求助:寻找技术专家或者相关单位研制波长色散法测油品和化工产品中低含量的硫的检测仪器,专利或技术转让也可简单描述:我公司希望找人开发波长色散法测油品、化工产品中低含量的硫、氯等元素。如有相关专利或技术也可转让。 技术指标。1、S≤0.1ppm以下 Cl≤0.4ppm以下。 预期经济效益:国外(美国XOS)目前市场价格为70万元人民币左右,日本的同类产品价格为人民币40万元左右,预计研制成功后,年销量大概在50台到100台之间,单位销售价格约为20万元人民币左右,估计销售额1000万~2000万之间,利润大概在300~500万之间。
现在明胶是一个热门话题,不知道有没有人用波长色散X荧光测试里面的六价铬。有做的战友,站出来分享一下呗,,,,
一直没有很明白波长色散和能量色散区别,波长对应的一样是能量吧
波长色散与能量色散XRF在测试ROHS六项时,一定是波长色散准确吗?二者有哪些优缺点?
个人认为,光管的功率和使用与仪器需求有关系,国内的波长色散基本上都是固定道的,也就是在接收器的不同位置上会安装多个探测器,只能测试固定的多个元素,仪器内部不需要有任何旋转机构,而国外的波长色散大多是扫描道的,是通过旋转晶体将不同波长的X荧光调整到同一个接收点来接收,这样的话可以测试所有的元素,而且只需要一个接收探测器(一般会配3个或者2个,根据波长范围选择)。对于固定道德由于是多个探测器同时在测试多个元素,因此,需求的激发功率没那么高,而扫描道的是要在一个探测器上接收不同晶体旋转位置时的光谱,因此对单位时间内的记数要求很高才能达到测试的要求。比如同样是测试10秒,固定道的每个探测器所测试的元素都是测试了10秒,而扫描道的是在整个扫描过程中测试了10秒,不同波长的测试时间是远远低于10秒的。这就是为什么光管功率差别很大的原因。在满足了仪器测试需要的情况下,肯定是选用功率合适的就可以了,可以降低仪器的设计要求。
如题,公司打算购买一台帕纳克Axios波长色散X荧光,主要用来测锌精矿里的Fe,S,Ca,Mg,Ge,Sb等元素,测试样品是粉末压片的。想请教一下有大侠知道有没有关于波长色散X荧光分析仪测锌精矿各种元素的相关国家标准。在此先谢过了。急急急~~~
随着欧盟ROHS指令实施日期的日益临近,国内越来越多的相关企业在积极的思考和寻找应对的方案;X荧光分析技术(XRF)作为一种方便有效的快速分析手段,正迅速被业内人士所了解和应用。目前在中国市场上,应用于ROSH指令的X荧光分析仪均为能量色散类型;一般情况下,波长色散类型的X荧光分析仪器的准确度比能量色散类型的仪器要高很多;但应用于ROHS指令的场合时,波长色散和能量色散则各有优缺点,测量对象各有侧重;以下将从几个方面对两种类型的仪器进行比较和说明: 波长色散 能量色散 (Si-Pin)型 (SDD)型测量精度 20~50ppm 200~300ppm 100~200ppm测量时间 1~2分钟 4~6分钟 3~5分钟被测样品要求 规则形状需要制样 可以不规则形状 可以不规则形状 最佳应用范围 原料半成品成品电子元器件原料半成品成品电子元器件能量分辨率高,约15eV较低,约160eV较低,约160eV荧光强度高低较高技术复杂程度复杂简单较复杂使用寿命>10年>5年>5年仪器价格46万(国产)25万左右(国产)60万左右(进口)50万(国产)1、测量精度:尽管目前各家能量色散仪器(均为Si-Pin类型)生产商和销售商都给出了很高的技术指标,但在实际应用中(特别在被测样品不进行处理的情况下),真正可以期待的准确度都在200~300ppm之间(测量塑料中有害元素时,准确度会好一些;对不规则样品,则精度会更差);同时,对于同类型的仪器,进口仪器的指标和国产仪器之间并没有本质差别(基本配置),但进口仪器的价格却昂贵很多。波长色散X荧光分析仪的测量准确度比能量色散类型高一个数量级,基本在20~50ppm左右。2、测量时间:由于波长色散配备较大功率的X光管,荧光强度高;因此,波长色散仪器占用较短的测量时间,便能达到较高的测量精度。3、被测量样品的要求:由于技术特点的差异,波长色散X荧光分析仪需要对被测量样品进行简单的处理;对固体样品的一般处理方法是将被测量样品表面打磨光滑,对粉末和其他样品可以采用磨细后进行粉末压片法处理,相应的设备市场上很容易找到。能量色散型仪器最大的优势在于:可以对样品不作处理直接进行测量,对样品也没有任何损坏,直接用于生产的过程控制中;但需要强调指出的是:从荧光理论上讲,被测量样品的预先处理是必须的,对于能量色散仪器来说,我们可以采取一些技术手段进行校正来满足实际生产控制的需要,但即使采用了技术校正的手段,对不规则样品的直接测量也是以牺牲测量准确度作为代价的。4、最佳应用范围:由于波长色散和能量色散类型X荧光分析仪各自的技术特点,两种类型仪器所侧重的应用方案也不尽相同;波长色散X荧光分析仪具有较高的测量精度,但同时需要对被测量样品进行简单处理,更适用于进厂原材料、半成品、成品的精确检测和质量控制;能量色散X荧光分析仪虽然测量精度稍差,但具有快速、直接测量各种形状样品的优点,因此可直接在生产线上用于各种部件、电子元器件的检测。5、能量分辨率:能量分辨率是X荧光分析仪器的主要指标,分辨率数值越小,分辨率越高,仪器性能越好。6、荧光强度:对于X荧光分析仪器来说,各元素含量与该元素的荧光强度成正比关系;荧光强度越高,则统计误差越小,测量的准确度越高,仪器性能越好。7、使用寿命:波长色散类型仪器的使用寿命一般为10年以上;能量色散类型仪器的使用寿命一般也大于5年,影响能量色散型仪器寿命的主要因素是探测器部分的老化导致其性能指标变差。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=48263]波长色散X荧光分析仪与能量色散X荧光分析仪[/url]
多通道波长色散X荧光仪器检测能力相对于顺序型波长色散X荧光仪器,能到达什么水平?比如测定准确度,检测限,精度方面。pb:5ppm,Ti:10pmm ,Ni:10pmm ,V:8ppm ,p:60ppm ,S:12PPM有没有问题。(样品为有机硅)帮朋友调研,欢迎讨论
大家用波长色散X荧光测铅都用那条线呢?为什么测铅要用LB线呢?请高人指教。
x能量色散荧光仪和波长色散荧光仪的区别
如题,求助一下,哪位大侠用波长色散做过化肥?制样方法是什么?压片还是熔融?如果做添加回收的话,怎么添加?望做过的大侠指点一二,谢谢了!
[color=#00008B][size=4][font=新宋体]本论坛中已经有充分的讨论,但值得提醒各位的是,文中所讨论的测试方法完全是针对扫描道的波长色散仪器,对于固定道的波长色散类仪器,有很多技术指标是不适用的。欢迎讨论![/font][/size][/color]
各位专家好,我是初学者,请问都有哪些因素会影响XRF波长色散荧光光谱仪的测试结果哪?压片法和熔片法分别在什么时候选择?恳请各位解答!
请大家在附件中查看:波长色散型x荧光仪和能量色散型x荧光仪的区别!
虽然波长色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪与能量色散型(WD-XRF)X射线荧光光谱仪同属X射线荧光分析仪,它们产生信号的方法相同,最后得到的波谱或者能谱也极为相似,但由于采集数据的方式不同,ED-XRF(波谱)与ED-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同,功能也有区别。 (一)原理区别 X-射线荧光光谱法,是用X-射线管发出的初级线束辐照样品,激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光仪(WD-XRF)是分光晶体将荧光光束色散后,测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪(WD-XRF)是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线,根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同,故仪器结构也不同。 (二)结构区别 波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管)、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体系安装在一个精密的测角仪上,还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射,造成强度的损失,要求作为光源的X-射线管的功率要大,一般为2~3千瓦。但X-射线管的效率极低,只有1%的电功率转化为X-射线辐射功率,大部分电能均转化为热能产生高温,所以X-射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷),因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管)、样品室和检测系统等组成,与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它用不分光晶体。由于这一特点,使能量色散型荧光光仪具有如下优点: ①仪器结构简单,省略了晶体的精密运动装置,也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低,一般在100W以下,不需要昂贵的高压发生器和冷却系统,空气冷却即可,节省电力。 ②能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近,X-射线的利用率很高,不需要光学聚集,在累积整个光谱时,对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感,对样品形状也无特殊要求。 ③在能量色散谱仪中,样品发出的全部特征X-射线光子同时进入检测器,这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱(包括背景)的基础,也能清楚地表明背景和干扰线。因此,半导体检测器X-射线光谱仪能比晶体X-射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。 ④能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度,而不是峰顶强度。因此,减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响,提高净计数的统计精度,可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素,而不是按特定谱线分析特定元素。因此,见笑了偶然错误判断某元素的可能性。(选自网络,侵删)
请问: 用波长色散型XRF测标准样品,计数率低很多,不知道是什么问题啊?
我最近想买一台荧光光谱仪,不知道能量色散的好还是波长色散的好,主要是用来分析高炉的炉渣用
波长色散型荧光光谱仪,在做样时,样品放进去之后,点击软件上的测试按钮后,荧光光管自动关掉,重启光管没有用,要关机再启动,再启动光管,光管才能打开。出现的错误是:由于连接超时,光光谱仪断开和Spectrometer error:3,0,4,0,0 turret timeout。请问是怎么回事?我们的仪器型号是帕纳科公司的 AXios Advanced 。恳请各位高手给予指点!
谁能提供一些目前水泥厂常用的波长色散X荧光光谱仪的品牌和价格呀,多谢啦!
我们单位想对波长色散X荧光仪检定建标,但是我看了一下检定规程,它所用的标准物质无法溯源,不知道不确定度该如何评定,哪位大侠能够帮忙指点一下,谢谢!
用波长色散X荧光光谱仪进行样品扫描时,出现了某元素的La线,而未出现该元素的Ka线,请问能确定该元素的存在吗?
求购二手波长色散型xrf,要求仪器正常运转,性能好,价格合理,请站短。
单位要购买波长色散型的XRF,做玻璃成分的。请大家说说自己的仪器型号及使用心得。如果是仪器公司,请详细写明你的仪器号及各部件的参数及报价。要说明的内容有: X射线管、高压发生器、通道面罩及准直器、分光晶体、探测器、测角仪、附件。邮箱:q163@tom.com
一.X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动,不断地改变衍射角,便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度,可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代,由于可以对复杂体进行多组同事测定,受到关注,特别在地质部门,先后配置了这种仪器,分析速度显著提高,起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后,对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪(ED-XRF),用X射线管产生原级X射线照射到样品上,所产生的特征X射线(荧光)这节进入SI(LI)探测器,便可以据此进行定性分析和定量分析,第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来,由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展,功能完善,应用领域拓宽,其特点,优越性日益搜到认识,发展迅猛。 二.波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪与能量色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪,它产生信号的方法相同,最后得到的波谱也极为相似,单由于采集数据的方式不同,WD-XRF(波谱)与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同,功能也有区别。(一)原理区别 X射线荧光光谱法,是用X射线管发出的初级线束辐照样品,激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光仪(WD-XRF)是用分光近体将荧光光束色散后,测定各种元素的特征X射线波长和强度,从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪(ED-XRF)是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线,根据各元素能量的高低来测定各元素的量,由于原理的不同,故仪器结构也不同。(二)结构区别 波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管),样品室,分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体系安装在一个精密的测角仪上,还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射,造成强度的损失,要求作为光源的X射线管的功率要打,一般为2-3千瓦,单X射线管的效率极低,只有1%的功率转化为X射线辐射功率,大部分电能均转化为而能产生高温,所以X射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷),因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪(DE-XRF)
波长色散X射线荧光光谱仪能测量水泥中的fCaO吗?请教各位专家解答!
在日前召开的Pittcon 2015上,帕纳科宣布推出一款革命性新产品——Zetium 多功能X射线荧光光谱(XRF)。Zetium测量平台同时将波长色散(WD)和能量色散(ED)整合进一台仪器;同时,Zetium还拥有一个可用于快速元素分布成像的微焦斑分析工具,以及一个水泥行业专用的创新THETA游离氧化钙通路。http://www.instrument.com.cn/news/20150311/155074.shtml同时进行波长色散和能量色散XRF分析,其实际应用价值如何?另外,之前为何没有仪器公司将波长色散和能量色散放到一起呢?是因为硬件技术难度,还是其他原因?
[size=18px]在平时工作中,身边总是有人在问波长色散分析仪的探测器用的是什么检测器?是什么原理?有的为啥还有需要气体的,搞的好麻烦,气体爆炸怎么办……今天我们就来聊聊[b]波长色散分析仪的检测器[/b]。波长色散的x荧光光谱仪由于要使用分光晶体,从而使得待测元素的分析仪谱线可以较好的分离,故通常使用分辨率不那么高的流气式正比计数器和NaI闪烁计数器作为光谱仪的探测器。主要说说流气式正比计数器[b]气体正比计数器又可以分为封闭式和流气式正比计数器[/b],由于封闭式正比例计数器分辨率太低,而且温差电冷能量探测器已经实用化,所以封闭式正比例计数器将会慢慢被淘汰。我们主要来说说流气式正比例计数器,一般情况下,流气式正比计数器为一个直径2cm住状体,中间有一根20-30μm的金属丝,用作前放信号和外部高压的接头,筒状体内部充入惰性气体和淬灭气体,通常为90%的氩气和10%的甲烷气体混合器,并在金属丝和柱壳间施加1400V~1800V的电压。当流气式正比计数器中的探测气体收到X射线的照射时,或产生大量的负电子和正电性氩离子组成的离子对。假设入射X射线的光子能量为E,产生离子对的有效电离能 为V,由入射X射线光子产生的平均离子对数n与入射X射线光子的能量成正比,与离子对的有效电离能成反比:n=E/V产生的电子在电压作用下会逐渐加速飞向样机金属丝,并引发进一步的氩原子电离,这一效应被称为电离增益,流气正比探测器的电离增益一般为6*10四次方。。。。经放大后的电流由电容收集,产生的脉冲电压与入射光子的能量成正比。在这里需要注意的是,脉冲高度和强度的区别。[b]脉冲高度:[/b]指由单个X射线产生的单个脉冲电压幅度。[b]X射线强度:[/b]指每秒钟测得的脉冲数。重点来了,[b]探测器的分辨率一般定义为峰高一半处所对应的谱峰宽度,简称谱峰半高宽。[/b]流气式正比计数器一般适用于较长波长的X射线探测,通常用于0.15~5nm波长的X射线探测,对于0.15以下的波长,探测的灵敏度很低,这也就是为什么目前很多的X荧光分析仪会设置有多个检测器的原因。希望这样的小知识普及能够让大家明白什么是流气式正比计数器,并且知道他的原理,这样见到这类型的分析仪就不会在这边面有疑问啦![/size]
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要购买波长色散型的XRF,请大家说说自己的仪器型号及使用心得。如果是仪器公司,请详细写明你的仪器型号及各部件的参数及报价。要说明的内容有: X射线管、高压发生器、通道面罩及准直器、分光晶体、探测器、测角仪、附件。邮箱:314994637@qq.com
我们后面准备采购波谱,想向各位用过的老师了解一下波长色散XRF的具体真实情况。由于预算问题,布鲁克和帕纳科暂时不考虑。请问岛津1800、赛默飞ARL9900、理学Primus III+这三款波谱,同配置下的:1、仪器性能稳定性,2、价格,3、后期维护价格,4、故障率,5、市场占有率,6、其他(不限于以上5点)感谢各位老师知无不言、言无不尽、倾囊相授!晚生再次感谢了!!!