脉冲反射超仪

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脉冲反射超仪相关的厂商

  • 400-860-5168转2482
    鼎信优威光子科技有限公司专业从事光谱,生物与物理影像及相关应用的科学仪器的销售,目前我们代理多家国外仪器、设备及系统产品均为各自领域内的技术领先产品。美国PRINCETON INSTRUMENTS公司:科研级CCD,红外CCD,各种研究型光谱系统。 德国 Becker & Hickl GmbH 公司: TCSPC单光子计数器 ,弱信号处理产品, 荧光寿命影象系统 , 多波长荧光寿命影象分析系统。美国ISS公司:瞬态/稳态荧光磷光光谱分析系统,荧光关联光谱分析系统。我们还代理光纤超快激光器,脉冲可调光纤激光器,宽光谱激光器,显微镜宽光谱光源,LED光源。美国 Semrock公司:高性能荧光滤光片, 喇曼滤光片,激光反射镜,窄带滤光片。 美国ANDOVER公司:荧光滤光片,窄带滤光片,衰减片等。我们可以根据用户的具体要求,提供完整的系统解决方案,包括集成、设计等。 我们的商务人员具有丰富国际贸易经验,力争让用户在最短的时间内收到订购的仪器。
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  • 400-860-5168转4764
    公司成立于2010 年,专业代理欧美(美国、加拿大、德国、英国、瑞士等)高精度的光学检测设备,致力于为科研和工业客户提供一流的光学检测解决方案及包括售前、售中和售后在内的全方位服务。主要包括: 光学检测产品:应力双折射、折射率、弱吸收、反射率、散射仪、非接触式测厚仪、测角仪、可调相位延迟波片等; 激光检测产品:激光功率计、能量计、光束质量分析仪、THZ 探测器等; 其他产品:集成系统所需的激光器、步进位移平台、偏振光转换器等;显微系统所需的XYZ 电动载物台、波片进片机、高速相机ICCD、像增强器300ps 门控时间、FLIM、高精度脉冲延时器等。 近年来公司科研团队自主研发PCI弱吸收测量仪,CRD光腔衰荡法高反测量仪,偏心曲率测量仪等产品,相关指标达到国际先进水平。
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  • 400-860-5168转3241
    载德半导体技术有限公司是专业的半导体及微电子领域仪器设备供应商,载德所代理的仪器设备广泛用于高校、研究所、半导体高新企业。载德半导体技术有限公司目前代理的主要产品包括: - 霍尔效应测试仪(Hall Effect Measurement System); - 快速退火炉(RTP); - 回流焊炉,真空烧结炉(Reflow Solder System); - 探针台(Probe Station),低温探针台(Cryogenic Probe Station); - 贴片机(Die Bonder),划片机(Scriber),球焊机/锲焊机(Wire Bonder); - 原子层沉积系统(ALD),等离子增强原子层沉积设备(PEALD); - 磁控溅射镀膜机(Sputter),电子束蒸发镀膜机(E-beam Evaporator),热蒸发镀膜机(Thermal Evaporator),脉冲激光沉积系统(PLD) - 低压化学气相沉积系统(LPCVD),等离子增强化学气相沉积系统(PECVD),快速热化学气相沉积系统(RTCVD); - 反应离子刻蚀机(RIE),ICP刻蚀机,等离子体刻蚀机; - 加热台、热板、烤胶台 (Hot Chuck / Hot Plate); - 扫描开尔文探针系统(Kelvin Probe),光反射膜厚仪(Reflectometer); 等等...
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脉冲反射超仪相关的仪器

  • 热反射(Thermo-Reflectance)方法基于超高速激光闪射系统,可测量基片上金属、陶瓷、聚合物薄膜的热物性参数,如:热扩 散系数、导热系数、吸热系数(Thermal Effusivity)和界面热阻。由于激光闪射时间仅为纳秒(ns)量级,甚至可达到皮秒(ps) 量级,此系统可测量厚度低至 10nm 的薄膜。同时,系统提供不同的测量模式,以适应不同的基片情况(透明 / 不透明)。 NETZSCH TR 特性:• 该方法符合日本国家标准:• JIS R 1689:通过脉冲激光热反射方法测量精细陶瓷薄膜的热扩散系数;• JIS R 1690:陶瓷薄膜和金属薄膜界面热阻的测量方法 。发展简史1990 年,日本产业技术综合研究所/日本国家计量院(AIST/NMIJ)发明热反射法,测量薄膜导热性能。2008 年,AIST 设立 PicoTherm 公司。2010 年,PicoTherm 公司推出纳秒级热反射系统 NanoTR。2012 年,PicoTherm 公司推出皮秒级热反射系统 PicoTR。2014 年,PicoTherm 公司和 NETZSCH 公司建立战略合作。由 NETZSCH 负责 PicoTherm 产品在全球的销售和服务。技术背景激光闪射法 -最主流的材料热扩散系数测试方法在现代工业中,关于材料的热性能、特别是热物理性能的相关知识变得日益重要。在这里我们可以举出一些典型领域,例如应用于高性能缩微电子器件的散热材料,作为持续能源的热电材料,节能领域的绝热材料,涡轮叶片中所使用的热障涂层(TBC),以及核工厂的安全操作,等等。在各种热物性参数之中,导热系数显得尤其重要。可以使用激光闪射法(LFA)对材料的热扩散系数/导热系数进行测定。这一方法经过许多年的发展已广为人知,可以提供可靠而精确的数据结果。样品的典型厚度在 50um 至 10mm 之间。NETZSCH 是一家世界领先的仪器制造厂商,提供一系列的热物性测试仪器,特别是激光闪射法导热仪。这些 LFA 系统在陶瓷,金属,聚合物,核研究等领域得到了广泛应用。热反射法 -测试厚度为纳米级的薄膜材料的热扩散系数随着电子设备设计的显著进步,以及随之而来的对有效的热管理的需求,在纳米级厚度范围内进行精确的热扩散系数/导热系数测量已经变得越来越重要。日本国家先进工业科学与技术研究所(AIST),在上世纪 90 年代初即已响应工业需求,开始研发“脉冲光加热热反射法”。于 2008 年成立了 PicoTherm 公司,同时推出了纳秒级的热反射仪器“NanoTR”与皮秒级的热反射仪器“PicoTR”,这两款仪器可对薄膜的热扩散系数进行绝对法的测量,薄膜厚度从数十微米低至纳米级范围。2014 年,NETZSCH 日本分公司成为了 PicoTherm 公司的独家代理。与我们现有的 LFA 仪器相结合,NETZSCH 现在可以提供从纳米级薄膜、到毫米级块体材料的全套的测试方案。为什么需要测试薄膜?薄膜的热性能与块体材料的热性能不同纳米级薄膜的厚度通常小于同类块体材料典型的晶粒粒径。由此,其热物理性能与块体材料将有着显著的不同。测量模式超快速激光闪射法 -RF 模式:后部(Rear)加热 / 前部(Front)探测可测试热扩散系数与界面热阻纳米级薄层与薄膜的热透过时间极短,传统的激光闪射法(LFA)使用红外测温,采样频率相对较低,已不足以有效地捕捉纳米级薄膜的传热过程。因此需要一种新的更快速的检测方式,可以克服经典的激光闪射法的技术局限。这一被称为超快速激光闪射法的技术,其典型模式为后部加热/前部探测方法。这一方式的测量结构与传统的 LFA 方法相同:样品制备于透明基体之上,测量方向为穿过样品厚度、与样品表面垂直。由加热激光照射样品的下表面,由探测激光检测样品上表面的传热温升过程。随着样品检测面的温度逐渐上升,其表面热反射率会相应发生变化。使用探测激光按一定采样频率对检测面进行照射,利用反射率的变化可获取检测面的温度上升曲线。基于该曲线进行拟合计算,可得到热扩散系数(如下图所示)。这里,金属薄膜(Mo)的热扩散系数测量结果为 15.9 mm2/s。时间域热反射法 -前部加热 / 前部探测(FF)测定热扩散系数与吸热系数除了 RF 方法之外,测量也可以使用前部加热/前部探测(FF)的结构进行。“Front”一词这里指的是沉积于基体上的薄膜的外表面,而“Rear”一词指的是薄膜与基体接触的一面。在 FF 测量配置中(如下图所示),加热激光与探测激光处于样品的同一面。加热激光加热的是薄膜的前表面的一个直径为几十微米的区域,探测激光则指向同一位置,观察在照射之后表面温度的变化。这一方法可以应用于非透明基体上的薄层材料,即 RF 方法不适合的场合。在下图的示例中,使用 FF 模式,金属薄膜(Mo)的热扩散系数测量结果为 16.1 mm2/s。结果证明了 RF 与 FF 模式之间结果高度的一致性(偏差2%)。NanoTR 原理NanoTR 具有先进的信号处理技术,可以进行高速的测量。测试过程中,一束脉冲宽度 1ns 的激光脉冲被周期性(间隔20us)地照射到样品的加热面上。使用探测激光记录检测面相应的温度响应。通过在极短时间内进行大量的重复测试,对重复信号进行累加,可以获得优异的信噪比。通过软件,仪器可以方便地在 RF 与 FF 两种测试方式之间进行切换,由此适合于各种类别的样品。NanoTR 遵从 JIS R 1689,JIS R 1690 标准,提供具有热扩散时间标准值的薄膜标样(RM1301-a),使结果具有 SI 可回溯性。该标样由 AIST 提供。PicoTR 原理对于皮秒级热反射分析仪 PicoTR,照射到样品的加热面上的是脉冲宽度仅为 0.5ps 的激光脉冲,重复周期为 50ns。使用探测激光,记录检测面相应的温度响应。PicoTR 允许用户在 RF 与 FF 两种模式之间进行自由切换。PicoTR 符合 JIS R 1689,JIS R 1690 标准。技术参数仪器型号NanoTRPicoTR温度范围RT,RT … 300°C(选配)RT,RT … 500°C(选配)测量模式RF/FFRF/FF样品尺寸10 × 10mm … 20 × 20mm10 × 10mm … 20 × 20mm薄膜厚度30nm … 20μm (取决于样品种类和测量模式)10nm … 900nm (取决于样品种类和测量模式)热扩散系数0.01 … 1000mm2/s0.01 … 1000mm2/s主激光脉冲宽度 1ns 光束直径 100μm 激光功率 100mW脉冲宽度 0.5ps 光束直径 45μm 激光功率 20mW
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  • Panlab条件恐惧和震惊反射(包括前脉冲抑制PPI)广泛用于学习记忆功能、认知神经科学、神经生理学、神经药理学、认知功能退行性变性等实验研究方面的研究。产品特点Panlab 特有的条件恐惧和震惊反射联合测试系统将震惊实验(包括前脉冲抑制实验)和条件恐惧实验放到一个实验箱体中完成,搭配不同的配件,即可执行震惊或条件恐惧测试,这样的设计不仅节约了用户宝贵的实验空间,也大大的节约了采购成本。 实验箱体采用独特的重力传感器来监测动物的行为,具有很高的灵敏度,可准备地觉察到动物的微小动作,即使小鼠的轻微动作也可识别,从而判断动物的活动/僵立(Freezing)以及震惊反应,动物的任何反应经过特有的放大器后传输到计算机,使用统一设计的PACKWIN软件对数据进行实时的采集和分析,PACKWIN 软件可以灵活搭配 STARTLE和 FREEZING 实验模块,分别应用于震惊和条件恐惧实验。同时,系统还可以搭配多种硬件刺激模块,包括灯光、声音、电刺激、吹气,这些硬件均可以通过软件编程进行控制。 系统可适用于不同体重大小的小鼠和大鼠(15-500g),同时在条件恐惧实验中,可搭配不同的环境组件,对墙壁和地板的材质、颜色进行更改,也可以将动物活动的空间变为圆筒等形状。技术参数1.条件恐惧和震惊反射系统的整合适用于大鼠、小鼠2.灵敏度极高的重力传感器3.适用动物范围广(15-500g)4.高度灵活的实验流程编辑器5.可追踪的实验数据6.声音频率和强度通过软件控制7.USB 数据传输,兼容性高8.可移除、方便清洗的托盘9.条件恐惧实验中可设置不同的空间背景10.可选配吹风刺激装置11.笼室尺寸 250 (W) x 250 (D) x 250 (H) mm12.隔音箱尺寸 670 (W) x 530 (D) x 550 (H) mm13.地板格栅 10 mm 或6mm 间距14.材料成分 夹击丙烯酸酯,铝合金,不锈钢15.最大通道数 8(1 台电脑控制)16.传感器灵敏度 10 mg- 2 kg17.音频和振幅18.前脉冲/脉冲:200-10000Hz 可调节,最大120dB 19.白噪音:60-120dB 可调节20.认证 符合CE 标准21.电源 110V/220V, 50/60Hz订购信息型号品名数量备注1备注2LE116震惊恐惧活动控制箱n套 含隔音箱条件恐惧、震惊反射LE111压力传感放大器n台条件恐惧、震惊反射LE118刺激接口模块1台做单通道时,选择LE118; 做多通道时,选择LE1188条件恐惧、震惊反射LE1188刺激接口模块1台条件恐惧、震惊反射LE10026电流发生器n台可用于做前脉冲抑制PPI测试条件恐惧、震惊反射LE100501M6mm 隔栅-适合幼小鼠n台条件恐惧、震惊反射LE117MM小鼠固定器n个35g以内小鼠使用震惊反射LE117M 小鼠固定器n个50g以内小鼠使用震惊反射LE117R大鼠固定器n个250g以内大鼠使用震惊反射LE117RR 大鼠固定器n个500g以内大鼠使用震惊反射LE119气冲套件 n套震惊反射LE115 环境组件n套条件恐惧PACKWINCSST 震惊反射研究模块1套震惊反射PACKWINCSFR条件恐惧研究模块1套条件恐惧PACKWIN V2.0 软件(可控制8通道)1套条件恐惧、震惊反射注:最多可做8个通道,用X代表通道数(n=1, 2, 3.......8)
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  • teraview-电光太赫兹脉冲反射计-EOTPR 3000产品型号:EOTPR 3000产品介绍:EOTPR 3000系统配置了一个手动探针台,以满足当今恶劣的 FA 环境,该环境需要在几分钟而不是几小时或几天内隔离故障位置,同时保持 EOTPR 世界领头的亚 5 微米故障隔离精度。性能特点:用于快速采样的手动探针站每个引脚的数据采集时间小于5秒。用于捕获数据的用户友好型软件。使用 GGB 高频探针。支持50μm至1.1 mm之间的任何间距。距离缺陷故障隔离精度小于5μm。参数:产地:英国EOTPR 脉冲上升时间:6 ps(基于处理后的数据)定义为高频探头末端的反射脉冲从其 值的 10% 上升到 90% 的时间准确性:能够定位靠近高频探头的 50 Ω 共面波导上的特征,精度为 ± 5 µ m范围:在典型封装中与探针的接触点 可达 270 mm输入阻抗:标称 50 Ω信噪比:94分贝激光稳定:激光功率稳定可防止测量期间激光功率波动测量时间:快速扫描延迟线提供每个引脚不到 5 秒的测量时间基于时间的抖动: 30 飞秒是否进口:是封装:厂家制定性能:良好可靠性:高
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脉冲反射超仪相关的资讯

  • 太赫兹脉冲时域反射计系统在半导体行业的开发与应用
    1、前言随着半导体封装变得更小、集成度更高,使用非破坏性、高分辨率技术定位故障的能力变得越来越重要。对失效分析手段提出了挑战,故障高分辨率定位能力的需求逐渐增大。为满足这些要求,Advantest开发了TS9001TDR方案,该系统分析通过利用专有的短脉冲信号处理技术进行高分辨率时域反射测量(Time Domain Reflectometry, TDR),对先进半导体封装、电子元件和印刷电路板中的导线故障区域进行快速、高精度和无损分析。 2、主要应用以3D集成电路为代表的高密度集成电路中存在着无限小的布线结构,布线故障在封装、印刷电路板封装过程中频繁出现。检测故障点需要几十微米分辨率。由于上升时间(约20ps)和抖动(约1ps)的限制,传统示波器TDR方法的故障距离分辨率仍保持数百微米的分辨率。使用TS9001TDR系统可以准确分析各种尖端半导体封装的布线质量,如倒装芯片BGA、晶圆级封装和2.5D/3D IC封装,能够直接连接客户的射频探测系统,针对其设备形状和故障分析环境,实现高速、高分辨率的测量,提供灵活的解决方案。(1) 高度集成的集成电路封装故障分析1) 封装引线故障分析:确定引线故障点位于Si Interposer内还是封装内,识别故障是由预处理还是后处理中的因素引起的2) C4 Bump故障分析:利用测试回路确定和分析安装Si Interposer的条件,对测试回路的菊花链结构进行故障点分析,并对安装条件进行反馈3) TSV、Micro-Bump故障分析:识别层压芯片的故障层4) 印刷电路板PCB故障分析:识别PCB板中通孔和信号线的故障点3、原理与优势(1)原理与技术太赫兹脉冲时域反射计的原理参见上图。其利用两个的飞秒激光器分别泵浦光电导电线,产生高频的太赫兹脉冲信号。飞秒激光器的中心波长1550nm,脉冲宽度50fs。其中,一个飞秒激光器的重复频率50MHz,另一个激光器的重复频率稍有区别。采用两个激光器的重复频率稍有差别的缘由在于,利用两个激光器的差频延迟,可以实现高频太赫兹信号的产生和探测。其工作是高频太赫兹信号通过探针接触芯片的管脚,高频太赫兹信号在芯片封装的引线中传播。当芯片封装没有开断路时,高频太赫兹沿着引线向前传播;当芯片封装的引线等出现开路时,将反射回正峰脉冲信号;当芯片封装引线出现短路时,将反射回负峰脉冲信号。(2)技术优势为了识别故障点,常用的封装无损检测方法包括光发射显微镜(emission microscope)和示波器时域反射计(Time domain Reflectometry, TDR)等,但是这些无损检测方法受到时域信号抖动的限制(信号抖动约1ps),导致分辨率不高,不能定位微米级的失效位置,无法以高分辨率检测开路、短路故障。故亟需高分辨率时域反射计,以提供快速且精准的失效定位。Advantest通过独有的光学采样和电短脉冲生成技术,借助飞秒激光技术,产生抖动小于30fs的超短采样脉冲。可以实现5μm的故障定位分辨率。通过使用自动探针的自动触地功能,进行精确的可重复测量,具有更高精度和效率的故障位置测量。TS9001TDR系统通过自动探针和与CAD设计联动,实例分析芯片封装的引线开路和短路故障定位,可以直观快速定位芯片封装的故障点,实现先进封装的失效分析。4、国内外发展现状Advantest的TS9001TDR系统中采用两个超短脉冲激光器异步采样,采取异步采样技术可以使系统不再需要机械式的光学延迟线,并且具有超高速的信号扫描速度。是目前全球独一的技术,目前国内外没有同类设备。5、发展趋势随着晶圆代工制程不断缩小,摩尔定律逼近极限,先进封装是后摩尔时代的必然选择,3D封装迅猛发展。作为一种全新的实现定位方法,在未来的几年里,太赫兹TDR技术将继续保持高速发展的势头。随着关键技术的不断发展,相关产品的种类将越来越丰富,行业应用和相关配套服务也将越来越广泛。搭载脉冲电磁波产生和高速采样的超短脉冲光纤激光器的太赫兹TDR设备,有助于半导体3D封装的故障分析。 6、总结与展望 在实际芯片测量过程中,太赫兹脉冲信号耦合至芯片内部衰减较为严重,对于太赫兹脉冲的信噪比提出了很高的要求。为了进一步提高测量精度和芯片内的传输路径,提高信噪比是亟需攻克的问题。另外芯片内部的引线存在阻抗不匹配又没有完全开路的情况,对于这类Soft Open的芯片检测,TDR波形分析需要结合信号模拟仿真,增强对信号的解读。对于材料的吸收系数、折射率、介电常数等光谱特性,可以用太赫兹时域光谱仪表征,这也是爱德万测试太赫兹技术的核心应用。目前爱德万测试已经有太赫兹时域光谱成像系统,通过发射和接收时域太赫兹信号至样品,可以实现生物医学样品、食品农产品、化学品、复合材料、通讯材料等的光谱特性表征。(爱德万测试(中国)管理有限公司 供稿)
  • 上海光源实现储存环单束团流强高于20 mA和同步辐射单脉冲超快硬X射线成像
    近日,上海光源线站工程取得关键进展。储存环内安装的国内首台无源超导三次谐波腔模组将束团长度拉伸约3倍,结合束团纯化系统,实现了混合束团填充模式下单束团流强高于20 mA(图1),支持快速X光成像线站在国内首次成功实现了基于同步辐射光源的单脉冲超快硬X射线成像,其成像时间分辨率达到60 ps,并被应用到气泡动力学的超快测量,清晰观测到在激光烧蚀后不同时刻水中气泡的形核、长大、破裂以及射流过程的超瞬态图像,尤其是清晰观测到传统光学诊断手段无法观测到的微射流过程(图2),为气泡动力学这一经典问题的深入研究带来了崭新的手段。 图1. 超导三次谐波腔的安装、就位和带束调试图2. 单脉冲X射线超快成像在激光加载后不同时刻(15 μs、20 μs、30 μs、40 μs、50 μs)获得的水中气泡的瞬态图像并观测到气泡中的射流现象上海光源储存环采用被动式的超导高次谐波腔,运行频率1500 MHz,自2006年进行理论与模型腔设计研究,后在上海光源线站工程加速器性能拓展中作为束团长度控制系统的工程任务,开展了超导腔、恒温器、调谐器和高次模吸收器等的国产化自主研制。2021年2月,完成4.2 K下模组的水平测试,结果表明Q0~ 4.0×108 @ Eacc = 7.5 MV/m和Q0 ~ 3.8×108 @ Eacc = 10.0 MV/m;2021年8月,完成隧道内安装就位、降温和信号调试;2021年11月9日以来的带束调试,在储存环均匀填充四个束团串共556个束团时,束团长度(半高宽)从55 ps拉长至122 ps;混合填充1个单束团和520个束团串时,束团长度(半高宽)拉长至165.7 ps,拉伸倍数约3倍,且单束团内的流强高于24 mA,皆优于系统设计指标,为快速X光成像线站的测试提供了良好的束流条件。快速X光成像线站是一条硬X射线能量段、实现从毫秒到亚百皮秒时间分辨和微米级空间分辨成像的光束线站,该线站配置有先进的材料动态响应实验平台、高速流体动力学实验平台、动态显微CT实验平台(图3),其液氮冷却低温波荡器、液氮冷却双晶单色器、单脉冲超快X射线成像探测器(最短成像曝光时间60 ps)、高速X射线成像探测器(成像帧频达到5 M fps)、快速X射线成像探测器(成像帧频达到100000 fps)、快门系统(控制通光时间 1 ms)、同步定时系统(定时精度达到5 ps)等光束线站关键设备均由上海光源自主研制。特别是,研制成功大数值孔径三镜头双路光学转换系统与两个ICCD相机组合成双幅单脉冲超快X射线成像探测器(图4a);与微通道板和高速CMOS相机组合成多幅单脉冲超快X射线成像探测器(图4b);可一次拍摄双幅或多幅单脉冲成像图像,时间分辨率可达60 ps,空间分辨率可达1.3 μm,对于不可重复的超快过程可实现连续、高分辨、单脉冲超快X射线成像。如图5所示,为基于研制的双幅单脉冲超快X射线成像探测器拍摄得到激光加载后两个时刻上的水中气泡的瞬态图像,可以清晰观测到一次激光加载后,水中气泡在两个时刻上不同的结构变化,两幅图像之间最短时间间隔为1.44 μs(为电子绕储存环一周的时间)。图3. 快速X光成像线站实验站图4. 研制的单脉冲超快X射线成像探测器。(a)研制的大数值孔径三镜头双路光学转换系统,与两个ICCD相机组合成双幅单脉冲超快X射线成像探测器;(b)研制的大数值孔径三镜头双路光学转换系统,与微通道板和高速CMOS相机组合成多幅单脉冲超快X射线成像探测器图5. 基于研制的双幅单脉冲超快X射线成像探测器拍摄得到激光加载后两个时刻上的水中气泡的瞬态图像,两幅图像之间最短时间间隔为1.44 μs此外,实验站还配备了一级轻气炮、霍普金森杆、燃油喷雾室、高温样品室、力学加载试验机等原位装置和自动换样机械手。该线站的建成表明,上海光源自主建设高水平硬X射线光束线站的能力登上了新台阶,我国已成功突破了同步辐射X射线超快成像的关键技术并取得重要进展,这将为我国在材料冲击响应、结构动力学、高速流体动力学、软物质动力学等方向的基础和应用研究提供了有力支撑,特别是为航空航天复合材料、推进剂和轻质合金动态服役行为研究提供了超快显微观测能力,并对关键工程材料设计具有重要指导意义。
  • 我国科学家实现储存环单束团流强高于20mA和同步辐射单脉冲超快硬X射线成像
    近日,上海光源线站工程取得关键进展。储存环内安装的国内首台无源超导三次谐波腔模组将束团长度拉伸约3倍,结合束团纯化系统,实现了混合束团填充模式下单束团流强高于20mA(图1),支持快速X光成像线站在国内首次成功实现了基于同步辐射光源的单脉冲超快硬X射线成像,其成像时间分辨率达到60 ps,并被应用到气泡动力学的超快测量,清晰观测到在激光烧蚀后不同时刻水中气泡的形核、长大、破裂以及射流过程的超瞬态图像,尤其是清晰观测到传统光学诊断手段无法观测到的微射流过程(图2),为气泡动力学这一经典问题的深入研究带来了崭新的手段。   上海光源储存环采用被动式的超导高次谐波腔,运行频率1500 MHz,自2006年进行理论与模型腔设计研究,后在上海光源线站工程加速器性能拓展中作为束团长度控制系统的工程任务,开展了超导腔、恒温器、调谐器和高次模吸收器等的国产化自主研制。2021年2月,完成4.2K下模组的水平测试,结果表明Q0~ 4.0×108 @ Eacc = 7.5 MV/m和Q0 ~ 3.8×108 @ Eacc = 10.0 MV/m;2021年8月,完成隧道内安装就位、降温和信号调试;2021年11月9日以来的带束调试,在储存环均匀填充四个束团串共556个束团时,束团长度(半高宽)从55 ps拉长至122 ps;混合填充1个单束团和520个束团串时,束团长度(半高宽)拉长至165.7 ps,拉伸倍数约3倍,且单束团内的流强高于24 mA,皆优于系统设计指标,为快速X光成像线站的测试提供了良好的束流条件。   快速X光成像线站是一条硬X射线能量段、实现从毫秒到亚百皮秒时间分辨和微米级空间分辨成像的光束线站,该线站配置有先进的材料动态响应实验平台、高速流体动力学实验平台、动态显微CT实验平台(图3),其液氮冷却低温波荡器、液氮冷却双晶单色器、单脉冲超快X射线成像探测器(最短成像曝光时间60 ps)、高速X射线成像探测器(成像帧频达到5 M fps)、快速X射线成像探测器(成像帧频达到100000 fps)、快门系统(控制通光时间 ICCD相机组合成双幅单脉冲超快X射线成像探测器(图4a);与微通道板和高速CMOS相机组合成多幅单脉冲超快X射线成像探测器(图4b);可一次拍摄双幅或多幅单脉冲成像图像,时间分辨率可达60 ps,空间分辨率可达1.3 μm,对于不可重复的超快过程可实现连续、高分辨、单脉冲超快X射线成像。如图5所示,为基于研制的双幅单脉冲超快X射线成像探测器拍摄得到激光加载后两个时刻上的水中气泡的瞬态图像,可以清晰观测到一次激光加载后,水中气泡在两个时刻上不同的结构变化,两幅图像之间最短时间间隔为1.44 μs(为电子绕储存环一周的时间)。   此外,实验站还配备了一级轻气炮、霍普金森杆、燃油喷雾室、高温样品室、力学加载试验机等原位装置和自动换样机械手。该线站的建成表明,上海光源自主建设高水平硬X射线光束线站的能力登上了新台阶,我国已成功突破了同步辐射X射线超快成像的关键技术并取得重要进展,这将为我国在材料冲击响应、结构动力学、高速流体动力学、软物质动力学等方向的基础和应用研究提供了有力支撑,特别是为航空航天复合材料、推进剂和轻质合金动态服役行为研究提供了超快显微观测能力,并对关键工程材料设计具有重要指导意义。

脉冲反射超仪相关的方案

  • 超短激光脉冲与透明介质相互作用
    飞秒激光具有超短脉冲和超高电场强度两个特征。它已广泛应用于物理化学反应的动力学过程分析和热效应可忽略的超精细加工。在这个过程中,飞秒激光显示出与皮秒、纳秒脉冲不同的特性,如热影响区域小、作用效果能够超过光学衍射极限、良好的空间选择性等。这些特性在许多领域有着重要的应用价值,如超精细加工、微光子器件制造、医学精密手术、高密度三维光存储等。本文针对这一领域中的一些问题进行了讨论,特别是对飞秒激光脉冲与透明介质非线性相互作用进行了初步的研究。1分别使用脉冲宽度为ps和fs量级,波长为800nm,重复频率lkHz的激光脉冲,在熔融石英中形成了单发脉冲导致的损伤位点阵列。并对单个损伤位点,使用光学显微镜和图像传感器对其形态进行了观测。分析了激光照射后沿入射光方向将出现分立的损伤结构原因。另外,发现透明介质的材料损伤阈值与聚焦条件有关系,随着数值孔径的增加,阈值能量逐渐减小。2使用不同脉冲宽度的激光照射白宝石晶体,得到不同的损伤形态。白宝石在rlS激光脉冲作用下形成的典型的“米”字形结构,这与白宝石晶体结构相对应。在2.Ips激光脉冲作用下,晶体内部产生的“十”字形损伤。fs激光脉冲聚焦到白宝石内部时,出现“一”字形结构。损伤外型与偏振方向无关,显然不同脉宽的激光照射晶体产生不同的热效应。3近红外飞秒激光在石英玻璃照射后诱导产生色心,分析认为,在近红外飞秒激光强度低于宏观破坏阈值时,纯石英玻璃中SiE’心的形成主要是由于超短脉冲激光引起的焦点区域激光能量沉积和激子自陷引起的,属于玻璃网络的本征结构改变。4采用高温熔融法制备了银掺杂的锂铝硅酸盐微晶玻璃。经近红外飞秒激光照射和热处理后,通过显微镜观察及x射线衍射分析,发现玻璃内部形成以银原子为晶核的工f204,2033Si02多晶结构微晶,晶体细小,呈乳白色,为六方晶系。呈现空间取向分布结构。飞秒激光照射部位玻璃折射率发生明显变化,出现析晶:末照射部位折射率无明显变化,仍为玻璃体。
  • 采用皮秒脉冲泵浦掺氟光纤产生中红外覆盖2-5微米光谱波段,超宽,超连续谱
    采用Ekspla 独有的PGX11系列窄线宽皮秒光学参量发生器中的PG711/DFG-SH型波长可调谐皮秒脉冲激光,泵浦掺氟光纤,产生中红外,覆盖2-5微米光谱波段,超宽,超连续谱。
  • 氦质谱检漏仪脉冲激光沉积系统 PLD 检漏
    脉冲激光沉积系统 PLD脉冲激光沉积系统 Pulsed laser deposition 是制备高通量多晶薄膜, 外延薄膜和多层异质结构和超晶格结构的物理气相沉积设备, 通常需要保证本底真空度达到 10-8mbar, 同时高真空环境对系统配置的 RHEED 及温控系统等关键设备的寿命也至关重要.

脉冲反射超仪相关的资料

脉冲反射超仪相关的试剂

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  • 超声脉冲功率放大及接收模块

    超声脉冲功率放大及接收模块

    该模块是一个由脉冲功率发射电路和信号接收滤波放大电路高度集成的超声收发共用应用模块,它能够为高精度超声波检测系统的优化应用提供解决方案。本模块的脉冲功率发射电路主要集成了超声传感器的前置放大及功率驱动电路,它与匹配变压器相连后可直接驱动超声换能器产生超声波。通过改变MCU输出脉冲的频率,该驱动模块可以产生从20KHz~2MHz的频率,这个频段基本涵盖了目前常见的超声波应用频段。模块的供电范围为12V~24V,工作温度为工业级-40~+85oC,输出脉冲功率可调,最高可达300w,输出阻抗为25mΩ。本模块中的超声脉冲驱动电路基本可以满足目前国内所有超声脉冲功率发射的常规应用要求。接收部分电路主要提供的对接收到的信号进行滤波放大,可根据不同的应用需要调整接收部分的滤波频带和放大倍数,它的输入噪声在输入信号频率为500kHz的时候可低至50uV,对于接收信号特别微弱的应用场合,如超声波气体流量计中有良好的表现。本模块可满足超声波常见的工业上的应用,如超声测距、超声测流量计量、超声探伤、超声测厚等。可应用于双探头的单发单收方案中,也可以应用于收发共同的单探头系统中。模块的设计采用规范的设计方法和封装方式,并且该模块经过多种应用环境的可靠性测试,具有良好的稳定性,能够应用于复杂(如电磁干扰严重)的环境。选用该模块,研发人员可以在不需要对超声波产生和驱动电路有深刻的理解的条件下开发出超声波应用系统,开发的系统技术指标能够达到同类产品的先进水平。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/07/201107051107_303156_2333795_3.jpg

  • 德科学家让光脉冲拥有“负质量”

    该方法可用于研制速度更快的电子通讯设备科技日报 2013年10月17日 星期四 科技日报讯 (记者刘霞)据英国《新科学家》网站10月16日(北京时间)报道,德国科学家使用一些光纤环,表象上使光脉冲拥有“负质量”,让激光脉冲在其周围自我加速。科学家指出,最新研究表面似乎与牛顿第三定律不符,但只是一种假象。其重要意义在于,科研人员可藉此研制运行速度更快的电子设备和更可靠的通讯设备等。 牛顿第三定律指出,两个物体间的作用力和反作用力总是同时在同一条直线上,大小相等,方向相反。当两球相撞时,它们会相互弹回。但如果一个球的质量为负数,当它们相遇时,会朝同一个方向加速前进。这种效应在“反向驱动器”内非常有用。“反向驱动器”是科学家们假想出来的一种设备,在其内部,正负质量相互作用,然后永远加速向前。上世纪90年代,美国航空航天局(NASA)就试图制造出这种驱动器以便为火箭发射提供更好的助推力。不过量子力学声称,物质不可能拥有负质量,即使反物质的质量也为正数。 现在,德国爱尔兰根-纽伦堡大学的乌尔夫·佩斯彻尔和同事使用“等效质量”,制造出一种“反向驱动器”。他们解释道,当光子以光速行进时,它们没有静止质量,但如果将一束光脉冲照射在晶体这样的层叠物体内,有些光子会被晶体的一层反射回来接着再被另一层反射回去,这就会让部分脉冲发生延迟,导致它同其余脉冲相互干扰,通过材料的速度因此变得更慢。 这样一来,光脉冲似乎就拥有了质量——“等效质量”。取决于光波的形状和晶体的结构,光脉冲能拥有负的等效质量。为了得到这样一种脉冲同具有正质量的脉冲相互作用,需要非常长的晶体,以便在两束脉冲展示反向推动效应之前将光吸收。 为此,佩斯彻尔在两条光纤环内制造出一系列激光脉冲。这些脉冲会在两条环之间的某个连接点“分道扬镳”,而且,光会以同样的方向在每个光纤环周围移动。关键在于一个环比另一个环稍长一点,因此,在更长环周围运动的光相对来说有点延迟。当这个脉冲被反射回并且在连接点分开时,它会同另一个环内的脉冲分享部分光子。这样几趟旅程之后,脉冲会发展出一种干涉模式,赋予脉冲负质量。 佩斯彻尔表示,半导体内的电子也可以拥有“等效质量”,因此,这些环可被用来给电子加速并提升计算机的处理能力。而且,在某些光纤内,光脉冲的速度与其波长相当,这就意味着,这种环能被用来控制光纤输出光的颜色。这种方法也有望用来增加光子通讯的带宽,帮助制造出诸如激光显示屏那样的显示设备。不过,将这种环用于实际生活中也并非易事。 总编辑圈点 在宏观世界,质量恒定不变且能对物体运动产生作用,是反映物质运动状态变化难易程度的物理量。但到了微观量子世界,运动却成了质量产生的决定因素,运动的粒子与希格斯粒子发生碰撞才产生质量。本项研究更加深刻地揭示了在微观领域运动和质量的关系,尽管“负质量”只是一种假象,但我们却可以利用这种假象来发明新的应用。将“负质量”用于实际生活确非易事,但并不是完全不可能,反向驱动器就是一种好的尝试。

  • 【原创】X射线脉冲星导航原理

    X射线脉冲星导航系统由X射线成像仪和光子计数器(探测器)、星载原子时钟、星载计算设备、导航模型算法库和脉冲星模型数据库组成。从X射线脉冲星导航原理框图中可以看到,脉冲星导航定位和姿态测量分别在两个环路中实现,前者的输入信息为光子计数器提取的脉冲信号和相位,输出为卫星位置、速度和时间信息 后者的输入信息为X射线成像仪提取的脉冲星角位置,输出为卫星姿态角分量。 1.X射线脉冲星导航定位 基于X射线脉冲星的卫星自主导航定位的实现流程如下: (1)脉冲到达时间测量 星载探测器接收X射线光子,光子计数器输出脉冲信号和相位信息 脉冲信号进入原子时钟的锁相环路,修正本地时钟漂移,标定和输出脉冲到达时间。 (2)脉冲到达时间转换改正 调用基本参数数据库和脉冲星模型数据库,对罗默(Roemer)延迟、歇皮诺(Shapiro)延迟、爱因斯坦(Einstein)延迟、光行差延迟和星际色散效应等误差项进行改正,转换得到在太阳系质心坐标系中的脉冲到达时间测量值。 (3)脉冲到达时间与预报时间对比 调用脉冲星模型数据库,提取标准脉冲轮廓和脉冲计时模型,由脉冲计时模型预报脉冲到达时间 整合测量脉冲轮廓,并与标准轮廓进行相关处理,得到脉冲到达时间差(基本观测量)。 (4)卡尔曼滤波处理 利用多颗脉冲星组成基本观测向量,构造脉冲星导航定位测量方程,调用卫星摄动轨道力学方程、星载时钟系统状态方程和卡尔曼滤波器,得到卫星位置、速度和时间偏差估计。 (5)导航参数预报 利用导航定位偏差估计值,可以修正卫星近似位置、速度和时间等参数 分别采用数值积分方法和星载时钟模型短时预报卫星位置、速度和时间等导航参数,输出到卫星平台控制系统,自主进行轨道控制和钟差修正。 2.X射线脉冲星姿态测量 利用X射线脉冲星信号测定卫星姿态的方法与星体跟踪器类似,区别在于是用X射线代替可见光观测。一旦X射线成像仪提取脉冲星影像,脉冲星在探测器平面和星体坐标系的角位置也就随之确定。由于脉冲星相对于太阳系质心坐标系的位置已精确测定,因此可以进行星体坐标系与太阳系质心坐标系之间的旋转变换。于是,可以直接提取坐标变换的欧拉角信息,或利用姿态四元素方法进行滤波估计,最终获得卫星俯仰、滚动和偏航等姿态信息,并输出到卫星平台控制系统,自主进行飞行姿态控制。

脉冲反射超仪相关的耗材

  • 线性脉冲反射镜
    线性脉冲反射镜具有宽带、高反射率、高激光损伤阈值,低群延迟色散的特点。专为超短脉冲激光应用设计的高反射镜。覆盖波长200-20000nm,超过85%的通光孔径,反射率大于95.5%(根据具体型号、波长决定)。材料N-BK7、UVFS,入射角0°或45°,镀膜后面形精度λ/10 at 633 nm 。表面质量10-5。
  • 线性脉冲分束器
    线性脉冲分束器高效率,低色散,s或p偏振光按50:50分光。超过200nm的带宽。中心波长从790到1550nm。高效率、高耐久度使得它们在超快激光系统和实验优于部分反射金属涂层的元件。接近线性的群延迟色散,适用于激光脉冲持续时间15fs的激光系统。材料UVFS,入射角45°。
  • Nano 系列 超紧凑脉冲Nd:YAG激光器
    Nano S系列 超紧凑脉冲Nd:YAG激光器特点:- 输出能量高达340mJ- 稳定的望远镜谐振腔- 电子验证安全快门- 2倍频,3倍频,4倍频,5倍频- 高能量TEM00可选应用:- PIV- LIBS- 光谱学- LIDAR- ESPI- 泵浦光源Nano系列脉冲Q开关Nd:YAG激光器设计的目标是满足当今客户的需求。在各方面都具有业界领先的性能,以及无与伦比的设计和建造质量,Nano系列为当今的激光系统设立了新的基准。在所有Nano系列激光的心脏是一个强大的单谐振器,安装在稳定的铝制平台上确保系统的稳定。超稳定的镜架,不锈钢泵室与紧密耦合的陶瓷反射腔,以及专有的长寿命氙灯使激光器的输出均匀,稳定。我们提供多种谐振腔的选择,稳定谐振腔(Nano S,Nano O,Nano L系列),望远镜谐振腔(Nano T,Nano TRL系列)和高斯耦合非稳谐振腔(Nano SG,Nano LG,Nano TRL 系列)。倍频发生器和可变衰减器配件,可以根据需要添加和删除。可提供2倍频(532nm)、3倍频(355nm),4倍频(266nm)和5倍频(213nm)作为标准配置,可以单独或混合使用。Nano系列激光器提供完全集成的电源供应和冷却单元,无需外部冷却水(Nano TRL除外)。所有的电源有一个完整的互锁套件,使安装和故障诊断更容易。一种工业标准的的TTL接口允许外部控制闪光灯和Q-开关。其他系统的控制可以通过提供的系统远程控制器或RS232进行。提供用于RS232控制的完整的软件套件,包括dll文件和代码文件。
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