进口射线光仪

EIGER2 R混合像素光子计数X射线探测器进口二维双能阵列光子计数衍射仪X射线探测器1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

小型X射线光管 我们的M25, M47, M54和M237微型x射线光管是精密x射线发生器，专为需要小尺寸和低功耗的应用而设计。该源包括一个微型密封x射线管与传输型端窗和高压电源封装在一个单一的辐射屏蔽单元。光源是专门设计用于手持式，便携式或台式x射线仪器的组件。小型X射线光管特点：紧凑的设计-理想的手持，便携式和台式仪器低功耗-兼容电池操作易于操作-模拟控制接口集成设计-无高压电缆加工金属外壳-精密安装和校准x射线Omnishield&trade - 360度轻重量辐射屏蔽宽锥角- 110度全宽x射线锥角螺纹适配器准直应用-可选小型X射线光管应用：◆ X射线荧光分析（XRF）◆ 金属分选◆ OEM◆ 过程控制◆ 科研◆ 教学◆ X射线成像医学 小型X射线光管指标参数：M25M54M237M47Metal-ceramicMetal-ceramicMetal-ceramicMetal-ceramic5kV-50kV5kV-50kV35kV-70kV5kV-50kV0-200uA0-200uA5-200uA0-200uA4W4W10W10WTungsten filamentTungsten filamentTungsten filamentTungsten filamentBe，125umBe，125umBerylliumBe，125umTransmissionTransmissionTransmissionTransmissionAu，Ag，Rh，WAu，Ag，Rh，WAu，Ag，Rh，WAu，Ag，Rh，W2.4mm（see drawing）2.4mm（see drawing）2.4mm（see drawing）2.4mm（see drawing）110°（see drawing）110°（see drawing）110°（see drawing）110°（see drawing）5-12VDC5-12VDC11VDC11VDCGrounded anodeGrounded anodeGrounded anodeGrounded anode＜0.1%＜0.1%＜0.1%＜0.1%Silicone pottingSilicone pottingSilicone pottingSilicone pottingSelf-shieldedSelf-shieldedSelf-shieldedSelf-shielded -10 - 60℃ -10 - 60℃ -10 - 60℃ -10 - 60℃ -25 - 85℃ -25 - 85℃ -25 - 85℃ -25 - 85℃Air cooLEDAir cooledAir cooledAir cooled90% max（non-condensing）90% max（non-condensing）30%-90%90% max（non-condensing）Approx，385gApprox，385g＜700gApprox，400g 另外，可提供X射线滤光片等器件，详情可咨询上海昊量光电设备有限公司。更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

瑞士进口EIGER2 R 250K二维面阵2D衍射仪X射线探测器1、产品特点： 在DECTRIS公司所有应用于实验室的探测器产品系列中，Eiger2R系列探测器结合了所有混合光子计数探测器的最先进技术。 它所具有的双能量识别有助于在微弱信号和长时间曝光的条件下进行背景抑制和提高信噪比。其优越的计数率性能可以准确地测量极高强度的X射线。利用该系列探测器的巨大动态范围，可以在零死时间同步读/写的状态下进行长时间曝光。由于具备可选择的真空兼容性，从而使空气和窗口所产生的吸收和散射最小化。小尺寸像素与X射线直接探测相结合，提高了空间分辨率和角度分辨率，可以进行精细地测量样品并具有宽泛的倒易空间。可以在三种不同的型号中进行选择以满足您的需求。2、核心优势： – 双能识别有助于抑制低能量和高能量的背景 – 由于零背景噪音和同时读写，所以具有很高的动态范围 – 小尺寸像素和优秀的点扩散函数有助于获得高的空间分辨率 – 可定制在真空环境下使用； – 免维护3、应用领域： - 小角X射线散射和广角X射线散射(SAXS/WAXS）； - 大分子晶体学（MX）； - 化学结晶学； - 单晶衍射（SCD）； - 粉末衍射（PD）； - X射线成像； - 表面衍射； - 漫散射。4、技术参数：EIGER2 R250K500K1M4M探测器模块数量111 x 22 x 4有效面积：宽x高 [mm2]38.4 x 38.477.2 x 38.677.1 x 79.7155.1 X 162.2像素大小 [μm2]75 x 75点扩散函数1 pixel能量阈值2阈值范围（KeV）3.5-30最大计数率（cps/mm2）6.9×108计数器深度（bit/threshold）2×16最大帧速率 [Hz]505010020采集模式同时读/写，死区时间为零图像位深度（bit）32可选真空兼容Yes冷却方式 风冷 风冷水冷水冷尺寸（WHD）[mm3]100 x 140 x 93100 x 140 x 93114 x 133 x 240235 x 235 x 372重量 [kg]1.81.84.715

X射线成像系统广泛应用于各种科学研究，尤其是生命科学研究，在活体动物（大鼠、小鼠、兔子、猴子等动物）拍摄上有着很好的优点。采用单呼吸管路，无再循环呼吸系统，减少死腔；体积小巧、节省空间 整个系统—独立的X光机、操作台、显示器、鼠标和键盘，封装在一台载重推车上； MX-20也可以独立操作，这就意味着该设备只需要极小的使用空间。操作方便 MX-20非常容易操作。将样本放于照射室内，关闭屏蔽和安全式户锁门，启动X射线源； 采用先进的DX 1.0软件随附“图像协助TM”和自动曝光控制，自动选择合适的曝光时间及用于标本的电压设定； 一个图像后处理程序，适用于自动窗位和影像锐利度的处理； 自动增强对比，提供更好的图像深度及结构； Faxitron支持在线呼叫，由Faxitron技术专家进行远程控制支持；产品主要应用： Phenotyping　　 骨生长/再生的研究　　 肿瘤的生长速率的研究　　 血管研究利用造影剂　　 海洋生物学 植物种子/叶子 各种标本我们还提供1725AX型小动物X射线成像系统型号：1725AX型采用130X160MM平板式数字化成像，采用ф0.3微焦点射线管集约束散射线，全数字化软件操作、数字化高清灰度专业图像采集、千兆网端连接、即时成像，使用安全、方便。 主要技术参数：1、视场：130X160mm2、有效分辨率：1274×10243、最大间距：330mm； 4、管电压：50-75kv5、管靶流：0.3-0.5mA6、像素大小：125um 7、外箱尺寸:718× 530x350mm8、主机重量：50kg9、功 耗：70W玉研仪器在X成像系统安装现场 请关注玉研仪器的更多相关产品。如对产品细节和价格感兴趣，敬请来电咨询！

产品简介单次测量能谱可覆盖2到4kev用于在线光束表征的背散射模式研究材料样品的X射线发射谱能量分辨率为0.3eV设备结构紧凑且可移动TXS光谱仪可对HHG光束线，X射线自由电子激光和台式X射线激光进行准确的光诊断。单次测量能谱可覆盖2到4kev。在具有高效率背向散射的von Hamos光路几何中，对于光束的在线表征，可实现对X射线光谱的指纹识别。 透射光束保持 90％的透射率，可使进一步的实验不受透射光强的影响。通过简单地将背散射探针与材料样品交换，hardLIGHT TXS即可用于X射线发射光谱（XES）。 中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 TXS光谱仪的定制设计需求是可讨论的。硫的K边X射线吸收谱 (XAS)中能X射线波段对许多材料的化学态都非常灵敏，如在电池研究中，2keV附近的硫光谱的精细结构可反映出重要的信息和线索。 hardLIGHT: 通过高透射率散射探针和发射光谱进行无干扰在线光束诊断规格参数Topology/类型von Hamos能量范围2-4keV光源距离可根据用户实际光路灵活调整探测器类型CCD/MCP/CMOS/或根据需要混搭 真空兼容度10-6mbar (UHV version available)晶体定位闭环电控台滤光片插入单元可选数据接口USB 或 Ethernet软件Windows UI and Labview/VB/C/C++ SDK定制能力可根据需求定制应用 高次谐波光源的光子诊断，x射线自由电子激光，桌面x射线激光原位X射线发射谱测量

仪器简介：软X射线光栅光谱仪 该系列的软X射线光栅光谱仪是McPherson公司最富盛名的产品，此类产品在全世界同步加速器以及核聚变研究方面的应用，已经成就了光谱测试领域的传奇，获得了一流科研院所用户的一致认可。 在这些光谱仪中，主要采用了掠入射光路设计，部分型号为经典的平场光谱仪。除主机外，还提供实验所需的周边附件，从而可以根据不同的实验需求，构成完整的测量系统。技术参数：波长范围光谱分辨率焦距长度 产品型号扫描功能多道检测功能光路设计1nm to 310nm0.018nm 1000mm248/310G有 有Grazing Incidence1nm to 90nm0.015nm1500mm 252/315有 有Grazing Incidence 1nm to 254nm 0.008nm2200mm247有 有Grazing Incidence1nm to 240nm 0.006nm3000mm249 有 有 Grazing Incidence1nm to 70nm0.002nm 10600mm 262无 有 Grazing Incidence1nm to 15nm0.007nm 70000mm 264有 无Grazing Incidence10nm to 170nm 0.05nm292mm251无有Flat Field Toroidal 1nm to 20nm0.02nm5649mm251MX无有Flat Field50nm to 320nm 0.1nm320mm343有 无 Toroidal

产品简介：S8 LION在分析速度、灵敏度、准确度、精密度、安全性、操作简便性、可靠性、专业解决方案等方面，把XRF分析技术又一次推向全新的历史阶段。S8 LION是布鲁克AXS公司全新设计的多道波长色散X射线荧光光谱仪，采用了当前新技术设计的固态发生器、新技术设计的超高电流X射线光管、当前先进的电子技术全新设计的电路板、全新开发的高强度弯晶体等，使X射线荧光光谱仪对元素的分析产生了突破，S8 LION又一次站在了X射线荧光仪技术的前沿。对大规模生产企业，分析系统核心的因素是：可靠性、速度、和准确度。S8 LION 正是满足以上需求的XRF。产品特点：一、可靠性高长时间的持续工作能力来自设计采用上照式设计，光管从上往下照射样品，避免样品破碎或粉尘对光管及铍窗的破坏或污染。孤岛模式：防尘设计：仪器整体密封，箱体内采用循环水冷却，避免了风冷容易在电路板上带来粉尘的缺点，仪器内部恒久保持洁净，可以在任何恶劣的环境下长期正常工作。触屏控制TM日常的分析无需外部计算机，保证操作简单而无失误，即使在恶劣的环境中仪器也能正常工作。对于应用开发、校正曲线回归、扩展评估等，通过另外一台计算机完成。两台计算机都可以完成日常分析控制，即使一台出现问题，也不影响测量工作。仪器主机配1 TCP/IP 和2 USB接口。二、分析速度快内部2位自动交换系统，采用预抽真空模式，节省时间；光管-样品-探测器距离短，高计数率保证更短的测量时间；样品分析速度：56秒/个，连续分析速度：60个/小时。三、准确度和精度高样品准确定位；对每一个元素采用优化分辨率和灵敏度的弯晶，每一通道分别控温；紧凑设计，光谱室空间小，一直保持稳定的真空；布鲁克AXS公司的高稳定性固态高频发生器，和双路水路水冷光管。两路水冷系统冷却光管，除阳极冷却外，增加了光管头部水冷系统，避免光管热量对样品的影响，提高易挥发元素测量的稳定性，避免低熔点样品表面变形而降低结果精密度；超高电流S8 LION 有两个型号：3kW，激发电压60KV，激发电流150mA4kW，激发电压60KV，激发电流170mA高电流提高计数率，降低统计误差。P10气体密度稳定器在P10气体钢瓶与流气正比计数器之间安装有气体密度稳定器，使探测器里的气体密度始终保持恒定。流气计数器采用数字式压力控制，控制更精密。所有的变动理论α系数法采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数，从而进行全面的集成的基体效应修正，这就是变动理论α系数法。其显著的优点是：需要的标样量少、校正系数更可靠、校准曲线可以适当延伸、操作方便、不需要很多的经验来选择影响元素、对于大的材料范围和很宽的浓度范围都可以得到可靠的结果。同时兼容固定理论α系数法、经验α系数法基体效应校正，三种校正模式也可以混合使用。对于固定理论α系数法、变动理论α系数法、经验系数法及混合校正方法只需一个用户界面解决所有问题，非常易于使用。四、安全性高数据安全等级密码保护功能：对不同的人给与不同的用户许可权，对曲线参数、数据库、谱线库、仪器参数等加以保护。仪器防护安全经过德国第三方检测机构TüV, PTB对技术指标、辐射保护、电器安全的严格测试，符合德国DIN EN ISO 9001:2008，CE电器安全认证，仪器外部辐射剂量 1 μSv/h (H*)，符合 ICRP, IAEA, EURATOM - 是德国政府核准的定型仪器。五、操作简便性TouchControlTM 触屏控制TM直观的触摸屏，操作简单，无需培训，仅需三步就可以得到准确的结果实时的及以前的测试结果报告S8 LION实时状态显示在线帮助功能不同的用户许可权中文操作软件，在线的多语言界面自由切换上层自动进样器安全保存参考样品和监控样品自动漂移校正自动质量检查自动重校准按预定时间自动测量监控样品样品总是准备好以备使用下层待测样品自动进样器8位（样品杯）10位 (51.5mm钢环)12位 (40mm钢环)S8 TOOLS诊断、维护和服务软件独特的诊断、维护和服务软件包，允许直接控制和检查S8 LION的所有部件，确保仪器的控制和分析非常容易。操作过程中的故障很容易识别和消除，确保操作简单、维护方便及长时间正常运行。用户可以直接得到在线帮助，采用登录程序，没有被授权的进入是不可能的。运行在Windows界面下的自诊断软件，非常直观，可以全面监测系统的几百种状态，包括输入/输出电路板、探测器接口电路板、马达驱动控制电路板、发生器、2q驱动、q驱动等，您可以将整个状态存盘，email给维修人员，从而可有效降低维修费用，缩短维修时间。PC-Anywhere远程服务-维护-支持软件PC-Anywhere软件允许Bruker AXS专家通过网络进行远程支持，使S8 LION达到很大可用性。六、灵活性高S8 LION可以安装16个固定通道，还可以安装衍射通道用于测量水泥中的游离氧化钙，在增加衍射道的时候可安装13个固定通道, 这是XRF和XRD相结合的具吸引力的全水泥解决方案。

产品简介：D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，成功实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换，让烦人的光路互换、重新对光等问题从此成为历史。高精度的测角仪可以保证在全谱范围内的每一个衍射峰（注意不是一个衍射峰）的测量峰位和标准峰位的误差不超过0.01度，布鲁克AXS公司提供全球保证。先进的林克斯阵列探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。产品参数：型号D8 ADVANCETheta立式测角仪角度范围-110-168°角度精度0.0001°Cr/Co/Cu靶标准尺寸光管探测器林克斯阵列探测器、林克斯XE阵列探测器仪器尺寸1868x1300x1135mm重量770Kg产品特点：TWIN / TWIN 光路布鲁克获得专利的TWIN-TWIN光路设计极大地简化了D8 ADVANCE的操作，使之适用于多种应用和样品类型。为便于用户使用，该系统可在4种不同的光束几何之间进行自动切换。该系统无需人工干预，即可在Bragg-Brentano粉末衍射几何和不良形状的样品、涂层和薄膜的平行光束几何以及它们之间进行切换，且无需人工干预，是在环境下和非环境下对包括粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在内的所有类型的样品进行分析的理想选择。动态光束优化（DBO）布鲁克独有的DBO功能为X射线衍射的数据质量树立了全新的重要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的自动同步功能，可为您提供无与伦比的数据质量——尤其是在低2Θ角度时。除此之外，LYNXEYE全系列探测器均支持DBO：SSD160-2，LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。LYNXEYE XE-TLYNXEYE XE-T是LYNXEYE系列探测器的旗舰产品。它是目前市面上一款可采集0D、1D和2D数据的能量色散探测器，适用于所有波长（从Cr到Ag），具有高计数率和好的角分辨率，是所有X射线衍射和散射应用的理想选择。LYNXEYE XE-T具有优于380 eV的能量分辨率，着实出色，是市面上性能好的的荧光过滤器探测器系统。借助它，您可在零强度损失下对由铜辐射激发的铁荧光进行100％过滤，而且无需金属滤波片，因此数据也不会存在伪影，如残余和吸收边。同样，也无需用到会消除强度的二级单色器。应用范围：物相定性分析结晶度及非晶相含量分析结构精修及解析物相定量分析点阵参数精确测量无标样定量分析应变分析晶粒尺寸分析原位分析残余应力低角度介孔材料测量织构及ODF分析薄膜掠入射薄膜反射率测量小角散射

真空紫外 ～ 软X射线光谱仪总览 McPherson可提供掠入射极紫外光谱仪,C-T，S-N，正入射，平场掠入射，掠入射C-T等多种结构的光谱仪，满足不同的应用，覆盖红外 - 可见 - 紫外 - 真空紫外 - 极紫外 - 软X射线全波段。大多数光谱仪可以和Andor 真空紫外CCD相机配合使用，成为该波段的摄谱仪。同时，McPherson提供范围极为宽广的VUV - XUV 光源、真空内光学器件、真空快门、真空狭缝等等，并可组建完整的真空紫外光谱系统。 波长范围(nm)分辨率(nm)焦距(mm)型号结构扫描功能CCD/MCP适配成像超高真空（选项）30 - 2,2000.1200234/302像差矫正S-N●●●30 - 1,2000.05500235S-N●●●105 - 20,0000.04670207VC-T●●●●30 - 1,2000.0151,000205自动聚焦正入射●●●●30 - 1,2000.0251,000231S-N●●●105 - 20,0000.011,330209VC-T●●●●30 - 2500.0053,0002253自动聚焦正入射●●●●30 - 2500.0026,650265离面正入射●●●●1 - 3100.0181,000248/310罗兰圆掠入射●●●1 - 800.025,650251MX平场变栅距光栅掠入射●●8 - 1200.08800OP-XCT离面掠入射C-T●●●●8 - 1200.12,000XCT掠入射 C-T●●●●10 - 1700.05292251平场轮胎面光栅掠入射●●●离面掠入射C-T结构光谱仪234/302 S-N 结构光谱仪 XUV空心阴极光源真空紫外光谱测试系统

Scandiflash 闪光 X-射线系统覆盖的电压范围从 75 千伏到 1200 千伏。系统同时也包括所有必要的外围设备。使用Scandiflash G 快速增感屏及Kodak T-MAT H 底片。底片的密度是0.7。150型，300型，450型及 450S 型系统用5米同轴电缆连接脉冲发生器与X-射线管。1200型系统管子在脉冲发生器内。X-射线源尺寸可以通过使用不同的阳极而变化。给出的是典型值。 该系统包括一个或多个通道。在预先设定的时间，每个通道提供一张照片，或者用双管装置同步曝光可得到同一时刻的两张照片。为节省成本和简化操作所有通道都连接到同一个控制系统上。系统的通道通常连接同样型号的脉冲发生器。然而，控制系统可操作几个不同型号脉冲发生器。用多个高压电源可用于操作具有不同输出电压的通道。 由被照射对象的类型和性质，决定使用何种型号的系统。很厚和高密度物体需要较高的输出电压。从 X 射线管到图像探测器有很长的距离，通常也需要较高的电压。 高电压脉冲发生器，或称脉冲发生器，在Scandiflash系统使用的改进型的马克思冲击发生器。在这种类型的电路中，电压的倍增是用电容器的并联充电和串联放电来实现的。电容器由平行充电到串联放电是由火花球隙开关来实现。脉冲放电是由在一个火花球隙上加一个高电压的触发脉冲来启动，其余的火花球隙由发生器中瞬态过电压而启动。 特制的低电感电容器，用同轴的方式排列，用来减小输出脉冲的上升时间。电容器的充电电压是可调的，这样就使输出电压连续可调。电容器的设计是模块化的，所有脉冲发生器，除了150型，都使用相同类型的高电压模块。对于不同的峰值输出电压，模块的数目是不同的。 电容器，火花间隙开关和充电网络都装在一个接地的金属罐内。金属罐起到屏蔽作用，而且是同轴性放电，以使外部射频辐射的水平非常低。金属罐内充以高气压，来提高绝缘性和控制固定火花间隙开关的击穿电压。输出电压是通过同时调节模块的充电电压和火花隙开关的气体压力来改变。 控制系统用计算机控制. 电子单元用微处理器控制, 并用网线开关连接到笔记本电脑. 所有的操作参数可以通过笔记本电脑设置和读出。对于较短的距离, 笔记本电脑是通过网线与控制台连接. 某些由于安全的原因或设备的布局,希望远距离遥控, 这样的系统就用光缆连接。基本通道控制系统在短路接触触发时, FXRC 4 将给触发装置提供一个-12 伏电压. 当这个电压被短路时, 时间延迟发生器开始工作。I用脉冲信号触发时, 触发脉冲的辐度5～50 伏. 脉冲可以是正脉冲或负 脉冲. 输入偏置电压从-9 伏到+9 伏. 为了安全触发，脉冲的上升时间应小于 0.5μs。时间间隔测试仪测量触发输入和脉冲发生器输出之间的时间间隔, 时间分辨率为 0.05 μs. 在系统工作后, 测量的时间显示在笔记本电脑上。乾燥空气用于绝缘脉冲发生器中的高压模块. 在不同的脉冲发生器充电电压时, 乾燥空气的压力可改变, 以达到最隹工作状态。 乾燥空气压力可以通过系统软件自动设置, 使用电控制的阀门. 而电传感器用于测量气压. 当笔记本电脑没有连接时, 气压也可从闪光 X 射线通道控制单元的前面板上读出。 离子泵电源离子泵电源给 X 射线管的离子泵提供一个电压. 在离子泵电源内有离子泵保护功能, 以防止离子泵过热. 当笔记本电脑没有连接时, 离子泵电流也可从闪光 X 射线通道控制单元的前面板上读出. 在双管装置时, 在FXRC 4 中也安装一个附加的离子泵电源.对于 1200 千伏系统，离子泵电源由皮拉尼规代替测量真空。 系统监测单元在每个通道中, 有系统监测单元, 跟随着通过系统的脉冲. 信号是从 6 个监测点取得。 在系统工作后,可立即给出所有信息及发现可能的故障。SU 8 型开关单元是一个 8-通道的网线开关单元, 处理笔记本电脑和 FXRC 4 单元之间的信号传输.系统是用连接到控制台上的笔记本电脑或台式机来操作. 笔记本电脑与控制台的电子线路是通过 网线连接.对于距离大于 50 米推荐用光缆. 如系同有多于一个的高压电源, 软件也可以处理, 允许在同一系统中, 不同通道有不同的输出电压.软件将找到和推荐最隹的乾燥空气及绝缘气体压强. 这些压力也可在一定范围内手动调节.下一步是选择触发方式, 也就是脉冲触发或短路触发, 并设置延迟时间. 如选择短路触发,FXRC 4 将给触发传感器一个-12 伏直流电压.当选定所有参量后, 按SET 键. 这样没有按ON 开关, 但高压电源, 延迟时间以及气体压强被设置好. 每个通道的指示器将表明设置己好.当所有通道的设置己好, 按下RESET SYSTEM 键. 软件将对设置做后期检查.这时系统己准备工作. 将高压开关按下 ON. 充电电压充到设定值. 当所有脉冲发生器充好电, 则READY 灯将亮起, 而系统可以触发.脉冲发生器的输出指标将显示该通道是否放电。这些指标也将給出哪个通道自放电。如果一个通道没有触发，该窗口将显示其是否收到触发信号。 时间间隔测试仪是用于测量从触发输入到脉冲发生器的输出之间的时间间隔。在放电后可显示所测量的时间间隔。 通过按复位按钮时，系统可以再次使用相同的设置而工作。软件手动触发包括允许一个或多个通道的手动测试。

小型机载伽马射线光谱仪简介：D230A是一种轻型伽马射线光谱仪，专为小载荷无人机设计。研发的目的就是使其重量最小化而灵敏度最大化。D230A的主要应用是机载伽马射线。两种探测器的光谱分别积累和保存，扫描速率从1秒到1分钟可调。此外，在监测过程中，两种探测器最终形成的是一个互补的综合光谱。D230A是由位于前面板卡槽里的一个小型锂电池供电。充满电的电池可维持至少4小时的操作，并可快速更换。技术参数:探测器： 两个BGO晶体，体积104cm3，直径51 x 51 mm (2”x2”)，双碱阴PMT， 灵敏度2x160cps/MBq/m (Cs- 137)。 最大分辨率11.5%FWHM (661 keV)。 或两个NaI/T晶体，体积104cm3，直径51 x 51 mm (2”x2”)， 双碱阴PMT，最大分辨率 8% FWHM (661 keV).光谱仪：全数字2x1024通道，40Mhz 数字信号处理器，线性能量校正，反堆积，200 ns分辨率，每个检测器的最大吞吐 量为250 000 cps采样率：用户可选择最小每秒1次。每个光谱同时储存在单独的数据文件和总累积光谱中。能量范围：25 keV - 3000 keV显示：LCD 2 x 20个字符控制器：单按键操作数据存储：最小2x 20000个样本，包括GPS坐标的全光谱。 稳定光谱和系统消息日志。内存大小可扩展GPS：导航至-162 dBm和-148 dBm冷启动，精度2米通信：数据传输，远程控制和诊断:USB 2.0电源：可充电锂离子电池7.2V/2200 mAh （在20摄氏度下最少可工作4小时），外部充电器和电池组尺寸：145 mm x 78 mm x 260 mm重量：3.5 kg（2个BGO）环境：操作温度范围-10oC 到 +50oC IP-40级，无防尘、防水。

TD系列衍射仪承载了通达科技多年来在研发中的精髓，随着时代的需求而进化 X射线衍射仪主要应用于粉末、块状或薄膜样品的物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析、晶体的取向性分析、宏观应力或微观应力的测定、晶粒大小测定、结晶度测定等。丹东通达科技有限公司生产的TD-3500型X射线衍射仪采用进口西门子PLC控制，使TD-3500型X射线衍射仪具有精度高、准确度高、稳定性好、寿命长、易升级、操作简便和智能化的特点，能灵活地适应各种行业的测试分析与研究！ X射线发生器（高频高压固态发生器、工频发生器可选）；采用具有自主知识产权，并获得国家发明专利的可编程序控制器(PLC)控制技术（专利号：ZL 2010 1 0177596.4，专利种类：发明专利）；自动化程度高、故障率极低、抗干扰能力强、系统稳定性好、可延长整机使用寿命。PLC与计算机接口自动控制光闸的开关，自动控制管压、管流的升降，具有自动训练X光管的功能。采用触摸屏实时在线监测，显示仪器状态；先进的记录控制单元，采用PLC控制线路；采用先进的PLC控制技术及真彩触摸屏实现人机交互，系统硬件均采用了模块化设计理念，使系统抗干扰能力大大增加，系统更加稳定。由于采用大规模高精度自动化程度极高的进口西门子PLC控制线路，使得该系统可长时间无故障地稳定地运行。该系统较其他公司采用的单片机线路有以下几方面的优势 ；线路控制简单，便于调试、安装；由于采用模块化设计，使得该系统维修非常简单，用户无需厂家技术人员在场的情况下可自行维修与调试；采用先进的真彩色触摸屏实现人机交互，保护功能齐全，操作非常方便，立体感极强的动画设计更加人性化，更加直观，便于 操作者的使用及判断故障信息等；大大提高了该系统的计数的稳定性，从而提高整机的综合稳定度；由于PLC扩展能力强，可方便地扩展多种功能附件，而无需另外增加任何硬件线路。探测器正比探测器（PC）或 闪烁探测器（SC）。高精度测角仪 TD系列测角仪采用进口高精度轴承传动，运动控制由一套高精度全闭环矢量驱动伺服系统来完成，智能驱动包含32位RISC微处理器、高分辨率磁性编码器，能将极小的运动位置误差自动修正，可保证测量结果的高精度、高准确度，角度重现性可达到0.0001度，较小步进角可达到0.0001度。采用的中空轴结构的测角仪，具有国家发明专利（专利号：ZL 2014 1 0301527.8，专利种类：发明专利）。电子铅门联锁装置，双重防护，光闸窗口与铅门联动，铅门打开光闸自动关闭，确保使用者安全。X射线管（玻璃管、波纹陶瓷管、金属陶瓷管可选）

DM6100型X射线测厚仪 用于钢带、铜带、铝带、铝箔等的非接触式在线厚度测量填补了国内以X光管作射源的小型X射线测厚仪的空白性价比大大优于以同位素放射源作射源的测厚仪价格仅为国外同类产品的五分之一 CMC 沪制02280027 概述 DM6100型X射线测厚仪可用于各行各业中各种塑料薄膜、橡胶、木材、纸板、金属薄板等厚度的测量，主要用于金属轧制行业各个领域对生产线上的产品，如带钢、铜带、铝带、铝箔等进行动态状态下的厚度测量，可输出厚度信号到AGC系统，以实现厚度的闭环调节。具有不接触被测物体、连续、快速、准确测量等优点。DM6100型X射线测厚仪采用X光管作X射线源，相比于国内目前绝大部分以同位素放射源作X射线源的X射线测厚仪，具有很大的优越性。首先，可以免除使用同位素放射源带来的复杂审批程序、高额管理成本、尤其是仪器报废其放射源的回购成本。其次，本测厚仪采用本公司开发的特有的射源控制技术，其X射线源的能量和强度连续可调，可保证在最大测量厚度范围内的每个厚度都达到最佳测量精度，而同位素放射源一般只有一个能量，只能保证某一厚度的最佳测量精度。目前国内生产的X射线测厚仪绝大部分以同位素放射源作X射线源，而以X光管作X射线源的X射线测厚仪主要以进口的大型设备为主，价格很高，虽说近几年国内也有少数企业开始生产，但市场占有率有限，且价格也较高。DM6100型X射线测厚仪是采用小型X光管作X射线源的小型测厚仪，其性能虽略逊于进口产品，但价格远低于进口产品，也低于国内同行，只与以同位素放射源作X射线源的测厚仪相近，而性能却大大高于以同位素放射源作X射线源的测厚仪。DM6100型X射线测厚仪填补了国内以X光管作射源的小型X射线测厚仪的空白，它的推出使国内需用测厚仪的中小型企业也能用上以X光管作射源的X射线测厚仪，为用户提供了一种新的更优化的选择。用户以价格相近的DM6100型X射线测厚仪来取代以同位素放射源作射源的X射线测厚仪，不仅将因为性能的提高而极大地提高产品的质量，从而给用户带来极大的经济效益，同时将因为不用同位素放射源而提高国内的环境保护水平，从而给国家带来极大的社会效益。我们相信DM6100型X射线测厚仪定将在不远的将来取代以同位素放射源作射源的X射线测厚仪，成为X射线测厚仪市场的主导者。 特点 1. 不含同位素放射源，无三废公害，免除用户的麻烦和费用。2. 连续的非接触式测量，与AGC系统相连可以实现厚度的闭环控制。3. 大屏幕中文显示、冷阴极背光液晶、字迹清晰、明亮。4. 集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强、可靠性高。5. 测量精度高，反应速度快，稳定性好。6. 操作使用方便、快捷，维护、调试工作量小。7. 具有自诊断、误操作提示、自动校准、补偿功能。8. 屏蔽防护极好，确保辐射安全防护要求。9. 价格功能比低，适应我国国情。 主要技术指标 1. 测量范围：0.1mm～4.0mm（对钢），0.01mm～10.0mm（对铝）。 2. 钢带运行速度：0～27m/s。 3. 分辨精度：0.001mm。 4. 测量精度：±0.2%。 5. 响应时间： 100ms（对厚度变化5%响应63%）。 6. 采样周期：200ms、400ms、600ms、800ms可选择。 7. 测量噪声：0.12%。 8. 重复性： 0.2%。 9. 漂移： 长期漂移±0.24%每8小时，短期漂移±0.2%每小时。 10. 预热时间： X射源接通后1小时 11. 自动标定时间：≤20分钟。 12. 材质补偿范围：0～15%（或采用多条合金标定曲线的办法）。 13. 使用条件：环境温度：0~+40℃，相对湿度：≤95%(30℃)，电源：220V±20V，50Hz。 14. 整机功耗： ≤250W。 15. 尺寸及重量：仪表操作台：470mm×365mm×160mm，15kg。 C型架：673mm×579mm×189mm，35kg。 订货需知 DM6100型X射线测厚仪标准型主要技术指标如上所述，标准型的C型架外形规格尺寸如图1所示。如用户认为标准型的能满足测量要求请尽可能选择标准型的，因为标准型的是大批量标准化生产，价格是最便宜的。除标准型外，本公司可提供非标准型的X射线测厚仪，以满足绝大部分需用X射线测厚仪的用户的要求，其X射线光管高压最高电压可为：90kV、150kV、250kV， 最大电流可为：0.5mA、1.0mA、2.0mA，从而使测量范围提高到25.0mm（对钢），测量精度提高到：±0.05%，响应时间： 1ms。如有特殊要求，请在 订货时请提供以下信息： 测量对象量程范围轧制速度带材宽度C型架与操作台的距离测量精度响应时间轧制温度其它要求1其它要求2

DM6100型X射线测厚仪 用于钢带、铜带、铝带、铝箔等的非接触式在线厚度测量填补了国内以X光管作射源的小型X射线测厚仪的空白性价比大大优于以同位素放射源作射源的测厚仪价格仅为国外同类产品的五分之一 CMC 沪制02280027 概述 DM6100型X射线测厚仪可用于各行各业中各种塑料薄膜、橡胶、木材、纸板、金属薄板等厚度的测量，主要用于金属轧制行业各个领域对生产线上的产品，如带钢、铜带、铝带、铝箔等进行动态状态下的厚度测量，可输出厚度信号到AGC系统，以实现厚度的闭环调节。具有不接触被测物体、连续、快速、准确测量等优点。DM6100型X射线测厚仪采用X光管作X射线源，相比于国内目前绝大部分以同位素放射源作X射线源的X射线测厚仪，具有很大的优越性。首先，可以免除使用同位素放射源带来的复杂审批程序、高额管理成本、尤其是仪器报废其放射源的回购成本。其次，本测厚仪采用本公司开发的特有的射源控制技术，其X射线源的能量和强度连续可调，可保证在最大测量厚度范围内的每个厚度都达到最佳测量精度，而同位素放射源一般只有一个能量，只能保证某一厚度的最佳测量精度。目前国内生产的X射线测厚仪绝大部分以同位素放射源作X射线源，而以X光管作X射线源的X射线测厚仪主要以进口的大型设备为主，价格很高，虽说近几年国内也有少数企业开始生产，但市场占有率有限，且价格也较高。DM6100型X射线测厚仪是采用小型X光管作X射线源的小型测厚仪，其性能虽略逊于进口产品，但价格远低于进口产品，也低于国内同行，只与以同位素放射源作X射线源的测厚仪相近，而性能却大大高于以同位素放射源作X射线源的测厚仪。DM6100型X射线测厚仪填补了国内以X光管作射源的小型X射线测厚仪的空白，它的推出使国内需用测厚仪的中小型企业也能用上以X光管作射源的X射线测厚仪，为用户提供了一种新的更优化的选择。用户以价格相近的DM6100型X射线测厚仪来取代以同位素放射源作射源的X射线测厚仪，不仅将因为性能的提高而极大地提高产品的质量，从而给用户带来极大的经济效益，同时将因为不用同位素放射源而提高国内的环境保护水平，从而给国家带来极大的社会效益。我们相信DM6100型X射线测厚仪定将在不远的将来取代以同位素放射源作射源的X射线测厚仪，成为X射线测厚仪市场的主导者。 特点 1. 不含同位素放射源，无三废公害，免除用户的麻烦和费用。2. 连续的非接触式测量，与AGC系统相连可以实现厚度的闭环控制。3. 大屏幕中文显示、冷阴极背光液晶、字迹清晰、明亮。4. 集成化程度高，环境适应能力强，抗干扰能力强、可靠性高。5. 测量精度高，反应速度快，稳定性好。6. 操作使用方便、快捷，维护、调试工作量小。7. 具有自诊断、误操作提示、自动校准、补偿功能。8. 屏蔽防护极好，确保辐射安全防护要求。9. 价格功能比低，适应我国国情。 主要技术指标 1. 测量范围：0.1mm～4.0mm（对钢），0.01mm～10.0mm（对铝）。 2. 钢带运行速度：0～27m/s。 3. 分辨精度：0.001mm。 4. 测量精度：±0.2%。 5. 响应时间： 100ms（对厚度变化5%响应63%）。 6. 采样周期：200ms、400ms、600ms、800ms可选择。 7. 测量噪声：0.12%。 8. 重复性： 0.2%。 9. 漂移： 长期漂移±0.24%每8小时，短期漂移±0.2%每小时。 10. 预热时间： X射源接通后1小时 11. 自动标定时间：≤20分钟。 12. 材质补偿范围：0～15%（或采用多条合金标定曲线的办法）。 13. 使用条件：环境温度：0~+40℃，相对湿度：≤95%(30℃)，电源：220V±20V，50Hz。 14. 整机功耗： ≤250W。 15. 尺寸及重量：仪表操作台：470mm×365mm×160mm，15kg。 C型架：673mm×579mm×189mm，35kg。 订货需知 DM6100型X射线测厚仪标准型主要技术指标如上所述，标准型的C型架外形规格尺寸如图1所示。如用户认为标准型的能满足测量要求请尽可能选择标准型的，因为标准型的是大批量标准化生产，价格是最便宜的。除标准型外，本公司可提供非标准型的X射线测厚仪，以满足绝大部分需用X射线测厚仪的用户的要求，其X射线光管高压最高电压可为：90kV、150kV、250kV， 最大电流可为：0.5mA、1.0mA、2.0mA，从而使测量范围提高到25.0mm（对钢），测量精度提高到：±0.05%，响应时间： 1ms。如有特殊要求，请在 订货时请提供以下信息： 测量对象量程范围轧制速度带材宽度C型架与操作台的距离 测量精度响应时间轧制温度其它要求1其它要求2

EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪产品概述能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器，通过智能激发和检测设计实现高灵敏度，用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法，适用于不同的应用场合。内容描述仪器型号EDX-6000能量色散X荧光光谱仪分析原理能量色散X射线荧光分析法分析元素范围Na(11)-U(92)任意元素检出下限Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm样品形状任意大小，任何不规则形状样品类型塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等X射线管靶材钼（Mo）靶管电压5─50KV管电流1─1000ｕA样品照射直径2、5、8mm探测器美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统高压发生器美国SPELLMAN高压发生器前置放大器美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好主放大器美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好AD转换模块美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好ADC2048道滤光片6种滤光片自动选择并自动转换样品观察130万彩色CCD摄像机分析软件专利软件产品 BX-V26版本，终身免费升级分析方法理论alpha系数法、基本参数法、经验系数法操作系统软件WINDOWS XP（正版）数据处理系统主机PC商务机型CPUP4 3.0内存512MB光驱8xDVD硬盘80G显示器17寸液晶显示器工作环境温度10－35С，湿度30－70％RH重量60Kg（主机部分）外形尺寸550（W）×450(D)×450(H)mm外部供电电源要求AC220±10%、50/60Hz测定条件大气环境测试样品时间100－300秒可调环境温度10℃-28℃环境湿度≤70 ％RH(25℃室温)应用领域EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪应用于石化产品，塑料和聚合物，食品和化妆品，环境，矿石，医药，建筑材料，中心实验室成品检验，金属材料等。工作原理采用的是X射线荧光分析原理，受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。仪器结构融合经验系数法、基本参数法（FP法）等分析方法，测试数据的准确性能得到全面保证。经验系数法：仪器依据对标准样品的测定，确定影响系数。对标准样品要求高，需和待测样品类型相近，校正模型简单。基本参数法（FP法）：仪器根据实际检测物质，通过对多种物理量建模计算确定参数。对标准样品要求不高，计算较复杂，适合缺少对应标样的物质检测。软件功能1元素含量分析范围为2 PPm到99.99%2采用BG内标校正，提高非定性式样测量精度3用户自定义多曲线多光谱拟和分析方法4全自动定量分析报告 简捷准确5自适应初试化校正6光谱的自动获取和显示。7具有自动检测仪器工作状态的功能。8自动判别样品及自动分析。提供扩展接口，进一步作其他元素分析，从钙到铀元素。进口硬件1美国进口Si-PIN探测器，高速脉冲高度分析系统2美国SPELLMAN高压发生器3美国进口前置放大器，与美国进口探测器兼容性好4美国进口主放大器，与美国进口探测器兼容性好5美国进口AD转换模块，与美国进口探测器兼容性好

对于普通的光学显微镜无法看到的物体，除了光学小伙伴们熟知的透射电子显微镜等仪器之外，还有其他方法，让体积更小的待测物更清晰可辨吗？ 日本西格玛光机株式会社的新品——透镜成像型X射线成像单元，或许能帮到很多人。 一、工作原理 透镜成像型X射线成像单元应用了类似于早期CRT电视机的成像原理，它能将不可见的X光照射到特殊的基板上，转换为可见光，从而连接物镜、透镜、CCD等，将X成像变为可能。 ?? 阴极射线管CRT电视机 ?? 阴极射线管CRT原理图 二、产品结构 ?? 产品图 ?? 结构示意图 三、产品特性 1. 透镜成像型X射线成像单元可以将入射的X射线图像通过闪烁器的荧光发射转换成可见图像，并放大成像的系统。 2.通过将闪烁体（LuAG:Ce）和基板（无添加LuAG）进行固相扩散接合，制备了光学特性高的薄膜闪烁器（最薄可达5μm），同时实现了抑制接合界面产生的光的散射、反射。 3.具有200nm Line&Space的高空间分辨率。 4.因为没有使用对X射线耐受性弱的粘结层，所以对X射线有很高的耐久性。 5.因为基板部分会遮蔽X射线，所以可以减小后段镜头的X射线损伤。 四、相关参数 五、闪耀体Q&A 闪耀体是什么材质的？有什么特点？ 闪烁陶瓷是一种广泛应用在医疗诊断用辐射探测器、工业无损探伤、核医学、高能物理等领域的新型功能陶瓷材料。 作为闪烁材料，必须具备：高的有效原子序数、高的光输出、快的衰减速度和优异的透光性。 稀上离子激活的Lu3Al5O12 (LuAG) 结构为立方石榴石结构，具有密度高(p=6.73g/cm3)和有效原子序数大(Zeff=62.9)等优点，并且具备优异的光学性能，良好的机械和热力学性能，能够容许高平均功率下工作。 能做闪耀体的LuAG 晶体有啥特性？ 1.LuAG 晶体为石榴石结构，属立方晶系，Ia3d 空间群，晶胞参数为1.1914nm , 由一些共顶点的四面体和八面体相连而成。 2.每个八面体和6 个四面体相连，每个四面体和4个八面体相连， Lu归占据着这些由四面体和八面体构成的十二面体网格的中心。 闪耀体应用在哪些领域？ 1. 在光电子器件、环境研究、阴极射线荧光粉、军事等方面具有重要的应用价值。 2. 对X射线吸收能力强，是理想的X射线探测材料。 3. 该晶体同时也是高能伽玛射线和带电粒子探测，紫外射线高空间分辨成像屏的一种理想选择。 六、是否可以定制？ ?? 闪耀体可单独销售； ?? 可安装配置C口相机； ?? 物镜放大倍率2.5X-100X； ?? 提示：使用大型照相机时，请另外准备支撑系统。 ?? 定制服务 可以配合量子效率，制作所列型号参数以外的外径和厚度的闪耀体。 作为日本西格玛光机株式会社的一级代理商，光谱时代也将为您提供更多相关产品及服务

X射线粉末衍射仪XRD 一、仪器概述：多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品功能齐全，灵活适应各种物质微观结构的测试、分析和研究。产品采用了θ-θ测角仪立式、中空轴、射线管座与测角台一体化的结构，可对粉末、大块不规则固体、液体样品进行测试。 二、主要特点：1. 结构新，采用立式测角仪结构，更加方便的样品放置方式，对于操作、维护的工作力度大为简化，更加直观的使用，便于清理实验后的样品台。2. 进口NaI闪烁晶体计数探测器，分辨率及长时间使用稳定性好。3. X射线管套采用整体铜棒材加工定位精度、射线防护性更好；采用了转轮式快门，开关速度快，故障率低，射线阻断性好，机柜外辐射剂量低。4. X射线光源的数字控制电路作了进一步的改善，X光机的工作功率完全由计算机遥控设定。高压与管流的加载过程受微电脑控制自动操作，使用更加简单，运行更加可靠。5. 中英文视窗操作界面，全新改版的PDP衍射数据处理软件包，支持多种数据输出方式。 三、主要技术指标：1. 瑞士进口MYTHEN探测器无噪声和暗电流，卓越的一维（1D）探测器动态范围、线性和分辨率，先进的光子计数探测器可以提高强度150倍，不仅答复提高设备的使用效率， 而且大幅提高了设备的探测灵敏度。。2. 金属陶瓷X射线管、Cu靶、功率2.4KW、风冷或是水冷自由选择。3. 测角仪衍射圆半径大于等于150mm。4. 测角仪重现性：0.0001度。5. 测角仪角度重现性：0.0006度。6. 可控最小步进：0.0001度。

产品简介：D8 DISCOVER X射线衍射仪是材料研究领域的先进X射线衍射系统。采用创造性的达芬奇设计，配备了集成化的DIFFRAC.SUITETM软件，附件自动识别、即插即用以及完全集成化的二维XRD2功能。这些特征使得用户可以非常方便的在材料研究领域的不同应用之间切换，包括：反射率测量(XRR)、高分辨测量(HRXRD)、掠入射(GID)、面内掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及残余应力和织构分析。主要应用：高分辨XRD(HRXRD)外延多层膜厚度晶胞参数晶格错配组份应变及弛豫过程横向结构镶嵌度X射线反射率(XRR)薄膜厚度组份粗造度密度孔隙度倒易空间图谱(RSM)晶胞参数晶格错配组份取向弛豫横向结构面内掠入射衍射 (in-plane GID)掠入射小角X射线散射(GISAXS)晶胞参数晶格错配横向关联性取向物相组成孔隙度应力和织构分析取向分布取向定量应变外延关联硬度物相鉴定(Phase ID)物相组成d值确定择优取向晶格对称性晶粒大小应用案例： HRXRD 硬件设置 LEPTOS(布鲁克公司高分辨数据分析软件)分析多层膜数据

Micro Focus可以用于小动物活体成像系统，小动物X光机，小动物X射线成像系统，小鼠X光机，鱼X射线机，兔子成像，狗成像，猴子成像，小羊成像一键自动曝光无需专业的X射线操作知识无额外的X射线防护要求不锈钢腔室设计使得清洗更容易远程网络诊断和支持 配备图片处理工作站 参数：电压：20KV-90KV焦点尺寸：5μm成像面积：325pxx325px，（也可定制其他型号和分辨率）平板分辨率：100μm

当前价格是定金，准确货期&实际价格请与客服咨询为准！谢谢 追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200ü无损分析，保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量 更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低 更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例 新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样) 新升级———降低分析成本————l阈值算法优化，有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级，降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管，有效提高高湿度地区光管使用寿命

13013577625微信同号销售部经理张弓为您服务。工业探伤用便携式X工业探伤用便携式X光机手提式X光机光机手提式X光机工业探伤用便携式X光机手提式X光机工业探伤用便携式X射线机 广泛应用于安检排爆、工业无损探伤、医疗宠物等领域，详询销售部经理张弓：性能参数 GDX-50C1、技术性能： * 有效视野 Φ50mm 被测物厚度 ≤300mm * 管电压选择范围 45~75KV连续可调 管电压误差 ±10% * 管电流选择范围 0.25~0.5mA连续可调 焦点位置与基准轴偏差 ±1㎜ 管电流误差 ±20% * 图像分辨率 ≥40lp/cm 灰度等级 ≥7级 对比度　　　　　　　　　 4% 亮度 ≥25cd/m2 X射线漏率 ≤1.0mGy/h2、环境条件 温 度 10oC~40oC 相对湿度 ≤75% 大气压力 700hpa~1060hpa3、电源条件 电源电压 AC220V　　　 　电源频率 50Hz±1Hz 输入功率 ≤200W 供电网电阻最大允许值 0.5Ω 供电网过电流释放器 1 A4、外形尺寸与重量 长×宽×厚 560×130×420cm 主机 3.6 Kg 毛重 9 Kg 功能简介：C型机器在A型机器的基础上加装德国进口工业相机，相机配有USB接口，通过数据线与电脑连接，可实现在电脑上进行图像、视频的采集；图像处理；存储、打印等功能

Xslicer SMX-1010为搭载90kV微焦点X射线发生装置和高分辨率平板检测器的垂直照射型X射线装置。 与旧机型（SMX-1000 Plus）相比，画质有了大幅改善，广受好评的操作性也得到了进一步提升。 在操作性提升的同时，载物台移动速度、检测器捕获速度也有提高，可大幅缩短检查时间。 实现透视检查作业的效率化。 CT单元（选配）也简化了操作流程，操作性更佳。产品货期&价格请与客服咨询为准！谢谢！

产品介绍：自上世纪60年代德国西门子推出全封闭型的X射线荧光光谱仪（XRF）以来，已经有50多年的商业化进程。布鲁克AXS公司（前身是德国西门子公司的X射线分析仪器部）一直坚持专业化的道路，领导着X射线分析技术发展的潮流。根据新的技术和对用户需求的深入了解，围绕分析测试任务的核心整体设计仪器和功能。2008年布鲁克成功推出S8 TIGER，在灵敏度、准确度、精密度、安全性、可靠性、操作简便性、分析速度、功能完备的分析软件等方面，把XRF分析技术又一次推向了全新的历史阶段。2017年，第二代S8 TIGER成功推出，采用HighSenseTM技术，保证从铍（4Be）到镅（95Am）的所有元素提供高灵敏度。HighSense技术包括专利的紧凑的HighSense光路、HighSense X射线发生器、HighSense X射线管、HighSense XS系列分光晶体、HighSense计数电子元件。凭借HighSense技术、高分辨率WDXRF技术以及对轻、中、重元素的检测，第二代S8 TIGER的XRF2 微区分析系统可提供高灵敏度、300μm的小光斑尺寸以及高的空间分辨率。产品特点：一、高灵敏度、高准确度及高精密度专利紧凑的HighSense光路HighSense光路，阳极—样品—探测器之间距离短，信号损失少，保证了高灵敏度HighSense高稳定性固态发生器采用新技术模块化设计的固态发生器，稳定性优于±0.000005%，可靠性好S8 TIGER 1kW，激发电流50mA，激发电压50kV，同级别中强度高。配有内部水冷机，不需要外部水冷机，插上电源就可以使用。S8 TIGER 3kW，激发电流150mA，激发电压60kV，强度上堪比传统的4kW荧光仪。S8 TIGER 4kW，激发电流170mA，激发电压60kV，市场上好的荧光仪。HighSense低温X射线光管HighSense超尖锐端窗陶瓷光管，设计功率4200W，设计电压75kV，设计电流200mA。独特的双路水冷系统，除阳极冷却外，光管头部增加特殊冷却回路，避免光管头部热量对样品的影响，提高易挥发元素及低熔点样品测量的稳定性。提高了分析液体样品、低熔点样品的安全性。此外在阴极与铍窗之间增加隔板，避免蒸镀现象，光管强度不衰减。标配75 μm铍窗，HighSense光管50μm铍窗，强度提高15%，HighSense光管28μm铍窗，超轻元素强度提高50%。HighSense光管铍窗上有保护性涂层，耐腐蚀。高灵敏度、高稳定性的分光晶体HighSense系列人工合成晶体，大大提高了轻元素的检测能力，其中：XS-B晶体提高B元素分析灵敏度百分之百；XS-N晶体提高N元素分析灵敏度百分之百；XS-C显著地降低了背景，提高信噪比30%；XS-55晶体对O、F、Na、Mg元素的灵敏度也比常规的晶体提高了10%以上；XS-400晶体与LiF200晶体覆盖的元素完全相同，但是灵敏度提高了35%；XS-CEM人工多层膜专利晶体，测量Al—S间元素具有无以匹敌的长期稳定性，没有PET晶体的潮解现象，没有PET晶体随着时间的推移强度降低的现象，没有其它天然晶体的温度效应。是水泥、玻璃、矿物、采矿、地质、铝业等领域测量主含量Al、Si的晶体；XS-Ge-C锗弯晶提高P灵敏度40%，提高S灵敏度20%以上；XS-PET-C弯晶提高Al的灵敏度20%。HighSenseTM探测器技术及动态匹配TM功能 HighSenseTM流气正比计数器和闪烁计数器，极快的死时间校正，即刻显示PHA扫描图，数字信号传输，线性范围高达4Mcps（线性偏差≤1%）。动态匹配TM功能，软件自动降低电流，使高含量元素的计数不超过探测器的物理限制，测量更准确，低含量元素自动在满功率条件下测量，使痕量元素也能准确地测量。采用动态匹配功能探测器的高计数率可以达到13Mcps。动态匹配功能可以采用相同的谱线分析样品中从ppm到百分之百含量范围的成份。HighSense高效的微区分析系统XRF2借助HighSenseTM技术，第二代S8 TIGER能针对小到0.3mm并可选1.25mm的微小区域开展高灵敏度的元素定性、定量、无标样定量及元素分布分析，步长0.1mm。轻元素采用正比探测器，重元素采用闪烁探测器，灵敏度提高10倍，实现了同级别仪器里真正的微区分析。此外，高清摄像头能够对感兴趣区域拍摄图片，保证微区分析的针对性和重现性。高透光性的真空封挡 在测量液体和松散粉末样品时，程序控制的真空封档将样品室和光谱室分开，允许在固体和液体样品的分析之间快速地切换。由于只有很小的样品室充氦气（氮气），真空封挡显著地降低气体消耗量，同时探测器的稳定性更高，结果的精密度更好。在测量过程中，独特的真空封挡也可以在液体样品泄漏或有粉尘样品时保护光谱室，防止被污染。真空封挡是S8 TIGER的样品保护TM包的一部分。高精度光学定位测角仪采用高精度光学定位测角仪，定位精度高，测角仪直接到达预设角度，快速连续前进，无需反复调整，长期运行没有磨损。角度准确度优于±0.001°，角度重现性优于±0.0001°,扫描速度1200°/分钟，转角速度4800°/分钟。变动理论α系数法采用基本参数法单独地计算每一个样品的校正系数，从而进行全面的集成的基体效应校正，这就是变动理论α系数法。其显著的优点是：需要的标样量少、校正系数更可靠、校准曲线可以适当延伸、操作方便、不需要很多的经验来选择影响元素、对于大的材料范围和很宽的浓度范围都可以得到可靠的结果。同时兼容固定理论α系数法、经验α系数法基体效应校正，三种校正模式也可以混合使用。对于固定理论α系数法、变动理论α系数法、经验系数法及混合校正方法只需一个用户界面解决所有问题，非常易于使用。未知烧失量校正对于烧失量或烧增量很大的样品，通常的做法是将样品预先灼烧，然后根据烧失量进行反算或将烧失量输入到基体校正公式进行校正，分析全铁的时候还有用钴做内标的。布鲁克未知烧失量校正功能不用测量烧失量，软件会根据其它分析成分估算一个LOI，然后经过多次迭代和拟合，无需知道烧失量也可以进行准确的烧失量校正，大大地提高了分析速度也节约了分析成本。角度偏移校正校正价态、矿源差异等引起的峰位位移，测量结果更准确。（独有技术）几何校正通过直径–厚度–密度、直径–厚度–质量或直径–质量–密度三种样品制备选项对未达到X射线穿透饱和深度的样品进行几何校正，从而得到更准确的测量结果。（独有技术）制样校正软件对用熔融制样或粉末样需加粘合剂的制样方法，采用任意配比、随意称量、准确输入的方法，称样误差小，称样速度快，不同的制样方法可以共用同一工作曲线。（独有技术）P10气体密度稳定器在P10气体钢瓶与流气正比计数器之间安装有气体密度稳定器，使探测器里的气体密度始终保持恒定，保证测量结果精密度更高。流气计数器采用数字式压力控制，控制更精密。高稳定性的光谱室光谱室温度稳定性优于±0.05℃，避免了温度变化引起分光晶体的面间距变化，从而引起被测量元素光子衍射角度的变化。采用真空度控制测量对于固体样品，采用真空度控制测量，只有达到预设的真空度才开始测量，避免了吸潮样品在测试阶段真空度的不一致引起强度计数的差异。 二、高安全性、高可靠性样品保护&trade 功能，四重保护，保证仪器长期可靠运行在样品进入和退出样品室时采取独特的保护，使仪器的故障率低，维护成本少两个污染防护屏，分别保护光管和光谱室粉尘接收盘，收集掉落下来的样品颗粒测量过程中的独特保护 光管保护屏DuraBeryllium&trade 高强度铍窗，保护光管窗口 独特的高透光性真空封挡保护光谱室原位进样系统S8 TIGER采用了直接进样技术，即样品直接装入到仪器的测量位，保证样品到光管的距离不会变化。采用这种直接进样方法的样品室可以设计得很紧凑，又保证了抽真空和充氦气的快速可靠。传统的光谱仪使用样品转台系统来进样，转台上的2个位置经常会出现位置不准的问题，光管到样品的距离的细微变化都会降低分析精度，这时就需要维修，或放弃样品转台的第二个位置。同时这种设计不可避免地扩大了样品室的体积，增加了进样机械装置的复杂性和保养维护难度。直接进样系统在进样和出样过程中，光管的高压关闭，是完全没有X射线的。在执行这些操作时，光管的灯丝加热电流一直是通的，维持光管的稳定性。1.直接进样代替分步进样，机械结构简单，零故障。2.避免样品在仪器内部过多的运动，避免粉尘积聚、液体侧翻的风险。3.清洗样品室简单，不需要打开仪器，易于维护。 4.进样速度快。 等级密码保护功能对不同的人给予不同的用户许可权，对曲线参数、数据库、谱线库、仪器参数等加以保护。双计算机控制系统。日常的分析采用触摸屏控制，保证操作简单而无失误，即使在恶劣的环境中仪器也能正常工作。对于应用开发、校正曲线回归、扩展评估等，通过另外一台计算机完成。两台计算机都可以完成日常分析控制，即使一台出现问题，也不影响测量工作全新设计的安全回路电路板全新设计的探测器、多道分析器、安全回路电路板、马达驱动板、4轴板等，仪器的运行更可靠。防尘设计防尘设计机柜，仪器整体密封，箱体内采用循环水冷却，避免了风冷容易在电路板上带来粉尘的缺点，仪器内部恒久保持洁净，可以在任何恶劣的环境下长期正常工作。产品认证经过德国第三方检测机构对技术指标、辐射保护、电器安全的严格测试，符合德国DIN54113射线防护和CE电器安全等“产品认证”，是德国政府核准的定型仪器。 三、操作简单触屏控制&trade 1.直观的触摸屏，操作简单，无需 培训，仅需三步就可以得到准确的结果.2.实时显示及查找以前测试结果3.S8 TIGER实时状态显示4.在线帮助功能5.中文操作软件，在线的多语言界面自由切换快速的符合人体工程学的样品装载1.75位带有托盘的自动进样器，可识别样品类型2.60位大样品杯进样器，适合各种类型及形状样品3.108位不用样品杯进样器，机械手直接吸取样品 四、非常快的分析速度非常快的分析速度基于：高强度的X射线光管、快速运行的电子电路板、快速的内部通讯在保证分析精度的前提下，根据元素的含量不同，每个元素的测量时间在2-10秒钟。例如水泥样品中10个元素(Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、MnO2、Fe2O3)，从放入样品到显示结果不超过2分钟，分析速度完全可以和多通道荧光仪相媲美，而分析的灵活性和高准确度是多通道荧光仪所不具备的。 五、功能完备的分析软件SPECTRAplus V4定性、定量分析软件SPECTRAplus V4是专为第二代S8 TIGER研发的功能强大的现代分析软件。SPECTRAplus V4包括了定性、定量分析的所有功能，运行在Windows 10环境。SPECTRAplus V4为简单、快速的操作而特别开发的，支持第二代S8 TIGER的独特的TouchControlTM触屏控制的全部功能。SPECTRAplus V4支持网络功能，用网络中的任何计算机都可以实现全部的分析功能，如分析曲线开发、无标样评估、数据报表。网络计算机的数量没有限SPECTRAplus V4定性分析软件具有交互及自动寻峰以及元素识别功能、自动背景扣除与平滑、高分辨显示样品谱图、坐标轴变换、自动提醒干扰谱线等功能。SPECTRAplus V4定量分析软件具有集成的智能专家系统，确保用户充分利用S8 TIGER的分析性能创建用户自己特殊应用。分析曲线的自动导航功能从材料的定义到结果的输出，引导用户一步步完成，从开始就可以完成高质量的分析。可以灵活的输入制样参数及任何可用的化学信息。采用基本参数法进行完全一体化的基体校正（变动“理论α系数法”，计算每一个样品的校正系数），也可以采用理论系数法与经验系数法相结合的固定α系数法进行强度及强度/浓度混合模式的基体校正。用图形显示测量强度、校正强度及背景强度。用户可以指定结果输出格式，非常容易地编辑成报告格式。分析结果超出警戒线会自动显示与报警。全局或指定漂移校正功能。“Daily-Check-Routine”程序定期检查仪器，满足GLP要求。在线统计分析。SPECTRAplus V4完全汉化，所有程序全部有中文界面、中文提示。并且版本可以保持与英文版同时升级，可以随时切换成中文、英文、法文等界面。 QUANT EXPRESSTM无标样软件包QUANT EXPRESSTM允许在没有标准曲线的情况下对完全未知的样品进行自动分析。 QUANT EXPRESSTM提供了无以匹敌的分析灵活性。可以在2分钟之内采用扫描模式进行无标样分析，也可以对痕量级的元素进行准确测定。根据用户的需求，QUANT EXPRESSTM可以提供用于交互评估的扫描测量模式，也可以提供峰/背比测量模式。QUANT EXPRESSTM是一体化分析智能的一部分。可以执行自动寻峰、元素与谱峰的识别、微区定性的元素分布及每一个单点的元素浓度显示、经背景与谱线重叠校正之后净强度的精确测定等。SPECTRAplus V4软件中独有的强大的变动α系数法基体校正功能，自动执行基体校正及不同类型样品（薄膜、无限厚或非无限厚样品）的校正。用户输入的样品的特性、已知元素的浓度和基体成分都可以集成到一起，进一步提高分析结果的准确度。QUANT EXPRESSTM可以完全用于用户特定的标准曲线中，采用变动α系数法测定没有标样的元素。它是SPECTRAplus V4集成部分，作为专家系统提供任何应用的谱线设置。S8 TOOLS诊断、维护和服务软件独特的诊断、维护和服务软件包，允许直接控制和检查S8 TIGER的所有部件，确保仪器的控制和分析非常容易。操作过程中的故障很容易识别和消除，确保操作简单、维护方便及长时间正常运行。运行在Windows界面下的自诊断软件，非常直观，可以全面监测系统的几百种状态，您可以将整个状态存盘，email给维修人员，从而可有效降低维修费用，缩短维修时间。WebeX远程服务-维护-支持软件允许Bruker AXS专家通过网络进行远程支持，使第二代S8 TIGER达到好的可用性。专业解决方案软件包ML PLUS多层膜分析软件：采用先进的完全基本参数法，具有吸收法和发射法两种分析模式；薄层分析采用发射法，厚层分析采用吸收法（准确度更高）。可分析多达15层（每层16个元素）的镀膜样品，测定每层膜的厚度和元素含量。PETRO-QUANT软件，可以对油品、塑料、橡胶、聚合物等样品中的30个元素进行优化的无标样定量分析，以及预定义的EN、ISO、ASTM、DIN分析油品的方法和预校准分析曲线。为用户提供交钥匙方案，仪器安装后可以按照国际标准方法立刻进行常规分析。GEO-QUANT ADVANCED氧化物分析软件，是地质、矿物、采矿、耐火材料、玻璃与陶瓷业的解决方案，采用熔片法制样，可以分析氧化物中21个主、次元素。GEO-QUANT T软件，基于数百个国际参考样品建立的校准曲线，测量地质样品中微量、痕量元素，是地质方面的研究、监测、环保等全面解决方案。CEMENT-QUANT软件，采用国际标样建立的水泥工业完整的解决方案，可用于生料、水泥、熟料及采石厂来料中14个元素快速、简单、精密的定量分析。METAL-QUANT软件，金属材料的解决方案，可以分析铁基、钴基、镍基、铜基、铅基、锡基中23个主、次及痕量元素。POLMER-QUANT软件，用于分析聚合物中的微量和痕量成分。GEO-QUANT Iron Ore软件，可以分析铁矿石、铁精矿、球团矿、烧结矿等含铁矿物中20个主、次及痕量元素。

菲涅耳波带片是短波常用的光学元件，但其单焦特性阻碍了衍射和干涉术向短波的应用转移。针对此问题，本公司开发了不同功能的EUV和X射线光场调控元件，具备超分辨聚焦、涡旋、分束、移相等功能，特别适用于EUV和X射线波段的干涉传感和相干衍射成像等领域。特点适用EUV，软X射线以及硬X射线波段；分辨率高；可提供多种功能的元件，灵活性强；可接受定制。参数类型工作尺寸/um最小特征/nm焦距/mm工作波长/nm光学功能EUV-300-0.193001904.222213.5超分辨EUV-850-0.138501308.185213.5涡旋EUV-450-0.224502207.333313.5分束EUV-450-0.224502207.333313.5移相EUV其它参数可接受定制。softX-300-30300303.21432.8超分辨softX-400-354003552.8涡旋softX-500-40500407.14292.8分束softX-600-506005010.71432.8移相Soft X-ray其它参数可接受定制。hardX-200-302003048.38710.124超分辨hardX-300-403004096.77420.124涡旋hardX-400-4540045145.16130.124分束hardX-500-5050050201.61290.124移相Hard X-ray其它参数可接受定制。

TDF系列X射线晶体分析仪概述TDF系列X射线晶体分析仪是研究物质内部微观结构的一种大型分析仪器，主要应用于单晶定向、检验缺陷、测定点阵参数、测定残余应力、研究板材、棒材的结构、研究未知物质的结构和单晶位错等。特点TDF系列X射线晶体分析仪采用立式管套，四个窗口可以同时使用。TDF系列X射线晶体分析仪采用进口PLC控制技术，控制精度高、抗干扰性好，可实现本系统可靠地工作，PLC控制高压的开关、升降、具有自动训练X光管的功能，有效的延长X射线管及仪器的使用寿命。高压发生器（采用进口PLC控制）管电压：10-60KV；管电流：2-60mA；管电压、管电流稳定度≤±0.005%；额定输出功率：3KW。高压电缆 介电电压≥100KV；长度：2M。X射线管额定功率：2.4KW；焦点尺寸（mm2）：点焦点（1×1）线焦点（1×10）；靶材：Cu、Co、Fe、Cr、Mo、W等。 X射线照相机劳厄相机（大小粉末）平板相机三维样品台美国Multiwire相机X射线防护罩采用高密度、高透光性道德铅玻璃作为X射线防护罩，外射线量不大于0.1µ Sv/h

&bull 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）&bull 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件（理学独有）&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

X射线自动定向仪是根据市场对晶体角度测量越来越高的精度要求而推出的手动定向仪的升级产品，它是利用X射线衍射原理，设计制造的光，机，电三为一体精密仪器，能快速地测定天然和人造晶体（压晶体管、光学晶体、激光晶体、半导体晶体）的晶面，可与各种切割、研磨等加工设备配套使用。是精密加工制造晶体器件不可缺少的仪器，上述各种晶体的定向与切割。广泛适用于各种晶体材料加工行业和科研院校。 技术特点： 1. 采用进口PLC控制，自动化程度高、故障率极低、抗干扰能力强、系统稳定性好。 2. 全中文人机界面，7英寸TFT触摸屏，接口直观、操作简单。 3. 自动测角扫描方式，并采用进口高分辨率编码器，大大提高测量精度，规避了人工测量的读数误差，极大降低了操作者的劳动强度和操作难度。 4. 测量方式灵活，只需轻触触摸屏或踩脚踏开关，二者任选。 5. 自动标晶校对准确方便、自动扫描10次，取平均值。 6. 满足客户不同需求，设置单点、两点、四点测量模式。 7. 显示可在任一位置调零，便于显示晶体片角度偏差值。 8. 具有峰值放大的特殊积分器，采用高压模块器件，提高检测精度。 9. 模块化的电子线路，射线管高压电缆一体结构，使用维修简单。 10. 自动控制关闸设计，只在必要时打开，安全方便无隐患。 11. 可根据被测样品不同，定制各种样品台，保证测量精度和使用的方便性。 技术参数： 本技术参数根据中华人民共和国机械行业标准，JB/5482 —91 1)、使用条件： 1) 海拔不超过1000米 （超过1000.米、客户与制造厂协商解决） 2) 环境温度+5°~+35°C ； 3) 相对湿度不得大于75%,(如超过此湿度必须采取相应措施)； 4) 单相交流220V，50HZ 5A，电源电压波动不大于±10%，容量不低0.5KW ； 5) 有良好的接地装置，接地电阻不应大于4Ω； 6) 供电线路中不得有电焊机，高频炉等设备引起的高频和电弧干扰。 2、技术指标： (1) X射线发生器部分 输入电源：单相交流220V、50HZ、0.5KW； X射线管：铜靶阳极接地，强迫风冷； X管电压：-30KVP，全压合闸； X管电流：0~5mA，连续可调； 功 率：总功率不大于0.5KW； 保 护：自动光闸、高压连锁、温度保护； 静态检测精度：≤±10″ （用标准石英片SIO2、1011面）（θ：13°20′）（2θ：26°40′） (2) 测 角 仪 部 分： 样品台转角度：θ，0~+55°； 计数器转角度：2θ，0°~+100°； 狭 缝：发散度为4′.5′.6′插入式； (3) 触 摸 屏： 角度最小读值：1″； 数字显示：度、分、秒。 角 度 调 整：数字显示可予置任何角度值。 （3）记录部分： 计 数 管：GJ5101盖革计数管工作电压0~1100V 。 强度显示；微安表显示被测晶体角强度值。 （4）外型尺寸：1150（长）×650（宽）×1500（高）。 （5）重 量：约200Kg。

技术参数 1、X射线发生器功率为3KW 2、测角仪为水平测角仪3、测角仪半径300mm4、测角仪配程序式可变狭缝 5、最小步径0.0001度6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）7、高速探测器D/teX Ultra250（0维，1维模式）8、半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)7、搭载从控制测量到分析结果的SmartLab Studio II软件包 8、视频观察系统9、丰富的各种附件 主要特点 1、SmartLab家族中的最新成员SmartLab SE。2、使用SmartLab Studio II软件，可以一键式得到从选择条件、测量、到分析、结果报告的所有结果，不需要任何经验，就可以得到高质量的分析结果。3、智能X射线衍射仪SmartLabSE系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 4、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 5、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 6.小角散射与纳米材料粒径分布 7. 微区样品的分析 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab SE系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、智能的测量分析SmartLab Studio II软件，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

X射线衍射方法是研究晶体结构的重要手段之一。高压X射线衍射实验中，样品尺寸通常较小，且衍射几何会受到高压样品腔（DAC）的限制，因此该实验方法对对X射线光源有较高要求，即要求X射线源同时具备微焦点、高通量、高能量三大要素。同步辐射光源是目前高压衍射实验使用的主要光源，但其机时通常较紧张。随着科学技术的发展，传统的X光机得到了长足发展，不论光源强度还是焦点尺寸都已经满足了高压实验的需要。实验室所用的高压X射线衍射仪在使用时间上不受限制，为科研人员开展高压衍射实验提供了巨大的便利。本公司针对高压 X 射线衍射技术，采用最先进的旋转中心定位方法，成功研制出针对高压实验的专用X射线衍射仪，其独特的设计可同时用于高压粉末和高压单晶两种实验，实现一机两用。技术指标：1、 可选微焦斑Mo靶（17kev）,Ag靶材（22 kev），同时可选针对高压实验的高能液态金属In光源（24 kev），X 射线光源具有聚焦后样品处光斑小，光通量大和波长短等特点。2、 大面积、单光子计数探测器提高衍射数据分辨率，获得更多的衍射峰数量，提高晶体结构的分辨率。配备CdTe单光子计数型探测器，大幅提高对短波长射线的探测效率并降低背景噪音，提高数据信噪比。3、 采用在同步辐射实验装置上所使用的先进旋转中心定位法，在此基础上进行优化。利用五维电动样品位移台，通过软件操作，实现样品扫描对中。具有样品到探测器距离固定不变、数据精确等优势，避免用户操作时辐照损伤。液态金属In靶E1型X射线光源参数高通量模式焦斑大小90 μm FWHM通量1.9 × 108 ph/s发散度3.15 mrad小焦斑模式焦斑大小15 μm FWHM通量1.8 ×107 ph/s发散度12.6 mrad特殊模式焦斑大小10 μmFWHM通量1.0 ×106 ph/s发散度2 mrad位移台参数XY轴重复定位精度±0.2 μm；行程±10 mm；Z轴重复定位精度≤±0.2 μm；行程±10 mm；Ф 轴重复定位精度≤0.002°；行程±135°；X1Y1重复定位精度±0.2 μm；行程±12.5 mm；应用领域：1、高压下的结构相变、状态方程、弹性、织构等研究2、涉及的材料包括高温超导体、纳米材料、超硬材料、矿物、大块金属玻璃、半导体、各种功能材料等3、应用领域包括物理、化学、地球/行星科学、材料等

TX3000全反射X射线荧光光谱仪是浪声科学经过多年XRF技术沉淀，专门设计研发用于元素分析和痕量分析的便携式光谱仪。其能够在极低的背景噪声条件下实现高灵敏度检测，可快速针对液体、悬浮液、固体和污染物，进行定量和半定量多重元素微量分析，为痕量元素分析领域提供了一种高效率、高灵敏度的解决方案。TX3000体积小巧，便于携带和运输，非常适合现场分析或移动实验室的需求。其具有制样简单、高性能、易用性、环保性和经济效益等特点，是科研、质量控制和环境监测等领域中不可或缺的分析工具。使用优势一键智能操作具备用户友好的操作界面，使得操作简单、直观，即便是非专业人员也能轻松掌握。多元素同时分析仪器可以同时检测铬、铅等8大主要重金属元素，也可以根据检测需求进行元素扩展，分析近30个元素，大大节省了分析时间。轻便易携设备小巧，一体化结构设计，不需要任何辅助设备及气体、液氮等，可拿到现场或野外进行检测分析。环境友好与传统X射线荧光光谱仪相比，TXRF采用特殊几何配置，有效降低了辐射暴露风险，更能保障操作人员安全。本土化服务国内生产厂家能够提供更快速的售后服务和技术支持，确保用户在使用过程中的问题能够得到及时解决。 微量样品需求该方法只需极少量的样品即可进行准确分析，非常适用于样品量有限的情况。高精度与高灵敏度仪器采用多层膜单色器和全反射光路设计，缩短了探测器到样品距离，提高了荧光产量，适用于痕量元素的精确测定。低背景噪声X光束以掠射角照射样品，降低了散射和荧光背景，实现了更低的背景噪声，检测低限可降低几个数量级。低运行成本相比进口设备，国产TXRF通常具有更高的性价比，同时设计用于低能耗运行，需要的样品量少，减少了对昂贵试剂和标准物质的需求，另外样品溶解程序不需要使用设备以及危害性化学品，成本效益极高。应用领域环境科学土壤、空气和水质的微量元素分析材料科学食品安全生物医学/生物制药文化遗产地质/冶金法医学化妆品规格参数尺寸360 ×365 × 265mm（L×H×W）重量≤15KG（不含电池）核心技术全反射X射线荧光（TXRF）元素范围Al(铝)—U(铀)含量范围ppb至100%样品类型液体、悬浮液、粉末、颗粒、金属、薄膜、组织、擦拭物、过滤材料等样品体积液体及悬浮液从1μl到50μl，颗粒最大直径为100μm,粉末最大为10μg样品座载玻片X射线管高亮度微焦斑固定靶点光源光学系统真空正交背靠背X射线人工多层反射聚焦镜探测器50mm2超大面积SDD探测器数据显示系统仪器一体自带显示器，超大工业级电容屏附件移液枪、移液枪吸头、研钵、抹刀、加热干燥装置等