两探针测试仪

Jandel这种组合方式是目前jandel公司最受欢迎的产品.该系统可用于测量各种薄层的小尺寸样本以及直径300mm高250mm的晶圆锭 (检测厚样品之前要咨询)。可测晶片直径D≤250mm（可选配D≤300mm，无需付费）可测晶片厚度H≤250mm（可更厚，请咨询）微动开关防止探针不与样品接触时的电流流动手动控制探针接触和移动的简单杠杆操作装配简单RM300和四探针探头通过单线连接系统配置组成部件测试台----1个可调节高度主机----1台可调节高度轴杆----1根四探针探头----1个连接电缆----1根设备尺寸可调节高度测试台：W*L*H（mm）250*290*8（320*370*8，可选）可调节高度探头组件：W*L*H（mm）60*280*80（60*330*80，可选）可调节高度的轴杆：D（mm）19；L（mm）200（可定制最高高度到1000mm）

结合jandel公司生产的四探针探头对晶片的电阻率进行测量。主要特点：可简单预设待测晶片上1到25个测量位置；8英寸/6英寸晶片真空吸盘；带有电流开关的杠杆操作探头，可避免产生火花；定位精度小于±1mm；幻灯片准确度不高于测量区域；遮盖待测区域，消除光电干扰；技术指标：8〞型号表具有真空卡槽、定心凹槽，镊子切口的硬铝合金晶片尺寸Φ=5〞/6〞/8〞预设测量位置中心点：垂直直径四个点，32，38，50，57，68，94mm晶片 1/2R 距边缘6mm5〞 32mm 57mm6〞 38mm 68mm8〞 50mm 94mm6〞号晶片尺寸Φ=3〞/4〞/5〞/6〞预设测量位置中心点；垂直直径四个点，15，20，25，35，50，60mm可配真空线路、真空泵外形尺寸355mm * 215mm * 195mm（H）净重6〞：3.5kg8〞：4.0kg

340-TT四探针测试探头探针间距选择1mm；2mm；3mm探针材质选择：铜/钨钢针探针尖形态选择：尖针，半球型

产品概要：MPI公司通过引入独特的TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头宽度减小了33%，减小到20μm，TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合，大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本，它可以为铝焊盘金属化小至30 x 35μm的硅器件获得准确且可重复的测量结果。基本信息： ME MS技巧 MPI TITAN&trade 探针经过精准制造，具有完美匹配的50Ω的MEMS触点。由于出色的探头电气特性(最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗)，它们可确保在较宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。 独特的接触结构与市场上的其他针尖不同，由于独特的突起式针尖设计，MPI TITAN&trade RF探头可提供出色的实时可视性。首次，即使对于没有经验的操作人员，也无需使用探头对准标记，就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT 上。技术优势：1、提供宽范围的Probe选择：DC-220Ghz2、单双信号规格3、针距范围 50 μm 至 1250 μm4、至高 10 瓦功率型射频组件的特性量测5、TITAN-RC版本探针具有GSG尖端配置，探针间距为50μm至150μm应用方向：应用于晶圆校准和测量。

产品概要：MPl悬臂探针卡广泛应用于金凸点和焊盘晶圆测试，用于显示驱动器、逻辑和存储设备。基本信息：MPI的悬臂式探头是对细间距、小焊盘尺寸、高速、清洁少、多DUT、高引脚数和超低泄漏要求的相应解决方案。技术优势：1、使用对角线或托架应用程序执行多个DUT配置，以实现超常规对齐和平面度2、减少高温或低温试验期间的热变形3、R+和U+结构的高速解决方案，用于严格的Pl和Sl应用4、通过先进的探针材料和设计，稳定低接触电阻性能5、交付周期短，是工程设备的理想选择应用方向：MPl悬臂探针卡广泛应用于金凸点和焊盘晶圆测试，用于显示驱动器、逻辑和存储设备。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

产品简介探针作为探针台的核心附件之一，主要用途是接触连接待测件电极，为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件，从不同应用场景可分为钨钢探针，钨钢镀金探针，镀金软针，钨钢角度探针等，被广泛应用于半导体及光电等行业的测试。产品优势进口钨钢探针，优异的导电性能；谱量特有的镀金工艺，保证针体机械属性的同时，进一步优化其导电性能；可测电流范围1fA-1A；多款针尖直径可选，满足不同应用需求；产品示意图针杆长度38mm，直径0.5mm。针尖直径有（1-3-5-10-30-50-150-300-500）um可选。

偏振测试仪确定线偏振片和圆偏振片的偏振方向方便轻巧的手持式设计验证偏振片校准的理想选择在确定 LCD 的偏振方向方面表现出众TECHSPEC® 偏振测试仪适用于确定未知偏振片的不同特性，如线性偏振片的偏振方向和圆形偏振片的旋转方向。这款易于使用的手持式紧凑型工具兼容所有已安装和未安装的偏振片，其中包含设计用于测试线性偏振光，以及左旋和右旋的圆形偏振光的区域。对于圆形偏振片，本测试仪可识别偏振旋转方向，以及延迟器和线性偏振片的位置。TECHSPEC® 偏振测试仪适用于识别正确偏振片，或验证应用中是否精确对准。为获得优良效果，请确保在测试之前将所有保护膜从偏振片上取下。注意:安装偏振测试仪时，建议使用#54-997.产品信息类型波长范围(nm)厚度(mm)透射率(%)长度 (mm)宽度 (mm)产品编码Polarization Tester400 - 7000.7542200.0020.00#37-699

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高，所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括：扫描扩散电阻显微镜 (SSRM)，扫描电容显微镜 (SCM)，和隧道/导电原子力显微镜。NameMountDescriptionPackSizeTipRadius(nm) DDESP-10UnmountedDopedDLCCoatedTips,42N/m,320kHz,AlReflectiveCoating1035

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPackSizeTipRadius(nm) MESPUnmountedStandardMFMCoatedTips,2.8N/m,75kHz,Co/CrReflectiveCoating1020

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPackSizeTipRadius(nm) OBL-10UnmountedAuCoatedtips 2Cantilevers,0.006-0.03N/m,AuReflectiveCoating1030

PELCO AFM 探针分辨率测试标样， 含样品座

产品概要：英铂为您提供MPI品牌的DC、各类开尔文探针，以供产品测试使用。基本信息：技术优势：DC探针：适用于常规漏电流测试开尔文探针：更低的漏电流和更好的可靠性，可以适用于高低温下的测试应用方向：适用于各种晶圆测试。

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPackSizeTipRadius(nm)SCM-PICUnmountedPt/IrCoatedTips,0.2N/m13kHz,Pt/IrReflectiveCoating1020

MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造，具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性（最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗），它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同，由于独特的突起式针尖设计，MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次，即使对于没有经验的操作人员，也无需使用探头对准标记，就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33％，减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合，大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件，它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置，探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损：经过数十万次探针循环后，探针尖端的长度自然会缩小。然而，由于独特的探头设计，其电气特性保持不变。因此，TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。最后但并非最不重要的一点是，TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。

MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造，具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性（最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗），它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同，由于独特的突起式针尖设计，MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次，即使对于没有经验的操作人员，也无需使用探头对准标记，就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33％，减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合，大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件，它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置，探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损：经过数十万次探针循环后，探针尖端的长度自然会缩小。然而，由于独特的探头设计，其电气特性保持不变。因此，TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。最后但并非最不重要的一点是，TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。

PELCO AFM 探针分辨率测试标样， 含样品座

AFM配件，原子力探针，AFM探针，原子力探针针尖，显微镜探针针尖，原子力针尖，原子力显微镜探针针尖，接触探针，纳米压痕探针，氮化硅探针，硅探针，热探针，超尖探针，电子探针，显微镜针尖，原子力显微镜针尖，轻巧模式探针，AFM针尖，接触式探针，磁性探针，导电探针，显微镜探针，探针，布鲁克探针，原子力探针，BRUKER PROBE，AFM PROBE，BRUKER探针，原子力显微镜探针，AFM探针，VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业，布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势：*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*的质量管理体系，确保探针性能行业在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

产品介绍探针作为探针台的核心附件之一，主要用途是接触连接待测件电极，为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件，从不同应用场景可分为钨钢探针，钨钢镀金探针，镀金软针，钨钢角度探针等，被广泛应用于半导体及光电等行业的测试。产品优势进口钨钢探针，优异的导电性能；探测线细而柔韧，最大限度减少对集成电路的损坏；可测电流范围1fA-1A 多款针尖直径可选，满足不同应用需求 产品示意图针杆长度38mm，直径0.5mm。针尖直径有（1-3-5-10-30-50-150-300-500）um可选。

全新压电阻自感应悬臂梁AFM探针 ——从此形貌探测无需激光SCL-Sensor.Tech公司成立于2004年，公司的主要业务是制造和销售硅基压电阻式自感应AFM探针。这种全压电式悬臂，在AFM、纳米级、力测量等传感应用领域都有全新的应用。我们的多学科团队由物理、商业和金融、半导体和微电子学、电子工程和生物科学等领域的专家组成。除了我们自己的团队之外，我们还与著名高校：University of Tampere (UTA)，école Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)许多领先的研究团队合作，密切接触前沿研究和开发。自感应悬臂探针安装了一个全压电电阻式的惠特斯通电桥，两个可变电阻在悬臂上，两个在晶片上可以直接测量悬臂的信号，从而避免了光学技术对空间要求。这种悬臂式芯片被连接在一个小的PCB上，带有一个小的连接器，用于快速和高度可重复的悬臂交换。传感器信号是通过一个小型的前置放大器PCB来读出和放大的。这使得与各种仪器，如SEM，TEM和许多其他测量系统的简单无缝集成。这种自感的悬臂可以满足各种共振频率和弹性系数的要求。SCL提供了PRS(Piezo-Resistive Sensing)不可加热的悬臂AFM探针和PRSA(Piezo-Resistive Sensing & Active)可加热的悬臂AFM探针。我们建议用塑料镊子更换裸悬臂AFM探针，用钢镊子来更换固定在PCB板上的悬臂AFM探针。常规自感应悬臂梁探针（针尖材质Si）Self-Sensing Cantilevers with Silicon Tip 左图展示的是标准的SCL自感应悬臂探针的尖端，尖端半径小于15纳米。正常情况下，悬臂探针会预先安装特制的PCB板（CL-PCB）上，在它的下侧有一个10pin的连接器。如果有特殊要求，我们也可以提供没有PCB板的悬臂探针。探针有两种版本，可加热的探针PRSA (Piezo-Resistive Sensing & Active)和不可加热的探针PRS (Piezo-Resistive Sensing)型号列表：PRSA-L300-F50/60/80-Si-PCB/CHP 我们可以提供两中特定频率范围内使用的探针（中频为50 kHz或80 kHz），频率取决于悬臂的厚度。当选择没有PCB板的裸探针时（PRSA-L300-CHP）时，使用的频率范围是未知的，因为这些参数不能在没有电触点的情况下测量。共同特点Common针尖锐度Silicon tip radius (rtip)长宽Cantilever length, width (l/w)l = 305 μm, w = 110 μm灵敏度Sensitivity (s)1-2 μV/nm应用ApplicationsAFM, 纳米探测, 结合 SEM/TEM的力学探测.PRSA-L300-F50-Si-PCB共振频率Resonant frequency (fR)fR = 30~65 kHz刚度Stiffness (k)k = 1~15 N/mPRSA-L300-F80-Si-PCB共振频率Resonant frequency (fR)65...95 kHz刚度Stiffness (k)15...56 N/mPRS-L70-F900-Si-PCB/CHPPRS-L70-F900-Si-PCB/CHP针尖锐度Silicon tip radius(rtip)长宽Cantilever length, width (l/w)l = 70...85 μm, w = 30 μm灵敏度Sensitivity (s)3 μV/nm应用ApplicationsAFM, 纳米探测, 结合 SEM/TEM的力学探测.共振频率Resonant frequency (fR)500...1300 kHz刚度Stiffness (k)35...400 N/m自感应悬臂梁（不含针）Self-Sensing Cantilever without Tip (Tipless)这是一种特殊类型的SCL的自感应悬臂，没有探针针尖，可将自己设计制造的针尖粘在其上或者直接粘上样品，满足个性化的需求。这种无探针的悬臂尤其适用于扭矩磁力仪、力感测力、气体特性测量，以及更多的应用。正常情况下，悬臂探针会预先安装特制的PCB板（CL-PCB）上，在它的下侧有一个10pin的连接器。如果有特殊要求，我们也可以提供没有PCB板的悬臂探针。探针有两种版本，可加热的探针PRSA (Piezo-Resistive Sensing & Active)和不可加热的探针PRS (Piezo-Resistive Sensing)型号列表：PRSA-L300-F50/60/80-TL-PCB/CHP我们可以提供两中特定频率范围内使用的探针（中频为50 kHz或80 kHz），频率取决于悬臂的厚度。当选择没有PCB板的裸探针时（PRSA-L300-CHP）时，使用的频率范围是未知的，因为这些参数无法在没有电触点的情况下测量。共同特点Common长宽Cantilever length, width (l/w)l = 300 μm, w = 110灵敏度Sensitivity (s)1-2 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪，力感应，气体特性，特殊针尖的安装PRSA-L300-F50-TL-PCB共振频率Resonant frequency (fR)fR = 30~65 kHz刚度Stiffness (k)k = 1~15 N/mPRSA-L300-F80-TL-PCB共振频率Resonant frequency (fR)65...95 kHz刚度Stiffness (k)15...56 N/mPRS-L100-F400-TL-PCB/CHPPRS-L100-F400-TL-PCB/CHP长宽Cantilever length, width (l/w)l = 100 μm, w = 48 μm灵敏度Sensitivity (s)1...3 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪，力感应，气体特性，特殊针尖的安装共振频率Resonant frequency (fR)fR = 250...550 kHz刚度Stiffness (k)k = 14...170 N/mPRS-L450-F30-TL-PCB/CHPPRS-L450-F30-TL-PCB/CHP长宽Cantilever length, width (l/w)l = 450 μm, w = 100 μm灵敏度Sensitivity (s)1...2 μV/nm应用Applications扭矩磁力仪，力感应，气体特性，特殊针尖的安装共振频率Resonant frequency (fR)fR = 14...48 kHz刚度Stiffness (k)k = 0.5...24 N/m自感应基础套件（DYI必备）Self-Sensing Starter-Kit自感悬臂探针的每个应用中没有激光扰度探测，无法直接用于普通AFM设备里，需要我们提供的自感应基础套件。该基础套件为您提供了所有基本但必要的配置，可以立即开始使用自感应悬臂（探针）。自感应基础套件包含以下内容： ★ 低噪声悬臂信号前置放大器（下图-2) ★ 连接前置放大器到悬臂和后加工设备（锁定放大器，AFM控制器等）的电缆。(1 + 3) ★ 10个自我感觉的悬臂（4)

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MEMS技巧MPI TITAN™ 探针经过精确制造，具有完美匹配的50ΩMEMS触点。由于出色的探头电气特性（最小的插入损耗和串扰以及高的回波损耗），它们可确保在最宽的频率范围内提供无与伦比的校准和测量结果。独特的接触结构与市场上的其他针尖不同，由于独特的突起式针尖设计，MPI TITAN™ RF探针可提供出色的实时可视性。首次，即使对于没有经验的操作人员，也无需使用探头对准标记，就可以将RF探头高精度地定位在校准标准件或DUT焊盘上。减少接触探针MPI公司通过引入TITAN-RC探针来扩展RF TITAN探针的系列。新的探针模型的特点是触头尖端的宽度减小了33％，减小到20μm。TITAN-RC探针与进一步减小RF器件和IC的焊盘尺寸的行业趋势完全吻合，大大降低了下一代商用RF和毫米波硅器件和IC的测试成本。对于铝焊盘金属化小至30 x 35μm的Si器件，它可以获得准确且可重复的测量结果。TITAN-RC探针具有GSG探针配置，探针间距为50μm至150μm。杰出的寿命TITAN™ 探针技术的最强功能之一是其均匀的磨损：经过数十万次探针循环后，探针尖端的长度自然会缩小。然而，由于独特的探头设计，其电气特性保持不变。因此，TITAN™ 探针的使用寿命超过了同类探针技术的使用寿命。最后但并非最不重要的一点是，TITAN™ 探针以实惠的价格脱颖而出。

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产品简介 探针作为探针台的核心附件之一，主要用途是接触连接待测件电极，为半导体芯片的电参数测试提供一个导通条件，从不同应用场景可分为钨钢探针，钨钢镀金探针，镀金软针，钨钢角度探针等，被广泛应用于半导体及光电等行业的测试。产品优势进口钨钢探针，优异的导电性能；钨探测线细而柔韧，因此可最大限度地减少对被测样品的损坏；可测电流范围1fA-1A；多款针尖直径可选，满足不同应用需求；产品示意图针杆长度32mm，直径0.5mm。针尖直径有（1-3-5-10-30-50-150-300-500）um可选。

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