产品简介摄谱仪和单色仪功能具有最佳效率的光栅波长范围为1 ~ 200nm高精度波长设置紧凑、模块化设计得益于其无缝设计,maxLIGHT pro可提供同品类光谱仪中最大的集光量和最高的效率。经像差校正的平场波长范围可覆盖1nm至200nm的宽光谱带宽,比如,单个光栅可覆盖5-80nm。其模块化设计能够匹配不同的实验配置。它具有集成的狭缝支架和滤光片插入单元,以及电动光栅定位。灵活完善的探测器配置选项:nXUV CCD——高分辨高动态范围应用MCP/CMOS——宽光谱范围、门控或像增强探测需求可根据用户要求进行定制无狭缝设计HPS公司专有的光谱仪设计使用光源直接成像技术。 因此,不需要狭窄的入口狭缝,并且可以最大程度地收集入射光。 与传统的光谱仪架构相比,到达探测器的光强会高出20倍。 该结构还极大地提高了日常操作的稳定性。测量结果在使用阿秒XUV脉冲的符合光谱应用中,通过maxLIGHT XUV(左图)对HHG进行表征。高次谐波源自单光子跃迁(蓝色箭头),而XUV和IR光的双光子跃迁则呈现为光电子谱的边带(右图)。J. Vos et al, Orientation-dependent stereo Wigner time delayand electron localization in a small moleculeScience 360 1326-1330 (2018)通过maxLIGHT XUV测量的HHG光谱(右图)和25fs基频光脉冲在kagomé光子晶体光纤中宽化的光谱(左图)。随着泵浦能量的增加,孤子蓝移对HHG的影响清晰可见。F. Tani et al, Continuously wavelength-tunable high harmonic generation via soliton dynamicsOpt. Lett. 42 1768-1771 (2017)在相同的信号强度下,与标准光谱仪(虚线)相比,maxLIGHT pro光谱仪(实线)的分辨率明显更高。要获得等价的光谱分辨率,传统光谱仪技术需要设置窄狭缝,从而显著降低信号强度。C. Hauri et al, High-Harmonic Radiation for seeding theSwiss Free Electron LaserAndor Learning (2016)用maxLIGHT XUV获得的150kHz重频下截止区域内的HHG光谱。CEP的变化显示出在某些CEP设置下强度调制开始消失,表明了独立阿秒脉冲的存在。M. Krebs et al, Towards isolated attosecond pulses atmegahertz repetition ratesNature Photonics 7 555–559 (2013)参考光谱示例证明了maxLIGHT光谱仪的分辨能力。如图所示为飞秒激光脉冲和固体靶相互作用后,经滤光片过滤后的高次谐波谱。谐波产生过程中所固有的精细结构谱可以被maxLIGHT光谱仪清晰地分辨出来。图片上半部分:由 X 射线 CCD 相机记录的原始图像。 图片下半部分:通过列合并获得的谐波谱。L. Waldecker et al, Focusing of high order harmonics from solid density plasmasPlasma Phys. Control. Fusion 53 124021 (2011)技术参数Topology类型像差校正平场光谱仪和光束分析仪波长范围1-200nm光源距离可根据用户实际光路灵活调整探测器类型CCD or MCP/CMOS真空兼容度10-6mbar(UHV超高真空版可定制)无狭缝技术含入射狭缝可调光栅定位闭环电控台滤光片插入装置含控制接口USB 或 Ethernet软件Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK定制化可根据需求定制可选项非磁性,旋转几何,偏振测量等SXRXUVVUV波长范围1-20nm5-80nm40-200nm色散能力0.2-0.4nm/mm0.5-1.3nm/mm0.9-1.6nm/mm分辨率0.015nmat 10nm0.028nmat 40nm0.05nmat 120nm 应用高次谐波发生源阿秒科学激光与物质强烈的相互作用自由电子激光激光和放电产生的等离子体源x射线激光激光驱动二次源
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