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半导体激光治仪
仪器信息网半导体激光治仪专题为您提供2024年最新半导体激光治仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括半导体激光治仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的半导体激光治仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合半导体激光治仪相关的耗材配件、试剂标物,还有半导体激光治仪相关的最新资讯、资料,以及半导体激光治仪相关的解决方案。
半导体激光治仪相关的方案
共聚焦显微镜+半导体激光器+缺陷检测及尺寸测量
利用共聚焦显微镜,进行半导体激光器的晶圆缺陷检测,以及波导结构的尺寸测量
激光显微镜在半导体生产流程中的微观分析检测方案
半导体行业在产品的小型化及多功能化、提高生产效率、削减成本等方面的竞争日趋激烈。在图形细微化、晶片大口径化发展的同时,市场对品质保障的要求越来越高,研究开发及检测的速度也变得重要了起来。这次将为您介绍使用基恩士VK-X系列形状测量激光显微镜,在半导体生产流程中的微观分析检测方案。
TDLAS半导体激光光源测氨气浓度(NH3)
TDLAS(Tunable Diode Laser Absorption Spectroscopy)它是利用激光器波长调制通过被测气体的特征吸收区,在二极管激光器与长光程吸收池相结合的基础上,发展起来的新的气体检测方法。TDLAS技术采用的半导体激光光源的光谱,宽度远小于气体吸收谱线的展宽,得到单线吸收光谱,因此TDLAS技术是一种高分辨率吸收光谱技术。
SPOS技术在半导体CMP制程中的应用
使用单粒子光学传感技术进行粒径分析,具有高分辨率和精确度的特点,将其与激光衍射等整体检测技术进行比较,应用实例,说明了单粒子光学传感技术对半导体CMP制程的必要性。
爱丁堡光谱系列在半导体行业中的应用解决方案
半导体是电子产品的核心,是信息产业的基石。半导体行业已成为全球重要的战略性产业之一。随着全球经济的发展,半导体市场需求与竞争也不断增加,对半导体创新技术和材料迭代更新均提出了更高的需求。目前,半导体材料作为整体行业重要的上游支撑材料,如今已发展到四代半导体,在这些材料提纯制备和生产过程中,其物理性质如晶型结构、杂质含量。缺陷类型及浓度、应力及应变等决定了最终产品的各种性能。爱丁堡分子光谱提供显微拉曼、光致发光及傅里叶红外表征技术,协助生产过程对这些材料属性进行监测与把控。
用和频光谱(SFG)方法测量有机场效应晶体管半导体/绝缘体界面累积电荷分布
采用立陶宛Ekspla公司的由PL2231-50型脉冲皮秒激光器,PG501-DFG1P高能光学参量发生器构成的和频光谱测量系统,对有机场效应晶体管半导体/绝缘体界面处累积电荷分布进行了实验测量研究。
IDS3010激光干涉仪在半导体晶圆加工无轴承转台形变的测量上的应用
半导体光刻系统中的晶圆轻量化移动结构的变形阻碍了高通量的半导体制造过程。为了补偿这些变形,需要的测量。来自理工大学荷兰Eindhoven University of Technology 的科学家设计了一个基于德国attocube干涉仪IDS3010的测量结构,以此来详细地研究因为光压而导致的形变特性。
半导体激光器光斑在线调试的高效方法
一、“CinAlign在线调试光束分析仪”可以确保每次调试的准确性和一致性:1)实时监控光斑尺寸2)光斑尺寸pass/fail设置3)RayCi软件可以提供多达10种光斑尺寸算法,基本可以完全满足所有客户应用的算法要求二、实时监控激光的功率:1)实时监控激光功率。该功能不仅可以取代功率计,在调试时,用户可以同时监控激光功率和光斑尺寸。2)给出功率等高线,根据功率计算光斑的尺寸三、实时监控光束轮廓的变化,以及光束的椭圆度(圆度),用于光束整形四、实时监控光束重心位置的变化(即重心的坐标系),可以用于激光准直调试、或者相对位置的调试五、实时监控光束的二维、三维能量分布六、测量近场、原厂发散角
用和频光谱(SFG)可视化观测运行中的OFET器件半导体/绝缘体界面处电荷活动状态
采用立陶宛Ekspla公司PL2230型脉冲皮秒激光器和PG501-DFG1P型皮秒光学参量发生器构成的和频光谱测量系统(SFG)对运行中的OFET器件半导体/绝缘体界面处电荷活动状态进行了可视化测量。
傅立叶变换红外光谱仪测试半导体材料硅片中氧碳含量
傅立叶变换红外光谱仪广泛应用于半导体行业及其晶体材料结构、成分分析和杂质缺陷特性研究等领域。本文使用岛津IRXRoss测定半导体材料硅透射率,并根据GB/T 1557-1989、GB/T 1558-1997-T、GB/T 14143-93计算半导体材料硅中的氧碳含量。该方法简单、快速、样品无需前处理,可方便地扫描得到红外谱图,从而得到碳氧相关信息,对硅材料质量控制起到指导作用。
有机发光半导体材料的制备纯化-从少量制备扩展到大量制备
有机发光半导体材料是一组用于制造OLED显示屏的化合物,主要由可产生荧光的多环芳烃构成。有机发光半导体材料的合成和杂质的结构表征是开发新的、高性能产品必不可少的,而多数情况下需要高纯度化合物,因此需要纯化目标组分。本文中,我们介绍了使用超临界流体色谱Nexera UC分析系统进行小容量制备以及Nexera UC Prep用于大量制备。
半导体及相关行业赛默飞色谱质谱及光谱仪综合解决方案
在《国家集成电路产业发展推进纲要》和国家集成电路产业投资基金的推动下,中国半导体市场已成为全球增长引擎。半导体行业的生产良率与经济效益息息相关,而单晶硅锭和晶圆的品质、生产过程中使用的清洗剂和刻蚀剂、封装材料、环境洁净度等都可能会影响生产良率。同时,在当前对环境保护要求日益严苛的大背景下,工业废水等环保问题也成为半导体及相关企业越来越重视的关注点。
氦质谱检漏仪激光器零件检漏
上海伯东客户某生产航天和半导体相关精密零件公司, 近日通过伯东推荐, 采购移动型氦质谱检漏仪 ASM 390 主要用于激光器零件检漏.
半导体材料检测应用文集
赛默飞世尔科技作为科学服务行业的领导者,凭借其离子色谱和电感耦合等离子体质谱和辉光放电质谱的技术实力,不断开发各类半导体材料中痕量无机阴离子、阳离子和金属离子的检测方案,为半导体集成电路制造行业提供多种解决方案,在晶圆表面清洗化学品、晶圆制程化学品、晶圆基材和靶材等各方面,全方位满足半导体生产对相关材料的质量要求,从完整制程出发提供全面可靠的分析技术,促进行业整体质量水平的提高,帮助半导体客户建立起完整质量控制体系,促进中国半导体行业与国际水平接轨。
紫外荧光法+电子半导体+半导体表面油污检测
随着半导体技术的不断发展,对工艺技术的要求越来越高,特别是对半导体圆片的表面质量要求越来越严,其主要原因是圆片表面的颗粒和金属杂质沾污会严重影响器件的质量和成品率,在目前的集成电路生产中,由于圆片表面沾污问题,在生产过程中造成了很多原材料的浪费。不能获取最高的经济效益。
氦质谱检漏仪半导体配件检漏
某专门生产半导体配件公司, 高端不锈钢管, 配件, 阀门和歧管广泛应用于半导体行业, 因半导体行业的苛刻使用要求, 产品漏率值需要达到 10-9mar l/s, 因此需要进行泄漏检测, 已验收管件是否达标. 客户对检漏效率要求较高, 需要在生产线使用且方便移动操作, 经过上海伯东推荐最终选择移动型氦质谱检漏仪 ASM 390.
inTEST 热流仪半导体元器件高低温测试
半导体器件 semiconductor device, 是导电性介于良导电体与绝缘体之间, 利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件, 可用来产生, 控制, 接收, 变换, 放大信号和进行能量转换.
海能仪器:微波消解半导体研磨剂(液)应用方案
对于成分未知且较为复杂的半导体研磨剂,硫磷混酸加氢氟酸的体系表现出极强的消解效果,可以将样品完全消解至无色透明状态。新仪TANK系列密闭微波消解仪消解此类研磨剂的极限在0.2g左右。此方法只针对新仪各系列密闭微波消解仪,切勿直接套用。
inTEST 热流仪半导体芯片高低温测试
上海伯东美国 inTEST 高低温测试机可与爱德万 advantest, 泰瑞达 teradyne, 惠瑞捷 verigy 工程机联用, 进行半导体芯片高低温测试. inTEST 高低温测试机可以快速提供需要的模拟环境温度满足半导体芯片的温度冲击和温度循环测试.
少子寿命测试仪在半导体材料检测中的应用
半导体材料少数载流子寿命不仅可以表征半导体材料的质量,还可以评价器件制造过程中的质量控制,如集成电路公司利用载流子寿命来表征工艺过程的金属沾污程度,并研究造成器件性能下降原因。 Freiberg Instruments公司长期致力于开发半导体检测技术,提供不同需求的少子寿命检测设备。
氦质谱检漏仪半导体设备及材料检漏
真空设备在半导体行业中的应用愈来愈广泛,例如真空镀膜设备(蒸发,溅射),干法雷设备(ICP,RIE,PECVD),热处理设备(合金炉,退火炉),掺杂设备(离子注入机等)这些真空设备作为半导体技术发展不可或缺的条件必将起到越来越重要的作用。上海伯东德国 Pfeiffer 氦质谱检漏仪现已广泛应用于半导体设备检漏。
珀金埃尔默半导体行业检测解决方案
珀金埃尔默广泛服务于半导体行业用户,我们为半导体实验室提供全光谱和质谱的实验室产品和服务,包括电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)、电感耦合等离子体光谱仪(ICP-OES)、原子吸收光谱仪(AAS)、气相色谱(GC),气相色谱质谱仪(GC-MS), 傅里叶变换红外光谱仪(FT-IR),紫外可见光谱仪(UV),热分析(TA)等及消耗品和服务。在我们提供的所有产品中,珀金埃尔默提供了强大的分析工具,与无与伦比的分析速度和理想的结果。
赛默飞半导体全产业链解决方案
半导体行业是国民经济支柱性产业之一,多个“十四五”相关政策均将集成电路列入重点发展项目。随着芯片制程从微米进入到纳米时代,逐渐达到半导体制程设备和制造工艺的极限,细微的污染都可能改变半导体的性质,对于产线的良率管理和提升成为半导体工业界面临的重要挑战!赛默飞作为科学服务领域的领导者,可为半导体行业关键环节提供多层次技术支撑,领先的离子色谱、电感耦合等离子体质谱仪、气质联用仪和液质联用仪等技术可为半导体支撑材料、晶圆制造以及下游应用提供痕量离子态杂质、痕量金属杂质、有机态杂质及材料研发等提供稳健可靠的分析方法,助力全面提升产品良率!
氦质谱检漏仪半导体用配管配件检漏
上海伯东客户某专门生产半导体配管配件工程公司, 定制高端不锈钢管, 配件, 阀门和歧管广泛应用于半导体厂务端, 用于输送高压氧气, 氢气等. 客户从现场量测管路, 然后对不同口径的管路进行焊接, 因半导体行业的苛刻使用要求, 配管配件漏率值需要达到
恒温恒湿试验箱应用至半导体行业
成为一个行业消费者的首选,我相信是每一个企业致力发展的目标,然而在参差不起的市场上,如何才能一树独大,考验的不仅仅是智慧,更是产品的质量。今天我们分享勤卓冷热冲击试验箱成为半导体行业测试首选的成功心得。
安捷伦半导体行业解决方案
作为全球半导体领域的先锋,安捷伦积累了大量创新技术和卓越的服务能力。在半导体产业链 的制程监测、原材料质控、无机杂质、纳米颗粒、有机杂质检测、符合环境健康和安全法规需 求以及真空检漏等方面,都能够为您提供优异的分析仪器、软件、服务和支持,助您取得成功。
半导体中简并电子气稳定的电子激发
半导体和绝缘体中的激子由费米子系统、电子和空穴组成,它们的吸引相互作用促进了具有准玻色子性质的束缚准粒子。在存在简并电子气的情况下,这种激子由于自由载流子屏蔽而离解。尽管它们不存在,但我们在高达100℃的体锗掺杂GaN的带下边缘区域发现了明显的发射痕迹 K、 模拟高自由电子浓度下的清晰光谱特征(3.4E19–8.9E19 cm−3)。我们对数据的解释表明,简并的三维电子气稳定了一类新的准粒子,我们将其命名为collexon。这些多粒子配合物是通过与费米气体交换电子而形成的。由于掺杂剂几乎理想地取代了主体原子,因此高晶体质量使得能够观察到collexon的潜力及其随着掺杂浓度的上升而稳定化。
通过密度和粘度在线监测进行半导体 CMP(化学机械抛光)浆料质量控制
半导体行业的关键在于整个工艺过程中保持严格的质量控制。在多掩模工艺中,CMP 浆料定义了后续层沉积的表面纹理。尺寸较小的电子元件需要更复杂的 CMP 工艺,浆料质量标准也变得更加严格。虽然浆料在制造点 (POM) 可能受到严格控制,但随后的操作,如运输、处理、混合、过滤和分配在抛光垫上可能会改变其化学性质(例如,影响氧化剂或添加剂)。更改此类参数可能会影响工艺性能并导致晶圆级缺陷,从而影响产能。为了防止出现这种不良影响,必须在使用时连续监测浆料的化学性质。
氦质谱检漏仪半导体特殊器件检漏
半导体器件 semiconductor device 通常利用不同的半导体材料, 采用不同的工艺和几何结构, 已研制出种类繁多, 功能用途各异的多种晶体二极管, 晶体二极管的频率覆盖范围可从低频, 高频, 微波, 毫米波, 红外直至光波. 三端器件一般是有源器件, 典型代表是各种晶体管 ( 又称晶体三极管 ). 晶体管又可以分为双极型晶体管和场效应晶体管两类.
珀金埃尔默半导体行业检测解决方案
珀金埃尔默广泛服务于半导体行业用户,我们为半导体实验室提供全光谱和质谱的实验室产品和服务,包括电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)、电感耦合等离子体光谱仪(ICP-OES)、原子吸收光谱仪(AAS)、气相色谱(GC),气相色谱质谱仪(GC-MS), 傅里叶变换红外光谱仪(FT-IR),紫外可见光谱仪(UV),热分析(TA)等及消耗品和服务。在我们提供的所有产品中,珀金埃尔默提供了强大的分析工具,与无与伦比的分析速度和理想的结果。
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