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薄膜介电常量仪

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薄膜介电常量仪相关的论坛

  • 薄膜熔点仪器选型

    现在我做检测塑料薄膜的熔点,就是包裹丁基橡胶的薄膜(低密度聚乙烯),熔点大于110摄氏度。有没有快速检测但又比较准确的设备?熔点虽然是个范围但是确定起来应该问题不大吧,哪位大师解读下哈

  • 请教介孔薄膜的做法

    我刚刚学习介孔材料的合成,想合成SBA-15的介孔薄膜,我看了赵东元的文献中提到需要在酸度ph2,加热温度在35-140之间才能得到有序的SBA-15,而在2002年Peter C. A. Alberius等人在CM上发表的介孔薄膜中却使用了PH=2,温度不超过35度的条件,这不与赵等人的条件不符合嘛?不知薄膜制备条件和粉体关键区别在哪?另外,合成的薄膜怎么拨下来进行透射电镜观察?向牛人们虚心请教!非常感谢!

  • 【原创】薄膜物性测量中的假象分析(1)-难分难解的介电“弛豫”::Artifacts in films' characterizations(1)-fake relaxations

    【原创】薄膜物性测量中的假象分析(1)-难分难解的介电“弛豫”::Artifacts in films' characterizations(1)-fake relaxations

    [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/06/200806220054_94510_1611921_3.jpg[/img]图1 薄膜介电谱实验假象及拟合[color=#00008b]本篇主要讨论薄膜材料的介电性测量容易出现的假象及避免方法,用实验结果和等效电路分析说明薄膜的电极到instruments的contact制作是非常关键的,通常被大家采用的针尖碰触薄膜上的点电极的做法是非常不足取的方法,应该制备牢固的contact并设法使用赝四点法实现测量。[/color]作为引言,从本人的一段经历说起,几年前,我开始研究某种材料的薄膜制备和磁、电性能的测量,因为比较急躁,一开始就想看看电性能受磁场的影响到底怎样,受设备的限制,因为磁场和介电测量在两家外单位做,不可能进行原位的观察,只能先进行强磁场处理,将样品拿出磁场后再进行介电性能测量,结果发现磁场处理前后的介电谱差别非常大,主要差别如图1所示,介电常数原来在高频下出现跌落,但是磁场处理后发现跌落频率大幅度减小,重复做了一个新样品结果还是这样,于是查阅文献找到一个可能的解释:记忆巨磁电容效应。文章都写好了,但我没有发表,因为不肯定结论,不过这个现象作为谜一直在我的脑海里,期待有一天能弄清楚。。。。如今我有机会进入一个条件非常好的实验室,能够实现原位的磁场和介电性能的耦合实验,一进新的实验室我就着手弄清我心中的谜,但结果没有被重复,即室温下薄膜在磁场下进行长时间加载和原位跟踪,没有发现以前看到的介电常数频谱的巨大变化,不仅如此,我也做了低温下零场冷却和有场冷却的变温磁电容实验,均未发现明显的磁电容效应。。。。很明显以前的实验结果并非来自材料本身,而是来自非本征的测量环境实验假象。问题可能出在哪呢,不烦比较下现在的实验和以前的测量过程:[color=#dc143c]1、薄膜上的电极点.[/color]现在的样品和以前的样品是一样的,可能有做薄膜的朋友希望了解多些,虽然这里不是本文重点,也多介绍一下:标准的制备方法是光刻法,本人尝试过,结果如图2所示,但其过程比较繁琐,推荐本人使用的一种非常简单而有效的制备方法,只需要一卷透明胶、一根缝衣针和一个酒精灯即可很快完成掩模过程,过程如图3所示,结果如图4所示,注意电极点的面积的量化通过金相的分析得到,实际上使用photoshop对电极区域进行涂黑并用image-histogram功能即可得到面积信息。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/06/200806220353_94513_1611921_3.jpg[/img]图2光刻法制备的薄膜电极[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/06/200806220358_94514_1611921_3.jpg[/img]图3薄膜电极点的简易制作方法图示[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/06/200806220359_94515_1611921_3.jpg[/img]图4薄膜电极点简易制作效果图片[color=#dc143c]2、电极引线.[/color]从薄膜电极点到测量仪器,以前采用探针触碰,现在使用银浆连接引线,如图5所示。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/06/200806220404_94516_1611921_3.jpg[/img]图5薄膜引线制作图示[color=#dc143c]3、以前采用两点法测量阻抗,现在使用4点法测量阻抗.[/color]同样如图5所示,同时从样品的出引线到设备的BNC线缆尽可能短,如图6所示。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/06/200806220407_94517_1611921_3.jpg[/img]图6设备引线照片[color=#dc143c]4、交流驱动电压幅值.[/color]以前测量因为仪器4294的原因,幅值为0.5V,而现在的电压在兼顾信噪比的情况下尽可能小,典型使用0.1V。现在能够肯定以前的介电实验结果是实验假象,然而来自什么原因呢?为了分析其原因,对以前的实验做等效电路模拟,等效电路简单使用3个并联RC串联电路,拟合效果见图1,而拟合结果如图7所示,不难看出,以前的磁场处理前后的介电谱表征可以看成是不同次测量,而不同次测量的主要差别在于其中一个并联RC,而另2个并联RC没有变化,即可以看到表示薄膜本征和薄膜电极接触的等效电路元件在不同次测量中几乎没有差别。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2008/06/200806220410_94518_1611921_3.jpg[/img]图7介电谱等效电路分析结果到这里,问题变得很明朗了,以前实验,薄膜到测量设备的连接是探针接触,而非现在的稳定接触,这个探针接触(contact)可能并非欧姆接触,而是具有RC属性的势垒。因此,正反方面的验证的结果说明以前观察到的记忆巨磁电容效应是实验假象,介电常数频谱的变化并非由磁场加载引入,而是测量中样品到频谱仪的不当连接造成,探针碰触的连接在薄膜测量中应该予以避免。顺便提一下:前面提到的第三、四个实验条件也存在差异,但主要分别在1MHz以后和1Hz以下,不能作为“弛豫”假象的主要原因。[color=#dc143c]总结:薄膜介电性测量需要注意三点1)稳固可重复的引线;2)四点法测量;3)小驱动电压。[/color]测量假象分析系列下一个专题:[url=http://www.instrument.com.cn/bbs/shtml/20080728/1377915/]【原创】薄膜物性测量中的假象分析(2)-想说铁电很容易吗?[/url]

  • 请教一个PFM测试薄膜电畴的问题

    各位兄台,请教一个PFM测试薄膜电畴的问题我的实验过程:选择薄膜的一个微区,通过逐渐增大针尖与样品表面的contact force, 来观测其对区域内晶粒内部电畴变化的影响。最终分别得到了原始PFM图(包括形貌和畴图)和不同三个接触力下的PFM图。有图像看到,增加第一次接触力时,区域内的晶粒电畴颜色均变得更深,而再次增大力时,颜色又变得淡,最后一次增加力,衬度的颜色又变得更深。也就是说随着接触力的逐渐增加,电畴衬度颜色的变化规律呈现:浅—深—浅—深。请问一下,如何对这个其中的机理做出相应的解释。

  • 测塑料薄膜的抗静电性能

    我们的塑料薄膜加了抗静电剂,现在打算测它的表面电阻和体积电阻,但是不知道用什么合适的仪器,大家推荐一下,谢谢

  • 薄膜包衣技术难点及解决方案

    20世纪50年代初,第一个真正意义的薄膜包衣片在美国诞生了。从那时算起,薄膜包衣技术已经经历了半个世纪的发展。而我国起步较晚,20世纪70年代末,才陆续出现少数医药研究单位和药厂研制的各种包衣液和薄膜包衣工艺,并逐渐推广应用。到了20世纪90年代中期,我国才逐渐出现了薄膜包衣技术“热”。但是从整体上看,这项技术在我国的发展仍然比较缓慢。许多制药企业由于技术上的原因,在应用上仍旧存在着不少问题。在片心表面通过喷雾的方法均匀地喷上一层比较稳定的高分子聚合物衣料,形成数微米厚的塑性薄膜层,使之达到一定的预期效果,这一工艺过程称为薄膜包衣。应用薄膜包衣技术是制药行业的需求和发展趋势。有些人认为薄膜包衣片没有糖衣片好,没有糖衣片那么光亮,事实上薄膜包衣与传统的包糖衣技术相比,有许多优点,如包衣耗时短,更能防潮、避光,药物稳定性更强等。包薄膜衣必须改变过去包糖衣的观念,这一点非常重要。一直以来,一些制药企业把薄膜包衣技术简单地看做是片剂生产中的独立环节,包薄膜衣就像包糖衣一样只是单纯包衣。其实,并不是那么简单。作为一项新技术,包薄膜衣对片心的要求相对于包糖衣而言要严格得多,片的硬度要求较高,而且它对各个工序之间的相互配合、生产过程中的一系列技术指标及要求的调整和相互配套都有所要求。所以,必须本着科学、求实的态度来对待薄膜包衣技术的引进及应用,只有这样,包出的片才能达到理想的效果。良好的片心质量对薄膜包衣起到决定性的影响。有时片心的机械质量太差,就根本无法进行薄膜包衣,即使勉强进行,衣膜质量也很难保证。在所有影响片心机械性能的因素当中,片的硬度和脆碎度最为重要,而脆碎度又比硬度显得更为突出。一般而言,适合包薄膜衣的中药片硬度应该在5kg/cm3,西药片硬度应该在4kg/cm3左右。如何检查呢?最简单的方法是硬度计检测;或将一素片垂直向上抛2米,使之自由落地,两次以上不断裂者为硬度合格。检查脆碎度的简单方法是用手指用力刮片的边缘或片的表面,没有片粉脱落者为宜;另一个方法是将30片左右的素片置于250ml的玻璃杯中,用力摇两分钟左右,以片的表面、片的边缘不磨损者为宜。对于吸湿性大的素片,硬度要求则更高。应用薄膜包衣技术进行包衣时,不管是采用高效包衣机、流化床包衣机,还是发行的糖衣锅进行包衣,都应遵照如下原则:一是片心硬度要够硬,否则开始包衣时,片心与锅壁反复摩擦,将会出现松片、麻面等现象;二是片床温度要保持恒定;三是设备中溶剂蒸发量与喷液过程中带入的溶剂量要保持平衡,即溶剂蒸发与喷液速率处于动态平衡。片面平整、细腻的关键在于整个过程中要掌握锅温、喷量、转速三者之间的关系,这是薄膜包衣操作过程中的重中之重。操作时,包衣液的雾化程度直接影响包衣所成衣膜的外观质量,而喷液的雾化效果直接由雾化压力以及雾化系统决定。喷雾开始时,掌握喷速和吹热风温度的原则是:使片面略带湿润,又要防止片面粘连,温度不宜过度过低。若温度过高,则干燥太快,成膜容易粗糙,片色不均;若温度过低,或喷速过快,则会使锅内湿度过度高,很快就会出现片的粘连等现象。锅的转速与包衣操作之间的关系是:转速低,衣膜附着力强;转速高,衣膜附着力差,易剥落。包衣过程中,温度过低,喷量过大,片子流动滞留,则有可能会出现粘片现象。这时可加大转速使其改善,必要时还可适当调节温度和喷量、喷程等加以克服。在使用包衣粉质量不变的情况下,包衣操作中常出现的问题及解决的方法如下:1、粘片:主要是由于喷量太快,违反了溶剂蒸发平衡原则而使片相互粘连。出现这种情况,应适当降低包衣液喷量,提高热风温度,加快锅的转速等。2、出现“桔皮”膜:主要是由于干燥不当,包衣液喷雾压力低而使喷出的液滴受热浓缩程度不均造成衣膜出现波纹。出现这种情况,应立即控制蒸发速率,提高喷雾压力。3、“架桥”:是指刻字片上的衣膜造成标志模糊。解决的办法是:放慢包衣喷速,降低干燥温度,同时应注意控制好热风温度。4、出现色斑:这种情况是由于配包衣液时搅拌不匀或固体状特质细度不够所引起的。解决的方法是:配包衣液时应充分搅拌均匀。5、药片表面或边缘衣膜出现裂纹、破裂、剥落或者药片边缘磨损:若是包衣液固含量选择不当、包衣机转速过快、喷量太小引起的,则应选择适当的包衣液固含量,适当调节转速及喷量的大小;若是片心硬度太差所引起,则应改进片心的配方及工艺。6、衣膜表现出现“喷霜”:这种情况是由于热风湿度过高、喷程过长、雾化效果差引起的。此时应适当降低温度,缩短喷程,提高雾化效果。7、药片间有色差:这种情况是由于喷液时喷射的扇面不均或包衣液固含量过度或者包衣机转速慢所引起的。此时应调节好喷枪喷射的角度,降低包衣液的固含量,适当提高包衣机的转速。8、衣膜表面有针孔:这种情况是由于配制包衣液时卷入过多空气而引起的。因而在配液时应避免卷入过多的空气。薄膜包衣技术在中药制药中的应用薄膜包衣是一种新型的包衣工艺,指在片芯之外包上比较稳定的薄层聚合物衣膜。自30年代以来就陆续出现了有关薄膜包衣的研究指导,但由于当时薄膜材料、包衣工艺和设备等条件尚不能适应生产要求,实际应用受到一定的限制。到了50年代,美国雅培药厂(AbbottLab)首先生产出新型的薄膜片剂,并用“Filmtab”商标取得专利。经过近40年的研究发展,生产设备和工艺的不断改进和完善,高分子薄膜材料的相继问世,使薄膜包衣技术得到了迅速发展,尤以日本的薄膜包衣技术发展得最快,已有80%片剂改为薄膜包衣。薄膜包衣工艺可广泛用于片剂、丸剂、颗粒剂,特别对吸温性强、易开裂、易退色的中药片剂更显示其优越性。进入90年代,薄膜包衣技术在中药行业有了一定发展,主要用于片剂的薄膜包衣。薄膜包衣与包糖衣比较,主要有以下优点:(1)时间较短(包一锅片剂只需2小时左右,而包一锅糖衣片需要约16小时),操作简便,干燥速度快,药物受热影响小,有利于提高药品的质量。(2)薄膜包衣工艺节约劳动力(1~2名操作工人)、厂房及设备(只需一间标准厂房及一台包衣锅),节约材料,所以成本较低,而前期投入也十分有限。(3)应用薄膜包衣工艺的片剂仅使片芯重增加2%~4%,而糖衣片剂(其中主要辅料成分是国外已淘汰的滑石粉)往往可使片芯重量增大50%~100%。(4)薄膜包衣工艺能减少工作场所的粉尘飞扬,有利于环保和劳动保护,亦可节约包装材料等。(5)应用薄膜包衣工艺的片剂压在片上的标志在包薄膜衣后仍清晰可见,便于患者辨别和使用。(6)薄膜包衣的片剂坚固耐磨,不易开裂;薄膜包衣材料有优异的物理性能,大多数材料均能抗湿抗热,可提高产品质量,延长产品的有效期。(7)薄膜包衣有众多的材料可供选择。除了能达到一般的包衣目的外,还可通过选择薄膜材料和设计包衣处方,使形成的包衣膜在一定的pH范围内溶解或崩解;也可控制膜的渗透性,使所包的药物在体内通过扩散作用陆续释放出来,达到定时、定位释放药物的目的。这是薄膜包衣具有广泛发展前途的一个重要原因。(8)生产工艺过程和材料用量可以标准化基于以上因素,国际上已基本淘汰了糖衣片,取而代之以薄膜包衣片,国内也在加速这个进程。目前,我国的中药薄膜包衣工艺的应用尚处在起步阶段,国内中药片剂主要还是以糖衣片为主,薄膜包衣的市场前景十分广阔,所以薄膜包衣技术的进一步的研究开发和提高,应引起我们的重视.

  • 【求助】金属薄膜截面样品

    想做个金属薄膜截面样片,厚度大概300-500微米,请问对粘后双喷可行否?是否只能采用离子减薄?我这里的离子减薄设备太烂了。

  • 测量薄膜的紫外可见最大吸收波长的对薄膜的要求?

    测量薄膜的紫外可见最大吸收波长的对薄膜的要求?

    请问各位大侠,在测量薄膜的紫外可见最大吸收波长时,要求薄膜时透明的吗?乳白的的可以吗?我的是PET薄膜,通过不同的溶解方法再旋转涂膜得到两种完全不同的薄膜,见图,一种是乳白色不透明,一种无色透明我的实验目的是在PET薄膜中加入一种染料使其变色,以不加染料的PET薄膜作为参比,测量加染料薄膜的紫外可见最大吸收波长请问各位大侠前辈哪种才适用于我的目的呢?现在还没有做出加染料的薄膜。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304122026_435158_2341438_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/04/201304122026_435159_2341438_3.jpg

  • 【求购】沥青薄膜烘箱仪、自动软化点仪、延长度测定仪等

    我欲选购如下几种沥青性质分析仪器: 薄膜烘箱分析仪,要求比老式仪器有更好的性能。 自动软化点测定仪。 延长度测定仪。 欢迎各厂家提供详细信息,包括仪器的性能,价格,适用标准,还有哪些厂在使用等等。 原来使用的仪器有些老旧,有的性能无法达到标准要求需更换。 急需这方面的信息!!!请尽快提供。

  • [求助]关于介孔薄膜做小角XRD的问题

    我用P123作为模板剂制备介孔二氧化硅薄膜,理论上在小角度0.5~2范围会有衍射峰,但是我们测试的时候发现在小角度时候总是出现入射平行光的峰,而没有预期的介孔的衍射峰,这让我们很郁闷啊,不知道哪位牛人做过这方面的工作和测试,应该采用什么测试条件。我们现在用的仪器是Rigaku D/Max 2550型号的衍射仪,应该说在国内已经可以了,在很多文献上也有人报道用Rigaku 的衍射仪做小角。希望大家能够给予指导和帮助,谢谢!!

  • 【原创】薄膜测厚仪

    【原创】薄膜测厚仪

    电容性薄膜测厚仪 http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191656_646126_2244676_3.jpg 名称属性 测厚仪组成部分发射探头 1个接受探头 1个电脑控制转换器 1个工业触摸屏 1个操作柜 1台U型探头支架 1个技术指标检测厚度: 10um-20mm检测精度:土0.1um检测宽度:根据产品宽度循环测厚设定在线速度 max:60m\min作业环境海拔低于1500米,三相380v电。适用于POF、牛奶包装膜、彩印膜、大棚膜等各类薄膜产品。

  • 压电薄膜传感器压力感应情况如何

    [align=left]因为压电薄膜传感器的电介质的击穿场强是强度参数,并且在压电薄膜传感器的膜中不可避免地存在各种缺陷,所以压电膜的击穿场强具有相当大的分散性 电介质介质的击穿理论,对于完整的薄膜,随着薄膜厚度的减小,击穿场强应逐渐增加。[/align]然而,在实践中,由于压电薄膜传感器的膜含有许多缺陷,因此厚度越小,缺陷的影响越显着。因此,当厚度减小到一定值时,膜的击穿场强度急剧下降。对于压电薄膜传感器薄膜击穿场强,除了薄膜本身外,在测试过程中还存在电极边缘的影响。膜越厚,电极边缘处的电场越不均匀,因此膜的厚度增加,击穿场强度逐渐减小。除了上述因素之外,压电薄膜传感器介电膜的击穿场强也取决于膜结构。对于压电薄膜,击穿场强度也取决于电场的方向,即就击穿场强而言它也是各向异性的。由于压电薄膜传感器多晶膜具有晶界,因此其击穿场强度低于非晶膜的击穿场强度。由于类似的原因,优先取向的压电薄膜传感器在晶粒取向方向上的穿透场强高于在垂直方向上的穿透场强。击穿场强度较低。与其他介电压电薄膜传感器一样,压电薄膜的击穿场强也取决于外部因素,如电压波形、频率、温度和电极。因为压电薄膜的击穿场强与许多因素有关,所以相关文献中报道的击穿场强度对于同一薄膜通常不一致或甚至不同。例如,ZnO膜的击穿场强为0.01。 ~0.4MV / cm,AlN膜为0.5至6.0MV / cm。压电薄膜传感器最重要的特征参数是谐振频率f0,声阻抗Za和机电耦合系数K,因此声速υ和温度系数、的声阻抗和压电薄膜的机电耦合系数是特别严格。压电薄膜传感器的薄膜的性质不仅取决于薄膜中颗粒的弹性,还取决于介电薄膜的压电和热性能,以及压电薄膜传感器的结构,如颗粒堆的紧密度和优先取向的程度。在压电薄膜中,由于晶粒具有许多缺陷和应变,因此它不是完美的单晶,因此薄膜的物理常数与晶体值略有不同。由于压电薄膜的微结构与制备过程密切相关,即使对于相同的压电薄膜,各种文献中报道的性能值也常常不一致。在所有无机有色金属压电薄膜中,AlN薄膜具有大的弹性常数,小的密度和最大的声速,因此该薄膜最适合于UHF和微波器件。表面声波性能当声波在压电介质中传播时,其粒子位移幅度随着距介质表面的距离的增加而迅速衰减。因此,表面声波能量主要集中在表面的下两个波长的范围内。压电薄膜传感器包含范围:[color=#333333]气体流量传感器丨绝对压力变送器丨微量氧传感器丨ph传感器丨水管温度传感器丨[/color]气体压力传感器[color=#333333]丨压电薄膜传感器https://mall.ofweek.com/1877.html丨气压感应器丨[/color][color=#333333]电化学传感器丨数字温湿度[/color][color=#333333]传感器丨煤气检测传感器丨h2传感器丨风速传感器丨超声波液位传感器[/color][color=#333333]丨[/color][color=#333333]微型压力传感器丨[/color]湿度传感器[color=#333333]丨[/color]微型传感器[color=#333333]丨[/color]气体传感器[color=#333333]丨[/color][color=#333333]一氧化碳传感器丨[/color][color=#333333]氧气传感器丨[/color][color=#333333]光纤传感器丨超声波传感器丨[/color][color=#333333]超声波风速传感器丨[/color][color=#333333]压阻式压力变送器丨[/color][color=#333333]voc传感器丨称重传感[/color][color=#333333]器[/color][color=#333333]丨气压传感器丨[/color][color=#333333]硫化氢传感器丨[/color][color=#333333]电流传感器丨[/color][color=#333333]光离子传感器丨[/color][color=#333333]流量传感器[/color][color=#333333]丨ph3传感器丨二[/color][color=#333333]氧化碳传感器丨百分氧传感器丨[/color][color=#333333]co2气体传感器丨位置传感器丨[/color][color=#333333]bm传感器丨风速传感器丨电流传感器[/color][color=#333333]丨[/color][color=#333333]气压传感器丨压力传感器丨meas压力[/color][color=#333333]传感器丨甲烷传感器丨传感器https://mall.ofweek.com/category_5.html丨微流量传感器丨光纤应变传感器丨一氧化氮传感器丨三合一传感器丨sst传感器丨gss传感器丨ch4传感器丨氟利昂传感器丨硫化物传感器丨o3传感器丨双气传感器丨透明度传感器丨二氧化硫传感器丨氰化氢传感器丨煤气检测传感器丨燃气检测传感器丨电流氧传感器[/color]

  • [求助]介孔薄膜做小角XRD的测试条件

    版主千万不要删除我的帖子,本来是应该在衍射仪板块中发帖,可惜半天过去了,也没人给我建议,我只有到TEM板块了。因为据我所知,做介孔材料的XRD和TEM是必不可少的两个表征手段,这里一定聚集了很多做介孔材料的高手,故此到这儿来救助!我用P123作为模板剂制备介孔二氧化硅薄膜,理论上在小角度0.5~2范围会有衍射峰,但是我们测试的时候发现在小角度时候总是出现入射平行光的峰,而没有预期的介孔的衍射峰,这让我们很郁闷啊,不知道哪位牛人做过这方面的工作和测试,应该采用什么测试条件。我们现在用的仪器是Rigaku D/Max 2550型号的衍射仪,应该说在国内已经可以了,在很多文献上也有人报道用Rigaku 的衍射仪做小角。希望大家能够给予指导和帮助,谢谢!!

  • 转让薄膜测厚仪CHY-C2

    因为项目结项,处理一台薄膜测厚仪,价钱便宜,欢迎有需要的朋友来电咨询。还有膜评价装置、涂膜机等。这款薄膜测厚仪2万元处理,济南兰光机电技术有限公司生产的。

  • 05版药典薄膜过滤法

    05版药典薄膜过滤法

    05版药典薄膜过滤法[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2005/10/200510251554_9112_1635035_3.jpg[/img]

  • DMA测试薄膜与基材在粘接状态下的作用力

    薄膜为PE膜,在使用时与碳基材处于粘接状态,现在想通过DMA测试表征薄膜与基材在粘接状态下的作用力,想请问各位应该怎么设置测试方法与制样。能否通过DMA进行表征?谢谢

  • PE薄膜材料横截面制样方法

    想看看横截面的孔径结构,方法基本都试过了就是没有孔,有做过的朋友,指点12,谢谢!补充一下:薄膜材料只有20μm左右的厚度,可以认为是各向同性的!

  • 氮化硅薄膜窗口免费试样

    Hi,各位大侠好。我们提供各种规格的氮化硅薄膜窗口产品,主要应用于:软X射线显微术、透射电镜、微加工、SEM、UV等等,具有良好的透光性、平整性、耐高温、耐化学腐蚀、亲水性、实用性、稳定性。因为有一批产品工艺摸索更新,目前有价值500元的免费氮化硅薄膜窗口试样可以提供。也正是因为工艺摸索阶段的产品,所以希望拿到免费试样的大侠,能够在短期能给予回复,评论产品的优缺点,以便我们进行工艺改进,生产出更好的产品。免费试样领取名额有限,原则上限定前20名联系人,特殊情况,适当放宽。其他参与者,有机会另外获得AFM/STM 探针免费赠送鼓励。领取条件:1、提供单位名称、联系方式(包括电话、邮箱);2、研究/工作方向,希望用氮化硅薄膜窗口主要应用于什么方向;3、最好能够在收到试样一个月内回复使用情况的;附件是氮化硅薄膜窗口的一些资料,及部分应用成果。站内联系,留下联系方式,前20名,我们会很快联系您,并将免费试样寄给您。(来信请注明:氮化硅薄膜窗口试样免费领取)寄语版主:版主大虾,您好……鉴于我们也是出于为产品质量考虑,借用下群众雪亮的眼睛,在贵宝地求证,还望多多照顾。不要以广告论处!谢谢您的谅解!如果您也支持的话,不妨偶尔将帖子置顶下,谢谢啦。

  • 压电薄膜传感器_压电薄膜传感器详情

    话说这个压电薄膜传感器是具有一种很独特的特性的,它是一种动态模式的应变性传感器,一般通过在人体的皮肤表层进行植入或者植入到人体内部,用来监测人体的一些生命迹象以及特征。其中压电薄膜传感器里面的一些薄膜元件是非常灵敏的,可以隔着外套探测出人体的脉搏。OFweek Mall传感器商城网说一下压电薄膜传感器在医疗行业的应用。1、压电薄膜传感器工作原理当你拉伸或弯曲一片压电聚偏氟乙烯PVDF高分子膜(压电薄膜),薄膜上下电极表面之间就会产生一个电信号(电荷或电压),并且同拉伸或弯曲的形变成比例。一般的压电材料都对压力敏感,但对于压电薄膜传感器来说,在纵向施加一个很小的力时,横向上会产生很大的应力,而如果对薄膜大面积施加同样的力时,产生的应力会小很多。因此,压电薄膜传感器对动态应力非常敏感,28μm厚的PVDF的灵敏度典型值为10~15mV/微应变(长度的百万分率变化)。使用'动态应力'这个术语是因为形变产生的电荷会从与薄膜连接的电路流失,所以压电薄膜传感器并不能探测静态应力。当需要探测不同水平的预应力时,这反而成为压电薄膜传感器的优势所在。薄膜只感受到应力的变化量,最低响应频率可达0.1Hz。2、压电薄膜传感器特点压电薄膜很薄,质轻,非常柔软,可以无源工作,因此可以广泛应用于医用传感器,尤其是需要探测细微的信号时。显然,该材料的特点在供电受限的情况下尤为突出(在某些结构中,甚至还可以产生少量的能量)。而且压电薄膜传感器极其耐用,可以经受数百万次的弯曲和振动。3、压电薄膜传感器医疗应用利用压电薄膜传感器的动态应变片特性,可以轻松的将压电薄膜直接固定在人体皮肤上(例如手腕内侧)。精量电子—美国MEAS传感器的产品型号1001777是一款通用传感器,传感器的一侧涂有压力敏感胶。但这款胶未经生物兼容性认证,在短期试验中可以将3M9842(聚亚安酯胶带)固定在皮肤上,再将压电薄膜传感器粘贴在3M胶带上。压电薄膜之所以即能探测非常微小的物理信号又能感受到大幅度的活动,是因为PVDF膜的压电响应在相当大的动态范围内都是线性的(大约14个数量级)。多数情况下,只要能明显区分目标信号和噪声的带宽,细小的目标信号都可以通过过滤器采集到。类似的压电薄膜传感器已在睡眠紊乱研究中用于探测胸部,腿部,眼部肌肉和皮肤的运动。另外,传感器可以通过探测肌肉(例如拇指和食指之间的肌肉)对电击的反应作为检验麻醉效果的指示器(神经肌肉传导)。压电薄膜传感器包含范围:[color=#333333]气体流量传感器丨微型压力传感器丨绝对压力变送器丨微量氧传感器丨[/color][color=#333333]数字温湿度[/color][color=#333333]传感器丨煤气检测传感器丨气压感应器丨一氧化碳传感器丨h2传感器丨压阻式压力变送器丨硫化氢传感器丨co2气体传感器丨光离子传感器丨ph3传感器丨百分氧传感器丨bm传感器[/color][color=#333333]丨[/color][color=#333333]风速传感器丨voc传感器丨[/color][color=#333333]光纤应变传感器[/color][color=#333333]丨位置传感器丨[/color][color=#333333]meas压力[/color][color=#333333]传感器丨[/color][color=#333333]称重传感[/color][color=#333333]器丨甲烷传感器丨微流量传感器丨光纤应变传感器丨称重传感器丨三合一传感器丨sst传感器丨gss传感器丨ch4传感器丨氟利昂传感器丨硫化物传感器丨o3传感器丨双气传感器丨[url=http://mall.ofweek.com/1877.html]压电薄膜传感器[/url]丨一氧化氮传感器丨透明度传感器丨二氧化硫传感器丨氰化氢传感器丨煤气检测传感器丨燃气检测传感器丨电流氧传感器[/color]

  • 薄膜红外制样

    在基膜上做聚酰胺薄膜,又把这种复合膜在玻璃板上粘贴,整个玻璃板放在溶剂里,再面把基膜溶解掉。请问我用红外怎么检测基膜是否完全溶解,或者有残留。这个制样方面希望大家给出宝贵意见。我想用刀刮下来,然后用溶剂溶解,在涂覆在溴化钾上面,不知道行不。非线性的聚酰胺只能溶胀的吧。前提是我不可以重新制作薄膜,只有现有的在溶剂中浸泡过的复合膜。谢谢大家。

  • 拉曼仪与薄膜

    请问用激光拉曼仪能测量薄膜的厚度、折射率及应力吗?它能对薄膜进行那些方面的测量呢?

  • 谈谈薄膜真空计(2)

    现代真空应用技术的发展,涉及的应用范围越来越广泛、真空应用设备对仪器仪表的要求越来越高,特别是对测量精度、稳定性要求、以及自动控制性能要求也越来越高,这直接关系到真空设备的整体性能质量,关系到真空应用技术或应用工艺的应用效果,甚至于成功与否。在精细化工、真空冶炼、真空单晶炉、真空热处理、真空浸渍、真空冷冻干燥、真空绝缘处理、电真空器件、半导体材料生产、高特新材料、新能源设备等等行业中尤其特出。许多新设备、新工艺、新产品的开发之所以老是无法实现预想的技术指标和效果,往往就是因为真空测控仪表选型不当、其实际的测量控制精度无法达到设计要求所造成的。当然,薄膜真空计也不是没有缺点的,首先是价格高,国内一般是4-6千元,量限低的贵些;进口则1.6—2.5万元/只左右;其次,国内老式的薄膜规容易零漂,需要经常校正,要求高的经常校正。主要是技术陈旧,国内材料科学相对落后造成的,温度稳定性不好;还有一个量程跨度小,国内的不超过3个数量级。第三是国产规娇气,容易坏,有油污进去很难清洗,要用丙酮,清洗挽救13往往会报废,小量程的23会坏。所以,我们需要有一种具有国产价格、进口品质的、使用方便、经久耐用薄膜真空计。结合我国国情、学习国际先进的真空测量新技术,我们能够做得到的。分析国外的薄膜真空计与我们旧式国产产品的有什么不同呢?简单说一说,其核心技术一是陶瓷薄膜电容真空压力测量技术、二是现代智能仪表技术。首先是通过大规模厚膜电路(国内有些厂家还是20年前的007运放),将薄膜电容测量机构和传感器调理电路微型化,做在陶瓷基片上,另外,将智能仪表电路微型化,一次仪表和二次仪表合二为一,所以量程宽、精度高、体积小;(其典型代表如莱宝62x、英福康TCBG等等)。未完待续

  • TEM薄膜样品制备过程

    薄膜TEM试样比较难制备,而且成功率较低,比较耗费时间。具体制备过程如下:1.切片将试样切成2.5X1.5X1(长X宽X高)的薄片;对于玻璃和Si基的薄膜试样,可以用金刚刀(玻璃刀)切制;对于导电材料可以用线切割;对于不到电的材料用金刚石切片机切削效果要好些。如果切下来的两个小试样片大小相差较大,最好先磨一下,达到尺寸尽可能一致。2.超声波清洗,这个就不用说了;3.配胶一般用AB胶或610胶,后者的效果要好些,但较贵。按说明书上的要求配制,不要太多。4.对粘将薄膜试样放在载薄片上,在有薄膜的面上涂胶(如果有小刷子最好,用大头针也可以,但绝对不能用牙签,会有小木削混入胶内)。要保证涂的完整,涂的均匀,而且胶内不能有气泡,最好是沿着一个方向向另一个方向涂胶,并一次涂成,不要来回涂。将两片小试样对粘,尽可能对齐,减少两个试片之间的相对移动,因为这样会导致局部地方缺胶。之后,将对粘好的试样放在专用的夹样台上,在此过程中两个试片不要错位。如果没有专用的夹样台,就自己动手做一个了,关键要保证试样的受力要均匀,并导热。5.固化将夹好的试样台放在加热台上加热固化,固化温度和时间看说明书,一般在120-130摄氏度之间固化2小时。我个人认为,最好加热固化之后,在室温固化一个晚上,在将试样从夹样台上取下来效果好一些。6.试样的处理如果你的试样粘的不齐,或试样较大,这时可以用切片机切取所需的薄片。这时将试样的四个角进行磨削,使得对角线长小于3mm,为后面的工作做准备。7.试样的打磨我个人的做法是用502胶将试样粘在小块的载薄片上(注意要薄膜的对粘面垂直与载薄片),再将载薄片用双面胶粘到模样台上,用水砂纸从粗到细进行磨削。注意事项:要将砂纸放在玻璃板上,砂纸上要加水,这样磨削效率要好些,磨削过程中要经常用水清洗试样和砂纸,除去磨掉的沙粒,如果条件允许,砂纸磨完一遍就换掉,效率高些。磨削的方向很重要,薄膜的对粘方向与磨削方向一致,而且不要来回磨削,要去时磨削,回来时抬起来,磨削过程中最好经常用体式显微镜观察一下,是否磨偏或试样是否开裂。坚决杜绝横向磨削,因为这样很容易使对粘试样开裂。另外不要一下子磨的很薄,只要磨到一半左右,将其抛光。8.粘Mo环Mo环有几种型号,外圆都是3mm,内圆有1.5mm和1mm的,还有内圆是椭圆的,这个要根据试样的大小和个人的要求选定。将抛光后的试样连同载薄片放在体式显微镜下,观察抛光后试样的平整度和截面的位置。在试样抛光面的四周涂AB胶或610胶,注意不要将整个平面都涂上。要涂的完整、均匀。然后将Mo环粘上(Mo环较薄,很难用镊子夹取,我用医用的胶管,一头套上注射器的针头,将针头危弯,并将针尖磨平,用嘴在另一头吸,就可将Mo环吸起移动了)。此时,试样要保证截面的位置位于Mo环正中间,同时,试样的边缘不能够超过Mo环,在体式显微镜下可以看到。将带有试样和Mo环的载薄片放到加热台上固化,固化十几分钟后,用棉签沾丙酮将Mo环内多于的胶去掉。固化2-3小时后,用丙酮将试样溶下来,翻转试样,将带有Mo环的试样用热溶胶粘在载薄片上(将干净的载薄片放在加热台上,加热一段时间,然后放上热溶胶,热溶胶的加热温度要高一点(60-70摄氏度),时间要长一些,一定要等热溶胶溶解的较好后,在将试样粘上(注意:Mo环在下面),将试样在体式显微镜下观看载薄片一面,看溶胶在Mo环内圆区域是否有气泡,如果气泡较大,只好重新粘了,气泡对后面钉薄有影响)。之后在将载薄片粘到磨样台上,重复过程7的步骤。第二次磨削时要注意随时测量试样的厚度,小于80um,就可以了。测量中要考虑载薄片的厚度、胶的厚度和Mo环的厚度。9.钉薄一般是将试样先溶解下来,在放在钉薄机上钉薄。我是将小块的载薄片直接放在钉薄机钉薄的。这就要求在对中的过程中要尽可能的将截面放在中间,如果稍微偏一点,钉薄的区域要大一些,效果要好一些,但不能偏的太多。钉薄过程中加载要先大后小,抛光膏的力度也是先粗后细,并要经常加水和更换抛光膏,中间要不时的观看,特别是接近需要厚度时,更要勤看。10.等离子减薄一般角度选择小于5度。如果你的试样较厚,那在钉薄的过程中,将试样接近中间的两侧也适当钉薄一下,就不会影响离子减薄的效果了,否则开始减薄的时候可能离子束不会先减薄到试样中部,而是先减薄到试样两边的“肩头”部位。当然,试样做出来了,也不一定能够看到你所想要得到的效果,哪只有从新制样了。其实在开始对粘时,可以多粘几个片子。(来自互联网)

  • 【求助】求助聚苯乙烯薄膜校准方法!

    [size=2]各位前辈,我是一新手,在做工作曲线时总是线性不好,今天在网上偶然发现3.0聚苯乙烯薄膜是校准零点和线性的,我想会不会就是这个原因,请问具体是怎么操作的?有知道的同仁帮帮我吧,很急的!先谢谢了!3.0聚苯乙烯薄膜是有的![/size][em09511]

  • 请问如何测定薄膜的交流阻抗?

    要测的薄膜是不是一定要从模板上揭下来?用什么仪器测?CHi830可以测么?具体怎么操作?我的目的是测薄膜的离子电导率。多谢高手指点

  • 【转帖】薄膜-TOC不确定度评估

    在网上看见这篇文章,摘来大家看看,希作者别见怪!薄膜—电导率法总有机碳分析仪测量结果不确定度的评定严湘青1,吴旭梅2(1.浙江省计量科学研究院,杭州 310013;2.杭州泰林生物技术设备有限公司,杭州 310052)摘要 目的:建立薄膜—电导率法总有机碳分析仪测量结果不确定度的评定方法。方法:分析了测量过程中不确定度的主要来源,即工作曲线的不确定度、测量仪器读数分辨率导致的不确定度、测量不重复性引起的不确定度、标准溶液引起的不确定度等,分别量化后合成标准不确定度,得到总有机碳测量的扩展不确定度。结果:通过对HTY-2500总有机碳分析仪在2000μg• L-1测量点测量结果不确定度的评定,其扩展不确定度为U95 = 49(μg• L-1)(k=2)。结论:本方法所建立的测量结果不确定度评定方法准确、可靠,可为薄膜-电导率法总有机碳分析仪的测量结果不确定度评定提供较为准确简便的方法。关键词:总有机碳;测量不确定度;薄膜—电导率法中图分类号:R917 文献标识码:A 文章编号:0254-1793(2008)12-0-0Evaluation of Measurement Uncertainty for the Total Organic Carbon Analyzer with Membrane Conductmetric Detection Technology YAN Xiang-qing1,WU Xu-mei2(1.Zhejiang Province Institute of Metrology, Hangzhou, 310013, China 2. Hangzhou Tailin Bioengineering Equipments Co. LTD, Hangzhou, 310052, China)Abstract: Purpose: The article set up an evaluation method of measurement uncertainty for the total organic carbon analyzer with membrane conductmetric detection technology. Method: The article analyzed the main resources of the uncertainty of the measurement, which include uncertainty of the working curve, uncertainty of the resolution ratio of the instrument, uncertainty of measure unrepeatability, uncertainty of standard solution, etc. It quantified these uncertainties respectively and composed them to a standard uncertainty. Finally it got the expanded uncertainty of the total organic carbon measurement. Result: It evaluated the measurement uncertainty of the total organic carbon analyzer at 2000μg• L-1 and got the expanded uncertainty which is U95 = 49(μg• L-1)(k=2). Conclusion: The evaluation method of measurement uncertainty set up by the article is accurate, reliable, and it can offer comparatively exact and convenient method for measurement uncertainty evaluation of the total organic carbon analyzer with membrane conductmetric detection technology. Key words: total organic carbon uncertainty of a measurement membrane-conductometric detection technology

  • 薄膜断面制样

    有一个塑料薄膜样品,想观察断面多层结构。怎样制样(截取断面)比较好呢?

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