福背能量谱仪

红外光谱仪买了一年多，能量由原来的16000降到现在的12000不到。背景能量纵坐标最大值由原来的80多降为50多。请问这个能量是什么的能量？是光源的能量吗？受湿度影响吗？肯请高手指点迷津。多谢！

普析[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]火焰扣背景不稳，能量一直不能平衡，平衡后特别不稳，求大神能详述一下扣背景步骤。

用岛津AA6300 火焰做NA 时候 用氘灯扣背景做谱线搜索时候总是显示 背景能量弱 是什么原因呢

分析含量为10～50%铝中间合金，用什么品牌的荧光光谱仪好?波长型和能量型哪一个更合适？能量型荧光光谱仪哪个品牌的口碑好些？预算最好不超过100W

最近在做EELS谱分析，采集了O和Mn的EELS谱，但是扣完背底之后，Mn的峰整体强度比O的要高，看起来就像背底像是随电子能量损失增加而增加，不知道为什么，所以烦请各位分析其中缘由。

X荧光光谱仪（XRF测试仪）由激发源（X射线管）、高压电源、探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。工作原理 X光管发射的X射线，经过滤光片后，X射线的背景射线被滤光片吸收而减弱，然后经准直器变成平行光束，照射在样品上．样品受到激发，随即产生含有被测元素的特征X射线荧光的复合光束．再经过准直器的准直进入半导体探测器，探测器本身具有能量分辨能力，可以甄别样品所有发射的不同能量特征的X射线荧光，探测器输出的信号经放大器的放大后进入运算装置，由于探测器输出的信号与入射的X射线荧光的能力成正比，因此可以得到定性、定量分析的能量谱图。注：X射线荧光(X Ray Fluorescence)是一种电磁波，是原子内层电子受到激发，在跃迁的时候，产生的一种电磁辐射。lXRF:X射线荧光(XRayFluorescence) 通常把照射在物质上的X射线的原级X射线和照射在物质上而产生的次级X射线叫X射线荧光。 X射线，激发被测物料，受激发的物料中不同元素发出的特征波长的X射线和能量差。 X射线荧光光谱仪有两种基本类型： 波长色散型（WD-XRF）和能量色散型（ED-XRF)更多相关文献： 请点击

忙碌的月份，终于能坐到电脑前，来论坛走走看看，今天与大家共享的是对不同的单位与剂量辐射方面的小知识。名词定义国际单位旧的专用单位换算吸收剂量反映被照射物质吸收电离辐射能量的大小戈瑞(Gy)拉德(rad)1Gy=100rad当量剂量反映各种射线或粒子被吸收后引起的生物效应的强弱希(Sv)豪希（mSv）雷姆(rem)1Sv=100rem有效剂量反映人体各组织、器官接受不同当量剂量和对辐射产生不同敏感性时，发生随机性效应的几率希(Sv) 吸收剂量：是指被照射物质吸收的辐射能量大小； 当量剂量：是组织或器官接受的平均吸收剂量乘以辐射权重因子后得到的乘积。 何谓辐射权重？核辐射进入大气后，空气中不同的射线对核辐射影响不同，比如，中子的辐射权重因子为5～20，α辐射权重因子为20，当量剂量的单位就是毫希沃特（毫西弗）、微希沃特。但是在普通生活环境状态，太阳光中最多的X、γ和β射线，其辐射权重因子为1，因此，多数情况下，吸收剂量与当量剂量相当，比如，有关部门检测出我国某沿海区域核辐射吸收剂量为0.001戈瑞，当量剂量也显示为0.001毫西弗。 有效剂量：是指人体受核辐射剂量的总和。打个比方，如果空气中核辐射当量为1毫希沃特，而某个人在这种环境下生活了10个小时，对他而言，有效剂量就是1乘以10为10毫希沃特。

“负能量食物”（Negative Calorie Foods）大约在十几年前就已出现，而现在，在网络上早已呈满天飞之势。根据其介绍，所谓的“负能量食物”并不是指所含能量小于零的食物，而是指消化时所需能量大于其本身能提供能量的食物。对于超重或者肥胖人士（现在这样的人越来越多了吧？http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09510.gif）来说，“负能量食物”绝对是天外福音了！你对“负能量食物”有什么印象？你觉得靠谱吗？PS：有人说（我说的是有人说，因为我也不确定），黄瓜,菠菜,生菜,油菜,菜花,白菜,西兰花,洋葱,芹菜,西葫芦都是负卡路里蔬菜。 苹果芒果草莓橙子桔子柚子是负卡路里水果。常见的芹菜、羽衣甘蓝、苹果等瓜果蔬菜富含膳食纤维的植物，是典型的负能量食物。

虽然波长色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（WD-XRF）X射线荧光光谱仪同属X射线荧光分析仪，它们产生信号的方法相同，最后得到的波谱或者能谱也极为相似，但由于采集数据的方式不同，ED-XRF（波谱）与ED-XRF（能谱）在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。　　（一）原理区别　　X-射线荧光光谱法，是用X-射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是分光晶体将荧光光束色散后，测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪（WD-XRF）是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同，故仪器结构也不同。　　（二）结构区别　　波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X-射线管的功率要大，一般为２～３千瓦。但X-射线管的效率极低，只有１％的电功率转化为X-射线辐射功率，大部分电能均转化为热能产生高温，所以X-射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管）、样品室和检测系统等组成，与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它用不分光晶体。由于这一特点，使能量色散型荧光光仪具有如下优点：　　①仪器结构简单，省略了晶体的精密运动装置，也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低，一般在100W以下，不需要昂贵的高压发生器和冷却系统，空气冷却即可，节省电力。　　②能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近，X-射线的利用率很高，不需要光学聚集，在累积整个光谱时，对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感，对样品形状也无特殊要求。　　③在能量色散谱仪中，样品发出的全部特征X-射线光子同时进入检测器，这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱（包括背景）的基础，也能清楚地表明背景和干扰线。因此，半导体检测器X-射线光谱仪能比晶体X-射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。　　④能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度，而不是峰顶强度。因此，减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响，提高净计数的统计精度，可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素，而不是按特定谱线分析特定元素。因此，见笑了偶然错误判断某元素的可能性。（选自网络，侵删）

请教各位大虾，最近了解到一个名词缩写“AIC”，听说是背景能量平衡的意思，但是全拼是什么有大虾知道吗？软件会自动做能量平衡，目的是将D2和空心阴极灯的能量匹配到同一数值，但是有时空心阴极灯能量太强，软件会显示匹配失败，想请问的是，如果匹配不上，会对实验结果有什么影响吗？从我之前的数据来看，匹配不上对结果好像没什么影响。为什么要进行能量匹配呢？我们测得的样品或背景吸光度是lg(Io/It)计算的，那么D2即使匹配不上，对背景吸收值也不会有影响吧。求教各位大神，谢谢！

每次由别的灯换Hg灯871.6寻峰时，能量总会在871.6波长处达到120%-130%，此时光电倍增管负高压达500-530V谁知道该如何解决？谢！仪器：北京谱析TAS-990软件：AAWIN

想请大家，选氘灯扣背景时，氘灯的能量一般是多少、100%、50%还是其他？

能量色散分析仪只有一个探测器，它对测量Ｘ射线能量范围是不受限制的，而且这个探测器能同时测量到所有能量的Ｘ射线。也就是说只要激发样品的Ｘ射线的能量和强度能满足激发所测样品的条件，对一组分析的元素都能同时测量出来。一般有以下三种基本类型的探测器可用于测量Ｘ射线：密封式或流气式充气探测器、闪烁探测器、半导体探测器。 能量色散的条件是当样品被激发后产生的Ｘ射线通过窗口进入探测器探测器把Ｘ射线能量转换成电荷脉冲，每个Ｘ射线光子在探测器中生成的电荷与该光子的能量成正比。该电荷被转换成电压脉冲，当这些电压脉冲经充分放大后，被送入脉冲处理器，脉冲处理器把这些代表着各个元素的模拟信号再转换成为数字信号，由计算机进行分类，分别存入多道分析器（ＭＣＡ）的相应通道内，一般使用１０２４－２０４８道ＭＣＡ。这些通道覆盖了分析的整个能量范围。 波长色散分析仪是用多个衍射晶体分开待测样品中各元素的波长，由此对元素进行测量。晶体被安装在适当位置，以满足布拉格定律的要求。 Ｘ射线荧光分析和其它光谱分析一样，也是一种相对分析。这就是说，要有一套参考标样，这些参考标样能够在可能感兴趣的范围内覆盖所测元素。首先对这些标样进行测量，记录欲分析元素的强度，建立浓度（含量）、强度（ＣＰＳ）校准曲线，存入处理数据的计算机，供以后分析同一类型未知样品时使用。 最简单的校准线是直线，强度与浓度的依赖关系反映仪器的灵敏度。 另外由于校准线要在很长一段时间内使用，所以应对仪器的漂移作出调整，尽管这种漂移不大，但它确实存在。这可以通过对每个分析元素选用高、低两个参考点来实现。制备若干被称作ＳＵＳ（调整样）的特殊样品，它们含有适量的分析元素，有很好的长期稳定性。利用它们可以求出高、低强度值。

原理&方法01 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- X射线管02 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 工作原理03 RoHS检测仪维修 --- 更换探头03 RoHS检测仪维修03 RoHS检测仪结构介绍 1800法律法规01 环保指令汇总 02 欧盟WEEE指令2002/96/EC 欧盟REACH法规指令 EC 1907/2006 欧盟ELV指令2000/53/EEC 欧盟包装物和废弃包装物指令94/62/EC 欧盟新电池指令2006/66/EC 欧盟Eup指令2005/32/EC 欧盟镉指令91/338/EEC 欧盟镍指令94/27/EC 欧盟偶氮染料指令2002/61/EC 欧盟邻苯二甲酸盐指令2005/84/EC 挪威PoHS 文献资料01 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 六种有害成分的存在形式及其替代方法02 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- X荧光光谱仪是什么?03 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- RoHS培训-手机产品04 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 术语05 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 元素之间干扰06 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 物料分类与拆分07 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- RoHS1.0，2.0指令区别08 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- X射线分析仪(电子版书籍)09 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 辐射小知识10 RoHS检测仪器---欧盟RoHS指令豁免条款11 RoHS检测仪器---卤素简介12 中国RoHS与欧盟RoHS之比较表资料目录为：第一章 简单原理第二章 X射线的发生、衍射和吸收原理第三章 X射线的激发第四章 波长色散分光计和晶体性质第五章 探测器和电路第六章 能量色散第七章 分析的精密度和准确度……内容持续更新中……09 能量色散X荧光谱仪(EDXRF) --- 各國玩具重金屬要求對照表

当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较外层的电子跃迁到空穴时，所释放的能量随即在原子内部被吸收而逐出较外层的另一个次级光电子，此称为俄歇效应，亦称次级光电效应或无辐射效应，所逐出的次级光电子称为俄歇电子。 它的能量是特征的，与入射辐射的能量无关。当较外层的电子跃入内层空穴所释放的能量不在原子内被吸收，而是以辐射形式放出，便产生X 射线荧光，其能量等于两能级之间的能量差。因此，X射线荧光的能量或波长是特征性的，与元素有一一对应的关系。 K层电子被逐出后,其空穴可以被外层中 任一电子所填充，从而可产生一系列的谱线，称为K系谱线：由L层跃迁到K层辐射的X射线叫Kα射线,由M层跃迁到K层辐射的X射线叫Kβ射线……。 同样,L层电子被逐出可以产生L系辐射。如果入射的X 射线使某元素的K层电子激发成光电子后L层电子跃迁到K层，此时就有能量ΔE释放出来，且ΔE=EK-EL，这个能量是以X射线形式释放，产生的就是Kα 射线，同样还可以产生Kβ射线 ，L系射线等。莫斯莱(H.G.Moseley) 发现，荧光X射线的波长λ与元素的原子 序数Z有关，其数学关系如下： λ=K(Z-s)-2 　　这就是莫斯莱定律，式中K和S是常数，因此,只要测出荧光X射线的波长,就可以知道元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以 进行元素定量分析。 X射线的产生 利用X射线管（图2），施加高电压以加速电子，使其冲撞金属阳极（对阴极）从而产生X射线。从设计上分为横窗型（side window type）和纵窗型（end window type）两种X射线管，都是设计成能够把X射线均匀得照射在样品表面的结构。 X射线窗口，一般使用的是铍箔。阴极（也叫做：靶材）则多使用是钨(W)、铑(Rh)、钼（Mo）、铬（Cr）等材料。这些靶材的使用是依据分析元素的不同而使用不同材质。原则上分析目标元素与靶材的材质不同。 如何利用荧光X射线进行定量分析 在包含某种元素1的样品中，照射一次X射线，就会产生元素1的荧光X射线，不过这个时候的荧光X射线的强度会随着样品中元素A的含量的变化而改变。元素1的含量多，荧光X射线的强度就会变强。注意到这一点，如果预先知道已知浓度样品的荧光X射线强度，就可以推算出样品中元素A的含量。 利用荧光X射线进行定量分析的时候，大致分为3个方法。一个是制作测量线的方法（经验系数法）。这个方法是测定几点实际的已知浓度样品，寻求想测定元素的荧光X射线强度和浓度之间的关系，以其结果为基础测定未知样品取得荧光X射线，从而得到浓度值。 另一个方法是理论演算的基础参数法（FP法）。这个方法在完全了解样品的构成和元素种类前提，利用计算的各个荧光X射线强度的理论值，推测测定得到未知样品各个元素的荧光X射线强度的组成一致。 NBS-GSC法也称作理论Alpha系数法。它是基于荧光X射线激发的基本原理，从理论上使用基本物理参数计算出样品中每个元素的一次和二次特征X射线荧光强度的。基于此再计算Lachance综合校正系数，然后使用这些理论α系数去校正元素间的吸收增强效应。它与经验系数法不同，这些校正系数是从“理论”上取得的，而非建立在“经验”上。因而它也不需要那么多的标样，只要少数标样来校准仪器因子。

我在该论坛看到好多关于X 荧光光谱仪的知识，我自己也是做能量色散X射线荧光光谱仪这方面的，里面有点知识还不懂，希望里面的朋友们帮我解析一下： 我在看杨明太老师的一本书时候，看到能量色散谱仪的性能测试中有一项是能量线性测试，我想问一下能量线性测试反映仪器的什么性能或者技术指标？谢谢了， 这两天急用！

原子吸收分光光度计（谱析）石墨炉扣完背景后元素灯能量特别低，氘灯也低，扣完背景能见到光栅

最近在看光谱仪方面的书籍，初学，有一个问题想问问大家： 每一种探测器都有照度上限，入射通量超过照度上限，会工作不稳定，寿命缩短，但是它也有一个最小的可测能量，如果入射辐射强度地狱最小可测能量，那也就不能输出有效的信号光电流，这个最小可测能量要怎么计算呢？ 这个最小可测能量应该是由暗电流决定的。但是如何计算我一头雾水。。。 希望有好心人能详细解答一下。

氘灯扣除背景需要能量与空心阴极灯平衡，那么如果氘灯能量不足，会出现背景扣除不足还是过度那？欢迎大家讨论。

傅里叶红外光谱能出透过率，干涉图和能量光谱，吸光度，但是怎么转换成辐射率，岛津的设备，做玻璃的

激光能量法具有几下特点：　　　　a)激光辐射源本身的温度可以很低，避免了现有黑体辐射源因本体材料的耐热性导致的温度上限不能超过3200℃的情况，因此温度上限可以很高。由于采用激光器代替了黑体炉作为辐射源，其输出的能量完全可以满足辐射温度计对高温校准的要求。　　　　b)使用方便。从键盘输入辐射温度计光学系统的通光孔径r，辐射温度计与被测目标的距离R为1000mm时，目标能够辐射到辐射温度计面积S，光学系统光谱范围的上、下限波长λ1，λ2和温度值T0i后，激光辐射源即可直接输出对应于温度T0i的辐射能量φ0λ1,λ2(T0i)。　　　　c)激光能量法属于绝对法校准，不需要标准温度计。同时，也不同于一般的绝对法校准，不需要定义固定点和内插方程。采用标准激光功率计作为标准器，通过激光辐射源的输出能量来获得对应于热力学温度T0的辐射能量φ0λ1,λ2(T0i)。标准激光功率计对激光辐射源的输出能量进行测量，并进行自校准。　　　　d)节省时间。激光辐射源没有升温和恒温过程，所以可实现快速校准、检定。　　　　e)校准时，可不考虑辐射温度计的距离系数。　　　　f)激光能量法主要用于高温范围辐射温度计的校准、检定，所以不必考虑环境辐射的影响。　　　　激光辐射源输出激光的波长应在辐射温度计的有效波长范围之内。由于激光辐射源不是黑体辐射源，所以输出激光的波长必须与辐射温度计相适应。也就是说，一台通常单频率的激光辐射源不能满足校准所有辐射温度计的需要。在校准装置中，工作波长不同的多台激光辐射源可共用一套控制系统。若采用频率可调的激光器可克服此问题。　　　　校准时，应注意辐射温度计与激光束的同轴。因为激光束很窄，若瞄准不好可能使激光束打不到探测器上。　　　　在不确定度的评定过程中，由于条件所限，没有考虑辐射温度计光学系统光谱透过波长的测量误差问题。因波长测量误差会导致辐射能量的计算误差，最终对校准结果产生影响。同时，也没有考虑辐射温度计光学系统的通光孔径r，辐射温度计与被测目标的距离R为1000mm时，目标能够辐射到辐射温度计的面积S的测量误差，这两项误差将对计算辐射能量直接产生影响。对此，将在今后的研究中加以解决。　　　　对激光能量法与黑体辐射源法校准辐射温度计的差异还有待理论及实践的探讨与研究。

我们有一台比较老的Leybold仪器能谱仪使用的半球能量分析器的电子倍增器需要更换type 643/4EMAserial 7898Thorn EMI Electron tubesRuislip Middlesex HA4 7TA England拆下来看过，有很多级组成的那种，共16级上面有个序号：872083可有哪位大侠知道哪里还有卖这种型号的电子倍增器请告知联系方式谢谢！

Nicolet的 红外光谱仪的红外能量值怎么做出来？Nicolet的 红外光谱仪的：看的资料上说“ 设定4cm-1分辨率，扫描次数32次，采集空气本底光谱，分布测量本底光谱中能量最高点波数处本底光谱的能量Emax 和4000cm-1处的能量E4000，计算E4000/ Emax，对照厂家的仪器参数说明，检查其产品是否真实符合检测结果。”不知道怎么做，请知道的人提示下.谢谢

我才接触[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]，想用石墨炉测土壤中的cd，但是电灯后，一开背景灯，cd灯的能量上去了，但是背景灯的能量没有了。请教各位大大应该怎么调啊？我用的是pe-aa-400。这里说下啊PE 的售后真的很差劲

我刚刚接触火焰[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]仪器，型号是AA400.在使用过程中出现了一些问题，我们在做钯含量时需要用背景校正。但是仪器显示的是背景校正灯的能量太低。请教那位高手告诉我，该如何处理呢？谢谢

[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]搜索谱线时能量出现大于100%，然后才回到100%。能量值不是就应该时100%，这个时候是不是因为光电倍增管的负高压太低或者是灯电流偏高，仪器通过调节平衡使其值取100%，为什么要这样做？？

我用的EDS（INCA）在低能量部分的背景噪音很大，信号的采集率也比较低，不知道有什么好的解决办法？我这里的电镜是日本电子的JSM-6700F，工作电压是20KV。

仪器显示光电倍增管负电压高，我打开优化界面显示氘灯的能量慢慢从0.9衰减到0.7，这是什么原因造成的呢？我这个仪器是安捷伦的AA240-FS，使用时间大约是2年。