激光涂层量仪

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激光涂层量仪相关的厂商

  • 本公司是一家专业从事激光产品研发的高科技公司,拥有雄厚的技术设计和生产能力,终身致力于为国内外客户提供品质优良、性能出众、价格有竞争力之产品。目前已开发出多种半导体激光产品,其中激光标线器是一种方便实用的标线工具。可广泛用于作服装钉钮点光源定位、裁布机裁布辅助标线、缝纫机/裁剪机/钉钮机/自动手动断布机辅助标线定位、裁床裁剪对格与对条、电脑开袋机标线等等。方便快捷、直观实用。。  产品主要包括:半导体激光器、激光准直光源、激光平行光管、激光标线仪、光学透镜、实验室教学光源、激光功率计等。  半导体激光器主要包括绿光(532nm)系列激光器、红光(635nm、650nm、780nm)系列激光器和红外(808nm、850nm、980nm)系列激光器。  激光准直光源主要包括:D-系列(点状光斑)激光器、L-系列(一字线)激光器、S-系列(十字线)激光器、T1-系列(功率可调)激光器、T2-系列(频率调制)激光器,P-系列(平行光管)激光器,B-系列激光标线仪。其中D-系列激光器光束发散度可达0.1mrad;L-系列激光器线宽最小可达0.3mm;调制(T2)激光器调制范围0-10KHz。P-系列激光平行光管口径可达40mm,光束发散度可达0.02mrad。  激光功率计可标定532nm、635nm、650nm、780nm、808nm、850nm、980nm、1100nm各波段,工作同时可监测电流。  我公司激光产品及光学产品可广泛应用于科研、工业、勘探、测量及医疗等领域。可以根据用户的特殊要求设计加工专用激光器及光学系统,也可以提供激光系统应用和特殊用途的批量供应。“团结、自信、坚韧、进取”是我们的企业宗旨,我们将一如既往地为用户提供高品质的产品。
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  • 广州市广精精密仪器有限公司(简称广州精密YDYQ)是一家专业从事开发设计、生产及销售光、机、电、算结合的综合型超精密计量仪器的高新技术型企业。是目前国内最专业的材料试验、形位公差类超精密仪器生产制造厂家之一。 广精精密致力于研发、生产先进的长度类几何量计量、形位公差类超精密测量设备,公司拥有高素质的研发、管理和生产队伍,依托数十年深厚的技术积淀、与各知名高等院校的紧密合作、科学严谨的管理,完善的生产体系和严格的质量体系,通过整合制造开发经验和众多社会资源,不仅致力于为不同领域的用户提供高质量的产品,而且更着重于为客户提供整套的性价比最优的最专业的产品及精密计量仪器设备解决方案。 广精精密可提供的产品有:圆度仪,圆柱度仪,轮廓仪,三坐标测量机,便携式三坐标测量臂,三坐标测量划线机,材料试验机,齿轮测量仪,对刀仪,硬度计,测高仪,表面粗糙度仪,影像测量仪,万能测长仪,测量投影仪,显微镜,万能工具显微镜,涂层测厚仪,超声波测厚仪,激光测径仪,测振仪,凸轮轴测量仪,三维激光扫描机(抄数机),万能试验机,拉力试验机,压力试验机,齿轮测量中心,三维激光扫描系统,激光跟踪仪等精密计量仪器、量具刃具。 公司的系列产品广泛应用于机械加工、汽摩配、轴承、电机、电动工具、精密工具、精密五金、刀具、模具、光学元件等行业及科研院所、大专院校、计量机构和企业计量室车间;同时还服务于航空航天部军工企业。本公司坚持以“诚信为本、质量第一、价格合理”的经营理念,坚持“客户第一”的原则为广大客户提供优质的服务。热诚欢迎各界朋友前来洽谈业务!广州市广精精密仪器有限公司Guangzhou YDYQ Precision Instruments Co.,LTD.电话:020-22927661联系人:邝先生 13570408618传真:020-87684676http://www.cnydyq.comhttp://www.cnydyq.net http://www.02017.nethttp://www.tesa17.cn E-mail:gj806@cnydyq.com地址:广州市先烈中路100号中科院内
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  • 华日激光坚持以市场需求引领新产品的研发,为客户提供纳秒、皮秒、飞秒等多种脉冲宽度,红外、绿光、紫外、深紫外等多种波长的激光器产品,所有产品均具备自主产权,同时产品通过欧盟CE质量安全认证,完全满足严苛条件下的工业加工要求,是超精细加工领域的理想光源。同时通过与全球高端激光设备制造商在电子电路、硬脆材料、半导体、新能源、生命科学等领域开展紧密合作,为用户提供全面的激光技术解决方案。
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激光涂层量仪相关的仪器

  • 产品描述手持式涂层测厚仪(PAC mobile)是利用光热法测量涂层厚度的一种非破环性、非接触型的测量仪器。符合欧洲标准 DIN EN 15042-2。它适用于测量干、湿膜及粉末的涂层,例如多种基质(金属,橡胶或陶瓷)上的有机溶剂涂料、水性涂料、粉末涂料和釉料等。通过手持式的测量探头(符合人体工程学),手持式涂层测厚仪(PCA mobile)可以在潮湿或干燥等不用的复杂现场环境条件下,通过便携式终端内置的涂层工作曲线快速精确地测量涂层厚度,并且可以在同一位置多次重复测量。使用光热测量技术可以在涂层固化前(自然干燥或烘烤)检测涂层厚度是否准确,通过这个技术可以增加生产效率和提高最终产品的质量。手持式测厚仪(PCAmobile)由手持传感器和便携式终端构成,可以在现场直接得到测量结果。手持式涂层测厚仪的特点1:操作便捷,直观菜单导航;2:无限的灵活性,可测量结构复杂的样品;3:测量范围大(涂层可达300μm)(基于不同的涂层/基体,必须校准工作曲线);4:适用范围大 (涂层:干、湿、粉末及薄膜的涂层;基体:金属/非金属基体)5:无损/非接触,对待测样品不产生任何磨损和破坏;6: 续航时间长(使用可充电4节锂电池,连续测量可达10个小时);7:设备安全可靠,对眼睛无伤害;装箱单• 工具箱• 便携式终端• 手持激光探头• 4 节锂电池• 外部电池充电器• 说明书可选附件• 固定垫片• 可调节高度的测量支架• 简易调节高度的测量支架• 订制校准曲线• 可扩展的软件包涂层厚度范围: 1 - 300μm*角度公差:±15°接口:USB测量光斑大小:?= 0.5mm重复率:最大 1 Hz *测量时间:32-1024 ms*测量精度:约 3%的测量值*激光等级:1M分辨率:约 1%的测量值*探头尺寸:L = 110 mm, B = 25 mm电源:4 节锂离子电池探头重量:100 g电池寿命:10 小时连续使用便携式终端尺寸:80 x 180 x 42.5 mm测量距离:≈16mm设备重量:750g*基于涂层/测量范围/基体
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  • 光热法涂层测厚仪技术特点和优势 无损测量,非接触测量 测量速度快(<1秒) 不受被测物体几何形状影响 适用于各种基材和涂层组合 厚涂层变化曲线薄涂层变化曲线实际测量涂层变化曲线 检测的必要条件: 比较基材和涂层材料之间的导热性 (热传导系数) 测量基材和涂层材料对光吸收的数据 间接法检测:测量涂层材料的热反应数据,得到涂层厚度 评估时间和幅度信号的变化 时间测量---重复性高 不同材料的曲线数据可以重复使用 人工手动测量: 便携的手持式传感器 探头重量:0.1KG 探头长度:110mm 探头直径:25mm 激光探头(无需额外保护,裸眼可观测) 极高的分辨率(光点直径小于0.5毫米) 自动化在线测量: 轻量化探头易于整合和安装 多种光点直径适用于不同应用( φ 0.25mm 到 2.0mm) 多种数据输出接口(CAN-BUS&D-IO) 功率更高 测量间距达到100mm 德国Optisense非接触式激光涂层测厚仪参数技术参数测量范围金属基材(0 - 300 μm)非金属基材(0 - 60 μm)测量点直径0.5 mm重复频率Max. 1 Hz(取决于涂层厚度和参数设定)激光型1M激光功率max. 0,5 W测量持续时间8 .. 512 ms(取决于涂层和母材的材质)运行模式脉冲法测量精度<5%(取决于涂层和母材的材质)测量距离16mm容许距离误差±1mm公差角度±15°探头尺寸L110mm,φ30mm,探头重量0.1kg 应用案列:
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  • 全自动涂层测厚仪(PaintChecker automation)是利用光热法测量涂层厚度的一种非破环性、非接触型的测量仪器。符合欧洲标准 DIN EN 15042-2。它适用于测量干、湿膜及粉末的涂层,例如多种基质(如:金属,橡胶或陶瓷)上的有机溶剂涂料、水性涂料、粉末涂料和釉料等。轻巧便捷的手持式探头使从生产源头直接测量成为可能。光学结构设计,允许涂镀生产的现场环境中。附带的工作站软件使用简洁方便,并具有数据储存和报表输出功能。配置清单• 手持激光测量头(包括连接电缆)• 数据处理终端• 电源线和网线• 探头架• 软件(光盘)• 用户手册• 激光参考标准可选附件• 距离限制帽-方便固定• 可调节高度的测量支架• 订制校准曲线• 编程接口进一步产品对于在自动化生产中的应用, 我们建议使用工业型-涂层测厚仪。它装备了功能强大的数据处理终端和工业标准的接口。此外,它拥有一个极至的光学传感器,通过标准化夹具可以将它很容易的集成到生产线上。 测量探头手持式的铝制测量激光探头内含对人眼安全的激光和数据采集装置;它同数据处理终端间由 2 米长的数据传输电缆连接。 测量厚度范围0- 300μm(金属基体)*测量光斑大小?= 0.5mm0- 60μm(非金属基体)*重复率最大 1 Hz *测量时间8 - 512 ms *激光等级1M激光功率最大 0,5 W激光模式脉冲分辨率约 3%的实际测量**准确度约 5%的实际测量**测量距离16 毫米距离公差±1 毫米角度公差±15°尺寸L = 110 毫米,?= 25 毫米重量约 100 克(*)取决于涂层厚度/参数集(* *)取决于涂层/基体 数据处理终端数据处理终端包含铝制的外壳、测量探头控制及数据评估处理软件单元和数据存储单元。数据处理终端与电脑进行通讯连接,通过电脑的预置软件可以全程控制测量并查阅和存储测量数据。 电压/功率230V AC, 50Hz, max.40W接口以太网 10 兆位/秒 (RJ45)维长x宽x高 = 227 x 267 x 100 mm重量2.2kg
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激光涂层量仪相关的资讯

  • 中级培训 | 如何实现最佳涂层效果:从KRÜSS的角度优化涂层和基材的性能
    研究背景各种类型的涂层,包括粘合剂和油墨,在包装优化过程中起着关键的作用。对于所有形式的涂层来说,了解并匹配基材的表面特性和涂层的特性是至关重要的,即润湿性、液滴铺展、染料吸收、短期/长期的附着力及印刷质量等。讲座中,KRÜ SS的国内外专家将揭示包装中涂层、印刷和粘接背后的科学,阐述通过不同的表界面测试方法有效地评估涂层和基材性能的原理,这些可量化、可重复的表界面测量方法能够帮助用户在生产和研发过程中实现最佳的涂层效果。我们的国内外专家们从科学和技术两方面带来了丰富的实践经验,并将在这次讲座中和广大行业用户共同探索交流。讲座内容将涵盖接触角测量、表面自由能和预处理等基本原理、测量仪器的技术性能及涂料和印刷行业的各种应用实例。此次讲座内容丰富,干货满满,且完全免费,欢迎新老用户踊跃报名参加!(本次研讨会属于内部技术培训,不提供PPT和纸质资料,请大家做好笔记呦!)讲座安排时间:5月25日(周四)下午13:00至17:30地点:上海市闵行区春东路508号E幢2楼多功能厅费用和注册:本次活动原收费每人1000元,但本次为特别回馈老客户支持,完全免费。此次讲座为线下活动,与会人员必须提前登记预订席位,每家用户的参会名额为2位。报名截止日期为2023年5月22日。讲座内容:液体涂料的评价:静态和动态表面张力的测量理论固体基材的分析:接触角、液滴铺展和附着力分析的基础知识涂层常见缺陷及其处理方法常见的的接触角测量误区实验操作和测量方法的标准化及分析……报名方法:关注公众微信号“克吕士科学仪器”- “最新资讯”。专家团队:王磊:克吕士中国公司总经理,从事KRÜ SS品牌在中国的推广超过15年,对表界面相关领域的应用及测量技术有深刻的理解和洞察。Dr.Thomas Willers:KRÜ SS GmbH应用与科学部门负责人,德国科隆大学实验物理学博士学位,负责德国总部的应用实验室、应用市场、业务发展和培训活动,在界面化学和物理方面拥有多年经验。张晶晶:克吕士科学仪器上海有限公司应用部经理,实验室负责人。研究方向为表/界面张力及泡沫的原理和应用,对KRÜ SS仪器和软件的操作及使用富有经验,长期为客户提供解决方案。杨雅雯:克吕士科学仪器上海有限公司应用工程师,在接触角、表面张力及泡沫分析领域具有多年应用经验,在高温高压领域的解决方案具有实践见解。
  • 专家约稿|辉光放电发射光谱仪的应用—涂层与超薄膜层的深度剖析
    摘要:本文首先简单回顾了辉光放电光谱仪(Glow Discharge Optical Emission Spectrometry,GDOES)的发展历程及特性,然后通过实例介绍了GDOES在微米涂层以及纳米超薄膜层深度剖析中的应用,并简介了深度谱定量分析的混合-粗糙度-信息深度(MRI)模型,最后对GDOES深度剖析的发展方向作了展望。1 GDOES发展历程及特性辉光放电发射光谱仪应用于表面分析及深度剖析已经有近100年的历史。辉光放电装置以及相关的光谱仪最早出现在20世纪30年代,但直到六十年代才成为化学分析的研究重点。1967年Grimm引入了“空心阳极-平面阴极”的辉光放电源[1],使得GDOES的商业化成为可能。随后射频(RF)电源的引入,GDOES的应用范围从导电材料拓展到了非导电材料,而毫秒或微秒级的脉冲辉光放电(Pulsed Glow Discharges,PGDs)模式的推出,不仅能有效地减弱轰击样品时的热效应,同时由于PGDs可以使用更高激发功率,使得激发或电离过程增强,大大提高了GDOES测量的灵敏程度,极大推动了GDOES技术的进步以及应用领域的拓展。GDOES被广泛应用于膜层结构的深度剖析,以获取元素成分随深度变化的关系。相较于其它传统的深度剖析技术,如俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱(XPS)和二次离子质谱(SIMS)或二次中性质谱(SNMS),GDOES具有如下的独特性[2]:(1)分析样品材料的种类广,可对导体/非导体/无机/有机…膜层材料进行深度剖析,并可探测所有的元素(包括氢);(2)分析样品的厚度范围宽,既可对微米量级的涂层/镀层,也可对纳米量级薄膜进行深度剖析;(3)溅射速率高,可达到每分钟几微米;(4)基体效应小,由于溅射过程发生在样品表面,而激发过程在腔室的等离子体中,样品基体对被测物质的信号几乎不产生影响;(5)低能级激发,产生的谱线属原子或离子的线状光谱,因此谱线间的干扰较小;(6)低功率溅射,属层层剥离,深度分辨率高,可达亚纳米级;(7)因为采用限制式光源,样品激发时的等离子体小,所以自吸收效应小,校准曲线的线性范围较宽;(8)无高真空需求,保养与维护都非常方便。基于上述优势,GDOES被广泛应用于表征微米量级的材料表面涂层/镀层、有机膜层的涂布层、锂电池电极多层结构和用于其封装的铝塑膜层、以及纳米量级的功能多层膜中元素的成分分布[3-6],下面举几个具体的应用实例。2 GDOES深度剖析应用实例2.1 涂层的深度剖析用于材料表面保护的涂层或镀层、食品与药品包装的柔性有机基材的涂布膜层、锂电池的多层膜电极,以及用于锂电池包装的铝塑膜等等的膜层厚度一般都是微米量级,有的膜层厚度甚至达到百微米。传统的深度剖析技术,如AES,XPS和SIMS显然无法对这些厚膜层进行深度剖析,而GDOES深度剖析技术非常适合这类微米量级厚膜的深度剖析。图1给出了利用Horiba-Profiler 2(一款脉冲—射频辉光放电发射光谱仪—Pulsed-RF GDOES,以下深度谱的实例均是用此设备测量),在Ar气压700Pa和功率55w条件下,测量的表面镀镍的铁箔GODES深度谱,其中的插图给出了从表面到Ni/Fe界面各元素的深度谱,测量时间与深度的转换是通过设备自带的激光干涉仪(DIP)对溅射坑进行原位测量获得。从全谱来看,GDOES测量信号强度稳定,未出现溅射诱导粗糙度或坑道效应(信号强度随溅射深度减小的现象,见下),这主要是因为铁箔具有较大的晶粒尺寸。同时还可以看到GDOES可连续测量到~120μm,溅射速率达到4.2μm/min(70nm/s)。从插图来看, Ni的镀层约为1μm,在表面有~100nm的氧化层,Ni/Fe界面分辨清晰。图1 表面镀镍铁箔的GODES深度谱,其中的插图给出了从表面到Ni/Fe界面的各元素的深度谱图2给出了在氩-氧(4 vol%)混合气气压750Pa、功率20w、脉冲频率3000Hz、占空比0.1875条件下,测量的用于锂电池包装铝塑膜(总厚度约为120μm)的GODES深度谱,其中的插图给出了铝塑膜的层结构示意图[7]。可以看出有机聚酰胺层主要包含碳、氮和氢等元素。在其之下碳、氮和氢元素信号的强度先降后升,表明在聚酰胺膜层下存在与其不同的有机涂层—粘胶剂,所含主要元素仍为碳、氮和氢。同时还可以看出在粘胶剂层下面的无机物(如Al,Cr和P)膜层,其中Cr和P源于为提高Al箔防腐性所做的钝化处理。很明显,图2测量的GDOES深度谱明确展现了锂电池包装铝塑膜的层结构。实验中在氩气中引入4 vol%氧气有助于快速溅射有机物的膜层结构,同时降低碳、氮信号的相对强度,提高了无机物如铬信号的相对强度,非常适合于无机-有机多层复合材料的结构分析,而在脉冲模式下,选用合适的频率和占空比,能够有效地散发溅射产生的热量,从而避免了低熔点有机物的碳化。图2一款锂电池包装铝塑膜的GDOES溅射深度谱,其中的插图给出了铝塑膜的层结构示意图[7]2.2 纳米膜层及表层的深度剖析纳米膜层,特别是纳米多层膜已被广泛应用于光电功能薄膜与半导体元器件等高科技领域。虽然传统的深度剖析技术AES,XPS和SIMS也常常应用于纳米膜层的表征,但对于纳米多层膜,传统的深度剖析技术很难对多层膜整体给予全面的深度剖析表征,而GDOES不仅可以给予纳米多层膜整体全面的深度剖析表征,而且选择合适的射频参数还可以获得如AES和SIMS深度剖析的表层元素深度谱。图3给出了在氩气气压750Pa、功率20w、脉冲频率1000Hz、占空比0.0625条件下,测量的一款柔性透明隔热膜(基材为PET)的GODES深度谱,如图3a所示,其中最具特色的就是清晰地表征了该款隔热膜最核心的三层Ag与AZO(Al+ZnO)共溅射的膜层结构,如图3b Ag膜层的GDOES深度谱所示。根据获得的溅射速率及Ag的深度谱拟合(见后),前两层Ag的厚度分别约为5.5nm与4.8nm[8]。很明显,第二层Ag信号较第一层有较大的展宽,相应的强度值也随之下降,这是源于GDOES对金属膜溅射过程中产生的溅射诱导粗糙度所致。图3(a)一款柔性透明隔热膜GDOES深度谱;(b)其中Ag膜层GDOES深度谱[8]图4给出了在氩气气压650Pa、功率20w、脉冲频率10000Hz、占空比0.5的同一条件下,测量的SiO2(300nm)/Si(111)标准样品和自然生长在Si(111)基片上SiO2样品的GODES深度谱[9]。如果取测量深度谱的半高宽为膜层的厚度,由此得到标准样品SiO2层的溅射速率为6.6nm/s(=300nm/45.5s),也就可以得到自然氧化的SiO2膜层厚度约为1nm(=6.6nm/s*0.15s)。所以,GDOES完全可以实现对一个纳米超薄层的深度剖析测量,这大大拓展了GDOES的应用领域,即从传统的钢铁镀层或块体材料的成分分析拓展到了对纳米薄膜深度剖析的表征。图4 (a)SiO2(300nm)/Si(111)标准样品与(b)自然生长在Si(111)基片上SiO2样品的GDOES深度谱[9]3 深度谱的定量分析3.1 深度分辨率对测量深度谱的优与劣进行评判时,深度分辨率Δz是一个非常重要的指标。传统Δz(16%-84%)的定义为[10]:对一个理想(原子尺度)的A/B界面进行溅射深度剖析时,当所测定的归一化强度从16%上升到84%或从84%下降到16%所对应的深度,如图5所示。Δz代表了测量得到的元素成分分布和原始的成分分布间的偏差程度,Δz越小表示测量结果越接近真实的元素成分分布,测量深度谱的质量就越高。但是随着科技的发展,应用的薄膜越来越薄,探测元素100%(或0%)的平台无法实现,就无法通过Δz(16%-84%)的定义确定深度分辨率,而只能通过对测量深度谱的定量分析获得(见下)。图5深度分辨率Δz的定义[10]3.2 深度谱定量分析—MRI模型溅射深度剖析的目的是获取薄膜样品元素的成分分布,但溅射会改变样品中元素的原始成分分布,产生溅射深度剖析中的失真。溅射深度剖析的定量分析就是要考虑溅射过程中,可能导致样品元素原始成分分布失真的各种因素,提出相应的深度分辨率函数,并通过它对测量的深度谱数据进行定量分析,最终获取被测样品元素在薄膜材料中的真实分布。对于任一溅射深度剖析实验,可能导致样品原始成分分布失真的三个主要因素源于:①粒子轰击产生的原子混合(atomic Mixing);②样品表面和界面的粗糙度(Roughness);③探测器所探测信号的信息深度(Information depth)。据此Hofmann提出了深度剖析定量分析著名的MRI深度分辨率函数[11]: 其中引入的三个MRI参数:原子混合长度w、粗糙度和信息深度λ具有明确的物理意义,其值可以通过实验测量得到,也可以通过理论计算得到。确定了分辨率函数,测量深度谱信号的归一化强度I/Io可表示为如下的卷积[12]: 其中z'是积分参量,X(z’)为原始的元素成分分布,g(z-z’)为深度分辨率函数,包含了深度剖析过程中所有引起原始成分分布失真的因素。MRI模型提出后,已被广泛应用于AES,XPS,SIMS和GDOES深度谱数据的定量分析。如果假设各失真因素对深度分辨率影响是相互独立的,相应的深度分辨率就可表示为[13]:其中r为择优溅射参数,是元素A与B溅射速率之比()。3.3 MRI模型应用实例图6给出了在氩气气压550Pa、功率17w、脉冲频率5000Hz、占空比0.25条件下,测量的60 Mo (3 nm)/B4C (0.3 nm)/Si (3.7 nm) GDOES深度谱[14],结果清晰地显示了Mo (3 nm)/B4C (0.3 nm)/Si (3.7 nm) 膜层结构,特别是分辨了仅0.3nm的B4C膜层, B和C元素的信号其峰谷和峰顶位置完全一致,可以认为B和C元素的溅射速率相同。为了更好地展现拟合测量的实验数据,选择溅射时间在15~35s范围内测量的深度剖析数据进行定量分析[15]。图6 60×Mo (3 nm)/B4C (0.3 nm)/Si (3.7 nm) GDOES深度谱[14]利用SRIM 软件[16]估算出原子混合长度w为0.6 nm,AFM测量了Mo/B4C/Si多层膜溅射至第30周期时溅射坑底部的粗糙度为0.7nm[14],对于GDOES深度剖析,由于被测量信号源于样品最外层表面,信息深度λ取为0.01nm。利用(1)与(2)式,调节各元素的溅射速率,并在各层名义厚度值附近微调膜层的厚度,Mo、Si、B(C)元素同时被拟合的最佳结果分别如图7(a)、(b)和(c)中实线所示,对应Mo、Si、B(C)元素的溅射速率分别为8.53、8.95和4.3nm/s,拟合的误差分别为5.5%、6.7%和12.5%。很明显,Mo与Si元素的溅射速率相差不大,但是B4C溅射速率的两倍,这一明显的择优溅射效应是能分辨0.3nm-B4C膜层的原因。根据拟合得到的MRI参数值,由(3)式计算出深度分辨率为1.75 nm,拟合可以获得Mo/B4C/Si多层薄膜中各个层的准确厚度,与HR-TEM测定的单层厚度基本一致[15]。图7 测量的GDOES深度谱数据(空心圆)与MRI最佳拟合结果(实线):(a) Mo层,(b) Si层,(c) B层;相应的MRI拟合参数列在图中[15]。4 总结与展望从以上深度谱测量实例可以清楚地看到,GDOES深度剖析的应用非常广泛,可测量从小于1nm的超薄薄膜到上百微米的厚膜;从元素H到Lv周期表中的所有元素;从表层到体层;从无机到有机;从导体到非导体等各种材料涂层与薄膜中元素成分随深度的分布,深度分辨率可以达到~1nm。通过对测量深度谱的定量分析,不仅可以获得膜层结构中原始的元素成分分布,而且还可以获得元素的溅射速率、膜层间的界面粗糙度等信息。虽然GDOES深度剖析技术日趋完善,但也存在着一些问题,比如在GDOES深度剖析中常见的溅射坑底部凸凹不平的“溅射坑道效应”(溅射诱导的粗糙度),特别是对多晶金属薄膜的深度剖析尤为明显,这一效应会大大降低GDOES深度谱的深度分辨率。消除溅射坑道效应影响一个有效的方法就是引入溅射过程样品旋转技术,使得各个方向的溅射均等。此外,缩小溅射(分析)面积也是提高溅射深度分辨率的一种方法,但需要考虑提高探测信号的强度,以免降低信号的灵敏度。另外,GDOES深度剖析的应用软件有进一步提升的空间,比如测量深度谱定量分析算法的植入,将信号强度转换为浓度以及溅射时间转换为溅射深度算法的进一步完善。作者简介汕头大学物理系教授 王江涌王江涌,博士,汕头大学物理系教授。现任广东省分析测试协会表面分析专业委员会副主任委员、中国机械工程学会高级会员、中国机械工程学会表面工程分会常务委员;《功能材料》、《材料科学研究与应用》与《表面技术》编委、评委。研究兴趣主要是薄膜材料中的扩散、偏析、相变及深度剖析定量分析。发表英文专著2部,专利十余件,论文150余篇,其中SCI论文110余篇。代表性成果在《Physical Review Letters》,《Nature Communications》,《Advanced Materials》,《Applied Physics Letters》等国际重要期刊上发表。主持国家自然基金、科技部政府间国际合作、广东省科技计划及横向合作项目十余项。获2021年广东省科技进步一等奖、2021年广东省高校科研成果转化路演赛“新材料”小组赛一等奖、2021年粤港澳高价值大湾区专利培育布局大赛优胜奖、2020年广东省高校科研成果转化路演赛“新材料”小组赛一等奖、总决赛一等奖。昆山书豪仪器科技有限公司总经理 徐荣网徐荣网,昆山书豪仪器科技有限公司总经理,昆山市第十六届政协委员;曾就职于美国艾默生电气任职Labview设计工程师、江苏天瑞仪器股份公司任职光谱产品经理。2012年3月,作为公司创始人于创立昆山书豪仪器科技有限公司,2019年购买工业用地,出资建造12300平方米集办公、研发、生产于一体的书豪产业化大楼,现已投入使用。曾获2020年朱良漪分析仪器创新奖青年创新入围奖;2019年昆山市实用产业化人才;2019年江苏省科技技术进步奖获提名;2017年《原子发射光谱仪》“中国苏州”大学生创新创业大赛二等奖;2014年度昆山市科学技术进步奖三等奖;2017年度昆山市科学技术进步奖三等奖;多次获得昆山市级人才津贴及各类奖励项目等。主持研发产品申请的已授权专利47项专利,其中发明专利 4 项,实用新型专利 25项,外观专利7项,计算机软件著作权 11项。论文2篇《空心阴极光谱光电法用于测定高温合金痕量杂质元素》,《Application of Adaptive Iteratively Reweighted Penalized Least Squares Baseline Correction in Oil Spectrometer 》第一编著人;主持编著的企业标准4篇;承担项目包括3项省级项目、1项苏州市级项目、4项昆山市级项目;其中:旋转盘电极油料光谱仪获江苏省工业与信息产业转型升级专项资金--重大攻关项目(现已成功验收,获政府补助660万元)、江苏省首台(套)重大装备认定、江苏省工业与信息产业转型升级专项资金项目、苏州市姑苏天使计划项目等;主持研发并总体设计的《HCD100空心阴极直读光谱仪》、《AES998火花直读光谱仪》、《FS500全谱直读光谱仪》《旋转盘电极油料光谱仪OIL8000、OIL8000H、PO100》均研发成功通过江苏省新产品新技术鉴定,实现了产业化。参考文献:[1] GRIMM, W. Eine neue glimmentladungslampe für die optische emissionsspektralanalyse[J]. Spectrochimica Acta, Atomic Spectroscopy, Part B, 1968, 23 (7): 443-454.[2] 杨浩,马泽钦,蒋洁,李镇舟,宋一兵,王江涌,徐从康,辉光放电发射光谱高分辨率深度谱的定量分析[J],材料研究与应用, 2021, 15: 474-485.[3] Hughes H. Application of optical emission source developments in metallurgical analysis[J]. Analyst, 1983, 108(1283): 286-292.[4] Lodhi Z F, Tichelaar F D, Kwakernaak C, et al., A combined composition and morphology study of electrodeposited Zn–Co and Zn–Co–Fe alloy coatings[J]. Surface and Coatings Technology, 2008, 202(12): 2755-2764.[5] Sánchez P, Fernández B, Menéndez A, et al., Pulsed radiofrequency glow discharge optical emission spectrometry for the direct characterisation of photovoltaic thin film silicon solar cells[J]. Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 2010, 25(3): 370-377.[6] Zhang X, Huang X, Jiang L, et al. Surface microstructures and antimicrobial properties of copper plasma alloyed stainless steel[J]. Applied surface science, 2011, 258(4): 1399-1404.[7] 胡立泓,张锦桐,王丽云,周刚,王江涌,徐从康,高阻隔铝塑膜辉光放电发射光谱深度谱测量参数的优化[J],光谱学与光谱分析,2022,42:954-960.[8] 吕凯, 周刚, 余云鹏, 刘远鹏, 王江涌, 徐从康,利用ToF-SIMS 和 Rf-GDOES 深度剖析技术研究柔性衬底上的隔热多层膜[J], 材料科学,2019,9:45-53.[9] 周刚, 吕凯, 刘远鹏, 余云鹏, 徐从康, 王江涌,柔性功能薄膜辉光光谱深度分辨率分析[J], 真空, 2020,57:1-5.[10] ASTM E-42, Standard terminology relating to surface analysis [S]. Philadelphia: American Society for Testing and Materials, 1992.[11] Hofmann S. Atomic mixing, surface roughness and information depth in high‐resolution AES depth profiling of a GaAs/AlAs superlattice structure[J]. Surface and interface analysis, 1994, 21(9): 673-678.[12] Ho P S, Lewis J E. Deconvolution method for composition profiling by Auger sputtering technique[J]. Surface Science, 1976, 55(1): 335-348.[13] Wang J Y, Hofmann S, Zalar A, et al. Quantitative evaluation of sputtering induced surface roughness in depth profiling of polycrystalline multilayers using Auger electron spectroscopy[J]. Thin Solid Films, 2003, 444(1-2): 120-124.[14] Ber B, Bábor P, Brunkov P N, et al. Sputter depth profiling of Mo/B4C/Si and Mo/Si multilayer nanostructures: A round-robin characterization by different techniques[J]. Thin Solid Films, 2013, 540: 96-105.[15] Hao Yang, SongYou Lian, Patrick Chapon, Yibing Song, JiangYong Wang, Congkang Xu, Quantification of high resolution Pulsed RF GDOES depth profiles for Mo/B4C/Si nano-multilayers[J], Coatings, 2021, 11: 612.[16] Ziegler J F, Ziegler M D, Biersack J P. SRIM–The stopping and range of ions in matter[J]. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 2010, 268(11-12): 1818-1823.
  • 兰州化物所高熵合金基高温太阳能光谱选择性吸收涂层研究获进展
    高熵合金通常被定义为含有5个以上主元素的固溶体,并且每个元素的摩尔比为5~35%,具有优异的力学、耐高温、耐磨、耐蚀、抗辐照等性能,在较多领域展现出发展潜力。中国科学院兰州化学物理研究所环境材料与生态化学研究发展中心副研究员高祥虎、研究员刘刚带领的科研团队,通过组分调控、构型熵优化和结构设计,制备出系列高熵合金基高温太阳能光谱选择性吸收涂层。  前期,研究人员设计出一种由红外反射层铝、高熵合金氮化物、高熵合金氮氧化物和二氧化硅组成的彩色太阳能光谱选择性吸收涂层,其吸收率可达93.5%,发射率低于10%。研究人员发现,单层高熵合金氮化物陶瓷具有良好的本征吸收特性,因此制备出结构简单的涂层。以高熵合金氮化物作为吸收层,SiO2或Si3N4作为减反射层得到的涂层吸收率可达92.8%,发射率低于7%,并可在650°C的真空条件下稳定300小时。  近期,为进一步提升涂层吸收能力,研究人员选用不锈钢作为基底,低氮含量高熵合金薄膜作为主吸收层,高氮含量高熵合金薄膜作为消光干涉层,SiO2、Si3N4、Al2O3作为减反射层,形成了从基底到表面光学常数逐渐递减的结构(图1)。研究通过光学设计软件(CODE)进行优化,利用反应磁控溅射的方法制备,提高了制备效率。涂层吸收率可达96%,热发射率被抑制到低于10%。研究人员通过时域有限差分法(FDTD)研究了涂层光吸收机制。长期热稳定性研究表明,高熵合金氮化物吸收涂层在600°C真空条件下,退火168小时后仍保持良好的光学性能;计算涂层在不同工作温度和聚光比的光热转化效率发现,当工作温度为550°C、聚光比为100时,涂层的光热转化效率可达90.1%。该图层显示出优异的光热转换效率和热稳定性(图2)。  研究人员将吸收涂层沉积在不同基底材料上制备的涂层依然保持优异的光学性能,并在铝箔上实现了涂层的大规模制备。对不同入射角的吸收谱图研究发现,吸收涂层在入射光角度为0-60°的范围内具有良好的吸收率。研究人员模拟太阳光对吸收器表面进行照射,在太阳光照射下,涂层表面的温度超过100℃,表明该材料在界面水蒸发研究领域具有重要应用价值。  相关研究成果发表在Journal of Materials Chemistry A、Solar RRL、Journal of Materiomics上。上述工作开发出兼具优异光学性能和耐高温性能的高温太阳能光谱选择性吸收涂层,拓展了高熵合金在新能源材料领域的功能应用。研究工作得到中科院青年创新促进会、中科院科技服务网络计划区域重点项目和甘肃省重大科技项目的支持。图1.光学模拟结合磁控溅射方法制备太阳能光谱选择性吸收涂层图2.光谱选择性吸收机制和热稳定性研究

激光涂层量仪相关的方案

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    使用 飞秒激光脉冲和结合PM 技术通过 SMF 的丙烯酸酯聚合物涂层和低 NA 透镜(40 mm 柱面透镜)刻写 FBG 新方法。 只有对丙烯酸酯聚合物涂层进行适当的飞秒预光处理后,才能实现透过聚合物涂层的光纤光栅刻写;最终可以实现透过光纤的丙烯酸酯聚合物涂层写入的高质量 FBG,在 SMF 中的中心布拉格波长约为 1548.5 nm 时、传输损耗为 -30 dB。 最终测量的波长对应变的灵敏度约为 0.8 pm/με,测量的波长对温度的灵敏度约为 10.7 pm/°C,这些数据与去除涂层刻写FBG的灵敏度非常相似 。 实验表明:采用低NA透镜透过聚合物涂层刻写FBG的预光处理的新方法可能为在LMA光纤和用于激光应用的双包层光纤中刻写FBG提供新的生产方法。
  • 电泳沉积制备临床应用电极纳米涂层的机械稳定性
    涂层的机械稳定性对于医疗批准和临床应用至关重要。在这里,电泳沉积(EPD)是一种多用途的涂层技术,先前已显示其可显著降低脑刺激铂电极的术后阻抗。然而,前人很少系统地研究所得涂层的机械稳定性。在这项工作中,对Pt基底上由激光生成的铂纳米颗粒(PtNP)的脉冲直流电泳沉积,进行3D神经电极检测,并使用琼脂糖凝胶、胶带和基于超声的应力测试检查体外机械稳定性。EPD生成的涂层在琼脂糖凝胶测试以及体内刺激实验代表模拟大脑环境中高度的稳定。通过循环伏安法,对NP改性表面的电化学稳定性测试,多次扫描可以提高涂层稳定性,这可以通过高侵入性胶带应力测试后更高的信号稳定性来证明。通过激光剥蚀电感耦合等离子体质谱(LA-ICP-MS)分析大鼠神经刺激后的脑切片。测量显示,与未涂覆的对照相比,涂覆电极刺激区域附近的Pt水平更高。尽管植入电极附近的局部浓度升高,但发现的总铂质量低于系统毒理学相关浓度。大鼠脑内4周DBS后Pt的生物分布:a)用无涂层和PDC涂层电极刺激的脑切片的光学显微镜和LA-ICP-MS叠加图像;和b)注射Pt-NPs的脑切片的光学显微镜和LA-ICP-MS叠加图像。比例尺为2mm。在叠加图片中,红色信号表示磷的强度,绿色信号表示铂的浓度。

激光涂层量仪相关的资料

激光涂层量仪相关的论坛

  • 非接触高精度涂层测厚系统

    可测量范围是什么?测量的精度一般是多少??答:一般测量范围如下:l? 低热传导系数的涂层(如大多数聚合物)的测量范围是0,1μm-500μml? 高热传导系数的涂层(如金属)的测量范围是0,1μm-1mm测量精度:l? 可重复性是? 1μml? 测厚精度是? 3%以上数值可能随不同的应用而有所变化,但客户的需求和测量的准确性可能取决于样品,以及用于校准的测量技术的准确性。非接触高精度涂层测厚:在测量时间、测量距离、检测精度、激光安全防护等各类因素之间寻求一种平衡,建立更高精度的解决方案。

  • 涂层测厚仪是什么仪器

    涂层测厚仪是什么仪器

    [size=16px][font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &][color=#05073b]涂层测厚仪是什么仪器[/color][/font]涂层测厚仪是一种用于测量涂层或涂料膜厚度的仪器,也被称为涂层测量仪或涂层厚度计。它主要用于检测金属、非金属、有机和无机涂层的厚度,以确定涂层的质量和均匀性。涂层测厚仪可以广泛地应用在制造业、金属加工液、化工业、商检等检测领域,是材料保护专业必备的仪器。涂层测厚仪的工作原理是,通过感应线圈向被测涂层表面发射电磁波,涂层表面反弹的电磁波信号再被感应线圈接收到,从而测量涂层厚度。因为涂层的厚度会改变电磁感应信号的强度,所以通过测量电磁感应信号的强度,就可以确定涂层厚度。涂层测厚仪可以分为三种:Fe质探针、NFe质探针和Fe、NFe质探针。Fe质探针可以检测所有非磁性涂层厚度,例如涂在钢、铁上的漆、粉末涂层、塑料、瓷、铬、铜、锌等;NFe质探针可以检测所有绝缘涂层厚度,例如漆、塑料、瓷等,这些涂层须涂在诸如铝、铜、黄铜或不锈钢等非磁性金属基体上;Fe、NFe质探针可以同时检测到Fe质探针和NFe质探针所能检测到的涂层厚度。[img=,690,690]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311150916246277_9898_6098850_3.jpg!w690x690.jpg[/img][/size]

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    无涂层直角棱镜用于90°或180°反射准直光束。因此用于改变成像方向,逆反射和作为外反射器。无涂层直角棱镜具有高品质的表面抛光,适合在高功率应用中使用。无涂层直角棱镜材料为N-BK7或UVFS,支持定制材料和尺寸。标准倒角:0.35mm@45°,角度公差:±3arc min。CVI提供了包括光束转向,成像图像调整,波长分离等多种类型的棱镜。适合于在高功率激光工业,科研应用。可以定制的材料和尺寸,也提供各种电介质和金属涂层镀膜的棱镜。棱镜在工业上有广泛应用,如通过光谱中实现激光跟踪和定位,测距和大气监测。其宽带宽、高损伤阈值,使得在激光系统中的色散补偿腔内使用或作为光束分离器。棱镜实现通过精抛光具有高表面质量、高面形精度和高激光损伤阈值,可选择镀低损耗抗增透膜。通过优秀的制造工艺,CVI的棱镜具有大的通光孔径,小尺寸公差,以及低角度偏差的优点。棱镜的使用材料包括N-BK7,熔融二氧化硅,Suprasil 1,晶体石英和N-F2,其他材料可根据要求提供。支持各种光学涂层。
  • 无涂层楔形棱镜
    无涂层楔形棱镜用于控制入射光束的偏差,并消除由于背反射造成的杂散光束。应用在干涉测量,光学的质量检测,以及高增益灵敏激光器的输出耦合。无涂层楔形棱镜两个楔形棱镜可以通过角圆锥体组合改变波束转向。低楔选项: 30±5arc min ,高楔选项:1°或3°。标准厚度3.175-12.7mm,标准直径从12.7-101.6mm。直径和厚度支持定制。无涂层楔形棱镜使用材料:UVFS或N-BK7,表面质量10-5,传输波前误差λ/10 @ 633 nm。通光孔径:大于85%。
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