反射式吸收仪

请问反射式衍射光栅的色散原理是什么？谢谢

反射式X射线管（侧窗型）又采用正高压工作，也有采用负高压工作，这两种方式各有什么利弊？其阳极倾斜的角度好像有一个范围，是多少？为什么要限制在此范围内？

[font=Calibri]PIN[font=宋体]二极管开关是最常用的开关二极管，通常由三个引脚组成，其中两个引脚用于控制电流开关，另一个引脚用作电路的接地装置。[/font][font=Calibri]PIN[/font][font=宋体]二极管开关的优点在于其速度快、低阻抗、灵敏度高等优点，可以在高频下快速控制电路，从而使[/font][/font][font=宋体]电源[/font][font=Calibri][font=宋体]电路的响应速度更快。[/font][/font][font=Calibri][font=宋体]反射型[/font]PIN[font=宋体]二极管开关是指具有至少一个反射表面的[/font][font=Calibri]PIN[/font][font=宋体]二极管开关。光学设备中的[/font][/font][url=https://www.leadwaytk.com/article/5271.html]MITEQ[/url][font=Calibri][font=宋体]反射式[/font][font=Calibri]PIN[/font][font=宋体]二极管开关具有转向光路、缩减仪器体积、改变图像的正反关系等等。[/font][/font]

[b]一、产品概述[/b] 品牌与制造商：该产品由德国MAXOS品牌生产，该品牌以其高品质的玻璃视镜和液位计产品而知名，广泛应用于化工、制药、食品等工业领域。 型号与标准：DIN 7081-10是该产品的标准型号，遵循DIN 7081国际标准，确保产品的质量和性能符合行业要求。 特殊硬化处理：该视镜经过特殊硬化处理，提高了抗压强度和抗冲击性能，延长了使用寿命，使其能够在恶劣的工作环境中保持稳定的性能。 反射式设计：反射式长视镜具有特定的光学设计，能够反射光线，提供清晰的观察视野，特别适用于需要观察内部情况但光线条件不佳的环境。 [b]二、产品特性[/b] [list=1][*] [font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]材质[/font]：采用高硼硅酸盐玻璃制成，这种材料具有优异的化学耐蚀性、热稳定性和机械强度，能够抵抗温度变化和化学腐蚀。 [*] [font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]透光率与清晰度[/font]：高透光率和良好的清晰度使得观察者可以清晰地看到容器内部的介质情况。 [*] [font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]耐高温与耐高压[/font]：耐高温性能使得该视镜能够在高达一定温度（如280℃）的环境中稳定工作；耐高压性能则确保其在高压容器中的安全性。 [*] [font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]规格与尺寸[/font]：具体尺寸因型号而异，但DIN 7081系列通常提供多种规格和尺寸以满足不同工业应用的需求。 [/list] [b]三、应用领域[/b] 德国MAXOS DIN 7081-10特殊硬化处理反射式长视镜广泛应用于以下领域： [list][*][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]化工[/font]：用于观察反应釜、储罐等化工设备内部的介质情况。[*][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]制药[/font]：在制药过程中监控药液、气体等介质的流动和状态。[*][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]食品[/font]：食品加工和储存过程中，观察食品原料和成品的状况。[*][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]石油[/font]：在石油开采、加工和储存过程中，监测油品的流动和状态。[/list] [b]四、选购建议[/b] 在选购德国MAXOS DIN 7081-10特殊硬化处理反射式长视镜时，建议考虑以下因素： [list][*][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]工作环境[/font]：包括介质的性质（如温度、压力、腐蚀性）、容器的尺寸和形状等。[*][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]观察需求[/font]：确定所需的观察距离和角度，以及是否需要特殊的观察效果（如反射或透明）。[*][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]安全性能[/font]：考虑视镜的抗压强度、抗冲击性能和耐温性能，以确保在恶劣的工作环境中也能保持稳定的性能。[*][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &]成本效益[/font]：根据预算和实际需求选择合适的规格和型号，以实现最佳的成本效益。[/list] 请注意，由于产品规格和价格可能随市场变化而变动，建议在购买前与供应商或制造商直接联系以获取最准确的信息。

用于样品表面、金属板上涂层薄膜的红外光谱测定。甚至用于单分子层的解析。入射光经反射镜照射到样品表面，其反射光再经另一反射镜进入仪器。反射吸收测定的原理是，只有与基板垂直的偶极矩变化可以被选择性地检测。

请问红外光谱仪，吸收光谱很容易理解透射， 反射 呢？他们各自的原理是什么？谢谢

用积分球漫反射作材料的紫外-可见吸收,获得的R-wavelength(反射率-波长曲线),如何将其变为absorbence-wavelength(吸光度-波长曲线),请知道这方面公式的,请赐教!

求教_如何测量薄膜的绝对红外吸收（1-反射比-透射比）

[size=4]我做的ZnO产物是纳米棒的团簇，棒的直径约150nm，长度为2um左右请问我该测的是紫外的吸收还是反射啊？吸收是在石英比色皿中用乙醇形成悬浊液测的，但是有人说我测的不对啊说是我的样品太大，超过了半波长。但是我这样测的结果和文献比较也差不多啊。为什么我的不对呢，为什么一定要测反射才行呢？望高手给解答一下，谢谢啦，不胜感激！[/size]

怎么由薄膜的反射谱得到薄膜的吸收系数？

吸收光谱，透射光谱，反射光谱三者的区别与联系是什么？

火焰[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱仪[/color][/url]与等离子体反射光谱仪各有何优劣？

各位老师，这种类型的光路有见过吗？全反射类型。[img=,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/02/202002201831308676_2882_4104625_3.png[/img]

求某样品的raman峰，当激光打在样品上，而对于一定厚度的样品，由于样品的吸收、反射、散射等其他因素，光只能前进到一定的厚度，另外一部分厚度的样品可能含有其它的物质就检测不出来了。会出现这种情况吗？如果出现有什么办法解决吗？

怎么由薄膜的反射谱得到薄膜的吸收系数？求解答，求不灌水，求实事求是，我真的着急，真的不明白了，50万的设备，测得东西完全不对路数。

材料是金属：304不锈钢，钛，铝工艺：用一束激光打在金属表面，一部分光被金属表面反射回来，一部分会被表面吸收。。。要测得就是反射和吸收的光谱。

在玻璃上制备了一层二氧化钛薄膜，现在想测试薄膜的光吸收和反射！目前有的仪器是Lambda 950，第一次接触，具体操作不会。还有就是：测试之前要扫基线，是不是要放一块玻璃来扫基线？另外薄膜的大小对测试是不是有影响，我用的1*1cm2的薄膜，用空白玻璃扫了下基线，测出来的曲线和文献上有差别，不知道是什么原因，恳请高手指点一二，谢谢了！！！急~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~

如题，在线检测的采集器精确固定在样品上方，距离样品1-2厘米的位置。被测样品会平稳的运动，一分钟在10米到1000米之间的速度运动。采集的样品是直径为4厘米左右的圆形区域。光源呈45度照射到样品。反射光0度从光纤准直镜接收到光谱仪。高速取样在电脑显示色彩空间数据。样品不动的情况下保证数值的重复性误差很精确原理只能是这样来采集光谱。其他的办法实在是找不到了。看起来这种方法好实现。但是会存在很多很多问题。1.光源，传统的卤素灯光源能量很稳定，但是用在非接触测量时候会出现能量不够，长时间工作灯的寿命降低。一般都是几千个小时。在线检测用一般一开都是N月。2.校正，校正的前提是保证光源在绝对稳定状态下才能有效的校正白板反射数值。卤素灯排除后就实在没办法让光谱仪长时间使用而校正的问题。3.色彩数据，这个数据一般不会和实验室做对比，但是用什么方法来准确反映出颜色偏向也是个难题如果用闪光式的脉冲氙灯来做光源的话。由于氙灯的特性。每次闪光的能量又不能控制。实在是找不到别的有效的办法来代替光源。如果使用氙灯的话。能量值能稳定的控制在很精确。伴随光谱仪还有采集时间和时序的问题。种种问题。实在得不到有效解决。但是也真实的见过真有这种类型的测色仪。他们是如何做到的

[b]紫外分光光度计 怎么从测反射率设置到测试吸收谱。？[/b]

各位老师好，小弟在网上看到这样一个光路，但是自己模拟一直实现不了，想问下哪位老师有见过这种，谢谢[img=,690,517]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/02/202002201800424515_4764_4104625_3.png[/img]

在测量光催化剂能隙的时候，如何通过紫外可见反射光谱图确定 光催化剂的 吸收波长阈值λg（吸收边）？我看网上都说是截止法，是软件直接可以的出来吗？还是手动作图？

各位老师好，我曾经在岛津UV3600机器上测得漫反射光谱一个，但是现在需要转换为吸收光谱。网上能找到的UVProbe软件都是不完全版，转换后数据丢失严重。哪位老师有安装正版的能不能麻烦转换一下，文件见附件。非常感谢

最近纠结漫反射的问题，查了好些资料，昨晚终于在一本名叫《近代傅里叶变换红外光谱技术及应用》上卷中看到了一点关于漫反射的介绍，个人觉得不错，就把其中的一些知识誊抄上来，希望有更多信息的版友继续跟进。漫反射原理：当光线照射到样品上，一部分光在样品表面产生镜面反射，另一部分光经折射进入样品内部，在样品内部与样品分子作用而发生反射、折射、散射和吸收现象，最后光线由样品表面辐射出来，辐射出来的光由于散向空间各个方向而被称为漫反射。由于漫反射光曾进入样品内部与样品分子发生作用，因此漫反射光将载有样品分子的结构信息，这是漫反射光谱技术工作的基础。漫反射特点：漫反射与镜面反射共存；漫反射光强度弱；漫反射吸收光谱图与透射法测得吸收光谱图形状基本一致。漫反射光谱的测量：漫反射技术主要用于测量粉末样品和混浊的液体。对粉末样品几乎不需要样品制备，由于上述优点，在煤、矿等难于用压片法测量的样品的IR研究中得到广泛应用。将待测样品在合适的基质中稀释，能够有效地消除镜面反射和避免产生吸收峰饱和现象，从而获得较高质量的漫反射谱。稀释基质常用KCl和KBr等，比例在1：20至1：10之间。漫反射的定量分析：利用K-M方程可以实现漫反射的定量研究，具体公式为：f(R∞)=（1-R∞）2/2R∞=K/S；R∞代表样品层无限厚时的反射率（实际上几个毫米就能满足），K为样品的吸光系数，S为样品的散射系数，由于K与粉末样品浓度C呈正比，由此有f(R∞)与C呈正比，可以进行定量分析。大家对于K-M方程有何看法，此处为什么不用Beer-Lamber定律，他们有何关联呢？http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/brow/em09511.gif

转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿（TXRF）分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术，它突出的优点是检出限低（pg、ng/mL 级以下）、用样量少（Μl、ng级）、准确高度（可用内标法）、简便、快速，而且要进行无损分析，成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段，在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看，与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较，TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内，能谱仪（XRF）和波谱仪（WXRF）在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面，都明显比TXRF差。在表面分析领域内，尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中，TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理：TXRF利用全反射技术，会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏率，避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应，大大缩减了定量分析的工作量和工作时间，同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限（MDL）可由公式计算： (2)这里， 是木底计数率，t为测量计数时间，M为被测量元素质量，l代表被测量元素产生的特征峰净计数率，S=I/M就是系统灵敏度，由公式可以看出，提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处，因而MDL很低。