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测量枫桦率时仪

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  • 【原创大赛】砝码磁化率影响测量结果的实验验证

    【原创大赛】砝码磁化率影响测量结果的实验验证

    砝码磁性在检测电子天平或使用电子天平作为衡量仪器检测砝码时,会对测量结果带来影响,影响量既不能进行质量修正,也不能进行相应的不确定度评估。所以在国际建议R111和JJG99-2006《砝码检定规程》中,均给出了砝码的磁化率最大允许误差,在砝码的磁性满足规程要求时,砝码和电子天平之间将不会引起质量量值的改变,由磁性引起的不确定度分量也可忽略不计。以下通过实验对砝码磁性带来的影响进行验证。使用的设备:标准砝码:使用经国家计量院检定合格的E1等级砝码作为标准砝码,材质:JF-1型无磁不锈钢;被检砝码:1988年生产的原二等标准砝码,材质:铜合金,带调整腔,实测磁化率3.4(因填充物影响,磁化率明显高于检定规程要求),标称质量:20g。衡量仪器:使用不同的衡量仪器分别对被检砝码的质量进行测量,分别选用Metter Toledo公司生产的XPE56C型和AX26型电子天平,最小分度值均为1微克。[img=,690,1419]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/09/201909111447091038_37_1638093_3.jpg!w690x1419.jpg[/img]XPE56C型电子天平[img=,690,1419]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/09/201909111447359258_3397_1638093_3.jpg!w690x1419.jpg[/img]AX26型电子天平 实验采用ABA循环测量,为减小其他因素带来的影响,检测过程中均使用吊挂式秤盘测量,消除电子天平偏载误差带来的影响,次用10次测量结果的平均值作为测量结果,减小测量重复性带来的影响。测量数据如下:[img=,591,340]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/09/201909111449088068_6536_1638093_3.png!w591x340.jpg[/img][img=,620,358]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/09/201909111449230108_1481_1638093_3.png!w620x358.jpg[/img] 为方便计算,使用砝码测量过程中标准砝码与被检砝码的差值作为测量结果。 通过测量数据可见,在算数平均值的标准偏差基本相等的条件下,均为0.002mg,测量结果明显不同,相差0.0076mg。在电子天平偏载误差引入的不确定度可忽略,测量重复性基本一致,标准砝码相同,在相同环境条件下,短时间测量的情况下,可以确认该现象是由于被检砝码磁性造成的。而且在不同电子天平上造成的影响力并不相同,无法进行评估。 所以,只有在砝码磁性符合相应等级砝码要求时,才可用于对应等级的电子天平和砝码的检测。

  • 【求助】测As时出峰不平滑有毛刺有哪些原因?原子荧光统计测量法有人用吗?

    1.测As时候 出峰不平滑 有毛刺 都有哪些方面原因 测As时 ,虽标准系列线性没问题,测样的结果也没问题,但出峰不平滑,有毛刺,都有哪些原因?不测液体样,而直接在原子化器上用小物体反射灯的信号给光电检测器时,得到的峰是平滑的.这样的现象能排除哪些原因,可能会是哪些原因?会是因为氩气流量计漏气吗氩气流量计底座有气体泄漏,放手在底座上有气流冲击的凉感(流量计读数还是较稳定的,300和1000ml/min)2.原子荧光统计测量法有人用吗? 原子荧光仪器的方法选择里有标准曲线 标准加入 统计测量 3种。大家都用标准曲线,统计测量法有人用吗?建立这个方法的目的是什么?和标准曲线法做法有何区别?[em0801]

  • 多点氡析出率仪|表面氡析出率测量仪

    多点氡析出率仪|表面氡析出率测量仪

    在地层深处含有铀、镭、钍的土壤、岩石中。人们可以发现高浓度的氡。这些氡可以通过地层断裂带,进入土壤和大气层。建筑物建在上面,氡就会沿着地的裂缝扩散到室内。从北京地区的地址断裂带上检测表明,三层以下住房室内氡含量较高。[img=多点氡析出率仪,660,550]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/06/201606061133_596105_3098478_3.jpg[/img]REM-IV多点[url=http://www.zgfangfuyuan.com/product/cdy/221.html]氡析出率测量仪[/url]是一种可携式表面氡析出率测量仪,由中国辐射防护研究院研发生产,其造型和结构具有典型的优越性,能“实时”“快速”测量介质表面氡的析出水平,可用于地下工程、矿山井下、旅游山洞、核设施场所、尾矿库以及建材、土壤、地面等表面氡析出率测量,是一种寻找氡的来源和氡治理的必备装置。适合于GB50325《民用建筑工程室内环境污染控制规范》要求的土壤表面氡析出率测定,也可在建筑施工或装修前就石材、水泥、涂料等建筑材料进行放射性检测与识别,指导选用优质建材。该仪器2004年已获国家实用新型专利,专利号:ZL200420096051.0。◆ 特点:1.主机、探头、衰变收集室等。2.智能化触摸屏手写与显示:微电脑控制,点阵式液晶显示,中文状态条提示操作及状态。3.可接4个衰变收集室。4.标准RS232/RS485接口:可将采集数据传送给上位机。5.日历时钟功能,工作电源:AC220V交流电源。 ◆ 外接氡析出收集衰变室技术参数:◇ 半导体探测器,灵敏度:1.1×cph/Bq/m3(氡)◇ 探测器前有靠静电作用收集218Po离子的铝膜,采用镶嵌铝膜结构,实现快速测量(高水平环境),普通环境不需要更换铝膜◇ 对239Pu α面源的探测效率:35%(2π)◇ 计数容量99999999,测量范围:5×10-5~102Bq/(m2s)◇ 测量时间:方式2为1~120分内据其氡析出率高低自行设置,方式1为连续测量,可保 存200个历史测量值◇ 具有可改变参数设置,自动显示,可即时给出测量结果等特点◇ 可不使用外置打印机,测量历史值按输出键即可查出◇ 环境温度:-5~40℃ 相对湿度:≤90%◇ 供电电源:AC220V-DC5V与外挂6V蓄电池,配有专门充电器。◇ 尺寸与重量:Ф200*140,1.5Kg更多信息请关注微信号:bjryton技术提供:中国辐射防护研究院联系人:张经理 13720045883来源: http://www.zgfangfuyuan.com/product/cdy/221.html

  • 【杨啸涛研究员】回用户【woshi0917】关于石墨炉原子吸收中的峰值测量和积分测量的问题

    woshi0917,我打字慢,今天先回答你一个问题:石墨炉[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]中的峰值测量和积分测量 依据L'vov的动力学模型,在石墨炉原子化过程中吸收信号的测量方式,主要是峰值(又称峰高法)测量与积分(又称峰面积法)测量两种方式。1. 在快速电子电路实现后,通常的计算模型如下: 如果石墨炉[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]信号表述为:A(t);(吸光度随时间的变化) 峰值测量为: Max{A(t)} 其单位为吸光度(Abs,或A) 积分测量为: [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2005/03/200503211018_2802_1868106_3.gif[/img] 其单位为吸光度*秒(Abs*S或A*S)。公式中,A(ti)为从原子化开始到原子化结束每一个测量时间(通常是每一个空心阴极灯点灯脉冲)测得的吸光度。n为测量频率(1/s)。这与火焰测量不同,火焰测量的积分信号与其说是积分不如叫时间平均(Time average)其表达式为:[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2005/03/200503211018_2803_1868106_3.gif[/img]单位为:吸光度(Abs或A),其中,t为测量时间2. 峰值测量和积分测量的比较:依据L'vov的动力学模型对于峰高测量方式,只要 原子化时间/原子平均停留时间《1,即使两者数值有所变化,用峰值测量法仍可获得稳定的分析结果。易挥发性元素其峰值吸光度受原子化温度影响较大,样品中共存的物质也影响峰值吸收信号。积分测量(又称峰面积测量)方式,其应用条件是:样品全部原子化,在分析体积内原子平均停留时间保持不变。它仅与样品原子总数No和原子平均停留时间有关,而与原子化时间无关,即:样品共存物质特性引起的吸收信号的变化,不影响测量结果。◆分析灵敏度和精密度:报道过对于不同几何尺寸的石墨管,峰高与峰面积测量方式的结果。若升温速率高,原子蒸气停留时间短,两种测量方式的结果和精密度比较接近,对易挥发性元素,用峰高测量方式分析灵敏度要好一些。中等挥发性、低挥发性元素的峰面积信号均大于峰高信号。无论是从理论还是实践上,峰面积测量的精密度好于峰高测量方式,由于它能比较独立于样品蒸发过程,即较少依赖于原子化温度,更少受到基体所引起的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]信号在时间间隔上的位移和形状畸变的影响◆工作曲线:我和何华昆先生在“电热原子化[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收光谱[/color][/url]法的积分测量和校正曲线的线性“(本文发表于1986年,曾被SCI引用)一文中指出,无论是逐步升温或恒温原子化,对不同封闭特性的原子化器,积分测量方式所获得的工作曲线的线性要优于峰高测量方式。若待分析元素的工作曲线因仪器参数、分析条件、或元素本身的特性对吸收定律有一偏离,在峰高测量方式中,原子蒸气浓度达到最大时所测得的峰值吸光度与这种偏离成直接的对应关系。而在峰面积测量时,由于在工作曲线中总能找到一个线性区域,在原子蒸气形成与消失过程中,浓度处于线性范围时的吸收信号被积分,原子蒸气浓度达到最大时,偏离吸收定律的部分对积分吸光度的贡献变小。◆ 背景校正精度:在石墨炉[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]中,背景信号也随时间迅速变化。进行背景校正时,样品道信号(指测量总吸收信号的光束)和参考道信号(指测量背景吸收信号的光束)的测定时间差造成测定误差,(背景校正时就像将背景信号进行了一次微分,剧烈的上升沿和下降沿在校正后的信号变成一正一负的小尖脉冲)特别是在高背景低[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]信号情况下,使用峰值测量,可能这个误差会淹没真正的信号。采用积分测量便能使这个误差趋近于零。这也被实验证明。◆ 用于平台石墨炉原子化:L'vov曾经指出积分测量对于石墨炉[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]的绝对测量具有很大意义。使用积分测量的唯一条件是使原子平均停留时间保持不变,而这主要取决于石墨炉温度的时间空间稳定性。因此,使用平台石墨管时,使用积分测量的效果特别明显。在平台炉中,使用积分测量,在不同原子化温度下,峰值吸光度变化很大,而积分吸光度变化很小。另外,对于不同的样品基体,使[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]信号发生位移或崎变时,积分吸光度的变化也很小。还是引用W.Slavin关于“稳定温度的平台石墨炉的概念”中的一段话:*****************我们把使用平台和其它一些辅助技术看成获得无明显干扰的总体。我们把该整体称作“稳定温度平台石墨炉”或STPF。….该整体技术的各组成部分间有着密切的关系,这些关系还未完全弄清。构成STPF的各特征技术如下; 1.L’vov平台。 2. 快速数字式电子电路,每次测量需时小于10一20毫秒。 3. 采用积分吸光度信号(As)定量,而不用峰值信号(A)定量。 4. 加人基体改进剂使被测物在灰化阶段稳定。 5. 采用高质量的热解涂层石墨管使它与被测物或基体的化学反应降到最低程度。 6. 使炉管快速升温(速度大于1 ,500c/秒)。 7. 在原子化阶段不通载气流(称之为停气)。 ‘ 8.用氩气作载气而不用氮气。9. 除最简单情况外,所有测定均使用塞曼效应背景校正器。(以上是引文)可见积分测量在石墨炉分析中是很重要的!3.使用注意:1. 对于易形成碳化物元素,造成[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]信号“拖尾“时不要使用积分吸收。2. 在信号后期处理中,需要用“时间窗“处理的,不要使用积分吸收。3. 低温元素在较高的升温速率下原子化,用峰值测量时很好的。另外:关于石墨炉[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]分析有两本书我个人觉得很好,一本是:马怡载,何华昆和我合作编著的《石墨炉[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]分光光度法》一本是:李述信,孟广政等翻译的《石墨炉[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]分析指南》原文是W.Slavin的《Graphite Funace [url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]AAS[/color][/url] -A Sourse Book》,这两本书很老了,但基本概念基本理论都涉及到了,讲的也比较清楚。虽然,后来有了更多的应用资料,显得内容较陈旧。如果有Slavin的原版书就更好了,标准的美式英语,文采好极了。我在和李述信同时翻译此书,没能出版,但受益匪浅!

  • 铝氧化膜厚度的测量

    请问谁知道正常氧化条件下铝的氧化膜厚度的测量方法,估计在10nm以下。听说用辉光光谱可以测,上海哪里有这个仪器呢?另外ESCA 化学分析电子光谱也能测,谁知道具体信息。还有人说XPS也能测,谁知道?

  • 【转帖】电导率仪是测量两电极板间的电流的仪器

    以下原文来自:http://www.saikehb.cn/article-1554.html 什么是电导率?电导率是物体传导电流的能力。电导率的基本单位是西门子(S),原来被称为欧姆。因为电导池的几何形状影响电导率值,标准的测量中用单位电导率S/cm来表示,以补偿各种电极尺寸造成的差别。单位电导率(C)简单的说是所测电导率(G)与电导池常数(L/A)的乘积.这里的L为两块极板之间的液柱长度,A为极板的面积。 电导率仪的工作原理是什么?电导率仪的测量原理其实就是按欧姆定律测定平行电极间溶液部分的电阻。电导率测量仪是因为电导电极内部结构中的两块平行的极板,在被测溶液中,使得极板的两端加上一定的电势——通常为正弦波电压,然后测量极板间流过的电流。 根据欧姆定律,电导率(G)--电阻(R)的倒数,是由电压和电流决定的。主要计算方式   1   I (amps) G = ── = ───── ;   R   E (volts) 但是,当电流通过电极时,会发生氧化或还原反应,从而改变电极附近溶液的组成,产生“极化”现象,从而引起电导测量的严重误差。为此,采用高频交流电测定法,可以减轻或消除上述极化现象,因为在电极表面的氧化和还原迅速交替进行,其结果可以认为没有氧化或还原发生。电极常数常选用已知电导率的标准氯化钾溶液测定。不同浓度氯化钾溶液的电导率(25℃)列于下表。溶液的电导率与其温度、电极上的极化现象、电极分布电容等因素有关,仪器上一般都采用了补偿或消除措施。 电导率仪由电导电极和电子单元组成。电子单元采用适当频率的交流信号的方法,将信号放大处理后换算成电导率。因为溶液中离子的电荷会加速电流的导通,所以溶液的电导率与溶液中的离子浓度成比例。但是,某些溶液的电导率与离子浓度没有直接的关系。参考dds-11a-s电导率仪的使用方法说明见http://www.saikehb.cn/article-305.html 。

  • 非接触测量物体振动的速度,加速度,位移,运动轨迹,频率-激光测振仪

    激光测振仪(进口)位移分辨率高达0.008纳米。非接触测量物体振动的速度,加速度,位移,运动轨迹,频率.全场激光测振实现整面物体的XY轴的振动测量可以彩色动画输出。三维激光测振可以实现三轴振动测量。多点激光测振可以同时实现16个振动点振动并可以测量物体瞬间振动和实时的振动模拟.激光测振可以实现对振动幅值、频率测量。使用激光进行非接触式测量,记录被测体在振动过程中的运动轨迹,并用最大值减去最小值得到振幅。当振幅超过界定值时,可通过软件设置输出报警信号。采样频率高,能精确还原被测体运动轨迹并通过图像显示出来。传统振动测量仪都会对机械振动带来的影响,而激光测振动测量系统使用各种滤波器,使测量结果更加稳定准确。还可以测量高频振动加速度峰值和平均值,测量低频振动速度有效值。应用于如磁盘振动,压电陶瓷振动,汽车玻璃振动,桥梁振动,油罐车振动,机床精密加工振动等等微小振动的测量。非接触高精密测量精密机械加工微小振动 如压电陶瓷,硬盘振动,山体滑坡,桥梁振动,汽车发动机输油管振动,汽车玻璃振动,高压器振动,水面振动激光多普勒测振仪最大测量速度可达20m/s,最大频率范围可达2.5MHZ,可以检测到纳米级别的振动.激光多普勒测振仪采用非接触式的测量方式,可以应用在许多其他测振方式无法测量的任务中。频率和相位响应都十分出色,足以满足高精度、高速测量的应用。使用非接触测量方式,无需耗时安装调节传感器、无质量负载,且不受被测物体的尺寸、温度、位置、振动频率等的限制。还可以检测液体表面或者非常小物体的振动,同时,还可以弥补接触式测量方式无法测量大幅度振动的缺陷。 应用:如磁盘振动,压电陶瓷振动,汽车玻璃振动,桥梁振动,油罐车振动,机床精密加工振动等等微小振动的测量。 非接触高精密测量 精密机械加工微小振动如压电陶瓷,硬盘振动,山体滑坡,桥梁振动,汽车发动机输油管振动,汽车玻璃振动,高压器振动,水面振动 整片不规则金属大型结构、高温、柔软物体等接触式测量无法满足的振动测量领域的振动情况

  • 电导率仪的测量远离介绍

    电导率仪是适用于精密测量各种液体介质的仪器设备,主要用来精密测量液体介质的电导率值。电导仪配以相应常数的电极可以精确测量高纯水电导率,广泛应用各领域的科研和生产。 电导率仪的测量原理是将两块平行的极板,放到被测溶液中,在极板的两端加上一定的电势,通常为正弦波电压,然后测量极板间流过的电流。利用电导率仪或总固体溶解量计可以间接得到水的总硬度值。测量电导大小的方法,可用两个电极插入溶液中,以测出两个极间的电阻。电极常数常选用已知电导率的标准氯化钾溶液测定。不同浓度氯化钾溶液的电导率(25℃)列于下表。溶液的电导率与其温度、电极上的极化现象、电极分布电容等因素有关,电导率仪一般都采用了补偿或消除措施。 电导率仪是实验室电导率测量仪表,它除能测定一般液体的电导率外,且能满足测量高纯水的电导率的需要。电导率仪可接自动电子电位差计进行连续记录,是食品厂、饮用水厂办理QS、HACCP认证的必备检验设备。

  • 【资料】GB/T 8014-2005 铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法

    [img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=35351]GB/T 8014.1-2005 铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法 第1部分:测量原则[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=35352]GB/T 8014.2-2005 铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法 第2部分:质量损失法[/url][img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=35353]GB/T 8014.3-2005 铝及铝合金阳极氧化氧化膜厚度的测量方法 第3部分:分光束显微镜法[/url]

  • 真空封装器件漏率和内部真空度的非接触测量方法

    真空封装器件漏率和内部真空度的非接触测量方法

    [size=16px][color=#339999][b]摘要:大量MEMS真空密封件具有小体积、高真空和无外接通气接口的特点,现有的各种检漏技术无法对其进行无损形式的漏率和内部真空度测量。基于压差法和高真空度恒定控制技术,本文提出了解决方案。方案的具体内容是将被测封装器件放置在一个比器件内部真空度更高的真空腔体内,采用电动可变泄漏阀和控制器自动调节微小进气流量进行高真空度控制,由此在被测器件内外建立恒定压差,通过测量此压差下的漏率可得到器件内部真空度。[/b][/color][/size][align=center][size=16px][color=#339999][b]=========================[/b][/color][/size][/align][size=18px][color=#339999][b]1. 问题的提出[/b][/color][/size][size=16px] 真空密封器件通常需要在特定的真空度下才能正常工作,即需要高真空度和长时间的真空保持度。例如杜瓦组件作为广泛使用的绝热容器在制冷、 红外探测以及超导中都有应用,而杜瓦的绝热效果与其夹层真空度直接相关。有机发光二极管对水蒸气和氧气含量特别敏感,工作时需要真空条件,含量超标的水蒸气和氧会严重影响其寿命和稳定性。高精度的MEMS惯性器件如MEMS陀螺仪、MEMS谐振式加速度计等需要工作在高真空环境中,其内部真空度的好坏决定其品质因数的大小。由此可见,为了保证真空密封器件的密封性能,需要对漏率和真空度的变化进行测试评价,但由于存在以下几方面的原因,使得这种评价技术成为目前迫切需要解决的难题:[/size][size=16px] (1)对于大多数真空密封器件而言,其几何尺寸一般很小,且不能配置真空度和漏率测量接口,这导致了很多现有真空测量领域的传感器和仪器都无法直接使用。[/size][size=16px] (2)对于个别真空封装器件,可通过在外部形成高压将示踪气体(如氦气)加载到真空封装器件内,然后再在外部抽真空条件下采用检漏仪测量真空封装器件的漏率。但这种方法往往会破坏真空封装器件内部的真空度,且不可逆转,可能会造成真空封装器件性能的降低。[/size][size=16px] (3)直接在真空密封器件内集成真空度传感器不失为一种有效手段,如集成如皮拉尼计和音叉石英晶振等,国内外的各种研究也曾在这方面做过努力,但由于所集成传感器自身特性(如结构形状、尺寸、真空度测量范围和精度等)以及所带来附加影响,使得这种技术仅勉强适用于个别真空密封器件,根本无法作为一种通用技术得以应用。[/size][size=16px] 为了解决目前真空封装器件存在的检漏问题,特别是实现对真空封装器件内部真空度的测量,本文基于压差法提出了一种间接测量的解决方案。[/size][size=18px][color=#339999][b]2. 解决方案[/b][/color][/size][size=16px] 对于内部具有一定真空度的真空封装器件,其漏率和内部真空度的测量将基于压差法。具体是即将被测真空封装器件放置在一个要比器件内部真空度更高的密闭腔体内,由此在封装器件内外形成压差。通过测量获得此压差下的漏率,然后再通过漏率计算出器件内部真空度。[/size][size=16px] 依据解决方案设计的真空封装器件漏率和真空度测量装置结构如图1所示。[/size][align=center][size=16px][color=#339999][b][img=真空密封器件漏率和真空度测试系统结构示意图,690,253]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/09/202309041023569886_4228_3221506_3.jpg!w690x253.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#339999][b]图1 真空密封器件漏率和真空度测试系统结构示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 依据检漏中的压差法原理,漏率的测量结果与压差(P1-P0)呈线性关系。因此,如图1所示,只要精确控制密闭腔体内的真空度P1,在测量得到漏率后,就可以计算出真空封装器件内部的真空度。由此可见,测试真空密封器件漏率和真空度需要解决以下两个关键问题:[/size][size=16px] (1)腔体真空度P1的精确控制:对于具有高真空(如P01E-03Pa)的封装器件,腔体真空度需要达到P11E-03Pa的更高真空度,以形成尽可能大的压差,这就要求对超高真空度能实现准确控制,控制精度越高则计算得到器件内部真空度的精度越高。[/size][size=16px] (2)漏率测量:漏率测量也是决定精度的关键因素,具体实施时可以采用各种高灵敏度的漏率测量方法,如氦质谱检漏仪。为了实现定量和高精度的漏率测量,也可以采用特殊设计的漏率测试系统,但这部分内容不在本文阐述的内容之内。[/size][size=16px] 本文的重点是介绍解决方案中的超高真空度精密控制技术。如图1所示,超高真空度的控制采用调节进气流量来实现,具体采用了VLV2023型号的电动可变泄漏阀,进气流量的调节范围是1E-8PaL/s~500PaL/s,调节信号为0~10V。超高真空度控制回路有真空计、真空控制器和电动可变泄漏阀组成,真空控制器采集真空计信号并与设定值进行比较后,输出PID控制信号对可变泄漏阀进行驱动来调节微小的进气流量,由此使腔体真空度快速恒定在设置值处。[/size][size=16px] 在超高真空控制中还面临另外一个问题是真空计输出信号的非线性,为此本文解决方案中采用了具有线性化处理功能的VPC2021系列真空压力控制器,通过在真空和电压的关系曲线中取八个数据点进行拟合,可很好的解决线性PID控制非线性信号的问题。[/size][size=18px][color=#339999][b]3. 总结[/b][/color][/size][size=16px] 综上所述,本解决方案很好的突破了真空密封件漏率和内部真空度测量难题,关键是实现了高真空度精密控制中的微小进气流量自动调节以及传感器非线性输出信号的PID控制器线性化处理。解决方案中的高真空度控制装置可广泛应用于任何真空系统,PID控制器线性化技术可广泛应用于各种非线性传感器测量控制场合。[/size][size=16px] 本解决方案对高真空微小压差下的漏率测试技术并未做详细的介绍,这部分内容将在后续研究报告中给出详细的测试系统描述。[/size][size=16px][/size][align=center][b][color=#339999]~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/color][/b][/align]

  • 【经验】数字化影像测量仪(CNC版)与手摇式影像测量仪的区别!!!!

    影像测量仪(又名影像式精密测绘仪)是在测量投影仪的基础上进行的一次质的飞跃,它将工业计量方式从传统的光学投影对位提升到了依托于数位影像时代而产生的计算机屏幕测量。值得一提的是,目前市面上有一种既带数显屏又接计算机的过渡性产品。从严格意义来说,这种仅把电脑用作瞄准工具的设备不是影像测量仪,只能叫做“影像式测量投影仪”或“影像对位式投影仪”。换句话说:影像测量仪是依托于计算机屏幕测量技术和强大的空间几何运算软件而存在的。影像测量仪又分数字化影像测量仪(又名CNC影像仪)与手摇式影像测量仪两种,它们之间的区别主要表现在如下几个方面:一:数字化CNC技术实现了点哪走哪:手摇影像测量仪在测量点A、B两点之间距离的操作是:先摇X、Y方向手柄走位对准A点,在用手操作电脑并点击鼠标确定;然后摇手到B点,重复以上动作确定B点。每次点击鼠标该点的光学尺位移数值读入计算机,当所有点的数值都被读入后计算机自动进行计算并得到测量结果,一切功能与操作都是分离进行的;数字化CNC影像测量仪则不同,它建立在微米级精确数控的硬件与人性化操作软件的基础上,将各种功能彻底集成,从而成为一台真正义上的现代精密仪器。具备无级变速、柔和运动、点哪走哪、电子锁定、同步读数等基本能力;鼠标移动找到你所想要测定的A、B两点后,电脑就已帮你计算测量出结果,并显示图形供校验,图影同步,既使是初学者测量两点之间距离也只需数秒钟。二:数字化技术实现了工件随意放置:手摇式影像测量仪在进行基准测量时,需要摇动工作平台,然后通过认为判断所要求的点。而数字化影像测量仪可以利用软件技术完成空间坐标系旋转和多坐标系之间的复杂换算,被测工件可随意放置,随意建立坐标原点和基准方向并得到测量值,同时在屏幕上呈现出标记,直观地看出坐标方向和测量点,使最为常见的基准距离测量变得十分简便而直观。三: 数字化技术能进行CNC快速测量:手摇式影像测量仪在进行同一工件的批量测量时,需要人工逐一手摇走位,有时一天得摇上数以万计的圈数,仍然只能完成数十个复杂工件的有限测量,工作效率低下。数字化影像测量仪可以通过样品实测、图纸计算、CNC数据导入等方式建立CNC坐标数据,由仪器自动走向一个一个的目标点,完成各种测量操作,从而节省人力,提高效率。数十倍于手摇式影像测量仪的工作能力下,操作人员轻松而高效.如有疑问请登陆www.yr17.net

  • 哈希dr300二氧化氯测量问题

    使用dr300测量二氧化氯标准样品时总是偏小,请问下什么原因导致的。偏小值大概在25%左右,配置到2mg/l测出来大约1.5左右

  • 折射率是用什么仪器测量的

    使用折光仪测量。折光仪即是将光的折射原理应用于实际的一种测量仪器,即当某种物质的密度增加时,其折射率的增大与之成正比。折光仪是在20世纪早期由德澳科学家Ernst Abbe先生首先制造出来的。折射率的测量通常采用两类测量系统:透射系统或反射系统。

  • 样品折射率对粒度结果的有哪些影响及测量方法

    [font=&]超细化、纳米化是现代粉体材料研究和生产的趋势,为满足对这些材料的精确粒度分析,激光粒度仪的测量范围也向超细化、纳米化方向发展。[/font][font=&]所以现代高性能的激光粒度仪的测量下限已经达到 20nm 甚至10nm,而样品折射率(包括吸收率)是一个重要条件,如果折射率错误,将导致粒度测试结果错误。[/font][font=&]随着新材料、合成材料以及混合材料越来越多用常规手段测试这些材料的折射率很困难,这是粒度测试遇到的难题。[/font][font=&]为解决这个难题,高性能激光粒度仪测量样品折射率的方法,在粒度测试前先测量折射率和吸收率,保证了对新材料粒度测试的准确性,收到了很好的效果。[/font]

  • 样品折射率对粒度结果的影响及测量方法

    超细化、纳米化是现代粉体材料研究和生产的趋势,为满足对这些材料的精确粒度分析,激光粒度仪的测量范围也向超细化、纳米化方向发展。所以现代高性能的激光粒度仪的测量下限已经达到 20nm 甚至10nm,而样品折射率(包括吸收率)是一个重要条件,如果折射率错误,将导致粒度测试结果错误。随着新材料、合成材料以及混合材料越来越多用常规手段测试这些材料的折射率很困难,这是粒度测试遇到的难题。为解决这个难题,高性能激光粒度仪测量样品折射率的方法,在粒度测试前先测量折射率和吸收率,保证了对新材料粒度测试的准确性,收到了很好的效果。

  • 磁化仪磁化率检测设备

    总体描述KLY5 Kappabridges是最灵敏的商用实验室仪器,用于测量磁化率和磁化率各向异性(AMS)。KLY5系列带来了磁化率同相和异相分量以及磁化率各向异性的精确绝对测量。版本KLY5-A完全配备了特殊的上/下机构和旋转器,允许使用旋转样品方法,该方法使用3D旋转器或经典旋转器进行简单、快速和精确的AMS测量。为提高用户舒适度,集成了自动例行程序,用于研究AMS的磁场变化以及整体磁化率。可选附件CS4和CS-L能够测量-192°C至700°C范围内的体积磁化率温度变化。KLY5-BKappabridge的基本版本,用于手动测量AMS、体磁化率和磁化率的场变化,没有上/下机制、旋转器和CS4或CS-L支持。为了便于AMS测量,必须在15个不同的方向手动测量磁化率。可以升级到KLY5-A版本,但这种升级必须在AGICO工厂进行。软件数据采集软件Safyr控制Kappabridges的所有特定功能,计算单个测量的结果以及测量数据的高级统计。结果的标准可视化也包括在内。为了对AMS进行更深入的分析,AGICO提供了先进的软件来处理AMS数据集。主要特征■高灵敏度2 x 10-8 SI(适用于400 A/m磁场)■相位测定的高灵敏度0.1■全自动调零系统■同相和异相磁化率的测量■可变场的自动化测量■快速AMS自动量程■增强了对电力线噪声的抵抗力■电流隔离USB连接■复杂的软件支持■用于控制的内置电路[img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/03/202303200024510165_9263_1602049_3.png[/img][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/03/202303200024510380_2478_1602049_3.png[/img][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/03/202303200024509544_7533_1602049_3.png[/img][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/03/202303200024509696_1620_1602049_3.png[/img][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/03/202303200024509696_1620_1602049_3.png[/img]

  • 【原创】超纯水测量对电导率仪表的要求

    纯水是指电导率在3.0-0.1uS/cm的水;超纯水是指电导率小于0.1uS/cm的水。由于超纯水的电阻非常大,用常规电导率仪表测量时精密度很难保证,因此对纯水和超纯水的电导率测量仪表提出了如下要求: (1)必须采用封闭流通式电导池传感器,防止空气中 CO[sub]2[/sub]漏 入测量系统中。 (2)被测水样采用恒温预处理,使水样温度保持在25℃±0.5℃。 (3)流过电导池传感器的水样流速应保持在0.05m/s。 (4)溶液电阻值最好在1×10[sup]3[/sup]-1×10[sup]4[/sup]Ω之间。 (5)若溶液电阻按1×10[sup]4[/sup]Ω计算,则对于纯水,电导池常数的取值范围为0.03-0.001cm[sup]-1[/sup],对于超纯水,电导池常数的取值范围为0.001-0.0005cm[sup]-1[/sup]。 根据加工工艺条件和厂家的具体情况,进行纯水测量时,可选用电导池常数为0.01cm[sup]-1[/sup]的即可。在进行超纯水测量时,可选用电导池常数为0.001cm[sup]-1[/sup]的即可。 (6)电导池的工作电源频率不能超过1000Hz。 (7)连续运行的电导电极,至少每半年进行一次电极常数的检验工作。

  • 直读光谱仪测量食用、药用铝合金中Cd元素含量的不确定度评定

    1 概述   随着人们对健康和安全的追求,人体中富集的重金属Cd元素能导致高血压,肾功能失调、心脑血管疾病等重大危害,使得人们对食用、药用铝合金包装材料中Cd元素超标引起高度重视。但Cd元素在食用、药用包装材料中属于微量元素,测量过程困难及繁琐。本文采用ARL-4460型直读光谱仪对食用、药用铝合金中Cd元素进行分析,并对测量结果不确定度进行评价,确保分析结果的准确性。   2 检测   2.1 检测仪器   ARL-4460型直读光谱仪;J1C-616车床。   2.2 测量原理及数学模型   2.2.1 测量原理 ARL-4460型直读光谱仪用电弧(或火花)的高温使样品中各元素从固态直接气化并被激发而发射出各元素的特征波长,用光栅分光后,成为按波长排列的“光谱”,这些元素的特征光谱通过出射狭缝,射入各自的光电倍增管,测出每条谱线的强度。每种元素的发射光谱强度对应于样品中各元素的含量。   2.2.2 数学模型 在测量分析时,将样品进行激发,显示出的结果为样品所测各元素的含量,其数学模型如下式;   C=X (1)   式中:C——试样中元素含量的测定结果;   X——试样经几次激发后读出元素含量的平均值。   2.3 检测条件及方法 在氩气纯度高于99.999%,温度为22~28℃环境条件下,根据GB/T7999-2007《铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法》对样品中Cd元素含量进行测量。  3 不确定度来源及量化过程   3.1 不确定度来源 寻找不确定度来源时,可从测量仪器、测量方法、被测量、测量环境、测量人员等方面全面考虑,应做到不遗漏、不重复,特别应考虑对结果影响大的不确定度来源。遗漏会使不确定度过小,重复会使不确定度过大。   3.2 不确定度量化过程   3.2.1 直读光谱工作曲线引入的不确定度分量U1 直读光谱工作曲线引入的不确定度由两方面产生:一方面是标准物质证书中提供;另一方面是建曲线过程中重复激发标准物质所引入。本文用西南铝生产的食用、医用铝合金标准物质来建立工作曲线,量化过程如下:   3.2.4 人员、环境引入的不确定度分量U4 测量过程始终由同一组人员进行,不存在技术上的偏差,因此人员因素引起的不确定度可以忽略不计。   ARL-4460型直读光谱仪自带光谱室恒温系统,再加上实验室配置的空调和除湿机,足以保证工作环境条件的稳定,故由环境条件产生的不确定度可以忽略不计。   由上面两方面因素,则:U4=0。   3.3 不确定度的计算   3.3.1 合成不确定度的计算 在评定直读光谱仪分析Cd元素含量的标准不确定度中,因为各个因素对不确定度的影响互相独立,则合成不确定度由以上各项合成方差的正平方根表示,即:U=■=0.0009%。   3.3.2 扩展部确定度的计算 直读光谱在分析Cd元素含量时,测量过程中采用多测几次求平均值的方法,其测量不确定度为正态分布,包含因子k=2,在工业技术领域中,通常取置信区间P=95%,则扩展不确定度为:U95=k*U=0.0018%。   4 结论分析及展望   ①ARL-4460型直读光谱仪测量西南铝生产的食用、药用铝合金标样E824中Cd元素含量为:C(Cd)=(0.027±0.0018)%,条件为置信区间P=95%,包含因子k=2;②影响食用、药用铝合金中Cd元素分析结果的主要因素是:工作曲线引入的不确定度、样品均匀性引入的不确定度、数字修约引入的不确定度,这些分量基本上考虑了测量过程中系统效应和随机效应所导致的测量结果不确定度,保证分析结果的准确性;③随着技术的进步,对某些影响测量不确定度因素的认知及量化,可以进一步精确系统误差和随机误差的影响程度,进一步完善计算不确定度的方法,使测量结果更准确。

  • 颜色测量的数字化探寻

    颜色测量的数字化探寻 颜色测量的数字化也就是用计算机识别颜色,现实中我们对颜色的表述是:“目视感受+思维判断+语言描述”这样受到很多外部环境和人本身等因素的影响很大,使我们用颜色做定量分析时误差很大,有时更本就没有可比性,需要一种方法和理论来规范我们对颜色的认识和理解,用一种仪器来统一数据便于现代化的管理与交易。此方法和仪器应属物性测量的一种基础检测。历史背景:人类对颜色的认识是循序渐进的过程,是随着科学技术的发展不断认识提高,映入眼帘的颜色大部分是人造的颜色,因有了对颜色的管理技术我们的生活才出现了五彩缤纷的视觉感观,对颜色的检测技术也在不断地提高。1666年牛顿在剑桥大学的实验室,把太阳光从小狭缝引进暗室,通过三棱镜后,在屏幕上显示出一条美丽的彩带,红、橙、黄、绿、青、蓝、紫色光,这种现象称做光的分解。随之在英国有很多科技人员进行了大量的科学实验和研究。1870年成立的英国百灵达公司(发明水中余氯的检测方法和仪器,水的浊度检测仪);1885年成立的罗维朋公司对液体颜色检测有大量的贡献。1915年成立总部位于美国密歇根州大激流市的爱色丽公司等等都对颜色的检测做出了标准的贡献。上世纪七十年代胶片相机大量普及,色彩管理分为两大类,第一为美国柯达的色彩管理系统,我国大部分行业以柯达标准为基础(暖色调),第二为日本富士和索尼公司的色彩管理(冷色调),发展中的以色列产品是以富士和索尼公司的色彩管理为基础。2000年前后电子计算机的色彩管理系统快速发展,1997年以美国微软、惠普、日本爱普生公司等电子行业的巨头制定了计算机的颜色标准SRGB色彩空间(Standard Red Green Blue)。这一标准应用非常广泛,其他许许多多的硬件及软件开发商也都采用了SRGB色彩空间做为其产品的色彩空间标准,逐步成为许多扫描仪、打印机、照相机、显示器、摄像头和软件的色彩空间标准。1998年美国Adobe公司推出Ps色彩空间标准,它拥有宽广的色彩空间和良好的色彩层次表现,它包含了SRGB色彩空间所没有完全覆盖的CMYK色彩空间,可以理解为大RGB色彩空间Windows系统色彩空间系统在win7以后有了很大提高和苹果的MAC OSX色彩空间不相上下。颜色模式:现行中颜色的管理模式分类1. R G B模式;2. H S B模式;3. Web模式;4. CMYK模式;5. L a b模式;6. 灰度模式;CCD扫描成像数字化分析:我们根据现有的技术和方法,进行了大量的筛选和改进,最终选择了扫描成像+软件分析这种方法来进行仪器的深层次的开发,结果输出为R G B模式的红绿蓝平均反射光密度值来表示物品的颜色数值。软件部分:美国 Image Pro Plus软件 Image-Pro Plus功能强大的2D和3D图像采集、处理、增强和分析软件,具有异常丰富的测量和定制功能。Image-Pro Plus 是顶级的图像分析软件包, 它适合于荧光成像、质量控制、材料成像及其它的多项科研、医学与工业应用。 Image-Pro Plus 是Image-Pro 软件系列中功能最强大的成员之一,它包含了异常丰富的增强和测量工具,并允许用户自行编写针对特定应用的宏和插件。 主要优势: 1,采用业经证明的解决方案——历经20余年的开发、改进以及用户反馈,Image-Pro Plus提供了全套的实用程序, 如采集、交流、处理、测量、分析、存档、汇报以及打印等。 2,把时间花在实处—— Image-Pro Plus用户友好的使用环境使得您不会将过多的时间浪费在学习使用软件上,而将更多的时间放在对图像的分析和了解上。 3,自动化研究—— 可使用Image-Pro Plus 的Auto-Pro 编程语言,将冗长的操作浓缩至一个单一按键或一次鼠标点击上。 4,添加多维成像—— 可用下述集成式插件模块来进一步扩展Image-Pro Plus 的功能:Scope-Pro 的自动显微镜控制、AFA 的高级荧光采集、SharpStack的 图像反卷积以及3DConstructor的三维重建和测量。 IPP软件功能及相关参数: 1、采集图象:支持多种专业CCD和模拟摄相头,支持twain接口。 2、图象增强、处理;自动、手动图象拼接;扩展视野景深;自动、手动图象位置校对,多维图象管理;彩色通道管理:多通道荧光的色彩叠加,适合于多重荧光标记观察、FISH荧光观察等;自动化报告生成器。 3、测量功能:随意对图象切割、测量、计数、分类;HE等染色方法的阳性灰度、阳性比例计算;简单电泳条带分析;荧光强度分析等。可以选择面积、周长、角度等50多种测量方式。 4、分析功能:荧光共位性分析;空间和灰度校对;数据分析:将测量结果以统计值、单个测量值、三维浓度图和线形等方式输出,并可以将测量结果输出到EXCEL中处理。 5、自动、手动动态追踪:动态跟踪单个或多个物体运动轨迹。测量该物体的运动距离、速度、加速度、角度及显示所有状态下的测量结果。适合精子活力、各种粒子、浮游生物运动状态及细胞生长等动态指标测量。 6、可与其他插件连接,进行功能的拓展,如三、四维重建功能;电动显微镜控制;多时间、多标荧光、Z系列及多位置图象的自动采集和处理;二、三维反卷积运算。 图像输入 支持的图象文件格式有:TIFF、GIF、PCX、BMP/DIB、EPS、WMF、TGA、WPG和部分非标准格式。 支持下列流行图象板:BITFLOW、CORECO、DIPEX、DOME、EPIX、FLASHPOINT等,与扫描仪兼容。 图象显示模式:8、10、12、16、24、32BIT和真彩色下的:RGB、HIS、HSL。 面积百分比、颗粒计数、各种形态参数测量、位置参数测量、灰度光密度测量、数学形态学分析、图象的校准与校正、彩色图象的分割与分析、图象编辑等功能。 MediaCybernetics 提供的350多个图象处理、分析测量、文件操作和外部设备控制函数,为用户编制自己的应用软件提供了方便。 图像处理与增强功能 软件控制调节图象的对比度、图象噪声抑制、各种滤波算法和数学形态学算法对图象进行非常有效的处理,并提供快速FFT处理、图象的旋转、图象的放大、图象标注和打印。 特征范围的选取 对图象特征的选取有矩形框、圆形框和自画任意框等工具,由鼠标方便地控制。边缘检测 系统提供三种自动边缘和特征检测工具,用户可方便地检测出面积特征和点特征。 图像定标和校正及图像合成 可定标图象到任何测量单位,提供图象阴影的校正功能。 图像缝合和拼接使用图像缝合和拼接功能,可将多张分次获取的相邻图像完美 无缺的拼成一幅大图像。 景深扩展从部分聚焦的系列图像合成全聚焦的单幅图像 。 结果输出和打印 测量结果数据可转换成ASCII文件,并可直接进入MS EXCEL和MS WORD进行统计分析、打印。 美国 ImageJ软件ImageJ是一个基于java的公共的图像处理软件,它是由National Institutes of Health开发的。可运行于Microsoft Windows,Mac OS,Mac OS X,Linux,和Sharp Zaurus PDA等多种平台。其基于java的特点,使得它编写的程序能以applet等方式分发。ImageJ能够显示,编辑,分析,处理,保存,打印8位,16位,32位的图片,支持TIFF, PNG, GIF, JPEG, BMP, DICOM, FITS等多种格式。ImageJ支持图像栈功能,即在一个窗口里以多线程的形式层叠多个图像, [colo

  • 【分享】非接触式应变位移视频测量仪

    非接触式应变位移视频测量仪在材料力学性能测试领域,对于一些特殊的实验,测量被测物体的变形和位移非常困难。比如: 测量断裂伸长(断裂会破坏传感器) 测量压缩模量 测量疲劳实验(引伸计可能会打滑,或者应变片自身会疲劳)采用非接触式的视频测量仪或许可以解决您的问题。技术参数:1. 测量精度:位移分辨率:0.05微米应变分辨率:5个微应变2.测量参数:应变、位移、泊松比、拉伸/压缩模量、应力-应变曲线等等3.标距可调:可以测量柔软、细小的材料

  • MP513台式电导率仪

    MP513型实验室电导率仪技术参数 测量范围:电导率:0-200MS/CM ,分为五段量程(0.00-20.00)uS/cm;(20.00-200.0)uS/cm;(200-2000)uS/cm;(2.00-20.00)mS/cm;(20.0-200.0)mS/cm电阻率:(0-100)MΩ·CM TDS:(0-100)g/l 盐度:(0-100)PPT 温度:(-10-110)℃精度 电导率:±1.0%FS 自动温度补偿:0-50℃其他参数:数据储存:100组 通讯接口:RS232 电源:DC9V/300mA 尺寸和重量:160 x 190 x 70mm/880g主要特点 1. 具有自动校正、自动温度补偿、数据储存、 时钟和日期显示、定时测量 、时钟显示、RS232输出、功能设置等智能化功能。2. 采用数字滤波和滑差技术,智能改善仪表的响应速度和测量数据的准确性,测量值稳定时显示图标。3. 采用先进的自动变频和自动调压技术,使常数K=1的电导电极的测量范围扩展10倍,只需一点校准,即可满足200 mS/cm范围内的测量精度要求,是本仪器独特的一点校准功能。4. 配自动温度补偿的塑壳电导电极,使用方便。5.仪器符合IP54防尘防溅等级,所有插口都有硅胶帽密封保护。6. 基本配置: a. 2301-M塑壳电导电极(K=1,ATC) b. 1408μS/cm电导率标准溶液(50ml) c. 602型万向电极架 d. RS232通讯软件仪器介绍 实验室常规水溶液电导率测量:仪器采用先进的测量技术,使用一支K=1的电导电极、一点校准,便可满足0.5us/cm-200mS/cm全量程测量,并可进行自动温度补偿;测量过程中电导率、电阻率、盐度和TDS可任意切换;此外,仪器还具有定时测量、测量值稳定提示、RS232数据输出等智能化功能。仪器符合GLP国际标准,IP54防水。电能质量分析仪,电火花检测仪,电火花检漏仪,防腐层检测仪

  • 【我们不一YOUNG】ODP测量方法—频率检测法

    [align=center]ODP[font=DengXian]测量方法—频率检测法[/font][/align][font=DengXian]采用[/font]6-12 [font=DengXian]个人员组成气味评价小组对同一个萃取样品进行[/font]GC-O[font=DengXian]分析,同时对一种化合物评价,用能够感知这种化合物气味的评价数目比例表示气味的强度,即检测频率。[/font][font=DengXian]确定在特定保留时间内检测到气味的小组人员比例。[/font][font=DengXian]嗅觉影响频次法[/font](NIF):[font=DengXian]峰值高度根据“小组成员检测到气味的比例[/font](%)[font=DengXian]”。[/font][font=DengXian]表面嗅觉影响频次法[/font](SNIF):[font=DengXian]峰面积是根据“检测到气味的比例[/font](%) X [font=DengXian]气味持续时间[/font](s)[font=DengXian]”。[/font]

  • 一键式测量仪如何提升零件尺寸的测量效率?

    随着科学技术的不断进步,工业现代化不断朝着自动化、智能化、数字化方向发展,传统测量仪器如投影仪、影像测量仪、工具显微镜、轮廓仪、游标卡尺、千分尺等,在尺寸轮廓测量时面临着诸多如“测量对象需要定位或原点定位费时、批量测量操作时间长、不同测量人员导致测量结果不同、数据统计管理繁杂等”一系列的弊端,已经难以满足现代工业生产过程中有关高精度、高效率、高可靠性的测量需求。为满足现代化工业测量需求,中图仪器[b][color=#333333]VX3000系列一键式测量仪[/color][/b]顺势而生![align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2019/5/201905091406645.png[/img][/align]一键式测量仪相对于传统测量仪器,具有以下显著优势:[b]快速[/b]  可自动跟踪识别产品位置和方向,自动捕捉点、线、圆、弧等元素,支持重新编辑测量程序,自动刷新测量结果。在大视野模式下,多个产品可同时检测,速度极快,能在2秒内完成最多512个尺寸测量及公差评价,一键式测量仪尤其适合产品批量检测。[b]准确[/b]  一键式测量仪配置亚像素工业级相机、双倍率双远心镜头以及高亮度照明系统,使得被测工件成像更清晰,同一产品重复测量精度高。专业测量软件具有影像特征自动判定、寻边,自动对焦、识别边缘部以及影像难点自动过滤等优势,有效消除了人为操作误差,测量结果更准确。[b]简单[/b]  凭借软件自动定位功能,工件可随意放置,一键按下即可完成视野范围内所有元素测量,即使初学者也能轻松上手。测量完成后自动输出尺寸数据及多种样式的评测报告,测量者可在现场实时分析误差值及趋势走向。一键式影像测量,一键闪测,实至名归。[b]多元[/b]  一键式测量仪的大视野镜头搭载可移动工作平台,可多元应用到手机外壳、手机玻璃、光学元器件、电路板、无线充电器模组、五金配件、金属机加件、精密模具、刀具、螺丝、弹簧、齿轮等中小型产品及零部件批量检测。适用于科研院所、大专院校、计量机构和企业计量室、车间。[align=center][img]http://www.chotest.com/Upload/2018/11/201811140412801.jpg[/img][/align]

  • 光纤折射率传感器在测量油浓度的应用

    光纤折射率传感器在测量油浓度的应用

    关于润滑油浓度比(OCR)对制冷系统效率的影响,已经做了大量的研究。事实上,起到压缩机润滑和密封作用的润滑油在整个制冷系统不可避免地会留下痕迹。即使只有很小量润滑油在系统内被检测到,数量一定会随时间和机械部件磨损的不断扩大而增加。OCR是如何变成人们关注的对象的呢?许多研究已证明制冷剂中含有少量的油将会增加系统的效率,但是混合物中的油含量达到一定水平时,性能将大幅降低。而一些系统随着混合物中油含量过低时(1%),效率也会降低。[img=,494,454]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/12/201812200944032757_528_3332482_3.jpg!w494x454.jpg[/img]检测制冷剂中油含量最常用的方法就是取样称重法。然而,该方法是非常耗费时间的,在系统中取出一定量的油和制冷剂,而且所得的结果不能反映实时的现象。因此,很多人试图开发其它方法来取代这一传统检测方法,以明确量化混合物的确切成分。多年来, 已经研究出大量的技术方法来成功实现实时检测冷却系统中处于工作状态的流体的浓度。这些方法包括广泛的光谱技术;从液体密度检测到声速法、光吸收法、非传导性常数法、最后是折射率测量法。然而,并非所有这些技术都是令人完全满意的,并使人确信得出的结果是准确的、可靠的和有价值的。因此,FISO技术公司开发出由光纤折射率传感器 -FRI和光纤信号调理器 - TMI组成的系统能精确测量OCR。该OCR检测解决方案满足了工作在制冷领域的工程师们提出的检测要求。[img=,303,301]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/12/201812200944186370_5754_3332482_3.jpg!w303x301.jpg[/img]FISO公司是一家在光纤传感器方面技术领先的开发商和制造商。其致力于在恶劣环境和具有挑战性应用领域中向客户提供创新的可靠的参数检测的解决方案。光纤传感器除了尺寸小以外,还具有精确高、本质安全和不受射频、电磁波和微波辐射的干扰等优点。 FISO的目标市场是过程控制、医学、航空航天、国防、能源以及科学和学术性研究等领域。FISO的产品由经验丰富的工程师按客户的需求而设计。他们了解工作在具有挑战性环境的客户,了解客户需要尖端技术的产品。FISO一个最强有力的竞争优势是能够快速对客户的需要做出响应。如果必要,还可为客户定制解决方案。我们努力给客户提供最好的产品和技术。自2005年起,FISO公司通过了SGS评估和认证,并日复一日严格实施其质量制度规定,通过提供符合特定要求的产品和服务,努力满足客户的需求FISO量化制冷剂中油含量的解决办法是基于折射率检测的方法。当光纤传感器安装在混合物中时,被测液体填充于FP腔中,FP腔长度的变化与被测液体的折射率(RI)成正比例关系。被测RI相对的有效折射率为信号调理器光源的光谱分布所涵盖。它的中心波长处于800 nm左右。首先,用户要校正并找到折射率与油/制冷剂混合物标样的对应关系。然后,这些初始数据将被用于建立校准公式或校准表。即使系统对非常广的油浓度范围进行检测时,也要限制校准范围,以提高精度。FISO公司的专利技术白光正交相关仪(White-light Cross- Correlator) 提供了独一无二且极具实力的测量FP腔绝对长度的方法。此法的测量结果具有惊人的精确度、非常好的线性和一致性。[img=,690,220]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/12/201812200944362137_1491_3332482_3.jpg!w690x220.jpg[/img]如图所示,宽带光源发出的光发射到2x2耦合器的一个臂上,然后传到FP仪。经由FP仪波长调制的光信号被反射回信号调理器,聚焦成一线,经专利技术的白光正交相关仪传输之后,由线性CCD组合器检测。白光正交相关仪就象一个立体分布的FP 腔,其腔的长度沿着横向位置而变。面对CCD组合器,每一个像素都与预定义的类似于FP的腔长度有关。因此仪器工作起来就像一台立体长度可变的光学正交相关仪。例如,假定FP仪的腔长度为d微米, 由该FP仪所反射的光被最大限度地传送到d微米长度的CCD组合器的像素上,即立体分布的FP腔的横向位置上长度为d微米。如图所示,FP腔长度的变化被转化成感应最大传送值的像素的位移量。该技术提供了传感器FP腔长度的精确可靠的测量。

  • 测量电导率时是否应当搅拌样品?

    在未经搅拌的溶液中可能会发生测量漂移。通常,最好在搅拌的样品中进行电导率测量。但是低电导率样品除外,因为搅拌会增加暴露于空气和二氧化碳污染的机会。重要提示:使用相同的搅拌条件用于校准(或验证)和测量。

  • 便携式余氯测量仪的开发设计

    [font=&]【题名】: 便携式余氯测量仪的开发设计[/font][font=&]【全文链接】: https://cdmd.cnki.com.cn/Article/CDMD-10335-2005041953.htm[/font]

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