一直没有很明白波长色散和能量色散区别,波长对应的一样是能量吧
能量色散分析仪只有一个探测器,它对测量X射线能量范围是不受限制的,而且这个探测器能同时测量到所有能量的X射线。也就是说只要激发样品的X射线的能量和强度能满足激发所测样品的条件,对一组分析的元素都能同时测量出来。一般有以下三种基本类型的探测器可用于测量X射线:密封式或流气式充气探测器、闪烁探测器、半导体探测器。 能量色散的条件是当样品被激发后产生的X射线通过窗口进入探测器探测器把X射线能量转换成电荷脉冲,每个X射线光子在探测器中生成的电荷与该光子的能量成正比。该电荷被转换成电压脉冲,当这些电压脉冲经充分放大后,被送入脉冲处理器,脉冲处理器把这些代表着各个元素的模拟信号再转换成为数字信号,由计算机进行分类,分别存入多道分析器(MCA)的相应通道内,一般使用1024-2048道MCA。这些通道覆盖了分析的整个能量范围。 波长色散分析仪是用多个衍射晶体分开待测样品中各元素的波长,由此对元素进行测量。晶体被安装在适当位置,以满足布拉格定律的要求。 X射线荧光分析和其它光谱分析一样,也是一种相对分析。这就是说,要有一套参考标样,这些参考标样能够在可能感兴趣的范围内覆盖所测元素。首先对这些标样进行测量,记录欲分析元素的强度,建立浓度(含量)、强度(CPS)校准曲线,存入处理数据的计算机,供以后分析同一类型未知样品时使用。 最简单的校准线是直线,强度与浓度的依赖关系反映仪器的灵敏度。 另外由于校准线要在很长一段时间内使用,所以应对仪器的漂移作出调整,尽管这种漂移不大,但它确实存在。这可以通过对每个分析元素选用高、低两个参考点来实现。制备若干被称作SUS(调整样)的特殊样品,它们含有适量的分析元素,有很好的长期稳定性。利用它们可以求出高、低强度值。
个人认为,光管的功率和使用与仪器需求有关系,国内的波长色散基本上都是固定道的,也就是在接收器的不同位置上会安装多个探测器,只能测试固定的多个元素,仪器内部不需要有任何旋转机构,而国外的波长色散大多是扫描道的,是通过旋转晶体将不同波长的X荧光调整到同一个接收点来接收,这样的话可以测试所有的元素,而且只需要一个接收探测器(一般会配3个或者2个,根据波长范围选择)。对于固定道德由于是多个探测器同时在测试多个元素,因此,需求的激发功率没那么高,而扫描道的是要在一个探测器上接收不同晶体旋转位置时的光谱,因此对单位时间内的记数要求很高才能达到测试的要求。比如同样是测试10秒,固定道的每个探测器所测试的元素都是测试了10秒,而扫描道的是在整个扫描过程中测试了10秒,不同波长的测试时间是远远低于10秒的。这就是为什么光管功率差别很大的原因。在满足了仪器测试需要的情况下,肯定是选用功率合适的就可以了,可以降低仪器的设计要求。
波长色散型荧光光谱仪,在做样时,样品放进去之后,点击软件上的测试按钮后,荧光光管自动关掉,重启光管没有用,要关机再启动,再启动光管,光管才能打开。出现的错误是:由于连接超时,光光谱仪断开和Spectrometer error:3,0,4,0,0 turret timeout。请问是怎么回事?我们的仪器型号是帕纳科公司的 AXios Advanced 。恳请各位高手给予指点!
虽然波长色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪与能量色散型(WD-XRF)X射线荧光光谱仪同属X射线荧光分析仪,它们产生信号的方法相同,最后得到的波谱或者能谱也极为相似,但由于采集数据的方式不同,ED-XRF(波谱)与ED-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同,功能也有区别。 (一)原理区别 X-射线荧光光谱法,是用X-射线管发出的初级线束辐照样品,激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光仪(WD-XRF)是分光晶体将荧光光束色散后,测定各种元素的含量。而能量色散型X射线荧光光仪(WD-XRF)是借助高分辨率敏感半导体检测器与多道分析器将未色散的X-射线按光子能量分离X-射线光谱线,根据各元素能量的高低来测定各元素的量。由于原理不同,故仪器结构也不同。 (二)结构区别 波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管)、样品室、分光晶体和检测系统等组成。为了准确测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体系安装在一个精密的测角仪上,还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射,造成强度的损失,要求作为光源的X-射线管的功率要大,一般为2~3千瓦。但X-射线管的效率极低,只有1%的电功率转化为X-射线辐射功率,大部分电能均转化为热能产生高温,所以X-射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷),因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。能量色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管)、样品室和检测系统等组成,与波长色散型荧光光谱仪的区别在于它用不分光晶体。由于这一特点,使能量色散型荧光光仪具有如下优点: ①仪器结构简单,省略了晶体的精密运动装置,也无需精度调整。还避免了晶体衍射所造成的强度损失。光源使用的X-射线管功率低,一般在100W以下,不需要昂贵的高压发生器和冷却系统,空气冷却即可,节省电力。 ②能量色散型荧光光仪的光源、样品、检测器彼此靠得很近,X-射线的利用率很高,不需要光学聚集,在累积整个光谱时,对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感,对样品形状也无特殊要求。 ③在能量色散谱仪中,样品发出的全部特征X-射线光子同时进入检测器,这就奠定了使用多道分析器和荧光屏同时累积和显示全部能谱(包括背景)的基础,也能清楚地表明背景和干扰线。因此,半导体检测器X-射线光谱仪能比晶体X-射线光谱仪快而方便地完成定性分析工作。 ④能量色散法的一个附带优点是测量整个分析线脉冲高度分布的积分程度,而不是峰顶强度。因此,减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减小了仪器的漂移影响,提高净计数的统计精度,可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素,而不是按特定谱线分析特定元素。因此,见笑了偶然错误判断某元素的可能性。(选自网络,侵删)
各位专家好,我是初学者,请问都有哪些因素会影响XRF波长色散荧光光谱仪的测试结果哪?压片法和熔片法分别在什么时候选择?恳请各位解答!
谁能提供一些目前水泥厂常用的波长色散X荧光光谱仪的品牌和价格呀,多谢啦!
随着欧盟ROHS指令实施日期的日益临近,国内越来越多的相关企业在积极的思考和寻找应对的方案;X荧光分析技术(XRF)作为一种方便有效的快速分析手段,正迅速被业内人士所了解和应用。目前在中国市场上,应用于ROSH指令的X荧光分析仪均为能量色散类型;一般情况下,波长色散类型的X荧光分析仪器的准确度比能量色散类型的仪器要高很多;但应用于ROHS指令的场合时,波长色散和能量色散则各有优缺点,测量对象各有侧重;以下将从几个方面对两种类型的仪器进行比较和说明: 波长色散 能量色散 (Si-Pin)型 (SDD)型测量精度 20~50ppm 200~300ppm 100~200ppm测量时间 1~2分钟 4~6分钟 3~5分钟被测样品要求 规则形状需要制样 可以不规则形状 可以不规则形状 最佳应用范围 原料半成品成品电子元器件原料半成品成品电子元器件能量分辨率高,约15eV较低,约160eV较低,约160eV荧光强度高低较高技术复杂程度复杂简单较复杂使用寿命>10年>5年>5年仪器价格46万(国产)25万左右(国产)60万左右(进口)50万(国产)1、测量精度:尽管目前各家能量色散仪器(均为Si-Pin类型)生产商和销售商都给出了很高的技术指标,但在实际应用中(特别在被测样品不进行处理的情况下),真正可以期待的准确度都在200~300ppm之间(测量塑料中有害元素时,准确度会好一些;对不规则样品,则精度会更差);同时,对于同类型的仪器,进口仪器的指标和国产仪器之间并没有本质差别(基本配置),但进口仪器的价格却昂贵很多。波长色散X荧光分析仪的测量准确度比能量色散类型高一个数量级,基本在20~50ppm左右。2、测量时间:由于波长色散配备较大功率的X光管,荧光强度高;因此,波长色散仪器占用较短的测量时间,便能达到较高的测量精度。3、被测量样品的要求:由于技术特点的差异,波长色散X荧光分析仪需要对被测量样品进行简单的处理;对固体样品的一般处理方法是将被测量样品表面打磨光滑,对粉末和其他样品可以采用磨细后进行粉末压片法处理,相应的设备市场上很容易找到。能量色散型仪器最大的优势在于:可以对样品不作处理直接进行测量,对样品也没有任何损坏,直接用于生产的过程控制中;但需要强调指出的是:从荧光理论上讲,被测量样品的预先处理是必须的,对于能量色散仪器来说,我们可以采取一些技术手段进行校正来满足实际生产控制的需要,但即使采用了技术校正的手段,对不规则样品的直接测量也是以牺牲测量准确度作为代价的。4、最佳应用范围:由于波长色散和能量色散类型X荧光分析仪各自的技术特点,两种类型仪器所侧重的应用方案也不尽相同;波长色散X荧光分析仪具有较高的测量精度,但同时需要对被测量样品进行简单处理,更适用于进厂原材料、半成品、成品的精确检测和质量控制;能量色散X荧光分析仪虽然测量精度稍差,但具有快速、直接测量各种形状样品的优点,因此可直接在生产线上用于各种部件、电子元器件的检测。5、能量分辨率:能量分辨率是X荧光分析仪器的主要指标,分辨率数值越小,分辨率越高,仪器性能越好。6、荧光强度:对于X荧光分析仪器来说,各元素含量与该元素的荧光强度成正比关系;荧光强度越高,则统计误差越小,测量的准确度越高,仪器性能越好。7、使用寿命:波长色散类型仪器的使用寿命一般为10年以上;能量色散类型仪器的使用寿命一般也大于5年,影响能量色散型仪器寿命的主要因素是探测器部分的老化导致其性能指标变差。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=48263]波长色散X荧光分析仪与能量色散X荧光分析仪[/url]
用波长色散X荧光光谱仪进行样品扫描时,出现了某元素的La线,而未出现该元素的Ka线,请问能确定该元素的存在吗?
我们公司刚买了一台波长色散型x荧光光谱仪,当光管设置为50KV/50mA时高压发生器会发生异常的响声,那时侯厂家的工程师也在,他把发生器取下来搞了很常时间,之后的几天高压发生器倒是没响了。他当时给的解释时:发生器内有杂物,清理之后应该就没问题了。但是当他走后,我们把光管设置为60KV/40mA时又响了,但是只是响了一次,之后又一直没想了。真不知道怎么解释这种情况。
波长色散X射线荧光光谱仪能测量水泥中的fCaO吗?请教各位专家解答!
x能量色散荧光仪和波长色散荧光仪的区别
我最近想买一台荧光光谱仪,不知道能量色散的好还是波长色散的好,主要是用来分析高炉的炉渣用
一.X射线荧光分析仪简介 X射线荧光分析仪是一种比较新型的可以对多元素进行快速同事测定的仪器。在X射线激发下,被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线(X-荧光)。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪(WD-XRF)。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动,不断地改变衍射角,便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度,可以据此进行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代,由于可以对复杂体进行多组同事测定,受到关注,特别在地质部门,先后配置了这种仪器,分析速度显著提高,起了重要作用。随着科学技术的进步在60年代初发明了半导体探测仪器后,对X荧光进行能谱分析成为可能。能谱色散型X射线荧光光谱仪(ED-XRF),用X射线管产生原级X射线照射到样品上,所产生的特征X射线(荧光)这节进入SI(LI)探测器,便可以据此进行定性分析和定量分析,第一胎ED-XRF是1969年问世的。近几年来,由于商品ED-XRF仪器及仪表计算机软件的发展,功能完善,应用领域拓宽,其特点,优越性日益搜到认识,发展迅猛。 二.波长色散型X射线荧光光谱仪与能量色散型X射线荧光光谱仪的区别 虽然光波色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪与能量色散型(ED-XRF)X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪,它产生信号的方法相同,最后得到的波谱也极为相似,单由于采集数据的方式不同,WD-XRF(波谱)与WD-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同,功能也有区别。(一)原理区别 X射线荧光光谱法,是用X射线管发出的初级线束辐照样品,激发各化学元素发出二次谱线(X-荧光)。波长色散型荧光光仪(WD-XRF)是用分光近体将荧光光束色散后,测定各种元素的特征X射线波长和强度,从而测定各种元素的含量。而能量色散型荧光光仪(ED-XRF)是借组高分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线,根据各元素能量的高低来测定各元素的量,由于原理的不同,故仪器结构也不同。(二)结构区别 波长色散型荧光光谱仪(WD-XRF),一般由光源(X-射线管),样品室,分光晶体和检测系统等组成。为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角,分光晶体系安装在一个精密的测角仪上,还需要一庞大而精密并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射,造成强度的损失,要求作为光源的X射线管的功率要打,一般为2-3千瓦,单X射线管的效率极低,只有1%的功率转化为X射线辐射功率,大部分电能均转化为而能产生高温,所以X射线管需要专门的冷却装置(水冷或油冷),因此波谱仪的价格往往比能谱仪高。 能量色散型荧光光谱仪(DE-XRF)
现在明胶是一个热门话题,不知道有没有人用波长色散X荧光测试里面的六价铬。有做的战友,站出来分享一下呗,,,,
如题,求助一下,哪位大侠用波长色散做过化肥?制样方法是什么?压片还是熔融?如果做添加回收的话,怎么添加?望做过的大侠指点一二,谢谢了!
[color=#00008B][size=4][font=新宋体]本论坛中已经有充分的讨论,但值得提醒各位的是,文中所讨论的测试方法完全是针对扫描道的波长色散仪器,对于固定道的波长色散类仪器,有很多技术指标是不适用的。欢迎讨论![/font][/size][/color]
哪位老师有了解波长色散x射线荧光光谱仪校准/检定结果的不确定度评定的,帮忙梳理下,不确定度评哪个项目?
请大家在附件中查看:波长色散型x荧光仪和能量色散型x荧光仪的区别!
各位仁兄可知广东有哪些企业有ZSX100e波长色散型荧光光谱仪的?
波长色散与能量色散XRF在测试ROHS六项时,一定是波长色散准确吗?二者有哪些优缺点?
如题,公司打算购买一台帕纳克Axios波长色散X荧光,主要用来测锌精矿里的Fe,S,Ca,Mg,Ge,Sb等元素,测试样品是粉末压片的。想请教一下有大侠知道有没有关于波长色散X荧光分析仪测锌精矿各种元素的相关国家标准。在此先谢过了。急急急~~~
求[font=none][size=20px]布鲁克X射线荧光光谱仪 波长色散型S8 TIGER操作规程,或者操作方法[/size][/font]
在日前召开的Pittcon 2015上,帕纳科宣布推出一款革命性新产品——Zetium 多功能X射线荧光光谱(XRF)。Zetium测量平台同时将波长色散(WD)和能量色散(ED)整合进一台仪器;同时,Zetium还拥有一个可用于快速元素分布成像的微焦斑分析工具,以及一个水泥行业专用的创新THETA游离氧化钙通路。http://www.instrument.com.cn/news/20150311/155074.shtml同时进行波长色散和能量色散XRF分析,其实际应用价值如何?另外,之前为何没有仪器公司将波长色散和能量色散放到一起呢?是因为硬件技术难度,还是其他原因?
我们后面准备采购波谱,想向各位用过的老师了解一下波长色散XRF的具体真实情况。由于预算问题,布鲁克和帕纳科暂时不考虑。请问岛津1800、赛默飞ARL9900、理学Primus III+这三款波谱,同配置下的:1、仪器性能稳定性,2、价格,3、后期维护价格,4、故障率,5、市场占有率,6、其他(不限于以上5点)感谢各位老师知无不言、言无不尽、倾囊相授!晚生再次感谢了!!!
我们单位想对波长色散X荧光仪检定建标,但是我看了一下检定规程,它所用的标准物质无法溯源,不知道不确定度该如何评定,哪位大侠能够帮忙指点一下,谢谢!
多通道波长色散X荧光仪器检测能力相对于顺序型波长色散X荧光仪器,能到达什么水平?比如测定准确度,检测限,精度方面。pb:5ppm,Ti:10pmm ,Ni:10pmm ,V:8ppm ,p:60ppm ,S:12PPM有没有问题。(样品为有机硅)帮朋友调研,欢迎讨论
大家用波长色散X荧光测铅都用那条线呢?为什么测铅要用LB线呢?请高人指教。
帕纳科的波长色散型X射线荧光光谱仪列入国家质检中心时需要检定或者校准吗?如需要的话哪一部分需要呢,具体在哪里可以检定或者校准呢?
新的X 射线荧光光谱仪安装调试结束后, 需要对仪器的技术性能进行测试验收, 仪器经过一段时间运行, 由于维修或其他原因使仪器状态发生变化时, 也需要对其性能进行测试。本实验室于1998 年购置了一台SRS3400 型X 射线荧光光谱仪, 合同中规定按澳大利亚关于波长色散型X 射线荧光光谱仪精密度测试的标准方法[ 1 ]验收, 仪器调试完毕即按该标准进行技术性能测试, 获得了令人满意的结果, 验收合格后, 按中国国家计量检定规程[ 2 ]进行计量检定, 通过了CC IBLAC 认可委员会的现场评审。澳大利亚标准包括4 个方面: 1、测试的频率 2、计数器测试, 包括分辨率和流气计数器窗膜的导电率 3、光谱仪精密度测试, 包括各个部件的到位精密度和仪器的稳定性 4、确定计数器的死时间。国家计量检定规程包括外观和技术性能两部分, 技术性能指仪器的精密度和稳定性, 计数器的计数率、分辨率和计数线性, 与澳大利亚标准在很多方面是相似的, 考虑到计数器的死时间已在仪器出厂前由仪器公司设定, 故本文主要介绍计数器性能和仪器的精密度与稳定性测试方法。[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=77584]波长色散X射线荧光光谱仪的性能测试方法介绍[/url]