超声粒径分析仪

产品简介　　粒径谱分析仪以激光二极管作为光源，31个粒径通道测量模块可准确计算颗粒物质量浓度和分布基础。该分析仪可检测固体颗粒物和小液滴粒径分布，测量过程没有半挥发性物质损失，适合官方作为PM10和PM2.5测量的组网仪器。在解决环境监测中需要解决的大气可吸入颗粒物等多种污染物的连续、实时、自动监测问题，特别是对颗粒物源解析、数浓度谱的研究有着重要的作用。功能特点　　全自动无人值守在线实时监测，19寸机柜安装；　　可同时测量PM1，PM2.5，PM10(可选配31个粒径通道)，获得PM10，PM2.5 所有的EU及US-EPA认证；　　粒径分布、相对温湿度探头、大气压力（三种选项）；　　不受震动影响，没有放射源，维护少，具有自动跟踪系统；　　使用NAFION 作为除湿方法，使得SVC没有损失；　　可做为大气监测系统的组网仪器；　　维护费用、监测成本低。

借助 minispec 时域核磁共振分析，快速完成乳剂型产品的质量控制、工艺控制和研发水包油型或油包水型乳剂的液滴粒径分布无需制备，无需稀释批量测定不透明试样乳化效率量化乳剂稳定性动力学控制产品流变特性选择性吸收产品设计香精控释， API 优化颜色和外观减速化学变质控制微生物腐坏布鲁克的多功能台式时域核磁共振分析仪可以提供一个整包式解决方案，可在乳剂型产品生产过程中快速完成质量／工艺控制和研发。人性化的布鲁克 minispec 仪器可在短短数分钟内检测出整个试样中的全部氢原子产生的信号，而不受其颜色或浊度的影响。然后，通过分析核磁共振信号，计算出液滴内分子（油或水）的扩散系数，软件最后输出液滴粒径分布，包括体积和数量分数。此过程是在分子水平直接测量液滴粒径分布，不受絮凝影响，这一点不同于光学方法。时域核磁共振技术的优点有多种技术可供用于乳剂液滴粒径测试，但它们都有各种局限性，因而不适于分析多种不同乳剂系统： 光学显微镜术和成像分析——试样量小、耗时、液滴形状和尺寸失真。 共焦扫描显微镜术和成像分析——同光学显微镜术和成像分析一样。 小角激光光散射法——稀释步骤会彻底改变许多乳剂的结构，不能分辨液滴和悬浮颗粒，液滴簇被当成大液滴。 电传感技术——大多数情况下要求进行稀释，需要单独测定大量液滴。 超声技术——高固体含量试样的信号衰减严重。 相比于上述技术，基于时域核磁共振的液滴粒径分布测定技术具有以下属性，因而是适用于乳剂分析的强大工具： 对相对较大试样量进行液滴粒径分布测定样品颜色或透明度大小不影响测定其他颗粒物的存在不会被误当做液滴不要求在测定之前进行任何稀释步骤或其他预处理测定能力可以测定水包油型和油包水型试样的液滴粒径分布对整个1立方厘米试样进行液滴粒径分布测定4特斯拉／米的最大可用梯度强度允许对小至250纳米的大范围液滴粒径进行分析哪怕液滴内外都存在相同分子，也可以进行液滴粒径分布分析液滴粒径分布分析最终结果包括体积和数量分数、平均值和标准偏差可以在－5℃到＋65℃试样温度范围内执行测定同一台仪器可用于其他分析，譬如但不限于，固体脂肪含量、结晶、水分迁移，等等适用场合水包油型或油包水型乳剂系统的液滴粒径分布乳剂稳定性动力学对规定升温条件下的乳剂特性变化进行动态研究水包油型乳剂的脂肪结晶和液滴粒径分布变化通过专门设计液滴粒径分布来控制产品流变特性、颜色／外观预测和抑制微生物和化学腐坏分子从液滴内部交换至外部控释活性成分（香精、药物，等等）设计食品产品的可控消化率和热量值软件 可借助 minispec ExpSpel 实验编辑器，进行灵活编程，设定：核磁共振脉冲序列核磁共振数据处理自定义自动化，等等 mq 系列系统适用于各种不同应用，可提供使用广泛、成熟的时域核磁共振脉冲序列，以及与联合利华合作开发的专有液滴粒径分布软件。 布鲁克 minispec 仪器采集的扩散数据 布鲁克 minispec 软件输出的液滴粒径分布分析结果 布鲁克 minispec 软件生成的详尽的统计信息（基于体积和数量的液滴粒径分布）

颗粒实时原位表征-看见、测量颗粒梅特勒托利多公司提供的EasyViewer100是一款探头式图像工具，可以实时在线采集过程中晶体、颗粒与液滴的高分辨率图像。它能在线追踪颗粒及液滴的粒度、粒数及形状的变化。超薄，智能控制聚焦和即插即用连接的设计，EasyViewer可以实现无人值守下在更小的尺度下轻松地捕捉图像。当与一款易操作的图像分析软件iC-Vision结合使用时，EasyViewer将成为一个强大的颗粒粒度分析工具，可以实时监测过程变化和量化颗粒尺寸与形貌。帮助科学家和工程师实时测量颗粒和液滴的粒径、形貌，从而快速决策与过程开发。EasyViewer在原位条件下，实时在线追踪颗粒和液滴的变化情况，而不需要取样和制样。能提供实时在线、高固含量的粒径和粒数、形貌信息。适用于固-液，液-液及固-气等体系下的粒子监测。并能适应不同温度、压力和化学环境的要求。仪器特点/功能:1) 实时在线的、安装简便的探头式系统；2) 能在各固相或分散相的浓度中测量；3) 在两相界面提供多个选定粒径范围内的粒径、粒数与形貌信息4) 既能对默认或选定粒径范围（如：小颗粒范围或大颗粒范围）粒子的变化情况进行高精度、高灵敏度的实时监测，也能对重要的动力学研究提供的早期的监测诊断5) 通过粒径、晶形、粒数、浊度等指纹式信息能有效表征间歇反应的实验终点6) 结合iC Vision图像分析软件，将成为强大的颗粒粒度分析工具7) 在短时间内就能获得实用性强、附加值高的数据信息8) 哈氏合金材料，耐酸碱，耐化学腐蚀技术参数:观测范围:1mm × 1mm精度:1.5um光纤长度：3m(标准）；13m(带USB延长线)重量：0.66kg[包含探头与光纤]探头温度范围：-20oC-135oC压力：0-10bar材料：哈氏合金 C22应用领域:广泛应用于结晶/沉淀、絮凝、分散、乳液等方面。该颗粒测量仪既能用于学术研究，也可用于实验室过程开发。

粒径分析仪美国MAS公司成立至今有30余年历史，专注于超声电声法原理颗粒度检测、 Zeta电位分析仪的研发生产。超声法原理测试样品的颗粒分布，是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波在样品中传播，由于不同大小粒径对声波的吸收、散射作用不同，导致声波衰减程度不同。根据颗粒大小和声波衰减之间的函数关系，得到颗粒的粒度特点：不稀释：快速、简易，极少或不需事前样品准备！坚固耐用，用途广泛。电声量测分析：水性… 非水性… 不透明… 粘性… 纳米颗粒… … 自动滴定很简单的IEP测量自主已混合、已抽打过气样品均匀性… 无颗粒沉降… … 非常适合实验室和工厂… 研发、质量控制和在线等地使用粒径分析仪ZA500，ZetaAcoustic，结合Zeta电位分析仪、声波、电声测量三合一很强，高的分辨率，免稀释 Zeta电位分析。MAS应用科学公司发明电动声波振幅（ESA）技术用于高百分比之固体 Zeta 表面测量。MAS将其独特的专业知识应用在 Zeta 电位和粒度分析仪器的设计，使其成为 MAS很强而有力的发明Zeta电位量测仪。使用ZA500的好处：※ 藉由结合电动和声学，二合一的测量中，进行高分辨率/准确度 Zeta 测量。※ 自动粒度校正（通过声学测量）精确的 Zeta 测量（1纳米到30微米）。※ 自动/无人值守的电位滴定和容量滴定，用于简单和很快的 Iso-Electric Point（IEP）测定、表面活性剂吸附效应和其他动态测量。※ 在测量过程中，适用于自主已混合和/或已抽打气样品，无需等待颗粒沉降无不良影响。※ Zeta倾角传感器允许在样品池或独立容器中进行测量。※ 坚固耐用，适用于大多数样品，包括纳米颗粒、水性、非水性、高粘性、低至高百分比固体（0.1至60%体积）和 0-14 ph 等。※ 同时测量酸碱度、电导率和温度。※ 免费终身咨询 Matec 的任何材料胶体专家… 无论是有关 ZetaZcoustic… 或任何其他胶体科学主题。下图显示了氧化铝（左）和二氧化钛样品的自动、无人值守电位滴定示例。它们的IEP位置很容易由 ZetaAcoustic 仪器确定。电声法原理测试样品的Zeta电位，在针对高浓度，高粘度的样品，如电池浆料、混悬剂、电子印刷材料、乳剂、油墨等样品，电声超声法粒度电位分析仪可直接进行原样检测，无须进行样品稀释，即可得到更精确真实的结果，避免了因稀释带来的误差和影响。对研发，生产起到关键的指导意义。

美国MAS多功能超声法粒度分析仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS多功能超声法粒度分析仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；美国MAS多功能超声法粒度分析仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

美国MAS超声粒度仪超声电位分析仪产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS超声粒度仪超声电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

美国MAS超声法粒度检测仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um美国MAS超声法粒度检测仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；美国MAS超声法粒度检测仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

2021年产品推荐（解决方案）美国MAS多功能超声粒度分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MNS公司纳米粒度及Zeta电位分析仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS多功能超声粒度分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

粒径谱分析仪以激光二极管作为光源，31个粒径通道测量模块可准确计算颗粒物质量浓度和分布基础。该分析仪可检测固体颗粒物和小液滴粒径分布，测量过程没有半挥发性物质损失，适合官方作为PM10和PM2.5测量的组网仪器。在解决环境监测中需要解决的大气可吸入颗粒物等多种污染物的连续、实时、自动监测问题，特别是对颗粒物源解析、数浓度谱的研究有着重要的作用。 功能特点：? 全自动无人值守在线实时监测，19寸机柜安装。? 可同时测量PM1，PM2.5，PM10(可选配31个粒径通道)，获得PM10，PM2.5 所有的EU及US-EPA认证。? 粒径分布、相对温湿度探头、大气压力（三种选项）。? 不受震动影响，没有放射源，维护少，具有自动跟踪系统。? 使用NAFION 作为除湿方法，使得SVC没有损失。? 可做为大气监测系统的组网仪器。? 维护费用、监测成本低。

借助 minispec 时域核磁共振分析，快速完成乳剂型产品的质量控制、工艺控制和研发水包油型或油包水型乳剂的液滴粒径分布无需制备，无需稀释批量测定不透明试样乳化效率量化乳剂稳定性动力学控制产品流变特性选择性吸收产品设计香精控释， API 优化颜色和外观减速化学变质控制微生物腐坏布鲁克的多功能台式时域核磁共振分析仪可以提供一个整包式解决方案，可在乳剂型产品生产过程中快速完成质量／工艺控制和研发。人性化的布鲁克 minispec 仪器可在短短数分钟内检测出整个试样中的全部氢原子产生的信号，而不受其颜色或浊度的影响。然后，通过分析核磁共振信号，计算出液滴内分子（油或水）的扩散系数，软件最后输出液滴粒径分布，包括体积和数量分数。此过程是在分子水平直接测量液滴粒径分布，不受絮凝影响，这一点不同于光学方法。时域核磁共振技术的优点有多种技术可供用于乳剂液滴粒径测试，但它们都有各种局限性，因而不适于分析多种不同乳剂系统： 光学显微镜术和成像分析——试样量小、耗时、液滴形状和尺寸失真。 共焦扫描显微镜术和成像分析——同光学显微镜术和成像分析一样。 小角激光光散射法——稀释步骤会彻底改变许多乳剂的结构，不能分辨液滴和悬浮颗粒，液滴簇被当成大液滴。 电传感技术——大多数情况下要求进行稀释，需要单独测定大量液滴。 超声技术——高固体含量试样的信号衰减严重。 相比于上述技术，基于时域核磁共振的液滴粒径分布测定技术具有以下属性，因而是适用于乳剂分析的强大工具： 对相对较大试样量进行液滴粒径分布测定样品颜色或透明度大小不影响测定其他颗粒物的存在不会被误当做液滴不要求在测定之前进行任何稀释步骤或其他预处理测定能力可以测定水包油型和油包水型试样的液滴粒径分布对整个1立方厘米试样进行液滴粒径分布测定4特斯拉／米的最大可用梯度强度允许对小至250纳米的大范围液滴粒径进行分析哪怕液滴内外都存在相同分子，也可以进行液滴粒径分布分析液滴粒径分布分析最终结果包括体积和数量分数、平均值和标准偏差可以在－5℃到＋65℃试样温度范围内执行测定同一台仪器可用于其他分析，譬如但不限于，固体脂肪含量、结晶、水分迁移，等等适用场合水包油型或油包水型乳剂系统的液滴粒径分布乳剂稳定性动力学对规定升温条件下的乳剂特性变化进行动态研究水包油型乳剂的脂肪结晶和液滴粒径分布变化通过专门设计液滴粒径分布来控制产品流变特性、颜色／外观预测和抑制微生物和化学腐坏分子从液滴内部交换至外部控释活性成分（香精、药物，等等）设计食品产品的可控消化率和热量值软件 可借助 minispec ExpSpel 实验编辑器，进行灵活编程，设定：核磁共振脉冲序列核磁共振数据处理自定义自动化，等等 mq 系列系统适用于各种不同应用，可提供使用广泛、成熟的时域核磁共振脉冲序列，以及与联合利华合作开发的专有液滴粒径分布软件。 布鲁克 minispec 仪器采集的扩散数据 布鲁克 minispec 软件输出的液滴粒径分布分析结果 布鲁克 minispec 软件生成的详尽的统计信息（基于体积和数量的液滴粒径分布）

PARIO土壤粒径自动分析仪一、用途土壤颗粒粒径分布(PSD)是土壤物理特性的关键指标，强烈地影响着水力热力性质等重要的土壤物理特性。根据土壤粒径分布来估计土壤的其他水力学性质已经成为相关领域的研究热点。PSD的传统检测是基于颗粒在均质化悬浮液中的重力沉降进行的，步骤繁琐，费时费力，误差较大；激光新法，由于需要进行土壤特异性校正，确定转换函数，为其一缺陷。PARIO，是一种从插入悬浮液测量开始到数据导出，完全的自动化测量方式。结合了传统方法和激光新发的优点。记录一个时间段内，沉降过程中特定悬浮液深度的压力。采用integral Densiometer Method”(IDM)模型算法，得到土壤颗粒粒径分布。 二、 测量原理PARIO基于Stokes’ Law原理（传统方法皆是此原理）。悬浮液中，颗粒会下沉，而液体留存于压力传感器上方，所以，预置传感器位置上的压力会不断衰减。根据压力变化模型，得出压力随时间的变化。这种压力变化可以作为在特定深度L（cm）处的PSD。? 假设沉降过程中粒径大小分布，是遵循Stokes 定律。那么： V指沉降速率，D指颗粒直径? 在时间t后，颗粒到达z深度， ? 在深度L处的压力ρ，跟L处的密度值ρ（z,t）关系，? 综上，根据模型计算公式为： 三、系统特点? 基于Stokes’ Law计算粒径分析 ? 测量开始到结束，完全的自动化测量? 粒径分析准确且连续 ? 测量过程中没有悬浮液的物理扰动 ? 避免人工读数造成的错误 ? 避免人工计算的错误 ? 温度自动补偿计算入粒径分析? 节省时间和人工，仅需6小时? 10s间隔自动测量，总误差仅有1.5%? 一体化分析软件，可视化视图? 内置美国和德国标准，可供选择 四、系统组成? 一台PARIO© 设备? 两个玻璃沉降瓶? 一个插头? PARIO控制软件。测量轴具有压力传感器和温度传感器，测量时浸没入悬浮液中。测量头为信号处理中心。通过USB连接PC端。PC端10秒记录一次时间，压力，温度数据。 五、 技术指标粒径分析范围63 μm to 1 μm质量检测误差+/- 1.5%粒子质量25 to 40 g /每升悬浮液测量持续时间6 小时测量间隔10s工作温度范围15 °C to 35 °C测量过程中最大耐受温度变化3 °C悬浮液体积1000 cm3沉降瓶高度35 cm电力需求1 mW质保12个月所需的外部测量重砂分测量温度影响水的粘度高度依赖于温度y = 0.0007 T 2 -0.0531T + 1.764（r2= 0.9996）沉降速度的计算自动补偿温度 六、产地：德国 六、 参考文献Wolfgang Durner , Sascha C. Iden , and Georg von Unold。The integral suspension pressure method (ISP) for precise particle-size analysis by gravitational sedimentation。AUG PUBLICATIONS: Water Resources Research, 10.1002/2016WR019830

PARIO Plus土壤粒径自动分析仪PARIO Plus土壤粒径自动分析仪在PARIO的基础上进一步提升，测量准确度和效率均大幅提升。PARIO Plus土壤粒径分析仪，对比传统的粒径分析方法PARIO具有明显优势。传统的比重计法（或吸管法）手工耗时24小时，费时费力易出错，激光粒度仪法，设备昂贵，耗时长，且存在方法性偏差。PARIO Plus设置好之后全程自动测量，仅需在测量结束时手动打开阀门。测量时长缩短至仅需2.5小时，估计误差低至±0.5%。PARIO Plus从繁杂的实验中解放科学家的双手，全身心投入科学问题的研究。测量原理基于斯托克斯定律（Stokes´ law）计算粒径分布, 其测量范围为63~2 μm。PARIO的测量方法基于成熟的比重计法或吸管法，采用压力传感器以10s间隔连续记录土壤悬浊液中特定位置的压力和温度变化，获得完整的土壤颗粒粒径分布曲线。PARIO Plus使用更准确的“扩展积分悬浮压力法”（ISP+）（Durner et al., 2017）。另外，基于斯托克斯定律的PARIO不需要进行土壤特性的传递函数校正，而几乎其它任何自动测量方法都要求进行这种校正，例如激光衍射法或图像分析法。主要特点ü 测量速度快 设置好后，仪器运行仅需2.5小时。ü 测量方法准确 估计误差低至± 0.5%，低于任何传统的粒径分析方法。ü 自动独立运行 PARIO允许无人值守，自动化操作，仅需在实验结束时手动打开阀门。避免人工读数和计算误差。ü 获得高精度的连续粒径分布曲线 与传统方法测得少数一些离散时间点数据不同，PARIO每10秒进行一次自动测量，并连续记录悬浮液的压力以及温度变化。ü 测量过程无扰动 不需要插入液体比重计，也不需要用移液管进行悬浮液的取样，进而减少了对沉降的扰动。ü 依据经典原理 根据斯托克斯定律（Stokes´ law）计算粒径分布，正好匹配传统实验前期准备工作流程。ü 黏粒含量直接测量获得ü 依据温度自动综合计算粒径分布ü 简单易用 为了您能节省更多时间，PARIO采用简便易用的软件解决方案，轻松实现数据查询、可视化操作、数据的计算及导出。技术指标粒径范围2 ~ 63 μm质量分数检测的近似误差PARIO Plus: ±0.5%；PARIO Classic: ±3.0%压力测量准确度： ±1.0 Pa；分辨率：±0.1 Pa典型颗粒质量25 ~ 50 g/ 1L悬浊液典型测量时长PARIO Plus: 2.5 h；PARIO Classic: 8.0 h测量间隔10 s黏粒含量估算根据抽取样品综合颗粒质量获得砂粒含量估算根据湿筛法测定结果得到供电需求USB 5 V/100 mA电脑兼容微软 Windows 10玻璃容器规格高：450.0 mm；内径：59.0 mm，外径：67.5 mm；体积：1,000 cm3材质：硼硅酸盐玻璃3.3PARIO 仪器高度：293.0 mm；直径：80.0 mm ；材质：POM塑胶原料和不锈钢悬浊液容积1000 mL工作温度最小：15℃；典型：20℃；最大：35℃测量中允许的最大温度变化±1.5 ℃需要额外测量的参数PARIO Classic: 有机质含量 (如进行了有机质去除)；砂粒含量(湿筛法)；总悬浊液中分散盐的质量PARIO Plus: 取样测量干物质总质量；砂粒含量(湿筛法)；总悬浊液中分散盐的质量缆线类型USB 2.0；500 mA用于接收端口符合标准生产制作遵循 ISO 9001:2015；EM ISO/IEC 17050:2010 (CE Mark)产地与厂家：美国METER公司

产品简介：Sedimat 4-12土壤粒径分析仪用于实验室自动分析土壤粒径的分布情况。Sedimat 4-12根据欧洲标准（DIN ISO 11277），每次可以对12个样品按4级粒径大小进行自动分析（也可以按美国标准进行土壤粒径2级分析）。 测量原理：根据stokes’定律，大颗粒的沉降速度较快，小颗粒的沉降速度较慢，把土壤样品放到液体中制成一定浓度的悬浮液，悬浮液中的颗粒在重力作用下将发生沉降，因此可以根据不同粒径的颗粒在液体中的沉降速度不同来测量粒度分布。具体方法为移液管法：将土壤样品去除石块、杂草、植物根等有机质，然后过筛（0.05mm），过筛后的细土混匀准确称量10g放入1000ml焦磷酸钠溶液中，搅拌、摇匀，用移液管在不同时间内缓慢吸取不同深度一定量的悬浮液样品，烘干后称重，即可算出不同粒径范围的土壤粒径分布百分比。土壤粒径分布欧洲标准（DIN ISO 11277）分为4级（F1、F2、F3、F4），美国标准（ASTM）分为两级（F1和F2），具体分级情况如下：美国标准（ASTM）：F1：20cm 80s； F2：10cm 6h52m52s欧洲标准（DIN ISO）：F1：20cm 49s； F2：10cm 4m7s；F3：10cm 45m52s；F4：10cm 6h52m50s特点：&bull 取样均一性好，样品处理温和&bull 样品沉降时间符合美国和欧盟标准；&bull 样品准备简便，只需要少量的实验室工作&bull 自动测量过程节约工作时间&bull 精确实现诸如均匀探头、稳定时间间隔、精确温度监测等实验条件；&bull 在一个实验过程中每次取12个样品；&bull 测量结果重复性高；&bull 土壤悬浮液搅拌时间、温度（25℃）、沉降时间、样品抽取深度及移液量自动精确控制&bull 1天可以自动完成12个样品4个粒径范围的测量 系统组成：主系统：4维自动操作臂（带搅拌器、液面传感器、移液器）及操作室水浴系统控制单元计算机及自动控制软件等附件：15个1000ml的量筒，高度465mm，六边形底座；48个30ml称量杯，外径50mm；4个可以安放12个称量杯的金属盘。另外实验室还需分析天平（精确到＋/－0.0001g）和烘干箱。 技术参数：主机系统规格操作臂4维自动操作臂（带搅拌器、液面传感器、移液器）及操作室操作臂规格X-axis：1290mm，Y-axis：990mm，Z-axis：Z1（自动搅拌轴）：790mm、Z2（移液管轴）：490mm控制单元支持微软操作系统，带4个伺服电机输入输出多路输入输出板显示单元17英寸水浴系统不锈钢温控水浴器，带丙烯酸套，内置PT100温度传感器控温用于水浴加热的浸入式加热线圈，以保持恒温25℃环境温度5-23℃，温度过高时，推荐使用sedimat流通式冷却器搅拌器同轴三叶桨搅拌器自动控制软件处理过程可视化移液器气体活塞式移液器精确定位光学表面传感器精确定位移液管深度（土壤悬浊液浸没深度）电源CEE16，16A 3N/PE AC380V/50Hz规格2080mm X 860mm X 1940mm （含显示屏和键盘）1690mm X 860mm X 1940mm （不含显示屏和键盘）重量400 kg土壤粒径分级技术参数：标准欧洲标准（DIN ISO），25℃时的沉降时间和深度F1（gU，粗粒土）20 cm – 49 sF2（mU，中粒土）10 cm – 4 min, 7 sF3（fU，细粒土）10 cm – 45 min, 52 sF4（T，黏土）10 cm – 6 h, 52 min, 50 s标准美国标准（ASTM），25℃时的沉降时间和深度F120 cm – 80 sF210 cm – 6 h, 52 min, 52 s可选附件技术参数sedimat流通式冷却器冷却控制温度25℃连接方法待冷却的液体通过软管连接工作温度10-30℃冷却能力：0.22kW（20℃）；0.18kW（10℃）标配附件量筒1000ml，15个，高度465mm，六边形底座称量杯30ml，48个，外径50mm金属盘4个，可以安放12个称量杯

欧奇奥SCAN系列泡沫粒径形貌分析仪泡沫粒径形貌分析仪SCAN600是欧奇奥公司（Occhio）针对大颗粒统计研究开发的一款泡沫粒径形貌分析仪。分析范围：用于2μm~20cm颗粒粒径及形貌分析 欧奇奥SCAN系列泡沫粒径形貌分析仪分析参数：多达43个粒径形貌参数的统计结果，可全面了解样品总体的概况（1）粒形参数：等效面积直径，筛分直径（内切圆直径），平均直径，Crofton直径，颗粒长度，颗粒宽度，颗粒最大长度，体积（2）粒形参数：ISO 9276-6 7 8规定参数包括ISO圆度 ,ISO钝度 ,ISO紧凑度 ,ISO线性度等 .延伸度,长宽比 ,圆度 ,凹度指数,平均灰度,灰度,椭圆宽度,椭圆长度 ,椭圆度,椭圆比,椭球延伸度,偏心率,实积度,钝度,粗糙度（3）高级粒形参数：磨损指数，晶化度，孔隙度，用户自定义（4）数据存储：oph专用数据存储格式可存储：粒径分布，粒径粒形。百分数独立颗粒图像及灰度（5）数据比较：可显示无上限多样品比较图表（6）可显示图表：粒径分布图，粒径百分数，粒形百分数，平均粒形，2D散点分布图，3D散点分布图，样品图像百分比，样品图像，独立颗粒图像（7）统计工具：形貌学和粒径过滤方式（8）显微镜模式：有手动选项，可手动设置样品流速、实时观察颗粒并显示颗粒参数、存储所需颗粒图像（9）外部数据分析：可输入、分析外部数据 欧奇奥SCAN系列泡沫粒径形貌分析仪应用领域：纺织物、烟草等的纤维长度、宽度分析；石油、聚合物、咖啡、啤酒的泡沫分析（泡沫大小、形状、动力学和稳定性）；可进行建材、面包、食品等的大孔孔径和形状分析及颗粒计数应用实例：烟丝分析，面包分析，玻璃基底分析

zeta-aps原液高浓度纳米粒度仪-zeta电位分析仪美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据美国MAS Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)最小样品容量10ml，没有较大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

纳米粒径及Zeta电位分析仪Nicomp Z3000介绍 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪采用先进的设计理念优化结构设计，充分有效地融合了动态光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和电泳光散射(ELS)技术，即可以多角度（步长0.9μm ）检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围：粒度测试范围：0.3 nm – 10 μm。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪通过检测分析胶体颗粒的电泳迁移率测量Zeta电位。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量，是表征胶体分散系稳定性的重要指标，Zeta电位（正或负）越高，体系越稳定。Zeta电位表征的是粒子之间的排斥力。由于大部分的水相胶体体系是通过粒子之间的静电排斥力来保持稳定的，粒子之间的排斥力越大，粒子越不容易发生聚集，胶体也会越稳定。NICOMP 380 Z3000结合了动态光散射技术（DLS）和电泳光散射法（ELS），实现了同机测试纳米粒子分布和Zeta电势电位。 应用行业：磨料、化学机械抛光液、陶瓷、粘土、涂料、污染监测、化妆品、乳剂、食品、液体工作介质/油、墨水、 乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO_2纳米管(TNAs)等 自动滴定仪NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪在增加自动滴定模块后，可以一次性使用同一样品在不同PH值或不同离子浓度的条件下进行一系列测试，实现了在等电点测试的技术难题。 相位分析光散射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技术PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术，用相位（Phase）变化的分析取代原 先频谱的漂移，不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。NICOMP 380 Z3000 纳米粒径与电位分析仪特点同机测试悬浮液体的粒径分布以及ZETA电势电位Zeta电位运用了多普勒电泳迁移原理以及zui新的相位分析散射法可以测试水相和有机相的样品检测范围宽广，亚微米颗粒均可以被检测样品测试量小高辨析率结果重现性好，误差小于1%100 % 样品可回收li用可搭载自动滴定仪, 自动稀释器和自动进样器无须校准一次性进样，避免交叉污染样品可选配大功率激光发生器以及jun品级APD雪崩二极管检测器来检测粒径小于1nm的颗粒 技术参数：粒径检测范围粒度分析：0.3 nm - 10 μmZeta电位检测范围粒度0.3 nm-100 μm分析方法粒径：动态光散射，Gaussian 单峰算法和 Nicomp 无约束自由拟合多峰算法；电位：电泳光散射(ELS)技术和相位分析光散射法pH值范围2 - 12温度范围0℃ - 90 ℃激光光源（可选）5 mW氦氖光源；15 mW, 35 mW,50 mW激光光源；100 mW激光光源（红）；20 mW，50 mW，100 mW激光光源（蓝/绿）检测角度（可选）90°或 多角度（10°- 175°，可选配）检测器（可选）PMT（光电倍增管），CMP（4倍增益放大）APD雪崩二极管（7倍增益放大）高浓度样品背散射175°背散射可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，zui小进样量10μL）选配模块高浓度背散射；自动稀释模块，自动进样器，多角度检测器，高能激光发生器，高增益检测器，21CFR PART11规范软件，在线模块。分析软件Windows 兼容软件；符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选）验证文件有电压220 - 240 VAC，50Hz 或100 - 120 VAC，60Hz计算机配置要求Windows XP及以上版本windows操作系统，40Gb硬盘，1G内存，光驱，USB接口，串口（COM口）外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg（与配置有关）电泳光散射法（ELS）与粒子的动电（Zeta）电位： ELS 是将电泳和光散射结合起来的一种新型光散射。它的光散射理论基础是 准弹性碰撞理论，只是在实验时在式样槽中多加一个外电场，带电粒子即以固定 速度向与带电粒子电性相反的电极方向移动，与之相应的动力光散射光谱产生多普勒漂移，这一漂移正比于带电粒子的移动速度，因此实验测得谱线的漂移，就 可以求得带电粒子的电泳速度，从而求得ζ-电位。相位分析光散射法PALS（Phase Analyze Light Scattering）技术PSS 于 2004 年推出ling先的 PALS 技术，用相位（Phase）变化的分析取代原 先频谱的漂移，不仅使 Zeta 电位分析的精度及稳定性有了显著的提高，而且突破了水相体系的限制，对油、有机物体系同样能提供 Zeta 电位的分析。动态光散射原理 Nicomp 380纳米粒径分析仪采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理来获得范围在0.3 nm到10 μm的胶体体系的粒度分布。DLS是通过一定波长的聚焦激光束照射在悬浮于样品溶液的粒子上面，从而产生很多的散射光波。这些光波会互相干涉从而影响散射强度，散射强度随时间不断波动，二者之间形成一定的函数关系。粒子的扩散现象（或布朗运动）导致光强不断波动。光强的变化可以通过探测器检测得到。使用自相关器分析随时间而变的光强波动就可以得到粒度分布系数（Particle size distribution, PSD）。单一粒径分布的自相关函数是一个指数衰减函数，由此可以很容易通过衰减时间计算得到粒子扩散率。zui终，粒子的半径可以很容易地通过斯托克斯（Stokes-Einstein）方程式计算得到。如下是Nicomp 380纳米粒径分析仪的检测原理简图： 大部分样品一般都不均匀，往往会呈现多分散体系状态，即测出来的粒径正态分布范围会比较大，直观的呈现是粒径分布峰比较宽。自相关函数是由多组指数衰减函数综合组成，每一个指数衰减函数都会因指数衰减时间不同而存在差异，此时计算自相关函数就变得不再简单。Nicomp 380纳米粒径分析仪巧妙运用了去卷积算法来转化原始数据，从而得出zui接近真实值的粒度分布。Nicomp 尤其适合测试粒度分布复杂的样品体系，li用一组独特的去卷积算法将简单的高斯正态分布模拟成高分辨率的多峰分布模式，这种去卷积分析方法，即得到PSS粒度仪公司独有的粒径分布表达方法—Nicomp分布（Nicomp Distribution）。有些仪器的高斯分析模式可以使用基线调整参数的功能，以此来补偿测试环境太脏而超出仪器灵敏度的问题。高斯分析模式也可以允许使用者指定“固体重量模式”或者“囊泡重量模式”来分析带有小囊泡的胶体体系，比如脂质体。Nicomp分析方法是一种专li的高分辨率的去卷积算法，它首次在1990年提出并应用于分析和统计粒径分布。在历史上已经证明Nicomp分析方法能够精确分析非常复杂的双峰样品分散体系（比如 2：1比例），甚至是三峰样品分散体系。在科学研究中，找到粒子聚集分布的杂峰是非常有用的。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪广泛适用于检测悬浮在水相和有机相的颗粒物。

Micromeritics全自动费氏粒径测试仪（MIC SAS II）MIC SAS II全自动亚筛分粒径分析仪易于使用的全自动数据记录功能MIC SAS II全自动亚筛分粒径分析仪，对Fisher Model95 SubsieveSizer （FSSS）进行升级，采用全自动操作，并可得到电子记录的数据，极大改善了FSSS的性能。MIC SAS II生成的“Fisher number”结果与前代产品（FSSS）一致。几十年来，空气渗透技术和FSSS已经成为许多工业的行业基准，因此许多仍在使用历史数据和旧的质量控制标准的领域，都要求新旧仪器的测试数据必须具备可比性和可重复性。Features and Benefits 产品特点和优势设置方法快速简单按步骤进行参数设置，确保无任何参数遗漏全自动分析样品压实和压力的稳定性全部由电脑控制，采集的数据具有高重复性安全性可通过密码保护将样品信息测试信息与用户ID绑定，避免未经授权的任何操作和参数修改实时数据显示可以在获取数据时查看数据简化方法开发Fisher Mapping利用使用者自定义的Fisher相关图得到优化数据相关一致性定制化报告生成自动创建使用者logo和风格的PDF报告卓越的控制软件SAS控制软件创建了仪器操作、数据采集、处理和报告以及系统集成的世界标准全新直观式触摸屏操作强大直观式触摸式用户界面，提高效率，能够轻松创建和检索SOPs符合ASTM标准完全符合ASTM B330-12和C721-14标准，用于测试铝、二氧化硅、金属粉末以及相关化合物的粒径What is Air-Permeability Particle Sizing?空气渗透法测试颗粒粒径空气渗透技术是已经很好地应用到测量粉体样品的比表面积（SSA）。使用该技术测定的SSA数据已经应用在多个行业广泛，例如制药、金属涂料、颜料和地质等行业MIC SAS II全自动亚筛分粒径分析仪利用双压力传感器测量空气通过床层前后的压力变化，通过改变样品高度和孔隙率，同时控制一定流速通过颗粒床层，使用Kozeny-Carman方程确定SSA和平均粒径。Specifications产品规格尺寸与重量高度：55cm宽度：50cm长度：38cm重量：28kg

动态光散射纳米粒径分析仪Nicomp N3000介绍 Nicomp 380 N3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380DLS基础上升级配套而来，采用动态光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，粒径检测范围 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（ Gaussian）单峰算法和拥有专li技术的 Nicomp 多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。 动态光散射原理 下图所示为DLS系统的简单的示意图。激光照射到盛有稀释的颗粒混悬液的玻璃试管中。此玻璃试管温度恒定，每一个粒子被入射光击发后向各个方向散射。散射光的光强值和粒径的分子量或体积（在特定浓度下）成比例关系，再带入其他影响参数比如折射率，这就是经典光散射（Classic light scattering)的理论基础。 图1：DLS系统示意图 zui新的动态光散射方法（DLS）从传统的光散射理论中分离，不再关注于光散射的光强值，而关注于光强随着时间的波动行为。简单来说，我们在一定角度（一般使用90°角）检测分散溶剂中的混悬颗粒的总体散射光信息。由于粒度的扩散，光强值不断波动，理论上存在有非常理想化的波动时间周期，此波动时间和粒子的扩散速度呈反比例关系。我们通过光强值的波动自相关函数的计算来获得随时间变化的衰减指数曲线。从衰减时间常量τ，我们可以获得粒子的扩散速度D。使用Stokes-Einstein 方程式，我们zui终就可以计算得出颗粒的半径（假定其是一个圆球形状）。 动态光散射理论：光的干涉 为了容易理解什么叫做强度随时间波动，我们必须先理解相干叠加（coherent addition）或线性叠加（superposition）的概念,进一步要知道检测区域内的不同的粒子产生了很多独立散射光，这些独立的散射光相干叠加或互相叠加的zui终结果就是光强。这种物理现场被称为“干涉”。下图是光干涉图样。 每一束独立的散射光波到达检测器和入射激光波长有相位关系，这主要取决于悬浮液中颗粒的精确定位。所有的光波在PMT检测器的表面的狭缝中混合在一起，或者叫干涉在一起，zui终在特定的角度可以检测得到“净”散射光强值，在DLS系统中，绝大部分都使用90度角。 技术参数：粒径检测范围粒度分析：0.3 nm - 10 μm分析方法动态光散射，Gaussian 单峰算法和 Nicomp 多峰算法pH值范围2 - 12温度范围0℃-90 ℃（±0.1℃控温精度，无冷凝）激光光源35mW激光光源检测角度90°检测器APD(雪崩二极倍增管，可7倍增益放大)可用溶剂水相,绝大多数有机相样品池标准4 mL样品池（1cm×4cm，高透光，石英玻璃或塑料）；1mL样品池（玻璃，高透光率微量样品池，zui小进样量10μL） 分析软件Windows操作系统，主流配置，光驱，USB接口，串口（COM口）；符合 21 CFR Part 11 规范分析软件（可选）验证文件有电压220 – 240 VAC，50Hz 或100 – 120 VAC，60Hz计算机配置要求Windows操作系统，主流配置，USB接口，串口（COM口）外形尺寸56 cm * 41 cm * 24cm重量约26kg（与配置有关） Nicomp多峰分布 基线调整自动补偿功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列仪器所独有的两个主要特点，Nicomp创始人Dave Nicole很早就认识到传统的动态光散射理论仅给出高斯模式的粒度分布，这和实践生产生活中不相符，因为现实中很多样本是多分散体系，非单分散体系，而且高斯分布灵敏性不足，分辨率不高，这些特点都制约了纳米粒度仪在实际生产生活中的使用。其开创性的开创了Nicomp多峰分布理论，大大提高了动态光散射理论的分辨率和灵敏性。如下图所示： 图一：Nicomp多分分布数据呈现 如图一：此数据为Nicomp创始人David Nichole亲测其血液所得。其检测项目为：高密度脂蛋白，低密度脂蛋白和超低密度脂蛋白，平均粒径分别显示在7.0nm；29.3nm和217.5nm。由此可见，Nicomp仪器对于多组分体系的粒径分布可以提供清晰地检测数据结果。Nicomp多峰分布优势 Nicomp系列仪器均可以自由在Gaussian分布模式和Nicomp多峰分布模式中切换。其不仅可以给出传统的DLS系统的结果，更可以通过Nicomp多峰分布模式体现样品的真实情况。依托于Nicomp系列仪器一系列优异的算法和高灵敏性的硬件设计，Nicomp纳米激光粒度仪可以有效区分1:2的多分散体系。 图二：高斯分布及Nicomp多峰分布对比图 如图二：此数据为检测93nm和150nm的混合标粒所得到的数据。左边为高斯分布（Gaussian）结果，右图为Nicomp多峰分布算法结果，两者都为光强径数据。从高斯分布可以得到此混合标粒的平均粒径为110nm-120nm之间，却无法得到实际的多组分体系结构。从右侧的Nicomp多峰分布可以得到结果为双峰，即如数据呈现，体系中的粒子主要分布于98.2nm以及190nm附近。由此可知，尽管93nm和150nm的混合标粒之间粒径差别已经不大，由Nicomp的多峰算法仍然可以清晰地将体系中的多组分区分开来，可见N3000的灵敏性之高，其算法之精确，实为科研研发的zui佳帮手。 为满足不同客户的实际检测需求，我司的Nicomp 380 N3000会配备相应的配置，旨在为客户们在控制成本的基础上，得到需求的解决方案，达到收益zui大化。 技术优势检测范围：0.3nm -10μm；校准需求：无需校准；应用领域：广检测，速度快，灵敏度高且对团聚粒子灵敏度高；法典法规：符合USP,CP等各国药典要求；复合型算法：高斯（Gaussion）单峰算法与专li的Nicomp多峰算法结合均可选择；模块化设计：可同机搭载ZETA电位检测模块，还可增加自动稀释，自动滴定和自动进样等辅助测试模块，亦便于升级； 产品优势模块化设计Nicomp 380纳米粒径分析仪是全球wei一在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的升级和增加，Nicomp 380的功能体系越来越强大，可以用于各种复杂体系的检测分析。自动稀释模块带有专li的自动稀释模块消除了人工稀释高浓度样品带来的误差，且不需要人工不断试错来获得合适的测试浓度，这大大缩短了测试者宝贵时间，且无需培训，测试结果重现性好，误差率＜1%。380/HPLD大功率激光器美国PSS粒度仪公司在开发仪器的过程中，考虑到在各种极端实验测试条件中不同的需求，对不同使用条件和环境配置了不同功率的激光发生器。大功率的激光器可以对极小的粒子也能搜集到足够的散射信号，使得仪器能够得到极小粒子的粒径分布。同样，大功率激光器在测试大粒子的时候同样也很有帮助，比如在检测右旋糖酐大分子时，折射率的特性会引起光散射强度不足。 因为大功率激光器的特性，会弥补散射光强的不足和衰减，测试极其微小的微乳、表面活性剂胶束、蛋白质以及其他大分子不再是一个苛刻的难题。即使没有色谱分离，Nicomp 380纳米粒径分析仪甚至也可以轻易估算出生物高分子的聚集程度。雪崩二极管 (APD) 探测器Nicomp 380纳米粒径分析仪可以装配各种大功率的激光发生器和jun品级别的雪崩二极管检测器（相比较传统的光电倍增管有7倍放大增益效果）。APD通常被用于散射发生不明显的体系里来增加信噪比和敏感度，如蛋白质、不溶性胶束、浓度极低的体系以及大分子基团，他们的颗粒的一般浓度为1mg/mL甚至更低，这些颗粒是由对光的散射不敏感的原子组成。APD外置了一个大功率激光发生器模块，在非常短的时间内就能检测分析纳米级颗粒的分布情况。380/MA多角度检测器粒径大于100 nm的颗粒在激光的照射下不会朝着各个方向散射。多角度检测角器通过调节检测角度来增加粒子对光的敏感性来测试某些特殊级别粒子。Nicomp 380可以配备范围在10°-175，步长0.9°的多角度测角器，从而使得单一90°检测角测试不了的样品，通过调节角度进行检测，改善对大粒子多分散系粒径分析的精确度。应用行业: 乳液、色漆、制药粉体、颜料、聚合物、蛋白质大分、二氧化硅以及自组装TiO_2纳米管(TNAs)等

欧奇奥500nanoP 医药专用粒径及形貌分析分析仪● 粒径范围：0.4 μm-2 mm，完全符合ISO-13322-1规范● 6.6兆像素的高分辨相机● 单波长蓝色背光照明消除了衍射现象的困扰● 平行光和远心镜头提高了颗粒图像的外观质量（轮廓清晰）● 创新的光-镜一体技术，对每个颗粒都能准确对焦● 采用大像素值，获得佳阈值● 采用高速相机避免了振动问题● 固定的相机和光源减少了维护成本，增加了可靠性● 专利真空分散系统，无污染，易清洁● 计算机控制的500nanoP的真空分散装置（见右图）● 测量过程通过软件SOP操作● 分析过程中全自动校准，全自动对焦

PARIO Plus土壤粒径自动分析仪在PARIO的基础上进一步提升，测量准确度和效率均大幅提升。2017年METER研发的土壤粒径分析设备PARIO上市。对比传统的粒径分析方法PARIO表现出显著优势。传统的比重计法（或吸管法）手工耗时24小时，费时费力易出错，激光粒度仪法，设备昂贵，耗时长，且存在方法性偏差。PARIO Plus设置好之后全程自动测量，仅需在测量结束时手动打开阀门。测量时长缩短至仅需2.5小时，估计误差低至±0.5%。PARIO Plus从繁杂的实验中解放科学家的双手，全身心投入科学问题的研究。测量原理基于斯托克斯定律（Stokes′ law）计算粒径分布, 其测量范围为63~2 μm。PARIO的测量方法基于成熟的比重计法或吸管法，采用压力传感器以10s间隔连续记录土壤悬浊液中特定位置的压力和温度变化，获得完整的土壤颗粒粒径分布曲线。PARIO Plus使用更精确的“扩展积分悬浮压力法”（ISP+）（Durner et al., 2017）。另外，基于斯托克斯定律的PARIO不需要进行土壤特性的传递函数校正，而几乎其它任何自动测量方法都要求进行这种校正，例如激光衍射法或图像分析法。主要特点测量速度快 设置好后，仪器运行仅需2.5小时。测量方法准确 估计误差低至± 0.5%，低于任何传统的粒径分析方法。自动独立运行 PARIO允许无人值守，自动化操作，仅需在实验结束时手动打开阀门。避免人工读数和计算误差。获得高精度的连续粒径分布曲线 与传统方法测得少数一些离散时间点数据不同，PARIO每10秒进行一次自动测量，并连续记录悬浮液的压力以及温度变化。测量过程无扰动 不需要插入液体比重计，也不需要用移液管进行悬浮液的取样，进而减少了对沉降的扰动。依据经典原理 根据斯托克斯定律（Stokes′ law）计算粒径分布，完美匹配传统实验前期准备工作流程。黏粒含量直接测量获得。依据温度自动综合计算粒径分布。简单易用一体化 为了您能节省更多时间，PARIO采用了简便易用的一体化软件解决方案，轻松实现数据查询、可视化操作、数据的计算及导出。 技术指标 粒径范围 2 ~ 63μm 质量分数检查的近似误差 PARIO Plus: ±1%；PARIO Classic: ±3.0% 压力测量 准确度： ±1.0 Pa；分辨率：±0.1 Pa 典型颗粒质量 25 ~ 50 g/ 1L悬浊液 典型测量时长 PARIO Plus: 3 h；PARIO Classic: 8.0 h 测量间隔 10 s黏粒含量估算根据抽取样品综合颗粒质量获得砂粒含量估算根据湿筛法测定结果得到 供电需求 USB 5 V/100 mA 电脑兼容 微软 Windows 10 玻璃容器规格 高：450.0 mm；内径：59.0 mm，外径：67.5 mm；体积：1,000 cm3 材质：硼硅酸盐玻璃3.3 PARIO仪器 高度：293.0 mm；直径：80.0 mm 材质：POM塑胶原料和不锈钢 悬浊液容积 1,000 mL 工作温度 15~35℃；典型：20℃ 测量中允许的最大温度变化 ±1.5 ℃ 需要额外测量的参数 PARIO Classic: 有机质含量 (如进行了有机质去除)；砂粒含量(湿筛法)；总悬浊液中分散盐的质量 PARIO Plus: 取样测量干物质总质量；砂粒含量(湿筛法)；总悬浊液中分散盐的质量 缆线类型 USB 2.0；500 mA用于接收端口 符合标准 生产制作遵循 ISO 9001:2015 EM ISO/IEC 17050:2010 (CE Mark)相关产品实验室土壤水分特征研究工作组产地与厂家：美国METER公司 (原Decagon)

超声电声法Zeta电位分析仪产品特点：1)采用专门的电动声波振荡技术，该仪器可完成非凡的电动测量结果，从而避免了传统的微电泳技术的许多限制和局限。2)提供数据快速准确而不需要稀释样品，从而避免了稀释器材的使用和错误(样品稀释，Zeta电位将彻底改变) 3)该仪器可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标。样品在测量时甚至可以进行滴定操作；4)坚固的、多功能的、镀金的Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中；5)自动滴定法用于简单的IEP测量；6)样品可被强烈搅拌或混合，因此不会产生沉淀物；7)高频电场采用非常短的脉冲，因此样品测量时不会产生错误；8)可实时测量实际样品；9)不使用光学技术，因此可以在任何pH值下分析固体、不透明或半透明样品；10)可测量水溶液、非水溶液分散系，分散系浓度范围从0.1% ~60%。非常轻松就可测量1nm到50um的样品颗粒；11)该仪器操作非常简单。它提供电脑控制、自动测量，不须特别的样品池，样品可随时从任何现场或实验中获取，可直接实时获得理想的数据超声电声法Zeta电位分析仪技术参数：1)测量样品不需要稀释或样品准备，从而消除了操作失误和数据的不确定性，同时节省了时间；2)物有所值的谐振硬件设计；3)宽粒径测量范围：从1nm到30um；4)自动电位和容积测量用于简单快速的等电位（IEP）测定、表面活性剂的吸附效果和许多其他动态测定；5)由于机载样品混合和/或测量时的泵送能力，没有粒子沉降的不利影响；6)Zeta浸入探头可以用于样品室或独立的容器中，测量精确、重复性好，方便使用；7)可测量高粘度的样品，样品浓度可从0.1%到60%；8)可在0-14的pH值范围内进行测定；9)可同时测量Zeta电位、PH、电导、温度等指标；10)小样品容量10ml，没有大容量限制；11)微软支持的软件界面，带强大的数据管理功能；12)12个月的保质期和免费的技术咨询

简介通过图像处理自动跟踪电泳粒子，测量它们的流动性，并自动计算单个粒子的Zeta电位。 整个测量过程可以被直观地掌握。ZEECOM ZC-3000是一种可视化的测量仪器，它消除了与黑匣子仪器相关的焦虑感。此外，ZC-3000自动跟踪颗粒的布朗运动，使得测量颗粒粒径分布成为可能。测量原理 ZEECOM Zeta电位分析仪使用显微镜在监视器上观察粒子电泳迁移，同时执行图像处理以确定粒子迁移速度，然后将其转换为Zeta电位值。为了消除由测量池中的静电荷引起的电渗流引起的误差，在静止层上测量ζ电位，其位置可以通过测量池的宽度和深度计算。(软件会自动执行此计算。)ZC-3000通过图像分析跟踪粒子的随机移动，通过应用爱因斯坦-斯托克斯关系式，根据移动距离和各种参数(液温、粘度)自动计算粒径，求出粒径分布。特点显微镜电泳法结合先进的图像处理用颗粒直接观察方式测量单个颗粒的Zeta电位通过图像处理对微粒子的游动进行自动实时跟踪多种测量模式1.ZETA电位和柱状图。这是一种标准的测量方法，在设定的测量条件下计算固定层上颗粒的Zeta电位。 测量结果可以以柱状图的形式输出。2. 测量池中的流速分布在测量池的每个位置测量流速，并绘制其分布图。可以检查电渗流的湍流情况，并根据静止层和位移，在任何位置进行测量。3.通过测量的pH值（测量等电点）　输入分散剂的pH值，从Zeta电位随pH值的变化分析等电点和pH值的反应。4.沉降和上升速度的测量　在沉降和上升速度测量中，粒子跟踪方向被设定为Y轴方向，以测量沉降团块和粗大粒子的沉降速度，以及上升气泡和空心粒子的上升速度。技术参数测量原理显微镜电泳法（ZETA电位） 布朗运动测量法（粒径分布）Zeta电位测量范围-200～200mV流动性-20～20cm2/sec?VZeta电位粒径范围0.02μm～100μm　＊可见性取决于颗粒的性质和介质电压0至350 V DC * 可用于电极的电压（与外部电源兼容）光源LED（透过?杂散光）半导体激光（杂散光）相机单色CCD视频摄像机物镜10倍物镜（可选：可添加不同放大倍数的镜头）视频输出NTSC视频信号Cell stage0.001mm间距数字显示 * 精度0.01mm测量池水性体系标准池（可选:各种用途测量池)尺寸(W)x(D)x(H)mm300×610×398重量25kg电源100V　1A　50/60Hz 主要应用水处理、废水处理、絮凝剂和分散剂开发、絮凝控制、矿物、微生物、浮游生物、石棉、气泡、土木工程、土壤和选矿技术。功能性材料开发、记录材料、颜料、陶瓷、催化剂、聚合物、炭黑、碳纳米管、打印机/墨水/调色剂开发、水性/非水性溶剂涂料、燃料电池、涂层材料（汽车零件、电子零件）、纸张生产、表面活性剂等。红细胞、细胞、蛋白质、DDS、脂质体、载体、制药等

CD公司的AcoustoSizer IIx提供了浓缩胶体分散液的彻底和完整表征。AcoustoSizer IIx具有无需稀释，在一台仪器中直接测量颗粒粒径，Zeta 电位，pH，电导率以及温度，它提供了全面的分析。传统的表征技术需要稀释或样品前处理，而且样品前处理即耗时又容易出错，AcoustoSizer IIx专利的多频电声频谱技术消除了这两个问题，AcoustoSizer IIx 在样品的原始状态下直接测量粒径和Zeta 电位，所测样品浓度可高达40%V/V。测量参数- 粒径分布- Zeta电位- 动态迁移率谱- 超声衰减谱- pH 值- 电导率- 温度仪器特点和优势可以测量浓缩胶体和乳液中的粒径和Zeta电位在传感器里无移动部件采用模块化设计，用于实验室和中试装置运行自动去除背景电解质信号，可用于高精度等电点测定流通传感器可用于胶体过程的连续监测高压脉冲电场提供了极好的信噪比使用传感器连接外部流量回路，实现在线检测使用电解液校准标准无需胶体的粒度和Zeta电位标准样品体积小至20ml先进的粒度分析-双峰、正态和对数正态粒径分布电声法和衰减光谱技术相结合于一台仪器，超宽的粒径范围0.01-100μm较宽的温度和粘度范围全自动电位滴定和体积滴定强大的并易于使用的操作软件，兼容Windows 10或11操作系统CD公司提供了宽广的服务范围帮助您充分利用这种功能强大的新型测量设备，ZetaProbe和AcoustoSizer IIx 能够适用于工厂的优化控制，QA/QC，科研或学术机构的使用。主要应用领域 陶瓷 食用胶体 生物胶体 均化控制 油漆和油墨 乳胶 纸张涂层 催化剂和沸 煤浆 胶合剂 制药 研磨 颜料 矿物质加工 过滤/ 脱水 抛光复合物等 天然乳汁 黏土 湿磨/ 研磨 磷光体 矿物 表面涂层控制应用案例● 优化分散剂用量：在氧化铝悬浮液中加入高分子电解质DarvanC，发现Zeta 电位的数值与高分子电解质DarvanC 加入量以及pH 有关● 准确的等电点（IEP）测量：相同的等电点IEP 为6.9，而不是7.8，而且两个浓度不同的样品在不同PH 下的Zeta 电位值几乎相同。用ZetaProbe 滴定二氧化钛在0.1M 氯化钾溶液中的悬浮液样品，采用自动背景校正

AOI检测|流体影像式粒径分析设备产品概述影像式流体光学检测，结合粒径分析(Sizer)与粒子计数(Counter) 功能 搭配高阶AI瑕疵检测技术，精准分辨气泡、结晶、粉尘等污染源 眼见为凭最可靠，且大幅降低人工误判率。 产品特色自动化判读半透明颗粒、气泡、不规则外缘保存真实流体物质显微影像AI 智能化分类模式抗酸防蚀不沾黏材质，避免样品槽污染自动图像式报表最高分辨率可达 1μm 产品优势真实还原物质轮廓一般影像式分析仪所拍摄的样品常因为光学像差(Optical aberration)产生畸变。我们利用独有的光学技术克服这个问题，还原最真实的物质轮廓EDOF技术无死角成像每颗粒子运用特殊光学设计大幅提升焦平面的涵盖范围AI巨量影像分类处理运用机器学习(Machine learning)让自动化分析更智能，可达到每c.c.10万笔数据撷取并分析其特征产品规格测量范围1 μm - 400 μm测量时间10 - 15 minutes检测量0.3 mL/min up to 3 mL/min计数效率100,000 particles per mL分辨率0.92 μm per pixel通讯模式USB 3.0测量参数粒径、长度、真圆度、长宽比、特征辨识尺寸 / 重量65(L) x 40(W) x 31(H) cm / 30 kg

多功能超声粒度仪公司介绍美国MAS（Mass Applied Sciences）公司成立至今有30余年历史，是一家专注于超声电声法原理粒度及Zeta电位分析仪的研发和生产型企业。 公司研发的纳米粒度及Zeta电位仪系列产品，完美的解决了目前市面上光学方法无法克服的纳米粒度检测难题，如光学方法必须要对样品进行稀释 后测试其粒径和zeta电位以及对于复杂体系无法给出真实的粒度分布等 。目前，美国MAS多功能超声粒度分析仪仪系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000组成，可以为各行业提供专业的粒度和Zeta电位解决方案。 超声法系列粒度仪测试样品的原理是采用声波发生器发出一定频率和强度的超声波，由于不同粒径大小的颗粒对声波的吸收、散射作用不同， 导致声波衰减程度不同。从而通过颗粒的声衰减谱得到颗粒详细准确的粒度分布。典型应用：综合稳定水泥浆，陶瓷，化学机械研磨，煤浆，涂料，化妆品，环境保护禅选法矿物富集，食品工业，乳胶，微乳，混合分散体系，纳米粉，无水体系，油漆成像材料。主要特点：1）能分析多种分散物的混合体；2）无需依赖Double Layer模式，准确地判定等电点；3）可适用于高导电(highly conducting)体系；4）可排除杂质及对样品污染的干扰；5）可准确测量无水体系；6）Zeta电位测试采用多频电声测量技术，无需先测量粒度即可进行电位测量；7）样品的高浓度可达60%(体积比)，被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量；8）具有自动电位滴定功能；优于光学方法的技术优势：1)被测样品无需稀释；2)排除杂质及对样品污染的干扰；3)不需定标；4)能分析多种分散物的混合体；5)高精度；6)所检侧粒径范围款从5 nm至1000um多功能超声粒度仪优于electroactics方法的技术优势：1)无需定标；2)能测更宽的粒径范围；3)无需依赖Double Layer模式4)无需依赖( electric surface properties)电表面特牲；5)零表面电荷条件下也可测量粒径；6)可适用于无水体系；7)可适用于高导电(highly conducting)体系；优于微电泳方法的技术优势：1)无需稀释，固合量高达60%；2)可排除杂质及对样品污染的干扰；3)高精度(±0.1mv)；4)低表面电荷(可低至0. 1mv)；5)electrosmotic flow不影响测量；6)对流(convection)不影响测量；7)可准确测量无水体系；多功能超声粒度仪技术参数：1)所检测粒径范围宽：从5 nm至1000um；2)可测量参数：粒度分布、固含量、Zeta电位、等电点IEP、E5A、电导率、PH、温度、声衰减；3)Zeta电位测量范围：+/-200 mv，低表面电荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv) 4)零表面电荷条件下也可测量粒径；5)允许样品浓度：0.1-60%(体积百分数)；6)样品体积：30-230ml；7)PH范围：0~14 8)电导率范围：0~10 s/m

美国DT专注于非均相体系表征的科学仪器业务。 DT开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓的分散体系中表征粒径分布、 zeta电位、流变学、固体含量、孔隙率，包括CMP浆料，纳米分散体，陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。其中生物与制药应用包括：1、色谱用树脂与蛋白质相互作用及其电性能表征2、颗粒大小和胶束的演变3、细胞粒径测定4、蛋白质的电荷（价态）测定5、蛋白质吸附，蛋白质和血细胞的超声波特性6、没有稀释的药物乳液和微乳液表征7、溶解和结晶速度的动力学监测超宽粒径测量范围从5nm至1000μm；单一理论不用稀释，测量原浓样品0.1-50%(体积百分数)频率范围1-100MHzDT-110用于样品量小于5ml的粒度仪测定用于悬浮液和乳液表征；可以是水相，极性和非极性分散相声频发生器与检测器之间的间隙可调通过Access数据库进行数据管理无需校正

美国DT专注于非均相体系表征的科学仪器业务。其开发的基于超声法原理的仪器主要应用于在原浓的分散体系中表征粒径分布、 zeta电位、流变学、固体含量、孔隙率，包括CMP浆料，纳米分散体，陶瓷浆料，电池浆料，水泥家族，药物乳剂等，并可应用于多孔固体。 其中生物与制药应用包括：1、色谱用树脂与蛋白质相互作用及其电性能表征2、颗粒大小和胶束的演变3、细胞粒径测定4、蛋白质的电荷（价态）测定5、蛋白质吸附，蛋白质和血细胞的超声波特性6、没有稀释的药物乳液和微乳液表征7、溶解和结晶速度的动力学监测DT系列产品特性：1. 能分析多种分散物的混合体 2. 无需依赖Double Layer 模式,精确地判定等电点 3. 可适用于高导电（highly conducting）体系 4. 可排除杂质及对样品污染的干扰 5. 可精确测量无水体系 6. 样品的最高浓度可达50％（体积比）,被测样品无需稀释，对浓缩胶体和乳胶可进行直接测量 7. 具有自动电位滴定功能不用稀释，测量原浓样品0.1-50%(体积百分数)可测定体积粘度(cP)0.5-100±3%用于悬浮液和乳液表征可以是水相，极性和非极性溶剂在频率1-100MHz范围内测量纵向模量G*(Longitudinal Modulus)可在MHz范围内任意进行牛顿试验通过Access数据库进行数据管理

颗粒实时原位表征-看见、测量颗粒梅特勒托利多公司提供的EasyViewer100是一款探头式图像工具，可以实时在线采集过程中晶体、颗粒与液滴的高分辨率图像。它能在线追踪颗粒及液滴的粒度、粒数及形状的变化。超薄，智能控制聚焦和即插即用连接的设计，EasyViewer可以实现无人值守下在更小的尺度下轻松地捕捉图像。当与一款易操作的图像分析软件iC-Vision结合使用时，EasyViewer将成为一个强大的颗粒粒度分析工具，可以实时监测过程变化和量化颗粒尺寸与形貌。帮助科学家和工程师实时测量颗粒和液滴的粒径、形貌，从而快速决策与过程开发。EasyViewer在原位条件下，实时在线追踪颗粒和液滴的变化情况，而不需要取样和制样。能提供实时在线、高固含量的粒径和粒数、形貌信息。适用于固-液，液-液及固-气等体系下的粒子监测。并能适应不同温度、压力和化学环境的要求。仪器特点/功能:1) 实时在线的、安装简便的探头式系统；2) 能在各固相或分散相的浓度中测量；3) 在两相界面提供多个选定粒径范围内的粒径、粒数与形貌信息4) 既能对默认或选定粒径范围（如：小颗粒范围或大颗粒范围）粒子的变化情况进行高精度、高灵敏度的实时监测，也能对重要的动力学研究提供的早期的监测诊断5) 通过粒径、晶形、粒数、浊度等指纹式信息能有效表征间歇反应的实验终点6) 结合iC Vision图像分析软件，将成为强大的颗粒粒度分析工具7) 在短时间内就能获得实用性强、附加值高的数据信息8) 哈氏合金材料，耐酸碱，耐化学腐蚀技术参数:观测范围:1mm × 1mm精度:1.5um光纤长度：3m(标准）；13m(带USB延长线)重量：0.66kg[包含探头与光纤]探头温度范围：-20oC-135oC压力：0-10bar材料：哈氏合金 C22应用领域:广泛应用于结晶/沉淀、絮凝、分散、乳液等方面。该颗粒测量仪既能用于学术研究，也可用于实验室过程开发。

仪器简介：GSL-101BII激光颗粒分布测量仪 测量范围： 0.1-450 微米采样通道： 主阵列70+侧向阵列24道 电源电压: 220V 50Hz 仪器灵敏度：12位（A/D CONVERT）激光器类型：半导体 激光器波长：760nm激光器功率：5mW 激光器寿命：大于20000小时测试时间：单次测试时间小于：60 秒测试程序：中文Windows95/98/2000/NT/XP操作系统下运行，功能强大，操作简单，直观。测试程序可给出常规项目如粒度分布表、分布曲线、各种粒径、用户任意分级数据等结果，并可根据用户选择打印英文或彩色测试报告 测试对象 1.各种非金属粉：如重钙、轻钙、滑石粉、高岭土、石墨、硅灰石、水镁石、重晶石、云母粉、膨润土、硅藻土、黏土等。2.各种金属粉：如铝粉、锌粉、钼粉、钨粉、镁粉、铜粉以及稀土金属粉、合金粉等。3.其它粉体：如催化剂、水泥、磨料、医药、农药、食品、涂料、染料、荧光粉、河流泥沙、陶瓷原料、各种乳浊液等。 仪器特点：● 重复性好本仪器采用Furanhofer衍射及Mie散射理论,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中，即可获得准确的测试结果。而且区别于沉降法,由于不需要沉降过程，因此在一次测试中可以多次采样(5-20次任意设定)，有效的滤除了由于电噪声，样品分布不均等因素造成的影响，使仪器的测试重复性变好。● 测试范围宽由于采用了大尺寸光电探测阵列（70个通道）、侧向辅助光电探测阵列（12个通道）及其它相应技术，使 单透镜 测试范围达到0.1---450微米；并且由于本仪器使用过程中无须更换镜头及调整光学系统，提高了系统的稳定性，简化了操作过程。● 采用半导体激光发生器具有光参数稳定、效率高、寿命长、不怕振动等一系列优点，克服了传统气体激光器由于自然漏气，需定期更换的缺点。● 自动化程度高操作简单GSL-101BI型激光颗粒测量仪采用微机进行实时控制，自动完成数据采集、分析处理、结果保存、打印等功能,操作简单,自动化程度高。● 测试迅速由于无须沉降过程，使测试速度大幅度提高，在通常情况下，1分钟内即可完成一次样品测试。(注:不包括样品制备时间)。● 软件本仪器测试程序采用MSVC/C++6.0编制,在中文Windows95/98/ME/2000/NT/XP人机接口界面，操作直观简便,通俗易懂。数据输出内容丰富,并且可以输出英文测试报告,对于彩色打印机还可以输出彩色测试报告。● 采用了独特的机械搅拌装置具有搅拌力矩大、速度快、搅拌均匀等一系列优点。技术参数：液体中激光粒度测量分析仪 PCSLE20WN 整个系统采用稳定的激光发射和接受系统，粒径测量系统是以单位体积中的粒子个数和粒径大小来评定的，附有功能强大的软件，粒径测量范围在2~125微米之间。 仪器可以对样品100%测量，流率是70ml/min，溶液中的粒子在不失去粒径统计意义的情况下，可以有间隔的采样分析，但都提供最高精度的粒径分析。 特点 性能改进 实时定量检测和分析粒子的浓度和大小，对于污染立即反映出来 功能强大的软件使得工艺过程的控制非常的容易，通过报警设置，过程分析，采样器设置，在线帮助来实现 对于严格的的工艺过程控制来说，通过以单位体积中的粒子个数和粒径大小来评定可以提供更高的精度多功能性 测量的量程范围宽，用途广 可在线检测，也可和浓缩采样器连用 PCSLE20P可以和样品注射器连用 和各种各样的管路标准兼容连接 在线或批处理能力 RS-485数据传输接口使用简单 体积小，可连接于过程中的任何地方 软件灵活，提供多个可视窗口选项，显示实时数据和调用存储的数据 用户可以自己选择粒径的通道 技术特点 粒径灵敏度在2~~125微米15个用户可调整选择的粒径通道样品100%检测，无漏检在线采样检测，结构紧凑 应用 化工产品的质量控制 工艺过程浴液的监测 去离子水的检测 化工产品的输送 部件清洗液的检测技术参数 PCSLE20WN粒径范围 2~~125μm粒径通道 15个样品流率 70ml/min样品体积 70ml/min，100%检测单通道最大浓度 10000个/ml样品温度 10~50℃ 零记数过滤器 ＜50个/升最大压力 100Psi （0.675Mpa ， 约6个大气压）测试光源 激光二极管防潮表面材料 Teflon, 玻璃，不锈钢，BUNA-N规格 320mm（L）×110mm（W）×110mm（H）重量 3kg电源 85~250V，50~60Hz通讯 RS-485校准 所用材料来源于美国NIST使用环境 10~35℃ 无冷凝如有什么不清楚或不了解的地方，请致电 010-8241 3547 党先生主要特点：2002/2006/2008型激光粒度分析仪工作原理：本系列激光粒度分析仪采用全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据激光照射在颗粒上产生的散射光能量反演出颗粒群的粒度大小和粒度分布规律。技术特点： 分析仪工作原理先进，硬件设计合理，产品设计符合国际技术标准ISO-13320，吸取了英、美、德等国家的粒度测试先进经验，产品一切指标均达到国内领先、国际先进水平, 已获得国家专利，专利号：ZL02269439.0。光源：采用He-Ne激光源，波长0.6328微米，波长短，线宽窄，稳定性好，激光电源及激光管的寿命大于15000小时。光电探测器：光电探测系统设计独特，主检测器一个，辅助检测器34个，呈非均匀性交叉三维扇形距阵排列，最大检测角达到1350。光路：采用一个量程设计，会聚光路独特，减少了傅立叶透镜组，使测量范围更宽，分辨率更高，误差降到了最小。循环系统：循环泵速触摸式按键连续调节，设置速度数字显示，可根据需要设置循环泵速，循环泵速0~5000转/分钟连续可调。超声分散内置：内置大功率超声器与主机一体，良好的屏蔽处理使超声分散和样品测试可同时进行，即使具有超强团聚性的颗粒也能够充分分散以获得真实的粒度分布数据。超声强度：采用100W大功率超声器，能够充分分散易团聚的颗粒。超声时间：超声时间触摸式按键连续调节，设置时间数字显示，超声时间0~10分钟连续可调, 可根据需要设置超声时间。搅拌系统：搅拌速度触摸式按键连续调节，设置速度数字显示，搅拌转速0~3000转/分钟连续可调，可根据需要（如颗粒大小和分散介质等）连续调节，既保证被测样品充分混合，又可避免因搅拌速度过快产生气泡造成的测试误差。样品池：样品池与主机一体，不锈钢材质，设计独特，呈圆形， 循环排液方便，不留尘垢，便于清洗。测试时间：循环、超声、搅拌和排液等操作键都在智能化触摸式操作面板上， 标准、量化的操作，有效的缩短了测试时间，测试数据过程制在1分钟内完成。数据处理：粒度分析仪颗粒粒度测量分析系统功能强大，测试数据可以做平均、统计、比较和模式转换等处理，具有微分分布、累积分布、标准分级、R-R分布、自由分级和按目分级等多种格式。在0.02~1000微米内默认分级120级，在量程范围内从1~120级可自定义分级。测试报告中有粒度分布图形和粒度数据图表，有D10、D50、D90、平均粒径和比表面积等特征参数，还有四个自定义参数，可根据需要输入。 重量比表面积与体积比表面积可以互换。支持中、英文格式测试报告打印，有打印预览功能，能够将粒度分布图形和粒度数据图表存成图片或PDF格式，便与WORD交互使用。页眉和页脚可根据需要进行修改。测试界面：测试软件界面友好，测试过程清晰可见，瞬时刷新，可视性强，可随时观察测试状况，了解仪器内部运行情况，分析所测数据的真实性、可靠性。根据样品的密度、异性、脆性、磁性、毒性、流动性、团聚性、溶解性和物理化学反应等理化特性，我们总结出了一套科学、系统和完整的分散测试方案，随着仪器提供给用户。我们既销售仪器，又提供分散测试方案。 硬件简介仪器外壳钢板加工，内外表面喷塑处理；光学支架合金铸造，不易变形；光学元器件国外定做，灵敏度高；探测器英国进口，超声换能器美国进口，电磁阀意大利进口，性能稳定；控制面版自行设计，操作方便。激光粒度分析仪易损配件硬件设计先进，性能稳定可靠，按照Q/01RZ01-2004标准生产，无易损配件, 仪器使用寿命在10年以上。技术参数：2002型激光粒度分析仪 RMB56000.002006型激光粒度分析仪 RMB128000.002008型激光粒度分析仪 RMB183000.00测量原理全量程米氏散射理论测量范围0.1~600μm0.05~800μm0.02~1200μm准确性误差＜3%重复性误差＜3%循环泵转速（0~5000rpm）, 连续可调超声分散时间0~10min， 连续可调搅拌器转速（0~3000rpm）, 连续可调探测器高精密硅探测器分散池圆形不锈钢材质，容积400ml软件颗粒粒度测量分析系统（for Windows）粒度分级微分分布，累计分布，R-R分布，标准分级，自定义分级和按目分级等电源要求220VAC， 50Hz 200W生产标准Q/01RZ01-2004外形规格1000mm×330mm×320mm重量38kg激光粒度分析仪标准配置：序号名称数量序号名称数量1激光粒度分析仪主机1台6标准颗粒 1瓶2使用说明书1 本7标定专用管1根3测试软件1张8样品匙1只4联机电缆1根9专用扳手1只5电源线1根

DT-100 超声粒度分析仪DT系列仪器即是由专业从事声学研究的科学家组成的、位于美国新泽西州的dispersion technology Co.研发生产的系列仪器，可准确测量原浓溶液的粒径、流变及电动学参数，如zeta电位、电导率等等。DT-100 超声粒度分析仪DT-100 超声粒度分析仪■ 用于现付也和乳液表征；■ 可以是水相，极性和非极性溶剂；■ 超宽粒径测范围，从5nm至1000μm；单一理论；■ 不用稀释，测量原浓样品：0.1-50%（体积百分比）；■ 无需校正；■ 频率范围：1-100MHz；■ 声频发生器和检测器之间的间隙可调；■ 通过Access数据库进行数据管理；