薄膜透气测试仪

产 品 简 述 ：PAPT-B01 透气度测定仪是用本特生法（葛尔莱法、肖伯尔法可选）测试高分子材料、薄膜、纸张等空气透过量测定。葛尔莱法：恒定压差 1.21kpa 下，测定通过 100ml 气体所用的时间。技术参数：测量范围 0.01-2.5um/(Pa.s)分辨率 0.001um/(Pa.s)透过速率 0.01-120ml/min（其他范围可选）压差/范围 0-3KPa，精度：±0.01kPa（其他范围可选）有效压差 葛尔莱法：1.21kpa±0.01kPa夹具 孔径φ28.6±0.1mm(透过面积∶642mm2 )款式 自动控压，无需内外桶手动控制，无需人眼识别体积位置测试面积 葛尔莱法：50mm×50mm 有效面积:6.42cm2测试时间 1-999999 秒 精度：0.1 秒样品温湿处理 A.预处理：40℃,10-35%RH 的大气条件，静置 24hB.前后间隔 1h 称重之差不大于总质量的 0.25%,试样平衡电 源功率 220V,50Hz、100w重量 15kg参 照 标 准 ：SJ_T 10171-2016 碱性电池隔膜基本性能的通用测试方法（透气性部分）GB/T 458-2008 纸和纸板透气度的测定GB/T 36363-2018 锂离子电池用聚烯烃隔膜产 品 特 点 ：将葛尔莱法、肖伯尔法、本特生法三种测试方法可选。仪器压差在 0-3KPa 范围可调，精度达 0.01kPa，完全满足三种方法的测试压差要求仪器超大测试容积 1L，完全满足三种方法体积要求通过加面罩方式实现测试面积 10.0cm2 与 6.42cm2 的自由转换仪器自带温湿度传感器实时监控测试腔的温湿度。仪器密封性良好，漏气量不超过 1.0ml/h仪器双模式控制（上位机软件可选）

薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪介绍：LQJ211万能材料试验机有着超大数显控制系统-为主机曲线、力值、速度和变形动态显示，加上电脑可实现微机操作，参数随意设定，可以做不同材料30KN以内的拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、低调疲劳等多项力学试验.可根据国际标准ISO.JIS.ASTM.DIN等国际标准和国外标准进行试验和提供数据.以windows操作系统使试验数据曲线动态显示,试验数据可以任意删加,对曲线操作更加简便.轻松.随时随地都可以进行曲线遍历.叠加.分离.缩放.打印等全电子显示监控. 薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪技术参数 Main specifications 1、最大负荷Load Accuracy： 30KN（任意选） 2、荷重元精度Load Accuracy： 0.01% 3、测试精度Measuring accuracy： ± 0.5% 4、操作方式Control： 全电脑控制,windows模式操作 5、有效试验宽度Valid width： 约420mm 6、有效拉伸空间Stroke： 约800mm 7、试验速度Tetxing speed : 0.001~500mm/min 8、速度精度 Speed Accuracy：: ± 0.5%以内； 9、位移测量精度Stroke Accuracy： ± 0.5%以内； 10、变形测量精度Displacement Accuracy： ± 0.5%以内 11、安全装置 Safety device： 电子限位保护，紧急停止键 Safeguard stroke 12、机台重量Main Unit Weight ： 约140kg

显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米； 波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 光源：使用显微镜光源 光斑大小：由显微镜物镜决定 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口； 尺寸：120x120x120mm 重量：1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量

产品详情 XRF荧光光谱仪专用测试薄膜英飞思提供不同材料和厚度的专用测试薄膜，以满足应用中的测试需求样品杯的底部覆盖有X 射线透明薄膜。耐化学性取决于薄膜的材料和厚度：下表展示了不同厚度和材质的薄膜对测试不同元素的影响原则上，使用两种材料：聚酯（聚酯薄膜）和聚丙烯（商标名称包含名称片段的薄膜“丙烯”，例如以“lene”结尾的，通常与便宜得多的材料相同聚丙烯薄膜）。薄膜材料的耐化学性不同。虽然聚酯是稳定的对于溶剂、脂肪族化合物和燃料，聚丙烯提供更高的稳定性富含氧气的流体（例如水、聚乙二醇和高沸点油）。聚丙烯特别适用于固体样品的痕量分析，因为它没有主要成分其中的污染。相比之下，聚酯薄膜含有不需要的磷和钙（3.5 µmMylar 对应于纯油（例如清洁白油）中的 50 ppm Ca 和 250 ppm P。薄膜，例如Hostaphan（带有硅污染的聚酯）或聚碳酸酯（不含污染，首选用于燃料分析）受到限制或不再可用。Kapton 对轻元素的荧光辐射不是很透明，因此仅可用于分析具有更高原子序数的元素。

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化，是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。另外，根据需要，我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer，提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具，以固定小尺寸的硅样品或3' ' ，4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同，如溶解速度的不同，它能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程，而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量，薄膜溶解测厚仪需要光滑，具有反射性的衬底，对于光学常数测量，平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的，衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量，已经成功应用于测量反射衬底（Si晶圆）上各种光滑，透明或轻度吸收薄膜的溶解过程，可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜，聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：15kg 电力要求：110/230VAC薄膜溶解测量仪应用：聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量 能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。

高温纸垫薄膜

James Heal 纺织品酚黄测试用聚乙烯薄膜泛黄测试聚乙烯薄膜用途：纺织品酚黄测试，黄变测试，泛黄测试James Heal酚黄 (泛黄) 变测试膜400X200mm 100片/包 706-792ISO 105-X18 M&S C20B-TOadidas***酚黄(泛黄)变测试膜酚黄 (泛黄)变测试套件酚黄(泛黄)变测试纸100X75mm706-720酚黄(泛黄)变测试纸100X30mm706-709酚黄(泛黄)变测试膜400X200mm 706-792James Heal酚黄 (泛黄) 变测试纸100X75mm 50/包 706-720ISO 105-X18 M&S C20B-TOadidas***酚黄(泛黄)变测试纸James Heal酚黄 (泛黄) 变控制布100X30mm 25片/包 706-709ISO 105-X18 M&S C20B-TOadidas***酚黄(泛黄)变控制布

美国Chemplex公司专业从事样品前处理设备、XRF耗材研发和生产，是X荧光光谱仪XRF配件耗材领域的全球知名厂商。美国Chemplex样品杯和样品膜广泛应用于X荧光光谱仪XRF的样品制备和分析检测过程，Chemplex样品膜薄膜张力特性佳，与Chemplex样品杯组合使用，可盛放各类金属重物、液体、浆状或粉末样品，适用于所有品牌厂家的X荧光光谱仪XRF。产品介绍：独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪（XRF）样本杯的质量始于一种特别配置的高密度聚乙烯！ 样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有：1、符合RoHS指令；2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子；3、光滑，能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着；4、耐热和抗辐射的物理性能特点；5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染；6、低微量元素杂质。样品盒，3571型（每包100个）ROHS环保测试仪器专用样品杯、用于测试液体和粉末样品。用于聚酯或聚丙烯薄膜。实验室分析仪器专用双开口端产品规格加工定制否品牌XRF仪器专用型号219-85000-55尺寸31.6mm；V：10ml材质高密度聚乙烯用途用于液体和粉末样品测试

XRF样品膜、XRF测试薄膜、、EDX样品膜、EDX薄膜样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜样品薄膜XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜样品薄膜美同达提供chemplex各种样品薄膜和样品杯，如有需要，请。 Chemplex样品杯是使用方便简捷，无污染的测试用样品杯，广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。 产品详情： 1、1000系列：样本杯与SPECTROSULFUR分析仪杯，TRIMLESS套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。 适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix，Panalytical Venus 与Rigaku（日本理学株式会社）仪器。 产品编号：10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。 2、1300系列：可重复密封的可通风式XRF样本杯，集成外部溢流储液槽，并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。 适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号：1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。 3、1400系列：单开端可通风XRF样本杯。 适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号：1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L*特长单开口端。 4、1500系列：双开口端XRF样本杯。 适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。 产品编号：1530双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540双开口端。 5、1600系列：狭缝通风样本杯盖，适用于1500系列XRF样本杯。 样品编号：1630样本杯盖、1640样本杯盖。 6、1700系列：集成的咬合式通风XRF样本杯。 适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号：1730咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。 7、1800系列：单开口端XRF样本杯，集成的外部溢流储液槽，通风装置；与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。 适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号：1830ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。 8、1850系列：单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯，Thermoplastic Seal?通风 ，集成外部溢流储液槽和排泄装置，适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。 9、1900系列：双开口端XRF样本杯，顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。 适用仪器：适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器；适应于Oxford Lab-X仪器。 产品编号：19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2双开口端。 10、1935-OX系列：双开口端XRF样本杯与通风盖，适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子，适用于牛津CK-100，耗材元件，零件编号54-CK-100。 11、2100系列：双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽，通风的直接固定盖，TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。 产品编号：2132 、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。 12、3100系列：SPECTROMICRO?样本杯，采用“FUNNELSHAPE?”（漏斗形） 样本杯技术。 产品编号：3106、3110、3115、3120。

Aode-308智能粉末流动性测试仪智能粉末流动性测试仪Aode-308简介智能粉末流动性测试仪Aode-308是丹东奥德仪器有限公司研发生产的测试粉末流动性和休止角的一款仪器。仪器可以通过漏斗流出的粉堆自动测试出粉堆的休止角、粉末流动时间、粉堆的堆密度、粉堆体积和流动时间的对应质量来综合评价粉体的流动性，软件会自动计算出粉体的流动性评价和流动性指数，同时可以生成流速和质量的曲线图。

chemplex样品薄膜型号：090，250品牌：chemplex产地：美国 一、产品介绍： 在用x荧光光谱仪进行rohs检测，weee检测和一般材料成分分析时，由于样品的不规则（特别是液体、粉末等），需要借助样品杯和薄膜辅助检测；但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的x射线信号和检测结果。选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中，只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。 如何选择薄膜样本支撑窗材料？适当的薄膜样本支撑窗的选择主要以满足首要重要的实验室要求为基础： 使用方便快捷； 避免造成待测样品污染； 优越的分析物透射比与强度； 对待测样品的耐化学性。chemplex industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是x射线光谱仪（xrf）配件耗材领域的全球知名厂商。chemplex xrf样品杯和样品薄膜用于rohs、weee专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的x射线荧光光谱仪。chemplex样品薄膜薄膜张力特性极/佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注，使得chemplex xrf样本杯、样品薄膜在xrf物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。chemplex的许多xrf样本杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国专利商标局授予知识产权地位。美同达作为美国chemplex公司的中国代理商，提供chemplex所有系列用于对应欧盟rohs和weee环保检测仪器——x射线荧光光谱仪（xrf）的检测实验消耗产品！我们不仅能够为您提供样品薄膜、样品杯, 还可根据您的样品应用为您选择、定制合适的样品薄膜、样品杯。 二、适用仪器：德国斯派克spectro、英国牛津oxford、日本堀场horiba、飞利浦/帕纳科philips/panalytical、德国布鲁克 bruker、美国赛默飞世尔科技（热电）thermo，瑞士arl及日本理学rigaku, siemens, spectrace,jordan, kevex, metorex,fisons, asoma，venus 200,valley等生产的x荧光光谱仪(xrf)。（适用x 射线荧光光谱仪品牌型号：所有x射线荧光光谱仪包括：尼通(niton)：xlt797z 、xlt794、xlt898 ；伊诺斯(innov-x)：alpha6000；牛津(oxford)：met-5000；帕纳科(panalytical)：minipal4、 minipal2；精工(seiko)：sea1000a；斯派克（spectro）：xepos、midex m；热电(thermo)：arl quant’x；日本电子（jeol）jsx－3400r；horriba等。） 三、spectromembrane® 样品薄膜随着spectromembrane® 样本支撑托架的面世，在处理薄膜时用户不再需要担心静电附着或潜在的污染风险或吸引空中颗粒等问题。除样本杯外，薄膜不再近距离接触其它任何物体。薄膜处理将通过使用集成的托框完成，托框能够在组装过程中自动分离，留下绷紧的薄膜样本平面。spectromembrane® 薄膜样本支撑托架由一块粘在托架上作为支撑物的薄膜样本支撑物质组成。在把薄膜物质粘在xrf样本杯上时，薄膜物质并不会被直接处理，这就消除了污染的可能性。接近完成或在完成附着时，薄膜将自动从托架上分离，留下绷紧的无皱样本支撑窗。

产品介绍： PMT-05 医药包装物理性能测试仪是针对医用材料物理性能测试开发的一款多功能集成仪器，可进行器身密合性检测（预灌封注射器密合性检测）、铝塑瓶盖开启力、安瓿瓶折断力、胶塞穿刺力、注射针刚性、针座结合牢度、铝箔板材拉伸以及定力值和定位移测试。扩展还可进行其他项目测试。本仪器应用于注射剂瓶和输液瓶铝盖、丁基胶塞、铝塑组合盖、聚丙烯组合盖、薄膜、复合膜、药用铝箔、PVC硬片、预灌封注射器、一次性注射器等药品包装材料，进行接桥链接力、穿刺力、滑动性、开启力、拉伸强度、热合强度、人体内导管导丝摩擦力等试验。 医药包装物理性能测试仪采用进口品牌高精度传感器，测试结果精确稳定，无极调速可满足不同实验对试验速度的要求。仪器支持多种试验模式，配合不同试验夹具可满足不同实验要求，夹具更换方便快捷。广泛应用于药检机构、药包材生产企业、制药企业、医疗器械生产企业等单位。 产品特点：● 进口微型计算机控制技术，开放式结构，友好人机界面操作，使用简单方便● 多种操作模式任意选择，增加定力值、定位移模式，操作更简单方便● 精密丝杆传动，优质不锈钢导轨及合理布局，确保仪器运行平稳● 采用进口高精度测力传感器，测量精度为 0.5 级● 采用精密微分电机驱动，传动更平稳，噪音更低，定位更准确，测试结果重复性更好● 液晶中文显示，全自动测量，具有测试数据统计处理功能● 高速微型打印机输出，打印快速，噪音低，不需更换色带，更换纸卷方便● 内置专用校准程序，便于计量、校准部门（第三方）对仪器进行校准● 高清彩色大屏幕显示曲线、文字，视觉更清晰● 可配备电脑软件，双向操作 技术参数：测量范围 5kg 25kg 50kg （任选一个或多个）测量单位 N kg ib测量精度 0.5 级试验行程 1000mm测试模式 开启力测试、折断力测试、穿刺力测试、拉压力测试、针管刚性测试、定力值测试、定位移测试、剥离力测试、活塞滑动性能测试、器身密合性测试、人体内导管导丝摩擦力测试试验速度 1-600mm/min 无级变速外形尺寸 470（L） X 450（B） X 970（H） mm重 量 约 90kg电 源 AC220V±22V，50Hz标准配置 主机 、拉伸夹具选购配置 开启力夹具、穿刺夹具、折断力夹具、滑动性能夹具、电脑软件、电脑设置标准：YBB00242004-2015、YBB00402003-2015、 YBB00042005-2015、YBB00052005-2015、 YBB00332004-2015 、YBB00332002-2015、YBB00112004-2015、GB-14232.1-2004、GB-15811-2016、GB-15810-2001、GB/T-1962.1-2001、GB-2637-1995、ASTM D882医药包装物理性能测试仪PMT-05普创paratronix 医药包装物理性能测试仪PMT-05普创paratronix

阴极保护防腐剥离强度测试仪、剥离强度测试仪介绍： QJ212微机控制万能材料试验机实现微机全程控制，可对整个材料500KN以内力值的拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、低调疲劳等多项力学试验,可根据国际标准ISO.JIS.ASTM.DIN等国际标准和国外标准进行试验和提供数据.以windows操作系统使试验数据曲线动态显示,试验数据可以任意删加,对曲线操作更加简便.轻松.随时随地都可以进行曲线遍历.叠加.分离.缩放.打印等全电子显示监控. 阴极保护防腐剥离强度测试仪、剥离强度测试仪主要技术： 1、最大负荷：10、20、30、50、10、20、30、50、100、200、300、500KN； 2、力试验力分辩率为± 1/250000,内外不分文件，且全程分辨率不变； 3、有效试验宽度：500mm； 4、有效拉伸空间：600或800mm； 5、试验速度:：0.001~1000mm/min任意调； 6、速度精度：示值的± 1%以内； 7、位移测量精度：示值的± 0.5%以内； 8、变形测量精度：示值的± 0.5%以内； 9、试台升降装置：快/慢两种速度控制，可点动； 10、试台安全装置：电子限位保护； 11、试台返回：手动可以最高速度返回试验初始位置，自动可在试验结束后自动返回； 12、超载保护：超过最大负荷10%时自动保护； 13、功率： 1.5KW； 14、主机尺寸：960＊650＊2000mm； 15、主机重量：1200kg；

产品介绍：AF-01铝箔耐破度测试仪专业应用于各类药用铝箔耐破强度试验，是铝箔强度性能检测的基本仪器，是食品、药品 包装厂家、商检、科研等部门的理想检测设备。产品特征：● 液晶屏显示，PVC控制面板，人性化操作设计 ● 全自动测试过程，自动判断破裂度、自动退压 ● 微电脑处理系统，测试压力值微电脑实时采集数据，记忆测试结果 ● 微型打印机打印输出，方便数据快速输出 ● 采用同步电机传动，传动平稳、准确，使输出压力更精确技术参数：测量范围 50~1600kpa 准确率 ≤±0.5% 分辨率 0.01kpa 油压速度 95±5ml/min 上夹环孔内径 φ30.5±0.05mm 下夹环孔内径 φ31.5±0.05mm 试样夹持力 430kpa 外形尺寸 340*400*450mm 重量 45kg执行标准：YBB00152002、GB12255-90 产品配置：主机、甘油、微型打印机、校正片、橡皮膜

四点探针头是用于方阻测试设备上的精密零件，我公司生产的探头能适配到国内外所有的方阻测试设备上，稳定性和一致性十分优秀；无缝替代由国外生产的探头JANDEL、CDE等国外品牌，打破国外技术垄断和封锁。探针的针尖材料一般是用碳化钨。每一种探头的主要选择配置参数： A，探头主体材料及外形尺寸 B，针尖半径 C，针头的间隔 D，针头的负载 E，针头排列，线型，或者正方形。 F，连接方式： 连接器，或导线联接及长度主要的应用领域： 硅片电阻率的测量。 晶圆的电阻率的4点测量。 外延、离子注入层的4点电阻测量。 金属薄膜和其他薄膜的4点电阻测量。

透射电镜（TEM）用氮化硅薄膜窗口 产品概述： 与X射线用氮化硅窗口类似，透射电镜（TEM）用氮化硅薄膜窗口也使用低应力氮化硅薄膜基底。但整体尺度更小，适合TEM装样的要求。窗口有单窗口和多窗口阵列等不同规格。同时NTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口。 现在可以提供透射电镜（TEM）用氮化硅薄膜窗系列产品，规格如下： 外框尺寸: &bull 3 mm x 3 mm (窗口尺寸：0.5 mm，薄膜厚度：30 nm) &bull 3 mm x 3 mm (窗口尺寸：1.0 mm，薄膜厚度：50 nm) 边框厚度： 200µ m、381µ m。 Si3N4薄膜厚度： 50nm、100nm 可以为用户定制产品(30-200nm)，但要100片起订。 本产品为一次性产品，不建议用户重复使用，本产品不能进行超声清洗，适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。 技术指标： 表面平整度： 我们认为薄膜与其下的硅片同样平整， TEM用氮化硅薄膜窗口的表面粗糙度为：0.6-2nm。完全适用于TEM表征。 亲水性： 该窗格呈疏水性，如果样品取自水悬浮液，悬浮微粒则不能均匀地分布在薄膜上。用等离子蚀刻机对薄膜进行亲水处理，可暂时获得亲水效果。虽然没有对其使用寿命进行过测试，但预期可以获得与同样处理的镀碳TEM网格相当的寿命。我们可以生产此种蚀刻窗格，但无法保证其使用寿命。如果实验室有蚀刻工具也可对其进行相应的处理提高其亲水性能。 温度特性： 氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品，能够承受1000度高温，非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。 化学特性： 氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。 应用简介和优点： 1、 适合TEM、SEM、AFM、XPS、EDX等的对同一区域的交叉配对表征。 2、 大窗口尺寸，适合TEM大角度转动观察。 3、 无碳、无杂质的清洁TEM观测平台。 4、 背景氮化硅无定形、无特征。 5、 耐高温、惰性衬底，适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境，（薄膜直接沉积在窗口上）。 6、 生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后，窗口具有很好的亲水性。。 7、 耐高温、惰性衬底，也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。 8、 适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。 详细请咨询：021-35359028/ admin@instsun.com

产品介绍:泰思泰克透过材料接触传热性测试仪根据ISO12127-2007及EN702设计研发并制造；该仪器通过加热筒在一定载荷下接触试样及热量计，测定一定温度下试样的传热性能；该仪器操作简单，数据准确，安全可靠，广泛应用于消防防护服相关公司及检测部门； 产品型号：TTech-ISO12127符合标准：ISO12127-2007 EN702技术参数1、 该设备由控制箱及不锈钢试验架台构成；2、 试样架自动升降，升降时速度 5mm±0.2mm/s3、 K型铠装热电偶，直径2mm，测温精度0.1℃；4、 加热桶温度大于500℃ 试样接触表面直径25.2±0.05mm5、 加热桶载荷重量 49N，可调节；6、 计时器 计时范围9999s 计时精度0.1s 7、 热量计固定盘直径25mm,厚度5mm 并装配铂电阻温度传感器；8、 支撑架材料为尼龙66；直径40mm 高度50mm 9、 试样直径80mm 10、 PLC 及触摸屏智能控制系统；11、 升温PID智能控制，系统自动采集温度数据；12、 试验数据系统自动计算，自动存储；可自由打印；13、 试验台尺寸：650mm x 350 mm x 650mm14、 电源 220V 50/60Hz, 功率800w

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、mylar膜/聚丙烯膜、日本理学/岛津/斯派克、EDX迈拉膜/XRF测试薄膜、美国Premier样品膜-TF-115 品名：XRF样品膜Sample Film 型号：TF-115 品牌：美国Premier Lab (原装进口） 货期：现货 起订量：1盒以上。 一、美国Premier XRF样品膜：美国Premier Lab Supply公司专注于X射线光谱分析XRF的样品制备领域，以高质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉。美国Premier X-ray样品膜(X-ray Film）以其极低的（几乎不含）杂质和厚度均匀而严格生产，极好的柔韧性和抗化学腐蚀性，保证检测结果的可靠性和重现性，被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。 二、Premier 样品膜特点： 有卷状和片状，多种规格、尺寸、数量可供选择； 柔韧性强、方便、耐用； *的X-ray射线穿透性，适合各类XRF光谱仪； *的抗化学腐蚀性能，不溶于有机溶剂，不污染待测样品； （几乎不含）痕量杂质，特别适合于轻质元素的限量检测。 三、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 四、XRF样品膜目录：美国Premier X-ray样品膜种类：（1）、Hostaphan膜；（2）、Kapton膜：聚酰亚胺膜，卡普顿膜；（3）、Mylar膜：聚酯薄膜，迈拉膜，麦拉膜；（4）、Polypropylene膜：聚丙烯膜。 目录编号：CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度 数量 描述 TF-115 Mylar迈拉膜 1.5μ(0.06mil) 76mm x 91.4m 1卷/盒 Mylar® Rolls连续卷轴

硬度测试仪配件和欧洲进口的便携式硬度测试仪，使用高硬度的金属平台代替了传统的玻璃平台，有效避免了玻璃平台易碎的缺点，硬度测试仪配件结构更紧凑、合理,操作简单。 硬度测试仪配件特点 专用于配套SHORE A，SHORE D型橡胶硬度计， 其测试原理更科学，结构更紧凑、合理，使测试的稳定性和准确度进一步得到提高 使用高硬度的金属平台代替了传统的玻璃平台，有效避免了玻璃平台易碎的缺点 。 硬度测试仪配件参数 E A/C型橡胶硬度计组合成专业的试验机； 外形尺寸： 100*212*250(mm) 便携式硬度测试仪参数 可选配SHOR结构更紧凑、合理，操作简单 净重：10 Kgs 孚光精仪是全球领先的进口科学仪器和实验室仪器领导品牌服务商，产品技术和性能保持全球领先,拥有包括硬度计，硬度测量仪在内的全球最为齐全的实验室和科学仪器品类，世界一流的生产工厂和极为苛刻严谨的质量控制体系，确保每个一产品是用户满意的完美产品。 我们海外工厂拥有超过3000种仪器的大型现代化仓库，可在下单后12小时内从国外直接空运发货，我们位于天津保税区的进口公司众邦企业（天津)国际贸易公司为客户提供全球零延误的进口通关服务。 关于便携式硬度测试仪参数,硬度测试仪参数的更多消息，孚光精仪将在第一时间更新并呈现，想了解更多内容，关注孚光精仪等你来体验！

1.恒奥德仪器电化学土壤氧气呼吸和透气性传感器配件 型号HAD-D4OR HAD-D4OR型土壤氧气传感器适用于监测土壤呼吸和透气性、氧含量的实验室研究、生物学应用中土壤氧含量与渗透作用和土壤中微生物的活动关系。土壤氧气传感器是一个坚固耐用、可靠的氧浓度测量装置。其电子元件是完全封装在环氧树脂内。采用可拆解的外壳，使得氧元件易于维护且被金属护套保护，前端有过滤网阻止了土壤颗粒对传感器的破坏，能够方便的插入土壤中进行测量。测量数据能够真实地、实时地反映土壤中的氧气含量变化。 2、HAD-D4OR功能特点 *安装方便，可以用于长期观测监测土壤呼吸和透气性； *O2含量的实验室研究； *全电子封装； *信号输出稳定； *金属外壳； *可替换关键元件；HAD-D4OR技术参数原理 电化学（透气膜） 量程 0-30%VOL（0-100%VOL量程需指定） 输出信号 电压信号；当氧含量20.9%时，输出200mV（用户必须在安装前详知附带检测报告） 精 度 0.1%（0-30%）；0.01%（0-100%） 工作环境 -10~50℃，0~100%RH (无凝结) 储存温度 -20℃—60℃ 温度影响 RH:＜80%O2:20.9%时，不受温度影响； RH:100% O2:20.9%时，传感器输出为：20℃：20.7%，40℃：19.5%。 响应时间 T90＜15S(0-30%) T905S(0-100%) 取样间隔 实时取样 重复性 ±0.001% O2 (10 ppm) 线性度（ppm） ＜0.5全量程时线性误差（零点，200ppm） 压力范围 80-120Kpa 尺寸材质 60*40mm，金属外壳配置M20*1.5螺纹 重量 280克（含0.5m线缆） 2. GB11832翻斗式雨量传感器 型号：H27824 H27824 翻斗式雨量传感器产品简介雨量传感器(变送器)适用于气象台（站）、水文站、农林、国防等有关部门，用来遥测液体降水量、降水强度、降水起止时间。本仪器严格按照SL61-2003水文自动测报系统规范、GB11831-89水文测报装置遥测雨量计、GB11832-89翻斗式雨量计国家标准要求组织生产、装配、检定。可用于以防洪、供水调度、电站水库水情管理等为目的水文自动测报系统、自动野外测报站。 H27824 翻斗式雨量传感器技术参数 承水口径：Ф200 ± 0.6mm测量范围：≤4mm/min（降水强度）分 辨 率：0.2mm（6.28ml）准 确 度： ±4%（室内静态测试，雨强为2mm/min）供电方式：□ DC 5V □ DC 12V □ DC 24V □ 其他 输出形式：□ 开关信号：干簧管通断 □ 电压0~2.5V □ 电压0~5V □ 电压1~5V □ 电流4~20mA □ 其他 3不锈钢低高温压力传感器 型号：HAD-T2300 HAD-T2300高温压力变送器产品为全不锈钢结构，采用高精度压力芯体和精密的补偿技术，抗冲击性能和长期稳定性,安装方便，量程广等特点，同时有不同的螺纹接口和信号输出，并可选带现场显示表头，满足广大客户的需求。 一、技术参数量 程：-0.1-300MPa精 度：0.25%FS、0.5%FS、1.0%FS输出信号：4-20mA、0/1-5/10V、0.5-4.5V、1.0/1.5/2.0mV/V供电电压：mV信号10（+5-12)VDC； 其它输出信号+5VDC、+12VDC、+24VDC过程连接：G1/4、R1/4、G1/8、G1/2、1/2NPT、1/4NPT、 M14X1.5、M20X1.5（可订制）电气连接：航空插头、直接引线、赫斯曼接头负载能力：电流型≤500Ω补偿温度：0-85°C工作温度:-60-120°C安全过载能力：150%极限过载能力：200%温度漂移：0.02%FS/°C长期稳定性：0.2%FS/年 4. 耐高温型温湿度传感器,烟气湿度传感器 型号:HAD-J200W 一、概述HAD-J200W高温型温湿度变送器。它采用耐高温型湿敏电阻做为感湿组件，配备先进的硬件电路和温度补偿处理技术，同时将感湿探头和变送电路分体处理，方便只把传感器探头投入到测湿环境中，传3、 一致性好、使用寿命长。4、 响应速度快、温度系数小。5、 互换性好，传感器可以互换。6、 长期过饱和下脱湿快。7、 实用方便，性价比高。典型应用医药化工 通讯机房 HVAC暖通空调环境监测 电信基站 图书、档案馆洁净厂房 智能楼宇 超市、生产车间工业自动化二、产品详细参数工作电源：12VDC/AC±10% (0-5V电压信号输出) 24VDC/AC±10% (4-20mA\0-10V信号输出) 定制其它工作电源：注：当交流24V供电时，允许电压范围为20-24VAC变送器工作环境湿 度：5-95%RH 无凝露温 度：-40-80℃变送器材料：ABS塑料颜 色：乳白色 变送器安装：壁挂或吸顶式固定安装温度传感器：进口薄膜铂电阻Pt1005.土壤湿度传感器,土壤水分传感器 型号:HAD-100 传感器技术参数: 土壤水分技术参数 水分单位：%（m3/m3） 含水率测试范围：0-100% 响应时间：≤2秒 相对百分误差：≤3% 土壤水分探头工作温度：-40℃—80℃标准电缆长度：1.5m(可按客户需要定做，最长可至1000米) 水分存储数据：2000组 净重：1kg 土壤水分温度测量仪土壤温度技术参数： 温度点位：℃ 测试范围：-20-100℃ 精度：±0.5℃ 标准电缆长度：1.5m(可按客户需要定做，长可至1000米) 6.转速传感器标准GB/T14084.10 型号:H27098 防护等殶级 IP67 动作区域 0--8mm 符合标准GB/T14084.10 工作温度-25--+75℃ 动作指示 LED 工作电圧 DC12-48V AC220--240V 转速范围:0--6000转/分7.土壤盐分传感器 /土壤盐分仪直接测定土壤溶液中的可溶盐离子的电导率。具有电极性能稳定 电极的灵敏度高 型号：HAD-YFII 土壤盐分传感器 (电压||型) 原理： 　　土壤盐分传感器的主要部件是石墨电极和进行温度补偿用的热敏电阻。由四芯导线与电极插头相连结。将这种盐分传感器埋入土壤后，直接测定土壤溶液中的可溶盐离子的电导率。具有电极性能稳定 电极的灵敏度高，适用测量范围特别适用于高电导，因此非常适于土壤盐分的测定 　　土壤盐分传感器 (电压||型) 性能参数： 　　供电电压：5-24V供电、信号输出：0-2V 0-2.5V 0-5V 　　盐分测量范围：0.01-0.3mol/L，最小读数为0.01mol/L， 　　电导测量范围：0-20mS(相对应于0-2000mV) 　　分辨率：0.01mS 电压与电导相关性(线性度)：≥98% 8. 0-2500μmol m2 s-1光合有效辐射传感器 型号：HAD-WHY　光合有效辐射传感器　产品概述：　　光合有效辐射传感器用于测量陆地环境中400-700nm波长范围内太阳光的光合有效辐射，。并通过一个400-700nm的光学滤光器，来测量波长在400-700nm范围内的光合有效辐射。　　光合有效辐射传感器　技术参数：　　.测量单位:μmol m2 s s-1　　.量程：0-2500μmol m2 s-1　　.反应时间:10μs　　.电源电压：DC5v分辨率：1μmol m m2 s-1　　.响应光谱：400-700nm　　.输出电压：DC2.5v或5v 9.风速风向一体化传感器/一体化风向风速传感器碳纤维材料，强度高 HAD-41Z-24V-W2 风速传感器（变送器）采用传统三风杯风速传感器结构，风杯选用碳纤维材料，强度高，启动好；参数风速传感器：测量范围：□ 0～45m/s □ 0～70m/s准 确 度：±(0.3+0.03V)m/s （V:风速）分 辨 率：0.1m/s启动风速：≤0.5m/s供电方式：□ DC 5V □ DC 12V □ DC 24V □ 其他 输出形式：□ 脉冲：脉冲信号□ 电流：4～20mA □ 电压：0～5V □ 电压：0～2.5V □ RS232 □ RS485 □ TTL电平：（□频率 □脉宽） □ 其他 负载能力：电流型输出阻抗≤600Ω 电压型输出阻抗≥1KΩ工作环境：温度-40℃～50℃ 湿度≤100%RH防护等级：IP45线缆等级：额定电压：300V 温度等级：80℃产品重量：130 g产品功耗：50 mW 风向传感器：测量范围：0～360°准 确 度：±3°启动风速：≤0.5m/s供电方式：□ DC 5V10. 4-20mA红外测温仪可以不接触目标而通过测量目标发射的红外辐射强度计算出物体的表面温度。非接触红外测温仪最大的优点，使用户可以非常方便地测量难以接近或移动的目标。HAD-PT20红外测温仪为一体化集成式红外测温仪，传感器、光学系统与电子线路共同集成在金属壳体内；HAD-PT20易于安装，金属壳体上的标准螺纹可与安装部位快速连接；同时，HAD-PT20还有各型选件（例如吹扫保护套、90°可调安装支架、三维可调安装支架、数字显示表等）以满足各种工况场合要求。● 基本性能保护 IP65（NEMA-4）环境温度 0~60℃存储温度 -20~80℃相对湿度 10~95%（不结露）材料 不锈钢尺寸 98mm×18mm(长度×直径)电缆长度 1m（标准），3m， 15m及特殊规格（定制）● 电气参数工作电源 24VDC电流 50mA输出信号 4-20mA 以上参数资料与图片相对应

美国HOLADAY HI3604- HI3604工频场强测试仪，简介，说明书，办事处，总代，操作步骤：美国HOLADAY HI3604- HI3604工频场强测试仪，液晶显示器显示的单位可选择毫高斯，高斯，伏/米，千伏/米，并有图形显示功能，可方便直观的定位电磁场源位置及强辐射点。单探头实现全量程，仪器面板为覆膜式按键设计，非常适合现场使用，内部存储器可存储最多127个读数。美国HOLADAY HI3604- HI3604工频场强测试仪，是专门为检测50/60Hz电力线，有电设备和设施，视频显示终端等周围的电磁场强度而设计，为工程师，工业卫生学者以及人身安全健康专家等人员提供电力环境的准确测试工具液晶显示器显示的单位可选择毫高斯，高斯，伏/米，千伏/米，并有图形显示功能，可方便直观的定位电磁场源位置及强辐射点。单探头实现全量程，仪器面板为覆膜式按键设计，非常适合现场使用，内部存储器可存储最多127个读数。美国HOLADAY HI3604- HI3604工频场强测试仪，配置，软件，标准配置，校准计量：标配：电磁场两用探头（单轴），显示部分，绝缘手柄，使用手册，便携箱选件：HI3616远方显示器，HI4413 RS232光纤MODEM，三脚架 HI3604工频场强测试仪技术参数：频率响应:30-2000Hz频率响应:±0.5dB(50-1000Hz)±2.0dB(30-2000Hz)电场测量范围：1 V/m –200 kV/m磁场测量范围：0.2mG-20 gauss检测： 单向响应： 真有效值存储： 内置，最多127个读数环境： 温度：10-40℃ 湿度：5%-95%不冷凝美国HOLADAY HI3604- HI3604工频场强测试仪，工频场强测试仪

HI3604工频场强测试仪,HI3604场强仪，现货，价格22000，液晶显示器显示的单位可选择毫高斯，高斯，伏/米，千伏/米，并有图形显示功能，可方便直观的定位电磁场源位置及强辐射点。单探头实现全量程，仪器面板为覆膜式按键设计，非常适合现场使用，内部存储器可存储最多127个读数。咨询热线：15300030867，欢迎您的来电咨询！HI3604工频场强测试仪,HI3604场强仪，现货，价格22000，技术参数，操作指南：功能描述频率范围30-2000Hz频率响应±0.5dB(50-1000Hz)；±2.0dB(30-2000Hz)电场测量范围1 V/m –200 kV/m磁场测量范围0.2mG-20 gauss检测单向响应真有效值存储内置，最多127个读数环境：温度10-40℃湿度5%-95%不冷凝标准附件标配：电磁场两用探头（单轴），显示部分，绝缘手柄，使用手册，便携箱可选附件HI3616远方显示器，HI4413 RS232光纤MODEM，三脚架持有证书CE美国HOLADAY公司提供从5赫兹到400千赫兹的低频电场磁场检测仪。所有产品均可配全向或单轴探头，响应迅速，显示真有效值。HI3600系列被广泛的应用于检测多种场合的电磁场强度，如电脑显示器，视频显示终端，输电线和有电设备，工业热处理设备，家用设备等。HI3603/HI3604电磁场强度测试仪 具有电磁场两用探头（单轴），数字显示，图表显示，数据记录，磁场单位可选择（高斯，特斯拉，安培/米）和波形输出功能。可选光隔离远程输出/控制或RS232光调制解调器用于远方显示或数据收集。标准配置有绝缘手柄电池，使用手册和便携箱。HI3603 ： 专用于检测计算机和电视显示器产生的电磁场检测方法遵循美国国家标准电场测量范围： 2-300 kHz，1-2000V/m 磁场测量范围： 8-300kHz，1-2000mA/mHI3604 ：专用于检测50/60Hz电线，有电设备和设施，视频显示终端等周围的电磁场，是电力环境安全防护检测的有效工具。频率范围：30-2000Hz 电场测量范围：1 V/m –200 kV/m磁场测量范围：0.2mG-20 gauss HI3624（A） ELF/工频磁场强度测试仪 配置单轴磁场探头，价格低廉，响应频率宽低频率补偿可选择为5 Hz或者30 Hz响应频率上限为2000 Hz自动量程0.2-20 gauss操作更方便远程探头可用来查找磁场源3624频响范围30---2000HZ 3624A频响范围50---2000HZ HI-3627 ELF磁场强度测试仪 测量任何ELF磁场源所产生的磁场，包括单，多相电气电路，视频显示终端，家用电线，设施和输电线等。 响应频率范围5-2000 Hz磁场强度范围0.2mG-20 gauss全向探头，真有效值读数满足国际标准和瑞典测试标准 HI3637 VLF磁场强度测试仪 精确检测从视频显示终端到工业热处理设备等的磁场宽频率响应范围2-400 kHz测试范围6 nT-400μT，全向探头，真有效值显示满足国际标准和瑞典测试标准HI3638ELF/VLF电场强度测试仪 可测量ELF/VLF频率范围5Hz-400 kHz；MPR I和II电场强度探头接口和其他输出接口是光隔离的四量程自动选择，测量范围1-40,000伏/米

x射线定硫仪消耗品样品薄膜，迈拉膜，样品杯 Chemplex样品薄膜 型号：090，250 品牌：Chemplex 产地：美国 一、产品介绍： 在用X荧光光谱仪进行ROHS检测，WEEE检测和一般材料成分分析时，由于样品的不规则（特别是液体、粉末等），需要借助样品杯和薄膜辅助检测；但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的X射线信号和检测结果。 选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中，只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。 如何选择薄膜样本支撑窗材料？ 适当的薄膜样本支撑窗的选择主要以满足首要重要的实验室要求为基础： 使用方便快捷； 避免造成待测样品污染； 优越的分析物透射比与强度； 对待测样品的耐化学性。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的全球知名厂商。 Chemplex XRF样品杯和样品薄膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品薄膜薄膜张力特性佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注，使得Chemplex XRF样本杯、样品薄膜在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国商标局授予知识产权地位。 美同达为美国Chemplex公司的中国代理商，提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪（XRF）的检测实验消耗产品！ 我们不仅能够为您提供样品薄膜、样品杯, 还可根据您的样品应用为您选择、定制合适的样品薄膜、样品杯。 二、适用仪器： 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克 Bruker、美国赛默飞世尔科技（热电）Thermo，瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma，Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 （适用X 射线荧光光谱仪品牌型号：所有X射线荧光光谱仪包括：尼通(NITON)：Xlt797z 、Xlt794、Xlt898 ；伊诺斯(Innov-X)：AlPHA6000；牛津(Oxford)：Met-5000；帕纳科(Panalytical)：Minipal4、 Minipal2；精工(Seiko)：SEA1000A；斯派克（Spectro）：XEPOS、MIDEX M；热电(Thermo)：ARL Quant’X；日本电子（JEOL）JSX－3400R；Horriba等。） 三、SPECTROMEMBRANE?样品薄膜 随着SpectroMembrane?样本支撑托架的面世，在处理薄膜时用户不再需要担心静电附着或潜在的污染风险或吸引空中颗粒等问题。除样本杯外，薄膜不再近距离接触其它任何物体。薄膜处理将通过使用集成的托框完成，托框能够在组装过程中自动分离，留下绷紧的薄膜样本平面。 SpectroMembrane?薄膜样本支撑托架由一块粘在托架上作为支撑物的薄膜样本支撑物质组成。在把薄膜物质粘在XRF样本杯上时，薄膜物质并不会被直接处理，这就消除了污染的可能性。接近完成或在完成附着时，薄膜将自动从托架上分离，留下绷紧的无皱样本支撑窗。 x射线定硫仪消耗品样品薄膜，迈拉膜，样品杯 106麦拉膜、CAT.NO：150麦拉膜、CAT.NO：250麦拉膜、CAT.NO：256麦拉膜、CAT.NO：257麦拉膜、CAT.NO：416、CAT.NO：426等Cat. No. Type Thickness Format Size Qty/Pack446-5 Kapton? 7.5 μm (0.3mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 50090 Ultra-Polyester? 1.5μm (0.06mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)95 Etnom? 1.5μm (0.06mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)100 Mylar? 2.5μm (0.1mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)100-PP Mylar? 2.5μm (0.1mil) Roll - PrePerf 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)106 Mylar? 2.5μm (0.1mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 500107 Mylar? 2.5μm (0.1mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 1000150 Mylar? 3.6μm (0.14mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)150-PP Mylar? 3.6μm (0.14mil) Roll - PrePerf 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)156 Mylar? 3.6μm (0.14mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 500157 Mylar? 3.6μm (0.14mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 1000250 Mylar? 6.0μm (0.24mil) Roll 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)250-PP Mylar? 6.0μm (0.24mil) Roll - PrePerf 3.0" (76.2mm) 300' (91.4m)256 Mylar? 6.0μm (0.24mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 500257 Mylar? 6.0μm (0.24mil) Precut Circles 2.5" (63.5mm) 1000美国Chemplex工业公司自1971年成立以来，一直坚持专注于X射线光谱分析的样品制备领域，拥有多系列独有的特色产品线以及产权，以质量和全面的X射线的样品制备产品线享誉全球。美国Chemplex公司一直以产品创新、质量保证、、服务周到、准时交货为原则，几乎所有的产品有库存。美同达代理美国Chemplex工业公司旗下系列产品：XRF样品杯、XRF样品膜、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、符合ROHS方法的PE/PVC高分子聚合物（块/粉）、XRF/XRD化学试剂盒套包装等。全线供应给各大中石油、中石化、中海油旗下研发质检实验室，是一家专业的油品实验室进口配件耗材打包供应专家！

全自动闭杯闪点测试仪配件是全球领先的自动闭口闪点分析仪或闭口闪点测定仪，精确测量喷气燃料，溶剂，化学品的闪点数据，温度范围覆盖室温+5至300°C（环境温度+9至572°F）。全自动闭杯闪点测试仪配件功能 具有用户友好型的界面，通过相关的菜单轻松控制分析仪。我们的容错工具准确地决定了的样品的蒸气可能会闪烁的温度，而且还检测样品产生易燃蒸气的能力，即当样品保持在一个平衡温度下运行闪光或无闪光模式时产生易燃蒸气的能力。满足全球绝大多数测量标准：ASTM D3278 D3828 D7236 E502 IP523 IP524 IP534 ISO3679 ISO3680 BS3900 部件13 BS6664部件3＆4 UN级别3 非粘性易燃液体 CHIPS规定 EPA1020 A＆B在这些应用中使用的方法。多次测量可重复性！使用用户定义设置，控制方便！小型样本！ 对喷气燃料，溶剂，化学品等进行闪点检测，广泛应用于非常需要闪点检测的工业和科学领域。软件精巧，使用方便。为了闪点测试快速、便捷进行而专门设计的，得益于其独特的结构，操作人员非常安全。MFPA-015分析仪配备有过热保护系统和集成灭火系统，这两个系统可自动控制或手动释放。在一个固体箱内，一种多探测器与闪点检测器和温度探针相结合，浸入深度调整得正好。 MFPA-015可以风冷（提供内置风扇）或液体冷却（使用自来水或循环冷却器） 自动闭口闪点测试仪配件操作便捷 ? 通过预先安装的标准测试方法启动测试和通过许多用户定义的程序，制定方法的能力 ? 通过易于开启和推动操作的飞梭系统，和每个操作模式都有颜色编码的LED指示，进行菜单导航 ? 7种颜色图形显示屏显示实时测量自动闭口闪点测试仪配件自定义用户灵活性 ? PC软件FPP网（选配），方便远距离操作和测试数据存储 ? 不锈钢或小量样品杯（可选） ?不锈钢样品温度探头Pt 100（可选） ? 条码扫描仪或键盘（可选）全自动闭杯闪点测试仪配件规格 温度范围 环境温度+5 至 300°C (环境温度 +9 至572°F) 样本大小 2 或 4ml 根据方法 点火器 电热丝（可选气体火焰） 测试模式 快速平衡和倾斜 测试持续时间快速平衡模式 1 分钟 低于 100°C,，2 分钟 高于 100°C 测试持续时间倾斜 一般 6 分钟 冷却时间 N/A 样品杯材料 铝 加热和制冷方法 加热元件，强迫风冷使用Peltier元件冷却） 计算机界面 USB 2和局域网选项 气体供应 50毫巴的丁烷或丙烷 电源 500W (最大) 电压 115V/230 , 50Hz/60Hz 尺寸大小 300mm x 430mm x 268mm 重量 9 kg

FLIR IM75具有数字万用表和METERLINK® 功能的绝缘测试仪FLIR IM75是一款先进的多功能数字万用表，也是一款一流的手持式绝缘测试仪，适用于从事安装、故障检修和日常维护的专业人士。IM75包含多种专业的绝缘测试模式，如：极化指数、介质吸收比和接地电阻。绝缘测试包括瞬时检测、连续检测和限定时间段检测，便于用户获得深入透彻的评估效果。这款仪表采用METERLiNK® 技术和蓝牙® 技术，通过前者可以将电气测量值嵌入FLIR红外热像仪捕获的热图像中；通过后者可远程查看实时读数。集绝缘测试和电气测试功能于一体的工具具有数字万用表功能的绝缘测试仪一款集多种功能于一体的工具，具有各种等级绝缘测试所需的多个电阻量程，且拥有无线功能。 真有效值测量，性能可靠具备高级绝缘测试所需的特性，包括真有效值测量（1000V量程）、变频测量模式和3种绝缘测试模式。高效的照明和坚固耐用的设计配备明亮的LED照明灯（用于照亮测试区域和测试目标）和彩色LED显示屏，采用坚固耐用的双层模塑结构。

休止角测定仪Aode-309 休止角安息角测试仪简介 Aode-309休止角测定仪是丹东奥德仪器有限公司研发生产的通过测试粉安息角来判定粉末流动性的一款仪器，仪器的设计符合国家标准GB/T 21060-2007国际标准 ISO 4324 标准。仪器可以连接到电脑上，测量数据可上传至电脑的软件中，软件可以计算出粉末堆的休止角并根据测试结果给出流动性的指数和流动性评价，避免了人工测量和计算产生的误差。同时配有搅拌杆对流动性不好的粉末加以辅助流动，使流动性差的粉末也能参与检测。休止角测试仪特点：仪器配有软件可以自动计算出粉堆的休止角，测试所有数据由软件自动计算完成，自动生成报告，并根据休止角给出流动性评价。测试数据可保存打印，以备日后处理和查找。操作简单方便、测量速度快、直观。仪器主体由304不锈钢制成，便于清洗，永不上锈简单快速地自动测定休止角，通过休止角自动判定粉体的流动性仪器配有搅拌扒，可以帮助流动性不好的粉末测试 休止角测试仪技术参数：电源： 5v尺寸： 280*280*600重量： 8kg 漏斗容积：520ml漏斗出口尺寸：4 6 8 10 13 15 18 20毫米多种可选材质：由304不锈钢和铝合金构成休止角测试说明:在自然环境中将粉末倾倒在平面时，会形成一个堆积的圆锥体，圆锥体的底角我们通常称作休止角或安息角，圆锥体的高度和底角的大小与粉末颗粒的形状、大小、粘附性、静电、密度、等有着高度的关联，所以能够精确的测量出粉末圆锥的高度计算出休止角有着重要的意义。它决定了粉末样品的重要物理性质信息。应用场合适合非金属粉末颗粒测试适合在投产前测试出存在问题的样品适合制药、塑料颗粒、工业、制模等。

1．信号稳定，测试误差小。2．可适用高带宽阻抗测试仪阻抗条测试，损耗较小。适用于多种阻抗测试仪

迈拉膜、麦拉膜、XRF样品膜、EDX样品膜、X-ray样品膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、美国Chemplex样品膜-100# 品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT.NO：100产品信息：Mylar膜(迈拉膜、麦拉膜），卷轴，厚度2.5 μm，宽7.62cm x 长91.4m，1卷/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 一、简介美国Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是X射线光谱仪（XRF）配件耗材领域的全球知名厂商。Chemplex XRF样品杯和样品膜用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。Chemplex样品膜薄膜张力特性极佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。Chemplex的许多XRF样品杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国**商标局授予知识产权地位。 美国Chemplex样品膜被广泛应用于XRF样品制备、检测过程，适用于各类X-ray光谱仪（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。 X-ray Film能用于固体、液体、粉末、颗粒、土壤等样品XRF检测，适用于RoHS&WEEE检测、油品成份分析、金属成份分析等。 二、适用于各种品牌X荧光光谱仪XRF：日本岛津shimadzu、牛津仪器Oxford、斯派克Spectro、布鲁克Bruker、日本精工SII、日本电子JEOL、日本理学Rigaku、日本堀场Horiba、热电Thermo、帕纳科Panalytical、尼通Niton、伊诺斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。 三、XRF样品膜目录：目录编号CAT. NO 薄膜材料 厚度 长度（直径） 数量/盒 Rolls连续卷轴，宽7.6cm x长91.4 m： 100 Mylar® 迈拉 2.5 μ 0.00010” 0.10 mil 0.00254mm 7.6cm x91.4 m 1卷

JHMK多点残余应力测试仪器JHMK多点残余应力测试仪器是由JHYC静态应变仪和JHZK精密钻孔装置共同构成的盲孔法残余应力测量系统，在软件进行设置后，自动实时计算残余应力，并实时显示和保存应力应变数值，使测量直观明了，精度高。JHMK多点残余应力测试仪器应用范围1.适于各种金属和非金属材料的盲孔法残余应力多点测量。2.对零件的形状大小和表面没有特殊要求，对零件有轻微的破坏。3.适合科研和要求较高的现场测量。JHYC静态应变仪功能特点1.测量能力：各种材料的应力应变、盲孔、环芯、切割法残余应力测试。2.接入不同的传感器，可对力、荷重、压力、扭矩、位移、电压、电流等进行采集。3.可满足教学、工程技术和科研的需求，仪器检定指标达到0.1级。4.仪器具有桥路、长导线、公共，软件多种补偿方式，稳定性好。5.适合各种应变花，设置简单方便，并自动保存设置参数。6.硬件全量程自动平衡，不损失测量范围，程控调零。7.自动实时计算、记录残余应力释放曲线，并生成残余应力报告；8.测量过程中可在被测材料上钻孔、电焊、等离子切割等。现场抗干扰能力强。如果想要咨询更多信息，可搜南京聚航网查看详情，电联聚航。