二次离子检测

PHI nanoTOF3+ 特征先进的多功能TOF-SIMS具有更强大的微区分析能力，更加出色的分析精度 飞行时间二次离子质谱仪新一代 TRIFT 质量分析器，更好的质量分辨率 适用于绝缘材料的无人值守自动化多样品分析 独特的离子束技术 平行成像 MS/MS 功能，助力有机大分子结构分析 多功能选配附件TRIFT分析器适用于各种形状的样品 宽带通能量+宽立体接收角度宽带通能量、宽立体接受角-适用于各种形貌样品分析主离子束激发的二次离子会以不同角度和能量从样品表面飞 出，特别是对于有高度差异和形貌不规则的样品，即使相同 的二次离子在分析器中会存在飞行时间上的差异，因此导致 质量分辨率变差，并对谱峰形状和背景产生影响。 TRIFT质量分析器可以同时对二次离子发射角度和能量进行 校正， 保证相同二次离子的飞行时间一致， 所以TRIFT兼顾 了高质量分辨率和高检测灵敏度优势，而且对于不平整样品 的成像可以减少阴影效应。 实现高精度分析的一次离子设备先进的离子束技术实现更高质量分辨PHI nanoTOF3+ 能够提供高质量分辨和高空间分辨的TOF-SIMS分析:在高质量分辨模式下，其空间分辨率优于500nm 在高空间分辨模式下，其空间分辨模式优于50 nm。通过结合强度高离子源、高精度脉冲组件和高分辨率质量分析器，可以实现低噪声、高灵敏度和高质量分辨率的测量 在这两种模式下，只需几分钟的测试时间，均可完成采谱分析。前所未见的无人值守TOF-SIMS自动化多样品分析 -适用于绝缘材料PHI nanoTOF3+搭载全新开发的自动化多样品分析功能，程序可根据 样品导电性自动调整分析时所需的高度与样品台偏压， 可以对包括 绝缘材料在内的各类样品进行无人值守自动化TOF-SIMS分析。 整个分析过程非常简单， 只需三步即可对多个样品进行表面或深度 分析 ：①在进样室拍摄样品台照片 ；②在进样室拍摄的照片上指定 分析点 ；③按下分析键，设备自动开始分析。 过去，必须有熟练的操作人员专门操作仪器才能进行TOF-SIMS分析 ； 现在，无论操作人员是否熟练，都可以获得高质量的分析数据标配自动化传样系统PHI nanoTOF3+配置了在XPS上表现优异的全自动样品传送系 统 ：样品尺寸可达100mmx100 mm， 而且分析室标配内置 样品托停放装置 ；结合分析序列编辑器（Queue Editor），可以实现对大量样品的全自动连续测试。采用新开发的脉冲氲离子设备获得证书的自动荷电双束中和技术TOF-SIMS测试的大部分样品为绝缘样品，而绝缘样品表面 通常有荷电效应。PHI nanoTOF3+ 采用自动荷电双束中和 技术，通过同时发射低能量电子束和低能量氲离子束，可实现对任何类型和各种形貌的绝缘材料的真正自动荷电中和，无需额外的人为操作。 *需要选配Ar离子设备 远程访问实现远程控制仪器PHI nanoTOF3+允许通过局域网或互联网访问仪器。 只需将样品台放入进样室， 就可以对进样、换样、测试和分析等所有操作进行远程控制。我们的专业人员可以对仪器进行远程诊断。*如需远程诊断，请联系我们的客户服务人员。 从截面加工到截面分析： 只需一个离子源即可完成标配离子设备FIB(Focused lon Beam)功能在PHI nanoTOF3+中， 液态金属离子具设备备 FIB功能， 可以使用单个离子设备对样品进行 横截面加工和横截面TOF-SIMS分析。通过操 作计算机， 可以快速轻松地完成从FIB处理 到TOF-SIMS分析的全过程。此外，可在冷却 条件下进行FIB加工。 在选配Ga源进行FIB加工时，可以获得FIB加 工区域的3D影像 ；Ga源还可以作为第二分析 源进行TOF-SIMS分析。 通过平行成像MS/MS进行 分子结构分析[选配]MS/MS平行成像 同时采集MS1/MS2数据在TOF-SIMS测试中，MS1质量分析分析器接收从样品表面 产生的所有二次离子碎片，对于质量数接近的大分子离子， MS1谱图难以区分。通过安装串联质谱MS2，对于特定离子 进行碰撞诱导解离生产特征离子碎片，MS2谱图可以实现 对分子结构的进一步鉴定。PHI nanoTOF3+具备串联质谱MS/MS平行成像功能， 可以同时获取分析区域的MS1和MS2数据，为有机大分子结构解析提供了强有力的工具。 多样化配置充分发挥TOF-SIMS潜力可拆卸手套箱：可安装在样品导入室可以选配直接连接到样品进样室的可拆卸手套箱。 锂离子电池和有机 OLED等容易与大气发生反应的样品可以直接安装在样品台上。此外，在 冷却分析后更换样品时，可以防止样品表面结霜。 氩团簇离子源（Ar-GCIB）：有机材料深度剖析使用氩团簇离子源(Ar-GCIB)能够有效减少溅射过程中对有机材料的破坏，从而在刻蚀过程中保留有机大分子结构信息。Cs源和Ar/O2源：无机材料深度剖析可根据测试需求选择不同的离子源提高二次离子产额，使用Cs源可增强负离子产额 ；O2源可增强正 离子产额

MAXIM 二次离子溅射中性粒子质谱仪可分析二次阴、阳离子动态和中性粒子，所具备的的30°接受角可形成样品粒子平面，应用于SIMS和SNMS的光学采样。 光栅控制，增强深度分析能力 所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器质量数范围： 300amu，500amu，1000amu 检测器： 离子计数探测器、正负离子探测器、107 cps 质量过滤器： 3F四级杆 杆直径： 9mm 最高加热： 250℃ 离子源： 电子轰击，可用于SNMS和RGA的单根灯丝

仪器简介：EQS 是差式泵式二次离子质谱（SIMS-Secondary Ion Mass Spectrometer ‘Bolt-On’ probe），可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。采用最新技术的SIMS 探针，便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。 技术参数：应用： 静态 /动态SIMS 一般目的的表面分析 整体的前端离子源，便于RGA和 SNMS 兼容的离子枪/ FAB 枪 成分/污染物分析 深度分析 泄漏检测 与Hiden SIMS 工作站兼容主要特点： 高灵敏度脉冲离子计数检测器，7个数量级的动态范围 SIMS 成像，分辨率在微米以下 光栅控制，增强深度分析能力 45°静电扇形分析器, 扫描能量增量 0.05 eV/ 0.25eV FWHM. 所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输 差式泵3级过滤四极杆，质量数范围至2500amu 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器 Penning规和互锁装置可提供过压保护 通过RS232、RS485或Ethernet LAN，软件 MASsoft控制

Kore SurfaceSeer I是一款高灵敏度的TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪，具有高通量分析功能，可用于绝缘、导电表面的成像分析与化学成分分析。SurfaceSeer I 是研究表面化学的理想选择，适用于研发和工业质量控制应用。TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪主要通过离子源发射离子束溅射样品表面进行分析。离子束作为一次离子源，经过一次离子光学系统的聚焦和传输，到达样品表面。样品表面经过溅射，产生二次离子，系统将产生的二次离子提取和聚焦，并将二次离子送入离子飞行系统。在离子飞行系统中，不同种类的二次离子由于质荷比不同，飞行速度也不同，在飞行系统分离，通过检测这些离子进行相关分析。SurfaceSeer I 使用与 SurfaceSeeer S 相同的 TOF-MS 技术，但配备了高亮度、高空 间分辨率的 25kV 液态金属离子枪（LMIG）作为主要离子源。LMIG 的探头尺寸≤ 0.5µ m，可实现高分析空间分辨率。全自动计算机控制，允许在质谱采集期间扫描离子枪，从而可以收集到化学图像或图谱。另外还提供了一个二次电子探测器（SED），用 于调谐初级电子束和 SED 图像捕获。带有12.7µ m重复单元的铜格栅SurfaceSeer I 仪器特点：配备25KV液态金属离子枪（LMIG）作为主要离子源，检测能力更强，质量分辨率更高；具备表面成像和深度剖析功能；提供的SIMS材料谱库包含上千种材料的质谱数据，可识别未知的化合物和材料；可同时分析所有元素及有机物，可消除有机物和元素干扰，使谱图更清晰，检测限更低，能更有效地分析材料样品。专用数据处理软件允许分析数据和样品的化学构成信息进行全面的交互提取，其所有储存的数据都能用于溯源性分析。表面分析灵敏度高达 1x109 atoms/cm2SurfaceSeer I 应用领域:表面涂层和处理电子元件和半导体电极与传感器润滑剂催化剂粘合剂薄膜等包装材料腐蚀研究大学教学与科研

飞行时间二次离子质谱（TOF- SIMS）是一种表面敏感的技术，提供表面分子，元素及其同位素前几个原子层的组成图像。所有元素和同位素，包括氢气都可以用飞行时间二次离子质谱分析。在理论上，该仪器可以在一个无限大的质量范围内提供很高的质量分辨率（在实践中通常是大约 10000amu）。PHI TRIFT V nano飞行时间质谱仪（三次对焦飞行时间）是一种高传输、并行检测仪器，其目的是由主脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子可以得到zui佳的收集状态，并可同时用于有机和无机表面特征分析。TRIFT分析仪的工作原理会把离子在光谱仪中不断的重新聚焦。使二次离子质谱允许更多重大的实验得以进行。主离子束zui先进的设计，允许经由计算机控制去同时达到高横向分辨率的成像和高质量的图谱分辨率。PHI TRIFT V nanoTOF是第五代SIMS仪器，该仪器具有独特的专利时间飞行（TOF）分析仪，它拥有市场上TOF-SIMS仪器中zui大的角度和能量接受标准，实现了高空间分辨率质量分辨率和使用具有优良离子传输能力的三重重点半球形静电分析器。PHI TRIFT V nanoTOF还具有很高的能力，可以图像具有非常复杂的几何形状的样本而没有阴影。

Kore SurfaceSeer S在飞行时间二次离子质谱仪 （TOF-SIMS） 系列中，是一款高性价比且经久耐用的产品。它是研究样品表面化学成分的理想选择，适用于研发和工业质量控制应用。飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能，广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、半导体、微电子、物理学、材料化学、纳米科学、矿物学、生命科学等领域。Kore SurfaceSeer S型号的飞行时间二次离子质谱仪（TOF-SIMS）使用的是5keV Cs+离子束（可选惰 性气体Ar+），该离子束是脉冲式的，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤。 在每100µ s TOF 循环中，该离子枪的脉冲时间仅为60ns，因此，主光束提供的电流比连续打开时少1000倍以上。典型的10s实验时间所产生的电流仅相当于几毫秒的连续光束电流。 要达到所谓的“静态SIMS”极限，需要在一个点上进行几分钟的分析，在这个点上，表面损伤在数据中变得清晰可见(取决于焦点和光 束电流)。尽管离子剂量较低，这款TOF分析仪还是非常高效的，这就说明了它具有较高的二次离子数据速率（即使在离子产率相对较低 的聚合物上，也通常为5000 c/s）。SurfaceSeer S 仪器特点：配备5keV Ar+/Cs+脉冲式离子束，以限度地减少连续离子束可能造成的表面损伤，实现样品“无损”分析；针对工业领域的低成本TOF-SIMS仪器；均适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析 ；可在1~2min内实现高速率的正负质谱分析；质量分辨率可达 2,500 m/δm (FWHM)；适用于导电物体表面和绝缘物体表面的分析。SurfaceSeerS应用领域:表面化学黏附力分层印刷适性表面改性等离子体处理痕量分析（表面ppm）催化剂同位素分析表面污染

仪器简介：1. 适合做多层薄膜的深度分析。2. 很好的、耐用的、普通目的的二次离子质谱仪。3. 方便使用。4. 样品可以手动转换，由于分析速度快所以每天可以分析一定数量的样品。5. 我们的系统可配置快速原子枪，使我们可以轻松处理绝缘的样品。6. 我们还可以做元素成像（就象化学地图）和混合模式扫描，自动测量正、负和中性粒子。7. 我们的系统是典型的超高真空工作台，很容易满足很多其它分析的使用。结构紧凑，但不损失性能。真正的高性价比。技术参数：质量数范围：300，510或1000amu分辨率：5%的谷，两个相连的等高峰。检测器：离子计数检测器，正、负离子检测检测限：1:10E7质量过滤器：三级过滤四极杆（9mm杆）主离子枪： A，氧离子或其它气体，能量到5KeV B，Ga离子枪，能量25KeV（选配）空间分辨率：A：100～150um B: 50nm取样深度：2个单分子层（静态） 不受限制（动态）主要特点：? 高灵敏度脉冲离子计数检测器，7个数量级的动态范围 ? SIMS 成像，分辨率在微米以下 ? 光栅控制，增强深度分析能力 ? 所有能量范围内，离子行程的最小扰动，及恒定离子传输 ? 差式泵3级过滤四极杆，质量数范围至1000amu ? 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器 ? Penning规和互锁装置可提供过压保护 ? 通过RS232、RS485或Ethernet LAN，软件 MASsoft控制

TOF-SIMS是一种非常灵敏的表面分析技术，适用于许多工业和研究应用。该技术通过对一次离子束轰击样品表面产生的二次离子进行质量分析，并行探测所有元素和化合物，具有极高的传输率（可达到100%），只需要一次轰击就可以得到研究点的完整质量谱图，从而提供有关样品表面、薄层、界面的详细元素和分子信息，并能提供全面的三维分析。其用途广泛，包括半导体，聚合物，涂料，涂层，玻璃，纸张，金属，陶瓷，生物材料，药品和有机组织领域。全新 M6 — — 飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）先进科技M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）仪器，对一次离子源（LMIG）和质量分析器（TOF Analyser）进行了突破性的改进。此外，在硬件方面还增加了 MS/MS 功能选项，重新设计了加热和冷却系统；在软件方面新增了多元统计分析（MVSA）软件包。其设计保证了 SIMS 应用在所有领域的卓越性能。新的突破性离子束和质量分析器技术使 M6 成为二次离子质谱（SIMS）仪器中的耀眼光芒、工业和学术研究的理想工具。全新 M6 具有以下突出优势：1 新型 Nanoprobe 50 具有高横向分辨率 ( 50 nm)2 质量分辨率 30,0003 独特的延迟提取模式可同时实现高传输，高横向质量4 广域的动态范围和检测限5 用于阐明分子结构具有 CID 片段功能的 TOF MS/MS6 先进智能的 SurfaceLab 7 软件，包括完全集成的多元统计分析 (MVSA) 软件包7 新型灵活按钮式闭环样品加热和冷却系统，可长期无人值守运行

PHI nanoTOF3+特征先进的多功能TOF-SIMS具有更强大的微区分析能力，更加出色的分析精度飞行时间二次离子质谱仪最新一代 TRIFT 质量分析器，更好的质量分辨率 适用于绝缘材料的无人值守自动化多样品分析 独特的离子束技术 平行成像 MS/MS 功能，助力有机大分子结构分析 多功能选配附件TRIFT分析器适用于各种形状的样品 宽带通能量+宽立体接收角度宽带通能量、宽立体接受角-适用于各种形貌样品分析主离子束激发的二次离子会以不同角度和能量从样品表面飞 出，特别是对于有高度差异和形貌不规则的样品，即使相同 的二次离子在分析器中会存在飞行时间上的差异，因此导致 质量分辨率变差，并对谱峰形状和背景产生影响。 TRIFT质量分析器可以同时对二次离子发射角度和能量进行 校正， 保证相同二次离子的飞行时间一致， 所以TRIFT兼顾 了高质量分辨率和高检测灵敏度优势，而且对于不平整样品 的成像可以减少阴影效应。 实现高精度分析的一次离子枪先进的离子束技术实现更高质量分辨PHI nanoTOF3+ 能够提供高质量分辨和高空间分辨的TOF-SIMS分析:在高质量分辨模式下，其空间分辨率优于500nm 在高空间分辨模式下，其空间分辨模式优于50 nm。通过结合高强度离子源、高精度脉冲组件和高分辨率质量分析器，可以实现低噪声、高灵敏度和高质量分辨率的测量 在这两种模式下，只需几分钟的测试时间，均可完成采谱分析。前所未见的无人值守TOF-SIMS自动化多样品分析 -适用于绝缘材料PHI nanoTOF3+搭载全新开发的自动化多样品分析功能，程序可根据 样品导电性自动调整分析时所需的高度与样品台偏压， 可以对包括 绝缘材料在内的各类样品进行无人值守自动化TOF-SIMS分析。 整个分析过程非常简单， 只需三步即可对多个样品进行表面或深度 分析 ：①在进样室拍摄样品台照片 ；②在进样室拍摄的照片上指定 分析点 ；③按下分析键，设备自动开始分析。 过去，必须有熟练的操作人员专门操作仪器才能进行TOF-SIMS分析 ； 现在，无论操作人员是否熟练，都可以获得高质量的分析数据标配自动化传样系统PHI nanoTOF3+配置了在XPS上表现优异的全自动样品传送系 统 ：最大样品尺寸可达100mmx100 mm， 而且分析室标配内置 样品托停放装置 ；结合分析序列编辑器（Queue Editor），可以实现对大量样品的全自动连续测试。采用新开发的脉冲氲离子枪获得专利的自动荷电双束中和技术TOF-SIMS测试的大部分样品为绝缘样品，而绝缘样品表面 通常有荷电效应。PHI nanoTOF3+ 采用自动荷电双束中和 技术，通过同时发射低能量电子束和低能量氲离子束，可实现对任何类型和各种形貌的绝缘材料的真正自动荷电中和，无需额外的人为操作。 *需要选配Ar离子枪 远程访问实现远程控制仪器PHI nanoTOF3+允许通过局域网或互联网访问仪器。 只需将样品台放入进样室， 就可以对进样、换样、测试和分析等所有操作进行远程控制。我们的专业人员可以对仪器进行远程诊断。*如需远程诊断，请联系我们的客户服务人员。 从截面加工到截面分析： 只需一个离子源即可完成标配离子枪FIB(Focused lon Beam)功能在PHI nanoTOF3+中， 液态金属离子枪具备 FIB功能， 可以使用单个离子枪对样品进行 横截面加工和横截面TOF-SIMS分析。通过操 作计算机， 可以快速轻松地完成从FIB处理 到TOF-SIMS分析的全过程。此外，可在冷却 条件下进行FIB加工。 在选配Ga源进行FIB加工时，可以获得FIB加 工区域的3D影像 ；Ga源还可以作为第二分析 源进行TOF-SIMS分析。 通过平行成像MS/MS进行 分子结构分析[选配]MS/MS平行成像 同时采集MS1/MS2数据（专利）在TOF-SIMS测试中，MS1质量分析分析器接收从样品表面 产生的所有二次离子碎片，对于质量数接近的大分子离子， MS1谱图难以区分。通过安装串联质谱MS2，对于特定离子 进行碰撞诱导解离生产特征离子碎片，MS2谱图可以实现 对分子结构的进一步鉴定。PHI nanoTOF3+具备串联质谱MS/MS平行成像功能， 可以同时获取分析区域的MS1和MS2数据，为有机大分子结构解析提供了强有力的工具。 多样化配置充分发挥TOF-SIMS潜力可拆卸手套箱：可安装在样品导入室可以选配直接连接到样品进样室的可拆卸手套箱。 锂离子电池和有机 OLED等容易与大气发生反应的样品可以直接安装在样品台上。此外，在 冷却分析后更换样品时，可以防止样品表面结霜。 氩团簇离子源（Ar-GCIB）：有机材料深度剖析使用氩团簇离子源(Ar-GCIB)能够有效减少溅射过程中对有机材料的破坏，从而在刻蚀过程中保留有机大分子结构信息。Cs源和Ar/O2源：无机材料深度剖析可根据测试需求选择不同的离子源提高二次离子产额，使用Cs源可增强负离子产额 ；O2源可增强正 离子产额

多功能SIMS工具：高分析效率和全自动化的基准检测灵敏度IMS 7f-Auto是我们获得成功的IMS xf二次离子质谱仪（SIMS）产品系列的新型号。该仪器旨在提高高精度元素和同位素分析的易用性和生产率，已针对玻璃、金属、陶瓷、硅基，III-V和II-VI族化合物器件、散装物料、薄膜等一系列颇具挑战性的应用进行改良，可充分满足行业对高效器件开发和过程控制的要求。用于解决多种分析问题的关键分析功能IMS 7f-Auto提供了具有高深度分辨率和高动态范围的深度剖析功能。高透射质谱仪与两种反应性高密度离子源（O2+和Cs+）相结合，从而提供高溅射速率和极低的检出限。独特的光学设计可实现直接离子显微镜和扫描探针成像。 提高自动化和作业效率IMS 7f-Auto配有重新设计的同轴一次离子枪筒，可以更轻松、更快速地进行一次离子束调谐，并优化一次离子束流稳定性。新的自动化程序减少了由操作员引起的偏差并提高了易用性。带有自动装载/卸载样品架的电动储存室通过分析链和远程操作提高分析效率。 在高分析效率下实现高再现性借助新型电动储存室和样品转移，IMS 7f-Auto能够分析链式或远程模式下的多个样品。测量可以完全无人值守和自动化，具有高通量和可再现性。可实现很高的可再现性（RSD0.5％）、很低的检出限、高测试效率和高生产率（工具可每天24小时使用，几乎无需操作员干预）。

应用于地球科学的大尺寸几何结构离子探针IMS 1300-HR3是一款大尺寸几何结构离子探针，可为广泛的地球科学应用提供无与伦比的分析性能：使用稳定同位素追踪地质过程，矿物定年，以及确定痕量元素的存在和分布。其高灵敏度和高横向分辨率也使其成为搜索和测量铀颗粒以用于核防护目的的必要工具。高空间分辨率和高质量分辨率下的高再现性的独特组合借助新型IMS 1300-HR3，CAMECA极大地提高了已占据市场领导地位的大尺寸几何结构SIMS的性能，现可在高空间分辨率和高质量分辨率下为地球科学界提供高重现性的独特组合。该工具可充分满足高精度和高生产率的小尺度原位同位素测量的需求，并拓展了广泛的研究方向——从稳定同位素、地质年代学和痕量元素到小颗粒等等。秉承了IMS 1280-HR和之前型号的主要优点：大尺寸几何结构设计可在高质量分辨率下提供高灵敏度应用于高精度同位素测量的多功能多接收器系统用于分析正负二次离子的双一次离子源卓越的离子成像能力（探针和显微镜模式）增强型磁场控制系统实现了高质量分辨率下的高再现性远程操作、全自动化、功能强大的应用专用软件IMS 1300-HR3的改进及优点：新型射频等离子体氧源显著增加了电子束密度和电流稳定性，极大地提高了空间分辨率、数据再现性和通量。具有自动化样品高度（Z）调节功能的新型电动储存室可显著提高分析精度、易用性和生产率。用于改善光学图像分辨率的紫外光显微镜，搭配专用软件实现简单的样品导览1012 Ω电阻法拉第杯：用于测量低计数率的低噪声电测系统

仪器简介：IMP离子蚀刻探针（Ion Milling Probe）,自带差式泵，坚固的二次离子质谱仪，适于分析离子蚀刻过程中的二次离子和中性粒子. 独有的专业终点检测（End Point Detection）仪器，用于离子蚀刻控制以及过程质量最优化监测.技术参数：应用： • 终点检测（End Point Detection） • 靶的纯度鉴定 • 质量控制/ SPC. • 残余气体分析 • 泄漏监测 主要特点：特点： • 高灵敏度的 SIMS/MS，带脉冲离子计数检测器 • 三级过滤四极杆，标准配置质量数为300 amu • 差式泵歧管，经连接法兰，接到过程室 • 离子光学器件，带能量分析器和内置离子源 • Penning规和互锁装置，以提供过压保护 • 数据系统与过程控制工具整合 • 稳定性(24h以上，峰高变化小于 ±0.5%) • 通过 RS232、RS485或以太网， 软件MASsoft控制 • 程控DDE, 平行数字式I/O, RS232通讯

SIMS 工作站(SIMS Workstation－a complete SIMS Analysis Facility) ，综合UHV / SIMS 设备，进行高级的表面分析。可靠的、普遍适用的SIMS分析工作站。整合的离子源，便于RGA和SNMS 各类型样品的快速转向 阴、阳离子、中性粒子、自由基的质量、能量分析仪 整合的离子枪光栅控制和信号选通，进行深度分析 绝缘体研究中的电子流枪用于电荷中和 液氮冷井和真空室烘烤加热器 自动的SIMS 离子光学透镜调谐和质量数列表，使SIMS性能最佳 Hiden EQS SIMS 分析仪，运行于 MASsoft O/S 之下，检测限至ppb级 基本的激发源选择： 带差式泵的Hiden IG20 Ion，IFG200 FAB或高性能液态镓枪 快速样品传递，样品固定，负载锁定的操纵器 4 轴：X, Y, Z, θ UHV 操纵器，以最佳定位样品 加上ESM LabVIEW和SIMS 成像程序，进行SIMS元素成像 静态SIMS谱图库可用

二次供水在线监测设备是指安装在城市自来水二次供水系统中，用于实时监测水质状况的仪器和装置。这些设备通常包含一系列传感器，能够对水中的物理、化学及生物学参数进行连续的监测和分析。在线监测设备通常具备通信功能，可以通过有线或无线网络（如NB-IoT、LoRa、GPRS等）将数据传输至中央监控平台或移动设备。当监测到的水质参数超出预设的安全范围时，设备会触发报警，及时通知管理人员采取措施。一、产品介绍1.1概述GSZ供水水质站是基于物联网技术的综合传感器采集、显示、分析系统，供水水质监测微系统，由稳流排气单元、分析测试单元、系统控制单元和远程通讯单元等组成，具备完善的供电、防雷、网络通讯等功能。1.2产品定位 GSZ该设备用于供水末梢0.3Mpa管压环境。可广泛应用城市或村镇自来水厂、自来水输水管网、自来水二次供水、用户末梢、室内游泳池、大型净水设备和直饮水等水质在线监测，是水厂生产过程控制、水利水务管理、卫生监督等领域必不可少的在线分析设备。1.3功能与特点GPRS联网4G支持扩展RJ45联网支持扩展传感器远传支持LED屏显示7.0寸触摸控制屏支持扩展安卓屏显示、存储扩展安卓屏支持2G数据存储、U盘数据导出支持一路RS485 modbus-RTU协议从站支持多通道RS485 modbus-RTU传感器扩展配套物联网数据展示、存储、分析平台平台支持TCP短链接、HTTP协议等多种协议数据转发二、组成2.1组成单元供水水质监测微系统由供电单元、分析测试单元、显示单元、水泵单元和远程通讯单元及集成箱主体单元组成。2.1.1供电单元 电源适配器AC220转DC12V/3A。2.1.2分析测试单元分析测试单元，主要由pH、溶解氧、电导率、浊度、ORP、温度传感器构成，通过螺纹或紧配固定件固定于流通池上，传感器主要参数如下：技术参数序号传感器类型测量范围测量原理测量精度1温度0~50℃高精度数字传感器±0.3℃2pH0~14（ph）电化学（盐桥）± 0.1PH3溶解氧0~20mg/L荧光寿命法± 2%4电导率0~5000uS/cm接触式电极法± 1.5%5浊度0~40NTU（选）散射光法± 1%6ORP-1500mv~1500mv电化学（盐桥）± 6mv注意：传感器安装时不能倒置或者水平安装，至少倾斜15度角以上安装, 以上水质传感器工作环境0-50℃，0.3Mpa。2.1.3显示单元 多参数监测仪，安装于柜门处，进行数据采集、解析、显示、通讯、数据保存操作，安卓版本：4.4.2CPU：四核Cortex&trade -A7RAM/ROM：512M/4G屏幕：7寸电容触屏供电：12V/1A支持U盘扩展，支持内存卡扩展2.1.4远程通讯RS485接口MODBUS-RTU通讯协议出厂设备地址6十进制支持03功能码读取数据参数10进制地址16进制地址数据类型参数1400010x0000H16位整数参数2400020x0001H16位整数参数3400030x0002H16位整数参数4400040x0003H16位整数参数5400050x0004H16位整数参数6400060x0004H16位整数按顺序依次排列 2.1.5 设备箱主体单元产品名称GSZ安装方式机柜落地是安装，基座。外形尺寸600X500X250mm外壳材质304不锈钢。防护等级IP54供电AC220V 内部电源适配器AC220转DC12V/3A进水口外径φ6.5的2分净水器PE管，流速500mL/min，压力0.1-0.2MPa出水口外径φ6.5的2分净水器PE管，流速400mL/min排污口外径φ6.5的2分净水器PE管，流速100mL/min（也可手动定期排污）配套传感器（选）PH：0-14溶解氧： 0-20mg/L浊度：0-40NTU电导率：0-5000us/cm温度：0 °C ~ 50 °C三、产品尺寸正视图侧视图 四、设备安装设备整体图内部测量单元示意图五、保养维护 初次使用或久置不用重新使用时， PH敏感球泡和参比液络部应在3.3mol/L KCI溶液中浸入2小时以上。 使用时应先用去离子水（或蒸馏水）洗净并擦干，防止杂质带入被测液体中，传感器的1/3应插入被测液体中。接线端子部分应保持清洁干燥，传感器不用时应清洗干净，插入加有3.3mol/L KCI溶液的保护套，或将传感器插入加有3.3mol/L KCI溶液的容器中。检查接线端子处是否干燥，如有污渍，请用无水酒精擦拭，干燥后再继续使用。传感器应避免长时间浸泡在去离子水，蛋白质溶液，强酸强碱溶液以及酸性氟化物溶液中，并防止与有机硅油脂接触。使用时间较长的传感器，它的玻璃膜可能变成半透明或者附有沉积物，此时可用稀盐酸洗涤，并用水冲洗。传感器使用时间较长出现测量误差时，可通过配合仪器进行标定校正，当以上方式对传感器进行维护和保养仍不能进行标定和测量时，说明传感器已经失效，请更换传感器。 电导率常规的电极需要进行周期性的清洗和校准，保养周期由客户根据自己的工况来决定。常规电极的清洗方法：用软毛刷清除附着物（注意避免划伤电极表面），再用蒸馏水清洗，之后进行校准操作。 ORP敏感球泡和参比液络部应在3.3mol/L KCI溶液中浸入2小时以上。 使用时应先用去离子水（或蒸馏水）洗净并擦干，防止杂质带入被测液体中，传感器的1/3应插入被测液体中。接线端子部分应保持清洁干燥，传感器不用时应清洗干净，插入加有3.3mol/L KCI溶液的保护套，或将传感器插入加有3.3mol/L KCI溶液的容器中。检查接线端子处是否干燥，如有污渍，请用无水酒精擦拭，干燥后再继续使用。传感器应避免长时间浸泡在去离子水，蛋白质溶液，强酸强碱溶液以及酸性氟化物溶液中，并防止与有机硅油脂接触。电极的铂片若沾有油脂，则可用脱脂棉花沾以丙酮或酒精，轻轻擦洗干净，若沾污物系不溶性无机物，则可用30-50%的盐酸擦洗之，每天也可以用干净的高级卫生纸擦一次。传感器使用时间较长出现测量误差时，可通过配合仪器进行标定校正，当以上方式对传感器进行维护和保养仍不能进行标定和测量时，说明传感器已经失效，请更换传感器。 溶解氧传感器外表面：用清水冲洗传感器的外表面，如果仍有污垢残留， 请用湿润的软布进行擦拭，对于一些顽固的污垢，可以在水中加入一些家用洗涤液来清洗。荧光膜头表面：如果荧光膜头表面存在污垢，请用清水冲洗或用软布轻轻擦拭。清洁时注意力度避免造成测量区域划伤而影响测量精度。避免荧光膜的内表面被阳光或强光照射不要用手及尖锐物体触摸荧光膜在使用时避免荧光膜表面附着气泡。 浊度传感器维护:如传感器需要清洗,可用温水和适量的洗涤剂，进行清洗。 注意：避免强烈震动损环前面透光玻璃，切勿用硬制品刮擦

以物联网水质传感技术为核心，利用大数据、地理信息系统、物联网、云计算等信息技术，搭建包括实时水质监测、GIS展示、统计分析、超标报警等功能，实现对供水管网的出水、饮用水等在线监控、自动监督、远程监管。一、产品详情二次供水水质物联网监测应用聚焦水环境治理的重点民生问题，通过部署在居民区二次供水系统内部的物联网水质传感器，采集水体信息，为城市二次供水的工作长效管理、跟踪评价提供坚实的数据基础。二次供水水质物联网监测系统的建设，弥补无法实时获取二次供水水质变化情况，通过获取高时间分辨率、高空间分辨率的水质监测大数据，实时分析水质变化情况，为各级管理部门提供二次供水水质的数据，确保市民用水安全，提高居民的生活保障力度。系统由应用层、平台层、传输层和感知层构成，其中监测设备通过NB-IoT、LoRa窄带物联技术或者GPRS进行通信，感知数据接入物联网监测平台。1） 监测指标根据《城市供水水质标准》（CJ-T 206-2005）、《生活饮用水卫生标准》（GB5749-2006）、《二次供水设施卫生规范》（GB17051-1997），二次供水选取余氯、浊度等指标来评价水体质量。（2） 数据传输监测设备监测数据可通过NB-IoT、LoRa或GPRS等方式进行上传，数据上传频率默认为15min/次（可根据用户需求设定）。（3） 监测设备水质物联网监测设备主要包括一体式机柜和传感器两部分（4） 部署方案二次供水水质物联网监测是在水箱旁部署专用检测箱，在入户水管处增加三通管，其中一路通往用户，另一路将池水引入检测箱内的检测池中，确保检测的水与入户饮用水同质量。通过部署在检测池内的专用水质传感器监测相关水质数据。水样经由房屋雨水排口排出。测量前会给予一定时间的水流通来清洗检测池。其设备安装示意图如下图所示：二、应用场景本方案适用于智慧城市、二次供水、居民饮用水的水质监测。三、产品亮点（1） 实时监测将传统水质监测与新兴物联网技术相结合，实现水箱水质实时监测：高空间分辨率：易于大量部署，形成完善的监测网络； 高时间分辨率：水质数据24小时实时监测；（2） GIS展示通过水质数据与GIS系统结合，直观的展现水质变化情况，并提供移动端水质综合信息服务，具体内容包括：通过不同颜色展示各个监测点的水质情况；具有信息面板，展示各个监测点的指标信息；GIS系统的其他基本操作，如：放大/缩小，拖动等。（3） 超标报警通过居民区二次供水水质信息的实时分析，推送水质劣化事件。当水质监测值到达预警限值时，发送超标报警。管理人员可及时了解水质超标情况，迅速采取治理措施。四、客户案例

半导体中的四极杆SIMS掺杂物深度剖析和薄层分析CAMECA SIMS 4550为光学器件中的硅、高k、硅锗以及III-V族化合物等复合材料的薄层提供超浅深度剖析、痕量元素和组分测量等一系列扩展功能。高深度分辨率和高通量随着器件尺寸不断缩小，当今半导体的注入物剖面和层厚度通常在1-10纳米的范围内。SIMS 4550通过提供碰撞能量可从5keV降至低于150eV的氧和铯高密度一次离子束进行优化，充分满足上述应用领域的需求。灵活性CAMECA的SIMS 4550是一款动态SIMS工具，可在溅射条件（碰撞角度、能量、物种）方面提供全面的灵活性。在样品溅射过程中，通过电荷补偿（电子枪、激光）专用选项可以轻松分析绝缘材料。SIMS 4550可测量层厚度、对准度、陡度、完整性、均匀性和化学计量。样品架可容纳多种样品：几毫米的薄片至直径100毫米的样品。高精度和自动化先进的四极杆分析仪的光路、峰噪比等都是降低痕量元素检出限的关键因素。凭借先进的特高真空设计以及低至E-10mbar（E-8Pa）范围内的主室压力，SIMS 4550可为氢、碳、氮和氧提供出色的灵敏度。超稳定的离子源和电子设备确保达到较高精度以及RSD小于0.2％的测量重复性。通过易于使用的软件、预定义方案、远程操作以及故障排除，充分考虑了人为因素对精度的影响。每次测量的所有仪器参数设置都存储在数据库中。因此重复测量只需点击几下鼠标即可完成。其他自动化功能

《GB/T18883-2002室内空气质量检测标准》　　家庭装修污染问题已经成为严重危害人类健康安全的“隐性沙手”，据中国建筑装饰协会总建筑师房箴介绍，“室内环境污染”已经成为继“煤烟污染”和“光化学污染”之后的全球第三大空气污染问题。很多人在装修过程中认为只要用了标明环保的板材和家具，就可以保证能躲过这一沙手。苯及TVOC主要来源于胶、油漆、涂料和黏合剂中，是强烈的致癌物，人在短时间内吸收高浓度的苯及TVOC，会出现中枢神经系统麻醉的症状，轻者头晕，头痛，恶心，乏力，意识模糊，导致严重疾病以至死亡。因此对挥发性有机物检测非常重要。为此根据GB/T18883--2002《室内空气质量标准》，建立了各种室内环境空气中总挥发性有机化合物的二次热解吸直接进样气相色谱分析方法。方法应用范围：　　室内环境 车内空气 室内家具 胶 油漆稀释剂 涂料稀释剂　　造成车内室内污染主要是甲醛、苯、氨、TVOC(总挥发性有机物）和放射性物质。在此我们仅介绍TVOC的热解吸（ATDS-20A全自动二次热解析仪）/毛细管气相色谱法的应用方法。研究了热解吸（ATDS-20A全自动二次热解析仪）/毛细管气相色谱法测定室内空气和环境空气中多种挥发性有机物TVOC的分析方法。以TVOC专用毛细管柱分离,氢火焰离子化检测器检测,取得较好的结果。总挥发性有机化合物简称TVOC，是指在气相色谱分析中，在正己烷和正十六烷之间的所有化合物的总含量，主要有苯、甲苯、乙酸丁酯、乙苯、苯乙烯、邻间对二甲苯、正十一烷等。　　检测原理：　　用以TenaxTA作为吸附剂的TVOC吸附管收集一定体积的空气样品，空气中的挥发性有机化合物保留在吸附管中。采样后，将吸附管加热（ATDS-20A全自动二次热解析仪），能吸收挥发性有机物，待测样品随惰性载气进入毛细管气相色谱仪。在一定条件下的毛细管分离后，FID检测，工作站记录谱图和数据，用保留时间定性，峰高或峰面积定量　　实验仪器及成套配置：　1、气相色谱仪；GC-3420A配有双FID ,填充柱进样系统,毛细管进样系统；1台　2、色谱工作站； BF-2002；1套 3、氮、氢、空发生器；各1台　4、TVOC专用毛细管柱；50M； 1根　5、苯分析专用色谱柱；1根　6、ATDS-20A全自动二次热解析仪；含采样管；1台　7、大气采样器； 流量0.1～1.5L/min；1台 ATDS-20A全自动热解析仪一、仪器简介ATDS-20A全自动热解吸仪是北京北分三谱仪器有限责任公司自主研制推出直接面向国内外广大用户的换代产品。该仪器适用于对化工建筑材料、食品、大气及室内环境中沸点在350℃以下各种气体的定性、定量检测,可与任何国内、国外气相色谱仪、气质联用仪相连，其自动化程度、重复性和灵敏度等指标完全能够满足目前国家新颁布的有关环境检测的标准，并且在结构上具有自身独特的功能优势及令人满意的性能与价格比。全自动化设计、触摸大屏显示、操作更为方便，可连续运行20个样品的新一代全自动热解吸仪。可根据用户需求配置为：20位全自动一次热解析仪20位全自动（常温）二次热解析仪20位全自动（低温）二次热解析仪 二、仪器特点和主要功能1、 可以自动运行20个样品，无需人员值守；2、开机自检，故障报警和提示，采用自主技术自动定位、校准样品盘；3、 微机程序控制，主要功能有： ⑴ 方法参数设置、实时动画显示工作状态、运行时间； ⑵ 解吸区、进样阀、样品传输管和二次解吸区，四路均单独加热控温； ⑶ 设定好分析程序，按下运行键自动完成全部样品分析； ⑷ 可以根据用户需求增加常温二次解吸部件或低温二次解吸部件； ⑸ 可同步启动GC、色谱数据处理工作站，也可用外来程序启动本装置；4、本机自带标样模拟采样的功能，可以更方便的通过热解吸仪制作工作曲线；5、可加载自带的采样管活化程序，自动活化解吸后的采样管；6、通过时间编程，自动实现解吸、吹扫吸附、再解吸、进样、反吹清洗等功能；7、采用电子制冷和二阶热脱附流程以保证得到窄的色谱峰形；8、 样品传输管和进样阀有自动反吹功能，避免了不同样品的交叉污染；9、为了配套进口气相色谱仪使用起来更方便精确，本仪器还配有针对各种进口仪器的专用接口，连接方便；10、对于活性物质分析可选配弹性石英管作为样品传送管；11、进样针头更换方便，可连接国内外所有型号的GC进样口。 三、仪器主要技术参数1、解吸1温度控制范围：室温—450℃，以增量1℃任设；2、阀进样系统温度控制范围：室温—300℃，以增量1℃任设；3、样品传送管线温度控制范围：室温—300℃，以增量1℃任设，采用24V低压供电；4、解吸2温度控制范围：室温—450℃，以增量1℃任设；升温速率〉3000℃/min；5、冷阱温度控制范围：-35℃—室温，以增量1℃任设，采用的电子制冷装置；6、温度控制精度： ±0.5℃ ；7、解吸回收率：〉99%（和组分有关）；8、反吹清洗流量：0～100ml/min （连续可调）；9、模拟采样流量：0～160ml/min（连续可调）；10、RSD：≤2.5%（0.05μg甲醇中苯）；11、富集时间：0～60min；12、进样时间：0～60min； 13、样品位：20位；14、采样管规格：1/4英寸×3.5英寸（美标）；15、进样方式：六通阀电机驱动；16、仪器尺寸：长×宽×高=350mm450mm×510mm3；17、仪器重量：约40kg。 四、仪器应用范围：1、《HJ/644-2013环境空气 挥发性有机物的测定 吸附管采样-热脱附气相色谱-质谱法》；2、《HJ/T400-2007车内挥发性有机物和醛酮类物质采样测定方法》；3、《GB/T18883-2002室内空气质量标准》；4、《HJ/583-2010环境空气苯系物的测定固体吸附/热脱附-气相色谱》；5、《GB/50325-2010民用建筑工程室内环境污染控制规范》等。6、《HJ734-2014固定污染源废弃 挥发性有机物的测定 固相吸附/热脱附-气相色谱》等。 北京北分三谱仪器有限责任公司是一家集研发、生产、销售和服务于一体的专业分析仪器生产厂家。主要生产:气相色谱仪、顶空进样器、热解析仪、解析管老化仪、数字皂膜流量计、氢气发生器、空气发生器、氮气发生器等产品。公司拥有一批长期从事色谱仪开发及分析应用、维修经验丰富的工程师，在色谱类仪器的维护、维修、和调试等方面的技术力量雄厚。近年来，我们已为国内著名高等院校、科研单位、生产企业及检验检测机构提供了大量的分析仪器和设备及完整的系统解决方案。正是因为高品质的产品、专业的应用及完善的售前售后服务，我们赢得了广大用户的支持与信赖，具有良好的声誉。 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　北京北分三谱仪器有限责任公司　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　技术部

二次供水水质在线监测系统是一种利用现代传感技术、数据通信技术和计算机技术，对城市或工业区域中供水系统中的水质进行实时监测和评估的自动化系统。它的主要目的是确保供水的安全性和可靠性，及时发现并解决可能影响水质的问题。一、产品介绍1.1概述GSZ04供水水质站是基于物联网技术的综合传感器采集、显示、分析系统，供水水质监测微系统，由稳流排气单元、分析测试单元、系统控制单元和远程通讯单元等组成，具备完善的供电、防雷、网络通讯等功能。1.2产品定位GSZ04该设备用于供水末梢0.3Mpa管压环境。可广泛应用城市或村镇自来水厂、自来水输水管网、自来水二次供水、用户末梢、室内游泳池、大型净水设备和直饮水等水质在线监测，是水厂生产过程控制、水利水务管理、卫生监督等领域必不可少的在线分析设备。 1.3功能与特点GPRS联网4G支持扩展RJ45联网支持扩展传感器远传支持LED屏显示7.0寸触摸控制屏支持扩展安卓屏显示、存储扩展安卓屏支持2G数据存储、U盘数据导出支持一路RS485 modbus-RTU协议从站支持多通道RS485 modbus-RTU传感器扩展配套物联网数据展示、存储、分析平台平台支持TCP短链接、HTTP协议等多种协议数据转发二、组成2.1组成单元供水水质监测微系统由供电单元、分析测试单元、显示单元、水泵单元和远程通讯单元及集成箱主体单元组成。2.1.1供电单元电源适配器AC220转DC12V/3A。2.1.2分析测试单元分析测试单元，主要由水温、电导率、PH、浊度传感器构成，通过螺纹或紧配固定件固定于流通池上，传感器主要参数如下：技术参数序号传感器类型测量范围测量原理测量精度1温度0~50℃高精度数字传感器±0.3℃2pH0~14（ph）电化学（盐桥）± 0.1PH3电导率0~5000uS/cm接触式电极法± 1.5%4浊度0~40NTU（选）散射光法± 1%注意：传感器安装时不能倒置或者水平安装，至少倾斜15度角以上安装,以上水质传感器工作环境0-50℃，0.3Mpa。2.1.3显示单元 多参数监测仪，安装于柜门处，进行数据采集、解析、显示、通讯、数据保存操作，安卓版本：4.4.2CPU：四核Cortex&trade -A7RAM/ROM：512M/4G屏幕：7寸电容触屏供电：12V/1A支持U盘扩展，支持内存卡扩展2.1.4远程通讯RS485接口MODBUS-RTU通讯协议出厂设备地址6十进制支持03功能码读取数据参数10进制地址16进制地址数据类型参数1400010x0000H16位整数参数2400020x0001H16位整数参数3400030x0002H16位整数参数4400040x0003H16位整数参数5400050x0004H16位整数参数6400060x0004H16位整数按顺序依次排列2.1.5 设备箱主体单元产品名称GSZ安装方式机柜落地是安装，基座。外形尺寸600X500X250mm外壳材质304不锈钢。防护等级IP54供电AC220V 内部电源适配器AC220转DC12V/3A进水口外径φ6.5的2分净水器PE管，流速500mL/min，压力0.1-0.2MPa出水口外径φ6.5的2分净水器PE管，流速400mL/min排污口外径φ6.5的2分净水器PE管，流速100mL/min（也可手动定期排污）配套传感器（选）PH：0-14溶解氧： 0-20mg/L浊度：0-40NTU电导率：0-5000us/cm温度：0 °C ~ 50 °C 三、产品尺寸正视图侧视图四、设备安装设备整体图内部测量单元示意图五、保养维护 初次使用或久置不用重新使用时， PH敏感球泡和参比液络部应在3.3mol/L KCI溶液中浸入2小时以上。 使用时应先用去离子水（或蒸馏水）洗净并擦干，防止杂质带入被测液体中，传感器的1/3应插入被测液体中。接线端子部分应保持清洁干燥，传感器不用时应清洗干净，插入加有3.3mol/L KCI溶液的保护套，或将传感器插入加有3.3mol/L KCI溶液的容器中。检查接线端子处是否干燥，如有污渍，请用无水酒精擦拭，干燥后再继续使用。传感器应避免长时间浸泡在去离子水，蛋白质溶液，强酸强碱溶液以及酸性氟化物溶液中，并防止与有机硅油脂接触。使用时间较长的传感器，它的玻璃膜可能变成半透明或者附有沉积物，此时可用稀盐酸洗涤，并用水冲洗。传感器使用时间较长出现测量误差时，可通过配合仪器进行标定校正，当以上方式对传感器进行维护和保养仍不能进行标定和测量时，说明传感器已经失效，请更换传感器。 电导率常规的电极需要进行周期性的清洗和校准，保养周期由客户根据自己的工况来决定。常规电极的清洗方法：用软毛刷清除附着物（注意避免划伤电极表面），再用蒸馏水清洗，之后进行校准操作。 ORP敏感球泡和参比液络部应在3.3mol/L KCI溶液中浸入2小时以上。 使用时应先用去离子水（或蒸馏水）洗净并擦干，防止杂质带入被测液体中，传感器的1/3应插入被测液体中。接线端子部分应保持清洁干燥，传感器不用时应清洗干净，插入加有3.3mol/L KCI溶液的保护套，或将传感器插入加有3.3mol/L KCI溶液的容器中。检查接线端子处是否干燥，如有污渍，请用无水酒精擦拭，干燥后再继续使用。传感器应避免长时间浸泡在去离子水，蛋白质溶液，强酸强碱溶液以及酸性氟化物溶液中，并防止与有机硅油脂接触。电极的铂片若沾有油脂，则可用脱脂棉花沾以丙酮或酒精，轻轻擦洗干净，若沾污物系不溶性无机物，则可用30-50%的盐酸擦洗之，每天也可以用干净的高级卫生纸擦一次。传感器使用时间较长出现测量误差时，可通过配合仪器进行标定校正，当以上方式对传感器进行维护和保养仍不能进行标定和测量时，说明传感器已经失效，请更换传感器。 溶解氧传感器外表面：用清水冲洗传感器的外表面，如果仍有污垢残留， 请用湿润的软布进行擦拭，对于一些顽固的污垢，可以在水中加入一些家用洗涤液来清洗。荧光膜头表面：如果荧光膜头表面存在污垢，请用清水冲洗或用软布轻轻擦拭。清洁时注意力度避免造成测量区域划伤而影响测量精度。避免荧光膜的内表面被阳光或强光照射不要用手及尖锐物体触摸荧光膜在使用时避免荧光膜表面附着气泡。 浊度传感器维护:如传感器需要清洗,可用温水和适量的洗涤剂，进行清洗。 注意：避免强烈震动损环前面透光玻璃，切勿用硬制品刮擦

用于半导体晶圆厂中成分测量的全自动 SIMSAKONIS SIMS 工具通过直接在半导体生产线中提供对注入分布、成分分析和界面数据的高产量、高精度检测，填补了半导体制造工艺中的重要空白。AKONIS 有非常高的自动化水平，确保了各种工具在晶圆厂工艺控制和工具之间匹配方面的可重复性。除传统的通过表征实验室为半导体行业提供支持的IMS Wf/SC Ultra和 SIMS 4550（四极杆 SIMS）系列外，AKONIS作为其 补充，可实现仪器设置和采集例程的完全自动化，从而可在分析灵敏度不受影响的情况下实现快速的厂内分析。AKONIS 受益于极低冲击能量（EXLIE）离子色谱柱技术（ 150 eV）的发展，与带高分辨率平台的整片晶圆处理系统相结合，可在最小 20 μm 的压焊点上进行测量。推动实现 N5 及后继制程的高产量SiGe 和 SiP 多层堆叠的高分辨率成分和快速掺杂物深度剖析无与伦比的最小 20 μm 在压焊点上的检测限将数据反馈到生产线的时间缩短了 97% 以上光片和图案化的整片晶圆测量图案识别引擎与高分辨率干涉测量平台相结合，可实现 2 μm 的位置精度基于独特材料数据库的直观recipe创建SEMI 认证（S2/S8、E4、E5、E39、E84...）低购置成本

二次供水水质监测系统GP8200MAS二次供水水质监测系统GP8200MAS 产品特点：采用模块化结构，各参数独特测量通道，互不干扰，测量参数可选，精度高，重复性好传感器可任何组合，安装简单，维护方便无需试剂，不会产生二次污染在一定范围内可对电极进行自动补偿多种输出方式可选（4-20mA,RS485,MODBUS-RTU,GPRS,WIFI,以太网口）10寸液晶触摸屏控制系统，中文界面，操作方便二次供水水质监测系统GP8200MAS 技术参数：可选参数pH测量范围：-2.00~16.00pH 分辨率：0.01pH 精度：±0.01pH 温度补偿：-10~130℃手动/自动；(NTC10K/PT1000)余氯测量范围：0~2.000，0~20.00ppm 分辨率：0.001/0.01ppm精度：±0.001/0.01ppm pH补偿：可选浊度测量范围：0-1000NTU 分辨率：0.0001，可调精度：40NTU以下：±2％读数 或±0.02NTU40NTU以上：±5％读数电导率测量范围：0.00~2000mS/cm 分辨率：0.01 精度：±1%F.S.溶解氧测量范围：0.00~20.00ppm 分辨率：0.01ppm 精度：±0.01ppmORP测量范围：-2000~2000mV 分辨率：1mV 精度：±1mV温度测量范围:0-100℃ 分辨率：0.1℃ 测量精度：0.1℃信号输出RS485(Modbus)继电器输出控制方式：8个SPST继电器负载能力：5A 250VAC/5A 30VDC数据通讯4-20mA :选配，最多支持8路同时输出移动GPRS：选配联通GPRS：选配电信GPRS：选配以太网口：选配供电AC200V/20W或太阳能电池：DC24V/15W其他取样功能：选配防护等级：IP65外观尺寸：1300×600×400mm（按需定制）水质多参数监测系统可选配DTU模块，进行远程传输，无论身在何处，只要有网络的地方可随时通过电脑web网页、WX公众号、手机APP、手机网页登录戈普云监测平台查看监测数据的动态变化，历史数据，报警情况等。目前可提供短信报警、手机APP报警、WX公众号报警。

一、产品介绍1.1概述GSZ供水水质站是基于物联网技术的综合传感器采集、显示、分析系统，供水水质监测微系统，由稳流排气单元、分析测试单元、系统控制单元和远程通讯单元等组成，具备完善的供电、防雷、网络通讯等功能。1.2产品定位GSZ该设备用于供水末梢0.3Mpa管压环境。可广泛应用城市或村镇自来水厂、自来水输水管网、自来水二次供水、用户末梢、室内游泳池、大型净水设备和直饮水等水质在线监测，是水厂生产过程控制、水利水务管理、卫生监督等领域必不可少的在线分析设备。1.3功能与特点GPRS联网4G支持扩展RJ45联网支持扩展传感器远传支持LED屏显示7.0寸触摸控制屏支持扩展安卓屏显示、存储扩展安卓屏支持2G数据存储、U盘数据导出支持一路RS485 modbus-RTU协议从站支持多通道RS485 modbus-RTU传感器扩展配套物联网数据展示、存储、分析平台平台支持TCP短链接、HTTP协议等多种协议数据转发二、组成2.1组成单元供水水质监测微系统由供电单元、分析测试单元、显示单元、水泵单元和远程通讯单元及集成箱主体单元组成。2.1.1供电单元电源适配器AC220转DC12V/3A。2.1.2分析测试单元分析测试单元，主要由pH、溶解氧、电导率、浊度、ORP、温度传感器构成，通过螺纹或紧配固定件固定于流通池上，传感器主要参数如下：技术参数序号传感器类型测量范围测量原理测量精度1温度0~50℃高精度数字传感器±0.3℃2pH0~14（ph）电化学（盐桥）± 0.1PH3溶解氧0~20mg/L荧光寿命法± 2%4电导率0~5000uS/cm接触式电极法± 1.5%5浊度0~40NTU（选）散射光法± 1%6ORP-1500mv~1500mv电化学（盐桥）± 6mv注意：传感器安装时不能倒置或者水平安装，至少倾斜15度角以上安装,以上水质传感器工作环境0-50℃，0.3Mpa。2.1.3显示单元多参数监测仪，安装于柜门处，进行数据采集、解析、显示、通讯、数据保存操作，安卓版本：4.4.2CPU：四核Cortex&trade -A7RAM/ROM：512M/4G屏幕：7寸电容触屏供电：12V/1A支持U盘扩展，支持内存卡扩展2.1.4远程通讯RS485接口MODBUS-RTU通讯协议出厂设备地址6十进制支持03功能码读取数据参数10进制地址16进制地址数据类型参数1400010x0000H16位整数参数2400020x0001H16位整数参数3400030x0002H16位整数参数4400040x0003H16位整数参数5400050x0004H16位整数参数6400060x0004H16位整数按顺序依次排列2.1.5设备箱主体单元产品名称GSZ安装方式机柜落地是安装，基座。外形尺寸600X500X250mm外壳材质304不锈钢。防护等级IP54供电AC220V 内部电源适配器AC220转DC12V/3A进水口外径φ6.5的2分净水器PE管，流速500mL/min，压力0.1-0.2MPa出水口外径φ6.5的2分净水器PE管，流速400mL/min排污口外径φ6.5的2分净水器PE管，流速100mL/min（也可手动定期排污）配套传感器（选）PH：0-14溶解氧：0-20mg/L浊度：0-40NTU电导率：0-5000us/cm温度：0 °C ~ 50 °C三、产品尺寸正视图侧视图四、设备安装设备整体图内部测量单元示意图五、保养维护初次使用或久置不用重新使用时，PH敏感球泡和参比液络部应在3.3mol/L KCI溶液中浸入2小时以上。使用时应先用去离子水（或蒸馏水）洗净并擦干，防止杂质带入被测液体中，传感器的1/3应插入被测液体中。接线端子部分应保持清洁干燥，传感器不用时应清洗干净，插入加有3.3mol/L KCI溶液的保护套，或将传感器插入加有3.3mol/L KCI溶液的容器中。检查接线端子处是否干燥，如有污渍，请用无水酒精擦拭，干燥后再继续使用。传感器应避免长时间浸泡在去离子水，蛋白质溶液，强酸强碱溶液以及酸性氟化物溶液中，并防止与有机硅油脂接触。使用时间较长的传感器，它的玻璃膜可能变成半透明或者附有沉积物，此时可用稀盐酸洗涤，并用水冲洗。传感器使用时间较长出现测量误差时，可通过配合仪器进行标定校正，当以上方式对传感器进行维护和保养仍不能进行标定和测量时，说明传感器已经失效，请更换传感器。电导率常规的电极需要进行周期性的清洗和校准，保养周期由客户根据自己的工况来决定。常规电极的清洗方法：用软毛刷清除附着物（注意避免划伤电极表面），再用蒸馏水清洗，之后进行校准操作。ORP敏感球泡和参比液络部应在3.3mol/L KCI溶液中浸入2小时以上。使用时应先用去离子水（或蒸馏水）洗净并擦干，防止杂质带入被测液体中，传感器的1/3应插入被测液体中。接线端子部分应保持清洁干燥，传感器不用时应清洗干净，插入加有3.3mol/L KCI溶液的保护套，或将传感器插入加有3.3mol/L KCI溶液的容器中。检查接线端子处是否干燥，如有污渍，请用无水酒精擦拭，干燥后再继续使用。传感器应避免长时间浸泡在去离子水，蛋白质溶液，强酸强碱溶液以及酸性氟化物溶液中，并防止与有机硅油脂接触。电极的铂片若沾有油脂，则可用脱脂棉花沾以丙酮或酒精，轻轻擦洗干净，若沾污物系不溶性无机物，则可用30-50%的盐酸擦洗之，每天也可以用干净的高级卫生纸擦一次。传感器使用时间较长出现测量误差时，可通过配合仪器进行标定校正，当以上方式对传感器进行维护和保养仍不能进行标定和测量时，说明传感器已经失效，请更换传感器。溶解氧传感器外表面：用清水冲洗传感器的外表面，如果仍有污垢残留，请用湿润的软布进行擦拭，对于一些顽固的污垢，可以在水中加入一些家用洗涤液来清洗。荧光膜头表面：如果荧光膜头表面存在污垢，请用清水冲洗或用软布轻轻擦拭。清洁时注意力度避免造成测量区域划伤而影响测量精度。避免荧光膜的内表面被阳光或强光照射不要用手及尖锐物体触摸荧光膜在使用时避免荧光膜表面附着气泡。浊度传感器维护:如传感器需要清洗,可用温水和适量的洗涤剂，进行清洗。注意：避免强烈震动损环前面透光玻璃，切勿用硬制品刮擦

城市二次供水余氯检测仪PM8200CL余氯检测仪包含余氯变送器、Bsens650余氯电极及BAF615恒流槽。余氯变送器运用防水防气全密封外壳，2路4-20mA输出，RS485 Modbus协议；Bsens650采用双铂金设计，三电极测定系统，测量更稳定，寿命更长；恒流槽BAF615维持进水流量稳定。城市二次供水余氯检测仪优势：1、无需对水样进行预处理2、无需比色试剂3、无需更换膜片和电解液4、抗干扰双铂金电极，恒电压原理，测量可靠5、一机三用，可测余氯、二氧化氯、溶解性臭氧6、测量范围0-2.000ppm，0-20.00ppm两档可选6、一次性投入低，后期维护量小7、中英文界面，操作简单8、安装灵活，多种安装方式供选电化学法余氯检测仪应用场合：自来水厂，污水处理厂，城市二次供水，医院、制药、电力等电化学法余氯检测仪现场图片：电化学法余氯检测仪--余氯控制器技术参数：型号PM8200Cl参数CL2测量范围0~2.000，0~20.00ppm分辨率0.001/0.01ppm精度±0.001/0.01ppm温度补偿-10~130℃手动/自动；(NTC10K/PT1000)工作温度0~70.0℃储存温度-20~70.0℃显示带背光超大点阵LCD语言中英文菜单可选存储60万条数据电源90-260VAC,50/60Hz；24VDC可选防护等级IP65通讯功能RS485通讯，兼容标准MODBUS-RTU协议变送输出2路隔离变送4-20mA输出，Z大环路500Ω，0.1%F.S清洗输出清洗间隔：0.1-1000h可调，清洗时间：1-1000s可调安装方式壁挂式、杆式、面板式安装尺寸144 x 144 x 106mm安装开孔尺寸138 x 138 mm重量0.86kg电化学法余氯检测仪--Bsens650余氯电极技术参数： 温度：-5...100℃ Z大工作压力：6 Bar 材质：玻璃 隔膜：3个陶瓷孔 直径：12 mm 长度：120 mm 连接：PG13.5 线缆：3 m 薄膜：2个铂金环 Z小浸没深度：25 mm 电解液：凝胶 参比系统： Ag/AgCl城市二次供水专用余氯检测仪

简介：GCIB 40是一种40 kV气体团簇离子束，产生团簇离子聚焦束，用于需要对分子离子敏感的分析应用。 GCIB 40在较大程度地减少碎片和从表面去除完整分子方面具有优异的处理能力。在40千伏电压下工作的GCIB 40提供了优异的电离产率，进一步增强了分子信号。 GCIB 40具有可选择的簇大小，从单体到10000多个，斑点大小小于3µ m，是分析完整分子离子的强大工具，具 有高空间分辨率。可在J105 SIM上使用，或作为选定第三方仪器的升级。请与我们联系以获取更多信息。 主要参数：主要应用 分析 光斑尺寸 3 µ m 扫描范围 0.9 x 0.9 mm 能耗范围 10 – 40 kV 电流范围 200 nA 法兰至机头长度 168 ± 5 mm 推荐工作距离 25 mm 电源装置 6U x 19’’ rack mountable unit 电源要求 110-240VAC 13A 50/60Hz 软件要求 PC running Windows 10 or later 集成法兰规格 NW 63 CF 特点: ◇ 40 kV气体团簇离子束，光斑尺寸为3µ m；◇ 实时集群测量和调整；◇ 从单体到10000的可选簇；◇ 使用一系列气体运行，包括Ar、CO2、Ar/CO2混合气体；◇ 水源团簇升级可用； 应用技术： 由于离子束和分子信号的丢失，有机样品的SIMS分析通 常会导致碎片。使用GCIB，可以减少损伤，以便对材料进行分析和深度剖面。然而，在近束能量（40 kV）下，GCIB的二次离子产额可能较低。在更高的能量下操作会产生更高的二次离子产率，同时仍然保持低损伤特性。下图显示了在分析有机样品时，离子产额如何与束流能量成比例。尽管一次离子剂量保持不变，但来自Irganox 1010薄膜的二次离子信号从20kV到40kV一次束能量增加了五倍以上。 同时，在所有的光束能量中，碎片几乎保持不变。

二次供水多参数水质监测仪GP8200MAS二次供水水质主要监测pH、余氯、浊度、电导率、温度等参数。戈普二次供水多参数监测系统包含多参数机柜、检测仪表、数据传输系统等，做到水质实时监测，实时传输，可监控，可预警，通水即用，操作简单。二次供水水质多参数监测仪GP8200MAS产品特点：采用模块化结构，各参数独特测量通道，互不干扰，测量参数可选，精度高，重复性好传感器可任何组合，安装简单，维护方便无需试剂，不会产生二次污染在一定范围内可对电极进行自动补偿多种输出方式可选（4-20mA,RS485,MODBUS-RTU,GPRS,WIFI,以太网口）10寸液晶触摸屏控制系统，中文界面，操作方便二次供水水质多参数监测系统GP8200MAS技术参数：可选参数pH测量范围：-2.00~16.00pH 分辨率：0.01pH 精度：±0.01pH 温度补偿：-10~130℃手动/自动；(NTC10K/PT1000)余氯测量范围：0~2.000，0~20.00ppm 分辨率：0.001/0.01ppm精度：±0.001/0.01ppm pH补偿：可选浊度测量范围：0-1000NTU 分辨率：0.0001，可调精度：40NTU以下：±2％读数 或±0.02NTU40NTU以上：±5％读数电导率测量范围：0.00~2000mS/cm 分辨率：0.01 精度：±1%F.S.溶解氧测量范围：0.00~20.00ppm 分辨率：0.01ppm 精度：±0.01ppmORP测量范围：-2000~2000mV 分辨率：1mV 精度：±1mV温度测量范围:0-100℃ 分辨率：0.1℃ 测量精度：0.1℃信号输出RS485(Modbus)继电器输出控制方式：8个SPST继电器负载能力：5A 250VAC/5A 30VDC数据通讯4-20mA :选配，最多支持8路同时输出移动GPRS：选配联通GPRS：选配电信GPRS：选配以太网口：选配供电AC200V/20W或太阳能电池：DC24V/15W其他取样功能：选配防护等级：IP65外观尺寸：1300×600×400mm（按需定制）水质多参数监测系统可选配DTU模块，进行远程传输，无论身在何处，只要有网络的地方可随时通过电脑web网页、WX公众号、手机APP、手机网页登录戈普云监测平台查看监测数据的动态变化，历史数据，报警情况等。目前可提供短信报警、手机APP报警、WX公众号报警。

仪器简介：全球最先进的动态TOF-SIMS系统，它使用直流主束的飞行时间分析仪，创建了成像质谱的新范式。直流一次离子束的使用允许快速成像和连续数据采集（即没有单独的蚀刻周期），同时提供高空间和质量分辨率。 独有的特点：离子束带来高分子量分析和高空间分辨率四种离子束可选择用气体团簇离子束SIMS，可以分析高达3000Da的分子量无“仅蚀刻”循环的深度剖面。快速、连续采集冷样品处理气敏和冷冻样品,可配置手套箱高级数据查看功能技术参数：腔室上最多可包括3种离子束。选择包括金，C60，气体团簇，和等离子体-每一个适合特定的样品类型或实验，如下所示。离子束能量束斑大小金25kV150nm最高的空间分辨率，导致明显的碎片。是硬质材料的理想选择。碳60 (C60)40kV300nm在任何材料上均匀溅射，碎裂度低，理想值可达1kDa。气体团簇（Ar/CO2/H2O）40kV, 70kV1um有机物的高溅射率，任何束流的最低碎片，是生物成像的理想选择。双等离子体发射源 (Ar/O2/N2/Cs)30kV300nm高亮度光源，是无机材料的理想选择。氧束提高正离子产率，Cs提高负离子产率。主要特点：深度剖面该 SIMS非常适合于样品的深度剖面分析。使用直流离子束进行分析的一个重要方面是，不需要将蚀刻离子束与分析离子束交错。为了能够在合理的时间尺度上生成3D图像，并去除受损的亚表面层，传统的TOF实验使用了交错成像和蚀刻循环，这些循环浪费了宝贵的样品。在使用C60+或（CO2）n/Arn+等连续分析离子束，分析和低损伤刻蚀是连续和并行的，因此没有数据丢失，所有材料都被采样，使我们 SIMS成为一个非常精确的深度剖面分析工具。温度和大气控制的多功能样品处理该 SIMS上的多功能样品处理系统可以分析多种样品类型。仪器配备液氮冷却装置，以便对挥发性样品进行分析——冷却装置适用于主样品阶段和样品插入锁。相反，样品台也可以加热到600 K。仪器配有手套箱，用于在干燥气体下制备和插入空气/水敏感样品，并防止冷却过程中结冰。由于小容量负载锁定和高泵送速度，样品插入很快。 半导体半导体分析的范围可以从浅结深度剖面到高分辨率3D成像。有五种不同的主离子束可供选择，可以针对不同的材料或实验类型进行定制。从 40kV C60 光束中进行选择，即使在混合材料上也能提供高分辨率成像和均匀的溅射率，是平面设备的理想选择。或 FLIG 5，超低能耗 O2/Cs 光束，具有无与伦比的电流密度，是浅结深度剖析的最佳选择。特征：IOG C60-40， FLIG 5， 深度剖析， 3D 成像 聚合物液态金属离子束会导致高水平的碎裂和对表面的损坏，然后必须通过GCIB将其去除。这会降低深度分辨率，并增加实验不必要的复杂性。GCIB是主光束，因此可确保低分段，不需要仅蚀刻循环，并保证高深度分辨率。GCIB SM 是市场上能量最高的 GCIB，能够以前所未有的速度和最小的损坏蚀刻聚合物等软质材料，从而实现比以往更大的 3D 分析量。特征：GCIB SM， 深度剖析， 3D 成像

二次供水多参数水质监测系统GP8200MAS二次供水水质主要监测pH、余氯、浊度、电导率、温度等参数。戈普二次供水多参数监测系统包含多参数机柜、检测仪表、数据传输系统等，做到水质实时监测，实时传输，可监控，可预警，通水即用，操作简单。二次供水水质多参数监测系统GP8200MAS产品特点：采用模块化结构，各参数独特测量通道，互不干扰，测量参数可选，精度高，重复性好传感器可任何组合，安装简单，维护方便无需试剂，不会产生二次污染在一定范围内可对电极进行自动补偿多种输出方式可选（4-20mA,RS485,MODBUS-RTU,GPRS,WIFI,以太网口）10寸液晶触摸屏控制系统，中文界面，操作方便二次供水水质多参数监测系统GP8200MAS技术参数：可选参数pH测量范围：-2.00~16.00pH 分辨率：0.01pH 精度：±0.01pH 温度补偿：-10~130℃手动/自动；(NTC10K/PT1000)余氯测量范围：0~2.000，0~20.00ppm 分辨率：0.001/0.01ppm精度：±0.001/0.01ppm pH补偿：可选浊度测量范围：0-1000NTU 分辨率：0.0001，可调精度：40NTU以下：±2％读数 或±0.02NTU40NTU以上：±5％读数电导率测量范围：0.00~2000mS/cm 分辨率：0.01 精度：±1%F.S.溶解氧测量范围：0.00~20.00ppm 分辨率：0.01ppm 精度：±0.01ppmORP测量范围：-2000~2000mV 分辨率：1mV 精度：±1mV温度测量范围:0-100℃ 分辨率：0.1℃ 测量精度：0.1℃信号输出RS485(Modbus)继电器输出控制方式：8个SPST继电器负载能力：5A 250VAC/5A 30VDC数据通讯4-20mA :选配，最多支持8路同时输出移动GPRS：选配联通GPRS：选配电信GPRS：选配以太网口：选配供电AC200V/20W或太阳能电池：DC24V/15W其他取样功能：选配防护等级：IP65外观尺寸：1300×600×400mm（按需定制）水质多参数监测系统可选配DTU模块，进行远程传输，无论身在何处，只要有网络的地方可随时通过电脑web网页、WX公众号、手机APP、手机网页登录戈普云监测平台查看监测数据的动态变化，历史数据，报警情况等。目前可提供短信报警、手机APP报警、WX公众号报警。

从精确测量到质量控制，从自动化检测到无损检测，中图仪器Novator二次元自动影像检测仪可以自动抓取数据点，测量点、线、圆、弧、椭圆、矩形等几何特征，自动分析测量特征的各种参数，如宽度、直径、位置、直线度、圆锥度、圆柱度等各种几何尺寸。Novator二次元自动影像检测仪特点是可以自动抓取产品的边界和表面，尤其是在测量一些弱边缘特征(如过渡曲线、圆角加工等)时能完成自动抓取。结合专用测量软件对测绘要素数据进行处理、评价和输出。在保证精度的前提下，测量效率更高。高度测量Novator系列影像测量仪配备（1）触发式测头；（2）点激光(激光同轴位移计)；（3）三角激光三种传感器配置，能精准测量零件高度尺寸。1、接触式测量影像测量仪+触发式测头组合相当于一台小的三坐标测量仪，也就是我们说的复合式影像测量仪，在需要测量高度的地方，用探针取元素（点或者面），然后运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度。2、非接触式测量通过搭载点激光(激光同轴位移计)、三角激光传感器配置，点激光轮廓扫描测量以及线激光3D扫描成像进行高度测量，平面度测量，针对镜面和光滑斜面均可测量；或是运用影像测量仪软件中的Z轴自动对焦功能，测量得出高度，这样的测量方法可以减少人为误差，不管是谁来测量，都可以测得同样的数值，非常简单方便。 平面度测量在测量平面度时，可以将待测物放置在二维影像仪的工作台上，使用光学放大镜头和图像处理软件来检测物体表面的高低差异，并计算出物体表面的平坦度参数。通过与标准样品的比较，可以判断物体表面是否符合规定的平面度要求。需要注意的是，二维影像仪在测量平面度时，需要选择合适的光学放大倍率和图像处理算法，以保证测量结果的准确性和可靠性。光学测头平面度测量3D形貌测量Novator二次元自动影像检测仪搭载高精度线扫激光测头，无接触扫描3D轮廓成像，抑制多重反射，能够快速实现尺寸的精准批量测量。通过3D成像视图，可观察到产品形貌的微小特征，可实时输出2D、3D图像保存，支持2D、3D产品尺寸测量。Novator影像仪具备多种测量功能，包括表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等的精密测量。其线激光3D扫描功能，可实现3D扫描成像和空间测量；点激光线扫描功能，可输出断面高度、距离等二维尺寸做分析。 产品优势1、测量更准确，效率更高，操作更便捷。Novator影像测量仪支持频闪照明和飞拍功能，可进行高速测量，测量效率提升5~10倍。如在半导体领域，针对含有小特征多尺寸且无序排列的样品测量，Novator影像仪的飞拍测量模式，在平台快速移动过程中就完成特征提取，使测量流程更流畅，测量时间更短。测量外形尺寸320mm×160mm，含有25920个圆的模具，仅需耗时5分钟，针对此类特征密集排布型工件，飞拍测量充分发挥其优势，对比传统影像测量仪，测量时长由 1小时缩短至 5 分钟，测量效率提升 10 余倍，且测量精度无损失。2、测量软件自主可控，功能丰富。VisionX测量软件支持多种轮廓测量和3D空间测量，无缝连接2D/3D混合测量。还有特殊化应用功能以及SPC分析功能，以及单视野闪测功能等。3、多样化需求服务定制。由于不同行业和领域的测量需求各不相同，中图影像仪功能的研发和应用也可以根据具体情况进行定制和改进。4、响应速度快。 国产品牌多点多地的本地化服务，响应速度快。Novator可用于机械、电子、模具、注塑、五金、橡胶、低压电器、磁性材料、精密冲压、接插件、连接器、端子、手机、家电、印刷电路板、医疗器械、钟表、刀具、计量检测等领域。实现各种复杂零件的表面尺寸、轮廓、角度与位置、形位公差、3D空间形貌与尺寸结构等精密测量，实现2.5D和3D复合测量。部分技术规格型号 Novator432 行程范围X(mm) 400Y(mm) 300Z(mm) 200图像传感器高清彩色工业摄像机 显示器24英寸 LCD显示器（1920×1080）镜头13.3X电动连续变倍放大倍率光学放大0.6~8.0X 影像放大17~232X 3D扫描成像测量 Z向测量范围5mm扫描宽度30mm扫描速度10~80mm/s支持飞拍测量模式支持支持导航相机支持外形尺寸(mm)860*1350*1670仪器重量(kg)650承重(kg)25恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

一、产品介绍1.1概述GSZ供水水质站是基于物联网技术的综合传感器采集、显示、分析系统，供水水质监测微系统，由稳流排气单元、分析测试单元、系统控制单元和远程通讯单元等组成，具备完善的供电、防雷、网络通讯等功能。1.2产品定位GSZ该设备用于供水末梢0.3Mpa管压环境。可广泛应用城市或村镇自来水厂、自来水输水管网、自来水二次供水、用户末梢、室内游泳池、大型净水设备和直饮水等水质在线监测，是水厂生产过程控制、水利水务管理、卫生监督等领域必不可少的在线分析设备。1.3功能与特点GPRS联网4G支持扩展RJ45联网支持扩展传感器远传支持LED屏显示7.0寸触摸控制屏支持扩展安卓屏显示、存储扩展安卓屏支持2G数据存储、U盘数据导出支持一路RS485 modbus-RTU协议从站支持多通道RS485 modbus-RTU传感器扩展配套物联网数据展示、存储、分析平台平台支持TCP短链接、HTTP协议等多种协议数据转发二、组成2.1组成单元供水水质监测微系统由供电单元、分析测试单元、显示单元、水泵单元和远程通讯单元及集成箱主体单元组成。2.1.1供电单元电源适配器AC220转DC12V/3A。2.1.2分析测试单元分析测试单元，主要由pH、溶解氧、电导率、浊度、ORP、温度传感器构成，通过螺纹或紧配固定件固定于流通池上，传感器主要参数如下：技术参数序号传感器类型测量范围测量原理测量精度1温度0~50℃高精度数字传感器±0.3℃2pH0~14（ph）电化学（盐桥）± 0.1PH3溶解氧0~20mg/L荧光寿命法± 2%4电导率0~5000uS/cm接触式电极法± 1.5%5浊度0~40NTU（选）散射光法± 1%6ORP-1500mv~1500mv电化学（盐桥）± 6mv注意：传感器安装时不能倒置或者水平安装，至少倾斜15度角以上安装,以上水质传感器工作环境0-50℃，0.3Mpa。2.1.3显示单元 多参数监测仪，安装于柜门处，进行数据采集、解析、显示、通讯、数据保存操作，安卓版本：4.4.2CPU：四核Cortex&trade -A7RAM/ROM：512M/4G屏幕：7寸电容触屏供电：12V/1A支持U盘扩展，支持内存卡扩展2.1.4远程通讯RS485接口MODBUS-RTU通讯协议出厂设备地址6十进制支持03功能码读取数据参数10进制地址16进制地址数据类型参数1400010x0000H16位整数参数2400020x0001H16位整数参数3400030x0002H16位整数参数4400040x0003H16位整数参数5400050x0004H16位整数参数6400060x0004H16位整数

适用于半导体应用的高性能低能量SIMSIMS Wf和SC Ultra经专门设计，可充分满足高级半导体对动态SIMS测量日益增长的需求该仪器可提供大范围的冲击能量（150 eV到13 keV），不影响质量分辨率和一次离子束密度，可确保在高通量条件下为具挑战性的应用提供卓越的分析性能：超浅能量和高能量注入物、超薄氮氧化物、高k金属栅极、硅锗掺杂层，Si:C:P结构、PV和LED器件及石墨烯等等。从标准到超浅深度剖析对半导体进行分析的首要条件是优化SIMS分析条件以进行超浅深度剖析，而无需舍弃标准深度剖析应用。CAMECA因此开发了独特的SIMS仪器设计，能够溅射具有大范围碰撞能量的样品：从用于厚结构的高能量（keV范围）到用于超薄结构的超低能量（≤150eV）。这种碰撞能量选择的灵活性适用于不同的控制良好的溅射条件（物种、入射角等）。CAMECAIMS Wf和SC Ultra可提供此类极限低碰撞能量（EXLIE）功能的SIMS仪器，且在高质量分辨率和高透过率方面毫不逊色。 高自动化水平随着SIMS技术的成熟，用户希望能够降低实现高再现性和高精度测量所需的专业知识要求。未来发展趋势显然是无人值守的自动分析。CAMECA IMS Wf和SC Ultra利用计算机自动化应对该挑战，确保完全控制所有分析参数（分析方案、仪器设置等）。气锁系统、样品台和分析室已进行了优化，最多可容纳300毫米的晶圆（IMS Wf型号），并可在一批次中装载大量样品——在IMS Wf型号中最多可装载100个样品，同时还提供气锁和分析室之间的完全电动化转移。 凭借高自动化水平，IMS Wf和SC Ultra可执行快速深度剖析，具有优化的样品通量和出色的测量稳定性，确保了SIMS工具生产率。

诺普泰克二次供水泵房水质在线监测设备是本公司自主研发制造的全新第四代设备，该仪器可广泛用于可适用于城镇或乡村自来水厂，农村饮用水、小区二次管网供水、游泳池等水质安全提升改造工程。用户只需将仪器通电,连接进水与出水管，即可快速实现水质在线监测，并便捷组建一个水质监测物联网系统。常用于自来水输水管网、自来水二次供水、供水末梢、室内游泳池、大型净水设备和直饮水等水质在线监测，是水厂生产过程控制、水利水务管理、卫生监督等领域常用的水质在线监测设备。诺普泰克二次供水泵房水质在线监测设备由我公司研发并生产，拥有该仪器的各项知识产权和相关资质认证，可提供该产品OEM定制服务。