库尔特粒子计

仪器信息网讯 2012年5月23日，为了给用户提供一个了解颗粒特性分析技术最新动态和交流使用心得的平台，贝克曼库尔特在清华大学环境学院成功举办了“颗粒特性分析技术讲座”，贝克曼库尔特高层携公司相关技术专家出席了会议，为40多位颗粒特性分析工作者作了精彩的讲解；仪器信息网作为特邀媒体应邀参加。 会议现场 贝克曼库尔特分析仪器产品全球市场经理THOMAS ED HORTON先生(左)和分析系统市场专家HANDY YOWWANTO先生(右)出席会议 贝克曼库尔特中国及东南亚区域颗粒特性分析部市场营运经理马怍楠主持会议 贝克曼库尔特颗粒特性分析部技术应用经理MATTHEW RHYNER博士 　　贝克曼库尔特微粒表征产品系列概述 　　MATTHEW RHYNER博士首先介绍说：“贝克曼库尔特微粒表征产品涉及Z + MultisizerTM系列库尔特计数器、LSTM系列激光散射粒度分析系统、DelsaNanoTM纳米粒子分析仪、XLA/XLI超速分析离心机和SA3100比表面分析仪等，主要为具有粒度、电荷、浓度和孔隙度等特性相关需求行业和学术界的客户提供解决方案”。随后，MATTHEW RHYNER博士就这五类产品的技术优势应用领域做了系统的阐述。 贝克曼库尔特颗粒特性产品重大里程碑展示 　　四大颗粒表征方法的技术优势和典型应用 　　MATTHEW RHYNER博士分别详细介绍了激光衍射法、库尔特法、动态光散射法和zeta电位的测试方法、常见问题、技术优势和典型应用。 　　(1) 激光衍射法 　　MATTHEW RHYNER博士讲到：“激光衍射法是一种测量粒度的方法，是世界上最流行的粒度测量技术，可以为用户提供快速和一致的结果，并且在能想象到的几乎每个行业中都有所应用，如药品乳剂、粉末涂料、咖啡、化妆品、调味品、污水等行业领域”。 LS系列激光粒度分析仪 　　贝克曼库尔特LS系列激光粒度分析系统是基于此原理制造的，该仪器的激光器为先进的高功率光纤连接固体光源，寿命长 可同时采用4个波长(450nm，600 nm，780 nm及900 nm)及背散射测量 干法样品台采用最先进的“龙卷风”系统及设计，“快速气流变换“技术配置无须早期设计之空气压缩机，模拟龙卷风产生机理，产生高度剪切力以达至最佳而非破碎性分散效果。 　　(2) 库尔特法 　　MATTHEW RHYNER博士讲到：“库尔特法由库尔特先生于1948年发明，并于1953年10月20日取得专利权，是一种独特的非光学方法，用于对稀释的导电液体中存在的物质进行粒度分析，在过滤效率、干细胞、蛋白质聚集体、体外诊断体液、细胞水肿动力学、海水等领域有着广泛的应用前景。” 　　贝克曼库尔特生产的Multisizer 3颗粒计数仪正是基于此原理制造的。该仪器适用于分析颗粒、细胞、微生物等 可分析光学技术不能检测之浓度极低样品，如水样品。细菌等 具备精确体积测量泵，可作定量分析，而且不受颗粒形状、颜色及光学特性(折光率与吸光率)的影响，实时提供颗粒计数与粒度分布，分辨率高。 Multisizer 3库尔特颗粒计数仪 　　(3) 动态光散射法和zeta电位分析法 　　MATTHEW RHYNER博士讲到：“动态光散射是一种用于估计非常小物体直径的技术，可检测的最小粒子粒度为0.6nm-7μm，在纳米粒子和生物样品分析方面应用广泛，适合分析球形粒子，难于分析圆柱形粒子。” 　　“zeta电位是一种用于计算粒子在溶液中所带电荷的参数，是根据物体的电泳淌度计算而来，可以对样品进行定性比较、测定等电位点、鉴定涂层的效果或质量。” DelsaNano系列纳米粒度/Zeta电位仪 　　与上述表征方法相关的贝克曼库尔特的仪器是DelsaNano系列纳米粒度/Zeta电位仪是基于这两种方法制造的。它的主要特点是：该仪器采用了高灵敏度技术，可以测量高浓度样品和极低浓度样品的Zeta电位以及纳米粒度，不需前处理，浓度动态范围达四个数量级。 现场讨论 　　另外，讲座会还特设了颗粒分析技术问答环节，参会者积极讨论，增强了仪器用户与厂商专家的互动，取得了良好的效果。清华大学环境学院高工郭玉凤女士(上图中间位置)，在讲座上积极参与讨论，对整个讲座的用户交流起到了积极的推动作用。 贝克曼库尔特高层与参会用户合影留念 　　附录： 　　http://www.instrument.com.cn/netshow/SH100336/ 　　http://www.beckmancoulter.com.cn/

贝克曼库尔特公司 2009年北京“颗粒特性表征技术新进展”讲座 美国贝克曼库尔特公司的颗粒特性表征产品进入中国已经二十多年，技术的不断发展造就了不凡的影响力，公司的发展有赖于广大用户的支持和信赖。 为了提供一个了解颗粒特性表征技术最新动态和一个交流使用心得的平台。美国贝克曼库尔特公司颗粒特性分析部门假座北京丽亭华苑酒店，特别举办“颗粒特性表征技术新进展”讲座，介绍最新的表征颗粒特性的技术以及国际潮流的动态。诚邀各领域有兴趣的人仕参加。 有兴趣参加讲座的人士请向贝克曼库尔特公司市场部索取报名表格，并及时回传回执。 地点：北京丽亭华苑酒店二层四季厅 地址：北京市海淀区知春路25号 讲座：2009年1月8日 9:30 至12:00 13:30 至 16:00 午宴：12:00-13:00 主 讲：美国贝克曼库尔特公司 资深应用专家 许人良 博士 内容： ☆ 提高粒径分析分辨率的解决方案 ☆ 新型干粉分散技术 ☆ 微量粒子分析技术 ☆ 高浓度Zeta电位测量的解决方案 ☆ 固液介面稳定性表征方法的新突破 美国贝克曼库尔特公司 2008年12月8 日 市场部联系人：陈 先生 联系电话：13318833894 , 020-85187188 传真：020-85187072，85187188 电子邮箱： wchen@beckman.com ---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 回 执 我单位有兴趣参加“颗粒特性表征技术新进展”讲座。 单位名称： ，联系人： ， 联系电话： ，e-mail： 。 参加人数 人。 (敬请于2008年12月20日前回传本回执,贝克曼库尔特公司, Fax:020-85187072 ) ------------------------------------------------------------------------------------- --------------------------------------------------------------------------

美国贝克曼库尔特公司的颗粒特性表征产品进入中国已经二十多年，技术的不断发展造就了不凡的影响力，公司的发展有赖于广大用户的支持和信赖。 为了提供一个了解颗粒特性表征技术最新动态和一个交流使用心得的平台。美国贝克曼库尔特公司颗粒特性分析部门于上海培训中心举办“颗粒特性表征技术新突破”讲座。诚邀各领域有兴趣的人仕参加。 有兴趣参加讲座的人士请向贝克曼库尔特公司市场部索取报名表格，并及时回传回执。 地点：贝克曼库尔特公司上海培训中心 地址：浦东新区峨山路91弄120号， 陆家嘴软件园8号楼一楼 讲座：2009年1月12日 9:30 至12:00 13:30 至 16:00 午宴：12:00-13:00 主 讲：美国贝克曼库尔特公司 资深应用专家 许人良博士 内容： ☆ 提高粒径分析分辨率的解决方案 ☆ 新型干粉分散技术 ☆ 微量粒子分析技术 ☆ 高浓度Zeta电位测量的解决方案 ☆ 固液介面稳定性表征方法的新突破 美国贝克曼库尔特公司 2008年12月8 日 ---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 回 执 我单位有兴趣参加“颗粒特性表征技术新进展”讲座。 单位名称： ，联系人： ， 联系电话： ，e-mail： 。 参加人数 人。 (敬请于2008年12月20日前回传本回执,贝克曼库尔特公司, Fax:020-85187072 ) ------------------------------------------------------------------------------------- --------------------------------------------------------------------------