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聚氯化铝分析
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聚氯化铝分析相关的方案
电位滴定法测定三氯化铝含量
氯化铝,化学式为AlCl3,是氯和铝的化合物。氯化铝熔点、沸点都很低,且会升华,为有离子性的共价化合物。可溶于水和许多有机溶剂,水溶液呈酸性。根据GB/T3959-2008工业无水氯化铝中含量测定,使用T960全自动电位滴定仪验证该方法的可行性,找到了检测其含量最快速最方便的检测方法。
原子荧光光谱法同时测定水处理剂中砷和汞的含量
目前,砷和汞的测定方法主要有原子吸收光谱法、原子荧光光谱法和电感耦合等离子体质谱法等。其中,原子荧光光谱法因其灵敏度好、重复性好、准确度高等优点而被广泛使用。国标采用原子荧光光谱法测水处理剂中砷和汞元素均单独检测。本研究参考GB/T 33086-2016,采用硝酸消解前处理,原子荧光光谱法双通道同时测定水处理剂:聚氯化铝26%、聚氯化铝28%、聚氯化铝30%和聚合硫酸铁样品中砷和汞两种元素。该方法操作简单,准确可靠,且检测效率高,为水处理剂中重金属元素含量的测定提供了较好的参考方法。
北京瀚时:石墨炉原子吸收光谱法测定水处理剂中微量铅和镉
摘要本文研究了石墨炉原子吸收光谱法测定水处理剂聚合氯化铝中铅、镉含量的适宜条件。用员灯校正背景,磷酸二氢铵做基体改进剂,省去了冗长的前处理过程。在测定条件下,铅的检出限为0.65ug.L-1,线性范围0—50ug.L-1;镉的检出限为0.12ug.L-1,线性范围0—20ug.L-1;回收率在90一110%之间。本方法具有准确、快速、简便之优点,用于实际样品的测定,结果令人满意。
谱育科技EXPEC 6000碱熔法分析α-氧化铝中6种元素含量
本文采用EXPEC 6000测定氧化铝样品中包括Na、Si、Fe、Cu、Ca、Ga 6种杂质元素含量,通过对杂质含量不同的2种氧化铝样品的测量,并计算方法精密度,考察EXPEC 6000在氧化铝样品中的实际分析性能。结果表明:每种样品平行3次消解并测量的相对标准偏差(RSD)均小于8%,EXPEC 6000可用于氧化铝样品中元素的分析检测。
谱育科技EXPEC 6000微波消解法分析β-氧化铝中8种元素含量
本文采用EXPEC 6000测定氧化铝样品中包括B、Ca、Fe、Mg等8种杂质元素含量,通过对杂质含量不同的3种氧化铝样品的测量,并计算方法精密度和样品中各元素氧化物含量,考察EXPEC 6000在氧化铝样品中的实际分析性能。结果表明:每种样品平行3次消解并测量的相对标准偏差(RSD)均小于7%,EXPEC 6000可用于氧化铝样品中元素的分析检测。
波长色散型X射线荧光光谱仪可快速分析氧化铝中主次成分
氧化铝是一种用途非常广泛的工业原材料, 由于硬度较大可用作磨料,抛光粉。高温烧结的氧化铝,称人造刚玉或人造宝石,可制机械轴承或钟表中的钻石。氧化铝也用作高温耐火材料,制耐火砖、坩埚、瓷器、人造宝石等,氧化铝也是炼铝的原料。而在实际的生产过程中,需要测定其中的主次元素含量,但在高纯的氧化铝粉中,杂质组分一般都在几十个ppm的浓度水平。近些年中国的氧化铝工业快速发展,产量远远高于世界平均水平,X射线荧光光谱法作为标准分析方法《GB/T6609.30-2009》,可以准确、快速进行化学组分的测定,为生产控制提供参考也就显得尤为重要。
电子探针分析氧化铝陶瓷的烧结缺陷
为了降低氧化铝陶瓷的烧结温度,使用添加剂是一种常用的有效方法,这种方法对原材料质量和烧结工艺的控制也有不同的要求。本文借助电子探针显微分析仪对一类低温烧结氧化铝陶瓷表面缺陷的问题进行了分析。结果表明:相较于正常烧结件,有缺陷的色彩异常的烧结件,原材料颗粒较粗大,残存有未熔的添加剂颗粒物,但不同颜色区域的微观形貌差异并不明显,主要是由于微观区域的元素面分布差异导致了肉眼可见的色彩异常。针对正常烧结件,也给出了进一步优化工艺的建议。
微波消解氧化铝
氧化铝是一种高硬度的化合物,属于难以溶解的无机材料之一,常用于航空航天业、汽车业、半导体加工等领域。氧化铝作为高温耐火材料,常用来制瓷器,坩埚,人造宝石等。氧化铝的溶样方法主要有高温熔融法、磷酸或硫磷混酸加热溶解法以及盐酸密闭加热溶解法,检测方法主要有分光光度法、火焰光度法和光焰原子吸收光谱法。对于氧化铝的前处理方法,我们采用密闭加热的微波消解法,该方法试剂消耗少,空白低,元素损失小、回收完全,能够实现对氧化铝的快速、完全消解,有利于后续的元素分析。
微波消解氧化铝
氧化铝是一种高硬度的化合物,属于难以溶解的无机材料之一,常用于航空航天业、汽车业、半导体加工等领域。氧化铝作为高温耐火材料,常用来制瓷器,坩埚,人造宝石等。氧化铝的溶样方法主要有高温熔融法、磷酸或硫磷混酸加热溶解法以及盐酸密闭加热溶解法,检测方法主要有分光光度法、火焰光度法和光焰原子吸收光谱法。对于氧化铝的前处理方法,我们采用密闭加热的微波消解法,该方法试剂消耗少,空白低,元素损失小、回收完全,能够实现对氧化铝的快速、完全消解,有利于后续的元素分析。
高纯超细氧化铝在锂离子电池行业中的应用
氧化铝(Al2O3)是一种白色晶状粉末,是一种无臭、无味、无毒的高硬度、耐高温化合物,熔点为2054℃,沸点为2980℃。粒度均匀的超细氧化铝粉体材料,具有多孔性、高分散性、绝缘性、耐热性等特点。高纯氧化铝按纯度分类,主要分为4N(纯度99.99%)、4N5(纯度99.995%)和5N(纯度99.999%)三个级别。5N级别的高纯氧化铝称为高纯超细氧化铝,通常用于锂离子电池、催化剂载体、透明陶瓷等领域。下面,我们就来探讨高纯超细氧化铝在锂离子电池行业中的应用。
对含有氢氧化铝佐剂的注射剂的稳定性和再分散性研究
一 任务&挑战1.3款不同工艺制备的含有氢氧化铝佐剂的注射剂的快速稳定性比较,样品界面沉降速度以及颗粒沉降速度的比较。2.能量输入(不同强度的摇晃以再分散样品)对含有氢氧化铝佐剂的注射剂的解聚和再分散的影响二 仪器1.仪器型号:LUMiReader PSA® 稳定性分析仪(静置型)2.测试条件:: NIR近红外光源,1g,25° C,30min
水中三氯甲烷、四氯化碳分析
生活饮用水由于加氯消毒可产生些新的有机卤代物,主要成分是氯仿和四氯化碳及少量的一氯甲烷、一溴二氯甲烷、二溴一氯甲烷以及溴仿等,统称为卤代烷。自来水中卤代烷含量高于水源水。水中氯仿和四氯化碳可用气相色谱分析,该法准确、灵敏且简便。
使用TSI台式激光诱导击穿光谱仪 LIBS分析仪对煅烧氧化铝中的钠元素进行分析
钠是一种轻元素,可以通过激光诱导击穿光谱(LIBS)技术轻松测定到ppm级别。对于测定耐火材料如氧化铝中的钠元素,传统方法是酸消解,再通过电感耦合等离子体发射光谱 (ICP-AES) 进行测定,或者通过XRF (X射线荧光) 进行测定。酸消解费时费力,因此总的分析时间也相当长。即使是使用复杂的X射线荧光光谱仪,因为荧光相对较弱,要获取可靠的钠读数通常也需要花费20分钟或更长。相反,使用TSI 台式LIBS分析仪,仅需要几秒钟,即可完成材料中多种成分(包括钠)进行定性及定量分析
氧化铝浆料的加速稳定性测试
本文应用LUMiSizer® 分散体系分析仪,测试不同倍数重力加速度下氧化铝浆料的稳定性和界面分离速度。
天津兰力科:无阻挡层多孔阳极氧化铝膜板的制备
提出一种在中性的KCl 溶液中用多孔阳极氧化铝作阴极,通过电解在阴极产生OH- 腐蚀阻挡层,制备无阻挡层氧化铝模板的新方法。用扫描电镜对模板进行了表征。结果表明,在草酸溶液中,制得的氧化铝模板孔径为70~80nm ,孔间距为130nm ,孔密度约8 ×109 / cm2 ,这种方法去阻挡层不扩大模板孔径,不影响纳米孔的纵横比。无阻挡层的氧化铝模板适合于直流电沉积和无电沉积金属纳米材料。
电化铝剥离强度检测方法
电化铝烫印完成后,对电化铝剥离强度的测试,成为众多生产企业指导生产工艺、检测铝层脱落,甚至作为衡量电化铝烫印质量的标准之一。
高均匀度氧化铝微球的制备
氧化铝微球用于催化剂载体。催化剂是一种能够加速化学反应速率的物质,而氧化铝微球具有高比表面积和良好的孔隙结构,可以提高催化剂的活性和选择性,从而提高反应效率和产物纯度。
微波消解氮化铝
氮化铝,共价键化合物,是原子晶体,属类金刚石氮化物、六方晶系,纤锌矿型的晶体结构,无毒,呈白色或灰白色。会对水质造成一定危害,若无政府许可,勿将材料排入周围环境。为了对氮化铝中的金属元素进行检测,寻找一种合适的微波消解方法对其进行前处理,有利于后续AAS、ICP、ICP-MS等检测设备对样品中金属元素含量的快速准确测定。
ICP测氧化铝中微量杂质的应用方案
美析ICP-6800电感耦合等离子体发射光谱仪作为种新型的分析仪器,较其它分析仪器而言,具有灵敏度高、精密度好、线性范围宽、基体效应小、动态范围宽、快速简便并可同时进行多元素分析的优点,已成为痕量分析常用的分析仪器之一。基于以上的背景调研,我们拟采用ICP 6800型电感耦合等离子体发射光谱仪对含有杂质的氧化铝进行微量元素的检测,主要研究并测定了氧化铝可能存在的金属元素,如钛、铜、镁、锰、钙、锌、铬、硅和铁的含量。
微波消解氮化铝
氮化铝,共价键化合物,是原子晶体,属类金刚石氮化物、六方晶系,纤锌矿型的晶体结构,无毒,呈白色或灰白色。会对水质造成一定危害,若无政府许可,勿将材料排入周围环境。为了对氮化铝中的金属元素进行检测,寻找一种合适的微波消解方法对其进行前处理,有利于后续AAS、ICP、ICP-MS等检测设备对样品中金属元素含量的快速准确测定。
粉末压片-X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质
本文使用岛津MXF-2400多道X射线荧光光谱仪分析氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O等主要杂质成分,采用粉末压片法制样,以氧化铝行业标准样品建立校准曲线,曲线线性良好,正确度在可接受范围之内,相关系数r均在0.999以上。通过研磨方式及研磨时间实验,确认了合适的研磨方法。对精度进行了考察,同一样品重复测定多次,极差在允许范围之内,方法精度良好,满足GB/T 6609.30-2022《氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第30部分∶微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法》对分析结果的要求。
谱育科技 | 超级微波消解-ICP-OES法在氧化铝材料中的元素分析应用
超级微波消解结合电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)方法助力氧化铝类材料中杂质元素测定。
【国仪量子】揭秘氧化铝行业:气体吸附技术如何大展身手
本文介绍了采用气体吸附技术对氧化铝的比表面积、孔容、孔径分布以及真密度等物理性能参数的表征。氧化铝在矿业、制陶业和材料科学上又被称为矾土,是一种高硬度化合物,因其高比表面积及多孔隙结构被广泛应用于航天、电子、化学化工、医药、吸附、催化剂及其载体,以及陶瓷、机械及冶金等各个领域中。
活性氧化铝比表面积的研究与控制
活性氧化铝比表面积的研究与控制 摘 要:本文论述了快速脱水法生产活性氧化铝过程中影响产品比表面积的主要因素及其控制方法,为活性氧化铝生产控制提供了可靠依据。关键词:快速脱水法 活性氧化铝 比表面积
解决方案|ICP法测定氧化铝煅烧粉/造粒粉中铁,钙,镁等元素含量
通过测定铁、钙、镁等元素的含量,可以对生产过程中的原料、煅烧过程和造粒过程进行质量控制,确保最终产品的质量符合要求。本文根据国家标准GB/T 6609.1-2018中原子吸收分光光度计测定氧化铝煅烧粉/造粒粉中铁,钙,镁等元素的方法,并经过检测条件的优化,建立了东西分析ICP-7760HP型全谱直读电感耦合等离子体发射光谱仪测定氧化铝煅烧粉/造粒粉中铁,钙,镁等元素含量的方法,该方法具有应用范围广、操作方便等优点,可供相关人员参考。
氢氧化铝佐剂pH滴定性能测试
一、氢氧化铝佐剂,有帮助之意。免疫佐剂能增强机体针对抗原的免疫应答能力,铝佐剂是目前应用最广的一类,作为疫苗佐剂使用已有近九十年,通常包括氢氧化铝佐剂和磷酸铝佐剂两类。本试验通过pH滴定法来测定某氢氧化铝佐剂的性能。
ICP法测试氮化铝中杂质成分
本文用HR-PQ9000,ICP法测定了>99.95%氮化铝(AlN)中的杂质成分。数据表明,虽是碱溶,试液含盐量>20g/L,基体干扰较大,标准曲线浓度低达0.010~0.50 μ g/mL,但有基体匹配的5点校正的线性拟合系数R=0.9995~0.99999,RSD<2.9%,消除了基体干扰和影响;同一元素不同谱线的测定结果比对得较好;两个平行样也平行得较好,充分显示了PQ9000的高分辨率、高灵敏度、高稳定性和材料纯度分析的超强能力。
德国耶拿:ICP法测试氮化铝中杂质Ca
本文用HR-PQ9000,ICP法测定了>99.95%氮化铝(AlN)中的杂质成分。数据表明,虽是碱溶,试液含盐量>20g/L,基体干扰较大,标准曲线浓度低达0.010~0.50 μ g/mL,但有基体匹配的5点校正的线性拟合系数R=0.9995~0.99999,RSD<2.9%,消除了基体干扰和影响;同一元素不同谱线的测定结果比对得较好;两个平行样也平行得较好,充分显示了PQ9000的高分辨率、高灵敏度、高稳定性和材料纯度分析的超强能力。
德国耶拿:ICP法测试氮化铝中杂质Si
本文用HR-PQ9000,ICP法测定了>99.95%氮化铝(AlN)中的杂质成分。数据表明,虽是碱溶,试液含盐量>20g/L,基体干扰较大,标准曲线浓度低达0.010~0.50 μ g/mL,但有基体匹配的5点校正的线性拟合系数R=0.9995~0.99999,RSD<2.9%,消除了基体干扰和影响;同一元素不同谱线的测定结果比对得较好;两个平行样也平行得较好,充分显示了PQ9000的高分辨率、高灵敏度、高稳定性和材料纯度分析的超强能力。
德国耶拿:ICP法测试氮化铝中杂质Ni
本文用HR-PQ9000,ICP法测定了>99.95%氮化铝(AlN)中的杂质成分。数据表明,虽是碱溶,试液含盐量>20g/L,基体干扰较大,标准曲线浓度低达0.010~0.50 μ g/mL,但有基体匹配的5点校正的线性拟合系数R=0.9995~0.99999,RSD<2.9%,消除了基体干扰和影响;同一元素不同谱线的测定结果比对得较好;两个平行样也平行得较好,充分显示了PQ9000的高分辨率、高灵敏度、高稳定性和材料纯度分析的超强能力。
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