薄膜窗格

联系我们：X射线透射显微成像/能谱(同步辐射)用氮化硅薄膜窗口 产品概述： X-射线薄膜窗能够实现软X-射线(如真空紫外线)的最大透射率。主要用于同步辐射X射线透射显微成像时承载样品。 X-射线越软(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特别在“离轴”状态工作(即薄膜与光束成一定角度)时，也需要较薄的薄膜窗口，便于X射线更好地穿透。 氮化硅薄膜窗口是利用现代MEMS技术制备而成，由于此种氮化硅窗口选用低应力氮化硅(0-250MP)薄膜，因此比计量式和ST氮化硅薄膜更坚固耐用。提供的氮化硅薄膜窗口非常适合应用于透射成像和透射能谱等广泛的科学研究领域，例如，X-射线(上海光源透射成像/能谱线站)、TEM、SEM、IR、UV等。 现在提供X-射线显微成像/能谱(同步辐射)用氮化硅薄膜窗系列产品，规格如下： 外框尺寸 (4种标准规格): 5 mm x 5 mm (窗口尺寸：1.0 mm或和 1.5 mm 方形) 7.5 mm x 7.5 mm (窗口尺寸：2.0 mm或 2.5 mm) 10 mm x 10 mm (窗口尺寸：3.0 mm或 5 mm 方形) 边框厚度： 200µ m、381µ m、525µ m。 Si3N4薄膜厚度：50、100、150和200nm 我们也可以为用户定制产品(30-500nm)，但要100片起订。 本产品为一次性产品，不建议用户重复使用，本产品不能进行超声清洗，适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。 技术指标： 透光度： 对于X射线用窗口，500nm厚的氮化硅薄膜有很好的X光穿透效果，对于软X射线(例如碳边吸收谱)，100-200nm厚的氮化硅薄膜窗口是用户首选。 真空适用性： 真空适用性数据如下：　 薄膜厚度 窗口面积 压力差 ≥50 nm ≤1.0 x 1.0 mm 1 atm ≥100 nm ≤1.5 x 1.5 mm 1 atm ≥200 nm ≤2.5 x 2.5 mm 1 atm 表面平整度： 氮化硅薄膜窗口产品的表面平整性很稳定(粗糙度小于1nm)，对于X射线应用没有任何影响。 温度特性： 氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品，能够承受1000度高温，非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。 化学特性： 氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。 应用简介和优点： 1、同步辐射X射线(紫外或极紫外)透射成像或透射能谱应用中是不可或缺的样品承载体。 2、耐高温、惰性衬底，适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境，利于制备理想的用于X射线表征用的自组装单层薄膜或薄膜(薄膜直接沉积在窗口上)。 3、生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后，窗口具有很好的亲水性。 4、耐高温、惰性衬底，也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。 5、适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。 氮化硅薄膜窗口系列 SN-LDE-505-15 氮化硅薄膜窗口，框架：5×5mm，窗口：1.5×1.5mm，膜厚：50nm SN-LDE-510-15 氮化硅薄膜窗口，框架：5×5mm，窗口：1.5×1.5mm，膜厚：100nm SN-LDE-515-15 氮化硅薄膜窗口，框架：5×5mm，窗口：1.5×1.5mm，膜厚：150nm SN-LDE-520-15 氮化硅薄膜窗口，框架：5×5mm，窗口：1.5×1.5mm，膜厚：200nm SN-LDE-705-25 氮化硅薄膜窗口，框架：7.5×7.5mm，窗口：2.5×2.5mm，膜厚：50nm SN-LDE-710-25 氮化硅薄膜窗口，框架：7.5×7.5mm，窗口：2.5×2.5mm，膜厚：100nm SN-LDE-715-25 氮化硅薄膜窗口，框架：7.5×7.5mm，窗口：2.5×2.5mm，膜厚：150nm SN-LDE-720-25 氮化硅薄膜窗口，框架：7.5×7.5mm，窗口：2.5×2.5mm，膜厚：200nm SN-LDE-105-30 氮化硅薄膜窗口，框架：10×10mm，窗口：3×3mm，膜厚：50nm SN-LDE-110-30 氮化硅薄膜窗口，框架：10×10mm，窗口：3×3mm，膜厚：100nm SN-LDE-115-30 氮化硅薄膜窗口，框架：10×10mm，窗口：3×3mm，膜厚：150nm SN-LDE-120-30 氮化硅薄膜窗口，框架：10×10mm，窗口：3×3mm，膜厚：200nm 氮化硅薄膜窗口阵列系列 SN-AR-522-15 氮化硅薄膜窗口，框架：5×5mm，窗口：1.5×1.5mm，2×2阵列，膜厚：50nm SN-AR-733-15 氮化硅薄膜窗口，框架：7.5×7.5mm，窗口：1.5×1.5mm，3×3阵列；膜厚：50nm SN-AR-1044-15 氮化硅薄膜窗口，框架：5×5mm，窗口：1.5×1.5mm，膜厚：100nm 氧化硅薄膜窗口系列 SO-505-15 氧化硅薄膜窗口，框架：5×5mm，窗口：1.5×1.5mm，膜厚：50nm SO-510-15 氧化硅薄膜窗口，框架：5×5mm，窗口：1.5×1.5mm，膜厚：100nm SO-520-15 氧化硅薄膜窗口，框架：5×5mm，窗口：1.5×1.5mm，膜厚：150nm SO-705-25 氧化硅薄膜窗口，框架：7.5×7.5mm，窗口：1.5×1.5mm，3×3阵列，膜厚：50nm SO-710-25 氧化硅薄膜窗口，框架：7.5×7.5mm，窗口：1.5×1.5mm，3×3阵列，膜厚：100nm SO-720-25 氧化硅薄膜窗口，框架：7.5×7.5mm，窗口：1.5×1.5mm，3×3阵列，膜厚：200nm 氮化硅薄膜窗口系列 SN-1010-2-AU10 氮化硅基底框架：10×10mm，窗口：2×2mm，膜厚：100nm，金膜厚度：10nm SN-1020-2-AU10 氮化硅基底框架：10×10mm，窗口：2×2mm，膜厚：200nm，金膜厚度：10nm SN-710-2-AU10 氮化硅基底框架：7.5×7.5mm，窗口：2×2mm，膜厚：100nm，金膜厚度：10nm SN-720-2-AU10 氮化硅基底框架：7.5×7.5mm，窗口：2×2mm，膜厚：200nm，金膜厚度：10nm 特殊定制产品 SN-5H5-15 氮化硅基底框架：5×5mm，硅片厚度：200um，窗口：1.5×1.5mm，膜厚：500nm SN-5H10-15 氮化硅基底框架：5×5mm，硅片厚度：200um，窗口：1.5×1.5mm，膜厚：1000nm SN-LDE-4-10 氮化硅片100nm-4英寸整张，10×10mm切片 衬底厚度：200um 温度范围：1000℃ 真空适应：1个大气压 厚度可以选择：200um，381um，525um，需要提前说明。联系我们：

SHNTI的X-射线薄膜窗能够实现软X-射线(如真空紫外线)的最大透射率。主要用于同步辐射X射线透射显微成像时承载样品。 X-射线越软(能量越低)，穿透能力越差，所需氮化硅薄膜窗越薄。特别在“离轴”状态工作（即薄膜与光束成一定角度）时，也需要较薄的薄膜窗口，便于X射线更好地穿透。SHNTI提供的氮化硅薄膜窗口是利用现代MEMS技术制备而成，由于此种氮化硅窗口选用低应力氮化硅（0-250MP）薄膜，因此比计量式和ST氮化硅薄膜更坚固耐用。SHNTI提供的氮化硅薄膜窗口非常适合应用于透射成像和透射能谱等广泛的科学研究领域，例如，X-射线（上海光源透射成像/能谱线站）、TEM、SEM、IR、UV等。现在SHNTI可以提供X-射线显微成像/能谱（同步辐射）用氮化硅薄膜窗系列产品，规格如下：外框尺寸 (4种标准规格):5 mm x 5 mm (窗口尺寸：1.0 mm 或和 1.5 mm 方形)7.5 mm x 7.5 mm (窗口尺寸：2.0 mm 或 2.5 mm)10 mm x 10 mm (窗口尺寸：3.0 mm 或 5 mm 方形)边框厚度： 200μm、381μm、525μm。Si3N4薄膜厚度：50、100、150和200nmSHNTI也可以为用户定制产品（30-500nm），但要100片起订。本产品为一次性产品，SHNTI不建议用户重复使用，本产品不能进行超声清洗，适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。与X射线用氮化硅窗口类似，透射电镜（TEM）用氮化硅薄膜窗口也使用低应力氮化硅薄膜基底。但整体尺度更小，适合TEM装样的要求。窗口有单窗口和多窗口阵列等不同规格。同时SHNTI也定制多孔氮化硅薄膜窗口。现在SHNTI可以提供透射电镜（TEM）用氮化硅薄膜窗系列产品，规格如下：外框尺寸:3 mm x 3 mm (窗口尺寸：0.5 mm，薄膜厚度：50 nm) 3 mm x 3 mm (窗口尺寸：1.0 mm，薄膜厚度：50 nm) 3 mm x 3 mm (窗口尺寸：1.0 mm，薄膜厚度：100 nm) 边框厚度： 200μm、381μm。Si3N4薄膜厚度： 50nm、100nmSHNTI也可以为用户定制产品(30-200nm)，但要100片起订。本产品为一次性产品，SHNTI不建议用户重复使用，本产品不能进行超声清洗，适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。 技术指标：表面平整度：我们认为薄膜与其下的硅片同样平整， TEM用氮化硅薄膜窗口的表面粗糙度为：0.6-2nm。完全适用于TEM表征。亲水性该窗格呈疏水性，如果样品取自水悬浮液，悬浮微粒则不能均匀地分布在薄膜上。用等离子蚀刻机对薄膜进行亲水处理，可暂时获得亲水效果。虽然没有对其使用寿命进行过测试，但预期可以获得与同样处理的镀碳TEM网格相当的寿命。我们可以生产此种蚀刻窗格，但无法保证其使用寿命。如果实验室有蚀刻工具也可对其进行相应的处理提高其亲水性能。温度特性：氮化硅薄膜窗口产品是耐高温产品，能够承受1000度高温，非常适合在其表面利用CVD方法生长各种纳米材料。化学特性：氮化硅薄膜窗口是惰性衬底。应用简介和优点：1、 适合TEM、SEM、AFM、XPS、EDX等的对同一区域的交叉配对表征。2、 大窗口尺寸，适合TEM大角度转动观察。3、 无碳、无杂质的清洁TEM观测平台。4、 背景氮化硅无定形、无特征。5、 耐高温、惰性衬底，适应各种聚合物、纳米材料、半导体材料、光学晶体材料和功能薄膜材料的制备环境，（薄膜直接沉积在窗口上）。6、 生物和湿细胞样本的理想承载体。特别是在等离子体处理后，窗口具有很好的亲水性。。7、 耐高温、惰性衬底，也可以用于化学反应和退火效应的原位表征。8、 适合做为胶体、气凝胶、有机材料和纳米颗粒等的表征实验承载体。氮化硅薄膜应用范围非常广，甚至有时使不可能变为可能，但所有应用都有无氮要求（因样本中有氮存在）：惰性基片可用于高温环境下，通过TEM、SEM或AFM（某些情况下）对反应进行动态观察。作为耐用基片，首先在TEM下，然后在SEM下对同一区域进行“匹配”。作为耐用匹配基片，对AFM和TEM图像进行比较。聚焦离子束（FIB）样本的装载，我们推荐使用多孔薄膜，而非不间断薄膜。许多研究纳米微粒，特别是含氮纳米微粒的人员发现此种薄膜窗格在他们实验中不可缺少。气凝胶和干凝胶的基本组成微粒尺寸极小，此项研究人员也同样会发现氧化硅薄膜窗格的价值。优点：&bull SEM应用中，薄膜背景不呈现任何结构和特点。&bull x-射线显微镜中，装载多个分析样的唯一方法。&bull 无氮高温应用，氮化硅薄膜在1000°C高温下仍能保持稳定的性能。使用前清洁：氮化硅薄膜窗格在使用前不需进行额外清洁。有时薄膜表面边角处会散落个别氧化物或氮化物碎片。由于单片网格需要从整个硅片中分离，并对外框进行打磨，因此这些微小碎片不可避免。尽管如此，我们相信这些碎片微粒不会对您的实验产生任何影响。如果用户确实需要对这些碎片进行清理，我们建议用H2SO4 : H2O2 (1:1)溶液清洁有机物，用H2O:HCl: H2O2 (5:3:3)溶液清洁金属。通常不能用超声波清洗器清洁薄膜，因超声波可能使其粉碎性破裂。详细情况，您可以与我们取得联系。我们为您一一解答。

原位芯片是目前全球为数不多的有能力制造原位液体芯片的制造商。原位芯片目前可以提供用于透射电子显微镜的原位液体芯片TL-400，同步辐射及扫描电子显微镜的原位液体芯片:TBL500，此外，原位芯片也可根据实际实验条件及要求进行定制。 TEM原位液体芯片TL-400液体芯片可以实现高分辨原位TEM液体观测，分辨率可以达到1nm以上。液体芯片中间有40 x 40 x 0.1um的氮化硅薄膜观察窗口，芯片左右两侧各有一个液体滴加口和一个负压吸液口。 原位实验时首先在液体滴加口滴入待测液体，利用配套的负压装置，通过负压将待测液体吸入液体腔室中，再使用环氧树脂密封两个液体滴加窗口，待胶固化后即可进行原位液体观测。TL-400可应用于以下研究分析： • TEM、SEM和拉曼等设备的液体环境样品观测和分析；• 原位化学反应观测、晶体生长和腐蚀原位研究；• 观测研究液态环境中的活细菌和细胞等生物样品。 同步辐射/SEM原位液体芯片TBL-500液体芯片可以实现高分辨原位同步辐射和SEM液体（兼容扫描透射模式）观测。液体芯片中间有400 x 800 x 1um的大型耐真空氮化硅薄膜观察窗口，芯片左右两侧各有一个液体滴加口和一个负压吸液口。 原位实验时首先在液体滴加口滴入待测液体，利用配套的负压装置，通过负压将待测液体吸入液体腔室中，再使用环氧树脂密封两个液体滴加窗口，待胶固化后即可进行原位液体观测。TBL-500可用于： • 同步辐射、SEM和拉曼等设备的液体环境样品观测和分析；• 原位化学反应观测、晶体生长和腐蚀原位研究；• 观测研究液态环境中的活细菌和细胞等生物样品。

在以前，实验室使用电子显微镜观测样品做实验使用的耗材，这些氮化硅薄膜观测窗口基本都是从国外进口。耗材成本先不说，就购买的时间成本是非常长的。如果实验数据不是很理想，还要花时间和费用去购买耗材，非常不便捷。 为了打破这种垄断，在电镜氮化硅薄膜观测窗口的国产化上，国内科研人员也是花费了时间和精力去开发和生产。目前，原位芯片提供的显微镜氮化硅薄膜观测窗口已经可以取代进口，广泛用于高校、科研机构，也远销国外，成为实验室“好帮手”。原位芯片可以提供多种电镜氮化硅薄膜观测窗口，其中微孔氮化硅薄膜窗口主要是ME/NE系列。 ME/NE系列原位芯片生产的微孔/纳米孔氮化硅薄膜窗口均在百级洁净环境中制备，在窗口薄膜上利用MEMS工艺制备不同孔径大小的阵列，方便研究人员用于特殊样品观测。目前苏州原位芯片已推出以下标准微孔/纳米孔氮化硅薄膜窗口，如客户有其他微孔/纳米孔薄膜窗口需求，原位芯片可提供开发定制。 定制服务原位芯片拥有一支超过10年MEMS工艺经验的团队，拥有完整的设计，制造和测试能力。如您的实验需要更多定制化，高质量，高可靠性的氮化硅薄膜窗口，欢迎随时联系我们。为什么要选择原位芯片定制服务

普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A

产品简介：PTT-02薄膜厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池 隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备用途：塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均，会影响到阻隔性、拉伸强度等性能；对 材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 重复性 0.4μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)； 接触面积 50mm2(薄膜)； 200mm2 (纸张)；薄膜、纸张任选一种，非标可定制 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702产品应用：测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。普创-PTT-02薄膜测厚仪 普创-PTT-02薄膜测厚仪

产品简介：PTT-02薄膜厚度测试仪是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于塑料薄膜、薄片、纸张、橡胶、电池 隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备用途：塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均，会影响到阻隔性、拉伸强度等性能；对 材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 重复性 0.4μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)； 接触面积 50mm2(薄膜)； 200mm2 (纸张)；薄膜、纸张任选一种，非标可定制 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702产品应用：测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。普创-PTT-02薄膜厚度测试仪 普创-PTT-02薄膜厚度测试仪

产品名称：Si上镀Ge薄膜（进口?Ge?epi-film?on?N-type?Silicon?Wafer,?0.5?um?thickness?）技术参数：Si基片参数：N型掺P； dia 4inch x 0.5mm-0.55mm Si晶向：100 with flats 2 SEMI-STD on Axis 0 degree offSi电阻率：1-10ohm.cmParticles: 50 @ 0.20 umGe薄膜参数：0.5 um +/- 3%；100 N型；P型掺杂浓度：(1-5)E19 /ccCurrent RMS spec：表面粗糙度 2 nm 产品尺寸：dia4 inch or 10x10mm 标准包装：1000级超净室100级超净袋真空包装或单片盒

薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix产品简介：薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702产品应用：薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix 薄膜测厚仪PTT-03A普创paratronix

普创paratronix/薄膜测厚仪PTT-03A普创-硅片厚度测试仪-PTT-03A 是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创paratronix/薄膜测厚仪PTT-03A 普创paratronix/薄膜测厚仪PTT-03A

CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，严格按照标准方法进行测量，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统，大液晶显示、PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。◎ 系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口，便于系统与电脑的外部连接和数据。 测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理，截取一定尺寸的式样；通过控制面板按钮，调节测量头降落于式样之上；依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A 普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A

普创-PAPT-B01 -薄膜透气度测试仪产品简介：普创-隔膜透气度测定仪（葛尔莱法）-PAPT-B01是用本特生法（葛尔莱法、肖伯尔法可选）测试高分子材料、薄膜、纸张等空气透过量测定。葛尔莱法：恒定压差 1.23kpa 下，测定通过 100ml 气体所用的时间。 技术参数：项目参数测量范围0.01-2.5um/(Pa.s)分辨率0.001um/(Pa.s)透过速率0.01-120ml/min（其他范围可选）压差/范围0-3KPa，精度：±0.01kPa（其他范围可选）有效压差葛尔莱法：1.23kpa±0.01kPa夹具孔径φ28.6±0.1mm(透过面积∶642mm2 ) 款式自动控压，无需内外桶手动控制，无需人眼识别体积位置测试面积葛尔莱法：50mm×50mm 有效面积:6.42cm2测试时间1-999999 秒 精度：0.1 秒 样品温湿处理A.预处理：40℃,10-35%RH 的大气条件，静置 24hB.前后间隔 1h 称重之差不大于总质量的 0.25%,试样平衡电 源功率220V,50Hz、100w重量15kg 参 照 标 准 ：SJ_T 10171-2016 碱性电池隔膜基本性能的通用测试方法（透气性部分）GB/T 458-2008 纸和纸板透气度的测定GB/T 36363-2018 锂离子电池用聚烯烃隔膜产 品 特 点 ：将葛尔莱法、肖伯尔法、本特生法三种测试方法可选。仪器压差在 0-3KPa 范围可调，精度达 0.01kPa，完全满足三种方法的测试压差要求仪器超大测试容积 1L，完全满足三种方法体积要求通过加面罩方式实现测试面积 10.0cm2 与 6.42cm2 的自由转换仪器自带温湿度传感器实时监控测试腔的温湿度。仪器密封性良好，漏气量不超过 1.0ml/h仪器双模式控制（上位机软件可选）普创-PAPT-B01 -薄膜透气度测试仪 普创-PAPT-B01 -薄膜透气度测试仪

产品简介：WVTR-C3水蒸气透过率测试系统，专业、高效、智能的WVTR高端测试系统，适用于塑料薄膜、复合膜等膜、医疗、建筑领域等多种材料的水蒸气透过率的测定。通过对水蒸气透过率的测定，达到控制与调节包装材料等产品的技术指标。产品介绍：● 基于杯式法测试原理，是一款专业用于薄膜试样的水蒸气透过率（WVTR）测试系统，可检测最-低至0.1g/m224h的水蒸气透过量；配置的高分辨率称重传感器，在保证了高精度的前提下，提供了优-秀的系统灵敏性。 ● 宽范围、高精度、自动化温湿度控制，轻松实现非标测试。 ● 标准吹扫风速保证了透湿杯内外湿度差恒定。 ● 系统称重前自动清零，保证每次称量的准确性。 ● 系统采用气缸升降式机械结构设计和间歇称重测量方法，有效降低了系统误差 。● 可快速接入的温湿度检定插口方便用户进行快速校准。 ● 提供标准膜和标准砝码两种快速校准方式，保证检测数据的准确性和通用性。 ● 精密的机械设计不仅保证了系统的超高精度，而且极大的提高了检测效率。 ● 6个透湿杯均可进行独立试验，试验过程互不干扰，试验结果独立显示。● 大尺寸触摸屏幕友好人机功效，方便用户操作和快速学习。 ● 支持试验数据多格式存储，方便数据导入导出。 ● 支持便捷的历史数据查询、比对、分析和打印等多种功能。山东普创工业科技有限公司自主研发包装检测设备，可以定制非标款。普创-WVTR-C3（称重法）薄膜水透仪 普创-WVTR-C3（称重法）薄膜水透仪

普创-落镖冲击试验仪-FB-30J落镖测试常常选择梯级法来进行，梯级法中又分为落镖冲击 A 法和 B 法。两者的区别：落镖头直径、材料以及落下高度不一样。一般来讲，A 法适用于冲击破损质量为 50g～2000g 的材料。B 法适用于冲击破损质量为 300g～2000g 的材料。其中 GB/T 9639 和 ISO 7765 的梯级法是等同方法。 A 法：落镖头直径为 38±1mm，镖头材料为光滑、抛光的铝、酚醛塑料或其他硬度相似的低密度材料制成，下落高度为 0.66±0.01m。 B 法：落镖头直径 50±1mm，镖头材料为光滑、抛光的不锈钢或其他硬度相似的材料制成，下落高度为 1.50 ±0.01m。而 ASTM D1709 中，A 法和 B 法的落镖头直径分别为 38.1±0.13mm 和 50.8±0.13mm。 产品介绍 ：普创-落镖冲击试验仪-FB-30J用于厚度小于 1mm 的塑料薄膜或薄片在给定高度的自由落镖冲击下，测定50%塑料薄膜或薄片试样破损时的冲击质量和能量。产品特点1. 机械造型新颖、操作设计体贴入微、国家标准、国际标准同时兼容。2. 试验方法 A、B 双模式。3. 试验数据实验过程智能化、大大提高了工作效率。4. 试样气动加紧、释放、减少了实验误差与试验时间。5. 数据参数系统液晶显示。产品应用薄膜、薄片适用于厚度小于 1mm 塑料薄膜、薄片、复合膜的的抗冲击性能测试。如 PE 保鲜膜、缠绕膜、PET 片材、各种结构的食品包装袋、重包装袋等铝箔、铝塑复合膜， 适用于铝箔、铝塑复合膜的抗冲击性能测试 ，纸张、纸板测试 适用于纸张、纸板的抗冲击性能测试 。 技术标准： 试验开始时，首先选择试验方法，估计一个初始质量和Δm 值，进行试验，如果第一个试样破损，用砝码Δm 减少落体质量；如果第一个试样不破，须用砝码Δm 增加落体质量依此进行试验。总之，利用砝码减少或增加落体质量，取决于前一个试样是否破损。20 个试样试验后，计算破损总数 N，如果 N 等于 10，试验完成；如果 N 小于 10，补充试样后，继续试验直到 N 等于 10；如果 N 大于 10，补充试样后，继续试验直到不破损的总数等于 10 为止，最后由系统自动计算冲击结果。仪器符合 GB9639、ASTM D1709、JISK7124 等相关标准和规定。产品参数：项目 参数 测量方法 A 法、B 法（二选一，还可同时实现） 测试范围 A 法：50～2000g B 法：300～2000g 测试范围 测试精度：0.1g（0.1J） 试样装夹 电动试样尺寸 ＞150mm×150mm 电 源 AC 220V±5% 50Hz 净 重 约 65kg产品配置 标准配置：A 法配置、微型打印机。 选 购 件：B 法配置、专业软件、通信电缆。 注:因技术进步更改资料,恕不另行通知,产品以后期实物为准。普创-落镖冲击试验仪-FB-30J 普创-落镖冲击试验仪-FB-30J

产品简述采用热压封口法测定塑料薄膜基材、软包装复合膜、涂布纸及其它热封复合膜的热封温度、热封时间、 热封压力的热封参数，是实验室、科研、在线生产中不可缺少的试验仪器。技术参数：热封温度 室温+8℃～300℃ 热封压力 50~700Kpa（取决于热封面积） 热封时间 0.1～999.9s 控温精度 ±0.2℃ 温度均匀性 ±1℃ 加热形式 双加热（可独立控制）热封面 330 mm×10 mm(可定制) 电源 AC 220V 50Hz / AC 120V 60 Hz 气源压力 0.7 MPa～0.8 MPa (气源用户自备) 气源接口 Ф6 mm 聚氨酯管 外形尺寸 400mm (L)×320 mm (W)×400 mm (H) 约净重 40kg测试原理及产品描述采用热压封口法对塑料薄膜和复合软包装材料的热封温度、热封压力和热封时间进行测定，以获得精 确的热封性能指标。通过触摸屏设置需要的温度、压力、时间，内部嵌入式微处理器通过驱动相应的意见，并控制气 动部分，使上热封头上下运动，使包装材料在一定的热封温度、热封压力和热封时间下热封合。通过改变热封温度、 热封压力以及热封时间参数，即可找到合适的热封工艺参数。参照标准QB/T 2358、ASTM F2029、YBB 00122003产品特点嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求 触控屏操作界面 7 寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 数字 P.I.D 控温技术不仅可以快速达到设定温度，还可以有效地避免温度波动 温度、压力、时间等试验参数可直接在触摸屏上进行输入 专利设计的热封头结构，确保整个热封面的温度均匀性 手动和脚踏两种试验启动模式以及防烫伤安全设计，可以有效保证用户使用的方便性和安全性 上下热封头均可独立控温，为用户提供了更多的试验条件组合普创-塑料薄膜热封试验仪-HST-01A 普创-塑料薄膜热封试验仪-HST-01A

普创-塑料薄膜厚度测定仪-PTT-03A是一款高精度接触式薄膜、薄片厚度测量仪器；适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、 橡胶、电池隔膜、箔片、无纺布、土工布、硅片等各种材料的厚度精确测量。 技术参数：测量范围 0～2mm(标准)，0～6mm，0～12mm(可选) 分辨率 0.1μm （1μm可选） 测试速度 1～25次/min 测量头平行度 ±0.2μm（机械调整，量块校验） 精度 ±＜0.3μm 测量压力 17.5±1kPa(薄膜)；50±1kPa(纸张)；其它测试可定制 接触面积 球形接触 电源 AC220V50Hz/ AC120V60Hz 外形尺寸 300mm(L)×400mm(W)×435mm(H) 约净重 30Kg普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、 DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817 ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、 ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702普创-塑料薄膜测厚仪-PTT-03A产品应用：测厚仪适用于金属片、塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。产品特征：测头采用标准M2.5螺纹连接方式，可连接各种形式百分表，千分表表头进行测量； 可拆卸螺纹连接配重块，可满足各种标准要求及非标压力定制； 嵌入式高速微电脑芯片控制，简洁高效的人机交互界面，为用户提供舒适流畅的操作体验 标准化，模块化，系列化的设计理念，可最大限度的满足用户的个性化需求触控屏操作界面 7寸高清彩色液晶屏，实时显示测试数据及曲线 进口高速高精度采样芯片，有效保证测试准确性与实时性 内置微型打印机，可实现实时历史数据打印功能 标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输 严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制高精度测厚传感器，精度高重现性好 可采用标准厚度计量工具标定、检验 多种测试量程可选实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断产品配置：标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件 配种砝码、非标测量头、自动进样装置普创-塑料薄膜厚度测定仪-PTT-03A 普创-塑料薄膜厚度测定仪-PTT-03A

智能全自动薄膜阻隔性测试仪应用范围适用于各种塑料薄膜、复合膜、分离膜、交换膜、橡胶、聚合物材料等产品在各种温度条件下气体透过率、扩散系数、溶解度系数、渗透系数的测定。主要特点1. 真空压差法测试原理2. 三腔独立测试3. 三腔循环介质控温，各自独立温度传感器实时监控4. 智能模式，试验过程全自动，一键式操作5. 真空泵自动启停，无需人工开关6. 气体透过率、扩散系数、溶解度系数、渗透系数测试7. 多种试验模式可选择，可满足各种标准、非标试验8. 数据审计追踪、溯源；系统日志记录9. 5 级用户权限管理10. 温度曲线、湿度曲线、压差曲线、曲线独立显示、曲线叠加11. 可支持 DSM 实验室数据管理系统，能实现生产监控、数据统一管理 （另购）技术指标测试范围：0.01~180,000 cm3/m224h0.1MPa（标准配置）分 辨 率：0.001 cm3/m224h0.1MPa试样件数：3 件，各自独立真空分辨率：0.1 Pa控温范围：5℃~95℃（循环介质控温）控温精度：±0.1℃控湿范围：0%RH，2%RH~98.5%RH（湿度发生装置另购）控湿精度：±1%RH试样厚度：≤3mm试样尺寸：≥150 mm × 94mm 或圆形试样试样面积：48cm 2试验气体：氧气、氮气、二氧化碳、空气、氦气等气体（气源用户自备）试验压力：-0.1 MPa~+0.1 MPa（标准）气源压力：0.3 MPa~1.0 MPa气源尺寸：Ф8 mm外形尺寸：730 mm（L）×510mm（B）×350 mm（H）电源：AC 220V 50Hz净重：63 kg执行标准GB/T 1038-2000、ISO 15105-1、ISO 2556、ASTM D1434、JIS 7126-1、YBB 00082003产品配置标准配置：主机、计算机、专业软件、数据扩展卡、通信电缆、恒温控制器、氧气减压阀、取样器、取样刀、真空密封脂、真空泵、快速定量滤纸选 购 件：湿度发生装置、标准膜、真空脂、快速定量滤纸、取样刀、DSM 实验室数据管理系统。

薄膜摩擦系数仪PCF-03普创paratronix产品介绍：薄膜摩擦系数仪PCF-03普创paratronix用于测量纸张、线材、塑料薄膜和薄片（或其它类似材料）的静摩擦系数和动摩擦系数，可直观了 解薄膜的爽滑性、开口性。通过测量材料的滑爽性，可以控制调节包装袋的开口性、包装机的包装速度等生产质量工艺 指标，满足产品使用要求。产品特征：● 进口微型计算机控制技术，开放式结构，友好人机界面操作，使用简单方便 ● 精密丝杆传动，不锈钢面板，优质不锈钢导轨及合理的设计结构，确保仪器稳定、耐用 ● 美国世铨高精度测力传感器，测量精度优于0.5级 ● 精密微分电机驱动，传动更平稳，噪音更低，定位更准确，测试结果重复性更好 ● 6500万色TFT液晶屏幕，中文、实时曲线显示，全自动测量，具有测试数据统计处理功能● 高速微型打印机打印输出，打印快速，噪音低，不需更换色带，更换纸卷方便 ● 采用滑块运行装置，传感器定点受力方式，有效避免传感器因运动振动引起的误差 ● 动、静摩擦系数实时数字显示，滑块行程可预设且具有更宽的调节范围● 国标、美标、自由模式可选 ● 内置专用校准程序，便于计量、校准部门（第三方）对仪器进行校准 ● 具有技术先进、结构紧凑、设计合理、功能齐全、性能可靠、操作方便等优点技术参数：试样厚度 ≤5mm （其它厚度可定制） 滑块尺寸 63×63mm 试验模式 国标、美标、自由模式 显示屏 6500万色TFT液晶屏幕 滑块质量 200g、500g 试验台面尺寸 120×400mm 数字显示 同时显示动、静摩擦系数测量精度 优于0.5级 滑块运动速度 100、150mm/min 、1-500mm/min无级变速（其它速度可定制） 滑块行程 最大为280mm（可调） 测力范围 0-30N 外形尺寸 600 (L)X400(W)X240mm (H) 电源 AC220V±22V，50Hz 环境要求 温度：23±2℃、湿度：50±5%RH 标准配置 主机、微型打印机、200g滑块 选购件 500g非标滑块、电脑软件设计标准：GB10006、GB/T17200、ASTM D1894 、ISO8295、TAPPI T816薄膜摩擦系数仪PCF-03普创paratronix 薄膜摩擦系数仪PCF-03普创paratronix

原位薄膜应力测量系统，又名原位薄膜应力计或原位薄膜应力仪！MOS美国技术（US 7,391,523 B1）！曾荣获2008 Innovation of the Year Awardee！ 采用非接触激光MOS技术；不但可以准确的对样品表面应力分布进行统计分析，而且还可以进行样品表面二维应力、曲率成像分析；客户可自行定义选择使用任意一个或者一组激光点进行测量；并且这种设计可以保证所有阵列的激光光点一直在同一频率运动或扫描，从而有效的避免了外界振动对测试结果的影响；同时提高测试分辨率；适合各种材质和厚度薄膜应力分析； 该设备已经广泛被各个学府（如：Harvard University 2套，Stanford University，Johns Hopkins University，Brown University 2套，Karlsruhe Research Center,Max Planck Institute，西安交通大学，中国计量科学院等）、半导体制和微电子造商（如IBM.，Seagate Research Center,Phillips Semiconductor,NEC，Nissan ARC,Nichia Glass Corporation）等所采用； 相关产品： 薄膜应力仪（薄膜应力测量仪）：为独立测量系统，同样采用先进的MOS技术，详细信息请与我们联系。设备名称：薄膜应力测量系统，薄膜应力测试仪，薄膜应力计，薄膜应力仪，Film Stress Tester, Film Stress Measurement System 主要特点： 1.自主专用技术：MOS 多光束传感器技术； 2.单Port(样品正上方)和双Port(对称窗口)系统设计； 3.适合MOCVD, MBE, Sputter，PLD、蒸収系统等各种真空薄膜沉积系统以及热处理设备等； 4.薄膜应力各向异性测试和分析功能； 5.生长速率和薄膜厚度测量；（选件） 6.光学常数n&k 测量；（选件） 7.多基片测量功能；（选件） 8.基片旋转追踪测量功能；（选件） 9.实时光学反馈控制技术，系统安装时可设置多个测试点； 10.专业设计免除了测量受真空系统振动影响；测试功能： 1. 实时原位薄膜应力测量 2.实时原位薄膜曲率测量 3.实时原位应力薄膜厚度曲线测量 4.实时原位薄膜生长全过程应力监控等 实时原位测量功能实例：曲率、曲率半径、薄膜应力、应力—薄膜厚度曲线、多层薄膜应力测量分析等；

薄膜透湿仪_薄膜透湿性测试仪W301B水蒸气透过率测试仪又叫透湿性测试仪。基于杯式法测试原理，是一款专业用于薄膜试样的水蒸气透过率测试仪，适用于塑料薄膜、复合膜等膜、片状材料与医疗、建材领域等多种材料的水蒸气透过率的测定。通过水蒸气透过率的测定，达到控制与调节材料的技术指标的目的，满足产品应用的不同需求。产品特点◎ 称重法测试原理，符合标准要求的间歇式称量，每次测量前系统自动清零，保证数据的统一性和准确性◎ 高清液晶触摸屏，内容更直观，操作更简便◎ 单次试验测试1个试样，过程全自动化，透湿杯升降称量由气缸控制，数据准确可靠◎ 创新循环除湿系统，内置真空泵，有效防止透湿杯上方湿度梯度的形成，保证测试的准确性◎ 宽范围、高精度、自动化温湿度控制，满足各种试验条件下的测试◎ 试验结果支持多格式存储和数据输出，包括实验报告 Excel、云端共享◎ 提供标准砝码快速校准模式，称量系统保证检测数据的准确性◎ 产品符合GMP用户三级权限◎ 可进行试验结果的单次、成组的统计分析◎ 具备 ISP 在线控制、升级功能，可按照要求远程更改试验功能◎ 专门的计算机通信软件，可进行试验的实时显示及数据的分析处理 、数据保存 测试原理W301B水蒸气透过率测试仪采用透湿杯称重法测试原理，在一定的温度下，使试样的两侧形成一特定的湿度差，水蒸气透过透湿杯中的试样进入干燥的一侧，通过测定透湿杯重量随时间的变化量，从而求出试样的水蒸气透过率等参数。 应用领域薄膜：适用于各种塑料薄膜、塑料复合薄膜、纸塑复合膜、土工膜、共挤膜、防水透气膜、 镀铝膜、铝箔、铝箔复合膜等膜状材料的水蒸气透过率测试片材：适用于各种工程塑料、橡胶、建材（建筑用防水材料）、保温材料等片状材料的 水蒸气透过率测试。如PP片材PVC片材、PVDC片材、尼龙片材等纸张、纸板：适用于纸张、纸板的水蒸气透过率测试纺织品、非纺织布：适用于纺织品、非纺织布等材料的水蒸气透过率测试薄膜透湿仪_薄膜透湿性测试仪技术指标测试范围：0.01 ~ 100 g/m224h0.1MPa（常规）测试精度：0.01 g/m224h0.1MPa系统分辨率：0.001 g/m224h0.1MPa试样数量：1 ~ 3件（数据各自独立）试验温度：室温 ~ 55°C（常规）控温精度：±0.5°C试验湿度：10%RH ~ 98%RH（标准90%RH）控湿精度：±2%RH测试面积：50 cm2试样厚度：≤ 3 mm （其他厚度要求可定做）载气流量：0 ~ 200 ml/min试验压力：≥0.20 MPa接口尺寸：1/8英寸金属管外形尺寸：440 mm (L) × 450 mm (W) × 450 mm (H)电 源：AC 220V 50Hz净 重：42 kg测试标准该仪器符合多项国家和国际标准：ISO 15106-2、ASTM F1249、GB/T 26253-2010、TAPPI T557、JIS K7129、YBB 00092003-2015 产品配置标准配置：主机、专业软件、通信电缆、取样器、手套选购件：标准膜、空压机备注：本机气源进口为1/8英寸金属管；气源、蒸馏水用户自备

薄膜拉伸试验机_薄膜拉力试验机XLW-L智能电子拉力试验机专业测试塑料薄膜、复合材料、软质包装材料、塑料软管、胶粘剂、胶粘带、不干胶、医用贴剂、离型纸、保护膜、组合盖、金属箔、隔膜、背板材料、无纺布、橡胶、纸张纤维等产品的拉伸、剥离、变形、撕裂、热封、粘合、穿刺力、开启力、低速解卷力、拨开力、抗压等性能测试。产品特点◎ 采用0.5级精度进口传感器，插拔设计更换方便，有效地保证了试验结果的准确性和重复性。◎ 多功能测试系统支持拉伸、剥离、穿刺、开启、撕裂、热封等七种独立的测试程序，为用户提供了多种试验项目选择。◎ 蓝光护眼大屏液晶显示器支持曲线、数据、结果实时统计。◎ PVC中英文操作面板，试验方便快捷，易学、易懂、易操作。◎ 配备微型静音打印机，实验结束自动打印测试数据。◎ 系统配有过载保护、限位保护、自动回位、掉电记忆等智能配置，保证用户的操作安全。◎ 闭环式测控软件支持鼠标操控运行，各功能独立、标准计量单位、无需人工换算。◎ 进行成组试样的统计分析运算，给出算术平均值、Z大值、Z小值。◎ 试验结果支持多格式存储和数据输出，包括试验报告EXCEL，配备USB标准接口。 测试原理XLW-L智能电子拉力试验机将试样装夹在夹具的两个夹头之间，两夹头做相对运动，通过位于动夹头上的力值传感器和机器内置的位移传感器，采集到试验过程中的力值变化和位移变化，从而计算出试样的拉伸、撕裂、变形率等性能指标。薄膜拉伸试验机_薄膜拉力试验机技术参数量程范围：500 N 50 N (选择其一)测力精度：0.5级分辨率：0.001N试样数量：1 件试验速度：10-500mm/mmin（试验速度可以根据客户需要设置）试样宽度：30 mm（标配夹具）50 mm（可选气动夹具）试样夹持：手动（注：气动夹具另购）测量行程：600mm外形尺寸：450 mm (L) × 450 mm (W) × 910 mm (H)电 源：AC 220V 50Hz主机净重：60 kg 测试标准该仪器符合多项国家和国标标准： IS O 37 、 GB 8808 、 GB/ T 1040 . 1 - 2006 、 GB/T 1040.2-2006、GB/T 1040.3-2006、GB/T 1040.4-2006、GB/T 1040.5-2008、GB/T 4850-2002、GB/T 12914-2008、GB/T 17200、 GB/T 16578.1-2008、 GB/T7122、 GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 17590、ASTM E4、 ASTM D882、 ASTD1938、 ASTM D3330、ASTM F88、 ASTM F904、JIS P8113、QB/T 2358、QB/T 1130。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪（CHY-C2A型号）采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪技术特征：严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告 执行标准：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪技术指标：负荷量程：0～2 mm（常规）　　　　　0～6 mm；12 mm （可选）分辨率：0.1 μm测量速度：10 次/min （可调）测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）　　　　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重：32kg仪器配置：标准配置：主机、标准量块一件选购件：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机以上信息由济南兰光机电技术有限公司发布，如欲了解更详细信息，欢迎致电0531-85068566垂询！

1. 产品概述FTPadv是一种经济高效的台式光谱反射解决方案，具有快速厚度测量功能。测量时间不到 100 ms，精度低于 0.3 nm，膜厚范围为 50 nm – 25 μm。包括一系列预定义的配方，便于光谱反射仪操作。2. 主要功能与优势获得薄膜厚度的短方法通过选择并开始适当的配方，SENTECH FTPadv 反射仪可在不到 100 ms 的时间内完成厚度测量，精度小于 0.3 nm，厚度范围为 30 nm – 25 μm。AutoModel 功能和基于 SE 的材料库通过比较测得的反射光谱和光谱库，可以将操作员的误差降低。基于SENTECH的椭圆偏振光谱仪测量的大型材料库，为新材料的光学常数测量提供了方法。应用业知识30 多年来，SENTECH 已成功销售用于各种应用的 FTPadv 膜厚探头。这款台式反射仪可在工业或研究环境中，通过远程或直接控制，在低温或高温下，原位或在线测量小样品到大窗玻璃的厚度。 3. 灵活性和模块化SENTECH FTPadv的一个关键特性是可以测量多层样品中任何层的厚度，这使得FTPadv成为膜厚测量的理想、经济高效的解决方案。用于过程控制的FTPadv包括一个带有柱子和样品架的光纤束、一个带卤素灯的稳定光源以及FTP光学器件和控制器站。通过LAN连接到PC，可以在恶劣的工业应用环境、受到特殊保护的房间或大型机械中远程控制工具。反射仪 FTPadv 带有大量预定义的配方，例如半导体上的电介质、半导体上的半导体、硅上的聚合物、透明基板上的薄膜、金属基板上的薄膜等。自动建模功能允许通过与光谱库进行比较来快速检测样品类型。该反射仪将操作员错误降低。通过光学反射测量薄膜厚度从未如此简单。FTPadv菜单驱动的操作软件允许在出色的操作员指导下对单层和多层结构进行厚度测量。此外，它还具有强大的分析工具和出色的报告功能。额外的映射软件可用于控制电动样品台。将软件升到软件包FTPadv EXPERT，用于反射测量的高分析，通过应用具有未知或不同光学特性的材料，扩展了标准软件包。因此，可以进行厚度测量以及单片薄膜的折射率和消光系数分析。

PVDC薄膜的阻隔性检测仪应用范围 薄膜： 适用于各种塑料薄膜、复合膜水蒸气透过率的定量测定，如：铝箔复合膜、镀铝膜、PVC 硬片、药用铝箔、共挤膜、流延膜、太阳能背板等。 容器： 适用于各种瓶、盒、袋等包装容器水蒸气透过率的定量测定，如：各种口服及外用液体瓶、各种药用固体瓶等药品包装容器；包装盒、酸奶杯等各种食品包装容器。 主要特点 1．电解法测试原理 2．三腔独立测试 3．计算机控制，试验全自动，一键式操作 4．智能模式等多种试验模式可选择，可满足各种标准、非标测试 5．可支持容器测试 （选购） 6．三腔循环介质控温，各自独立温度传感器实时监控试验温度 7．试验湿度可自行设置、调节 8．数据审计追踪、溯源；系统日志记录 9．5 级用户权限管理 10．温度、流量、湿度、透过率等曲线显示 11．支持 DSM 实验室数据管理系统，可实现数据统一管理。（选购）测试原理 薄膜： 将待测试样装夹在恒温的干、湿腔之间，使试样两侧存在一定的湿度差，由于试样两侧湿度差的存在，水蒸气会从高湿侧向低湿侧扩散渗透，在低湿侧，水蒸气被干燥载气携带至水分析传感器，通过对传感器电 信号的分析计算，从而得到试样的水蒸气透过率和透湿系数。 容器： 容器的外侧是高湿气体，内侧则是流动的干燥气体，由于容器内外湿度差的存在，水蒸气将穿透容器壁进入容器内部，进入容器内部的水蒸气将由流动的干燥载气携带至水分析传感器，通过对传感器电信号的分 析计算，可得到容器的水蒸气透过率等结果。

GB/T 1037隔膜透气量检测仪器 薄膜水蒸气透过度测试仪 透气率试验仪薄膜水蒸气透过率测试仪是一种专业设备，用于评估各种薄膜和片材的水蒸气透过性能。以下是该测试系统的详细介绍，包括其应用范围、技术特点和关键参数：应用范围：倒杯法测试：适用于薄膜、防护材料等，通过测量透湿杯重量变化来计算水蒸气透过率。特殊领域应用：包括人造皮肤、化妆品（如面膜）、医用辅料（膏药贴、护创膜）、太阳能背板、液晶显示屏保护膜、漆膜、生物降解膜等。GB/T 1037隔膜透气量检测仪器 薄膜水蒸气透过度测试仪 透气率试验仪技术特征：测试原理：基于杯式法，通过湿度差驱动水蒸气透过试样，监测重量变化。高精度测量：最低检测限达0.1g/m² 24h，使用高分辨率称重传感器。温湿度控制：自动化控制，宽范围，高精度，确保测试环境的一致性。系统设计：气缸升降与间歇称重减少误差，快速温湿度校准接口。软件功能：动态软件支持试验过程中的即时计算与试验结束后的自动取点计算。GB/T 1037隔膜透气量检测仪器 薄膜水蒸气透过度测试仪 透气率试验仪关键参数：试样尺寸：Φ74 mm动态软件：支持试验中随时暂停及计算，灵活的试验后结果处理。可控工位：可自选工位、试验时间与测试模式。测试模式：减重法（常规）、增重法（可选）、双模式（可选）。气源压力：0.6 MPa接口尺寸：Φ6 mm 聚氨酯管电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸：660 mm (长) × 480 mm (宽) × 525 mm (高)净重：70 Kg执行标准：遵循GB 1037、GB/T16928、QB/T2411等国家标准。

薄膜氧气透过率测定仪应用范围适用于各种塑料薄膜、复合膜、分离膜、交换膜、橡胶、聚合物材料等产品在各种温度条件下气体透过率、扩散系数、溶解度系数、渗透系数的测定。主要特点1．真空压差法测试原理2．单腔测试3．支持循环介质控温 4．温度传感器实时监控试验温度5．智能模式等多种试验模式可选择6．支持真空泵自动启停7．气体透过率、扩散系数、溶解度系数、渗透系数测试8．数据审计追踪、溯源；系统日志记录9．5 级用户权限管理10．可支持 DSM 实验室数据管理系统，能实现生产监控、数据统一管理 （另购）技术指标测试范围：0.01~170,000 cm3/m224h0.1MPa（标准配置）分 辨 率：0.001 cm3/m224h0.1MPa试样件数：1 件真空分辨率：0.1 Pa控温范围：5℃~95℃（选购）控温精度：±0.1℃试样厚度：≤3mm试样尺寸：≥150 mm × 94mm或圆形试样试样面积：48cm2试验气体：氧气、氮气、二氧化碳、空气、氦气等气体（气源用户自备）试验压力：-0.1 MPa~+0.1 MPa（标准）气源压力：0.3 MPa~1.0 MPa气源尺寸：Ф8 mm外形尺寸：330 mm（L）×600 mm（D）×330mm（H）电源：AC 220V 50Hz净重：28 kg执行标准GB/T 1038-2000、ISO 15105-1、ISO 2556、ASTM D1434、JIS 7126-1、YBB 00082003产品配置标准配置：主机、专业软件、数据扩展卡、通信电缆、氧气减压阀、取样器、取样刀、真空密封脂、真空泵、快速定量滤纸选 购 件：计算机、恒温控制器、湿度发生装置、标准膜、真空脂、快速定量滤纸、取样刀、DSM 实验室数据管理系统。

东莞市雨菲电子科技有限公司成立于2015年，其前身为成立于2008年的维特国际。薄膜开关厂位于东莞市虎门镇怀德管理区合森工业园内，占地4500平米， PCBA厂位于东莞虎门大宁创富赢家产业园内， 占地面积3500平米。雨菲电子地理位置优越，距高速出口5公里，紧邻深圳，广州，香港，距离深圳机场仅30分钟车程，距广州机场1小时车程。雨菲电子是一家致力于电阻式薄膜开关，电容触摸式薄膜开关, 电容触摸感应线路, 薄膜面板，薄膜面贴，触摸屏贴合, 触摸显示模组, 单片机开发，PCBA及整机解决方案提供的新兴高科技企业。 雨菲电子已通过ISO9001, ISO14001, ISO13485和OHSAS18001体系认证。是业内早通过ISO13485的医疗体系认证的薄膜开关工厂。 雨菲电子的产品广泛应用于医疗, 工控, 自动化, 轨道交通, 航空航海, 网络通讯, 消费电子, 仪器仪表, 农用机械, 设备制造等广泛领域。公司所有生产车间均为十万级无尘防静电车间, 其中印刷车间为万级。此外还有2间千级高精密高洁净度无尘车间用于进行屏幕贴合, 精密电子组装等业务。公司自建品质实验室, 包括盐雾测试机, 高低温环测, 寿命测试机, 凸包高度测试仪, 二次元, 曲线荷重测试仪等仪器设备。公司拥有4台半自动丝网印刷机, 2条全自动印刷生产线, 全自动打孔机, 自动冲床, 五金冲床, 真空贴合机,脱泡机等等. 洁净的生产环境, 先进的生产设备和测试仪器确保我司优异的产品质量!

塑料薄膜拉力机 薄膜拉力机XLW-H智能电子拉力试验机是一款专业用于测试各种软包装材料拉伸性能等力学特性的电子拉力试验机 试验通过位于动夹头上的力值传感器和机器内置的位移传感器采集数据的变化，可测试塑料薄膜、复合材料、软质包装材料、塑料软管、胶粘带、医用贴剂等产品的拉伸、剥离、变形、撕裂等力学性能。XLW-H电子拉力机拥有丰富的应用范围，配置了100种以上不同的式样夹具供用户选择，其超高的性价比赢得了广大用户的喜爱与认可。产品特点◎ 10寸超大触摸屏，人机接口时尚、便捷。◎ 多种试验项目选择，满足绝大多数行业应用。◎ 测力系统精度高，线性度好，响应快。◎ 传感器超量程保护。◎ 运动驱动系统平稳且运行精度高。◎ 运动机构限位保护、过载保护、自动回位、以及掉电记忆等智能配置,保证用户与仪器本身的安全。◎ 开机自动零点校准，支持手动传感器清零。◎ 试验曲线实时展示试验过程中力值的变化趋势。◎ 产品符合GMP用户三级权限。◎ 测试数据历史记录可查询，数据不可更改，可审计追踪。◎ 可进行试验结果的单次、成组的统计分析。◎ 微型打印机，随时打印试验统计结果。◎ 设有标准的USB通信接口。◎ 专门的计算机通信软件，可进行试验的实时显示及数据的分析处理 、数据保存。◎ 可选气动夹持，减少操作时间，操作体验更流畅。◎ 可扩展网络传输接口，测试数据直接上传云服务器，可全球远程查询。全自动拉力试验机 自动拉力测试机测试原理将试样装夹在夹具的两个夹头之间，两夹头做相对运动，通过位于动夹头上的力值传感器和机器内置的位移传感器，采集到试验过程中的力值变换和位移变换，从而计算出试样的拉伸、撕裂、变形率等性能指标。技术参数量程范围：30N、100N，500N，1000N测力精度：0.5级力值分辨率：0.001N位移精度：0.5级位移分辨率：0.1mm试验速度：1-800 mm / min（无级调速）行程：800mm（可选1000mm）电源：220 V/50Hz/60W外形尺寸：520mm×380mm×1400mm主机净重：72kg测试环境：温度 10 ℃ ~ 40 ℃、湿度20%~80%测试标准该仪器符合多项国家和国标标准：GB 13022、GB 8808、GB 1040、GB 4850、GB 7753、GB 7754、GB 453、GB/T 17200、GB/T 16578、GB/T 7122、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、ASTM E4、 ASTM D828、ASTM D882、ASTM D1938、ASTM D3330、ASTM F88、ASTM F904、ISO 37、JIS P8113、QB/T 2358、QB/T1130 、YBB00152002-2015、YBB00212005-2015 、YBB00232005-2015、YBB00222005-2015、YBB00182004-2015、YBB00202005-2015、YBB00242002-2015、YBB00212004-2015、YBB00132005-2015、YBB00142005-2015、YBB00152005-2015。 售后服务承诺三月内只换不修，一年质保，终身提供。快速处理，1小时内响应问题，1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001：2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心，两条独立生产线，一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今，全球用户累计成交产品破万台，完善四大产品体系，50多种产品。

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