扫描移粒径谱仪

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扫描移粒径谱仪相关的厂商

  • 德国NanoTemper始创于2008年,全球领先的科学仪器制造商,公司总部位于慕尼黑,历经十余载发展,在全球设立47个分销商机构。 我们始终致力于为蛋白分析研究提供最优质的解决方案,推动科学的进步。基于专利微量热泳动技术(MST)、微量差示扫描荧光技术(nanoDSF)、光谱位移技术(Spectral Shift) ,公司先后推出分子相互作用检测仪(Monolith)、蛋白稳定性分析仪(PR)以及高通量分子互作筛选系统(DI)。 样品消耗量低、无需固定样品、检测速度快、数据精准、操作简单、免维护……独特的技术优势,迅速赢得全球知名药企及科研机构的好评,成为首选合作伙伴。
  • 400-860-5168转0215
    北京中科科仪股份有限公司(简称中科科仪),前身为中国科学院科学仪器厂,始建于1958年,是中国科学院首家事业单位整体转改制企业。历经六十余年的发展,专注于电子光学和真空技术领域,承担了多个国家重要科研攻关项目,新产品研发成果始终代表中国高端电子光学仪器和真空技术最高水平。公司业务领域覆盖扫描电子显微镜、氦质谱检漏仪等科学仪器设备和分子泵、真空应用设备等核心零部件及产业设备,产品广泛应用于科学研究、航空航天、半导体、汽车工业、新能源、新材料、节能环保等前沿科学研究和高端装备制造领域。作为国家战略科技力量投资兴办的企业,中科科仪秉承“创新科学仪器,发展一流企业”使命,以一流电子光学和真空技术,建设成为一家在尖端科学仪器装备及核心零部件领域国内领先、世界一流的产业集团,为强化国家战略科技力量、实现高水平科技自立自强做出新的贡献。获取更多资讯,请访问中科科仪官网www.kyky.com.cn,或扫描下方二维码关注“KYKY中科科仪”微信公众号。
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  • 400-803-2778
    上海美谱达仪器有限公司是集实验室设备研发、制造、销售、服务为一体的国家高新技术企业和上海市“专精特新”企业也是国内紫外可见分光光度计制造头部企业和出口国外领先企业,传承当今世界光谱仪器最新的设计理念,为用户提供先一流的产品。 紫外/可见分光光度计是实验室常规的分析设备,利用光谱分析方法对样品进行定性、定量分析,在有机化学、无机化学、生物化学、生命科学、药品分析、食品检验、医药卫生、环保、地质、冶金、石油、机械、商检和农业等各个领域都有广泛的应用。 我们在光度计的方法学应用、产品机械结构、光学设计、电气应用和软件开发等方面不断开拓创新,相继推出UV/Vis-1系列紫外/可见分光光度计,UV-3系列扫描型紫外/可见分光光度计,UV-6系列双光束扫描型紫外/可见分光光度计,UV-6系列光电倍增管型紫外/可见分光光度计,NanoGenius 超微量DNA分析仪,以满足各类实验室对分光光度计产品的不同需求,受到国内外用户的普遍好评。
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扫描移粒径谱仪相关的仪器

  • 产品简介  粒径谱分析仪以激光二极管作为光源,31个粒径通道测量模块可准确计算颗粒物质量浓度和分布基础。该分析仪可检测固体颗粒物和小液滴粒径分布,测量过程没有半挥发性物质损失,适合官方作为PM10和PM2.5测量的组网仪器。在解决环境监测中需要解决的大气可吸入颗粒物等多种污染物的连续、实时、自动监测问题,特别是对颗粒物源解析、数浓度谱的研究有着重要的作用。功能特点  全自动无人值守在线实时监测,19寸机柜安装;  可同时测量PM1,PM2.5,PM10(可选配31个粒径通道),获得PM10,PM2.5 所有的EU及US-EPA认证;  粒径分布、相对温湿度探头、大气压力(三种选项);  不受震动影响,没有放射源,维护少,具有自动跟踪系统;  使用NAFION 作为除湿方法,使得SVC没有损失;  可做为大气监测系统的组网仪器;  维护费用、监测成本低。
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  • SMPS+C扫描电迁移率粒径谱仪&bull 仪器简介 扫描电迁移率粒径谱仪(Scanning Mobility Particle Sizer)是一个纳米颗粒粒径谱分析系统,固定式由DMA+CPC5.414组成检测系统,移动式由DMA+CPC5.403组成检测系统,用于5nm ~ 1100nm的纳米颗粒分析。对小颗粒物有最高分辨率和最低分散损失,根据实验需求不同,有两种长度的电极。DMA(Differential Mobility Analyzer)差分粒子电迁移器对颗粒物进行分类,切割头将粗的颗粒去除,减少大颗粒的干扰;同时建议前置个静电中和器,消除对电荷对气溶胶颗粒的影响。顶端入口U型设计,可减少颗粒损失;顶端层流器,使气流呈层流状态流动。洁净干燥的保护鞘气与气溶胶气流一起自上而下流动。DMA的外套筒接地,中心极杆接正压高压发生器。环境颗粒中带负电荷的颗粒将在外套筒与中心极杆之间的电场中发生迁移。在某一电压下(对应一定的电场强度),具有一定荷质比的负电颗粒将迁移至DMA下端狭缝而逸出,其余荷质比及其电中性、正电荷颗粒将随过剩气流被过滤排出。经由狭缝逸出的颗粒为单分散气溶胶颗粒,进入CPC凝聚核粒子计数器(Condensation Particle Counters)对颗粒物进行计数.&bull 仪器应用&bull 基础气溶胶研究&bull 吸入和暴露研究&bull 环境和气候研究&bull NP增长&bull 凝结及迁移率研究&bull 过滤检测&bull 发动机排放研究&bull 工作场所检测&bull 类型类型型号总高度mm电极长度mm3.0L/min鞘气时粒径范围 nm20L/min鞘气时粒径范围L-DMA55-90049235011-11104.2-247M-DMA55-340230885.4-3582.1-103&bull 性能参数&bull 粒径范围5.4 ~ 358 nm (M-DMA);11 ~ 1110 nm (L-DMA)&bull 粒径分辨率标准44通道,可优化为255通道,对数间隔&bull 气体流速样品气:0.3 L/min;鞘气体:3.0 L/min&bull 工作流体:1-丁醇,超级纯 液体除去:微泵连续&bull 通讯方式RS-232、ASCII存储卡&bull 环境温度10~35℃&bull 环境湿度0~95%&bull 压力环境压力±50mbar&bull 电源85-264VAC/47-440Hz
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  • 扫描电迁移率粒径谱仪SMPS+C和SMPS+E双系统GRIMM SMPS+C系统采用传统的差分电迁移率粒径分级器(DMA)和凝聚核粒子计数器(CPC)技术结合,两种不同型号的DMA可以同时检测5—350纳米或10—1100纳米的气溶胶的粒径分布。根据应用不同,可以选配移动式:CPC 5403,实验室固定式:CPC 5416 或 19英寸标准机柜式:CPC 5421。 系统每次开机时,自动自检以确保系统准确性,自检内容包括泄露测试、DMA 型号确认、 DMA 电压测试、CPC 状态检查等。 自检通过后,软件自动控制采样、测量和数据记录。测量参数 SMPS+C1. 检测粒径范围: 5-350 纳米(M-DMA); 10-1100 纳米(L-DMA)2. 检测浓度范围: 0--108 /cm33. 粒径通道:最多255通道4. CPC D50粒径: 4 纳米5. CPC 响应时间: 4 秒 GRIMM SMPS+E系统采用差分电迁移率粒径分级器(DMA)和法拉第静电计(FCE)技术结合,配合3种不同的DMA,粒径检测下限可以低至1纳米,检测数量浓度高达109个/cm3。
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扫描移粒径谱仪相关的资讯

  • TSI推出新一代Scanning Mobility Particle Sizer(SMPS)扫描电迁移率粒径谱仪,可测量粒径范围低至1nm
    精确测量仪器领域的全球领导者TSI公司宣布推出该款新型1nm Scanning Mobility Particle Sizer(SMPS)扫描电迁移率粒径谱仪。 TSI的SMPS扫描电迁移率粒径谱仪被广泛应用于测量1微米以下的气溶胶粒径分布的标准。和3777型纳米增强仪和3086型差分静电迁移率分析仪配套使用,SMPS粒径谱仪能够测量纳米的粒径范围扩展至1nm。 当整合到SMPS扫描电迁移率粒径谱仪中后,3777型1nm纳米增强仪让研究者能够以高分辨率并且快速地测量纳米级气溶胶的数量浓度和粒径。3777型纳米增强仪,和TSI的3086型 1nm-DMA差分静电迁移率分析仪已经被最优化,能够将散逸损失降至最低,且能够和SMPS粒径谱仪整合,测量1nm到50nm的粒径,并且能够与3081A型长差分静电迁移率分析仪配套使用测量1nm到1 μm的粒径。 “该款1nm 凝聚粒子计数器让研究者能够在气体到颗粒转换过程边界进行测量,”TSI颗粒物测量仪器的高级全球产品经理Jürgen Spielvogel如是说。应用包括材料科学研究、大气和气候研究、基础气溶胶研究、颗粒物成核与生长研究以及其他各类研究。关于TSI公司TSI公司研究、确定和解决各种测量问题,为全球市场服务。作为精密仪器设计和生产的行业领导者,TSI与世界各地的科研机构和客户合作,确立与气溶胶科学、气流、健康和安全、室内空气质量、流体力学及生物危害检测有关的测量标准。TSI总部位于美国,在欧洲和亚洲设有代表处,在其服务的全球各个市场建立了机构。每天,我们专业的员工都在把科研成果转化成现实。
  • GRIMM发布1纳米粒径谱仪新品
    GRIMM气溶胶科技公司颗粒物粒径检测下限可达: 1.1 nm融合了Airmodus专利的纳米颗粒增大技术(PSM)和GRIMM 的扫描电迁移率粒径谱技术(SMPS+C)从1纳米至1微米完整测量 特点从1.1 纳米开始测量颗粒物的粒径分布融合了Airmodus 专利PSM技术和GRIMM SMPS+CAirmodus 专利的纳米颗粒增大技术(PSM)技术可使SMPS测量到最小的纳米颗粒和团簇2级CPC凝聚长大技术(二甘醇和正丁醇)为测量1纳米颗粒优化了DMA气路系统DMA可以选择扫描模式,步进模式或单一粒径筛分三种模式Airmodus PSM-A10 纳米颗粒增长器,第一级检测器工作溶液:二甘醇50%粒径检出限:1.5 纳米 (镍铬颗粒)采样流量:2.5 升/分钟真空要求:100—350 mbar NTP压缩气源要求:1.5—2.5 bar NTP, 除油/除水/除颗粒电源要求:100-240 VAC 50/60 Hz, 280 W通讯接口:USB或RS-232外观尺寸:29*45*46.5 cm重量:17 kg GRIMM 5417 CPC工作溶液:正丁醇50%粒径检出限:4 纳米 (氧化钨颗粒)采样流量:0.3升/分钟或0.6 升/分钟采样泵:内置检测浓度:单颗粒模式:1.5*10^5个/cm3,光度计模式:10^7个/cm3响应时间:T10—90 3s电源要求:90-264 VAC 47--63 Hz, 80--130 W通讯接口:USB,RS-232,模拟脉冲外观尺寸:40*25*29cm重量:12.4 kg 分级器DMA模式: GRIMM 维也纳型S-DMA或M-DMA,L-DMA粒径筛分范围:1.1—55纳米(10升/分钟鞘气流速 S-DMA) 2.8---155纳米(10升/分钟鞘气流速 M-DMA)粒径分辨率:步进模式: 45—255通道,可调 扫描模式:64通道每10倍粒径,对数间距 PSMPS数据输出:颗粒物数量浓度/粒径分布进样湿度:0—95%RH,非凝结采样压力:600—1050 mbar工作温度:15—30 oC工作湿度:0—95%RH,非凝结创新点:颗粒物粒径检测下限可达: 1.1 nm融合了Airmodus专利的纳米颗粒增大技术(PSM)和GRIMM 的扫描电迁移率粒径谱技术(SMPS+C)从1纳米至1微米完整测量1纳米粒径谱仪
  • 清华蒋靖坤研究组:研发便携式气溶胶粒径谱仪,适用于大气网格化监测
    研究背景气溶胶对人体健康、气候变化及空气质量都有显著的影响,一个关键影响因素是其粒径。在进行相关研究时,需要以高时空分辨率的气溶胶粒径分布数据为基础,这些数据需要通过组建高密度的监测网络获取。扫描电迁移率粒径谱仪 (SMPS) 是一种常用的粒径分布测量仪器,通过对气溶胶进行荷电、筛分、计数来获得粒径分布。其结果准确,但是价格昂贵、尺寸较大,不适用于高密度的组网监测。已有仪器公司开发出了商业化的便携式 SMPS,但在提升了便携性的同时也牺牲了其结果的准确度。这种便携式 SMPS 的不确定度通常来源于使用单极荷电器对气溶胶进行荷电,这种荷电器因其尺寸小、荷电效率高而在便携式 SMPS 中常用,但也同时有荷电分布不稳定的缺点,而荷电分布正是获得准确粒径分布的重要参数。近日,清华大学蒋靖坤教授研究组展示了一种能够降低荷电过程带来的不确定度的新测量方法,包括使用大气天然离子对气溶胶的荷电和同时测量带正电和带负电的气溶胶粒径分布,将新方法应用于一台商用的便携式SMPS 以减少单极荷电器带来的不确定度。通过使用这种新的测量方法,研究组提高了便携式 SMPS 的性能,同时进一步减小了其尺寸,使其更适合于建立大气网格化监测设施。该文章题为 “Improving the performance of portable aerosol size spectrometers for building dense monitoring networks” (《研发适用于大气网格化监测的便携式气溶胶粒径谱仪》),发表在期刊 Environmental Science: Atmospheres 上。论文详情本工作中,研究人员通过对一台商业化的便携式 SMPS 进行改造,实现了新方法的应用。该台便携式 SMPS 原本通过单极人工荷电器调节气溶胶的荷电分布,并测量带正电的气溶胶粒径分布,结合荷电分布反演得到全部气溶胶(带正电+带负电+不带电)的粒径分布,这也是大多数 SMPS 的常用方法。而大气中有天然离子在调节着气溶胶的荷电分布,即使不使用人工荷电器,同时测量带正电和带负电的气溶胶粒径分布就可以获知这一荷电分布,并用于数据反演,这一新方法已被应用于 SMPS 上并证明了可靠性。在本工作中,通过去掉便携式 SMPS 上单极荷电器进而使用天然大气离子荷电,并将原本的单极高压电源替换为双极高压电源,使新方法可以被应用于这台仪器。为了检验改造后的仪器性能,研究人员使用了大气气溶胶和室内气溶胶进行测试,并将改进前后的粒径谱仪测量结果与一套参考粒径谱仪的测量结果进行了比较。比较的指标包括分粒径段数浓度、几何平均粒径、几何标准偏差等刻画粒径分布的重要参数,改进后的仪器与参考仪器具有更好的一致性。图 1. 改造前后便携式 SMPS 与参考 SMPS 不同参数的对比,(a) 改造后, (b) 改造前总结展望在选择应用于高密度组网监测的粒径分布测量仪器时,一大挑战是在测量结果的准确性与仪器的便携性和易于维护之间找到一定平衡。现有的商用便携式 SMPS 具有很大的应用潜力,它们已经成功地将尺寸缩小到合理的范围,但是其常用的单极荷电器对测量结果造成了较大不确定性。在本工作中,研究人员展示了新测量方法在便携式 SMPS 中的应用,通过利用天然大气离子荷电和测量两个极性的带电气溶胶,改造后的仪器更紧凑,也可以获得更准确的结果。新方法的应用使便携式 SMPS 更接近于建立密集监测网络的理想仪器,未来也可以被应用于职业暴露监测、机载测量等应用场景。论文信息Improving the performance of portable aerosol size spectrometers for building dense monitoring networksYiran Li, Jiming Hao and Jingkun Jiang*Environ. Sci.: Atmos., 2023https://doi.org/10.1039/D2EA00163B 作者介绍李怡然 清华大学博士研究生第一作者,博士研究生,指导教师为郝吉明院士和蒋靖坤教授,主要研究方向为双极气溶胶电迁移率粒径谱仪研发与应用。郝吉明 清华大学教授合作作者,清华大学环境学院教授,中国工程院院士、美国工程院外籍院士。主要研究领域为能源与环境、大气污染控制工程。主持全国酸沉降控制规划与对策研究,为确定我国酸雨防治对策起到了主导作用。建立了城市机动车污染控制规划方法,推动我国机动车污染控制的进程。深入开展大气复合污染特征、成因及控制策略研究,发展了特大城市空气质量改善的理论与技术方法,推动我国区域性大气复合污染的联防联控。蒋靖坤 清华大学教授通讯作者,清华大学环境学院教授,清华大学科研院副院长、环境学院副院长和环境模拟与污染控制国家重点联合实验室副主任。从事气溶胶测量和颗粒物成因研究。承担了国家重点研发计划、基金委重大项目、国家重大科研仪器设备研制专项等任务。发表 SCI 论文 180 余篇,授权发明专利 10 余项。入选教育部长江学者特聘教授,获国际气溶胶领域 Smoluchowski Award 和亚洲青年气溶胶科学家奖。任 Aerosol Science and Technology 副主编和 ES&T Letters 编委。

扫描移粒径谱仪相关的方案

  • 扫描电镜下的陶瓷材料
    陶瓷材料通常以无机非金属粉末为原料进行制备,粉体的化学成分、物相组成决定了制得陶瓷材料的基本性能,而粉体粒度级配、显微形貌则决定了其加工性能的好坏。粒径和比表面积是生产过程中描述粉体性能的重要表征指标,但粉体粒径跟比表面积之间的对应关系比较复杂,受其形状因子和粒径分布的影响较大。借助扫描电子显微镜(SEM),可以方便地对粉体原料的微观形貌进行分析,以描述其粒径和比表面积之间的关系,并且,利用飞纳电镜颗粒统计分析测量系统(ParticleMetric)还可以直接对粉体一次粒径进行统计,得到更真实的粒径分布。除此之外,配有能谱仪(EDS)的扫描电镜(SEM)还可以对粉体的成分进行分析,得到其化学组分信息。
  • 扫描电镜与药物研发息息相关
    扫描电镜有着所见即所得的优势,可以很直观的对颗粒的粒径分布及均匀性进行定性与评估。但是仅仅通过扫描电镜图片无法对粉体整体情况进行评价。为了解决这个难题,飞纳电镜采取自动取图工作方式,配合颗粒识别系统,可以对粉体材料整体情况多个维度进行准确定量统计,其中包括颗粒粒径,圆度,纵横比,凹凸度。
  • 扫描电镜 | 3D 打印产品质量控制
    近年来,通过 3D 打印定制骨科植入物的优势得到了大家的普遍认可,但是 3D 打印仍面临技术工艺完善和产品安全性的挑战。金属粉末的质量对 3D 打印产品的最终质量有着至关重要的作用,其中粉末粒径分布和形貌是两个重要特征。通过飞纳台式(场发射)扫描电镜和配套粒径分析软件Phenom Prosuite,可以从多个维度对金属粉末进行快速表征。

扫描移粒径谱仪相关的资料

扫描移粒径谱仪相关的论坛

  • 【讨论】一次粒径和二次粒径问题

    粒度测试有一个不太好定性的问题,那就是一次粒径和二次粒径问题。对于多数粉体颗粒,它有一定的大小,广义角度看单个颗粒是一个个体。但是从严谨角度说它依然是个可再分的由更小颗粒组成的群体。这时候问题就产生了,我们对颗粒进行粒度分析时,到底是希望测试粉体被分散到什么程度时的粒度分布呢?举个例子:某硫酸钡粉体,电镜拍摄的照片显示,单晶颗粒都在几百纳米级别,但是激光粒度仪测试结果微米级别的粒度分布,相差一个数量级。有些测试人员片面认为照片拍摄的东西绝对可靠,是粒度仪测试不准。这样判断过于主观了。这类问题晶粒如果处理后的样品体系中,超微粒子是均匀的,检测方法一般是一次粒度分析。如直观观测法,主要采用扫描电镜(SEM)、透射电镜(TEM)、隧道扫描电镜(STM)、原子力显微(AFM)等手段观测单个颗粒的原始粒径及型貌。但如果处理后的样品微粒是不均匀的,且团聚体是不易分散体,此时电镜法得到的一次粒度分析结果一般很难代表实际样品颗粒的分布状态。因此,对处理后的物料体系必须作二次粒度统计分析。目前,较先进的3种典型方法按原理上可分为高速离心沉降法、激光粒度分析法和电超声粒度分析法。 这个问题其实也是一个粉体分散问题,测试粒度分布时,到底使用什么手段分散?分散到什么程度才是正确的?希望各路高手一起探讨,也让小弟多开阔眼界。

  • 用SEM扫出来的粒径偏大

    想问问各位大虾,按照文献用高聚物做模板合成的纳米簇用SEM扫出来的粒径比TEM大很多,而且低浓度簇SEM都扫不出来,这个是高聚物模板影响了还是怎么的,求解

扫描移粒径谱仪相关的耗材

  • 形创 扫描仪 电源适配器
    ACC-H3D-PS18 电源适配器 :电源 - 18 伏 / Power Supply - 18 Volt 17806282711合作、共赢!美国热电:直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡:金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗:疲劳试验机、万能试验机; 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密:圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如:激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测:便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务,帮客户挖掘新的赢利空间!上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址:青岛市城阳区山河路702号上海地址:上海浦东新区川沙路1098号新美测(青岛)测试科技有限公司提供测试服务:静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等;动态疲劳测试主要包括:拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等
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