荧光光谱分析仪

急需X荧光光谱分析仪的安全操作规程，请大家帮忙

求助。X射线荧光光谱分析仪器是9900XP型瑞士的有中文说明书吗？

X射线荧光光谱分析技术已经广泛应用于地质、冶金、采矿、有色、海洋、生化、环境、石化、商检、电子、公安、考古、难融化物和陶瓷工业、RoHs和 WEEE分析等领域。分析技术已从主、次量、微量元素分析，扩展到痕量元素分析、元素成分微区分布分析等 新近发展到对大气尘埃的分析、生化医药、纳米材料和薄膜分析。随着新分析仪器的普及，X射线荧光光谱仪器已经成为各实验室的常规仪器。　　X射线荧光光谱分析具有制样简单、精密度高、准确度好、自动化程度高，能同时对多元素快速分析等优点，已成为化学元素分析的常用工具之一。近年来，国内各分析测试单位配备了很多各种型号的X射线荧光光谱仪，由于仪器功能的充分发挥及分析质量的提高，需要掌握其原理，性能和多种应用技术，为了提高X射线荧光光谱仪器分析技术人员的专业素质和技术水平，充分发挥X射线荧光光谱仪器的功能，提高分析测试质量，特举办培训班，系统地讲授X射线荧光光谱技术及在各领域应用，欢迎大家前来参加。　　[b]一、授课教师[/b]　　邓赛文:研究员 国家地质测试中心 长期从事X射线荧光光谱分析，主持国家、部、院科学研究项目　　[b]二、培训内容[/b]　　1、X射线荧光光谱分析基础　　2、X射线荧光光谱理论强度计算公式　　3、X射线荧光光谱光谱仪分类及其结构性能　　4、X射线荧光光谱定量分析　　5、X射线荧光光谱分析基体校正　　6、X射线荧光光谱定性和半定量分析　　7、X射线荧光光谱薄膜和镀层分析　　8、X射线荧光光谱分析样品制备　　9、化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用　　10、X射线荧光光谱分析不确定度评定　　11、X射线荧光光谱分析标准化及其在水泥行业中应用　　12、水泥用X射线荧光分析仪行业标准介绍　　13、X射线荧光分析仪器性能检验实验结果　　[b]三、培训对象[/b]　　各企事业单位从事X射线荧光光谱分析的工作者和科学研究人员　　[b]四、培训时间、地点及收费[/b]　　2010年5月24日—5月29日 北京　　培训费1780元(包括授课费、讲义、文具、证书费等)，食宿统一安排，费用自理。　[b]　五、培训考核与发证[/b]　　培训结束后由中国仪器仪表学会分析仪器分会颁发培训合格证书及中国仪器仪表学会会员证书(免收个人会员会费，工本费、邮寄费20元)　[b][color=#ec0078]　六[/color][color=#ff483f]、报名方式：010-51299927-101,13269178446，[email=training@instrument.com.cn][color=#ff483f]training@instrument.com.cn[/color][/email][/color][/b]

原子荧光光价态分析仪是什么样的设备，为什么有专家一定要推荐这种设备，他和原子荧光光谱仪的区别是什么？

求一软件:能够打开荧光光谱分析仪产生的SP文件，并能够绘出谱线在下侧了光致发光光谱后，拷回数据，发现SP文件用记事本打开后都成了乱码，求能够打开SP文件，并能够绘出光谱曲线的软件，最好是中文版的，或者是光谱仪附带的软件。谢谢谢谢！！！！！！

由中国仪器仪表学会分析仪器分会主办，中仪标化(北京)技术咨询中心、仪器信息网承办，北京瑞利分析仪器有限公司协办的“原子荧光光谱分析及应用学习”将于2010年7月12日-17日在西安举办。培训费1780元/人，欢迎广大从事原子荧光分析化验工作人员、科研院所相关人员前来参加。培训结束后由中国仪器仪表学会分析仪器分会颁发培训合格证书及中国仪器仪表学会会员证书。　　【[b]授课专家[/b]】　　[b]张锦茂[/b](北京端利分析仪器公司“原子荧光研究室”技术负责、顾问 国土资源部物化探研究所，高级工程师)。　　[b]梁 敬[/b](硕士,北京瑞利分析仪器公司[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]事业部副部长，原子荧光研究室主任。)　　【[b]培训大纲[/b]】　　[b]第一部分：蒸气发生-原子荧光光谱分析技术及应用[/b]　　1.原子荧光光谱的光源、原子化器、背景校正装置、光学系统、检测器的结构、基本原理　　2.原子荧光光谱分析基础、光谱的产生和特性、原子荧光光谱分析的定量关系　　3.原子化技术 、最佳分析条件的优化　　4.光谱干扰、物理干扰、电离干扰、化学干扰、基体干扰及其消除方法　　5.原子荧光光谱试样的处理及进样技术 　　6.原子荧光光谱的评价挑选及仪器的维护　　7.国内外原子荧光光谱仪器、分析技术的最新发展及动态　　8.介绍《原子荧光光谱仪》国家标准(GB/T2119-2007)的制定　　9.原子荧光光谱在地质、冶金、电子产品、环境、城市给排水等领域中的应用　　10.原子荧光光谱在生物、农业及植物、农产品、饲料等领域中的应用　　11.原子荧光光谱在食品、医药、化妆品、疾控等领域的应用　　12.上机实习或实验室参观及讨论答疑　[b]　第二部分：色谱-原子荧光联用技术及其在元素形态分析领域的应用[/b]　　1.元素形态及元素形态分析原理　　2.元素形态分析方法　　3.色谱-原子荧光联用技术　　4.色谱-原子荧光联用仪器　　5.国内外色谱-原子荧光联用仪器的最新发展及动态　　6.色谱-原子荧光联用技术在元素形态分析中的应用　　7.元素形态分析样品前处理　　8.元素形态分析的结果评价　　9.元素形态分析标准参考物质　[color=#d40a00]　[b]【联系方式】010-51299927，51413697 13466308250， training@instrument.com.cn[/b] [/color] [url=http://www.instrument.com.cn/training/training_info.asp?TRI_No=100427][b][color=#013add]在线报名[/color][/b][/url]

EDX1800荧光光谱分析仪与IC[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/3p][color=#3333ff]离子色谱仪[/color][/url]测卤素那个会比较准确点？两者的原理有什么不同，两者的结果能不能进行比较？很急，希望各位帮忙

⑴冶金分析的特点冶金分析是指冶金生产过程中各物料的化学组成及其含量的分析。它对原料的选择，在冶炼前的炉料计算，冶炼工艺流程的控制中，产品的检验，新产品的试制，以及冶金工厂中环保分析都是必不可少的。特点是：①在保证生产质量的前提下，分析速度要快，特别是分析；②冶金分析物料种类繁多，有固体、粉末和液体等，因此要求分析方法适应性强；③分析数量大，任务重，并且要求日夜连续不断进行。　　X射线荧光分析技术正好能满足冶金分析的特殊要求，一台多道X射线荧光光谱仪能在一分钟之内分析20~30个元素，而其分析精密度完全可以和湿法化学分析相媲美，分析范围又很宽，从几个ppm到100%。这样可以节省大量人力，提高工作效率，它又很少使用酸和特种化学试剂，不会污染环境。　　然而X射线光谱分析法并不是一种绝对法，而是依靠用标准试样相比较来作分析。以钢铁分析为例，标准试样国际的、国内的都有，但是如果对表面效应不重视，那末最好的标准试样，分析出来结果也会是错误的。金属试样一般可以直接从炉中取样冷凝而成，或者从大块金属或原料上切取试片，这样能用固体状态进行分析，有速度快、方法简便和分析精密度高的特点，缺点是不能加入内标或者进行稀释，在痕量元素分析时，又不能采用化学分离，不容易得到合适的标准试样，又很难人工合成。　　⑵固体样品的制备　一般切割或直接浇铸的试样表面比较粗糙，通常需要进一步研磨。磨可以在磨片机上研磨，也可以在磨床上加工光洁度较高的表面。通常使用的磨料有各种颗粒度的氧化铝（即刚玉）或碳化硅即（金钢砂）。一般不抛光或化学腐蚀等特殊处理，在测量短波谱线如钼、镍、铬等元素时，大约80~120粒度砂纸的光洁度即可满足要求，但测量长波谱线要求试样表面光洁度要高，特别重要的是分析试样和标准样品的表面一定要有一致的光洁度。　　样品在测量时，最好能自转，以减少表面效应、颗粒度和不均匀性的影响。如果样品没有自转装置，则样品放置位置必须使样品的表面磨痕和入射、出射X射线所构成的平面平行，这样吸收最小，如果相互垂直时吸收最大。　　样品在研磨过程中，有可能把样品中夹杂物磨掉，造成某些元素分析结果偏低，或者也可能发生表面沾污。分析低铝时，如果使用氧化铝作磨料，表面就可能被沾污，这时最好采用碳化硅磨料，反之如果分析低硅时，应采须知氧化铝佬磨料。对有色金属如铝合金、铜合金等，它们远比钢铁试样要软，不能用砂纸研磨，而应该用车床，以保证样品表面光洁度。　　检验这种表面沾污的方法测量沾污元素谱线的强度比。对于原子序数60以下的元素，可测量其La1Ka强度比，对于原子序数60以上的重元素，应测量Ma/La1 强度比。试验可以用有沾污的样品和已知未沾污的同种合金样品作比较，甚至还可以作为一种消除沾污的检验方法。　　⑶生铁X射线荧光分析生铁中碳是以元素状态存在。灰口铁中的碳有的呈球状石墨，有的呈片状石墨，在研磨过程中表面上脱落的石墨孔也会引起其他分析元素的污染，造成分析错误。浇铸的试样是不均匀的，不适合作X射线荧光分析。而急冷试样的晶粒很细，分布，碳生成渗碳体(Fe3C)，它是一种很脆而硬的中间化合物，表面可以利用研磨办法加工。　　⑷中低合金钢分析　用X射线荧光分析中低合金钢有足够灵敏度，多道X射线萤光光谱仪一般测量时间只需要20秒，最好用铑靶X射线管，监控试样测量为60秒，以提高分析精度，必要时要扣除重迭谱线，用标准钢样NBS116-1165,和BAS50-60,401-410,431-435,451-460。　　⑸不锈钢的分析　不锈钢X射线荧光分析是比较困难的，因为镍、铬、铁三者存在着严重的增强和吸收效应，必须采用数学分析，校正后铬、镍分析结果是非常令人满意的。　　⑹非金属材料分析　非金属材料分析包括炉渣、矿石等原材料分析。它的分析方法大致可分成二大类，一种是把试样振动磨粉碎，然后压制成直径为40毫米的圆片，直接放在X射线荧光光谱仪上分析。这样方法特点是速度快，一般五分钟左右就能报出结果，适合作快速分析，但是有“颗粒度效应”和“矿物效应”，所以一定要严格控制试样颗粒度大小。特别对轻元素分析，尤为严重，可以适当加入稀释剂、粘结剂、重吸收剂，如硼酸、淀粉、硫酸钒等，来减少基体效应并可压成圆片。另一种方法为熔融法，可以在试样中加入熔剂如四硼酸锂等，在高温下溶融成玻璃熔珠，熔融时间一般为10~20分钟，中间要摇动以除去气泡，对某些试剂还要加入氧化剂，如硝酸钠等，为了防止试片破裂，可适当加入溴化物使其容易脱模。如在铂-黄金（5%)坩埚中熔融，冷却脱模以后，试样就可以直接使用。这种方法准确度高，并且能消除“颗粒度效应”和“矿物效应”，但是分析速度慢，对某些元素灵敏度差。

1989年11月，鞍山钢铁公司技术质量监督处朱清昌处长来中国科学院长春光学精密机械研究所，要求研制与进口压样机性能一致的仪器，与X光荧光光谱分析仪配套。1990年10月，中国科学院长春光学精密机械研究所19研究室研制成功我国第一台国产压样机，型号：HP-40。紧接着又为鞍钢质检处制造了两台。从此，结束了我国压样机依靠进口的历史！长春迈维仪器设备有限公司是研发制造试验、检测设备的高新技术企业，专业从事红外光谱分析仪和X荧光光谱分析仪配套设备的设计制造以及非常态金属材料试验机的开发工作。 配套协作厂技术力量雄厚，制造设备精良，其产品工艺技术水平是国内各大用户厂商有目共睹的。本公司近年来研发的MXZ系列，XYYJ系列光谱分析仪配套设备，是根据国内外同类产品最新发展趋势，以全新的设计理念，人性化的设计方案，精心制造的产品，它凝聚了我公司全体科研人员的才智。自公司成立至今，产品已遍布中国大陆各个省市地区，同时也远销我国台湾及韩国、越南、也门、津巴布韦、俄罗斯等国，产品的品质和性能普遍受到国内外用户的一致认可和好评。长春迈维一贯秉承用户至上的理念，质量第一的生产原则。可根据用户需要提供各种吨位的压样机。长春迈维仪器设备有限公司是一家在试验、检测设备领域拥有多年丰富经验的高新技术企业，集研发、生产、制造于一体，专业从事红外光谱分析仪和X荧光光谱分析仪配套设备及非常态金属材料试验机的研发设计及生产制造工作。公司主营产品分为两大系列——“压样机”和“振动磨”，凭借十几年的经验积累，在研发设计及制造工艺上在同行业中处于领先水平，产品遍布全国，并远销台湾、韩国、越南、也门、津巴布韦、俄罗斯等国。二、长春迈维已成功入驻武汉东湖高新技术开发区（中国光谷）日前长春迈维已成功入驻武汉东湖高新技术开发区（中国光谷）。“中国光谷”是世界高新企业的汇聚之地，享有“智慧之光、财富之谷”的美誉。这里科研机构众多，高校林立，人才资源丰富，产学研体系健全，拥有极强的自主创新能力及资源整合能力。长春迈维将设立“中国光谷”营销中心，继续秉承用户至上、质量第一的经营理念，同时借助国家高新技术开发区的区位优势，为公司技术革新、资源整合等方面寻求更强有力的动力支持。公司拥有多年的行业积累，拥有一批充满活力的专业人才及行业领先的独立研发技术水平，入驻光谷后，将会为广大用户提供更高品质的产品更专业的服务。http://www.chem17.com/st6721/product_1771662.html压样机、振磨机长春市高新技术开发区震宇街158号 武汉市东湖高新区长城创新科技园B座201室联系人: 张强 / 邮箱: 804129893@qq.com / QQ: 804129893 / 电话: 02787024316 / 手机: 18171128659

求符合原子荧光形态分析仪参数的产品专用的液相色谱和氢化物发生原子荧光光谱仪接口：可以有效的把柱后流出液和氢化物发生液体混合配接专用的液相色谱-原子荧光检测软件，可以实现连续的检测，实时采集数据线性范围 三个数量级双通道，可单元素测定，也可双元素同时测定，提高仪器分析速度主要的参数，求符合以上要求的生产厂家资料

JJF1133-2005 X射线荧光光谱法黄金含量分析仪校准规范的附录A有几个疑惑：1、表A-2的标样的不确定度50如何得来？2、有效自由度的取法是只进不舍吗？比如按照校准给的规范算得的有效自由度为49.43，结果取了503、给定置信水平p=0.99，有效自由度为50，查t分布得覆盖因子k=t0.99(50)=2.68，为什么我查的结果是2.40？

以激光作为荧光激发光源，与其它分离技术联用组成专用的分析仪器。有关激发光源和原子化器的进一步完善--以电感耦合等离子仪器作为原子化器的原子荧光光谱仪。

我现在是一家科学仪器经销商的员工，主要为客户做售前选型方面的工作。以前学的是应用化学有机成型方向，有学过《仪器分析》但除了少量色谱和分光光度计的知识外很多已忘光。有在食品实验室工作经验但主要做水分、蛋白、粗脂肪等常规项目，色谱、[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]、原子荧光有看同事用过，自己在同事指导下完成过几次。现在想重点系统学习色谱、[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]、原子荧光、元素分析等实验室常用分析仪器的知识，群里做相关方面的厂家可否帮忙指导一下我该怎么做？顺便推荐些资料。我的目标是想自己在客户面前显得专业，能根据客户需求配置最优方案，及指导客户处理一些常见的故障。

利用原级 X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析和化学态研究的方法。在成分分析方面，X射线荧光光谱分析法是现代常规分析中的一种重要方法。 　　[b]简史 [/b]　20世纪20年代瑞典的G.C.de赫维西和R.格洛克尔曾先后试图应用此法从事定量分析，但由于当时记录和探测仪器水平的限制，无法实现。40年代末，随着核物理探测器的改进，各种计数器相继应用在X射线的探测上，此法的实际应用才成为现实。1948年H.弗里德曼和 L.S.伯克斯制成了一台波长色散的X射线荧光分析仪，此法才开始发展起来。此后,随着X射线荧光分析理论和方法的逐渐开拓和完善、仪器的自动化和计算机水平的迅速提高，60年代本法在常规分析上的重要性已充分显示出来。70年代以后，又按激发、色散和探测方法的不同，发展成为X射线光谱法（波长色散）和X射线能谱法（能量色散）两大分支，两者的应用现已遍及各产业和科研部门。

从11月28日召开的全国水泥生料质量控制应用技术研讨会上获悉，由北京邦鑫伟业技术开发有限公司打破国外二十多年技术垄断、自主研发成功的X荧光分析仪受到与会专家和企业的关注。该公司白友兆博士介绍说，产品不仅填补了国家的空白，采用的单道双晶体和全谱显示技术在国际上未见先例。来自于一线的工程技术专家称，该产品投入使用后，在水泥行业生产质量控制实际应用中发挥了重要作用。 X射线分析技术是国际公认的常规分析手段。广泛应用于建材、地矿、冶金、石油、化工、半导体、医药卫生等领域，也是商检、质检、环保、科研院校等部门普遍采用的一种快速、准确和经济的多元素分析方法。由于人工化验速度慢、效率低，而且费工、费时、费钱，满足不了社会化大生产的需要，严重影响了工业生产对质量的控制。因此，世界各国从上个世纪六十年代相继开展对X射线分析技术的研究。到上个世纪八十年代这项技术在美、英、德、荷、日五国已经相当成熟并普及到工业生产中。 我国是一个材料生产大国，也是应用此类仪器最大的市场。上个世纪六十年代也开始X射线技术的研究，由于技术复杂，研究开发难度大，以及文化大革命的影响，这项技术我国一直处于落后局面。改革开放后，国家投资研发并列入了“九五”攻关计划，到2000年技术上有了一定突破，但由于研究开发与生产设备脱节，此项产品的开发未果。我国大型工业、科研院校等单位使用的波长色散X荧光光谱仪全部依赖于进口，市场被美、英、德、荷、日五国垄断长达二十多年。 北京邦鑫伟业技术开发有限公司，瞄准了国内这一广阔市场需求，组织国内一批长期从事X射线技术研究的顶尖专家，集研究开发、生产销售、维修服务于一体，密切关注世界上X射线分析技术发展的动向，以科学的态度、大胆创新，采用单道双晶体和全谱显示技术，在X射线分析技术领域里探出一条新路，研制成功的BX-200和BX-100型波长色散X荧光光谱仪，实现了仪器的小型化、故障低、节能等目标。仪器的测量精度准确性和运行的可靠性等各项技术指标，都达到了国际上同类产品的先进水平，而仪器价格仅为国外同类产品的一半，改写了我国长期不能独立研发生产此类仪器的历史。仪器投放市场后，导致国外同类产品单台报价普遍下降五万美元以上。据过去几年的不完全统计，我国年平均进口量在200台以上，仅此一项每年将为国家节约千万美元。 与会代表在参观北京琉璃河水泥厂水泥生料生产线时，一位国有大型水泥厂的技术处长感慨地说：“我们早就盼望着国产X荧光分析仪的问世，我们买外国的仪器除了购买和维修费用高，关键是维修服务不及时，影响了我们的生产和质量。”长期从事X射线分析仪器研究的老专家、原中国建材研究院院长闫盛慈教授，看到国产仪器深有感触地说：“为了研究我国自己的X荧光分析仪，我们从黑发干到了白发，没想到一个民营企业实现了我们几代人的梦想。”　　（来源：中国水泥网）

XRF荧光光谱仪能做定量分析吗？

欢迎大家前来与zhangjiancn老师一起就X荧光光谱分析中存在的一些问题进行探讨~！活动时间：2012年4月04日——2012年4月18日【线上讲座167期】关于X荧光光谱分析中存在的一些误区主讲人：zhangjiancn XRF版面版主活动时间：2012年4月04日——2012年4月18日我们热烈欢迎zhangjiancn老师光临X荧光光谱版面进行讲座！http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646315_1766615_3.gif导言： X 射线荧光分析技术（XRF）作为一种快速分析手段，为我国的相关生产企业提供了一种可行的、低成本的、并且是及时的，检测、筛选和控制有害元素含量的有效途径；相对于其他分析方法（如发射光谱、吸收光谱、分光光度计、色谱质谱等），XRF 具有无需对样品进行特别的化学处理、快速、方便、测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关生产企业作为过程控制和检测使用。 那么，在X荧光光谱仪的分析应用当中，存在着哪些检测分析方面的误区呢？我们有请zhangjiancn专家详细到来，更欢迎同行版友到版面交流学习、切磋探讨，共同进步！http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646315_1766615_3.gif目录：1、关于X荧光光谱分析特点2、灵活应用3、方法对仪器的影响4、样品对仪器的影响5、那种压片精度高？6、不要忘记基体校正7、熔融要灵活http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646315_1766615_3.gif欢迎大家前来与zhangjiancn老师一起就X荧光光谱分析中的应用知识进行交流~！以上为zhangjiancn老师所著,未经zhangjiancn老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!! 提问时间：2012年4月04日--4月18日答疑时间: 2012年4月04日--4月18日特邀佳宾：数据处理版面的版主以及从事此行业的专家参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就X荧光光谱分析应用遇到的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2012年4月18日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：zhangjiancn老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646315_1766615_3.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归zhangjiancn和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646315_1766615_3.gif

[cp]合金分析仪仪器的原理介绍合金分析仪的是一种XRF光谱分析技术，可用于确认物质里的特定元素， 同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长（λ）及能量（E）确定具体元素，而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。如此一来，XRF度普术就能测定物质的元素构成。在XRF分析法中，从X光发射管里放射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时，原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定，外层L层或M层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中，它们会释放出能量，我们称之为二次X射线光子。而整个过程则称为萤光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而X射线光子萤光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。例如，铁原子Fe的Kα能量大约是6.4千电子伏。特定元素在一定时间内所放射出来的X射线的数量或者密度，能够用来衡量这种元素的数量。典型的XRF能量分布光谱显示了不同能量时光子密度的分布情况。每一个原子都有自己固定数量的电子（负电微粒）运行在核子周围的轨道上。而且其电子的数量等同于核子中的质子（正电微粒）数量。从元素周期表中的原子数我们则可以得知质子的数目。每一个原子数都对应固定的元素名称，例如铁，元素名是Fe，原子数是26。 能量色散X萤光与波长色散X萤光光谱分析技术特别研究与应用了里层三个电子轨道即K，L，M上的活动情况，其中K轨道为接近核子，每个电子轨道则对应某元素一个个特定的能量层。

X射线荧光光谱法进行定量分析的根据是元素的荧光X射线强度Ii与试样中该元素的含量Ci成正比:Ii=Is×Ci式中Is为Ci=100%时，该元素的荧光X射线的强度。根据上式，可以采用标准曲线法、增量法、内标法等进行定量分析。但是这些方法都要使标准样品的组成与试样的组成尽可能相同或相似，否则试样的基体效应是指样品的基本化学组成和物理化学状态的变化对X射线荧光强度所造成的影响。化学组成的变化，会影响样品对一次X射线和X射线荧光的吸收，也会改变荧光增强效应。例如，在测定不锈钢中Fe和Ni等元素时，由于一次X射线的激发会产生Nika荧光X射线，Nika在样品中可能被Fe吸收，使Fe激发产生Feka。测定Ni时，因为Fe的吸收效应使结果偏低，测定Fe时，由于荧光增强效应使结果偏高。

石灰石用X荧光光谱仪分析的方法

记者从近日召开的全国水泥生料质量控制应用技术研讨会上获悉，由北京邦鑫伟业技术开发有限公司打破国外二十多年技术垄断、自主研发成功的X荧光分析仪受到与会专家和企业的关注。该公司白友兆博士介绍说，产品不仅填补了国家的空白，采用的单道双晶体和全谱显示技术在国际上未见先例。　　来自于一线的工程技术专家称，该产品投入使用后，在水泥行业生产质量控制实际应用中发挥了重要作用。 　X射线分析技术是国际公认的常规分析手段。广泛应用于建材、地矿、冶金、石油、化工、半导体、医药卫生等领域，也是商检、质检、环保、科研院校等部门普遍采用的一种快速、准确和经济的多元素分析方法。由于人工化验速度慢、效率低，而且费工、费时、费钱，满足不了社会化大生产的需要，严重影响了工业生产对质量的控制。因此，世界各国从上个世纪六十年代相继开展对X射线分析技术的研究。到上个世纪八十年代这项技术在美、英、德、荷、日五国已经相当成熟并普及到工业生产中。　我国是一个材料生产大国，也是应用此类仪器最大的市场。上个世纪六十年代也开始X射线技术的研究，由于技术复杂，研究开发难度大，以及文化大革命的影响，这项技术我国一直处于落后局面。改革开放后，国家投资研发并列入了“九五”攻关计划，到2000年技术上有了一定突破，但由于研究开发与生产设备脱节，此项产品的开发未果。我国大型工业、科研院校等单位使用的波长色散X荧光光谱仪全部依赖于进口，市场被美、英、德、荷、日五国垄断长达二十多年。 　北京邦鑫伟业技术开发有限公司，瞄准了国内这一广阔市场需求，组织国内一批长期从事X射线技术研究的顶尖专家，集研究开发、生产销售、维修服务于一体，密切关注世界上X射线分析技术发展的动向，以科学的态度、大胆创新，采用单道双晶体和全谱显示技术，在X射线分析技术领域里探出一条新路，研制成功的BX-200和BX-100型波长色散X荧光光谱仪，实现了仪器的小型化、故障低、节能等目标。 　　仪器的测量精度准确性和运行的可靠性等各项技术指标，都达到了国际上同类产品的先进水平，而仪器价格仅为国外同类产品的一半，改写了我国长期不能独立研发生产此类仪器的历史。仪器投放市场后，导致国外同类产品单台报价普遍下降五万美元以上。据过去几年的不完全统计，我国年平均进口量在200台以上，仅此一项每年将为国家节约千万美元。 与会代表在参观北京琉璃河水泥厂水泥生料生产线时，一位国有大型水泥厂的技术处长感慨地说：“我们早就盼望着国产X荧光分析仪的问世，我们买外国的仪器除了购买和维修费用高，关键是维修服务不及时，影响了我们的生产和质量。”长期从事X射线分析仪器研究的老专家、原中国建材研究院院长闫盛慈教授，看到国产仪器深有感触地说：“为了研究我国自己的X荧光分析仪，我们从黑发干到了白发，没想到一个民营企业实现了我们几代人的梦想”。

近年来，随着原油开采深度加大，及生产工艺愈加完善，世界原油资源逐渐向着重质化的方向发展，重质原油产品中的金属含量通常是常规原油的数倍，如镍（Ni）、铁（Fe）和钒（V）。在石油炼制过程中，这些金属元素需要持续监测，主要是因为它们对精炼过程中的影响。比如，石油馏分中的镍和铁容易导致加氢装置和催化裂化装置中使用的催化剂中毒，促使产品质量下降，并导致焦炭超标，增加炼油厂的额外成本。而加工原油中镍和钒等重金属对外部环境的污染问题也一直受到环境保护部门的重视和关注。因此准确测定其含量具有重要意义。目前，有两种常用的元素分析技术可实现对石油产品中铁、镍、钒元素的含量进行测量：电感耦合等离子体发射光谱法（ICP）（ASTM D5708B）和 X射线荧光光谱法（XRF）（ASTM D8252）。对于测量灵敏度可达ppb级别的ICP方法来说，样品必须首先经过一个耗时且过程复杂易存在污染的样品制备过程，通常需要4-10小时才能完成，且需要经过专门培训的操作人员才可完成。而X射线荧光光谱法直接测试，减少污染环节，通常可以在不到五分钟的时间内得到结果，操作简单方便，可作为一种经济高效的替代方法，节省数小时的样品制备时间。但在实际应用中，基质影响、元素干扰、以及样品中颗粒物的存在造成的沉降效应等一直是XRF方法目前存在的问题，导致相应元素检测下限和重复性无法满足检测需求。美国XOS公司推出的Petra MAX高精度X射线荧光多元素分析仪，采用单通道激发能量色散X荧光技术（HDXRF），通过单色X荧光照射待测样品，大大突破传统能量色散X荧光检测下限, 适用于亚 ppm 级别的铁、镍和钒等主要元素分析检测，可分析检测原油、柴油、汽油、喷气燃料和润滑剂等碳氢化合物，以及煤炭等固体样品，实现无损分析。创新的“侧照式”进样系统可降低颗粒物沉降带来的数据干扰，并可将意外溢出的液体引至滴液盘，远离重要部件，降低因样品意外泄漏对检测窗及内部重要部件的损坏，避免频繁维护。图 1 美国XOS公司Petra MAX高精度X射线荧光多元素分析仪案列和数据分享：欧洲一家大型炼油厂对Petra MAX的性能进行了相应测试，因为他们认为在5分钟内获得镍、钒和铁元素的含量极具价值，可作为其内部测试流程的潜在补充。该炼油厂进行了一系列元素分析研究，对比了Petra MAX（ASTM D8252）和ICP（ASTM D5708B）在不同油品样品下的精准度。以下仅为VGO样品的数据对比结果：表1：Petra MAX和 ICP标准方法在VGO样品中铁（Fe）含量的数据对比待测元素：铁（Fe）样品类型：VGOPetra MAX测试结果（mg/kg）ICP方法测试结果（mg/kg）结果差异（mg/kg）样品10.530.300.23样品20.650.470.18样品30.990.800.19样品40.220.500.28样品50.710.300.41样品60.830.400.43样品70.200.200.00样品80.280.100.18样品90.160.100.06样品100.170.200.03表2：Petra MAX和 ICP标准方法在VGO样品中镍（Ni）含量的数据对比待测元素：镍（Ni）样品类型：VGOPetra MAX测试结果（mg/kg）ICP方法测试结果（mg/kg）结果差异（mg/kg）样品10.190.160.03样品20.390.370.02样品30.520.500.02样品40.120.100.02样品50.240.200.04样品60.120.100.02样品70.140.100.04样品80.300.200.10样品90.310.230.08样品100.190.320.13表3：Petra MAX和ICP标准方法在VGO样品中钒（V）含量的数据对比待测元素：钒（V）样品类型：VGOPetra MAX测试结果（mg/kg）ICP方法测试结果（mg/kg）结果差异（mg/kg）样品10.500.330.17样品20.860.800.06样品31.071.100.03样品40.430.300.13样品50.210.100.11样品60.370.200.17样品70.250.200.05样品80.310.300.01样品90.130.100.03样品100.570.560.01总结：如表1、表2和表3所示，Petra MAX的结果与ICP方法的结果相比，在三种元素浓度的测量中，两种方法测试结果之间的差异均在这些方法的再现性范围之内。作为X射线荧光光谱法分析设备，Petra MAX操作简单，5分钟内即可得到测试结果，采用单波长激发能量色散X射线荧光技术（HDXRF），大大突破传统能量色散X荧光检测下限，满足日常控制分析需求。Petra MAX是一款可以精准测定VGO及其他类似石油产品中镍、钒和铁元素浓度的宝贵工具，可使实验室更快的做出相应关键决策。

请问那位好心人能帮我解释一下偏振X射线荧光光谱仪和能量散射型荧光光谱仪的区别。 另外，哪种荧光光谱分析仪是事先需要用振动磨和压样机制样的？我晕死了。[em06]

一．X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线（X-荧光）。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体进行多组同事测定，受到关注，特别在地质部门，先后配置了这种仪器，分析速度显著提高，起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后，对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪（ED-XRF），用X射线管产生原级X射线照射到样品上，所产生的特征X射线（荧光）这节进入SI(LI)探测器，便可以据此进行定性分析和定量分析，第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来，由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展，功能完善，应用领域拓宽，其特点，优越性日益搜到认识，发展迅猛。 二．波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它产生信号的方法相同，最后得到的波谱也极为相似，单由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，功能也有区别。（一）原理区别 X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初级线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。波长色散型荧光光仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪（ED-XRF）是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的高低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。（二）结构区别 波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），一般由光源（X-射线管），样品室，分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系安装在一个精密的测角仪上，还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，造成强度的损失，要求作为光源的X射线管的功率要打，一般为2-3千瓦，单X射线管的效率极低，只有1%的功率转化为X射线辐射功率，大部分电能均转化为而能产生高温，所以X射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪（DE-XRF）

原子荧光光谱分析常见问题在日常原子荧光光谱分析中，特别是当仪器使用时间长、频率高时，常会出现一些问题，常见的有：灵敏度突然降低；无荧光信号；空白信号很高；荧光信号不稳定；工作曲线线性差；图形不正常等情况。有资料对这些问题及其解决办法进行了总结。这些现象的出现通常与以下因素有关：1．空心阴极灯由 于受到设计和制造工艺的限制，目前生产的高强度空心阴极灯在稳定性和使用寿命方面还存在一些问题，尤其是Hg、Bi、Te、Se灯。因此，在原子荧光光谱分析中要特别注意由空心阴极灯引起的问题。a、灵敏度降低;稳定性差,空心阴极灯老化。适当提高灯电流或负高压；更换空心阴极灯。b、新 购置的空心阴极灯，但基线空白不稳定。空心阴极灯预热时间不够。空心阴极灯预热30分钟，并空载运行10-20分钟。c、测定灵敏度变化较大。双 道不平衡，空心阴极灯照射氩氢火焰的位置不正确。用调光器调节空心阴极灯至合理位置。d、没有信号。空心阴极灯未点燃。点燃空心阴极灯。2． 光路系统光路系统的问题主要是由空心阴极灯的聚焦和照射氩氢火焰的位置引起,常出现基线信号值很高现象，特别是在测定Hg和Pb的时候。主要是因 为石英炉的高度和透镜聚焦点没有调节到最佳位置。另一个光路系统的问题是双道干扰。a、基线信号值很高，原子化器的高度不合适。调节原子化器高 度。b、一些元素灵敏度很低，透镜聚焦点不合适。调节透镜聚焦点。c、一道荧光信号很强,另一道测定结果偏高或低。双道干扰。单道测定。3． 管道系统原子荧光光谱分析中，管道系统是仪器非常重要的部分，也是使用中常出问题的部分。特别是仪器使用频率高、工作量大时，由于硅胶老化、破 裂、管道积水和反应沉淀物堵塞管道系统等原因，经常使仪器不能正常工作。a、灵敏度降低；信号图形改变；积分时间增加。泵管老化、破裂。压紧泵管 或更换泵管。b、没有荧光信号或很低；图形有尖峰状。气路系统积水、漏气、堵塞；连接件破裂。清洗、疏通或更换管道；更换连接件。c、图 形有锯齿状，不稳定。通风口风量太大。调小通风口风量。d、稳定性差；灵敏度降低；“记忆效应”严重。石英炉芯、气液分离器、反应模块玷污。取下用15%HC煮沸30分钟。4．试剂空白原子荧光光谱法常用于痕量元素分析中，试剂空白是影响分析质量的重要因素，特别是在汞、锑、硒、 铅和镉的测定中，试剂空白的影响尤其突出。使用时必须对所用试剂进行检查，选择生产厂家、试剂级别和生产批号。测定元素 主要试剂影响 解决方法Hg HCl 选择生产厂家,进行检查Sb 酒石酸 选择生产厂家,进行检查Se H2SO4 选择生产厂家,进行检查；NaBr/HBr除硒Pb HCl和铁氰化钾 重结晶或吸附提纯试剂Cd HCl 选择生产厂家,进行检查