和OEM条件。 产品特点可探测范围：30 eV to ~20 keV适合各类应用 高速USB2.0数据接口:任何电脑直接连接，无需额外硬件即插即用真正的16位数据传输能力，最高可达2MHz读出速度 可旋转的CF法兰盘: 方便准直X射线光路，提高成像和成谱质量。灵活的双读出放大器:灵活设置，优化实验高敏度ADC提供最低的读出噪声大容量ADC提供最高的动态范围最好的线性度 LightField的64-位操作平台:直观易上手的用户界面设计自动背景扣除，平场纠正和误差检测PICAM（64）位通用程序语言，方便的程序修改与编译 型号规格PIXIS-XO Direct Detection X-Ray相机型号比较和数据表型号像素像素尺寸传感器型号100B 1340 x 10020 x 20 μm背照式100BR 1340 x 10020 x 20 μm背照式, 深度耗尽400B 1340 x 40020 x 20 μm背照式400BR 1340 x 40020 x 20 μm背照式, 深度耗尽1024B 1024 x 102413 x 13 μm背照式1024BR 1024 x 102413 x 13 μm背照式, 深度耗尽1300B 1340 x 130020 x 20 μm背照式2KB 2048 x 51213.5 x 13.5 μm背照式2048B 2048 x 204813.5 x 13.5 μm背照式PIXIS-XO 直接探测型相机的量子效率* 有关各型号中可用的 CCD 类型，请参阅数据表。 产品应用1.X 射线等离子体诊断学热等离子体和高密度等离子体在基础物理学研究中具有重大意义，因为它们会产生许多有趣的现象。 2.软 X 射线显微镜软 X 射线显微镜用于成像和研究生物样本等的元素组成和结构。 3.超紫外线光刻技术超紫外线光刻技术保留了传统光学光刻工艺的外观和感觉（即使用 13.5 纳米波长），并使用相同的基本设计工具，因此越来越受欢迎。 4.X 射线光谱法X 射线吸收光谱是对材料中元素局部结构的一种特定元素探测。

K-8000手持式合金分析仪 X射线荧光光谱仪 / 不锈钢合金分析仪 / 手持式合金测试仪 / 手持式铝合金检测仪 / 手持式金属检测仪 / 手持式X荧光分析仪 / 手持式金属元素分析仪 / 手持式钢材钢板合金分析仪 / 手持式合金钢分析仪 / 手持式合金分析光谱仪 / 国产手持式光谱仪厂家 / 国产手持式合金分析仪厂家仪器设计特点：1、散热性好：超过2/3的机体采用铝合金外壳设计，仪器顶部有的槽式散热装置，整个体系使散热非常有效，延长机器寿命, X射线分析仪工作更加更稳定，从而故障率极低。2、操作简单：仪器设计理念为简单经济原则，硬件方面采用固定高压、免去内部复杂电机和滤光片、外置316校准片等简单设计；软件采用傻瓜式操作界面。真正让客户用最少的成本获得更多的收益。轻轻3次屏幕点击即可做到45秒开机测试、0.8秒出牌号与含量；3、人性化设计：质量轻（1.6kg) 体积小（220mm*150mm*220) 坚固耐用防摔手腕绳；仪器底部电池电量反馈灯；顶部与底部辐射警告闪烁灯；菱形纹路软胶手柄；仪器具有很好的平衡性，在测试时能立于工作台上，无需手扶，一键式按钮设计，即使长时间操作也无疲劳感；显示屏做到整机一体化设计，整机连体构造，PDA不可拆卸,可防尘,防雾,防水,故障低工业级高分辨率TFT触摸显示彩屏。4、测试数据精准：仪器软件采用成熟先进FP基本参数法，在分析合金前不需要预先知道合金种类，实现全自动分析标准库中有500多种标准牌号，能分析的合金高达万种，用户可自定义300种；不规则或小型样品的补偿性测试方法能检测很小或很少的样品,如直径为0.04mm的细丝也能立即辨认；产品参数：重量净重1.50kg,上电池后1.65kg尺寸250mm*75mm*270mm(长*宽*高)激发源微型X射线光管与高压电源一体化装置标配:35KV固定高压、钨靶X射线光管、铝滤光片、无电机标配:50KV可变高压、铑靶X射线光管、6组滤光片、瑞士电机检测器标配:SI-PIN检测器(6mm2)，分辨率s190ev选配:SDD检测器(25mm² ) 分辨率≤129ev仪器电源可充电锂电池(7.2V\6600mAh) 标配2个电池1个充电器标准片KMX 316不锈钢校准片数据存储32GB大容量数据存储卡，可存储8万组数据及光谱图数据传输Type-C数据传输测试报告客户自定义格式EXCEL测试报表分析软件K-MAX Ally plus6.0,免费升级迭代软件仪器操作与安全仪器操作与安全操作:无需选择测试曲线开机即可测，一触式“扳机”或点击触摸屏“开始/停止” 安全:“一键式”检测,软件自动定时锁、自动停止测试功能 仪器外壳采用大面积铝合金框架设计，更好地屏蔽X射线辐射.分析元素范围标配Si-PIN探测器:(29种元素)钛 (Ti)、钒 (V)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁(Fe)、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、铪(Hf)、钽(Ta)、钨 (W)、铅(Pb)、铋(Bi)、锆(Zr)、铌(Nb)、钼 (Mo)、镉(cd)、锡 (Sn)、锑(Sb)、铼（Re)、铟 (In)、金 (Au)、银（Ag ）、铂(Pt)、钯(Pd)、钌(Ru)、铑 (Rh)、铱 (lr) 元素 选配SDD探测器:(34种元素)分析元素范围镁(Mg)、铝 (Al)、硅(Si)、硫(S)、磷 (P)、钛(Ti)、钒 (V)、铬(Cr)、锰(Mn)、铁 (Fe) 、钴(Co)、镍(Ni)、铜(Cu)、锌(Zn)、铪(Hf) 、钽(Ta)、钨(W)、铅(Pb)、铋 (Bi)、锆(Zr)、铌(Nb)、钼(Mo)、镉(Cd)、锡 (Sn)、锑(Sb)、铼 (Re)、铟 (ln)、金(Au)、银(Ag)、铂(Pt) 、钯(Pd)、钌(Ru)、铑(Rh) 、铱 (lr)元素

S4 TStar — TXRF的明星 数十年来，X 射线荧光（XRF）光谱法在多个行业中被广泛用于对固体和石油化工样品进行元素分析，检测限值低于PPb 量级。TXRF 扩展了XRF 的应用范围，可以分析液体样品、悬浮液和膜片中的超微量元素。因此，TXRF 成为原子吸收光谱法（AAS）以及电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）或质谱法（ICP-MS）的理想的替代性方法。现在，S4 TStar 在台式TXRF 光谱仪的性能、自控和质量方面开创了新的标准。优异的样品通用性S4 TStar 是一种通用性很强的工具，可以分析不同反射载体上的多种类型的样品。它的样品通用性优于ICP。ICP 只能分析完全溶解的液体样品。图一：30 毫米石英片：对液体、固体和悬浮液进行元素分析图二：2 英寸晶片：污染分析、深度剖析和材料科学研究图三：显微镜载玻片：临床和生物学样品，直接分析细胞培养物、涂片和切片图四：矩形载体：尺寸小于54 毫米，用于膜片、滤片、纳米颗粒层 定制的反射介质 行业应用： 药品检测活性药物成分中的催化元素：液体或丸粒中的铅含量小于0.1 / 0.5ppm 食品粮农组织和世卫组织的食品*标准：大米中的砷含量小于10 / 40ppb。 环境监测环境监测：地表水，废水、污泥和核废液中的污染物含量小于1 / 10ppb。

仪器简介：识别和量化自然及人为有色溶解有机质(Colored Dissolved Organic Matter，CDOM)的组成部分，是了解水质的关键。准确测定CDOM需要收集样品的三维荧光和吸收光谱。为此，HORIBA Scientific推出可同时测定吸光光谱和荧光光谱（三维荧光）的Aqualog光谱仪，用于快速检测CDOM。Aqualog三维荧光光谱仪的特点包括：扫描速度快；高灵敏度；耦合于origin的专用荧光软件自动溯源硫酸奎宁校准、修正内滤效应以及瑞利和拉曼散射线，并且可以将矩阵数据方便的用于多变量分析，例如，平行因子分析(PARAFAC)。Aqualog三维荧光光谱仪包括：150W无臭氧氙气灯，双光栅激发单色器，用于采集吸收光谱的光电二极管和快速采集发射光谱的TE致冷CCD，还可以配置光纤附件、液相流通池附件、电磁搅拌控温样品架附件、液氮杜瓦瓶和固体样品架附件等，从而实现不同用户的特殊需求。Aqualog操作简便，软件功能强大以及NIST全套性能的验证测试，使得Aqualog成为水质研究的便捷工具。 主要特点：1、同时测定吸收光谱和荧光激发发射光谱；2、超快速，比其它仪器快百倍；3、软件可自动溯源硫酸奎宁校正曲线，及校正内滤效应影响，以及锐利和拉曼散射线，快速输出至多变量分析（例如PARRAFAC）；4、双光栅激发单色器阻止杂散光；5、相互匹配的吸收、荧光光谱带宽；6、全套的性能验证测试7、自动切换样品（2和4位置）；8、可选多种配件；技术参数：1、150W氙灯光源2、双光栅激发单色仪3、TE制冷CCD4、硅光电二级管的参比检测器和吸光度检测器5、灵敏度：水拉曼SNR20,000:1（RMS，激发波长350nm，积分时间30s）可选件和附件：1、液氮杜瓦瓶2、HPLC流通池3、光纤导入支架4、多芯光纤5、四位电磁搅拌控温样品架6、两位电磁搅拌控温样品架7、单池磁搅拌控温样品架8、固体样品架

PI 的 X 射线相机使用科学级，二维CCD探测阵列。每一个产品都融入了超低噪声电子电路，多读出口，多增益等非常优秀的工艺。高速读出的速度可以方便准直，聚焦，高速采集等操作；低速读出有利于低噪声精准的数据采集。 多增益可以在低噪声的同时提升图像的信噪比。我们的 X 射线相机具备16位的数模转换电路，工业标准的接口，方便搭建实践平台和OEM扩展。 PIXIS-XB 直接探测型X射线相机低通量的直接探测型X射线相机PIXIS-XB是一款热点制冷，直接探测型X摄像相机。非常适用于~30 eV and ~20 KeV 能量范围的X射线成像成谱。 这系列的相机采用的深耗尽背照式CCD，有1340x400 和 1024x1024格式。 同时也可选前照式，后照式的1340x1300分辨率。一块很薄的铍窗在CCD前保护被密封起来，工作时深度制冷的CCD，同时减少背景中的低能量X射线。 直接探测型X射线相机" height="225" src="https://img1.17img.cn/17img/images/202407/uepic/6a60556b-9a3f-4c18-a602-d9a709ba9417.jpg" width="202" style="border:0px vertical-align:middle max-width:100% height:auto !important " PIXIS-XB相机提供以下优势: &bull 可探测范围：~3 keV to ~20 keV&bull 铍窗设计的真空窗口&bull 灵活的双读出放大器&bull 高速USB2.0接口&bull LightField可实现全面的控制 产品综述低通量X射线的高性能相机 全球重要的X射线实验室在他们的实验中都会使用普林斯顿仪器的产品。这款产品适用：低通量X射线成像成谱， X射线光子计数， X射线衍射， X射线谱仪， X射线波动谱仪（XIFS）， X射线光子相干谱仪（XPCS）， X射线刻蚀技术。High resolution 3D image of GaN particle created using coherent x-ray diffraction imaging. Image courtesy of Dr. Kianwei Mia, University of California, Los Angeles. 产品特点可探测范围：~3 keV to ~20 keV: 适合各类应用 真空铍窗设计:灵活应用于各类实验环境无需维护 灵活的双读出放大器:灵活设置，优化实验最低的读出噪声最高的动态范围最好的线性度 高速USB2.0数据接口:任何电脑课直接连接，无需额外硬件即插即用真正的16位数据传输能力，最高可达2MHz读出速度LightField的64-位操作平台:直观易上手的用户界面设计自动背景扣除，平场纠正和误差检测PICAM（64）位通用程序语言，方便的程序修改与编译与LabVIEW，MATLAB，EPICS等第三方软件无缝对接 型号规格PIXIS-XB Direct Detection X-Ray相机型号比较和数据表 型号像素像素尺寸成像面积 (mm)能级范围吸收峰值最低 CCD 温度400BR 1340 x 40020 x 20 μm26.8 x 8.0~3 keV-20keV75%-90° C1024BR 1024 x 102413 x 13 μm13.31 x 13.31~3 keV-20keV75%-90° C1300R/BR 1340 x 130020 x 20 μm26.8 x 26.0~3 keV-20keV75%-70° C 产品应用相干 X 射线衍射：X 射线衍射是一种研究物质（如大分子、晶体、粉末、聚合物和纤维）特性的技术。

波长色散X荧光分析仪是我公司总结我国多年来研制该类型仪器的经验和教训,并吸收与参照国际先进技术基础上，深入进行产业化研发形成的高科技产品，各项技术性能指标均已达到国际同类产品水平。X荧光分析仪可以应用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的领域，例如建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(钢铁、有色金属)、石油（微量元素如S、Pb等）、化工、地质采矿、商品检验、质量检验甚至人体微量元素的检验等等。是常量分析和微量分析的可靠工具，也应用于大专院校和科研单位。 波长色散X射线荧光光谱仪，是本公司吸取国外先进经验，整合国内技术优势，精心设计的实验室设备。其卓越的性能可以满足不同客户的分析要求，极具吸引力的价格，使用户在低成本分析过程中受益。目前我们的仪器已经在建材（水泥、玻璃、陶瓷）行业、有色金属、钢铁、石油化工等领域得到了广泛的使用。应用效果良好，满足用户的实际需要。 应用领域：●AL-BP-9010A非常适合在大、中、小型水泥厂（单、双窑）做质量过程控制使用。可用于分析原料（如石灰石、沙土、矾土、菱镁矿和其他矿物）中主量和次量氧化物的分析 生料、熟料和水泥中的 CaO, SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, SO3, K2O, Na2O, Cl等常规元素的测定。●钢铁行业的应用：依据GB/T 223.79-2007测定Si、Mn、P、S、Cu、A、Ni、Cr、Mo、V、Ti、W、Nb元素。●其它行业的应用：石油中的S、P测定，玻璃、陶瓷、有色金属、矿业、地质、化工、质量检验等。 特 点：高度自动化的分析，省力省时适合原材料、新材料、产品的研究及管理等分析，可对多种样品进行从微量到高含量的分析。仅需约3分钟即可完成1个样品中十几种元素的定量分析，由于仪器整机的高稳定性充分保证了全自动分析。 生产流程的管理分析可快速获得分析结果，经数据处理后，可进行质量检验、规格判断等，应用于生产管理分析（特别是炉前分析）。 质量控制迅速分析从生产线采集的样品。将分析结果（配比计算）作为原料配制的控制数据进行反馈，用于提高质量及稳定质量。 优 势：为了保证仪器性能，本仪器所用核心部件，如X射线管、高压电源、探测器、流气控制系统、分光系统均采用进口部件。与同等性能的仪器相比我司的仪器价格仍具一定优势。 技术参数●分析元素种类：从11Na～92U 的任意十种元素。●X射线管：Varian 公司生产的400W 薄铍窗端窗X射线管，Rh 靶（Pd 靶可选） 。●X射线管冷却：专业的循环制冷冷却，无需冷却水。●高压电源：400W ( 50kV8mA ) ，管压管流12 h稳定度：优于0.05 % 。 ●恒温室温度控制精度：设定值±0.1℃●探 测 器：流气正比探测器、封闭计数管、闪烁计数器。●数据处理系统：12 路2048 道独立脉冲高度分析器。 ●真空系统：独立泵站结构，双真空室，易于维护，测量室最高真空度：低于7Pa。●流气系统：采用国外高精度密度流量控制系统，高精度流气密度稳定装置，压力稳定度达到士0.01kPa。 ●交流220V 供电设备：2kVA交流净化稳压电流。 ●稳 定 性：( 24 h) ≤2%。●计数器的能量分辨率：≤40%。●仪器计数线性：≤1%。●单个样品测量时间：（含换样抽真空时间）≤(2-5)min 。●样品尺寸：40mmx10mm(H) ●分析样品面：最大35mm ●样品旋转：30rpm ●软 件：定性分析(自动鉴定解析功能(平滑,扣背景) ●定量分析：各种基体校正,标样分析法,应用模板, ●维护功能：自动诊断,远程诊断 软件特点1）自主开发的软件全中文软件系统，适合windows操作系统，软件操作简单，完全符合中国人操作的习惯，对操作人员无特殊要求；2）操作界面直观，可多任务同时执行，人机对话，方便修改和设定各种参数；3）采用全谱检测，实时智能校正仪器漂移到最佳运行状态；4）仪器采用最先进的数理模型算法标定工作曲线过程简单，更符合用户生产工艺特点；5）强大的数据库系统支持，实现各种基体、背景干扰校正；6）配备水泥行业在线率值配料配比反馈调节计算和水泥组分测定模块，测量生产样品结果的统计，帮助工艺工程师分析配料变化情况；7）强大的历史记录查询功能，随时动态掌握生产工艺变化；8）强大的自诊断功能，实时监控仪器状态，自动的保护功能；9）具有流行的DCS通讯协议,可以方便地与DCS系统进行数据共享。 水泥行业应用：波谱仪系统主要由样品制备设备（包括振动磨、压片机）、波谱仪主要、计算机系统（主要包括主机、监视器、打印机、键盘、数据通讯接口）等，与其他相关设备配合构成波谱仪生料质量控制系统。波谱仪主要用于生料化学成分的分析，以实现原料配比的在线自动化控制，保证入窑生料率值的标准偏差达到规定指标；同时，X荧光分析仪也可用于各种原料、燃料、熟料、水泥的离线分析。 本仪器是同时式波长色散型光谱仪，可装载10个以上（含10个）分析通道用于多元素同时测定，元素分析范围为钠到铀，元素预设范围为水泥10大元素Ca、Fe、Si、Al、Na、Mg、S、K、Cl、P，分析速度小于2分钟。输入电源为单相220/240VAC，并由主机向PC机和打印机供电。

原理特点玻尔模型所描述的电子轨道和X射线荧光产生的原理X射线荧光的产生原理X射线管发出X射线照射样品，样品中所含的原子被激 发而产生原子特有的X射线。这种X射线被称为X射线 荧光。不同的元素波长（能量）不同。通过检测X射 线的波长，能够进行定性分析。X射线荧光的强度与 含量呈函数关系，检测元素特有的X射线的量值能够 进行定量分析。满足不同领域的应用■ 电子电气RoHS指令、无卤素等筛选分析半导体、存储装置、液晶、太阳能电池等的各种薄膜分析■ 汽车机械 应对ELV指令的筛选分析 各种机械零部件成分分析及镀层厚度、涂层附着量的检测■ 钢铁有色金属 原材料、合金、锡焊、贵金属的主要成分、残余成分的分析 炉渣的组成分析■ 矿业 选矿工艺的成色鉴别分析■ 窑业 陶瓷、水泥、玻璃、砖、粘土的分析■ 石油石油化学 油中硫的分析 润滑油中各种添加元素及混入元素的分析■ 化学工业无机有机原料和产品分析催化剂、颜料、涂料、橡胶、塑胶的分析■ 环境 土壤、排水、焚烧灰、过滤、PM2.5等成分分析■ 医药 合成时的残留催化剂分析 原药中不纯物分析、异物分析■ 农业食品 土壤、肥料、植物的分析 食品的原料分析、添加元素管理、溶入异物的分析■ 其它 考古学样品及宝石成分分析 玩具日用品中有害重金属元素测定等追求高速・ 高灵敏度・ 高精度的机型高速 — 计数量高达到30倍 —搭载高速电路，计数量高达以往型号（EDX-720）的30倍。通过改良算法和升级基本性能，缩短了测定时间， 进一步提高了操作便捷性。铜合金中的铅（Pb）的谱图比较铜合金中的铬（Cr）的谱图比较实际样品的比较分别用以往型号（EDX-720）和EDX-7200对无铅锡焊中所含的铅（Pb）进行分析，比较其重现性。测定时间与标准偏差（定量值的偏差）的关系满足目标分析精度所需的测定时间X射线荧光分析可以通过延长测定时间增加X射线荧光的计数来提高精度（重现性）。 搭载高计数率SDD检测器和高速电路的EDX-7200与以往型号（EDX-720）相比，能够在更短的时间内达到目标分 析精度。高灵敏度 — 检测下限提高6倍 —提高了金属分析中微量元素的检测下限。金属中的铅的检测下限基准（300秒）※ 检测下限值仅为示例，并非保证值。高分辨率能量分辨率的比较（样品：PPS树脂） 与搭载Si(Li)半导体检测器的以往型号（EDX-720）相比， 能量分辨率更胜一筹。不同元素峰值重叠的影响减少，分析结果更加可靠。无需液氮SDD检测器为电子制冷方式，无需液氮冷却。不仅可以免去繁琐的液氮补充作业，还可以降低运行成本。检测元素范围 ・ 用EDX-7200进行12Mg以下的轻元素分析时，推荐使用真空检测单元或者氦气置换检测单元(均为选购件）。・ 检测下限因样品基材和共存元素不同而有差异。・ 使用样品容器分析20Ca以下的轻元素时，由于薄膜吸收的原因，难以达到上述检测下限基准。卓越的通用性从微小样品到大型样品，从粉末样品到液体样品，灵活应对各类样品。可配备进行轻元素高灵敏度分析时所需的真空检测单元、氦气置换检测单元以及可实现自动连续测定的12位样品 转台（选购件）。4种准直器以及样品观察装置ø 1、3、5、10mm 四级自动切换根据样品尺寸的不同，照射直径可进行4级切换。微小异 物分析和不良分析时采用ø 1mm，少量样品时采用ø 3mm和 ø 5mm，可以根据样品的形状选择适合的照射直径。标配样品观察装置通过样品观察装置，可以确认X射线的照射位置。适用于 检测微小样品、检测由多个测样点组成的样品、使用微量 样品容器检测等情况。 自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射 线，从而提升检测灵敏度，尤其于分析微量元素时有效。 EDX-7200搭载5种（含OPEN共6种）一次滤光片，可以实 现软件操控自动切换。 准直器和一次滤光片自由组合准直器和一次滤光片独立驱动，可自由组合，共6×4种=24种组合可选。 同时，所有组合均可对应FP法进行定量分析。 真空检测单元（选购件）由于轻元素产生的X射线荧光在大气环境下易被吸收，所以需要在真空环境下提高轻元素的检测灵敏度。真空环境为100时，氦气置换和大气环境下的相对灵敏度真空环境和大气环境的分析结果比较（样品：钠钙玻璃）氦气置换检测单元（选购件）对于无法在真空环境下进行分析的样品（如液体、会产生气体等），可以通过氦气置换实现轻元素分析。升级了岛津特有的氦气置换系统（日本专利：「特许」No.5962855），且配备可实现短时间检测并减少氦气 消耗量的功能。氦气置换和大气环境下的谱图比较（EDX-7200/油中硫） 12位样品转台（选购件）配备样品转台可实现自动连续测定。特别是在真空氦气 环境下可实现高通量，从而显著提高检测效率。丰富的分析功能校准曲线法校准曲线法是指通过对标准样品的测定，依据X射线 荧光强度与标准样品的含量关系制作校准曲线，是对未知样品进行定量的方法。 校准曲线法需要选择与未知样品类型相近的标准样品 且需要制作各元素的校准曲线，从而实现准确度高的分析。可以进行吸收/激发校正、重叠校正等各种共存元素校正。 FP法根据理论计算而得出X射线强度的定量方法。对于难 以找到标准样品对应的未知样品，FP法是有效的定量 分析方法。配置自动设定平衡功能样品主要成分为C,H,O等时，FP法需要进行平衡（残 余成分）设定。如根据特征形状判定需要平衡设定时， 软件将自动进行。 背景FP法背景FP法指在仅计算X射线荧光（净峰）强度的传统FP法基 础上，增加计算散射X射线（背景）强度的方法。（日本 专利：「特许」No.5975181）在提升少量有机物样品的定量准确度、异型镀层样品的膜厚 测定、有机膜的膜厚测定方面效果显著。 薄膜FP法标配薄膜FP法。可检测多层膜的膜厚,同时对膜的组成进行 定量分析。薄膜FP法可对基板等基材、镀层结果、元素信息 进行设定。 匹配功能匹配功能是指将某种样品的分析结果与所保存的谱库 比较，按由高到低的顺序自动排列出接近的物质。谱库分为含量数据和强度数据两类，用户均可登录。 同时，含量数据更可手动直接录入。匹配结果具有设计感的外观460MM宽的紧凑机身，配置大型样品室460mm宽的紧凑机身，与以往型号（EDX-720）相比，宽度减少了20%。虽然机身紧凑，但却拥有可放置300（W）×275（D）×约100（H）mm样品（相当于A4大小）的大型样品室。识别度高的LED显示灯产生X射线时，分析仪器后面的X射线显示灯和前面的X-RAYS ON显示灯会点亮。分析时X射线显示灯的两侧亮起 蓝灯。操作人员不在分析现场也可对分析仪器的状态一目了然。“初次见面”也可轻松上手的软件PCEDX Navi为了使X射线荧光分析贴近每一个实验室，深入浅出的软件PCEDX Navi应运而生。 仅凭直觉即可操作的简洁界面，无论是初学者还是专家，都可以体验到便捷的操作环境。简洁的界面在一个界面内可以同时显示样品图像、选择分析条件、输入样品名称。在测定界面上可以直接切换准直器可以一边观察样品图像,一边切换准直器直径。 同时,选定的直径用黄色圆圈表示。自动保存样品图像测定开始时自动读取样品图像，与数据文件夹关联保存。

二手岛津X射线荧光光谱仪 EDX-700HS特点：采用岛津独创的ｘ射线聚光透镜[集束毛细管透镜]，x射线只照射样品的50μmφ微小领域，实现高灵敏度、高精度分析。可以在大气中进行从轻元素到重元素（na～u：μedx-1300；al～u：μedx-1200/1400）的分析。配备双ccd（高倍率，低倍率）摄像头，可以在观察样品图像的同时方便地决定分析位置，进行分析。标准配备无标样定量fp法、薄膜成分/膜厚分析用的薄膜fp法以及可以测定聚合物薄膜的背景基本参数（bg-fp）法。作为微区ｘ射线荧光光谱分析装置，在世界上率先配备了5种1次ｘ射线滤光片自动交换机构，可消除来自ｘ射线管的特征ｘ射线，提高信噪比。配备多元素同时/自动扫描成图功能。采用高速扫描成图，在短时间内便可获得图像（μedx-1200/1300）。追加透射观察单元（选购），也可进行透射ｘ射线的同时测定。配备电子冷却式高计数率检测器。无需液氮，可进行高精度分析。可轻松地进行电子材料/部件的镀层膜厚測定、异物检测、失效解析及成图分析。二手岛津X射线荧光光谱仪 EDX-700HS配置参数：主机部分：1、X射线发生器单元X射线管类型 Rh靶冷却方法 空冷（附风扇）2、X射线电源单元电压 5-50kV，每步1Kv（测定重金属（Cd,Pb,Hg,Br,Cr等）时，可以用50ｋV。但测定轻元素时，15kV是***有效的。另在工作曲线法中，随时可设定***佳电压。）电流 1-1000μA，每步1μA稳定度 ±0.01%（外电压波动±10%）保护电路 过电压， 过电流， 过功率，3、一次X射线滤波片 5种自动交换特点说明：不同元素应该采用不同的滤光片进行分析，这样才能有效降低背景，得到高准确度的测量数据。EDX-720进行元素分析时可以自动判断元素和更换相应的滤光片，无须手动更换检测器部分：1、检测器类型 Si（Li）检测器液氮 只有在分析时添加液氮消耗 少于1升/天检测面积 10mm2分析元素 Na-U分辨率 ：小于150电子伏特特点说明：采用液氮制冷方式的检测器具有高分辨率，可以避免元素谱线之间的干扰，从而保证高准确度的分析。在性能、实绩、稳定性上，Si（Li）半导体是对性的实绩（岛津检测器是自己生产，在万一发生故障也迅速对应）。 掘场按振动检测器的性能下降。 精工较差的Si-PIN半导体分辨率为220eV、在分析树脂中的Cd、Pb时，容易受到Br和Sb等共存元素的干扰、并有时不能检出，还有因为是低强度，在测试金属中有害元素的感度也差。2、计数单元放大器拟合时间 10μ秒增益变化 高/低多道分析器（MCA）变频型 顺序比较ADC道数 2048道***大计数率 232-1/道样品室与测定室部分：1、样品室二手岛津X射线荧光光谱分析仪EDX-700HS，二手荧光光谱分析仪盖子 自动开启/关闭（带安全系统）每次测定时盖子自动上升与下降。***大样品尺寸 300mm 直径 x 150mm高二手岛津X射线荧光光谱分析仪EDX-700HS，二手荧光光谱分析仪（特点说明：样品室自动开启，样品盖子的结构设计有效避免X光的泄露，满足日本及中国X射线的泄露控制标准。超大型的样品室可以容纳大型的部件直接放入测试，无须切割）2、测定室X射线照射面积 下照射光栏直径 1、3、5、10mm可选特点说明：不同的分析面积采用不同尺寸的光栏，可以保证各种大小样品的高精度测试。测定室开孔 13mm3、测定气氛：大气4、CCD观察定位系统配备CCD数码观察系统，可以准确定位分析区域。

仪器简介：识别和量化自然及人为有色溶解有机质(Colored Dissolved Organic Matter，CDOM)的组成部分，是了解水质的关键。准确测定CDOM需要收集样品的三维荧光和吸收光谱。为此，HORIBA Scientific推出了全球首台同时测定吸光光谱和荧光光谱（三维荧光）的Aqualog光谱仪，用于超快速检测CDOM。Aqualog三维荧光光谱仪的特点包括：扫描速度快，是其它产品的100倍；高灵敏度；耦合于origin的专用荧光软件自动溯源硫酸奎宁校准、修正内滤效应以及瑞利和拉曼散射线，并且可以将矩阵数据方便的用于多变量分析，例如，平行因子分析(PARAFAC)。Aqualog三维荧光光谱仪包括：150W无臭氧氙气灯，优越的抑制杂散光的双光栅激发单色器，用于采集吸收光谱的光电二管和快速采集发射光谱的TE致冷CCD，还可以配置光纤附件、液相流通池附件、电磁搅拌控温样品架附件、液氮杜瓦瓶和固体样品架附件等，从而实现不同用户的特殊需求。Aqualog操作简便，软件功能强大以及NIST全套性能的验证测试，使得Aqualog成为水质研究的便捷工具。 可选件和附件：1、液氮杜瓦瓶2、HPLC流通池3、光纤导入支架4、多芯光纤5、四位电磁搅拌控温样品架6、两位电磁搅拌控温样品架7、单池磁搅拌控温样品架8、固体样品架 技术参数：1、150W氙灯光源2、双光栅激发单色仪3、TE制冷CCD4、硅光电二级管的参比检测器和吸光度检测器5、灵敏度：水拉曼SNR20,000:1（RMS，激发波长350nm，积分时间30s）主要特点：1、唯一一款同时测定吸收光谱和荧光激发发射光谱；2、超快速，比其它仪器快百倍；3、软件可自动溯源硫酸奎宁校正曲线，及校正内滤效应影响，以及锐利和拉曼散射线，快速输出至多变量分析（例如PARRAFAC）；4、双光栅激发单色器阻止杂散光；5、相互匹配的吸收、荧光光谱带宽；6、全套的性能验证测试7、自动切换样品（2和4位置）；8、可选多种配件；注：具体配置、价格请咨询当地销售工程师

产品介绍扬尘在线监测仪可自动测量和记录扬尘浓度，采用的是贝塔射线吸收法的工作原理，将C-14作为发射源，其发射恒定的高能量电子，样品空气通过切割器以恒定的流量经过进样管，颗粒物截留在滤膜上。β射线通过滤膜时，能量发生衰减，通过对衰减量的测定计算出颗粒物的质量，根据采样流量、采样时间和滤膜面积来计算实际状态下环境空气中颗粒物的浓度。扬尘在线监测仪由采样泵、切割器、β源、电源、检测系统、温湿联控系统（DHS）、数据采集处理单元、数据传送单元、配套软件及辅助单元组成。可选配风向、风速、温湿度、LED显示屏等。 产品特点1、采用β射线吸收法，数据准确可靠。2、配置不同切割器，可实现TSP/PM10和PM2.5质量浓度的实时在线监测；3、具备开机自启动、开机自检、自动校准功能。4、仪器配置温湿联控系统（DHS），去除湿度对测量数据的影响；5、4G网络无线传输数据，传输；6、采用7寸工业屏及精简安卓系统，系统，简单易懂，操作简便，兼容性强。7、大容量存储，可能实现一年以上的数据存储；8、外观设计简单大方，安装方式多样，可选壁挂式、立杆安装、支架安装等；技术参数性能指标项目性能指标原理β射线吸收法量程（0～10000）μg/m3检出限1μg/m3显示分辨率0.1μg/m3示值误差±20%示值重复性10%校准膜重现性±2%平行性15%功能指标项目功能指标采样方式泵吸式界面显示7.0寸彩色工业触摸屏外形尺寸（305×245×389）mm（主机箱体）重量25kg相对湿度0%～99%RH供电电压AC220V/50Hz功耗190W传输方式4G无线传输输入触摸式输入防护等级IP53

美国珀金埃尔默PinAAcle 900F 原子吸收光谱仪PinAAcle 900F是一款实验室用火焰原子吸收光谱仪（AA），单火焰激发源，真正的双光路设计，启动快速，具备优良的长期稳定性。PinAAcle 900F具有光纤光路设计，可有效提升光通量，改善检出限；8位灯座可安装两个无极放电灯和6个空心阴极灯；火焰燃烧头带有自校准功能，有效提升检测效率。PinAAcle 900F配备Syngistix操作软件，界面友好，操作简便，根据从进样到报告生成的检测流程而设计，并且可兼容多个原子光谱技术。 光纤光学技术创建了一个涵盖范围全面的光学系统，提高灵敏度并获得检出限。全新设计的光路系统不仅保证了光束形状完全相同，而且可使仪器的体积比市场上任何火焰/石墨炉原子吸收系统都小。PinAAcle 的小巧尺寸源自其堆栈式设计。在双模式火焰/石墨炉型号中，金属钛燃烧头组件固定在石墨炉上方，可快速方便地更改分析技术。各个仪器都配有多功能8 灯架，与PerkinElmer Lumina&trade 空心阴极灯(HCL) 和无极放电灯(EDL) 兼容，无极放电灯提供更高的灵敏度和更长的使用寿命。灵活的8 灯架有以下功能：自动安装预热。持续监控灯的使用情况，以保持稳定的性能和可靠的结果。对临床实验室的益处许多测定技术已经在大量CLIA 实验室广泛应用并提供结果。等温平台石墨炉技术为临床应用提供了无以伦比的灵敏度。纵向塞曼效应背景校正，提高了测定复杂临床样品的结果准确性。赛力威代理产品有近红外/中红外/远红外光谱仪，傅立叶变换红外光谱仪，原子吸收光谱仪，荧光分光光度计，紫外/可见光分光光度计，电感耦合等离子体质谱仪，电感耦合等离子体发射光谱仪，液相色谱，气相色谱/质谱联用仪，三重四极杆液质联用仪，离子色谱仪，x射线衍射仪，酶标仪，自动电位滴定仪，水质分析仪，欢迎来电详询

仪器简介：BH1324B型微机多道X谱仪，是以BH1224型多道分析器卡为基础而改进 的新产品。它集高压、放大器和多道分析器卡为一体，通过RS-232串口电缆 与计算机连接，多道分析器本身受计算机制约的因素减少，为用户选择各种档 次、不同机型的计算机提供方便。配套的PHA18采集软件，在Win98操作系统 下运行。 　　该谱仪可测量X射线，供从事有关放射元素工作单位进行安全监督检查分 析。被测得的X射线以谱的形式在计算机上显示出来，通过软件进行分析。 　　该产品严格按照ISO9001质量体系进行质量控制。技术参数：1、系统的能量分辨率：＜65%（对239Pu） 2、系统的能量线性：≤±1%（60Kev～2.0Mev） 3、系统稳定性：≤±1%（8h）主要特点：工作环境 1、环境温度：+5℃～+35℃ 2、环境湿度：≤80%（30℃） 3、电源：交流220V±22V，50Hz±1Hz 成套设备 1、一体化多道分析器（含高压、放大器） 2、φ40×1mmX射线探头 3、通用γ谱仿真软件（PHA18） 4、计算机：当前市场的流行配置，标准配置为联想开天4600系列（可按户要求更换） 5、打印机：喷墨打印机Canon S100SP（可按用户要求更换）