反射式薄量仪

反射式光纤探针结合scinco S-3150或者S-4100使用可以生成小的光感系统以测量固体表面的反射。

透射反射式光纤探头产品简介：FlexiSpec® 产品线包括最新一代的单通道和双通道的光纤探针兼容所有光谱仪和光度仪。单通道和双通道的光纤探针兼容所有的可自动清洗的过程接口，可实时监控实验室，实验工厂和全自动的工艺控制。产品应用：实时反应监测 / 实验在线分析（PAT）/ 结晶过程的监测 / 特性分析 / 生物制药分析 / 生物燃料的开发与生产产品特点：* 在液体中长距离传输在线光谱；* 紫外、可见至中红外光谱透过率高；* 恶劣工业环境工作稳定；* 使用光谱仪/自动化控制接口兼容产品示意图：产品技术参数：UV-Vis石英红外 Vis-NIR硫系玻璃CIR间隙直径,mm2 5 10 20 2 5 10 2 5 10 2 5 10 0.05 – 2.0 温度范围≤ 200°C≤ 200°C≤ 200°C≤ 200°C≤ 100°C最小弯曲半径120 mm 探头类型透射半透反射式光谱范围,μm0,2 – 1,3 0,4 – 2,2 0,2 -1,30,4 – 2,2 1,6 – 5,5 光纤类型石英紫外 UV-Vis石英红外 Vis-NIR石英紫外 130 mm总长1,5 m (其它选项: 1 – 30m) *轴长230mm (其它选项: 50 – 500mm) *轴直径12mm轴材料SS, Hastelloy C22保护管材料不透液体的SS-导管, KOPEX-管输入/输出连接器长SMA FC/PC ST兼容工艺接口Ceramat-FOS或SensoGate-FOS*直径可以根据客户要求定制

气室透反射式光纤探头产品简介：FlexiSpec® 系列包括可以用于任何光谱仪、光度计的新一代传输红外光纤探头。气体传输光纤探头的设计是基于一个分叉的光纤束。由于气体的准直光束设计，使得双通低的中红外衰减（或多通）气室需要增加光路长度10–40cm。本设计是由准直物镜和反射镜单元的平均来实现的。产品应用： 实时反应监测 / 特性分析 / 废气监测 / 溶剂蒸发监测 / 相关石油气监测产品特点：* 在液体中在线传输光谱；* 近红外/中红外光谱段透过率高；* 灵活稳定的工业应用；* 兼容各种光谱仪产品技术参数：探针类型双通道气相传输传输范围0,5 – 2,2μm1,6 – 5,5μm3 – 18μm光纤类型SiO2硫化物光纤CIR银化物光纤PIR温度范围-50°C +200°C-50°C +90°C-50°C +140°C灵敏度1ppm根据不同的光路，光谱仪性能，测试气体总长1,5 m (其它选项: 1 – 30m) *传输长度100mm (其它选项: 5 – 200mm) *传输直径25mm轴材料不锈钢, Hastelloy C22保护套材料不透液体的SS-导管, KOPEX-管输入/输出连接器长SMA **直径可以根据客户要求定制

薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化，是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。另外，根据需要，我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer，提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具，以固定小尺寸的硅样品或3' ' ，4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同，如溶解速度的不同，它能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程，而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量，薄膜溶解测厚仪需要光滑，具有反射性的衬底，对于光学常数测量，平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的，衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量，已经成功应用于测量反射衬底（Si晶圆）上各种光滑，透明或轻度吸收薄膜的溶解过程，可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜，聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：15kg 电力要求：110/230VAC薄膜溶解测量仪应用：聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量 能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。

显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米； 波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 光源：使用显微镜光源 光斑大小：由显微镜物镜决定 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口； 尺寸：120x120x120mm 重量：1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量

雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率，根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值，测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率，总反射率，漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要，雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱，不需要移动或改变任何部件，保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计，具有高度的可拓展性，充分满足不同客户的多种需要。例如，自动光学窗口可更换，简化操作，减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成，从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外，还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制，可以适合任何尺寸的样品，包括面积大于1平方米的玻璃板。

多功能翘曲度测量仪配件是孚光精仪公司进口的全球领先的翘曲度检测仪器，一套翘曲度测试仪器可以测量：热沉,晶圆(wafer),太阳能电池和硅片翘曲度,应力以及表面形貌。多功能翘曲度测量仪配件是特别为半导体晶圆（wafer)和太阳能电池（solar cell)的翘曲度（warp) 和弯曲度(bow)以及表面形貌(topography)的测量而设计，可以测量晶圆翘曲度（wafer warpage) 和晶圆表面形貌, 晶圆应力,硅片张力,太阳能电池量子效率，既适合科研单位使用，也适合工业客户大产品、高效率的晶圆翘曲度和表面形貌的检测的需要。 我们还根据不同晶圆类型提供如下两种硅片翘曲度测量仪： 1. 非反射型：适合晶圆表面覆盖晶圆保护膜/胶带（wafer tape)，图案化晶圆 /图样化晶圆（patterned wafer)，粗糙的晶圆的应用； 2. 高反射型： 适合晶圆表面光滑 / 镜反射的应用。 多功能翘曲度测量仪配件特点： × 适合不同尺寸的晶圆检测，从0.5’‘到12' ' 的直径； * 标准检测能力为： 每小时可检测2000个晶圆或更多太阳能电池； × 同时测量多个晶圆或太阳能电池； × 测量镀膜后的晶圆或solar cell * 分析太阳能电池或晶圆应力和张力； * 对晶圆表面进行图像分析； * 测量图案化晶圆或非图案化的晶圆； * 具有太阳能电池的量子效率测量选项供选择 多功能翘曲度测量仪配件参数： × 翘曲度测量范围：1-20微米； * 重复精度： 百分之0.5 （1 sigma) * 给出结果：曲率半径,晶圆弯曲高度，翘曲度，测量日期和时间； * RMS粗糙度mapping: 0.5-20A （可选项）； * 光源：根据用户的应用而配备不同光源； * 探测器：高分辨率探测器阵列并配备亚像素软件；

在线水分测量仪配件是德国高灵敏度水分测定仪，它采用德国高灵敏度光学水分传感器，非常适合测量粉末，颗粒，浆料,糊状物，膏剂等多种材料在内的多种样品的水分含量。在线水分测量仪配件特色直接测量样品，测量速度快，测量精度高，测量可靠性强，全面超越目前现存的NIR光谱或微波传感水分含量传感器产品，具有德国专利的光学水分传感器清洗技术，完全清洁光学传感器探头，解决了直接测量的光学传感器污染难题。在线水分测量仪配件特点直接深入样品非接触式光学测量LED显示技术确保长寿命高精度光学探头在线测量德国全固态设计结构，超级耐用无需耗材，使用成本低无需样品准备，直接测量，节省时间无需售后服务在线水分测量仪配件参数测量原理：近红外反射测量范围：0-90%水分含量测量精度：+/-0.1%测量时间：2秒测量距离：10-300mm 或者侵入式测量测量点尺寸：高达10cm光源：红外LED光源收集器：光电二极管工作温度要求：5-45摄氏度工作电力要求：24VDC， 0.2A，信号输出：0...10V或4...20mA外壳材料：IP65外形尺寸：300x200x160mm重量：2.8kg

尺寸100mmx152mm(4inx6in)；设计遵循ISO-16067-1标准。测试卡包括兰多尔特环，字母数字分辨率和倾斜的侧图；灰阶补丁、水平，垂直和倾斜郎奇模块（6-40c/mm），再加上应用T-100数字电子像素的目标。外形尺寸：152.4x152.4mm（6x6"）Size 100mm x 152mm (4in x 6in) Designed to ISO-16067-1 specifications. Includes Landolt Ring, alphanumeric resolution and slant edge charts gray step patches, horizontal, vertical and slanted ronchi patterns (6 - 40 c/mm) plus the APPLIED T-100 Digital Electronic Pixel target.Overall Size: 152.4 x 152.4 mm (6 x 6in)1、厂家货源正品 官方直售，公司生产周期短，出厂严格检测，货品品质保障，可通过国家计量院计量。2、关于尺码 机身和包装尺寸为手动测量，由于测量工具和测量方法不同的因素，会存在1cm误差，但是不用影响运输和使用。3、关于颜色 本店产品都是实拍图片，但是由于不同显示器分辨不同以及色温和对比度差异有所不同。 4、关于客服 可以通过阿里旺旺随时联系我们，如果旺旺回复不及时，也可以拨打我们的热线电话 陈工：13310057372（技术与销售一体，直达客户需求）5、关于售后 我们将提供完整的售后服务，包括15天退货，正品保证，交期保障等等。6、关于发货本店根据货物及客户需求，尽可能选择快捷方便的物流运输服务，一般情况发顺丰快递！

&bull 光谱平坦&bull 性价比高&bull 可叠加获得各种光密度值通用规格入射角 (°):0 基底:Float Glass涂层:Surface 1: Inconel表面质量:80-50厚度 (mm):1.60 Nominal阻断波长范围 (nm):400 - 700尺寸容差 (mm):±0.5有效孔径 (%):80注意 :Optical density values are average over specified blocking wavelength range.表面平整度 (P-V):4 - 6λ产品描述这种滤光片在整个表面其光密度值为常量，透射反射比随着所选择的不同光密度参数不同而变化，层叠起来的话，总的光密度值是每个滤光片光密度之和。ND（中性密度）滤光片主要用于在整个光谱范围内衰减光强度，通常用在激光器和光度计上，有时侯光强过大有可能会损坏仪器或导致精度下降。朝向反射镜面对着光源在 0 °入射角.光密度值运算时遵循加法关系；比如，由一个 0.6 光密度和一个 0.9 光密度的两个滤光片叠加而成的滤光片的光密度值为 1.5。透过率和光密度之间有如下方成的联系：透过率=10-光密度 X 100=透过率百分值。请注意: 低光密度滤光片（0.1、0.15 和 0.2 外径）镀有薄薄的铬镍合金镀膜，其性能可能会随着时间的推移而发生变化。为了延长这些滤光片的使用寿命，我们建议使用非接触式清洁方法（如压缩空气），并避免在潮湿的环境中使用这些滤光片以防止氧化。使用溶剂等接触式清洁方法会损坏涂层，导致产品将不再符合广告宣传的规格。请注意: 由于供应链的问题，我们的套装可能会用其他的包装方案来代替木箱交货。如有任何问题，请联系我们。反射式中性密度滤光片成套件反射式中性密度滤光片成套件反射式中性密度滤光片成套组可选 8 到 14 种光密度值。其中 8 个滤光片包括最常用的密度值，如 0.3, 0.5, 1.0, 1.3, 1.5, 2.0, 2.5, 和 3.0。这套组件中的 14 个滤光片包括所有的可用到的密度值，除了 3.0。本品可用于测量精密系统的光密度。如果有批量的话，我们可根据客户的要求为您提供 OEM 加工。 订购信息Dia. (mm)尺寸 (mm)光密度 OD（平均）厚度 (mm)透射率 (%) 产品编码12.50 -0.1 1.60 Nominal79.00 64-125 12.50 -0.15 1.60 Nominal70.00 64-12612.50 -0.2 1.60 Nominal63.00 64-12712.50 -0.3 1.60 Nominal50.00 46-13112.50 -0.4 1.60 Nominal40.00 64-12812.50 -0.5 1.60Nominal32.00 46-13212.50 -0.6 1.60 Nominal25.00 49-07112.50 -0.7 1.60 Nominal20.00 64-13012.50 -0.9 1.60 Nominal12.5 49-07412.50 -1.0 1.60 Nominal10.00 46-13312.50 -1.3 1.60 Nominal5.00 46-13412.50 -1.5 1.60 Nominal3.2 46-13512.50 -2.0 1.60 Nominal1.00 46-13612.50 -2.5 1.60 Nominal0.3 46-13712.50 -3.0 1.60 Nominal 0.1 46-13825.00 -0.1 1.60 Nominal79.00 64-13125.00 -0.15 1.60 Nominal70.00 64-13225.00 -0.2 1.60 Nominal63.00 64-13325.00 -0.3 1.60 Nominal50.00 30-93325.00 -0.4 1.60 Nominal40.00 64-13425.00 -0.5 1.60 Nominal32.00 30-93425.00 -0.6 1.60 Nominal25.00 49-07225.00 -0.7 1.60 Nominal 20.00 64-13625.00 -0.9 1.60 Nominal12.5 49-07525.00 -1.0 1.60 Nominal10.00 30-93525.00 -1.3 1.60 Nominal5.00 30-93625.00 -1.5 1.60 Nominal3.2 30-93725.00 -2.0 1.60 Nominal1.00 30-93825.00 - 2.5 1.60 Nominal0.3 43-81125.00 -3.0 1.60 Nominal0.1 43-812-50.0 x 50.0 0.1 1.60 Nominal79.00 64-137-50.0 x 50.0 0.15 1.60 Nominal70.00 64-138-50.0 x 50.0 0.2 1.60 Nominal63.00 64-139-50.0 x 50.0 0.3 1.60 Nominal50.00 43-813-50.0 x 50.0 0.4 1.60 Nominal40.00 64-140- 50.0 x 50.0 0.5 1.60 Nominal32.00 43-814-50.0 x 50.0 0.6 1.60 Nominal25.00 49-073-50.0 x 50.0 0.7 1.60 Nominal20.00 64-142-50.0 x 50.0 0.9 1.60 Nominal12.5 49-076-50.0 x 50.0 1.0 1.60 Nominal10.00 43-815-50.0 x 50.0 1.3 1.60 Nominal5.00 46-123-50.0 x 50.0 1.5 1.60 Nominal3.2 46-124 -50.0 x 50.0 2.0 1.60 Nominal1.00 43-816-50.0 x 50.0 2.5 1.60 Nominal0.3 46-125-50.0 x 50.0 3.0 1.60 Nominal0.1 46-126

&bull 反射特定的颜色而透射其余的可见光谱&bull 比较适合色彩分离应用&bull 高精度 N-BK7 基板通用规格入射角 (°):45.00基底:N-BK7涂层:Traditional Coated表面质量:60-40厚度容差 (mm):±0.20透射率 (%) :90.00波长容差 (nm):±15平行度（弧分）:1尺寸容差 (mm):±0.25有效孔径 (%):90.00涂层规格:Surface 1: Multi-Layer Dichroic Surface 2: Single Layer MgF2表面平整度 (P-V):λ/4产品描述反射式二向色滤光片可用于 45°入射，可反射特定的波长而透射其余的可见光。爱特蒙特光学的反射式二向色滤光片比其它公司的同类产品性能更优越，基体材料质量更高。在特定波长处反射率超过 98%, 其余波段超过 90%。订购信息反射波长 (nm)传输波长 (nm)Dia. (mm)尺寸 (mm)颜色起始响应波长 (nm)产品 编码640 - 750400 - 59512.50-Red 615.0047-263640 - 750400 - 59525.00-Red615.0047-266640 - 750400 - 595-35.0 x 35.0Red615.0049-471640 - 750400 - 595-50.0 x 50.0Red615.0047-948520 - 550600 - 80012.50-Green-47-265520 - 550 600 - 80025.00-Green-47-268520 - 550600 - 800-35.0 x 35.0Green-49-473520 - 550600 - 800-50.0 x 50.0Green-47-950400 - 475530 - 80012.50-Blue-47-264400 - 475530 - 80025.00- Blue-47-267400 - 475530 - 800-35.0 x 35.0Blue-49-472400 - 475530 - 800-50.0 x 50.0Blue-47-949400 - 565625 - 72512.50-Cyan-66-242400 - 565625 - 72525.00-Cyan-66-245 400 - 565625 - 725-35.0 x 35.0Cyan-66-248400 - 565625 - 725-50.0 x 50.0Cyan-66-251550 - 725400 - 49512.50-Yellow-66-243550 - 725400 - 49525.00-Yellow-66-246550 - 725400 - 495- 35.0 x 35.0Yellow-66-249550 - 725400 - 495 -50.0 x 50.0Yellow-66-252400 - 465 & 635 - 725520 - 58012.50-Magenta605.0066-244400 - 465 & 635 - 725520 - 58025.00-Magenta605.0066-247400 - 465 & 635 & 725520 - 580-35.0 x 35.0Magenta605.0066-250400 - 465 & 635 - 725520 - 580-50.0 x 50.0Magenta605.0066-253

镜面反射组件（7201#）为FTIR红外光谱仪提供80度的镜面反射角,是理想的红外镜面反射附件.镜面反射组件功能特点镜面反射是分析透明薄膜的一种主要技术, 使用常见的透射光谱技术测量透明薄膜,透明薄膜常常发出微弱的光谱。主要应用是反射衬底上的表面镀膜,薄膜厚度测量,反射系数测量。实际应用决定入射角的选择. 30度的入射角用于测量比较常见的样品, 而且这些样品的薄膜厚度在微米量级。对于纳米厚度量级的薄膜,80度的入射角比较合理。如果待测薄膜的厚度未知, 那么比较适合选用, 它的可变角度范围为30-85度, 适合全部镜面反射的分析。这些附件都配有参考镜片,帮助用户获取背景光谱。,这些附件的设计都注意消除杂散光保证最小的能力损失。如果使用线网型偏振片,灵敏度还能进一步提高.本镜面反射组件和红外镜面反射附件仅仅提供80度的镜面反射角,. 30度和可变角度的附件可以另外购买.Specular Reflectance is a technique for analyzing transparent films which usually yield weak spectra by ordinary transmission techniques. Applications include surface coatings on reflecting substrates film thickness measurements by interference fringes and reflectivity coefficient determinations of metals. The application is the determining factor when deciding which angle of incidence should be selected. A 30 degree angle of incidence is normally chosen for more routine samples which have coating thicknesses in the micrometer range.镜面反射组件可选附件: 镜面反射附件反射组件 （PartNo. #9000 ）该红外镜面反射附件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片. 镜面反射附件,镜面反射组件,镜面反射光谱仪,红外光谱镜面反射,货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统镜面反射组件组合型HATR Part No #9110 组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 红外镜面反射附件由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 红外镜面反射附件提供了一个1.6mm的样品接口，配备了专门设计的组合秘诀珠，冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.

SA-Stage-RT透反射测量支架 关键词：反射/透射/漫反射光谱 1 产品简介SA-Stage-RT透反射测量支架是一个新型的，能满足透射和反射测量的采样支架。适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料等一类的材料。SA-Stage-RT与如海光电的光纤光谱仪、光源、积分球有多种组合方式。可以同时满足客户对于反射光谱测量和透射光谱测量的需求。 2 产品功能示意图3 产品参数产品参数SA-Stage-RT底座尺寸φ150mm样品区域尺寸宽度＜100mm样品通光口径（透射测量）直径10mm调节高度~150mm（其他长度可以定制）准直镜波长范围200~2500nm台体材料阳极氧化铝反射积分球用于连接38毫米积分球（另外选配）用途 专为透反射光纤测量而设计，能有效固定光纤，防止因抖动等人为因素影响检测效果

高斯反射镜是一种可变反射率反射镜,也是一种梯度反射率镜,Gaussian mirror, 这种高斯反射镜可以有效改善激光光束质量。高斯反射镜和变反射率镜的反射率是位置的函数，镜片反射率随着镜片上位置不同而不同。高斯反射镜能够在不稳腔中提供更加的激光模式，控制实现基模振荡而消除高阶模。高斯反射镜和梯度反射率镜能够改善输出激光的光束质量，特别是在低放大倍率情况下这种光束质量的改变更为明显。高斯反射镜提供的锥形反射率分布可以减少光场分布中的振荡，从而减少高功率激光应用中的光学损伤。高斯反射镜和变反射率镜典型的反射率分布是镜片中心的反射率最大，反射率从镜片中心到边缘依次按函数关系减低。 高斯反射镜和梯度反射率镜参数变反射率镜材料：熔炉石英，UVFS或BK7梯度反射率镜类型：平/平镜片, PCV, PCX高斯反射镜直径：19.05mm +0.0, -0.15 mm变反射率镜厚度：6 mm +/-0.1 mm梯度反射率镜平整度：&lambda /10高斯反射镜光洁度：20-10 scratch & dig变反射率镜平行度：10 arc sec梯度反射率镜净孔径：90%变反射率镜镀膜损伤阈值：10 J/cm2 @ 1064 nm for 10 ns pulses高斯反射镜,变反射率镜,梯度反射率镜询问服务：请直接在如下的询问栏里填写您的要求，然后复制后Email给我们，您会收到及时的报价回复。 Material 材料 Dimensions, mm尺寸 Thickness, mm厚度 Type类型PCXPCVFlat/FlatMeniscus Radius of Curvature, mm 曲率半径 Center wavelength, nm 中心波长 Wedge 倒角 Ro, % 中心反射率 Wm, mm Gaussian order, k 高斯级数 Quantity

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

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IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要 通用衰减全反射 (UATR) 附件 适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计 通用ATR是一款优秀的附件，可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中，通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/One Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住，该附件即随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR) 金刚石/硒化 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050 配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051 配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052 金刚石/KRS-5 UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053 Ge/Ge UATR 配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054 注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持 UATR附件用备用/替换件顶板和耗材 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241 UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242 UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046 UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048 UATR 0.5mm套管 1 L1202049 UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050 UATR 锥形套管 1 L1201980 UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023 UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024 Miracle ATR附件 单反射ATR附件用来分析高吸收固体，半流体，和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点，它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。 固体材料能够和晶体接触良好，从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳，挥发物品盖，清洁工具和一系列的晶体材料。 Miracle单反射ATR 金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239 ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107 ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126 GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127 ZNSE适用于Spectrum GX L1272103 GE适用于Spectrum GX L1272104 漫反射附件 是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来 Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声，通量和污染情况的检查，当附件插入时或得到指令时，系统就会随即启动进行检查 Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法，样品位置都能被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作。 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 配备多功能样品支架，2个大容量样品杯和2个微量样品杯，25个金属镀层研磨垫，25个金属镀层带支架的研磨杵，和一瓶30g KBr粉末。 用于 Spectrum 400/100/One L1200351 漫反射附件耗材 大容量杯 1 L1201654 微量杯 1 L1201655 多功能样品支架 1 L1201865 金属镀层研磨垫 100 L1275106 金属镀层研磨杵 100 L1275105 硅碳磨研磨垫 100 L1271021 金刚石研磨杵 100 L1275102 水平ATR附件 PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理，能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。 特色和优势 Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时，HATR附件及其序列号就能立即被识别出来，并且系统适应性检查会随即启动 Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体，光路都能够被自动优化 Ø 零校正，零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住，该附件就随时可用，无需任何校正操作 Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分 Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型) 与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。 适用于 Spectrum 400/100/One L1200351 HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311 HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312 HATR附件用备用/替换件顶板和耗材 HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313 HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314 HATR Ge 45° 平板 1 L1200333 HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334 HATR 压力臂套件 1 L1200321 粉末压片机 1 L1201944 挥发物盖 1 L1205436

SA-Stage-C 单点反射支架SA-Stage-C单点反射测量支架是一个光纤探头支架，用于厚度达150mm的光学层和其它基底的反射测量。这一反射光纤探头支架适于固定直径达6.35mm的反射光纤探头和其它取样设备，可以在一个不锈钢支柱上上下滑行，调节高度可达80mm。规格 SA-Stage-C尺寸：Φ 150mm×厚10mm高度：垂直可调高度80mm材质：铝合金表面处理：亚光发黑适配产品： QR系列反射光纤用途：专为反射光纤测量而设计，能有效固定光纤探头，防止因抖动等人为因素影响检测效果。

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

R3 反射光谱测量系统 多角度反射率光谱测量 反射是光谱测量的基本手段，实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱数据，反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 复享科技为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器，可以搭建个性化的光谱测量系统。复享科技R3反射光谱测量系统可以配置1个或者2个支架，用于固体和粉末样品的反射率测量。R3光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源，具备高灵活性和强实用性。　 更多优惠信息： http://www.ideaoptics.com/Products/PContent.aspx?pd=R3应用案例典型光谱测量系统示意图产品特点1、丰富的模块化附件方便用户自由组合配置。2、方便用户标准化测试方案，优化实验方案3、通过固定光纤，探头，光源和光谱仪减少用户占用资源。更多信息访问：http://www.ideaoptics.com/.clear{ clear:both } .right{ width:717px } .shang{ margin-bottom:20px font-size:12px } .shang tr td{ padding:10px 0px line-height:24px } a:link { text-decoration: none } a:visited { text-decoration: none } a:hover { text-decoration: none } a:active { text-decoration: none } #nav li{ font-size:12px } /*New Nav Style*/ #nav_wrap { width:710px margin:20px auto } #nav{ background:url(images/nav_bg.gif) repeat-x height:39px position:relative width:710px margin:0px auto } #nav .l{ background:url(images/navnbg.gif) no-repeat 0px 0px width:2px float:left} #nav .r{ background:url(images/navnbg.gif) no-repeat -4px 0px width:2px float:right} #nav .bt_qnav { float:right } #nav .bt_qnav a{ width:31px line-height:39px display:block padding:9px 2px 0 0 } #nav .c{ float:left margin:0 padding:0} #nav li { float:left list-style:none } #nav li .v a{ width:100px line-height:33px text-align:center display:block color:#FFF background:url(images/navnbg.gif) no-repeat -87px 6px font-family:"Microsoft Yahei" } #nav li .v a:hover,#nav li .v .sele{background:url(images/navnbg.gif) no-repeat 0px -52px color:#116406 line-height:42px font-size:14px} #nav .kind_menu { line-height:24px top:39px position:absolute color:#656565 border:1px solid #cccccc width:708px left:0px font-size:12px } #nav .kind_menu tr td { padding:0px 10px font-size:12px } #nav .kind_menu table{color:#656565 margin:20px auto display:block font-family:"宋体" left:0px } #nav .kind_menu span { font-size:10px color:#cecece line-height:30px *line-height:26px float:left } #tmenu{ margin:20px } .bt{ color:#0099FF font-size:14px font-weight:bold } .yi,.er,.san,.si,.wu,.liu{ background-color:#e9f4fe padding:0px 10px height:80px margin-bottom:15px line-height:20px } .clear{ clear:both } .xbt{ background-color:#ecf6ff padding:5px 10px margin-bottom:15px } .xbt a{font-size:14px font-weight:bold color:#333333 width:80px border-right:1px solid #cccccc text-align:center float:left } .xbt a:hover{color:#0066FF } .cpgs,.xlxh,.yyaj,.cptd,.gjjs,.cpxn{ display:block border-bottom:1px dashed #cccccc font-size:12px font-weight:bold color:#FF6600 padding:10px margin-bottom:10px }

反射模块可以测量样品的反射系数。配合根据干涉现象原理设计的反射模块，LabPro Plus软件的厚度模式能测量微米级薄膜的厚度。

WR-D97系列 漫反射白板WR系列漫反射白板采用PTFE制成，其表面为朗伯漫反射表面。WR系列外壳材料为阳极氧化铝，具有防水、稳定性好的特性，在深紫外线应用下也没问题。? 在250-1500nm波长范围，反射率大于97%；? 在800-2200nm波长范围，反射率大于95%。WR系列的反射面直径分别为30mm、50mm、100mm。反射材料封装在一个小盒内，并有带螺纹的盖子以作保护。产品特点稳 定：中性好，对各波长都有同样的高光谱反射比；平整均匀的反射表面，各点的反射比相同实 用：优质的金属保护外壳，减少漫反射白板边缘损耗绝 配：高密度反射探头的最佳搭档，随时随地校正反射精准度规 格WR-30-DWR-30-D-STD保护壳材质金属铝盒金属铝盒外壳直径(mm)4040内部直径(mm)3030厚度(mm)1717波段范围(nm)350~2000350~2000反射率97%97%校准文件——CNAS

BR-M5-30低镜面漫反射吸收板BR-M5-30 低镜面漫反射吸收板（低镜面反射率白板，反射参考板，标准铝镜）是一个标准的中性滤光片。可用来测量感光底层、光涂层、机加金属、半导体材料等材料的反射率。BR-M5-30感光底层直径为30mm，安置在一个坚硬的40×12mm大小的蓝色阳极氧化铝盒内并拧上盖作为保护。参数规格BR-M5-30外部尺寸(mm)40×12（厚度）内部尺寸(mm)30×5（厚度）重量(g)30光谱范围(nm)250 ~ 2000外壳材质铝 反射率5% 使用须知? 使用光谱仪时，BR-M5-30波段范围限于200～1100 nm? 用BR-M5-30将低反射率基准设为～5%? 中性滤光片的材料虽耐用，实际使用时请用户备加小心，以确保标准面不被破坏。? 清理BR-M5-30表面时，先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土，并用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。该法操作简单，溶剂能均匀挥发后，确保镜头表面不遗留拖尾或污点。

NIRS 99 % 反射率和波长标准板，用于工艺进程设备，直径 1 英寸NIRS 99% reflection and wavelength standard process, 1 inch diameter订货号： 6.7450.070NIRS 99％ 反射率和波长标准板，用于工艺进程设备，探针直径为 1 英寸

透射反射探头是最新的单程透射探头和双程透射反射光纤探头，与任何光谱仪和光度计兼容使用，透射反射探头用于工业和实验室的反应监测。透射反射探头功能应用 可以在从紫外到中红外光谱范围内使用， 用于液体中的远距离透射光谱。灵活强大，可应用在恶劣环境下的工业应用，如反应监测，PAT，结晶生成和筛选， 用于生物制药分析和生物燃料的开发和生产。

WR-D97-30系列 漫反射白板WR-D97-30系列漫反射白板（漫反射标准参考板，漫反射标准参照板，标准白板，漫反射标准板）采用PTFE制成，其表面为朗伯漫反射表面。WR系列外壳材料为阳极氧化铝，具有防水、稳定性好的特性，在深紫外线应用下也没问题。? 在250-1500nm波长范围，反射率大于97%；? 在800-2200nm波长范围，反射率大于95%。WR系列的反射面直径分别为30mm、50mm、100mm。反射材料封装在一个小盒内，并有带螺纹的盖子以作保护。产品特点稳 定：中性好，对各波长都有同样的高光谱反射比；平整均匀的反射表面，各点的反射比相同实 用：优质的金属保护外壳，减少漫反射白板边缘损耗绝 配：高密度反射探头的最佳搭档，随时随地校正反射精准度规 格WR-30-DWR-30-D-STD保护壳材质金属铝盒金属铝盒内部直径(mm)3030厚度(mm)2020波段范围(nm)350~2000350~2000反射率97%97%校准文件——CNAS

型号规格：TL011-1000品牌：PIKE30度Spec&trade 镜反射附件适用于用镜反射法测量薄膜样品。样品仅简单地铺在附件样品罩上，即可快速得到红外光谱。30度角镜反射附件包括3/8",1/4"和3/16"样品罩。得到的高质量光谱即可用于分析涂层结构又可用于测量涂层厚度。光路设计简单有效，光通量大。通用型设计，可直接用于Bruker、thermo、PE、Varian、Shimadzu以及国产红外光谱仪上。

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

汲取式光纤探针对于过程中的实时在线样品检测和实验室应用特别有用。在一个液态样品不能用比色皿测量的情况下，汲取式光纤探针附件能够测量其吸光度和透过率。反射式光纤探针结合S-3100使用可以生成小的光感系统以测量固体表面的反射。