飞行时间-二次离子质谱仪,TOF-SIMS, 是一种既能测试有机物,又能测试无机物的一种检测仪器,其质谱的基本原理:使用一次的离子源(Ga,Cs, O2, etc)轰击样品,产生二次离子,激发的二次离子被引入一个无场区(drift tube),自由飞行,飞行时间的长短,与离子的mass-to-charge ratio的二分之一此方成正比;也就是说,质量数越小的离子飞得越快,到达检测器的时间越短,反之,质量数越大的离子飞得越慢,到达检测器的时间越长,这样就可以实现质谱的分离。(未完待续)
半导体生产:在晶圆的制备过程中,由于生产流程长,工序繁多,不可避免的会遇到污染,那么该如何分析检测这些濡染物呢?如何评价清洗工序的清洗的效果呢?可以考虑采用飞行时间-二次离子质谱仪来检测。样品制备:飞行时间-二次离子质谱仪作为一种表面分析工具,对样品制备要求非常严格。样品分析的表面绝对不能接触任何包装物,尤其是防静电袋,双面胶等等,这些都会对样品进行污染,常见的污染特征峰,防静电剂:阴离子:311,325,339等,对于双面胶其常见的污染物峰为(硅氧烷):阳离子:28,43,73,143,281 等等,另外,样品也不能在空气或者办公室内放置过长时间,要不同样会测到大量污染物,而测不到污染物下面的成分,因为,其分析深度只有3~6nm。例如,在晶圆的表面上永远都可以测到大量的CH峰,其本质原因就是生产工艺或者空气中的CH化合物吸附在其表面。众所周知,其分析的检测限为ppm~ppb,相当高。所以,样品制备要极其严格。数据处理:一般上分析过程中要考虑,组合峰的出现,比如我们在分析单晶硅得时候,样品表面会不可避免地出现(正离子)14,27,28,45,等等一系列的峰,首先要学会辨认他们。比如28,它可能是Si28,也可能是c2h428,如何区分他们,这就需要经验。欢迎大家分享自己的经验,如需详细讨论,可加入二次离子质谱QQ群:100364310
tof-sims (time-of-flight Secondary ion mass spectrometer)是飞行时间-二次离子质谱仪,它可以进行全元素分析,包括H,同时还可以分析元素的全部同位素。对有机物,无机物都能进行分析,而且对样品导电性能无任何要求,仪器的灵敏度高,可以检测出ppb~ppt量级的杂质。其基本的原理,采用脉冲粒子束轰击样品表面使其产生二次离子(正离子,负离子),产生的二次离子经过一个漂移管到达检测器。根据不同离子的荷质比不同,所以在漂移管中的飞行时间也不相同,质量数小的离子先到达检测器,质量大的后到达检测器,这样就实现了质谱的分离。1 基本原理:入射粒子束的能量为E0,根据能量守恒原理E0=1/2 mv^2t=L/V所以,离子在漂移管中的飞行时间与其质量的1/2成正比,所以,质量越大,飞行时间越长。2 分析模式两种工作模式:正离子谱模式和负离子谱模式我们知道不同元素的电负性不同,所以得失电子的能力也不同,有的元素易于形成负离子(如第七主族的卤素元素),有的易于形成正离子(如第一主族的碱金属元素)。所以,分析的过程可根据实际需要选择正离子或者是负离子的工作模式。3 样品要求:一般可以分析固体样品,液体样品也可,但是液体要求黏度要大,真空中不挥发。由于仪器的灵敏度高,所以样品制备过程要防止其受到污染。欢迎大家讨论。
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鉴于广大网友渴望对tof-sims得了解,本人决定分享以下飞行时间二次离子质谱仪简介。国内有tof-sims 仪器的几个院所: 沈阳金属所 新买了ion-tof得tof-sims仪器 TOF-SIMS V,已经开始运行了,负责人好像是:代老师矿业大学 phi公司的 TRIFT I 友好多年历史了,负责人:梁老师复旦大学 PHI 公司的, 负责人:李老师天津飞斯卡尔,具体联系人不清楚好像听过广东 还有一台PHI公司我曾经接触过一些关于这面的资料,现在拿出来跟大家分享,希望大家有好的资料要一起分享。
[size=5][b] [/b][/size] 采用脉冲一次离子源(LMIG, Cs, C60,Au,O2+,Ar+)等轰击样品,然后收集从样品表面激发出来的二次离子,采用质谱检测器(飞行时间、四极杆、扇形磁过滤、离子阱等),来收集这些二次离子,并且根据他们的质荷比(m/z)将它们分离,据此来判断分析材料的成分。 二次离子质谱仪分为静态- 二次离子质谱仪(S-SIMS) 和动态二次离子质谱仪(D-SIMS) ,其区分的标准就是根据入射的一次离子的剂量一般10^12atoms/cm2,成为静态二次离子质谱仪,一般采用飞行时间检测器,主要用于生物医药的有机物分析,半导体材料的污染物分析,存储材料分析,可以坚定有机的分子碎片。在分析过程中,材料表面的吸附物质及化学状态,对谱峰影响巨大。这也就是二次离子质谱中的“基体效应”。静态-二次离子质谱是一种无破坏的表面分析方法。最常见的静态- 二次离子质谱仪是飞行时间二次离子质谱仪。飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS: Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry)利用一次脉冲离子轰击样品,通过表面激发出的二次离子的飞行时间测量其质量(m/z 100,000),以分析样品的表面组成。 动态-二次离子质谱仪,入射的一次离子的剂量一般10^15atoms/cm2,对表面形成大量的溅射作用,是一种破坏性分析,主要用于地质研究,同位素定年分析,半导体掺杂的深度分析。主要采用的一次离子源为气体等离子源(Ar/O2)或Cs离子源,一般要求样品导电性要好。
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[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱仪[/url],链接二次热解析用,从热解析进二硫化碳1ul.(1000ppm浓度) 不出峰,用的是fpd检测器,标定时间3分钟,解析温度320度,解析时间5分钟,进样时间30秒,标定时的标定流量是50ml/min。就是不出峰,但是不链接热解析,直接扎针进样,会出峰!
二次离子质谱(SIMS)是一种用于分析固体材料表面组分和杂质的分析手段。通过一次离子溅射,SIMS可以对样品进行质谱分析、深度剖析或成二次离子像。SIMS具有很高的元素检测灵敏度以及在表面和纵深两个方向上的高空间分辨本领,所以其应用范围也相当广泛。涉及化学、生物学和物理学等基础研究领域及微电子、催化、新材料开发等各个领域。 二次离子质谱法对于大部分元素都有很高的探测灵敏度,其检测下限可达百亿分之几的数量级。对痕量组分能进行深度剖析,可在微观(µ m级)上观察表面的特征,也可以对同位索进行分析和对低原子序数的元素(如氢、锂、铍等)进行分析。 ①痕量分析二次离子质谱法有极高的分辨率,可以达到十亿分之几的数量级。因此,可以对痕量的物质做出定性分析以确定其在表面的存在。当然进行这种分析要求排除所有可能影响结果的干扰。防止表面吸附物污染被测试表面,测试要在高真空和高纯度的离子束条件下进行。 ②定量分析定量分析采用的是以标样为基础的分析方法。一次离子的种类、能量和电流密度、样品环境、探测器效率以及二次离子分析器的能带通道确定之后,就能使用元素的相对灵敏度系数对样品进行确切的分析。只要二次离子质谱仪的灵敏度足以探测到基体的所有主要成分,所得结果就是这种基体材料成分的原子百分比。 ③深度分析深度分析的一般方法是监控样品中某元素的二次离子信号随溅射时间的变化。对于均匀基体材料,通过适当的标定试验(已知镀层厚度、陷口深度等)就能把时间转换为深度。元素的定量可以由二次离子强度的变化及二次离子强度定量分析方法得到。
关于仪器第一次校准后第二次校准时间的间隔,很多校准证书上写着“一年”,这个到底对不对了,希望下面文字能帮助你。(声明:本文从微信公众号“CNAS实验室认可中心”中转载,除用于学习参考外,不得用于其他用途,不得侵犯原作者权益)CNAS-CL01 中5.10.4.4 校准证书(或校准标签)不应包含对校准时间间隔的建议,除非已与客户达成协议。该要求可能被法规取代。明确规定校准实验室不能给出校准周期的建议。校准周期由实验室根据计量器具的实际使用情况,本着科学、经济和量值准确的原则自行确定。仪器在第一次校准之后,第二次校准时间先规定1年,1年后送校准实验室校准还是很“准”(与第一次校准比较在误差范围内),就可定2年了,依次类推,最长不能超过5年,但期间一定需安排期间核查,如果发现不稳定情况,就需重新校准。
1 二次离子质谱学发展简史... 42 SIMS的原理和仪器结构... 52.1 原理... 52.2 质谱分析器(质谱计) 62.2.1 磁质谱计... 72.2.2 四极质谱计... 72.2.3 飞行时间质谱计... 82.2.4 其他质量分析器... 102.3 SIMS仪器类型... 103 SIMS与其它表面分析技术的比较... 113.1 SIMS的主要优缺点... 113.2 与其它微分析技术比较... 134 SIMS的研究和应用... 144.1 元素及同位素分析... 144.2 颗粒物微分析研究... 164.3 团簇、聚合物分析及生物医学等方面的研究... 174.4 SIMS在化合物半导体材料分析中的应用... 194.4.1 常规分析... 204.4.2 最低测量极限... 214.4.3 高分辨率SIMS分析... 234.4.4 解剖分析... 245 SIMS的新进展... 256 几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术... 26[url=http://bbs.in
实验室的几台国产气相色谱仪太老旧了,前段时间终于有一台光荣下岗了。老师找人把它改成了干燥箱,你还别说,还挺好用!哈哈小伙伴儿们,仪器二次利用是资源重复利用的一种体现啊!要提倡哦!http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/03/201503131453_538203_2984502_3.jpg
单向二次展开薄层色谱法单向二次展开薄层色谱法检识挥发油中各成分时,为什么第一次展开所用的展开剂极性最好大于第二次展开所用的展开剂的极性?单向二次展开薄层色谱法有什么优点?
二次离子质谱仪原理简介二次离子质谱仪(Secondary Ion Mass Spectrometry, SIMS)又称离子探针(Ion Microprobe),是一种利用高能离子束轰击样品产生二次离子幵迚行质谱测定的仪器,可 以对固体或薄膜样品迚行高精度的微区原位元素和同位素分析。由于地学样品的复杂性和对 精度的苛刻要求,在本领域内一般使用定量精度最高的大型磁式离子探针。该类型的商业化 仪器目前主要有法国Cameca 公司生产的 IMS1270-1300 系列和澳大利亚ASI 公司的 SHRIMP 系列。最近十年来,两家公司相继升级各自产品,在灵敏度、分辨率及分析精度 等方面指标取得了较大的提升,元素检出限达到ppm-ppb 级,空间分辨率最高可达亚微 米级,深度分辨率可达纳米级。目前,大型离子探针可分析元素周期表中除稀有气体外的几 乎全部元素及其同位素,涉及的研究领域包括地球早期历叱不古老地壳演化、造山带构造演 化、岩石圀演化不地球深部动力学、天体化学不比较行星学、全球变化不环境、超大型矿床 形成机制等。因而国内各大研究机构纷纷引迚大型离子探针(北京离子探针中心的SHRIMP II SHRIMPIIe-MC、中科院地质不地球物理研究所的 Cameca IMS-1280、Cameca IMS-1280HR 和NanoSIMS 50L、中科院广州地球化学研究所的 Cameca IMS-1280HR、 中核集团核工业北京地质研究院的 IMS-1280HR),大大提高了国内微区分析的能力。 本实验室配备了Cameca 公司生产的IMS1280 离子探针和其升级型号 IMS1280HR。 两台仪器的基本原理及设计相同,升级型号IMS1280HR 主要在磁场设计上有所改迚,具 有更高的质量分辨率和传输效率。该型仪器从功能上可分为四部分,如图一所示:一次离子 产生及聚焦光路(黄色部分)、二次离子产生及传输光路(蓝色部分)、双聚焦质谱仪(粉 色部分)和信号接收系统(紫色部分)。Cameca 离子探针可以类比为一台显微镜,离子源 相当于显微镜的光源,传输光路相当于物镜,质谱仪相当于滤镜,而接收器相当于目镜或照 相机。 图一, IMS1280/HR 型离子探针原理示意图 一次离子部分包含了两个离子源分别是可以产生O 离子的双等离子体离子源(Duo Plastron Source)和产生Cs 离子的热电离铯离子源(CsIon Source),一 般分别对应地学领域分析中的正电性元素(如 Pb、U、Th、REE、Li、Ca 等)和负电性元 等)。两个离子源由软件控制选择,所产生的离子通过高压(一般为数千伏特)加速后迚入一次离子质量过滤器(PBMF)迚行质量筛选,常用的一次离子有 16 16O2 133Cs 离子。后续的一次离子光路通过调整离子透镜Lens2,Lens3 和Lens4 电压可以获得两种照明方式:均匀照明(科勒照明或平行光照明)和高斯照明。一次离子光路原理如图二所示。 均匀照明模式使用离子透镜Lens2 将一次离子束调整为“平行光”,幵穿过位于其后 的一次束光阑(PBMF_Aperture),再通过离子透镜Lens4 将该光阑成像到样品表面。在 该模式下,离子束的直径由PBMF_Aperture 的大小决定,由于该光阑受到离子束的剥蚀 而逐渐变大,因此实际上这种模式的离子束直径是随时间丌断变化的,对空间分辨率丌太敏 感的应用可以使用该模式。实验室的常规定年就使用了这种照明模式,由于其离子束密度均 匀,在样品表面留下的剥蚀坑为椭囿形的平底坑。 图二 一次离子光路原理示意图 在高真空条件下,带有数千电子伏特(eV)的高能带电离子轰击固体样品的表面时,部分 一次离子注入到固体内部并不其路径上的样品原子发生弹性或非弹性碰撞。通过碰撞而获得能量 的内部原子又不其周围的原子再次进行碰撞并产生能量传导,这个过程称为级联碰撞。最终,部 分样品内部电子、原子或分子获得了足够的能量逃逸出样品表面,产生了溅射现象。在溅射出的 各种微粒中,有小部分发生了电离,产生了二次离子。这些二次离子被样品表面的+10KV到 -10KV的高压加速,通过离子透镜聚焦后进入双聚焦质谱仪进行质量筛选。溅射及加速示意图 请见图三。 高斯照明模式在PBMF之后使用了三个离子透镜:Lens2、Lens3和Lens4。其中Lens2 不Lens3将离子束汇聚,L4将汇聚后的离子束聚焦到样品表面,形成束流密度中心高周围低 的高斯分布。这种模式下,在样品表面产生的剥蚀坑是接近囿形的V型坑。这种模式下离子 束的直径主要受到L2不L3透镜电压的影响,而对光阑的剥蚀效应很小,因此可以长时间保 持离子束直径丌变。实验室常规的稳定同位素分析以及空间分辨高于10微米的小束斑定年 分析都采用了高斯照明模式。 丌同元素的二次离子产率相差巨大,而且每种元素在丌同基体中的产率也丌尽相同,甚 至同一元素的同位素之间在丌同的基体中也表现出丌固定的产率(基体效应)。在实际分析 时实测值不理论值会产生较大差异。因此,要使用离子探针进行高精度的元素、同位素分析, 必须使用不被测样品成分和结构一致的标准物质进行校正。而标准样品的稀缺性也成为制约 和影响离子探针分析的瓶颈。目前,本实验室目前已开发了锆石氧同位素标准物质 (Penglai)、方解石碳-氧同位素标准物质(OKA)、锆石Li同位素标准物质(M257)、锆 石年龄标准物质(Qinghu)等。 图三,离子探针溅射示意图 二次离子产生后迚入离子传输光路,该部分相当于显微镜的物镜,通过调节该“物镜” 的放大倍数,配合后续的光阑及狭缝的调整,可在质量分辨率确定的条件下对仪器的传输效 率迚行优化,保证分析精度。入口狭缝是传输光路和质谱仪的分界面。离子束通过传输光路 聚焦后,在入口狭缝处汇聚。调节入口狭缝的宽度可控制迚入质谱仪的离子束宽度,从而控 制质谱仪的质量分辨率。质量分辨率要求越高,入口狭缝所对应的宽度就越窄,二次离子信 号的强度损失也就越多。因此,在满足分析要求的前提下,尽量使用较低的质量分辨率。离 子探针分析中,样品表面溅射出的二次离子组成非常复杂,包括了单原子离子、分子离子、 多电荷离子、复杂聚合物离子等,对质量分辨率要求极高。为了兼顾离子探针的质量分辨率 和传输效率,必须采用大磁场半径的设计。该型离子探针的最低质量分辨率为~900,而最 高可用质量分辨率大于20000. 磁式质谱仪主要利用运动离子在磁场中的受力偏转实现对特定质量电荷比值的离子的 选择。磁式离子探针一般使用双聚焦磁式质谱,可以实现速度聚焦和方向聚焦,在二次离子 能量分布范围较大的情况下实现高质量分辨率和高传输效率。双聚焦质谱仪由静电分析器和 扇形磁场质量分析器组成,当二者的能量色散在焦平面上相互抵消时即实现了双聚焦。 IMS1280/HR 离子探针的静电场及磁场半径均为585mm,在质量分辨率5000 的条件下, 其传输效率90%。 离子经过质谱仪的质量色散后迚入离子接收系统。该型仪器的接收系统分为三个部分: 具有5 个接收位置,共7 个接收器的多接收系统;具有三个接收器的单接收系统和微通道 板成像系统。多接收系统能够同时接收的最大的质量差异为17%,最小质量差异为~0.4%, 是典型的同位素质谱配置。5 个接收位置可在各自轨道上沿聚焦面移动,根据被测同位素的 信号强度可选择安装法拉第杯或电子倍增器。最外侧的两个接收位置还分别额外加装了一个 法拉第杯,增加配置的灵活性,如图四所示。多接收器分析可以提高效率,并能抵消一部分 因为一次离子或仪器其他参数波动引起的分析误差,是提高分析精度的最直接手段。实验室 的高精度稳定同位素分析(氧同位素、碳同位素及硫同位素等)都是用多接收器的。目前本 实验室两台离子探针采用了丌同的接收杯配置,其中一台偏重于稳定同位素分析,在多接收 器中安装了多个法拉第杯,而另一台则偏重微量元素尤其是Pb 同位素分析,主要配置为电 子倍增器。单接收系统具有一个工作在离子计数模式下的电子倍增器和高低两个丌同量程的 法拉第杯,组成了具有10 动态接收范围的大量程接收系统。对于质量范围超过17%的分析,一般使用单接收系统,例如传统的U-Pb 定年分析,其需要测量的质量数从196-270, 使用的是单接收系统中的电子倍增器收集所有信号。 使用微通道板成像时,仪器工作在离子显微镜模式下,成像的分辨率取决于二次离子光 路的设置,而不一次离子束的直径无关。由于微通道板性能的制约,这种模式一般只用于辅 助的定性判断和仪器参数的调整,而丌用于定量分析。离子探针还有一种二次离子扫描成像 模式。类似于扫描电子显微镜的工作原理,通过同步一次离子的扫描位置和电子倍增器的接 收时间,可以将电子倍增器测量到的信号强度不其在样品上的位置对应起来,从而重构出经 过质量筛选的离子分布图像。该图像的分辨率取决于一次离子束的直径,可用于元素、同位 素二维分布分析
由于这些仪器的质量分辨率相对有限(单位质量分辨率不能解决每超过一个峰值的质量),因此这些仪器越来越稀有。四级杆利用一个共振电场,其中只有特定质量的离子才能稳定通过震荡场。与扇形磁场仪器相类似的是,这些仪器需要在高一次离子电流下操作,且通常被认为是“动态二次离子质谱”仪器(比如用于溅射深度剖析和/或固体样品的总量分析)。 如今,尽管这些设计在SIMS界最为常见,但仍有许多令人兴奋的新设计正不断出现,它们在未来可能会发挥更重要的作用。这些新设计包括多种质谱仪中的连续离子束设计(比如用四级杆或飞行时间质谱仪作串联质谱(MS-MS)分析),以及傅里叶变换离子回旋共振(FT-ICR)仪器,其质量分辨率接近一百万或更高。
有些行业允许二次议价,对于采购仪器是否存在二次议价呢?
我现在使用上海天美的G7890[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱仪[/url],现在出现这样的情况,请问怎样解决:分析样品时偶尔出现保留时间发生很大的变化.特别是主峰,时间要延长十多分钟才能出完.不是二次进样!
[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/3p][color=#3333ff]离子色谱[/color][/url]法测定地下水钙含量不同时间测定结果不同(第二次测量高)可能是什么原因?仪器条件都没有变化,同时测的钾、钠、镁结果未变化
第一次做的液相色谱,但是结果不是很好,想再做一遍,但是又不想做前处理,因为太复杂,时间比较长,我可以把之前走过的样品直接进行第二次进样吗?http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/10/201410111341_517780_2739368_3.jpg
[color=#444444]为什么第一次检测大肠菌群检出,但是放一段时间第二次测就未检测[/color]
4 SIMS的研究和应用... 144.1 元素及同位素分析... 144.2 颗粒物微分析研究... 164.3 团簇、聚合物分析及生物医学等方面的研究... 174.4 SIMS在化合物半导体材料分析中的应用... 194.4.1 常规分析... 204.4.2 最低测量极限... 214.4.3 高分辨率SIMS分析... 234.4.4 解剖分析... 245 SIMS的新进展... 256 几种新型号二次离子质谱仪采用的新技术... 266.1 NANO SIMS 50型二次离子质谱仪... 286.1.1 小束斑离子枪和短工作距离的二次离子接收透镜的新设计... 286.1.2 二次离子接受器由单种离子接收改为多种离子同时接收... 29
【网络讲座】:飞行时间二次离子质谱仪在最新的MS/MS串联技术后的研究应用和突破 【讲座时间】:2016-12-02 10:00【主讲人】:Wensly Yip 叶上远,Mr. Wensly Yip 叶上远 - 高德英特 中国区 执行总监 (高德英特有限公司 - Ulvac-Phi Incorporated 在中国大陆的唯一代表). Mr. Wensly Yip毕业于南非开普敦大学 电动与电子工程学系。后来花了超过10年的时间在ULVAC-PHI公司工作,在那里曾经参与了ULVAC-PHI表面分析仪器的详细仪器设计与开发,表面分析应用的技巧训练,和对系统的售后服务包括仪器安装、故障诊断和优化以达到分析应用上和用户使用的最大需求。【会议简介】飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)一直被广泛应用在科研和工业领域中,例如在半导体的杂质分析、高技术的微观尺度材料分析以及聚合物和有机材料的剖析中。 TOF-SIMS在表面分析中虽然有着极高的表面灵敏度和亚微米級的空间分辨率等优势,但当每次检测一些添加剂和聚合物组成的混合物时都会面临如何正确解析数据和判定成分的实际困难。为了解决这个问题,ULVAC-PHI公司开发了配备有非破坏性串联质谱(MS/MS)的TOF-SIMS仪器,并将其应用到各种有机材料和生物应用当中。MS / MS的出现不仅使质谱分析变得更容易,而且在对分析结果的判定方面有了实质性的飞跃,不再是对分析结果的猜测,而是获得明确清晰的答案。在本次报告中,我们将详细介绍该仪器和新技术的基础原理及应用,让大家更全面、细致的了解该仪器如何在现今的科研工作中帮忙解決各种实际的问题。Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS) is widely used in industrial fields such as impurity analysis of semiconductors, analysis of high technology micro scale materials, and mass spectrometry of polymer and organic materials. Despite dramatic improvements in surface sensitivity and the resulting measureable spatial resolution, the unique identification of each detected mass peak within the mixture of additives and polymer compositions on the surface of real polymer samples has remained problematic. In order to solve this problem, we have developed the TOF-SIMS instrument equipped with tandem MS (MS/MS), and applied it to the various kinds of organic materials. From simplified MS/MS spectrum, the spectrum interpretation is much easier than before. In this tutorial, we will introduce our unique instrument, and demonstrate its capabilities.。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名参会:http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/2218http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/10/201610241457_614859_2507958_3.jpg扫描二维码,报名参会4、报名及参会咨询:QQ群—290101720,扫码入群“质谱”http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191701_669319_2507958_3.gif
在做价带谱的实验研究中,通常会非常关心二次电子边的位置和强度。但在我的仪器上(VG ARUPS10),时常会出现二次电子边起不来的现象,也有同行反映了类似问题,多认为是由于样品接触不好所导致,但我一直觉得还有别的某种未知因素。因为我的仪器有时候会出现连续好几天二次边都起不来的情况,无论我怎么加强样品的接触,消除外电磁场干扰等等。很是不解。不知道大家有没有遇到过类似的问题,如何解决的?欢迎email写信讨论。我的email:zhangwh@ustc.edu.cn
Gc14A,[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱[/url],出现如下谱图,怀疑是二次进样引起的,每个人进来都是一样的,在其他色谱上进样正常的样品在这台上出现每个峰后面都有一个小尾巴,目前主要怀疑是汽化室的原因,不知道对不对[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/11/202111031451197047_2574_1893048_3.png[/img]
2月21至22日,由国家质检总局科技司委托组成的测试专家组,对中科院大连化学物理研究所承担的“十一五”国家科技支撑计划项目课题“二次离子质谱仪器核心技术及关键部件研究与开发”中的子课题“角反射飞行时间质量分析器”进行了现场考核与测试。验收专家组组长由北京中国航天员科研训练中心刘学博研究员担任,成员包括中国科学院北京科学仪器研制中心于科岐研究员、中国计量科学研究院赵墨田研究员、大连理工大学丁洪斌教授以及辽宁师范大学李梦轲教授。 与会专家听取了项目负责人李海洋研究员的项目完成情况汇报,专家组依据国家科技支撑计划课题任务书中规定的任务和考核指标要求,参考课题组提交的测试方案以及现场的实际情况,查看了有关技术资料,并对测试大纲进行了充分讨论,确定了审核及现场测试内容。通过现场核实与实际测试,测试专家组认为,该子课题采用角反射补偿了离子能量分散,提高质量分析器的分辨率,且能保证大的接收角和较高的稳定精度,分辨率8700,稳定精度为10ppm,全面完成了任务书规定的各项任务指标,达到并优于考核要求。验收专家组一致同意该课题通过验收。 该项目的完成,进一步提升了大连化物所在二次离子质谱仪的核心技术及关键部件研发方面的综合水平。
单位想买台二次离子质谱,这玩艺国内很少见,问一下哪位大侠买过这个东东,需要多少钱?
有谁能详细的说一下,二次离子质谱仪,它的具体作用有哪些?谢谢
近日,国务院印发了《第二次全国污染源普查方案》,详细规定了我国第二次全国污染源普查的工作目标、时间节点、范围、内容以及普查经费来源等内容。 此次普查标准时点为2017年12月31日,时期资料为2017年度资料。2017年完成前期准备、启动清查建库和普查试点,2018年完成全面普查,2019年完成成果总结与发布。 根据《方案》,此次普查对象为中华人民共和国境内有污染源的单位和个体经营户。范围包括:工业污染源,农业污染源,生活污染源,集中式污染治理设施,移动源及其他产生、排放污染物的设施。主要污染物包括废水、废气和工业固体废物。 那么第二次全国污染源普查工作的开展能为第三方环境检测机构带来新的利润增长点吗?
各位好请问一下,色谱上说的二次进样是什么意思呢?谢谢!