电场强测试仪

德国KLEINWACHTER EFM023 静电场测试仪通用多功能型静电场测试仪：用于测量静电电压、静电场强、静电消散时间、离子平衡度以及人体行走静电位等。可与电脑连接，输出并保存数据。大量程200KV，高精度±5%，高分辨率1V，特别适合ESD及其它各个领域广泛应用。 特点及优势超大量程—— 0V~±200kV，多模式选择，精确测量物体表面静电电压。静电场强测试——可选量程±20kv/m, ±200kv/m或±1MV/m全球高分辨率——1V，适合ESD电子行业等低静电精密行业。精度±5%—— 旋转叶片式探ce头，高精度，高灵敏度。数据输出—— 配DAC输出接口，依据相应的被测的静电场强，输出数据。数字显示——双行12位LCD液晶显示；手持式静电测试仪——操作简单方便。电池电量提醒——电池电量永久监视提醒；多功能套件可配备CPS套件——测量离子平衡度和静电衰减时间。可配备VMS套件——测试人体行走静电位,用于评估防静电鞋和防静电地板综合消散能力。技术参数尺寸（长×宽×高） 70mm x 122mm x 26mm重量 约130g平行板电容器校准 200mm×200mm,板间距20mm精度 5%输出电压（仅在场强测试仪模式下） ±1V（电阻1K Ohm）数字/模拟转换器DAC 10位分辨率 电池 9Valkaine 或NiMH电池电池工作时间 约10小时/Alkaline电池测量范围-静电电压表测量距离 测量范围 分辨率1cm 0-10Kv 1v2cm 0-20KV 2V5cm 0-50KV 5V10cm 0-100KV 10V20cm 0-200KV 20V测量范围-场强测试仪手动测量范围 测量范围 分辨率±20kv/m ±1V 20v/m±200kv/m ±1V 200v/m±1Mv/m ±1V 1kv/m选型型号 说明 配置EFM-023-ZBS静电场测试仪 基础型包括：①EFM-023 静电场测试仪②两节9V NiMH可充电电池。③电池充电器。④螺旋接地线及鳄鱼夹。⑤原厂校准证⑥便携手提箱 EFM-023-BGT人体静电位测量套件 人体静电位测量套件包括：①EFM-023静电场测试仪②导静电手提箱③两节9V NiMH可充电电池④电池充电器⑤螺旋接地线，带鳄鱼夹⑥原厂校准证⑦MK-23 探ce头⑧ML-120 专用测试线⑨HE-120 金属握柄⑩UAC110转换器 EFM023-CPS离子平衡度测量套件(含测试仪) 离子平衡度和消散时间测量套件包括：①CPS 高压产生器，②充电/接地极板，③导电基座，④电池充电器，⑤CPS-023 连接线，⑥导静电手提箱。 EFM023-AKC多功能套件(含测试仪)

一、产品介绍RJ-5工频电场（近区）场强仪，主要用于测量高压输变电系统，配电室，感应炉，地铁，电动机车，医疗设备，烘干设备，计算机等具有电磁辐射作业场所的电场强度。可供劳动保护，职业病防治，环境检测，环境卫生等工作。 二、产品参数1、频率范围：30 Hz～2000Hz 2、量 程：1～20000V/m 3、测量误差：±1.5dB 4、使用条件：-10～40℃；＜80％RH 5、电 源：8.4V充电锂电池和1节9V积层 6、体 积：450mm × 100mm × 50mm 7、重 量：550g 三、产品特点1、技术上接近国外的产品，性能同美国的HI-3604一样，且数据稳定。2、是常用测量电场的前沿产品。3、经国家计量研究院检测认证并可以对该产品出具产品检测报告。4、是国家疾病预防控制中心和高等院校进行职业安全防治和科学研究的常用产品。5、主要特点：体积小，精度高 数字显示可直接读取V/m数；简单直观 测量频率宽，频率响应误差小。 场强仪 系列型号产品型号频率范围量程工频工频电场（近区）RJ-530Hz～2000Hz1～20000V/m工频磁场（近区）RJ-5H30Hz～5000Hz0.1uT～1999.0 uT高频高频电场（近区）RJ-320～200MHz0～450V/m高频电磁场（近区）RJ-2200kHz－30MHz电场：1V/m-1500V/m磁场：1A/m-300A/m高频电磁场（近区）数字式RJ-2A100KHz－100MHz电场：0.1V/M－1999.9V/M磁场：0.1A/M－1999.9A/M

LZT-1000 电磁辐射测试仪,电磁场强度检测仪应用范围：1.室外环境电磁辐射测试应用：变电站、高压线、变压器、配电室、电缆、手机信号塔、电视信号塔、广播信号塔等在仪器测试技术指标内的所有电磁辐射源。2.室内环境电磁辐射测试应用：电脑、电视机、复印机、传真机、空调、冰箱、音响、洗衣机、电线、电源、手机、无线路由器等在仪器测试技术指标内的所有电磁辐射源。技术指标：尺 寸： 132mm（长）×69mm（宽）×31mm（厚）重 量： 140克读数显示： 3-1/2位液晶显示器档 位： 电场—V/m（伏/米）；磁场—μT（微特斯拉）精 度： 电场：1V/m；磁场：0.01μT量 程： 电场：1V/m—1999V/m；磁场：0.01μT—19.99μT报警阈值： 电场：10V/m；磁场：0.4μT测试频宽： 5Hz—3500MHz取样时间： 约0.4秒感 测 头： 单轴（仪器顶端）过载提示： LCD显示“1”操作温度： -15℃—— +60℃操作湿度： 相对湿度80%以下工作电压： 9V（6F22 9V电池）

ESM100场强仪低频三维电磁辐射测试仪产品介绍： ESM100场强仪低频三维电磁辐射测试仪是一款H/E 低频三维电磁辐射测试仪，并已获得国家。可容易测量交流电场和磁场同时可方向独立单点测量。有了这样一台设备后我们便可以迅速，专业并准确的测量。小传感器可短距离测量干扰源并计算平均值。比一般侧电磁场测量仪器的测量时间减半。例如：我们现在只需要进行测量磁场，当以后我们需要电场的测量数据时只需轻轻按键便可查看数据，无需单独再测量。5Hz-400kHz 的频率范围涵盖了电力行业主要产生电磁场干扰的范围。即使在非常低或者非常高的强度范围使用ESM-100可以很快测量干扰避免环境收到污染。ESM-100软件用于ESM-100于计算机之间的通信, 以及远程控制。测试仪器理想选择. 专门用于ESM-100校正以符合标准。我们只需要点击鼠标便可以轻松察看测量结果并可绘制磁场波形分布图.字体可放大 .通过简单的按键操作可以让仪器显示数字或直接显示图形在屏幕上。产品应用：工频(5Hz-100KHz)：高压输变电系统，配电室、感应炉、地铁、电车等作业场所。射频(100KHz-40GHz)：各种长波、中波、短波和微波辐射，包括：手机机站、医疗设备、雷达、卫星通讯、电视天线、寻呼机站、热合机、烘干设备、电视、电脑等具有电磁辐射的作业场所。技术参数：仅重560克三维电磁场探头同时测量频率范围：5Hz - 400kHz测量范围：磁场1nT - 20mT ，电场 0.1V/m - 100kV/m简单直观的直观操作，较少测量误差高精度±5% ，长时间测量标准化测量符合德国 e.g.: DIN VDE 0848标准长期记录可达24小时, 独立电源供电。大容量记忆，可记录1800笔数据四种可选过滤器可切换为一维测量可编程控制背光液晶显示30小时长时间工作使用三角架固定测量探头防护等级 IP65可扩展连接16个探头进行布点监测(可选)

RJ-5工频近区场强仪RJ-5工频近区场强仪产品介绍RJ-5工频电场（近区）场强仪，主要用于测量高压输变电系统，配电室，感应炉，地铁，电动机车，医疗设备，烘干设备，计算机等具有电磁辐射作业场所的电场强度。可供劳动保护，职业病防治，环境检测，环境卫生等工作。性能特点体积小 2、精度高 3、操作便捷性价比高技术参数使用频率范围30Hz－2000Hz显示方式数显电场量程:1V/m-20000V/m误 差±1.5dB电 源8.4V充电锂电池和1节9V积层操作环境-10℃～+40℃；＜80％RH箱体尺寸440 × 320 × 100mm主机尺寸450 × 100 ×50mm重 量0.55kg

RJ-3高频近区场强仪产品介绍RJ-3型高频近区场强仪是一种专门用于测定短波范围近区场的电场强度的仪器。　　主要应用于劳动保护、环境保护、劳动卫生等工作中。专门用于测量高频焊接、高频热合机、高频淬火、射频医疗设备、调频广播、电视发射机等高频设备的近区场强和环境场强，以便跟据标准确定危害范围，并采取相应的有效防护措施。可供劳动保护、环境监测、卫生防疫、科研、部队、学校、工厂等与高频作用有关的单位使用。性能特点体积小 2、精度高 3、操作便捷性价比高技术参数使用频率范围20－200MHz显示方式指针式电场量程:1V/m-450V/m(三挡可调）第一档0～30V/m第二档30～150V/m第三档50～450V/m误 差整机测量误差不大于30％电 源6V积层电池2块操作环境-10℃～+40℃；＜80％RH箱体尺寸450 × 370 × 150mm主机尺寸170 × 100 × 45mm重 量3kg

一、产品介绍RJ-5工频电场（近区）场强仪，主要用于测量高压输变电系统，配电室，感应炉，地铁，电动机车，医疗设备，烘干设备，计算机等具有电磁辐射作业场所的电场强度。可供劳动保护，职业病防治，环境检测，环境卫生等工作。 二、产品参数1、频率范围：30 Hz～2000Hz2、量 程：1～20000V/m3、测量误差：±1.5dB4、使用条件：-10～40℃；＜80％RH5、电 源：8.4V充电锂电池和1节9V积层6、体 积：450mm × 100mm × 50mm7、重 量：550g 三、产品特点1、 技术上接近国外的产品，性能同美国的HI-3604一样，且数据稳定。2、 是国内zui先进的测量电场的zui前沿，zui先进的产品。3、 经国家计量研究院检测认证并可以对该产品出具产品检测报告。4、 是国家疾病预防控制中心和高等院校进行职业安全防治和科学研究产品。5、 主要特点体积小，精度高 数字显示可直接读取V/m数，简单直观 测量频率宽，频率响应误差小。

产品概述 工频场强仪，主要用于测量高压输变电系统，配电室，感应炉，地铁，电动机车，医疗设备，烘干设备，计算机等具有电磁辐射的作业场所，的电场强度。可供劳动保护，职业病防治，环境检测保护，环境卫生等工作。技术参数1、 频率范围：30 Hz～2000Hz2、 量程：0～20000v/m3、 测量误差：&le ± 1.5dB4、 使用条件：（1） 环境温度：－10～40℃（2） 相对湿度：80％以下（3） 电源：两组（1）8.4v充电电池、（2）6F22 9v 叠层电池（4） 样式：携带式（5） 重量:550克盐城银河科技有限公司专业生产大气采样器，个体大气采样器，定点大气采样器，防爆大气采样器，防爆个体大气采样器，粉尘采样器，个体粉尘采样器，防爆粉尘采样器，防爆个体粉尘采样器，矿用粉尘采样器，矿用个体采样器，恒流大气采样器

一、产品介绍CA41射频电场强度检测仪，提供了有效的电磁兼容(EMC)测量解决方案，用于评估、测量射频设备的电磁辐射，及环境电磁辐射等。应用领域广播电视、移动通讯设备电磁辐射监测航空、航天、国防等设备电磁辐射监测机场雷达电磁环境安全监测无线电管理部门、环境电磁辐射监测工作场所得电磁场安全监测相关院所及高校EMF研究计量认证及产品监督检验单位微波炉企业的产品电磁安全检测二、产品参数电场测量0.1-200V/m频率范围1000 kHz ~ 2.5GHz功率密度0.1 ~ 2m W/cm2显示条图形数字显示探棒单向性 EF1 （尺寸：φ50 x 320mm，重量250g）输出模拟警报可以配置极限（高或低）zui低测量≥ 1 ms尺寸216 x 72 x 37mm重量350g 三、产品特点1.测量带宽覆盖范围大: 100kHz到2.5GHz2.电场强度测量范围：0.1 至 200 V/m3.功率密度测量范围：0.1至2 mW/cm24.具有1ms峰值测量5.可组态设置告警6.标配 各向同性（无方向性）测量探头（EF2A）7.具模拟输出接口

智俊信测射频电场综合场强电磁辐射检测仪G100 G100电磁辐射检测仪支持的频率范围1Hz-300GHz，通过配备不同型号的探头可以测量电场强度、磁场强度、磁感应强度以及功率密度，适用于环保、安监、运营商、实验室等各行业。是遵循电磁辐射相关标准设计，能准确、快速地测量各种复杂环境中的电磁辐射。强光无反射显示技术采用户外专用高透光、彩色防眩光显示屏幕，户外强光下使用无任何视觉影响，不会出现屏眩、屏白现象，屏幕视角可达140度，无视觉死角，方便现场人员读取数据。 精致的工艺探头和主机接插件采用螺旋航空插头，方便安装、连接牢固；所有外接插头采用防尘设计，非常适合室外恶劣环境使用；专业设计、可更换式锂离子电池盒，一键更换；待机时间不低于15小时。1Hz-300GHz超宽频电磁辐射分析仪主机；显示模式：一键切换时域模式和数据模式；测量结果：实时值、算术平均值、滑动平均值、大值、小值、X/Y/Z三轴值、统计场强（E5、E50、E80、E95）；显示单位：V/m，kV/m，μW/cm2，W/m2，mW/cm2，dBV/m，A/m，μT，mT，nT，T，标准计权值％；16G数据存储，存储200百万以上的测量数据及20万以上文件及截图；支持100个场所的空间平均测量，测量结果通过柱状图展示；自动保存当前测量屏幕后截图；硅胶键盘，手感舒适；支持多种环境参数测量，温度、湿度、气压、高度、指南针、水平仪；内置蓝牙模块，支持测量值现场打印；标配 GPS 定位模块；标配光纤连接；可选配WiFi通信模块；测量值曲线支持放大、缩小及按比例缩放；温度：操作 -15℃ - +60℃；非操作（运输）-40℃ - +80℃；湿度：≤95%无冷凝。智俊信测射频电场综合场强电磁辐射检测仪G100更多探头及参数，请咨询授权代理商。

德国KLEINWACHTER EFM022 静电场测试仪EFM-022静电测试仪可用于测试现场静电电压，套件可测静电消散时间，离子平衡度以及人体行走静电测试。特点及优势* EFM-022量程 0V~+/-200kV，可在不同距离精确测量带电物体表面静电。* 旋转叶片式探ce头，精度+-5%，精准测量。* 全球高分辨率1V。* 双行数字字母LCD显示。* EFM-022用于监测静电消除措施的有效性。也可显示静电消除设备最有效的安装位置。* 操作简便，测量前不需要清零。* HOLD数值锁定。* CPS模式可测量离子平衡度和静电衰减时间。* 可配备VMS023测试人体行走静电位,用于评估防静电鞋和防静电地板综合消散能力。应用及原理静电是许多工业领域存在的潜在问题。它影响生产效率，降低产品质量，吸引污染物及灰尘和对操作者造成电击。这是一个众所周知的现象,遍及塑料、包装、电子、造纸、医疗、制药、纺织等行业 – 事实上静电产生于需要处理非导电材料过程的所有领域。而EFM 022是一款轻便易用的静电场测试仪。外形小巧，单键操作，外壳为静电消散材料，可有效屏蔽影响信号。配套CPS022高压产生器可测试记录离子风机离子消散时间及平衡度。菜单项选择检测距离：预先选择好检测距离，静电场测试仪即可直接检测到静电位，无需清零调节，5种检测距离可选，用户可根据现场情况选择最方便的检测模式。规格尺寸 技术参数仪器尺寸：70 x 122 x 26mm 测试距离 测试量程 分辨率仪器重量：130 g 1 cm 0 +/-10 kV 1 V测量误差：5% 2 cm 0 +/-20 kV 1 V计时分辨率：0.3 秒 5 cm 0 +/-50 kV 1 V工作电源：9V 电池 10 cm 0 +/-100 kV 5 V电池续航：10 小时 20 cm 0 +/-200 kV 5 VCPS 模式电容：20pF CPS 模式 +/-1000V到+/-100V 1 VVMS 模式输入阻抗：1016Ω VMS 模式 0 ~ +/-4 kV 1 V选型型号 说明 配置EFM-022测试表 ①EFM-022 静电场测试仪，②原厂校准证，③螺旋接地线。 ZBS-022 手提箱①ESD导电外壳，内衬导电泡沫。②两节9V NiMH可充电电池。③电池充电器。④螺旋接地线及鳄鱼夹。 EFM-022-ZBS①EFM-022静电场测试仪②导静电手提箱③两节9V NiMH可充电电池④电池充电器⑤螺旋接地线，带鳄鱼夹⑥两个2CM距离标杆⑦原厂校准证 CPS-022测试套件（离子平衡度和消散时间） ①CPS-022 高压产生器，②充电/接地极板，③导电基座，④电池充电器，⑤CPS-022 连接线，⑥导静电手提箱。 VMS配件（人体行走静电位） ①MK-023 探ce头②ML-120 专用测试线③HE-120 金属握柄④导电基座⑤电池充电器⑥导静电手提箱

英文名称：Electrostatic Field Meter产品描述：测试静电位，高精度，大量程产品类型：单表产品品牌：Kleinwachter（科纳沃茨特）产品产地：德国订购货号：EFM022销售单位：个起订数量：1产品特性：场强计法测量静电位，根据测试距离自动把场强转换为电位旋转叶片式探测头，高探感、大量程2cm距离标杆（可拆卸)测试模式：电位模式，CPS充电板模式测试距离：1cm，2cm，5cm，10cm，20cm可选（默认2cm）测试量程：0-200KV测试精度：±5%读数单位：V/KV自动切换分辨率：1V开机自动零位待机超过5分钟自动关机校准精度可调导静电机身材料内置计时器，选配CPS测试静电消散时间和离子平衡度选配VMS测试人体行走静电位，用于评估防静电鞋/地板系统静电释放能力

薄膜击穿电压测试仪在强电场作用下，固体电介质丧失电绝缘能力而由绝缘状态突变为良导电状态。导致击穿的最低临界电压称为击穿电压，在均匀电场中，击穿电压与固体电介质厚度之比称为击穿电场强度，它反映固体电介质自岩芦身的耐电强度。薄膜击穿电压测试仪不均匀电场粗拍带中，击穿电压与击穿处固体电介质厚度之比称为平均击穿场强，它低于均匀电场中固体电介质的介电强度。不同电介质在相同温度下，其击穿场强不同。当电容器介质和两极板的距离d一定后，由U1-U2=Ed知，击穿场强决定了击穿电压。薄膜击穿电压测试仪打内压属于破坏性试验，当电压升到规定的内压数值时保持一定的时间，绝缘体击穿，说明绝缘体不合格，不能继续使用了。如果达到内压数值时维持一定的时间没有击穿就表示合格，可以继续使用。薄膜击穿电压测试仪 ，相线与地之间，承受的电压值。献艺交流码销键设备为例，交流设备又分为额定工频短时耐受电压和额定雷电冲击耐受电压。不通电压等级的设备其耐受电压值不同，电气设备在相应斗闷规定的耐压值下，在规定的时间内，绝缘不迟巧可以被破坏，不可以有击穿，这样设备才达到规定的耐压强度。薄膜击穿电压测试仪耐电压击穿试验仪针对绝缘材料的绝缘性能进行测试，材料的能承受的最大电压。电压击穿指的是电介质在足够强的电场作用下将失去其介电性能成为导体，称为电介质击穿，所对应的电压称为击穿电压。通过这一项实验，能得出电压击穿样品时的电压，而这个电压是该样品的上限值。当设计产品时岩册凳，通过耐高电压测试得到的上限值，就可以知道该材料的抗压性能，然而，影响击穿电压的因素有很多，又分为试样本身状态方面和试验条件方面的。输入电压： 交流 220 V输出电压： 交流/直流 0--50kv电器容量： 10KVA高压分级： 0-50kv升压速率： 0.1-5kv试验方式：交/直流试验：1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验试验介质：空气/绝缘油电压试验精度： ≤1%电源：220v±10%的单相交流电压和50Hz±1%的频率升压装置：采用先进的无触点原件匀速升压淘汰前款机械调压耐压时间：0-999小时（软件设定）漏 电 流：5- 200MA耐压式样：固体；液体。定做 高温环境 高温油控制方式：无线安全控制　　——影响因素——　　1、试样本身的状态影响击穿电压的因素比较典型的有：　　a.试样的厚度：试样的厚度不平均，每个点的击穿电压的大小就会不一样，厚度大的地方击穿电压往往会比薄的地方大。　　b.试样的表面状况：试样是否存在着孔隙，也会影响击穿电粗旅压的测量。若样品存在着有孔隙，样品中的孔隙，可能会使得电场畸变，测量出的击穿电压，会比实际的电压要大。　　c.机械应力：当样品受到太多的机械应力时，介质承受着机械应力，当样品承受的机械应力过大时，可能会导致样品表面有微微的开裂，从而使得测得的击穿电压偏小。　　d.样品的前处理：同种类型的样品，预处理时的条件不同，也可能使得测得的击穿电压与实际值有偏差，所以，遇到需要预处理的样品时，保证同组的样品，要在相同的环境下进行预处理。

HI-2200射频电磁辐射分析仪经济的辐射测试解决方案HI-2200是一套操作简单、使用方便的手持式电磁测量系统。它小巧轻便，使用时不易受测量场所的影响。可配置不同规格的电场探头和磁场探头，所有的探头可直接与HI-2200的读出模块连接，轻松使用。HI-2200具有良好的灵敏度，大动态的测量范围，方便实用的设计理念等特性，完全适合于各类领域的检测应用。◆ 应用场合 环境电磁辐射监测移动通讯、广播电视等单位的电磁辐射监测工作场所的电磁场安全监测无线电管理部门国防电子设备的电磁安全检测航空航天设备电磁环境监测机场雷达电磁环境的安全监测EMC等电磁兼容测试领域相关院所及高校的EMF研究◆ 技术参数 型 号HI-2200 频率范围100kHz -5GHz平均值模式线性、有效值RMS、空间值频率响应± 1dB（1MHz～4GHz）数据存储65,000个数据点同向性误差± 0.1dBLevel Range 0.3～800V/m运行时间20小时；4节AA电池过载指示1200V/m分 辨 率0.01V/m灵 敏 度0.3V/m可选单位V/m, A/m, T, mW/cm2操作温度-10℃ to 50℃尺 寸85mm × 160mm × 30mm重 量0.6 kg◆ 可选探头 型 号指 标E100电场探头3～800V/m 100kHz～5GHz 全向电场（各向同性）H200磁场探头30mA/m～ 10A /m 5MHz～300MHz 全向磁场（各向同性）H210磁场探头3～ 30A /m 300kHz～30MHz 全向磁场（各向同性）Electrical Specifications For Additional ProbesModelDynamic RangeFrequency RangeSensor Detection TypeC300 1% - 999% of FCC std100 kHz - 8 GHzE-Field % of FCC stdC310 1% - 999% of ICNIRP100 kHz - 8 GHzE-Field % of ICNIRP stdE1000.3 - 800 V/m100 kHz - 5 GHzE-Field isotropicH20030 mA/m - 10 A/m5 MHz - 300 MHzH-Field isotropicH2100.3 - 30 A/m300 kHz - 30 MHzH-Field isotropicElectrical SpecificationsAveraging ModesLinear, RMS, SpatialInternal Memory 65,000 data pointsOperating Time 20 hrs 4-AA BatteriesOverload 1200 V/mResolution0.01 V/mUser Selectable UnitsV/m, A/m, T, mW/cm2

绝缘材料电压击穿试验仪/击穿电压测试仪主要技术要求：01、输入电压： 220V02、输出电压： 交流 0--50 KV 03、电器容量： 5KVA04、高压分级： 0--5KV； 0-10KV； 0--20KV；0--50KV；05、升压速率： 10-5000 V/S（可以根据用户需求设定不同的升压速率）06、试验方式： 直流试验：1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验 交流试验：1、匀速升压 2、梯度升压 3、耐压试验07、安装灵敏度较高的过电流保护装置保证试样击穿时在0.1S内切断电源08、采用先进的无触点原件匀速调压方式。09、支持短时间内短路试验要求。10、电极规格：￠25mm 两个 片材电极 ￠75mm一个(可按客户需求生产)绝缘材料电压击穿试验仪/击穿电压测试仪升压方式:AC/DC 匀速升压,慢速升压,快速升压,耐压试验,梯度升压试验判停方式:电压或电流试验介质:绝缘油或空气电压精度:1.5%≤ (10-100)%电流设置:1-30mA可调试验放电:试验结束自动放电或手动按钮放电或放电棒放电绝缘材料电压击穿试验仪/击穿电压测试仪测试材料:绝缘材料类 符合标准:GB/T1408.1-2016 IEC60243-1:2013 GB/T1408.2-2016 IEC60243-2:2013 ASTM D149 GB/T1695-2005 可选配:高温空气中测试 高温油中测试 绝缘材料电压击穿试验仪/击穿电压测试仪根据击穿的发展过程,固体电介质的击穿可分为3种形式:电击穿、热击穿和电化学击穿,同一种电介质中发生何种形式的击穿,取决于不同的外界因素。随着击穿过程中固体电介质内部的变化,击穿过程可以从一种形式转变为另一种形式。取决于固体电介质中碰撞电离的一种击穿形式。电场使电介质中积聚起足够数量和足够能量的带电质点,导致电介质丧失绝缘性能。对于电击穿有以下几种不同的理论解释:本征击穿、电子崩击穿和电致机械应力击穿,通常以本征击穿代表电击穿,所以电击穿有时又称本征击穿。本征击穿过程所需时间为10-8s数量级,击穿场强大于1MV/cm。在电场作用下,固体电介质承受的电场强度虽不足以发生电击穿,但因电介质内部热量积累、温度过高而导致失去绝缘能力,从而由绝缘状态突变为良导电状态。绝缘材料电压击穿试验仪/击穿电压测试仪采取合理的绝缘结构。使各部分绝缘的耐电强度与其承受的场强相匹配 改善电极形状及表面光洁度,是电场分布均匀 改善电极与绝缘体的接触状态,消除接触触电的气隙或使接触处的气隙不承受电位差,如用半导体漆。带绝缘(总包绝缘)的三相交流电缆方式,电场属非同轴圆柱分布,平行于纸层方向将出现较强的切线分量,从而容易出现滑闪放电。故10KV以上的三芯电缆不用带绝缘结构而改用分相铅包(或屏蔽)的,若线芯及金属护层表面均光滑,其间绝缘层中的电场分布近于同轴圆柱体电场,电场分布较为均匀。交流110KV及以上的高压套管常用电容式套管,它是在导电杆上包以多层绝缘纸构成,在层间按设计要求位置加有铝箔,以起到均压作用。油浸式变压器中常用的绝缘纸有两种:①电缆纸(通常用0.08~0.12mm厚),主要用于导线绝缘、层间绝缘及引线绝缘等 ②更薄的电话纸和更柔软的皱纹纸有利于包紧出线头、引线等。绝缘纸板常用作绕组间的垫块、隔板等,或制成绝缘筒及对铁轭的角环等。在电场很不均匀的区域,如对铁轭或高压引线绝缘,也采用由纸浆制成合适形状的绝缘成型件,以改善电场分布,防止发生沿面滑闪放电。通常变压器绕组与铁轭间的电场不如绕组中部均匀,故高压进线布置在绕组中部,若需将高压引线(或自耦变压器的中压引线)安置在绕组端部时,需要加进静电板以改善绕组近端部处的电场分布。静电板是在绝缘环上用金属带包缠成一个具有较大曲率半径的不闭合金属环,再包以很厚的绝缘层。

介质损耗因数测试仪低频信号源频率覆盖范围 AC频率范围10kHz～60MHz0.1～160MHzCH110～99.9999kHz0.1～0.999999MHzCH2100～999.999kHz1～9.99999MHzCH31～9.99999MHz10～99.9999MHzCH410～60MHz100～160MHz频率指示误差3×10-5±1个字介质损耗因数测试仪低频1. Q合格指示预置功能：预置范围：5～10002. Q表正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。介质损耗因数测试仪低频A/C 型 Q 表的工作原理框图如图二所示。它以ATM128 单片机作为控制核心，实现对各种功能的控制。DDS 数字直接合成信号源为 Q 值测量提供了一个优质的高频信号。信号源输出一路送到程控衰减器和自动稳幅放大控制单元，该单元根据 CPU 的指令对信号衰减后送往信号激励放大器，同时对信号检波后送出一直流控制信号到压控信号源实现自动稳幅。信号激励部分输出送到一个宽带分压器， 由分压器馈给测试调谐回路一个恒定幅度的信号。当测试回路处于谐振状态时，在调谐电容 CT 两端的信号幅度将是分压器提供的信号幅度 Q 倍。在 CT 两端取得的调谐信号被信号放大单元适当放大后送到检波和数字取样单元，检波后送到控制中心 CPU 去进行数据处理。介质损耗因数测试仪低频特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。介质损耗因数测试仪低频电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。形式各种不同形式的损耗是综合起作用的。由于介质损耗的原因是多方面的，所以介质损耗的形式也是多种多样的。介电损耗主要有以下形式：1）漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。在介质发生缓慢极化时（松弛极化、空间电荷极化等），带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。　　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。 [2]3）电离损耗　　电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。4）结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。5）宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。

薄膜塑料介电常数测试仪Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。薄膜塑料介电常数测试仪1．a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。1 测量范围及误差 本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30％－80％条件下，应满足下列表中的技术指示要求。 在Cn＝100pF R4＝3183.2（W）（即10K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 40pF--20000pF ±0.5% Cx±2pF 介质损耗tgd 0～1 ±1.5％tgdx±0.0001 在Cn＝100pF R4＝318.3（W）（即1K/π）时 测量项目 测量范围 测量误差 电容量Cx 4pF--2000pF ±0.5% Cx±3pF 介质损耗tgd 0～0.1 ±1.5％tgdx±0.0001薄膜塑料介电常数测试仪　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。 [2]3）电离损耗　　电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。4）结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。薄膜塑料介电常数测试仪在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。 薄膜塑料介电常数测试仪紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等结构松散的离子晶体，如莫来石（3Al2O32SiO2）、董青石（2MgO2Al2O35SiO2）等，其内部有较大的空隙或晶格畸变，含有缺陷和较多的杂质，离子的活动范围扩大。在外电场作用下，晶体中的弱联系离子有可能贯穿电极运动，产生电导打耗。弱联系离子也可能在一定范围内来回运动，形成热离子松弛，出现极化损耗。所以这类晶体的介质损耗较大，由这类品体作主晶相的陶瓷材料不适用于高频，只能应用于低频场合。整个显示屏共分为四行第一行：左边 信号源频率指示，共6位；右边 信号源虚拟频段指示（1-4）。第二行：左边 调谐电容指示值，4位；右边 电感指示值，4位。第三行：左边 Q值指示值；右边 Q值合格比较状态 。第四行：左边 Q值量程，手动/自动切换指示/调谐点自动搜索指示； 右边上部 Q值量程范围指示；右边下部 Q值调谐光带指示。

特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。电离损耗（又称游离损耗）是由气体引起的，含有气孔的固体介质在外加电场强度超过气孔气体电离所需要的电场强度时，由于气体的电离吸收能量而造成指耗，这种损耗称为电离损耗。结构损耗在高频电场和低温下，有一类与介质内邻结构的紧密度密切相关的介质损耗称为结构损耗。这类损耗与温度关系不大，耗功随频率升高而增大。试验表明结构紧密的晶体成玻璃体的结构损耗都很小，但是当某此原因（如杂质的掺入、试样经淬火急冷的热处理等）使它的内部结构松散后。其结构耗就会大大升高。宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。

介电击穿强度测试仪-ZJC-50kV主要技术要求：1、设备输入电压： 220V (普通试验室电源均可兼容)；2、试验电压方式： 交流 0--50 KV；直流 0--50 KV；3、电器容量：5KVA；4、试验方法：0-50KV全量程可调(采用高精度电压采样器）5、击穿及耐压试验升压速率：0.1 KV/S 0.2 KV/S0.5 KV/S1.5 KV/S2 KV/S2.5 KV/S3.0 KV/S(此项满足0新标准里面极快速升压试验要求)；6、试验方式：直流试验：1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验交流试验：1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验注：根据不同行业的标准，我们可以根据用户的要求，依据贵行业标准，为您定制行业标准所需的特殊测试功能。7、过电流保护装置应有足够灵敏度以保证试样击穿时在0.1S内切断电源。8、本仪器采用无触点原件匀速调压方式09、支持短时间内短路试验要求。10、电压测量误差： 1%。11、试验电压连续可调：0-50 KV12、耐压时间设定：0-6小时(可通过软件连续设定)。13、主机尺寸：约800mm*700mm*1300mm（长宽高）。14、主机重量：约100KG。15、九级安全防护措施： (1) 超压保护(2)试验过流保护 (3)试验短路保护(4)安全门开启保护(5)软件误操作保护(6)零电压复位保护(7)试验结束放电保护(8)独立保护接地(9)试验完成后电磁放电深入了解介电击穿强度测试仪-ZJC-50kV1、概述：?特点：所有的绝缘材料都只能在一定的电场强度下保持其绝缘特性，当电场强度超过一定限度时，绝缘材料便会瞬时失去绝缘特性，使整个设备破坏。?特征：介电强度是最基本的绝缘特性参数。?应用：不管是在电气产品的生产中，还是在使用中，都要经常做介电强度的试验。 1.1定义；1.1.1电气击穿；绝缘材料或结构，在电场作用下瞬间失去绝缘特性，造成电极间短路，称为电气击穿。1.1.2击穿电压、击穿场强；在试验或使用中，绝缘材料或结构发生击穿时所施加的电压，称为击穿电压；击穿点的场强称为击穿场强。 1.1.3介电强度；绝缘材料的介电强度是指材料能承受而不致遭到破坏的最高电场场强，对于平板试样1.1.4闪络、闪络电压；在气体或液体中，电极之间发生放电，当放电至少有一部分是沿着固体材料表面时，称为闪络。通常试样表面闪络后，还可以恢复绝缘特性。闪络时试样上施加的电压称为闪络电压。1.1.5击穿或闪络的判别：?试样上电压突然降落；?通过试样上的电流突然增大；?有时会发出光或声；?试样上有贯穿的小孔、裂纹以及碳化的痕迹； 1.2介电强度试验分类；1.2.1击穿试验： 在一定试验条件下，升高电压直到试样发生击穿为止，测得击穿场强或击穿电压，测量试样的介电强度，用来测量绝缘材料的介电强度。不能作为选定应用于工作场强的依据，而只能作为选用材料的参考。1.2.2耐电压试验： 在一定试验条件下，对试样施加一定电压，经历一定时间，若在此时间内试样不发生击穿，即认为试样是合格的。只能说明试样的介电强度不低于该试验电压的水平，但不能说明究竟有多高。对于电气设备使用，施加电压略高于工作电压，经历时间1min、5min或更长 1.3影响介电强度的因素；1.3.1电压波形：?直流、工频正弦以及冲击电压下击穿机理不同，击穿场强也不同?工频交流电压下的击穿场强低的多?根据使用条件及试验目的，选择电压或叠加电压1.3.2电压作用时间?电击穿所需时间短，小于微秒级?热击穿需要较长时间的热的积累，在直流或工频电压下，随着施加电压的时间增长，击穿电压明显下降。?施加电压时间很长时，由于试样内存在局部放电或其他原因，试样老化，降低击穿电压?有机材料，一般在小于几微秒和大于几秒时，击穿电压随时间增长而明显下降，在几微秒至几秒范围内，击穿电压变化不大 1.3.3电场的均匀性及电压的极性?材料的本征击穿场强是在均匀电场下测得的。但不均匀电场中，如电极边缘电场强度比较高，会首先出现局部放电，扩展到试样击穿，测得的击穿电压偏低?在不均匀电场下，直流和冲击电压的极性对击穿电压有明显的影响。由于空间电荷的效应改变了电极间介质的电场分布，从而影响了击穿电压。1.3.4试样的厚度与不均匀性?试样厚度增加，电极边缘电场就更不均匀，试样内部的热量更不容易散发，试样内部含有缺陷的几率增大，使得击穿场强下降?薄膜试样，厚度减小，电子碰撞电离的几率减小，也会使击穿场强提高?工业上绝缘材料含有杂质和缺陷，使得试样击穿场强降低?材料中残留的机械应力，使得击穿场强降低 1.3.5环境条件?温度升高，会使击穿场强下降。在材料的玻化温度范围，击穿场强下降明显，对于某些材料，在低温区可能出现相反的温度效应。?湿度增大，会使击穿场强下降。材料吸湿后会增大电导和介质损耗，会改变电场分布，从而影响击穿场强。?气压对击穿场强的影响，主要是对气体而言。气压高，电子在碰撞过程的自由行程就短，击穿场强会升高。但在接近真空时，由于碰撞的几率减少，也会使击穿场强升高，可用巴申曲线阐明 二、试样与电极：2.1均匀电场下击穿试验用的试样与电极?材料的本征介电强度，是以均匀电场下的击穿场强来表征的?为了能使试样的击穿发生在均匀的电场中，必须把试样做成各种型材。 2.1.1例行试验中用的试样与电极例行试验，不能要求试样击穿都发生在均匀电场中，试样的形状决定与材料原有的形状，试样的厚度，一般也决定于试样本身；?试样太厚，击穿电压超过试验变压器的额定电压，或表面闪络无法解决，可将试样削薄，并保持试样表面光洁；?试样太薄，如纸或薄膜材料，可多层叠加在一起，施加一定压力压紧；2.1.2试样厚度测量?均匀的厚度，沿通过击穿点的直径上测三点取平均值。?如果厚度不均匀，以击穿点的厚度计算击穿场强。2.1.3试样的面积试样的面积要比电极面积大，使之在击穿前不会发生闪络；?为节省材料，电极面积不能太大；?为暴露材料中存在的缺点，电极不能太小；?一般直径取25mm或50mm； 2.2试样要求：2.2.1试样的个数?击穿场强分散性较大，要多用一些试样；?工程材料的击穿场强很大程度上决定于存在的弱点；?击穿场强受很多因素的影响；2.2.2一般最少取5个?取平均值作为实验结果；?若有一个数值偏离平均值15%以上，必须再取5个试样； 2.3电极要求： 试样的正常化处理电极的要求?良好的导电、导热性能，由铜或不锈钢制成；?表面要平整光滑，使之与试样表面接触良好；?对称电极：电极边缘电场较均匀，但上下电极必须对准中心线； 2.4电极效应：电极边缘效应?空气a击穿场强比固体材料x低，场强 ?总是在电极边缘的空气中先出现局部放电，这种放电会腐蚀试样，会使试样的温度升高，最终导致试样在较低的电压下发生击穿电极效应消除措施消除办法：?电极的边缘要做成圆角；?将试样和电极浸入相对介电常数大、击穿场强比较高的液体媒质中，如变压器油，硅油；?采用的媒质若具有很高的相对介电常数或电导，必须注意由此而引起的测试回路电流增大、试验变压器过载、保护电阻上电压降增大以及媒质本身严重发热等问题。液体材料用的电极结构：?直径25mm、间距2.5mm、边缘曲率半径2mm；?电极表面应光滑，液面离电极的最高点距离不少于22mm，电极距容器的内壁最近处不少于13mm，两个电极的轴心要对准并保持在同一水平线上，两个电极的表面要保持平行；?容器与液体材料不会相互破坏，容器可使用电瓷或玻璃，电极用铜或不锈钢； 使用：?清洗、烘干，再用被测液体洗涤两次；?注入被测液体，不要混入杂质与水分；?注入被测液体后静止片刻，避免电极间有气泡； 三、工频电压下的介电强度试验?工频电源应用最广，且材料的工频击穿场强比直流和冲击电压下的都低，对于绝缘材料，通常都是做工频下的击穿试验。?绝缘材料的介电强度，一般都是指在工频下的介电强度。?电工设备的例行试验中，一般也是做工频耐压试验。 3.1工频耐压试验： 3.2升压方式定义： ?电压从零按照一定方式和速度上升到规定的试验电压或击穿电压；升压方式 ?快速升压、20s逐渐升压、 慢速升压、60s逐级升压、极慢速升压；快速升压?电压从零上升到击穿电压所经历的时间约为10~20s，常用500V/s；20s逐渐升压?电压逐级升高，每级停留20s；?第一级电压约为快速升压击穿值的40%的电压，在此电压下，经受20s，若试样不击穿，再加高一级，直至试样击穿为止；?升压过程要尽量快，升压的时间计算在下一级的20s之内；?击穿应发生在第级或更高的电压等级上，否则应降低第一级电压重新进行试验；?逐级加压比快速加压作用的时间长，测得的击穿电压比较低；慢速升压?从快速升压的击穿电压的20%开始，以较慢的速度升压，使击穿发生在120~240s内；60s逐级升压?与20s逐级升压类似，只是每级停留的时间为60s；极慢速升压?从快速升压击穿电压的40%开始，以极慢速的速度升压，使击穿发生在300~600s内。?升压速度慢，电压作用时间更长，测得的击穿电压更低，试验结果比较可靠。 3.3试验设备与装置试验系统：包括高压试验变压器、调压器，以及控制和保 护装置等。高压试验变压器?工频高电压一般都通过试验变压器升压获得。试验变压器要求；?具有足够的额定电压和容量；?输出的电压波形没有畸变；试验变压器的电压电压等级，根据试样的试验电压等级来选定：?绝缘材料50~100kV?绝缘结构1000kV试验变压器单台容量：?国内：750kV?国外：1000kV超过单台变压器额定电压，采用多台变压器串接以获得更高的试验电压。 高压试验变压器 调压器 测控卡3.3.1试验变压器的串接?串接的级数增加，输出的电压增高，但设备的利用率降低，而且内阻抗增大，因此也不宜采用过多的级数，目前最多的是采用三级串接。?对于电容较大的试样，可以通过串联谐振回路获得比试验变压器更高的电压。 3.3.2串联谐振?谐振回路中，电抗器上的电压与试样上的电压大小相等，相位相反；?当试验电压很高时，要制作单台高压调谐电抗器是不经济的，可将调谐电感接在调谐变压器的低压侧，组成一台高压调谐电抗器，并可将多台这样的电抗器串接起来，使之能够承受超高压试验电压；?串联谐振回路，不但能提高试验电压，而且电压波形好，又比较安全。 3.3.3变压器的容量试样都是容性阻抗。试验变压器的容量，可以根据试样在试验电压下通过的容性电流来计算 ?一般试样电容为几十到几百pF，击穿电压不超过100kV，选择容量为10kVA；?电工设备耐压试验变压器容量一般要大一些，高压侧电流为1A或更大；?对于电容量特别大的试样，必须采用电抗器与试样并联，补偿容性电流，以减小变压器的容量；?采用超低频正弦电压对大容量试样做耐压试验，可以大大降低变压器的容量。3.3.4电压波形工频电压的波形应为正弦波，正弦波的峰值与有效值之比称为波形因数。要求波形因数不超过 波形畸变会影响介电强度的试验结果?高次谐波会降低击穿场强；?试样的击穿是决定于电压的峰值，而一般测量电压的仪表都是测量有效值；?波形畸变，同一峰值的电压测得有效值不同；产生波形畸变的原因?电源本身有3次或5次高次谐波；?变压器的非线性激磁电流：激磁电流决定于磁化曲线（非线性）； 改善电压波形?在调压器和试验变压器之间接入滤波器，电感与电容根据滤波频率选择电容不宜太小，以免调压器过载。?电网中常为3次谐波，线电压不含3次谐波，调压器一次侧接线电压。 3.3.5调压器自耦调压器结构?铁心上只绕一个线圈?线圈的两端为一次侧，接电源?一次侧与二次侧有一个公共连接端头，必须接中线或接地?二次侧另一头为滑动触点，触点与公共端距离增大时，电压升高优缺点?结构简单、体积小、漏抗小、价格便宜?输出电流较大时，触点在移动过程中会因接触不好而出现火花。适用?容量为几千伏安以下，油浸式的容量可达几十千伏安。3.3.6移圈调压器(容量大的调压器均采用)结构?由三个线圈套在一个铁心上组成?I和II匝数相等，绕向相反，串接?III为短路线圈，紧套在I、II外边原理?靠移动短路线圈改变其他两个线圈的漏磁通?改变I、II上的电压分配实现调节输出电压?III从低位置向高位置移动，输出电压逐步升高特点?靠电磁耦合而不用机械触点，因此调压过程?不会出现火花，容量可以做的很大?漏抗比较大，使用中应注意畸变 3.3.7控制线路应满足要求?只有在实验人员撤离高压试验区，并关好安全门(S1限位开关)，才能加上电压进行试验?升压必须从零开始(S2零限位)，以一定方式和速度上升?在试样发生击穿时，能自动切断电源(KA1过载释放器)。在自动控制线路中，能自动使电压下降到0。 3.3.8保护球隙 4.1保护和接地?在控制回路中采用过载释放器、安全门开关、调压器限位开关?低压部分可能出现高电压的各点，都要接上放电间隙?高压测试回路中接保护电阻，限制试样击穿或闪络时流过变压器的电流并使变压器高压端点位变化缓慢，以改善由此产生的脉冲在高压绕组间的分布和消除可能出现的振荡，并保护测量铜球和电极在击穿时不会烧坏。?试样击穿或间隙放电，将有很大的电流流过接地线。接地电阻过大会显著升高接地线的电位。各接地点与接地体的连接线应采用尽量短的多股线，以减小电阻和电感。?高压试验区应装有保护围栏，围栏的入口处应装有联锁开关和信号灯，并备有接地棒。4.1.2工频高电压的测量测量方法直接测量试样两端的电压；?静电电压表、球隙放电测量法等；把高电压变换为低电压进行测量；?分压器、电压互感器等；通过测量变压器低压绕组或特别绕制的测量绕组的电压换算高压端的电压；要求?测量误差不超过3%；?测量用仪表一般要求为0.5级；4.1.3静电电压表?由两个极板组成，一个极板固定，一个由弹簧连接，可以移动；?通过极板间受力的大小，可以测定极板间的电压，但分度是非线性的； ?内阻很大，决定于电极间的绝缘电阻；?电容很小，约5~50pF；?交流电压下测得的是有效值；?目前最高电压等级为500kV；?依靠电场力工作，因此空间电场、电荷对它的影响很明显，在使用中应予以注意； 4.1.4球隙测量法◆在确定条件下，球隙间空气的放电电压与球隙的距离有一定的关系，◆利用球隙放电时的距离来测量电压需满足条件?保证球隙间电场均匀?球隙中的空气要符合规定的标准状态◆测量时，先让球隙放电几次，当放电比较稳定后重复测3次，每次间隔不少于1min，取3次试验平均值◆GB311-64规定：在工频下测得的是电压峰值◆测量结果可靠，但装置占地面积较大，测量比较麻烦，一般只用于校准其他测试仪器。4.1.5互感器测量法◆电压互感器是变比和角差都很精确的降压变压器，它将高电压变换为低电压进行测量。◆电压互感器的电压比k为已知，则在二次侧测得的电压乘以k就得到一次侧的高电压值◆测量方法非常方便、可靠，在电网上普遍应用，但造价比较高电压互感器 4.1.6分压器法◆分压器由一个高阻抗与低阻抗串接而成。◆被测的高电压绝大部分降落在高阻抗上，可以从低阻抗两端测得低电压，通过分压比换算得到被测的高电压◆对于工频交流电压?电压较低时，用电阻分压器?电压很高时，电阻分压器功率损耗大，发热严重，同时体积大、分布电容的影响严重，采用电容分压器更合适。分压器测量原理图 4.1.7测量绕组法◆试验变压器本身带有测量绕组?测量绕组与高压绕组匝数比为k1，则高压端电压U2=此绕组电压U1*k1◆试验变压器的低压绕组?低压侧电压*高低压绕组匝数比?高低压侧电压不完全决定于匝数比，准确度比测量绕组的低测量线路图 测量误差◆绕组法测得高压端开路电压◆试验回路接试样，试样两端电压由试样电容，保护电阻及变压器内阻抗决定。?UL较大，Ur较小时，可能使测量值小于实际试样上承受电压值?UL很小，Ur较大时，可能出现测量值偏大?测量误差随着试样电容量的改变而变化

C4场强仪北京信测科技有限公司是测试与测量解决方案的设计者。我们致力于模块化的方式搭建你的测试能力。为你推荐满足现阶段，并适合未来扩展计划的测试测量设备。因为你和你的实验室有持续进化的需求，我们在全球范围内挑选合适的测试测量产品，并按照中国标准及使用习惯调整，来呼应这种需求。─为保持服务于你的专业水准，信测团队持续参与国际交流，实时更新行业前言知识。─我们也参与中国标准制定的工作组、参与国内专家的课题研究，保持对于中国市场趋势把握的准确性。─信测每年会在中国的各个城市开展多场技术研讨会，和你一起持续认知升级。─我们还特别感谢你给我们分享全球的好产品，你的信息让我们价值共生。特点：四通道1-4通道智能适应支持不同探头同时连接测量兼容主流第三方辐射抗扰度测试软件试验开始前探头调试试验过程中实时监控场强变化远程控制探头探头场强值超标报警探头高低温报警探头电量显示及报警探头修正因子添加相关产品：USB/RS232 电场探头EP-600电场探头 100kHz-9.25GHz；0.14V/m-140V/mEP-601电场探头 10kHz-9.25GHz；0.5V/m-500V/mEP-602电场探头 5kHz-9.25GHz；1.5V/m-1500V/mEP-603电场探头 300kHz-18GHz；0.17V/m-170V/mEP-604电场探头 300kHz-26.5GHz；0.4V/m-800V/m光纤FO/EP600/10光纤（10米）FO/EP600/20光纤（20米）FO/EP600/40光纤（40米）FO/EP600/60光纤（60米）场强仪EP-330电场探头 100kHz-3GHz；0.3V/m-300V/mEP-301电场探头 100kHz-3GHz；1V/m-1000V/mEP-333电场探头 100kHz-3.5GHz；0.15V/m-300V/mEP-745电场探头 100kHz-7GHz；0.35V/m-450V/mEP-183电场探头 1MHz-18GHz；0.8V/m-800V/mEP-408电场探头 1MHz-40GHz；0.8V/m-800V/mEP-201电场探头 60MHz-12GHz；3V/m-500V/m适用于近距离辐射抗扰度测试HP-050磁场探头 10Hz-5kHz；10nT-40μTHP-051磁场探头 10Hz-5kHz；50nT-200μTHP-032磁场探头 100kHz-30MHz；20mA/m-200A/mHP-102磁场探头 30MHz-1GHz；20mA/m-200A/mOR-03 可编程光电转换器C4：四通道场强监测仪技术参数：通道数量：四通道接口类型：EP-60X系列光纤接头频率范围：1 Hz - 40 GHz动态范围：140 dB分辨率：视所连探头而定显示单位：V/m显示分辨率：0.01 V/m测量值 ：X轴、Y轴、Z轴、综合场强探头连接检测：探头连接状态、探头连接故障排查指引探头状态检测：探头电量检测、场强检测探头设置功能（针对每个探头单独设置）：自动关机时间、频率修正、平均值和滤波器、采样率、远程关闭探头探头告警功能 ：探头充电提醒、电量告警、场强超标告警

绝缘塑料电阻测试仪主要应用范围l 材料高阻测试测量如防静电产品（防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等）电阻值的检测；l 材料体电阻(率)和表面电阻(率)测量；l 电化学和材料测试,以及物理,光学和材料研究 l 微弱电流测量如光电效应和器件暗电流测量。绝缘电阻测试仪精度表：1 102 1×106—2×107 ±10% 5×106—1×108 ±10% 1×107—2×108 ±10% 2.5×107—5×108 ±10% 5×107—1×109 ±10% 1×108—2×109 ±10% 2 103 1×107—2×108 ±10% 5×107—1×109 ±10% 1×108—2×109 ±10% 2.5×108—5×109 ±10% 5×108—1×1010 ±10% 1×109—2×1010 ±10% 3 104 1×108—2×109 ±10% 5×108—1×1010 ±10% 1×109—2×1010 ±10% 2.5×109—5×1010 ±10% 5×109—1×1011 ±10% 1×1010—2×1011 ±10% 4 105 1×109—2×1010 ±10% 5×109—1×1011 ±10% 1×1010—2×1011 ±10% 2.5×1010—5×1011 ±10% 5×1010—1×1012 ±10% 1×1011—2×1012 ±10% 5 106 1×1010—2×1011±10%5×1010—1×1012 ±10% 1×1011—2×1012 ±10% 2.5×1011—5×1012 ±10% 5×1011—1×1013 ±20% 1×1012—2×1013 ±20% 6 107 1×1011—2×1012 ±10% 5×1011—1×1013 ±20% 1×1012—2×1013 ±20% 2.5×1012—5×1013 ±20% 5×1012—1×1014 ±20% 1×1013—2×1014 ±20% 7 108 1×1012—2×1013 ±20% 5×1012—1×1014 ±20% 1×1013—2×1014 ±20% 2.5×1013—5×1014 ±20% 5×1013—1×1015 ±20% 1×1014—2×1015 ±20% 8 109 1×1013—2×1014 ±20% 5×1013—1×1015 ±20% 1×1014—2×1015 ±20% 2.5×1014—5×1015 ±20% 5×1014—1×1016 ±20%1×1015—2×1016绝缘电阻测试仪主要特点u 体积小、重量轻、准确度高；u 独特的被测电阻、和流过电阻的电流双显示，使操作测量更加方便；u 性能稳定、读数方便；u 既能测电阻又能测电流；u 使用操作简便，在任何电阻量程和测试电压下均直接读显示数字结果，免去要乘以一个系数的麻烦，使测量超高电阻就如用万用表测量普通电阻样简便。绝缘电阻测试仪测量条件：u 电阻测量范围 1×104Ω ～1×1018 Ω；u 电流测量范围2×10-4Ａ ～1×10-16Ａ；u 测试电压有六种选择DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V；绝缘电阻测试仪产品简介:液体增塑剂体积电阻率的测定GB1672-88标准说明1.主题内容与适用范围本标准规定了液体增塑剂的体积电阻率的测定方法。本标准适用于测定液体增塑剂的体积电阻率。其他液体助剂也可参照本测定方法。2.体积电阻率的定义是在试样体积电流方向的直流电场强度与该处电流密度之比，以Ω?m表示。3.试样3.1 液体增塑剂试样每次用40ml左右。3.2 试样应无气泡及杂质缺陷。3.3 试样应在温度23±2℃、相对湿度60-70%的条件下放置2h以上。4.测试仪器及电极4.1 高阻计高阻计测试时应满足下列要求：a.高阻计测量范围应包括1*106-1*1017Ω。b.阻值大于1012Ω时，测量误差小于±20%；阻值等于或小于1012Ω时，测量误差应小于±10%。c.零点飘移每小时不大于全标尺的4%。d.输入接线的绝缘电阻应大于仪器输入电阻的100倍。e.测试电路应有良好的屏蔽。f.仪器应定期进行校验。4.2 电极电极应由黄铜或不锈钢制成。高压电极内径146mm，测量电极外径120mm，护环宽度8mm，测量电极与高压电极的间隙为2mm，电极工作面粗糙度为1.6以下。电级的开关和尺寸如图1所示。5.测定步骤5.1 将经过处理后的试样倒入高压电极内，使液面刚好和测量表面全部接触。5.2 测试须在温度23±2℃及相对湿度60-70%环境中进行。5.3 试验时，对试样所加的电压为100-500V的直流电压。5.4 将电极接入仪器测量端，调整仪器，按仪器说明书进行操作。加上试验电压1min，读取电阻的指示值，同时须对试样连续测定两次，取两次结果算术平均值。每次测定后试样及地极要放电1min。6.计算体积电阻率ρv（Ω?m）按式（1）（2）计算：S＝π/4(D＋g)2 (1)ρv＝Rv(S/d)　　（2）式中 Rv——体积电阻，Ω；S——平板测量电极的有效面积，m2；D——平板测量电极直径，m；g——测量电极与保护电极间隙宽度，m；d——试样厚度，m。附加介绍：电阻率电阻率是用来表示各种物质电阻特性的物理量。某种材料制成的长1米、横截面积是1平方毫米的在常温下（20℃时）导线的电阻，叫做这种材料的电阻率。电阻率的单位是欧姆米(Ωm或ohmm)，常用单位是欧姆毫米和欧姆米。应用电阻率较低的物质被称为导体，常见导体主要为金属，而自然界中导电性佳的是银，其次为半导体，、硅锗。当存在外电场时，金属的自由电子在运动中不断和晶格节点上做热振子的正离子相碰撞，使电子运动受到阻碍，因而就具有了一定的电阻。其他不易导电的物质如玻璃、橡胶等，电阻率较高，一般称为绝缘体。介于导体和绝缘体之间的物质(如硅)则称半导体。电阻率的科学符号为 ρ(Rho)。 已知物体的电阻，可由电阻率ρ、长度l与截面面积A计算：ρ=RA/I，在该式中， 电阻R单位为欧姆，长度l单位为米，截面面积A单位为平方米，电阻率 ρ单位为欧姆米计算公式电阻率的计算公式为：ρ=RS/Lρ为电阻率——常用单位ΩmS为横截面积——常用单位㎡R为电阻值——常用单位ΩL为导线的长度——常用单位m电阻率的另一计算公式为：ρ=E/Jρ为电阻率——常用单位Ωmm2/m[1]E为电场强度——常用单位N/CJ为电流密度——常用单位A/㎡（E，J可以为矢量）说明1．电阻率ρ不仅和导体的材料有关，还和导体的温度有关。在温度变化不大的范围内：几乎所有金属的电阻率随温度作线性变化，即ρ=ρo(1+at)。式中t是摄氏温度，ρo是O℃时的电阻率，a是电阻率温度系数。2．由于电阻率随温度改变而改变，所以对于某些电器的电阻，必须说明它们所处的物理状态。如一个220 V -100 W电灯灯丝的电阻，通电时是484欧姆，未通电时只有40欧姆左右。3．电阻率和电阻是两个不同的概念。电阻率是反映物质对电流阻碍作用的属性，电阻是反映物体对电流阻碍作用的属性。总结：常态下（由表可知）导电性能好的依次是银、铜、铝，这三种材料是常用的，常被用来作为导线等，其中铜用的为广，几乎现在的导线都是铜的（精密仪器，特殊场合除外）铝线由于化学性质不稳定容易氧化已被淘汰。由于铝密度小，取材广泛，且价格比铜便宜，目前被广泛用于电力系统中传输电力的架空输电线路。为解决铝材刚性不足缺陷，一般采用钢芯铝绞线，即铝绞线内部包有一根钢线，以提高强度。银导电性能好，但由于成本高很少被采用，只有在高要求场合才被使用，如精密仪器、高频震荡器、航天等。顺便说下金，在某些场合仪器上触点也有用金的，那是因为金的化学性质稳定故采用，并不是因为其电阻率小所致测量技术a.通常，绝缘材料用于电气系统的各部件相互绝缘和对地绝缘，固体绝缘材料还起机械支撑作用。一般希望材料有尽可能高的绝缘电阻，并具有合适的机械、化学和耐热性能。b.绝缘材料的电阻率一般都很高，也就是传导电流很小。如果不注意外界因素的干扰和漏电流的影响，测量结果就会发生很大的误差。同时绝缘材料本身的吸湿性和环境条件的变化对测量结果也有很大影响。c.影响体积电阻率和表面电阻率测试的主要因素是温度和湿度、电场强度、充电时间及残余电荷等。体积电阻率可作为选择绝缘材料的一个参数，电阻率随温度和湿度的变化而显著变化。体积电阻率的测量常常用来检查绝缘材料是否均匀，或者用来检测那些能影响材料质量而又不能用其他方法检测到的导电杂质。d.由于体积电阻总是要被或多或少地包括到表面电阻的测试中去，因此只能近似地测量表面电阻，测得的表面电阻值主要反映被测试样表面污染的程度。所以，表面电阻率不是表征材料本身特性的参数，而是一个有关材料表面污染特性的参数。当表面电阻较高时，它常随时间以不规则的方式变化。测量表面电阻通常都规定1min的电化时间。（1）温度和湿度：固体绝缘材料的绝缘电阻率随温度和湿度的升高而降低，特别是体积电阻率随温度改变而变化非常大。因此，电瓷材料不但要测定常温下的体积电阻率，而且还要测定高温下的体积电阻率，以评定其绝缘性能的好坏。由于水的电导大，随着湿度增大，表面电阻率和有开口孔隙的电瓷材料的体积电阻率急剧下降。因此，测定时应严格地按照规定的试样处理要求和测试的环境条件下进行。（2）电场强度：当电场强度比较高时，离子的迁移率随电场强度而增大，而且在接近击穿时还会出现大量的电子迁移，这时体积电阻率大大地降低。因此在测定时，施加的电压应不超过规定的值。（3）残余电荷：试样在加工和测试等过程中，可能产生静电，电阻越高越容易产生静电，影响测量的准确性。因此，在测量时，试样要彻底放电，即可将几个电极连在一起进行短路。（4）杂散电势的：在绝缘电阻测量电路中，可能存在某些杂散电势，如热电势、电解电势、接触电势等，其中影响大的为电解电势。用高阻计测量表面潮湿的试样的体积电阻时，测量极与保护极间可产生20mv的电势。试验前应检查有无杂散电势。可根据试样加压前后高阻计的二次指示是否相同来判断有无杂散电势。如相同，证明无杂散电势；否则应当寻找并排除产生杂散电势的根源，才能进行测量。（5）防止漏电流的影响：对于高电阻材料，只有采取保护技术才能去除漏电流对测量的影响。保护技术就是在引起测量误差的漏电路径上安置保护导体，截住可能引起测量误差的杂散电流，使之不流经测量回路或仪表。保护导体连接在一起构成保护端，通常保护端接地。测量体积电阻时，三电极系统的保护极就是保护导体。此时要求保护电极和测量电极间的试样表面电阻高于与它并联元件的电阻10～100倍。线路接好后，应首先检查是否存在漏电。此时断开与试样连接的高压线，加上电压。如在测量灵敏度范围内，测量仪器指示的电阻值为无限大，则线路无漏电，可进行测量。（6）条件处理和测试条件的规定:固体绝缘材料的电阻随温度、湿度的增加而下降。试样的预处理条件取决于被测材料，这些条件在材料规范中规定。推荐使用GB10580《固体绝缘材料在试验前和试验时采用的标准条件》中规定的预处理方法。可使用甘油—水溶液潮湿箱进行湿度预处理。测试条件应与预处理条件尽可能地一致，有些时候（如浸水处理）不能保持预处理条件和测试条件一致时，则应在从预处理环境中取出后在尽可能短时间内完成测试，一般不超过5分钟。（7）电化时间的规定:当直流电压加到与试样接触的两电极间时，通过试样的电流会指数式地衰减到一个稳定值。电流随时间的减小可能是由于电介质极化和可动离子位移到电极所致。对于体积电阻率小于1010Ω&bull m的材料，其稳定状态通常在1分钟内达到。因此，要经过这个电化时间后测定电阻。对于电阻率较高的材料，电流减小的过程可能会持续几分钟、几小时、几天，因此需要用较长的电化时间。如果需要的话，可用体积电阻率与时间的关系来描述材料的特性。当表面电阻较高时，它常随时间以不规则的方式变化。测量表面电阻通常都规定1分钟的电化时间绝缘塑料电阻测试仪主要应用范围l 材料高阻测试测量如防静电产品（防静电鞋、防静电塑料橡胶制品、计算机房防静电活动地板等）电阻值的检测；l 材料体电阻(率)和表面电阻(率)测量；l 电化学和材料测试,以及物理,光学和材料研究 l 微弱电流测量如光电效应和器件暗电流测量。绝缘塑料电阻测试仪精度表：1 102 1×106—2×107 ±10% 5×106—1×108 ±10% 1×107—2×108 ±10% 2.5×107—5×108 ±10% 5×107—1×109 ±10% 1×108—2×109 ±10% 2 103 1×107—2×108 ±10% 5×107—1×109 ±10% 1×108—2×109 ±10% 2.5×108—5×109 ±10% 5×108—1×1010 ±10% 1×109—2×1010 ±10% 3 104 1×108—2×109 ±10% 5×108—1×1010 ±10% 1×109—2×1010 ±10% 2.5×109—5×1010 ±10% 5×109—1×1011 ±10% 1×1010—2×1011 ±10% 4 105 1×109—2×1010 ±10% 5×109—1×1011 ±10% 1×1010—2×1011 ±10% 2.5×1010—5×1011 ±10% 5×1010—1×1012 ±10% 1×1011—2×1012 ±10% 5 106 1×1010—2×1011±10%5×1010—1×1012 ±10% 1×1011—2×1012 ±10% 2.5×1011—5×1012 ±10% 5×1011—1×1013 ±20% 1×1012—2×1013 ±20% 6 107 1×1011—2×1012 ±10% 5×1011—1×1013 ±20% 1×1012—2×1013 ±20% 2.5×1012—5×1013 ±20% 5×1012—1×1014 ±20% 1×1013—2×1014 ±20% 7 108 1×1012—2×1013 ±20% 5×1012—1×1014 ±20% 1×1013—2×1014 ±20% 2.5×1013—5×1014 ±20% 5×1013—1×1015 ±20% 1×1014—2×1015 ±20% 8 109 1×1013—2×1014 ±20% 5×1013—1×1015 ±20% 1×1014—2×1015 ±20% 2.5×1014—5×1015 ±20% 5×1014—1×1016 ±20%1×1015—2×1016液体增塑剂测试条件：产品简介:液体增塑剂体积电阻率的测定GB1672-88标准说明1.主题内容与适用范围本标准规定了液体增塑剂的体积电阻率的测定方法。本标准适用于测定液体增塑剂的体积电阻率。其他液体助剂也可参照本测定方法。2.体积电阻率的定义是在试样体积电流方向的直流电场强度与该处电流密度之比，以Ω?m表示。3.试样3.1 液体增塑剂试样每次用40ml左右。3.2 试样应无气泡及杂质缺陷。3.3 试样应在温度23±2℃、相对湿度60-70%的条件下放置2h以上。4.测试仪器及电极4.1 高阻计高阻计测试时应满足下列要求：a.高阻计测量范围应包括1*106-1*1017Ω。b.阻值大于1012Ω时，测量误差小于±20%；阻值等于或小于1012Ω时，测量误差应小于±10%。c.零点飘移每小时不大于全标尺的4%。d.输入接线的绝缘电阻应大于仪器输入电阻的100倍。e.测试电路应有良好的屏蔽。f.仪器应定期进行校验。4.2 电极电极应由黄铜或不锈钢制成。高压电极内径146mm，测量电极外径120mm，护环宽度8mm，测量电极与高压电极的间隙为2mm，电极工作面粗糙度为1.6以下。电级的开关和尺寸如图1所示。5.测定步骤5.1 将经过处理后的试样倒入高压电极内，使液面刚好和测量表面全部接触。5.2 测试须在温度23±2℃及相对湿度60-70%环境中进行。5.3 试验时，对试样所加的电压为100-500V的直流电压。5.4 将电极接入仪器测量端，调整仪器，按仪器说明书进行操作。加上试验电压1min，读取电阻的指示值，同时须对试样连续测定两次，取两次结果算术平均值。每次测定后试样及地极要放电1min。6.计算体积电阻率ρv（Ω?m）按式（1）（2）计算：S＝π/4(D＋g)2 (1)ρv＝Rv(S/d)　　（2）式中 Rv——体积电阻，Ω；S——平板测量电极的有效面积，m2；D——平板测量电极直径，m；g——测量电极与保护电极间隙宽度，m；d——试样厚度，m。附加介绍：电阻率电阻率是用来表示各种物质电阻特性的物理量。某种材料制成的长1米、横截面积是1平方毫米的在常温下（20℃时）导线的电阻，叫做这种材料的电阻率。电阻率的单位是欧姆米(Ωm或ohmm)，常用单位是欧姆毫米和欧姆米。绝缘塑料电阻测试仪应用电阻率较低的物质被称为导体，常见导体主要为金属，而自然界中导电性佳的是银，其次为半导体，、硅锗。当存在外电场时，金属的自由电子在运动中不断和晶格节点上做热振子的正离子相碰撞，使电子运动受到阻碍，因而就具有了一定的电阻。其他不易导电的物质如玻璃、橡胶等，电阻率较高，一般称为绝缘体。介于导体和绝缘体之间的物质(如硅)则称半导体。电阻率的科学符号为 ρ(Rho)。 已知物体的电阻，可由电阻率ρ、长度l与截面面积A计算：ρ=RA/I，在该式中， 电阻R单位为欧姆，长度l单位为米，截面面积A单位为平方米，电阻率 ρ单位为欧姆米计算公式电阻率的计算公式为：ρ=RS/Lρ为电阻率——常用单位ΩmS为横截面积——常用单位㎡R为电阻值——常用单位ΩL为导线的长度——常用单位m-----------------------------------------电阻率的另一计算公式为：ρ=E/Jρ为电阻率——常用单位Ωmm2/m[1]E为电场强度——常用单位N/CJ为电流密度——常用单位A/㎡（E，J可以为矢量）说明1．电阻率ρ不仅和导体的材料有关，还和导体的温度有关。在温度变化不大的范围内：几乎所有金属的电阻率随温度作线性变化，即ρ=ρo(1+at)。式中t是摄氏温度，ρo是O℃时的电阻率，a是电阻率温度系数。2．由于电阻率随温度改变而改变，所以对于某些电器的电阻，必须说明它们所处的物理状态。如一个220 V -100 W电灯灯丝的电阻，通电时是484欧姆，未通电时只有40欧姆左右。3．电阻率和电阻是两个不同的概念。电阻率是反映物质对电流阻碍作用的属性，电阻是反映物体对电流阻碍作用的属性。绝缘塑料电阻测试仪总结：常态下（由表可知）导电性能好的依次是银、铜、铝，这三种材料是常用的，常被用来作为导线等，其中铜用的为广，几乎现在的导线都是铜的（精密仪器，特殊场合除外）铝线由于化学性质不稳定容易氧化已被淘汰。由于铝密度小，取材广泛，且价格比铜便宜，目前被广泛用于电力系统中传输电力的架空输电线路。为解决铝材刚性不足缺陷，一般采用钢芯铝绞线，即铝绞线内部包有一根钢线，以提高强度。银导电性能好，但由于成本高很少被采用，只有在高要求场合才被使用，如精密仪器、高频震荡器、航天等。顺便说下金，在某些场合仪器上触点也有用金的，那是因为金的化学性质稳定故采用，并不是因为其电阻率小所致测量技术a.通常，绝缘材料用于电气系统的各部件相互绝缘和对地绝缘，固体绝缘材料还起机械支撑作用。一般希望材料有尽可能高的绝缘电阻，并具有合适的机械、化学和耐热性能。b.绝缘材料的电阻率一般都很高，也就是传导电流很小。如果不注意外界因素的干扰和漏电流的影响，测量结果就会发生很大的误差。同时绝缘材料本身的吸湿性和环境条件的变化对测量结果也有很大影响。c.影响体积电阻率和表面电阻率测试的主要因素是温度和湿度、电场强度、充电时间及残余电荷等。体积电阻率可作为选择绝缘材料的一个参数，电阻率随温度和湿度的变化而显著变化。体积电阻率的测量常常用来检查绝缘材料是否均匀，或者用来检测那些能影响材料质量而又不能用其他方法检测到的导电杂质。d.由于体积电阻总是要被或多或少地包括到表面电阻的测试中去，因此只能近似地测量表面电阻，测得的表面电阻值主要反映被测试样表面污染的程度。所以，表面电阻率不是表征材料本身特性的参数，而是一个有关材料表面污染特性的参数。当表面电阻较高时，它常随时间以不规则的方式变化。测量表面电阻通常都规定1min的电化时间。（1）温度和湿度：固体绝缘材料的绝缘电阻率随温度和湿度的升高而降低，特别是体积电阻率随温度改变而变化非常大。因此，电瓷材料不但要测定常温下的体积电阻率，而且还要测定高温下的体积电阻率，以评定其绝缘性能的好坏。由于水的电导大，随着湿度增大，表面电阻率和有开口孔隙的电瓷材料的体积电阻率急剧下降。因此，测定时应严格地按照规定的试样处理要求和测试的环境条件下进行。（2）电场强度：当电场强度比较高时，离子的迁移率随电场强度而增大，而且在接近击穿时还会出现大量的电子迁移，这时体积电阻率大大地降低。因此在测定时，施加的电压应不超过规定的值。（3）残余电荷：试样在加工和测试等过程中，可能产生静电，电阻越高越容易产生静电，影响测量的准确性。因此，在测量时，试样要彻底放电，即可将几个电极连在一起进行短路。（4）杂散电势的：在绝缘电阻测量电路中，可能存在某些杂散电势，如热电势、电解电势、接触电势等，其中影响大的为电解电势。用高阻计测量表面潮湿的试样的体积电阻时，测量极与保护极间可产生20mv的电势。试验前应检查有无杂散电势。可根据试样加压前后高阻计的二次指示是否相同来判断有无杂散电势。如相同，证明无杂散电势；否则应当寻找并排除产生杂散电势的根源，才能进行测量。（5）防止漏电流的影响：对于高电阻材料，只有采取保护技术才能去除漏电流对测量的影响。保护技术就是在引起测量误差的漏电路径上安置保护导体，截住可能引起测量误差的杂散电流，使之不流经测量回路或仪表。保护导体连接在一起构成保护端，通常保护端接地。测量体积电阻时，三电极系统的保护极就是保护导体。此时要求保护电极和测量电极间的试样表面电阻高于与它并联元件的电阻10～100倍。线路接好后，应首先检查是否存在漏电。此时断开与试样连接的高压线，加上电压。如在测量灵敏度范围内，测量仪器指示的电阻值为无限大，则线路无漏电，可进行测量。（6）条件处理和测试条件的规定:固体绝缘材料的电阻随温度、湿度的增加而下降。试样的预处理条件取决于被测材料，这些条件在材料规范中规定。推荐使用GB10580《固体绝缘材料在试验前和试验时采用的标准条件》中规定的预处理方法。可使用甘油—水溶液潮湿箱进行湿度预处理。测试条件应与预处理条件尽可能地一致，有些时候（如浸水处理）不能保持预处理条件和测试条件一致时，则应在从预处理环境中取出后在尽可能短时间内完成测试，一般不超过5分钟。（7）电化时间的规定:当直流电压加到与试样接触的两电极间时，通过试样的电流会指数式地衰减到一个稳定值。电流随时间的减小可能是由于电介质极化和可动离子位移到电极所致。对于体积电阻率小于1010Ω&bull m的材料，其稳定状态通常在1分钟内达到。因此，要经过这个电化时间后测定电阻。对于电阻率较高的材料，电流减小的过程可能会持续几分钟、几小时、几天，因此需要用较长的电化时间。如果需要的话，可用体积电阻率与时间的关系来描述材料的特性。当表面电阻较高时，它常随时间以不规则的方式变化。测量表面电阻通常都规定1分钟的电化时间

德国KLEINWACHTER EFM115 静电场监测仪小型、固定式测量探头，监测静电场强，USB接口直接连接电脑操作显示。大量程200KV/m，高精度5%。 特点及优势大量程—— 200kV/m，精确测量物体表面静电。高精度——5% 旋转叶片式探ce头，高灵敏度。无须转换器—配套软件，直接连接电脑操作。数字及图形显示——电脑显示操作。固定式测量——长时间监测静电场大小。电源——通过USB供电。安装方便——配套固定三角架。选配可配备MK11探ce头——监测静电电压。应用及原理ESD静电放电现象是电子行业面临的严重问题，现代微电子产品很容易被静电放电所损坏，另外其它行业也同样深受静电的影响，例如通信、塑料及易爆材料等。静电问题会导致时间及财务等成本的上升，并且影响人体健康。不到100V的静电压，即能损坏静电敏感元件。超过10000V的静电压，能损伤人体，衣物，材料及设备。3000V以上的静电压则能产生静电火花，在危险区域静电甚至会引起爆炸。为了找到有效合理的解决方法，首先必须了解静电产生的原因、静电的大小和极性。而kleinwachter的静电场测试仪则正合此用。EFM 115是一款简单易用的静电场监测仪。外形小巧，直接连接电脑操作，可配套MK11探ce头监测静电电压。软件选择检测距离：根据所需量程预先选择好检测距离，软件通过距离将场强自动转化成电压。 1.镀镍外管2.调制器系统3.USB mini 接口4.调零5.接地插孔4mm6.M6 螺纹孔，连接桌面三角架技术参数尺寸 D36mm x 120mm重量 180g校准平行极板电容器 200mm x 200mm，间距25mm测量范围 5Kv/m,20Kv/m,50KV/m,及200Kv/m 精度 5%电源 5V max 100mA,通过USB接口接地，4mm 接地插孔运行时间 一天8小时，至少使用两年接口 Mini USB接口出厂配套基础设备套件：? 静电场监测仪EFM115? 屏蔽盖? 带mini插头的USB连接线，1.5m ? 2m接地线,带鳄鱼夹? EFM115_readout 软件CD? 防静电手提盒? 使用说明? 校准证选配件：电压探ce头MK11 ，见上图。

仪器简介：Narda PMM拥有世界上95%以上的场强探头专利技术。EP600和EP601是最新推出的目前最小的场强探头；光纤传输直连电脑；无需场强仪；探头具有高分辨率，高采样率，高稳定性；内存校准参数、校准因子；监控温度变化以确保更准确的测试。 所有工程师都知道，辐射抗扰度测试中最耗时间的是场校准和均匀域校准。场强探头的分辨率和采样速率决定了场和均匀域校准的速度。EP600和EP601探头0.01v/m的分辨率，22个样本/秒的采样速率大大缩短了测试所需的时间。超小的尺寸将探头对场的扰动降至最低。您还可以通过SB10系统，使用多个场强探头进行布点测试。更多探头： 场强探头 EP600 / EP601 磁场探头 HP-032 磁场探头 HP-050 磁场探头 HP-102 电场探头 EP-33M 电场探头 EP-44M 电场探头 EP-105 电场探头 EP-183 电场探头 EP-301 电场探头 EP-330 电场探头 EP-408 电磁场探头 EHP-50C技术参数：技术参数： EP 600 EP 601 频率范围 100KHz～9.25GHz 10KHz～9.25GHz 不平坦度 0.4dB（典型） 0.5dB（典型） 动态范围 0.14～140v/m(60dB) 0.5～500v/m(60dB) 线 性 0.4dB（50MHz/0.3-100v/m） 0.4dB（50MHz/1-500v/m） 分辨率 0.01v/m 传感器 6个单极子 各向同性 0.5dB（0.3dB典型） 过 载 300v/m 1000v/m 测量数据 X-Y-Z轴 采 样 X-Y-Z轴同步采样 采 样 率 22个样本/秒～0.03个样本/秒（根据所设滤波器） 数字滤波器 2.3～28Hz，低通滤波器，可调 内置电池 3v-mAh，可充电Li-Mn电池 工作时间 80小时 充电时间 涓流充电，48小时可充至满工作时间 内存数据 序列号，校准参数，校准因子，韧件版本 场强探头 通 讯 双工光纤 光纤长度 10米（标配）20/40米可选 光纤电脑接口 USB 电脑软件 显示场强、温度和电量；设置滤波器，采样率和频率 工作温度 -10～+50℃ 温度传感器 0.1℃分辨率 电量传感器 10mV分辨率 尺 寸 最大53mm（探头体：17mm；传感器：17mm） 重 量 25g（包括1米光纤的重量） 探头接口 20UNC母口主要特点：· 最小的电场探头· 光纤传输· 无需场强仪· 同时监控温度，获得更精确测量 · USB接口直接连电脑 · 内置存储器· 内置锂电供电· 涓流充电，电池工作时间80个小时 · 可用于均匀场测试、狭小空间的电场测试等

Narda PMM拥有世界上95%以上的场强探头专利技术。其中有EP600和EP601，EP-602是最新推出的目前最小的场强探头；光纤传输直连电脑；无需场强仪；探头具有高分辨率，高采样率，高稳定性；内存校准参数、校准因子；监控温度变化以确保更准确的测试。所有工程师都知道，辐射抗扰度测试中最耗时间的是场校准和均匀域校准。场强探头的分辨率和采样速率决定了场和均匀域校准的速度。22个样本/秒的采样速率大大缩短了测试所需的时间。超小的尺寸将探头对场的扰动降至最低。您还可以通过SB10系统，使用多个场强探头进行布点测试。 EP-602主要特性：The main characteristics are:Very wide frequency range: 5 kHz t 9,25 GHz（宽频率范围）Dynamic range: 1,5 to 1500 V/m（高灵敏度，大动态范围）Overload: 3000 V/m ! （目前唯一超大负载范围的场强探头）These peculiar characteristics make the new EP-602 particularly suited for the immunity systems in the Automotive, aerospace and military applications, where the field values can be quite high.最适合做射频辐射常强监测。如IEC61000-4-3和军工标准测试系统的搭建。其它型号:磁场探头HP-032磁场探头HP-050磁场探头HP-102磁场探头EP-33M电场探头EP-44M电场探头EP-105电场探头EP-183电场探头EP-301电场探头EP-330电场探头EP-408电场探头EHP-50C

绝缘材料介电常数测试仪测量方法相对介电常数εr可以用静电场按以下方法测量:首先，在两极板间有真空的情况下，测试电容器的电容C0。然后，通过使用电容器极板之间的相同距离，但是在极板之间添加电介质，来测量电容Cx。那么相对介电常数可以通过下面的公式计算εr=Cx/C0在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对介电常数ε r为1.00053。因此，当在空气中使用这种电极配置的电容Ca代替C0来测量相对介电常数εr时，有足够的精度。(参考GB/T 1409-2006)对于时变电磁场，物质的介电常数与频率有关，通常称为介电系数。介电常数的定义“介电常数”(绝对介电常数ε)的定义:当电容器极板填充有电介质时，电容增加的倍数称为电介质的介电常数，用ε表示。并明确其单位为F. M-1(定义)。介电常数的单位是什么？介电常数又称介电常数、介电系数或介电常数，是代表绝缘容量特性的系数，用字母ε表示，单位为F/m。它是电位移和电场强度之间的比例常数。这个常数在自由空间(真空)中是8.85×10法拉第/米(F/m)的-12次方。在其他材料中，介电系数可能相差很大，往往比真空中的值大得多，其符号为eo。在工程应用中，介电常数往往以相对介电常数的形式表示，而不是绝对值。如果eo表示自由空间的介电系数(8.85×10的-12次方F/m)，E是材料中的介电系数，那么这种材料的相对介电系数(也叫介电常数)由下式给出:ε 1 = ε/ε o = ε× 1.13× 10的11次方。 绝缘材料介电常数测试仪绝缘材料介电常数测试仪绝缘材料介电常数测试仪绝缘材料介电常数测试仪信号源DDS信号频率范围10KHz-70MHz10KHz-100MHz100KHz-160MHzQ值测量范围2～1023Q值量程分档30、100、300、1000、自动换档或手动换档电感测量范围4.5nH-10mH 160M：1nH-140mH电容直接测量范围1～460pF 160M:1pF-25uF主电容调节范围30～540pF 160M:17-240pF电容准确度150pF以下±1.5pF；150pF以上±1% 型号频率指示误差1*10-6 ±1 Q值合格指示预置功能范围5～1000

一、产品概述：介电常数测试仪采用数字液晶显示，是通过GB1409中的Q表法测试固体/液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低值，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。可直读介电常数及介质损耗结果，免去人工计算的繁琐。经过新升级可通过上位机软件查看测试曲线，北京航天纵横检测仪器是代替进口设备的北京航天纵横仪器产品。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。产地北京房山。二、技术特性：DDS数字合成信号：50KHz-160MHz；信号源频率覆盖比：1600:1；信号源频率精度：6位有效数3×10-5 ±1个字；Q测量范围/Q分辨率：1-1000自动/手动量程；4位有效数,分辨率0.1；Q测量工作误差：5%；电感测量范围/分辨率：1nH-140mH 4位有效数,分辨率0.1nH；电感测量误差：5%；调谐电容：主电容17-240pF；电容直接测量范围：1pF～25nF；调谐电容误差/分辨率：±1pF或1% / 0.1pF；谐振点搜索：自动扫描；Q合格预置范围：5-1000声光提示；Q量程切换：自动/手动；LCD显示参数：F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；新增功能：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；新增功能：大电容值直接测量显示功能，测量值可达25nF；消耗功率：约25W；净重：约7kg；外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。二、符合标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法； 三、产品特点：1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2、双测试要素输入 - 北京航天纵横检测仪器测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。8、新增功能：电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值（特别是小电感值）测量时的精度。此技术只有北京航天纵横仪器生产的Q表有。9、新增功能：大电容值直接测量显示功能，电容值直接测量值可达25nF（配100uH电感时）。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京航天纵横检测仪器生产的Q表有。四、工作环境：1、环境温度：0℃～+40℃；2、相对湿度：80％；3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。五、配置清单：主机一台电感九只夹具一套液体杯一个电源线一根数据线一根说明书一份合格证一份保修卡一张六、适用单位：可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数仪对绝缘材料的介质损耗角正切tanδ及介电常数进行测试；北京航天纵横检测仪器同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。七、试验步骤：1、按照Q表的操作规程调整仪器，选定测量频率，测定C1和Q1的值。2、将试样放入测试电极中，并调节电容器C，使电路谐振，达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。3、将试样从测试电极中取出，调节C或测试电极的距离，使电路重新谐振，记下C、或测试电极的校正电容值与Q值，北京航天纵横检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。4、其他高频测试仪器按其说明书进行操作，北京航天纵横检测仪器通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。八、试验条件：1、试样表面应清洁、平滑，无裂纹、气泡和杂质等，试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。3、当试样处理有特殊要求时，可按其产品标准规定的进行。九、测试意义：1、介电常数——北京航天纵横检测仪器绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中，要求电容率具有一个高值，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至最小。2、交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至最小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。3、相关性——北京航天纵横检测仪器当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。十、典型用户：沧州大化集团中国计量大学河南平煤神马聚碳材料有限责任公司温州市鹿城区科学技术局东莞初创应用材料有限公司北京航空航天大学中国科学技术大学惠州市杜科新材料有限公司宁波东烁新材料科技有限公司云南能投硅材科技发展有限公司天津科技大学十一、相关产品：ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验机一、介质损耗的基本概念1.介质损耗电介质在电场作用下(加电压后)，要发生极化过程和电导过程。有损极化过程有能量损耗；电导过程中，电学性泄漏电流流过绝缘电阻当然也有能量损耗。损耗程度一般用单位时间内损耗的能量，即损耗功率表示。这种电介质出现功率损耗的过程称为介质损耗。显然，介质损耗过程随极化过程和电导过程同时进行。介质损耗掉的能量(电能)变成了热能，使电介质温度升高。若介质损耗过大，则电介质温度将升得过高，这将加速电介质的热分解与老化，最终可能导致绝缘性能的完全失去，所以研究介质损耗有十分重要的意义。2.介质损耗的基本形式(1)电导损耗。电导损耗为电场作用下由泄漏电流引起的那部分损耗。泄漏电流与电场频率无关，故这部分损耗在直流交流下都存在。气体电介质以及绝缘良好的液、固体电介质，电导损耗都不大。液、固体电介质的电导损耗随温度升高而按指数规律增大。(2)极化损耗。极化损耗为偶极子与空间电荷极化引起的损耗。在直流电压作用下，由于极化过程仅在电压施加后很短时间内存在，与电导损耗相比可忽路。而在交流电压作用下，由于电介质随交流电压极性的周期性改变而作周期性的正向极化和反向极化，极化始终存在于整个加压过程之中。极化损耗在频率不太高时随频率升高而增大。但频率过高时，极化过程反而减弱，损耗减小。极化损耗与温度也有关，在某一温度下极化损耗达最大。(3)游离损耗，游离损耗主要是指气体间隙的电晕放电以及液、固体介质内部气泡中局部放电所造成的损耗。这是因为放电时，产生带电粒子需要游离能，放电时出现光、声、热、化学效应也要消耗能量。游离能随电场强度的增大而增大。二、介质损失角正切tanδ由上可见，在直流电压作用下，介质损耗主要为电导损耗，因此，电导率γ或电阻率ρ既表示介质电导的特性，同时也表征了介质损耗的特性。但在交流电压作用下，三种形式的损耗都存在，为此需引入一个新的物理量来表征介质损耗的特性，这个物理量就是tanδ。1.并联等值电路及损耗功率的计算公式电介质两端施加一交流电压时，就有电流流过介质。有三个电流分量组成式中 ——电导过程的电流，为阻性电流，与同相位；——无损极化和有损极化时的电流。对应的等值电路如图2-9(a)所示，此等值电路可进一步简化成如图2-9(b)所示的由R和Cp相并联的等值电路。此并联等值电路的相量图如图2-9(c)所示。我们定义功率因数角θ的余角为δ角。由相量图可见，介质损耗功率越大，IR越大，δ角也越大，因此δ角称为介质损失角。对此并联等值电路，可写出介质损耗功率P的计算公式当然，图2-9(b)的电路也可以简化成由r和Cs相串联的等值电路，可以证明当tanδ 很小时， Cs≈C对于串联等值电路，同样可以推出损耗功率的计算公式2.tanδ值的意义从介质损耗功率P的计算公式看，我们若用P来表征介质损耗的程度是不方便的，因为P值与试验电压U的高低、试验电压的角频率ω(ω=2Πf)、电介质等值电容量Cp (或Cs)以及tanδ值有关。而若在试验电压、频率、电介质尺寸一定的情况下，那么介质损耗功率仅取决于 tanδ，换句话说，也就是tanδ是与电压、频率、绝缘尺寸无关的量，它仪取决于电介质的损耗特性。所以 tanδ是表征介质损耗程度的物理量，与εr、γ相当。这样,我们可以通过试验测量电介质的tanδ值，并以此来判断介质损耗的程度。各种结构固体电介质的tanδ如表2-2所示。表2-2 各种结构固体电介质的tanδ值(1MHz，20℃时)电介质结构名称tanδ分子结构非极性分子石 蜡 聚苯乙烯 聚四氟乙烯小于0.0002极性分子纤维素 有机玻璃0.01~0.015离子结构晶格结构紧密岩 盐 刚 玉小于0.0002 小于0.0002晶格结构不紧密多铝红柱石0.015晶格畸变的晶体锆英石0.02无定形结构硅酸铅玻璃 硅碱玻璃0.001 0.01不均匀结构　绝缘子瓷 浸渍纸绝缘0.01 0.01三、影响 tanδ 的因素影响tanδ 值的因素主要有温度、频率和电压。1.温度对tanδ值的影响随电介质分子结构的不同有显著的差异中性或弱极性介质的损耗主要由电导引起，故温度对tanδ的影响与温度对电导的影响相似，即tanδ随温度的升高而按指数规律增大，且tanδ较小。极性介质中，极化损耗不能忽略，tanδ值与温度的关系如图2-10所示。当温度在t1时，由于温度较低，电导损耗与极化损耗都小，电导损耗随温度升高而略有增大，而极化损耗随温度升高也增大(黏滞性减小，偶极子转向容易)，所以tanδ随温度升高而增大。当温度在t1＜t＜t2时，温度已不太低，此时分子的热运动反而妨碍偶极子沿电场方向作有规则的排列，极化损耗随温度升高而降低，而且降低的程度又要超过电导损耗随温度升高的程度，因此tanδ随温度升高而减小。当温度在t＞t2时，温度已很高，电导损耗已占主导地位，tanδ又随温度升高而增大。2.频率对tanδ的影响主要体现于频率对极化损耗的影响tanδ与频率的关系如图2-11所示。在频率不太高的一定范围内，随频率的升高，偶极子往复转向频率加快，极化程度加强，介质损耗增大，tanδ值增大。当频率超过某一数值后，由于偶极子质量的惯性及相互间的摩擦作用，来不及随电压极性的改变而转向，极化作用减弱，极化损耗下降，tanδ值降低。3.电压对tanδ的影响主要表现为电场强度对tanδ值的影响在电场强度不很高的一定范围内，电场强度增大(由于电压升高)，介质损耗功率变大，但tanδ几乎不变。当电场强度达到某一较高数值时，随着介质内部不可避免存在的弱点或气泡发生局部放电，tanδ随电场强度升高而迅速增大。因此，在较高电压下测tanδ值，可以检查出介质中夹杂的气隙、分层、龟裂等缺陷来。此外，湿度对暴露于空气中电介质的tanδ影响也很大。介质受潮后，电导损耗增大，tanδ也增大，例如绝缘纸中水分含量从4%增加到10%，tanδ值可增大100倍。然而，假如tanδ值的测试是在温度低于0～5℃时进行，含水量增加tanδ反而不会增大，这是因为此时介质中的水分已凝结成冰，导电性又变差，电导损耗变小的缘故。为此，在进行绝缘试验时规定被试品温度不低于+5℃，这对tanδ的测试尤为重要，在工程实际中，通过tanδ以及tanδ=f(u)曲线的测量及判断，对监督绝缘的工作状况以及老化的进程有非常重要的意义。

硅橡胶直流电阻率测试仪高分子材料的电学性能是指在外加电场作用下材料所表现出来的介电性能、导电性能、电击穿性质以及与其他材料接触、摩擦时所引起的表面静电性质等。最基本的是电导性能和介电性能，前者包括电导(电导率γ，电阻率ρ=1/γ)和电气强度(击穿强度Eb)；后者包括极化(介电常数εr)和介质损耗(损耗因数tgδ)。共四个基本参数。通常，绝缘材料用于电气系统的各部件相互绝缘和对地绝缘，固体绝缘材料还起机械支撑作用。一般希望材料有尽可能高的绝缘电阻，并具有合适的机械、化学和耐热性能。绝缘材料的电阻率一般都很高，也就是传导电流很小。如果不注意外界因素的干扰和漏电流的影响，测量结果就会发生很大的误差。同时绝缘材料本身的吸湿性和环境条件的变化对测量结果也有很大影响。影响体积电阻率和表面电阻率测试的主要因素是温度和湿度、电场强度、充电时间及残余电荷等。体积电阻率可作为选择绝缘材料的一个参数，电阻率随温度和湿度的变化而显著变化。体积电阻率的测量常常用来检查绝缘材料是否均匀，或者用来检测那些能影响材料质量而又不能用其他方法检测到的导电杂质。由于体积电阻总是要被或多或少地包括到表面电阻的测试中去，因此只能近似地测量表面电阻，测得的表面电阻值主要反映被测试样表面污染的程度。所以，表面电阻率不是表征材料本身特性的参数，而是一个有关材料表面污染特性的参数。当表面电阻较高时，它常随时间以不规则的方式变化。测量表面电阻通常都规定1min的电化时间。（1）温度和湿度：固体绝缘材料的绝缘电阻率随温度和湿度的升高而降低，特别是体积电阻率随温度改变而变化非常大。因此，电瓷材料不但要测定常温下的体积电阻率，而且还要测定高温下的体积电阻率，以评定其绝缘性能的好坏。由于水的电导大，随着湿度增大，表面电阻率和有开口孔隙的电瓷材料的体积电阻率急剧下降。因此，测定时应严格地按照规定的试样处理要求和测试的环境条件下进行。（2）电场强度：当电场强度比较高时，离子的迁移率随电场强度增高而增大，而且在接近击穿时还会出现大量的电子迁移，这时体积电阻率大大地降低。因此在测定时，施加的电压应不超过规定的值。（3）残余电荷：试样在加工和测试等过程中，可能产生静电，电阻越高越容易产生静电，影响测量的准确性。因此，在测量时，试样要彻底放电，即可将几个电极连在一起进行短路。（4）杂散电势的消除：在绝缘电阻测量电路中，可能存在某些杂散电势，如热电势、电解电势、接触电势等，其中影响最大的为电解电势。用高阻计测量表面潮湿的试样的体积电阻时，测量极与保护极间可产生20mv的电势。试验前应检查有无杂散电势。可根据试样加压前后高阻计的二次指示是否相同来判断有无杂散电势。如相同，证明无杂散电势；否则应当寻找并排除产生杂散电势的根源，才能进行测量。（5）防止漏电流的影响：对于高电阻材料，只有采取保护技术才能去除漏电流对测量的影响。保护技术就是在引起测量误差的漏电路径上安置保护导体，截住可能引起测量误差的杂散电流，使之不流经测量回路或仪表。保护导体连接在一起构成保护端，通常保护端接地。测量体积电阻时，三电极系统的保护极就是保护导体。此时要求保护电极和测量电极间的试样表面电阻高于与它并联元件的电阻10～100倍。线路接好后，应首先检查是否存在漏电。此时断开与试样连接的高压线，加上电压。如在测量灵敏度范围内，测量仪器指示的电阻值为无限大，则线路无漏电，可进行测量。（6）条件处理和测试条件的规定:固体绝缘材料的电阻随温度、湿度的增加而下降。试样的预处理条件取决于被测材料，这些条件在材料规范中规定。推荐使用GB10580《固体绝缘材料在试验前和试验时采用的标准条件》中规定的预处理方法。可使用甘油—水溶液潮湿箱进行湿度预处理。测试条件应与预处理条件尽可能地一致，有些时候(如浸水处理)不能保持预处理条件和测试条件一致时，则应在从预处理环境中取出后在尽可能短时间内完成测试，一般不超过5分钟。（7）电化时间的规定:当直流电压加到与试样接触的两电极间时，通过试样的电流会指数式地衰减到一个稳定值。电流随时间的减小可能是由于电介质极化和可动离子位移到电极所致。对于体积电阻率小于1010Ωm的材料，其稳定状态通常在1分钟内达到。因此，要经过这个电化时间后测定电阻。对于电阻率较高的材料，电流减小的过程可能会持续几分钟、几小时、几天，因此需要用较长的电化时间。如果需要的话，可用体积电阻率与时间的关系来描述材料的特性。当表面电阻较高时，它常随时间以不规则的方式变化。测量表面电阻通常都规定1分钟的电化时间。种类繁多的高分子材料的电学性能是丰富多彩的。就导电性而言，高分子材料可以是绝缘体、半导体和导体，如表1所示。多数聚合物材料具有卓越的电绝缘性能，其电阻率高、介电损耗小，电击穿强度高，加之又具有良好的力学性能、耐化学腐蚀性及易成型加工性能，使它比其他绝缘材料具有更大实用价值，已成为电气工业不可或缺的材料。高分子绝缘材料必须具有足够的绝缘电阻。绝缘电阻决定于体积电阻与表面电阻。由于温度、湿度对体积电阻率和表面电阻率有很大影响，为满足工作条件下对绝缘电阻的要求，必须知道体积电阻率与表面电阻率随温度、湿度的变化。1)硅橡胶直流电阻率测试仪 绝缘电阻：施加在与试样相接触的二电极之间的直流电压除以通过两电极的总电流所得的商。它取决于体积电阻和表面电阻。2)硅橡胶直流电阻率测试仪 体积电阻：在试样的相对两表面上放置的两电极间所加直流电压与流过两个电极之间的稳态电流之商；该电流不包括沿材料表面的电流。在两电极间可能形成的极化忽略不计。3) 硅橡胶直流电阻率测试仪体积电阻率：绝缘材料里面的直流电场强度与稳态电流密度之商，即单位体积内的体积电阻。4) 硅橡胶直流电阻率测试仪表面电阻：在试样的某一表面上两电极间所加电压与经过一定时间后流过两电极间的电流之商；该电流主要为流过试样表层的电流，也包括一部分流过试样体积的电流成分。在两电极间可能形成的极化忽略不计。

‍型 号：LJC-20E绝缘强度击‍穿测试仪‍输入电压：AC 220 V输出电压：AC 0－20 kV DC 0－20 kV电器容量：2 KVA高压分级：0－5kV； 0-10kV；0－20kV；击穿电压：0-20kV击穿电压升压速率无极可调（以下为常用速率）：A、0.1 kV/sB、0.2 kV/sC、0.3 kV/sD、0.5 kV/sE、1.0 kV/sF、2.0 kV/sG、3.0 kV/s升压方式：1、匀速升压 2、阶梯升压 3、耐压试验 过电流保护装置：试样击穿时在0.1S内切断电源.漏电电流选择：1—30 mA.耐压时间：0-6H二、测试电极：绝缘强度击穿测试金属电极应始终保持光滑、清洁和无缺陷。注1：当对薄试样进行试验时，电极的维护格外重要为了在击穿时尽量减小电极损伤，优先采用不锈钢电极； 聚乙烯的电击穿行为介绍： 相比于其他电介质，聚合物电介质有特殊性的一面，科学家们经过长期的实践研究，提出了针对于聚合物的特殊击穿理论：电-机械击穿和树枝化现象。 电-机械击穿机制在 1955 年被 Stark 和 Garton 建立，解释聚乙烯的击穿行为。电-机械击穿模型是基于电-机械效应的。电-机械击穿一般发生在弹性模量 小且容易产生变形的聚合物固体电介质中。当电压作用于电介质时，正电极和负电极之间的静电吸引力会对电极间的电介质产生挤压作用。若材料有大 的弹性模量，挤压力不会使材料产生明显的变形；反之，材料会受压变形，介质厚度会变薄，此时，挤压作用更强，直至电介质失去耐压能力和机械强 度而发生击穿。 聚合物中还存在着一种预击穿现象，即树枝化现象。Rayner 在 1912 年对被闪电击穿的非常厚的绝缘材料的横截面观察后，提出了电树枝化现象。Budenstein紧接着提出与电树枝化有关的固体电介质的击穿模型。在 20 世纪 70 年代中期，Bahder 在文献中提出水树枝化的概念。总的来说，在聚合物中存在着两大类树枝：电树枝和水树枝。二者的引发机理不同，电树枝仅由电场引起，而水树枝可以由电场和水及其他化学作用等因素共同引起。通过扫描电子显微镜观察与电树枝增长方向垂直的树枝截面，发现存在的空隙。水树枝似乎是由很细微的纤维状通道构成，水分在电压作用下穿透进去时，可以观察到沟道，但当去掉电压和水源之后，水树枝通道逐渐消失不见，在电镜下观察水树枝的截面并未发现空心通道。电树枝和水树枝的本质区别在于是否拥有空心沟道。 由于聚合物本身大分子结构的复杂性，再加上结晶和极性因素的复合干扰，使得对聚合物的研究十分困难，聚合物电击穿过程存在着很多未知因素。在前人实验结果的基础上逐步摸索，解出未知的内部原因。 半结晶聚合物有结晶和无定型两个区域，聚合物的击穿场强受到结晶区微结构和结晶度的影响。以聚乙烯为例(见图 2-4)，温度低于 80℃，击穿场强随着结晶度的降低而增加。根据修正的 Froholich 无定型击穿理论，由于结晶度的减小，结晶界面增加，使电子浅陷阱的能级幅值增加，导致击穿场强的升高。高于 80℃，结论反转，结晶度高的击穿场强反而下降，这与电-机械击穿有关 聚合物的物理性能和电性能均随温度变化，聚合物的耐压强度有温度依赖性。 大致可以分为两个区域：低温区击穿电压随温度增加而增加，变化趋势缓慢；高温区击穿电压随温度增加而降低。 聚合物的击穿特性同普通介电材料不同，聚合物的击穿特性可以归纳为以下几点：聚合物的最大击穿场强出现在低温区；室温附近聚合物击穿场强值为1-10MV/m，普遍高于离子晶体(0.3-2MV/m)；在玻璃转变温度附近，热塑性聚合物的击穿场强急剧下降。 聚合物电介质的击穿场强是由本身的击穿属性决定的，另外还与其他因素有关。扫描电子显微镜图片显示球体尺寸小会对击穿电压的提高有帮助。减小球体的尺寸，能降低空气和水的渗透率。聚合物的分子结构、分子量、退火工艺、机械拉伸、添加成核剂均对材料形成的球体尺寸都有关系。当介质厚度极薄时(μm 量级)，越薄击穿场强会越大，这就是“薄层强化”效应。若介质厚度较厚(mm 量级甚至更大)，击穿场强与厚度成正比关系。

液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。术语和定义下列术语和定义适用于本标准。液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A相对电容率relative permittivityε r电容器的电极之间及电极周围的空间全部充以绝缘材料时，其电容Cx与同样电极构形的真空电容Co之比； ……………………………（1）式中；εr——相对电容率 Cx——充有绝缘材料时电容器的电极电容；Co——真空中电容器的电极电容。在标准大气压下，不含二氧化碳的干燥空气的相对电容率ε r等于1.00053，因此，用这种电极构形在空气中的电容Cx来代替Co测量相对电容率εr时，也有足够的度。在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率εr与真空电气常数εr的乘积。在SI制中，电容率用法/米（F/m）表示。而且，在SI单位中，电气常数εr，为： ……………………………（2）在本标准中，用皮法和厘米来计算电容，真空电气常数为:ε0=0.088 54 pF/cm液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A介质损耗角dielectric loss angleδ由绝缘材料作为介质的电容器上所施加的电压与由此而产生的电流之间的相位差的余角。液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A介质损耗因数1） dielectric dissipation factortanδ损耗角δ的正切。液体介电常数介质损耗测试仪 HRJD- A[介质]损耗指数 [dielectric] loss indexε''r该材料的损耗因数tanδ与相对电容率εr的乘积。复相对电容率 complex relative permittivityεr由相对电容率和损耗指数结合而得到的：式中：εr——复相对电容率；ε''r——损耗指数；ε'r、εr——相对电容率；tanδ——介质损耗因数。注：有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示，或用电容CP和电阻RP（或电导CP）并联电路表示。 并联等值电路 串联等值电路 式中：Cs——串联电容；Rs——串联电阻； 1）有些国家用“损耗角正切”来表示“介质损耗因数”，因为损耗的测量结果是用损耗角的正切来报告的。CP——并联电容；RP——并联电阻。虽然以并联电路表示一个具有介质损耗的绝缘材料通常是合适的，但在单一频率下，有时也需要以电容Cs和电阻Rs的串联电路来表示。串联元件与并联元件之间，成立下列关系： 式（9）、（10）、（11）中：Cs、Rs、CP、RP、tanδ同式（7）、（8）。无论串联表示法还是并联表示法，其介质损耗因数tanδ是相等的。假如测量电路依据串联元件来产生结果，且tanδ太大而在式（9）中不能被忽略，则在计算电容率前必须先计算并联电容。本标准中的计算和测量是根据电流（ω=πf）正弦波形作出的。 电气绝缘材料的性能和用途电介质的用途电介质一般被用在两个不同的方面：用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘；用作电容器介质。影响介电性能的因素下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。频率因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的。温度损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。湿度极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是*的。注：湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。电场强度存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。

塑料介电常数测试仪在电力电容器中，介质损耗角正切值（tanδ）是电容器重要质量指标之一，电容器的介质损耗角正切值，对于判断电容器绝缘情况十分有效。在此温度范围内，随温度上升，τ减小，tgδ减小。PW主要决定于极化过程， PW也随温度上升而减小。（3）当温度继续升高，达到很大值时，离子热运动能量很大，离子在电场作用下的定向迁移受到热运动的阻碍，因而极化减弱，εr下降。电导损耗剧烈上升，tgδ也随温度上升急剧上升。技术参数：1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。在交流电压下，电介质中的电流有功分量和无功分量的比值，就是该电力电容器的介质损耗角正切值tanδ。在一定的电压和频率下，它可以反映电介质内单位体积中能量损耗的大小，且它与电介质的体积尺寸大小无关。塑料介电常数测试仪试验报告 试验报告中应给出下列相关内容: 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况) 试样条件处理的方法和处理时间 电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型 测量仪器 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度 施加的电压 施加的频率 相对电容率ε(平均值) 介质损耗因数 tans(平均值) 试验 日期 相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。塑料介电常数测试仪介质损耗简称“介损”，符号是tgδ，是测量变压器介质损耗因数也是检查变压器绝缘性的另一种方法，它将交流高压作用与高压侧实现测量幅值的大小。塑料介电常数测试仪什么是介质损耗介质损耗是指在交流电压作用下，流出的电流会转换成热能，这部分能量叫介质损耗，变压器介质损耗的大小影响变压器的质量，测量超出误差值应该彻底检查。影响的介质损耗的以下四点主要因数（1）频率的影响：温度不变时，在低频范围内，总损耗几乎与频率无关；在高频区，介损值很大，所以在高频条件下应采用介损很小的介质。（2）温度的影响：温度对介损的影响较大，在低温区介损随温度升高而增大，在某温度处达到峰值，温度继续升高时介损值反而减小，温度继续升高，介损减小至一定值后会出现拐点急剧增大，易导致介质击穿。（3）湿度的影响：电介质吸湿后，漏电阻减小，泄漏电流增加，介损值明显增大。（4）电场强度的影响：如果介质内部有气泡或气隙，当外加电压升高到一定值时，气泡或气隙中会出现游离放电，介质损耗值会显著升高。塑料介电常数测试仪测量方法的选择： 测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。1 零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法 也就是在接人试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联 T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极 它没有其他网络的缺点。2 谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。 注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。当绝缘材料用于高电场强度或高频的场合，应尽量采用介质损耗因数（即电介质损耗角正切tgδ，它是电介质损耗与该电介质无功功率之比）较低的材料。电介质损耗用作一种电加热手段，即利用高频电场（一般为0.3～300兆赫） 对电介质损耗大的材料（如木材、纸、陶瓷等）进行加热。频率高于 300兆赫时 ，达到微波波段 ，即为微波加热（ 家用微波炉即据此原理）。