薄膜物理分析仪

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薄膜物理分析仪相关的厂商

  • 济南日高分析仪器有限公司-销售部
    济南日高分析仪器有限公司坐落于美丽的泉城济南市，是一家专业做实验仪器的高科技仪器检测设备公司。本公司的主要研究方向为对各种包装材料进行检测，提供质量控制的整体解决方案。 公司重点生产销售的产品有初粘性测试仪，持粘性测试仪，环形初粘性测试仪，恒温持粘性测试仪，密封性测试仪，智能密封测试仪，撕裂度仪，提袋疲劳试验机，扭捻角测试仪，紫外分析仪，测厚仪，瓶盖扭力仪，热封仪，垂直轴偏差测试仪，电子剥离机，电子拉力机，标准压辊，压辊试验机，圆盘剥离试验机，薄膜摆锤冲击仪，智能摆锤冲击仪，摩擦系数仪，摩擦试验机，落标冲击试验仪，顶空分析仪，电子压缩仪，施胶度套装，泄露与密封强度测试仪，耐内压力测试仪，水蒸气透过率测试仪，药用铝箔取样器,纸张柔软度测试仪，纸张平滑度测试仪，杯身挺度测试仪，纸箱抗压机等。济南日高分析仪器有限公司 陈美如 0351-67813036 15666775359
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  • 广州市普同实验分析仪器有限公司销售部
    广州市普同实验分析仪器有限公司坐落在美丽花城——广州，于二零零九年由华南理工大学聚合物新型成型装备国家工程研究中心、香港大同机械有限公司、广州市精塑机械设备有限公司三方投资成立。广州普同是从事高分子材料实验分析仪器制造与研发的企业，产品涵盖高分子材料流变性能测试分析仪器与橡塑材料加工成型实验设备。广州普同在此领域有雄厚技术积累。依托华南理工大学聚合物新型成型装备国家工程研究中心瞿金平院士基础科研团队的理论支持，广州普同研发出具有自身特色的高分子材料动态流变仪、色母分散性综合测试仪、小型精密功能薄膜加工成型实验设备、小型精密多螺杆混炼挤出实验设备、小型精密橡胶加工成型实验设备、小型精密塑料加工成型实验设备等六大类实验设备，近百种产品，基本满足高分子材料实验室设备需求。广州普同矢志成为专业的高分子材料实验分析仪器制造商。广州普同的制造理念向德国同类公司看齐，产品质量向德国公司同类产品看齐，追求卓越，注重细节，为用户提供完美的实验室设备。广州普同坚持长远经营目标，与客户形成互利互惠合作关系，为客户提供最佳技术，为客户提供最好产品，为客户提供最优售前售后服务。高分子材料是微电子产品、可再生能源产品、功能薄膜产品的基础。高分子材料发展迅猛，加工成型机理日新月异，现成的高分子材料加工成型设备远不能适应其要求。广州普同结合高分子材料加工成型理论和工程经验，具备为客户提供特殊加工成型装备的能力，为客户量身定制各种非标准的实验室设备。您的满意就是我们的追求！广州普同秉承“专业专注、精益求精”的企业精神，用最好的产品，为客户提供最好的服务
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  • 工业物理 金牌6年
    400-860-5168转4273
    工业物理（Industrial Physics）是专业的测试、测量及检测设备制造商。产品主要用于测量和分析材料的物理性能，广泛应用于食品饮料、制药与医疗设备、电子产品、汽车、航空航天、纸张与包装、塑料与聚合物、建筑与土木工程、油漆与涂料、粘合剂、薄膜及软包装等多个行业领域。我们的品牌在超过75个国家设有销售网点，帮助客户达到监管机构、消费者和制造商要求的不断提高的测试和质量标准，帮助世界各地的公司保护其品牌完整性。工业物理中国成立于2015年，整合了希仕代仪器贸易（上海）有限公司、广州坤科精密仪器有限公司 及 采延贸易（上海）有限公司，为工业物理在大中华地区的全资子公司，负责工业物理旗下所有品牌在大中国区的业务。工业物理中国位于上海市浦东新区盛荣路88弄1号楼803室，设有会客厅及专业测试设备实验室，欢迎您随时到访参观交流。
    主营产品： 氧分析仪   气调保鲜   盐雾试验箱  
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薄膜物理分析仪相关的仪器

  • 薄膜分析仪 400-860-5168转1516
    PHI 4700薄膜分析仪产品介绍产品名称：薄膜分析仪产品型号：PHI 4700品 牌：日本ULVAC-PHI产 地：日本前言在开发新材料及薄膜制程上，为了有助于了解材料组成间的相互作用及解决制程上的问题，材料组成或薄膜迭层的深度分析是非常重要的。PHI 4700使用了AES分析技术为基础，搭配高感度半球型能量分析器、10 kV LaB6扫瞄式电子枪、5 kV浮动柱状式Ar离子枪及高精密度自动样品座。针对例行性的俄歇纵深分析、微区域的故障分析，提供了全自动与及高经济效益的解决方法。PHI 4700是建基于Ulvac-Phi公司的高性能PHI 700Xi俄歇扫描纳米探针。它提供了高度自动化，成本效益的方案进行例行俄歇深度分析和微米范围的故障分析。 PHI 4700可以轻易的配备上互联网的设备，以供远程操作或监控之用。优点量化薄膜的成分 层的厚度测量检测相互扩散层 微米范围多点分析基本规格全自动多样品纵深分析: PHI 4700薄膜分析仪在微小区域之纵深分析拥有绝佳的经济效益，可在SEM上特定微米等级之微小区域快速进行深度分析。图2显示长年使用的移动电话镀金电极正常与变色两个样品之纵深分析结果，两者材质皆为镀金之锡磷合金。从电极二（变色电极）可看到金属锡扩散到镀金膜上，因为界面的腐蚀而产生氧及锡导致电极变色。高感度半球型能量分析器：PHI 4700半球形能量分析器和高传输输入镜头可提供最高的灵敏度和大幅缩短样品侦测时间。除此之外，具有全自动的量测功能，此装置可在短时间内测量多个样品。点选屏幕上软件所显示的样品座，可以记录欲量测的位置，对产品与制程管理上之数据搜集可进行个别分析。10 kV LaB6扫瞄式电子枪：PHI的06-220电子枪是基于一个以LaB6为电子源灯丝以提供稳定且长寿命电子枪的工具，主要在氩气溅射薄膜时进行深度分析。06-220电子枪还可以：产生二次电子成像，俄歇测绘和多点分析。在加速电压调节从0.2至10千伏。电子束的最小尺寸可保证小于80纳米。浮动柱状式Ar离子枪：PHI的FIG- 5B浮动柱状式Ar离子枪:提供离子由5伏到5千伏。大电流高能量离子束被用于厚膜，低能量离子束（250-500 V）用于超薄膜。浮动柱状式，确保高蚀刻率与低加速电压。物理弯曲柱会停止高能量的中性原子，从而改善了接口定义和减少对邻近地区的溅射。五轴电动样品台和Zalar方位旋转：PHI 15-680精密样品台提供5轴样品传送：X，Y，Z，旋转和倾斜。所有轴都设有摩打及软件控制，以方便就多个样品进行的自动纵深分析。样品台提供Zalar（方位角）旋转的纵深剖析，透过减少构件与溅射在一个固定样本的位置，以优化纵深分析。PHI SmartSoft用户界面：PHI SmartSoft是一个被认同为方便用者使用的操作仪器软件。软件透过任务导向和卷标横跨顶部的显示指导用户从输入样品，定义分析点，并设定分析。多个分析点的定义和最理想样品的定位是由一个强大的&ldquo 自动Z轴定位&rdquo 功能所提供。在广泛使用的软件设置，可让新手能够快速，方便地设立测量及其模板。可选用配备热/冷样品座样品真空传送付仪（Sample Transfer vessel）应用领域半导体薄膜产业微电子封装产业无机光电产业微摩擦学
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    厂商： 理化（香港）有限公司
    品牌： 未知
    型号： PHI 4700
    价格： 面议
  • 德国林赛斯 薄膜物性分析仪（导热、赛贝克、霍尔̷̷） 400-801-5339
    物理特性薄膜表征系统，高度集成且易于使用的测量平台。 薄膜的物理性质不同于大块材料，因为由于尺寸较小和高纵横比使寄生表面效应更强！ 增强表面散射的影响（a）附加边界散射（b）超薄层的量子约束（c） LINSEIS薄膜物性分析仪是表征各种薄膜样品优异测量工具。它是一种易于使用的独立系统，使用正在申请专利的测量系统设计，可提供高质量的结果。 组件 基本设置包括一个可以轻松沉积样品的测量芯片，以及提供所需环境条件的测量室。 根据应用，该设置可与锁定放大器和/或强电磁铁一起使用。 测量通常在UHV下进行，并且在测量期间使用LN2和强力加热器将样品温度控制在-170°C和280°C之间。 预制测量芯片 该芯片将用于热导率测量的3 ω技术与用于测量电阻率和霍尔系数的4点Van-der-Pauw技术相结合。 赛贝克系数可以使用位于Van-der-Pauw电极附近的附加电阻温度计来测量。 为了便于样品制备，可以使用剥离箔掩模或金属阴影掩模。 该配置允许几乎同时表征通过PVD（例如热蒸发，溅射，MBE），CVD（例如ALD），旋涂，滴铸或喷墨打印制备的样品。 该系统的一大优点是在一次测量运行中同时确定各种物理特性。所有测量都采用相同（平面内）方向，并且具有很高的可比性。 基本测量单元 ： 测量室，真空泵，带加热器的支架，电子颊侧装置，集成锁相放大器，3w方法分析软件，计算机和应用软件。可测以下物理参数： • λ - 热传导系数 (稳态法/平面内方向) • ρ - 电阻率 • σ - 电导率 • S - 赛贝克系数 • ε – 发射率 • Cp - 比热容 磁测量单元 可根据需求选择集成式电磁铁，可测物理参数如下： • AH - 霍尔常数 • μ –迁移率 • n -载流子浓度 薄膜材料性能有别于块体材料之处 - 因小尺寸和高纵横比所导致的表面效应如：边界散射和量子限域效应 *价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请拨打电话咨询（021-50550642；010-62237791）。我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。
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    厂商： 德国林赛斯热分析
    品牌： 德国林赛斯/LINSEIS
    型号： TFA
    价格： 150万 - 200万元
  • 泡压法薄膜孔径分析仪 400-803-5339
    产品简介：BSD-PB泡压法薄膜孔径分析仪，可准确测试滤膜、隔膜、织物、纤维、陶瓷、烧结金属等材料的通孔的最大孔径、最小孔径、平均孔径、孔径分布及渗透率，适用于研发、生产过滤材料及相关的科研单位和企业用户。BSD-PB泡压法薄膜孔径分析仪产品特点： 孔径测试范围：0.02-500um；多样品池设计针对不同尺寸样品，特殊样品可单独设计；具有全自动真空助润装置，可大大加速浸润时间，提高测试效率50%以上；根据待测样品不同，多种浸润液体可选；高精度双流量传感器，流量分段测量，量程互补，自动切换；高精度双压力传感器，分段压力测试，程序自动判断，自动切换；全不锈钢管路，金属硬密封，密封性好，耐压高，耐腐蚀；全程自动化智能化运行，无需人工值守，亲和的真人语音操作提示；详尽的仪器运行日志显示与记录，可精确到秒，全程实验记录可追溯；多项专利技术保障仪器稳定性和准确性； 气体流动法薄膜孔径分析仪测试理论： 以某种膜材料为例，将膜用可与其浸润的液体充分润湿，由于表面张力的存在，浸润液将被 束缚在膜的孔隙内；给膜的一侧加以逐渐增大的气体压强，当气体压强达到大于某孔径内浸润液的表面张力产生的压强时，该孔径中的浸润液将被气体推出；由于孔径越小，表面张力产生的压强越高，所以要推出其中的浸润液所需施加的气体压强也越高；同样，可知，孔径最大的孔内的浸润液将首先会被推出，使气体透过，然后随着压力的升高，孔径由大到小，孔中的浸润液依次被推出，使气体透过，直至全部的孔被打开，达到与干膜相同的透过率； 首先被打开的孔所对应的压力，为泡点压力，该压力所对应的孔径为最大孔径； 在此过程中，实时记录压力和流量，得到压力-流量曲线；压力反应孔径大小的信息，流量反应某种孔径的孔的多少的信息；然后再测试出干膜的压力-流量曲线，可根据相应的公式计算得到该膜样品的最大孔径、平均孔径、最小孔径以及孔径分布、透过率。气体流动法薄膜孔径分析仪专业制造商贝士德,测试精度高,重复性好,气体流动法薄膜孔径分析仪提供专业的售前技术支持和优质的售后服务.
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    厂商： 贝士德仪器科技（北京）有限公司
    品牌： 贝士德仪器/Beishide Instrument
    型号： BSD-PBx
    价格： 10万 - 30万元
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薄膜物理分析仪相关的资讯

  • 290万！东北师范大学高分辨X射线薄膜分析仪采购项目
    1.项目编号：ZZ23632HW04310136。2.项目名称：东北师范大学物理学院高分辨X射线薄膜分析仪（进口）设备采购。3. 采购方式：公开招标。4.预算金额：39.7万欧元（人民币限额290万元）。5.采购需求：高分辨X射线薄膜分析仪；数量：1套（详见招标文件“第五章 项目需求”）。6.合同履行期限（供货期）：合同签订之日起8个月内完成交付、安装及调试。7.本项目不接受联合体投标。公开招标（进口货物）-东北师范大学物理学院高分辨X射线薄膜分析仪（进口）设备采购11.13.pdf
    时间： 2022-11-14
    作者： dahua1981
  • 普发特发布薄膜相变分析仪PTM1700型新品
    薄膜相变分析仪是一款对相变材料相变特性进行测量与分析的精密光电仪器，可通过自动测量分析薄膜或者粉体等相变材料的热滞回线、相变温度、热滞宽度、相变幅度等特性参数。先进的模块化设计理念、精密的光探针技术、高端的进口芯片、便捷的自动测试分析软件、以及时尚的外观，使该仪器成为二氧化钒等相变材料研究的不二选择。中国科学院广州能源研究所，深圳大学等单位为典型用户。薄膜相变分析仪技术特点：1、精密光学测量技术，可进行单层、多层和超小样品的测量,且灵敏度更高2、非接触式信号采集，避免了接触式探针测量对样品的损伤和不稳定性缺点3、先进的光探针技术，使得采样范围最小直径可达300微米4、全自动一-键测量，操作简单，省时、省事5、超高采样速率1测量快速、准确，工作效率高6、触摸屏操作与电脑操作两种模式,测量随心所欲7、升温速率无级可调，根据实际需求任意选择8、与DSC测量相比，具有超高性价比9、科研型与基础型，满足不同需求技术规格1、仪器型号PTM17002、工作波长1550nm (特殊需要波长可定制)3、样品台温度范围:室温~120°C，温度精度+0.1°C4、采样频率1Hz5、最小采样范围直径300um6、红外非接触测温模式7、自然冷却与风冷两种降温模式8、加热速率无级可调9、设定参数后自动测量出薄膜相变的热滞回线10、USB2.0高速数据接口11、测试分析软件可得到相变温度、热滞宽度等特性参数12.可以Exce形式导出各原始测试数据和分析数据，以word形式导出测试分析报告创新点：全自动薄膜相变分析仪是一款对相变材料相变特性进行测量与分析的精密光电仪器，可通过自动测量分析薄膜或者粉体等相变材料的热滞回线、相变温度、热滞宽度、相变幅度等特性参数。先进的模块化设计理念、精密的光探针技术、高端的进口芯片、便捷的自动测试分析软件、以及时尚的外观，使该仪器成为二氧化钒等相变材料研究的不二选择。中国科学院广州能源研究所，深圳大学等单位为典型用户。薄膜相变分析仪PTM1700型
    时间： 2020-10-10
    作者： 新品发布
  • 物理所铜锌锡硫硒薄膜太阳能电池研究取得进展
    铜锌锡硫硒太阳能电池（CZTSSe）是一种新型薄膜太阳能电池，因吸光系数高、弱光响应好、稳定性高、组成元素储量丰富、环境友好且价格低廉而颇具发展潜力，从而备受关注。中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家研究中心孟庆波团队多年来在该类薄膜太阳能电池方面开展了系统研究，在高质量铜锌锡硫硒薄膜制备、界面调控、器件载流子动力学分析和电池效率提升等方面取得了系列研究成果。例如，基于二甲亚砜（DMSO）体系，发展了一种可以同时调控背界面和吸收层体相缺陷的Ge掺杂策略，所制备的CZTSSe电池认证效率为12.8%；在界面研究方面，引入有机电子传输层（PCBM）增强电荷抽取与传输，实现了12.9%的电池效率；在溶剂工程方面，发展了一种环境友好的水溶液体系，探索了小分子配体与金属离子相互作用对前驱膜、硒化膜晶体生长、薄膜微结构及器件性能的影响，获得了12.8%的电池认证效率。该团队已在CZTSSe电池材料及器件方面申请国家发明及实用新型专利13项。　　近日，该团队与南京邮电大学教授辛颢合作，从硒化动力学角度出发，通过调节腔室压强来改变半封闭石墨盒中的硒化反应速率，进而调节铜锌锡硫硒薄膜的相演变过程。增加腔室压强后，研究通过原位实时硒分压监测发现，在硒化早期，硒分压被抑制，从而降低了硒化升温阶段（200-400 ℃）中前驱膜与气态硒蒸汽的碰撞几率；同时，正压条件下硒化能够抑制元素的非均匀扩散。在以上两点共同影响下，相演变过程在相对更高的温度下开始（＞400 ℃），前驱膜表面经常出现的CuxSe、Cu2SnSe3等中间相被抑制，因此，实际相演变过程一步完成。由此获得的银替位CZTSSe（ACZTSSe）吸收层晶体质量高、内部孔洞少、表面缺陷浓度显著降低。所制备电池体相缺陷浓度降低了约一个数量级，电学性能也得到明显改善，并实现了全面积14.1%效率（认证全面积13.8%）的太阳能电池，是目前报道的最高效率。这一工作为进一步理解和调控铜锌锡硫硒相演变过程提供了动力学调控思路，并为其他类型多晶薄膜生长制备提供借鉴意义。　　相关研究成果以Control of the Phase Evolution of Kesterite by Tuning of the Selenium Partial Pressure for Solar Cells with 13.8% Certified Efficiency为题，发表在《自然-能源》（Nature Energy，DOI：10.1038/s41560-023-01251-6）上。研究工作得到国家自然科学基金的支持。图1.（a）铜锌锡硫硒的相演变路径示意图；（b）原位监测获得的不同腔压下反应过程中的硒分压曲线；（c）铜锌锡硫硒太阳能电池认证报告（国家光伏产业计量测试中心）。图2.（a）对比组吸收层的SEM正面和截面图像；（b）实验组吸收层的SEM正面和截面图像；（c）对比组吸收层的能带结构；（d）实验组吸收层的能带结构。
    时间： 2023-05-05
    作者： 情绪波动
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薄膜物理分析仪相关的方案

  • 采用LAMBDA 950/1050 紫外/可见/近红外分光光度计与自动反射/透射分析仪（ARTA）附件的光学薄膜的全谱角分辨反射和透射
    我们通过配有自动反射/透射分析仪附件的LAMBDA 950分光光度计评估了3M® 可见镜膜在新型曲面光伏模块领域的潜在应用。在应用过程中，3M® 薄膜必须将可见光反射至模块焦点（在焦点处，可见光将被吸收，如用于驱动加热电机的的热吸收器），并同时将近红外光传送至底层的硅太阳能电池（在硅太阳能电池内，红外光将被直接转化成电能）。通过自动反射/透射分析仪进行的角分辨反射和透射测量显示：当入射角小于等于50° 时，3M® 自支撑薄膜是s-偏振光和p-偏振光的有效光学薄膜。当薄膜与所述模块曲面玻璃胶合时，为了保持薄膜效能，应将薄膜紧密贴合于玻璃之上（不得起皱）。利用带探测器的狭窄光阑自动反射/透射分析仪进行的测量能够表明所评估的胶合程序在多大程度上能产生预期结果。我们目前正在利用自动反射/透射分析仪生产的光谱预估在焦点采用热接收器的曲面模块的发电站的年度发电量，评估过程考虑到了太阳日常运动和年度运动，以及模块上入射角的相关变化。我们也在寻求能够反射可见光和红外线的光学滤光器（同时还可以透射近红外线），并使用积分球和自动反射/透射分析仪研究光学滤光器的性能。
  • 泰林生物：薄膜—电导率法总有机碳分析仪测量结果不确定度的评定
    摘要 目的：建立薄膜—电导率法总有机碳分析仪测量结果不确定度的评定方法。方法：分析了测量过程中不确定度的主要来源，即工作曲线的不确定度、测量仪器读数分辨率导致的不确定度、测量不重复性引起的不确定度、标准溶液引起的不确定度等，分别量化后合成标准不确定度，得到总有机碳测量的扩展不确定度。结果：通过对HTY-2500总有机碳分析仪在2000μg• L-1测量点测量结果不确定度的评定，其扩展不确定度为U95 = 49（μg• L-1）（k=2）。结论：本方法所建立的测量结果不确定度评定方法准确、可靠，可为薄膜-电导率法总有机碳分析仪的测量结果不确定度评定提供较为准确简便的方法。关键词：总有机碳；测量不确定度；薄膜—电导率法中图分类号：R917 文献标识码：A 文章编号：0254-1793（2008）12-0-0Evaluation of Measurement Uncertainty for the Total Organic Carbon Analyzer with Membrane Conductmetric Detection Technology YAN Xiang-qing1，WU Xu-mei2(1.Zhejiang Province Institute of Metrology, Hangzhou, 310013, China 2. Hangzhou Tailin Bioengineering Equipments Co. LTD, Hangzhou, 310052, China)Abstract: Purpose: The article set up an evaluation method of measurement uncertainty for the total organic carbon analyzer with membrane conductmetric detection technology. Method: The article analyzed the main resources of the uncertainty of the measurement, which include uncertainty of the working curve, uncertainty of the resolution ratio of the instrument, uncertainty of measure unrepeatability, uncertainty of standard solution, etc. It quantified these uncertainties respectively and composed them to a standard uncertainty. Finally it got the expanded uncertainty of the total organic carbon measurement. Result: It evaluated the measurement uncertainty of the total organic carbon analyzer at 2000μg• L-1 and got the expanded uncertainty which is U95 = 49（μg• L-1）（k=2）. Conclusion: The evaluation method of measurement uncertainty set up by the article is accurate, reliable, and it can offer comparatively exact and convenient method for measurement uncertainty evaluation of the total organic carbon analyzer with membrane conductmetric detection technology. Key words: total organic carbon uncertainty of a measurement membrane-conductometric detection technology
  • 蒸煮袋用复合薄膜工艺分析及检测重点
    随着产品物类的极大丰富，塑料包装业日益兴盛，不同种类的塑料薄膜在物理化学性能方面各具优势。在满足当前多样化的产品包装需求层面，往往通过复合叠加的方式把性能迥异的两种或多种塑料薄膜组合在一起，以克服单材料性能缺陷，发挥集合优势，获得更为全面的包装效果，复合薄膜应运而生。
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  • 《薄膜物理》

    薄膜物理[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=15937]薄膜物理[/url]

  • 薄膜综合物性分析仪（导热，赛贝克，电阻率，霍尔，迁移率

    薄膜综合物性分析仪（导热，赛贝克，电阻率，霍尔，迁移率

    薄膜综合物性分析仪（导热系数，电导率，电阻率，赛贝克系数，霍尔系数，迁移率 载流子浓度 发射率）同步测量苏需要的热物性参数，消除样品的几何尺寸，样品物质组分和热分布不均的影响，结果非常具有可靠性。可测量30nm-30μm的涂层与薄膜样品，样品面积约25mm²采用芯片式设计，样品于传感器紧密接触，构成一个缩小的热带发导热测量模型，可配置锁相放大器，以适应3ω法对样品的in-plance和cross-plance导热进行测量。可以适应不同材质样品。无论是金属，陶瓷，半导体等无机薄膜还是有机薄膜，都可以用TFA测量模块化设计， 根据需求，添加测量模块。1：瞬态导热测量磨坏：锁相放大器 配置3ω测量单元，可测平面，交叉面导热系数，比热等2: 霍尔效应测量模块： 配置磁场单元，可测霍尔电压，迁移率，载流子浓度。3 低温附件模块：-150°-400°C 样品两侧均安装LN2管道， 有利于样品两侧温度控制。导热系数：稳态热带法，3ω法。电阻于霍尔系数：范德堡法赛贝克：静态直流法http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151255_581948_3060548_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151255_581949_3060548_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/01/201601151255_581950_3060548_3.png

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薄膜物理分析仪相关的耗材

  • 聚合物薄膜测厚仪配件
    聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度
    供应商： 孚光精仪（中国）有限公司
    品牌： 孚光精仪
    价格： 面议
  • Chemplex分析仪薄型xrf样品杯
    1850:SpectroSour® 分析仪薄型xrf样品杯，单开口端；1.69”（42.9 mm）直径x 0.77”（19.6 mm）高度，100/pk产品特征：单开口外带贮液器卡环式薄膜附件ThermoPlastic® 密封适用于 XOS "Sindie® " 系统以及酸分析系统Chemplex设计的“咬合环”和单元“珠缩进”几何结构负责这个低剖面样品杯形成拉紧的薄膜样品支撑面和防漏密封。封闭端集成了一个外部溢流储层，用于收集具有膨胀趋势的热敏性流体样品。低剖面Spectro硫® 分析仪样品杯易破裂的热塑性® 密封件提供了通向集成外部溢流储液罐的通风通道。对于拉紧的薄膜样品支撑窗平面，样品杯内部和样品室之间的压差相等。低剖面形状使一些高度有限的仪器样品架能够容纳。开口端：单开口外径：1.69”（42.9 mm）高度：0.77”（19.6 mm）孔径：1.41英寸（35.8毫米）容量（CC）：13
    供应商： 北京美同达科技有限公司
    品牌： chemplex
    价格： 面议
  • 有机物分析用固相萃取薄膜片 5010-30010
    产品信息：固相萃取薄膜片【固相萃取薄膜片是指】固相萃取薄膜片是将填充剂固定于纤维状的PTFE（特氟隆）中，制成厚0.5mm 的薄膜滤片的薄膜片型固相。其中约90％为填充剂，而剩下的10％则为PTFE纤维。固相中的溶液的流动保持均一，且与试剂的接触表面积也加大了，因此在短时间内流经大量试剂的情况下，也同样能够获得很高的回收率。特长* 可获得较高的萃取效率。由于粒径均等的填充剂被均一固定，因此，液体的流动是均一的，从而提高了萃取效率。* 即使1分钟内达到100mL以上的流速，还是能够进行固相萃取。（使用47mm 尺寸：1L检水的处理时间约为10 分钟）* 固相萃取薄膜片有着11种填充剂，2种尺寸（47mm、90mm）。* 其对于各种有机溶媒都是稳定的。【适应固相萃取薄膜片的应用】固相萃取薄膜片是作为日本国内的日本工业规格（JIS）、自来水试验法、环境省告示法下的固相萃取法而被采用的。其对海水、河水、废水、自来水等环境试样是有效的。是一种适合对二英、农药、PCB、环境激素、重金属、己烷萃取物实施分离精制的固相萃取薄膜片。订货信息：采用固相萃取薄膜片的公定法的例子公 定 法应 用使用固相萃取薄膜片JIS试验法JIS K0312 用水、排水中的二恶英分析固相萃取薄膜片C18 FFJIS K0128 用水、排水中的农药类分析固相萃取薄膜片SDB-XDJIS K0093 用水、排水中的PCB分析固相萃取薄膜片C18 FFJIS K0450-10-10 用水、排水中的双酚A固相萃取薄膜片SDB-XDJIS K0450-20-10 用水、排水中的烷基苯酚固相萃取薄膜片SDB-XDJIS K0450-30-10 用水、排水中的邻苯二甲酸酯类固相萃取薄膜片C18卫生试验法水中微囊藻的分析法固相萃取薄膜片SDB-XD自来水试验法2001年自来水中铀的测定（ICP发光）固相萃取薄膜片螯合物环境省告示法2004年环境省告示第123号《全锌》基准值的测定法固相萃取薄膜片螯合物有机物分析用固相萃取薄膜片种 类使 用 用 途直径（mm）枚／箱Cat.No.C18 FF用水、排水、自来水中二恶英、PCB 1L以下浓缩用47205010-30010C18 FF用水、排水、自来水中二恶英、PCB 5L以上浓缩用90105010-30011C18水中、大气一般分析用GC／MS分析 1L以下浓缩用47205010-30006C18水中、大气一般分析用GC／MS分析 5L以上浓缩用90105010-30008C8疏水性高的有机物GC／MS分析 1L以下浓缩用47205010-30002C8疏水性高的有机物GC／MS分析 5L以上浓缩用90105010-30003SDB-XC一般分析用HPLC分析 1L以下浓缩用47205010-30015SDB-XC一般分析用HPLC分析 2L以下浓缩用90105010-30016SDB-XD极性化合物、农药、HPLC分析用 日本专用模式47205010-30046SDB-RPS多酚等苯酚性化合物专用模式 1L以下47205010-30041SDB-RPS多酚等苯酚性化合物专用模式 5L以上90105010-30042Carbon大气捕集、乙酰甲胺磷、甲胺磷高极性47205010-30060
    供应商： 北京谱朋科技有限公司
    品牌： 岛津-GL
    价格： 面议
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