薄膜压力变送器

1.恒奥德仪器150 MPa平面膜压力变送器配件HAPTH703 膜片型压力传感器弹性体采用材质、膜片隔离工艺、测试头无引压孔，测量过程中不存在粘稠介质堵塞的情况，一体化结构设计，适用于化工涂料、油漆、泥浆、沥青、原油等粘稠介质的压力测量与控制。此类传感器通常也称为：平膜压力传感器、膜片型压力变送器、化工压力传感器、化工压力变送器、油漆压力传感器、油漆压力变送器、食品压力传感器、食品压力变送器、隔膜压力传感器、隔膜压力变送器、卫生型压力传感器、卫生型压力变送器。 主要技术参数:量 程: 0～150(MPa) 综合精度:0.1%FS、 0.2%FS、0.5%FS、1.0%FS输出信号: 模拟量 4～20mA(二线制)、0～5V、1～5V、0～10V(三线制) 数字量输出：RS485(modbus 协议)供电电压: 24DCV(9～36DCV)介质温度: -20～85℃环境温度: 常温(-20～85℃)零点温漂移： ≤±0.05%FS℃量程温度漂移： ≤±0.05%FS℃补偿温度： 0~70℃安全过载： 150%FS极限过载： 200%FS响应时间： 5 mS(上升到90%FS)负载电阻: 电流输出型：800Ω；电压输出型：大于50KΩ绝缘电阻: 大于2000MΩ (100VDC)密封等级: IP65长期稳定性能: 0.1%FS/年振动影响: 在机械振动频率20Hz～1000Hz内，输出变化小于0.1%FS电气接口(信号接口): 四芯屏蔽线、四芯航空接插件、紧线螺母机械连接(螺纹接口): M16×1.5、M20×1.5、M22×1.5等，2. 厚膜陶瓷耐腐蚀型压力变送器/压力传感器/防腐压力传感器 型号:HAD-1100F 应用：现场需耐腐蚀的场合，对金属敏感的实验室等行业 测量介质：对PVDF和陶瓷无腐蚀的各类介质传感器：厚膜陶瓷量程：-0.1-0-6MPa内任意量程量程：0-100KPa精度：±0.5％FS 非线性：＜±0.2％FS迟滞性与可重复性：≤±0.1％FS长期稳定性：≤±0.1％FS/年热力零点漂移：≤±0.02％FS/℃响应时间：＜10mS工作压力：1.5倍量程 电气参数：输出：4-20mA，0-20mA，0-5V，0-10V，1-5V供电电压：DC24V （18～32VDC）负载能力：电流输出型：≤ 500Ω；1-5V电压输出型：输出阻抗：≤ 250Ω(DC 24V供电时) 其他参数：过程连接：M20×1.5外螺纹(标准)材质：接液部分: 陶瓷和PVC，外壳: 304不锈钢介质温度：－20～60 ℃环境温度：－20～80 ℃ 3. ICP型加速度传感器 HAD-STV71 一、产品概述　　HAD-STV71系列是恒奥德公司为工业应用而设计的ICP型加速度传感器，核心部件为压电型，内置电荷放大器双轴测量。所有工业传感器均为不锈钢结构，双层屏蔽，密封焊接，防水、 二、技术指标　　灵敏度：100mV/g　　频率响应：0.5-15000Hz(±3dB)　　振动限值：±50g peak　　谐振频率：23KHz　　电源电压：18～30VDC　　恒流源：2-10mA　　偏置电压：10-14VDC　　输出阻抗：＜100Ω　　响应时间：＜2.5S　　温度范围：-50～+121℃　　最大冲击：5000g　　电气认证：CE　　外壳材料：316L不锈钢　　安装螺纹：M8　　电气连接：2芯航空插头 4. 0～20mA工业标准输出声音传感器/噪声传感器/工业噪声模块 型号:HBR-ZS1声音传感器概述：HBR-ZS1声音传感器是一款工业标准输出（0～20mA）的积分噪声监测仪，符合GB3785、GB/T17181等噪声监测标准，BR-ZS1声音传感器针对噪声测试需求而设计，支持现场噪声分贝值实时显示，兼容用户的监控系统，对噪声进行定点 全天侯监测，可设置报警极限对环境噪声超标报警4～20 mA 工业标准输出，良好的线性转换，兼容市面主流的控制系统及监测系统，组成噪声监测单元，也可配接各种显示屏，对监测结果实时 现场 显示。 实时性好：能够对噪声进行24小时全天候监测，数据代表性强，能够反映噪声的真实水平。 适应环境强：全铝外壳设计，坚固、防尘、防潮，适合各种恶劣工业环境，也可以用于野外长期在线监测。HBR-ZS1声音传感器的参数：测量范围：30～130dB(A) 频率范围：20Hz～8kHz 频率计权：A（计权） 时间计权：F（快） 输出接口： 4~20mA/RS232 灵 敏 度：电压41.5mV/dB 电流0.133mA/dB误差：0.5dB 供 电：220V市电或24V DC 尺寸大小：200mm×104mm×50mm 外形材质：铝合金外壳，坚固防腐 5.电阻应变式传感器 路基、挡土墙、坝体 型号；HAD-BX-1 供货商类型 自主生产厂商产品规格 规格(MPa)： 0.1、0.2、0.3、0.4、0.6、0.8、1.0HAD-BX-1型电阻应变式传感器、体积小、结构简单。适用于路基、挡土墙、坝体及隧道等地下结构工程动、静态的测试。由于BX-1型电阻应变式传感器的体积小更适合于室内模型试验或较小比例的模型试验。 6.振弦传感器 应变范围：±10° H23104 供货商类型 自主生产厂商产品规格 最大应变范围：±10°恒奥德是生产土木工程测量仪器及振弦传感器专业厂家，其产品质量经国家技术监督部门的认定，铁路、公路、桥梁、建筑、冶金、煤矿、水力、电力、科研及市政建设工程等长期监测。振弦传感器及传感器特别适用于在恶劣环境下对土木工程的长期监测，振弦式仪器及传感器采用频率作为传输讯号，在远距离传输中讯号产生的误差很小，频率讯号即使在千米以上的距离衰减甚微，同时频率讯号受水份渗入，温度的变化，接触电阻或泄漏电阻等因素影响相对较小。 7.温度传感器特性及人体温度测量实验仪 HAD-FD-BHM-B 温度”是一种重要的热学物理量，它不仅和我们的生活环境密切相关，在科研及生产过程中，温度的变化对实验及生产的结果至关重要，在医学上，体温的测量及温度的误差对疾病的判断相当重要。本实验仪不仅适合普通物理的实验，更适合医学物理的实验。温度传感器是利用一些金属、半导体等材料与温度相关的特性制成的。一般把金属热电阻简称为热电阻，把半导体热电阻称为热敏电阻。本仪器通电后除了测量仪表及实验电源外 , 实验电路要插上实验电源后才能工作。 　　温度传感器特性及人体温度测量实验仪由高准确度控温恒温加热系统、直流稳压电源、 Pt100 温度传感器、 NTC1K 热敏电阻温度传感器、 PN 结温度传感器、电压型集成温度传感器 LM35 、数字电压表、可调放大器、插接线等组成。由于考虑适合医学物理的实验 ，故仪器对温度传感器应用的温度校正作了全面设计。在人体温度范围（ 35.0 ℃ -42.0 ℃ ）仪器测温精度达± 0.10 ℃ 。 　　仪器主要技术参数 　　1. 实验电源 直流稳压电源 +5V ± 0.5% 0.3A ± 5V 0.5A ； +5V 0.5A 　　2. 数字电压表 量程 0-1.999V 分辨率 0.001V 　　3.TCF708 智能控温仪 测温量程 0 — 100.0 ℃ ；分辨率 0.1 ℃ 控温准确度± 0.1 ℃ ；测温准确度± 3% 。 　　4. 干井式恒温加热炉 环境温度～ 100.0 ℃ 。 5. 电源电压 AC 220V ± 10% 功耗＜ 60W 8.陶瓷液位传感器/陶瓷传感器/液位变送器/法兰式陶瓷液位传感器 型号:HA/DBS301 HA/DBS301型传感器.其传感器采用干式陶瓷压力传感技术， 体积小，膜片面积大、不积物、可带现场指示器和不带现场指示器。其过程连接形式为标准法兰，法兰材料1CrNi9Ti和聚四氟乙烯。 HA/DBS301型传感器已广泛用于各领域中腐蚀性介质液体的静压、液位测量，尤其是卫生、食品、粘稠介质行业的压力、液位测量。也可用于气体或蒸汽等压力参数的测量。●陶瓷液位传感器的主要技术指标 测量范围 相对压力：0～1.6MPa、-0.1～1.6MPa 可测量±1KPa(100mmH20) 静压液位 液位高度：100m 液位高度：0.1m 测量膜片 96%氧化铝陶瓷 法 兰 1Cr18Ni9Ti 聚四氟乙烯 密封件 氟橡胶 氟硅橡胶 9. 液面蒸发传感器 PH-ZF1 PH-ZF1蒸发传感器是用于测量液面蒸发量的仪器，适用于农业、林业、气象、科研等有关部门，其工作原理采用高精度的称重原理测得蒸发皿内液体重量，再计算出液面高度。因此在多种环境下均可使用，如液体或结冰均可测量，解决了使用超声波原理测量液面高度时出现的弊病（1、结冰时测量不准，2、没有水时容易损坏传感器，3、精度低），可与自动气象站或专业蒸发记录仪配合使用。 技术参数 测量范围：0～240mm分辨率：0.1mm测量精度：±0.3mm供电方式：DC12V、DC24V可选输出形式：1、电流4～20mA；2、电压：0-5VDC；3、RS232/RS485网络通讯。静态功耗：约5mA输出负载：＜200Ω（典型值100Ω,200Ω需定制）规格尺寸：215*350*400mm （内桶口径*外桶口径*总高）环境温度：－30℃～70℃存储环境：－40℃～80℃相对湿度低于80%且不存在腐蚀性气体的环境中。 10.氧化还原电位传感器 ORP传感器 4-20毫安输出型号：MG-WQ600 。其传感器连接到7.6m的海洋级电缆，电缆长度可根据需要多达152m。输出是4-20毫安，三线配置，其电子元件是完全封装在环氧树脂海洋级不锈钢外壳中的。 * 全电子封装* 4-20毫安输出* 消除应变的海洋级电缆* 不锈钢外壳 * 可替换的溶解氧元件 技术规格输出: 4-20 mA 范围: -500 to +500 mV 精度: 2% 全量程压力: 40 PSI 工作电压: 10-36 VDC 工作电流: 0.2 mA+传感器输出预热时间: 3秒，少工作温度: -40° to +55°C 线缆长度: 7.6 m（多可达152m）探头尺寸: 2.5 cm直径x 26.7 cm 长探头重量t: 227 g.

BST600压力自动控制器产品概述　　BST600压力自动控制器采用先进的双PID自动反馈控制技术，以高性能石英谐振压力传感器或其它高准确度数字压力传感器为参考标准研制成的具有压力自动控制功能的高性能压力计量设备。它能任意地设定和准确控制气体的压力和压力变化率，可用于校准现场使用的压力变送器，压力传感器、探空传感器及压力仪表。　　产品特点　　● 控制稳定性高，长期稳定性好 　　● 可快速地补偿系统内微小的泄漏 　　● 可选配相应的校准软件 　　● 可通过前面板显示器、键盘功能键进行本地操作，或与上位机连接进行远程操作 　　● 可设置压力控制过程中的压力变化率 　　● 可输入压力序列，进行一组压力值的自动控制。　　技术指标

低温压力传感器 型号：ZRX-27547ZRX-27547温压力变送器产品为不锈钢结构，采用度压力芯体和密的补偿术，具有很强的抗震、抗冲击性能和长期稳定性,安装方便，量程广等特点，同时有不同的螺纹接口和信号输出，并可选带现场显示表头，满足广大客户的需求。该系列产品广泛应用于业设备、恒压供水、疗设备、过程控制等域。、术参数量 程：-0.1-300MPa 度：0.25%FS、0.5%FS、1.0%FS 输出信号：4-20mA、0/1-5/10V、0.5-4.5V、1.0/1.5/2.0mV/V供电电压：mV信号10（+5-12)VDC； 其它输出信号+5VDC、+12VDC、+24VDC过程连接：G1/4、R1/4、G1/8、G1/2、1/2NPT、1/4NPT、 M14X1.5、M20X1.5（可订制）电气连接：航空插头、直接引线、赫斯曼接头负载能力：电流型≤500Ω补偿温度：0-85°C作温度:-60-120°C安过载能力：150%限过载能力：200%温度漂移：0.02%FS/°C长期稳定性：0.2%FS/年二、电气接线1.赫斯曼接头接线1.1mV信号 红/1#：电源正E+； 蓝2#：输出正S+；黄（黑）/3#：电源负E-； 白/4#：输出负S-1.2电流信号 红/1#：电源正V+；黑/2#：输出OUT1.3电压信号（三线制） 红/1#：电源正V+；黑/2#：电源地GND；蓝/3#：输出OUT+ 2.航空插头接线2.1mV信号 蓝1#：输出正S+；红/2#：电源正E+；黄/3#：电源负E-； 白/4#：输出负S- 黑/5#：80%校准2.2电流信号 黑/1#：输出OUT；红/2#：电源正V+2.3电压信号（三线制） 蓝/1#：输出OUT+；红/2#：电源正V+；黑/3#：共负V-

1.恒奥德仪器太阳总辐射传感器配件0.3-3μm型号:HAD-698 总辐射传感器采用光电转换感应原理，与各种辐射记录仪或辐射电流表配合使用，能够精确地测量太阳的总辐射、反射辐射、散射辐射、红外辐射、可见光、紫外辐射、长波辐射等。 用途该表用来测量光谱范围为0.3-3μm的太阳总辐射，也可用来测量入射到斜面上的太阳辐射，如感应面向下可测量反射辐射，如加遮光环可测量散射辐射。因此，它可广泛应用于太阳能利用、气象、农业、建筑材料老化及大气污染等部门做太阳辐射能量的测量。 技术参数1.灵敏度：7～14μV／w.m-22.光谱范围：0.3-3μm3.测量范围：0～2000W/m2供电方式：□ DC 5V □ DC 12V2.环境温湿度传感器线性化处理电路 型号:HAD-485 1. 概述NSD传感、变送一体化设计，适用于暖通级室内环境温湿度测量。采用温度补偿电路和线性化处理电路。供　　电 -48V DC准 确 度 温度:0.5度 湿度：±4.5%RH量程: -10-60℃工作温度 0℃～100℃长期稳定性 湿度1%RH/年 响应时间 15s（1m/s）输出信号 网络485输出负载能力 电流输出型：≤ 500Ω、继电器输出：10A/DC30V,10A/AC220V 3.温度传感器特性实验仪/温度传感器温度特性实验仪 型号HAD-TS1 由于工业生产中温度测量的范围极宽，从零下几百度到零上几千度，而各种材料做成的温度传感器只能在一定的温度范围内使用。温度传感器与被测介质的接触方式为两大类：接触式和非接触式。接触式温度传感器需要与被测介质保持热接触，便两者进行充分的热交换而达到同一温度，这一类传感器主要有电阻式、热电偶、PN结温度传感器。非接触式温度传感器无需与被测介质接触，而是通过被测介质的热辐射或对流传到温度传感器，以达到测温的目的。这一类主要是红外测温传感器，在火车的轴承测温、电气触点测温、医学监护等领域有着广泛的应用。HAD-TS1温度传感器特性实验仪通过加热温度控制器控制一个可恒温的干井（也可注入油成油浴），将干井温度设定于室温--105℃的某一温度，然后在这一温度将需研究的实验样品放入其中一定时间后测其特性。实验样品为无源器件PTC、NTC热敏电阻、PT100铂电阻；有源器件PN结和AD590集成温度传感器。加热温度控制器由集成温度传感器实时测量实验样品室温度，通过单片微机识别目标温度，确定最佳加热方案，实现实时温度达到目标温度。一、技术指标1、温度读数精度：±0.1℃ 。2、温度控制稳定度：±0.1℃/10分钟。3、温度设定范围：-5.0℃— 105℃，四位数码管显示。4、实验样品实测温度：室温—105.0℃，四位数码管显示。5、HTC-1加热温度控制仪使用条件1)输入电源：220V±10%50Hz—60Hz2)湿度：85%3)温度：0—40℃4)功耗：70W 4. 不锈钢现场显示压力传感器、压力变送器 型号：HAD503S 采用不锈钢整体构件，进口弹性体原件，高精度应变计及先进的贴片工艺，。316不锈钢全封焊接，压力传感器自带三位半LED显示，同时输出模拟信号，以便给后端控制机构采样压力信号，结构小巧、紧凑，有良好的防潮能力和优异的介质兼容性。测量介质：弱腐蚀性的液体；弱腐蚀性的气体。 主要技术参数：量 程： -0.1～0～1～150(MPa) 综合精度： 0.1%FS、0.25%FS、0.5%FS、1.0%FS输出信号： 4～20mA(二线制现场显示: LED三位半，0000 - 1999供电电压： 24DCV(9～36DCV)介质温度： -20～85～150℃环境温度： 常温(-20～85℃)零点温漂移： ≤±0.05%FS℃量程温度漂移： ≤±0.05%FS℃补偿温度： 0~70℃安全过载： 150%FS极限过载： 200%FS响应时间： 5 mS(上升到90%FS)负载电阻： 电流输出型：最大800Ω；电压输出型：大于50KΩ绝缘电阻： 大于2000MΩ (100VDC) 5.噪声传感器 声音传感器 动态范围20～140 dB 型号：HTZ-2KA 频率范围： 20HZ～20KHz动态范围： 20～140 dB （120 dB的动态范围）灵 敏 度： 50 mV/Pa极化电压： 0 V频响特性：自由场外&emsp &emsp 径： φ12.7 mm x70mm输出信号： ±10V温度范围： -20～+80 ℃相对湿度： ≤80%工作环境： 1个大气压其它事项： 测量部件不受外来冲击 6. 不锈钢微压压力传感器/变送器/负压压力传感器 型号：HPTP708 微压压力传感器采用进口感压芯片，封焊结构，适用于介质压力微弱的场合测量与控制 量 程: 0～1KPa～10KPa～100KPa～1(MPa) 综合精度: 0.2%FS、0.5%FS、1.0%FS输出信号: 4～20mA(二线制)、0～5V、1～5V、0～10V(三线制)供电电压: 24DCV(9～36DCV)介质温度: -20～85℃环境温度: 常温(-20～85℃)负载电阻: 电流输出型：最大800Ω；电压输出型：大于50KΩ绝缘电阻: 大于2000MΩ (100VDC密封等级: IP65长期稳定性能: 0.1%FS/年 6.现场显示压力传感器、316不锈钢全封焊接，压力传感器自带三位半LED显示压力变送器 型号HAD503S 采用不锈钢整体构件，进口弹性体原件，高精度应变计及先进的贴片工艺，具有灵敏度高、性能稳定、良好的抗冲击能力。316不锈钢全封焊接，压力传感器自带三位半LED显示，同时输出模拟信号，以便给后端控制机构采样压力信号，结构小巧、紧凑，有良好的防潮能力和优异的介质兼容性。测量介质：弱腐蚀性的液体；弱腐蚀性的气体。广泛用于工业设备、水利、化工、医疗、电力、空调、金刚石压机、冶金、车辆制动、楼宇供水等压力测量与控制。此类传感器通常也称为：油压传感器，油压变送器，液压传感器，液压变送器，风压传感器，风压变送器，气压传感器，气压变送器，应变式压力传感器，应变式压力变送器，压阻式压力传感器，压阻式压力变送器，正负压力传感器,正负压力变送器，管道压力传感器,管道压力变送器等。 主要技术参数：量 程： -0.1～0～1～150(MPa) 综合精度： 0.1%FS、0.25%FS、0.5%FS、1.0%FS输出信号： 4～20mA(二线制现场显示: LED三位半，0000 - 1999供电电压： 24DCV(9～36DCV)介质温度： -20～85～150℃环境温度： 常温(-20～85℃)零点温漂移： ≤±0.05%FS℃量程温度漂移： ≤±0.05%FS℃补偿温度： 0~70℃安全过载： 150%FS极限过载： 200%FS响应时间： 5 mS(上升到90%FS)负载电阻： 电流输出型大800Ω；电压输出型：大于50KΩ绝缘电阻： 大于2000MΩ (100VDC) 7. 电化学肼/联氨检测报警仪/肼/联氨检测传感器/在线式肼/联氨检测仪 型号HAD200-N2H4 一、产品描述HAD200-N2H4肼/联氨检测仪适用于各种工业环境和特殊环境中的肼/联氨浓度连续在线检测及现场声光报警，对危险现场的作业安全起到预警作用，仪器采用进口电化学传感器和微控制器技术，具有信号稳定，精度高、重复性好等优点，防爆接线方式适用于各种危险场所。仪器兼容各种控制报警器、PLC、DCS 等控制系统，可以同时实现现场报警和远程监控、报警功能。 三、技术参数：&bull 检测气体：肼/联氨（N2H4）&bull 检测原理：电化学原理，检测方式为扩散或泵吸，长期连续工作&bull 安装方式：壁挂式、管道式(螺纹尺寸:M45X1.5mm)、流通式、泵吸式可选&bull 测量范围：0～1、10、50、100、200ppm可选&bull 分 辨 率：0.001ppm（0～10ppm）；0.01ppm（0～100ppm）；0.1ppm（0～200ppm）&bull 精　　度：≤±3%（实际浓度，更高精度视具体传感器而定）&bull 重 复 性：≤±1%&bull 零点漂移：≤±1%（F.S/年）&bull 响应时间：≤20秒（T90）&bull 恢复时间：≤20秒&bull 输出信号：用户可根据实际要求而定，最远可传输2000米（单芯1mm² 屏蔽电缆）　　　　① 两线制4-20mA电流信号输出（三线制可选）　　　　② RS-485数字信号输出，配合RS232转接卡可在电脑上存储数据（选配）　　　　③ 2组继电器输出：无源触电容量220VAC 3A，24VDC 3A　　　　④ 报警信号输出：现场声光报警，报警声音： 90分贝&bull 连线方式：3/4″NPT内螺纹&bull 壳体材料：压铸铝，防爆防腐蚀&bull 防爆标志：ExdII CT6 8. 法兰安装室外光照度传感器 光照度传感器 HAD-RY-G/W HAD-RY-G/W型室外光照变送器为室外应用所开发，且对弱光也有较高灵敏度，产品最小监测量程＜100LUX，外壳采用封闭型铸铝材质压铸而成，量程宽、防水、防腐蚀，输出标准的模拟信号，HAD-RY-G/W光照度变送器广泛应用农业大棚、路灯控制、楼宇自控等领域。量 程：0-200Klux供电电压：DC24V/12V输出信号：4-20mA/0-5V精 度：±3%安装方式：法兰安装外壳材质：铸铝 9.微压压力传感器/变送器/负压压力传感器 型号：HPTP708 微压压力传感器采用进口感压芯片，全不锈钢封焊结构，具有良好的防潮能力及优异的介质兼容性，适用于介质压力微弱的场合测量与控制。 量 程: 0～1KPa～10KPa～100KPa～1(MPa) 综合精度: 0.2%FS、0.5%FS、1.0%FS输出信号: 4～20mA(二线制)、0～5V、1～5V、0～10V(三线制)供电电压: 24DCV(9～36DCV)介质温度: -20～85℃环境温度: 常温(-20～85℃)负载电阻: 电流输出型：最大800Ω；电压输出型：大于50KΩ绝缘电阻: 大于2000MΩ (100VDC密封等级: IP65长期稳定性能: 0.1%FS/年振动影响: 在机械振动频率20Hz～1000Hz内，输出变化小于0.1%FS电气接口(信号接口): 四芯屏蔽线、四芯航空接插件、紧线螺母 10.余氯电极/余氯传感器 型号:H7685 适用于饮用水、工业过程水消毒杀菌工艺的余氯浓度在线监测，也可用于游 泳池等需要测量余氯浓度的场所。 测 量 原 理 H7685型余氯电极是一种隔膜式极谱（clark）型传感器，由阴极、阳极、电解液及阴极上覆盖的一层气透性薄膜构成。被测液中余氯通过隔膜扩散至阴极上，阴极与阳极间适当的极化电压可在阴极上将余氯还原，这些化学反应产生与所测量溶液中余氯成正比的电流。 特 点： ★ 反应灵敏，准确度高，稳定性好 ★ 操作简便，维护量小 ★ 适用于各种介质，膜不易损坏、抗污染 响应时间：90%﹤2min（室温），95%﹤5min（室温）温度范围：测量时2～45℃最小流速：200～250ml/min，流通式流量不能小于30L/hpH范围：4～8.2pH耐压范围：0～1bar温度补偿：热敏电阻阻值由用户定制电极电缆：3m高阻抗低噪音屏蔽电缆线电极尺寸：直径20mm，长度70mm □ DC 24V 输出形式：□ 脉冲：脉冲信号□ 电流：4～20mA □ 电压：0～2.5V □ 电压：0～5V □ 电压：1～5V □ RS232 □ RS4854.响应时间：≤30秒(99％)5.内阻：约350Ω6.稳定性：±2％7.余弦响应：≤±5％(太阳高度角10°时)8.温度特性：±2％(-20℃～+40℃)9.非线性：±2％10.重量：2.5kg

Atlas™ 标准薄膜制样机与高温薄膜制样系统Specac的等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定，根据热压制膜原理，所得到的样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供三种等厚度薄膜制样工具，不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还能将粒状，块状或板材，如药包材料，包装材料，特殊包裹材料等不规则的聚合物变成可以检测的薄膜。 GS15800高温薄膜制样系统技术参数： 最高操作温度高达400℃ 满足高端科研的要求 一周期40分钟 通过CE安全认证 集成的供热制冷设备? 2T的载荷极限 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm 薄膜直径29mm 压力范围0-2吨 一体式加热盘系统 双数字显示，精度1度 安全切换装置：70℃ 切断加热希同/55℃ 重启加热系统 一体式冷却盘高温薄膜制样机P/N GS15800有一组加热板是嵌入到薄膜制样机中的，所以当P/N GS15800装载在压 片机上时， 是不需要额外的Atlas 加热压盘P/NGS15515的。订购信息GS15640标准薄膜制样机特点：独立加热压盘，满足不同直径薄膜需要独立冷却盘，可缩短制膜周期重现性哈，制备过程简单 制膜过程无需化学品，成本低6种不同厚度的垫圈，适合各种高分子材料技术参数： 操作温度高达300℃ 一周期30分钟 4T的载荷极限 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm 薄膜直径29mm 双数字显示，精度℃ 可配套加热板P/N GS15515使用 冷却系统停止时切断加热系统 冷却水流速大于0.2/min时重启加热系统 独立冷却盒订购信息GS15640 Atlas™ 标准薄膜制样机包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250和0.500 mm 垫圈铝膜 直径40mm(200 片)Specacards 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架(20张)不锈钢镊子GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250and 0.500 mm 垫圈铝膜直径40mm(200 片)制作铝膜样品杯的工具Specacards 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架(20张)不锈钢镊子高稳定性及高精度的温度控制器(400℃) 薄膜制样套装GS15631 Atlas™ 标准型薄膜制样套装1包括: 薄膜制样系统(GS15640) 加热板和加热压盘以及数字全自动温控器(300°C) (GS15515)GS15633 Atlas™ 标准型薄膜制样套装2包括: 薄膜制样系统(GS15640)加热板和加热压盘以及数字温控器(300oC) (GS15515)15T手动液压机(GS15011)(对于GS15800,GS15631和GS15633，请指定220V或110V电压和使用的国家。)GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统套装 包括: 高温薄膜制样系统(GS15800) 15T手动液压机(GS15011)(请指定220V或110V电压和使用的国家。)备件及耗材GS03800 卡夹式，圆形通光孔直径10mm，样品架 (100张/盒)GS03805 用于固定易伸缩薄膜样品的尼龙卡簧(20)GS03810 10mm x 25mm 矩形通光孔Specacards (100)GS03820 磁性薄膜样品架 圆形通光孔直径25mmGS15627 直径为40mm的铝膜(200)GS15641 冷却盒 用于标准薄膜制样系统 替换GS15642 标准薄膜制样压盘套装GS15629 标准薄膜制样机可替换的垫圈组件GS15805 高温薄膜制样机可替换的垫圈组件

X射线透射显微成像/能谱（同步辐射）用氮化硅薄膜窗口 产品概述： X-射线薄膜窗能够实现软X-射线(如真空紫外线)的最大透射率。主要用于同步辐射X射线透射显微成像时承载样品。 X-射线越软(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特别在&ldquo 离轴&rdquo 状态工作（即薄膜与光束成一定角度）时，也需要较薄的薄膜窗口，便于X射线更好地穿透。 氮化硅薄膜窗口是利用现代MEMS技术制备而成，由于此种氮化硅窗口选用低应力氮化硅（0-250MP）薄膜，因此比计量式和ST氮化硅薄膜更坚固耐用。提供的氮化硅薄膜窗口非常适合应用于透射成像和透射能谱等广泛的科学研究领域，例如，X-射线（上海光源透射成像/能谱线站）、TEM、SEM、IR、UV等。 现在提供X-射线显微成像/能谱（同步辐射）用氮化硅薄膜窗系列产品，规格如下： 外框尺寸 (4种标准规格): &bull 5 mm x 5 mm (窗口尺寸：1.0 mm 或和 1.5 mm 方形) &bull 7.5 mm x 7.5 mm (窗口尺寸：2.0 mm 或 2.5 mm) &bull 10 mm x 10 mm (窗口尺寸：3.0 mm 或 5 mm 方形) 边框厚度： 200µ m、381µ m、525µ m。 Si3N4薄膜厚度：50、100、150和200nm 我们也可以为用户定制产品（30-500nm），但要100片起订。 本产品为一次性产品，不建议用户重复使用，本产品不能进行超声清洗，适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。 技术指标： 透光度： 对于X射线用窗口，500nm厚的氮化硅薄膜有很好的X光穿透效果，对于软X射线（例如碳边吸收谱），100-200nm厚的氮化硅薄膜窗口是用户首选。 真空适用性： 真空适用性数据如下： 　 薄膜厚度 窗口面积 压力差 &ge 50 nm &le 1.0 x 1.0 mm 1 atm &ge 100 nm &le 1.5 x 1.5 mm 1 atm &ge 200 nm &le 2.5 x 2.5 mm 1 atm 表面平整度： 氮化硅薄膜窗口产品的表面平整性很稳定（粗糙度小于1nm），对于X射线应用没有任何影响。 温度特性： 氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品，能够承受1000度高温，非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。 化学特性： 氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。 应用简介和优点： 1、 同步辐射X射线（紫外或极紫外）透射成像或透射能谱应用中是不可或缺的样品承载体。 2、 耐高温、惰性衬底，适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境，利于制备理想的用于X射线表征用的自组装单层薄膜或薄膜（薄膜直接沉积在窗口上）。 3、 生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后，窗口具有很好的亲水性。 4、 耐高温、惰性衬底，也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。 5、 适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。 同步辐射X射线应用参考文献：PRL

迷你薄膜制样套装一款5分钟就能实现红外透射分析专用的聚合物薄膜制样机特点：液压机与加热压盘以及温控器一体化的设计体积小巧，方便存储，携带薄膜重现性好，使用快捷 无需化学品，成本低,6种不同的垫圈这种设计允许加热板先进行预加热，温度升高至样品所需的熔点，并保持这个温度。样品在被引入到预加热板之前，薄膜制样机就可以独立的为几克的样品准备好相应的载荷和合适的定型圈。当薄膜制样机达到预设温度并稳定后，通常使用0.5T负载转动丝杆来热压薄膜。一旦从热压机上移走，低温块体薄膜制备制样机可以在冷却板上快速冷却到室温，压制成型的薄膜可以移除。薄膜样品可被镶嵌在一个3×2英寸的自粘帖卡片(Specacard) 上以用于红外透射光谱分析使用。与传统方法相比，这个过程可缩短薄膜制备的周期，实际上，制作一个薄膜样品的周期可小于5分钟。如何制备薄膜样品放置好隔热板, 选择好定型圈和较小的铝膜，放到下方组件上。1) 将样品放到铝膜的中央位置，然后在上面覆盖上较大的铝膜和上方组件2) 将准备好的以上组件整体放置到预加热板平面间，再施加1T位的载荷。3) 一旦样品完成压缩从压片机取出，分开组件，小心的将铝膜从样品上剥离。4) 制成的薄膜放入Specacard，然后一同放置到光谱仪器中进行分析。 技术参数： 快速，可重复的制备薄膜样品 样品熔点范围从室温到260℃ 标准薄膜厚度15,25，50, 100,250和500μm 直径15mm 压力范围0-2吨 制样包包括液压机和集成的加热板 周期5分钟 加热压盘直径25mm 加热压盘最大功率：35W 温度控制器：双数字显示，精度1℃ 加热压盘可调距离0-20mm 独立冷却盘 重量5.7kg 订购信息 迷你薄膜制样套装 GS03970 迷你薄膜制样套装 备件及耗材 GS03971 迷你薄膜制样组件 (包括压板组件，隔热板， 下压板组件，定型圈组件) GS03972 定型圈(15, 25, 50, 100, 250 和500 μm GS03973 铝膜(200 对) GS03974 迷你薄膜制样机冷却板 GS03975 迷你薄膜制样机压板(包括上压板，隔热板，下压板) GS03800 Specacards (100包) 直径10mm的圆形通光孔 GS15628 不锈钢镊子

两线制溶解氧变送器产品参数：相对精度满量程的1.5%温度范围0～100.0 oC（控制器）分辨率/精度0.1oC/0.5oC温度补偿自动、手动，Pt 100 （2线或3线）压力补偿0.74 ～ 3.00 Bar 55 ～ 225 cmHg 10.7～ 43.5 PSI盐度补偿0.0 ～50.0 ppt输出4～20mA 继电器无电源12～24 DC尺寸1/4 DIN，3.78"×3.78"(96mm×96mm)

成卷的或预先切成方形或圆形的Prolene，超聚酯，聚丙烯，Mylar，聚碳酸脂和聚酰亚胺样品支撑薄膜。 成卷的薄膜(7.6cm×15.2m） 正方形薄膜（63.5mm×63.5mm） 圆形薄膜（直径63.5mm） 多孔聚丙烯薄膜（6.4cm×5.1m）

微量氧变送器-GPR-1500　 技术参数 量程：GPR-15D：0~100ppm，0~25% O2 精度： ± 2% FS（在20℃时） 分辨率：0.1ppm(100ppm量程) 响应时间：10秒达到90% 传感器原理： 燃料电池式 GPR-15 传感器寿命：24个月 物理特征 封装：NEMA 4 体积：9" x 4" x 3" 重量：8磅（约3.7公斤） 取样系统 1/8"不锈钢接头和管路 电器特征 认证：CE质量认证，ISO9001认证 显示：3 1/2数字LCD显示 输出：4~20mA模拟输出 电源：24V DC（两线） 防爆：加隔离栅组成防爆系统，等级：Class 1,Division 1,Groups B,C,D 操作条件 校准： 建议采用空气或80%FS标准气 测量介质：H2, He, 碳氢化合物，惰性气体，混合气体及酸性气体 压力：样气压力范围：5~30psig 温度：0~+45℃ 流量：1~5 SCFH，推荐：2 SCFH 选件 改变量程 防爆隔离栅 面板安装 两路SPDT报警输出

教学型光学薄膜测厚仪配件是一款低价台式光学薄膜厚度测量仪,可测量薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等，也可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)。光学薄膜测厚仪配件基于白光反射光谱技术，膜层的表面和底面反射的光VIS/NIR光谱，也是干涉型号被嵌入的光谱仪收集分析，结合多次反射原理，给出膜层的厚度和光学常数（n，k)，到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。光学薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 100nm-30微米；波长范围: 300-1000nm 探测器：650像素Si CCD阵列，12bit A/D精度：1%斑点大小：0.5mm 光源：钨灯-汞灯（360-2000nm)所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：320x360x180mm 重量：9.2kg光学薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

手持式薄膜测厚仪配件是全球首款便携式光学薄膜厚度测量仪,可测量透明或半透明单层薄膜或膜系的薄膜厚度,薄膜的吸收率/透过率，薄膜反射率，荧光等。手持式薄膜测厚仪可测量膜层的厚度,光学常量（折射率n和k)，薄膜厚度测量范围为350-1000nm，不需要电线连接，也不需要实验室安装空间，它从USB连接中获取工作电源，这种独特设计方便客户移动测量，只需USB线缆从计算机控制测量即可，采用全球领先的3648像素和16bit的光谱仪，具有超高稳定性的LED和荧光灯混合光源，光源寿命高达20000小时，手持式薄膜测厚仪配件特色USB接口供电，不需要额外的线缆供电超级便携方便现场使用超低价格手持式薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 15nm-90微米；波长范围: 360-1050nm 探测器：3648像素Si CCD阵列，16bit A/D精度：1nm 斑点大小：0.5mm 光源：LED混合光源（ 360-1050nm )所测样品大小：10-150mm, 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：300x110x500mm 重量：600克手持式薄膜测厚仪配件应用用于薄膜吸收率,透过率和荧光测量，用于化学和生物薄膜测量，传感测量用于光电子薄膜结构测量 用于半导体制造用于聚合物薄膜测量 在线薄膜测量用于光学镀膜测量

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪介绍：LQJ211万能材料试验机有着超大数显控制系统-为主机曲线、力值、速度和变形动态显示，加上电脑可实现微机操作，参数随意设定，可以做不同材料30KN以内的拉伸、压缩、弯曲、剥离、撕裂、剪切、刺破、低调疲劳等多项力学试验.可根据国际标准ISO.JIS.ASTM.DIN等国际标准和国外标准进行试验和提供数据.以windows操作系统使试验数据曲线动态显示,试验数据可以任意删加,对曲线操作更加简便.轻松.随时随地都可以进行曲线遍历.叠加.分离.缩放.打印等全电子显示监控. 薄膜拉力测试仪、塑料薄膜拉伸强度检测、塑料薄膜剥离测试仪技术参数 Main specifications 1、最大负荷Load Accuracy： 30KN（任意选） 2、荷重元精度Load Accuracy： 0.01% 3、测试精度Measuring accuracy： ± 0.5% 4、操作方式Control： 全电脑控制,windows模式操作 5、有效试验宽度Valid width： 约420mm 6、有效拉伸空间Stroke： 约800mm 7、试验速度Tetxing speed : 0.001~500mm/min 8、速度精度 Speed Accuracy：: ± 0.5%以内； 9、位移测量精度Stroke Accuracy： ± 0.5%以内； 10、变形测量精度Displacement Accuracy： ± 0.5%以内 11、安全装置 Safety device： 电子限位保护，紧急停止键 Safeguard stroke 12、机台重量Main Unit Weight ： 约140kg

薄膜偏振片英文名Thin film polarizer，薄膜偏振片是一种介质镀膜偏振片把s光和p光分开，适合高功率激光或高能量激光应用，适合内腔和外腔应用。布儒斯特型薄膜偏振片又叫Thin film polarizer,布儒斯特角偏振片，是一种适合高能激光应用的偏振片，损伤阈值高达10J/cm2 @1064nm 8ns. 薄膜偏振片常常作为格兰泰勒棱镜和偏振立方分束器（偏振立方体）的替代用品使用。常用的基质材料是BK7和紫外熔炉石英。56度入射角（布儒斯特角）情况下的 偏振比值Tp/Ts=200：1.特点：1）薄膜偏振片,Thin film polarizer有效地分开s光和p光 2）薄膜偏振片,Thin film polarizer配备有库存，可以立刻发货。薄膜偏振片标准参数 材料：BK7, UVFS直径公差：+0.0/-0.12mm厚度公差：+/-0.2mm净孔径：90%表面质量： 20-10 scratch&dig表面平整度：Lambda/10 @633nm平行度：30arec sec 消光比Tp/Ts：200:1典型透过率： Tp90%典型反射率：Ts99.5%激光损伤阈值： 5J/cm2 10ns 1064nm现有产品：266nm,343nm, 355nm, 400nm, 515nm, 532nm,780nm, 780-820nm, 795-805nm,940nm980nm, 1020-1040nm, 1064nm, 1550nm偏振片中国领先的进口精密激光光学器件旗舰型服务商--孚光精仪！

specac_迷你等厚度薄膜制样套装 等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理，所得到样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。 视频：http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频

金/铂是惰性金属，不容易发生氧化、水解和其它表面反应。普通金/铂电极制作需要反复抛光磨制，稳定性和重现性较差，不利于生物传感器的小型化和商品化。 Micrux公司采用100%金属材料（非金属/油墨印刷）制作的铂和金薄膜电极 - 适用于修饰和研发传感器或生物传感器 - 前处理方便，节省时间 - 可以多次重复使用，成本低廉 - 尺寸小，提供了很好的可靠性和可重复性，性噪比（S/N）佳。 电极设计： 1、SE-1设计，应用于铂和金薄膜电极，工作电极（WE）直径为1mm. 2、交叉指环型阵列电极（IDRA），由2对交叉的12电极组成。 3、交叉阵列电极（IDA），由2对交叉的12电极组成。 微电极设计，工作电极线宽和间隙都为10&mu m，和SE-1设计一样应用于铂和金薄膜电极。 电极适配器，使得薄膜（微）电极易于操作。 电极通过连接器可与各品牌电化学工作站匹配。 电极保存：干燥环境，旁边可以放置硅胶

X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Prolene膜、ROHS测试膜、XRF有方形托架的圆片薄膜--美国Chemplex--3018# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。 品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：3018产品信息：Prolene膜，厚度4.0μm，直径63.5mm，100片/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 现货供应：XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。

溶氧仪配件 tp351-003 薄膜按键

FEP薄膜：也叫特氟龙薄膜，聚全氟乙丙烯薄膜；其特征主要有：1、耐高低温:-200～205℃ ，外观透明如保鲜膜，使用方便，环保；2、具有不粘性,拼水,拼油:水接触角θ=114о 电可靠性，高绝缘，不漏电；3、高透明度:透明度参考家用保鲜膜，对紫外线、可见光有很好的穿透性；4、耐强酸强碱，耐各种有机及无机化学溶剂，丙酮、醇类等各种腐蚀性溶剂；5、多作为封口膜，用于密封一些强腐蚀型瓶口；隔离实验室的一些腐蚀性溶剂；6、典型用途实例：中科院地化所常用来野外考察收集样品时，接收雨水用，通常会配套我公司同系列的FEP 透明管使用；品名宽度（mm）厚度mmFEP薄膜 200-2500.02-0.0150.03-0.040.05-0.150.15-0.2可按照客户要求生产250-280250-300300-35050060080010001200 FEP材质其他产品FEP取样瓶、容量瓶、洗瓶、滴瓶、消解瓶、消解管、离心管、薄膜、移液管、透明管、烧杯、分液漏斗，其他实验室常用器皿耗材等等。

金/铂是惰性金属，不容易发生氧化、水解和其它表面反应。普通金/铂电极制作需要反复抛光磨制，稳定性和重现性较差，不利于生物传感器的小型化和商品化。 Micrux公司采用100%金属材料（非金属/油墨印刷）制作的铂和金薄膜电极 - 适用于修饰和研发传感器或生物传感器 - 前处理方便，节省时间 - 可以多次重复使用，成本低廉 - 尺寸小，提供了很好的可靠性和可重复性，性噪比（S/N）佳。 电极设计： 1、SE-1设计，应用于铂和金薄膜电极，工作电极（WE）直径为1mm. 2、交叉指环型阵列电极（IDRA），由2对交叉的12电极组成。 3、交叉阵列电极（IDA），由2对交叉的12电极组成。 微电极设计，工作电极线宽和间隙都为10&mu m，和SE-1设计一样应用于铂和金薄膜电极。 电极适配器，使得薄膜（微）电极易于操作。 电极通过连接器可与各品牌电化学工作站匹配。 电极保存：干燥环境，旁边可以放置硅胶

chemplex样品薄膜型号：090，250品牌：chemplex产地：美国 一、产品介绍： 在用x荧光光谱仪进行rohs检测，weee检测和一般材料成分分析时，由于样品的不规则（特别是液体、粉末等），需要借助样品杯和薄膜辅助检测；但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的x射线信号和检测结果。选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。 在现有的众多不同的物质类型中，只有为数不多的几种具备能满足光谱化学需要的一致性和化学、物理属性。 如何选择薄膜样本支撑窗材料？适当的薄膜样本支撑窗的选择主要以满足首要重要的实验室要求为基础： 使用方便快捷； 避免造成待测样品污染； 优越的分析物透射比与强度； 对待测样品的耐化学性。chemplex industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司，是x射线光谱仪（xrf）配件耗材领域的全球知名厂商。chemplex xrf样品杯和样品薄膜用于rohs、weee专业测试仪器盛放小颗粒固体，粉末，液体，适用于各种品牌的x射线荧光光谱仪。chemplex样品薄膜薄膜张力特性极/佳，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注，使得chemplex xrf样本杯、样品薄膜在xrf物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。chemplex的许多xrf样本杯、样品薄膜被列为新颖独特的设计和应用，并被美国专利商标局授予知识产权地位。美同达作为美国chemplex公司的中国代理商，提供chemplex所有系列用于对应欧盟rohs和weee环保检测仪器——x射线荧光光谱仪（xrf）的检测实验消耗产品！我们不仅能够为您提供样品薄膜、样品杯, 还可根据您的样品应用为您选择、定制合适的样品薄膜、样品杯。 二、适用仪器：德国斯派克spectro、英国牛津oxford、日本堀场horiba、飞利浦/帕纳科philips/panalytical、德国布鲁克 bruker、美国赛默飞世尔科技（热电）thermo，瑞士arl及日本理学rigaku, siemens, spectrace,jordan, kevex, metorex,fisons, asoma，venus 200,valley等生产的x荧光光谱仪(xrf)。（适用x 射线荧光光谱仪品牌型号：所有x射线荧光光谱仪包括：尼通(niton)：xlt797z 、xlt794、xlt898 ；伊诺斯(innov-x)：alpha6000；牛津(oxford)：met-5000；帕纳科(panalytical)：minipal4、 minipal2；精工(seiko)：sea1000a；斯派克（spectro）：xepos、midex m；热电(thermo)：arl quant’x；日本电子（jeol）jsx－3400r；horriba等。） 三、spectromembrane® 样品薄膜随着spectromembrane® 样本支撑托架的面世，在处理薄膜时用户不再需要担心静电附着或潜在的污染风险或吸引空中颗粒等问题。除样本杯外，薄膜不再近距离接触其它任何物体。薄膜处理将通过使用集成的托框完成，托框能够在组装过程中自动分离，留下绷紧的薄膜样本平面。spectromembrane® 薄膜样本支撑托架由一块粘在托架上作为支撑物的薄膜样本支撑物质组成。在把薄膜物质粘在xrf样本杯上时，薄膜物质并不会被直接处理，这就消除了污染的可能性。接近完成或在完成附着时，薄膜将自动从托架上分离，留下绷紧的无皱样本支撑窗。

iTrans固定式有毒有害气体变送器 可选配备各种传感器 a、LEL-催化燃烧式 c、电化学传感器（可选多达13种） 4-20mA和MODBUS RTU数字输出信号 高亮现场LED显示器 新一代固定式气体变送器iTransTM采用智能化电子平台，十分安全的防爆防焊铸铝和不锈钢壳体，智能型数字传感器。仪器可自动识别传感器，记录标定信息。 微处理器控制的iTransTM变送器具有标准的4-20mA信号或MODBUS RTU数字信号输出到器PLC或DCS.选用在线继电器可不需控制器而直接驱动报警，风扇或切断电源。 iTransTM还具以下特性：标定过程中防误报警,使用磁棒调节,标定时毋封面开盖，高亮的LED显示，可根据标定气体浓度设定标定值和通过密码预设报警值报警，传感器寿命指标。 iTransTM有多种传感器配置可选，请使用下表为您的气体监测项目选配合适的传感器。iTransTM出厂均含有LED显示，磁棒和标定杯。

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

X-RAY样品膜、XRF測試用的Prolene膜、XRF样品膜、ROHS测试膜、迈拉膜--美国Chemplex 416# 现货供应：XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。 品名：XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO：416产品信息：Prolene膜，卷轴，厚度4.0 μm，宽7.6cm x 长91.4m，1卷/盒品牌：美国Chemplex Industries.Inc.（原装进口）货期：现货起订量：1盒以上。 产品详细信息：Pre-Perforated Thin-Film Sampel SupportsPROLENE® FILMCAT. NO：416Gauge：0.00016”，4.0 μm；0.16mil，40,640ATypical Impurities，PPM：Ca, P, Fe, Zn, Cu, Zr, Ti, AlChemplex® INDUSTRIES，INC.ROLL：3” x 300’ (7.6cm x 91.4m)； Lot No：082176。 现货供应：XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO：106、CAT.NO：150、CAT.NO：250、CAT.NO：256、CAT.NO：257、CAT.NO：416、CAT.NO：426、CAT.NO：3014样品膜、Sample Film。

SP-1102 可燃气体检测器/变送器 选用先进的催化燃烧传感器 性能稳定，灵敏可靠 使用寿命长 传感器组件选用不锈钢壳体 超量程保护 、反极性保护 抗中毒，抗干扰能力强 标准4-20mA 模拟信号输出，开关量输出 石油化工 冶金 消防 燃气 环保 电力，通讯 造纸、印染 污水处理 食品、酿造 科研、教育、国防 检测原理 催化燃烧式 采样方式 扩散型 工作电源 DC10～30V，最大150mA 功率 4W 输出信号 4～20mA，报警继电器 DC 30V 2A（无源） 负载电阻 ＜600&Omega 检测范围 0～100％LEL 检测精度 ± 3％F.S 分辨率 1％LEL 重复性 2% 响应时间 &le 15 s (T90) 电气接口 3/4&rdquo NPT F（可选3/4&Prime NPTM、1/2&Prime NPTF/M、G3/4F/M） 防护等级 IP65 环境温度 -40℃~+70℃ 环境湿度 10-93% RH （无冷凝） 环境压力 86~106kPa 显示方式 无 外形尺寸 157× 153× 90mm（HWD） 外壳颜色 灰 壳体材料 铝合金 重量 1.34kg CMC证书 京制00000301号 防爆等级 Ex dⅡCT6 消防证书 073074850825ROM

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

1，适用于测试玻璃，薄膜等透明固体样品2，适用于本公司所有常规型号光度计

显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米； 波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 光源：使用显微镜光源 光斑大小：由显微镜物镜决定 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口； 尺寸：120x120x120mm 重量：1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量

SpectroMembrane® 薄膜样品载体框架由薄膜样品载体物质组成，该薄膜样品载体物质附着在用作载体的框架上。在将薄膜物质粘贴到XRF样品杯时，不直接处理薄膜材料并且完全消除污染可能性。接近或完成附着时，薄膜自动从载体框架上分离，留下一个拉紧的无褶皱样品支撑窗口。用户选择的薄膜样品支撑窗口连接到处理框架上，以便连接到Chemplex® 样品杯