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相控阵探伤仪

仪器信息网相控阵探伤仪专题为您提供2024年最新相控阵探伤仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括相控阵探伤仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的相控阵探伤仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合相控阵探伤仪相关的耗材配件、试剂标物,还有相控阵探伤仪相关的最新资讯、资料,以及相控阵探伤仪相关的解决方案。

相控阵探伤仪相关的耗材

  • GTS—Ⅰ型60Coγ射线探伤机
    GTS&mdash Ⅰ型60Co&gamma 射线探伤机 GTS型60Co&gamma 射线探伤机,广泛应用于各种焊接件、铸件和炮弹装药弹体的无损检验。该机操作简便,安全可靠,该系列产品畅销全国十几个省、市、自治区,受到了用户的好评。该系列产品由I型和II型机组成,其配套产品有HY9135型&gamma 探伤微机自动控制仪、HY131x、&gamma 辐射场报警装置、HY132&gamma 剂量仪、HY133&gamma 剂量报警仪、钴机和铱机两用的公制暴光计算尺。 该产品于1991年通过部级鉴定以来,多次获得国际博览会及全国高新技术新产品展览会金奖,并于1992年被国家科委评为年度国际新产品 相关产品: GTS&mdash Ⅱ型60Co&gamma 射线探伤机 YTS&mdash Ⅰ型192Ir&gamma 射线探伤机 YTS&mdash Ⅲ型192Ir&gamma 射线探伤机 STS型75Se&gamma 射线探伤机
  • FD-3007K型袖珍式同位素辐射仪
    唐海红 13120400643 FD-3007K型袖珍式同位素辐射仪 功能与特点   FD-3007K-A &gamma 袖珍辐射仪是依据国际放射防护委员会(ICRP)的建议和中国放射卫生防护基本标准的规定研制的新一代多功能辐射仪,集剂量率和累计剂量于一体,增加安全防护报警和放射性场所划分报警,提供多次累计剂量的&ldquo 保持&rdquo 功能, 适用于:监测X射线和 &gamma 射线,广泛应用于核电站、加速器、同位素应用、工业X、&gamma 射线无损探伤、&gamma 辐照等领域中的工作人员进行个人安全防护监测。 本仪器具有灵敏度高、功能全、功耗低、体积小、读数清晰等特点,是一种理想的个人辐射防护仪器。 主要技术指标 剂量率测定范围:0~99.99&mu Sv/h 累计剂量测定范围:0~999.9&mu Sv 剂量率固有误差:&le 20% 报警阈值:2.50&mu Sv/h、20&mu Sv/h 重量与尺寸:190g、132× 72× 32(mm)
  • BH3084个人剂量仪
    BH3084B个人射线剂量仪主要技术指标符合国家标准和国际标准,广泛适用于辐照站、海关、工业无损探伤、核电站、核潜艇、同位素应用和医疗钴治疗等领域。 BH3084B个人射线剂量仪是采用新型单片机技术制作而成的智能型仪器,主要用来监测X、&gamma 射线照射人体后人体的吸收剂量。同时该仪器声光报警频率与剂量率成正比,所以也可定性监测剂量率大小。 技术参数: BH3084C技术指标 探 测 器:GM计数管  量 程:0.1&mu Sv~1MSv 相对误差:± 20%(137Cs) 欠压指示:当电池电力不足时仪器停止工作,缺电指标灯亮 体 积:121mm × 71mm × 21mm 重 量:110克。 主要特点: BH3084C个人射线剂量仪主要技术指标符合国家标准和国际标准,广泛适用于辐照站、海关、工业无损探伤、核电站、核潜艇、同位素应用和医疗钴治疗等领域。 BH3084C个人射线剂量仪是采用新型单片机技术制作而成的智能型仪器,主要用来监测X、&gamma 射线照射人体后人体的吸收剂量。同时该仪器声光报警频率与剂量率成正比,所以也可定性监测剂量率大小
  • 上泰电导率测控仪EC-4110
    产品型号: EC-4110 产品报价: 产品特点: 上泰电导率测控仪EC-4110,上泰电导率测量仪,上泰电导率测试仪.上泰EC4110电导度测控仪主要是RO、纯水、超纯水、循环水、锅炉水电导率之测量.全新EC4110电导率/电阻率变送器,结合先进的点阵式背光液晶屏幕,使得操作设定菜单能以图片的方式左右移动选择,让操作起来十分容易。不仅如此,还能提供您详细的仪器目前设定信息整理以及校正纪录信息整理,是最聪明的变送器,让您一目了然所有设定。 EC-4110上泰电导率测控仪EC-4110的详细资料: 上泰电导率测控仪EC-4110,上泰电导率测量仪,上泰电导率测试仪.全新智能型电导率控制器,全新电阻率控制器.新设计的IP65等级防护外壳,能保障仪器本身的安全性,同时结合小尺寸的机身,使得盘面安装时不占空间,也能弹性应用于璧挂安装或管路安装。其它功能如密码保护、多点校正、自动清洗接点、双组模拟讯号输出、自动温度补偿、控制接点启动警示灯等设计,则延续了SUNTEX产品优异的质量及性能。 尺寸: 96 x 96 x 132mm (HxWxD) 安装方式:盘面、壁挂、管路 屏幕:点阵式图像背光液晶 控制接点:两组高低可程控及电极清洗接点 讯号输出:两组0/4~20mA分别对应测值及温度 保护等级: IP65 测量范围:0.00&mu S/cm~200.0mS/cm 0.00M&Omega -cm~20.00M&Omega -cm -10.0~110.0° C 精度:± 1%(± 1Digit),± 0.5℃ 温度补偿:自动PT1000或NTC30K或手动 非线性温度补偿,线性温度补偿(0.00﹪~39.99﹪) 环境温度:0~50° C 信号输出:4~20mA,最大负载500W 控制:RELAY ON/OFF接点 240VAC 2A Max,二组HI/LO控制 挖孔尺寸:93H× 93W× 185D mm 电源:100~240VAC,50/60Hz
  • 超薄碳膜于多孔碳支持膜上
    无方华膜衬底,孔上的碳膜厚度小于4nm,是所有载膜中最薄的。尤其适用于低反差颗粒高分辨显微观察和能量过滤TEM
  • 超薄碳膜于多孔碳支持膜上
    无方华膜衬底,孔上的碳膜厚度小于4nm,是所有载膜中最薄的。尤其适用于低反差颗粒高分辨显微观察和能量过滤TEM
  • 布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air AFM探针
    布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air,是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针,仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含:Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法,对图像质量进行持续的监测,并能自动地对参数进行适当的调整。因此:- 无论用户的专业技术水平如何,图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱,调到超低力,从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除,定位调整,获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针,所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格: 延展阅读:关于布鲁克:布鲁克公司以先进的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势:*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能 在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式:主要分为:扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构:悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius:一般为10nm到几十nm。制作工艺:半导体工艺制作 指标:探针的指标主要分三个部分,分别对应了基片,微悬臂梁,和针尖三个部分。1. 基片,就是基片的长,宽,高,各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁,分为矩形梁和三角形悬臂梁,他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数,一般来说,接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖,针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有,曲率半径(Tip Radius),探针高度(Tip Height),对应于四面体的指标,前角(Front Angel),后角(Back Angel),侧角(Side Angel),还有一个是Tip Set Back,对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质:1. 轻敲探针:一般是单晶硅,型号如RTESP;2. 接触模式探针:材质是SiN,而新型号的SNL接触探针,悬臂梁是SiN,而针尖则Si(曲率半径2nm左右),这种探针可以提供接触模式下的分辨率图;3. 功能探针:如磁力探针(MESP),导电探针,则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr,SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍: 常用探针型号介绍1. 轻敲模式,RTESPA-300,TESP,FESP2. 接触模式,SNL,NP,3. 智能扫描模式:Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜,MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜,导电AFM,等电学测量模式,DDESP,SCM-PIT,SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针,大长径比探针。
  • 超高分辨TERS针尖增强拉曼探针/Nano IR纳米红外探针
    NEXT-TIP SL公司成立于2012年,是西班牙研究委员会 (CSIC) 的衍生公司。其生产的TERS针增强拉曼探针和纳米红外探针,基于纳米粒子沉积技术,形成具有可控尺寸和成分的纳米颗粒涂层,具有超高的横向分辨率,大大提高了使用寿命。TERS针增强拉曼探针Next-Tip TERS 探针的出色性能与其形态特征有关。这些探头的设计经过开发,具有优异的 AFM 性能和超强的拉曼信号。突破针增强拉曼探针的限制:&bull 高可靠性,使用户能够专注于样品的表征。&bull 高达3 nm的超高分辨率&bull 超高灵敏度,可获得完全清晰/稳定的光谱,质量优于传统TERS。增强因子和对比度增强系数 (EF) 值是根据探针针的增强电场来量化拉曼信号的增强的参数。这个参数基于对比度值。对比度值根据在同一点的近场和远场扫描收集的实验数据计算。金TERS探针保证对比度高于20,银TERS探针保证对比度高于40,使得Next-Tip TERS 探针的增强系数高达105 -106。寿命银镀层的TERS探针由另一层金纳米粒子保护,以避免氧化和污染,保持等离激元的效应。致密的金纳米颗粒涂层提升了金属层厚度,大大提高了探针的耐用性。此外,纳米颗粒沿探针表面形成的不规则结构延长了其测量的寿命。性能可控的涂层沉积过程可实现坚固探头的高可重复性和高分辨率。此外,这种涂层工艺可以在针的点放置一个或两个纳米颗粒,实现超高空间分辨率。测量显示 AFM 分辨率小于5 nm,TERS 分辨率小于10 nm。TERS针增强拉曼探针类型高分辨率TERS在锐的硅基针上附着尤其致密,不规则和锐的纳米颗粒涂层,可获得超高空间分辨率和高质量的成像。基础TERS: 通过致密、不规则、颗粒状坚固的纳米颗粒涂层,用优化的涂层产生超强的拉曼信号,获得准确的成像和光谱数据。各型号参数对比银芯基础TERS探针高分辨金TERS探针高分辨银芯TERS探针型号NT-EASY-TERS-70银NT-EASY-TERS-300银NT-TERS-E-85金NT-TERS-E-335金NT-TERS-E-85银NT-TERS-E-335金共振频率(kHz)703008533585335力常数(N/m)2262.8452.845悬臂长度(μm)240160240160240160TERS针增强拉曼探针 测量结果1L MoS2/AuCNT/Graphene Oxide 单层过渡金属二硫化物(TMDC)拉曼激发模式高精度表征参考文献:Alvaro Rodriguez, Matěj Velický , Jaroslava &Rcaron áhová, Viktor Zólyomi, János Koltai, Martin Kalbá&ccaron , and Otakar Frank. Activation of Raman modes in monolayer transition metal dichalcogenides through strong interaction with gold. Phys. Rev. B 105, 195413 – Published 10 May 2022. DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRevB.105.195413Nano IR纳米红外探针纳米红外光谱的原理是基于一个锐的金属涂层前沿,激发激光束落在该前沿上。探针针的电磁场由于局部表面等离激元共振和避雷针效应的共同作用而具有局域限制和增强的效果。更强的纳米红外信号Next-Tip探针得到的红外信号比常用AFM探针高出几倍(约5倍)。下图显示了使用相同带宽激光源的两种探针在硅上获取的未标准化的近场振幅光谱。更高的纳米红外信噪比与使用标准的探针得到的光谱相比,使用Next-Tip探针得到的光谱具有更小的背景干扰,从而得到更高的SNR和更清晰的光谱。下图显示了使用两种探头在13.6秒内记录的PMMA的三阶解调纳米红外吸收光谱。Nano IR纳米红外探针类型各型号参数对比象鼻形金字塔形型号NT-IR-E-85NT-IR-E-335 NT-IR-P-75NT-IR-P-330共振频率(kHz)8533575330力常数(N/m)2.8452.842悬臂长度(μm)240160225125
  • AFM探针/原子力显微镜探针/磁性探针(MESP)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) MESPUnmountedStandard MFM Coated Tips, 2.8N/m, 75kHz, Co/Cr Reflective Coating1020
  • 单点开尔文扫描探针系统配件
    单点开尔文探针系统配件是全球首款用于室温条件和普通实验室条件下的系统,具有极为紧凑结构,可安放到各种环境箱或防尘罩中,探针头与振荡薄膜一起使用,预放大器集成到探针头中,方便更换。 单点开尔文扫描探针系统配件参数 探针与样品表面之间采用电动控制调节距离 Z轴定位分辨率: 5 μm 功函分辨率: 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals 最小的探针直径: 0.1 mm 集成法拉第防护功能 开尔文探针头采用纯金工艺,底板表面镀金 样品架磁性固定到底板上 样品架直径:40mm 带有 3 mm 孔用于标准SEM样品架子 最大可测样品尺寸: 100 mm x 100 mm (mounted on Base plate) 振动隔离腿设计 包括参考样品材料: HOPG, Au on Si 配备汤姆森控制器和计算机 可选配温度和湿度传感器
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/导电探针
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) SCM-PICUnmountedPt/ Ir Coated Tips, 0.2N/m 13kHz, Pt/Ir Reflective Coating1020
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/氮化硅探针
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) OBL-10UnmountedAu Coated tips 2 Cantilevers, 0.006-0.03N/m, Au Reflective Coating1030
  • 原子力探针/afm探针/轻敲模式/轻敲探针/形貌表征/RTESPA-300
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 拉曼探针/近红外光纤探针 L1320002
    坚固耐用且用途广泛的拉曼光纤探针和附件近红外光纤探针适用于Raman IdentiCheck、RamanStation400F、RamanFlex 400 和RamanMicro 200F珀金埃尔默的光纤探针可将光谱仪移到样品近处,从而使结果更容易收集。只需点击几次,您就能对一系列样品类型进行分析——甚至在环境不受控或空间有限的情况下也不例外。这种简单易用的附件可提供诸如原位分析和反应监测等相当多的附加功能,从而将使您的实验室从中受益。近红外光纤探针产品描述部件编号拉曼探针 不锈钢探针、7.5 mm工作距离、5米电缆;光谱范围是230-3500 cm-1L1320002浸液套筒 它是拉曼探针的一个选配附件,由带有蓝宝石窗片的不锈钢壳体组成。该套筒允许拉曼探针在温度高达200°C时浸入液体内。L1320030触发式光纤拉曼探针,5 m不锈钢探针、7.5mm工作距离、5 m电缆;也包括带有触发器的手柄和7.5 mm活动触头;光谱范围是230-3500 cm-1L1320030触发式光纤拉曼探针,20 m不锈钢探针、7.5mm工作距离、20 m电缆;也包括带有触发器的手柄和7.5 mm活动触头;光谱范围是230-3500 cm-1L1320031用于触发式光纤探针的浅(10 cm)浸液套筒;这是光纤探针的一种可选不锈钢浸液套筒L1320070拉曼探针:长不锈钢探针,350 mm长,适用于非接触式浸液,可在不超过200°C / 1500psi的较高温度和压力下使用,5 M电缆。光谱范围是230-3500 cm-1L1320011拉曼探针:最长不锈钢探针,适用于非接触式浸液,可在不超过500°C / 3000 psi的较高温度和压力下使用,5 M电缆。光谱范围是230-3500 cm-1L1320012用于拉曼探针的吹扫护套:最大规格,当最大号探针在200°-500°C的温度下运行时必须配备此部件L1320013活动触头 7.5 mm工作距离、替换部件;可通过直接接触样品而对光纤探针的工作距离进行优化并降低Spectrum外源光线受污染的风险L1320324用于光纤探针和触发式光纤探针的工作距离超长型透镜:这种附件可将工作距离从7.5mm提高到25 mmL1320071
  • 科研级大型手动探针台
    科研级大型手动探针台是一款专为半导体领域设计的大型晶圆探针台,它可用于高达14半导体晶圆的测量,并在全球范围内首次实现XYZ,theta多维控制。大型手动探针台提供一种连续使用的工具,它可以提供XYZ,Theta的控制,并采用Z轴反向驱动技术控制Z轴运动。它的多功能性,极高的性价比和简化操作的设计是得它成为最受欢迎的手动探大型手动探针台针台。最近的若干年中,一些价格适中,操作方便的探针台从笨重而昂贵的探针台系列中脱颖而出,成为探针台发展的主流方向。这些新型探针台非常方便用户的使用,极大提高了用户效能和测量速度,同时也为研发工程师提供了多功能方案。 我们设计的这款探针台的价格仅为传统探针价格的2/3, 为客户提供了操作简单的手动探针台方案。大型手动探针台采用直线向前运动设计,操作非常简单容易,更加方便晶圆装卸,真空样品台控制,样品旋转,捆绑探针用于可重复的图案化。用户不需要学习软件,因为它采用了常见的显微镜取代视频相机,用户直接在视场找到探针就可测量。大型手动探针台可用于所有实验室环境和工艺环境。 它的尺寸是39' ' 长, 26' ' 宽,19.5' ' 高,非常适合空间狭小的测试环境,操作人员可距离探针台更近操作。 大型手动探针台的样品台吸盘可旋转380度而没有反冲问题,因此样品台真空吸盘可以反过来使用也不需要调整真空。这个14英寸的样品真空吸盘可一次性同时安装4个6英寸的晶圆,非常方便各个晶圆的比较测量。所有的探针都可定位到14英寸真空吸盘表面的任何位置,这就不需要用户因为探针位不足导致的探针样品再定位问题发生。所有的同心环真空都是彼此独立,这样就实现了所有17个对角真空控制多个装置同时测量。 大型手动探针台的定位器特别设计,压力不会突发性地压着探针冲向样品。手动探针台采用了龙门式设计结构,可以负载重量更大的样品。
  • AFM探针/原子力探针/导电探针(DDESP-10)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高,所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括:扫描扩散电阻显微镜 (SSRM),扫描电容显微镜 (SCM),和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035
  • 布鲁克台阶仪探针
    Bruker台阶仪探针布鲁克台阶仪(探针式表面轮廓仪)探针,是布鲁克台阶仪(探针式表面轮廓仪)探针。 品 名 台阶仪探针 2µ m 台阶仪探针 12.5µ m台阶仪探针 25µ m型 号838-031-5838-031-3838-031-4品 名台阶仪探针 10µ m台阶仪探针 100nm台阶仪探针 5µ m型 号838-031-6838-030-938-030-1品 名台阶仪探针 2.5µ m型 号838-031-2
  • afm探针高分辨/智能成像探针/SCANASYST-AIR/大气环境
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • AFM探针/原子力探针/导电探针(DDESP-10)
    Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高,所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括:扫描扩散电阻显微镜 (SSRM),扫描电容显微镜 (SCM),和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造优势:*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,全面的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 原子力探针高分辨/智能成像探针/ SCANASYST-FLUID+/液下环境
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 原子力显微镜探针/高分辨/智能成像探针/SNL-10
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 原子力显微镜探针/afm探针/生物样品/细胞成像/MLCT
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • AFM探针/导电原子力/导电探针/SCM-PIT-V2
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 拉曼光纤探针
    Raman拉曼光纤探针的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 坚固耐用功能齐全的拉曼光纤探针满足您的各种应用需求 拉曼光近红外光纤探针 适用于Raman IdentiCheck, RamanStation 400F, RamanFlex 400和RamanMicro 200F perkinelmer的光纤探针让您能将分光计移近到样品处,从而轻松地采集到数据。只需轻轻点击几次按键,您就可以分析各种类型的样品了。即使是在不可控环境和受限空间中也是如此。该附件操作容易,还具有许多额外功能,如原位分析和反应监控。它将成为您实验室工作的得力助手。 可选探针有5种,适用于从日常固体采样和瓶装样品采样到高温高压条件下的反应监控等各种应用领域。 特色 Ø 拥有专利权的微光学元件,适用于光束控制和背景特性(OD 8激发波长处) Ø 光谱范围截止至230cm-1 Ø 外包不锈钢套管的光纤缆线 Ø 带DIN连接器的告警指示LED灯 Ø 活动光束衰减器/盖 Ø 另有适用于高温高压的类型可选 拉曼探针 L1320002 不锈钢探针,工作距离7.5mm 布线5M,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 浸液套管 L1320003 可用于带蓝宝石窗片的不锈钢外壳Raman Probe。该套管能让拉曼探针浸入达200° C的高温液体中. 触发式光纤拉曼探针,5m L1320030 不锈钢探针,工作距离7.5mm, 布线5m,带触发器手柄, 含7.5mm活动触头,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 触发式光纤拉曼探针,20m L1320031 不锈钢探针,工作距离7.5mm, 布线20m,带触发器手柄, 含7.5mm活动触头,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 短(10cm)浸液套管,适用于触发光纤探针 L1320070 另有光纤探针用不锈钢浸液套管备选 拉曼探针&mdash 长 L1320011 不锈钢探针,3长50mm,用于非接触和浸液条件下,能在温度和压强不高于200° C / 1,500psi,的环境下工作 布线5M,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针&mdash 最大 L1320012 不锈钢探针,用于非接触和浸液条件下,能在温度和压强不超过500° C / 3,000psi,的环境下工作 布线5M,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针用吹扫护套&mdash 最大 L1320013 Max Probe在200° 到500° C温度下工作时必须配备该套件 活动触头 L1320324 工作距离7.5mm, 替换件. 能降低外界光干扰信号,并通过直接接触样品来优化光纤探针的工作距离. 适用于光纤探针和触发光纤探针的超长工作距离透镜使用该附件能实现25mm的工作距离L1320071
  • 拉曼光纤探针
    Raman拉曼光纤探针的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 坚固耐用功能齐全的拉曼光纤探针满足您的各种应用需求 拉曼光近红外光纤探针 适用于Raman IdentiCheck, RamanStation 400F, RamanFlex 400和RamanMicro 200F perkinelmer的光纤探针让您能将分光计移近到样品处,从而轻松地采集到数据。只需轻轻点击几次按键,您就可以分析各种类型的样品了。即使是在不可控环境和受限空间中也是如此。该附件操作容易,还具有许多额外功能,如原位分析和反应监控。它将成为您实验室工作的得力助手。 可选探针有5种,适用于从日常固体采样和瓶装样品采样到高温高压条件下的反应监控等各种应用领域。 特色 Ø 拥有专利权的微光学元件,适用于光束控制和背景特性(OD 8激发波长处) Ø 光谱范围截止至230cm-1 Ø 外包不锈钢套管的光纤缆线 Ø 带DIN连接器的告警指示LED灯 Ø 活动光束衰减器/盖 Ø 另有适用于高温高压的类型可选 拉曼探针 L1320002 不锈钢探针,工作距离7.5mm 布线5M,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 浸液套管 L1320003 可用于带蓝宝石窗片的不锈钢外壳Raman Probe。该套管能让拉曼探针浸入达200° C的高温液体中. 触发式光纤拉曼探针,5m L1320030 不锈钢探针,工作距离7.5mm, 布线5m,带触发器手柄, 含7.5mm活动触头,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 触发式光纤拉曼探针,20m L1320031 不锈钢探针,工作距离7.5mm, 布线20m,带触发器手柄, 含7.5mm活动触头,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 短(10cm)浸液套管,适用于触发光纤探针 L1320070 另有光纤探针用不锈钢浸液套管备选 拉曼探针&mdash 长 L1320011 不锈钢探针,3长50mm,用于非接触和浸液条件下,能在温度和压强不高于200° C / 1,500psi,的环境下工作 布线5M,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针&mdash 最大 L1320012 不锈钢探针,用于非接触和浸液条件下,能在温度和压强不超过500° C / 3,000psi,的环境下工作 布线5M,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针用吹扫护套&mdash 最大 L1320013 Max Probe在200° 到500° C温度下工作时必须配备该套件 活动触头 L1320324 工作距离7.5mm, 替换件. 能降低外界光干扰信号,并通过直接接触样品来优化光纤探针的工作距离. 适用于光纤探针和触发光纤探针的超长工作距离透镜使用该附件能实现25mm的工作距离L1320071
  • 拉曼光纤探针
    Raman拉曼光纤探针的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 坚固耐用功能齐全的拉曼光纤探针满足您的各种应用需求 拉曼光近红外光纤探针 适用于Raman IdentiCheck, RamanStation 400F, RamanFlex 400和RamanMicro 200F perkinelmer的光纤探针让您能将分光计移近到样品处,从而轻松地采集到数据。只需轻轻点击几次按键,您就可以分析各种类型的样品了。即使是在不可控环境和受限空间中也是如此。该附件操作容易,还具有许多额外功能,如原位分析和反应监控。它将成为您实验室工作的得力助手。 可选探针有5种,适用于从日常固体采样和瓶装样品采样到高温高压条件下的反应监控等各种应用领域。 特色 Ø 拥有专利权的微光学元件,适用于光束控制和背景特性(OD 8激发波长处) Ø 光谱范围截止至230cm-1 Ø 外包不锈钢套管的光纤缆线 Ø 带DIN连接器的告警指示LED灯 Ø 活动光束衰减器/盖 Ø 另有适用于高温高压的类型可选 拉曼探针 L1320002 不锈钢探针,工作距离7.5mm 布线5M,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 浸液套管 L1320003 可用于带蓝宝石窗片的不锈钢外壳Raman Probe。该套管能让拉曼探针浸入达200° C的高温液体中. 触发式光纤拉曼探针,5m L1320030 不锈钢探针,工作距离7.5mm, 布线5m,带触发器手柄, 含7.5mm活动触头,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 触发式光纤拉曼探针,20m L1320031 不锈钢探针,工作距离7.5mm, 布线20m,带触发器手柄, 含7.5mm活动触头,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 短(10cm)浸液套管,适用于触发光纤探针 L1320070 另有光纤探针用不锈钢浸液套管备选 拉曼探针&mdash 长 L1320011 不锈钢探针,3长50mm,用于非接触和浸液条件下,能在温度和压强不高于200° C / 1,500psi,的环境下工作 布线5M,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针&mdash 最大 L1320012 不锈钢探针,用于非接触和浸液条件下,能在温度和压强不超过500° C / 3,000psi,的环境下工作 布线5M,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针用吹扫护套&mdash 最大 L1320013 Max Probe在200° 到500° C温度下工作时必须配备该套件 活动触头 L1320324 工作距离7.5mm, 替换件. 能降低外界光干扰信号,并通过直接接触样品来优化光纤探针的工作距离. 适用于光纤探针和触发光纤探针的超长工作距离透镜使用该附件能实现25mm的工作距离L1320071
  • 拉曼光纤探针
    Raman拉曼光纤探针的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 坚固耐用功能齐全的拉曼光纤探针满足您的各种应用需求 拉曼光近红外光纤探针 适用于Raman IdentiCheck, RamanStation 400F, RamanFlex 400和RamanMicro 200F perkinelmer的光纤探针让您能将分光计移近到样品处,从而轻松地采集到数据。只需轻轻点击几次按键,您就可以分析各种类型的样品了。即使是在不可控环境和受限空间中也是如此。该附件操作容易,还具有许多额外功能,如原位分析和反应监控。它将成为您实验室工作的得力助手。 可选探针有5种,适用于从日常固体采样和瓶装样品采样到高温高压条件下的反应监控等各种应用领域。 特色 Ø 拥有专利权的微光学元件,适用于光束控制和背景特性(OD 8激发波长处) Ø 光谱范围截止至230cm-1 Ø 外包不锈钢套管的光纤缆线 Ø 带DIN连接器的告警指示LED灯 Ø 活动光束衰减器/盖 Ø 另有适用于高温高压的类型可选 拉曼探针 L1320002 不锈钢探针,工作距离7.5mm 布线5M,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 浸液套管 L1320003 可用于带蓝宝石窗片的不锈钢外壳Raman Probe。该套管能让拉曼探针浸入达200° C的高温液体中. 触发式光纤拉曼探针,5m L1320030 不锈钢探针,工作距离7.5mm, 布线5m,带触发器手柄, 含7.5mm活动触头,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 触发式光纤拉曼探针,20m L1320031 不锈钢探针,工作距离7.5mm, 布线20m,带触发器手柄, 含7.5mm活动触头,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 短(10cm)浸液套管,适用于触发光纤探针 L1320070 另有光纤探针用不锈钢浸液套管备选 拉曼探针&mdash 长 L1320011 不锈钢探针,3长50mm,用于非接触和浸液条件下,能在温度和压强不高于200° C / 1,500psi,的环境下工作 布线5M,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针&mdash 最大 L1320012 不锈钢探针,用于非接触和浸液条件下,能在温度和压强不超过500° C / 3,000psi,的环境下工作 布线5M,光谱范围230 &ndash 3,500cm-1. 拉曼探针用吹扫护套&mdash 最大 L1320013 Max Probe在200° 到500° C温度下工作时必须配备该套件 活动触头 L1320324 工作距离7.5mm, 替换件. 能降低外界光干扰信号,并通过直接接触样品来优化光纤探针的工作距离. 适用于光纤探针和触发光纤探针的超长工作距离透镜使用该附件能实现25mm的工作距离L1320071
  • 高分辨率扫描探针显微镜配件
    高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜,SPM显微镜, 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成,同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台,包括各种扫描位移台,以确保用户大面积扫描样品,扫描探针显微镜具有最佳的多功能性,可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察(正置和倒置)扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性: 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统: 数字控制器和模拟反馈系统,具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件,控制所有的硬件工作。
  • AFM探针/原子力显微镜探针(DNISP)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm)DNISPUnmountedDiamond Tip, 100 - 300N/m, 35 - 65kHz140
  • 全新压电阻自感应悬臂梁AFM探针
    全新压电阻自感应悬臂梁AFM探针 ——从此形貌探测无需激光 SCL-Sensor.Tech公司成立于2004年,公司的主要业务是制造和销售硅基压电阻式自感应AFM探针。这种全压电式悬臂,在AFM、纳米、力测量等传感应用领域都有全新的应用。我们的多学科团队由物理、商业和金融、半导体和微电子学、电子工程和生物科学等领域的专家组成。除了我们自己的团队之外,我们还与著名高校:University of Tampere (UTA),école Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL) 许多的研究团队合作,密切接触前沿研究和开发。自感应悬臂探针安装了一个全压电电阻式的惠特斯通电桥,两个可变电阻在悬臂上,两个在晶片上可以直接测量悬臂的信号,从而避免了光学技术对空间要求。这种悬臂式芯片被连接在一个小的PCB上,带有一个小的连接器,用于快速和高度可重复的悬臂交换。传感器信号是通过一个小型的前置放大器PCB来读出和放大的。这使得与各种仪器,如SEM,TEM和许多其他测量系统的简单无缝集成。这种自感的悬臂可以满足各种共振频率和弹性系数的要求。SCL提供了PRS(Piezo-Resistive Sensing)不可加热的悬臂AFM探针和PRSA(Piezo-Resistive Sensing & Active)可加热的悬臂AFM探针。我们建议用塑料镊子更换裸悬臂AFM探针,用钢镊子来更换固定在PCB板上的悬臂AFM探针。 常规自感应悬臂梁探针(针材质Si) Self-Sensing Cantilevers with Silicon Tip 左图展示的是标准的SCL自感应悬臂探针的,半径小于15纳米。正常情况下,悬臂探针会预先安装特制的PCB板(CL-PCB)上,在它的下侧有一个10pin的连接器。如果有特殊要求,我们也可以提供没有PCB板的悬臂探针。探针有两种版本,可加热的探针PRSA (Piezo-Resistive Sensing & Active) 和不可加热的探针PRS (Piezo-Resistive Sensing) 型号列表: PRSA-L300-F50/60/80-Si-PCB/CHP 我们可以提供两中特定频率范围内使用的探针(中频为50 kHz或80 kHz),频率取决于悬臂的厚度。当选择没有PCB板的裸探针时(PRSA-L300-CHP)时,使用的频率范围是未知的,因为这些参数不能在没有电触点的情况下测量。 共同特点Common 针锐度Silicon tip radius (rtip) 15 nm长宽Cantilever length, width (l/w) l = 305 μm, w = 110 μm灵敏度Sensitivity (s)1-2 μV/nm应用ApplicationsAFM, 纳米探测, 结合 SEM/TEM的力学探测.PRSA-L300-F50-Si-PCB共振频率Resonant frequency (fR)fR = 30~65 kHz刚度Stiffness (k)k = 1~15 N/mPRSA-L300-F80-Si-PCB共振频率Resonant frequency (fR)65...95 kHz刚度Stiffness (k)15...56 N/mPRS-L70-F900-Si-PCB/CHP PRS-L70-F900-Si-PCB/CHP针锐度Silicon tip radius (rtip) 15 nm长宽Cantilever length, width (l/w)l = 70...85 μm, w = 30 μm灵敏度Sensitivity (s)3 μV/nm应用ApplicationsAFM, 纳米探测, 结合 SEM/TEM的力学探测.共振频率Resonant frequency (fR)500...1300 kHz刚度Stiffness (k)35...400 N/m 自感应悬臂梁(不含针)Self-Sensing Cantilever without Tip (Tipless) 这是一种特殊类型的SCL的自感应悬臂,没有探针针,可将自己设计制造的针粘在其上或者直接粘上样品,满足个性化的需求。这种无探针的悬臂尤其适用于扭矩磁力仪、力感测力、气体特性测量,以及更多的应用。正常情况下,悬臂探针会预先安装特制的PCB板(CL-PCB)上,在它的下侧有一个10pin的连接器。如果有特殊要求,我们也可以提供没有PCB板的悬臂探针。探针有两种版本,可加热的探针PRSA (Piezo-Resistive Sensing & Active) 和不可加热的探针PRS (Piezo-Resistive Sensing) 型号列表: PRSA-L300-F50/60/80-TL-PCB/CHP 我们可以提供两中特定频率范围内使用的探针(中频为50 kHz或80 kHz),频率取决于悬臂的厚度。当选择没有PCB板的裸探针时(PRSA-L300-CHP)时,使用的频率范围是未知的,因为这些参数无法在没有电触点的情况下测量。 共同特点Common 长宽Cantilever length, width (l/w)l = 300 μm, w = 110灵敏度Sensitivity (s)1-2 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪,力感应,气体特性,特殊针的安装PRSA-L300-F50-TL-PCB 共振频率Resonant frequency (fR)fR = 30~65 kHz刚度Stiffness (k)k = 1~15 N/mPRSA-L300-F80-TL-PCB共振频率Resonant frequency (fR)65...95 kHz刚度Stiffness (k)15...56 N/mPRS-L100-F400-TL-PCB/CHP PRS-L100-F400-TL-PCB/CHP 长宽Cantilever length, width (l/w)l = 100 μm, w = 48 μm灵敏度Sensitivity (s)1...3 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪,力感应,气体特性,特殊针的安装共振频率Resonant frequency (fR)fR = 250...550 kHz刚度Stiffness (k)k = 14...170 N/m PRS-L450-F30-TL-PCB/CHP PRS-L450-F30-TL-PCB/CHP长宽Cantilever length, width (l/w)l = 450 μm, w = 100 μm灵敏度Sensitivity (s)1...2 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪,力感应,气体特性,特殊针的安装共振频率Resonant frequency (fR)fR = 14...48 kHz刚度Stiffness (k)k = 0.5...24 N/m 自感应基础套件(DYI必备) Self-Sensing Starter-Kit自感悬臂探针的每个应用中没有激光扰度探测,无法直接用于普通AFM设备里,需要我们提供的自感应基础套件。该基础套件为您提供了所有基本但必要的配置,可以立即开始使用自感应悬臂(探针)。自感应基础套件包含以下内容: ★ 低噪声悬臂信号前置放大器(下图-2) ★ 连接前置放大器到悬臂和后加工设备(锁定放大器,AFM控制器等)的电缆。(1 + 3) ★ 10个自我感觉的悬臂(4)
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