吞吐量测试仪

近日，研究人员在Nature Communications发表相关论文，提出了一种方法来实现AFM大面积高分辨率的成像。在显微镜中，分辨率和视野通常是互相矛盾的。以原子力显微镜（AFM）为例，悬臂探针在扫描基板时，在局部力的影响下会发生偏转，因此高分辨率成像很大程度上会局限于小区域。尽管原子力显微镜在材料科学、生物学和表面科学等领域产生了巨大的影响，但成像领域的局限性仍然是研究复杂层次结构样品的关键障碍。针对于此，研究人员通过结合无悬臂梁探针结构和用于检测探针-样品接触的可伸缩光学方法，证明了具有1000个探针的大规模平行AFM是可能的。具体而言，发现相对柔顺薄膜上的光学反射锥形探针包含分布式光学杠杆，该杠杆将探针运动转换为提供低于10 nm垂直精度的光信号。这种方法的可扩展性使得它非常适合需要大面积高分辨率的成像应用。原子力显微镜（AFM）自1986年发明以来，已成为获取微纳米尺度表面形貌和功能特性信息的主要方法。为了检测尖端和基底之间的微小力，AFM通常使用在局部力的影响下偏转的微悬臂，产生可以使用光学杠杆检测到的运动。然而，由于基于探针的成像的串行性，只能以较小的视场为代价来获得更高的空间分辨率。目前正在努力解决这一挑战，包括设计具有更高带宽的探测器，以及采用诸如IBM千足虫之类的探测器阵列。然而，现代成像阵列只有30个探头，突出了有效并行悬臂梁传感的困难。虽然AFM界对探针阵列的采用受到限制，但是探针阵列被广泛用于扫描探针光刻（SPL），或者通过机械变形、阳极氧化和直接材料沉积等多种方式使用纳米级物理探针来定义图案的过程。为了解决串行图形固有的有限吞吐量，研究人员探索了一种无悬臂梁结构，其中探针阵列位于刚性表面上的顺应膜上。虽然这种结构赋予了探针所需的柔顺性探针-样品接触和可扩展性提供多达数百万探头，但悬臂梁提供的力感应能力丧失。如果这种无悬臂梁的探针阵列能够被修改以实现探针-样品接触的并行检测，那么它们就可以提供一种大规模并行化AFM的方法，并且可以革命性地增加这种有影响力的成像工具系列的吞吐量。a.实验装置侧视图，探针-样品接触导致弹性体薄膜变形。b.通过蓝宝石晶圆观察弹性薄膜变形时的光学对比度图示。反射光强度I随位置变化x而变化。探针运动的光学特征称为分布光学杠杆。c.用于实现用于成像的探针阵列的微加工工艺，涉及蓝宝石晶片、聚二甲基硅氧烷（PDMS）背衬层、刚性聚合物探针和铝反射涂层。探针阵列的扫描电子显微镜（SEM）图像和比例尺分别为60µm和3µm的阵列d和单个探针e的图像。科研人员在成果中展示了由无悬臂结构中的探针阵列实现的大规模并行原子力显微镜，这些探针通过被称之为分布式光学杠杆的可伸缩光学机制提供局部形貌信息。通过建立分布式光学杠杆的模型，利用配位力和光学显微镜对其进行系统的研究，研究人员发现光学对比度在力和变形方面呈线性关系，能够提供低于10 nm的垂直精度。基于这种结构和成像机制的探针阵列，研究人员同时在阵列中使用1088个探针成像，并以100纳米横向分辨率和9纳米垂直精度在0.5毫米范围内绘制样本高度。该系统的高通量特性使其在高分辨率大面积的领域具有重要的应用前景，如集成电路计量、光学亚表面表征和生物组织的多尺度研究。通过设计分布式光学杠杆来测量每个探针的变形，科研人员证明了扫描探针可以并行化，从而提高AFM成像的吞吐量。在最初的演示中，1088个探针被并行使用，以纳米级分辨率成像5毫米宽的表面。由于其结构简单且与现有的光刻系统兼容，这些探针阵列可以作为独立的成像工具或作为大规模并行光刻系统的补充，以实现纳米组合实验中的同时光刻和成像。并行化在增加成像带宽的同时，也加强了这种方法的主要局限性，即探头无法独立移动以调节探头-样本力或容纳非常高的特征。在这里讨论的探针阵列中，这将对样品平面度和垂直范围施加限制。然而，值得强调的是，显示无悬臂梁阵列不必是被动的，因为扫描探针光刻实验表明，这种阵列可以使用光、热或气动系统进行独立调制，这可能为克服并行化带来的挑战提供了一条途径。有趣的是，亚波长光阑阵列与无悬臂梁结构相结合，实现了无衍射光刻。如果目前的CF-AFM方法可以与这种孔径阵列结合使用，它就有可能实现大规模并行扫描近场光学显微镜（SNOM）。因此，这种成像方法为从组织工程到光学超表面和集成电路的检测等多种应用的表面形貌的快速和高分辨率查询打开了大门。原文链接：https://www.nature.com/articles/s41467-020-20612-3

长期以来，良率一直被认为是半导体制造中最关键的指标之一。对于芯片制造商来说，减少将工艺提升到生产级良率所需的时间可能价值数十亿美元。因此，制造商在晶圆检测技术上投入巨资，以帮助快速发现和纠正影响良率的缺陷，最好是在它们影响晶圆厂产量之前。缺陷检测工具箱中有两个互补的工具：检测和复查。在最常见的策略中，芯片制造商使用基于光学的检测技术来检测晶圆上的潜在缺陷，然后进行电子束复查，电子束复查具有按类型查看和表征缺陷所需的更高分辨率，以帮助工程师发现和解决其根本原因。光学缺陷检测和电子束缺陷审查是相辅相成的——前者以牺牲分辨率为代价在更短的时间内扫描晶圆，而后者提供高分辨率，但扫描晶圆需要更长的时间。最佳策略是将这两种工具的优点结合起来。然而，随着半导体设计变得越来越复杂，光学检测正面临挑战。随着线宽的缩小，细小的有害颗粒成为杀手级缺陷。随着设备架构向 3D 过渡，颗粒变得越来越难以检测和观察。随着多图案化和 3D 架构增加了相邻工艺步骤的图案化相互依赖性，需要更多的检测点来追溯缺陷的根本原因。芯片制造商越来越面临成本困境：要么增加检测量而增加制造成本，要么节省成本并降低制造良率。2021 年，应用材料公司推出了一款创新的光学检测系统，旨在帮助芯片制造商驾驭这个复杂的新时代。Enlight® 明场光学晶圆检测系统将行业领先的速度与高分辨率光学器件相结合，可从每次晶圆扫描中捕获更多对良率至关重要的数据。它是唯一同时具有明场和暗场检测通道的系统，使其能够同时收集反射光和高角度散射光，以检测最小的缺陷。Enlight 系统架构改变了光学检测的经济性，将捕获关键缺陷的成本优势提高了 3 倍。成本优势使Enlight系统客户能够减少检测预算或插入更多检测点，以在相同的预算下检测更多的颗粒和图案错误。因此，Enlight 系统已成为应用材料公司历史上速度最快的检测系统，并被其所有领先的晶圆代工客户用于大批量生产。今年，应用材料推出了 Enlight® 2 系统，它将吞吐量和灵敏度提升到新的水平。区分妨害和缺陷Enlight 2 系统旨在检测数量最多的良率扼杀缺陷，同时保持较低的误报率。Enlight 2 具有两项升级，可提高对相关缺陷的敏感度：图像处理能力的阶跃函数和成像动态范围的增加，每次扫描都能检测到 100 倍以上的潜在缺陷。新的 SideView™ 模块可实现晶圆的倾斜照明，从而将检测 3D 缺陷的灵敏度提高近一倍。该系统还提供了新的干扰抑制功能：一种名为SELFI的新型深度学习引擎™检测和分类超过十亿个缺陷图像，使工程师能够捕获3倍以上的目标缺陷。一种名为GF Polaris™的新型光偏振模块扩展了360度可调偏振，以控制灰场检测通道，并减少50%的滋扰。提高限速Enlight 2 包括多项增强功能，可进一步提高系统的吞吐量：新的混合计算架构利用图形加速器和专用图像处理器将 CPU 性能提高 4 倍，数据存储速度提高 5 倍，网络吞吐量提高 2.5 倍。一台新的望远镜将系统的晶圆扫描吞吐量扩大了40%以上。降低拥有成本这些速度和灵敏度的改进使芯片制造商能够在整个制造流程中插入更多的检测点，同时为每个配方提供更多的扫描集，同时保持相同的总体拥有成本。同时，检测阶段可操作信息数量的增加增强了在良率偏移发生之前预测良率偏移的能力，立即检测偏移，以便可以停止晶圆加工以保护良率，并实现根本原因追溯，以加快纠正措施和恢复大批量生产。芯片制造商倾向于降低检测工具的灵敏度，以尽量减少干扰检测，这增加了遗漏关键缺陷的风险。为了缓解这一挑战，应用材料公司的 ExtractAI™ 技术使用大数据帮助客户在在线监测期间快速创建完全分类、无噪声的地图。Enlight 2 系统的预测功能与 ExtractAI 相结合，在明场光学晶圆检测和我们行业领先的电子束审查系统 SEMVision® 之间提供了实时、智能的链接。ExtractAI 技术使用人工智能 （AI） 来表征晶圆上的所有潜在缺陷，为 SEMVision eBeam 系统提供可操作的分类缺陷图。电子束系统反过来训练 ExtractAI 技术对杀良率缺陷进行分类，从而能够快速准确地将杀良率缺陷与高端光学扫描仪产生的数百万个干扰信号区分开来。通过结合应用材料一流的光学检测和电子束审查技术，创建了业界唯一的智能解决方案，不仅可以检测和分类良率关键缺陷，还可以实时学习和适应工艺变化。在发布该系统前，应用材料已经向客户交付了两位数数量的系统，用于大批量生产，结果显示可以在不牺牲灵敏度的情况下将吞吐量提高 50%。应用材料的目标是在未来几年内创造超过10亿美元的收入，并帮助客户在芯片制造的新时代增加晶圆厂的产量和产量，从而创造数十亿美元的收入。

日立暗场晶圆缺陷检测系统DI46002023年12月6日，日立高新宣布推出日立暗场晶圆缺陷检测系统DI4600，这是一种用于检测半导体生产线上图案化晶圆上颗粒和缺陷的新工具。DI4600 增加了一个专用服务器，该服务器提供了检测颗粒和缺陷所需的显著增强的数据处理能力，从而提高了检测能力。与之前的型号相比，通过缩短晶圆转移时间和改进晶圆检测期间的操作，系统的吞吐量也提高了约 20%。DI4600将实现半导体生产线中高精度的缺陷监测，这将有助于提高产量和更好的拥有成本，促进半导体产量持续扩大。发展背景在当前的社会环境中，DRAM和FLASH等存储器半导体设备，MPU和GPU等逻辑半导体不仅用于智能手机、笔记本电脑和PC，还用于生成人工智能（AI）计算和自动驾驶。随着半导体器件的萎缩和复杂性的发展，对制造过程清洁度和检测能力的要求也变得更加严格。半导体制造商不断努力提高竞争力，尤其是在性能和制造成本方面。图案化晶圆检查工具通过检查生产晶圆的表面是否有颗粒和缺陷，有助于产量管理，使工程师能够监测半导体处理工具的清洁度变化和趋势，因此对半导体器件的性能和制造成本有很大影响。关键技术1.高通量与现有型号相比，通过减少晶圆转移时间、改善晶圆检测期间的操作和优化数据处理顺序，吞吐量提高了约 20%。2.高精度检测由于增加了专用服务器，因此提高了检测精度，该服务器提供了检测颗粒和缺陷所需的显着增强的数据处理能力。

当今时代，科技迅猛发展、芯片量呈几何倍数增长，芯片已经进入融合的时代。从无人驾驶到虚拟现实、从人工智能到云计算、从5G到物联网，一颗芯片上承载的功能越来越多，芯片工艺越来越复杂，新器件类型层出不穷，众多驱动因素的推动对半导体测试技术不断提出新的要求。行业需要更加面向未来需求的测试系统和方案，来打破传统仪器固有的不足和局限。以半导体器件测试来看，在先进器件研究过程中，新材料、新结构与新工艺的应用都可能带来未知的变化。研究者不但要关注精确的静态电流电压特性，更希望观察到细微快速的动态行为。同时随着半导体尺寸不断减小，一些现象需要在极短的时间内才能观察到，例如MOS器件的BTI效应，因此，对包括短脉冲测试(PIV)在内的新技术提出了要求。前不久，概伦电子与北京大学集成电路学院及上海交通大学电子信息与电气工程学院联合研发的新一代高精度快速波形发生与测量套件FS-Pro HP-FWGMK正式发布，填补了其半导体参数测试系统FS-Pro在短脉冲测试的空缺，同时也填补了国内短脉冲测试技术的空缺。高端测试仪器FS-Pro“如虎添翼”据了解，此次发布的最新一代高精度快速波形发生与测量套件FS-Pro HP-FWGMK由黄如院士在北京大学和上海交通大学的团队与概伦电子联合研发。作为短脉冲测试技术的先行者，黄如院士团队经过了十余年的努力，在实践过程中掌握了一整套短脉冲产生、测量以及分析技术。概伦电子基于其提供的包括测试方法、电路原型、方案框架、版图设计及PIV应用在内的指导意见继续精细开发，满足高增益与高带宽的同时，有效抑制放大电路的非线性失真，最终实现了最小脉宽130ns的高精度测量。概伦电子FS-Pro半导体参数测试系统（图源：概伦电子）概伦电子的半导体参数测试系统FS-Pro是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备，在一个系统中实现了电流电压(IV)测试、电容电压(CV)测试、脉冲式IV测试、任意线性波形发生与测量、高速时域信号釆集以及低频噪声测试能力。此次增加短脉冲IV(PIV)技术后，FS-Pro更是如虎添翼，几乎所有半导体器件的低频特性表征都可以在FS-Pro测试系统中完成，可广泛应用于各种半导体器件、LED材料、二维材料器件、金属材料、新型先进材料与器件测试等。其全面而强大的参数测试分析能力极大地加速了半导体器件与工艺的研发和评估进程，并可无缝的与概伦电子低频噪声测试系统9812系列集成。据了解，概伦电子噪声测试系统9812系列是全球半导体行业业内低频噪声测试的“ 黄金标准”，为半导体行业先进工艺研发、器件建模和高端电路设计提供了更加完整而又高效的低频噪声测试及分析解决方案，可以满足各种不同工艺平台下半导体器件和集成电路低频噪声测试的需求。FS-Pro快速的DC测试能力进一步提升了9812系列产品的噪声测试效率和吞吐量，性能相较同类型产品获得大幅度提升，并将在噪声测试的业内领先技术扩展到通用半导体参数测试。基于在产线测试与科研应用方面的优异表现，FS-Pro全面的测试能力在科研学术界受到了广泛关注和认可，已被数十所国内外高校及科研机构所选用，同时也被众多芯片设计公司、代工厂和IDM公司所釆用。国产高端测试仪器新突破纵观行业现状，测试测量仪器属于高端科研仪器设备，需要长时间积累，特别考验一个国家基础技术的厚度。由于国内本土测量仪器行业起步较晚，主营电子测试测量仪器的企业数量少，发展情况也不尽相同，目前我国的产品结构主要集中在中低端，大部分企业仍处于仿制研发的阶段，仅有小部分企业走向应用研发的转型之路。根据数据显示，中国电子测量仪器的市场规模由2016年的28.72亿美元增至2021年的50.39亿美元，预计2022年将进一步达到53.14亿美元。面对国内如此巨大的市场需求，以及受国外隐形技术壁垒等因素制约，国内市场仍被掌握在国外仪器仪表厂商手中，高端产品依赖进口，行业类第一梯队公司主要为是德科技（(Keysight）、泰克（Tektronix）、罗德与施瓦茨(R&S)等欧美企业。国内测量仪器与国际水平相比，在产品结构、高端产品的技术水平、市场占有率等方面存在较大差距，亟待国内本土企业填补高端仪器的技术和市场空白。在这种情况下，提高企业的研发力度成为了电子测量仪器行业发展的关键点之一。同时伴随着强烈的自主可控需求，国产高端测试测量仪器市场在近几年迎来高速增长。概伦电子的半导体参数测试系统FS-Pro作为高端测试仪器的代表之一，在先进器件和材料等领域的测试表现非常出色，集 IV、CV、1/f noise及PIV测试等于一体，高精度、低成本、综合的半导体器件表征分析能力灵活满足各种用户的不同测试需求，大大节省了测试设备采购开支。

当今时代，科技迅猛发展、芯片量呈几何倍数增长，芯片已经进入融合的时代。从无人驾驶到虚拟现实、从人工智能到云计算、从5G到物联网，一颗芯片上承载的功能越来越多，芯片工艺越来越复杂，新器件类型层出不穷，众多驱动因素的推动对半导体测试技术不断提出新的要求。行业需要更加面向未来需求的测试系统和方案，来打破传统仪器固有的不足和局限。以半导体器件测试来看，在先进器件研究过程中，新材料、新结构与新工艺的应用都可能带来未知的变化。研究者不但要关注精确的静态电流电压特性，更希望观察到细微快速的动态行为。同时随着半导体尺寸不断减小，一些现象需要在极短的时间内才能观察到，例如MOS器件的BTI效应，因此，对包括短脉冲测试(PIV)在内的新技术提出了要求。前不久，概伦电子与北京大学集成电路学院及上海交通大学电子信息与电气工程学院联合研发的新一代高精度快速波形发生与测量套件FS-Pro HP-FWGMK正式发布，填补了其半导体参数测试系统FS-Pro在短脉冲测试的空缺，同时也填补了国内短脉冲测试技术的空缺。高端测试仪器FS-Pro“如虎添翼”据了解，此次发布的最新一代高精度快速波形发生与测量套件FS-Pro HP-FWGMK由黄如院士在北京大学和上海交通大学的团队与概伦电子联合研发。作为短脉冲测试技术的先行者，黄如院士团队经过了十余年的努力，在实践过程中掌握了一整套短脉冲产生、测量以及分析技术。概伦电子基于其提供的包括测试方法、电路原型、方案框架、版图设计及PIV应用在内的指导意见继续精细开发，满足高增益与高带宽的同时，有效抑制放大电路的非线性失真，最终实现了最小脉宽130ns的高精度测量。概伦电子FS-Pro半导体参数测试系统（图源：概伦电子）概伦电子的半导体参数测试系统FS-Pro是一款功能全面、配置灵活的半导体器件电学特性分析设备，在一个系统中实现了电流电压(IV)测试、电容电压(CV)测试、脉冲式IV测试、任意线性波形发生与测量、高速时域信号釆集以及低频噪声测试能力。此次增加短脉冲IV(PIV)技术后，FS-Pro更是如虎添翼，几乎所有半导体器件的低频特性表征都可以在FS-Pro测试系统中完成，可广泛应用于各种半导体器件、LED材料、二维材料器件、金属材料、新型先进材料与器件测试等。其全面而强大的参数测试分析能力极大地加速了半导体器件与工艺的研发和评估进程，并可无缝的与概伦电子低频噪声测试系统9812系列集成。据了解，概伦电子噪声测试系统9812系列是全球半导体行业业内低频噪声测试的“ 黄金标准”，为半导体行业先进工艺研发、器件建模和高端电路设计提供了更加完整而又高效的低频噪声测试及分析解决方案，可以满足各种不同工艺平台下半导体器件和集成电路低频噪声测试的需求。FS-Pro快速的DC测试能力进一步提升了9812系列产品的噪声测试效率和吞吐量，性能相较同类型产品获得大幅度提升，并将在噪声测试的业内领先技术扩展到通用半导体参数测试。基于在产线测试与科研应用方面的优异表现，FS-Pro全面的测试能力在科研学术界受到了广泛关注和认可，已被数十所国内外高校及科研机构所选用，同时也被众多芯片设计公司、代工厂和IDM公司所釆用。国产高端测试仪器新突破纵观行业现状，测试测量仪器属于高端科研仪器设备，需要长时间积累，特别考验一个国家基础技术的厚度。由于国内本土测量仪器行业起步较晚，主营电子测试测量仪器的企业数量少，发展情况也不尽相同，目前我国的产品结构主要集中在中低端，大部分企业仍处于仿制研发的阶段，仅有小部分企业走向应用研发的转型之路。根据数据显示，中国电子测量仪器的市场规模由2016年的28.72亿美元增至2021年的50.39亿美元，预计2022年将进一步达到53.14亿美元。面对国内如此巨大的市场需求，以及受国外隐形技术壁垒等因素制约，国内市场仍被掌握在国外仪器仪表厂商手中，高端产品依赖进口，行业类第一梯队公司主要为是德科技（Keysight）、泰克（Tektronix）、罗德与施瓦茨(R&S)等欧美企业。国内测量仪器与国际水平相比，在产品结构、高端产品的技术水平、市场占有率等方面存在较大差距，亟待国内本土企业填补高端仪器的技术和市场空白。在这种情况下，提高企业的研发力度成为了电子测量仪器行业发展的关键点之一。同时伴随着强烈的自主可控需求，国产高端测试测量仪器市场在近几年迎来高速增长。概伦电子的半导体参数测试系统FS-Pro作为高端测试仪器的代表之一，在先进器件和材料等领域的测试表现非常出色，集 IV、CV、1/f noise及PIV测试等于一体，高精度、低成本、综合的半导体器件表征分析能力灵活满足各种用户的不同测试需求，大大节省了测试设备采购开支。同时，工业标准的PXI模块化硬件结构，通用的软件平台，内置测量软件提供数百个预定义的测试模板和功能，实现即插即用体验，使FS-Pro成为了半导体器件与先进材料研究方面的得力助手，产品性能直接对标是德科技等行业巨头的高端测试仪器。近年来，随着半导体行业的快速发展，对测试测量仪器的需求在逐渐扩大。当前中国的半导体测试测量行业在飞速发展中，可以预见的是，复杂的国际关系背景和市场需求的双重驱动下，关键领域的国产化成为竞争焦点，自上而下的产业政策和企业突围将加速自主可控产业链的成长，国产半导体测量仪器迎风口。随着概伦电子在中高端产品领域取得突破，将会使其成为国内该行业的领头羊，有望引领该领域的国产化替代浪潮。概伦电子产品布局日臻完善半导体器件特性测试是对集成电路器件在不同工作状态和工作环境下的电流、电压、电容、电阻、低频噪声、可靠性等特性进行测量、数据采集和分析，以评估其是否达到设计指标。概伦电子半导体参数测试系统FS-Pro能够支持多种类型的半导体器件，具备精度高、测量速度快和可多任务并行处理等特点，能够满足晶圆厂和集成电路设计企业对测试数据多维度和高精度的要求。半导体器件特性测试仪器采集的数据是器件建模及验证EDA工具所需的数据来源，两者具有较强的协同效应。随着下游晶圆厂客户产能扩张，相关测试需求或将进一步释放。在制造类EDA工具方面，概伦电子的器件建模及验证EDA工具已经取得较高市场地位，被全球大部分领先的晶圆厂所采用和验证，主要客户包括台积电、三星电子、联电、格芯、中芯国际等，在其相关标准制造流程中占据重要地位。使用该EDA工具生成的器件模型通过国际领先的晶圆厂提供给其全球范围内的集成电路设计方客户使用，其全面性、精度和质量已得到业界的长期验证和广泛认可。在此基础上，通过半导体器件特性测试仪器与EDA工具的联动，能够打造以数据为驱动的EDA解决方案，紧密结合并形成业务链条，帮助晶圆厂客户有针对性的优化工艺平台的器件设计和制造工艺，不断拓展产品的覆盖面，进一步为概伦电子打造完整的制造EDA流程丰富了现有技术及解决方案。目前概伦电子主要产品及服务包括制造类EDA工具、设计类EDA工具、半导体器件特性测试仪器和半导体工程服务等。从其产品布局和发展历程来看，概伦电子在具备高价值的落地场景和应用需求的前提下，用相对较短的时间、较小的人员规模和投入，打造了全新的设计方法学和流程，逐渐形成了具有技术竞争力的EDA工具、测试产品和工程服务，并在国际主流市场获得产品验证机会，在多环节和维度上实现了对国际EDA巨头全流程垄断的突破。产学研模式新探索上文提到，此次FS-Pro HP-FWGMK套件的发布是概伦电子与北京大学集成电路学院及上海交通大学电子信息与电气工程学院联合研发的产物，在填补了半导体参数测试系统FS-Pro在短脉冲测试空缺的同时，也代表了国内产学研深度合作的典范。当前，在国产EDA的发展过程中，人才是关键，创新求变正在重塑新的核心竞争力。EDA核心技术的突破没有捷径可走，需要持续吸引各种人才、加强产学研合作和保持高研发投入，长期坚持技术沉淀，通过客户需求引导，才有可能形成新的突破。在当前行业背景和发展现状下，概伦电子正在探索以产教融合方式来培养项目和推动EDA技术和人才发展的新模式，携手各界通力合作，共同应对后摩尔时代技术与市场的双重挑战，构建中国EDA产业命运共同体，致力于突破困局并最终实现超越。

近日消息，日本芯片测试设备（ATE）大厂Advantest（爱德万测试）将全资收购总部位于荷兰兹沃勒的Salland Engineering以及其旗下的子公司Applicos，但收购金额暂未披露。资料显示，Salland Engineering是一家国际领先的测试技术与工程公司，专门提供解决方案和服务，帮助半导体制造商提高测试效率和质量。Salland Engineering自1992年成立以来一直致力于此，已通过ISO 9001:2015认证，总部位于荷兰兹沃勒，业务遍布全球。据了解，Salland Engineering主要设计并制造高品质仪器，供客户升级其自动测试设备(ATE)和/或测试与测量装置的性能或通道密度。这些仪器可为客户提供了一种经济有效的方式来延长其ATE投资的吞吐量和使用寿命。同时，Salland Engineering还提供广泛的工程服务，包括测试程序开发和转换、测试程序优化、负载板开发和故障分析。除了开发能力外，该公司还拥有内部测试和分析设备，可提供从样品和工艺鉴定到欧洲中型批量生产测试的芯片测试，还提供从原型设计、制造到高级测量解决方案维修服务的供应链服务。Applicos自1993年以来一直致力于设计和制造高性能的混合信号测试解决方案，制造用于混合信号测试的标准仪器。这些仪器可以独立使用，也可以与其他测试系统结合使用，适用于实验室详细分析和生产环境。该公司还提供多种任意波形发生器、数字化仪模块和特殊（模拟）功能模块可供选择。Salland Engineering也发表声明表示，Salland Engineering和Applicos将加入领先的半导体测试设备供应商Advantest Corporation，成为Advantest Europe GmbH的独立全资子公司。Salland Engineering称，“此次收购将Salland在测试仪器和服务方面的专业知识与爱德万测试全面的半导体测试设备相结合，有助于我们更好地满足全球客户群的需求。我们作为爱德万测试集团的独立子公司进行整合，增强了我们的工程能力，扩大了我们的业务范围，并使我们能够在这个充满活力的全球市场中保持竞争力，同时确保为我们的忠实客户群提供不间断的服务。”这次收购不仅扩展了爱德万测试在全球半导体测试市场的业务范围，也可能增强其在高端测试技术领域的竞争力。通过整合Salland Engineering和Applicos的技术和服务，爱德万测试能够为客户提供更加全面和高效的解决方案，从而进一步巩固其市场地位。

2023年6月29日，半导体和电子行业年度盛会SEMICON China 2023在上海新国际博览中心隆重举行。展会现场，HORIBA（堀场）也携最新半导体相关技术解决方案亮相E7馆。HORIBA展位（展位号：E7000）展会期间，仪器信息网就参会感受、解决方案、行业发展趋势等话题采访了堀场(中国)贸易有限公司半导体事业部总经理杨迪。以下是现场采访视频：

转眼已进入九月，前期酷暑高温天气已过，现在秋风习习，可很多地方开始出现疫情反复的情况，但是也阻挡不了南京大展为客户们服务的动力，我们技术工程师这次是为德州市陵城区检验检测中心进行仪器调试工作。经过前期有效的沟通，他们选择了南京大展仪器，除了对我司仪器质量认可之外，还有我们专业的售前售后服务。　　这次调试的两款仪器分别是DZ-DSC100A差示扫描量热仪和DZ3500S炭黑含量测试仪。DZ-DSC100A差示扫描量热仪作为一款经典的仪器，它的优势在于全新的炉体结构设计，耐高温，并且抗干扰性强，能够测试数据的准确性，防止样品与其发生变化。并且采用Cortex-M3内核ARM控制器，运算处理速度更快，温度控制更快速。这款差示扫描量热仪的优势远不止这些，它的性价比高，与国外仪器相比，更加突显其优势所在。　　DZ3500S炭黑含量测试仪作为我司新款仪器，相比于老款设备，它采用了开盖示设计，在做实验测试的时候，操作更加的便捷，并且可以同时测试4个样品，一键计算炭黑含量和灰分等人性化的功能设计，大大提高了工作的效率。　　在调试现场，南京大展的技术工程师通过对样品进行实验测试，得出的数据进行详细的分析，让客户们不仅了解了仪器的具体操作方法，同时要对我司的仪器有了更加直观的认识。通过技术工程师的介绍、分析，让客户对我司的服务更加的肯定，希望后续合作更加顺利。

炭黑含量测试仪是一种用于测量材料中炭黑含量的仪器。本文将介绍炭黑含量测试仪的基本原理、使用方法及其优缺点，并结合实际应用场景阐述其重要性和应用价值。上海和晟 HS-TH-3500 炭黑含量测试仪基本原理炭黑含量测试仪的基本原理是通过在氧气环境中燃烧样品中炭黑，对材料中的炭黑进行定量分析。使用方法使用炭黑含量测试仪需要按照以下步骤进行：准备样品：将待测1g样品，并按照测试并放入燃烧舟。开机预热：打开测试仪，通几分钟氮气，设置升温程序。放置样品：将准备好的样品放入石英管中。开始测试：按下测试按钮，试验结束后拿出样品。数据处理：根据公式计算出测试结果。炭黑含量测试仪的优点包括：精度高：可以精确测量材料中的炭黑含量。快速方便：测试速度快，操作简单方便。适用范围广：可以用于测量各种材料中的炭黑含量，如塑料、橡胶、涂料等。炭黑含量测试仪的缺点包括：价格较高：仪器价格相对较高，不是所有用户都能承担。需要专业操作：需要对操作人员进行专业培训，否则会影响测试结果的准确性和可靠性。实际应用炭黑含量测试仪在工业生产、科学研究、质量检测等领域有广泛的应用。在工业生产中，可以利用炭黑含量测试仪对原材料中的炭黑进行定量分析，从而控制生产过程中的原料配比和产品质量。在科学研究领域，可以利用炭黑含量测试仪对新型材料中的炭黑进行定量分析，从而了解材料的物理和化学性质。在质量检测中，可以利用炭黑含量测试仪对产品中的炭黑进行定量分析，从而保证产品的质量和安全性。结论未来，随着科学技术的不断发展和进步，炭黑含量测试仪将会更加完善和先进，为材料研究和生产提供更加准确和可靠的数据支持。同时，随着人们对材料性质和反应过程的理解不断深入，炭黑含量测试仪将会发挥更加重要的作用，为科学研究和社会发展做出更大的贡献。

分析技术的全球领导者PerkinElmer 为环境、医药、化工和食品等行业提供了高性能和商业核心解决方案 马萨诸塞州沃尔瑟姆 &ndash 2012年4月13日&mdash &mdash 致力于改善人类及环境健康和安全的领导者PerkinElmer公司于当日宣布，即将参加于4月17日至20日在德国慕尼黑的新慕尼黑贸易展览中心举办的分析、生化及实验室技术展(Analytica 2012)。届时，珀金埃尔默会在2号展厅401号展台展出一系列技术与服务，为广泛的环境、食品、制药和工业样品提供精确分析的工具。 &ldquo 我们很高兴能够参加Analytica 2012展会，并分享我们在持续致力于解决需要关键分析解决方案的实验室的过程中取得的成果，例如仪器、耗材、信息和实验室服务，&rdquo PerkinElmer分析科学与实验室服务总裁DustyTenney说。&ldquo PerkinElmer的解决方案使客户能够获得制定更好的决策所需要的独到见解，凭借他们的产品、服务、软件和信息学，客户将能够更好地促进人类与环境健康的研究。&rdquo PerkinElmer 在Analytica 2012 上举办的研讨会包括： 探索TOF MS（飞行时间质谱分析法）的潜力 慕尼黑贸易展览中心，A2展厅，A212号房间 · 2012年4月17日 &ndash 11:00, 14:00 和 15:30 2012年4月18日 &ndash 11:00 2012年4月19日 &ndash 11:00, 14:00 和 15:30 2012年4月20日 &ndash 11:00, 14:00 和 15:30 学习新的AxION &trade 2 TOF MS 系统，包括新的创新环境离子源，如何提高实验室生产力。查看它如何提供最佳灵敏度、很少甚至不需样品制备、具有卓越吞吐量的快速采集率以及全频谱精准数据收集。这次会议包括演讲和应用示范，并有机会和PerkinElmer专家讨论应用需求。 PerkinElmer 在Analytica 2012上展出的产品和服务包括： · AxION&trade 飞行时间 (TOF)质谱仪硬件和软件平台，旨在为确保药品和食品更加安全提供快速且准确的质量鉴定和量化。该设备具有租价的灵敏度和高吞吐量，能够测量并记录每个分析中的每个准确质量。 · Flexar&trade FX -15 UHPLC 液相色谱系统，包括一个双往复18,000 psi 泵，可将实验室生产力提高10倍以上。该系统提供了高分辨率和灵敏度，能够在更短的时间内获得更多的样品信息。用户界面非常简便，能够提高吞吐量和优化操作员的安全性。作为Flexar LC重要的组件之一，Flexar SQ 300 MS是终极的QA/QC工具，因为它集成了卓越的色谱法和创新而坚固的单四极杆质谱仪。 用于液相色谱应用的Brownlee表面多孔微粒 (SPP)柱提供了更高的峰值和更快速度分离结果，并且不用改变仪器，也无需担心造成高背压或影响色谱柱的寿命。SPP色谱柱的先进设计可以缩短扩散路径，从而减少了离子内部溶解分子的时间，同时在标准HPLC系统中穿越产生&ldquo 类似UHPLC&rdquo 分离的稳定相。 · Supra-Clean&trade 和 Supra -Poly&trade 固相萃取产品系列，专为环境、食品和药品分析的快速、准确样品制备而设计。该产品为致力于质量控制和产品安全的客户提供了完整的样品制备方案，减少了准备时间，同时保持了高水平的重复性。 Clarus® SQ 8 GC/MS为需要极端灵敏度的分析师提供可靠的吞吐量和生产力，例如在环境和食品检测应用中。通过最大限度减少仪器校准的要求，以及降低样品制备和浓缩的需求，该系统显著改善了工作流程，提供了一致而可靠的成果。其革命性的SMART Source&trade 技术提供了前所未有的通道、易用性和用户维护，增加了正常运行时间，降低了运营成本。 设计用于提供稳定性、灵活性和高性能，屡获殊荣的NexION® 300 ICP-MS历史上第一次在一台仪器中同时提供简单、方便的碰撞池和具有异常出色检出能力的真正反应池的创新仪器。拥有专利的通用池技术（UCT, Universal Cell Technology&trade ），分析师现在可以用于具体采样和应用的最合适的技术。 屡获殊荣的Optima&trade 8x00 ICP -OES 平台为确定各种样品的元素组成提供了改进性能并降低了运营成本。 新型电子样品引入系统具有卓越的灵敏度和创新的无线电频率（RF）发生器技术，通过降低氩气消耗而显著降低了总体运营成本。凭借出色的吞吐量和检测极限，该易于使用的仪器平台降低了每次分析的成本，帮助实验室解决了来自各类市场的持续挑战，包括但不限于环境、食品、消费品、药品和地质化学等应用。 将原子吸收提升到新水平，结构紧凑的PinAAcle&trade 900 AA 光谱仪在技术上优于竞争对手，提供了环境、食品和消费品测试所需的性能。 基于利用最先进光纤的光学系统，该仪器拥有新设计的形成100%光束的路径，在市场上推出了拥有最小底面积的综合火焰/石墨炉AA系统。 紧凑型Spectrum Two&trade 傅立叶红外光谱仪结合了高性能和低维护，可为传统实验室外非专业人员所使用。即使在最苛刻的应用中，PerkinElmer的Frontier&trade 系统也能够提供卓越的近、中和远红外光谱性能。该仪器结合了灵敏度和灵活性，适合各种领域，如：食品、水、环境和医药测试。 对于药片或聚合物等材料的准确表征而言，STA 6000为日常和研究应用提供同步测量，重量变化和热流分析。 凭借在超过150个国家的经过认证和工厂培训的客户支持工程师团队，PerkinElmer的OneSource® 实验室服务可满足所有的仪器保养和维修需求。灵活而可扩展，OneSource 专为个体客户的具体需求和目标而设计。OneSource 提供了业内最全面的专业实验室服务组合，包括面向几乎所有技术和制造商的完整的护理计划。 关于Perkin Elmer PerkinElmer（珀金埃尔默）公司是致力于改善人类及环境健康和安全的全球领导者。据报道，该公司2011年的收入约为19亿美元，拥有约7,000名员工，服务于全球超过150个国家和地区的客户，同时公司也是标准普尔500指数的成员。 更多信息请致电1-877-PKI-NYSE或登录我们的网站：www.perkinelmer.com. # # # 媒体联系： Amanda L. Connolly Edelman (PerkinElmer公司代表) 直线: (404) 832-6785 电邮: Amanda.Connolly@edelman.com

本报讯 5月23日，由国家质检总局组织的国产棉花综合性能测试仪批量装备仪式在陕西省宝鸡市举行。经历10年研制及验证的国产棉花测试仪将批量装备到全国棉花仪器化检验实验室。国家质检总局副局长蒲长城出席仪式并讲话。 　　蒲长城指出，国产棉花测试仪的批量装备，是棉花检验体制改革的又一项重要成果，结束了我国棉花仪器化检验长期依赖进口设备的局面，为今后我国棉花仪器化检验工作长期有效运作提供了重要技术保障。国产棉花测试仪的批量装备，也是科研面向产业发展，自主创新，产学研及政府职能部门相互协作的成果。国产棉花测试仪批量装备只是棉花检验仪器国产化的第一步，要努力创新，不断改进仪器性能，为全面提升棉花质量检验水平和实现棉花质量监督检验体制改革目标而努力。 　　据介绍，研制装备国产棉花测试仪是2003年国务院批复的棉花质量检验体制改革的主要任务之一。棉花质检体制改革需要大量的棉花检测仪，而进口仪器设备价格高、零备件价格高、零备件供应周期长、本地维修质量不能保障、维修费用高。2003年10月，中国纤维检验局组织陕西长岭纺织机电科技有限公司开始进行棉花综合性能测试仪研制。长岭公司借鉴国内棉花单项指标测试仪器的研制经验，有效解决了颜色测试模块、大面积硅光电池、取样梳夹、指标算法和修正模型建立等关键技术。 　　2008年初，首台国产棉花测试仪样机开始验证测试，又经应用改进，证明国产棉花测试仪达到同类进口设备水平。2010年，国产棉花测试仪通过国家质检总局的科研成果鉴定。截至2013年4月，各地配置的12台国产棉花测试仪已累计检验棉花10万吨。

p 　　近期，美国TA仪器公司推出了新款差示扫描量热仪——Discovery X3 DSC。这款革命性的多样品X3 DSC采用了专利的Fusion Cell& #8482 技术还有Tzero& #8482 技术，能够提供业界领先的、多达3个样品的测试。& nbsp /p p style=" text-align: center " img width=" 400" height=" 401" title=" X3 DSC.png" style=" width: 400px height: 401px max-height: 100% max-width: 100% " alt=" X3 DSC.png" src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/3c78a65d-cf13-433d-97eb-da0cbb7c5030.jpg" border=" 0" vspace=" 0" / /p p 　　许多行业对高性能材料的需求都在迅速增长。新材料需要大量的测试，这些测试大大延长了开发和验证的时间。传统的dsc仅限于在实验过程中分析单个样品，根据测试条件的不同，可能需要几分钟到几个小时。 /p p 　　用于确定材料性能或探索材料稳定性和相容性的温度调制DSC(MDSC)实验通常需要数小时才能获得结果。& nbsp /p p 　　新的Discovery X3差示扫描量热仪(DSC)经过独特的设计，除去了多个测试步骤，其产生的实验数据量是标准DSC的三倍，有效地将三个仪器合并为一个。Fusion Cell& #8482 技术的基线质量和灵敏度使研究人员能够在完全相同的测试条件下平行比较各种配方或对比材料。它对于科学家而言，是最功能多样，最高吞吐量的DSC。使用X3 DSC多样品池，在测量有价值的药物样品的同时进行仪器校准的内部验证也是可行的。 /p p 　　TA仪器的创新不仅仅在于硬件，为更好适配X3 DSC，还引入了TRIOS& #8482 软件功能和批处理。TRIOS中的批处理很容易处理大型数据集的分析、报告和控制图表。 /p p br/ /p

纽扣是人们日常生活中必不可少的用品，其应用普及率极高。几乎我们的使用的服装织物都有纽扣附件，纽扣作为织物的附件存在容易脱落的情况发展，在一些特殊的行业和特殊的人群对纽扣的脱落情况必须严格控制，例如：小孩子群体和精密操作行业（飞行员）等，都对纽扣的拉力脱落有着明确的标准要求。纽扣拉力测试仪是检验纽扣质量的重要指标之一，但在原来标准中对纽扣没有检验规定及要求。这样使企业在拉链生产中，没有标准可依，产品质量参差不齐，造成纽扣整体质量及使用寿命下降，并给用户造成不必要的损失。针对纽扣的拉力测试实验设备，长期以来国内企业一直依赖进口设备和技术支持，标准集团（香港）有限公司组织大量的研团队和技术骨干，查阅多方文献和检测标准以及经过实验和生产设计的多方修改完善，并与2015年顺利的研发出国产第一台高性能纽扣拉力测试仪，目前该纽扣拉力测试仪满足市场几乎所有的检测标准，同样可以满足内贸和外贸的相关部门的检测要求其参数如下：【品名】：纽扣测试仪【型号】：G201【用途】：对钮扣及衣物进行垂直拉力测试的力度，而钮扣及按钮并不拉扯至脱离衣物。【原理】：拉力测试仪的上夹具和下夹具夹住服装部件。夹具以设定速度移动，直至部件脱落。记录脱落强度和方式。【符合标准】ASTM D7142-2/F963，CFR 1500，EN 71 PART1，GB 6675，ISO 8124，M&P P115A【标准配置】:1、拉力座2、推拉力计3、二爪钳4、三爪钳5、拉力钳6、底部织物夹具7、公钮夹具8、母钮夹具尺寸:280*220*777mm【产品特点】1、可以通过手柄，向上提高及固定测试表的位置，方便更换试样。2、横向式首轮操作，设计配合人体工学原理，使操作者更舒适3、安全设计锁扣，操作更安全可靠4、配合特长机架，令延伸测试范围更广5、下夹布钳（型号 STA -0042）6、藏心的弹簧设计，大大提升销紧力度及确保测试重复性G、上夹钮钳（型号：SAT-0041）H、是最方便的设计及能减低试样，在测试过程中因滑漏而造成的破坏更多关于 纽扣测试仪：http://www.lalianniukou.com/productlist/list-5-1.html

TecSense无损顶空残氧测试仪实时监测气调包装内的残氧含量关键词：进口顶空分析仪|西林瓶残氧仪|安瓿瓶氮气浓度仪|肖氏露点仪|进口露点仪|露点仪价格|露点仪品牌|SADP露点仪|便携式露点仪|在线露点仪|微量水分析仪|PBI药品残氧仪 TecSense无损顶空残氧测试仪实时监测气调包装内的残氧含量，也称在线顶空分析仪，可测量食品包装内的气调包装内的残氧含量，也可以用在制药行业药品包装内的残氧含量。介绍随着市场和消费者需求以及经济现实的变化，食品工业继续发生变化。该行业越来越重视：A.食品安全B.质量货架期使用气调包装（MAP）是食品工业应对日益严格的包装审查的一种重要方式。事实上，MAP是包装行业增长罪快的领域之一。食品暴露在大气中会导致产品氧化，从而导致食品工业的主要问题，如货架寿命下降、风味丧失和变色。MAP的工作原理是减少产品接触的氧气量。这是通过在密封前用氮气或二氧化碳冲洗包装来完成的，从而使包装内部的氧气含量低于0.5%。要使气调包装满足这一严格的低氧要求，需要三件事：1。良好的氧气屏障2包装材料。密封前要冲洗好包装三。良好的密封（包装完整性）奥地利TecSense公司推出了一个顶空分析仪测试系统，该系统在包装材料的发展和优越的测试方法方面取得了显著进步。使用这个新的系统，实验室能够——第1次——在不破坏包的情况下监控包内发生的事情。利用氧传感器系统实时监测气调包装中的氧气新的氧气传感器系统为气调包装地板带来了同样的突破性技术。TecSense顶空分析仪系统集成了经验证的TecSense氧气分析仪TecLab不损残氧测试技术和革名性的传感器。第1次，包装线操作员现在可以实时、无侵入、无侵入地监控、控制和记录冲洗周期（三个MAP成功标准中的第二个）。TecSense光学传感器通常情况下，氧气是通过从包装或冲洗室中提取大气样品来监测的，然后将样品送到进行测量的仪器中。使用带有长软管/管的真空系统自动提取样品。但是，这种类型的系统具有侵入性，不能提供实时信息或刷新周期的文档。真空系统很容易损坏，或者取样管很容易堵塞，导致读数不可靠，导致包装线中断。频繁的停工会导致生产力和收入的损失。TecSense顶空分析仪系统提供冲洗室/冲洗包的无创、实时、被动、现场监控。它是一个系统，有两个主要和独立的组件：1.带10英尺光纤束/热电偶电缆延长线的主控制器（箱）。2.TecSense定制的在线传感器块。该顶空分析仪系统没有样品提取、真空或软管。它缺少任何活动部件，因此维护要求非常有限。氧气直接在室内或包装中使用独立的固态光学传感器（革名性的氧气传感器）测量。使用光学传感可以在不干扰测量环境的情况下进行测量。传感行为不消耗氧气，这与传统传感器非常不同，因为它们在测量过程中消耗氧气，并改变使用环境。氧气传感系统中使用的光学氧气传感器测试原理是基于固定在透气疏水聚合物（砖利配方，可承受高温、油和其他恶劣环境）中的染料的荧光猝灭。染料在光谱的蓝色区域吸收光，在光谱的红色区域发出荧光。氧的存在会使染料发出的荧光熄灭，从而导致发射强度和寿命随氧浓度的变化而变化。寿命中的这种变化可以通过校准来提供非常高的加速度。 更多TecSense无损顶空残氧测试仪实时监测气调包装内的残氧含量信息请直接致电英肖仪器中国

东方财富证券发布研究报告称，2021年《科学技术进步法》发布，有力推进电测仪器行业国产化进程，测试仪器仪表属于高度专业化行业，Frost&Sullivan预计2025年全球电子测量仪器行业市场规模将达到172.4亿美元，其中通用电子测试仪器约占60%，市场规模有望超过100亿美元。该行认为国产厂商已经跨越从0到1的阶段，有望在全球电测仪器市场中突围，实现强Alpha。东方财富主要观点如下：1、通用电子测试仪器仪表市场规模有望超百亿美元测试仪器仪表属于高度专业化行业，其中，示波器、信号发生器、电源及电子负载、万用表等电子测量工具的标准化较高，可归于通用电子测试仪器仪表，被认为是“电子工程师之眼”。Frost&Sullivan预计2025年全球电子测量仪器行业市场规模将达到172.4亿美元，其中通用电子测试仪器约占60%，市场规模有望超过100亿美元。（电子测量仪器应用场景，图片来源：腾讯云，仪商网配图）电子化、电气化、智能化、信息化推动电子测试应用领域与场景不断拓展，行业需求有望稳步提升，将会呈现弱Beta。（鼎阳科技生产车间，正在调试数字示波器的带宽和阻抗，图片来源：深圳特区报，仪商网配图）新能源汽车、汽车电子、5G通信、半导体及电子元件、消费电子等行业成为测试仪器仪表需求的主要增长点。研究机构预计2019年至2025年，全球、中国细分产品营收与增长分别：示波器：17.3/6.5亿美元，CAGR6.3%/8.0% 射频类仪器：27.8/9.4亿美元，CAGR5.8%/6.8% 信号发生器：11.8/3.8亿美元，CAGR5.1%/6.5% 电源及电子负载：13.4/5.5亿美元,CAGR5.8%/6.8%。万用表：12.5/5.0亿美元，CAGR6.2%/7.2%。全球数字万用表市场2019-2024年CAGR为4.33%。市场规模将达到10.47亿美元，北美、亚太和欧洲是数字万用表最主要的市场。2、海外公司暂时主导市场，品牌、产品、渠道是行业三要素行业暂时由美欧日企业主导，是德科技、Fortive等龙头占据主要市场份额，国内龙头企业营收规模在3-8亿元区间，市场份额不足10%。下游采购需求呈现低频率，品牌是客户选择的重要依据。产品需要满足研究、专业技术人员的要求，高性能产品是重要的技术壁垒。专业且长尾的市场需要强有力的渠道进行支撑，直销、经销等方式相互配合实现渠道壁垒。3、国产品牌已经站稳，正处于从1到N阶段政策支持、人才优势，国产品牌有望向广度、深度拓展，实现强Alpha。2021年《科学技术进步法》发布，有力推进电测仪器行业国产化进程。仪器仪表行业是强研发驱动行业，国产品牌在政策、资本支持下，充分利用我国工程师红利优势，正在向海外、中高端等市场发起冲击，并且在自研芯片等关键元器件领域取得一定突破。该行认为国产厂商已经跨越从0到1的阶段，有望在全球电测仪器市场中突围，实现强Alpha。

无线电频谱作为电磁空间的基本载体，是国家基础性、稀缺性战略资源，是支撑经济社会发展和维护国家安全的重要保障。随着新一代信息技术的快速发展，如5G/6G、工业互联网、物联网、车联网、卫星互联网等，对频谱资源的需求大幅增长。因此，科学开发、利用和保护无线电频谱资源，发挥最大效率和效益，已成为统筹发展与安全，推动高质量发展与高水平安全的必然要求。9月15日，在2023年中国无线电大会的“无线电监测与检测技术”论坛上，中信科移动旗下大唐联仪（以下简称大唐联仪）总经理张祖禹，发表了《通信测试仪表发展分析》的主题演讲，对无线电管理特别是移动通信测试中仪表进行了深入分析，从终端测试、基站测试、核心网测试等方面对仪表设备系统进行了阐述。同时分析了国产仪表发展的困难点和突破的关键点，并一起探讨了国产仪表做强之路。张祖禹表示，在我国的无线电管理条例中，无线电监测、检测是重要内容，目前，在电子测量仪器领域，国内企业入局高端测试市场难度较大，国内市场的相关产品国产化率较低，但市场潜在机会巨大。中国移动通信产业的快速发展，给国产仪器仪表厂商的发展提供了很好的机会。大唐联仪紧紧抓住5G向传统行业的渗透、车联网融合演进、卫星互联网融合演进等方向，从芯片到终端进行了全产业链的仪表布局。同时，张祖禹对国内仪表发展提出了三点建议：一是国产仪表发展，需要整体规划布局，从单点突破到全面领先；二是要各个独特领域做到“隐形冠军”；三是要做自上而下的整合，实现体量突破，真正做到和国际产品同台竞技。尽快突破移动通信产业链中仪表这个薄弱环节，为产业的平稳和安全发展保驾护航！

自从我们通过不断发表理学XRT在半导体领域相关应用的文章使我们公司的XRT产品的百度搜索稳进前5之后，编者由于工作上事情比较多就开始懈怠近半年没有给大家带来最新XRT的资讯和相关应用介绍，先给关注这个产品的朋友道个歉。最近我们也获得理学总部关于这个产品的最新资讯，就迫不及待地分享给大家一睹为快。1931年，第一张单晶的形貌图最早被Berg 记录下来。Berg 利用以一个极低角度的特征辐射照射单晶，在底片上得到了点对点变化的X射线反射形貌图，图中的条纹反映了晶体内存在塑性形变[1]，从此推开了用X射线形貌技术表征晶体缺陷的大门。不同类型的晶体缺陷尺寸相差较大，唯有提高X射线形貌仪的分辨率和灵敏度才能准备获得缺陷尺寸和分布信息。所以诸多设备厂家和科研工作者一直致力于如何提高X射线形貌仪的分辨率和灵敏度。与大多数成像设备类似，分辨率和灵敏度的提高基本是两个思路，第一个思路就是在保证X射线源光斑强度的前提下尽可能降低焦斑尺寸；第二就是通过提高X射线信号接收端的CCD探头的分辨率和灵敏度。理学XRT当前可以提供焦斑尺寸70μm高亮度射线源，从源头保证入射光束的均一性。同时该型号XRT具有超高分辨率和高灵敏度的XTOP CCD探头，可实现2.4um的像素分辨率成像，为更小位错缺陷的表征提供了可能。上述这一切的进步对于科研工作者是欢欣鼓舞的，但对于企业QC人员的帮助是有限的。企业应用场景除了仪器具备较为出色的性能之外，还要具备高吞吐量。理学公司急客户之所急，想客户之所想，针对SiC位错检测需求，研发人员在原有XRT技术基础上开发出了快速、准确和高效的位错解决方案，将关键技术指标BPD位错的检测效率提高5-6倍，1片6英寸SiC晶圆仅需要5min就可以完成样品测试，从而有效解决了SiC生产环节的瓶颈问题。理学公司是如何实现快速、准确SiC位错缺陷的测试呢？理学公司将其在XRD中的高端二维陈列探测器HyPix-3000HE引进到XRT系统。HyPix-3000HE是一种单光子计数高的X射线探测器，计算率大于106cps/像素，读出速度快，基本上没有噪音。HyPix-3000实物安装图片及仪器特点参见如下：图2 HyPix-3000安装效果及实物图HyPix-3000 HE探测器特点介绍：・ 空间分辨率⾼ ，有效面积大。像素尺寸100×100µ m2,探测面77.5 mm×38.5 mm；・ 最大程度地降低背景；・ 可进⾏ 零死时间模式的⾼ 速测量；・ 动态范围广。这套探测器除了上述本身固有的优点之外，搭载在理学XRT系统上最大好处就是对于X射线的入射光要求不再必须是平行光束，发射光束也可以用于晶圆缺陷的表征，从而省去XRT常规方案中布拉格衍射条件的调整和弯曲校正等调整流程。采用最小600mm/min的扫描速度，可以将1片6英寸晶圆的扫描用时从＞60min降低到5min左右。图3为XTOP探测器方案和HyPix-3000HE方案示意图。图3 XTOP方案和HyPix-3000HE方案示意图带有HyPix-3000HE探测器的XRTmicron具有利用发散X射线成像，在使用HyPix-3000HE进行测量时，发射X射线以多种入射角照射到样品上，发散的X射线可以补偿由于晶圆倾斜，曲率半径变化和方位角等对平台的影响。例如，使用（11-20）反射模式测试一片直径150mm主面4°偏角的4H-SiC晶圆的形貌图，即使入射角度变化在±0.6°，参考边/Notch角度变化为±5°可以很好的成像，参见图4。图4 调整入射角度下得到的XRT形貌图介绍到这里有的朋友可能会有疑问，既然HyPix-3000HE探测器效率如此高，成像效果也不错，那为什么还要保留Xtop这个方案呢？那是因为前面我们也提到了HyPix-3000HE的成像分辨率是100μm,对于晶圆缺陷在100μm以上缺陷检测则不受影响，如BPDs这类缺陷，一般呈线状、平行于晶面方向。同时，BPDs缺陷对芯片外延的影响最大，所以也是企业客户重点关注的缺陷指标。对于TSDs和TEDs 由于尺寸均小于100μm，HyPix-3000HE探测器无法准确识别，仍需借助XTop （分辨率最高可达2.4μm）功能用于这类缺陷的表征。所以，对于企业客户我们一般建议在传统XTop的配置的基础上，升级HyPix-3000HE 功能和机械手操作用于快速QC检测，从而解决SiC晶圆缺陷表征环节的瓶颈问题。如下视频就是德国弗劳恩霍夫研究所采用理学HyPix-3000HE方案用于BPDs缺陷测试的视频[4]，结合理学公司和德国弗劳恩霍夫研究所联合开发的形貌识别软件，实现SiC晶圆缺陷的高吞吐量的测试。XRT测试过程理学新一代微焦版转靶核心技术XRT形貌仪XRT (X-ray Topography)是利用X射线的布拉格衍射原理和晶格畸变（缺陷）造成特征峰宽化和强度变化等特性，结合X射线形貌技术，可以对晶体内缺陷进行成像。XRT检测技术最大的优点就是实现晶体缺陷的无损检测，在不破坏晶圆的情况下实现2-12英寸半导体晶体中线缺陷、面缺陷和体缺陷的检测和表征。如下视频就是6英寸SiC衬底BPD缺陷测试。XRT实物图更多详细信息或应用需求请联系我们联系人：王经理，18612502188附：[1] 卢嘉倩，基于XRT的晶圆检测技术进展，中国体视学与图像分析2022年，第27卷，第 2期；[2] 黄继武，X射线衍射理论与实践(I)，2020年4月；[3] 理学XRT应用介绍内部资料[4]https://www.iisb.fraunhofer.de/en/research_areas/materials/x-ray-topography.html

氧能溶于水，溶解度取决于温度、水表面的总压、分压和水中溶解的盐类。大气压力越高，水溶解氧的能力就越大，其关系由亨利(Henry)定律和道尔顿(Dalton)定律确定，亨利定律认为气体的溶解度与其分压成正比。　　溶解氧测试仪的电极由阴极和带电流的反电极、无电流的参比电极组成，电极浸没在电解质如KCl、KOH中，传感器有隔膜覆盖，隔膜将电极和电解质与被测量的液体分开，因此保护了传感器，既能防止电解质逸出，又可防止外来物质的侵入而导致污染和毒化。　　氧量测量传感器由阴极和带电流的反电极、无电流的参比电极组成，电极浸没在电解质如KCl、KOH中，传感器有隔膜覆盖，覆膜将电极和电解质与被测量的液体分开，只有溶解气体能渗透覆膜，因此保护了传感器，既能防止电解质逸出，又可防止外来物质的侵人而导致污染和毒化。　　向反电极和阴极之间施加极化电压，假如测量元件浸人在有溶解氧的水中，氧会通过隔膜扩散，出现在阴极上的氧分子就会被还原成氢氧根离子。电化学当量的氯化银沉淀在反电极上，对于每个氧分子，阴极放出4个电子，反电极接受电子，形成电流。　　溶解氧测试仪的标定方法一般可采用现场取样标定或标准液标定，下面咱们就来了解一下：　　1、现场取样标定法：在实际使用中，多采用Winkler方法对溶解氧分析仪进行现场标定。使用该方法时存在两种情况：取样时仪表读数为M1，化验分析值为A，对仪表进行标定时仪表读数仍为M1，这时只须调整仪表读数等于A即可；取样时仪表读数为M1，化验分析值为A，对仪表进行标定时仪表读数改变为M2，这时就不能将调整仪表读数等于A，而应将仪表读数调整为1MA×M2。　　2、标准溶液标定法：标准溶液标定一般采用两点标定，即零点标定和量程标定。零点标定溶液可采用2%的Na2SO3溶液。量程标定溶液可根据仪表测量量程选择4M的KCl溶液(2mg/L)；50%的甲醇溶液(21.9mg/L)。

中原工学院是一所以工为主，以纺织服装为特色，工、管、文、理、经、法多学科协调发展的高等学校。学校始建于1955年，原隶属于纺织工业部；1998年学校划转河南省管理；2000年更名为中原工学院。学校分南区、北区和西区三个校区，占地1560亩，建筑面积57.2万平方米。学校现有教职工1550人，其中专任教师1029人，具有高级职称教师450人，博士学位教师239人。学校有二级学院20个，55个本科专业，各类在校生3万余人，其中：本科生18792人、研究生435人，留学生30余人，专科生1841人，成教生14737人。 近年来，由于办学成绩显著，学校深受上级主管部门和社会的厚爱。2004－2006年，中原工学院连续三年专利受理量位居河南省高校第一名；2005年，顺利通过教育部本科教学工作水平评估并在全国介绍经验；2006年，在河南省委高校工委、省教育厅组织的德育评估中获“优秀”；2007年，被评为全国发展最快的大学之一； 2013年，与百度营销大学签署“合作共建百度互联网营销实验室协议”，成为河南省唯一“百度互联网营销人才培养基地”。学校先后被河南省委、省政府授予河南省文明单位、河南省思想政治工作先进单位、教师培训年工作先进单位等称号，被评为河南公众最满意的十佳本科院校、河南最具影响力的十大教育品牌、河南考生心目中最理想的高校和全省大中专毕业生就业工作先进集体。在全省第20次高校党建工作会上，学校被授予全省高校党建工作先进单位称号；2012年，校党委被省委授予2010-2012年度全省创先争优活动先进基层党组织称号。 此次中原工学院筹备阻燃试验室，订购了大批质量优良，功能先进的阻燃测试仪器，经过多家对比，以及激烈竞争，最后选定莫帝斯燃烧技术（中国）有限公司提供的锥形量热仪、TPP热防护性能测试仪、全面罩燃烧测试仪和抗熔融金属溅沫冲击测试仪。 其中，莫帝斯燃烧技术（中国）有限公司提供的锥形量热仪，与同类厂家相比，具有明显的技术优势，无论是产品设计外观，还是产品性能，都有显著的产品优势，该产品设计，融合了英国FTT、美国GOVMARK以及韩国FESTEC的设计风格和理念，产品软件具备各个传感器自我校准的功能，同时具有系统自我校准和自检的功能，如C系数校准，C系数日志查看，同时提供黑色PMMA标准试样，进行整机的准确度校准，这些设计，弥补了国内该产品的不足，完全可媲美发达国产的同类产品。 www.motis-tech.comwww.firetester.com.cn

p & nbsp & nbsp & nbsp strong 仪器信息网讯 /strong 2017年7月5日，从日立高新技术集团及牛津仪器公司获悉，牛津仪器工业分析部于5日正式成为日立高新技术集团的一部分。牛津仪器工业分析部纳入日立高新后，将成立一家新的跨国公司——日立高新技术分析科学，并隶属于日立高新技术集团。 /p p 　　◆ 日立高新技术集团以8000万英镑市价收购了知名科学仪器公司的工业分析业务。 /p p 　　◆ 新公司将为工业领域客户提供更多的分析解决方案。 /p p style=" text-align: center" img style=" width: 450px height: 474px " src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201707/insimg/377f1b71-b6f5-4909-abe6-bf1fdae4889d.jpg" title=" ProductsOnWhite_Opt_b.jpg" height=" 474" hspace=" 0" border=" 0" vspace=" 0" width=" 450" / /p p 　　新成立的日立高新技术分析科学公司，集合了日立高新技术现有多种科学仪器产品线，与牛津仪器45年与行业客户紧密合作并为其研发创新分析仪器和服务的丰富经验。此次合作将使公司的产品线更加丰富，可更多地接触客户并有更多的机会来满足客户的需求。 /p p 　　日立高新技术分析科学将继续专注于与行业客户紧密合作，为其开发的高科技分析解决方案，以应对快速变化和挑战的工业市场。公司产品涉及实验室设备和耐用的高性能现场测试仪器，可应用于材料和涂层分析 从原材料勘探到来料检验、从生产和质量控制到回收利用，为产品的整个生命周期增加价值。 公司的专家团队为数百个工业应用定制开发了测试方法，即便最严苛的应用操作也做到简单易操作。 /p p 　　日立高新技术分析科学总经理Dawn Brooks表示：“目前，我们已经帮助成千上万家企业精简了成本，最大幅度降低了运营风险并提高生产效率。此次日立和牛津仪器工业分析的结合，大大提高了我们为全球客户提供更广泛的尖端分析解决方案的能力。” /p p 　　 strong 关于日立高新技术分析科学 /strong /p p 　　日立高新技术分析科学是一家新的跨国公司，成立于2017年7月，隶属于日立高新技术集团。公司总部位于英国牛津镇，研发和生产运营部门位于芬兰、德国和中国，在全球许多国家可提供销售和支持服务。产品包括： /p p style=" text-align: center" img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201707/insimg/ed10e0c5-ebc9-4d68-b6e3-dab9ec1e7275.jpg" title=" ProductsOnWhite_Opt_a.jpg" / /p p 　　● PMI-MASTER, FOUNDRY-MASTER and TEST-MASTER 系列分析设备可在全球很多行业应用于快速精密金属分析。基于光学发射光谱技术，可低检测限高精度检测所有重要元素，包括钢铁中的碳和绝大部分金属中的主要技术相关元素和痕量元素。 /p p 　　● X-MET8000手持分析设备，采用高精度XRF技术，可为很多行业提供简单、快速和无损的合金分析，包括废旧金属分拣和金属品级筛选。 /p p 　　● Vulcan手持分析设备，采用LIBS激光技术，可秒测金属合金，为吞吐量大的金属行业客户提供了最佳检测解决方案。 /p p 　　● X-Strata, Eco and MAXXI微焦斑XRF分析设备可测量单层和多层合金涂层厚度，可应用于质检和过程控制和科研实验室。 /p p 　　● Lab-X3500 and X-Supreme8000台式XRF分析设备，可应用于诸多行业的品保和过程控制，包括石化、木材处理、水泥、矿物、采矿和塑料。 /p p 　　 strong 关于日立高新技术 /strong /p p 　　日立高新技术集团，总部位于日本东京，是一家跨国公司，拥有四个事业部：科学和医疗系统、电子设备、工业系统和先进工业产品。公司愿景“为客户持续提供全球顶尖的高科技解决方案” 公司使命“助力我们客户的业务快速发展并保持领先”。 /p

新的DSA系统通过消除样品制备步骤，获得了更加快速和可靠的结果及实验室流程，从而将分析时间从25分钟显著缩减到25秒 马萨诸塞州沃尔瑟姆 &ndash 2012年5月17日&mdash &mdash 专注于提高人类健康及其生存环境安全的全球领导者PerkinElmer公司今日宣布，即将推出通过消除样品制备步骤而将分析时间从分钟缩短到秒的创新质谱解决方案。从5月19日开始，这些解决方案将在美国质谱大会（ASMS）的20号展位上展出，同时还将在加拿大温哥华会展中心的110号展位上展出多功能套件。 专为配合PerkinElmer的AxION ® 2 飞行时间 (TOF) 质谱仪使用而设计和制造，AxION ® Direct 样品分析 (DSA)的突破性技术通过消除前端气体或液体色谱分离的需求，使科学家能够在几秒钟内获得质谱结果。利用该系统，样品分析时间可以缩减几乎99%，由于无需色谱分析的过程，因此可以显著节约成本，从而提高实验室工作流程并提供更加快速的结果。 为了进一步简化实验室操作，PerkinElmer将展示其易于使用的基于网络的AxION eDoor&trade 开放式访问软件。兼容所有类型LC/MS实验室中的工作流程，AxION eDoor 为样品引入提供了&ldquo 直接通道&rdquo ，同时实现了多厂商质谱仪设备和用户完整网络的管理和控制。该系统设有一个现代化的直观界面，通过网络、电子邮件或任何PDA可以快速而便捷地访问结果。 &ldquo 虽然质谱技术可以提供样品最本质的性质，但是各实验室面临着样品前处理时间长和软件操作系统复杂等问题，而这些都是比较耗时并且需要熟练的人员进行操作，&rdquo PerkinElmer质谱仪副总裁Silverio (Sal) Iacono说。&ldquo 除了减少样品前处理步骤和无需前端色谱分离外，我们的新质谱解决方案还易于使用，操作人员只需要经过简单培训或者无需培训。在ASMS上，我们将会演示这些创新方案如何简化实验室工作流程和控制，并且同时确保好的质谱数据和结果。&rdquo 加入PerkinElmer 专家讨论，你会了解更多关于公司的质谱产品及其在细分市场间的广泛用途。 5月21日~23日，上午8:00至下午11:00(PDT)，PerkinElmer公司的分析仪器、软件和服务产品会在110号接待室展示。除上述产品外，PerkinElmer还将展出以下产品及服务： · AxION ® 2 飞行时间 (TOF) 质谱仪硬件和软件平台， 旨在提高定量、目标分析和复合鉴定的速度和信心。该系统提供了最佳的灵敏度、丰富的动态范围和精准地质谱分析性能，有助于确保制药和食品测试应用中的质量和安全性，包括在整个环境、工业和法医应用中的准确、可靠而自信的分析。 · AxION 直接样品分析 (DSA)系统是消除样品制备、挑战性方法开发以及前段气相或液相色谱分离的技术突破。液体、固体和气体样品可以直接引入到质谱仪中。这样就可以实现快速而简单的分析，有助于实现更快速度决策。利用AxION DSA系统，实验室可以将传统分析时间缩减到几秒钟，且无需改变结果。 通过实时的网络访问和现场更新， AxION eDoor 允许实验室管理员控制操作的每个方面&mdash &mdash 从样品提交到最终成果。所需的样品信息、方法和最终报告都可以定制，以满足特定的应用、个体研究者或用户群体。该软件还可以为科学家简化提交流程，只需简单培训就可以方便地远程登记样品和获取结果。 · Flexar&trade FX -15 UHPLC 液相色谱系统，包括一个双往复18,000 psi 泵，可将实验室生产力提高10倍以上。该系统提供了高分辨率和灵敏度，能够在更短的时间内获得更多的样品信息。用户界面非常简便，能够提高吞吐量和优化操作员的安全性。作为Flexar LC重要的组件之一，Flexar SQ 300 MS是终极的QA/QC工具，因为它集成了卓越的色谱法和创新而坚固的单四极杆质谱仪。 · The Clarus ® SQ 8 GC/MS为需要极端灵敏度（例如在环境和食品检测应用中）的分析师提供了可靠的吞吐量和生产力。它是围绕全球最灵敏度GC/MS探测器Clarifi&trade 而设计的，采用了最新的电子技术，因此具有最大的灵敏度和最长的工作寿命。Clarus SQ 8的革命性SMARTSource&trade 技术提供了前所未有的通道、易用性和用户维护，增加了正常运行时间，降低了运营成本。对于轻挥发性成分的分离，Clarus ® 680 GC 提供了以获得专利的高性能炉具。 旨在提供稳定性、灵活性和高性能，屡获殊荣的NexION ® 300 ICP-MS代表了第一个能够为简单而便利店细胞碰撞提供卓越的真实反应细胞检测极限。利用其专利的通用细胞技术&trade (UCT)，分析师现在可以用于具体采样和应用的最合适的技术。 凭借在超过150个国家的经过认证和工厂培训的客户支持工程师团队，PerkinElmer的OneSource® 实验室服务可满足所有的仪器保养和维修需求。灵活而可扩展，OneSource 专为个体客户的具体需求和目标而设计。OneSource 提供了业内最全面的专业实验室服务组合，包括面向几乎所有技术和制造商的完整的护理计划。 关于PerkinElmer PerkinElmer（珀金埃尔默）公司是致力于改善人类及环境健康和安全的全球领导者。据报道，该公司2011年的收入约为19亿美元，拥有约7,000名员工，服务于全球超过150个国家和地区的客户，同时公司也是标准普尔500指数的成员。 更多信息请致电1-877-PKI-NYSE或登录我们的网站：www.perkinelmer.com. # # # 媒体联系： Amanda L. Connolly Edelman (PerkinElmer公司代表) 电话: 404-832-6785 电邮: Amanda.Connolly@edelman.com

2016年11月24日，由瑞士万通中国有限公司和奥地利安东帕公司联合举办的河北省食品新国标发布交流会在省会石家庄顺利召开。来自金标检测等第三方检测、河北省质检院、省疾控等国家单位、以岭药业等30多家单位，40多名客户参加了交流会。 本次会议更多的聚焦在食品中酸价和过氧化值新国标的宣贯，两个新国标已于今年8月31日发布，并且在明年3月1日开始正式执行。虽然电位滴定法在新国标中是第二法，但是电位滴定法涵盖的样品范围比第一法传统手工滴定更广泛，对用户而言吸引力更大，可以预料到未来电位滴定仪在食品中油脂类样品的检测中有着越来越广泛被采用的趋势。 对于瑞士万通为政府食品安全监管部门、检验检测机构、食品企业等机构提供的瑞士万通离子色谱仪、近红外、拉曼光谱仪以及油脂氧化稳定性测试仪在食品行业的应用，参会代表均有浓厚的兴趣，与瑞士万通现场技术专家进行了深入的沟通和讨论。 OMNIS奥秘一代——电位滴定开启全新境界瑞士万通重新定义了电位滴定仪：揭晓OMNIS 奥秘一代。OMNIS奥秘一代是瑞士万通公司为了满足当今实验室需求而推出的一整套全新的电位滴定系统。ONMIS奥秘一代不仅仅是一台简单的电位滴定仪，她是我们聚焦于您和您的实验室的需求而开发的电位滴定系统，她可以让您更快速的得到分析结果，实验更安全、更方便、更高效。简而言之：演绎电位滴定全新境界。 点击这里体验OMNIS奥秘一代 OMNIS奥秘一代意味着什么？分析速度：更快速！OMNIS奥秘一代：四倍的样品吞吐量OMNIS奥秘一代让您能够在同一时间、同一系统上进行四个样品的全自动电位滴定。一旦发现系统中有空闲的工作位时，会自动触发下一个样品的分析——这一切完全自动实现，不需要额外设定! OMNIS奥秘一代意味着：更安全！3S适配器技术让您的实验室工作更安全。拥有专利技术的3S适配器让化学试剂处理变得更容易、更安全。3S意味着：安全的化学试剂处理：只需将3S 适配器卡在试剂瓶瓶盖上即可完成安装，避免接触试剂瓶中的化学试剂。 可靠的试剂信息传输：试剂瓶瓶盖上内置RFID芯片，芯片内记录了所有与试剂相关的信息。 智能的化学试剂连接：试剂数据自动传输至电位滴定系统。 使用OMNIS奥秘一代操作软件：更简单！体验设计超前的软件解决方案： 直观、简单易用、智能。硬件组件图形化显示，图标可拖放操作，简单直观，根据您的文本输入，用户界面只会显示与您的需求相关的信息，自动过滤不必要的内容，简化操作。专为用户订制的用户向导：OMNIS奥秘一代软件基于化学实验室的概念、流程和需求而开发。带给客户无与伦比的使用体验：可视状态指示灯 警告，检查，方案建议 按您所需自由编辑模板：方法、程序、命令等 了解更多关于OMNIS奥秘一代软件的信息 随时升级您的实验室：更灵活! 有需要的时候再升级您的系统。从单独的OMNIS奥秘一代电位滴定仪开始配置，在有需要的时候可增加电位滴定模块和加液模块。通过增加额外的测量输入模块和滴定管，您可以同时做五个不同的平行滴定。如果需要处理的样品量增加了，也可以增加OMNIS奥秘一代机器人样品处理器实现全自动的电位滴定。由于工作位、样品架和泵都是模块化的设计，OMNIS奥秘一代实现同时进行四个样品的平行滴定。

2013年8月20日至22日，标乐亮相上海新国际博览中心W5馆的2013国际质量检测分析技术及测量测试仪器仪表展览会（简称Control China），向来自海内外的专业人士展示标乐先进的材料制备和硬度测试技术和产品。标乐C08展位重点展出了包括切割、镶嵌、研磨、抛光、硬度计、耗材等一系列先进的产品，旨在展示标乐在材料分析领域领先的科学仪器以及不同层次的自动化解决方案。标乐今年新推出的VH3100自动化维氏/努氏硬度计和AbrasiMatic450切割机也在此次展会隆重亮相，现场向来自海内外的行业专家、学者、客户展示其优越的性能。 除了展位的10余台设备展示，标乐也在此次展会的同期活动中为参会人员提供免费的实际操作及专业的培训：来访者在现场演示专区在工程师的直接指导下操作Tukon2500显微/维氏硬度计和VirbroMet2 振动抛光机，亲自体验新技术革新下的全自动硬度测试和完美的EBSD测试样品制备；8月20日以及21日，在技术革新会议区，标乐的应用工程师、销售工程师为来访者分享了金相样品制备以及硬度测试在汽车行业中的应用，解答汽车等不同行业用户在金相制样和硬度测试中遇到的问题，旨在为企业改善产品材料、检测生产成品以及原材料、做失效分析、进行基础的材料研究带去前沿的解决方案。 此次展会取得圆满的成功，标乐与用户进行零距离的交流，展示先进的仪器，了解用户关心的技术问题，解答用户操作中遇到的实际问题，分享专业的应用知识，让用户切身感受到标乐产品的卓越性。

山东普创工业科技有限公司诞生于2009年，是高新技术企业。公司历经15年的风雨历程，一直专注于医疗器械和包材检测的理论研究，以及精密检测仪器的制造。产品主要服务于国家质检药检机构、医疗器械、印刷、包装、医药、日化、科研院校、光伏、食品、医药、化工、新能源、新材料等行业领域。在行业界树立了“专业、严谨、售后服务体系完善"的良好形象。被企业所认可。 我公司自主研发生产的物理性能检测仪器型号为PBSC-RP30的接骨螺钉性能测试仪自2016年10月交付的第一台到现在为止使用用户已经突破了50家！为接骨螺钉质量保驾护航，为制造企业提供成熟的过检方案。设备图片： PBSC-RP30接骨螺钉性能测试仪研发历程：2016年6月，经过项目小组的不懈努力，经过了多次改进升级的接骨螺钉性能测试仪生产组装完成，进入数据调试阶段；2016年7月，对测试软件进行再次升级，经过数据、曲线的比对各项参数均达到设计标准和美国同类产品的指标；2016年8月，对测试设备进行外观升级； 2016年9月，项目小组完成了接骨螺钉性能测试仪的全部研发工作，并交付生产。2016年10月，接骨螺钉性能测试仪确定型号“PBSC-RP20"；2017年1月，国内首台接骨螺钉性能测试仪订单完成，并交付客户使用，获得好评；2018年1月，关于接骨螺钉性能测试仪的两项専利获得通过，添补了国内人体植入金属螺钉性能测试仪的空白。2019年5月，在“PBSC-RP20"的基础上升级了软件和控制系统，新的升级型号为：“PBSC-RP30"。升级后的产品可以实时显示各项参数指标，曲线更加全面、细致，更加符合国家新标准的要求。并增加了拉拔工位。2021年1月，增加了插入力测试、紧固扭矩、扭矩保持功能；共有7项功能。并开发了量程跨度更大的拉扭一体传感器。 该项目经过论证、筹备，立项，研发，调试、定型等阶段，历时2年。在没有国内的现行标准，也没有在售的国内产品的前提下，经过普创科技接骨螺钉项目小组的不懈努力，终于推出了首台接骨螺钉性能测试仪。无论其性能、数据、外观还是性价比都得到了客户的认可。接骨螺钉性能测试仪项目的成功是普创科技坚持研发创新路上的一个重要里程碑，也是普创科技在新领域的新起点。在中国质检行业落后于欧美的大环境下，我们没有理由停下前进的脚步，普创科技不断探索、创新，做合格产品，做良心企业，为中国的质检事业尽绵薄之力！我们是普创科技！我们在不断努力！我们在不断前进！我们在不断创新！

在双面胶的初粘性测试中，滚球法初粘性测试仪和环形初粘性测试仪是两种常用的测试工具。尽管它们的最终目标都是为了评估双面胶的初粘性，但在测试原理、方法以及结果解读上却存在显著的区别。滚球法初粘性测试仪测试原理：滚球法初粘性测试仪通过在一定角度的斜面上滚动标准尺寸的钢球，以测量钢球在胶粘剂表面滚动时的粘附能力。测试时，钢球从斜面顶部释放，滚过涂有胶粘剂的测试表面，根据钢球滚动的距离来评估初粘性。特点：操作简单，测试速度快。测试结果受环境因素（如温度、湿度）影响较小。适用于各种类型的胶粘剂，包括双面胶。适用场景：适用于需要快速评估初粘性的生产环境。适用于胶粘剂的初步筛选和质量控制。环形初粘性测试仪测试原理：环形初粘性测试仪通过将一定直径的环形试样放置在胶粘剂表面，然后以一定速度提起试样，测量胶粘剂粘附环形试样所需的力。测试时，环形试样与胶粘剂接触，然后以恒定速度提起，直至环形试样脱离胶粘剂表面。特点：测试结果更精确，可以量化粘附力。适用于测量特定类型的胶粘剂，尤其是双面胶。测试过程可能受环境因素影响较大。适用场景：适用于需要精确测量粘附力的实验室环境。适用于双面胶的详细性能评估和研究。区别总结测试原理：滚球法侧重于通过钢球滚动的距离来评估初粘性，而环形法则通过测量提起环形试样所需的力来评估。操作复杂度：滚球法操作简单，环形法则可能需要更精确的操作和设备设置。测试速度：滚球法测试速度快，环形法可能需要更多时间来准备和执行测试。环境影响：滚球法结果受环境影响较小，环形法则可能更敏感于温度和湿度变化。结果精确度：环形法可以提供更精确的粘附力数值，而滚球法则提供相对的粘附性评估。适用性：滚球法适用于快速筛选和质量控制，环形法则适用于详细的性能评估和研究。测试成本：滚球法设备通常成本较低，环形法则可能需要更高级的设备。在选择测试双面胶初粘性的设备时，需要根据具体的测试需求、预算和测试环境来决定使用哪种测试仪。每种测试仪都有其优势和局限性，理解这些区别有助于选择最适合的测试方法。

日本横河电机株式会社近日推出新型光谱分析仪AQ6373，适用于短波长测量，量程范围350nm～1200nm。横河电机自收购安藤公司以来，即在光通信测试领域保持世界领先地位，光谱分析仪是享有传统美誉的拳头产品。 　 AQ6373使用单色镜技术，拥有出色的光学测量能力，如高精度波长测量、高分辨率、大动态范围等等。它继承了AQ6370B的友好用户界面和出色的测量吞吐量等优点，在很多测试场合将大大提高工作效率。AQ6373可满足医疗、生物、材料加工、电信设备等众多应用领域中对短波长设备的测量需求，尤其适用于短波长激光、光无源器件和LED的研发及生产。它能够代替许多与AQ6315同期的光谱分析仪。

中国石油集团工程技术研究有限公司（原中国石油集团工程技术研究院）一直从事防腐保温技术研究开发、防腐材料和保温管的生产销售、防腐保温工程施工及技术咨询等业务。塑料产品的性能跟含炭黑量有关系，炭黑有防紫外线的能力，塑料中加入炭黑的目的是抗老化和调色，检测炭黑含量其实就是在检测塑件的产品质量。中国石油集团工程技术研究有限公司选购我司HS-TH-3500炭黑含量测试仪.

table width=" 600" border=" 1" align=" center" cellpadding=" 0" cellspacing=" 0" tbody tr td width=" 115" p style=" text-indent: 0em " dir=" ltr" 成果名称 /p /td td width=" 499" colspan=" 3" 动态弹性模量测试仪 br/ /td /tr tr td width=" 115" p 单位名称 /p /td td width=" 499" colspan=" 3" p 中国建材检验认证集团股份有限公司 /p /td /tr tr td width=" 115" valign=" top" p 联系人 /p /td td width=" 185" valign=" top" p 艾福强 /p /td td width=" 161" p 联系邮箱 /p /td td width=" 153" p afq@ctc.ac.cn /p /td /tr tr td width=" 115" p 成果成熟度 /p /td td width=" 499" colspan=" 3" p □正在研发 □已有样机 □通过小试 □通过中试 √ 可以量产 /p /td /tr tr td width=" 115" p 合作方式 /p /td td width=" 499" colspan=" 3" p □技术转让□技术入股□合作开发& nbsp √其他 /p /td /tr tr td width=" 614" colspan=" 4" p style=" line-height: 1.75em " strong 成果简介： /strong /p p style=" line-height: 1.75em " strong /strong /p p style=" text-align: center line-height: 1.75em " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/2951acd4-0cb9-42bb-ba31-1bc4d37da508.jpg" style=" width: 300px height: 226px " title=" 弹性模量检测仪1.jpg" width=" 300" height=" 226" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align: center line-height: 1.75em " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/ba13ec0a-c570-4f8f-b857-abc41b0a226e.jpg" style=" width: 300px height: 256px " title=" 弹性模量检测仪2.jpg" width=" 300" height=" 256" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" / /p br/ p style=" line-height: 1.75em " & nbsp & nbsp & nbsp 本方法利用脉冲激励器来激励矩形截面的梁试样，测量样品的弯曲或扭转频率。作用在试样上的瞬时激励是通过自动激发装置或手动小锤的敲击来实现的。激励引起样品的自由振动，通过试样上方的信号接收器得到振动信号，进而通过快速傅立叶变换得到自由振动的前几阶频率，首先利用弯曲振动的基频算出试样的弹性模量，进而利用扭振主频率计算出剪切模量。由于梁试样自由振动的基频是由样品尺寸、弹性模量和样品质量所唯一确定，因此当基频已经测到后并且试样的质量和尺寸已知的情况下可以计算出弹性模量。弹性模量取决于弯曲响应频率，剪切模量取决于扭曲响应频率。泊松比由材料的杨氏模量和剪切模量决定，三者只有两项是独立的。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 该仪器测试精度高、操作方便，通过一次敲击（激励）能够快速而准确地同时得到材料的共振频率、弹性模量、剪切模量和泊松比以及内耗等基本弹性参数。测试结果重复性好，对样品完全没有破坏，也可连接高温炉进行高温弹性性能测试（高温炉为选购件）。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 该仪器高度集成，使用USB接口进行数据通讯、实现了热拨插和即插即用，采用全新工艺，实现硬件的高可靠性、强抗干扰能力和高信燥比，机型外观美观、性能稳定、能方便扩展高低温测试模块。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 性能指标 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 最高采样频率：2MHz br/ & nbsp & nbsp & nbsp 增益设置：1-128（1、2、4、8、16、32、64、128） br/ & nbsp & nbsp & nbsp 频响范围：20-20kHz br/ & nbsp & nbsp & nbsp 灵敏度：& nbsp 50 mv/pa br/ & nbsp & nbsp & nbsp 输入阻抗： 1Ω与27pF并联 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 时基范围： 10ns至1 sec/div br/ & nbsp & nbsp & nbsp 时基精确度： 50ppm br/ /p /td /tr tr td width=" 614" colspan=" 4" p style=" line-height: 1.75em " strong 应用前景： /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp 本产品适用于航空航天、汽车工业、工矿企业、科研部门、大专院校、技术监督、工程监测等，对各种陶瓷、玻璃以及各种陶瓷基复合材料的弹性模量，采用脉冲激励法可以实现对样品的无损检测，在准确测量样品的弹性模量的同时又不会对样品其他力学性能造成影响，应用前景广泛。 /p /td /tr tr td width=" 614" colspan=" 4" p style=" line-height: 1.75em " strong 知识产权及项目获奖情况： /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp 实用新型专利两项： br/ & nbsp & nbsp & nbsp 一种用于测量材料弹性性能的固定装置。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 专利号：ZL 2015 & nbsp & nbsp 2 0392701.4 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 一种样品激发装置及材料弹性性能测试系统 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 专利号：201520860414.1 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 行业标准一项 br/ & nbsp & nbsp & nbsp JC/T 678－1997& nbsp & nbsp 玻璃材料弹性模量、剪切模量和泊松比试验方法。 /p /td /tr /tbody /table

华大智造科技有限公司（MGI）于9月9日正式推出DNBSEQ-G99*，这是最新型号的中低通量基因测序仪*。作为全球同等通量测序仪中速度最快的测序仪之一，DNBSEQ-G99*特别适用于靶向基因测序和小基因组测序，提供快速、高质量的数据输出。基于华大智造的DNBSEQTM核心技术，DNBSEQ-G99*首次在测序流动槽上采用三角矩阵信号点，达到更高的数据输出密度，每次运行的总吞吐量为8-48Gb。在 DNBSEQ-G99* 首次推出的中国，一些早期用户已经进行了试运行，并获得了出色的性能。该型号将于 2023 年初开始在海外预订。速度之王：超快 G99*作为华大智造推出的第九款测序仪*型号，DNBSEQ-G99*专注于三大源头核心技术，继续引领创新。通过流体系统和试剂优化的高度集成，测序反应孵育过程只需几秒钟而不是几分钟。此外，配备三角矩阵高密度流通池、自主研发的高性能光学设备、高精度温控系统，PE150测序数据输出时间缩短至12小时以内。特别是DNBSEQ-G99*还配备了双流式细胞测序平台，可在一天内完成两轮PE150全测序流程，大大提高了测序效率。更灵活的排序模式：滚动操作+混合操作作为一款中低通量的基因测序仪*，DNBSEQ-G99*沿用了DNBSEQ-G400*的双流通池设计，使用户能够在一台测序仪*上实现灵活的数据输出，同时支持多种测序模式。通过在同一个DNBSEQ-G99*上灵活选择两个独立的测序模块和不同的测序读长，研究人员可以更轻松地应对不同时间节点、不同读长的测序需求，大大提高整体工作效率。目前，DNBSEQ-G99*支持的测序读长包括PE50、SE100和PE150，后续将开发SE400和PE300等读长更长的试剂盒。更简单的操作体验：新颖的试剂盒设计和即插即用流动槽随着测序应用的不断普及，对测序实验的简单性和便利性的需求也变得越来越重要。 DNBSEQ-G99* 配备了一个超简单的盒式流通池，并具有更大的安全保持区域。此外，DNBSEQ-G99*在试剂盒上采用了创新的试剂预注射设计，测序试剂的制备只需轻轻一按即可完成。特别是 DNBSEQ-G99* 试剂盒和清洗盒采用一体化设计，进一步简化了操作程序。DNBSEQ-G99*有两种型号可供选择：第一种通过计算模块的集成实现原始数据的自动分析和结果输出，同时为用户提供安全可靠的本地化数据存储和计算。另一种模型仅支持测序数据的标准化输出，方便用户自行进行定制化分析。此外，DNBSEQ-G99*的操作界面采用简洁明了的可视化设计，让操作者可以实时监控测序进度。植根于DNBSEQTM测序平台*的核心技术，DNBSEQ-G99*在数据质量方面继承了高数据准确性和高数据利用率的一贯优势。在各个领域的早期用户测序应用中，DNBSEQ-G99* 已经展示了极其出色的数据质量。用户使用标准产品进行测试的结果表明，DNBSEQ-G99* 的测序错误率低至 0.2%。目前，DNBSEQ-G99*面向中国用户开放订购，未来将有更多用户合作伙伴，解锁新领域和多样化应用。自2015年推出首款产品型号BGISEQ-500*以来，华大智造先后推出了E系列、G系列和T系列三大系列测序仪*型号，数据输出吞吐量从KB到PB。 “用户的支持和反馈鼓励我们站在创新的最前沿，突破界限，探索技术的极限。向更多应用领域拓展的承诺是我们的动力，”华大智造首席执行官穆峰表示，“华大智造承诺为全球合作伙伴提供更好更快的核心工具，并将继续推动先进的科学研究和应用。”

8月14日上午，江苏靖江检验检疫局成立揭牌仪式举行。江苏检验检疫局、靖江市有关领导、泰州海关、边检、口岸委等单位负责同志出席揭牌仪式。 　　近年来，靖江市外向型经济发展迅猛，对外贸易快速增长，检验检疫总量不断攀升，尤其是港口业务呈现连年翻番的良好发展态势，2012年检验检疫货值23.69亿美元。靖江港岸线对外开放范围共规划布置110个泊位，其中万吨级以上泊位87个，总通过能力2.1亿吨。截至目前，靖江港已建成万吨级以上泊位50个，沿江港口已形成船舶修造、木材物流、粮食、金属材料加工和物流、能源石化物流、矿产品物流六大港口产业。 　　随着靖江港口岸全线开放，新荣、龙威、双江3个临时开放码头、8个万吨级泊位和太和港务、三峰港务、新华港务等8个万吨级泊位将申请对外开放，新增外贸吞吐量1500余万吨。预计2014年底，靖江港可实现港口货物吞吐量突破1亿吨，外贸吞吐量突破3000万吨。 　　靖江局的正式运行，将为靖江进出口企业、口岸快速发展提供更加优质、高效、便捷的服务，为优化靖江投资创业环境提供有力的保障，对加快实施靖江“港口带动”战略，促进开放型经济快速健康发展，具有重要意义。