分布光测试仪

光谱角分布测量系统■ 全波段光谱透过率测量，反射角分布测量■ 全波段光谱反射率测量，反射角分布测量■ 波长范围:200nm-IR■ 不同的光谱范围可能需要不同的光学光路设计结构■ 双层平台独立旋转，重复定位精度0.005度，分辨率0.00125度；■ 样品置于上层旋台，探测器置于下层旋台，样品和探测器可以任意角度工作；■ 台面上放置一个五维调整镜座，可将样品调整到旋台的旋转中心并且垂直于台面■ 功能扩展：测量光栅衍射效率

分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL描述：分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL50-1800是新型A类测角光度计，专为R＆D实验室和产品符合性测试中心实验室而设计，可调节远场光度和色度测量系统，在H，V轴坐标中对汽车LED和其他类型灯具的发光强度分布进行光度测试，分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL适用于汽车，铁路和其他车辆前照灯的快速准确测量，还可用于交通信号灯和机场照明系统的光度表征。可以测量的技术参数包括：发光强度分布，极坐标图，圆锥图，光通量，中心光束强度，相关色温，显色指数，麦克亚当椭圆，角度颜色均匀性，还可选测发光效率，功率因数和温度。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL工作原理：测角仪是一种带有旋转轴的仪器，用于测量光通量和照明设备或光源的发光强度分布。发光强度可通过在固定距离处以不同方向旋转的照明设备进行照度（远场）或照度（近场）测量获得。利用足够的角度步长和范围，可以通过汇总每个测量方向上的所有发光强度来计算照明设备的光通量。根据发光强度分布，可以推断出照明应用的属性，例如横向/纵向等照度曲线或圆锥图。测角仪的类型基本上可以分为1组，2组和3组，也称为A类，B类和C类，它们的区别在于在测量过程中照明设备的旋转方式以及在这种测量过程中获得的光度数据系统。 A类测角仪具有固定的水平轴和垂直于第一轴的移动轴。通过围绕水平轴旋转光源，同时将另一个轴保持在固定位置（旋转vs高度）来进行测量。A类测角仪是表征光束相对有限的汽车照明的理想选择。 B类测角仪具有固定的垂直轴和移动的水平轴。通过围绕垂直轴旋转光源，同时将另一个轴保持在固定位置（高度vs旋转）来进行测量。B类适用于显示器和泛光灯。 C类测角仪是高度专业化的类型，具有固定的垂直轴和移动的水平轴。在C平面或圆锥面上进行测量。C类测角仪与B类相同，只是光源旋转了90°。 国际标准建议将这种类型用于一般照明系统。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL产品亮点： l A类测角仪，配备3个机械化H，V和Z轴以及DUT移动x,y机械安装台l 激光对准系统带有反射镜和系统控制选件，有助于校准系统垂直和水平对准 l 软件界面友好，操作简单l 机电一体化组件，自动化程度高l 可控制和可编程功能，坚固耐用 l 符合相关标准，测量准确可靠 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL应用范围： l 大型LED模块和大型照明设备。 l 符合标准: CIE 121-1996, IESNA LM-75-01 升级选项：l 可选用于测试汽车前照灯的外围设备。 分布光度计-近场分布光度计-配光仪-GL技术参数：CIE 测角仪类型:远场Type A 包含H,V轴和X,Y,Z方向运动DUT移动x,y机械台5轴伺服电机与绝对位置编码器H轴运动：角度范围± 100°,额定转矩555 Nm,速度高达10 °/sH轴分辨率：0.002° H轴再现性：0.05° * (*额定负载时) V轴运动：角度范围± 180°,额定转矩98 Nm,速度高达50°/sV轴分辨率：0.002° V轴再现性：0.05° * (*额定负载时)Z轴运动：线性范围0-800 mm,起重力高达1500NZ轴再现性：70 μmX,Y轴运动：线性范围± 150 mm,速度高达40 mm/sX,Y再现性：70 μmDUT安装板：方形400x400 mm,多个 M6 安装孔最大DUT尺寸：≤ 1800 mm(对称定位)产品尺寸(W x H x D)：810 x 2020 x 1990 mm光轴高度：1350 mm最小房间高度：2600 mm最小房间宽度：4000 mm最大负载：50 kg产品重量：450 kg电源：AC 110-230V, 3000 W控制器：用于所有电机的内部控制器 通过局域网连接PC 制造商远程支持功能 机身设有7英寸液晶触摸显示屏 DUT固定期间可操作所有轴的手动控制器安全性：设备两侧设有紧急停止按钮，可选安全设备包含激光扫描仪或光栏传感器选项：GL Photometer 3.0 LS + Flicker GL Spectis 1.0 LS GL Spectis 4.0

本系统采用固定探测器、旋转被测灯具的方法，来测量被测光源或灯具空间各个方向上的光强分布。主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线。根据测量灯具的要求，该系统可以配置为双立柱B-β测试方案或单立柱C-γ测试方案。 用于LED灯具（半导体照明） 、道路灯具、投光灯具、室内灯具、户外灯具等各种和LED、节能灯、荧光灯、白炽灯、HID灯等各种光源的空间光度分布（即配光曲线）的高精度测试；测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式(*.ies)、CIE文件格式(*.cie)、欧洲Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式，符合国际标准要求，可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。主要参考标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008 灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008 整体式LED 路灯的测量方法 GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters；CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries；CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates；技术支持特性：主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线；采用知名品牌的高转速、高转矩、低噪音、低振动的三相混合式步进电机；具有激光瞄准器，使被测灯具中心与旋转台旋转中心重合；垂直轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；水平轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；角度精度：0.1度，分辨率：0.01度；灯具尺寸：1.2×0.6米；灯具重量：30kg(含夹具) ；灯具供电测量采用4线制：2路10A导电滑环用于供电，2路2A用于测量电压；转台控制线和灯具供电线长度：6米，特殊要求可加长；光度参数：1、高精度恒温探头（恒温点35±1度，恒温精度±0.1度）；2、V(λ)修正精度：CIE标准级（f1’ 0.03） 3、照度测量范围：0.001 lx至200 klx , 5档自动量程 4、测试距离：2米到30米；5、高稳定带遮光光栅的探头支架，高底可调，上下和左右倾角可调；6、光度探头连接线长度：20米（特殊要求可加长）；暗房示意图： 丰富的软件功能：1、控制旋转台旋转，采集灯具的光强分布数据，计算灯具的光度数据及坐标系的转换；2、包括空间光强分布、任意截面上的光强分布曲线（可分别用直角坐标系或极坐标系显示）、空间等光强曲线、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、环带光通量、眩光等级、灯具效率、有效发光角、上射光通比、下射光通比、灯具总光通量、有效光通量、利用系数。3、 导出符合国际标准的灯具文件，可直接的导入照明设计软件，格式说明如下：*.HPG 虹谱光色HPG系列分布光度计测试数据文件格式；*.IES IESNA北美标准格式,包括95版和2002版 *.LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；*.LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；4、根据被测灯的类型，如路灯及室外灯、室内灯或投光灯等，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。HPG1800软件介绍及实景照：图相似

A、系统功能用于LED灯具（半导体照明） 、道路灯具、投光灯具、室内灯具、户外灯具等各种和LED、节能灯、荧光灯、白炽灯、HID灯等各种光源的空间光度分布（即配光曲线）的高精度测试；测量参数包括：空间光强分布、空间等光强曲线、任意截面积上的光强分布曲线（可分别用直角坐标或极坐标系显示）、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、灯具效率、眩光等级、上射光通比、下射光通比、灯具的总光通量、有效光通量、利用系数，以及电参数（功率、功率因数、电压、电流）等。测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式CIE文件格式Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式，符合国际标准要求，可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。B、主要参考标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008整体式LED路灯的测量方法 GB/T 24824-2009普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters；CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries；CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates；C、主要技术指标l 转台参数：1、 主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线；2、 采用知名品牌的高转速、高转矩、低噪音、低振动的三相混合式步进电机；3、 垂直轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；4、 水平轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；5、 角度精度：0.1度，分辨率：0.01度；6、 特殊的激光瞄准装置，方便、准确地安装测试灯具的位置，完全使被测灯具中心与旋转台旋转中心重合；7、 灯具*尺寸：1.3米；（可根据实际情况定制）8、 灯具*重量：50kg(含夹具)；9、 灯具供电测量采用4线制：2路10A导电滑环用于供电，2路2A用于测量电压；10、转台控制线和灯具供电线长度：6米，特殊要求可加长；l 光度参数：1、光度探头精度：一级2、照度测量范围：0.001Lx至1×105 Lx3、角度精度：0.1度4、灯具可绕垂直轴-180°～180°或0°～360°旋转5、灯具可绕水平轴-180°～180°或0°～360°旋转6、灯具的电参数测量精度：0.5级l 丰富的软件功能1、控制旋转台旋转，采集灯具的光强分布数据，计算灯具的光度数据及坐标系的转换；2、包括空间光强分布、任意截面上的光强分布曲线（可分别用直角坐标系或极坐标系显示）、空间等光强曲线、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、环带光通量、眩光等级、灯具效率、有效发光角、上射光通比、下射光通比、灯具总光通量、有效光通量、利用系数。3、导出符合国际标准的灯具文件，可直接的导入照明设计软件，格式说明如下：*GN虹谱光色GN系列分布光度计测试数据文件格式；*IES IESNA北美标准格式,包括95版和2002版 *LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；*CIE CIE国际照明委员会标准格式；4、根据被测灯的类型，如路灯及室外灯、室内灯或投光灯等，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。D、测量原理采用固定探测器、旋转灯具法测量原理。测量灯具安装在两维旋转工作台上，通过激光瞄准器，使灯具的发光中心与旋转工作台的旋转中心重合。当灯具绕垂直轴转动时，与旋转工作台中心处于同一水平高度的探测器测量该水平面上各方向的光强值。当灯具绕水平轴转动时，则探测器测量垂直面上各方向的光强值。垂直轴和水平轴均可在±180°或0°～360°范围内连续旋转。根据测量灯具的要求，该系统可以在C-γ等平面坐标系中测量。当测量得到灯具在各方向上的光强分布数据后，计算机即可计算出其它光度参数。该系统采用以下结构形式应用：1、单立柱结构（C-γ平面坐标系和圆锥面坐标系）主要用于测量路灯、投光灯、面板灯筒灯、工矿灯室内灯具、室外灯具等灯具。安装灯具时，使灯具的发光中心与旋转工作台旋转中心一致。灯具的光轴与旋转工作台的水平轴重合。F、实验室要求1、暗室尺寸：*小要求3米（宽）×2.5米（高）×6-30米（长）2、灯具旋转台和光度探头之间应放置多个光栏隔板，用于阻挡杂散光（根据暗室的尺寸可提供暗室及隔板示意图）；3、整个暗室的墙壁、天花板和地板、中间的光栏隔板都喷涂亚光漆，反射率越低越好；4、计算机系统：电脑1台，打印机 1台机配置要求：Window及WIN7操作系统,留有两个RS232串行口。图相似

Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪 单颗粒气溶胶粒径分布光谱仪Fidas 200是专门为管制空气污染而开发的气溶胶光谱仪。它可以连续分析环境空气中存在的细粉尘颗粒，测量尺寸范围为180 nm–18 μm，并计算排放值PM10和PM2.5，支持法定单位进行监控。同时，仪器计算并记录PM1，PM4，PMtot，颗粒数浓度Cn和粒径分布。因此，仅通过Fidas 200计数和单颗粒测量原理，即可提供有关细尘颗粒的全面信息。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪可用于安装在空调监控站（温度范围5 – 40°C）。Fidas 200、Fidas 200E和Fidas 200S是目前少有的光学单颗粒测量设备，测量设备已获得型式认可，可根据VDI 4202-1、VDI标准、4203-3，EN 12341，EN 14907，EN 16450和欧盟等效性指南GDE同时监控PM10和PM2.5，并通过EN 15267-1和-2标准认证。此外，细粉尘测量设备Fidas 200以及Fidas 200 E和Fidas 200 S也在英国获得型式认可认证和Defra认证，符合“ MCERTS CAMS性能标准”和“ MCERTS（英国颗粒物）。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪利用公认的单颗粒光散射尺寸分析原理，并配备高强度（dp，min = 180 nm），高度稳定的光输出和长寿命的LED光源。可以使用单分散测试气溶胶验证仪器的校准，并在必要时随时方便、快捷地进行调整，即使在现场安装时也是如此。 Fidas 200的采样系统以大约0.3 m3 / h的体积流量运行。它配备符合VDI 2119-4标准的Sigma-2采样头，即使在强风条件下也可以进行代表性采样；还设有一条干燥线，可以防止凝结引起测量误差。干燥线（智能气溶胶干燥系统– IADS）是根据环境空气温度、压力和相对湿度来控制的。这些数据由气象站提供；可选地，还可以提供风速、风向和降水量数据。采样系统中集成用于圆形平面过滤器（直径47毫米）的过滤器支架，从而可以（举例来说）随后对气溶胶成分进行化学分析。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪提供多种通讯选项，允许对系统进行全面的远程控制和维护，并且进行在线数据访问。与系统一起提供的软件可提供用于评估（例如，全面的统计和平均值计算）和测量数据输出的通用选项。 气溶胶传感器是一种光学气溶胶光谱仪，使用Lorenz-Mie单个粒子散射光分析来确定粒径。粒子分别穿过光学限制的测量空间，该测量空间被多色光均匀照射。每个粒子都会产生以85°和95°之间角度检测到的散射光脉冲。基于散射光脉冲的数量确定粒子数量。粒径是从散射光脉冲的水平得出的。精密的光学器件、使用的多色LED的高光输出以及使用对数A / D转换的强大信号处理电子设备，可检测直径低至180 nm的颗粒。举例来说，在道路附近，检测高浓度小颗粒是尤其重要的。 Fidas 200传感器的测量体积使用T孔技术，在光学上进行准确定界，该技术可确定颗粒尺寸而不会出现边界带错误，从而有助于提高尺寸确定精度。强大的数字信号处理功能可以识别并补偿一致的读数（由多个粒子的同时存在引起）。优点： • 根据新的EN要求（EN 15267）进行型式认可和认证 • 连续和同时实时测量多个PM值 • 提供关于颗粒数浓度和粒度分布的其他信息 • 可调时间分辨率从 1 s到24 h • 光源：高稳定性，长寿命的LED • 长使用寿命 • 低维护 • 可以在现场进行外部校验 • 直观且易于操作 • 功能可靠，数据可用性极高（ 99％） • 2台泵并联运行，冗余配置可提高运行安全性 • 连续监视状态，以及在线监视校准 • 轻松进行远程监控、维护和控制 • 通过Palas服务器云端进行全球数据检索 • 无放射性物质 • 没有消耗品 • 低能耗 • 减少您的运营费用应用领域 • 利用监控网络进行污染控管 • 环境空气监测运动 • 长期研究 • 排放源追溯 • 排放物扩散研究（例如大火，火山）

HPG2000是C型分布光度计，国际照明委员会CIE70文件推荐的运动反光镜分布光度计。围绕测试灯具中心作圆周运动的反光镜,将灯具测量方向的光束反射到光度探测器上，实现不同平面上的光强分布曲线的测量。本系统符合美国能源之星IES LM79标准、欧洲标准EN13032、GB/T9468灯具分布光度测试的一要求等国际、国内相关标准要求。可测量灯具的空间光强分布曲线、空间颜色分布、光强数据、灯具总光通量、有效光通量、区域光通量、灯具效率、亮度限制曲线、眩光等级、概算曲线、允许距高比、有效发光角、上射光通量、下射光通量、等照度曲线、等光强曲线等光度参数。可以导出IES文件、CIE文件、LTD文件等多种格式的灯具文件。主要参考标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008 整体式LED路灯的测量方法 GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters；CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries；CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates；主要技术特性：1、被测灯具测量位置与实际使用状态一致，灯具工作状态不变；2、反射镜可绕被测灯具360度转动，被测灯具自身可旋转360度；3、采用贵金属光纤点刷技术，实现不间断连续测量，不会绕线，转动平稳；4、激光十字线瞄准装置、方便，准确地安装测试灯具的位置；5、角度精度：0.1度，角度分辨率：0.01度；6、设备尺寸：长宽高2400×3200×3300mm ，中心高度1600mm；7、暗房最小尺寸：长宽高12.0×3.5×3.5米；8、灯具尺寸：出光口尺寸1.2米，方形灯:800mm×800mm，长条灯:1200mm 9、配备多种测试夹具：路灯夹具、面板灯夹具、长条型日光灯夹具、E40/E27灯头夹具；光度参数：1、高精度恒温探头（恒温点35±1度，恒温精度±0.1度）；2、V(λ)修正精度：CIE标准级（f1’ 0.03） 3、照度测量范围：0.001 lx至200 klx , 5档自动量程 4、高稳定带遮光光栅的探头支架，高底可调，上下和左右倾角可调；5、光度探头连接线长度：20米（特殊要求可加长）；暗房示意图：丰富的软件功能：1、控制旋转台旋转，采集灯具的光强分布数据，计算灯具的光度数据及坐标系的转换；2、包括空间光强分布、空间颜色分布、任意截面上的光强分布曲线（可分别用直角坐标系或极坐标系显示）、空间等光强曲线、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、环带光通量、眩光等级、灯具效率、有效发光角、上射光通比、下射光通比、灯具总光通量、有效光通量、相关色温、色坐标x,y、色差duv。导出符合国际标准的灯具文件，可直接的导入照明设计软件，格式说明如下：*.HPG 虹谱光色HPG系列分布光度计测试数据文件格式；*.IES IESNA北美标准格式,包括95版和2002版 *.LDT EULUMDAT德国标准（欧洲）格试文件；*.CIE CIE国际照明委员会标准格式；4、根据被测灯的类型，如路灯及室外灯、室内灯或投光灯等，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。 HPG2000软件介绍及实景照：图相似

Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪 单颗粒气溶胶粒径分布光谱仪Fidas 200是专门为管制空气污染而开发的气溶胶光谱仪。它可以连续分析环境空气中存在的细粉尘颗粒，测量尺寸范围为180 nm–18 μm，并计算排放值PM10和PM2.5，支持法定单位进行监控。同时，仪器计算并记录PM1，PM4，PMtot，颗粒数浓度Cn和粒径分布。因此，仅通过Fidas 200计数和单颗粒测量原理，即可提供有关细尘颗粒的全面信息。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪可用于安装在空调监控站（温度范围5 – 40°C）。Fidas 200、Fidas 200E和Fidas 200S是目前少有的光学单颗粒测量设备，测量设备已获得型式认可，可根据VDI 4202-1、VDI标准、4203-3，EN 12341，EN 14907，EN 16450和欧盟等效性指南GDE同时监控PM10和PM2.5，并通过EN 15267-1和-2标准认证。此外，细粉尘测量设备Fidas 200以及Fidas 200 E和Fidas 200 S也在英国获得型式认可认证和Defra认证，符合“ MCERTS CAMS性能标准”和“ MCERTS（英国颗粒物）。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪利用公认的单颗粒光散射尺寸分析原理，并配备高强度（dp，min = 180 nm），高度稳定的光输出和长寿命的LED光源。可以使用单分散测试气溶胶验证仪器的校准，并在必要时随时方便、快捷地进行调整，即使在现场安装时也是如此。 Fidas 200的采样系统以大约0.3 m3 / h的体积流量运行。它配备符合VDI 2119-4标准的Sigma-2采样头，即使在强风条件下也可以进行代表性采样；还设有一条干燥线，可以防止凝结引起测量误差。干燥线（智能气溶胶干燥系统– IADS）是根据环境空气温度、压力和相对湿度来控制的。这些数据由气象站提供；可选地，还可以提供风速、风向和降水量数据。采样系统中集成用于圆形平面过滤器（直径47毫米）的过滤器支架，从而可以（举例来说）随后对气溶胶成分进行化学分析。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪提供多种通讯选项，允许对系统进行全面的远程控制和维护，并且进行在线数据访问。与系统一起提供的软件可提供用于评估（例如，全面的统计和平均值计算）和测量数据输出的通用选项。 气溶胶传感器是一种光学气溶胶光谱仪，使用Lorenz-Mie单个粒子散射光分析来确定粒径。粒子分别穿过光学限制的测量空间，该测量空间被多色光均匀照射。每个粒子都会产生以85°和95°之间角度检测到的散射光脉冲。基于散射光脉冲的数量确定粒子数量。粒径是从散射光脉冲的水平得出的。精密的光学器件、使用的多色LED的高光输出以及使用对数A / D转换的强大信号处理电子设备，可检测直径低至180 nm的颗粒。举例来说，在道路附近，检测高浓度小颗粒是尤其重要的。 Fidas 200传感器的测量体积使用T孔技术，在光学上进行准确定界，该技术可确定颗粒尺寸而不会出现边界带错误，从而有助于提高尺寸确定精度。强大的数字信号处理功能可以识别并补偿一致的读数（由多个粒子的同时存在引起）。优点： • 根据新的EN要求（EN 15267）进行型式认可和认证 • 连续和同时实时测量多个PM值 • 提供关于颗粒数浓度和粒度分布的其他信息 • 可调时间分辨率从 1 s到24 h • 光源：高稳定性，长寿命的LED • 长使用寿命 • 低维护 • 可以在现场进行外部校验 • 直观且易于操作 • 功能可靠，数据可用性极高（ 99％） • 2台泵并联运行，冗余配置可提高运行安全性 • 连续监视状态，以及在线监视校准 • 轻松进行远程监控、维护和控制 • 通过Palas服务器云端进行全球数据检索 • 无放射性物质 • 没有消耗品 • 低能耗 • 减少您的运营费用应用领域 • 利用监控网络进行污染控管 • 环境空气监测运动 • 长期研究 • 排放源追溯 • 排放物扩散研究（例如大火，火山）

Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪 单颗粒气溶胶粒径分布光谱仪Fidas 200是专门为管制空气污染而开发的气溶胶光谱仪。它可以连续分析环境空气中存在的细粉尘颗粒，测量尺寸范围为180 nm–18 μm，并计算排放值PM10和PM2.5，支持法定单位进行监控。同时，仪器计算并记录PM1，PM4，PMtot，颗粒数浓度Cn和粒径分布。因此，仅通过Fidas 200计数和单颗粒测量原理，即可提供有关细尘颗粒的全面信息。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪可用于安装在空调监控站（温度范围5 – 40°C）。Fidas 200、Fidas 200E和Fidas 200S是目前少有的光学单颗粒测量设备，测量设备已获得型式认可，可根据VDI 4202-1、VDI标准、4203-3，EN 12341，EN 14907，EN 16450和欧盟等效性指南GDE同时监控PM10和PM2.5，并通过EN 15267-1和-2标准认证。此外，细粉尘测量设备Fidas 200以及Fidas 200 E和Fidas 200 S也在英国获得型式认可认证和Defra认证，符合“ MCERTS CAMS性能标准”和“ MCERTS（英国颗粒物）。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪利用公认的单颗粒光散射尺寸分析原理，并配备高强度（dp，min = 180 nm），高度稳定的光输出和长寿命的LED光源。可以使用单分散测试气溶胶验证仪器的校准，并在必要时随时方便、快捷地进行调整，即使在现场安装时也是如此。 Fidas 200的采样系统以大约0.3 m3 / h的体积流量运行。它配备符合VDI 2119-4标准的Sigma-2采样头，即使在强风条件下也可以进行代表性采样；还设有一条干燥线，可以防止凝结引起测量误差。干燥线（智能气溶胶干燥系统– IADS）是根据环境空气温度、压力和相对湿度来控制的。这些数据由气象站提供；可选地，还可以提供风速、风向和降水量数据。采样系统中集成用于圆形平面过滤器（直径47毫米）的过滤器支架，从而可以（举例来说）随后对气溶胶成分进行化学分析。 Fidas 200气溶胶粒径分布光谱仪提供多种通讯选项，允许对系统进行全面的远程控制和维护，并且进行在线数据访问。与系统一起提供的软件可提供用于评估（例如，全面的统计和平均值计算）和测量数据输出的通用选项。 气溶胶传感器是一种光学气溶胶光谱仪，使用Lorenz-Mie单个粒子散射光分析来确定粒径。粒子分别穿过光学限制的测量空间，该测量空间被多色光均匀照射。每个粒子都会产生以85°和95°之间角度检测到的散射光脉冲。基于散射光脉冲的数量确定粒子数量。粒径是从散射光脉冲的水平得出的。精密的光学器件、使用的多色LED的高光输出以及使用对数A / D转换的强大信号处理电子设备，可检测直径低至180 nm的颗粒。举例来说，在道路附近，检测高浓度小颗粒是尤其重要的。 Fidas 200传感器的测量体积使用T孔技术，在光学上进行准确定界，该技术可确定颗粒尺寸而不会出现边界带错误，从而有助于提高尺寸确定精度。强大的数字信号处理功能可以识别并补偿一致的读数（由多个粒子的同时存在引起）。优点： &bull 根据新的EN要求（EN 15267）进行型式认可和认证 &bull 连续和同时实时测量多个PM值 &bull 提供关于颗粒数浓度和粒度分布的其他信息 &bull 可调时间分辨率从 1 s到24 h &bull 光源：高稳定性，长寿命的LED &bull 长使用寿命 &bull 低维护 &bull 可以在现场进行外部校验 &bull 直观且易于操作 &bull 功能可靠，数据可用性极高（ 99％） &bull 2台泵并联运行，冗余配置可提高运行安全性 &bull 连续监视状态，以及在线监视校准 &bull 轻松进行远程监控、维护和控制 &bull 通过Palas服务器云端进行全球数据检索 &bull 无放射性物质 &bull 没有消耗品 &bull 低能耗 &bull 减少您的运营费用应用领域 &bull 利用监控网络进行污染控管 &bull 环境空气监测运动 &bull 长期研究 &bull 排放源追溯 &bull 排放物扩散研究（例如大火，火山）

GMS-1600分布光度计是一种典型的Type C型分布光度计，满足CIE、IES以及国标等相关标准要求，用于快速测量筒灯、球泡灯等小型灯具的空间光强分布、空间色度分布及各种光度参数的分布光度计。测试灯具只在其规定的燃点位置绕固定的竖直轴旋转实现C平面的切换，探测器在一个固定的竖直面内绕中心旋转轴转动实现γ角的切换，从而测得被测灯具的光强分布等参数。该分布光度计测量过程中灯具位置固定，测试光路无反光镜，占地面积小，测量精度高。

功能：GMS-2200同步追踪反光镜式分布光度计结合了国际照明委员会CIE No.70中推荐的中心旋转反光镜式分布光度计和圆周运动反光镜式分布光度计的优点。测量中的灯具位置保持不变，测量反光镜作圆周运动，符合CIE No.70中第二种结构的优点，以及美国LM79-08的要求：光电探测器的位置固定，测量光束位置不变，在光路中设置多个消杂散光光阑，保证极低的杂散光，符合CIE No.70中第一种结构的优点。同步运动的消光器完全隔离测量背面方向的墙面、地面、天花板等反射杂散光。适合于LED路灯，温度敏感灯具等等的测量。性能指标： ◆ 恒温光度探测器. V(λ) 精度: CIE-f1’ 小于0.015 灵敏度：0.00001lx, 0.0001lx, 0.001lx（可选） ◆ 角度精度：0.1° ◆ 角度分辨率: γ角0.0016° C角0.03° ◆ 主反光镜尺寸: 椭圆1.52m×2.2m（可定制） ◆ 追踪反光镜尺寸： Φ0.75m ◆ 可测试灯具最大规格： 1)电源: AC/DC 600V/10A×6 路 2)重量: 50kg 尺寸：1.6m ◆ 可测试灯具（不同规格） L(2,0m)、M(1.6m)、S(1.2m)（可定制）五大优点：◆ 测试灯具位置固定。◆ 测试光垂直入射到探测器，光度精度高。◆ 灯具和探测器之间设置多级光阑极低的杂散光。◆ 消光器和反光镜同步转动，完全消除背景反射杂散光。◆ 配有光度和色度探测器，符合美国LM79-08空间色不均匀性测量要求。

A应该功能： 用于测量LED小型灯具（卤素灯、杯灯、射灯、球泡灯等）及单颗大功率LED的配光曲线、照度、光强数据、光束角、光通量等参数。仪器设计了光学暗箱及光栏，无需暗室。测试过程由计算机控制完成，操作简单、使用方便、性价比高。根据被测灯的类型，输出相应的打印报告，可直接保存为PDF文件，便于交流存档等。 测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式(*.ies)、CIE文件格式(*.cie)、欧洲Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式，符合国际标准要求，可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。 B主要参数标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008整体式LED路灯的测量方法 GB/T 24824-2009普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters； CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries； CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates； C性能参数：● 光照度测量范围：0.1lx～99999lx ● 光照度测量精度：一级；● 灯具工作转台可绕水平轴（垂直转动）和垂直轴（水平转动）转动；● 转动范围：-180°~+180° ● 间隔角度： ≥0.5°；●角度测量精度：+0.1°； ● 光电探测器V（λ）修正水平高，达到国家一级照度计要求；●可测试灯具外型尺寸：150（长）×150（宽）×110mm（厚度） ●仪器型号尺寸：145×75×85（mm）●IESNA文件格式输出，可由其它照明和灯具设计软件直接导出图相似

GMS-3000分布光度计是CIE70文件推荐的反光镜分布光度计之一，同时符合能源之星认证标准IES LM79的要求。该分布光度计的被测灯具位置固定，反光镜绕被测灯具的光度中心旋转，采用同步追踪探头及旋转光阑，保证被测灯具的光始终以法线方向入射至探测器，同时有效消除环境杂散光对光度测量的影响；安装于吸光阱中心位置的高精度CCD光谱仪及光度探测器可用于测量小型灯和灯具的光强分布和总光通量、空间色度均匀性测试。12米处的追踪探头和色度测试装置可用于测量大尺寸、窄光束、高光强室内和室外各种灯具以及光源的空间光强分布与空间色度不均匀性等参数，满足能源之星、NVLAP，ERP，ESP对灯具光性能测试的要求。

功能：全球国际级实验室（包括Philips全球九大实验室）应用最多（近百家）的反光镜分布光度计。国际照明委员会CIE No.70中推荐的标准结构用于测量室内照明灯具、投光灯具、道路照明灯具的空间光强分布及多种光度参数，包括：空间光强分布、任意截面上的光强分布曲线（可分别用直角坐标系或极坐标系显示）、空间等光强曲线、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、环带光通量、眩光等级、灯具效率、有效发光角、上射光通比、下射光通比、灯具总光通量、有效光通量、利用系数、LED灯具的全空间色度不均匀度以及电参数（电压、电流、功率、功率因数）等。★ 获“2007年浙江省科技进步二等奖”★ 获“2008中国LED技术创新奖”★ 五项发明专利★ 近几年销售量位居首位性能指标： ◆ 恒温光度探测器：严格V(λ ),匹配，CIE-f1’小于0.015（探测器与反光镜一体匹配） ◆ 探测器灵敏度：0.00001lx, 0.0001lx, 0.001lx（可选） ◆ 角度精度：0.1° ◆ 角度分辨率：Y角0.0016° C角0.03° ◆ 镜子尺寸：1.52m*2.2m（可选） ◆ 可测试灯具最大规格： 电源：AC/DC 600V/10A×6路 重量：50kg，尺寸：1.6m ◆ 电驱动光阑，最佳消除杂散光 ◆ 可测试灯具尺寸：（不同规格） L(2.0m)、M(1.6m)、S(1.2m) 典型应用：◆ 国家灯具质量监督检测中心（上海）◆ PHILIPS亚太灯具研发中心◆ 国家灯具质量监督检测中心（广东）◆ TǔV PSB国际认证实验室◆ 国家半导体照明产品检测实验室（厦门）◆ 台湾金属工业发展中心

本系统采用固定探测器、旋转被测灯具的方法，来测量被测光源或灯具空间各个方向上的光强分布。主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线。根据测量灯具的要求，该系统可以配置为双立柱B-β测试方案或单立柱C-γ测试方案。 用于LED灯具（半导体照明） 、道路灯具、投光灯具、室内灯具、户外灯具等各种和LED、节能灯、荧光灯、白炽灯、HID灯等各种光源的空间光度分布（即配光曲线）的高精度测试；测试结果可以导出IESNA(95,2002)文件格式(*.ies)、CIE文件格式(*.cie)、欧洲Eulumdat(*.ldt)文件格式等多种格式，符合国际标准要求，可直接作为国际通用的照明设计软件的输入数据。主要参考标准：LM-79-2008 固态照明产品的电气和光度测量认定方法 GB/T9468-2008 灯具分布光度测量的一般要求 LB/T 001-2008 整体式LED 路灯的测量方法 GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测量方法 GB/T7002-2008 投光照明灯具光度测试 CIE 69 Methods of Characterizing Illuminance Meters and Luminance Meters；CIE 70-1987 The measurement of absolute luminous intensity distributions；CIE 121-1996 The photometry of goniophotometer of luminaries；CIE 84 Measurement of luminous flux；IESNA LM-75 Goniophotometer Types and Photometric Coordinates；技术支持特性：主轴和灯具轴采用贵金属光纤点刷结构的导电滑环，可360度连续无回隙运转测量无须为防止绕线而来回旋转，永不绕线；采用知名品牌的高转速、高转矩、低噪音、低振动的三相混合式步进电机；具有激光瞄准器，使被测灯具中心与旋转台旋转中心重合；垂直轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；水平轴旋转范围：-180°～180°或0°～360°旋转；角度精度：0.1度，分辨率：0.01度；灯具尺寸：1.5×1.5米；灯具重量：60kg(含夹具) ；灯具供电测量采用4线制：2路10A导电滑环用于供电，2路2A用于测量电压；转台控制线和灯具供电线长度：6米，特殊要求可加长；光度参数：1、高精度恒温探头（恒温点35±1度，恒温精度±0.1度）；2、V(λ)修正精度：CIE标准级（f1’ 0.03） 3、照度测量范围：0.001 lx至200 klx , 5档自动量程 4、测试距离：2米到30米；5、高稳定带遮光光栅的探头支架，高底可调，上下和左右倾角可调；6、光度探头连接线长度：20米（特殊要求可加长）；

单颗LED光强分布测试仪 Labsphere LSA 3000是一种自动的分布式光度计计，主要与Labsphere软件和LED测试及测量产品一起配合使用。用户可通过软件对LSA 3000待测装置(DUT)的旋转进程和空间辐射测量程序进行全面控制。LSA 3000能够完成从窄角到宽角的准确测量。该软件还允许用户根据所选角度来测量相对强度。通过与Labsphere光谱仪、光测量软件和I 1000或I 2000相配合，LSA 3000还可以用来将LED旋转到任意期望的极坐标上，并测量其光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性。同时，它也能测量光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性的远场半球空间分布。 特点准确并可重复的测量 光谱强度、光谱通量、空间分布和色彩的完整解决方案 便于测量各种不同类型的LED 两维扫描，覆盖整个发光区间 用户可选择角度步进间隔 测量过程符合国际认可标准 测量参数 LED光强空间分布 光谱特性空间分布 色度空间分布 应用领域LED远场空间特性描述 (标准，高亮度)

皮肤水分分布测试仪 MoistureMap MM200 MM200能够测试电磁场在皮肤表面的穿透深度，导电材料将使测试结果部位的点阵信号变暗，而非导电材料将使测试结果部位的点阵信号变亮。湿度增加导电性，就意味着点阵更暗，干燥皮肤意味着较亮的图像。与皮肤水分含量绝对值测试不同，MoistureMap MM200可以测试出给定的皮肤表面的水分分布图，应用于化妆品、药品、表面活性剂的功效评价，也可用于皮肤光老化、皮损和疤痕的研究。欢迎致电：010-62186640

光强分布（光型）测试仪LSA3000-蓝菲光学 LSA 3000是一种自动的分布式光度计，主要与蓝菲光学（Labsphere）软件和LED测试及测量产品一起配合使用。用户可通过软件对LSA 3000待测装置(DUT)的旋转进程和空间辐射测量程序进行全面控制。LSA 3000能够完成从窄角到宽角的准确测量。该软件还允许用户根据所选角度来测量相对强度。 通过与Labsphere光谱仪、光测量软件和I 1000或I 2000相配合，LSA 3000还可以用来将LED旋转到任意期望的极坐标上，并测量其光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性。同时，它也能测量光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性的远场半球空间分布。特点准确并可重复的测量 光谱强度、光谱通量、空间分布和色彩的完整解决方案 便于测量各种不同类型的LED 两维扫描，覆盖整个发光区间 用户可选择角度步进间隔 测量过程符合国际认可标准 测量参数 LED光强空间分布 光谱特性空间分布 色度空间分布 应用领域LED远场空间特性描述 (标准，高亮度)

细粉尘测量设备Fidas 200是专门为管制空气污染而开发的气溶胶光谱仪。它可以连续分析环境空气中存在的细粉尘颗粒，测量尺寸范围为180 nm – 18 μm，并同时计算排放值PM10和PM2.5，支持法定单位进行监控。同时，仪器计算并记录PM1，PM4，PMtot，颗粒数浓度Cn和粒径分布。因此，仅通过计数和单颗粒测量原理，即可提供有关细尘颗粒的全面信息。此处显示的Fidas 200版本是19英寸机架安装设备，用于安装在空调监控站（温度范围5 – 40°C）。变体型号是带有独立传感器的Fidas200 E（以便更轻松地与现有站点集成）和用于室外安装的Fidas 200 S型号（包括不锈钢柜）。Fidas 200及其功能相同的变体型号Fidas 200 E和Fidas 200 S是目前少有的光学单颗粒测量设备，这些测量设备已获得型式认可，可以根据VDI 4202-1、VDI标准、4203-3，EN 12341，EN 14907，EN 16450和欧盟等效性指南GDE同时监控PM10和PM2.5的，并通过EN 15267-1和-2标准认证。 Fidas 200的型式认可声明首先在德国联邦公报BAnz AT 02nd April 2015 B5的第IV章通知14中发布。产品已经获得TüVRheinland和德国联邦环保局根据EN 15267颁发的产品合格证书如下：由TüVRheinland编制的Fidas 200 S版本的测量系统测试报告已在官网上发布。

全自动电化学CV分布仪 CVP21 光伏太阳能领域的首选! 众多科研和半导体领域用户的的首选!上海瞬渺光电官方中国最佳全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点&bull 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．&bull 精确的测量电路模块&bull 强力的控制软件，系统操作，使用简便&bull 完善的售后服务体系特别推荐晶硅太阳能电池研究单位使用知名用户:(Shin-Etsu SEH or ISFH)In the field of solar cell research, the CVP21 system is currently being used at many research centres. It was first used in 1999 by the Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems (ISE) in Freiburg, Germany, and since then it has been installed at the Institute for Molecules and Materials (IMM) in Nijmegen, The Netherlands, the RWE Space Solar Power GmbH in Heilbronn, Germany, the Hahn-Meitner-Institute (HMI) in Berlin, Germany, and the Institute for Solar Energy Research (ISFH) in Hamelin/Emmerthal, Germany.在德国和日本都有很多太阳能电池用户使用,鉴于商业保密需要不能公开。产品完美结合我们在电化学方分布测试方面超过３０年的经验和世界上最先进的电路系统。　全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:&bull 外延材料&bull 扩散&bull 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等&hellip III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等&hellip 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等&hellip 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等&hellip 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等&hellip II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等&hellip 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:&bull 最大 1021/cm³ &bull 最小 1011/cm³ 深度解析度:&bull 最大无上限&bull 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:&bull 拓扑型结构&bull 实时监控腐蚀过程&bull 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:&bull 精密的电路，电子系统&bull 强力的软件 金牌优质服务 提供免费样品测试并提供测试报告。 对用户承诺终身免费样品测试每月1次。 保修期：2年，终身维修。 电化学CV分布仪（CV测试仪）产品经理：Mike Zhai联系电话：手 机：邮 箱：

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一、功能说明1 分布电压测量HB-VD30绝缘子分布电压测试仪采用抗干扰技术实现了对运行中绝缘子分布电压的测量，且仪器本身具高电压耐受能力。仪器检测发射机通过通用角度可调卡扣接头与绝缘操作杆连接，适用耐张、悬垂等不同角度的测量需求。2 远距离传输功能本检测仪由检测发射机和手持接收机两部分组成，测量时由手持发射机采集绝缘子两端分布电压信号，经模数转换变为数字信号经处理之后通过以无线方式传输给手持接收机，手持接收机接收到数字信号经计算处理最终得到测量结果并在屏幕显示。无线传输方式使得检测过程更加方便快捷。3 测试结果存储功能本仪器可将测试结果存入U盘，方便以后查询。进行测试时按照仪器提示依次输入杆塔号、回路号、相别、和串号。输入完毕开始进行测试，仪器自动根据测量结果统计每串片数。并按照绝缘子片号存储每片测量结果。4 历史数据查看及分析功能本仪器可在数据接收机端查看存入U盘的历史数据，并列出绝缘子串电压分布曲线。二、仪器结构该仪器由检测发射机、手持接收机和绝缘操作杆三部分组成（如上图）。使用时检测发射机与绝缘操作杆连接，手持操作杆尾端接触被测绝缘子，通过手持接收机控制进行测量。测量结果通过射频传输至接收机，接收机接收测量结果进行显示存储等操作。厂家直销固话：QQ:三、HB-VD30绝缘子分布电压测试仪的技术参数产品名称绝缘子分布电压检测测仪型 号HB-VD30适用范围35-1000kv高压输电线路盘型悬式绝缘子带电检测测量范围1-40KV测量误差±1%显示方式3.5寸触摸屏分析功能手持机具有浏览历史数据、曲线分析功能软件功能检测结果可上传专用云平台，云平台可对数据进行分类存储管理并以杆塔为单位生成测试报告电 源3.7V可充锂电池连续使用时间不小于8小时待机时间20小时使用工作条件环境温度：-25℃~+80℃相对湿度：≤75%大气压力：86KPa~106 KPa贮存条件环境温度：-40℃~+120℃相对湿度：≤90%大气压力：86KPa~106 KPa整机重量260克外形尺寸发射机：400×170×33mm接收机：215×101×71mm 执行标准Q/HDSLE001—2003绝缘杆标配6米（可根据需要配置）厂家直销：固话：QQ：

Labsphere LSA 3000是一种自动角光谱辐射计，主要与Labsphere LightX软件和LED测试及测量产品一起配合使用。LightX应用软件对LSA 3000待测装置(DUT)的旋转进程和空间辐射测量程序进行全面控制。LSA 3000能够完成从窄角到宽角的准确测量，并在角分辨率高达0.1o或者更高的情况下将LED发散出去。空间软件允许用户根据所选角度来测量相对强度。 通过与Labsphere光谱仪、光测量软件和I 1000或I 2000相配合，LSA 3000可以用来将LED旋转到任意期望的极坐标上，并测量其光谱辐射强度、光强度、色度、色彩和显色性。同时，它也能测量远场半球空间分布。灵活 从众多Labsphere LS系列LED插座中选择一款产品，或者根据您特定的LED规格，与Labsphere工作团队一起设计一款适合的插座产品。LSA 3000有一个待测装置的集结区，用于&phi 和&theta 平台定位。&phi 平台允许采用Labsphere LS系列未冷却式LED插座和LSTE冷却式LED插座。传感器工作区的大小和位置要根据高分辨率角度盘而定。LSA 3000中含有Labsphere光传感器，包括A型、I2000、B型和I 1000，以及平均光谱强度探头。图形用户界面的主要用途是控制LSA3000，并捕捉待测装置的空间分布情况。软件的设计也考虑到了LSA 3000应用的扩展问题，例如除了自身集成的接收器外，外部附加的传感器可以进一步扩展其用途。所有平台和探测器都装在一个易于存取而又不透光的盒子里。特征： 准确而又可重复的测量 光谱强度、光谱通量、空间分布和色彩的完整解决方案 便于测量各种不同类型的LED 便于放置被侧物 用户可选择角度步进间隔 测量过程符合国际认可的标准主要应用对象： LED远场空间特性描述(标准，高亮度)

医用超声雾化器雾粒直径分布测试仪 仪器介绍采用7寸威纶通液晶触控显示屏，中文菜单显示。公称规格、设定载荷、打印设定、测试、上行、下行、时间、标定。由键盘与触摸控制液晶显示屏上的菜单，机载打印测试结果。 执行标准： 满足YY0109-2013标准中相关条款设备制造。 设备参数测量方法:国产激光散射法0.3UM-25UM 通道：8个通道；流量：28.3L/min 百级室或者等效工作台（超净工作台）；操作界面：彩色触摸屏7寸，中英文切换控制系统：PLC；接头：15mm和22mm内置嵌入式打印机电源：220V 50HZ 配置：主机1台，扳手一把，电源线一根，说明书/合格证/保修卡/铭牌一套。

适用于封装LED、光学透镜、镜头等近场光度测量，及需要近场分析的光源的测量，测试参数包括近场光分布和亮度分布，通过算法亦可得到光源的光线数据，并可以推算出光源的总光通量和空间任意位置的光强分布。系统输出的光线模型能与Tracepro等光学软件相配合，更方便，准确地进行照明产品的二次光学设计和研发。

德国WEP公司的ECV（型号为CVP21）在太阳能光伏行业的应用非常普及，市场占有率甚至达95%以上，是光伏行业电池技术研究和发展的必要工具之一，知名的光伏企业都有使用。 WEP公司的ECV设备：CVP21（见图）1. ECV又名扩散浓度测试仪，结深测试仪等，即电化学CV法测扩散后的载流子浓度分布（见图）；2. 相比其他方法如SRP，SIMS等，ECV具有测量使用方便，价格低的优点；WEP公司的ECV具有独特技术可应用于测试电池片的绒面样片，这也是其被广泛使用的原因之一；4. CVP21所能测量的深度范围是nm---10um 5. 测量的载流子浓度范围在10e12cm-3 N 10e21cm-3之内都无需校准；6. 测量扩散样片时，样片是保持“Dry in”和“Dry out”，并无需做特别处理；7. 其所用到的化学试剂本地就能买到，价格低且用量很少买一次可以用好几年；8. 从CVP21所测得的数据能带给研发或工艺人员三方面的信息：一是表面浓度，二是浓度变化曲线，三是结深（见图）；9. 表面浓度对于选择和使用适合的浆料很有帮助，如粘合性，接触电阻等的匹配问题；10. 浓度分布曲线对掌握和改进扩散工艺提供依据；11. 结深的信息对电池工艺的总体把握来说是必须的，也是扩散工艺时常需要抽测的项目之一；12. 参考：测试出的几种扩散浓度分布曲线（见图）；13. 广泛的客户群：Q-CELL, NREL, ISFH, SHELL,ECN,RWE,HMI,SISE尚德，天合，晶澳，英利，交大泰阳，BYD，海润，晶科，吉阳，南玻，格林保尔… 仪器简介：电化学ECV,掺杂浓度检测（C-V Profiling）PN结深测试 电化学ECV可以用于太阳能电池、LED等产业，是化合物半导体材料研究或开发的主要工具之一。电化学ECV主要用于半导体材料的研究及开发，其原理是使用电化学电容-电压法来测量半导体材料的掺杂浓度分布。电化学ECV(CV-Profiler, C-V Profiler)也是分析或发展半导体光-电化学湿法蚀刻(PEC Etching)很好的选择。 本设备适用于在半导体生产中的外延过程的性能评估和过程控制，可以测试多种不同的材料，例如：硅, 锗, III-V 族和 III-N族材料等。CVP 21的模块化系统结构让测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布变得高效、准确。选用合适的电解液与材料接触、腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制 。CVP21的系统特点： *坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立． *精确的测量电路模块 *强力的控制软件，系统操作，使用简便 *完善的售后服务体系 提供免费样品测试并提供测试报告。 保修期：2年，终身维修。 对用户承诺终身免费样品测试每月1次。技术参数： 我们在电化学方分布测试产品方面有超过３０年的经验和世界上较为先进的电路系统。全自动，特别适用于新材料，如氮化镓，碳化硅材料等。　 有效检测: 外延材料、扩散 、离子注入 适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。 IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等 III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等 II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。 　 载流子浓度测量范围: *最大 1021/cm3； 最小 1011/cm3 深度解析度: 最大无上限；最小可至1 nm （或更低） 模块化系统结构: 拓扑型结构，实时监控腐蚀过程，适于微小样品及大尺寸的晶圆，全自动化系统。主要特点：CVP21电化学ECV是半导体载流子浓度分布完美的解决方案： 1， CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。 * IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等 * III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等 * 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等 * 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等 * 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等 * II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等 * 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。 2， CVP21可用于不同形态的样品：多层结构的薄膜材料、基底没有限制(基底导电或绝缘均可)、标准样品尺寸从4*2mm ~ 8英寸晶圆(更小尺寸样品请预先咨询我们)。 3， CVP21拥有很好的分辨率范围。 * 载流子浓度分辨率范围从 1012 cm-3 ~ 1021 cm-3 * 深度分辨率范围从1nm ~ 100um (依样品类型、样品质量决定) 4， CVP21是一套完整的电化学ECV测量系统。 * 系统可靠性高(仪器的电子、机械、光学、液体传动几个主要部分均经特殊设计) * 免校准的系统(完全自校准的电子系统，电缆电容均无须用户再次校准) * 易于使用(全用户管理软件优化，在实验室环境或生产环境均易于使用) * 照相机镜头控制(过程在线由彩色照相机镜头控制；每次测量后，镜头数据均可取出。) * 实验菜单(测量菜单预定义，优先权用户可以很容易修改或改进测量菜单) * Dry-In/Dry-Out: Auto-Load/Unload/Reload (电化学样品池自动装载/卸载/再装载，优先权用户易于修改，进行样品dry-in/dry-out处理。) 全自动电化学CV分布仪 CVP21光伏太阳能领域的优质选择! 众多科研和半导体领域用户的的心仪之选!赛伦科技（Saratoga Technology International） 为中国全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域知名代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点- 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．- 精确的测量电路模块- 强力的控制软件，系统操作，使用简便- 完善的售后服务体系 全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:- 外延材料- 扩散- 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等… III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等… 三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等… 四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等… 氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等… II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等… 其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:- 最大 1021/cm3?最小 1011/cm3深度解析度:- 最大无上限- 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:- 拓扑型结构- 实时监控腐蚀过程- 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:- 精密的电路，电子系统- 强力的软件

完全满足 GB/T24824,IESNALM-79-19,EN 13032-1,CIE 70,CIE84,CIE121等标准获中、美、德发明专利授权以及“中国专利优秀奖”主要功能及应用：1）用于各种LED灯具（半导体照明灯具）、道路灯具、投光灯具、室内灯具、户外灯具的总光通量的基准级测量2）各类灯具的空间光度分布（配光曲线）及空间颜色分布的精确测试；3）符合国际标准要求的测控软件：测试结果能直接以IESNA（95,2002）、EULUMDAT、CIBSE（TM14），CIE等国际通用的标准格式档输出。

显微光分布测试系统 随着半导体照明的进一步快速和深入发展，LED在道路照明、室内照明、汽车灯、手提灯具等多个领域等到了越来越广泛的应用，同时，业界对LED灯具的二次光学设计以及利用LED灯具的空间光度数据进行照明设计的要求也越来越高。作为LED产品的心脏，LED光源的光品质就显得尤为重要！LED光源的主要功能是把电能转化成光能，而当前，芯片厂和灯珠厂在LED光源设计过程中，仅仅是针对光源进行相对简单的测量，获得整体的亮度、波长和电压等参数。而实际上，由于电极设计、芯片结构、封装方式等方面的影响，光源表面的亮度和颜色并不是均匀分布的，传统的光源测量方式并不能精确地描述光源表面这种空间光分布的特点，这样容易导致光源出现色度和亮度不均匀、光源整体效率低等问题，甚至导致光源失效。因此很有必要利用显微光分布测试系统对光源进行发光均匀度测试来优化光源设计，同时也为LED光源的二次光学设计提供更为准确、详尽的数据。针对以上情况，金鉴实验室联合英国GMATG公司联合推出显微光分布测试系统，主要用于测试光源的发光均匀性，帮助提高光品质。现已演化到第五代，而且价格从150万降到几十万！金鉴显微光分布测试系统针对LED及其他光电器件产业打造，可用于观察微米级发光器件的光分布，测试波长范围190nm ～1100nm，包含了紫外和红外不可见光的测试，可用于测量光源的光强分布、直径、发散角等参数。通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数，测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。适合光电器件及照明相关领域的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，以达到企业节省研发和品质支出的目的。金鉴实验室自主研发的主要设备有显微红外热分布测试系统、显微红外热点定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用，广受老师和科研人员普遍赞誉。性能卓著，值得信赖。应用领域：适用于LED芯片、LED灯珠灯具、面板灯、汽车照明灯、LCD显示屏、激光器及其他光电器件的来料检验、研发设计和客诉处理等过程，助力LED芯片设计优化、光源的光线追迹及发光均匀性测量。与近场光学测试设备相比，金鉴显微光分布测试系统优点显著： 近场光学设备与金鉴显微光分布探头对光敏感度差异对比：金鉴显微光分布探头对光敏感度较高，能分辨细小的光强差异，因此成像也更细腻。金鉴显微光分布与传统设备大PK：金鉴显微光分布测试系统可模拟工作温度进行测试，分辨率可达1微米，其具有3D功能，可观测芯片出光效果。金鉴显微光分布测试系统特点：1. 探测器感应波长为190nm-1100nm，覆盖深紫外到近红外光。不同波长光源的光分布图 2. 与光学显微镜搭配，可观察微米级发光器件，图像具备2D和3D显示功能，表现效果更加强烈金鉴显微光分布测试系统的分辨率取决于与之搭配的光学显微镜的分辨率，即如果显微镜能1000倍放大，金鉴显微光分布测试系统也可以观测到1000倍率下的光分布细节。与可见光类似，像素越高画面越清晰越细腻像素越多同时获取的温度数据越多。金鉴GMATG 传感器像素640×595。 3. 独特的遮光设计，杜绝背景光影响，测量更加精准光分布探头接收的是视野内所有的光信号，包括被测样品发射的光以及环境反射光。光分布软件虽然具有背景光扣除功能，但是在测试过程中，环境的变化会导致环境反射光强度的变化，造成测试不准确。金鉴显微光分布测试系统，具备独特的遮光罩设计，隔绝了环境光的影响，大大增加了测试的准确性。如下图所示，在不使用遮光罩的情况下，受环境光变化的影响，芯片光分布图部分区域异常偏暗；在使用遮光罩后，彻底屏蔽了环境光的影响，光分布图异常偏暗区域消失。 4. 高精度控温系统，可实现光源在不同温度下光分布的测试光电器件性能受温度的影响较大，脱离实际环境所测试的结果准确性较差，甚至毫无意义。金鉴自主研发的显微光分布测试系统配备高低温数显精密控温平台，控温范围：室温~200℃，能有效稳定环境温度，实现光源在不同温度下光分布的测试，对定位光源最适宜的工作温度可提供最直观有效的数据。配备的水冷降温系统，在100s内可将平台温度由100℃降到室温，有效解决了样品台降温困难的问题。 如下图所示不同工作温度下的LED芯片发光均匀度对比，同一芯片，工作状态温度越高，亮度越低！温度越高，光衰趋势越大。支架引脚温度由80℃升高到120℃，LED芯片发光强度衰减30.6%。 LED芯片发光强度随温度上升而下降5. 定制化的光分析软件金鉴定制分析软件GM LED NF Analyzer，具有自动影像采集控制、实时影像、对位过程屏上显示、设置多重帧自动采集、灰阶与色彩数值显示、记录环境影像提供校正等多重功能，方便做各个维度的光强分布数据分析和图像效果处理，为科研及分析提供更专业的数据支持。（1）提供2D、3D光束分布显示和轮廓分析。 （2）通过CCD测量光强分布，通过算法计算出光源直径等参数。测量光强的相对强度，不需要使用标准灯进行校准。 （3）OSI彩虹及不同灰阶调色板，满足客户个性化的显示需求。 （4）扣除背景光干扰，增加测试精准度。 （5）可导出光分布图全部像素点的光强数据值，为专业仿真软件分析提供原始建模数据。 （6）自定义报告模式，测试报告一键展现；测试结果即时分享，高效协同。 测试案例:案例一：芯片电极设计对光分布的影响对某LED芯片电极图案进行评估，如下图所示，芯片的发光不均匀，区域1的亮度明显过高；相反地，区域2的LED量子阱却未被充分激活，降低了芯片的发光效率。对此，金鉴建议，可以适当增加区域1及其对称位置的电极间距离或减小电极厚度来降低区域1亮度，也可以减少区域2金手指间距离或增加正中间正极金手指的厚度来增加区域2亮度，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。 LED芯片发光效果图案例二：芯片金道设计对光分布的影响下图中芯片左边为两个负电极，右边为两个正电极，其中，区域1、2亮度较低，电流扩展性不够，需提高其电流密度，建议延长最近的正电极金手指以提升发光均匀度。区域3金手指位置的亮度稍微超出平均亮度，可减少金手指厚度来改善电流密度，或者改善金手指的MESA边缘聚积现象，另外，也可以增加区域3外的金手指厚度，使区域3外金手指附近的电流密度增加，提升区域3外各金手指的电流密度，以上建议可作为发光均匀度方面的改善，以达到使芯片整体发光更加均匀的目的。在达到或超过了芯片整体发光均匀度要求的前提下，可考虑减小金手指厚度来减少非金属电极的遮光面积，以提升亮度。甚至，可以为了更高的光效牺牲一定的金手指长度和宽度。 LED芯片发光效果图 案例三：光分布3D模块测试评估芯片光提取效率金鉴显微光分布3D测试模块可以观察芯片各区域的出光强度，填补芯片的光提取效率测试空白。下图垂直结构芯片采用了多刀隐切工艺，芯片侧面非常粗糙，粗糙界面可以反射芯片侧面出射的光，提高芯片的光提取效率。从该芯片的3D光分布图中可以直观的看到，该芯片边缘出光较多，说明多刀隐切工艺对芯片出光效率的提升显著。案例四：显微光分布测试帮助定位最高效率的电流电压金鉴显微光热分布系统，可帮助客户避免过度超电流，准确定位最高效率下的电流电压！如下案例中，芯片额定电流为60mA，超额定电流90mA下点亮时，芯片温度大大提高，亮度反而出现衰减。过度的超电流，LED芯片产热严重，光产出并不会增加，甚至出现光衰。 案例五：显微光分布测试系统应用于LED芯片失效分析失效的LED芯片必然在光热分布上漏出蛛丝马迹！某灯珠厂家把芯片封装成灯珠后，老化出现电压升高的现象。金鉴通过显微光分布测试系统发现芯片主要在正极附近区域发光。因此，定位芯片正极做氩离子截面抛光，发现正极底部SiO2层边缘倾角过大，ITO层在台阶位置出现断裂、虚接现象，ITO层电阻过大，电流扩散受阻，出现电压升高异常现象。案例六：倒装芯片光热分布分析 失效分析案例中，CSP灯珠出现胶裂异常，使用热分布测试系统对芯片进行测试，由于红外测温是通过物体表面的红外热辐射测量温度，对于倒装芯片表面的蓝宝石也不能穿透，故无法对芯片内部电极等结构进行进一步的分析。此时，使用金鉴显微光分布测试系统可以清晰地观察到芯片电极图案，从光分布图可以看出，芯片负电极位置发光较强，因此推断负电极位置电流密度较大，导致此处发热量也较大，从而局部热膨胀差异过大引起芯片上方封装胶开裂异常。 案例七：多芯片封装的光分布监测金鉴显微光分布系统，能高效精准分析灯珠内各芯片电流密度，是品质把控的好帮手！例如某灯珠采用两颗芯片并联的方式封装，该灯珠点亮时，金鉴显微光分布测试系统测得B芯片发光强度较A芯片的大，显微热分布测试系统测得B芯片表面温度高于A芯片。分析其原因，LED芯片较小的电压波动都会产生较大的电流变化，该灯珠两颗芯片采用并联方式工作，两颗芯片两端的电压一样，芯片电阻之间的差异会造成流过两颗芯片的电流存在较大差异，从而出现一个灯珠内两颗芯片亮度不一的现象，影响灯珠性能。 光学图 光分布图 热分布图 案例八：COB光源发光均匀度测试对于LED光源，特别是白光光源，由于电极设计、芯片结构以及荧光粉涂敷方式等影响，其表面的亮度和颜色并不是均匀分布的。如图所示，COB右半边灯珠亮度明显比左半边低，由标尺计算出，右半边亮度为左半边的三分之二，导致这一失效原因也许是COB的PCB板材左右边铜箔电阻不一致，导致灯珠左右两边的芯片所加载的电压不一致，造成两边芯片的发光强度出现差异。案例九：OLED光分布测试有机发光二极管(OLED)作为一种电流型发光器件，因其所具有的自发光、快速响应、宽视角和可制作在柔性衬底上等特点而越来越多地被应用于高性能显示领域当中。使用金鉴显微红外热分布测试系统对OLED显示屏进行测试，可以直观的了解显示屏各区域光强分布情况，对于缺陷点也能及时发现，有助于检测和改善OLED发光品质。如下案例中，OLED电流输入端亮度较大，远离输入端亮度逐渐减小，在此情况下，损失的亮度转换为热能，因此温度的分布会变得不均匀，进而导致OLED显示面板中各处的薄膜晶体管(TFT)的阈值电压和迁移率的变化也分布不均，进一步导致整个显示面板的发光亮度不均匀。 案例十：激光器光束形貌及热场分布金鉴显微光热分布测试系统，配备专用光衰片及水冷散热系统，可测试大功率超亮激光灯的光热分布！

功能：符合国际照明委员会CIE No.70推荐的结构，以及美国“能源之星”LED产品测试标准LM79-08的要求，测量中灯具位置不动，反光镜围绕灯具旋转，实现灯具配光的C-y坐标系测量方式。适用于测量室内照明灯具、投光灯具、道路照明灯具的空间光强分布及所有光度参数。探测器平台可安装光度探测器、色度探测器，实现全空间光度、色度不均匀性的测量。性能指标： ◆ 恒温光度探测器： V()精度：CIE-f1’小于0.015 灵敏度：0.00001lx, 0.0001lx, 0.001lx（可选） ◆ 角度精度：0.1° ◆ 角度分辨率：Y角0.0016° C角0.03° ◆ 可测试灯具最大规格： 电源：AC/DC 600V/10A×6路 尺寸：M(1.0m) S(0.6m)（可定制）

全自动电化学CV分布仪 CVP21 光伏太阳能领域的首选! 众多科研和半导体领域用户的的首选!上海瞬渺光电官方中国最佳全自动电化学CV分布仪光伏太阳能领域代理商！服务众多知名光伏企业！本设备适用于评估和控制在半导体生产中的外延过程并且以被使用在多种不同的材料上，　例如：Silicon, Germanium, III-V including III-Nitrides.CVP21的净室和模块化的系统设计结构使得本系统可以高效率，准确的测量半导体材料（结构，层）中的掺杂浓度分布．选用合适的电解液与材料接触，腐蚀，从而得到材料的掺杂浓度分布。电容值电压扫描和腐蚀过程由软件全自动控制CVP21的系统特点&bull 坚固可靠的模块化系统结构 ．光学，电子和化学部分相对独立．&bull 精确的测量电路模块&bull 强力的控制软件，系统操作，使用简便&bull 完善的售后服务体系特别推荐晶硅太阳能电池研究单位使用知名用户:(Shin-Etsu SEH or ISFH)In the field of solar cell research, the CVP21 system is currently being used at many research centres. It was first used in 1999 by the Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems (ISE) in Freiburg, Germany, and since then it has been installed at the Institute for Molecules and Materials (IMM) in Nijmegen, The Netherlands, the RWE Space Solar Power GmbH in Heilbronn, Germany, the Hahn-Meitner-Institute (HMI) in Berlin, Germany, and the Institute for Solar Energy Research (ISFH) in Hamelin/Emmerthal, Germany.在德国和日本都有很多太阳能电池用户使用,鉴于商业保密需要不能公开。产品完美结合我们在电化学方分布测试方面超过３０年的经验和世界上最先进的电路系统。　全自动，　特别适用于新材料，　如氮化镓，　碳化硅材料，多晶硅等等。　有效检测:&bull 外延材料&bull 扩散&bull 离子注入适用材料: CVP21应用范围宽，可以用于绝大多数的半导体材料。IV族化合物半导体如：硅(Si)、锗(Ge)、碳化硅(SiC)等…III-V族化合物半导体如：砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、磷化镓(GaP)等…三元III-V族化合物半导体如：铝镓砷(AlGaAs)、镓铟磷(GaInP)、铝铟砷(AlInAs)等…四元III-V族化合物半导体如：铝镓铟磷(AlGaInP)等…氮化物如：氮化镓(GaN)、铝镓氮(AlGaN)、铟镓氮(InGaN)、铝铟氮(AlInN)等…II-VI族化合物半导体如：氧化锌(ZnO)、碲化镉(CdTe)、汞镉碲(HgCdTe)等…其他不常见半导体材料(可以联系我们进行样品测量)。　载流子浓度测量范围:&bull 最大 1021/cm³ &bull 最小 1011/cm³ 深度解析度:&bull 最大无上限&bull 最小可至1 nm （或更低）模块化系统结构:&bull 拓扑型结构&bull 实时监控腐蚀过程&bull 适于微小样品及大尺寸的晶圆全自动化系统:&bull 精密的电路，电子系统&bull 强力的软件

功能：根据CIE、IESNA、国家标准等要求，通过旋转灯具，实现B-β、A-α和C-γ等多种测量方式。用于测量室内照明灯具、投光灯具、道路照明灯具的空间光强分布及多种光度参数。包括：空间光强分布、任意截面上的光强分布曲线（可分别用直角坐标系或极坐标系显示）、空间等光强曲线、平面等照度分布曲线、亮度限制曲线、环带光通量、眩光等级、灯具效率、有效发光角、上射光通比、下射光通比、灯具总光通量、有效光通量、利用系数，以及电参数（电压、电流、功率、功率因数）等。可双立柱或单立柱工作。 性能指标：◆ 高精度恒温光度探测器： 严格V(λ) 修正，CIE-f1’ 小于0.015 ◆ 光度灵敏度：0.00001lx、 0.0001lx、 0.001lx（可选） ◆ 角度精度：优于±0.1°，分辨率: 0.002° ◆ 可测灯具最大规格： 1)电源: AC/DC 600V/10A×6 路 2)重量: 50kg（可定制，最大60KG）， 尺寸：1.4 m×1.6m （可定制，最大2m）◆ 无线光度探测器，可补偿测量过程中光波动