物成像分析仪

指纹分析仪系统配件是为法医研究,刑侦等应用设计的最新最强大的指纹分析系统，指纹分析仪系统满足刑侦成像,证据和背景各种照明图片的处理需求。指纹分析仪系统配件特色结合了先进的成像技术，多波长照明与简单易用的软件，是全球唯一具有有两种操作模式能为公安干警，法医人员提供快速和高质量结果的指纹分析系统。潜指纹和处理过指纹包括le 自动化标准指纹分析或为指纹提供的订制化分析程序。可以用于各种法医摄影，潜指纹显现,处理过的指纹分析，痕迹物证,伪造和篡改文件分析痕迹物证Trace Evidence包括体液，纤维，涂料，玻璃碎片和枪击残留物。伪冒和篡改的文件检验能够识别所有手写和打印的文档。无需培训，几分钟内可获得专业结果：使用操作的自动模式，3个简单步骤实现有效成像和加强。1将证据放置在指纹分析仪样品室内2选择分析和证据的类型3按“运行”按钮。自动分析程序将根据预置的法医学领域常见的分析，或自定义分析的特殊要求运行。多个光源和过滤器可以通过几个途径加强证据的图像。高级模式选择最好的全屏图像或在进一步加强。指纹分析仪系统配件双模式软件：指纹分析仪提供快速，高品质成像的两种操作模式：自动模式使用自动模式，任何没有经验的操作者可以执行分析，并根据预先设定的程序获得结果。软件里包含用于普通法医治疗证据的综合分析程序，但自定义分析或细节分析要调整或是根据具体结果设置，然后使用自动模式执行。指纹，包括化学处理后进行的法学领域常见分析文件， 手写和打印追踪证据， 包括血液，纤维，GSR等。高级模式高级模式中，操作者可以选择全手动控制照明，过滤器和后成像增强这些特定的图像增强处理。高级模式允许专业操作者微调增强过程。指纹分析仪系统配件 高级模式特点：高分辨率成像系统，同时提供500万像素14 bit 的单色和1500万像素的彩色成像。高灵敏度，科学级相机和优化的色彩校正透镜，在可见和红外线波长从400-1000nm区间提供高对比度、高分辨率的图像。总控光源和用于强烈聚焦多波长照明的滤光镜和效果增强。可变波长的窄带光源，用于高度彩色背景里的先进的指纹高光谱成像指纹分析仪系统硬件脱机指纹分析仪有高感光度图像捕捉和多波长照明功能。用户可以使用额外的照明，系统安装，PC硬件和相机镜头选项建立一个系统，以满足任何要求。高感光摄像头1500万像素的彩色成像，35mm宽广角镜头（其它镜头可选），集成第二个摄像头指纹分析仪系统 高强度照明犯罪精简版8×4的多波长光源，32个高效率的LED，高达98种颜色的组合4×20W卤素灯提供可见光/ IR照明长通滤镜摄像机滤光镜400nm，455nm，495nm，530nm，550nm，570nm，590nm，610nm，630nm，645nm，665nm，695nm，715nm，780nm，850nm短通滤波器摄像机滤光镜752nm，660nm，610nm和550nm全部附件包括可在犯罪精简版成像仪产品手册上找到额外的照明组件。

凝胶成像分析系统配件集合了图像采集，图像分析和的打印功能，触摸屏控制，功能强大，采用超高分辨率，超高灵敏度的CCD相机确保弱光条件下的荧光成像。凝胶成像分析系统配件具有功能强大的图像分析软件，帮助用户快速获得清晰的凝胶图片和详尽精确的分析结果。 可用于探测DNA/RNA/蛋白质凝胶,印迹膜（western, southern, northern, slot, dot blotting),化学发光和荧光成像，放射自显影胶片，ELISA片，液相色谱薄片等。 凝胶成像分析系统配件特色 结构：高灵敏度光学配置，计算机控制，密封暗室，触摸屏 高分辨率相机：高分辨率高质量的数字CCD和CMOS相机 高透过率变焦放大镜头 灵敏度和精度高：探测极其微弱信号，识别分清紧凑凝胶带，可探测到5pg的溴化乙锭染色的DNA. 超低噪音：使用最新的CCD技术和先进的噪音去除算法确保高信噪比。 系统照明：提供紫外和白色透过光，紫外和白色落谢光照明选择 最大可测样品：约为210x260mm 凝胶成像分析系统配件参数 暗室/darkroom: 微处理控制的金属暗室 相机：数字CCD相机，140万像素，12bit 像素： 1360x1024像素 镜头：变焦镜头8-48mm 滤光片：590nm多层镀膜滤光片 辅助照明光源：LED白灯， 紫外透照台尺寸 21x25cm, 302nm波长 白光：均匀白光透射片 软件：图像采集和分析。 操作系统兼容性：兼容Windows Xp, vista和Win7 电源： 100-220V 孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有包括凝胶成像仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个一产品是用户满意的完美产品。 我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。 更多关于凝胶成像分析系统价格等诸多信息，孚光精仪会在第一时间更新并呈现出来，了解更多内容请关注孚光精仪官方网站方便获取！

凝胶成像仪配件是一款简单而紧凑的凝胶成像系统，带有数字化控制面板，凝胶成像仪配件可用于琼脂糖和其它光凝胶，彩色凝胶,放射自显影薄片，印迹膜的荧光成像。凝胶成像仪配件包含了一个高达1400万像素的超级相机和8' ' 彩色TFT屏，非常方便直观地观测图像，非常适合安装空间有限，预算有限的用户使用。凝胶成像仪配件特色安全防护：前门打开时紫外透照台自动关闭。图像文件可保存为多种格式，包括RAW格式。1000万像素相机高分辨率8' ' 显示屏数字控制面板轻巧便携多个聚焦面积选择内置紫外透照台不需要计算机可自行操作可连接热敏打印机直接打印结果内部2x3W白光LED照明可选配凝胶分析软件通用电压100-240V凝胶成像仪配件参数相机：佳能Power Shop G11数字照相机像素： 1000万像素， 1/1.7' ' 高密度CCD最大光圈： F/2.8(W)--F/4.5(T)辅助照明光源：LED白灯电源： 110-240V孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有包括凝胶成像仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个一产品是用户满意的完美产品。我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。更多关于凝胶成像仪价格等诸多信息，孚光精仪会在第一时间更新并呈现出来，了解更多内容请关注孚光精仪官方网站方便获取！

所属类别：? 光学/激光测量设备 ?波前分析仪所属品牌：法国Phasics公司Phasics公司的所有产品都是建立于其波前测量专利技术之上，即4波横向剪切干涉技术。（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。在增强型改进型哈特曼掩模的基础之上，这种独特技术将超高分辨率和超大动态范围完美结合在了一起。任何应用下，其都能实现全面、简便、快速的测量。SID4: 一款紧凑型的波前传感器SID4波前传感器体积小巧，结合了传统的剪切干涉的优势，安装使用简单。我们的优势在于4波横向剪切干涉技术（基于改善后的哈特曼衍射遮挡板）。SID4是测量光束特性的必要工具，在光学测量方面有着许多应用。波长范围：350-1100nm分辨率高（160*120）消色差测量稳定性高对震动不敏感操作简单，Firewire IEEE 1394结构紧凑，体积小：可用笔记本电脑控制操作简单，Firewire IEEE 1394结构紧凑，体积小：可用笔记本电脑控制SID4 HR:高分辨率波前传感器SID4-高分辨率波前传感器可应用于光学测量领域。其可实现300x400个测量点的相位图，保证了高精度测量，可用于对各种光学器件的测量，如透镜，物镜，球面镜，微透镜特征测量等波长范围：400-1000nm高性能的相机，信噪比高实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）曝光时间极短保证动态物体测量SID4 HR操作简单SID4 UV-HR: 高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围从190nm到400nm。SID UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器SID4 UV-HR非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测…）。高分辨率（250*250）通光孔径大（8.0mm*8.0mm）覆盖紫外光谱灵敏度高（0.5um）优化信噪比SID4 NIR: 高分辨率红外波前传感器SID4 NIR是一款覆盖近红外范围（1.5um-1.6um）的高分辨率波前传感器。用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。高分辨率（160*120）绝对测量快速测量对于振动不敏感性价比高SID4 DWIR: 高分辨、双波段红外波前传感器PHASICS推出了业界第一款高分辨率双波段红外波前传感器(from 3 μm to 5 μm and from 8 μm to 14 μm)SID4 DWIR光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等）高分辨率（96*72）可实现绝对测量可覆盖中红外和远红外波段大数值孔径测量，无需额外中转透镜快速测量对振动不敏感可实现离轴测量性价比高 SID4软件介绍与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的电磁场分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图测量光强分布和波前。借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。adaptiveoptics loops将SID4 wavefront sensor结合自适应光学，选择最合适的应用。应为可变形镜和相位调制器都是可以提供的。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，利于激光光束和成像系统。传统的测量结果与Phasics的测量结果对比：

美国TSI 8533，美国TSI 8534颗粒物分析仪，优点，办事处，说明书，操作手册，现货销售热线：15300030867，13718811058，张经理锂离子可充电电池内置和外部电池充电功能可更换鞘气和泵的过滤器测试暂停和重启功能彩色触摸屏 记录测试可编程- 具有手动模式和程控模式- 通过电脑的TRAKPROTM数据分析软件瞬时报警设置，可采用听觉和视觉报警实时数据图形显示可以在采样进行中和采样后查看统计数据 屏幕状态显示标示：流量，激光和滤膜滤膜服务指示器可以进行预防性维护美国TSI 8533，美国TSI 8534颗粒物分析仪，优点，办事处，说明书，操作手册，现货,产品参数型号8533台式 8534手持式传感器类型90光散射气溶胶浓度范围 0.001～150mg/m3 0.001～150mg/m3显示内容PM1,PM2.5，可吸入颗粒物，PM10和全粒径显示。全部同时显示分辨率±0.1%读数，0.001mg/m3取大值零点稳定度±0.002mg/m3 24小时，10秒时间长数粒径范围0.1～15μm流量3.0L/min流量准确度出厂设置点的±5%，内置流量控制温度系数+0.001mg/m3/℃操作温度0～50℃储存温度-20～60℃操作湿度0～95%相对湿度，无凝结时间常数 用户可调节，1到60秒数据记录5MB内存(60,000数据点)1分钟采样间隔，可记录45天记录间隔可调节，1秒到1小时外形尺寸(HWD)13.5x21.6x22.4厘米12.5x12.1x31.6厘米通讯USB，以太网，使用U盘存储数据USB，使用U盘存储数据交流电源115～240VAC模拟输出用户可选，0～5V或2～20mV用户可选择范围比例--报警输出继电器或蜂鸣器继电器听得见的蜂鸣屏幕5.7in，VGA彩色触摸屏3.5in，VGA彩色触摸屏称重采样可更换37mm滤盒(用户提供)--CE规格Immunity：EN61236-1:2006Emissions：EN61236-1:2006

无显示器的 875 KF 气体分析仪订货号: 2.875.9050875 KF Gas Analyzer 是一套配置完毕的分析系统。该设备包括一台安装有滴定软件 tiamo full 的计算机和一台 851 Titrando，可自动进行电量法水分测定。通过预先定义的用于在液化气体和永久气体中进行水分测定的方法可简化 875 KF Gas Analyzer 的工作。除了测定气体中的水分含量之外，该系统还可测定液体和固体样品中的水分含量。操控系统时还需要一台显示器和键盘及鼠标。

1.0 二级光谱滤光片 由于光栅本身的分光特性，在宽光谱范围分光时，会产生多级光谱，主要是二级光谱，会对光谱测量产生干扰，为了消除这种干扰，需要在光谱仪内部安装适合的高通滤光片，用来消除多级光谱的影响。根据不同的光谱范围，需要选择不同截至波长的的滤光片；N17E型无需选择和安装此种滤光片。 滤光片需要根据下表对应选择，并被安装在光谱仪内。 滤光片型号 截至波长(nm) 适用的光谱相机型号 OBF450 450 V8E OBF570 570 V10E OBF1400 1400 N25E 2.0 成像镜头 成像镜头是高光谱成像分析系统不可或缺的部分，它被用来将被测物的反射或透射光搜集进入高光谱仪。 ◆ 适合400-1000nm波段的镜头焦距可选：8，9，17，18.5，23，35，50，140mm ◆ 适合900-2500nm波段的镜头焦距可选：15，22.5，30，56mm ◆ 所有镜头均为消像差设计，孔径与光谱仪孔径相匹配。 3.0 X-Z位移平台 X-Z位移平台主要用于样品的位置调节和扫描，其中Z轴位移台为手动，用于样品的位置微调，X轴位移台为电动，用于测试过程中的样品扫描。另可提供多种规格电控旋转平台，详情请咨询。 ◆ Z轴调整范围：± 60mm（型号：TSMV120-1S），手动调节 ◆ X轴行程：300mm（型号：PSA300-X） ◆ 台面尺寸：200mm× 200mm ◆ 可选产品型号规格列表 型号 产品描述 行程范围(mm) TSMV60-1S Z轴升降台，手动 ± 30 TSMV120-1S Z轴升降台，手动 ± 60 PSA200-X X轴平移台，电控 200 PSA300-X X轴平移台，电控 300 PSA400-X X轴平移台，电控 400 PSA500-X X轴平移台，电控 500 PSA1000-X X轴平移台，电控 1000 4.0 校正白板 校正白板主要用于白平衡校正，为进口聚四氟乙烯漫反射材料。 白板型号 规格(mm× mm× mm) CAL-tile200200× 25× 10 5.0 高光谱仪软件（SpectraSENS） SpectraSENS高光谱仪软件为随机配套的光谱及图像采集软件。 ◆ 可进行光谱相机扫描参数设定 ◆ 可实时获取样品光谱及影像信息 ◆ 可存储扫描结果为图像（图片格式） ◆ 可存储扫描结果为光谱曲线（xls、txt等格式） ◆ 可存储全部原始数据（raw格式），并可用ENVI等第三方分析软件调用 6.0 光源 可提供针对不同应用需要的漫射型光源、线光源、强紫外光源等。详情请咨询。

SMS 100汞分析仪的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 PerkinElmer SMS 100汞分析仪 能够直接对固体样品进行分析的汞分析仪 SMS 100是一款专用汞分析仪，运用热分解、汞融合以及美国环境保护协会方法7473中所描述的原子吸收原理来测定固体及液体样品中的总汞含量。 与传统溶液分析系统使用的化学还原步骤不同的是，SMS 100使用分解炉来释放出汞蒸气。这样，无论是固体还是液体样品都可以直接放入仪器的自动进样器中，无需消解或样品前处理就可以进行分析。此方法不需要将汞转变成汞离子，所以大大节省了样品前处理步骤。对用户而言，直接的好处就是缩短分析时间，同时减少了化学试剂的使用，从而使得它与传统汞分析仪相比，分析成本明显降低。适用的样品包括淤泥、沉积物、土壤、废水、污水、煤、飞尘、矿物、矿石、化肥、各种粮食、血液、尿以及头发等。 特征与优势 Ø 无需制备样品 Ø 特别低的检出限 Ø 全自动处理 Ø 易于维护 SMS 100自动汞分析仪 110V/60Hz N9309000 SMS 100自动汞分析仪 220V/50Hz N9309001 SMS 100耗材 基本备件N9309109 扩展备件N9309110 镍舟 数量42 N9309017 石英舟 数量10个N9309032 碳粉 500g N9309035 催化管 (包) N9309036 自动进样舟N9309019 排气组件N9309006 混合管N9309007 汞灯N9309010 碳材料汞蒸气收集器N9309011 Nafion.干燥管N9309021 Chromosorb. 250mL N9309103 汞储存溶液100ppm N9309106 备件基本备件N9309109 包括： 混合管N9309007 汞灯N9309010 Nafion.干燥管N9309021 O形圈N9309029 扩展备件N9309110 包括： 混合管N9309007 气路组件N9309008 汞灯N9309010 进样叉组件N9309012 CVAAS管线N9309013 混汞机加热线圈N9309066 6g Krytox.管润滑脂N9309108 Nafion.干燥管N9309021 石英窗N9309024 O形圈N9309029 窗口端盖N9309031 5英寸光电池N9309033 1英寸光电池N9309034

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元素分析仪配件Elementar 11.02-0008氧化钨Tungsten (VI)-Oxide, Granulate

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元素分析仪配件Elementar 11.02-0017氧化钨Tungsten (VI)-Oxide Powder

元素分析仪配件Elementar 11.02-0024氧化钨Tungsten (VI) Oxide Powder

元素分析仪配件Elementar SA999944钨颗粒Tungsten Metal, Granules of 1 - 2 mm

元素分析仪配件Elementar SA999957钨颗粒Tungsten Metal 0.87 - 1.6mm, Granules of -12 to 20 mesh

元素分析仪配件Elementar SA999943钨颗粒Tungsten Metal 0.87 - 1.6mm, Granules of -12 to 20 mesh

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显微岩相分析仪配件特别为岩相学和地球化学分析而设计，非常适合岩相学分析检测，特别是煤炭质量分析检测，显微岩相分析仪配件在全球的石化，地球化学和岩相学实验室广泛使用。显微岩相分析仪配件应用煤续排列 － 使用反射光方法, 观察其镜质体和丝质体含沥青煤的特性 — 利用落射荧光技术进行分析油母岩的分析 — 以透射光和落射紫外荧光方法百分比含量测定 — 用显微图像设备对样品进行相成分,得知其成分比例无定形材料的评估 — 显微镜下观察其古生物样品，研究其藻类和其植物部分煤岩组份族组成的判断 — 分析含沥青的煤和无烟煤显微岩相分析仪配件介绍在研究和分析煤的起源，形成和使用领域过程中，岩相分析被公认为 是非常重要的。在分析和测试单一煤样品过程中, 我们很容易得知煤的等级，煤岩组分，微石类型组成和矿物分布的重要信息。但对于一个混合煤的样品进行分析和测试, 则离不开对样品进行反射率分析和测试此一有力的方法，此一分析方法不仅可以得到煤样的化学性质，还可以区分不同混合类型的壳质组，丝质组和微惰性煤各部分 所占的比例。国际煤岩相学委员会(ICCP)已制定了相关的命名法和分析方法。在ISO/DIN标准第7404项中，比较了显微分光光度计测试和分析后得到的数据和标准样品的数据, 确认此分析方法的准确性。另一方面, 可同时结合热变指数(TAI)或孢色值(SPI)的测试方法, 可补充其它方面的实验数据。依据DIN/ISO标准进行数据采集处理的分析模式, 使用直方图表达被测量组分的含量和其它组分的相对含量。显微岩相分析仪对煤炭质量分析图样

金属钨粒用于红外碳硫分析仪燃烧试样时作为助剂

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闪点分析仪系列配件是一种自动化闭杯闪点测定仪，温度范围为环境温度+5至300°C（环境+9至572°F）。闪点分析仪系列配件采用了电热丝点火器（气体火焰选项可用）。 闪点分析仪系列配件有两种操作模式： 闪点/无闪点和倾斜。 倾斜模式以2℃/分钟的速度增加样品温度，并以每次1℃地自动升高点火器温度，直至100℃（100℃以上每次2℃），直到检测到闪光或达到最终测试温度。 闪点分析仪系列配件特点室温至300℃（室温到572°F）样本尺寸小，2个或4ml闪点/无闪点和倾斜模式电子点火器（带气体选项）全自动浸入和闪光检测640 MB内存测试和USB2接口°C或°F温度显示屏大气压力校正强制风冷，进行快速测试循环快速得到结果闪点分析仪系列配件规格 温度范围 环境温度 +5 至300°C (环境温度+9至 572°F) 样品尺寸 2 或4ml 依据方法 点火器 电热丝（可选气体火焰） 测试模式 快速，平衡和倾斜 测试持续时间快速平衡模式 1 分钟 低于 100°C,，2 分钟 高于 100°C 测试持续时间倾斜模式 一般 7 分钟 冷却时间 n/a 样品杯材料 铝 加热/制冷方法 陶瓷垫，强迫风冷（测试后冷却） 计算机接口 USB 2和局域网选项 电源 500W （最大） 电压 100 to 250v, 50/60Hz 尺寸 52 x 26 x 24cm 重量 9kg

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